JP2001512230A5 - - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 description 29
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- 230000003068 static Effects 0.000 description 1
Description
【特許請求の範囲】
【請求項1】 原子間力顕微鏡であって、試料表面(52)の近傍に移動させうるように構成された力感知プローブ・チップ(64)と、前記プローブ・チップと前記試料表面との間での相対的な運動を発生させる走査要素(50)と、前記プローブ・チップの撓みを生じさせる磁場を発生させるデバイス(62)と、前記デバイスのためのドライバ(73)であって、交流源(66)を含むドライバ(73)と、前記プローブ・チップの位置を検出する検出器(60)と、を備えている原子力間力顕微鏡において、前記ドライバがさらに、前記プローブ・チップの時間平均位置の変位を生じさせるよう大きさが制御された静的な第2の電流源(74)を含んでいることを特徴とする原子間力顕微鏡。
【請求項2】 請求項1記載の原子間力顕微鏡において、前記第2の電流源が、変動する電流を生じることを特徴とする原子間力顕微鏡。
【請求項3】 請求項1記載の原子間力顕微鏡において、前記位置検出器(60)からの信号を受信するように構成された位相感知性検出器(68)をさらに含むことを特徴とする原子間力顕微鏡。
【請求項4】 プローブ・チップ(64)を有する力感知カンチレバー(48)を含む走査プローブ顕微鏡の操作方法であって、前記力感知カンチレバーに磁気的な駆動力を加えるステップと、前記プローブ・チップが試料表面に対して移動される際に前記駆動力に応答する前記プローブ・チップの移動を測定するステップと、を含む方法において、前記駆動力が、前記プローブ・チップの発振運動を生じさせる第1の信号と、前記プローブ・チップの時間平均位置の変位を生じさせる第2の信号と、を含むことを特徴とする方法。
【請求項5】 請求項4記載の方法において、前記プローブ・チップの前記移動が、前記試料表面からのプローブ・チップの距離に対する前記プローブ・チップの相対的な変位のデータとして記録されることを特徴とする方法。
【請求項6】 請求項5記載の方法において、前記記録されたデータを用いて、前記試料表面からの距離に対する相対的な変位のプロット上の点を選択することにより前記顕微鏡の動作点を設定するステップを含むことを特徴とする方法。
【請求項7】 請求項4記載の方法において、前記第2の信号が時間的に変動するようになされていることを特徴とする方法。
【請求項8】 請求項4記載の方法において、前記移動が位置感知性検出器(60)によって感知されるようになされていることを特徴とする方法。
【請求項9】 請求項8記載の方法において、位相感知性検出器(68)に対する前記プローブ・チップの移動量の関数である前記位置感知性検出器からの第3の信号を供給するステップを含むことを特徴とする方法。
【請求項10】 プローブ・チップ(64)を有する力感知カンチレバー(48)を含む走査プローブ顕微鏡を用いて試料の動的な弾性を測定する測定する方法であって、駆動力を前記プローブ・チップに加えるステップと、前記駆動力を変化させるステップと、時間の関数として前記プローブ・チップの移動を記録するステップと、を含む方法において、前記駆動力が、前記プローブ・チップの発振運動を生じさせる第1の信号と、前記プローブ・チップの時間平均位置の変位を生じさせる第2の信号と、を含むことを特徴とする方法。
【請求項11】 請求項10記載の方法において、前記駆動力が、ソレノイド(62)によって供給される磁気的な駆動力であり、前記磁気的な駆動力が、前記ソレノイドに与えられる電流を変化させることによって変化させられるようになされていることを特徴とする方法。
【請求項12】 請求項10記載の方法において、前記駆動力が、圧電アクチュエータ(50)によって供給され、前記駆動力が、前記プローブ・チップに磁気的な駆動力を与えることによって変化させられるようになされていることを特徴とする方法。
【請求項13】 請求項10記載の方法において、前記プローブ・チップの違相運動を記録するステップを含むことを特徴とする方法。
【請求項1】 原子間力顕微鏡であって、試料表面(52)の近傍に移動させうるように構成された力感知プローブ・チップ(64)と、前記プローブ・チップと前記試料表面との間での相対的な運動を発生させる走査要素(50)と、前記プローブ・チップの撓みを生じさせる磁場を発生させるデバイス(62)と、前記デバイスのためのドライバ(73)であって、交流源(66)を含むドライバ(73)と、前記プローブ・チップの位置を検出する検出器(60)と、を備えている原子力間力顕微鏡において、前記ドライバがさらに、前記プローブ・チップの時間平均位置の変位を生じさせるよう大きさが制御された静的な第2の電流源(74)を含んでいることを特徴とする原子間力顕微鏡。
【請求項2】 請求項1記載の原子間力顕微鏡において、前記第2の電流源が、変動する電流を生じることを特徴とする原子間力顕微鏡。
【請求項3】 請求項1記載の原子間力顕微鏡において、前記位置検出器(60)からの信号を受信するように構成された位相感知性検出器(68)をさらに含むことを特徴とする原子間力顕微鏡。
【請求項4】 プローブ・チップ(64)を有する力感知カンチレバー(48)を含む走査プローブ顕微鏡の操作方法であって、前記力感知カンチレバーに磁気的な駆動力を加えるステップと、前記プローブ・チップが試料表面に対して移動される際に前記駆動力に応答する前記プローブ・チップの移動を測定するステップと、を含む方法において、前記駆動力が、前記プローブ・チップの発振運動を生じさせる第1の信号と、前記プローブ・チップの時間平均位置の変位を生じさせる第2の信号と、を含むことを特徴とする方法。
【請求項5】 請求項4記載の方法において、前記プローブ・チップの前記移動が、前記試料表面からのプローブ・チップの距離に対する前記プローブ・チップの相対的な変位のデータとして記録されることを特徴とする方法。
【請求項6】 請求項5記載の方法において、前記記録されたデータを用いて、前記試料表面からの距離に対する相対的な変位のプロット上の点を選択することにより前記顕微鏡の動作点を設定するステップを含むことを特徴とする方法。
【請求項7】 請求項4記載の方法において、前記第2の信号が時間的に変動するようになされていることを特徴とする方法。
【請求項8】 請求項4記載の方法において、前記移動が位置感知性検出器(60)によって感知されるようになされていることを特徴とする方法。
【請求項9】 請求項8記載の方法において、位相感知性検出器(68)に対する前記プローブ・チップの移動量の関数である前記位置感知性検出器からの第3の信号を供給するステップを含むことを特徴とする方法。
【請求項10】 プローブ・チップ(64)を有する力感知カンチレバー(48)を含む走査プローブ顕微鏡を用いて試料の動的な弾性を測定する測定する方法であって、駆動力を前記プローブ・チップに加えるステップと、前記駆動力を変化させるステップと、時間の関数として前記プローブ・チップの移動を記録するステップと、を含む方法において、前記駆動力が、前記プローブ・チップの発振運動を生じさせる第1の信号と、前記プローブ・チップの時間平均位置の変位を生じさせる第2の信号と、を含むことを特徴とする方法。
【請求項11】 請求項10記載の方法において、前記駆動力が、ソレノイド(62)によって供給される磁気的な駆動力であり、前記磁気的な駆動力が、前記ソレノイドに与えられる電流を変化させることによって変化させられるようになされていることを特徴とする方法。
【請求項12】 請求項10記載の方法において、前記駆動力が、圧電アクチュエータ(50)によって供給され、前記駆動力が、前記プローブ・チップに磁気的な駆動力を与えることによって変化させられるようになされていることを特徴とする方法。
【請求項13】 請求項10記載の方法において、前記プローブ・チップの違相運動を記録するステップを含むことを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/905,815 | 1997-08-04 | ||
US08/905,815 US5983712A (en) | 1994-05-19 | 1997-08-04 | Microscope for compliance measurement |
PCT/US1998/015498 WO1999006793A1 (en) | 1997-08-04 | 1998-07-27 | Microscope for compliance measurement |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001512230A JP2001512230A (ja) | 2001-08-21 |
JP2001512230A5 true JP2001512230A5 (ja) | 2006-02-09 |
JP4314328B2 JP4314328B2 (ja) | 2009-08-12 |
Family
ID=25421523
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000505482A Expired - Fee Related JP4314328B2 (ja) | 1997-08-04 | 1998-07-27 | コンプライアンス測定用顕微鏡 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5983712A (ja) |
EP (1) | EP1002216B1 (ja) |
JP (1) | JP4314328B2 (ja) |
DE (1) | DE69819008T2 (ja) |
WO (1) | WO1999006793A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2145055C1 (ru) * | 1999-02-08 | 2000-01-27 | Ао "Автэкс" | Способ сбора и обработки информации о поверхности образца |
US6377066B1 (en) * | 1999-07-09 | 2002-04-23 | Mfi Technologies Corporation | Method and apparatus for sub-micron imaging and probing on probe station |
US6188322B1 (en) * | 1999-09-28 | 2001-02-13 | Rockwell Technologies, Llc | Method for sensing electrical current |
FR2807162B1 (fr) | 2000-03-31 | 2002-06-28 | Inst Curie | Sonde d'analyse de surface pour un microscope a force atomique et microscope a force atomique la comportant |
EP1197726A1 (en) * | 2000-10-04 | 2002-04-17 | Eidgenössische Technische Hochschule Zürich | Multipurpose Sensor and cantilever for it |
US6989075B1 (en) | 2000-11-03 | 2006-01-24 | The Procter & Gamble Company | Tension activatable substrate |
US6734438B1 (en) | 2001-06-14 | 2004-05-11 | Molecular Imaging Corporation | Scanning probe microscope and solenoid driven cantilever assembly |
JP2005520320A (ja) * | 2001-06-21 | 2005-07-07 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド | 位置に依存しない力によるソレノイド・アクチュエータ |
US8252316B2 (en) | 2002-05-03 | 2012-08-28 | Purepharm Inc. | Method of topically applying glycopyrrolate solution using absorbent pad to reduce sweating |
CA2384922C (en) * | 2002-05-03 | 2008-09-02 | Purepharm Inc. | Topical glycopyrrolate product for the reduction of sweating |
EP1644937A1 (en) * | 2003-07-15 | 2006-04-12 | University Of Bristol | Probe for an atomic force microscope |
US7146282B1 (en) * | 2005-05-06 | 2006-12-05 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Mechanical force detection of magnetic fields using heterodyne demodulation |
JP5046039B2 (ja) * | 2008-04-16 | 2012-10-10 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 液中観察用センサ及び液中観察装置 |
SG171994A1 (en) * | 2008-12-11 | 2011-07-28 | Infinitesima Ltd | Dynamic probe detection system |
US20150075264A1 (en) * | 2012-03-27 | 2015-03-19 | Hysitron, Inc. | Microscope objective mechanical testing instrument |
US8973161B2 (en) * | 2012-06-22 | 2015-03-03 | Rutgers, The State University Of New Jersey | Method and apparatus for nanomechanical measurement using an atomic force microscope |
WO2017123779A1 (en) | 2016-01-12 | 2017-07-20 | Stuart Lindsay | Porous material functionalized nanopore for molecular sensing apparatus |
US10073057B2 (en) * | 2016-06-14 | 2018-09-11 | Universidad De Santiago De Chile | Micro magnetic trap and process for evaluating forces with pico Newton resolution |
CN107193008A (zh) * | 2017-07-25 | 2017-09-22 | 安徽大学 | 一种超声波测距装置及方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5224376A (en) * | 1989-12-08 | 1993-07-06 | Digital Instruments, Inc. | Atomic force microscope |
US5237859A (en) * | 1989-12-08 | 1993-08-24 | Digital Instruments, Inc. | Atomic force microscope |
US5266896A (en) * | 1992-06-09 | 1993-11-30 | International Business Machines Corporation | Mechanical detection and imaging of magnetic resonance by magnetic moment modulation |
JP2743761B2 (ja) * | 1993-03-19 | 1998-04-22 | 松下電器産業株式会社 | 走査型プローブ顕微鏡および原子種同定方法 |
US5461907A (en) * | 1993-03-23 | 1995-10-31 | Regents Of The University Of California | Imaging, cutting, and collecting instrument and method |
US5406832A (en) * | 1993-07-02 | 1995-04-18 | Topometrix Corporation | Synchronous sampling scanning force microscope |
JP3076889B2 (ja) * | 1993-09-02 | 2000-08-14 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 磁気力顕微鏡 |
US5513518A (en) * | 1994-05-19 | 1996-05-07 | Molecular Imaging Corporation | Magnetic modulation of force sensor for AC detection in an atomic force microscope |
US5515719A (en) * | 1994-05-19 | 1996-05-14 | Molecular Imaging Corporation | Controlled force microscope for operation in liquids |
-
1997
- 1997-08-04 US US08/905,815 patent/US5983712A/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-07-27 JP JP2000505482A patent/JP4314328B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-07-27 EP EP98936017A patent/EP1002216B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-07-27 DE DE69819008T patent/DE69819008T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-07-27 WO PCT/US1998/015498 patent/WO1999006793A1/en active IP Right Grant
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