JP2001345352A - 電子部品のボンディング装置およびボンディング方法 - Google Patents

電子部品のボンディング装置およびボンディング方法

Info

Publication number
JP2001345352A
JP2001345352A JP2000162018A JP2000162018A JP2001345352A JP 2001345352 A JP2001345352 A JP 2001345352A JP 2000162018 A JP2000162018 A JP 2000162018A JP 2000162018 A JP2000162018 A JP 2000162018A JP 2001345352 A JP2001345352 A JP 2001345352A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
electronic component
detecting
contact
height position
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000162018A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3575399B2 (ja
Inventor
Hidenari Shinozaki
英成 篠崎
Kenichi Otake
健一 大竹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2000162018A priority Critical patent/JP3575399B2/ja
Publication of JP2001345352A publication Critical patent/JP2001345352A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3575399B2 publication Critical patent/JP3575399B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ボンディングツールの摩耗量管理を容易に行
え、ボンディング品質を確保することができる電子部品
のボンディング装置およびボンディング方法を提供する
ことを目的とする。 【解決手段】 加圧と超音波振動により電子部品をボン
ディングする電子部品のボンディング方法において、ボ
ンディングに先立って振動子20のインピーダンスの変
化を検出することによって基準面3aとの当接を検出
し、この当接検出結果からボンディングツールの電子部
品との当接面の摩耗量を検出する。そしてボンディング
時には、摩耗量検出結果に基づいてボンディングヘッド
の押し込み量を制御する。これにより、ボンディングツ
ールの摩耗量を容易に検出して電子部品をワークに対し
て所定の押圧力で押圧することができ、ボンディング品
質を確保することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を基板な
どのワークにボンディングする電子部品のボンディング
装置およびボンディング方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】バンプ付電子部品などの電子部品を基板
などのワークにボンディングする方法として超音波圧接
を用いる方法が知られている。この方法は、電子部品の
バンプを基板に押圧しながら超音波振動を付与し、バン
プと基板の電極などの接合面を相互に摩擦させてボンデ
ィングするものである。このボンディング過程において
良好な接合性を確保するためには、バンプを基板の電極
に対して適切な圧着荷重値で押圧する必要がある。
【0003】このため従来より電子部品のボンディング
装置には、電子部品を保持して基板に押圧するボンディ
ングヘッドに、電子部品をボンディングツールを介して
適正荷重で押圧するための加圧手段が設けられている。
すなわち、ボンディングヘッドをワーク上の所定高さ位
置まで下降させることにより、エアシリンダやダイアフ
ラムなどの加圧手段が所定の押し込み量だけ押し込ま
れ、これによって電子部品に所定の押圧力が作用するよ
うになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、電子部品に
はボンディングツールとの当接面を介して荷重と超音波
振動が伝達されるため、ボンディング作業を継続する過
程においてボンディングツールの当接面は徐々に摩耗す
る。このため、予め設定された高さ位置までボンディン
グヘッドを下降させた場合においても、ボンディングツ
ールの摩耗状態によって加圧手段が押し込まれる押し込
み量は一定ではない。この結果電子部品を押圧する押圧
荷重は一定に保たれず摩耗状態によって変化する。
【0005】この押圧荷重のばらつきを防止するため、
ボンディングツールの使用時に摩耗量を測定して適正押
し込み量に調整することが行われる。この摩耗量測定
は、従来は手作業的に行う測定しか方法がなく、ボンデ
ィングツールを取り外した状態で作業者がマイクロメー
タなどの測定具を用いて行っていた。このため測定作業
に手間と時間を要して生産性向上が阻害されると共に測
定結果にばらつきを生じやすく、不正確な測定値に基づ
いて押し込み量調整が行われる結果、ボンディング品質
にばらつきが生じやすいという問題点があった。
【0006】そこで本発明は、ボンディングツールの摩
耗量管理を容易に行え、ボンディング品質を確保するこ
とができる電子部品のボンディング装置およびボンディ
ング方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の電子部品
のボンディング装置は、ボンディングヘッドによって電
子部品をワークに押圧して超音波振動を印加することに
より前記電子部品をボンディングする電子部品のボンデ
ィング装置であって、前記ワークを保持するワーク保持
部と、前記ボンディングヘッドを昇降させる昇降手段
と、このボンディングヘッドの高さ位置を検出する高さ
検出手段と、このボンディングヘッドに装着され電子部
品に当接する当接面を有するボンディングツールと、こ
のボンディングツールに超音波振動を印加する振動付与
手段と、前記当接面を介して電子部品を前記ワークに対
して押圧する加圧手段と、ボンディングツールの前記当
接面の摩耗量を検出する摩耗量検出手段と、摩耗量検出
結果に基づいて前記ボンディングヘッドの昇降手段を制
御する制御手段とを備えた。
【0008】請求項2記載の電子部品のボンディング装
置は、請求項1記載の電子部品のボンディング装置であ
って、前記摩耗量検出手段は、前記振動付与手段駆動時
のインピーダンスを測定するインピーダンス検出部と、
インピーダンスの変化に基づいてボンディングツールの
前記当接面が基準面に当接したことを検知する当接検知
手段と、この当接検知手段によって当接が検出されたと
きのボンディングヘッドの高さ位置をボンディングツー
ルの当接高さ位置として高さ検出手段より読み取る当接
高さ位置検出手段とを備え、この当接高さ位置から前記
当接面の摩耗量を検出する。
【0009】請求項3記載の電子部品のボンディング方
法は、ボンディングヘッドによって電子部品をワークに
押圧して超音波振動を印加することにより前記電子部品
をボンディングする電子部品のボンディング方法であっ
て、ボンディングに先立って前記ボンディングヘッドに
装着されたボンディングツールの電子部品との当接面の
摩耗量を検出し、この摩耗量検出結果に基づいてボンデ
ィングヘッドを昇降させる昇降手段を制御することによ
り、電子部品をワークに対して所定の押圧力で押圧す
る。
【0010】請求項4記載の電子部品のボンディング方
法は、請求項3記載の電子部品のボンディング方法であ
って、前記摩耗量を検出する工程において、ボンディン
グツールの前記当接面を基準面に対して下降させながら
振動付与手段を駆動してインピーダンスを測定し、測定
されたインピーダンスの変化に基づいてボンディングツ
ールの前記当接面が基準面に当接したときのボンディン
グツールの当接高さ位置を検出し、この当接高さ位置か
ら前記当接面の摩耗量を検出する。
【0011】本発明によれば、ボンディングに先立って
ボンディングヘッドに装着され電子部品に超音波振動を
伝達するボンディングツールの電子部品との当接面の摩
耗量を検出し、この摩耗量検出結果に基づいてボンディ
ングヘッドを昇降させる昇降手段を制御することによ
り、電子部品をワークに対して所定の押圧力で押圧する
ことができ、ボンディング品質を確保することができ
る。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電
子部品のボンディング装置の正面図、図2、図5は本発
明の一実施の形態の電子部品のボンディング装置の加圧
部の機能を示す説明図、図3(a)は本発明の一実施の
形態のボンディングツールの当接検出のフロー図、図3
(b)は本発明の一実施の形態のボンディングツールの
当接検出の工程説明図、図4は本発明の一実施の形態の
インピーダンス検出結果を示すグラフである。
【0013】まず図1を参照して電子部品のボンディン
グ装置について説明する。図1において基板位置決め部
1は移動テーブル2を備えており、移動テーブル2上に
は基板保持部3が設けられている。基板保持部3は、電
子部品5がボンディングされるワークである基板4を保
持するワーク保持部となっている。基板保持部3の上面
には、平坦で剛な表面の基準面3aが設けられており、
後述するように基準面3aはボンディングツールの摩耗
量を計測する際の押し付け面として用いられる。
【0014】基準位置決め部1の上方にはボンディング
部10が配設されている。ボンディング部10の垂直な
フレーム11にはガイド部材12が上下方向に配設され
ており、ガイド部材12によって昇降ブロック13は昇
降自在となっている。昇降ブロック13にはナット部材
14が固着されており、ナット部材14にはZ軸モータ
16によって回転駆動される送りねじ15が螺入してい
る。
【0015】昇降ブロック13の下部にはボンディング
ヘッド17が配設されており、ボンディングヘッド17
は加圧部18を内蔵している。加圧部18はボンディン
グツール19と結合されており、ボンディングツール1
9の下面には電子部品5を吸着保持するとともに電子部
品5を基板4に押圧してボンディングする当接部19a
が設けられている。ボンディングツール19には振動付
与手段である振動子20が装着されており、振動子20
を駆動することにより、ボンディングツール19の当接
部19aを介して電子部品5に超音波振動が付与され
る。
【0016】Z軸モータ16を駆動することにより昇降
ブロック13は昇降し、したがってボンディングヘッド
17もともに昇降する。Z軸モータ16、送りねじ1
5、ナット部材14はボンディングヘッド17の昇降手
段となっている。このときの昇降ブロック13の高さ位
置はリニアスケール21によって検出される。
【0017】加圧部18は圧力設定部22を介して圧力
源23に接続されており、圧力源23から所定圧力に設
定されたエアを加圧部18に供給することにより、加圧
部18は当接部19aの当接面を介して電子部品5を基
板保持部3に保持された基板4に押圧する。したがって
加圧部18は、電子部品5を基板4に対して押圧する加
圧手段となっている。
【0018】移動テーブル2を駆動することにより基板
保持部3は水平移動し、基板4および基準面3aのいず
れかをボンディングツール19に対して位置合わせでき
るようになっている。ボンディング作業は、基板4をボ
ンディングツール19に位置合わせした状態で行われ
る。また、摩耗量の計測は、基準面3aをボンディング
ツール19に位置合わせした状態で行われる。
【0019】基板保持部3の上方にはカメラ6が水平方
向に進退自在に配設されており、カメラ6は基板保持部
3の上方に進出して基板4およびボンディングツール1
9に保持された状態の電子部品5を撮像する。撮像結果
は認識部7によって認識され、これにより基板4および
電子部品5の位置が検出される。
【0020】次に図2を参照して加圧部18による押圧
機能について説明する。なおここで用いる「高さ位置」
は、昇降ブロック13のZ座標上の位置とZ軸モータ1
6によって昇降ブロック13が下降するZ軸下降量とが
対応関係にあることから、Z軸下降量と同義である。
【0021】図2(a)は昇降ブロック13を高さ位置
Z0まで下降させてボンディングツール19の当接部1
9aの下面(当接面)を基準面3aに当接させた状態を
示している。この状態では、当接面は単に基準面3aに
接触しているのみであり、押圧荷重は作用していない。
この状態から図2(b)に示すように所定の押し込み量
dだけ押し込むことにより、すなわち高さ位置Z0から
押し込み量dだけ更に昇降ブロック13を下降させた高
さ位置Z1(Z0+d)まで押し込むことにより、当接
面には押し込み量dに対応した押圧荷重Fが作用する。
【0022】電子部品の種類に応じたボンディング時の
適正押圧荷重Fが設定されると、この押圧荷重Fに対応
した押し込み量dが求められる。すなわち、昇降ブロッ
ク13を下降させてボンディングツール19によって電
子部品5を基板4に押圧する際の下降量の設定時には、
上記押し込み量dを加算してZ軸下降量が決定される。
【0023】ここでは基板保持部3の上面を基準面3a
として用いる例を示しており、実際のボンディング時に
は、基板4の上面が押し込み量dの起算位置となること
から、基板4の厚み分だけZ軸下降量を補正する。な
お、基準面として基板4の上面そのものを用いるように
してもよい。この場合には、上記補正が不要となる。
【0024】次に制御系について説明する。制御部30
は全体制御装置であり、以下に説明する各部を制御する
ほか、インピーダンス検出結果からボンディングツール
の当接を検出する演算や、摩耗量を算出する演算処理を
行う。記憶部31は各部の動作・処理を行うためのプロ
グラムやデータを記憶する。このデータにはボンディン
グヘッド17の高さ位置のデータが含まれる。
【0025】Z軸モータ駆動部32は、Z軸モータ16
を駆動する。記憶部31に記憶された高さ位置のデータ
に基づいてZ軸モータ駆動部32を制御部30によって
制御することにより、ボンディングヘッド17の高さ位
置、したがってボンディングツール19の当接部19a
の下面の当接面の高さ位置を所定高さ位置に設定するこ
とができる。
【0026】振動子駆動部33はボンディングツール1
9に振動を付与する振動子20を駆動する。インピーダ
ンス検出部34は振動子20を駆動する際のインピーダ
ンスを検出する。このインピーダンス検出結果はボンデ
ィングツール19の当接面が基準面3aに当接したこと
を検出する当接検知処理に用いられる。インピーダンス
検出部34によるインピーダンスの検出方法は、振動子
駆動部33の回路構成によって異なる。振動子駆動部3
3が定電圧回路であればインピーダンス検出部34は振
動子に流れる電流をインピーダンスの代用値として計測
し、定電圧回路であれば、電圧をインピーダンスの代用
値として検出してもよい。また、回路構成に関係なく振
動子に流れる電流と電圧の両方を検出してインピーダン
スを求める構成であってもよい。
【0027】テーブル駆動部35は基板保持部3を移動
させる移動テーブル2を駆動する。高さ検出部36はリ
ニアスケール21の検出信号に基づいて、昇降ブロック
13の高さ位置を検出する。この高さ位置検出結果に基
づいて、ボンディングヘッド17の高さ位置が検出され
る。リニアスケール21および高さ検出部36はボンデ
ィングヘッド17の高さ位置を検出する高さ検出手段と
なっている。
【0028】この電子部品のボンディング装置は上記の
様に構成されており、次に図3、図4を参照してボンデ
ィングツールの摩耗量検出について説明する。超音波振
動を利用したボンディングにおいては、電子部品を押し
付けるボンディングツールの当接面は徐々に摩耗し、図
2(a)に示す当接部高さhは累積使用によって短くな
る。このため、所定の高さ位置Z1まで昇降ブロック1
3を下降させても、所定の押し込み量dが確保されず、
この結果押圧荷重Fが変化する。ボンディングツールの
摩耗量検出は、このような押圧荷重Fの変動を防止する
ために行われるものである。
【0029】摩耗量検出に際しては、まず図3(a)に
示すフロー図に従って、ボンディングツールの当接検出
を行う。まずボンディングツール19の当接部19aが
基準面3aに当接していない状態、すなわち空中にて振
動子20を発振してボンディングツール19を振動さ
せ、この状態でのインピーダンスをインピーダンス検出
部34によって測定し、測定結果を記憶部31に記憶す
る(ST1)。次いでZ軸モータ16を駆動してZ軸を
所定ピッチだけ下降させる(ST2)。そして再び振動
子20を発振してインピーダンスを測定し、測定結果を
記憶部31に記憶する(ST3)。
【0030】次にこの測定結果を(ST1)にて測定さ
れた空中発振のインピーダンスと比較する(ST4)。
このデータの比較演算は制御部30によって行われる。
ここで測定結果が(ST1)における空中発振と同程度
であれば(ST2)に戻り再度Z軸を下降させて同様の
インピーダンス測定を反復する。
【0031】そして(ST4)において空中発振と違う
測定結果が得られたならば、すなわち図4に示すように
インピーダンスが不連続的に増加したことが制御部30
の比較演算によって検出されたならば、その状態におけ
る高さ検出部36より出力される高さ位置Ztをボンデ
ィングツールの当接高さ位置として読み取り(ST
5)、この当接高さ位置Ztを記憶部31に記憶させて
当接検出を終了する。したがって、制御部30は、イン
ピーダンスの変化に基づいてボンディングツールの当接
面の当接を検出する当接検出手段となっている。また制
御部30は、当接検出手段によって当接が検出されたと
きのボンディングヘッドの高さ位置を当接高さ位置とし
て高さ検出手段より読み取る当接高さ位置検出手段とし
て機能する。
【0032】この当接検出は、超音波振動付与時のボン
ディングツール19の拘束状態の変化によってインピー
ダンスが変化することを利用して当接部19aの基準面
3aとの当接を検出するものである。このような方法を
用いることにより、振動付与手段を既に備えたボンディ
ング装置にあっては何ら機構的な追加を必要とせず、既
存機能に単にインピーダンス検出機能を追加するだけ
で、高精度の当接検出が可能となり、ボンディングツー
ルの摩耗量の管理が容易に行える。
【0033】次にこの当接検出結果からボンディングツ
ール19の摩耗量を求める方法について説明する。図5
(a)に示すように、上記当接検出により求められた当
接高さ位置Ztと、図2(a)に示す基準状態における
基準高さ位置Z0との差が摩耗量aを示している。この
摩耗量aを求める演算は、求められた当接高さ位置Zt
と基準高さ位置Z0に基づき制御部30によって行われ
る。すなわち、インピーダンス検出部34、制御部30
(当接検出手段、当接高さ位置検出手段)は、ボンディ
ングツール19の当接面の摩耗量を検出する摩耗量検出
手段となっている。なお、ここで基準状態とはボンディ
ングツール19の新品時の状態(設計図面寸法と等しい
状態)であると定義してもよいし、また任意の時点を相
対的な基準状態と定義してもよい。
【0034】そして基準高さ位置Z0と当接高さ位置Z
tとの差で示される摩耗量aが求められたならば、図5
(b)に示すようにボンディング時の高さ位置を図2
(b)に示す高さ位置Z1に替えてZ1+aに更新す
る。すなわち制御部30によってZ軸モータ16を制御
する際には、摩耗量aだけZ軸下降量を増加した上で下
降動作を行わせる。制御部30は、摩耗量検出結果に基
づいてボンディングヘッドの昇降手段を制御する制御手
段となっている。
【0035】これにより、ボンディングツール19の当
接部19aの高さが摩耗によってh−aに減少した状態
においても加圧部18の押し込み量dが一定に確保さ
れ、押圧荷重Fが一定に保たれる。したがって、ボンデ
ィング作業においては、電子部品5はボンディングツー
ル19の摩耗状態に関係なく常に適正押圧荷重でボンデ
ィングされ、良好なボンディング品質が実現される。
【0036】
【発明の効果】本発明によれば、ボンディングに先立っ
てボンディングヘッドに装着され電子部品に超音波振動
を伝達するボンディングツールの電子部品との当接面の
摩耗量を検出し、この摩耗量検出結果に基づいてボンデ
ィングヘッドを昇降させる昇降手段を制御するようにし
たので、電子部品をワークに対して所定の押圧力で押圧
することができ、ボンディング品質を確保することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディン
グ装置の正面図
【図2】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディン
グ装置の加圧部の機能を示す説明図
【図3】(a)本発明の一実施の形態のボンディングツ
ールの当接検出のフロー図 (b)本発明の一実施の形態のボンディングツールの当
接検出の工程説明図
【図4】本発明の一実施の形態のインピーダンス検出結
果を示すグラフ
【図5】本発明の一実施の形態の電子部品のボンディン
グ装置の加圧部の機能を示す説明図
【符号の説明】
3 基板保持部 4 基板 5 電子部品 13 昇降ブロック 17 ボンディングヘッド 18 加圧部 19 ボンディングツール 19a 当接部 30 制御部 34 インピーダンス検出部 36 高さ検出部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ボンディングヘッドによって電子部品をワ
    ークに押圧して超音波振動を印加することにより前記電
    子部品をボンディングする電子部品のボンディング装置
    であって、前記ワークを保持するワーク保持部と、前記
    ボンディングヘッドを昇降させる昇降手段と、このボン
    ディングヘッドの高さ位置を検出する高さ検出手段と、
    このボンディングヘッドに装着され電子部品に当接する
    当接面を有するボンディングツールと、このボンディン
    グツールに超音波振動を印加する振動付与手段と、前記
    当接面を介して電子部品を前記ワークに対して押圧する
    加圧手段と、ボンディングツールの前記当接面の摩耗量
    を検出する摩耗量検出手段と、摩耗量検出結果に基づい
    て前記ボンディングヘッドの昇降手段を制御する制御手
    段とを備えたことを特徴とする電子部品のボンディング
    装置。
  2. 【請求項2】前記摩耗量検出手段は、前記振動付与手段
    駆動時のインピーダンスを測定するインピーダンス検出
    部と、インピーダンスの変化に基づいてボンディングツ
    ールの前記当接面が基準面に当接したことを検知する当
    接検知手段と、この当接検知手段によって当接が検出さ
    れたときのボンディングヘッドの高さ位置をボンディン
    グツールの当接高さ位置として高さ検出手段より読み取
    る当接高さ位置検出手段とを備え、この当接高さ位置か
    ら前記当接面の摩耗量を検出することを特徴とする請求
    項1記載の電子部品のボンディング装置。
  3. 【請求項3】ボンディングヘッドによって電子部品をワ
    ークに押圧して超音波振動を印加することにより前記電
    子部品をボンディングする電子部品のボンディング方法
    であって、ボンディングに先立って前記ボンディングヘ
    ッドに装着されたボンディングツールの電子部品との当
    接面の摩耗量を検出し、この摩耗量検出結果に基づいて
    ボンディングヘッドを昇降させる昇降手段を制御するこ
    とにより、電子部品をワークに対して所定の押圧力で押
    圧することを特徴とする電子部品のボンディング方法。
  4. 【請求項4】前記摩耗量を検出する工程において、ボン
    ディングツールの前記当接面を基準面に対して下降させ
    ながら振動付与手段を駆動してインピーダンスを測定
    し、測定されたインピーダンスの変化に基づいてボンデ
    ィングツールの前記当接面が基準面に当接したときのボ
    ンディングツールの当接高さ位置を検出し、この当接高
    さ位置から前記当接面の摩耗量を検出することを特徴と
    する請求項3記載の電子部品のボンディング方法。
JP2000162018A 2000-05-31 2000-05-31 電子部品のボンディング装置およびボンディング方法 Expired - Fee Related JP3575399B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000162018A JP3575399B2 (ja) 2000-05-31 2000-05-31 電子部品のボンディング装置およびボンディング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000162018A JP3575399B2 (ja) 2000-05-31 2000-05-31 電子部品のボンディング装置およびボンディング方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001345352A true JP2001345352A (ja) 2001-12-14
JP3575399B2 JP3575399B2 (ja) 2004-10-13

Family

ID=18665960

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000162018A Expired - Fee Related JP3575399B2 (ja) 2000-05-31 2000-05-31 電子部品のボンディング装置およびボンディング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3575399B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006228780A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品の実装方法
JP2007005494A (ja) * 2005-06-22 2007-01-11 Sony Corp 部品実装装置及び部品実装方法、並びに、位置調整装置及び位置調整方法
JP2011061245A (ja) * 2010-12-24 2011-03-24 Sony Corp 位置調整装置及び位置調整方法
WO2011048948A1 (ja) * 2009-10-19 2011-04-28 コニカミノルタオプト株式会社 振動型駆動装置および振動型駆動装置の制御方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006228780A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品の実装方法
JP4522881B2 (ja) * 2005-02-15 2010-08-11 パナソニック株式会社 電子部品の実装方法
JP2007005494A (ja) * 2005-06-22 2007-01-11 Sony Corp 部品実装装置及び部品実装方法、並びに、位置調整装置及び位置調整方法
JP4710432B2 (ja) * 2005-06-22 2011-06-29 ソニー株式会社 部品実装装置及び部品実装方法
WO2011048948A1 (ja) * 2009-10-19 2011-04-28 コニカミノルタオプト株式会社 振動型駆動装置および振動型駆動装置の制御方法
CN102725950A (zh) * 2009-10-19 2012-10-10 柯尼卡美能达先进多层薄膜株式会社 振动型驱动装置以及振动型驱动装置的控制方法
JPWO2011048948A1 (ja) * 2009-10-19 2013-03-07 コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 振動型駆動装置および振動型駆動装置の制御方法
JP2011061245A (ja) * 2010-12-24 2011-03-24 Sony Corp 位置調整装置及び位置調整方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3575399B2 (ja) 2004-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4824698B2 (ja) 液体塗布装置のノズルクリアランス調整方法および液体塗布装置
US7325459B2 (en) Identifying unit for working machine and pressure apparatus
JP5638978B2 (ja) マウンタ装置の加圧制御ヘッド
EP1857775A1 (en) Method and device for controlling a measurement of a contour measuring instrument
JPH0613416A (ja) ダイボンディング装置
JP2001001493A (ja) クリームはんだ印刷装置及びその印刷方法
JP3575399B2 (ja) 電子部品のボンディング装置およびボンディング方法
JP4265461B2 (ja) 電子部品装着装置
JP2014017328A (ja) 実装装置および測定方法
US20110062216A1 (en) Method for manufacturing semiconductor device and bonding apparatus
JP4239881B2 (ja) 電子部品装着装置および電子部品装着方法
JP2009246185A (ja) 超音波接合装置および超音波接合方法
JP3233053B2 (ja) 電子部品実装装置における移載ヘッドのノズルの高さ計測方法
JP3565019B2 (ja) バンプ付き電子部品のボンディング方法
JP2001267728A (ja) バンプ付電子部品の実装装置および実装方法
JP4357985B2 (ja) 平行測定方法と調整方法及び平行測定装置並びに部品実装装置
JP2002307266A (ja) 超音波加工方法及び超音波加工装置
JP3775924B2 (ja) バンプ付き電子部品の実装方法
JP2005340780A (ja) 電子部品装着装置および電子部品装着方法
JP2003023040A (ja) バンプ付電子部品の実装方法
JPH0468776B2 (ja)
JP4013502B2 (ja) 超音波ボンディング装置及び超音波ボンディング方法
JPH11191568A (ja) ワイヤボンディング方法及び装置
JP3449197B2 (ja) 電子部品の熱圧着装置
JPH11243113A (ja) ワイヤボンディング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040121

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040127

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040315

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040615

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040628

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070716

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080716

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090716

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090716

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100716

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110716

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110716

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120716

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120716

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130716

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees