JP2001356272A5 - - Google Patents
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Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000175630A JP2001356272A (ja) | 2000-06-12 | 2000-06-12 | 画像取得方法及び走査型光学顕微鏡 |
US09/877,767 US6433929B1 (en) | 2000-06-12 | 2001-06-08 | Scanning optical microscope and method of acquiring image |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000175630A JP2001356272A (ja) | 2000-06-12 | 2000-06-12 | 画像取得方法及び走査型光学顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001356272A JP2001356272A (ja) | 2001-12-26 |
JP2001356272A5 true JP2001356272A5 (de) | 2007-07-26 |
Family
ID=18677482
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000175630A Pending JP2001356272A (ja) | 2000-06-12 | 2000-06-12 | 画像取得方法及び走査型光学顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001356272A (de) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4074136B2 (ja) | 2002-05-29 | 2008-04-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | 蛍光寿命分布画像測定装置およびその測定方法 |
DE10344410A1 (de) * | 2003-09-25 | 2005-04-28 | Leica Microsystems | Rastermikroskop mit evaneszenter Beleuchtung |
DE10357584B4 (de) * | 2003-12-08 | 2006-06-14 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zum Trennen unterschiedlicher Emissionswellenlängen in einem Scanmikroskop |
DE102006010767B4 (de) * | 2006-03-08 | 2008-04-17 | Carl Zeiss Surgical Gmbh | Mikroskopiesystem |
DE102006026204A1 (de) * | 2006-05-31 | 2007-12-06 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Mikroskop mit erhöhter Auflösung |
JP4899648B2 (ja) * | 2006-06-05 | 2012-03-21 | 株式会社ニコン | スペクトル観察方法及びスペクトル観察システム |
DE602008000515D1 (de) * | 2007-02-05 | 2010-03-04 | Olympus Corp | Laser-Scanning-Mikroskop |
JP5011076B2 (ja) * | 2007-11-26 | 2012-08-29 | オリンパス株式会社 | レーザ顕微鏡 |
GB0900705D0 (en) | 2009-01-16 | 2009-03-04 | Univ Huddersfield | Surface measurement system |
JP5551477B2 (ja) * | 2010-03-15 | 2014-07-16 | オリンパス株式会社 | 光源装置およびレーザ走査型顕微鏡装置 |
JP5771371B2 (ja) * | 2010-07-22 | 2015-08-26 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡 |
DE102010055882A1 (de) * | 2010-12-22 | 2012-06-28 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Pinhole für ein konfokales Laser-Scanning Mikroskop |
US8829472B2 (en) | 2011-03-01 | 2014-09-09 | Nec Corporation | Image display device |
JP6049300B2 (ja) | 2012-05-11 | 2016-12-21 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム |
JP5973404B2 (ja) * | 2013-09-25 | 2016-08-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 蛍光検出装置及び蛍光検出方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05167980A (ja) * | 1991-12-18 | 1993-07-02 | Olympus Optical Co Ltd | 画像信号速度変換回路 |
JPH10206745A (ja) * | 1997-01-22 | 1998-08-07 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
JPH11183806A (ja) * | 1997-12-18 | 1999-07-09 | Nikon Corp | コンフォーカル顕微鏡 |
JP4262319B2 (ja) * | 1998-03-23 | 2009-05-13 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡 |
-
2000
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