JP2001305160A - 表示波形用注釈方式 - Google Patents
表示波形用注釈方式Info
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- JP2001305160A JP2001305160A JP2001053606A JP2001053606A JP2001305160A JP 2001305160 A JP2001305160 A JP 2001305160A JP 2001053606 A JP2001053606 A JP 2001053606A JP 2001053606 A JP2001053606 A JP 2001053606A JP 2001305160 A JP2001305160 A JP 2001305160A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】装置が表示する波形に関し、多数多様な波形特
性の表示を行う場合に、装置の使用者が容易に識別しや
すい表示方法を提供する。 【解決手段】装置が表示する波形上に、所望の波形特性
に関連する記号１２ａ，１２ｂを添付し、さらに、該記
号１２ａ，１２ｂの近傍にタグ１４ａ，１４ｂを設け
る。該タグ１４ａ，１４ｂには、定性的あるいは定量的
な波形特性を表示させ、所望の波形特性に対応する波形
上の位置および関連情報を容易に識別できるようにす
る。
性の表示を行う場合に、装置の使用者が容易に識別しや
すい表示方法を提供する。 【解決手段】装置が表示する波形上に、所望の波形特性
に関連する記号１２ａ，１２ｂを添付し、さらに、該記
号１２ａ，１２ｂの近傍にタグ１４ａ，１４ｂを設け
る。該タグ１４ａ，１４ｂには、定性的あるいは定量的
な波形特性を表示させ、所望の波形特性に対応する波形
上の位置および関連情報を容易に識別できるようにす
る。
Description
【０００１】
【発明の背景】オシロスコープ、スペクトル分析器、ネ
ットワーク解析器または他の測定機器は、測定対象信号
を測定し、波形を表示する。現在、これらの測定機器
は、自動測定機能を有して提供されており、測定対象信
号の指定の特性が、測定波形から抽出可能となってい
る。例えば、オシロスコープは、パルス信号の立ち上が
り時間、または、多値信号の論理レベルおよびクロスポ
イントを自動的に測定できる。スペクトル分析器は、測
定対象信号の帯域幅，ピーク振幅およびノイズ・レベル
などの特性を自動的に測定できる。
ットワーク解析器または他の測定機器は、測定対象信号
を測定し、波形を表示する。現在、これらの測定機器
は、自動測定機能を有して提供されており、測定対象信
号の指定の特性が、測定波形から抽出可能となってい
る。例えば、オシロスコープは、パルス信号の立ち上が
り時間、または、多値信号の論理レベルおよびクロスポ
イントを自動的に測定できる。スペクトル分析器は、測
定対象信号の帯域幅，ピーク振幅およびノイズ・レベル
などの特性を自動的に測定できる。
【０００２】
【従来の技術】それらの測定機器の波形マーカーは、表
示画面、モニターまたはプリンターなど、測定機器と関
連付けられた出力装置上の測定対象信号における指定の
特性を示す。この波形マーカーは、一般的に、測定機器
の自動測定機能と関連している。あるマーカーでは、点
または三角形などの記号が、表示波形の所定位置に添付
される。一方、振幅および周波数座標、または、振幅お
よび時間座標など、該記号の座標は、表示波形上の記号
の位置から離れた出力装置の一部上に表示される。この
種類の波形マーカーは、機器のユーザーが測定波形上の
記号とは、物理的に異なる場所にある表示を参照しなけ
ればならないため、不便である。また、測定機器に備え
られる他の種類の波形マーカーとして、ライン・マーカ
ーがある。ライン・マーカー機能が、オシロスコープに
備えられている場合、垂直ライン・マーカーは、表示波
形の時間的な位置を示す。また、オシロスコープ内の水
平ライン・マーカーは、表示波形の振幅レベルを示す。
示画面、モニターまたはプリンターなど、測定機器と関
連付けられた出力装置上の測定対象信号における指定の
特性を示す。この波形マーカーは、一般的に、測定機器
の自動測定機能と関連している。あるマーカーでは、点
または三角形などの記号が、表示波形の所定位置に添付
される。一方、振幅および周波数座標、または、振幅お
よび時間座標など、該記号の座標は、表示波形上の記号
の位置から離れた出力装置の一部上に表示される。この
種類の波形マーカーは、機器のユーザーが測定波形上の
記号とは、物理的に異なる場所にある表示を参照しなけ
ればならないため、不便である。また、測定機器に備え
られる他の種類の波形マーカーとして、ライン・マーカ
ーがある。ライン・マーカー機能が、オシロスコープに
備えられている場合、垂直ライン・マーカーは、表示波
形の時間的な位置を示す。また、オシロスコープ内の水
平ライン・マーカーは、表示波形の振幅レベルを示す。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ライン・マーカーが、
測定対象信号の波形特性を複数示す場合、測定機器のユ
ーザーにとって見辛いものとなってしまう。ユーザは、
複数のライン・マーカーのなかから、どのライン・マー
カーが、どの波形特性に対応するのかを判断するという
作業を行なわなければならない。この作業は、ライン・
マーカーによって示される波形特性の数が増えれば、よ
り困難なものとなる。したがって、測定機器の出力装置
上の表示波形に注釈をつけて、多種多様な波形特性を測
定機器のユーザーが簡単に識別できるようにする方式が
必要である。
測定対象信号の波形特性を複数示す場合、測定機器のユ
ーザーにとって見辛いものとなってしまう。ユーザは、
複数のライン・マーカーのなかから、どのライン・マー
カーが、どの波形特性に対応するのかを判断するという
作業を行なわなければならない。この作業は、ライン・
マーカーによって示される波形特性の数が増えれば、よ
り困難なものとなる。したがって、測定機器の出力装置
上の表示波形に注釈をつけて、多種多様な波形特性を測
定機器のユーザーが簡単に識別できるようにする方式が
必要である。
【０００４】
【問題を解決するための手段】本発明の好適実施形態に
したがって構成された表示波形用注釈方式によって、指
定した多様な波形特性が、表示画面またはモニターな
ど、測定機器または測定システムと関連づけられた出力
装置上で、容易に識別可能となる。この注釈方式は、オ
シロスコープ、ネットワークアナライザまたはスペクト
ラムアナライザなど、測定機器または測定システムに備
えられる。少なくとも１つの波形マーカーは、この注釈
方式を利用している。各波形マーカーは、十字線または
点など、所定の指示に従って、指定される表示波形上の
位置を示す記号を有する。一般的に、所定の指示は、測
定機器または測定システムの自動測定アルゴリズムによ
って供給される。この記号と結合されているタグは、測
定波形上の記号に対応する波形特性を示す。このタグに
よって示される波形特性は、定性的に示される。あるい
は、タグによって示される波形特性は、例えば、タグに
結合されている記号の座標をタグに示させることによっ
て、定量的に示される。
したがって構成された表示波形用注釈方式によって、指
定した多様な波形特性が、表示画面またはモニターな
ど、測定機器または測定システムと関連づけられた出力
装置上で、容易に識別可能となる。この注釈方式は、オ
シロスコープ、ネットワークアナライザまたはスペクト
ラムアナライザなど、測定機器または測定システムに備
えられる。少なくとも１つの波形マーカーは、この注釈
方式を利用している。各波形マーカーは、十字線または
点など、所定の指示に従って、指定される表示波形上の
位置を示す記号を有する。一般的に、所定の指示は、測
定機器または測定システムの自動測定アルゴリズムによ
って供給される。この記号と結合されているタグは、測
定波形上の記号に対応する波形特性を示す。このタグに
よって示される波形特性は、定性的に示される。あるい
は、タグによって示される波形特性は、例えば、タグに
結合されている記号の座標をタグに示させることによっ
て、定量的に示される。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を説明する
が、従来例と対比しながら実施例をみるとわかりやすい
ので、まず、従来例を説明する。図１Aは、測定機器の
表示画面１において第一の従来技術の波形マーカーを示
すものである。波形マーカーは、表示波形３に添付され
る点または三角形などの記号を含む。表示波形３上の記
号の位置は、測定機器内の自動測定指示によって指定さ
れる。この例において、記号２は、測定機器内の自動ピ
ーク探索アルゴリズムからの指示にしたがって、表示波
形３上のピーク振幅点に配置された点である。記号２の
周波数座標４は、表示波形３上の記号２の位置から離れ
た表示画面１上に表示される。したがって、測定機器の
ユーザーは、物理的に異なる場所にある、記号と座標と
を参照しなければならず、ユーザーにとっては不便であ
る。
が、従来例と対比しながら実施例をみるとわかりやすい
ので、まず、従来例を説明する。図１Aは、測定機器の
表示画面１において第一の従来技術の波形マーカーを示
すものである。波形マーカーは、表示波形３に添付され
る点または三角形などの記号を含む。表示波形３上の記
号の位置は、測定機器内の自動測定指示によって指定さ
れる。この例において、記号２は、測定機器内の自動ピ
ーク探索アルゴリズムからの指示にしたがって、表示波
形３上のピーク振幅点に配置された点である。記号２の
周波数座標４は、表示波形３上の記号２の位置から離れ
た表示画面１上に表示される。したがって、測定機器の
ユーザーは、物理的に異なる場所にある、記号と座標と
を参照しなければならず、ユーザーにとっては不便であ
る。
【０００６】図１Bは、測定機器の表示画面５上にあ
る、第二の従来技術による波形マーカーであるライン・
マーカーを示すものである。図示されている測定機器
は、表示波形７上の時間位置を示す垂直ライン・マーカ
ー６ａ，６ｂと、表示波形７上の振幅レベルを示す水平
ライン・マーカー８ａ，８ｂとを有する。この例におい
て、垂直ライン・マーカー６ａ，６ｂと水平ライン・マ
ーカー８ａ、８ｂとの位置は、測定機器内のパルス立ち
上がり時間自動測定アルゴリズムからの指示にしたがっ
て指定される。水平ライン・マーカー８ａ，８ｂは、立
ち上がりパルス９の表示波形７上にあって、該波形の振
幅に対して、１０％および９０％の振幅位置に、自動的
に配置される。垂直ライン・マーカー６ａ，６ｂは、水
平ラインマーカー８ａ，８ｂと表示波形７との交点を通
過するように、自動的に配置される。第一の水平ライン
・マーカー６ａと第二の水平ライン・マーカー６ｂとの
間の時間間隔は、立ち上がりパルス９の立ち上がり時間
に相当する。表示波形７のどの特性が、垂直ライン・マ
ーカー６ａ，６ｂもしくは水平ラインマーカー８ａ，８
ｂのいずれによって図示されるかを見極めるため、測定
機器のユーザーは、表示波形７から離れた表示画面の一
部分を観察しなければならない。一般的に、垂直ライン
・マーカー６ａ，６ｂおよび水平ラインマーカー８ａ，
８ｂは、それぞれ色分けされており、表示画面５の離れ
た場所にあるライン・マーカーに係る情報とライン・マ
ーカーとの間の関連づけがなされている。しかし、測定
対象信号の波形特性を複数示す場合、表示されるライン
・マーカーは、測定機器のユーザーにとって、見辛いも
のとなる。オシロスコープのユーザーは、複数のライン
・マーカーのうち、どのライン・マーカーが、どの指定
波形特性に対応するかを見極めるという作業を行なわな
ければならない。この作業は、ライン・マーカーによっ
て指定される波形特性の数が増加すると、特に、出力装
置が多色表示機能を備えない場合、より困難なものとな
る。
る、第二の従来技術による波形マーカーであるライン・
マーカーを示すものである。図示されている測定機器
は、表示波形７上の時間位置を示す垂直ライン・マーカ
ー６ａ，６ｂと、表示波形７上の振幅レベルを示す水平
ライン・マーカー８ａ，８ｂとを有する。この例におい
て、垂直ライン・マーカー６ａ，６ｂと水平ライン・マ
ーカー８ａ、８ｂとの位置は、測定機器内のパルス立ち
上がり時間自動測定アルゴリズムからの指示にしたがっ
て指定される。水平ライン・マーカー８ａ，８ｂは、立
ち上がりパルス９の表示波形７上にあって、該波形の振
幅に対して、１０％および９０％の振幅位置に、自動的
に配置される。垂直ライン・マーカー６ａ，６ｂは、水
平ラインマーカー８ａ，８ｂと表示波形７との交点を通
過するように、自動的に配置される。第一の水平ライン
・マーカー６ａと第二の水平ライン・マーカー６ｂとの
間の時間間隔は、立ち上がりパルス９の立ち上がり時間
に相当する。表示波形７のどの特性が、垂直ライン・マ
ーカー６ａ，６ｂもしくは水平ラインマーカー８ａ，８
ｂのいずれによって図示されるかを見極めるため、測定
機器のユーザーは、表示波形７から離れた表示画面の一
部分を観察しなければならない。一般的に、垂直ライン
・マーカー６ａ，６ｂおよび水平ラインマーカー８ａ，
８ｂは、それぞれ色分けされており、表示画面５の離れ
た場所にあるライン・マーカーに係る情報とライン・マ
ーカーとの間の関連づけがなされている。しかし、測定
対象信号の波形特性を複数示す場合、表示されるライン
・マーカーは、測定機器のユーザーにとって、見辛いも
のとなる。オシロスコープのユーザーは、複数のライン
・マーカーのうち、どのライン・マーカーが、どの指定
波形特性に対応するかを見極めるという作業を行なわな
ければならない。この作業は、ライン・マーカーによっ
て指定される波形特性の数が増加すると、特に、出力装
置が多色表示機能を備えない場合、より困難なものとな
る。
【０００７】図２Ａは、本発明の好適実施形態に従って
構成された表示波形用注釈方式を示すものである。様々
な指定波形特性は、この注釈方式により、測定機器また
は測定装置と関連づけられた表示画面またはモニターな
ど出力装置１０上で容易に識別できるようになる。本注
釈方式は、一般的に、オシロスコープ、ネットワーク解
析器またはスペクトル分析器など、測定機器または測定
システムで利用される。あるいは、本注釈方式は、モニ
ターまたはプリンターなど、測定機器または測定システ
ムの外部の出力装置上で実施される。
構成された表示波形用注釈方式を示すものである。様々
な指定波形特性は、この注釈方式により、測定機器また
は測定装置と関連づけられた表示画面またはモニターな
ど出力装置１０上で容易に識別できるようになる。本注
釈方式は、一般的に、オシロスコープ、ネットワーク解
析器またはスペクトル分析器など、測定機器または測定
システムで利用される。あるいは、本注釈方式は、モニ
ターまたはプリンターなど、測定機器または測定システ
ムの外部の出力装置上で実施される。
【０００８】１つ以上の波形マーカー１１ａ，１１ｂ
は、本注釈方式を利用している。波形マーカーのそれぞ
れは、所定の指示にしたがって表示波形１３上に配置さ
れる十字線、点などの記号１２ａ，１２ｂを有する。一
般的に、所定の指示は、測定機器または測定システムの
自動測定アルゴリズムによって供給される。あるいは、
この指示は、測定機器または測定システムに結合され
た、外部コンピューターまたは制御装置によって供給さ
れるか、測定機器のユーザーにより記号の手動配置がで
きるようにした、測定機器のユーザー・インタフェース
からの入力によって供給される。１つ以上の記号１２
ａ，１２ｂのそれぞれは、テール１５によって記号１２
ａ，１２ｂに結合された関連タグ１４ａ，１４ｂを有す
る。あるいは、タグ１４ａ，１４ｂは、タグ１４ａ，１
４ｂを記号１２ａ，１２ｂに近接配置することによっ
て、記号１２ａ，１２ｂ結合される。各タグ１４ａ，１
４ｂは、表示波形１３上に配置された記号１２ａ，１２
ｂのそれぞれによって指定された波形特性を示す。
は、本注釈方式を利用している。波形マーカーのそれぞ
れは、所定の指示にしたがって表示波形１３上に配置さ
れる十字線、点などの記号１２ａ，１２ｂを有する。一
般的に、所定の指示は、測定機器または測定システムの
自動測定アルゴリズムによって供給される。あるいは、
この指示は、測定機器または測定システムに結合され
た、外部コンピューターまたは制御装置によって供給さ
れるか、測定機器のユーザーにより記号の手動配置がで
きるようにした、測定機器のユーザー・インタフェース
からの入力によって供給される。１つ以上の記号１２
ａ，１２ｂのそれぞれは、テール１５によって記号１２
ａ，１２ｂに結合された関連タグ１４ａ，１４ｂを有す
る。あるいは、タグ１４ａ，１４ｂは、タグ１４ａ，１
４ｂを記号１２ａ，１２ｂに近接配置することによっ
て、記号１２ａ，１２ｂ結合される。各タグ１４ａ，１
４ｂは、表示波形１３上に配置された記号１２ａ，１２
ｂのそれぞれによって指定された波形特性を示す。
【０００９】図２Ａに示す例において、波形マーカー１
１ｂの記号１２ｂは、立ち上がりパルス１６の表示波形
１３の１０％振幅位置に配置される。記号１２ｂと関連
づけられたタグ１４ｂは、「１０％」と表示する。記号
１２ｂの位置は、測定機器内のパルス立ち上がり時間自
動測定アルゴリズムからの指示にしたがって指定され
る。波形マーカー１１ａの記号１２ａは、立ち上がりパ
ルス１６の表示波形１３の９０％振幅位置に配置され
る。この記号に関連づけられたタグ１４ａは、「９０
％」と表示する。同様に、記号１２ａの位置は、測定機
器内のパルス立ち上がり時間自動測定アルゴリズムから
の指示に従って指定される。
１ｂの記号１２ｂは、立ち上がりパルス１６の表示波形
１３の１０％振幅位置に配置される。記号１２ｂと関連
づけられたタグ１４ｂは、「１０％」と表示する。記号
１２ｂの位置は、測定機器内のパルス立ち上がり時間自
動測定アルゴリズムからの指示にしたがって指定され
る。波形マーカー１１ａの記号１２ａは、立ち上がりパ
ルス１６の表示波形１３の９０％振幅位置に配置され
る。この記号に関連づけられたタグ１４ａは、「９０
％」と表示する。同様に、記号１２ａの位置は、測定機
器内のパルス立ち上がり時間自動測定アルゴリズムから
の指示に従って指定される。
【００１０】図２Ｂは、本発明の好適実施形態にしたが
って構成された表示波形用注釈方式の別の例を示すもの
である。図２Ｂにおいて、表示波形１７は、測定された
多値信号のものである。波形マーカー１９ａ，１９ｂの
記号１８ａ，１８ｂは、表示波形１７のハイ（または
１）論理レベルに配置される。記号１８ａ，１８ｂのそ
れぞれと関連づけられたタグ２０ａ，２０ｂは、「１レ
ベル」と表示する。記号１８ａ，１８ｂの位置は、測定
機器に備えられた自動統計解析アルゴリズムからの指示
にしたがって指定される。同様に、波形マーカー１９
ａ，１９ｂの記号１８ａ，１８ｂは、ハイ（または、
１）論理レベル２１が決定される表示波形１７の間隔Ｉ
を示すように配置される。ここで、間隔Ｉは、波形特性
に関連する間隔の一例である。波形マーカー１９ｃ，１
９ｄの記号１８ｃ，１８ｄは、表示波形１７のロー（ま
たはゼロ）論理レベル２２に配置される。記号１８ｃ，
１８ｄと関連づけられたタグ２０ｃ，２０ｄは、「０レ
ベル」と表示する。記号１８ｃ，１８ｄの位置は、測定
機器に備えられた自動統計解析アルゴリズムからの指示
にしたがって指定される。同様に、波形マーカー１９
ｃ，１９ｄの記号１８ｃ，１８ｄは、ロー（または、
０）論理レベルが決定される表示波形１７の間隔Ｉを表
示するように配置される。波形マーカー１９ｅの記号１
８ｅは、表示波形１７のクロスポイントに配置される。
記号１８ｅと関連づけられたタグ２０ｅは、「クロスポ
イント」と表示する。同様に、記号１８ｅの位置は、測
定機器内の自動統計解析アルゴリズムからの指示にした
がって指定される。
って構成された表示波形用注釈方式の別の例を示すもの
である。図２Ｂにおいて、表示波形１７は、測定された
多値信号のものである。波形マーカー１９ａ，１９ｂの
記号１８ａ，１８ｂは、表示波形１７のハイ（または
１）論理レベルに配置される。記号１８ａ，１８ｂのそ
れぞれと関連づけられたタグ２０ａ，２０ｂは、「１レ
ベル」と表示する。記号１８ａ，１８ｂの位置は、測定
機器に備えられた自動統計解析アルゴリズムからの指示
にしたがって指定される。同様に、波形マーカー１９
ａ，１９ｂの記号１８ａ，１８ｂは、ハイ（または、
１）論理レベル２１が決定される表示波形１７の間隔Ｉ
を示すように配置される。ここで、間隔Ｉは、波形特性
に関連する間隔の一例である。波形マーカー１９ｃ，１
９ｄの記号１８ｃ，１８ｄは、表示波形１７のロー（ま
たはゼロ）論理レベル２２に配置される。記号１８ｃ，
１８ｄと関連づけられたタグ２０ｃ，２０ｄは、「０レ
ベル」と表示する。記号１８ｃ，１８ｄの位置は、測定
機器に備えられた自動統計解析アルゴリズムからの指示
にしたがって指定される。同様に、波形マーカー１９
ｃ，１９ｄの記号１８ｃ，１８ｄは、ロー（または、
０）論理レベルが決定される表示波形１７の間隔Ｉを表
示するように配置される。波形マーカー１９ｅの記号１
８ｅは、表示波形１７のクロスポイントに配置される。
記号１８ｅと関連づけられたタグ２０ｅは、「クロスポ
イント」と表示する。同様に、記号１８ｅの位置は、測
定機器内の自動統計解析アルゴリズムからの指示にした
がって指定される。
【００１１】図２Ａおよび図２Ｂに示す例において、関
連記号に結合された各タグは、タグによって定性的に説
明された波形特性を示す。タグは、１０％，９０％，１
レベル、０レベルおよびクロスポイントなど、定性的に
波形特性を示すが、その他の定性的な波形特性も表示可
能である。また、タグによって表示される波形特性は、
例えば、振幅および時間座標、または、振幅および周波
数座標、その他、本注釈方式が使用される測定機器に適
した座標を、タグに示すことにより定量的に説明され
る。同様に、定量的に測定された結果は、タグによって
表示可能で、その場合、タグは、近接結合された記号と
他の波形マーカーの記号との間の関係を示す。
連記号に結合された各タグは、タグによって定性的に説
明された波形特性を示す。タグは、１０％，９０％，１
レベル、０レベルおよびクロスポイントなど、定性的に
波形特性を示すが、その他の定性的な波形特性も表示可
能である。また、タグによって表示される波形特性は、
例えば、振幅および時間座標、または、振幅および周波
数座標、その他、本注釈方式が使用される測定機器に適
した座標を、タグに示すことにより定量的に説明され
る。同様に、定量的に測定された結果は、タグによって
表示可能で、その場合、タグは、近接結合された記号と
他の波形マーカーの記号との間の関係を示す。
【００１２】タグは、波形特性または測定機器の状態に
関連する追加情報へのアクセスを随意提供する。例え
ば、タグが、測定機器のタッチ・スクリーンまたはマウ
スなどのユーザー・インタフェースを介して選択された
場合、自動測定アルゴリズムのパラメーターまたは他の
関連情報の設定など、測定機器の動作状態にアクセス可
能である。
関連する追加情報へのアクセスを随意提供する。例え
ば、タグが、測定機器のタッチ・スクリーンまたはマウ
スなどのユーザー・インタフェースを介して選択された
場合、自動測定アルゴリズムのパラメーターまたは他の
関連情報の設定など、測定機器の動作状態にアクセス可
能である。
【００１３】本発明の好適実施形態を詳述したが、本実
施形態への修正および適応は、特許請求の範囲に記載の
本発明の範囲から逸脱することなく、当業者にとって可
能であることは明らかである。
施形態への修正および適応は、特許請求の範囲に記載の
本発明の範囲から逸脱することなく、当業者にとって可
能であることは明らかである。
【図１Ａ】従来技術の波形マーカーを示した図である。
【図１Ｂ】従来技術の波形マーカーを示した図である。
【図２Ａ】本発明の好適実施形態にしたがって構成され
た表示波形用注釈方式を示した図である。
た表示波形用注釈方式を示した図である。
【図２Ｂ】本発明の好適実施形態にしたがって構成され
た表示波形用注釈方式を示した図である。
た表示波形用注釈方式を示した図である。
１，５，１０ 表示画面 ２，１２ａ，１２ｂ，１８ａ，１８ｂ，１８ｃ，１８
ｄ，１８ｅ 記号 ３，７，１３，１７ 表示波形 ４ 周波数座標 ６ａ，６ｂ 垂直ライン・マーカー ８ａ，８ｂ 水平ライン・マーカー ９，１６ 立ち上がりパルス １１ａ，１１ｂ，１９ａ，１９ｂ，１９ｃ，１９ｄ，１
９ｅ 波形マーカー １４ａ，１４ｂ，２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄ，２
０ｅ タグ １５ テール
ｄ，１８ｅ 記号 ３，７，１３，１７ 表示波形 ４ 周波数座標 ６ａ，６ｂ 垂直ライン・マーカー ８ａ，８ｂ 水平ライン・マーカー ９，１６ 立ち上がりパルス １１ａ，１１ｂ，１９ａ，１９ｂ，１９ｃ，１９ｄ，１
９ｅ 波形マーカー １４ａ，１４ｂ，２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄ，２
０ｅ タグ １５ テール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 399117121 395 Ｐａｇｅ Ｍｉｌｌ Ｒｏａｄ Ｐ ａｌｏ Ａｌｔｏ，Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ Ｕ．Ｓ．Ａ. (72)発明者 マーク・ジョセフ・ウッドワード アメリカ合衆国カリフォルニア州サンタロ ーザ ジェニングス・アベニュー1616 (72)発明者 マーク・ガリー アメリカ合衆国カリフォルニア州サンタロ ーザ ミッション ブルバード ナンバー 11 701 (72)発明者 カール・シュバート アメリカ合衆国カリフォルニア州ヒールズ バーグ チクイッタ・ロード886 (72)発明者 マイケル・ジー・バン・グロウ アメリカ合衆国カリフォルニア州サンタロ ーザ ベイ ビレッジ・サークル アパー トメント2954
Claims (10)
- 【請求項１】表示波形に注釈を加える方式であって、少
なくとも１つの波形マーカーのそれぞれは、所定の指示
にしたがって指定された表示波形上の位置を示す記号
と、前記記号に近接結合され前記表示波形上の前記記号
に対応する波形特性を示すタグと、を有することを特徴
とする注釈方式。 - 【請求項２】前記所定の指示は、測定機器に備える自動
測定アルゴリズムによって供給されることを特徴とする
請求項１に記載の注釈方式。 - 【請求項３】前記所定の指示は、測定機器に備えるユー
ザー・インタフェースからの入力によって供給されるこ
とを特徴とする請求項１に記載の注釈方式。 - 【請求項４】前記記号は十字線であることを特徴とする
請求項２または請求項３に記載の注釈方式。 - 【請求項５】前記タグは、前記記号に結合するためのテ
ールを有して、前記記号に近接結合されることを特徴と
する請求項２または請求項３に記載の注釈方式。 - 【請求項６】前記タグは、前記記号に物理的に隣接して
配置されることによって、前記記号に近接結合される請
求項２または請求項３に記載の注釈方式。 - 【請求項７】前記タグは、定性的な波形特性を示す請求
項２または請求項３に記載の注釈方式。 - 【請求項８】前記タグは、定量的な波形特性を示す請求
項２または請求項３に記載の注釈方式。 - 【請求項９】前記近接結合されるタグは、前記表示波形
上の一組の波形マーカーのうち、ある波形マーカーの記
号と、少なくとも１つの他の波形マーカーの記号とに対
応して波形特性を示す請求項６に記載の注釈方式。 - 【請求項１０】前記少なくとも１つの波形マーカのうち
第一，第二の波形マーカーの２つを含み、第一の波形マ
ーカーの記号および第二の波形マーカーの記号のそれぞ
れは、前記示される波形特性に関連した間隔を示すよう
に配置されることを特徴とする請求項１から３のいずれ
かに１つに記載の注釈方式。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US51952300A | 2000-03-06 | 2000-03-06 | |
| US519523 | 2000-03-06 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001305160A true JP2001305160A (ja) | 2001-10-31 |
Family
ID=24068670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001053606A Pending JP2001305160A (ja) | 2000-03-06 | 2001-02-28 | 表示波形用注釈方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001305160A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014153312A (ja) * | 2013-02-13 | 2014-08-25 | Hioki Ee Corp | 測定装置、及びプログラム |
| JP2014153313A (ja) * | 2013-02-13 | 2014-08-25 | Hioki Ee Corp | 測定装置、及びプログラム |
| WO2014156082A1 (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-02 | 富士フイルム株式会社 | 検査データ表示制御装置および方法並びにプログラム |
-
2001
- 2001-02-28 JP JP2001053606A patent/JP2001305160A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014153312A (ja) * | 2013-02-13 | 2014-08-25 | Hioki Ee Corp | 測定装置、及びプログラム |
| JP2014153313A (ja) * | 2013-02-13 | 2014-08-25 | Hioki Ee Corp | 測定装置、及びプログラム |
| WO2014156082A1 (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-02 | 富士フイルム株式会社 | 検査データ表示制御装置および方法並びにプログラム |
| JP2014194712A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-09 | Fujifilm Corp | 検査データ表示制御装置および方法並びにプログラム |
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