JP2001346793A - 被検体位置決め方法及びｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
被検体位置決め方法及びｘ線ｃｔ装置Info
- Publication number
- JP2001346793A JP2001346793A JP2000171073A JP2000171073A JP2001346793A JP 2001346793 A JP2001346793 A JP 2001346793A JP 2000171073 A JP2000171073 A JP 2000171073A JP 2000171073 A JP2000171073 A JP 2000171073A JP 2001346793 A JP2001346793 A JP 2001346793A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- subject
- positioning
- scan
- scanning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 12
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 27
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 230000036544 posture Effects 0.000 description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 101000608745 Phytolacca americana Lectin-B Proteins 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】
【課題】 被検体位置決め方法及びＸ線ＣＴ装置に関
し、スキャン開始前の被検体を正しく位置決め可能なこ
とを課題とする。 【解決手段】 被検体１００を挟んで相対向するＸ線管
４０及びＸ線検出器７０を備え、Ｘ線検出器から収集し
た投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再構成する
Ｘ線ＣＴ装置の被検体位置決め方法において、スキャン
開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条件（アキ
シャル／ステーショナリスキャン等のスキャンパラメー
タ）に基づき、スキャン開始した場合におけるＸ線焦点
位置ｚOFを予測すると共に、得られたＸ線焦点位置ｚOF
に基づき予測される被検体の実スライス位置ＳOF対応に
被検体１００に対して位置決め用光ビームＢＬOFを照射
し、スキャン開始前における被検体１００の正確な位置
決めを可能とする。
し、スキャン開始前の被検体を正しく位置決め可能なこ
とを課題とする。 【解決手段】 被検体１００を挟んで相対向するＸ線管
４０及びＸ線検出器７０を備え、Ｘ線検出器から収集し
た投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再構成する
Ｘ線ＣＴ装置の被検体位置決め方法において、スキャン
開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条件（アキ
シャル／ステーショナリスキャン等のスキャンパラメー
タ）に基づき、スキャン開始した場合におけるＸ線焦点
位置ｚOFを予測すると共に、得られたＸ線焦点位置ｚOF
に基づき予測される被検体の実スライス位置ＳOF対応に
被検体１００に対して位置決め用光ビームＢＬOFを照射
し、スキャン開始前における被検体１００の正確な位置
決めを可能とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は被検体位置決め方法
及びＸ線ＣＴ装置に関し、更に詳しくは被検体を挟んで
相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、Ｘ線検出器か
ら収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再
構成するＸ線ＣＴ装置の被検体位置決め方法及びＸ線Ｃ
Ｔ装置に関する。
及びＸ線ＣＴ装置に関し、更に詳しくは被検体を挟んで
相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、Ｘ線検出器か
ら収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再
構成するＸ線ＣＴ装置の被検体位置決め方法及びＸ線Ｃ
Ｔ装置に関する。
【０００２】Ｘ線ＣＴ装置では、被検体の正確な各スラ
イス位置の断層像を得るために、スキャン開始前の被検
体を正確に位置決めすることが行われる。
イス位置の断層像を得るために、スキャン開始前の被検
体を正確に位置決めすることが行われる。
【０００３】
【従来の技術】図１２〜図１４は従来技術を説明する図
（１）〜（３）で、図１２は従来のＸ線ＣＴ装置におけ
る走査ガントリの一部構成を示している。図において、
３０は走査ガントリ、４０は回転陽極型のＸ線管、Ｆは
Ｘ線焦点、５０はＸ線の曝射範囲（主に体軸方向）を制
限するコリメータ、１００は被検体、７０は多数（ｎ＝
１０００程度）のＸ線検出器が円弧状の例えば２列（Ｌ
１，Ｌ２）に配列されているＸ線検出器アレイ、２５ａ
〜２５ｅは被検体１００のスライス位置等を位置決め／
確認するためのハロゲンランプやレーザ等からなるポジ
ショニングライト、２０は被検体１００を載せて体軸方
向に移動させる撮影テーブルである。なお、図中に走査
ガントリ３０に固定された直交座標系（ｘ，ｙ，ｚ）を
付記する。ここで、ｚ軸は被検体１００の体軸方向、ｙ
軸は垂直方向、ｘ軸は水平方向である。
（１）〜（３）で、図１２は従来のＸ線ＣＴ装置におけ
る走査ガントリの一部構成を示している。図において、
３０は走査ガントリ、４０は回転陽極型のＸ線管、Ｆは
Ｘ線焦点、５０はＸ線の曝射範囲（主に体軸方向）を制
限するコリメータ、１００は被検体、７０は多数（ｎ＝
１０００程度）のＸ線検出器が円弧状の例えば２列（Ｌ
１，Ｌ２）に配列されているＸ線検出器アレイ、２５ａ
〜２５ｅは被検体１００のスライス位置等を位置決め／
確認するためのハロゲンランプやレーザ等からなるポジ
ショニングライト、２０は被検体１００を載せて体軸方
向に移動させる撮影テーブルである。なお、図中に走査
ガントリ３０に固定された直交座標系（ｘ，ｙ，ｚ）を
付記する。ここで、ｚ軸は被検体１００の体軸方向、ｙ
軸は垂直方向、ｘ軸は水平方向である。
【０００４】ポジショニングライト２５ａ〜２５ｅは被
検体１００の正しい（所望の）位置から実スキャン（ア
キシャル／ヘリカル／ステーショナリ／スカウトスキャ
ン等）を開始させるために用いられる。この内のポジシ
ョニングライト２５ａ〜２５ｃは、走査ガントリ３０の
入口側（操作者の見やすい位置）に設けられ、被検体１
００に帯状の位置決め用光線ＰＬＢを照射すると共に、
被検体１００の周囲面に投影される輝線ＢＬを目視観測
することにより体（ｚ）軸方向のスライス位置（スキャ
ン開始位置）を調整／確認する。一方、ポジショニング
ライト２５ｄ，２５eはＸ線管4０の焦点Ｆと同心円上に
設けられており、高精度の位置決め操作が必要な場合に
使用される。
検体１００の正しい（所望の）位置から実スキャン（ア
キシャル／ヘリカル／ステーショナリ／スカウトスキャ
ン等）を開始させるために用いられる。この内のポジシ
ョニングライト２５ａ〜２５ｃは、走査ガントリ３０の
入口側（操作者の見やすい位置）に設けられ、被検体１
００に帯状の位置決め用光線ＰＬＢを照射すると共に、
被検体１００の周囲面に投影される輝線ＢＬを目視観測
することにより体（ｚ）軸方向のスライス位置（スキャ
ン開始位置）を調整／確認する。一方、ポジショニング
ライト２５ｄ，２５eはＸ線管4０の焦点Ｆと同心円上に
設けられており、高精度の位置決め操作が必要な場合に
使用される。
【０００５】ところで、実スキャン時におけるＸ線管４
０の焦点Ｆは、Ｘ線管４０の動作温度及び様々なスキャ
ン条件｛走査ガントリのチルト角，その回転速度（スキ
ャン時間），焦点Ｆの大／小等｝によりｚ軸方向での位
置変位となって現われる。この場合に、図示の如く２列
（又は３列以上）のＸ線検出器アレイ７０を備える装置
では、Ｘ線ファンビームＸＬＦＢを検出列Ｌ１，Ｌ２の
厚み（ｚ軸）方向に均等に振り分けると共に、各列（レ
ファレンス検出チャネル）の検出出力を比較し、これら
が一致するようにコリメータ５０及び又はＸ線検出器ア
レイ７０のｚ軸方向の位置制御を行うことで、実スキャ
ン時におけるＸ線焦点Ｆの変位をリアルタイムにカバー
（即ち、Ｘ線ファンビームＸＬＦＢがＸ線検出器アレイ
７０における厚み方向の定位置に調整されるように）し
ている。以下、具体的に説明する。
０の焦点Ｆは、Ｘ線管４０の動作温度及び様々なスキャ
ン条件｛走査ガントリのチルト角，その回転速度（スキ
ャン時間），焦点Ｆの大／小等｝によりｚ軸方向での位
置変位となって現われる。この場合に、図示の如く２列
（又は３列以上）のＸ線検出器アレイ７０を備える装置
では、Ｘ線ファンビームＸＬＦＢを検出列Ｌ１，Ｌ２の
厚み（ｚ軸）方向に均等に振り分けると共に、各列（レ
ファレンス検出チャネル）の検出出力を比較し、これら
が一致するようにコリメータ５０及び又はＸ線検出器ア
レイ７０のｚ軸方向の位置制御を行うことで、実スキャ
ン時におけるＸ線焦点Ｆの変位をリアルタイムにカバー
（即ち、Ｘ線ファンビームＸＬＦＢがＸ線検出器アレイ
７０における厚み方向の定位置に調整されるように）し
ている。以下、具体的に説明する。
【０００６】図１３はＸ線焦点Ｆの変位をコリメータ５
０の位置制御でカバーする場合を示している。今、Ｘ線
焦点Ｆがその基準となる位置ｚ0から−ｚOF1又は＋ｚ
OF2に変位したとすると、これに応じてコリメータ５０
のスリット位置をその基準となる位置Ｚ0から−ＺOF1又
は＋ＺOF2に移動させることにより、常にＸ線ファンビ
ームのｚ軸方向の中心をＸ線検出器列Ｌ１，Ｌ２の中心
線上に位置させている。その結果、被検体１００の実ス
ライス位置はその基準となる位置Ｓ0から−ＳOF1又は＋
ＳOF2（但し、Ｘ線検出器列Ｌ１，Ｌ２の中心線対応で
示す）に変位する。
０の位置制御でカバーする場合を示している。今、Ｘ線
焦点Ｆがその基準となる位置ｚ0から−ｚOF1又は＋ｚ
OF2に変位したとすると、これに応じてコリメータ５０
のスリット位置をその基準となる位置Ｚ0から−ＺOF1又
は＋ＺOF2に移動させることにより、常にＸ線ファンビ
ームのｚ軸方向の中心をＸ線検出器列Ｌ１，Ｌ２の中心
線上に位置させている。その結果、被検体１００の実ス
ライス位置はその基準となる位置Ｓ0から−ＳOF1又は＋
ＳOF2（但し、Ｘ線検出器列Ｌ１，Ｌ２の中心線対応で
示す）に変位する。
【０００７】図１４はＸ線焦点Ｆの変位をＸ線検出器ア
レイ７０の位置制御でカバーする場合を示しており、上
記同様にして、Ｘ線焦点Ｆがその基準となる位置ｚ0か
ら−ｚOF1又は＋ｚOF2に変位したとすると、これに応じ
てＸ線検出器アレイ７０をその基準となる位置Ｚ0から
＋ＺOF1又は−ＺOF2に移動させることで、常にＸ線ファ
ンビームのｚ軸方向の中心をＸ線検出器列Ｌ１，Ｌ２の
中心線上に位置させている。その結果、被検体１００の
実スライス位置はその基準となる位置Ｓ0から＋ＳOF1又
は−ＳOF2（但し、Ｘ線検出器列Ｌ１，Ｌ２の中心線対
応で示す）に変位する。
レイ７０の位置制御でカバーする場合を示しており、上
記同様にして、Ｘ線焦点Ｆがその基準となる位置ｚ0か
ら−ｚOF1又は＋ｚOF2に変位したとすると、これに応じ
てＸ線検出器アレイ７０をその基準となる位置Ｚ0から
＋ＺOF1又は−ＺOF2に移動させることで、常にＸ線ファ
ンビームのｚ軸方向の中心をＸ線検出器列Ｌ１，Ｌ２の
中心線上に位置させている。その結果、被検体１００の
実スライス位置はその基準となる位置Ｓ0から＋ＳOF1又
は−ＳOF2（但し、Ｘ線検出器列Ｌ１，Ｌ２の中心線対
応で示す）に変位する。
【０００８】しかるに、このようなコリメータ５０又は
Ｘ線検出器アレイ７０の位置制御は、実スキャンを開始
（Ｘ線を曝射）して初めて可能となるものであり、実ス
キャン開始前における被検体１００の位置決め段階で
は、Ｘ線焦点Ｆの変位量（即ち、被検体１００の実スラ
イス位置）を知り得ない。
Ｘ線検出器アレイ７０の位置制御は、実スキャンを開始
（Ｘ線を曝射）して初めて可能となるものであり、実ス
キャン開始前における被検体１００の位置決め段階で
は、Ｘ線焦点Ｆの変位量（即ち、被検体１００の実スラ
イス位置）を知り得ない。
【０００９】このため、従来のポジショニングライト２
５ｄ，２５ｅは、図１３，図１４に示す如く、例えばそ
の基準となる位置（Ｘ線焦点Ｆの基準位置ｚ0対応）及
び姿勢（位置決め用光線ＰＬＢの照射方向がｙ軸と平
行）となるように固定されていた。走査ガントリ入り口
側のポジショニングライト２５ａ〜２５ｃについても同
様であり、ポジショニングライト２５ｄ，２５ｅからｚ
軸方向に距離Ｚａだけオフセットした定位置に一定の姿
勢となるように固定されていた。
５ｄ，２５ｅは、図１３，図１４に示す如く、例えばそ
の基準となる位置（Ｘ線焦点Ｆの基準位置ｚ0対応）及
び姿勢（位置決め用光線ＰＬＢの照射方向がｙ軸と平
行）となるように固定されていた。走査ガントリ入り口
側のポジショニングライト２５ａ〜２５ｃについても同
様であり、ポジショニングライト２５ｄ，２５ｅからｚ
軸方向に距離Ｚａだけオフセットした定位置に一定の姿
勢となるように固定されていた。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の被
検体位置決め方式によると、ポジショニングライト２５
ｄ，２５ｅ／２５ａ〜２５ｃにより位置決めした予定ス
ライス位置と続く実スキャン時における実スライス位置
との間で位置ずれが生じてしまう問題があった。
検体位置決め方式によると、ポジショニングライト２５
ｄ，２５ｅ／２５ａ〜２５ｃにより位置決めした予定ス
ライス位置と続く実スキャン時における実スライス位置
との間で位置ずれが生じてしまう問題があった。
【００１１】本発明は上記従来技術の問題点に鑑みなさ
れたもので、その目的とする所は、スキャン開始前の被
検体を正しく位置決め可能な被検体位置決め方法及びＸ
線ＣＴ装置を提供することにある。
れたもので、その目的とする所は、スキャン開始前の被
検体を正しく位置決め可能な被検体位置決め方法及びＸ
線ＣＴ装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記の課題は例えば図１
（Ａ）の構成により解決される。即ち、本発明（１）の
被検体位置決め方法は、被検体１００を挟んで相対向す
るＸ線管４０及びＸ線検出器７０を備え、Ｘ線検出器か
ら収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再
構成するＸ線ＣＴ装置の被検体位置決め方法において、
スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条
件（アキシャル／ステーショナリスキャン等のスキャン
パラメータ）に基づき、スキャン開始した場合における
Ｘ線焦点位置ｚOFを予測すると共に、得られたＸ線焦点
位置ｚOFに基づき予測される被検体の実スライス位置Ｓ
OF対応に被検体１００に対して位置決め用光ビームＢＬ
OFを照射し、スキャン開始前における被検体１００の位
置決めを行うものである。
（Ａ）の構成により解決される。即ち、本発明（１）の
被検体位置決め方法は、被検体１００を挟んで相対向す
るＸ線管４０及びＸ線検出器７０を備え、Ｘ線検出器か
ら収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層像を再
構成するＸ線ＣＴ装置の被検体位置決め方法において、
スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条
件（アキシャル／ステーショナリスキャン等のスキャン
パラメータ）に基づき、スキャン開始した場合における
Ｘ線焦点位置ｚOFを予測すると共に、得られたＸ線焦点
位置ｚOFに基づき予測される被検体の実スライス位置Ｓ
OF対応に被検体１００に対して位置決め用光ビームＢＬ
OFを照射し、スキャン開始前における被検体１００の位
置決めを行うものである。
【００１３】本発明（１）によれば、スキャン開始前の
被検体１００を、スキャン開始前に入手可能なＸ線管温
度及びスキャン条件に応じて、その予定スライス位置と
実スライス位置とが一致するように正しく位置決め可能
となる。なお、図示のＸ線焦点Ｆとポジショニングライ
ト２５との間の公称のオフセット量ＺａはＺａ≧０（即
ち、Ｘ線管４０とポジショニングライト２５とが同心円
上に設けられる場合を含む）である。
被検体１００を、スキャン開始前に入手可能なＸ線管温
度及びスキャン条件に応じて、その予定スライス位置と
実スライス位置とが一致するように正しく位置決め可能
となる。なお、図示のＸ線焦点Ｆとポジショニングライ
ト２５との間の公称のオフセット量ＺａはＺａ≧０（即
ち、Ｘ線管４０とポジショニングライト２５とが同心円
上に設けられる場合を含む）である。
【００１４】また上記の課題は例えば図１（Ｂ）の構成
により解決される。即ち、本発明（２）の被検体位置決
め方法は、上記前提となる被検体位置決め方法におい
て、スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャ
ン条件に基づき、スキャン開始した場合におけるＸ線焦
点位置ｚOFを予測すると共に、予め所定位置ＢＬ0に位
置決めされた被検体１００を、前記予測されたＸ線焦点
位置ｚOFに基づき予測される被検体の実スライス位置Ｓ
OF対応に初期移送（Ｚa−ＳOF）することで、被検体１
００の位置決めを行うものである。
により解決される。即ち、本発明（２）の被検体位置決
め方法は、上記前提となる被検体位置決め方法におい
て、スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャ
ン条件に基づき、スキャン開始した場合におけるＸ線焦
点位置ｚOFを予測すると共に、予め所定位置ＢＬ0に位
置決めされた被検体１００を、前記予測されたＸ線焦点
位置ｚOFに基づき予測される被検体の実スライス位置Ｓ
OF対応に初期移送（Ｚa−ＳOF）することで、被検体１
００の位置決めを行うものである。
【００１５】本発明（２）によれば、予測される被検体
の実スライス位置の変位ＳOFを、被検体の初期移送量の
制御（Ｚa−ＳOF）でカバーする構成により、スキャン
開始前の被検体１００の位置決め操作については、その
位置／姿勢を変更可能な別段のポジショニングライト２
５を必要とせず、従来と同様に固定された一定の位置Ｂ
Ｌ0で行える。
の実スライス位置の変位ＳOFを、被検体の初期移送量の
制御（Ｚa−ＳOF）でカバーする構成により、スキャン
開始前の被検体１００の位置決め操作については、その
位置／姿勢を変更可能な別段のポジショニングライト２
５を必要とせず、従来と同様に固定された一定の位置Ｂ
Ｌ0で行える。
【００１６】また上記の課題は例えば図１（Ｃ）の構成
により解決される。即ち、本発明（３）の被検体位置決
め方法は、上記前提となる被検体位置決め方法におい
て、スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャ
ン条件に基づき、スキャン開始した場合におけるＸ線焦
点位置ｚOFを予測すると共に、得られたＸ線焦点位置ｚ
OFに基づき予測される被検体の実スライス位置ＳOF対応
に被検体１００に対して位置決め用光ビームＢＬOFを照
射し、予め被検体を対応位置に位置決めし、スキャン開
始時の被検体を一定距離Ｚａだけ初期移送するものであ
る。
により解決される。即ち、本発明（３）の被検体位置決
め方法は、上記前提となる被検体位置決め方法におい
て、スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャ
ン条件に基づき、スキャン開始した場合におけるＸ線焦
点位置ｚOFを予測すると共に、得られたＸ線焦点位置ｚ
OFに基づき予測される被検体の実スライス位置ＳOF対応
に被検体１００に対して位置決め用光ビームＢＬOFを照
射し、予め被検体を対応位置に位置決めし、スキャン開
始時の被検体を一定距離Ｚａだけ初期移送するものであ
る。
【００１７】本発明（３）によれば、スキャン開始前の
被検体１００を、スキャン開始前に入手可能なＸ線管温
度及びスキャン条件に応じて、その予定スライス位置と
実スライス位置ＳOFとが一致するように、該実スライス
位置から一定距離Ｚａだけオフセットした位置で正しく
位置決め可能となる。
被検体１００を、スキャン開始前に入手可能なＸ線管温
度及びスキャン条件に応じて、その予定スライス位置と
実スライス位置ＳOFとが一致するように、該実スライス
位置から一定距離Ｚａだけオフセットした位置で正しく
位置決め可能となる。
【００１８】好ましくは本発明（４）においては、上記
本発明（１）〜（３）において、スキャン開始前に入手
可能なＸ線管温度はスキャン開始前に検出、推定又は設
定された温度である。
本発明（１）〜（３）において、スキャン開始前に入手
可能なＸ線管温度はスキャン開始前に検出、推定又は設
定された温度である。
【００１９】例えばスキャン開始直前に検出されたＸ線
管温度、又はＸ線管温度の推移に関する既知の特性曲線
（演算式）により推定されるスキャン開始直前、又はス
キャン開始後の任意時間経過時（スキャン終了時を含
む）における推定温度、又は操作者により任意設定入力
された温度である。従って、被検体１００を、スキャン
開始当初又はスキャン開始後の任意時間経過時における
各実スライス位置対応に夫々正確に位置決め出来る。
管温度、又はＸ線管温度の推移に関する既知の特性曲線
（演算式）により推定されるスキャン開始直前、又はス
キャン開始後の任意時間経過時（スキャン終了時を含
む）における推定温度、又は操作者により任意設定入力
された温度である。従って、被検体１００を、スキャン
開始当初又はスキャン開始後の任意時間経過時における
各実スライス位置対応に夫々正確に位置決め出来る。
【００２０】本発明（５）のＸ線ＣＴ装置は、被検体を
挟んで相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、Ｘ線検
出器から収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層
像を再構成するＸ線ＣＴ装置において、スキャン開始前
に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条件に基づきスキ
ャン開始した場合におけるＸ線焦点位置を予測する焦点
位置予測手段と、Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器
における定位置に調整されるようにコリメータ及び又は
Ｘ線検出器の位置を調整する位置調整手段と、スキャン
開始前の被検体に対して前記予測されたＸ線焦点位置に
基づき予測される被検体の実スライス位置対応に位置決
め用光ビームを照射する被検体位置決め手段とを備える
ものである。
挟んで相対向するＸ線管及びＸ線検出器を備え、Ｘ線検
出器から収集した投影データに基づき被検体のＣＴ断層
像を再構成するＸ線ＣＴ装置において、スキャン開始前
に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条件に基づきスキ
ャン開始した場合におけるＸ線焦点位置を予測する焦点
位置予測手段と、Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器
における定位置に調整されるようにコリメータ及び又は
Ｘ線検出器の位置を調整する位置調整手段と、スキャン
開始前の被検体に対して前記予測されたＸ線焦点位置に
基づき予測される被検体の実スライス位置対応に位置決
め用光ビームを照射する被検体位置決め手段とを備える
ものである。
【００２１】また本発明（６）のＸ線ＣＴ装置は、上記
前提となるＸ線ＣＴ装置において、スキャン開始前に入
手可能なＸ線管温度及びスキャン条件に基づきスキャン
開始した場合におけるＸ線焦点位置を予測する焦点位置
予測手段と、Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器にお
ける定位置に調整されるようにコリメータ及び又はＸ線
検出器の位置を調整する位置調整手段と、スキャン開始
前の被検体を所定位置に位置決めする位置決め手段と、
スキャン開始時の被検体を前記予測されたＸ線焦点位置
に基づき予測される被検体の実スライス位置対応に初期
移送する移送手段とを備えるものである。
前提となるＸ線ＣＴ装置において、スキャン開始前に入
手可能なＸ線管温度及びスキャン条件に基づきスキャン
開始した場合におけるＸ線焦点位置を予測する焦点位置
予測手段と、Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器にお
ける定位置に調整されるようにコリメータ及び又はＸ線
検出器の位置を調整する位置調整手段と、スキャン開始
前の被検体を所定位置に位置決めする位置決め手段と、
スキャン開始時の被検体を前記予測されたＸ線焦点位置
に基づき予測される被検体の実スライス位置対応に初期
移送する移送手段とを備えるものである。
【００２２】また本発明（７）のＸ線ＣＴ装置は、上記
前提となるＸ線ＣＴ装置において、スキャン開始前に入
手可能なＸ線管温度及びスキャン条件に基づきスキャン
開始した場合におけるＸ線焦点位置を予測する焦点位置
予測手段と、Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器にお
ける定位置に調整されるようにコリメータ及び又はＸ線
検出器の位置を調整する位置調整手段と、スキャン開始
前の被検体を前記予測されたＸ線焦点位置に基づき予測
される被検体の実スライス位置対応に位置決めする位置
決め手段と、スキャン開始時の被検体を一定距離だけ初
期移送する移送手段とを備えるものである。
前提となるＸ線ＣＴ装置において、スキャン開始前に入
手可能なＸ線管温度及びスキャン条件に基づきスキャン
開始した場合におけるＸ線焦点位置を予測する焦点位置
予測手段と、Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器にお
ける定位置に調整されるようにコリメータ及び又はＸ線
検出器の位置を調整する位置調整手段と、スキャン開始
前の被検体を前記予測されたＸ線焦点位置に基づき予測
される被検体の実スライス位置対応に位置決めする位置
決め手段と、スキャン開始時の被検体を一定距離だけ初
期移送する移送手段とを備えるものである。
【００２３】好ましくは本発明（８）においては、上記
本発明（５）〜（７）において、スキャン開始前に入手
可能なＸ線管温度はスキャン開始前に検出、推定又は設
定された温度である。
本発明（５）〜（７）において、スキャン開始前に入手
可能なＸ線管温度はスキャン開始前に検出、推定又は設
定された温度である。
【００２４】また本発明（９）のＸ線ＣＴ装置は、上記
前提となるＸ線ＣＴ装置において、スキャン開始前の被
検体を所定位置に位置決めする位置決め手段と、Ｘ線管
から発生したＸ線がＸ線検出器における定位置に調整さ
れるようにコリメータ及び又はＸ線検出器の位置を調整
する位置調整手段と、前記コリメータ及び又はＸ線検出
器の位置調整により予測される被検体の各実スライス位
置を求める演算手段と、前記位置決め手段の位置決め情
報及びそのスキャン条件に基づき予測される被検体の各
予定スライス位置と前記求められた各実スライス位置と
を比較可能な態様で外部に出力する出力手段とを備える
ものである。
前提となるＸ線ＣＴ装置において、スキャン開始前の被
検体を所定位置に位置決めする位置決め手段と、Ｘ線管
から発生したＸ線がＸ線検出器における定位置に調整さ
れるようにコリメータ及び又はＸ線検出器の位置を調整
する位置調整手段と、前記コリメータ及び又はＸ線検出
器の位置調整により予測される被検体の各実スライス位
置を求める演算手段と、前記位置決め手段の位置決め情
報及びそのスキャン条件に基づき予測される被検体の各
予定スライス位置と前記求められた各実スライス位置と
を比較可能な態様で外部に出力する出力手段とを備える
ものである。
【００２５】本発明（９）によれば、位置決め手段の位
置決め情報及びそのスキャン条件に基づき定まる一定の
各予定スライス位置と実スキャンにおいて変動し得る各
実スライス位置とを比較可能な態様で外部（ＣＲＴ表示
部等）に出力する構成により、各実スライス位置が各予
定スライス位置からどれだけずれたかを定量的に把握で
き、よってＸ線ＣＴ診断の信頼性向上につながる。
置決め情報及びそのスキャン条件に基づき定まる一定の
各予定スライス位置と実スキャンにおいて変動し得る各
実スライス位置とを比較可能な態様で外部（ＣＲＴ表示
部等）に出力する構成により、各実スライス位置が各予
定スライス位置からどれだけずれたかを定量的に把握で
き、よってＸ線ＣＴ診断の信頼性向上につながる。
【００２６】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
好適なる複数の実施の形態を詳細に説明する。なお、全
図を通して同一符号は同一又は相当部分を示すものとす
る。
好適なる複数の実施の形態を詳細に説明する。なお、全
図を通して同一符号は同一又は相当部分を示すものとす
る。
【００２７】図２は実施の形態によるＸ線ＣＴ装置の要
部構成図で、図において、１０はユーザが操作する操作
コンソール部、２０は被検体１００を載せて体軸方向に
移動させる撮影テーブル、３０はＸ線ファンビームＸＬ
ＦＢにより被検体１００のアキシャル／ヘリカル等によ
るスキャン・読取を行う走査ガントリである。なお、走
査ガントリ３０に固定された直交座標系を（ｘ，ｙ，
ｚ）で示す。
部構成図で、図において、１０はユーザが操作する操作
コンソール部、２０は被検体１００を載せて体軸方向に
移動させる撮影テーブル、３０はＸ線ファンビームＸＬ
ＦＢにより被検体１００のアキシャル／ヘリカル等によ
るスキャン・読取を行う走査ガントリである。なお、走
査ガントリ３０に固定された直交座標系を（ｘ，ｙ，
ｚ）で示す。
【００２８】走査ガントリ３０において、４０は回転陽
極型のＸ線管、４０ａはその回転陽極、ＦはＸ線焦点、
４０ｂはＸ線管４０の動作温度を検出するための温度セ
ンサ、４１はＸ線管４０の管電圧ｋＶ，管電流ｍＡ，曝
射時間Ｓｅｃ等を制御するＸ線制御部、４２は温度セン
サ４０ｂの検出温度をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、５
０はＸ線の曝射範囲（主に体軸方向）を制限するコリメ
ータ、５１はコリメータ５０のｚ軸方向の平行移動ｐ及
びその開口幅（被検体のスライス厚に対応）ｗの制御を
行うコリメータ制御部、２５ｄ，２５ｅは実施の形態に
よるポジショニングライトであって、ｚ軸方向の位置及
び又は姿勢（位置決め用光線ＰＬＢの照射方向）を変更
可能なもの、２６はＸ線焦点Ｆの推定変位量に応じてポ
ジショニングライト２５ｄ，２５ｅの位置及び又は姿勢
を制御するポジショニングライト(ＰＬ）制御部、７０
は多数（ｎ＝１０００程度）のＸ線検出器が円弧状の例
えば２列（Ｌ１，Ｌ２）に配列されているＸ線検出器ア
レイ、８０はＸ線検出器アレイ７０の検出データ（投影
データ）を収集するデータ収集部（ＤＡＳ）、６０は走
査ガントリ３０を体軸（センタラインＣＬ）の回りに回
転させる回転制御部、６１はＸ線撮像系の傾き（チル
ト）角を制御するチルト制御部、６２はＸ線焦点Ｆの変
位に応じてＸ線検出器アレイ７０をｚ軸方向に位置制御
するための検出器制御部である。
極型のＸ線管、４０ａはその回転陽極、ＦはＸ線焦点、
４０ｂはＸ線管４０の動作温度を検出するための温度セ
ンサ、４１はＸ線管４０の管電圧ｋＶ，管電流ｍＡ，曝
射時間Ｓｅｃ等を制御するＸ線制御部、４２は温度セン
サ４０ｂの検出温度をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、５
０はＸ線の曝射範囲（主に体軸方向）を制限するコリメ
ータ、５１はコリメータ５０のｚ軸方向の平行移動ｐ及
びその開口幅（被検体のスライス厚に対応）ｗの制御を
行うコリメータ制御部、２５ｄ，２５ｅは実施の形態に
よるポジショニングライトであって、ｚ軸方向の位置及
び又は姿勢（位置決め用光線ＰＬＢの照射方向）を変更
可能なもの、２６はＸ線焦点Ｆの推定変位量に応じてポ
ジショニングライト２５ｄ，２５ｅの位置及び又は姿勢
を制御するポジショニングライト(ＰＬ）制御部、７０
は多数（ｎ＝１０００程度）のＸ線検出器が円弧状の例
えば２列（Ｌ１，Ｌ２）に配列されているＸ線検出器ア
レイ、８０はＸ線検出器アレイ７０の検出データ（投影
データ）を収集するデータ収集部（ＤＡＳ）、６０は走
査ガントリ３０を体軸（センタラインＣＬ）の回りに回
転させる回転制御部、６１はＸ線撮像系の傾き（チル
ト）角を制御するチルト制御部、６２はＸ線焦点Ｆの変
位に応じてＸ線検出器アレイ７０をｚ軸方向に位置制御
するための検出器制御部である。
【００２９】なお、図示しないが、ポジショニングライ
ト２５ｄ，２５ｅより走査ガントリ３０の入口側に距離
Ｚａだけオフセットした位置にポジショニングライト２
５ａ〜２５ｃが設けられる。また、検出器制御部６２は
Ｘ線焦点Ｆの変位をＸ線検出器アレイ７０の移動によれ
カバーする場合に設けられる。
ト２５ｄ，２５ｅより走査ガントリ３０の入口側に距離
Ｚａだけオフセットした位置にポジショニングライト２
５ａ〜２５ｃが設けられる。また、検出器制御部６２は
Ｘ線焦点Ｆの変位をＸ線検出器アレイ７０の移動によれ
カバーする場合に設けられる。
【００３０】操作コンソール部１０において、１１はＸ
線ＣＴ装置の主制御・処理（スキャン制御，ＣＴ断層像
再構成処理，本発明に係る被検体位置決め制御等）を行
う中央処理装置、１１ａはそのＣＰＵ、１１ｂはＣＰＵ
１１ａが使用するＲＡＭ，ＲＯＭ等からなる主メモリ
（ＭＭ）、１２はキーボードやマウス等を含む入力装
置、１３はＣＲＴ等による表示装置（ＣＲＴ）、１４は
ＣＰＵ１１ａと走査ガントリ３０及び撮影テーブル２０
との間で各種制御信号ＣＳやモニタ信号ＭＳのやり取り
を行う制御インタフェース、１５はデータ収集部８０か
らの投影データｇ（Ｘ，θ）を蓄積するデータ収集バッ
ファ、１６はＸ線ＣＴ装置の運用に必要な各種データや
アプリケーションプログラム等を記憶している二次記憶
装置（ハードディスク装置等）である。
線ＣＴ装置の主制御・処理（スキャン制御，ＣＴ断層像
再構成処理，本発明に係る被検体位置決め制御等）を行
う中央処理装置、１１ａはそのＣＰＵ、１１ｂはＣＰＵ
１１ａが使用するＲＡＭ，ＲＯＭ等からなる主メモリ
（ＭＭ）、１２はキーボードやマウス等を含む入力装
置、１３はＣＲＴ等による表示装置（ＣＲＴ）、１４は
ＣＰＵ１１ａと走査ガントリ３０及び撮影テーブル２０
との間で各種制御信号ＣＳやモニタ信号ＭＳのやり取り
を行う制御インタフェース、１５はデータ収集部８０か
らの投影データｇ（Ｘ，θ）を蓄積するデータ収集バッ
ファ、１６はＸ線ＣＴ装置の運用に必要な各種データや
アプリケーションプログラム等を記憶している二次記憶
装置（ハードディスク装置等）である。
【００３１】次にアキシャル／ヘリカルスキャンの動作
を概説する。Ｘ線管４０からのファンビームＸＬＦＢは
被検体１００を介してＸ線検出器アレイ７０の各検出列
Ｌ１，Ｌ２に一斉に入射する。データ収集部８０はＸ線
検出器アレイ７０の各列Ｌ１，Ｌ２の検出データを走査
・収集してデータ収集バッファ１５に格納する。更に、
走査ガントリ３０が僅かに回転した各ビューで上記同様
の投影を行い、こうして走査ガントリ１回転分の投影デ
ータを収集・蓄積すると共に、アキシャル／ヘリカルス
キャン方式に従って撮影テーブル２０を被検体１００の
体軸方向に間欠的／連続的に移動させ、こうして被検体
１００の所要撮像領域についての全投影データを収集・
蓄積する。そして、ＣＰＵ１１ａは得られた全投影デー
タに基づき被検体１００のＣＴ断層像を再構成し、表示
装置１３に表示する。
を概説する。Ｘ線管４０からのファンビームＸＬＦＢは
被検体１００を介してＸ線検出器アレイ７０の各検出列
Ｌ１，Ｌ２に一斉に入射する。データ収集部８０はＸ線
検出器アレイ７０の各列Ｌ１，Ｌ２の検出データを走査
・収集してデータ収集バッファ１５に格納する。更に、
走査ガントリ３０が僅かに回転した各ビューで上記同様
の投影を行い、こうして走査ガントリ１回転分の投影デ
ータを収集・蓄積すると共に、アキシャル／ヘリカルス
キャン方式に従って撮影テーブル２０を被検体１００の
体軸方向に間欠的／連続的に移動させ、こうして被検体
１００の所要撮像領域についての全投影データを収集・
蓄積する。そして、ＣＰＵ１１ａは得られた全投影デー
タに基づき被検体１００のＣＴ断層像を再構成し、表示
装置１３に表示する。
【００３２】なお、ステーショナリ／スカウトスキャン
とは、走査ガントリ３０を一定の回転（アジマス）角度
に固定したままで撮影テーブル２０を移動させ、被検体
１００の２次元透視（レントゲン）画像を得るスキャン
である。本実施の形態ではこれらの各スキャンを総称し
て実スキャンと呼んでいる。
とは、走査ガントリ３０を一定の回転（アジマス）角度
に固定したままで撮影テーブル２０を移動させ、被検体
１００の２次元透視（レントゲン）画像を得るスキャン
である。本実施の形態ではこれらの各スキャンを総称し
て実スキャンと呼んでいる。
【００３３】これらの実スキャンにおいても、従来と同
様にしてＸ線管４０の焦点Ｆが移動し、これをカバーす
るためにコリメータ５０又はＸ線検出器アレイ７０の位
置制御を行うが、このためにポジショニングライト２５
ｄ，２５ｅ／２５ａ〜２５ｃによる被検体1００の位置
決めと、続く実スキャンとの間でスライス位置の位置ず
れが生じ得る。
様にしてＸ線管４０の焦点Ｆが移動し、これをカバーす
るためにコリメータ５０又はＸ線検出器アレイ７０の位
置制御を行うが、このためにポジショニングライト２５
ｄ，２５ｅ／２５ａ〜２５ｃによる被検体1００の位置
決めと、続く実スキャンとの間でスライス位置の位置ず
れが生じ得る。
【００３４】そこで、本実施の形態では、実スキャン開
始前に入手可能なＸ線管４０についての温度及びそのス
キャン条件に基づき、続く実スキャンを開始した場合に
おけるＸ線焦点Ｆの変位量を推定すると共に、得られた
推定変位量に基づきポジショニングライト２５ｄ，２５
ｅ／２５ａ〜２５ｃの位置／姿勢制御等を行うことで、
スキャン開始前の被検体１００を正しく位置決め可能と
している。以下、詳細に説明する。
始前に入手可能なＸ線管４０についての温度及びそのス
キャン条件に基づき、続く実スキャンを開始した場合に
おけるＸ線焦点Ｆの変位量を推定すると共に、得られた
推定変位量に基づきポジショニングライト２５ｄ，２５
ｅ／２５ａ〜２５ｃの位置／姿勢制御等を行うことで、
スキャン開始前の被検体１００を正しく位置決め可能と
している。以下、詳細に説明する。
【００３５】図３は実施の形態によるポジショニングラ
イトの位置／姿勢制御処理のフローチャートで、被検体
１００の実スキャン開始前にこの処理に入力する。ステ
ップＳ１１では続く実スキャンに関して設定されたスキ
ャンパラメータ｛走査ガントリのチルト角Ｕ，その回転
速度（スキャン時間）Ｖ，焦点Ｆの大／小Ｗ、Ｘ線管４
０のアジマス角Ｘ等｝を入力する。ステップＳ１２では
Ｘ線管４０の動作温度Ｔを検出（又は推定）する。ステ
ップＳ１３では上記入力されたスキャンパラメータ及び
上記検出（又は推定）されたＸ線管４０の動作温度Ｔに
基づき、続く被検体１００の実スキャン時における被検
体の実スライス位置の変位量を推定する。ステップＳ１
４では上記求めたスライス位置の変位量に基づきポジシ
ョニングライト２５ｄ，２５ｅ（２５ａ〜２５ｃについ
ても同様）のｚ軸方向の位置及び又は姿勢（位置決め用
光線ＰＬＢの照射方向）を制御する。
イトの位置／姿勢制御処理のフローチャートで、被検体
１００の実スキャン開始前にこの処理に入力する。ステ
ップＳ１１では続く実スキャンに関して設定されたスキ
ャンパラメータ｛走査ガントリのチルト角Ｕ，その回転
速度（スキャン時間）Ｖ，焦点Ｆの大／小Ｗ、Ｘ線管４
０のアジマス角Ｘ等｝を入力する。ステップＳ１２では
Ｘ線管４０の動作温度Ｔを検出（又は推定）する。ステ
ップＳ１３では上記入力されたスキャンパラメータ及び
上記検出（又は推定）されたＸ線管４０の動作温度Ｔに
基づき、続く被検体１００の実スキャン時における被検
体の実スライス位置の変位量を推定する。ステップＳ１
４では上記求めたスライス位置の変位量に基づきポジシ
ョニングライト２５ｄ，２５ｅ（２５ａ〜２５ｃについ
ても同様）のｚ軸方向の位置及び又は姿勢（位置決め用
光線ＰＬＢの照射方向）を制御する。
【００３６】上記ステップＳ１３における被検体スライ
ス位置変位量の推定には様々な方法が考えられる。とこ
ろで、本件出願人は、スキャン開始前のＸ線管４０の動
作温度Ｔ及びそのスキャンパラメータに基づき、続く被
検体１００の実スキャン時におけるコリメータ５０又は
Ｘ線検出器アレイ７０をそのスキャン開始当初より最適
のカバー位置に制御する方法を既に提案している。本実
施の形態では、この方法をポジショニングライト２５の
位置／姿勢制御の一部に利用することとする。以下、本
実施の形態への適用例を具体的に説明する。
ス位置変位量の推定には様々な方法が考えられる。とこ
ろで、本件出願人は、スキャン開始前のＸ線管４０の動
作温度Ｔ及びそのスキャンパラメータに基づき、続く被
検体１００の実スキャン時におけるコリメータ５０又は
Ｘ線検出器アレイ７０をそのスキャン開始当初より最適
のカバー位置に制御する方法を既に提案している。本実
施の形態では、この方法をポジショニングライト２５の
位置／姿勢制御の一部に利用することとする。以下、本
実施の形態への適用例を具体的に説明する。
【００３７】図１０は実施の形態におけるＸ線焦点移動
位置の予測処理を説明する図で、図１０（Ａ）は実スキ
ャンに伴うＸ線管（陽極）温度Ｔの変化（推移）を示し
ている。図において、横軸は時刻ｔ、縦軸はＸ線管４０
の温度Ｔである。時刻ｔ0で前回のスキャンが終了し、
その後はＸ線管温度Ｔが所定の冷却カーブで徐々に低下
している。次に時刻ｔ1で次のスキャンを開始したとす
ると、Ｘ線管４０はその際の投入電力Ｐ1により加熱さ
れ、開始時刻ｔ1における温度Ｔ1から終了時刻ｔ2にお
ける温度Ｔ2にまで上昇する。なお、上記に代えて、時
刻ｔ3で次のスキャンを開始した場合も同様である。こ
のように、Ｘ線管４０の温度Ｔは、その使用時のみなら
ず、その不使用時にも時々刻々と変化しており、実スキ
ャン開始時の温度Ｔに応じてＸ線焦点Ｆの変位量も異な
る。
位置の予測処理を説明する図で、図１０（Ａ）は実スキ
ャンに伴うＸ線管（陽極）温度Ｔの変化（推移）を示し
ている。図において、横軸は時刻ｔ、縦軸はＸ線管４０
の温度Ｔである。時刻ｔ0で前回のスキャンが終了し、
その後はＸ線管温度Ｔが所定の冷却カーブで徐々に低下
している。次に時刻ｔ1で次のスキャンを開始したとす
ると、Ｘ線管４０はその際の投入電力Ｐ1により加熱さ
れ、開始時刻ｔ1における温度Ｔ1から終了時刻ｔ2にお
ける温度Ｔ2にまで上昇する。なお、上記に代えて、時
刻ｔ3で次のスキャンを開始した場合も同様である。こ
のように、Ｘ線管４０の温度Ｔは、その使用時のみなら
ず、その不使用時にも時々刻々と変化しており、実スキ
ャン開始時の温度Ｔに応じてＸ線焦点Ｆの変位量も異な
る。
【００３８】なお、本実施の形態では、温度センサ４０
ｂによりＸ線管４０の現在の温度Ｔをリアルタイムに検
出可能である。又は、図１０（Ａ）の特性曲線（加熱／
冷却曲線）に従う演算により、Ｘ線管４０の現在又は将
来の温度Ｔを推定可能である。
ｂによりＸ線管４０の現在の温度Ｔをリアルタイムに検
出可能である。又は、図１０（Ａ）の特性曲線（加熱／
冷却曲線）に従う演算により、Ｘ線管４０の現在又は将
来の温度Ｔを推定可能である。
【００３９】図４にＸ線焦点Ｆの変位をコリメータ５０
の位置制御でカバーする場合のイメージを示す。図にお
いて、Ｘ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からの移動距離をｚと
するときに、コリメータ５０の基準位置Ｚ0からの移動
距離Ｚは（１）式で表せる。
の位置制御でカバーする場合のイメージを示す。図にお
いて、Ｘ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からの移動距離をｚと
するときに、コリメータ５０の基準位置Ｚ0からの移動
距離Ｚは（１）式で表せる。
【００４０】
【数１】
【００４１】ここで、Ｇ1：比例定数（＜１）である。
【００４２】また図５にＸ線焦点Ｆの変位をＸ線検出器
アレイ７０の位置制御でカバーする場合のイメージを示
す。図において、Ｘ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からの移動
距離をｚとするときに、Ｘ線検出器アレイ７０の基準位
置Ｚ0からの移動距離Ｚは（２）式で表せる。
アレイ７０の位置制御でカバーする場合のイメージを示
す。図において、Ｘ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からの移動
距離をｚとするときに、Ｘ線検出器アレイ７０の基準位
置Ｚ0からの移動距離Ｚは（２）式で表せる。
【００４３】
【数２】
【００４４】ここで、Ｇ2：比例定数（＞１）である。
【００４５】一方、アキシャル／ヘリカルスキャン時に
おけるＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からの移動距離ｚとそ
の変動要因との間には（３）式の関係がある。
おけるＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からの移動距離ｚとそ
の変動要因との間には（３）式の関係がある。
【００４６】
【数３】
【００４７】ここで、 ｋ，ａ，ｂ，ｃ，ｄ：定数 Ｔ：Ｘ線管の温度(但し、使用温度範囲の百分率） Ｔ1：温度範囲の上限（例えば９０％） Ｔ2：温度範囲の下限（例えば１０％） Ｕ：チルト角度 Ｕ1：チルト角度の＋方向の上限（例えば３０°） Ｕ2：チルト角度の−方向の上限（例えば３０°） Ｖ：スキャン時間 Ｖ1：最長スキャン時間（例えば３秒） Ｖ2：最短スキャン時間（例えば０．８秒） Ｗ：焦点の大小（大＝１，小＝０） である。
【００４８】図１０（Ｂ）〜（Ｅ）は上記（３）式の焦
点移動距離ｚに対する各変動要因の寄与分を示してい
る。図１０（Ｂ）は温度Ｔの寄与分、図１０（Ｃ）はチ
ルト角Ｕの寄与分、図１０（Ｄ）はスキャン時間Ｖの寄
与分、そして、図１０（Ｅ）は焦点サイズＷの寄与分を
夫々グラフ化したものである。但し、各グラフは上記
（３）式における各｛ ｝内の値をグラフ化したもの
で、これに各寄与分に応じた定数ａ，ｂ，ｃ，ｄが掛け
られる。また図１０（Ｂ）〜（Ｅ）の各特性は全て右上
がりで示されているが、走査ガントリ３０の構造によっ
ては、ある特性が右下がり態様で寄与する場合もあり得
る。
点移動距離ｚに対する各変動要因の寄与分を示してい
る。図１０（Ｂ）は温度Ｔの寄与分、図１０（Ｃ）はチ
ルト角Ｕの寄与分、図１０（Ｄ）はスキャン時間Ｖの寄
与分、そして、図１０（Ｅ）は焦点サイズＷの寄与分を
夫々グラフ化したものである。但し、各グラフは上記
（３）式における各｛ ｝内の値をグラフ化したもの
で、これに各寄与分に応じた定数ａ，ｂ，ｃ，ｄが掛け
られる。また図１０（Ｂ）〜（Ｅ）の各特性は全て右上
がりで示されているが、走査ガントリ３０の構造によっ
ては、ある特性が右下がり態様で寄与する場合もあり得
る。
【００４９】また、ステーショナリ／スカウトスキャン
時におけるＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ 0からの移動距離ｚ
とその変動要因との間には（４）式の関係がある。
時におけるＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ 0からの移動距離ｚ
とその変動要因との間には（４）式の関係がある。
【００５０】
【数４】
【００５１】ここで、 ｋ’，ａ’，ｂ’，ｃ’，ｄ’：定数 Ｔ：Ｘ線管の温度(但し、使用温度範囲の百分率） Ｔ1：温度範囲の上限（例えば９０％） Ｔ2：温度範囲の下限（例えば１０％） Ｕ：チルト角度 Ｕ1：チルト角度の＋方向の上限（例えば３０°） Ｕ2：チルト角度の−方向の上限（例えば３０°） Ｘ：アジマス Ｗ：焦点の大小（大＝１，小＝０） である。なお、そのグラフ図を示さないが、（４）式か
ら容易に推定できる。
ら容易に推定できる。
【００５２】更に、上記（１）式において、コリメータ
５０の公称の基準位置Ｚ0からの位置ずれ分をＺeとする
と、コリメータ５０の移動距離Ｚ’は一般に（５）式で
表せる。
５０の公称の基準位置Ｚ0からの位置ずれ分をＺeとする
と、コリメータ５０の移動距離Ｚ’は一般に（５）式で
表せる。
【００５３】
【数５】
【００５４】また、上記（２）式に対しても同様の移動
距離Ｚ’が考えられる。
距離Ｚ’が考えられる。
【００５５】更に、既提案の発明ではコリメータ５０に
対する移動距離Ｚ’をその各種変動要因に基づき一挙に
求める関係式が導かれている。即ち、アキシャル／ヘリ
カルスキャンに対しては（６）式の関係がある。
対する移動距離Ｚ’をその各種変動要因に基づき一挙に
求める関係式が導かれている。即ち、アキシャル／ヘリ
カルスキャンに対しては（６）式の関係がある。
【００５６】
【数６】
【００５７】ここで、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｋ：定数であ
る。
る。
【００５８】またステーショナリ／スカウトスキャンに
関しては（７）式の関係がある。
関しては（７）式の関係がある。
【００５９】
【数７】
【００６０】ここで、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｋ：定数であ
る。
る。
【００６１】上記（６），（７）式の各定数Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄ，Ｋは、本装置（各定数Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｋ）を
キャリブレーションするためのスキャンを行うことにう
より求められる。このスキャンは被検体１００を搭載せ
ずに行う。またこのキャリブレーションは、スキャン条
件を一つづつ変化させた各スキャンにより行われる。以
下、これを具体的に説明する。
Ｃ，Ｄ，Ｋは、本装置（各定数Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｋ）を
キャリブレーションするためのスキャンを行うことにう
より求められる。このスキャンは被検体１００を搭載せ
ずに行う。またこのキャリブレーションは、スキャン条
件を一つづつ変化させた各スキャンにより行われる。以
下、これを具体的に説明する。
【００６２】図１１は実施の形態における装置キャリブ
レーション時の条件を示す図で、図１１（Ａ）はアキシ
ャルスキャンによる場合を示している。まず条件１でア
キシャルスキャンを行い、その際の自動調整作用により
得られたコリメータ５０の移動距離Ｚ１を取得する。次
に条件２でアキシャルスキャンを行い、同様にして得ら
れたコリメータ５０の移動距離Ｚ２を取得する。この条
件１，２間ではチルト角Ｕのみが変化している。次に条
件３でアキシャルスキャンを行い、その際に得られたコ
リメータ５０の移動距離Ｚ３を取得する。この条件２，
３間では焦点Ｆの大きさＷのみが変化している。更に、
スキャン時間Ｖ、Ｘ線管４０の温度Ｔのみを夫々変化さ
せた状態で、第４，第５のアキシャルスキャンを行い、
その際に得られたコリメータ５０の移動距離Ｚ４，Ｚ５
を夫々取得する。こうして条件１〜５の全スキャンを完
了すると、上記（６）式の各定数Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｋは
（８）式により求まる。
レーション時の条件を示す図で、図１１（Ａ）はアキシ
ャルスキャンによる場合を示している。まず条件１でア
キシャルスキャンを行い、その際の自動調整作用により
得られたコリメータ５０の移動距離Ｚ１を取得する。次
に条件２でアキシャルスキャンを行い、同様にして得ら
れたコリメータ５０の移動距離Ｚ２を取得する。この条
件１，２間ではチルト角Ｕのみが変化している。次に条
件３でアキシャルスキャンを行い、その際に得られたコ
リメータ５０の移動距離Ｚ３を取得する。この条件２，
３間では焦点Ｆの大きさＷのみが変化している。更に、
スキャン時間Ｖ、Ｘ線管４０の温度Ｔのみを夫々変化さ
せた状態で、第４，第５のアキシャルスキャンを行い、
その際に得られたコリメータ５０の移動距離Ｚ４，Ｚ５
を夫々取得する。こうして条件１〜５の全スキャンを完
了すると、上記（６）式の各定数Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｋは
（８）式により求まる。
【００６３】
【数８】
【００６４】また、上記キャリブレーションスキャンに
おけるコリメータ５０の各移動距離Ｚ１〜Ｚ５が得られ
ると、本装置の幾何学的構造（寸法）情報に基づき、同
じ条件１〜５下でスキャンした場合におけるＸ線焦点Ｆ
の移動距離ｚ１〜ｚ５を逆算できる。更に、これらを上
記（３）式に適用することで、定数ｋ，ａ，ｂ，ｃ，ｄ
のキャリブレーションが行える。
おけるコリメータ５０の各移動距離Ｚ１〜Ｚ５が得られ
ると、本装置の幾何学的構造（寸法）情報に基づき、同
じ条件１〜５下でスキャンした場合におけるＸ線焦点Ｆ
の移動距離ｚ１〜ｚ５を逆算できる。更に、これらを上
記（３）式に適用することで、定数ｋ，ａ，ｂ，ｃ，ｄ
のキャリブレーションが行える。
【００６５】更に、図１１（Ｂ）はステーショナリスキ
ャンによる場合を示している。上記と同様にして条件１
〜５下における全スキャンを完了すると、上記（７）式
の各定数Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｋは（９）式により求まる。
ャンによる場合を示している。上記と同様にして条件１
〜５下における全スキャンを完了すると、上記（７）式
の各定数Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｋは（９）式により求まる。
【００６６】
【数９】
【００６７】また、このキャリブレーションスキャンに
おけるコリメータ５０の各移動距離Ｚ１〜Ｚ５が得られ
ると、本装置の幾何学的構造（寸法）情報に基づき、同
じ条件１〜５下でスキャンした場合におけるＸ線焦点Ｆ
の移動距離ｚ１〜ｚ５を逆算できる。更に、これらを上
記（４）式に適用することで、定数ｋ’，ａ’，ｂ’，
ｃ’，ｄ’のキャリブレーションが行える。
おけるコリメータ５０の各移動距離Ｚ１〜Ｚ５が得られ
ると、本装置の幾何学的構造（寸法）情報に基づき、同
じ条件１〜５下でスキャンした場合におけるＸ線焦点Ｆ
の移動距離ｚ１〜ｚ５を逆算できる。更に、これらを上
記（４）式に適用することで、定数ｋ’，ａ’，ｂ’，
ｃ’，ｄ’のキャリブレーションが行える。
【００６８】なお、上記コリメータ５０の位置制御に代
えて、図５に示す如くのＸ線検出器アレイ７０を位置制
御する場合の装置キャリブレーションについても同様に
行える。
えて、図５に示す如くのＸ線検出器アレイ７０を位置制
御する場合の装置キャリブレーションについても同様に
行える。
【００６９】かくして、スキャン前のＸ線管動作温度Ｔ
及びそのスキャンパラメータＵ，Ｖ，Ｗ，Ｘ等に基づ
き、引き続き実スキャンを行った場合におけるＸ線焦点
Ｆの移動距離ｚ（図の±ｚOFに相当）、及びＸ線焦点Ｆ
の変位をカバーするためのコリメータ５０又はＸ線検出
器アレイ７０の移動距離Ｚ’（図の±ＺOFに相当）を推
定できる。
及びそのスキャンパラメータＵ，Ｖ，Ｗ，Ｘ等に基づ
き、引き続き実スキャンを行った場合におけるＸ線焦点
Ｆの移動距離ｚ（図の±ｚOFに相当）、及びＸ線焦点Ｆ
の変位をカバーするためのコリメータ５０又はＸ線検出
器アレイ７０の移動距離Ｚ’（図の±ＺOFに相当）を推
定できる。
【００７０】そこで、本実施の形態では、上記得られた
各推定値ｚ，Ｚ’に基づき、平面幾何学的手法（三角関
数／比例計算等）により、引き続き実スキャンを行った
場合における被検体１００の実スライス位置を推定し、
その推定値に基づきポジショニングライト２５ｄ，２５
ｅ／２５ａ〜２５ｃの位置／姿勢制御を行う。以下、具
体的に説明する。
各推定値ｚ，Ｚ’に基づき、平面幾何学的手法（三角関
数／比例計算等）により、引き続き実スキャンを行った
場合における被検体１００の実スライス位置を推定し、
その推定値に基づきポジショニングライト２５ｄ，２５
ｅ／２５ａ〜２５ｃの位置／姿勢制御を行う。以下、具
体的に説明する。
【００７１】図４，図５は実施の形態によるポジショニ
ングライト姿勢制御のイメージ図（１），（２）で、図
４はＸ線焦点Ｆの変位ｚをコリメータ５０の位置制御で
カバーする場合への適用例を示している。図において、
この例のポジショニングライト２５ｄ，２５ｅは、夫々
の位置決め用光線ＰＬＢの照射方向が、推定されたＸ線
焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフセット量−ｚOF1又はｚ
OF2等に応じて、図示の如く、夫々の場合におけるＸ線
ファンビームの厚み方向の中心線と位置決め用光線ＰＬ
Ｂとが一致するように、その姿勢（位置決め用光線ＰＬ
Ｂの照射方向）を変更可能に構成されている。
ングライト姿勢制御のイメージ図（１），（２）で、図
４はＸ線焦点Ｆの変位ｚをコリメータ５０の位置制御で
カバーする場合への適用例を示している。図において、
この例のポジショニングライト２５ｄ，２５ｅは、夫々
の位置決め用光線ＰＬＢの照射方向が、推定されたＸ線
焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフセット量−ｚOF1又はｚ
OF2等に応じて、図示の如く、夫々の場合におけるＸ線
ファンビームの厚み方向の中心線と位置決め用光線ＰＬ
Ｂとが一致するように、その姿勢（位置決め用光線ＰＬ
Ｂの照射方向）を変更可能に構成されている。
【００７２】挿入図（ａ）に本装置をｘ軸方向から見た
場合の幾何学的寸法を示す。図において、このポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅにつき、それらの回転中心
Ｏ点の回りの回転（チルト）角θOF、又はこの回転と同
じ効果を与える中心位置Ｔ0からの回転オフセット量Ｔ
OFは夫々（１０−１）、（１０−２）式により求まる。
場合の幾何学的寸法を示す。図において、このポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅにつき、それらの回転中心
Ｏ点の回りの回転（チルト）角θOF、又はこの回転と同
じ効果を与える中心位置Ｔ0からの回転オフセット量Ｔ
OFは夫々（１０−１）、（１０−２）式により求まる。
【００７３】
【数１０】
【００７４】ここで、 Ａ：Ｘ線焦点ＦのＸ線検出器アレイ（Ｏ点）からの高さ Ｂ：ポジショニングライトのＸ線検出器アレイ（Ｏ点）
からの高さ である。
からの高さ である。
【００７５】なお、上記ポジショニングライト２５ｄ，
２５ｅにつき、その位置決め用光線ＰＬＢの照射方向を
図示のような態様で変更できるものであれば、ポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅそのものの構造及びその姿
勢制御方法等は問わない。また、上記はポジショニング
ライト２５ｄ，２５ｅへの適用例を述べたが、ポジショ
ニングライト２５ａ〜２５ｄｃについても同様に適用で
きる。
２５ｅにつき、その位置決め用光線ＰＬＢの照射方向を
図示のような態様で変更できるものであれば、ポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅそのものの構造及びその姿
勢制御方法等は問わない。また、上記はポジショニング
ライト２５ｄ，２５ｅへの適用例を述べたが、ポジショ
ニングライト２５ａ〜２５ｄｃについても同様に適用で
きる。
【００７６】なお、これらの場合に、上記Ｘ線管４０の
温度については、上記図１０（Ａ）に示した如く、続く
実スキャン開始直前の温度のみならず、実スキャン途中
の任意温度を想定しても良いし、又は実スキャン終了時
の温度を想定しても良い。これらの温度設定値に応じ
て、被検体１００の精密なスライス位置を、そのスキャ
ン開始当初のみならず、スキャン途中又はスキャン終了
時に合わせて夫々に正しく位置決め可能である。
温度については、上記図１０（Ａ）に示した如く、続く
実スキャン開始直前の温度のみならず、実スキャン途中
の任意温度を想定しても良いし、又は実スキャン終了時
の温度を想定しても良い。これらの温度設定値に応じ
て、被検体１００の精密なスライス位置を、そのスキャ
ン開始当初のみならず、スキャン途中又はスキャン終了
時に合わせて夫々に正しく位置決め可能である。
【００７７】図５はＸ線焦点Ｆの変位ｚをＸ線検出器ア
レイ７０の位置制御でカバーする場合への適用例を示し
ている。図において、この例のポジショニングライト２
５ｄ，２５ｅは、夫々の位置決め用光線ＰＬＢの照射方
向が、推定されたＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフ
セット量−ｚOF1又はｚOF2等に応じて、図示の如く、夫
々の場合におけるＸ線ファンビームの厚み方向の中心線
と位置決め用光線ＰＬＢとが一致するように、その姿勢
（位置決め用光線ＰＬＢの照射方向）を変更可能に構成
されている。
レイ７０の位置制御でカバーする場合への適用例を示し
ている。図において、この例のポジショニングライト２
５ｄ，２５ｅは、夫々の位置決め用光線ＰＬＢの照射方
向が、推定されたＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフ
セット量−ｚOF1又はｚOF2等に応じて、図示の如く、夫
々の場合におけるＸ線ファンビームの厚み方向の中心線
と位置決め用光線ＰＬＢとが一致するように、その姿勢
（位置決め用光線ＰＬＢの照射方向）を変更可能に構成
されている。
【００７８】挿入図（ａ）に本装置をｘ軸方向から見た
場合の幾何学的寸法を示す。図において、このポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅにつき、それらの回転中心
Ｏ点の回りの回転（チルト）角θOFは夫々（１１）式に
より求まる。
場合の幾何学的寸法を示す。図において、このポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅにつき、それらの回転中心
Ｏ点の回りの回転（チルト）角θOFは夫々（１１）式に
より求まる。
【００７９】
【数１１】
【００８０】ここで、Ｃ：Ｘ線焦点Ｆのポジショニング
ライトからの高さである。
ライトからの高さである。
【００８１】なお、上記ポジショニングライト２５ｄ，
２５ｅにつき、その位置決め用光線ＰＬＢの照射方向を
図示のような態様で変更できるものであれば、ポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅそのものの構造及びその姿
勢制御方法等は問わない。また、上記はポジショニング
ライト２５ｄ，２５ｅへの適用例を述べたが、ポジショ
ニングライト２５ａ〜２５ｄｃについても同様に適用で
きる。また、上記Ｘ線管４０の温度については、続く実
スキャン開始直前の温度のみならず、実スキャン途中の
任意温度を想定しても良いし、又は実スキャン終了時の
温度を想定しても良い。この点は、以下の各実施の形態
でも同様である。
２５ｅにつき、その位置決め用光線ＰＬＢの照射方向を
図示のような態様で変更できるものであれば、ポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅそのものの構造及びその姿
勢制御方法等は問わない。また、上記はポジショニング
ライト２５ｄ，２５ｅへの適用例を述べたが、ポジショ
ニングライト２５ａ〜２５ｄｃについても同様に適用で
きる。また、上記Ｘ線管４０の温度については、続く実
スキャン開始直前の温度のみならず、実スキャン途中の
任意温度を想定しても良いし、又は実スキャン終了時の
温度を想定しても良い。この点は、以下の各実施の形態
でも同様である。
【００８２】図６，図７は実施の形態によるポジショニ
ングライト位置制御のイメージ図（１），（２）で、図
６はＸ線焦点Ｆの変位ｚをコリメータ５０の位置制御で
カバーする場合への適用例を示している。図において、
この例のポジショニングライト２５ｄ，２５ｅは、推定
されたＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフセット量−
ｚOF1又はｚOF2等に応じて、図示の如く、夫々の場合に
おける被検体１００のスライス位置と位置決め用光線Ｐ
ＬＢとが被検体１００の体軸ＣＬ上で略重なるように、
そのｚ軸方向の位置を変更可能に構成されている。
ングライト位置制御のイメージ図（１），（２）で、図
６はＸ線焦点Ｆの変位ｚをコリメータ５０の位置制御で
カバーする場合への適用例を示している。図において、
この例のポジショニングライト２５ｄ，２５ｅは、推定
されたＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフセット量−
ｚOF1又はｚOF2等に応じて、図示の如く、夫々の場合に
おける被検体１００のスライス位置と位置決め用光線Ｐ
ＬＢとが被検体１００の体軸ＣＬ上で略重なるように、
そのｚ軸方向の位置を変更可能に構成されている。
【００８３】挿入図（ａ）に本装置をｘ軸方向から見た
場合の幾何学的寸法を示す。図において、このポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅにつき、上記照射条件を満
足するようなｚ軸方向の平行移動距離ＭOFは（１２）式
により求まる。
場合の幾何学的寸法を示す。図において、このポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅにつき、上記照射条件を満
足するようなｚ軸方向の平行移動距離ＭOFは（１２）式
により求まる。
【００８４】
【数１２】
【００８５】ここで、Ｄ：体軸ＣＬのＸ線検出器アレイ
からの高さである。
からの高さである。
【００８６】本実施の形態によれば、これらのポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅについては、その向きを変
えずに、単にｚ軸方向に平行移動すればよく、よってそ
の構造及び移動制御が簡単である。なお、上記はポジシ
ョニングライト２５ｄ，２５ｅへの適用例を述べたが、
ポジショニングライト２５ａ〜２５ｄｃについても同様
に適用できる。
ニングライト２５ｄ，２５ｅについては、その向きを変
えずに、単にｚ軸方向に平行移動すればよく、よってそ
の構造及び移動制御が簡単である。なお、上記はポジシ
ョニングライト２５ｄ，２５ｅへの適用例を述べたが、
ポジショニングライト２５ａ〜２５ｄｃについても同様
に適用できる。
【００８７】図７はＸ線焦点Ｆの変位ｚをＸ線検出器ア
レイ７０の位置制御でカバーする場合への適用例を示し
ている。図において、この例のポジショニングライト２
５ｄ，２５ｅは、推定されたＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ0
からのオフセット量−ｚOF1又はｚOF2等に応じて、図示
の如く、夫々の場合における被検体１００のスライス位
置と位置決め用光線ＰＬＢとが被検体１００の体軸ＣＬ
上で略重なるように、そのｚ軸方向の位置を変更可能に
構成されている。
レイ７０の位置制御でカバーする場合への適用例を示し
ている。図において、この例のポジショニングライト２
５ｄ，２５ｅは、推定されたＸ線焦点Ｆの基準位置ｚ0
からのオフセット量−ｚOF1又はｚOF2等に応じて、図示
の如く、夫々の場合における被検体１００のスライス位
置と位置決め用光線ＰＬＢとが被検体１００の体軸ＣＬ
上で略重なるように、そのｚ軸方向の位置を変更可能に
構成されている。
【００８８】挿入図（ａ）に本装置をｘ軸方向から見た
場合の幾何学的寸法を示す。図において、このポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅにつき、上記照射条件を満
足するようなｚ軸方向の平行移動距離ＭOFは（１３）式
により求まる。
場合の幾何学的寸法を示す。図において、このポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅにつき、上記照射条件を満
足するようなｚ軸方向の平行移動距離ＭOFは（１３）式
により求まる。
【００８９】
【数１３】
【００９０】ここで、Ｅ：ポジショニングライトの体軸
ＣＬからの高さである。
ＣＬからの高さである。
【００９１】本実施の形態によれば、これらのポジショ
ニングライト２５ｄ，２５ｅについては、その向きを変
えずに、単にｚ軸方向に平行移動すればよく、よってそ
の構造及び移動制御が簡単である。なお、上記はポジシ
ョニングライト２５ｄ，２５ｅへの適用例を述べたが、
ポジショニングライト２５ａ〜２５ｄｃについても同様
に適用できる。
ニングライト２５ｄ，２５ｅについては、その向きを変
えずに、単にｚ軸方向に平行移動すればよく、よってそ
の構造及び移動制御が簡単である。なお、上記はポジシ
ョニングライト２５ｄ，２５ｅへの適用例を述べたが、
ポジショニングライト２５ａ〜２５ｄｃについても同様
に適用できる。
【００９２】図８，図９は実施の形態による被検体スラ
イス位置制御のイメージ図（１），（２）で、図８はＸ
線焦点Ｆの変位ｚをコリメータ５０の位置制御でカバー
する場合への適用例を示している。図において、この例
のポジショニングライト２５ａ〜２５ｅはその位置及び
姿勢（位置決め用光線ＰＬＢの照射方向）が、上記図１
３の従来技術で述べたものと同様に、固定されている。
イス位置制御のイメージ図（１），（２）で、図８はＸ
線焦点Ｆの変位ｚをコリメータ５０の位置制御でカバー
する場合への適用例を示している。図において、この例
のポジショニングライト２５ａ〜２５ｅはその位置及び
姿勢（位置決め用光線ＰＬＢの照射方向）が、上記図１
３の従来技術で述べたものと同様に、固定されている。
【００９３】その代わりに、本実施の形態では、前段の
ポジショニングライト２５ａ〜２５ｃを使用して通常に
位置決めされた被検体１００の予定スライス位置（輝線
ＢＬ 0の位置）が、続くスキャン開始によりＸ線照射領
域に初期移送される際に、予め演算により推定されたＸ
線焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフセット量−ｚOF1又は
ｚOF2等に応じて、図示の如く、夫々の場合における被
検体１００の予定スライス位置が実際のスライス位置−
ＳOF1又はＳOF2等の位置にまで丁度搬送されるように、
撮影テーブル２０の初期移送量を（Ｚａ−ＭOF1）又は
（Ｚａ＋ＭOF2）等の如く変更するものである。
ポジショニングライト２５ａ〜２５ｃを使用して通常に
位置決めされた被検体１００の予定スライス位置（輝線
ＢＬ 0の位置）が、続くスキャン開始によりＸ線照射領
域に初期移送される際に、予め演算により推定されたＸ
線焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフセット量−ｚOF1又は
ｚOF2等に応じて、図示の如く、夫々の場合における被
検体１００の予定スライス位置が実際のスライス位置−
ＳOF1又はＳOF2等の位置にまで丁度搬送されるように、
撮影テーブル２０の初期移送量を（Ｚａ−ＭOF1）又は
（Ｚａ＋ＭOF2）等の如く変更するものである。
【００９４】従って、本実施の形態によれば、既存のポ
ジショニングライト２５ａ〜２５ｅに別段の構造変更や
制御を加えなくても、上記簡単な撮影テーブル２０の移
送制御により、実質的にスキャン開始前の被検体１００
を正しく位置決め可能である。なお、図示しないが、こ
の位置決め方法はＸ線焦点Ｆの変位ｚをＸ線検出器アレ
イ７０の位置制御でカバーする場合にも適用できる。
ジショニングライト２５ａ〜２５ｅに別段の構造変更や
制御を加えなくても、上記簡単な撮影テーブル２０の移
送制御により、実質的にスキャン開始前の被検体１００
を正しく位置決め可能である。なお、図示しないが、こ
の位置決め方法はＸ線焦点Ｆの変位ｚをＸ線検出器アレ
イ７０の位置制御でカバーする場合にも適用できる。
【００９５】図９は前段のポジショニングライト２５ａ
〜２５ｃとして、例えば上記図４〜図７で述べた如く、
その位置／姿勢を変更可能なポジショニングライト２５
ａ〜２５ｃを使用する場合への適用例を示している。こ
こでは、前段のポジショニングライト２５ａ〜２５ｃに
より、予め被検体１００を、演算により推定されたＸ線
焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフセット量−ｚOF1又はｚ
OF2等に応じて、図示の如く、その予定スライス位置が
実際のスライス位置−ＳOF1又はＳOF2等と一致するよう
に撮影テーブル２０を位置決めし、続くスキャン開始に
よりＸ線照射領域に一定距離Ｚａだけ初期移送するもの
である。なお、図示しないが、この位置決め方法はＸ線
焦点Ｆの変位ｚをＸ線検出器アレイ７０の位置制御でカ
バーする場合にも適用できる。
〜２５ｃとして、例えば上記図４〜図７で述べた如く、
その位置／姿勢を変更可能なポジショニングライト２５
ａ〜２５ｃを使用する場合への適用例を示している。こ
こでは、前段のポジショニングライト２５ａ〜２５ｃに
より、予め被検体１００を、演算により推定されたＸ線
焦点Ｆの基準位置ｚ0からのオフセット量−ｚOF1又はｚ
OF2等に応じて、図示の如く、その予定スライス位置が
実際のスライス位置−ＳOF1又はＳOF2等と一致するよう
に撮影テーブル２０を位置決めし、続くスキャン開始に
よりＸ線照射領域に一定距離Ｚａだけ初期移送するもの
である。なお、図示しないが、この位置決め方法はＸ線
焦点Ｆの変位ｚをＸ線検出器アレイ７０の位置制御でカ
バーする場合にも適用できる。
【００９６】また、本発明に係る更に他の実施の形態を
上記図８を参照して説明する。即ち、この実施の形態
は、スキャン開始前の被検体１００を所定位置ＢＬ
０（固定）に位置決めする位置決め手段と、Ｘ線管４０
から発生したＸ線がＸ線検出器アレイ７０における定位
置に調整されるようにコリメータ５０及び又はＸ線検出
器アレイ７０の位置を調整する位置調整手段と、前記コ
リメータ５０及び又はＸ線検出器アレイ７０の位置調整
により予測されるところの被検体１００の各実スライス
位置ＳＯＦを求める（推定する）演算手段と、前記位置
決め手段による位置決め情報ＢＬ0（通常は被検体１０
０の最初の実スライス位置を想定）及びそのスキャン条
件（ＢＬ０からのスライスピッチ及びスライス枚数等）
に基づき予め予測（特定）される被検体１００の各予定
スライス位置と、前記演算手段により求められ（推定さ
れ）た各実スライス位置とを比較可能な態様で外部（Ｃ
ＲＴ表示部１３等）に出力する出力手段とを備えるもの
である。
上記図８を参照して説明する。即ち、この実施の形態
は、スキャン開始前の被検体１００を所定位置ＢＬ
０（固定）に位置決めする位置決め手段と、Ｘ線管４０
から発生したＸ線がＸ線検出器アレイ７０における定位
置に調整されるようにコリメータ５０及び又はＸ線検出
器アレイ７０の位置を調整する位置調整手段と、前記コ
リメータ５０及び又はＸ線検出器アレイ７０の位置調整
により予測されるところの被検体１００の各実スライス
位置ＳＯＦを求める（推定する）演算手段と、前記位置
決め手段による位置決め情報ＢＬ0（通常は被検体１０
０の最初の実スライス位置を想定）及びそのスキャン条
件（ＢＬ０からのスライスピッチ及びスライス枚数等）
に基づき予め予測（特定）される被検体１００の各予定
スライス位置と、前記演算手段により求められ（推定さ
れ）た各実スライス位置とを比較可能な態様で外部（Ｃ
ＲＴ表示部１３等）に出力する出力手段とを備えるもの
である。
【００９７】本実施の形態によれば、位置決め手段によ
り定まる一定の各予定スライス位置と実スキャンにおい
て変動し得る各実スライス位置とを比較可能な態様でＣ
ＲＴ表示部１３に出力する構成により、例えばスキャン
開始前においては、もしこのままスキャン開始した場合
は予定スライス位置と実スライス位置とがどの程度ずれ
るかをスキャン開始前に把握できる。また実スキャン後
においては、各実スライス位置が各予定スライス位置か
らどれだけずれたかを定量的に把握でき、これに基づい
て被検体1００の各断層像の正確な位置を特定できる。
特に、後者の場合は、実スキャンにより時々刻々と変化
するＸ線管温度Ｔが、各実スライス位置ＳＯＦを求める
演算手段に対してリアルタイムに提供される為、求めら
れた各実スライス位置はより実際に即した正確なものと
なる。
り定まる一定の各予定スライス位置と実スキャンにおい
て変動し得る各実スライス位置とを比較可能な態様でＣ
ＲＴ表示部１３に出力する構成により、例えばスキャン
開始前においては、もしこのままスキャン開始した場合
は予定スライス位置と実スライス位置とがどの程度ずれ
るかをスキャン開始前に把握できる。また実スキャン後
においては、各実スライス位置が各予定スライス位置か
らどれだけずれたかを定量的に把握でき、これに基づい
て被検体1００の各断層像の正確な位置を特定できる。
特に、後者の場合は、実スキャンにより時々刻々と変化
するＸ線管温度Ｔが、各実スライス位置ＳＯＦを求める
演算手段に対してリアルタイムに提供される為、求めら
れた各実スライス位置はより実際に即した正確なものと
なる。
【００９８】なお、上記各実施の形態はＸ線検出器が２
列以上の場合への適用例を述べたが、１列のＸ線ＣＴ装
置についても、予め行った試験データ(特性曲線等）に
基づきＸ線焦点Ｆの移動量を予測可能であるから、本発
明は１列以上のＸ線ＣＴ装置に適用できる。
列以上の場合への適用例を述べたが、１列のＸ線ＣＴ装
置についても、予め行った試験データ(特性曲線等）に
基づきＸ線焦点Ｆの移動量を予測可能であるから、本発
明は１列以上のＸ線ＣＴ装置に適用できる。
【００９９】また、上記本発明に好適なる複数の実施の
形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部
の構成、制御、処理及びこれらの組合せの様々な変更が
行えることは言うまでも無い。
形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部
の構成、制御、処理及びこれらの組合せの様々な変更が
行えることは言うまでも無い。
【０１００】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、スキャ
ン開始前の被検体を正しく位置決め可能なことにより、
被検体の精密な位置の断層像が得られ、Ｘ線撮像の質向
上に寄与するところが極めて大きい。
ン開始前の被検体を正しく位置決め可能なことにより、
被検体の精密な位置の断層像が得られ、Ｘ線撮像の質向
上に寄与するところが極めて大きい。
【図１】本発明の原理を説明する図である。
【図２】実施の形態によるＸ線ＣＴ装置の要部構成図で
ある。
ある。
【図３】実施の形態によるポジショニングライトの位置
／姿勢制御処理のフローチャートである。
／姿勢制御処理のフローチャートである。
【図４】実施の形態によるポジショニングライト姿勢制
御のイメージ図（１）である。
御のイメージ図（１）である。
【図５】実施の形態によるポジショニングライト姿勢制
御のイメージ図（２）である。
御のイメージ図（２）である。
【図６】実施の形態によるポジショニングライト位置制
御のイメージ図（１）である。
御のイメージ図（１）である。
【図７】実施の形態によるポジショニングライト位置制
御のイメージ図（２）である。
御のイメージ図（２）である。
【図８】実施の形態による被検体スライス位置制御のイ
メージ図（１）である。
メージ図（１）である。
【図９】実施の形態による被検体スライス位置制御のイ
メージ図（２）である。
メージ図（２）である。
【図１０】実施の形態におけるＸ線焦点移動位置の予測
処理を説明する図である。
処理を説明する図である。
【図１１】実施の形態における装置キャリブレーション
時の条件を示す図である。
時の条件を示す図である。
【図１２】従来技術を説明する図（１）である。
【図１３】従来技術を説明する図（２）である。
【図１４】従来技術を説明する図（３）である。
１０ 操作コンソール部 ２０ 撮影テーブル ３０ 走査ガントリ ４０ Ｘ線管 ４０ａ 回転陽極 ４０ｂ 温度センサ ４２ Ａ／Ｄ変換器 ５０ コリメータ ２５ａ〜２５ｅ ポジショニングライト ２６ ポジショニングライト（ＰＬ）制御部 ７０ Ｘ線検出器アレイ ８０ データ収集部（ＤＡＳ） １００ 被検体 Ｆ Ｘ線焦点
Claims (9)
- 【請求項１】 被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ
線検出器を備え、Ｘ線検出器から収集した投影データに
基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置の
被検体位置決め方法において、 スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条
件に基づき、スキャン開始した場合におけるＸ線焦点位
置を予測すると共に、得られたＸ線焦点位置に基づき予
測される被検体の実スライス位置対応に被検体に対して
位置決め用光ビームを照射し、スキャン開始前における
被検体の位置決めを行うことを特徴とする被検体位置決
め方法。 - 【請求項２】 被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ
線検出器を備え、Ｘ線検出器から収集した投影データに
基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置の
被検体位置決め方法において、 スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条
件に基づき、スキャン開始した場合におけるＸ線焦点位
置を予測すると共に、予め所定位置に位置決めされた被
検体を、前記予測されたＸ線焦点位置に基づき予測され
る被検体の実スライス位置対応に初期移送することで、
被検体の位置決めを行うことを特徴とする被検体位置決
め方法。 - 【請求項３】 被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ
線検出器を備え、Ｘ線検出器から収集した投影データに
基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置の
被検体位置決め方法において、 スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条
件に基づき、スキャン開始した場合におけるＸ線焦点位
置を予測すると共に、得られたＸ線焦点位置に基づき予
測される被検体の実スライス位置対応に被検体に対して
位置決め用光ビームを照射し、予め被検体を対応位置に
位置決めし、スキャン開始時の被検体を一定距離だけ初
期移送することを特徴とする被検体位置決め方法。 - 【請求項４】 スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度
はスキャン開始前に検出、推定又は設定された温度であ
ることを特徴とする請求項１乃至３の何れか一つに記載
の被検体位置決め方法。 - 【請求項５】 被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ
線検出器を備え、Ｘ線検出器から収集した投影データに
基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置に
おいて、 スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条
件に基づきスキャン開始した場合におけるＸ線焦点位置
を予測する焦点位置予測手段と、 Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器における定位置に
調整されるようにコリメータ及び又はＸ線検出器の位置
を調整する位置調整手段と、 スキャン開始前の被検体に対して前記予測されたＸ線焦
点位置に基づき予測される被検体の実スライス位置対応
に位置決め用光ビームを照射する被検体位置決め手段と
を備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項６】 被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ
線検出器を備え、Ｘ線検出器から収集した投影データに
基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置に
おいて、 スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条
件に基づきスキャン開始した場合におけるＸ線焦点位置
を予測する焦点位置予測手段と、 Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器における定位置に
調整されるようにコリメータ及び又はＸ線検出器の位置
を調整する位置調整手段と、 スキャン開始前の被検体を所定位置に位置決めする位置
決め手段と、 スキャン開始時の被検体を前記予測されたＸ線焦点位置
に基づき予測される被検体の実スライス位置対応に初期
移送する移送手段とを備えることを特徴とするＸ線ＣＴ
装置。 - 【請求項７】 被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ
線検出器を備え、Ｘ線検出器から収集した投影データに
基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置に
おいて、 スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度及びスキャン条
件に基づきスキャン開始した場合におけるＸ線焦点位置
を予測する焦点位置予測手段と、 Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器における定位置に
調整されるようにコリメータ及び又はＸ線検出器の位置
を調整する位置調整手段と、 スキャン開始前の被検体を前記予測されたＸ線焦点位置
に基づき予測される被検体の実スライス位置対応に位置
決めする位置決め手段と、 スキャン開始時の被検体を一定距離だけ初期移送する移
送手段とを備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項８】 スキャン開始前に入手可能なＸ線管温度
はスキャン開始前に検出、推定又は設定された温度であ
ることを特徴とする請求項５乃至７の何れか一つに記載
のＸ線ＣＴ装置。 - 【請求項９】 被検体を挟んで相対向するＸ線管及びＸ
線検出器を備え、Ｘ線検出器から収集した投影データに
基づき被検体のＣＴ断層像を再構成するＸ線ＣＴ装置に
おいて、 スキャン開始前の被検体を所定位置に位置決めする位置
決め手段と、 Ｘ線管から発生したＸ線がＸ線検出器における定位置に
調整されるようにコリメータ及び又はＸ線検出器の位置
を調整する位置調整手段と、 前記コリメータ及び又はＸ線検出器の位置調整により予
測される被検体の各実スライス位置を求める演算手段
と、 前記位置決め手段の位置決め情報及びそのスキャン条件
に基づき予測される被検体の各予定スライス位置と前記
求められた各実スライス位置とを比較可能な態様で外部
に出力する出力手段とを備えることを特徴とするＸ線Ｃ
Ｔ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000171073A JP2001346793A (ja) | 2000-06-07 | 2000-06-07 | 被検体位置決め方法及びｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000171073A JP2001346793A (ja) | 2000-06-07 | 2000-06-07 | 被検体位置決め方法及びｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001346793A true JP2001346793A (ja) | 2001-12-18 |
Family
ID=18673677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000171073A Pending JP2001346793A (ja) | 2000-06-07 | 2000-06-07 | 被検体位置決め方法及びｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001346793A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7670049B2 (en) | 2006-07-28 | 2010-03-02 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray radiography apparatus and arrangement method of plane of rotation |
| JP2010524619A (ja) * | 2007-04-25 | 2010-07-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Ｘ線ビームのｚ軸位置決め |
| WO2011068145A1 (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-09 | 株式会社 日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| KR101620679B1 (ko) | 2014-01-10 | 2016-05-12 | 오스템임플란트 주식회사 | X선 촬영장치 |
| CN112043302A (zh) * | 2020-09-21 | 2020-12-08 | 上海联影医疗科技有限公司 | 定位灯控制方法、装置、计算机设备和医学设备 |
| KR20200142710A (ko) * | 2019-06-13 | 2020-12-23 | 김천대학교산학협력단 | 방사선 촬영용 비접촉 두부 정렬장치 |
| US11839777B2 (en) | 2020-09-21 | 2023-12-12 | Shanghai United Imaging Healthcare Co., Ltd. | Medical systems including a positioning lamp and a projection device and control methods of the medical systems |
-
2000
- 2000-06-07 JP JP2000171073A patent/JP2001346793A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7670049B2 (en) | 2006-07-28 | 2010-03-02 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray radiography apparatus and arrangement method of plane of rotation |
| JP2010524619A (ja) * | 2007-04-25 | 2010-07-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Ｘ線ビームのｚ軸位置決め |
| WO2011068145A1 (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-09 | 株式会社 日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| CN102639060A (zh) * | 2009-12-02 | 2012-08-15 | 株式会社日立医疗器械 | X射线ct装置 |
| JP5815410B2 (ja) * | 2009-12-02 | 2015-11-17 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
| KR101620679B1 (ko) | 2014-01-10 | 2016-05-12 | 오스템임플란트 주식회사 | X선 촬영장치 |
| KR20200142710A (ko) * | 2019-06-13 | 2020-12-23 | 김천대학교산학협력단 | 방사선 촬영용 비접촉 두부 정렬장치 |
| KR102270783B1 (ko) | 2019-06-13 | 2021-06-30 | 전주대학교 산학협력단 | 방사선 촬영용 비접촉 두부 정렬장치 |
| CN112043302A (zh) * | 2020-09-21 | 2020-12-08 | 上海联影医疗科技有限公司 | 定位灯控制方法、装置、计算机设备和医学设备 |
| US11839777B2 (en) | 2020-09-21 | 2023-12-12 | Shanghai United Imaging Healthcare Co., Ltd. | Medical systems including a positioning lamp and a projection device and control methods of the medical systems |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1484017B1 (en) | Method for acquisition of a composite image with a digital detector | |
| JP3864106B2 (ja) | 透過ｘ線データ獲得装置およびｘ線断層像撮影装置 | |
| JP4119835B2 (ja) | 被曝線量計算方法およびｘ線撮影装置 | |
| JP5432428B2 (ja) | テーブル下垂を補償するシステム及び方法 | |
| JP5780931B2 (ja) | 放射線断層撮影装置および被曝線量計算方法並びにプログラム | |
| JP6342437B2 (ja) | 放射線断層撮影システム及びその制御プログラム | |
| JP2011125486A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線ｃｔ装置の制御方法 | |
| US20040101105A1 (en) | X-ray controlling method and X-ray imaging apparatus | |
| JP2009160394A (ja) | Ｘ線ｃｔシステムにおけるｘ線露光の制御方法 | |
| JP2001043993A (ja) | 管電流調節方法および装置並びにｘ線ｃｔ装置 | |
| CN104010573A (zh) | X射线诊断装置以及x射线诊断装置的控制方法 | |
| JP2006312047A (ja) | 対象の直交方向ｘ線減弱の算出方法、コンピュータ断層撮影装置およびその補正モジュール | |
| US6322248B1 (en) | X-ray impinging position alignment method and x-ray tomographic imaging method and apparatus | |
| JP2018114274A (ja) | コンピュータ断層撮像システムの造影方法 | |
| JP2006141904A (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JP4731151B2 (ja) | Ｘ線管電流決定方法及びｘ線ｃｔ装置 | |
| JP2001346793A (ja) | 被検体位置決め方法及びｘ線ｃｔ装置 | |
| JPH10234724A (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JP4397513B2 (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| WO2019030975A1 (ja) | 医用画像診断装置、及び画像処理方法 | |
| JP4823780B2 (ja) | パノラマ断層像生成装置及びパノラマ断層像生成プログラム | |
| JP3249088B2 (ja) | Ｘ線照射位置合わせ方法及びｘ線断層像撮影装置 | |
| JP6831673B2 (ja) | 放射線断層撮影装置およびプログラム | |
| JP2000051205A (ja) | Ｃｔ装置を用いて検査対象物の螺旋走査により得られた測定値から像を再構成するための方法およびこの方法を実施するためのｃｔ装置 | |
| JP6183884B2 (ja) | 放射線断層撮影装置および投影データ補正方法並びにプログラム |