JP2001349953A - 散乱線除去エアグリッドの検査装置 - Google Patents
散乱線除去エアグリッドの検査装置Info
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- JP2001349953A JP2001349953A JP2000175271A JP2000175271A JP2001349953A JP 2001349953 A JP2001349953 A JP 2001349953A JP 2000175271 A JP2000175271 A JP 2000175271A JP 2000175271 A JP2000175271 A JP 2000175271A JP 2001349953 A JP2001349953 A JP 2001349953A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 散乱線除去エアグリッドの検査を簡易に行
う。 【解決手段】 エアグリッド１０を支持手段３により支
持し、エアグリッド１０を構成するストリップ１２の集
束位置、すなわちエアグリッド１０の使用時の放射線源
の位置に対応する位置にある点光源２から検査光２Ａを
出射し、検査光２Ａをエアグリッド１０に照射する。エ
アグリッド１０を透過した透過光２Ｂをラインセンサ４
Ａ〜４Ｃにより検出し、透過光２Ｂを表す検査信号Ｓ１
〜Ｓ３を得る。この検査信号Ｓ１〜Ｓ３のプロファイル
を解析手段５において解析し、検査結果を表示手段６に
表示する。
う。 【解決手段】 エアグリッド１０を支持手段３により支
持し、エアグリッド１０を構成するストリップ１２の集
束位置、すなわちエアグリッド１０の使用時の放射線源
の位置に対応する位置にある点光源２から検査光２Ａを
出射し、検査光２Ａをエアグリッド１０に照射する。エ
アグリッド１０を透過した透過光２Ｂをラインセンサ４
Ａ〜４Ｃにより検出し、透過光２Ｂを表す検査信号Ｓ１
〜Ｓ３を得る。この検査信号Ｓ１〜Ｓ３のプロファイル
を解析手段５において解析し、検査結果を表示手段６に
表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は放射線撮影装置に使
用される散乱線除去エアグリッドの検査装置に関するも
のである。
用される散乱線除去エアグリッドの検査装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来、生体等の被写体を透過した放射線
により被写体の放射線透過像を撮影する際、散乱線の少
ない高画質の透過像を得るために、被写体を透過する放
射線が被写体により散乱されて発生する散乱線を吸収す
る散乱線除去グリッドを用いることが知られている。
により被写体の放射線透過像を撮影する際、散乱線の少
ない高画質の透過像を得るために、被写体を透過する放
射線が被写体により散乱されて発生する散乱線を吸収す
る散乱線除去グリッドを用いることが知られている。
【０００３】この散乱線除去グリッドの一般的な形状
は、放射線の進行方向に幅を持った放射線吸収部（スト
リップ）と放射線透過部とが交互に平行に、あるいは使
用時の放射線源に向けて集束させるように傾斜させて並
設されて、これらを支持部材により支持することにより
全体として平板状に形成されたもので、放射線が被写体
に散乱されて斜めに進む散乱線は放射線吸収部により吸
収されて除去され、略直線的に透過する主透過線のみが
放射線透過部を透過して検出器上に到達し放射線透過像
を形成するようになっている。なお、ここで、放射線吸
収部と放射線透過部が互いに平行に並設されたグリッド
を平行グリッド、使用時の放射線源に向けて集束させる
ように傾斜させて並設されたグリッドを集束グリッドと
称する。
は、放射線の進行方向に幅を持った放射線吸収部（スト
リップ）と放射線透過部とが交互に平行に、あるいは使
用時の放射線源に向けて集束させるように傾斜させて並
設されて、これらを支持部材により支持することにより
全体として平板状に形成されたもので、放射線が被写体
に散乱されて斜めに進む散乱線は放射線吸収部により吸
収されて除去され、略直線的に透過する主透過線のみが
放射線透過部を透過して検出器上に到達し放射線透過像
を形成するようになっている。なお、ここで、放射線吸
収部と放射線透過部が互いに平行に並設されたグリッド
を平行グリッド、使用時の放射線源に向けて集束させる
ように傾斜させて並設されたグリッドを集束グリッドと
称する。
【０００４】ここで放射線透過部は木、アルミニウム等
により形成され、鉛等から形成される放射線吸収部と交
互に密接させて配置することにより全体として強度を保
っている。
により形成され、鉛等から形成される放射線吸収部と交
互に密接させて配置することにより全体として強度を保
っている。
【０００５】一方、散乱線除去グリッドを集束グリッド
とした場合、ストリップが使用時の放射線源に向けて集
束しているか否か、またストリップの厚さにばらつきが
ないか否かを確認するために、散乱線除去グリッドの精
度の検査が行われている。ここで、散乱線除去グリッド
にストリップの集束角度や厚さのばらつきがあると、得
られる放射線画像にムラが生じることとなる。したがっ
て、散乱線除去グリッドの検査は、放射線源とグリッド
とを実際の撮影時における位置関係となるように配置
し、放射線源から発せられグリッドを透過した放射線を
検出して、透過放射線により表される放射線画像を得、
この放射線画像を目視により観察して、画像のムラの有
無を判断することにより行っている。
とした場合、ストリップが使用時の放射線源に向けて集
束しているか否か、またストリップの厚さにばらつきが
ないか否かを確認するために、散乱線除去グリッドの精
度の検査が行われている。ここで、散乱線除去グリッド
にストリップの集束角度や厚さのばらつきがあると、得
られる放射線画像にムラが生じることとなる。したがっ
て、散乱線除去グリッドの検査は、放射線源とグリッド
とを実際の撮影時における位置関係となるように配置
し、放射線源から発せられグリッドを透過した放射線を
検出して、透過放射線により表される放射線画像を得、
この放射線画像を目視により観察して、画像のムラの有
無を判断することにより行っている。
【０００６】ところで、放射線透過部は、主透過線の透
過率を低下させないよう、放射線の透過率が高いもので
あるのが望ましい。このため、放射線透過部を空気とし
た散乱線除去グリッド、いわゆるエアグリッドが提案さ
れている（例えば特開平１０−５２０７号）。
過率を低下させないよう、放射線の透過率が高いもので
あるのが望ましい。このため、放射線透過部を空気とし
た散乱線除去グリッド、いわゆるエアグリッドが提案さ
れている（例えば特開平１０−５２０７号）。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このようなエアグリッ
ドについても、ストリップの集束角度や厚さのばらつき
の有無についての精度の検査を行う必要がある。しかし
ながら、上述したように放射線を用いた精度の検査は、
その検査を行うための装置の構成が大がかりなものとな
り、また放射線の管理も非常に煩わしいものである。
ドについても、ストリップの集束角度や厚さのばらつき
の有無についての精度の検査を行う必要がある。しかし
ながら、上述したように放射線を用いた精度の検査は、
その検査を行うための装置の構成が大がかりなものとな
り、また放射線の管理も非常に煩わしいものである。
【０００８】本発明は上記事情に鑑みなされたものであ
り、エアグリッドについて簡易に精度の検査を行うこと
ができる検査装置を提供することを目的とするものであ
る。
り、エアグリッドについて簡易に精度の検査を行うこと
ができる検査装置を提供することを目的とするものであ
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の散乱線除去エア
グリッドの検査装置は、放射線吸収物質からなり、放射
線が照射される領域全体に亘って所定の間隔で配置され
る放射線の進行方向に幅を持ち、かつ使用時の放射線源
に向けて集束するよう傾斜された複数のストリップを備
えた散乱線除去エアグリッドの検査装置において、前記
散乱線除去エアグリッドを所定位置に支持する支持手段
と、該支持手段に支持された前記散乱線除去エアグリッ
ドにおける前記複数のストリップの集束位置に配設さ
れ、前記散乱線除去エアグリッドに向けて検査光を照射
する光源と、前記散乱線除去エアグリッドを透過した透
過検査光を検出する検出手段とを備えたことを特徴とす
るものである。
グリッドの検査装置は、放射線吸収物質からなり、放射
線が照射される領域全体に亘って所定の間隔で配置され
る放射線の進行方向に幅を持ち、かつ使用時の放射線源
に向けて集束するよう傾斜された複数のストリップを備
えた散乱線除去エアグリッドの検査装置において、前記
散乱線除去エアグリッドを所定位置に支持する支持手段
と、該支持手段に支持された前記散乱線除去エアグリッ
ドにおける前記複数のストリップの集束位置に配設さ
れ、前記散乱線除去エアグリッドに向けて検査光を照射
する光源と、前記散乱線除去エアグリッドを透過した透
過検査光を検出する検出手段とを備えたことを特徴とす
るものである。
【００１０】ストリップは、鉛、鉛とステンレスとの合
金（鉛合金）、タングステンなどの放射線を吸収する物
質からなる。
金（鉛合金）、タングステンなどの放射線を吸収する物
質からなる。
【００１１】支持手段としては、１つの散乱線除去エア
グリッドを所定位置に支持する手段であってもよく、複
数の散乱線除去エアグリッドを所定位置に向けて順次搬
送する搬送手段からなるものであってもよい。
グリッドを所定位置に支持する手段であってもよく、複
数の散乱線除去エアグリッドを所定位置に向けて順次搬
送する搬送手段からなるものであってもよい。
【００１２】散乱線除去エアグリッドに向けて検査光を
照射する光源としては、使用時の放射線源と対応する位
置に配設された点光源の他、散乱線除去エアグリッドの
複数のストリップが配設される方向にレーザ光を走査す
る、使用時の放射線源と対応する位置に配設されたレー
ザ光源等を用いることができる。
照射する光源としては、使用時の放射線源と対応する位
置に配設された点光源の他、散乱線除去エアグリッドの
複数のストリップが配設される方向にレーザ光を走査す
る、使用時の放射線源と対応する位置に配設されたレー
ザ光源等を用いることができる。
【００１３】検出手段としては、ストリップが配設され
る方向に延在するラインセンサ又は面センサ等を用いる
ことができる。なお、検出手段としては、散乱線除去エ
アグリッドのストリップが配設される方向と直交する方
向の複数箇所における透過検査光を検出する手段とする
ことが好ましい。
る方向に延在するラインセンサ又は面センサ等を用いる
ことができる。なお、検出手段としては、散乱線除去エ
アグリッドのストリップが配設される方向と直交する方
向の複数箇所における透過検査光を検出する手段とする
ことが好ましい。
【００１４】なお、本発明による散乱線除去エアグリッ
ドの検査装置においては、前記検出手段による検出結果
を表す画像を表示する画像表示手段をさらに備えること
が好ましい。
ドの検査装置においては、前記検出手段による検出結果
を表す画像を表示する画像表示手段をさらに備えること
が好ましい。
【００１５】また、前記検出手段による検出結果に基づ
いて、前記散乱線除去エアグリッドの検査結果を出力す
る出力手段をさらに備えることが好ましい。
いて、前記散乱線除去エアグリッドの検査結果を出力す
る出力手段をさらに備えることが好ましい。
【００１６】出力手段としては、検出結果を解析して検
査結果がＮＧであるかＯＫであるかを出力する手段、Ｎ
ＧであるかＯＫであるかを音声等により知らせる手段、
ＮＧの場合にＮＧ部分の透過検査光により表される画像
を表示する手段等を用いることができる。
査結果がＮＧであるかＯＫであるかを出力する手段、Ｎ
ＧであるかＯＫであるかを音声等により知らせる手段、
ＮＧの場合にＮＧ部分の透過検査光により表される画像
を表示する手段等を用いることができる。
【００１７】ここで、検出結果の解析は、例えば透過検
査光により表される画像信号を得、この画像信号のプロ
ファイルを作成し、プロファイル上における複数のスト
リップ間を透過した各透過光により表されるプロファイ
ルの形状を、予め定められたプロファイルの形状と比較
することにより行うことができる。
査光により表される画像信号を得、この画像信号のプロ
ファイルを作成し、プロファイル上における複数のスト
リップ間を透過した各透過光により表されるプロファイ
ルの形状を、予め定められたプロファイルの形状と比較
することにより行うことができる。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、散乱線除去エアグリッ
ドに向けて検査光を照射し、散乱線除去エアグリッドを
透過した透過光を検出するようにしたため、放射線を用
いることなく散乱線除去エアグリッドの検査を行うこと
ができる。したがって、放射線を照射するための大がか
りな装置を用いることなく、かつ放射線の管理の煩わし
さを生じさせることなく、簡易に散乱線除去エアグリッ
ドの検査を行うことができる。
ドに向けて検査光を照射し、散乱線除去エアグリッドを
透過した透過光を検出するようにしたため、放射線を用
いることなく散乱線除去エアグリッドの検査を行うこと
ができる。したがって、放射線を照射するための大がか
りな装置を用いることなく、かつ放射線の管理の煩わし
さを生じさせることなく、簡易に散乱線除去エアグリッ
ドの検査を行うことができる。
【００１９】また、透過検査光の検出結果を表す画像を
表示することにより、その画像を見れば散乱線除去エア
グリッドのムラ精度を簡易に確認することができる。
表示することにより、その画像を見れば散乱線除去エア
グリッドのムラ精度を簡易に確認することができる。
【００２０】さらに、透過検査光の検出結果に基づい
て、散乱線除去エアグリッドの検査結果を出力すること
により、人為的な判断を加えることなく散乱線除去エア
グリッドの検査を行うことができ、これにより検査を行
うオペレータの負担を軽減できる。
て、散乱線除去エアグリッドの検査結果を出力すること
により、人為的な判断を加えることなく散乱線除去エア
グリッドの検査を行うことができ、これにより検査を行
うオペレータの負担を軽減できる。
【００２１】さらにまた、複数の散乱線除去エアグリッ
ドを所定位置に順次搬送することにより、複数の散乱線
除去エアグリッドに対して順次その検査を行うことがで
き、これにより、散乱線除去エアグリッドの検査の自動
化を図ることができる。
ドを所定位置に順次搬送することにより、複数の散乱線
除去エアグリッドに対して順次その検査を行うことがで
き、これにより、散乱線除去エアグリッドの検査の自動
化を図ることができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について説明する。なお、図は説明のための概略
図であり、各部材の板厚、ストリップの数、あるいは各
部材の寸法の比率等は実際とは必ずしも整合していな
い。
施形態について説明する。なお、図は説明のための概略
図であり、各部材の板厚、ストリップの数、あるいは各
部材の寸法の比率等は実際とは必ずしも整合していな
い。
【００２３】図１は、本発明の実施形態による散乱線除
去エアグリッド（以下、単にエアグリッドという）の検
査装置の構成を示す図であり、（ａ）は斜視図、（ｂ）
は（ａ）のＩ−Ｉ線断面図である。本実施形態による検
査装置１は、エアグリッド１０の使用時の放射線源に対
応する位置に配設されたハロゲンランプなどからなる点
光源２と、エアグリッド１０を点光源２に対して使用時
の放射線源に対する位置と同様の位置に支持する支持手
段３と、点光源２から発せられる光（検査光とする）２
Ａのエアグリッド１０の透過光２Ｂを検出し、検査信号
Ｓ１〜Ｓ３を出力する３本のラインセンサ４Ａ〜４Ｃ
と、検査信号Ｓ１〜Ｓ３を解析する解析手段５と、解析
結果を表示するモニタなどの表示手段６と、解析手段５
において解析に用いられるデータを記憶するデータ記憶
手段７とを備える。
去エアグリッド（以下、単にエアグリッドという）の検
査装置の構成を示す図であり、（ａ）は斜視図、（ｂ）
は（ａ）のＩ−Ｉ線断面図である。本実施形態による検
査装置１は、エアグリッド１０の使用時の放射線源に対
応する位置に配設されたハロゲンランプなどからなる点
光源２と、エアグリッド１０を点光源２に対して使用時
の放射線源に対する位置と同様の位置に支持する支持手
段３と、点光源２から発せられる光（検査光とする）２
Ａのエアグリッド１０の透過光２Ｂを検出し、検査信号
Ｓ１〜Ｓ３を出力する３本のラインセンサ４Ａ〜４Ｃ
と、検査信号Ｓ１〜Ｓ３を解析する解析手段５と、解析
結果を表示するモニタなどの表示手段６と、解析手段５
において解析に用いられるデータを記憶するデータ記憶
手段７とを備える。
【００２４】エアグリッド１０は、放射線を吸収する材
料からなる複数のストリップ１２を、所定の集束距離に
位置する不図示の放射線源に向け傾斜されるように組み
合わせ、フレーム１３により複数のストリップ１２を支
持することにより構成される集束グリッドである。ここ
で、放射線源は通常、エアグリッド１０の中央部上方に
位置するので、両端のストリップ１２は、放射線源に向
くよう最も傾斜し、内方に位置を変えるにしたがい、順
次その傾斜が緩やかになり上面に対し直角に近づく。な
お、点光源２は、支持手段３により支持されたエアグリ
ッド１０におけるストリップ１２の集束位置に位置する
こととなる。
料からなる複数のストリップ１２を、所定の集束距離に
位置する不図示の放射線源に向け傾斜されるように組み
合わせ、フレーム１３により複数のストリップ１２を支
持することにより構成される集束グリッドである。ここ
で、放射線源は通常、エアグリッド１０の中央部上方に
位置するので、両端のストリップ１２は、放射線源に向
くよう最も傾斜し、内方に位置を変えるにしたがい、順
次その傾斜が緩やかになり上面に対し直角に近づく。な
お、点光源２は、支持手段３により支持されたエアグリ
ッド１０におけるストリップ１２の集束位置に位置する
こととなる。
【００２５】支持手段３はエアグリッド１０のｙ軸方向
（図１参照）に延在する２辺を支持する断面Ｌ字状の部
材からなる。なお、支持手段３と点光源２との位置関係
は、支持手段３によりエアグリッド１０を支持した際
に、エアグリッド１０の点光源２に対する位置が使用時
の放射線源に対する位置に対応するように設定されてい
る。
（図１参照）に延在する２辺を支持する断面Ｌ字状の部
材からなる。なお、支持手段３と点光源２との位置関係
は、支持手段３によりエアグリッド１０を支持した際
に、エアグリッド１０の点光源２に対する位置が使用時
の放射線源に対する位置に対応するように設定されてい
る。
【００２６】ラインセンサ４Ａ〜４Ｃは、複数のＣＣＤ
をライン状に配設してなるものである。ここで、エアグ
リッド１０を構成するストリップ１２は、その長手方向
（図１におけるｙ軸方向）においてねじれることがある
ため、ストリップ１２に直交するある一部分のみを検査
したのでは、エアグリッド１０の検査を精度よく行うこ
とができない。したがって、本実施形態においては、ｙ
軸方向の３箇所にラインセンサ４Ａ〜４Ｃを配設するよ
うにしたものである。なお、ラインセンサの数は３個に
限定されるものではなく、より多くのラインセンサを配
設するしてもよい。また、１つのラインセンサのみを使
用し、このラインセンサをｙ軸方向に走査することによ
り、エアグリッド１０の放射線が照射される領域全面に
おける検査光２Ａの透過光２Ｂを検出してもよい。
をライン状に配設してなるものである。ここで、エアグ
リッド１０を構成するストリップ１２は、その長手方向
（図１におけるｙ軸方向）においてねじれることがある
ため、ストリップ１２に直交するある一部分のみを検査
したのでは、エアグリッド１０の検査を精度よく行うこ
とができない。したがって、本実施形態においては、ｙ
軸方向の３箇所にラインセンサ４Ａ〜４Ｃを配設するよ
うにしたものである。なお、ラインセンサの数は３個に
限定されるものではなく、より多くのラインセンサを配
設するしてもよい。また、１つのラインセンサのみを使
用し、このラインセンサをｙ軸方向に走査することによ
り、エアグリッド１０の放射線が照射される領域全面に
おける検査光２Ａの透過光２Ｂを検出してもよい。
【００２７】解析手段５は下記のようにしてラインセン
サ４Ａ〜４Ｃにおいて得られた検査信号Ｓ１〜Ｓ３を解
析する。ここで、ストリップ１２の収束角度や厚さのば
らつきがない場合、図２（ａ）に示すように点光源２か
ら発せられた検査光２Ａがエアグリッド１０に照射され
ると、点光源２はストリップ１２の集束位置にあること
から、ストリップ１２の幅に対応する部分のみが遮光さ
れてエアグリッド１０を透過する。したがって、ライン
センサ４Ａ〜４Ｃにおいて得られる検査信号Ｓ１〜Ｓ３
は、図２（ｂ）に示すように、ストリップ１２に対応す
る位置において、略ストリップ１２の幅で信号値が小さ
くなる部分（以下信号値低下部とする）を有するプロフ
ァイルとなる。
サ４Ａ〜４Ｃにおいて得られた検査信号Ｓ１〜Ｓ３を解
析する。ここで、ストリップ１２の収束角度や厚さのば
らつきがない場合、図２（ａ）に示すように点光源２か
ら発せられた検査光２Ａがエアグリッド１０に照射され
ると、点光源２はストリップ１２の集束位置にあること
から、ストリップ１２の幅に対応する部分のみが遮光さ
れてエアグリッド１０を透過する。したがって、ライン
センサ４Ａ〜４Ｃにおいて得られる検査信号Ｓ１〜Ｓ３
は、図２（ｂ）に示すように、ストリップ１２に対応す
る位置において、略ストリップ１２の幅で信号値が小さ
くなる部分（以下信号値低下部とする）を有するプロフ
ァイルとなる。
【００２８】一方、ストリップ１２の集束角度や厚さに
ばらつきがあると、図３（ａ）に示すように、ばらつき
のあるストリップ１２により検査光２Ａの遮光される範
囲が広くなる。したがって、検査信号Ｓ１〜Ｓ３は、図
３（ｂ）に示すようにばらつきのないストリップ１２に
対応する位置においては、信号値低下部の幅は略ストリ
ップ１２の幅に対応するものとなるが、ばらつきのある
ストリップ１２に対応する位置においては、信号値低下
部の幅はストリップ１２の幅よりも広いものとなる。
ばらつきがあると、図３（ａ）に示すように、ばらつき
のあるストリップ１２により検査光２Ａの遮光される範
囲が広くなる。したがって、検査信号Ｓ１〜Ｓ３は、図
３（ｂ）に示すようにばらつきのないストリップ１２に
対応する位置においては、信号値低下部の幅は略ストリ
ップ１２の幅に対応するものとなるが、ばらつきのある
ストリップ１２に対応する位置においては、信号値低下
部の幅はストリップ１２の幅よりも広いものとなる。
【００２９】したがって、解析手段５は、検査信号Ｓ１
〜Ｓ３のプロファイルにおいて、信号値低下部の半値幅
（図３（ｂ）の矢印位置参照）を、データ記憶手段７に
記憶されている所定の閾値Ｔｈ１と比較し、信号値低下
部の半値幅が所定の閾値Ｔｈ１以上となった場合に、検
査結果がＮＧであると判断する。例えば、ストリップ１
２の厚さが１００μｍであるとすると、半値幅が１２０
μｍ以上となった場合にＮＧと判断する。そして、ＮＧ
となった信号値低下部のプロファイルを拡大して、図４
に示すように表示手段６に表示する。この際、表示手段
６に「ＮＧ」の表示を行うようにしてもよい。また、
「ＮＧ」の表示のみを表示手段６において行うようにし
てもよい。一方、信号値低下部の半値幅が所定の閾値Ｔ
ｈ１未満となった場合には、検査結果がＯＫであると判
断して、表示手段６に「ＯＫ」の表示を行う。
〜Ｓ３のプロファイルにおいて、信号値低下部の半値幅
（図３（ｂ）の矢印位置参照）を、データ記憶手段７に
記憶されている所定の閾値Ｔｈ１と比較し、信号値低下
部の半値幅が所定の閾値Ｔｈ１以上となった場合に、検
査結果がＮＧであると判断する。例えば、ストリップ１
２の厚さが１００μｍであるとすると、半値幅が１２０
μｍ以上となった場合にＮＧと判断する。そして、ＮＧ
となった信号値低下部のプロファイルを拡大して、図４
に示すように表示手段６に表示する。この際、表示手段
６に「ＮＧ」の表示を行うようにしてもよい。また、
「ＮＧ」の表示のみを表示手段６において行うようにし
てもよい。一方、信号値低下部の半値幅が所定の閾値Ｔ
ｈ１未満となった場合には、検査結果がＯＫであると判
断して、表示手段６に「ＯＫ」の表示を行う。
【００３０】さらに、音声等によりＮＧあるいはＯＫで
ある旨を知らせるようにしてもよい。さらにまた、解析
手段５は、半値幅が所定の閾値Ｔｈ１以上となった信号
値低下部の数の、ストリップ１２の数に対する割合を求
め、この割合が所定の閾値Ｔｈ１とは異なる閾値Ｔｈ２
を越えた場合に、検査結果がＮＧであるという判断を行
うようにしてもよい。
ある旨を知らせるようにしてもよい。さらにまた、解析
手段５は、半値幅が所定の閾値Ｔｈ１以上となった信号
値低下部の数の、ストリップ１２の数に対する割合を求
め、この割合が所定の閾値Ｔｈ１とは異なる閾値Ｔｈ２
を越えた場合に、検査結果がＮＧであるという判断を行
うようにしてもよい。
【００３１】なお、半値幅が所定の閾値Ｔｈ１を越える
信号値低下部がなかった場合、あるいはあったとしても
その割合が閾値Ｔｈ２以下であった場合には、検査結果
がＯＫである旨を表示手段６に入力しＯＫの表示を表示
手段６に表示する、あるいはＯＫである旨を表す音声等
を出力する。
信号値低下部がなかった場合、あるいはあったとしても
その割合が閾値Ｔｈ２以下であった場合には、検査結果
がＯＫである旨を表示手段６に入力しＯＫの表示を表示
手段６に表示する、あるいはＯＫである旨を表す音声等
を出力する。
【００３２】検査を行うオペレータは、表示手段６の表
示あるいは音声等により、検査中のエアグリッド１０に
ＮＧがあるか否かを判断することができる。
示あるいは音声等により、検査中のエアグリッド１０に
ＮＧがあるか否かを判断することができる。
【００３３】次いで、本実施形態の動作について説明す
る。まずエアグリッド１０を支持手段３により支持す
る。そして、点光源２から検査光２Ａを出射してエアグ
リッド１０に照射し、透過光２Ｂをラインセンサ４Ａ〜
４Ｃにより検出し、検査信号Ｓ１〜Ｓ３を得る。検査信
号Ｓ１〜Ｓ３は解析手段５に入力され、ここで、検査信
号Ｓ１〜Ｓ３のプロファイルが解析されて、ＯＫである
かＮＧであるかが表示手段６に表示される、あるいは解
析手段５において音声などによりオペレータに知らせら
れる。これにより、オペレータはエアグリッド１０の検
査結果がＯＫであるかＮＧであるかを知ることができ
る。
る。まずエアグリッド１０を支持手段３により支持す
る。そして、点光源２から検査光２Ａを出射してエアグ
リッド１０に照射し、透過光２Ｂをラインセンサ４Ａ〜
４Ｃにより検出し、検査信号Ｓ１〜Ｓ３を得る。検査信
号Ｓ１〜Ｓ３は解析手段５に入力され、ここで、検査信
号Ｓ１〜Ｓ３のプロファイルが解析されて、ＯＫである
かＮＧであるかが表示手段６に表示される、あるいは解
析手段５において音声などによりオペレータに知らせら
れる。これにより、オペレータはエアグリッド１０の検
査結果がＯＫであるかＮＧであるかを知ることができ
る。
【００３４】このように、本実施形態によれば、放射線
を用いることなく散乱線除去エアグリッド１０の検査を
行うことができるため、放射線を照射するための大がか
りな装置を用いることなく、かつ放射線の管理の煩わし
さを生じさせることなく、簡易に散乱線除去エアグリッ
ド１０の検査を行うことができる。
を用いることなく散乱線除去エアグリッド１０の検査を
行うことができるため、放射線を照射するための大がか
りな装置を用いることなく、かつ放射線の管理の煩わし
さを生じさせることなく、簡易に散乱線除去エアグリッ
ド１０の検査を行うことができる。
【００３５】また、解析手段５において、エアグリッド
１０がＮＧであるか否かを判断するようにしたため、人
為的な判断を加えることなく散乱線除去エアグリッドの
検査を行うことができ、これにより散乱線除去エアグリ
ッドの検査を効率よく行うことができる。
１０がＮＧであるか否かを判断するようにしたため、人
為的な判断を加えることなく散乱線除去エアグリッドの
検査を行うことができ、これにより散乱線除去エアグリ
ッドの検査を効率よく行うことができる。
【００３６】なお、上記実施形態においては、検査信号
Ｓ１〜Ｓ３を解析手段５において解析して、検査結果を
表示手段６に表示しているが、図５に示すように、表示
手段６のみを用いて検査信号Ｓ１〜Ｓ３を表示手段６に
おいて表示のみしてもよい。この場合、検査を行うオペ
レータが表示手段６に表示された検査信号Ｓ１〜Ｓ３の
プロファイルを観察して、エアグリッド１０がＮＧであ
るか否かを判断すればよい。
Ｓ１〜Ｓ３を解析手段５において解析して、検査結果を
表示手段６に表示しているが、図５に示すように、表示
手段６のみを用いて検査信号Ｓ１〜Ｓ３を表示手段６に
おいて表示のみしてもよい。この場合、検査を行うオペ
レータが表示手段６に表示された検査信号Ｓ１〜Ｓ３の
プロファイルを観察して、エアグリッド１０がＮＧであ
るか否かを判断すればよい。
【００３７】また、上記実施形態においては、支持手段
３によりエアグリッド１０を支持して検査を行っている
が、エアグリッド１０を搬送して検査を行ってもよい。
以下、エアグリッド１０を搬送する検査装置を他の実施
形態として説明する。図６は第２の実施形態による検査
装置の構成を示す図であり、（ａ）は斜視図、（ｂ）は
（ａ）のＩＩ−ＩＩ線断面図である。他の実施形態によ
る検査装置１は、支持手段３を、エンドレスベルトと不
図示のモータにより回転駆動されるローラとからなる搬
送ベルト２０からなるものとし、ローラを図６（ｂ）に
おける時計回り方向に回転駆動することにより、エンド
レスベルト上に載置されたエアグリッド１０をｙ軸正方
向に搬送するようにしたものである。また、エアグリッ
ド１０はｙ軸正方向に搬送されることから、透過光２Ｂ
を検出するためには、１つのラインセンサ４のみを用い
て検査信号Ｓ０を得ればよいものである。
３によりエアグリッド１０を支持して検査を行っている
が、エアグリッド１０を搬送して検査を行ってもよい。
以下、エアグリッド１０を搬送する検査装置を他の実施
形態として説明する。図６は第２の実施形態による検査
装置の構成を示す図であり、（ａ）は斜視図、（ｂ）は
（ａ）のＩＩ−ＩＩ線断面図である。他の実施形態によ
る検査装置１は、支持手段３を、エンドレスベルトと不
図示のモータにより回転駆動されるローラとからなる搬
送ベルト２０からなるものとし、ローラを図６（ｂ）に
おける時計回り方向に回転駆動することにより、エンド
レスベルト上に載置されたエアグリッド１０をｙ軸正方
向に搬送するようにしたものである。また、エアグリッ
ド１０はｙ軸正方向に搬送されることから、透過光２Ｂ
を検出するためには、１つのラインセンサ４のみを用い
て検査信号Ｓ０を得ればよいものである。
【００３８】このように、エアグリッド１０を搬送ベル
ト２０により搬送して検査を行うことにより、複数のエ
アグリッド１０について順次その検査を行うことができ
るため、検査の自動化を図ることができる。
ト２０により搬送して検査を行うことにより、複数のエ
アグリッド１０について順次その検査を行うことができ
るため、検査の自動化を図ることができる。
【００３９】なお、上記各実施形態においては、点光源
２を使用してエアグリッド１０に検査光２Ａを照射して
いるが、点光源２に代えてレーザ光をエアグリッド１０
に対してｘ軸方向に走査するレーザ光源を用いてもよ
い。
２を使用してエアグリッド１０に検査光２Ａを照射して
いるが、点光源２に代えてレーザ光をエアグリッド１０
に対してｘ軸方向に走査するレーザ光源を用いてもよ
い。
【図１】本発明の実施形態による散乱線除去エアグリッ
ドの検査装置の構成を示す図
ドの検査装置の構成を示す図
【図２】解析手段による解析を説明するための図（その
１）
１）
【図３】解析手段による解析を説明するための図（その
２）
２）
【図４】表示手段に表示された検査結果を示す図
【図５】表示手段のみを用いた散乱線除去エアグリッド
の検査装置の構成を示す図
の検査装置の構成を示す図
【図６】本発明の他の実施形態による散乱線除去エアグ
リッドの検査装置の構成を示す図
リッドの検査装置の構成を示す図
１ 散乱線除去エアグリッドの検査装置 ２ 点光源 ２Ａ 検査光 ２Ｂ 透過光 ３ 支持手段 ４，４Ａ〜４Ｄ ラインセンサ ５ 解析手段 ６ 表示手段 ７ データ記憶手段 １０ エアグリッド １２ ストリップ １３ フレーム ２０ 搬送ベルト
Claims (4)
- 【請求項１】 放射線吸収物質からなり、放射線が照
射される領域全体に亘って所定の間隔で配置される放射
線の進行方向に幅を持ち、かつ使用時の放射線源に向け
て集束するよう傾斜された複数のストリップを備えた散
乱線除去エアグリッドの検査装置において、 前記散乱線除去エアグリッドを所定位置に支持する支持
手段と、 該支持手段に支持された前記散乱線除去エアグリッドに
おける前記複数のストリップの集束位置に配設され、前
記散乱線除去エアグリッドに向けて検査光を照射する光
源と、 前記散乱線除去エアグリッドを透過した透過検査光を検
出する検出手段とを備えたことを特徴とする散乱線除去
エアグリッドの検査装置。 - 【請求項２】 前記検出手段による検出結果を表す画
像を表示する画像表示手段をさらに備えたことを特徴と
する請求項１記載の散乱線除去グリッドの検査装置。 - 【請求項３】 前記検出手段による検出結果に基づい
て、前記散乱線除去グリッドの検査結果を出力する出力
手段をさらに備えたことを特徴とする請求項１または２
記載の散乱線除去グリッドの検査装置。 - 【請求項４】 前記支持手段は、複数の前記散乱線除
去エアグリッドを、前記所定位置に順次搬送する搬送手
段からなることを特徴とする請求項１から３のいずれか
１項記載の散乱線除去エアグリッドの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000175271A JP2001349953A (ja) | 2000-06-12 | 2000-06-12 | 散乱線除去エアグリッドの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000175271A JP2001349953A (ja) | 2000-06-12 | 2000-06-12 | 散乱線除去エアグリッドの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001349953A true JP2001349953A (ja) | 2001-12-21 |
Family
ID=18677171
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000175271A Withdrawn JP2001349953A (ja) | 2000-06-12 | 2000-06-12 | 散乱線除去エアグリッドの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001349953A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106932400A (zh) * | 2015-12-31 | 2017-07-07 | 中核建中核燃料元件有限公司 | 一种afa3g定位格架外观自动检测装置 |
-
2000
- 2000-06-12 JP JP2000175271A patent/JP2001349953A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106932400A (zh) * | 2015-12-31 | 2017-07-07 | 中核建中核燃料元件有限公司 | 一种afa3g定位格架外观自动检测装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070904 |