JP2001305063A - 微細作業用映写装置 - Google Patents

微細作業用映写装置

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JP2001305063A
JP2001305063A JP2000117499A JP2000117499A JP2001305063A JP 2001305063 A JP2001305063 A JP 2001305063A JP 2000117499 A JP2000117499 A JP 2000117499A JP 2000117499 A JP2000117499 A JP 2000117499A JP 2001305063 A JP2001305063 A JP 2001305063A
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JP
Japan
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worker
fine work
semiconductor laser
line
work
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Application number
JP2000117499A
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English (en)
Inventor
Yuichi Inaba
雄一 稲葉
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 作業者から見た、手元の方向とモニタ6の方
向とを近づけることにより、作業負担を軽減し、作業効
率を向上することを目的とする。 【解決手段】 半導体レーザ素子13を載置するための
ステージ12と、半導体レーザ素子13を撮影するため
のCCDカメラと、CCDカメラで撮影された映像を映
し出すカラーモニタ15とを構成し、ステージ12とカ
ラーモニタ15とは、半導体レーザ素子13に向かう作
業者の視線と、カラーモニタ15に向かう作業者の視線
とがほぼ同一の方向となるように配置して微細作業用映
写装置を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、微細作業用映写装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】まず、従来の微細作業用映写装置につい
て説明する。
【0003】図3は、従来の微細作業用映写装置の概観
図である。図3において、作業机1上に顕微鏡2が設置
されており、作業者は、顕微鏡2を覗いて被写体3の検
査を行う。あるいは、作業者は、顕微鏡2に取り付けた
CCDカメラ4で撮影された映像を、装置ラック5に積
まれたモニタ6を通じて観察しながら被写体3の検査を
行う。
【0004】被写体3としては、例えば半導体レーザチ
ップのようなものが考えられる。製造された半導体レー
ザチップのうち、動作電流や光出力などの諸特性試験に
合格したもののみを目視で一つひとつ取り出す。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来
の、顕微鏡2を用いた被写体3の目視による判別におい
ては、顕微鏡2のレンズを通しての狭い視野上での作業
となる。また、モニタ6を通して判別を行う場合でも、
作業者から見て、手元の方向とモニタ6の方向とがそれ
ぞれ異なるため、作業者は常に視線を動かさなければな
らない。また、手元とモニタ6の方向が異なるために、
前後左右、または奥行に関する作業感覚がつかみにく
い。したがって、長時間にわたって、多くの判別、振り
分け、その他の作業を行う作業者にとって、肉体的、精
神的負担が大きく、作業効率が悪かった。
【0006】一方、このような手動操作による手法に代
わり、自動認識手法を用いた自動装置が使用されている
が、自動装置に莫大なコストがかかるといった問題があ
った。
【0007】本発明は、作業者から見た、手元の方向と
モニタ6の方向とを近づけることにより、作業負担を軽
減し、作業効率を向上することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の微細作業用映写
装置は、被写体を載置するための台と、前記被写体を撮
影するための撮影機と、前記撮影機で撮影された映像を
映し出す表示装置とを有し、前記台と前記表示装置と
は、前記被写体に向かう作業者の視線と、前記表示装置
に向かう前記作業者の視線とがほぼ同一の方向となるよ
うに配置されたものである。
【0009】本発明により、作業負担が軽減され、作業
効率が向上する。
【0010】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら説明する。
【0011】図1は、本発明の実施の形態における微細
作業用映写装置の使用例を示す図である。図1におい
て、机11上に、台であるステージ12が設置されてお
り、ステージ12上には、被写体であり、1辺の長さが
1mmに満たない微小な略直方体構造物である半導体レ
ーザ素子13が載置されている。なお、ステージ12を
用いず、机11を、半導体レーザ素子13を載置するた
めの台として用いてもよい。半導体レーザ素子13の上
方には、撮影機であるCCDカメラ14が取り付けられ
ている。CCDカメラ14で撮影された半導体レーザ素
子13の映像は、机11の奥に設置された表示装置であ
る14インチのカラーモニタ15に映し出されている。
【0012】ここで、ステージ12とカラーモニタ15
とは、半導体レーザ素子13に向かう作業者の視線と、
カラーモニタ15に向かう作業者の視線とがほぼ同一の
方向となるように配置されており、カラーモニタ15の
表示面は、作業者の視線に対して垂直になるように向け
られている。また、ステージ12とカラーモニタ15の
設置場所は、作業者の体格、作業スペースの状況に応じ
て、適宜調整できるものであることが好ましい。
【0013】次に、本実施の形態における微細作業用映
写装置の使用方法について説明する。
【0014】作業者は、ステージ12上に置かれている
半導体レーザ素子13を合格品と不合格品に分けてい
る。作業者は、例えば半導体レーザ素子13をステージ
12で移動させたい場合には、半導体レーザ素子13を
肉眼で観察するが、半導体レーザ素子13の細部を観察
したい場合には、視線を少しずらしてカラーモニタ15
を見る。このときの視線の移動量は僅かで済むので、作
業が多量、長時間にわたっても疲労が少なくて済むし、
作業スピードも向上する。
【0015】図2は、本発明の他の実施の形態における
微細作業用映写装置の使用例を示す図である。図2にお
いて、図1における微細作業用映写装置の構成要素と同
一の構成要素については、同一の符号を付したので、そ
の説明を省略する。
【0016】図2に示した微細作業用映写装置が図1に
示した微細作業用映写装置とは異なる点は、図2に示し
た微細作業用映写装置におけるカラーモニタ15が、半
導体レーザ素子13と作業者の目との間に配置されてい
ることである。このとき、作業者の手元に対する視線
と、カラーモニタ15に対する視線とを、図2に示すよ
うに同じ方向とすることができるので、前後左右、また
は奥行に関する作業感覚を掴みやすく、臨場感覚のある
作業を行うことができる。
【0017】また、CCDカメラ14を半導体レーザ素
子13とカラーモニタ15との間に配置すれば、作業者
の視線とCCDカメラ14の視線とが一致するので、よ
り作業臨場感が増す。
【0018】さらに、カラーモニタ15が、変向自在に
設けられていれば、作業者の体格に応じて、適当な作業
環境を得ることができる。
【0019】
【発明の効果】以上のように、作業者の視線の動きが少
なくなるように台と表示装置の位置関係を決定すること
により、作業者の負担を軽減し、作業効率を向上するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態における微細作業用映写装
置の使用例を示す図
【図2】本発明の他の実施の形態における微細作業用映
写装置の使用例を示す図
【図3】従来の微細作業用映写装置の使用例を示す図
【符号の説明】
11 机 12 ステージ 13 半導体レーザ素子 14 CCDカメラ 15 カラーモニタ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写体を載置するための台と、前記被写
    体を撮影するための撮影機と、前記撮影機で撮影された
    映像を映し出す表示装置とを有し、前記台と前記表示装
    置とは、前記被写体に向かう作業者の視線と、前記表示
    装置に向かう前記作業者の視線とがほぼ同一の方向とな
    るように配置されていることを特徴とする微細作業用映
    写装置。
  2. 【請求項2】 前記表示装置が、前記被写体と前記作業
    者の目との間に配置されていることを特徴とする請求項
    1記載の微細作業用映写装置。
  3. 【請求項3】 前記撮影機が、前記被写体と前記表示装
    置との間に配置されていることを特徴とする請求項2記
    載の微細作業用映写装置。
  4. 【請求項4】 前記表示装置が、変向自在に設けられて
    いることを特徴とする請求項2または請求項3に記載の
    微細作業用映写装置。
JP2000117499A 2000-04-19 2000-04-19 微細作業用映写装置 Pending JP2001305063A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007141857A1 (ja) * 2006-06-08 2007-12-13 Olympus Corporation 外観検査装置
TWI408361B (zh) * 2004-12-10 2013-09-11 Olympus Corp 外觀檢查裝置

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WO2007141857A1 (ja) * 2006-06-08 2007-12-13 Olympus Corporation 外観検査装置
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