JPS63302386A - 放射線計測装置 - Google Patents
放射線計測装置Info
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- JPS63302386A JPS63302386A JP13810787A JP13810787A JPS63302386A JP S63302386 A JPS63302386 A JP S63302386A JP 13810787 A JP13810787 A JP 13810787A JP 13810787 A JP13810787 A JP 13810787A JP S63302386 A JPS63302386 A JP S63302386A
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Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、放射線計測装置に係り、特に、流体温度が高
温又は、常温より高温に変化する放射性流体の放射線計
測に好適な放射線計測装置に関する。
温又は、常温より高温に変化する放射性流体の放射線計
測に好適な放射線計測装置に関する。
従来の装置は、特開昭57−23874号公報に記載の
ように、プロセス流体温度により検出器を配管より接離
させて温度一定とするようにしていた。
ように、プロセス流体温度により検出器を配管より接離
させて温度一定とするようにしていた。
しかし、放射線検出器は、配管より離れると、感度が悪
くなること、又、線源と検出器の距離が一定でないため
、放射能濃度換算計算において、煩雑となる点について
考慮されてぃなかった。
くなること、又、線源と検出器の距離が一定でないため
、放射能濃度換算計算において、煩雑となる点について
考慮されてぃなかった。
従来の問題点は、焼却炉排ガスが高温(約250〜約1
50℃)であることから、放射線検出器の直付方式(プ
ロセス配管に近接した状態で放射線を計測する方法)が
、プロセス配管からの熱放射を受は検出器雰囲気温度が
上昇するため、サンプリング方式としている。従って、
焼却炉排ガスを高温状態から、常温程度まで減温するこ
とにより放射線計測を実施している。焼却炉排ガス中に
は、腐食性ガス成分が含まれていることから減温される
ことにより強酸やタール状物質が生成され、サンプリン
グ装置内配管のピンホールや流調弁へのタール付着によ
る動作不良が発生し、連続計J’lに支障をきたしてい
る。強酸やタール状物質の生成は、焼却物や運転モード
の相違により異なり、腐食性ガス成分の増加や露点の上
昇により不具合が引き起こされているものと考えられる
。耐食性材料は、チタンやテフロン材等がよく知られて
いるが、サンプリング装置内のすべての配管・機器に耐
食性材料を使用することは、現状の技術レベルでは困難
である。
50℃)であることから、放射線検出器の直付方式(プ
ロセス配管に近接した状態で放射線を計測する方法)が
、プロセス配管からの熱放射を受は検出器雰囲気温度が
上昇するため、サンプリング方式としている。従って、
焼却炉排ガスを高温状態から、常温程度まで減温するこ
とにより放射線計測を実施している。焼却炉排ガス中に
は、腐食性ガス成分が含まれていることから減温される
ことにより強酸やタール状物質が生成され、サンプリン
グ装置内配管のピンホールや流調弁へのタール付着によ
る動作不良が発生し、連続計J’lに支障をきたしてい
る。強酸やタール状物質の生成は、焼却物や運転モード
の相違により異なり、腐食性ガス成分の増加や露点の上
昇により不具合が引き起こされているものと考えられる
。耐食性材料は、チタンやテフロン材等がよく知られて
いるが、サンプリング装置内のすべての配管・機器に耐
食性材料を使用することは、現状の技術レベルでは困難
である。
一方、放射線検出器は、一定の雰囲気温度範囲内で計器
精度を保障しているため、温度範囲を逸脱する場合は、
計器の破損につながったり、規定の精度が得られなくな
ったりする。そのため、雰囲気温度を確保するため、プ
ロセス流体を減温処理を実施した後、放射線計測を実施
している。従って、プロセス流体が高温である場合には
、放射線計測設備として、サンプリング配管やサンプリ
ング装置が必要となる。そのため、サンプリング装置を
設置するために建屋内に設置場所を確保したり、また、
サンプリング配管ルートによっては、高線量エリアが増
大したり、配管へしゃへい体を設置する可能性もある。
精度を保障しているため、温度範囲を逸脱する場合は、
計器の破損につながったり、規定の精度が得られなくな
ったりする。そのため、雰囲気温度を確保するため、プ
ロセス流体を減温処理を実施した後、放射線計測を実施
している。従って、プロセス流体が高温である場合には
、放射線計測設備として、サンプリング配管やサンプリ
ング装置が必要となる。そのため、サンプリング装置を
設置するために建屋内に設置場所を確保したり、また、
サンプリング配管ルートによっては、高線量エリアが増
大したり、配管へしゃへい体を設置する可能性もある。
しかも、サンプリング配管が非常に長くなる場合には、
放射線検出器の検出遅れ時間の評価を実施する必要があ
る。評価した結果、不適当である場合には、サンプリン
グ装置設置場所の見直しやサンプリング配管ルートの見
直しをする必要がある。
放射線検出器の検出遅れ時間の評価を実施する必要があ
る。評価した結果、不適当である場合には、サンプリン
グ装置設置場所の見直しやサンプリング配管ルートの見
直しをする必要がある。
本発明の目的は、サンプリング配管やサンプリング装置
を必要とすることなく、放射線検出器をプロセス配管に
近接した状態で、プロセス流体の温度変化の影響を受け
ることなく、放射線計測を精度良〈実施することにある
。
を必要とすることなく、放射線検出器をプロセス配管に
近接した状態で、プロセス流体の温度変化の影響を受け
ることなく、放射線計測を精度良〈実施することにある
。
上記目的は、プロセス配管からの熱放射の影響を受けな
いように、配管に近接した放射線検出器を一定雰囲気温
度に維持することにより、達成される。即ち、一定雰囲
気温度に維持するためには。
いように、配管に近接した放射線検出器を一定雰囲気温
度に維持することにより、達成される。即ち、一定雰囲
気温度に維持するためには。
プロセス配管と放射線検出器の間に断熱材を設置する方
法と、プロセス配管と放射線検出器の距離をとる方法が
考えられる。前者については、断熱材により、放射線を
減衰させることになり放射線検出器の感度を悪くするこ
とになる。断熱材の材質いかんによっては、放射線レベ
ル変化を検知できない状態となる。後者については、プ
ロセス流体の温度により距離が大きくなり、断熱材と同
様に放射線検出器の感度を悪くすることになる。しかも
、プロセス配管や放射線検出器用のしゃへい体を大きく
する必要がある。
法と、プロセス配管と放射線検出器の距離をとる方法が
考えられる。前者については、断熱材により、放射線を
減衰させることになり放射線検出器の感度を悪くするこ
とになる。断熱材の材質いかんによっては、放射線レベ
ル変化を検知できない状態となる。後者については、プ
ロセス流体の温度により距離が大きくなり、断熱材と同
様に放射線検出器の感度を悪くすることになる。しかも
、プロセス配管や放射線検出器用のしゃへい体を大きく
する必要がある。
そこで、前者の方法において、断熱材の材質として放射
線の減衰率が小さくなる物質を選定すると共しこ、プロ
セス配管から放射線検出器への熱放射に対しては、断熱
材を循環させることにより、対応する。また、プロセス
流体の温度変化による放射線検出器への熱放射の変化に
対しては、断熱材の移動量を変化させることにより、放
射線検出器は、一定の雰囲気温度で維持される。つまり
、熱放射が大きい場合は、断熱材の移動量を大きくし、
熱放射が小さい場合は、断熱材の移動量を小さくする。
線の減衰率が小さくなる物質を選定すると共しこ、プロ
セス配管から放射線検出器への熱放射に対しては、断熱
材を循環させることにより、対応する。また、プロセス
流体の温度変化による放射線検出器への熱放射の変化に
対しては、断熱材の移動量を変化させることにより、放
射線検出器は、一定の雰囲気温度で維持される。つまり
、熱放射が大きい場合は、断熱材の移動量を大きくし、
熱放射が小さい場合は、断熱材の移動量を小さくする。
原子力発電プラントでは、設備を構成する各系統の運転
制御及び保守等に必要な圧縮空気を供給する系統があり
、その中で、空気式の計器や空気作動弁等に使用する計
装用圧縮空気系がある。一般に、空気は、放射線の減衰
が非常に小さく、無視できることから、冷却することに
より断熱材として使用する。尚、計装用空気は、相対湿
度が非常に低く、放射線検出器がさらさられる循環条件
としては、好条件となる。
制御及び保守等に必要な圧縮空気を供給する系統があり
、その中で、空気式の計器や空気作動弁等に使用する計
装用圧縮空気系がある。一般に、空気は、放射線の減衰
が非常に小さく、無視できることから、冷却することに
より断熱材として使用する。尚、計装用空気は、相対湿
度が非常に低く、放射線検出器がさらさられる循環条件
としては、好条件となる。
そこで、冷却装置を介した計装用空気を放射線検出器周
囲へ送り、プロセス配管からの熱を吸収させ、冷却装置
へ戻るようにし、冷却空気を循環させるようにする。
囲へ送り、プロセス配管からの熱を吸収させ、冷却装置
へ戻るようにし、冷却空気を循環させるようにする。
プロセス流体の温度が、一定である場合には、一定流量
の冷却空気を移送し、プロセス配管からの熱を吸収した
空気を戻し循環させることにより放射線検出器の周囲温
度を一定に維持させる。プロセス流体の温度が変化する
場合は、プロセス流体の温度により冷却空気の移動量を
コントロールすることにより、放射線検出器の周囲温度
を一定に維持させる。そのためには、プロセス流体の温
度を検出するための温度検出器が必要であり、その信号
により、冷却空気の移送量をコントロールするための流
量制御機能をもたせる。それによつて、放射線検出器は
、常に、一定の温度条件で維持される。
の冷却空気を移送し、プロセス配管からの熱を吸収した
空気を戻し循環させることにより放射線検出器の周囲温
度を一定に維持させる。プロセス流体の温度が変化する
場合は、プロセス流体の温度により冷却空気の移動量を
コントロールすることにより、放射線検出器の周囲温度
を一定に維持させる。そのためには、プロセス流体の温
度を検出するための温度検出器が必要であり、その信号
により、冷却空気の移送量をコントロールするための流
量制御機能をもたせる。それによつて、放射線検出器は
、常に、一定の温度条件で維持される。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。本実
施例は、焼却炉排ガス系や蒸気系等配管に含まれる放射
線をプロセス配管に近接して設置した放射線検出器によ
り連続的に計測するシステムである。プロセス配管1に
は、温度変化するプロセス流体が流れている。プロセス
流体の温度変化は、砲射線検出器7の上流側で、プロセ
ス配管′ 温度検出器4により計測される。断熱材冷却
装置5では、冷却された断熱材を冷却断熱材用配管2(
入口側)で、シールド鉛8内の放射線検出器7の周囲へ
移送される。プロセス配管1から熱放射を受けた断熱材
は、冷却断熱材用配管3(出口側)により、断熱材冷却
装置5へ戻される。断熱材冷却装置S内では、一定温度
の断熱材が作成されており、プロセス配管温度検出器4
の信号により、放射線検出器7へ移送する断熱材の移送
量をコントロールする。断熱材がシールド釦8から漏え
いする場合は、計装用圧縮空気系より供給される、計装
用空気配管で、断熱材冷却装置5内へ補充される。
施例は、焼却炉排ガス系や蒸気系等配管に含まれる放射
線をプロセス配管に近接して設置した放射線検出器によ
り連続的に計測するシステムである。プロセス配管1に
は、温度変化するプロセス流体が流れている。プロセス
流体の温度変化は、砲射線検出器7の上流側で、プロセ
ス配管′ 温度検出器4により計測される。断熱材冷却
装置5では、冷却された断熱材を冷却断熱材用配管2(
入口側)で、シールド鉛8内の放射線検出器7の周囲へ
移送される。プロセス配管1から熱放射を受けた断熱材
は、冷却断熱材用配管3(出口側)により、断熱材冷却
装置5へ戻される。断熱材冷却装置S内では、一定温度
の断熱材が作成されており、プロセス配管温度検出器4
の信号により、放射線検出器7へ移送する断熱材の移送
量をコントロールする。断熱材がシールド釦8から漏え
いする場合は、計装用圧縮空気系より供給される、計装
用空気配管で、断熱材冷却装置5内へ補充される。
本実施例によれば、放射線検出器は、プロセス配管の熱
放射を受けることなく、冷却空気により一定の温度雰囲
気となり、精度よく放射線を計測することができる。ま
た、プロセス配管と放射線検出器の位置関係が一定であ
るため、放射能濃度計算が単純となる。しかも、サンプ
リング装置等が不要となり、腐食による不具合が発生し
なくなる。
放射を受けることなく、冷却空気により一定の温度雰囲
気となり、精度よく放射線を計測することができる。ま
た、プロセス配管と放射線検出器の位置関係が一定であ
るため、放射能濃度計算が単純となる。しかも、サンプ
リング装置等が不要となり、腐食による不具合が発生し
なくなる。
第2図に、従来の放射線計測システムを示す。
従来は、サンプリング方式で、プロセス流体の放射線を
検出している。プロセス配管1よりサンプリングしたプ
ロセス流体を計装配管9(排ガス入口側)より排ガス温
度制御装置15を介し、サンプリング装置11内の排ガ
ス部14.流量調整部12、サンプルポンプ13を経て
計装配管工0(排ガス出口側)でプロセス配管1へ戻さ
れる。
検出している。プロセス配管1よりサンプリングしたプ
ロセス流体を計装配管9(排ガス入口側)より排ガス温
度制御装置15を介し、サンプリング装置11内の排ガ
ス部14.流量調整部12、サンプルポンプ13を経て
計装配管工0(排ガス出口側)でプロセス配管1へ戻さ
れる。
放射線検出器7は、サンプリング装置内の排ガス部14
で放射線を計測することになる。従来は。
で放射線を計測することになる。従来は。
排ガス温度制御部15やサンプリング装置11内の流量
調整部12で、配管ピンホールや動作不良が発生してい
る。
調整部12で、配管ピンホールや動作不良が発生してい
る。
従来、排ガス温度が高温であり変化することからサンプ
リング設備を必要としていたが1本実施例によりサンプ
リング設備が不要となる。しかも、サンプリング配管の
しゃへい体が不用となること、建屋内にサンプリング設
備設置エリアを確保する必要がなくなり、放射線計測装
置の検出遅れ時間を評価する必要がなくなり、大巾なコ
スト軽減となる。又、放射線検出器の周囲温度が、常時
、一定となるため、測定精度が一定に良くなる効果があ
る。
リング設備を必要としていたが1本実施例によりサンプ
リング設備が不要となる。しかも、サンプリング配管の
しゃへい体が不用となること、建屋内にサンプリング設
備設置エリアを確保する必要がなくなり、放射線計測装
置の検出遅れ時間を評価する必要がなくなり、大巾なコ
スト軽減となる。又、放射線検出器の周囲温度が、常時
、一定となるため、測定精度が一定に良くなる効果があ
る。
本発明によれば、焼却炉排ガスによる放射線計測装置の
腐食による不具合を防ぐことができ、焼却炉排ガスを連
続的に監視することができる。
腐食による不具合を防ぐことができ、焼却炉排ガスを連
続的に監視することができる。
第1図は、本発明の一実施例の放射線計fll’lシス
テムの系統図、第2図は、従来の放射線計測システムの
系統図である。 1・・・プロセス配管、2・・・冷却断熱材用配管(入
口側)、3・・・冷却断熱材用配管(戻り側)、4・・
・プロセス配管温度検出器、5・・・断熱材冷却装置、
6・・・計装用空気配管、7・・・放射線検出器、8・
・シールド鉛。
テムの系統図、第2図は、従来の放射線計測システムの
系統図である。 1・・・プロセス配管、2・・・冷却断熱材用配管(入
口側)、3・・・冷却断熱材用配管(戻り側)、4・・
・プロセス配管温度検出器、5・・・断熱材冷却装置、
6・・・計装用空気配管、7・・・放射線検出器、8・
・シールド鉛。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、計装配管と放射線検出装置を有する放射線計測シス
テムにおいて、 放射線検出器周囲温度を一定となるように計装配管の温
度に応じて冷却した空気を放射線検出器の周囲に供給す
ることを特徴とする放射線計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13810787A JPS63302386A (ja) | 1987-06-03 | 1987-06-03 | 放射線計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13810787A JPS63302386A (ja) | 1987-06-03 | 1987-06-03 | 放射線計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63302386A true JPS63302386A (ja) | 1988-12-09 |
Family
ID=15214114
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13810787A Pending JPS63302386A (ja) | 1987-06-03 | 1987-06-03 | 放射線計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63302386A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008002971A (ja) * | 2006-06-22 | 2008-01-10 | Nanogray Inc | 放射線応用計測方法,放射線応用計測装置及び放射線応用計測装置用断熱材 |
JP2010048765A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | ヨウ素サンプラ |
JP2010048766A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | トリチウムサンプラ |
-
1987
- 1987-06-03 JP JP13810787A patent/JPS63302386A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008002971A (ja) * | 2006-06-22 | 2008-01-10 | Nanogray Inc | 放射線応用計測方法,放射線応用計測装置及び放射線応用計測装置用断熱材 |
JP2010048765A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | ヨウ素サンプラ |
JP2010048766A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | トリチウムサンプラ |
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