JP2001291961A - Multilayered printed wiring board and producing method therefor - Google Patents

Multilayered printed wiring board and producing method therefor

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JP2001291961A
JP2001291961A JP2000102767A JP2000102767A JP2001291961A JP 2001291961 A JP2001291961 A JP 2001291961A JP 2000102767 A JP2000102767 A JP 2000102767A JP 2000102767 A JP2000102767 A JP 2000102767A JP 2001291961 A JP2001291961 A JP 2001291961A
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resin
wiring board
printed wiring
phosphorus
insulating layer
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JP2000102767A
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Teru Tsun
暉 鍾
Kenichi Shimada
憲一 島田
Yukihiko Toyoda
幸彦 豊田
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayered printed wiring board, which has an opening in a desired form, improved in flame resistance, improved in reliability in connection by hardly peeling off between a conductor circuit and a resin insulating layer or hardly cracking the resin-insulating layer, and improved in opening property, when forming an opening for via hole at the time of producing the multilayered printed wiring board. SOLUTION: In the multilayered printed wiring board with which conductor circuits and resin insulating layers are successively formed on a substrate, and these conductor circuits are connected via the via hole, each of the resin insulating layers contains phosphorus and/or phosphide.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、難燃性等に優れた
多層プリント配線板およびその製造方法に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board having excellent flame retardancy and the like and a method for producing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ビルドアップ多層プリント配線板
は、例えば、特開平4−55555号公報等に開示され
た方法により製造されている。すなわち、まず、銅箔が
貼り付けられた銅張積層板に貫通孔を形成し、続いて無
電解銅めっき処理を施すことによりスルーホールを形成
する。続いて、基板の表面を導体パターン状にエッチン
グ処理して導体回路を形成し、この導体回路の表面に粗
化面を形成する。そして、この粗化面を有する導体回路
上にエポキシ樹脂やアクリル樹脂の混合物等からなる層
を形成した後、バイアホール用開口を形成し、その後、
UV硬化、本硬化を経て層間樹脂絶縁層を形成する。
2. Description of the Related Art Conventionally, build-up multilayer printed wiring boards have been manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-55555. That is, first, a through hole is formed in the copper-clad laminate to which the copper foil is attached, and then a through hole is formed by performing an electroless copper plating process. Subsequently, the surface of the substrate is etched into a conductor pattern to form a conductor circuit, and a roughened surface is formed on the surface of the conductor circuit. Then, after forming a layer made of a mixture of an epoxy resin and an acrylic resin on the conductor circuit having the roughened surface, an opening for a via hole is formed.
An interlayer resin insulation layer is formed through UV curing and main curing.

【0003】さらに、層間樹脂絶縁層に粗化処理を施し
た後、薄膜導体層を形成し、この薄膜導体層上にめっき
レジストを形成し、電気めっきにより厚付けを行い、め
っきレジスト剥離後、めっきレジスト下に存在している
薄膜導体層をエッチング液により除去し、独立した導体
回路を形成する。この工程を繰り返して、導体回路と層
間樹脂絶縁層とを順次積層した後、ソルダーレジスト組
成物を塗布することにより導体回路を保護するためのソ
ルダーレジスト層を最外層に形成し、ICチップ等との
接続のために開口を形成し、露出した導体回路にめっき
等を施し、半田ペーストを印刷して半田バンプを形成す
ることにより、ビルドアップ多層プリント配線板の製造
を完了する。
Further, after performing a roughening treatment on the interlayer resin insulating layer, a thin film conductor layer is formed, a plating resist is formed on the thin film conductor layer, and a thickening is performed by electroplating. The thin film conductor layer existing under the plating resist is removed by an etchant to form an independent conductor circuit. After repeating this process, the conductor circuit and the interlayer resin insulating layer are sequentially laminated, and then a solder resist composition is applied to form a solder resist layer for protecting the conductor circuit on the outermost layer, and the IC chip and the like are formed. An opening is formed for the connection, the exposed conductor circuit is plated, and a solder paste is printed to form a solder bump, thereby completing the manufacture of the build-up multilayer printed wiring board.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このような多層プリン
ト配線板は、ICチップ等の電子部品を搭載して使用さ
れる。そのため、種々の原因によりICチップ等が発火
した場合に、それに耐えられるものが望まれている。具
体的には、UL試験規格におけるUL94の判定基準に
合格するものが望まれており、特に、94V−0におけ
る燃焼時間の判定基準に合格するものが望まれている。
Such multilayer printed wiring boards are used by mounting electronic components such as IC chips. Therefore, when an IC chip or the like is ignited for various reasons, it is desired to be able to withstand it. Specifically, those that pass the UL94 criterion in the UL test standard are desired, and in particular, those that pass the combustion time criterion of 94V-0 are desired.

【0005】また、多層プリント配線板は、上記した難
燃性の基準を満足するとともに、バイアホール用開口等
を形成する際に、その開口性(開口時の形状保持性)に
優れることが望まれている。しかしながら、従来の多層
プリント配線板は、難燃性や開口性を満足させるもので
はなく、特に、両者を同時に満足させるものではなかっ
た。
[0005] Further, it is desired that the multilayer printed wiring board satisfies the above-described flammability criterion and is excellent in the opening property (shape retention at the time of opening) when forming an opening for a via hole or the like. It is rare. However, the conventional multilayer printed wiring board does not satisfy the flame retardancy and the opening property, and in particular, does not satisfy both at the same time.

【0006】また、多層プリント配線板は、その接続信
頼性を確保するために、導体回路と樹脂絶縁層との間で
剥離が発生したり、樹脂絶縁層にクラックが発生したり
することがないものが望まれている。このような剥離や
クラックの発生の一因としては、基板やソルダーレジス
ト層と層間樹脂絶縁層との熱膨張係数の差が大きいこと
が考えられる。従って、基板やソルダーレジスト層の熱
膨張係数と層間樹脂絶縁層の熱膨張係数とに大きな差が
ない多層プリント配線板が望まれている。
Further, in the multilayer printed wiring board, in order to ensure the connection reliability, no peeling occurs between the conductor circuit and the resin insulating layer, and no crack occurs in the resin insulating layer. Things are desired. One cause of such peeling or cracking is considered to be a large difference in the coefficient of thermal expansion between the substrate or the solder resist layer and the interlayer resin insulating layer. Therefore, there is a demand for a multilayer printed wiring board in which the coefficient of thermal expansion of the substrate or the solder resist layer and the coefficient of thermal expansion of the interlayer resin insulating layer do not greatly differ.

【0007】本発明は、上述の問題を解決するためにな
されたものであり、その目的は、難燃性に優れ、導体回
路と樹脂絶縁層との間で剥離が発生したり、樹脂絶縁層
にクラックが発生したりしにくいため接続信頼性に優
れ、また、多層プリント配線板製造時にバイアホール用
開口等を形成する際の開口性に優れる多層プリント配線
板を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide excellent flame retardancy, peeling between a conductor circuit and a resin insulating layer, and a resin insulating layer. Another object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board which is excellent in connection reliability because cracks are not easily generated and which is excellent in opening property when forming a via hole opening or the like in manufacturing a multilayer printed wiring board.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
の実現に向け鋭意研究した結果、リンおよび/またはリ
ン化合物を含む樹脂絶縁層が形成された多層プリント配
線板は、難燃性に優れた多層プリント配線板であり、バ
イアホール用開口等を形成する際に、開口の形状保持性
に優れ、さらに、上記多層プリント配線板では、樹脂絶
縁層と基板やソルダーレジスト層との間で熱膨張係数に
大きな差がないため、樹脂絶縁層にクラックが発生した
り、樹脂絶縁層と導体回路との間で剥離が発生したりし
にくいことを見いだし、以下に示す内容を要旨構成とす
る発明に到達した。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have made intensive studies to achieve the above object, and as a result, a multilayer printed wiring board having a resin insulating layer containing phosphorus and / or a phosphorus compound formed thereon has a flame retardant property. It is a multilayer printed wiring board that is excellent in shape, and has excellent shape retention of openings when forming openings for via holes and the like.Moreover, in the multilayer printed wiring board, a resin insulating layer and a substrate or a solder resist layer Since there is no large difference in the coefficient of thermal expansion, it is found that cracks are not generated in the resin insulating layer and peeling between the resin insulating layer and the conductor circuit is hard to occur, and the contents described below are summarized as Reached the invention.

【0009】即ち、本発明の多層プリント配線板は、基
板上に導体回路と樹脂絶縁層とが順次形成され、これら
導体回路がバイアホールを介して接続された多層プリン
ト配線板であって、上記樹脂絶縁層は、リンおよび/ま
たはリン化合物を含むことを特徴とする。
That is, the multilayer printed wiring board of the present invention is a multilayer printed wiring board in which a conductive circuit and a resin insulating layer are sequentially formed on a substrate, and the conductive circuits are connected via via holes. The resin insulating layer contains phosphorus and / or a phosphorus compound.

【0010】上記多層プリント配線板において、上記リ
ンは、赤リンであることが望ましい。上記リンおよびリ
ン化合物は、その粒径が0.1〜15μmであることが
望ましい。また、上記リンおよび/またはリン化合物
は、樹脂絶縁層中に0.5〜10重量%存在しているこ
とが望ましい。
In the multilayer printed wiring board, the phosphorus is preferably red phosphorus. The phosphorus and the phosphorus compound preferably have a particle size of 0.1 to 15 μm. It is preferable that the phosphorus and / or the phosphorus compound be present in the resin insulating layer in an amount of 0.5 to 10% by weight.

【0011】また、上記樹脂絶縁層は、ケイ素化合物、
アルミニウム化合物およびマグネシウム化合物からなる
群より選択される少なくとも一種を含むことが望まし
い。
[0011] The resin insulating layer may include a silicon compound,
It is desirable to include at least one selected from the group consisting of aluminum compounds and magnesium compounds.

【0012】また、上記樹脂絶縁層は、エポキシ樹脂、
フェノール樹脂、ポリオレフィン系樹脂、ポリフェニレ
ンエーテル(PPE)、ポリフェニレンオキサイド(P
PO)、フッ素樹脂およびポリイミド樹脂からなる群よ
り選択される少なくとも一種を含むことが望ましい。
Further, the resin insulating layer is made of epoxy resin,
Phenol resin, polyolefin resin, polyphenylene ether (PPE), polyphenylene oxide (P
PO), a fluororesin and a polyimide resin.

【0013】また、上記樹脂絶縁層は、熱硬化性樹脂と
熱可塑性樹脂とからなる樹脂複合体を含むことが望まし
い。
The resin insulating layer desirably includes a resin composite made of a thermosetting resin and a thermoplastic resin.

【0014】また、第1の本発明の多層プリント配線板
の製造方法は、本発明の多層プリント配線板を製造する
方法であって、少なくとも下記(1)および(2)の工
程を含むことを特徴とする。 (1)リンおよび/またはリン化合物を含む未硬化の樹
脂組成物を調製する工程と、(2)導体回路の形成され
た基板または導体回路の形成された樹脂絶縁層上に、上
記未硬化の樹脂組成物を塗布することにより樹脂組成物
の層を形成する工程。
A first method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is a method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, and includes at least the following steps (1) and (2). Features. (1) a step of preparing an uncured resin composition containing phosphorus and / or a phosphorus compound; and (2) a step of forming the uncured resin composition on a substrate on which a conductor circuit is formed or a resin insulating layer on which a conductor circuit is formed. A step of forming a layer of the resin composition by applying the resin composition;

【0015】また、第2の本発明の多層プリント配線板
の製造方法は、本発明の多層プリント配線板を製造する
方法であって、少なくとも下記(1)および(2)の工
程を含むことを特徴とする。 (1)リンおよび/またはリン化合物を含む樹脂フィル
ムを作製する工程と、(2)導体回路の形成された基板
または導体回路の形成された樹脂絶縁層上に、上記樹脂
フィルムを圧着することにより樹脂フィルムの層を形成
する工程。
A second method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is a method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, which includes at least the following steps (1) and (2). Features. (1) a step of preparing a resin film containing phosphorus and / or a phosphorus compound; and (2) crimping the resin film on a substrate on which a conductor circuit is formed or a resin insulating layer on which a conductor circuit is formed. A step of forming a resin film layer;

【0016】また、第3の本発明の多層プリント配線板
の製造方法は、樹脂絶縁層が熱硬化性樹脂と熱可塑性樹
脂とからなる樹脂複合体を含む本発明の多層プリント配
線板を製造する方法であって、少なくとも下記(1)〜
(5)の工程を含むことを特徴とする。 (1)リンおよび/またはリン化合物、並びに、熱硬化
性樹脂を含む樹脂組成物Aを調製する工程と、(2)熱
可塑性樹脂を含む樹脂組成物Bを調製する工程と、
(3)硬化剤を含む硬化剤成分Cを調製する工程と、
(4)上記樹脂組成物A、上記樹脂組成物Bおよび上記
硬化剤成分Cを混練して混合組成物Dを調製した後、上
記混合組成物Dからなる樹脂フィルムEを作製する工程
と、(5)導体回路の形成された基板または導体回路の
形成された樹脂絶縁層上に、上記樹脂フィルムEを圧着
することにより樹脂フィルムEの層を形成する工程。
According to a third method of manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, the multilayer printed wiring board of the present invention is manufactured, wherein the resin insulating layer includes a resin composite comprising a thermosetting resin and a thermoplastic resin. A method comprising at least the following (1) to
It is characterized by including the step (5). (1) a step of preparing a resin composition A containing phosphorus and / or a phosphorus compound and a thermosetting resin; and (2) a step of preparing a resin composition B containing a thermoplastic resin.
(3) a step of preparing a curing agent component C containing a curing agent;
(4) a step of kneading the resin composition A, the resin composition B, and the curing agent component C to prepare a mixed composition D, and then preparing a resin film E including the mixed composition D; 5) a step of forming a layer of the resin film E by pressing the resin film E on a substrate on which the conductor circuit is formed or on a resin insulating layer on which the conductor circuit is formed.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】本発明の多層プリント配線板は、
基板上に導体回路と樹脂絶縁層とが順次形成され、これ
ら導体回路がバイアホールを介して接続された多層プリ
ント配線板であって、上記樹脂絶縁層は、リンおよび/
またはリン化合物を含むことを特徴とする。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The multilayer printed wiring board of the present invention
A multilayer printed wiring board in which a conductive circuit and a resin insulating layer are sequentially formed on a substrate, and these conductive circuits are connected via via holes, wherein the resin insulating layer includes phosphorus and / or
Alternatively, a phosphorus compound is included.

【0018】本発明の多層プリント配線板によれば、樹
脂絶縁層がリンおよび/またはリン化合物を含んでいる
ため、これらの存在に起因して難燃性に優れる。また、
本発明の多層プリント配線板に形成された樹脂絶縁層
は、リンやリン化合物を含んでいるため、バイアホール
用開口等を形成する際の開口性、特に、レーザ光を照射
することにより開口を形成する際の開口性に優れてお
り、所望の形状の開口を有する。
According to the multilayer printed wiring board of the present invention, since the resin insulating layer contains phosphorus and / or a phosphorus compound, it has excellent flame retardancy due to its presence. Also,
Since the resin insulating layer formed on the multilayer printed wiring board of the present invention contains phosphorus or a phosphorus compound, the opening property when forming an opening for a via hole or the like, particularly, the opening by irradiating a laser beam is reduced. It is excellent in opening property at the time of formation and has an opening of a desired shape.

【0019】通常、レーザ照射により開口を形成する場
合には、レーザ照射部位の周囲の樹脂がレーザの照射熱
により燃焼するため、開口の内壁の形状が滑らかな形状
とならず、不均一な凹凸を有するものになってしまう。
しかしながら、本発明の多層プリント配線板の樹脂絶縁
層は、リンやリン化合物を含んでいることにより難燃性
を有するため、レーザ照射部位の周囲の樹脂がレーザの
照射熱により燃焼することがなく、形成された開口の内
壁の形状は滑らかであり、その形状も所望のものとな
る。
Normally, when an opening is formed by laser irradiation, the resin around the laser irradiation site is burned by the heat of the laser irradiation, so that the inner wall of the opening does not have a smooth shape and unevenness is formed. It becomes what has.
However, the resin insulating layer of the multilayer printed wiring board of the present invention has flame retardancy due to the inclusion of phosphorus or a phosphorus compound, so that the resin around the laser irradiation site does not burn due to laser irradiation heat. The shape of the inner wall of the formed opening is smooth, and the desired shape is obtained.

【0020】また、レーザ照射時にレーザ照射部位の周
囲の樹脂が、レーザの照射熱により燃焼することがない
ため、高エネルギーのレーザ光を照射しても、所望の形
状の開口を形成することができる。従って、高エネルギ
ーのレーザ光を照射することにより、短時間で開口を形
成することができ、特に、パルスレーザを用いる場合に
は、単ショットで開口を形成することができる。このよ
うに、本発明の多層プリント配線板は、所望の形状の開
口が形成され、開口内に樹脂残り等がない樹脂絶縁層を
有しているため、該開口内に形成されたバイアホールを
介した上下の導体回路間の接続信頼性に優れている。ま
た、上記多層プリント配線板は、短時間で形成された開
口を有しており、生産性に優れるものである。
Since the resin around the laser irradiation site is not burned by laser irradiation heat during laser irradiation, an opening having a desired shape can be formed even when high-energy laser light is irradiated. it can. Therefore, by irradiating high-energy laser light, an opening can be formed in a short time. In particular, when a pulsed laser is used, an opening can be formed in a single shot. Thus, since the multilayer printed wiring board of the present invention has a resin insulating layer in which an opening of a desired shape is formed and there is no resin residue or the like in the opening, the via hole formed in the opening is formed. It has excellent connection reliability between the upper and lower conductor circuits. Further, the multilayer printed wiring board has openings formed in a short time, and is excellent in productivity.

【0021】また、本発明の多層プリント配線板は、樹
脂絶縁層に含ませるリンやリン化合物の量を調整するこ
とにより、基板やソルダーレジスト層の熱膨張係数と樹
脂絶縁層の熱膨張係数とをほぼ同程度に調整することが
容易であり、このように、熱膨張係数が調整された多層
プリント配線板では、導体回路と樹脂絶縁層との間で剥
離が発生したり、樹脂絶縁層にクラックが発生したりし
にくくなる。
Further, the multilayer printed wiring board of the present invention has a thermal expansion coefficient of the substrate or the solder resist layer and a thermal expansion coefficient of the resin insulation layer which are adjusted by adjusting the amount of phosphorus or the phosphorus compound contained in the resin insulation layer. Can be easily adjusted to almost the same level.In this way, in a multilayer printed wiring board in which the coefficient of thermal expansion is adjusted, peeling occurs between the conductor circuit and the resin insulating layer, or the resin insulating layer Cracks are less likely to occur.

【0022】本発明の多層プリント配線板において、樹
脂絶縁層はリンおよび/またはリン化合物を含んでい
る。上記リンとしては特に限定されず、例えば、赤リ
ン、黄リン、紫リン、紅リン等が挙げられる。これらの
なかでは、少量の配合で多層プリント配線板に充分な難
燃性を付与することができ、また、安定性が高く、作業
時の安全性に優れる点から赤リンが望ましい。
In the multilayer printed wiring board of the present invention, the resin insulating layer contains phosphorus and / or a phosphorus compound. The phosphorus is not particularly limited, and examples thereof include red phosphorus, yellow phosphorus, purple phosphorus, and red phosphorus. Among them, red phosphorus is desirable because it can impart sufficient flame retardancy to the multilayer printed wiring board with a small amount of compounding, and has high stability and excellent safety during work.

【0023】上記リン化合物としては特に限定されず、
例えば、三酸化二リン、五酸化二リン等の酸化リン、リ
ン化鉄、リン化銅、リン化チタン、リン化ニッケル、リ
ン化マンガン等のリン化金属が挙げられる。これらのリ
ンやリン化合物は、単独で用いてもよいし、2種以上併
用してもよい。また、これらのリンやリン化合物は、安
定性を高めるためにフェノール樹脂等の樹脂や水酸化ア
ルミニウム等の無機化合物等により被覆されていてもよ
い。
The phosphorus compound is not particularly limited.
Examples include phosphorus oxides such as diphosphorus trioxide and diphosphorus pentoxide, and metal phosphides such as iron phosphide, copper phosphide, titanium phosphide, nickel phosphide, and manganese phosphide. These phosphorus and phosphorus compounds may be used alone or in combination of two or more. Further, these phosphorus or phosphorus compounds may be coated with a resin such as a phenol resin or an inorganic compound such as aluminum hydroxide in order to enhance stability.

【0024】このようなリンやリン化合物の市販品とし
ては、例えば、燐化学工業社製のノーバエクセル F
5、日本化学工業社製のヒシガードCP、ヒシガードT
P、ヒシガートEP−15、ヒシガードマスター等が挙
げられる。
Commercial products of such phosphorus and phosphorus compounds include, for example, Nova Excel F manufactured by Rin Kagaku Kogyo KK
5. Hishigard CP and Hishigard T manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd.
P, Hishigarto EP-15, Hishigard master and the like.

【0025】上記リンおよびリン化合物は、その粒径が
0.1〜15μmであることが望ましい。上記粒径が
0.1μm未満のリン化合物は、形成することが難しい
ため実用的でなく、一方、上記粒径が15μmを超える
と、バイアホール用開口等を形成する際の開口性や、硬
化性に悪影響を及ぼすことがあり、また、樹脂絶縁層中
に均一に分散させることが難しくなる。より望ましく
は、1〜3μmである。
The above phosphorus and the phosphorus compound preferably have a particle size of 0.1 to 15 μm. Phosphorus compounds having a particle size of less than 0.1 μm are not practical because they are difficult to form. On the other hand, if the particle size is greater than 15 μm, the opening property when forming openings for via holes and the like, In some cases, and it is difficult to uniformly disperse the resin in the resin insulating layer. More preferably, it is 1 to 3 μm.

【0026】また、上記リンおよびリン化合物の形状と
しては特に限定されず、例えば、球状、楕円球状、破砕
状、多面体状等が挙げられる。しかし、先端が尖った形
状のものでは、樹脂絶縁層にクラックが発生しやすいた
め、これらのなかでは球状が望ましい。
The shape of the phosphorus and the phosphorus compound is not particularly limited, and examples thereof include a spherical shape, an elliptical spherical shape, a crushed shape, and a polyhedral shape. However, in the case of a pointed tip, a crack is easily generated in the resin insulating layer, and among these, a spherical shape is desirable.

【0027】上記樹脂絶縁層中のリンおよびリン化合物
の含有量は、0.5〜10重量%が望ましい。上記含有
量が0.5重量%未満では、多層プリント配線板の難燃
性を向上させる効果が乏しく、10重量%を超えると、
バイアホール用開口等を形成する際の開口性や、硬化性
に悪影響を及ぼすことがある。より望ましくは1〜5重
量%である。
The content of phosphorus and the phosphorus compound in the resin insulating layer is desirably 0.5 to 10% by weight. When the content is less than 0.5% by weight, the effect of improving the flame retardancy of the multilayer printed wiring board is poor, and when the content exceeds 10% by weight,
This may have an adverse effect on the opening properties and curability when forming openings for via holes and the like. More preferably, it is 1 to 5% by weight.

【0028】上記樹脂絶縁層は、ケイ素化合物、アルミ
ニウム化合物、マグネシウム化合物等を含んでいること
が望ましい。これらの化合物は、単独で含まれていても
よいし、2種以上含まれていてもよい。
The resin insulating layer desirably contains a silicon compound, an aluminum compound, a magnesium compound and the like. These compounds may be contained alone or in combination of two or more.

【0029】上記ケイ素化合物としては特に限定され
ず、例えば、シリカ、ゼオライト等が挙げられる。上記
アルミニウム化合物としては特に限定されず、例えば、
アルミナ、水酸化アルミニウム等が挙げられる。
The silicon compound is not particularly restricted but includes, for example, silica and zeolite. The aluminum compound is not particularly limited, for example,
Alumina, aluminum hydroxide and the like can be mentioned.

【0030】上記マグネシウム化合物としては特に限定
されず、例えば、マグネシア、ドロマイト、塩基性炭酸
マグネシウム等が挙げられる。これらの化合物が、樹脂
絶縁層に含まれていると、樹脂絶縁層に発生した応力が
緩和されやすく、その結果、樹脂絶縁層にクラックが発
生したり、導体回路との間で剥離が発生したりすること
がより起こりにくくなる。また、上記樹脂絶縁層は、フ
ェノール樹脂、ジシアンアミド、水酸化アルミニウム等
を含有していてもよい。相乗効果により難燃性が向上す
る場合があるからである。
The magnesium compound is not particularly restricted but includes, for example, magnesia, dolomite, basic magnesium carbonate and the like. When these compounds are contained in the resin insulating layer, the stress generated in the resin insulating layer is easily relieved, and as a result, cracks occur in the resin insulating layer and peeling occurs with the conductor circuit. Is less likely to occur. Further, the resin insulating layer may contain a phenol resin, dicyanamide, aluminum hydroxide, or the like. This is because the flame retardancy may be improved due to a synergistic effect.

【0031】上記樹脂絶縁層の材料となる樹脂として
は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリオレフィン系
樹脂、PPO、PPE、フッ素樹脂、ポリイミド樹脂等
を含むものが望ましい。これらは単独で用いても良い
し、2種以上併用してもよい。
The resin used as the material of the resin insulating layer is preferably a resin containing epoxy resin, phenol resin, polyolefin resin, PPO, PPE, fluororesin, polyimide resin and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

【0032】上記エポキシ樹脂としては、例えば、クレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型
エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェ
ノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノール
ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノールF型エポキシ
樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエ
ン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール性水酸基
を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物、
トリグリシジルイソシアヌレート、脂環式エポキシ樹脂
等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種
以上を併用してもよい。それにより、耐熱性等に優れる
ものとなる。
Examples of the epoxy resin include cresol novolak type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, alkylphenol novolak type epoxy resin, biphenol F type epoxy resin, and naphthalene type epoxy resin. Resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, epoxidized product of condensate of phenols and aromatic aldehyde having phenolic hydroxyl group,
Triglycidyl isocyanurate, alicyclic epoxy resin and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Thereby, it becomes excellent in heat resistance and the like.

【0033】上記ポリオレフィン系樹脂としては、例え
ば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリイソブチレ
ン、ポリブタジエン、ポリイソプレン、シクロオレフィ
ン系樹脂、これらの樹脂の共重合体等が挙げられる。こ
れらのなかでは、誘電率および誘電正接が低く、GHz
帯域の高周波信号を用いた場合でも信号遅延や信号エラ
ーが発生しにくく、さらには、剛性等の機械的特性にも
優れている点からシクロオレフィン系樹脂が望ましい。
Examples of the polyolefin resin include polyethylene, polypropylene, polyisobutylene, polybutadiene, polyisoprene, cycloolefin resin, and copolymers of these resins. Among them, the dielectric constant and the dielectric loss tangent are low, and GHz
Even when a high frequency signal in a band is used, a cycloolefin-based resin is preferable because signal delay and signal error hardly occur, and further, mechanical properties such as rigidity are excellent.

【0034】上記シクロオレフィン系樹脂としては、2
−ノルボルネン、5−エチリデン−2−ノルボルネンま
たはこれらの誘導体からなる単量体の単独重合体または
共重合体等が望ましい。上記誘導体としては、上記2−
ノルボルネン等のシクロオレフィンに、架橋を形成する
ためのアミノ基や無水マレイン酸残基あるいはマレイン
酸変性したもの等が結合したもの等が挙げられる。上記
共重合体を合成する場合の単量体としては、例えば、エ
チレン、プロピレン等が挙げられる。
As the above cycloolefin resin, 2
Homopolymers or copolymers of monomers comprising -norbornene, 5-ethylidene-2-norbornene or derivatives thereof are desirable. As the above derivative, the above 2-
Examples thereof include those in which an amino group for forming a crosslink, a maleic anhydride residue, or a maleic acid-modified one is bonded to a cycloolefin such as norbornene. Examples of monomers for synthesizing the copolymer include ethylene and propylene.

【0035】上記シクロオレフィン系樹脂は、上記した
樹脂の2種以上の混合物であってもよく、シクロオレフ
ィン系樹脂以外の樹脂を含むものであってもよい。ま
た、上記シクロオレフィン系樹脂が共重合体である場合
には、ブロック共重合体であってもよく、ランダム共重
合体であってもよい。
The cycloolefin resin may be a mixture of two or more of the above resins, or may contain a resin other than the cycloolefin resin. When the cycloolefin resin is a copolymer, it may be a block copolymer or a random copolymer.

【0036】また、上記シクロオレフィン系樹脂は、熱
硬化性シクロオレフィン系樹脂であることが望ましい。
加熱を行って架橋を形成させることにより、より剛性が
高くなり、機械的特性が向上するからである。上記シク
ロオレフィン系樹脂のガラス転移温度(Tg)は、13
0〜200℃であることが望ましい。
The cycloolefin resin is preferably a thermosetting cycloolefin resin.
This is because by performing the heating to form the crosslinks, the rigidity is further increased and the mechanical properties are improved. The glass transition temperature (Tg) of the cycloolefin resin is 13
Desirably, the temperature is 0 to 200 ° C.

【0037】上記シクロオレフィン系樹脂は、既に樹脂
シート(フィルム)として成形されたものを使用しても
よく、単量体もしくは一定の分子量を有する低分子量の
重合体が、キシレン、シクロヘキサン等の溶剤に分散し
た未硬化溶液の状態であってもよい。また、樹脂シート
の場合には、いわゆるRCC(RESIN COATE
D COPPER:樹脂付銅箔)を用いてもよい。
As the above cycloolefin-based resin, those already formed as a resin sheet (film) may be used, and a monomer or a low-molecular-weight polymer having a constant molecular weight may be used as a solvent such as xylene or cyclohexane. It may be in the state of an uncured solution dispersed in. In the case of a resin sheet, a so-called RCC (RESIN COATE
D COPER: resin-coated copper foil).

【0038】上記シクロオレフィン系樹脂は、フィラー
等を含まないものであってもよく、水酸化アルミニウ
ム、水酸化マグネシウム、リン酸エステル等の難燃剤を
含むものであってもよい。
The cycloolefin resin may not contain a filler or the like, or may contain a flame retardant such as aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, or a phosphate.

【0039】上記フッ素樹脂としては、例えば、エチル
/テトラフルオロエチレン共重合樹脂(ETFE)、ポ
リクロロトリフルオロエチレン(PCTFE)等が挙げ
られる。
Examples of the fluororesin include ethyl / tetrafluoroethylene copolymer resin (ETFE) and polychlorotrifluoroethylene (PCTFE).

【0040】また、上記樹脂絶縁層の材料となる樹脂と
しては、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とからなる樹脂複
合体も好ましい。これらの樹脂は、感光性樹脂であって
もよい。上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ
樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂等が挙げられ
る。また、感光化した樹脂としては、例えば、メタクリ
ル酸やアクリル酸等と熱硬化基とをアクリル化反応させ
たもの等が挙げられる。特に、エポキシ樹脂をアクリレ
ート化したものが望ましい。これらのなかでは、1分子
中に、2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂がよ
り望ましい。
As the resin used as the material of the resin insulating layer, a resin composite composed of a thermosetting resin and a thermoplastic resin is also preferable. These resins may be photosensitive resins. Examples of the thermosetting resin include an epoxy resin, a phenol resin, and a polyimide resin. Examples of the photosensitive resin include those obtained by subjecting methacrylic acid, acrylic acid, or the like to an acrylate reaction with a thermosetting group. In particular, an acrylated epoxy resin is desirable. Among these, an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is more desirable.

【0041】上記エポキシ樹脂としては、例えば、クレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型
エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェ
ノールノボラック型エポキシ樹脂、アルキルフェノール
ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノールF型エポキシ
樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエ
ン型エポキシ樹脂、フェノール類とフェノール性水酸基
を有する芳香族アルデヒドとの縮合物のエポキシ化物、
トリグリシジルイソシアヌレート、脂環式エポキシ樹脂
等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種
以上を併用してもよい。それにより、耐熱性等に優れる
ものとなる。
Examples of the epoxy resin include a cresol novolak epoxy resin, a bisphenol A epoxy resin, a bisphenol F epoxy resin, a phenol novolak epoxy resin, an alkylphenol novolak epoxy resin, a biphenol F epoxy resin, and a naphthalene epoxy resin. Resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, epoxidized product of condensate of phenols and aromatic aldehyde having phenolic hydroxyl group,
Triglycidyl isocyanurate, alicyclic epoxy resin and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Thereby, it becomes excellent in heat resistance and the like.

【0042】上記熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリ
エーテルスルフォン(PES)、ポリスルフォン(PS
F)、ポリフェニレンスルフォン(PPS)、ポリフェ
ニレンサルファイド(PPES)、ポリフェニレンエー
テル(PPE)、ポリエーテルイミド(PI)、フェノ
キシ樹脂、フッ素樹脂等が挙げられる。
Examples of the thermoplastic resin include polyether sulfone (PES) and polysulfone (PS).
F), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenylene ether (PPE), polyetherimide (PI), phenoxy resin, fluororesin and the like.

【0043】上記樹脂複合体における熱硬化性樹脂と熱
可塑性樹脂との混合割合は、熱硬化性樹脂/熱可塑性樹
脂=95/5〜50/50が望ましい。耐熱性を損なう
ことなく、高い靱性値を確保できるからである。
The mixing ratio of the thermosetting resin and the thermoplastic resin in the resin composite is desirably thermosetting resin / thermoplastic resin = 95/5 to 50/50. This is because a high toughness value can be secured without impairing the heat resistance.

【0044】上記樹脂複合体を含む樹脂絶縁層の材料と
しては、例えば、酸または酸化剤に可溶性の粒子(以
下、可溶性粒子という)が酸または酸化剤に難溶性の樹
脂(以下、難溶性樹脂という)中に分散した粗化面形成
用樹脂組成物等が挙げられる。なお、上記「難溶性」お
よび「可溶性」という語は、同一の粗化液に同一時間浸
漬した場合に、相対的に溶解速度の早いものを便宜上
「可溶性」といい、相対的に溶解速度の遅いものを便宜
上「難溶性」と呼ぶ。
As a material of the resin insulating layer containing the above resin composite, for example, particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble particles”) are resins that are hardly soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as a hardly soluble resin). ) And a resin composition for forming a roughened surface dispersed therein. Note that the terms "sparingly soluble" and "soluble" are referred to as "soluble" for convenience when a substance having a relatively high dissolution rate is immersed in the same roughening solution for the same time, and the relative dissolution rate is relatively low. The slower one is called "poorly soluble" for convenience.

【0045】上記可溶性粒子としては、例えば、酸また
は酸化剤に可溶性の樹脂粒子(以下、可溶性樹脂粒
子)、酸または酸化剤に可溶性の無機粒子(以下、可溶
性無機粒子)、酸または酸化剤に可溶性の金属粒子(以
下、可溶性金属粒子)等が挙げられる。これらの可溶性
粒子は、単独で用いてもよいし、2種以上併用してもよ
い。
Examples of the soluble particles include resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble resin particles”), inorganic particles soluble in an acid or an oxidizing agent (hereinafter referred to as “soluble inorganic particles”), and an acid or an oxidizing agent. Soluble metal particles (hereinafter referred to as “soluble metal particles”) and the like. These soluble particles may be used alone or in combination of two or more.

【0046】上記可溶性粒子の形状(粒径等)としては
特に限定されないが、(a)平均粒径が10μm以下の
可溶性粒子、(b)平均粒径が2μm以下の可溶性粒子
を凝集させた凝集粒子、(c)平均粒径が2〜10μm
の可溶性粒子と平均粒径が2μm以下の可溶性粒子との
混合物、(d)平均粒径が2〜10μmの可溶性粒子の
表面に平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無
機粉末のいずれか少なくとも1種を付着させてなる疑似
粒子、(e)平均粒径が0.1〜0.8μmの可溶性粒
子と平均粒径が0.8μmを超え、2μm未満の可溶性
粒子との混合物、(f)平均粒径が0.1〜1.0μm
の可溶性粒子を用いることが望ましい。これらは、より
複雑なアンカーを形成することができるからである。
The shape (particle size, etc.) of the soluble particles is not particularly limited, but (a) soluble particles having an average particle size of 10 μm or less, and (b) aggregation of soluble particles having an average particle size of 2 μm or less. Particles, (c) average particle size is 2 to 10 μm
(D) either a heat-resistant resin powder or an inorganic powder having an average particle size of 2 μm or less on the surface of the soluble particles having an average particle size of 2 to 10 μm; (E) a mixture of soluble particles having an average particle size of 0.1 to 0.8 μm and soluble particles having an average particle size of more than 0.8 μm and less than 2 μm, ) Average particle size is 0.1 to 1.0 μm
It is desirable to use soluble particles of This is because these can form a more complicated anchor.

【0047】上記可溶性樹脂粒子としては、熱硬化性樹
脂、熱可塑性樹脂等からなるものが挙げられ、酸あるい
は酸化剤からなる溶液に浸漬した場合に、上記難溶性樹
脂よりも溶解速度が速いものであれば特に限定されな
い。上記可溶性樹脂粒子の具体例としては、例えば、エ
ポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリフ
ェニレン樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素樹脂、アミ
ノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン樹脂)等
からなるものが挙げられ、これらの樹脂の一種からなる
ものであってもよいし、2種以上の樹脂の混合物からな
るものであってもよい。
Examples of the soluble resin particles include those made of a thermosetting resin, a thermoplastic resin, and the like. When immersed in a solution containing an acid or an oxidizing agent, the soluble resin particles have a higher dissolution rate than the hardly soluble resin. If it is, there is no particular limitation. Specific examples of the soluble resin particles include, for example, those made of epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polyphenylene resin, polyolefin resin, fluororesin, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin), and the like. These resins may be composed of one kind or a mixture of two or more kinds of resins.

【0048】また、上記可溶性樹脂粒子としては、ゴム
からなる樹脂粒子を用いることもできる。上記ゴムとし
ては、例えば、ポリブタジエンゴム、エポキシ変性、ウ
レタン変性、(メタ)アクリロニトリル変性等の各種変
性ポリブタジエンゴム、カルボキシル基を含有した(メ
タ)アクリロニトリル・ブタジエンゴム等が挙げられ
る。これらのゴムを使用することにより、可溶性樹脂粒
子が酸あるいは酸化剤に溶解しやすくなる。つまり、酸
を用いて可溶性樹脂粒子を溶解する際には、強酸以外の
酸でも溶解することができ、酸化剤を用いて可溶性樹脂
粒子を溶解する際には、比較的酸化力の弱い過マンガン
酸でも溶解することができる。また、クロム酸を用いた
場合でも、低濃度で溶解することができる。そのため、
酸や酸化剤が樹脂表面に残留することがなく、後述する
ように、粗化面形成後、塩化パラジウム等の触媒を付与
する際に、触媒が付与されなかったり、触媒が酸化され
たりすることがない。
As the soluble resin particles, resin particles made of rubber can be used. Examples of the rubber include polybutadiene rubber, various modified polybutadiene rubbers such as epoxy-modified, urethane-modified, (meth) acrylonitrile-modified, and (meth) acrylonitrile-butadiene rubber containing a carboxyl group. By using these rubbers, the soluble resin particles are easily dissolved in an acid or an oxidizing agent. In other words, when dissolving the soluble resin particles using an acid, an acid other than a strong acid can be dissolved, and when dissolving the soluble resin particles using an oxidizing agent, permanganese having a relatively weak oxidizing power is used. It can also dissolve in acids. Even when chromic acid is used, it can be dissolved at a low concentration. for that reason,
Acid or oxidizing agent does not remain on the resin surface, and as described later, when a catalyst such as palladium chloride is applied after forming a roughened surface, the catalyst is not applied or the catalyst is oxidized. There is no.

【0049】上記可溶性無機粒子としては、例えば、ア
ルミニウム化合物、カルシウム化合物、カリウム化合
物、マグネシウム化合物およびケイ素化合物からなる群
より選択される少なくとも一種からなる粒子等が挙げら
れる。
Examples of the soluble inorganic particles include particles made of at least one selected from the group consisting of aluminum compounds, calcium compounds, potassium compounds, magnesium compounds and silicon compounds.

【0050】上記アルミニウム化合物としては、例え
ば、アルミナ、水酸化アルミニウム等が挙げられ、上記
カルシウム化合物としては、例えば、炭酸カルシウム、
水酸化カルシウム等が挙げられ、上記カリウム化合物と
しては、例えば、炭酸カリウム等が挙げられ、上記マグ
ネシウム化合物としては、例えば、マグネシア、ドロマ
イト、塩基性炭酸マグネシウム等が挙げられ、上記ケイ
素化合物としては、例えば、シリカ、ゼオライト等が挙
げられる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上併
用してもよい。
The aluminum compound includes, for example, alumina and aluminum hydroxide. The calcium compound includes, for example, calcium carbonate,
Calcium hydroxide and the like, as the potassium compound, for example, potassium carbonate and the like, as the magnesium compound, for example, magnesia, dolomite, basic magnesium carbonate and the like, as the silicon compound, For example, silica, zeolite and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

【0051】上記可溶性金属粒子としては、例えば、
銅、ニッケル、鉄、亜鉛、鉛、金、銀、アルミニウム、
マグネシウム、カルシウムおよびケイ素からなる群より
選択される少なくとも一種からなる粒子等が挙げられ
る。また、これらの可溶性金属粒子は、絶縁性を確保す
るために、表層が樹脂等により被覆されていてもよい。
The soluble metal particles include, for example,
Copper, nickel, iron, zinc, lead, gold, silver, aluminum,
Examples include particles made of at least one selected from the group consisting of magnesium, calcium, and silicon. These soluble metal particles may have a surface layer coated with a resin or the like in order to ensure insulation.

【0052】上記可溶性粒子を、2種以上混合して用い
る場合、混合する2種の可溶性粒子の組み合わせとして
は、樹脂粒子と無機粒子との組み合わせが望ましい。両
者とも導電性が低くいため上下の導体回路間の絶縁性を
確保することができるとともに、難溶性樹脂との間で熱
膨張の調整が図りやすく、層間樹脂絶縁層にクラックが
発生せず、層間樹脂絶縁層と導体回路との間で剥離が発
生しないからである。
When two or more of the above-mentioned soluble particles are used in combination, the combination of the two types of soluble particles to be mixed is preferably a combination of resin particles and inorganic particles. Since both have low conductivity, insulation between the upper and lower conductor circuits can be ensured, and thermal expansion can be easily adjusted with the hardly-soluble resin. This is because peeling does not occur between the resin insulating layer and the conductor circuit.

【0053】上記難溶性樹脂としては、層間樹脂絶縁層
に酸または酸化剤を用いて粗化面を形成する際に、粗化
面の形状を保持できるものであればよく、上記した樹脂
複合体を用いることができる。また、上記難溶性樹脂と
して、上記熱硬化性樹脂や上記熱可塑性樹脂のみを用い
た粗化面形成用樹脂組成物も樹脂絶縁層の材料として用
いることができる。
The hardly soluble resin may be any resin that can maintain the shape of the roughened surface when the roughened surface is formed by using an acid or an oxidizing agent in the interlayer resin insulating layer. Can be used. In addition, as the hardly soluble resin, a resin composition for forming a roughened surface using only the thermosetting resin or the thermoplastic resin can also be used as a material of the resin insulating layer.

【0054】上記可溶性粒子の混合重量比は、難溶性樹
脂の固形分に対して5〜50重量%が望ましく、10〜
40重量%がさらに望ましい。可溶性粒子の混合重量比
が5重量%未満では、充分な粗さの粗化面を形成するこ
とができない場合があり、50重量%を超えると、樹脂
絶縁層を介した上下の導体回路間の絶縁性を確保するこ
とができず、短絡の原因となる場合がある。
The mixing weight ratio of the soluble particles is desirably 5 to 50% by weight based on the solid content of the hardly soluble resin.
40% by weight is more desirable. If the mixing weight ratio of the soluble particles is less than 5% by weight, it may not be possible to form a roughened surface with sufficient roughness, and if it exceeds 50% by weight, the upper and lower conductor circuits between the upper and lower conductor circuits via the resin insulating layer may be formed. Insulation cannot be ensured, which may cause a short circuit.

【0055】このような構成からなる樹脂絶縁層は、上
記リンやリン化合物を含んでいるため難燃性に優れ、該
樹脂絶縁層の形成された多層プリント配線板は、UL試
験規格におけるUL94(高分子材料の難燃性試験)の
判定基準をクリアするものであり、そのなかでも、94
V−0の判定基準をクリアするものである。
The resin insulating layer having such a structure is excellent in flame retardancy because it contains the above-mentioned phosphorus or the phosphorus compound, and the multilayer printed wiring board on which the resin insulating layer is formed is UL94 (UL) (UL test standard). It satisfies the criterion of “flame retardancy test of polymer materials”.
This is to clear the criterion of V-0.

【0056】また、上記樹脂絶縁層に含まれるリンやリ
ン化合物の含有量は、任意に調整することが可能である
ため、上記樹脂絶縁層の熱膨張係数を、基板やソルダー
レジスト層の熱膨張係数と同程度の調整することによ
り、導体回路と樹脂絶縁層との間で剥離が発生したり、
樹脂絶縁層にクラックが発生したりしにくいため、接続
信頼性に優れる多層プリント配線板とすることができ
る。
Since the content of phosphorus or a phosphorus compound contained in the resin insulating layer can be arbitrarily adjusted, the coefficient of thermal expansion of the resin insulating layer is determined by adjusting the coefficient of thermal expansion of the substrate or the solder resist layer. By adjusting the coefficient to the same extent, peeling between the conductor circuit and the resin insulation layer may occur,
Since a crack is not easily generated in the resin insulating layer, a multilayer printed wiring board having excellent connection reliability can be obtained.

【0057】本発明の多層プリント配線板は、例えば、
後述する第1〜第3の本発明の多層プリント配線板の製
造方法により製造することができる。
The multilayer printed wiring board of the present invention is, for example,
It can be manufactured by the below-described first to third methods of manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention.

【0058】第1の本発明の多層プリント配線板の製造
方法は、本発明の多層プリント配線板を製造する方法で
あって、少なくとも下記(1)および(2)の工程を含
むことを特徴とする。 (1)リンおよび/またはリン化合物を含む未硬化の樹
脂組成物を調製する工程と、(2)導体回路の形成され
た基板または導体回路の形成された樹脂絶縁層上に、上
記未硬化の樹脂組成物を塗布することにより樹脂組成物
の層を形成する工程。
A first method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is a method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, and includes at least the following steps (1) and (2). I do. (1) a step of preparing an uncured resin composition containing phosphorus and / or a phosphorus compound; and (2) a step of forming the uncured resin composition on a substrate on which a conductor circuit is formed or a resin insulating layer on which a conductor circuit is formed. A step of forming a layer of the resin composition by applying the resin composition;

【0059】第1の本発明の多層プリント配線板の製造
方法によれば、優れた難燃性、接続信頼性を有する本発
明の多層プリント配線板を好適に製造することができ
る。また、第1の本発明の製造方法では、所望の形状の
バイアホール用開口等を短時間で形成することができ
る。ここでは、まず、樹脂絶縁層を形成する工程につい
て説明し、全体的な多層プリント配線板の製造方法につ
いては、後に詳述する。
According to the first method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, the multilayer printed wiring board of the present invention having excellent flame retardancy and connection reliability can be suitably manufactured. Further, in the manufacturing method according to the first aspect of the present invention, it is possible to form a via hole opening or the like having a desired shape in a short time. Here, the step of forming the resin insulating layer will be described first, and the overall method of manufacturing the multilayer printed wiring board will be described later in detail.

【0060】第1の本発明の製造方法では、樹脂絶縁層
を形成する際に、まず、リンおよび/またはリン化合物
を含む未硬化の樹脂組成物を調製する。すなわち、上記
リンおよび/またはリン化合物を、上記樹脂絶縁層の原
料となる一または二以上の樹脂成分中に添加して均一に
混合した後、ここに、残りの構成成分を添加し、混合す
ることにより上記樹脂組成物を調整する。なお、上記リ
ンおよび/またはリン化合物を最初に添加する樹脂成分
としては、熱硬化性樹脂を含む成分が望ましい。これに
ついては、第3の本発明の製造方法を説明する際に詳述
する。
In the first production method of the present invention, when forming the resin insulating layer, first, an uncured resin composition containing phosphorus and / or a phosphorus compound is prepared. That is, the above-mentioned phosphorus and / or the phosphorus compound are added to one or two or more resin components as raw materials of the above-mentioned resin insulating layer and uniformly mixed, and then, the remaining constituent components are added and mixed. Thereby, the resin composition is adjusted. As the resin component to which phosphorus and / or the phosphorus compound are added first, a component containing a thermosetting resin is desirable. This will be described in detail when describing the third manufacturing method of the present invention.

【0061】また、上記樹脂組成物を調製する方法は、
上記方法に限定されず、リンやリン化合物を未硬化の樹
脂組成物中にほぼ均一に分散させることができる方法で
あればよく、上記リンやリン化合物と、これ以外の上記
樹脂絶縁層の原料となる成分とを同時に混合してもよ
い。
The method for preparing the above resin composition is as follows.
The method is not limited to the above method, and any method may be used as long as phosphorus or a phosphorus compound can be dispersed almost uniformly in an uncured resin composition. May be mixed at the same time.

【0062】なお、上記リンやリン化合物を溶剤に分散
させた分散液を調整した後、この分散液を添加すること
によりリンやリン化合物を樹脂組成物に含有させること
は、リンやリン化合物の状態(構造、物性等)が変化す
るおそれがあり、作業時の安全性を維持することが困難
になることがあるため、あまり好ましくない。
After preparing a dispersion in which the above-mentioned phosphorus or the phosphorus compound is dispersed in a solvent, adding the dispersion to make the resin composition contain the phosphorus or the phosphorus compound requires the addition of the phosphorus or the phosphorus compound. The state (structure, physical properties, etc.) may change, and it may be difficult to maintain safety during work, which is not preferable.

【0063】第1の本発明の製造方法では、上記工程の
後、導体回路の形成された基板、すなわち、基板上に直
接導体回路が形成された基板の導体回路の上に、上記未
硬化の樹脂組成物を塗布することにより樹脂組成物の層
を形成するか、または、導体回路の形成された樹脂絶縁
層、すなわち、基板上に1または2以上の樹脂絶縁層お
よび導体回路が形成された基板の導体回路の上に、上記
未硬化の樹脂組成物を塗布することにより樹脂組成物の
層を形成する。上記未硬化の樹脂組成物を塗布する方法
としては、例えば、ロールコータ法等が挙げられる。具
体的には、上記未硬化の樹脂組成物をロールコータのロ
ール表面に付着させた後、最外層に導体回路が形成され
た基板を垂直に立てた状態で、一対のロールコータに挟
み、ロールを回転させることにより上記樹脂組成物を基
板表面に塗布する。この工程により、基板の両面に均一
な厚さの樹脂組成物の層を形成する。
In the manufacturing method according to the first aspect of the present invention, after the above-mentioned steps, the uncured uncured material is placed on the substrate on which the conductor circuit is formed, that is, on the substrate on which the conductor circuit is formed directly. A layer of the resin composition was formed by applying the resin composition, or a resin insulating layer having a conductive circuit formed thereon, that is, one or more resin insulating layers and a conductive circuit were formed on a substrate. A layer of the resin composition is formed by applying the uncured resin composition on the conductor circuit of the substrate. Examples of a method for applying the uncured resin composition include a roll coater method. Specifically, after the uncured resin composition is adhered to the roll surface of the roll coater, the substrate on which the conductor circuit is formed in the outermost layer is vertically set, and is sandwiched between a pair of roll coaters. Is rotated to apply the resin composition to the substrate surface. By this step, a layer of the resin composition having a uniform thickness is formed on both surfaces of the substrate.

【0064】次に、樹脂組成物の層を乾燥させ、樹脂組
成物の乾燥体が形成された基板に、バイアホール用開口
と必要に応じて貫通孔とを形成し、層間樹脂絶縁層とす
る。上記バイアホール用開口は、レーザ処理を用いて形
成することが好ましい。また、感光性樹脂からなる樹脂
組成物の層を形成した場合には、露光、現像処理を行う
ことにより、バイアホール用開口を設けてもよい。この
とき、使用するレーザとしては、例えば、炭酸ガス(C
2 )レーザ、紫外線レーザ、エキシマレーザ等が挙げ
られるが、これらのなかでは、エキシマレーザや短パル
スの炭酸ガスレーザが望ましい。
Next, the layer of the resin composition is dried, and an opening for a via hole and, if necessary, a through-hole are formed on the substrate on which the dried body of the resin composition is formed to form an interlayer resin insulating layer. . The via hole opening is preferably formed by using a laser process. In the case where a layer of a resin composition made of a photosensitive resin is formed, an opening for a via hole may be provided by performing exposure and development treatments. At this time, as a laser to be used, for example, carbon dioxide gas (C
O 2 ) lasers, ultraviolet lasers, excimer lasers, etc., are preferred. Of these, excimer lasers and short-pulse carbon dioxide lasers are desirable.

【0065】エキシマレーザは、後述するように、バイ
ヤホール用開口を形成する部分に貫通孔が形成されたマ
スク等を用いることにより、一度に多数のバイヤホール
用開口を形成することができ、また、短パルスの炭酸ガ
スレーザは、開口内の樹脂残りが少なく、レーザ照射部
位の周囲の樹脂に対するダメージが特に小さいからであ
る。
As will be described later, the excimer laser can form a large number of via hole openings at once by using a mask or the like in which a through hole is formed in a portion where a via hole opening is formed. This is because the short-pulse carbon dioxide laser has a small amount of resin remaining in the opening, and damage to the resin around the laser irradiation site is particularly small.

【0066】また、エキシマレーザのなかでも、ホログ
ラム方式のエキシマレーザを用いることが望ましい。ホ
ログラム方式とは、レーザ光をホログラム、集光レン
ズ、レーザマスク、転写レンズ等を介して目的物に照射
する方式であり、この方式を用いることにより、一度の
照射で樹脂組成物の層に多数の開口を効率的に形成する
ことができる。
Also, among the excimer lasers, it is desirable to use a hologram type excimer laser. The hologram method is a method of irradiating a target object with a laser beam through a hologram, a condensing lens, a laser mask, a transfer lens, and the like. Can be efficiently formed.

【0067】また、炭酸ガスレーザを用いる場合、その
パルス間隔は、10-4〜10-8秒であることが望まし
い。また、開口を形成するためのレーザを照射する時間
は、10〜500μ秒であることが望ましい。また、バ
イアホール用開口を形成する部分に貫通孔が形成された
マスクの貫通孔は、レーザ光のスポット形状を真円にす
るために、真円である必要があり、上記貫通孔の径は、
0.1〜2mm程度が望ましい。
When a carbon dioxide laser is used, the pulse interval is desirably 10 -4 to 10 -8 seconds. The time for irradiating the laser for forming the opening is preferably 10 to 500 μsec. Further, the through-hole of the mask in which the through-hole is formed in the portion where the via-hole opening is formed needs to be a perfect circle in order to make the spot shape of the laser beam a perfect circle, and the diameter of the through-hole is ,
About 0.1 to 2 mm is desirable.

【0068】また、光学系レンズとマスクとを介してレ
ーザ光を照射することにより、一度に多数のバイアホー
ル用開口を形成することができる。光学系レンズとマス
クとを介することにより、同一強度で、かつ、照射強度
が同一のレーザ光を複数の部分に同時に照射することが
できるからである。
By irradiating a laser beam through an optical lens and a mask, a large number of via hole openings can be formed at once. This is because a plurality of portions can be simultaneously irradiated with laser light having the same intensity and the same irradiation intensity through the optical system lens and the mask.

【0069】レーザ光にて開口を形成した場合、特に炭
酸ガスレーザを用いた場合には、デスミア処理を行うこ
とが望ましい。上記デスミア処理は、クロム酸、過マン
ガン酸塩等の水溶液からなる酸化剤を使用して行うこと
ができる。また、酸素プラズマ、CF4 と酸素の混合プ
ラズマやコロナ放電等で処理してもよい。また、低圧水
銀ランプを用いて紫外線を照射することにより、表面改
質することもできる。また、樹脂組成物の層を形成した
基板に、貫通孔を形成する場合には、直径50〜300
μmのドリル、レーザ光等を用いて貫通孔を形成する。
When the opening is formed by a laser beam, particularly when a carbon dioxide gas laser is used, desmearing is preferably performed. The desmear treatment can be performed using an oxidizing agent composed of an aqueous solution such as chromic acid and permanganate. Alternatively, the treatment may be performed using oxygen plasma, a mixed plasma of CF 4 and oxygen, corona discharge, or the like. The surface can also be modified by irradiating ultraviolet rays using a low-pressure mercury lamp. When a through-hole is formed in the substrate on which the layer of the resin composition is formed, the diameter is 50 to 300.
A through hole is formed using a μm drill, laser light, or the like.

【0070】次に、第1の本発明の多層プリント配線板
の製造方法の全体について、工程順に説明する。 (1) 第1の本発明の製造方法においては、まず、絶縁性
基板の表面に導体回路が形成された基板を作製する。
Next, the entire method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention will be described in the order of steps. (1) In the first manufacturing method of the present invention, first, a substrate having a conductive circuit formed on a surface of an insulating substrate is prepared.

【0071】上記絶縁性基板としては、樹脂基板が望ま
しく、具体的には、例えば、ガラスエポキシ基板、ポリ
エステル基板、ポリイミド基板、ビスマレイミド−トリ
アジン樹脂基板、熱硬化性ポリフェニレンエーテル基
板、フッ素樹脂基板、セラミック基板、銅張積層板、R
CC基板などが挙げられる。このとき、この絶縁性基板
に貫通孔を設けてもよい。この場合、貫通孔は直径10
0〜300μmのドリル、レーザ光等を用いて形成する
ことが望ましい。
The insulating substrate is desirably a resin substrate. Specifically, for example, a glass epoxy substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, a fluororesin substrate, Ceramic substrate, copper clad laminate, R
CC substrate and the like. At this time, a through hole may be provided in the insulating substrate. In this case, the through hole has a diameter of 10
It is desirable to form it using a 0 to 300 μm drill, laser light, or the like.

【0072】(2) 次に、無電解めっきを施した後、基板
上に導体回路形状のエッチングレジストを形成し、エッ
チングを行うことにより導体回路を形成する。無電解め
っきとしては銅めっきが望ましい。また、絶縁性基板に
スルーホール用貫通孔を設けた場合には、該スルーホー
ル用貫通孔の壁面にも同時に無電解めっきを施してスル
ーホールを形成することにより、基板の両面の導体回路
間を電気的に接続してもよい。
(2) Next, after performing electroless plating, a conductive circuit-shaped etching resist is formed on the substrate, and the conductive circuit is formed by performing etching. Copper plating is desirable as the electroless plating. In addition, when a through hole for a through hole is provided in an insulating substrate, a through hole is formed by simultaneously performing electroless plating on the wall surface of the through hole for the through hole, thereby forming a through hole between conductor circuits on both surfaces of the substrate. May be electrically connected.

【0073】さらに、この無電解めっきの後、通常、無
電解めっき層表面とスルーホールを形成した場合にはス
ルーホール内壁との粗化形成処理を行う。粗化形成処理
方法としては、例えば、黒化(酸化)−還元処理、有機
酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレー処理、Cu
−Ni−P針状合金めっきによる処理等が挙げられる。
After the electroless plating, the surface of the electroless plating layer and, if a through hole is formed, are usually subjected to a roughening treatment for the inner wall of the through hole. Examples of the roughening forming treatment method include blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, Cu treatment
-Ni-P needle-like alloy plating.

【0074】上記黒化(酸化)−還元処理の具体的な方
法としては、NaOH(10g/l)、NaClO2
(40g/l)、Na3 PO4 (6g/l)を含む水溶
液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処理、および、NaO
H(10g/l)、NaBH4 (6g/l)を含む水溶
液を還元浴とする還元処理を行う方法等が挙げられる。
As a specific method of the above-mentioned blackening (oxidation) -reduction treatment, NaOH (10 g / l), NaClO 2
(40 g / l), a blackening treatment using an aqueous solution containing Na 3 PO 4 (6 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), and NaO
A method of performing a reduction treatment using an aqueous solution containing H (10 g / l) and NaBH 4 (6 g / l) as a reduction bath is exemplified.

【0075】上記スプレー処理に用いる有機酸と第二銅
錯体の混合水溶液において、上記有機酸としては、例え
ば、蟻酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、カプロ
ン酸、アクリル酸、クロトン酸、シュウ酸、マロン酸、
コハク酸、グルタル酸、マレイン酸、安息香酸、グリコ
ール酸、乳酸、リンゴ酸、スルファミン酸等が挙げられ
る。これらは、単独で用いてもよく、2種以上併用して
もよい。上記混合溶液において、上記有機酸の含有量
は、0.1〜30重量%が望ましい。酸化された銅の溶
解性を維持し、かつ、触媒安定性を確保することができ
るからである。
In the mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex used for the spray treatment, the organic acid includes, for example, formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, and oxalic acid. Acid, malonic acid,
Examples include succinic acid, glutaric acid, maleic acid, benzoic acid, glycolic acid, lactic acid, malic acid, and sulfamic acid. These may be used alone or in combination of two or more. In the mixed solution, the content of the organic acid is desirably 0.1 to 30% by weight. This is because the solubility of the oxidized copper can be maintained and the stability of the catalyst can be ensured.

【0076】上記第二銅錯体としては、アゾール類の第
二銅錯体が望ましい。このアゾール類の第二銅錯体は、
金属銅等を酸化する酸化剤として作用する。アゾール類
としては、例えば、ジアゾール、トリアゾール、テトラ
ゾール等が挙げられる。これらのなかでも、イミダゾー
ル、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾー
ル、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニ
ルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾールが望まし
い。上記エッチング液において、上記第二銅錯体の含有
量は、1〜15重量%が望ましい。溶解性および安定性
に優れ、また、触媒核を構成するPd等の貴金属をも溶
解させることができるからである。
As the cupric complex, a cupric complex of an azole is desirable. This cupric complex of azoles is
It acts as an oxidizing agent that oxidizes metallic copper and the like. Examples of the azoles include diazole, triazole, tetrazole and the like. Among these, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, and 2-undecylimidazole are desirable. In the etching solution, the content of the cupric complex is desirably 1 to 15% by weight. This is because it is excellent in solubility and stability, and can also dissolve noble metals such as Pd constituting the catalyst core.

【0077】上記めっき処理の具体的な方法としては、
硫酸銅(1〜40g/l)、硫酸ニッケル(0.1〜
6.0g/l)、クエン酸(10〜20g/l)、次亜
リン酸ナトリウム(10〜100g/l)、ホウ酸(1
0〜40g/l)および界面活性剤(日信化学工業社
製、サーフィノール465)(0.01〜10g/l)
を含むPH=9の無電解めっき浴にて無電解めっきを施
す方法等が挙げられる。
As a specific method of the plating process,
Copper sulfate (1-40 g / l), nickel sulfate (0.1-
6.0 g / l), citric acid (10-20 g / l), sodium hypophosphite (10-100 g / l), boric acid (1
0 to 40 g / l) and a surfactant (Surfynol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.) (0.01 to 10 g / l)
And a method in which electroless plating is performed in an electroless plating bath having a pH of 9 and the like.

【0078】(3) 次に、この導体回路が形成された基板
上に上記した方法を用いて樹脂組成物の層を形成し、さ
らに、形成された樹脂組成物の層に上記した方法を用い
て、バイアホール用開口や貫通孔を形成する。すなわ
ち、この工程でリンおよび/またはリン化合物を含む層
間樹脂絶縁層を形成する。
(3) Next, a layer of the resin composition is formed on the substrate on which the conductive circuit is formed by using the above-described method, and further, the above-described method is applied to the formed resin composition layer. Then, an opening for a via hole and a through hole are formed. That is, in this step, an interlayer resin insulating layer containing phosphorus and / or a phosphorus compound is formed.

【0079】(4) 次に、必要に応じて、バイアホール用
開口の内壁を含む樹脂絶縁層(層間樹脂絶縁層)の表面
と上記工程で貫通孔を形成した場合には貫通孔の内壁と
に、酸または酸化剤を用いて粗化面を形成する。上記酸
としては、硫酸、硝酸、塩酸、リン酸、蟻酸等が挙げら
れ、上記酸化剤としては、クロム酸、クロム硫酸、過マ
ンガン酸ナトリウム等の過マンガン酸塩等が挙げられ
る。
(4) Next, if necessary, the surface of the resin insulating layer (interlayer resin insulating layer) including the inner wall of the via hole opening and the inner wall of the through hole when the through hole is formed in the above step. Then, a roughened surface is formed using an acid or an oxidizing agent. Examples of the acid include sulfuric acid, nitric acid, hydrochloric acid, phosphoric acid, and formic acid. Examples of the oxidizing agent include chromic acid, chromic sulfuric acid, and permanganates such as sodium permanganate.

【0080】その後、酸を用いて粗化面を形成した場合
はアルカリ等の水溶液を用い、酸化剤を用いて粗化面を
形成した場合は中和液を用いて、バイアホール用開口内
や貫通孔内を中和する。この操作により酸や酸化剤を除
去し、次工程に影響を与えないようにする。なお、この
工程で形成する粗化面の平均粗度Rzは、0.1〜5μ
mが望ましい。また、上記粗化面は、プラズマ処理等を
施すことにより形成してもよい。
Thereafter, when the roughened surface is formed by using an acid, an aqueous solution of an alkali or the like is used, and when the roughened surface is formed by using an oxidizing agent, a neutralizing solution is used. Neutralizes the inside of the through hole. By this operation, the acid and the oxidizing agent are removed so that the next step is not affected. The average roughness Rz of the roughened surface formed in this step is 0.1 to 5 μm.
m is desirable. The roughened surface may be formed by performing a plasma treatment or the like.

【0081】(5) 次に、形成された粗化面に、必要によ
り、触媒を付与する。上記触媒としては、例えば、塩化
パラジウム等が挙げられる。このとき、触媒を確実に付
与するために、酸素、窒素等のプラズマ処理やコロナ処
理等のドライ処理を施すことにより、酸または酸化剤の
残渣を除去するとともに層間樹脂絶縁層の表面を改質す
ることにより、触媒を確実に付与し、無電解めっき時の
金属の析出、および、無電解めっき層の層間樹脂絶縁層
への密着性を向上させることができ、特に、バイアホー
ル用開口の底面において、大きな効果が得られる。
(5) Next, a catalyst is applied to the formed roughened surface, if necessary. Examples of the catalyst include palladium chloride. At this time, in order to reliably apply the catalyst, a dry treatment such as a plasma treatment with oxygen, nitrogen or the like or a corona treatment is performed to remove a residue of an acid or an oxidizing agent and modify the surface of the interlayer resin insulating layer. By doing so, the catalyst can be reliably applied, the metal can be deposited during electroless plating, and the adhesion of the electroless plating layer to the interlayer resin insulating layer can be improved. In particular, the bottom surface of the via hole opening can be improved. In the above, a great effect can be obtained.

【0082】(6) ついで、形成された層間樹脂絶縁層上
に、必要により、スズ、亜鉛、銅、ニッケル、コバル
ト、タリウム、鉛等からなる薄膜導体層を無電解めっ
き、スパッタリング等により形成する。上記薄膜導体層
は、単層であってもよいし、2層以上からなるものであ
ってもよい。これらのなかでは、電気特性、経済性等を
考慮すると銅や銅およびニッケルからなる薄膜導体層が
望ましい。また、上記(3) の工程で貫通孔を形成した場
合は、この工程で貫通孔の内壁面にも金属からなる薄膜
導体層を形成することにより、スルーホールとしてもよ
い。
(6) Next, a thin-film conductor layer made of tin, zinc, copper, nickel, cobalt, thallium, lead or the like is formed on the formed interlayer resin insulating layer by electroless plating, sputtering or the like, if necessary. . The above-mentioned thin film conductor layer may be a single layer, or may be composed of two or more layers. Among these, a thin film conductor layer made of copper, copper, and nickel is desirable in consideration of electrical characteristics, economy, and the like. When the through hole is formed in the step (3), a through-hole may be formed by forming a thin film conductor layer made of metal also on the inner wall surface of the through hole in this step.

【0083】上記(6) の工程で、スルーホールを形成し
た場合には、以下のような処理工程を行うことが望まし
い。すなわち、無電解めっき層表面とスルーホール内壁
とを黒化(酸化)−還元処理、有機酸と第二銅錯体の混
合水溶液によるスプレー処理、Cu−Ni−P針状合金
めっきによる処理等を用いて粗化形成処理を行う。この
後、さらに、樹脂充填剤等を用いてスルーホール内を充
填し、ついで、樹脂充填剤の表層部と無電解めっき層表
面とをバフ研磨等の研磨処理方法を用いて、平坦化す
る。さらに、無電解めっきを行い、既に形成した金属か
らなる薄膜導体層と樹脂充填剤の表層部とに無電解めっ
き層を形成することにより、スルーホールの上に蓋めっ
き層を形成する。
When a through hole is formed in the step (6), it is desirable to perform the following processing steps. That is, the surface of the electroless plating layer and the inner wall of the through hole are subjected to blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, treatment with Cu-Ni-P needle-like alloy plating, and the like. To perform a roughening process. Thereafter, the inside of the through-hole is further filled with a resin filler or the like, and then the surface layer of the resin filler and the surface of the electroless plating layer are flattened by a polishing treatment method such as buffing. Further, by performing electroless plating and forming an electroless plating layer on the thin film conductor layer made of a metal already formed and the surface layer of the resin filler, a cover plating layer is formed on the through hole.

【0084】(7) 次に、上記層間樹脂絶縁層上の一部に
ドライフィルムを用いてめっきレジストを形成し、その
後、上記薄膜導体層をめっきリードとして電気めっきを
行い、上記めっきレジスト非形成部に上記めっきレジス
トの厚さよりも厚い電気めっき層を形成する。上記電気
めっきとしては、銅めっきを用いることが望ましい。こ
の時、バイアホール用開口を電気めっきで充填してフィ
ールドビア構造としてもよく、バイアホール用開口に導
電性ペースト等を充填した後、その上に蓋めっき層を形
成してフィールドビア構造としてもよい。フィールドビ
ア構造を形成することにより、バイアホールの直上にバ
イアホールを設けることができる。
(7) Next, a plating resist is formed on a part of the interlayer resin insulating layer using a dry film, and thereafter, electroplating is performed using the thin film conductor layer as a plating lead, and the plating resist is not formed. An electroplating layer thicker than the thickness of the plating resist is formed in the portion. It is desirable to use copper plating as the electroplating. At this time, the via hole opening may be filled with electroplating to form a field via structure, and after filling the via hole opening with a conductive paste or the like, a lid plating layer may be formed thereon to form a field via structure. Good. By forming a field via structure, a via hole can be provided immediately above the via hole.

【0085】(8) 電気めっき層を形成した後、めっきレ
ジストを剥離し、めっきレジストの下に存在していた金
属からなる薄膜導体層をエッチングにより除去し、独立
した導体回路とする。上記電気めっきとしては、銅めっ
きを用いることが望ましい。エッチング液として、例え
ば、硫酸−過酸化水素水溶液、過硫酸アンモニウム、過
硫酸ナトリウム、過硫酸カリウム等の過硫酸塩水溶液、
塩化第二鉄、塩化第二銅等の水溶液、塩酸、硝酸、熱希
硫酸等が挙げられる。また、上述した第二銅錯体と有機
酸とを含有するエッチング液を用いて、導体回路間のエ
ッチングと同時に粗化面を形成してもよい。さらに、必
要により、酸または酸化剤を用いて層間樹脂絶縁層上の
触媒を除去してもよい。触媒を除去することにより、触
媒に用いたパラジウム等の金属がなくなるため、電気特
性の低減を防止することができる。
(8) After forming the electroplating layer, the plating resist is peeled off, and the thin film conductor layer made of metal existing under the plating resist is removed by etching to form an independent conductor circuit. It is desirable to use copper plating as the electroplating. As an etchant, for example, a sulfuric acid-hydrogen peroxide aqueous solution, ammonium persulfate, sodium persulfate, a persulfate aqueous solution such as potassium persulfate,
An aqueous solution of ferric chloride, cupric chloride, or the like, hydrochloric acid, nitric acid, hot dilute sulfuric acid, or the like can be given. Further, a roughened surface may be formed at the same time as etching between conductor circuits using an etching solution containing the above-described cupric complex and an organic acid. Further, if necessary, the catalyst on the interlayer resin insulating layer may be removed using an acid or an oxidizing agent. By removing the catalyst, the metal such as palladium used for the catalyst disappears, so that a decrease in the electrical characteristics can be prevented.

【0086】(9) この後、必要により、(3) 〜(8) の工
程を繰り返し、その後、最外層の導体回路に粗化面を形
成する必要がある場合には、上述した粗化面形成処理方
法を用いて、粗化面を有する導体回路を形成する。
(9) Thereafter, if necessary, the steps (3) to (8) are repeated. If it is necessary to form a roughened surface on the outermost conductor circuit, the above-described roughened surface is formed. A conductor circuit having a roughened surface is formed by using a forming method.

【0087】(10)次に、最外層の導体回路を含む基板面
にソルダーレジスト層を形成する。上記ソルダーレジス
ト層の材料としては、例えば、ポリフェニレンエーテル
樹脂、ポリオレフィン樹脂、フッ素樹脂、熱可塑性エラ
ストマー、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂等からなるソ
ルダーレジスト組成物等が挙げられる。これらの樹脂の
具体例としては、例えば、樹脂絶縁層に用いた樹脂と同
様の樹脂等が挙げられる。
(10) Next, a solder resist layer is formed on the substrate surface including the outermost conductive circuit. Examples of the material of the solder resist layer include a solder resist composition comprising a polyphenylene ether resin, a polyolefin resin, a fluororesin, a thermoplastic elastomer, an epoxy resin, a polyimide resin, and the like. Specific examples of these resins include, for example, the same resins as those used for the resin insulating layer.

【0088】また、上記以外のソルダーレジスト組成物
としては、例えば、ノボラック型エポキシ樹脂の(メ
タ)アクリレート、イミダゾール硬化剤、2官能性(メ
タ)アクリル酸エステルモノマー、分子量500〜50
00程度の(メタ)アクリル酸エステルの重合体、ビス
フェノール型エポキシ樹脂等からなる熱硬化性樹脂、多
価アクリル系モノマー等の感光性モノマー、グリコール
エーテル系溶剤などを含むペースト状の流動体が挙げら
れ、その粘度は25℃で1〜10Pa・sに調製されて
いることが望ましい。ソルダーレジスト組成物として、
このような感光性樹脂組成物を使用する場合には、露光
現像処理により非貫通孔を形成することができる。
Examples of the solder resist composition other than those described above include, for example, a novolak-type epoxy resin (meth) acrylate, an imidazole curing agent, a bifunctional (meth) acrylate monomer, and a molecular weight of 500 to 50.
A paste-like fluid containing a polymer of about 00 (meth) acrylate, a thermosetting resin such as a bisphenol-type epoxy resin, a photosensitive monomer such as a polyvalent acrylic monomer, a glycol ether-based solvent, and the like. The viscosity is preferably adjusted to 1 to 10 Pa · s at 25 ° C. As a solder resist composition,
When such a photosensitive resin composition is used, a non-through hole can be formed by exposure and development.

【0089】上記ノボラック型エポキシ樹脂の(メタ)
アクリレートとしては、例えば、フェノールノボラック
やクレゾールノボラックのグリシジルエーテルをアクリ
ル酸やメタクリル酸等と反応させたエポキシ樹脂等が挙
げられる。
(Meth) of the above novolak type epoxy resin
Examples of the acrylate include an epoxy resin obtained by reacting glycidyl ether of phenol novolak or cresol novolak with acrylic acid, methacrylic acid, or the like.

【0090】上記2官能性(メタ)アクリル酸エステル
モノマーとしては特に限定されず、例えば、各種ジオー
ル類のアクリル酸やメタクリル酸のエステル等が挙げら
れ、市販品としては、日本化薬社製のR−604、PM
2、PM21等が挙げられる。
The bifunctional (meth) acrylic acid ester monomer is not particularly limited, and examples thereof include acrylic acid and methacrylic acid esters of various diols, and commercially available products of Nippon Kayaku Co., Ltd. R-604, PM
2, PM21 and the like.

【0091】また、上記ソルダーレジスト組成物は、エ
ラストマーや無機フィラーが配合されていてもよい。エ
ラストマーが配合されていることにより、形成されるソ
ルダーレジスト層は、エラストマーの有する柔軟性およ
び反発弾性により、ソルダーレジスト層に応力が作用し
た場合でも、該応力を吸収したり緩和したりすることが
でき、その結果、多層プリント配線板の製造工程や製造
した多層プリント配線板にICチップ等の電子部品を搭
載した後のソルダーレジスト層にクラックや剥離が発生
することを抑制でき、さらに、クラックが発生した場合
でも該クラックが大きく成長することがない。
The solder resist composition may contain an elastomer or an inorganic filler. By being blended with the elastomer, the formed solder resist layer can absorb or reduce the stress even when a stress acts on the solder resist layer due to the flexibility and rebound resilience of the elastomer. As a result, cracks and peeling can be suppressed from occurring in the manufacturing process of the multilayer printed wiring board and in the solder resist layer after mounting electronic components such as IC chips on the manufactured multilayer printed wiring board. Even when it occurs, the crack does not grow large.

【0092】また、上記ソルダーレジスト組成物として
は、上記したリンやリン化合物を含有するソルダーレジ
スト組成物を用いることが望ましい。樹脂絶縁層のみで
なく、ソルダーレジスト層にもリンやリン化合物を含有
させることにより、得られる多層プリント配線板の難燃
性がより一層向上するからである。
It is desirable to use the above-mentioned solder resist composition containing phosphorus or a phosphorus compound as the above-mentioned solder resist composition. This is because the flame retardancy of the obtained multilayer printed wiring board is further improved by incorporating phosphorus or a phosphorus compound not only in the resin insulating layer but also in the solder resist layer.

【0093】上記ソルダーレジスト層は、上記ソルダー
レジスト組成物をロールコータ法等により塗布したり、
上記ソルダーレジスト組成物の樹脂フィルムを形成した
後、該樹脂フィルムを熱圧着したりした後、露光、現像
処理、レーザ処理等による開口処理を行い、さらに、硬
化処理等を行うことにより形成する。
The solder resist layer can be formed by applying the solder resist composition by a roll coater method or the like.
After the resin film of the solder resist composition is formed, the resin film is thermocompression-bonded, and then subjected to opening processing such as exposure, development processing, laser processing, and the like, and further subjected to curing processing and the like.

【0094】(11)次に、ソルダーレジスト層の開口部分
にNi、Au等からなる耐食金属層をめっき、スパッタ
リングまたは蒸着等により形成し、その後、ICチップ
接続面には、半田ペーストを印刷することにより半田バ
ンプを形成し、外部基板接続面には、半田ボールやピン
等を配設することによりプリント配線板の製造を終了す
る。なお、上記半田ボールやピン等を配設する方法とし
ては、従来公知の方法を用いることができる。
(11) Next, a corrosion-resistant metal layer made of Ni, Au, or the like is formed by plating, sputtering or vapor deposition at the opening of the solder resist layer, and then, a solder paste is printed on the IC chip connection surface. Thus, solder bumps are formed, and solder balls, pins, and the like are provided on the external substrate connection surface, thereby completing the manufacture of the printed wiring board. In addition, as a method of arranging the solder balls, pins, and the like, a conventionally known method can be used.

【0095】なお、製品認識文字などを形成するための
文字印刷工程やソルダーレジスト層の改質のために、酸
素や四塩化炭素などのプラズマ処理を適時行ってもよ
い。以上の方法は、セミアディティブ法によるものであ
るが、フルアディティブ法を採用してもよい。
A plasma treatment with oxygen, carbon tetrachloride, or the like may be performed as needed for a character printing step for forming product recognition characters or the like or for modifying a solder resist layer. Although the above method is based on the semi-additive method, a full additive method may be employed.

【0096】第2の本発明の多層プリント配線板の製造
方法は、本発明の多層プリント配線板を製造する方法で
あって、少なくとも下記(1)および(2)の工程を含
むことを特徴とする。 (1)リンおよび/またはリン化合物を含む樹脂フィル
ムを作製する工程と、(2)導体回路の形成された基板
または導体回路の形成された樹脂絶縁層上に、上記樹脂
フィルムを圧着することにより樹脂フィルムの層を形成
する工程。
A second method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is a method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, and includes at least the following steps (1) and (2). I do. (1) a step of preparing a resin film containing phosphorus and / or a phosphorus compound; and (2) crimping the resin film on a substrate on which a conductor circuit is formed or a resin insulating layer on which a conductor circuit is formed. A step of forming a resin film layer;

【0097】第2の本発明の多層プリント配線板の製造
方法によれば、優れた難燃性、接続信頼性を有する本発
明の多層プリント配線板を好適に製造することができ
る。また、第2の本発明の多層プリント配線板の製造方
法では、所望の形状のバイアホール用開口等を短時間で
形成することができる。
According to the second method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, the multilayer printed wiring board of the present invention having excellent flame retardancy and connection reliability can be suitably manufactured. In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the second aspect of the present invention, a via hole opening or the like having a desired shape can be formed in a short time.

【0098】第2の本発明の多層プリント配線板の製造
方法は、第1の本発明の多層プリント配線板の製造方法
と比べて、層間樹脂絶縁層を形成する工程(工程順に説
明した第1の本発明の製造方法の(3) の工程)が異なる
のみであり、その他の工程は第1の本発明の製造方法と
同様の方法を用いて行うことができる。従って、ここで
は、第2の本発明の製造方法における樹脂絶縁層を形成
する工程についてのみ説明することとする。
The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the second aspect of the present invention is different from the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the first aspect of the present invention in that a step of forming an interlayer resin insulating layer (the first step described in the order of steps). The method of the present invention differs only in the step (3)), and the other steps can be performed using the same method as the first manufacturing method of the present invention. Therefore, here, only the step of forming the resin insulating layer in the second manufacturing method of the present invention will be described.

【0099】第2の本発明の製造方法では、まず、リン
および/またはリン化合物を含む樹脂フィルムを作製す
る。すなわち、まず、上記リンおよび/またはリン化合
物を、上記樹脂フィルムの原料となる一または二以上の
樹脂成分中に添加して均一に混合した後、ここに、残り
の構成成分を添加し、混合することにより樹脂フィルム
形成用組成物を調整する。次に、この樹脂フィルム形成
用組成物を成形型にいれ、乾燥、半硬化させることによ
り樹脂フィルムとする。なお、上記リンおよび/または
リン化合物を最初に添加する樹脂成分としては、熱硬化
性樹脂を含む成分が望ましい。これについては、第3の
本発明の製造方法を説明する際に詳述する。
In the second production method of the present invention, first, a resin film containing phosphorus and / or a phosphorus compound is prepared. That is, first, the phosphorus and / or the phosphorus compound are added to one or more resin components as raw materials of the resin film and uniformly mixed. By doing so, the composition for forming a resin film is adjusted. Next, the resin film forming composition is placed in a mold, dried and semi-cured to obtain a resin film. As the resin component to which phosphorus and / or the phosphorus compound are added first, a component containing a thermosetting resin is desirable. This will be described in detail when describing the third manufacturing method of the present invention.

【0100】なお、上記樹脂フィルムを作製する方法
は、上記方法に限定されず、上記リンやリン化合物と、
これ以外の上記樹脂絶縁層の原料となる成分とを同時に
混合して樹脂フィルム形成用組成物を調整し、その後、
上記と同様に成形型にいれ、乾燥、半硬化させることに
より樹脂フィルムとしてもよい。また、成形した樹脂フ
ィルムの片面に銅箔等の金属層を形成してもよい。
The method for producing the above resin film is not limited to the above method.
A resin film-forming composition was prepared by simultaneously mixing other components as the raw material of the resin insulating layer, and then
A resin film may be obtained by placing the film in a molding die, drying and semi-curing as described above. Further, a metal layer such as a copper foil may be formed on one side of the molded resin film.

【0101】また、樹脂フィルムを形成する際の材料と
して、粗化面形成用樹脂組成物を用いる場合、形成する
樹脂フィルムにおいて、可溶性粒子は、難溶性樹脂中に
ほぼ均一に分散させることが好ましい。樹脂絶縁層表面
に均一な粗さの凹凸を有する粗化面を形成することがで
き、樹脂絶縁層にバイアホールやスルーホールを形成し
ても、その上に形成する導体回路の金属層との密着性を
確保することができるからである。
When a resin composition for forming a roughened surface is used as a material for forming a resin film, the soluble particles in the resin film to be formed are preferably dispersed almost uniformly in the poorly soluble resin. . It is possible to form a roughened surface having unevenness with a uniform roughness on the surface of the resin insulating layer, and even if a via hole or a through hole is formed in the resin insulating layer, the surface of the resin insulating layer can be formed with a metal layer of a conductive circuit formed thereon. This is because adhesion can be ensured.

【0102】また、粗化面を形成する表層部だけに可溶
性粒子を含有させて、樹脂フィルムを形成してもよい。
この場合、樹脂絶縁層の表層部以外は酸または酸化剤に
さらされることがないため、層間樹脂絶縁層を介した導
体回路間の絶縁性が確実に保たれる。表層部だけに可溶
性粒子を含有する樹脂フィルムは、例えば、難溶性樹脂
のみからなる樹脂フィルムを上記した方法で形成し、そ
の上に可溶性粒子が難溶性樹脂中にほぼ均一に分散した
樹脂フィルムを積層することにより形成する。
Further, a resin film may be formed by adding soluble particles only to the surface layer forming the roughened surface.
In this case, since the portions other than the surface layer of the resin insulating layer are not exposed to the acid or the oxidizing agent, the insulation between the conductor circuits via the interlayer resin insulating layer is reliably maintained. The resin film containing the soluble particles only in the surface layer portion is, for example, a resin film composed of only the hardly soluble resin is formed by the method described above, and a resin film in which the soluble particles are substantially uniformly dispersed in the hardly soluble resin is formed thereon. It is formed by stacking.

【0103】上記樹脂フィルムにおいて、難溶性樹脂中
に分散させる可溶性粒子の配合量は、樹脂フィルムに対
して、3〜40重量%が望ましい。可溶性粒子の配合量
が3重量%未満では、所望の凹凸を有する粗化面を形成
することができない場合があり、40重量%を超える
と、酸または酸化剤を用いて可溶性粒子を溶解した際
に、樹脂絶縁層の深部まで溶解してしまい、樹脂フィル
ムからなる層間樹脂絶縁層を介した導体回路間の絶縁性
を維持できず、短絡の原因となる場合がある。上記樹脂
フィルムは、上記リンやリン化合物以外に、必要に応じ
て、硬化剤、溶剤、その他の成分等を配合してもよい。
In the above resin film, the amount of the soluble particles to be dispersed in the poorly soluble resin is preferably 3 to 40% by weight based on the resin film. If the amount of the soluble particles is less than 3% by weight, it may not be possible to form a roughened surface having desired irregularities. If the amount exceeds 40% by weight, the soluble particles may be dissolved using an acid or an oxidizing agent. In addition, the resin may be melted to a deep portion of the resin insulating layer, failing to maintain the insulating property between the conductor circuits via the interlayer resin insulating layer made of the resin film, which may cause a short circuit. The resin film may contain a curing agent, a solvent, other components, and the like, if necessary, in addition to the phosphorus and the phosphorus compound.

【0104】第2の本発明の製造方法では、上記工程の
後、導体回路の形成された基板または導体回路の形成さ
れた樹脂絶縁層上に、上記樹脂フィルムを圧着すること
により樹脂フィルムの層を形成する。上記樹脂フィルム
を圧着する方法としては、例えば、真空ラミネーター装
置等を用い、上記樹脂フィルムを減圧下または真空下に
おいて、2.0〜10kgf/cm2 の圧力で圧着する
方法が好ましい。上記圧力が2.0kgf/cm2 未満
では、樹脂フィルムと導体回路との密着性が不十分な場
合があり、一方、10kgf/cm2 を超えると樹脂フ
ィルム中に、上記リンやリン化合物が凝集する部分が発
生することがある。より好ましい圧力は、3〜7kgf
/cm2 である。なお、上記樹脂フィルムを圧着する際
には、まず、該樹脂フィルムを仮圧着しておき、その
後、上記した条件で本圧着してもよい。
In the manufacturing method according to the second aspect of the present invention, after the above-described steps, the resin film is pressed on the substrate on which the conductor circuit is formed or on the resin insulating layer on which the conductor circuit is formed. To form As a method of pressure-bonding the resin film, for example, a method of pressure-bonding the resin film at a pressure of 2.0 to 10 kgf / cm 2 under reduced pressure or vacuum using a vacuum laminator device or the like is preferable. When the pressure is less than 2.0 kgf / cm 2 , the adhesion between the resin film and the conductor circuit may be insufficient. On the other hand, when the pressure is more than 10 kgf / cm 2 , the phosphorus or the phosphorus compound may aggregate in the resin film. May occur. More preferable pressure is 3-7 kgf
/ Cm 2 . When the resin film is pressure-bonded, first, the resin film may be temporarily pressure-bonded, and then, the resin film may be completely pressure-bonded under the above-described conditions.

【0105】また、上記樹脂フィルムを圧着する際の温
度は、60〜120℃が好ましい。上記温度が60℃未
満では加熱による効果がほとんどみられず、120℃を
超えると、樹脂フィルムが硬化剤や溶剤を含有する場合
に、これらの硬化剤や溶剤が揮発してしまい、硬化が不
十分であったり、硬化が進行しすぎてしまうことがあ
る。
The temperature at which the resin film is pressure-bonded is preferably 60 to 120 ° C. When the temperature is lower than 60 ° C., the effect of heating is hardly observed. When the temperature is higher than 120 ° C., when the resin film contains a curing agent or a solvent, the curing agent or the solvent volatilizes, and the curing is not performed. It may be sufficient or the curing may proceed too much.

【0106】また、上記樹脂フィルムの圧着時間は、1
0〜120秒が好ましい。圧着時間が10秒未満では、
樹脂フィルムと導体回路との密着性が不十分な場合があ
り、120秒を超えても樹脂フィルムと導体回路との密
着性はほとんど向上しないからである。
The pressing time of the resin film is 1
0 to 120 seconds is preferred. If the crimping time is less than 10 seconds,
This is because the adhesiveness between the resin film and the conductor circuit may be insufficient, and even if it exceeds 120 seconds, the adhesiveness between the resin film and the conductor circuit hardly improves.

【0107】また、上記樹脂フィルムを圧着する際の真
空度は、0.1〜10Torrが好ましい。上記真空度
を0.1Torr未満にすることは、技術的に容易では
なく、時間もかかる。一方、上記真空度が10Torr
を超えると導体回路間に樹脂フィルムが完全に充填され
ないことがある。
The degree of vacuum when the resin film is pressure-bonded is preferably 0.1 to 10 Torr. Making the degree of vacuum less than 0.1 Torr is not technically easy and takes time. On the other hand, when the degree of vacuum is 10 Torr
If it exceeds 300, the resin film may not be completely filled between the conductor circuits.

【0108】この後、第1の本発明の製造方法と同様の
方法を用いて、樹脂フィルムの層に開口や貫通孔を形成
する。
Thereafter, openings and through holes are formed in the resin film layer using the same method as the first manufacturing method of the present invention.

【0109】第3の本発明の多層プリント配線板の製造
方法は、上記した樹脂絶縁層が熱硬化性樹脂と熱可塑性
樹脂とからなる樹脂複合体を含む本発明の多層プリント
配線板を製造する方法であって、少なくとも下記(1)
〜(5)の工程を含むことを特徴とする。 (1)リンおよび/またはリン化合物、並びに、熱硬化
性樹脂を含む樹脂組成物Aを調製する工程と、(2)熱
可塑性樹脂を含む樹脂組成物Bを調製する工程と、
(3)硬化剤を含む硬化剤成分Cを調製する工程と、
(4)上記樹脂組成物A、上記樹脂組成物Bおよび上記
硬化剤成分Cを混練して混合組成物Dを調製した後、上
記混合組成物Dからなる樹脂フィルムEを作製する工程
と、(5)導体回路の形成された基板または導体回路の
形成された樹脂絶縁層上に、上記樹脂フィルムEを圧着
することにより樹脂フィルムEの層を形成する工程。
The third method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention is to manufacture the multilayer printed wiring board according to the present invention, wherein the resin insulating layer includes a resin composite composed of a thermosetting resin and a thermoplastic resin. A method comprising at least the following (1)
And (5). (1) a step of preparing a resin composition A containing phosphorus and / or a phosphorus compound and a thermosetting resin; and (2) a step of preparing a resin composition B containing a thermoplastic resin.
(3) a step of preparing a curing agent component C containing a curing agent;
(4) a step of kneading the resin composition A, the resin composition B, and the curing agent component C to prepare a mixed composition D, and then preparing a resin film E including the mixed composition D; 5) a step of forming a layer of the resin film E by pressing the resin film E on a substrate on which the conductor circuit is formed or on a resin insulating layer on which the conductor circuit is formed.

【0110】第3の本発明の多層プリント配線板の製造
方法によれば、優れた難燃性、接続信頼性を有し、樹脂
絶縁層が熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とからなる樹脂複
合体を含む多層プリント配線板を好適に製造することが
できる。また、第3の本発明の多層プリント配線板の製
造方法では、所望の形状のバイアホール用開口等を短時
間で形成することができる。
According to the third method of manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, a resin composite having excellent flame retardancy and connection reliability, wherein the resin insulating layer comprises a thermosetting resin and a thermoplastic resin. A multilayer printed wiring board including a body can be suitably manufactured. Further, in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the third aspect of the present invention, a via hole opening or the like having a desired shape can be formed in a short time.

【0111】即ち、第3の本発明の多層プリント配線板
の製造方法は、第1の本発明の多層プリント配線板の製
造方法と比べて、層間樹脂絶縁層を形成する工程(工程
順に説明した第1の本発明の製造方法の(3) の工程)が
異なるのみであり、その他の工程は第1の本発明の製造
方法と同様の方法を用いて行うことができる。従って、
ここでは、第3の本発明の製造方法における層間樹脂絶
縁層を形成する工程についてのみ説明することとする。
That is, the method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the third aspect of the present invention is different from the method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the first aspect of the present invention in that steps of forming an interlayer resin insulating layer (described in the order of steps). Only the process (3) of the production method of the first present invention is different, and the other steps can be performed using the same method as the production method of the first invention. Therefore,
Here, only the step of forming the interlayer resin insulating layer in the third manufacturing method of the present invention will be described.

【0112】第3の本発明の製造方法では、まず、リン
および/またはリン化合物、並びに、熱硬化性樹脂を含
む樹脂組成物Aと、熱可塑性樹脂を含む樹脂組成物B
と、硬化剤を含む硬化剤成分Cとをそれぞれ別々に調製
する。なお、上記樹脂組成物Aと樹脂組成物Bと硬化剤
成分Cの調製は、それぞれ並行して行ってもよいし、任
意の順序で行ってもよい。
In the third production method of the present invention, first, a resin composition A containing phosphorus and / or a phosphorus compound and a thermosetting resin, and a resin composition B containing a thermoplastic resin
And a curing agent component C containing a curing agent are separately prepared. The preparation of the resin composition A, the resin composition B, and the curing agent component C may be performed in parallel or in any order.

【0113】上記樹脂組成物Aを調製する際には、上記
リンやリン化合物を上記樹脂組成物Aの原料となる一又
は二以上の熱硬化性樹脂中に予め混合しておき、これ
と、他の構成成分とを混合することにより行う。このよ
うに、リンやリン化合物をまず熱硬化性樹脂中に混合さ
せるのは、該リンやリン化合物を均一に混合させ易く、
また、混合時に、リンやリン化合物の状態が変化するお
それがなく、作業時の安全性に優れるからである。特
に、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とからなる樹脂複合体
を含む樹脂絶縁層を形成する場合には、リンやリン化合
物をまず熱硬化性樹脂中に混合する。なお、リンやリン
化合物、熱硬化性樹脂等の樹脂組成物Aの原料となる成
分を均一に混合することができるのであれば、全ての原
料となる成分を一度に混合して樹脂組成物Aを調製して
もよい。
In preparing the resin composition A, the phosphorus or the phosphorus compound is mixed in advance with one or more thermosetting resins as raw materials of the resin composition A, and It is performed by mixing with other components. Thus, mixing phosphorus or a phosphorus compound into a thermosetting resin first is easy to uniformly mix the phosphorus or the phosphorus compound,
Further, during mixing, there is no possibility that the state of phosphorus or the phosphorus compound is changed, so that the operation is excellent in safety. In particular, when forming a resin insulating layer containing a resin composite composed of a thermosetting resin and a thermoplastic resin, phosphorus or a phosphorus compound is first mixed into the thermosetting resin. In addition, if the components which are the raw materials of the resin composition A, such as phosphorus, a phosphorus compound, and a thermosetting resin, can be uniformly mixed, all the raw materials are mixed at once and the resin composition A is mixed. May be prepared.

【0114】上記樹脂組成物Aに含まれる熱硬化性樹脂
としては、本発明の多層プリント配線板の樹脂絶縁層の
原料となる熱硬化性樹脂と同様のもの等を用いることが
できる。
As the thermosetting resin contained in the resin composition A, the same thermosetting resin as the raw material of the resin insulating layer of the multilayer printed wiring board of the present invention can be used.

【0115】樹脂組成物Bの調製は、熱可塑性樹脂中
に、必要に応じて、添加剤や溶剤を添加した後、混合す
ることにより行う。上記樹脂組成物Bに含まれる熱可塑
性樹脂としては、本発明の多層プリント配線板の樹脂絶
縁層の原料となる熱可塑性樹脂と同様のもの等を用いる
ことができる。なお、本明細書において、樹脂組成物B
には、熱可塑性樹脂単独からなるものも含むものとす
る。
The preparation of the resin composition B is carried out by adding additives and solvents to the thermoplastic resin, if necessary, and then mixing them. As the thermoplastic resin contained in the resin composition B, the same thermoplastic resin as the raw material of the resin insulating layer of the multilayer printed wiring board of the present invention can be used. In this specification, the resin composition B
Include those made of a thermoplastic resin alone.

【0116】硬化剤成分Cを調製は、硬化剤中に、必要
に応じて、添加剤や溶剤を添加した後、混合することに
より行う。上記硬化剤成分Cに含まれる硬化剤として
は、例えば、イミダゾール系硬化剤、アミン系硬化剤等
が挙げられる。上記イミダゾール系硬化剤としては特に
限定されるものではないが、25℃で液状であるイミダ
ゾール硬化剤が望ましい。粉末では均一混練が難しく、
液状のほうが均一に混練できるからである。
The curing agent component C is prepared by adding an additive or a solvent to the curing agent, if necessary, and then mixing. Examples of the curing agent contained in the curing agent component C include an imidazole-based curing agent and an amine-based curing agent. The imidazole-based curing agent is not particularly limited, but is preferably an imidazole-based curing agent that is liquid at 25 ° C. It is difficult to knead uniformly with powder,
This is because the liquid can be kneaded more uniformly.

【0117】このような液状のイミダゾール系硬化剤の
具体例としては、例えば、1−ベンジル−2−メチルイ
ミダゾール(四国化成社製、1B2MZ)、1−シアノ
エチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール(四国化
成社製、2E4MZ−CN)、4−メチル−2−エチル
イミダゾール(四国化成社製、2E4MZ)等が挙げら
れる。なお、本明細書において、硬化剤成分Cには、硬
化剤単独からなるものも含むものとする。
Specific examples of such a liquid imidazole-based curing agent include, for example, 1-benzyl-2-methylimidazole (1B2MZ, manufactured by Shikoku Chemicals), 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole ( Shikoku Chemicals Corporation 2E4MZ-CN), 4-methyl-2-ethylimidazole (Shikoku Chemicals Corporation 2E4MZ) and the like. In the present specification, the curing agent component C includes a curing agent alone.

【0118】次に、上記樹脂組成物A、上記樹脂組成物
Bおよび上記硬化剤成分Cを混練して混合組成物Dを調
製し、その後、上記混合組成物Dからなる樹脂フィルム
Eを作製する。上記混合組成物Dの調製では、まず、上
記樹脂組成物Aと上記樹脂組成物Bとを混合する。この
とき、必要に応じて、溶剤や添加剤等を加えてもよい。
その後、上記硬化剤成分Cを添加して混合することによ
り混合組成物Dを調製する。なお、硬化剤成分Cを混合
する際に、必要な溶剤や添加剤等を加えてもよい。
Next, the above-mentioned resin composition A, the above-mentioned resin composition B and the above-mentioned curing agent component C are kneaded to prepare a mixed composition D, and thereafter, a resin film E made of the above-mentioned mixed composition D is produced. . In the preparation of the mixed composition D, first, the resin composition A and the resin composition B are mixed. At this time, a solvent, an additive, and the like may be added as necessary.
Thereafter, a mixed composition D is prepared by adding and mixing the curing agent component C. When mixing the curing agent component C, a necessary solvent, additive, and the like may be added.

【0119】なお、上記した方法以外であっても、上記
樹脂組成物A、上記樹脂組成物Bおよび上記硬化剤成分
Cを均一に混練することができる方法であれば用いるこ
とができ、樹脂組成物Aと樹脂組成物Bと硬化剤成分C
とを同時に混練してもよいし、樹脂組成物A、樹脂組成
物Bおよび硬化剤成分Cのうちの2成分を混練した後、
残りの成分を添加して混練してもよい。これらの場合
も、必要に応じて、溶剤、添加物等を加える。
It is to be noted that any method other than the method described above can be used as long as the method can uniformly knead the resin composition A, the resin composition B, and the curing agent component C. A, resin composition B, and curing agent component C
May be kneaded simultaneously, or after kneading two components of the resin composition A, the resin composition B and the curing agent component C,
The remaining components may be added and kneaded. Also in these cases, a solvent, an additive, and the like are added as necessary.

【0120】上記混合組成物Dを調製した後、該混合組
成物Dからなる樹脂フィルムEを作製する。この場合、
第2の本発明の製造方法の樹脂フィルムを作製する方法
と同様の方法を用いることができる。
After preparing the mixed composition D, a resin film E made of the mixed composition D is prepared. in this case,
The same method as the method for producing the resin film of the second production method of the present invention can be used.

【0121】次に、導体回路の形成された基板または導
体回路の形成された樹脂絶縁層上に、上記樹脂フィルム
Eを圧着することにより樹脂フィルムEの層を形成す
る。上記樹脂フィルムEを圧着する方法としては、第2
の本発明の製造方法の樹脂フィルムを圧着する方法と同
様の方法を用いることができる。
Next, the resin film E is formed on the substrate on which the conductor circuit is formed or on the resin insulating layer on which the conductor circuit is formed, by pressure bonding to form a layer of the resin film E. As a method for pressure-bonding the resin film E, the second method
The method similar to the method of pressing a resin film in the production method of the present invention can be used.

【0122】この後、第1の本発明の製造方法と同様の
方法を用いて、樹脂フィルムEの層に開口や貫通孔を形
成する。
Thereafter, openings and through holes are formed in the layer of the resin film E by using the same method as the first manufacturing method of the present invention.

【0123】第1〜第3の本発明の製造方法では、リン
やリン化合物を含ませることにより難燃性の付与された
樹脂絶縁層を形成する。そのため、レーザ光を用いてバ
イアホール用開口等を形成する場合、レーザ照射部位の
周囲の樹脂がレーザの照射熱により燃焼することがな
く、形成した開口の内壁の形状は滑らかであり、その形
状も所望のものとなる。
In the first to third production methods of the present invention, a resin insulating layer provided with flame retardancy by containing phosphorus or a phosphorus compound is formed. Therefore, when forming a via hole opening or the like using laser light, the resin around the laser irradiation site does not burn due to the heat of laser irradiation, and the shape of the inner wall of the formed opening is smooth and the shape of the opening is smooth. Is also desired.

【0124】通常、レーザ照射により開口を形成する場
合には、レーザ照射部位の周囲の樹脂がレーザの照射熱
により燃焼するため、開口の内壁の形状が滑らかな形状
とならず、不均一な凹凸を有するものになる。しかしな
がら、本発明の多層プリント配線板の製造方法では、バ
イアホール用開口等を形成する層が難燃性を有するた
め、レーザ照射部位の周囲の樹脂がレーザの照射熱によ
り燃焼することがなく、形成した開口の内壁の形状は滑
らかであり、その形状も所望のものとなる。
Normally, when an opening is formed by laser irradiation, the resin around the laser irradiation part is burned by the heat of the laser irradiation, so that the inner wall of the opening does not have a smooth shape and unevenness is formed. It becomes what has. However, in the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention, since a layer forming an opening for a via hole or the like has flame retardancy, the resin around the laser irradiation site does not burn due to the laser irradiation heat, The shape of the inner wall of the formed opening is smooth, and the desired shape is obtained.

【0125】また、レーザ照射時にレーザ照射部位の周
囲の樹脂が、レーザの照射熱により燃焼することがない
ため、高エネルギーのレーザ光を照射しても、所望の形
状の開口を形成することができる。従って、高エネルギ
ーのレーザ光を照射することにより、短時間で開口を形
成することができ、特に、パルスレーザを用いる場合に
は、単ショットで開口を形成することができる。
Further, since the resin around the laser irradiation site is not burned by laser irradiation heat during laser irradiation, an opening having a desired shape can be formed even when high energy laser light is irradiated. it can. Therefore, by irradiating high-energy laser light, an opening can be formed in a short time. In particular, when a pulsed laser is used, an opening can be formed in a single shot.

【0126】従って、本発明の多層プリント配線板の製
造方法を用いることにより、所望の形状の開口を有し、
開口内に樹脂残り等がなく、該開口内に形成したバイア
ホールを介した上下の導体回路間の接続信頼性に優れる
多層プリント配線板を高い生産性で製造することができ
る。
Therefore, by using the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention, an opening having a desired shape can be obtained.
A multilayer printed wiring board having no resin residue or the like in the opening and having excellent connection reliability between the upper and lower conductor circuits via the via hole formed in the opening can be manufactured with high productivity.

【0127】[0127]

【実施例】以下、本発明をさらに詳細に説明する。 (実施例1) A.上層の粗化面形成用樹脂組成物の調製 (1) まず、赤リン系難燃剤(商品名、ノーバエクセル
F5)5.5重量部を、クレゾールノボラック型エポキ
シ樹脂(日本化薬社製、分子量:2500)の25%ア
クリル化物を80重量%の濃度でジエチレングリコール
ジメチルエーテル(DMDG)に溶解させた樹脂液10
0重量部に混合し、リンを含むクレゾールノボラック型
エポキシ樹脂液を調整した。次に、このリンを含むクレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂液400重量部、感光
性モノマー(東亜合成社製、アロニックスM325)6
0重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)5重量
部およびN−メチルピロリドン(NMP)35重量部を
容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製
した。
The present invention will be described in more detail below. Example 1 A. Preparation of resin composition for forming roughened surface of upper layer (1) First, a red phosphorus-based flame retardant (trade name, Nova Excel
F5) A resin solution 10 in which 5.5 parts by weight of a 25% acrylate of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight.
The mixture was mixed with 0 parts by weight to prepare a cresol novolak type epoxy resin solution containing phosphorus. Next, 400 parts by weight of the phosphorus-containing cresol novolak type epoxy resin solution, photosensitive monomer (Aronix M325, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) 6
0 parts by weight, 5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco) and 35 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) were placed in a container, and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0128】(2) ポリエーテルスルフォン(PES)8
0重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリマー
ポール)の平均粒径1.0μmのもの72重量部および
平均粒径0.5μmのもの31重量部を別の容器にと
り、攪拌混合した後、さらにNMP257重量部を添加
し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混合組成物を調製し
た。
(2) Polyether sulfone (PES) 8
0 parts by weight, 72 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Chemical Industries, polymer pole) having an average particle size of 1.0 μm and 31 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle size of 0.5 μm were placed in another container and mixed with stirring. And 257 parts by weight of NMP were further added and stirred and mixed by a bead mill to prepare another mixed composition.

【0129】(3) イミダゾール硬化剤(四国化成社製、
2E4MZ−CN)20重量部、光重合開始剤(ベンゾ
フェノン)20重量部、光増感剤(チバ・スペシャルテ
ィ・ケミカルズ社製、EAB)4重量部およびNMP1
6重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混合することに
より混合組成物を調製した。そして、(1) 、(2) および
(3) で調製した混合組成物を混合することにより粗化面
形成用樹脂組成物を得た。なお、得られた粗化面形成用
樹脂組成物の乾燥後のリンの含有量は、3重量%であ
る。
(3) Imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, Inc.)
2E4MZ-CN), 20 parts by weight of a photopolymerization initiator (benzophenone), 4 parts by weight of a photosensitizer (EAB, manufactured by Ciba Specialty Chemicals) and NMP1
6 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And (1), (2) and
The resin composition for forming a roughened surface was obtained by mixing the mixed composition prepared in (3). In addition, the phosphorus content of the obtained resin composition for forming a roughened surface after drying is 3% by weight.

【0130】B.下層の粗化面形成用樹脂組成物の調製 (1) まず、赤リン系難燃剤(商品名、ノーバエクセル
F5)5.8重量部を、クレゾールノボラック型エポキ
シ樹脂(日本化薬社製、分子量:2500)の25%ア
クリル化物を80重量%の濃度でジエチレングリコール
ジメチルエーテル(DMDG)に溶解させた樹脂液10
0重量部に混合し、リンを含むクレゾールノボラック型
エポキシ樹脂液を調整した。次に、このリンを含むクレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂液400重量部、感光
性モノマー(東亜合成社製、アロニックスM325)6
0重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)5重量
部およびN−メチルピロリドン(NMP)35重量部を
容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製
した。
B. Preparation of Resin Composition for Forming Rough Surface of Lower Layer (1) First, a red phosphorus-based flame retardant (trade name, Nova Excel)
F5) A resin solution 10 in which 5.8 parts by weight of a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) is dissolved at a concentration of 80% by weight in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) at a concentration of 80% by weight.
The mixture was mixed with 0 parts by weight to prepare a cresol novolak type epoxy resin solution containing phosphorus. Next, 400 parts by weight of the phosphorus-containing cresol novolak type epoxy resin solution, photosensitive monomer (Aronix M325, manufactured by Toagosei Co., Ltd.) 6
0 parts by weight, 5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by San Nopco) and 35 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) were placed in a container, and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0131】(2) ポリエーテルスルフォン(PES)8
0量部、および、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポ
リマーポール)の平均粒径0.5μmのもの145重量
部を別の容器にとり、攪拌混合した後、さらにNMP2
85重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混
合組成物を調製した。
(2) Polyether sulfone (PES) 8
0 parts by weight and 145 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd., polymer pole) having an average particle size of 0.5 μm are placed in another container, mixed with stirring, and further mixed with NMP2.
85 parts by weight were added and mixed by stirring with a bead mill to prepare another mixed composition.

【0132】(3) イミダゾール硬化剤(四国化成社製、
2E4MZ−CN)20重量部、光重合開始剤(ベンゾ
フェノン)20重量部、光増感剤(チバ・スペシャルテ
ィ・ケミカルズ社製、EAB)4重量部およびNMP1
6重量部をさらに別の容器にとり、攪拌混合することに
より混合組成物を調製した。そして、(1) 、(2) および
(3) で調製した混合組成物を混合することにより粗化面
形成用樹脂組成物を得た。なお、得られた粗化面形成用
樹脂組成物の乾燥後のリンの含有量は、3重量%であ
る。
(3) Imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, Inc.)
2E4MZ-CN), 20 parts by weight of a photopolymerization initiator (benzophenone), 4 parts by weight of a photosensitizer (EAB, manufactured by Ciba Specialty Chemicals) and NMP1
6 parts by weight were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. And (1), (2) and
The resin composition for forming a roughened surface was obtained by mixing the mixed composition prepared in (3). In addition, the phosphorus content of the obtained resin composition for forming a roughened surface after drying is 3% by weight.

【0133】C.樹脂充填剤の調製 (1) ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
社製、分子量:310、YL983U)100重量部、
表面にシランカップリング剤がコーティングされた平均
粒径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下の
SiO2 球状粒子(アドテック社製、CRS 1101
−CE)170重量部およびレベリング剤(サンノプコ
社製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にとり、攪
拌混合することにより、その粘度が23±1℃で45〜
49Pa・sの樹脂充填剤を調製した。なお、硬化剤と
して、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E4MZ
−CN)6.5重量部を用いた。
C. Preparation of resin filler (1) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., molecular weight: 310, YL983U),
SiO 2 spherical particles having an average particle diameter of 1.6 μm and a maximum particle diameter of 15 μm or less (CRS 1101 manufactured by Adtec Co., Ltd.) having a surface coated with a silane coupling agent.
-CE) 170 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco) are placed in a container, and the mixture is stirred and mixed to have a viscosity of 23 to 1 ° C. and 45 to 45 ° C.
A resin filler of 49 Pa · s was prepared. As a curing agent, an imidazole curing agent (2E4MZ manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
-CN) 6.5 parts by weight.

【0134】D.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ0.8mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層
板を出発材料とした(図1(a)参照)。まず、この銅
張積層板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パ
ターン状にエッチングすることにより、基板1の両面に
下層導体回路4とスルーホール9を形成した。
D. Manufacturing method of printed wiring board (1) Glass epoxy resin or BT with a thickness of 0.8 mm
The starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foils 8 were laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin (see FIG. 1A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to an electroless plating treatment, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and a through hole 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0135】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (16g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とす
る黒化処理、および、NaOH(19g/l)、NaB
4 (5g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理
を行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全
表面に粗化面4a、9aを形成した(図1(b)参
照)。
(2) Through hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (1
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 A blackening treatment using an aqueous solution containing (16 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (19 g / l), NaB
A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing H 4 (5 g / l) as a reduction bath, and roughened surfaces 4 a and 9 a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 1 (b)). ).

【0136】(3) 上記Cに記載した樹脂充填剤を調製し
た後、下記の方法により調製後24時間以内に、スルー
ホール9内、および、基板1の片面の導体回路非形成部
と導体回路4の外縁部とに樹脂充填剤10の層を形成し
た。すなわち、まず、スキージを用いてスルーホール内
に樹脂充填剤を押し込んだ後、100℃、20分の条件
で乾燥させた。次に、導体回路非形成部に相当する部分
が開口したマスクを基板上に載置し、スキージを用いて
凹部となっている導体回路非形成部に樹脂充填剤10の
層を形成し、100℃、20分の条件で乾燥させた(図
1(c)参照)。
(3) After preparing the resin filler described in the above C, within 24 hours after the preparation by the following method, the conductive circuit non-formed portion and the conductive circuit in the through hole 9 and on one side of the substrate 1 A layer of the resin filler 10 was formed on the outer edge portion of No. 4. That is, first, the resin filler was pushed into the through holes using a squeegee, and then dried at 100 ° C. for 20 minutes. Next, a mask having an opening corresponding to the conductive circuit non-forming portion is placed on the substrate, and a layer of the resin filler 10 is formed in the conductive circuit non-forming portion having a concave portion using a squeegee. Drying was performed at 20 ° C. for 20 minutes (see FIG. 1C).

【0137】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いた
ベルトサンダー研磨により、内層銅パターン4の表面や
スルーホール9のランド表面に樹脂充填剤10が残らな
いように研磨し、次いで、上記ベルトサンダー研磨によ
る傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一
連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。次
いで、100℃で1時間、120℃で3時間、150℃
で1時間、180℃で7時間の加熱処理を行って樹脂充
填剤10を硬化した。
(4) One surface of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt abrasive paper (manufactured by Sankyo Rikagaku) to form the surface of the inner layer copper pattern 4 and the through holes 9. Polishing was performed so that the resin filler 10 did not remain on the land surface, and then buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Then, at 100 ° C for 1 hour, at 120 ° C for 3 hours, at 150 ° C
For 1 hour and a heat treatment at 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler 10.

【0138】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図1(d)参照)。この工程により、樹脂充填剤10
の表面と下層導体回路4の表面が同一平面となる。
In this way, the surface portion of the resin filler 10 formed in the through-hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed and the surface of the lower conductor circuit 4 are flattened, and the resin filler 10 and the side surface of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was obtained, thereby obtaining an insulating substrate firmly adhered through the roughened surface (see FIG. 1D). By this step, the resin filler 10
And the surface of the lower conductor circuit 4 are flush with each other.

【0139】(5) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソ
フトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面
にスプレイで吹きつけて、下層導体回路4の表面とスル
ーホール9のランド表面と内壁とをエッチングすること
により、下層導体回路4の全表面に粗化面4a、9aを
形成した(図2(a)参照)。エッチング液として、イ
ミダゾール銅(II)錯体10重量部、グリコール酸7重
量部、塩化カリウム5重量部からなるエッチング液(メ
ック社製、メックエッチボンド)を使用した。
(5) After the above substrate is washed with water and acid degreased, it is soft-etched, and then an etching solution is sprayed on both surfaces of the substrate by spraying, so that the surface of the lower conductive circuit 4 and the land surface of the through hole 9 and the inner wall are formed. Thus, roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of lower conductor circuit 4 (see FIG. 2A). As an etching solution, an etching solution (Mec etch bond, manufactured by Mec Co.) consisting of 10 parts by weight of imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride was used.

【0140】(6) 基板の両面に、上記Bの粗化面形成用
樹脂組成物(粘度:1.5Pa・s)をロールコータで
塗布し、水平状態で20分間放置してから、60℃で3
0分の乾燥を行い、粗化面形成用樹脂層2aを形成し
た。さらにこの粗化面形成用樹脂層2aの上に上記Aの
粗化面形成用樹脂組成物(粘度:7Pa・s)をロール
コータを用いて塗布し、水平状態で20分間放置してか
ら、60℃で30分の乾燥を行い、粗化面形成用樹脂層
2bを形成し、厚さ35μmの粗化面形成用樹脂層を形
成した(図2(b)参照)。
(6) The resin composition for forming a roughened surface of the above B (viscosity: 1.5 Pa · s) was applied to both surfaces of a substrate by a roll coater, and allowed to stand in a horizontal state for 20 minutes. 3
Drying was performed for 0 minutes to form a roughened surface forming resin layer 2a. Further, the roughened surface forming resin composition (viscosity: 7 Pa · s) is applied on the roughened surface forming resin layer 2 a using a roll coater, and left in a horizontal state for 20 minutes. Drying was performed at 60 ° C. for 30 minutes to form a roughened surface forming resin layer 2b, and a 35 μm thick roughened surface forming resin layer was formed (see FIG. 2B).

【0141】(7) 上記(6) で粗化面形成用樹脂層を形成
した基板1の両面に、直径85μmの黒円が印刷された
フォトマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯により
500mJ/cm2 強度で露光した後、DMDG溶液で
スプレー現像した。この後、さらに、この基板を超高圧
水銀灯により3000mJ/cm2 強度で露光し、10
0℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の
加熱処理を施し、フォトマスクフィルムに相当する寸法
精度に優れた直径85μmのバイアホール用開口6を有
する厚さ35μmの層間樹脂絶縁層2を形成した(図2
(c)参照)。
(7) A photomask film on which a black circle having a diameter of 85 μm is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate 1 on which the resin layer for forming a roughened surface has been formed in the above (6), and is 500 mJ / cm by an ultra-high pressure mercury lamp. After exposure at two intensities, it was spray-developed with a DMDG solution. Thereafter, the substrate was further exposed to 3000 mJ / cm 2 intensity using an ultrahigh pressure mercury lamp,
Heat treatment at 0 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours, and a 35 μm thick interlayer resin having a via hole opening 6 of 85 μm in diameter and excellent in dimensional accuracy equivalent to a photomask film. An insulating layer 2 was formed (FIG. 2
(C)).

【0142】(8) バイアホール用開口6を形成した基板
を、800g/lのクロム酸を含む70℃の溶液に19
分間浸漬し、層間樹脂絶縁層2の表面に存在するエポキ
シ樹脂粒子を溶解除去することにより、層間樹脂絶縁層
2の表面を粗面(深さ3μm)とした(図2(d)参
照)。
(8) The substrate in which the via hole opening 6 was formed was placed in a 70 ° C. solution containing 800 g / l chromic acid for 19 hours.
For 2 minutes, the surface of the interlayer resin insulation layer 2 was roughened (3 μm depth) by dissolving and removing the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulation layer 2 (see FIG. 2D).

【0143】(9) 次に、上記処理を終えた基板を、中和
溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いした。さら
に、粗面化処理した該基板の表面に、パラジウム触媒
(アトテック製)を付与することにより、層間樹脂絶縁
層2の表面およびバイアホール用開口6の内壁面に触媒
核を付着させた。
(9) Next, the substrate after the above treatment was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water. Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 2 and the inner wall surface of the via hole opening 6.

【0144】(10)次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.8μmの
無電解銅めっき層12を形成した(図3(a)参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 NiSO4 0.003 mol/l 酒石酸 0.200 mol/l 硫酸銅 0.030 mol/l HCHO 0.050 mol/l NaOH 0.100 mol/l α、α′−ビピリジル 40 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.10 g/l 〔無電解めっき条件〕 35℃の液温度で40分
(10) Next, the substrate was immersed in an aqueous electroless copper plating solution having the following composition to form an electroless copper plating layer 12 having a thickness of 0.8 μm on the entire rough surface (FIG. 3 (a)). )reference). [Electroless plating aqueous solution] NiSO 4 0.003 mol / l tartaric acid 0.200 mol / l copper sulfate 0.030 mol / l HCHO 0.050 mol / l NaOH 0.100 mol / l α, α'-bipyridyl 40 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.10 g / l [Electroless plating conditions] 40 minutes at a liquid temperature of 35 ° C

【0145】(11)次に、市販の感光性ドライフィルムを
無電解銅めっき層12に貼り付け、マスクを載置して、
100mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム
水溶液で現像処理することにより、厚さ25μmのめっ
きレジスト3を設けた(図3(b)参照)。
(11) Next, a commercially available photosensitive dry film is attached to the electroless copper plating layer 12, and a mask is placed thereon.
Exposure was performed at 100 mJ / cm 2 , and development treatment was performed with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution to provide a plating resist 3 having a thickness of 25 μm (see FIG. 3B).

【0146】(12)ついで、基板を50℃の水で洗浄して
脱脂し、25℃の水で水洗後、さらに硫酸で洗浄してか
ら、以下の条件で電解銅めっきを施し、電解銅めっき層
13を形成した(図4(c)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドGL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 度
(12) Then, the substrate was washed with water at 50 ° C., degreased, washed with water at 25 ° C., further washed with sulfuric acid, and then subjected to electrolytic copper plating under the following conditions. The layer 13 was formed (see FIG. 4C). [Aqueous electrolytic plating solution] Sulfuric acid 2.24 mol / l Copper sulfate 0.26 mol / l Additive 19.5 ml / l (Acapec Japan, Capparaside GL) [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes temperature 22 ± 2 degrees

【0147】(13)さらに、めっきレジスト3を5%KO
Hで剥離除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解
めっき層12を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング
処理して溶解除去し、独立の導体回路5(バイアホール
7を含む)とした(図3(d)参照)。
(13) Further, the plating resist 3 is coated with 5% KO
After stripping and removing with H, the electroless plating layer 12 under the plating resist 3 was dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to form an independent conductor circuit 5 (including the via hole 7). (See FIG. 3D).

【0148】(14)上記 (5)と同様の処理を行い、第二銅
錯体と有機酸とを含有するエッチング液によって、粗化
面を形成した(図4(a)参照)。 (15)上記 (6)〜(14)の工程を繰り返すことにより、さら
に上層の導体回路を形成し、多層配線板を得た(図4
(b)〜図5(b)参照)。
(14) The same treatment as in the above (5) was performed, and a roughened surface was formed with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid (see FIG. 4A). (15) By repeating the above steps (6) to (14), a conductor circuit of a further upper layer was formed, and a multilayer wiring board was obtained (FIG. 4).
(B) to FIG. 5 (b)).

【0149】(16)次に、ソルダーレジスト組成物を以下
の方法により調製した。 次に、ジエチレングリコールジメチルエーテル(DMD
G)に60重量%の濃度になるように溶解させた、クレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社製)のエ
ポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマ
ー(分子量:4000)46.67重量部、メチルエチ
ルケトンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型
エポキシ樹脂(油化シェル社製、エピコート 100
1)6.67重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成社
製、2E4MZ−CN)1.6重量部、2官能アクリル
モノマー4.5重量部、同じく多価アクリルモノマー
(共栄化学社製、DPE6A)1.5重量部、アクリル
酸エステル重合物からなるレベリング剤(共栄化学社
製、ポリフローNo.75)0.36重量部を容器にと
り、攪拌、混合して混合組成物を調製し、この混合組成
物に対して光重合開始剤としてベンゾフェノン(関東化
学社製)2.0重量部、光増感剤としてミヒラーケトン
(関東化学社製)0.2重量部、DMDG0.6重量部
を加えることにより、粘度を25℃で1.4±0.3P
a・sに調整したソルダーレジスト組成物を調製した。
なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計器社製、DVL
−B型)で60rpmの場合はローターNo.4、6r
pmの場合はローターNo.3によった。
(16) Next, a solder resist composition was prepared by the following method. Next, diethylene glycol dimethyl ether (DMD
G), a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), which is dissolved to a concentration of 60% by weight, and a sensitized oligomer (molecular weight: 4000) having 50% of epoxy groups acrylated. 80 parts by weight of bisphenol A type epoxy resin dissolved in methyl ethyl ketone (manufactured by Yuka Shell Co., Epicoat 100
1) 6.67 parts by weight, 1.6 parts by weight of imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 4.5 parts by weight of bifunctional acrylic monomer, and similarly polyvalent acrylic monomer (DPE6A, manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd.) 1.5 parts by weight, 0.36 parts by weight of a leveling agent (Polyflow No. 75, manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd.) made of an acrylic acid ester polymer is placed in a container, stirred and mixed to prepare a mixed composition. By adding 2.0 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photopolymerization initiator, 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) and 0.6 parts by weight of DMDG to the product, Viscosity 1.4 ± 0.3P at 25 ° C
A solder resist composition adjusted to a · s was prepared.
The viscosity was measured using a B-type viscometer (DVL, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.).
-B type) and at 60 rpm, the rotor No. 4, 6r
pm, the rotor No. According to 3.

【0150】(17)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で20分間の条件で乾燥処理を行
った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画され
た厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト層に密
着させて900mJ/cm2 の紫外線で露光し、純水現
像処理し、直径125μmの開口を形成した。そして、
さらに、3000mJ/cm2 の条件でUVキュアし、
80℃で1時間、100℃で1時間、120℃で1時
間、150℃で3時間の条件でそれぞれ加熱処理を行っ
てソルダーレジスト層を硬化させ、開口を有し、その厚
さが25μmのソルダーレジスト層14を形成した。
(17) Next, the above-mentioned solder resist composition was applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm,
After drying at 20 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 20 minutes, a 5 mm-thick photomask on which a pattern of the opening of the solder resist is drawn is brought into close contact with the solder resist layer, and an ultraviolet ray of 900 mJ / cm 2 is applied. And developed with pure water to form an opening having a diameter of 125 μm. And
In addition, UV cure under the condition of 3000 mJ / cm 2 ,
The solder resist layer is cured by performing a heat treatment at 80 ° C. for 1 hour, 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours, and has an opening having a thickness of 25 μm. A solder resist layer 14 was formed.

【0151】(18)次に、ソルダーレジスト層14を形成
した基板を、塩化ニッケル(30g/l)、次亜リン酸
ナトリウム(10g/l)、クエン酸ナトリウム(10
g/l)を含むpH=5の無電解ニッケルめっき液に2
0分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき
層15を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリ
ウム(2g/l)、塩化アンモニウム(75g/l)、
クエン酸ナトリウム(50g/l)、次亜リン酸ナトリ
ウム(10g/l)を含む無電解めっき液に93℃の条
件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層15上に、厚
さ0.03μmの金めっき層16を形成した。
(18) Next, the substrate on which the solder resist layer 14 was formed was replaced with nickel chloride (30 g / l), sodium hypophosphite (10 g / l), and sodium citrate (10 g / l).
g / l) in the electroless nickel plating solution with pH = 5.
This was immersed for 0 minutes to form a nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm in the opening. Further, the substrate was subjected to potassium gold cyanide (2 g / l), ammonium chloride (75 g / l),
It was immersed in an electroless plating solution containing sodium citrate (50 g / l) and sodium hypophosphite (10 g / l) at a temperature of 93 ° C. for 23 seconds to form a 0.03 μm thick nickel plating layer 15 on the nickel plating layer 15. A gold plating layer 16 was formed.

【0152】(19)この後、ソルダーレジスト層14の開
口にはんだペーストを印刷して、200℃でリフローす
ることによりはんだバンプ(はんだ体)17を形成し、
はんだバンプ17を有する多層配線プリント基板を製造
した(図5(c)参照)。
(19) Thereafter, a solder paste is printed in the openings of the solder resist layer 14 and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps (solder bodies) 17.
A multilayer wiring printed board having the solder bumps 17 was manufactured (see FIG. 5C).

【0153】(実施例2) A.層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムの作製 (1) 樹脂組成物Aの調整 まず、赤リン系難燃剤(商品名、ヒシガードCP)1
8.9重量部を、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エ
ポキシ当量469、油化シェルエポキシ社製 エピコー
ト1001)100樹脂に混合し、リン含有ビスフェノ
ールA型エポキシ樹脂を調整した。次に、このリン含有
ビスフェノールA型エポキシ樹脂30重量部とクレゾー
ルノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量215、大
日本インキ化学工業社製 エピクロンN−673)40
重量部とを混合して樹脂組成物Aとした。
Example 2 A. Preparation of Resin Film for Interlayer Resin Insulating Layer (1) Preparation of Resin Composition A First, a red phosphorus-based flame retardant (trade name, Hishigard CP) 1
8.9 parts by weight were mixed with 100 resins of a bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent: 469, Epicoat 1001 manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.) to prepare a phosphorus-containing bisphenol A type epoxy resin. Next, 30 parts by weight of the phosphorus-containing bisphenol A type epoxy resin and 40 cresol novolak type epoxy resins (epoxy equivalent: 215, Epicron N-673 manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.)
Parts by weight and a resin composition A.

【0154】(2) 樹脂組成物Bの調整 トリアジン構造含有フェノールノボラック樹脂(フェノ
ール性水酸基当量120、大日本インキ化学工業社製
フェノライトKA−7052)30重量部を樹脂組成物
Bとした。 (3) 硬化剤成分Cの調整 2−フェニル−4、5−ビス(ヒドロキシメチル)イミ
ダゾール粉砕品1.5重量部を硬化剤成分Cとした。
(2) Preparation of Resin Composition B Triazine structure-containing phenol novolak resin (phenolic hydroxyl equivalent: 120, manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.)
30 parts by weight of phenolite KA-7052) were used as resin composition B. (3) Preparation of Hardener Component C 1.5 parts by weight of a pulverized 2-phenyl-4,5-bis (hydroxymethyl) imidazole product was used as the hardener component C.

【0155】(4) 混合組成物Dの調整 上記樹脂組成物Aと上記樹脂組成物Bとをエチレングリ
コールアセテート20重量部、ソルベントナフサ20重
量部に攪拌しながら加熱溶解させ、そこへ、上記硬化剤
成分Cと末端エポキシ化ポリブタジエンゴム(ナガセ化
成工業社製 デナレックスR−45EPT)15重量部
と微粉砕シリカ2重量部とシリコン系消泡剤0.5重量
部とを添加して混合することにより混合組成物D(エポ
キシ樹脂組成物)を調製した。
(4) Preparation of Mixed Composition D The above resin composition A and the above resin composition B were dissolved by heating in 20 parts by weight of ethylene glycol acetate and 20 parts by weight of solvent naphtha while stirring, and the above-mentioned curing was carried out. By adding and mixing the agent component C, 15 parts by weight of a terminal epoxidized polybutadiene rubber (Denalex R-45EPT manufactured by Nagase Kasei Kogyo Co., Ltd.), 2 parts by weight of finely divided silica, and 0.5 part by weight of a silicon-based antifoaming agent. A mixed composition D (epoxy resin composition) was prepared.

【0156】 (5) 層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムの作製得られた混合
組成物Dを厚さ38μmのPETフィルム上に乾燥後の
厚さが50μmとなるようにロールコーターを用いて塗
布した後、80〜120℃で10分間乾燥させることに
より、層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを作製した。な
お、得られた層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムの乾燥後の
リンの含有量は、4重量%である。
(5) Preparation of Resin Film for Interlayer Resin Insulating Layer The obtained mixed composition D was applied on a 38 μm-thick PET film using a roll coater so that the thickness after drying was 50 μm. At 80 to 120 ° C. for 10 minutes to produce a resin film for an interlayer resin insulating layer. The phosphorus content of the obtained resin film for an interlayer resin insulation layer after drying was 4% by weight.

【0157】B.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ1.0mmのガラスエポキシ樹脂またはBT
(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両
面に18μmの銅箔8がラミネートされている銅張積層
板を出発材料とした(図6(a)参照)。まず、この銅
貼積層板をパターン状にエッチングすることにより、基
板1の両面に下層導体回路4を形成した。
B. Manufacturing method of printed wiring board (1) 1.0 mm thick glass epoxy resin or BT
A starting material was a copper-clad laminate in which 18 μm copper foils 8 were laminated on both sides of a substrate 1 made of (bismaleimide triazine) resin (see FIG. 6A). First, the copper-clad laminate was etched in a pattern to form a lower conductive circuit 4 on both surfaces of the substrate 1.

【0158】(2) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソ
フトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面
にスプレイで吹きつけ、搬送ロールで基板表面にエッチ
ング液を搬送し、下層導体回路4の表面をエッチングす
ることにより、下層導体回路4の全表面に粗化面4aを
形成した(図6(b)参照)。エッチング液としては、
イミダゾール銅(II)錯体10重量部、グリコール酸
7重量部、塩化カリウム5重量部からなるエッチング液
(メック社製、メックエッチボンド)を使用した。
(2) The substrate was washed with water and acid degreased, and then soft-etched. Then, an etching solution was sprayed on both sides of the substrate by spraying, and the etching solution was conveyed to the substrate surface by conveyance rolls. Is etched to form a roughened surface 4a on the entire surface of the lower conductive circuit 4 (see FIG. 6B). As an etchant,
An etching solution (Mec etch bond, manufactured by Mec) comprising 10 parts by weight of imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride was used.

【0159】(3) 基板の両面に、Aで作製した基板より
少し大きめの層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを基板上に
載置し、圧力4kgf/cm2 、温度80℃、圧着時間
10秒で仮圧着して裁断した後、さらに、以下の条件で
真空ラミネーター装置を用いて貼り付けることにより層
間樹脂絶縁層用樹脂フィルムの層を形成した(図6
(c)参照)。すなわち、層間樹脂絶縁層用樹脂フィル
ムを基板上に載置し、真空度0.5Torr、圧力4k
gf/cm2 、温度80℃、圧着時間60秒で本圧着
し、その後、170℃で30分間熱硬化させた。
(3) On both sides of the substrate, a resin film for an interlayer resin insulating layer slightly larger than the substrate prepared in A was placed on the substrate, and the pressure was 4 kgf / cm 2 , the temperature was 80 ° C., and the compression time was 10 seconds. After temporary compression bonding and cutting, a layer of a resin film for an interlayer resin insulation layer was formed by bonding using a vacuum laminator under the following conditions (FIG. 6).
(C)). That is, a resin film for an interlayer resin insulation layer is placed on a substrate, and the degree of vacuum is 0.5 Torr and the pressure is 4 k.
The final press bonding was performed at gf / cm 2 , at a temperature of 80 ° C. and a pressing time of 60 seconds, and thereafter, thermosetting was performed at 170 ° C. for 30 minutes.

【0160】(4) 次に、層間樹脂絶縁層用樹脂フィルム
の層上に、厚さ1.2mmの貫通孔が形成されたマスク
を介して、波長10.4μmのCO2 ガスレーザにて、
ビーム径4.0mm、トップハットモード、パルス幅
8.0μ秒、マスクの貫通孔の径1.0mm、1ショッ
トの条件で、直径80μmのバイアホール用開口6を形
成し、層間樹脂絶縁層2とした。さらに、この層間樹脂
絶縁層2の形成された基板をドリル削孔し、貫通孔18
を形成した(図6(d)参照)。
(4) Next, a CO 2 gas laser having a wavelength of 10.4 μm was applied through a mask having a through-hole having a thickness of 1.2 mm on a resin film for an interlayer resin insulating layer.
Under the conditions of a beam diameter of 4.0 mm, a top hat mode, a pulse width of 8.0 μsec, a diameter of a through hole of the mask of 1.0 mm, and one shot, an opening 6 for a via hole having a diameter of 80 μm is formed. And Further, the substrate on which the interlayer resin insulating layer 2 is formed is drilled to form a through hole 18.
Was formed (see FIG. 6D).

【0161】(5) バイアホール用開口6、および、貫通
孔18を形成した基板を、60g/lの過マンガン酸を
含む80℃の溶液に10分間浸漬し、層間樹脂絶縁層2
の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去すること
により、層間樹脂絶縁層2の表面を粗面とした(図7
(a)参照)。さらに、粗面化処理(粗化深さ6μm)
した該基板の表面にパラジウム触媒(アトテック社製)
を付与することにより、層間樹脂絶縁層2および貫通孔
18の表面、並びに、バイアホール用開口の内壁面6に
触媒核を付着させた。
(5) The substrate in which the via hole opening 6 and the through hole 18 were formed was immersed in a solution containing 60 g / l of permanganic acid at 80 ° C. for 10 minutes to form the interlayer resin insulating layer 2.
The surface of the interlayer resin insulating layer 2 was roughened by dissolving and removing the epoxy resin particles present on the surface of FIG.
(A)). Furthermore, surface roughening treatment (roughening depth 6 μm)
Palladium catalyst (made by Atotech) on the surface of the substrate
The catalyst nuclei were attached to the surfaces of the interlayer resin insulating layer 2 and the through holes 18 and the inner wall surfaces 6 of the via hole openings.

【0162】(6) 次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6〜3.
0μmの無電解銅めっき膜12aを形成した(図7
(b)参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 NiSO4 0.003 mol/l 酒石酸 0.200 mol/l 硫酸銅 0.030 mol/l HCHO 0.050 mol/l NaOH 0.100 mol/l α、α′−ビピリジル 40 mg/l ポリエチレングリコール(PEG) 0.10 g/l 〔無電解めっき条件〕 35℃の液温度で40分
(6) Next, the substrate is immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition, and has a thickness of 0.6 to 3.
A 0 μm electroless copper plating film 12a was formed (FIG. 7).
(B)). [Electroless plating aqueous solution] NiSO 4 0.003 mol / l tartaric acid 0.200 mol / l copper sulfate 0.030 mol / l HCHO 0.050 mol / l NaOH 0.100 mol / l α, α'-bipyridyl 40 mg / l Polyethylene glycol (PEG) 0.10 g / l [Electroless plating conditions] 40 minutes at a liquid temperature of 35 ° C

【0163】(7) 無電解めっき膜12aを形成した基板
を水洗いし、乾燥した後、NaOH(10g/l)、N
aClO2 (40g/l)、Na3 PO4 (6g/l)
を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処理、およ
び、NaOH(10g/l)、NaBH4 (6g/l)
を含む水溶液を還元浴とする還元処理を行い、無電解め
っき膜12aの全表面に粗化面を形成した。
(7) The substrate on which the electroless plated film 12a was formed was washed with water and dried, and then NaOH (10 g / l), N
aClO 2 (40 g / l), Na 3 PO 4 (6 g / l)
Blackening to blackening bath (oxidizing bath) an aqueous solution containing, and, NaOH (10g / l), NaBH 4 (6g / l)
A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing Pb as a reduction bath to form a roughened surface on the entire surface of the electroless plating film 12a.

【0164】(8) 上記Bに記載した樹脂充填剤を調製し
た後、下記の方法により調製後24時間以内に、スルー
ホール29内に樹脂充填剤10を充填した。すなわち、
スキージを用いてスルーホール29内に樹脂充填剤を押
し込んだ後、100℃、20分の条件で乾燥させた。乾
燥終了後、バフ研磨を施すことにより、無電解めっき膜
12aの表面および樹脂充填剤の表層部10aを平坦化
した。次いで、100℃で1時間、120℃で3時間、
150℃で1時間、180℃で7時間の加熱処理を行っ
て樹脂充填剤10を硬化した(図7(c)参照)。
(8) After preparing the resin filler described in B above, the resin filler 10 was filled in the through hole 29 within 24 hours after the preparation by the following method. That is,
After the resin filler was pushed into the through hole 29 using a squeegee, it was dried at 100 ° C. for 20 minutes. After the drying, buffing was performed to flatten the surface of the electroless plating film 12a and the surface layer portion 10a of the resin filler. Next, at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 3 hours,
Heat treatment was performed at 150 ° C. for 1 hour and at 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler 10 (see FIG. 7C).

【0165】(9) 次に、樹脂充填剤の表層部10aにパ
ラジウム触媒(アトテック社製)を付与することによ
り、樹脂充填剤の表層部10aに触媒核を付着させた。
さらに、上記(6) と同様の条件で無電解めっきを行い、
上記(6) で形成した無電解めっき膜12aと樹脂充填剤
の表層部10aとの上に、さらに厚さ0.6〜3.0μ
mの無電解めっき膜12bを形成した(図7(d)参
照)。この工程により、スルーホール29の上に蓋めっ
き層を形成することができた。
(9) Next, a palladium catalyst (manufactured by Atotech Co.) was applied to the surface layer 10a of the resin filler, whereby catalyst nuclei were attached to the surface layer 10a of the resin filler.
Further, electroless plating is performed under the same conditions as in (6) above,
On the electroless plating film 12a formed in the above (6) and the surface portion 10a of the resin filler, a thickness of 0.6 to 3.0 μm is further added.
m of the electroless plating film 12b was formed (see FIG. 7D). By this step, a cover plating layer could be formed on the through hole 29.

【0166】(10)市販の感光性ドライフィルムを無電解
銅めっき膜12bに貼り付け、マスクを載置して、10
0mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶
液で現像処理することにより、厚さ30μmのめっきレ
ジスト3を設けた(図8(a)参照)。
(10) A commercially available photosensitive dry film is adhered to the electroless copper plating film 12b, and a mask is placed thereon.
Exposure was performed at 0 mJ / cm 2 , and development was performed with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution to provide a plating resist 3 having a thickness of 30 μm (see FIG. 8A).

【0167】(11)ついで、基板を50℃の水で洗浄して
脱脂し、25℃の水で水洗後、さらに硫酸で洗浄してか
ら、以下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ20μmの
電解銅めっき膜13を形成した(図8(b)参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドHL) 〔電解めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
(11) Then, the substrate was washed with water at 50 ° C., degreased, washed with water at 25 ° C., further washed with sulfuric acid, and then subjected to electrolytic copper plating under the following conditions to give a thickness of 20 μm. Was formed (see FIG. 8B). [Electroplating aqueous solution] sulfuric acid 2.24 mol / l copper sulfate 0.26 mol / l additive 19.5 ml / l (manufactured by Atotech Japan, Capparaside HL) [electroplating conditions] current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes Temperature 22 ± 2 ℃

【0168】(12)めっきレジスト3を5%NaOHで剥
離除去した後、そのめっきレジスト3下の無電解めっき
膜12a、12bを硫酸と過酸化水素の混合液でエッチ
ング処理して溶解除去し、無電解銅めっき膜12と電解
銅めっき膜13からなる厚さ18μmの導体回路(バイ
アホール7を含む)5を形成した(図8(c)参照)。
(12) After the plating resist 3 is peeled and removed with 5% NaOH, the electroless plating films 12a and 12b under the plating resist 3 are dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide. A conductor circuit (including the via hole 7) 5 having a thickness of 18 μm including the electroless copper plating film 12 and the electrolytic copper plating film 13 was formed (see FIG. 8C).

【0169】(13)(5) と同様の処理を行い、第二銅錯体
と有機酸とを含有するエッチング液によって、粗化面を
形成した(図8(d)参照)。(14)上記 (6)〜(13)の工
程を繰り返すことにより、さらに上層の導体回路を形成
し、多層配線板を得た(図9(a)〜図10(a)参
照)。
(13) The same treatment as in (5) was performed, and a roughened surface was formed with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid (see FIG. 8D). (14) By repeating the above steps (6) to (13), a conductor circuit of an upper layer was further formed to obtain a multilayer wiring board (see FIGS. 9A to 10A).

【0170】(15)次に、実施例1と同様にしてソルダー
レジスト組成物を調整し、その後、多層配線基板の両面
に、上記ソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗
布し、70℃で20分間、70℃で20分間の条件で乾
燥処理を行った後、ソルダーレジスト開口部のパターン
が描画された厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジ
スト層に密着させて900mJ/cm2 の紫外線で露光
し、純水現像処理し、125μmの直径の開口を形成し
た。そして、さらに、3000mJ/cm2 の条件でU
Vキュアし、80℃で1時間、100℃で1時間、12
0℃で1時間、150℃で3時間の条件でそれぞれ加熱
処理を行ってソルダーレジスト層を硬化させ、開口を有
し、その厚さが25μmのソルダーレジストパターン層
14を形成した。
(15) Next, a solder resist composition was prepared in the same manner as in Example 1. Thereafter, the solder resist composition was applied to both surfaces of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm, and then heated at 70 ° C. After performing a drying process for 20 minutes at 70 ° C. for 20 minutes, a 5 mm-thick photomask on which a pattern of a solder resist opening is drawn is brought into close contact with the solder resist layer and exposed to ultraviolet light of 900 mJ / cm 2. Then, the resultant was subjected to pure water development to form an opening having a diameter of 125 μm. Then, under the condition of 3000 mJ / cm 2 , U
V cure, 80 ° C for 1 hour, 100 ° C for 1 hour, 12
Heat treatment was performed at 0 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 3 hours to cure the solder resist layer, thereby forming a solder resist pattern layer 14 having an opening and a thickness of 25 μm.

【0171】(16)次に、ソルダーレジスト層14を形成
した基板を、塩化ニッケル(2.3×10-1mol/
l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8×10-1mol/
l)、クエン酸ナトリウム(1.6×10-1mol/
l)を含むpH=4.5の無電解ニッケルめっき液に2
0分間浸漬して、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき
層15を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリ
ウム(7.6×10-3mol/l)、塩化アンモニウム
(1.9×10-1mol/l)、クエン酸ナトリウム
(1.2×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム
(1.7×10-1mol/l)を含む無電解金めっき液
に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッケルめっき
層15上に、厚さ0.03μmの金めっき層16を形成
した。
(16) Next, the substrate on which the solder resist layer 14 was formed was coated with nickel chloride (2.3 × 10 -1 mol / mol).
l), sodium hypophosphite (2.8 × 10 −1 mol /
l), sodium citrate (1.6 × 10 −1 mol /
2) in the electroless nickel plating solution having pH = 4.5 containing l)
This was immersed for 0 minutes to form a nickel plating layer 15 having a thickness of 5 μm in the opening. Furthermore, the substrate gold potassium cyanide (7.6 × 10 -3 mol / l ), ammonium chloride (1.9 × 10 -1 mol / l ), sodium citrate (1.2 × 10 -1 mol / l), immersed in an electroless gold plating solution containing sodium hypophosphite (1.7 × 10 -1 mol / l) for 7.5 minutes at 80 ° C. A gold plating layer 16 of 0.03 μm was formed.

【0172】(17)この後、基板のICチップを載置する
面のソルダーレジスト層14の開口に、スズ−鉛を含有
するはんだペーストを印刷し、さらに他方の面のソルダ
ーレジスト層14の開口にスズ−アンチモンを含有する
はんだペーストを印刷し、該はんだペーストにピンを載
置した後、200℃でリフローすることにより、ICチ
ップを載置する面にはんだバンプ(はんだ体)17を形
成し、他方の面にはPGAを形成し、多層配線プリント
基板を製造した(図10(b)参照)。
(17) Thereafter, a solder paste containing tin-lead is printed on the opening of the solder resist layer 14 on the surface of the substrate on which the IC chip is to be mounted, and the opening of the solder resist layer 14 on the other surface is further printed. A solder paste containing tin-antimony is printed on the solder paste, the pins are placed on the solder paste, and then reflowed at 200 ° C. to form solder bumps (solder bodies) 17 on the surface on which the IC chip is placed. PGA was formed on the other surface, and a multilayer wiring printed board was manufactured (see FIG. 10B).

【0173】実施例3 実施例1のAおよびBの工程において、(1) 、(2) およ
び(3) で調整した混合組成物を混合する際に、平均粒径
0.05μmのアルミナ3重量部を添加して混合するこ
とにより、アルミニウム化合物を含む上層の粗化面形成
用樹脂組成物および下層の粗化面形成用樹脂組成物を調
製した以外は、実施例1と同様にして多層プリント配線
板を製造した。
Example 3 In the steps A and B of Example 1, when the mixed compositions prepared in (1), (2) and (3) were mixed, 3 parts by weight of alumina having an average particle size of 0.05 μm was used. Parts were added and mixed to prepare the upper layer roughened surface forming resin composition containing the aluminum compound and the lower layer roughened surface forming resin composition, in the same manner as in Example 1, except that the resin composition was prepared. A wiring board was manufactured.

【0174】実施例4実施例2のAの(4) の工程におい
て、さらに、平均粒径0.05μmのアルミナ 3重量部を添加して混合することにより、アルミニウム
化合物を含む混合組成物Dを調整した以外は、実施例2
と同様にして多層プリント配線板を製造した。
Example 4 In the step (4) of A in Example 2, 3 parts by weight of alumina having an average particle diameter of 0.05 μm was further added and mixed to obtain a mixed composition D containing an aluminum compound. Example 2 except for adjustment
A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as described above.

【0175】比較例1 実施例1のAおよびBの工程において、赤リン系難燃剤
を使用しなかった以外は、実施例1と同様にして多層プ
リント配線板を製造した。
Comparative Example 1 A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the red phosphorus-based flame retardant was not used in the steps A and B of Example 1.

【0176】比較例2 実施例2のAの工程において、赤リン系難燃剤を使用し
なかった以外は、実施例2と同様にして多層プリント配
線板を製造した。
Comparative Example 2 A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 2 except that the red phosphorus-based flame retardant was not used in the step A of Example 2.

【0177】比較例3 実施例1のAの(1) の工程において、赤リン系難燃剤を
35.0重量部配合し、Bの(1) の工程において、赤リ
ン系難燃剤を38.0重量部配合した以外は、実施例1
と同様にして多層プリント配線板を製造した。なお、形
成した層間樹脂絶縁層のリンの含有量は、15重量%で
ある。
Comparative Example 3 In step (A) of Example 1, 35.0 parts by weight of a red phosphorus-based flame retardant was blended, and in step (1) B, a red phosphorus-based flame retardant was added. Example 1 except that 0 parts by weight were blended.
A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as described above. Note that the phosphorus content of the formed interlayer resin insulating layer is 15% by weight.

【0178】比較例4 実施例2のAの(1) の工程において、赤リン系難燃剤を
147重量部配合した以外は、実施例2と同様にして多
層プリント配線板を製造した。なお、形成した層間樹脂
絶縁層のリンの含有量は、15重量%である。
Comparative Example 4 A multilayer printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 2 except that 147 parts by weight of a red phosphorus-based flame retardant was used in the step (1) of A of Example 2. Note that the phosphorus content of the formed interlayer resin insulating layer is 15% by weight.

【0179】つぎに、実施例1〜4および比較例1〜4
で製造した多層プリント配線板について、以下の方法に
より、難燃性、開口性、開口の内壁面の形状、層間樹脂
絶縁層と導体回路との間での剥離の発生や層間樹脂絶縁
層でのクラックの発生の有無を評価した。その結果を表
1に示した。
Next, Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 4
For the multilayer printed wiring board manufactured in the above, by the following methods, the flame retardancy, the opening property, the shape of the inner wall surface of the opening, the occurrence of peeling between the interlayer resin insulating layer and the conductive circuit and the The presence or absence of cracks was evaluated. The results are shown in Table 1.

【0180】評価方法 (1)難燃性の評価 UL94の規格に準拠して、多層プリント配線板をカッ
トして垂直法により難燃性試験を行い、以下の評価基準
で評価する。なお、試験片の寸法は、12.7mm×1
27mm×指定厚さとした。 評価基準 ○:94V−0の判定基準に合格。 ×:94V−0の判定基準に不合格。
[0180]Evaluation method  (1) Evaluation of flame retardancy The multilayer printed wiring board is cut in accordance with UL94 standard.
And perform a flame retardancy test by the vertical method.
To evaluate. The dimensions of the test piece were 12.7 mm × 1
27 mm × specified thickness. Evaluation criteria :: Passed the criteria of 94V-0. X: Failure of the criteria of 94V-0.

【0181】(2)開口性の評価 実施例1〜4および比較例1〜4で、バイアホール用開
口を形成し、硬化させた後、開口部にめっき層を形成す
る前に開口の形状を顕微鏡観察し、さらに、多層プリン
ト配線板の製造終了後、該多層プリント配線板のバイア
ホールが形成されている部分で切断し、切断した断面を
顕微鏡で観察することにより、層間樹脂絶縁層に形成し
た開口の断面の形状を顕微鏡観察し、以下の評価基準で
評価する。
(2) Evaluation of Opening Properties In Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 4, openings for via holes were formed and cured, and the shape of the openings was changed before forming a plating layer in the openings. Observed under a microscope, and further, after the production of the multilayer printed wiring board is completed, the multilayer printed wiring board is cut at a portion where a via hole is formed, and the cut section is observed with a microscope to form an interlayer resin insulating layer. The cross-sectional shape of the opening thus formed is observed with a microscope and evaluated according to the following evaluation criteria.

【0182】評価基準 ○:平面視した開口の形状が所望のものであり、開口か
ら露出した導体回路表面に樹脂残りがない。 ×:開口の形状が先細り形状となっており、開口から露
出した導体回路表面に樹脂残りがあるか、または、未開
口である。
Evaluation Criteria 開口: The shape of the opening in plan view is desired, and there is no resin residue on the conductor circuit surface exposed from the opening. ×: The shape of the opening is tapered, and there is a resin residue on the surface of the conductor circuit exposed from the opening, or the opening is unopened.

【0183】(3)開口の内壁面の形状の観察 実施例1〜4および比較例1〜4で、バイアホール用開
口をを形成した後、樹脂絶縁層表面に粗化面を形成する
前に、樹脂絶縁層を有する配線板を開口が形成されてい
る部分で切断し、切断した断面を顕微鏡で観察すること
により、開口の内壁面の形状を観察し、以下の評価基準
で評価する。
(3) Observation of the shape of the inner wall surface of the opening In each of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 4, after forming the opening for the via hole, and before forming the roughened surface on the surface of the resin insulating layer. Then, the wiring board having the resin insulating layer is cut at the portion where the opening is formed, and the cut cross section is observed with a microscope to observe the shape of the inner wall surface of the opening, and evaluated according to the following evaluation criteria.

【0184】評価基準 ○:内壁面の形状が滑らかである。 ×:内壁面が不均一な凹凸を有する。Evaluation criteria :: The shape of the inner wall surface is smooth. X: The inner wall surface has unevenness.

【0185】(4)剥離やクラックの発生の有無の観察 上記(2)と同様にして、製造終了後の多層プリント配
線板を切断し、その断面を顕微鏡観察することにより、
層間樹脂絶縁層と導体回路との間で剥離が発生している
か否かを観察し、さらに、層間樹脂絶縁層でクラックが
発生しているか否かを観察する。また、上記多層プリン
ト配線板について、−65℃の雰囲気下に3分間維持し
た後、130℃の雰囲気下で3分間維持するサイクルを
1000回繰り返すヒートサイクル試験を行い、その
後、上記と同様にして、層間樹脂絶縁層と導体回路との
間で剥離が発生しているか否かを観察し、さらに、層間
樹脂絶縁層でクラックが発生しているか否かを観察す
る。
(4) Observation of Presence or Absence of Peeling or Crack In the same manner as in (2) above, the multilayer printed wiring board after completion of the production was cut, and the cross section was observed with a microscope.
It is observed whether or not peeling has occurred between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit, and further, whether or not cracks have occurred in the interlayer resin insulating layer. In addition, the multilayer printed wiring board was subjected to a heat cycle test in which a cycle of maintaining at −65 ° C. for 3 minutes and then maintaining at 130 ° C. for 3 minutes was repeated 1,000 times, and then, in the same manner as above. Then, it is observed whether peeling has occurred between the interlayer resin insulating layer and the conductor circuit, and further, whether cracks have occurred in the interlayer resin insulating layer.

【0186】[0186]

【表1】 [Table 1]

【0187】表1に示したように、実施例1〜4で製造
した多層プリント配線板は、UL94の試験規格におけ
る94V−0の判定基準に合格するものである。また、
該多層プリント配線板は、バイアホール用開口等を形成
する際の開口性に優れ、開口の内壁面の形状も滑らかで
あり、また、クラックが発生したり、導体回路との間に
剥離が発生したりすることがない。
As shown in Table 1, the multilayer printed wiring boards manufactured in Examples 1 to 4 pass the 94V-0 criterion in the UL94 test standard. Also,
The multilayer printed wiring board is excellent in opening property when forming an opening for a via hole and the like, the shape of the inner wall surface of the opening is smooth, and cracks occur and peeling occurs with a conductor circuit. Nothing to do.

【0188】これに対して、比較例1〜2で製造した多
層プリント配線板は、燃焼時間が長いため、94V−0
の判定基準に合格せず、難燃性に劣るものである。ま
た、比較例2の多層プリント配線板は、リン等を含んで
いないため、レーザ照射により開口を形成した際に、内
壁面の形状が不均一な凹凸を有するものとなった。
On the other hand, the multilayer printed wiring boards manufactured in Comparative Examples 1 and 2 had a long burning time, and thus had a 94V-0
Does not pass the judgment criteria, and is inferior in flame retardancy. Further, since the multilayer printed wiring board of Comparative Example 2 did not contain phosphorus or the like, when the opening was formed by laser irradiation, the shape of the inner wall surface had unevenness.

【0189】また、比較例3〜4の多層プリント配線板
は、UL94の試験規格における94V−0の判定基準
に合格するものの開口性が悪く、先細り形状や未開口の
開口が見られた。これは、リンの配合量が多いためであ
ると考えられる。さらに、ヒートサイクル試験後に剥離
やクラックが発生しており、これは、ヒートサイクル試
験時にリンが移動することに起因するものと考えられ
る。
The multilayer printed wiring boards of Comparative Examples 3 and 4 passed the criterion of 94V-0 in the UL94 test standard, but had poor opening properties, and exhibited tapered shapes and unopened openings. This is considered to be due to the large amount of phosphorus. Furthermore, peeling and cracks occurred after the heat cycle test, which is considered to be caused by phosphorus movement during the heat cycle test.

【0190】[0190]

【発明の効果】以上説明したように本発明の多層プリン
ト配線板は、難燃性に優れ、導体回路と樹脂絶縁層との
間で剥離が発生したり、樹脂絶縁層にクラックが発生し
たりしにくいため接続信頼性に優れる。また、本発明の
多層プリント配線板は、バイアホール用開口等を形成す
る際の開口性に優れ、所望の形状の開口を有するもので
あるため、バイアホール等を介した上下の導体回路間の
接続信頼性に優れる。また、本発明の多層プリント配線
板の製造方法は、上述した構成からなるので、本発明の
多層プリント配線板を高い生産性で製造することができ
る。
As described above, the multilayer printed wiring board of the present invention is excellent in flame retardancy, and causes peeling between the conductor circuit and the resin insulating layer and cracks in the resin insulating layer. Connection reliability is excellent. Further, the multilayer printed wiring board of the present invention is excellent in opening property when forming an opening for a via hole and the like and has an opening of a desired shape. Excellent connection reliability. Further, since the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention has the above-described configuration, the multilayer printed wiring board of the present invention can be manufactured with high productivity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 1A to 1D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図2】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 2A to 2D are cross-sectional views showing a part of a manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図3】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 3A to 3D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図4】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 4A to 4C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図5】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図6】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 6A to 6D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図7】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 7A to 7D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図8】(a)〜(d)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 8A to 8D are cross-sectional views illustrating a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図9】(a)〜(c)は、本発明の多層プリント配線
板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 9A to 9C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【図10】(a)〜(b)は、本発明の多層プリント配
線板の製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 10A and 10B are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the multilayer printed wiring board of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 層間樹脂絶縁層(粗化面形成用樹脂層) 3 めっきレジスト 4 下層導体回路 4a 粗化面 5 導体回路 6 バイアホール用開口 7 バイアホール 8 銅箔 9、29 スルーホール 9a 粗化面 10 樹脂充填剤 12 無電解銅めっき層 12a Ni金属層 12b Cu金属層 13 電気めっき層 14 ソルダーレジスト層 15 ニッケルめっき層 16 金めっき層 17 はんだバンプ 19 はんだ 20 ピン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Interlayer resin insulation layer (resin layer for forming a roughened surface) 3 Plating resist 4 Lower layer conductor circuit 4a Roughened surface 5 Conductor circuit 6 Opening for via hole 7 Via hole 8 Copper foil 9, 29 Through hole 9a Roughened surface DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Resin filler 12 Electroless copper plating layer 12a Ni metal layer 12b Cu metal layer 13 Electroplating layer 14 Solder resist layer 15 Nickel plating layer 16 Gold plating layer 17 Solder bump 19 Solder 20 pin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C08K 3/36 C08K 3/36 C08L 101/00 C08L 101/00 H01L 23/12 H05K 3/28 C H05K 3/28 3/38 A 3/38 H01L 23/12 N (72)発明者 豊田 幸彦 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社大垣北工場 Fターム(参考) 4J002 BB001 BD121 CC031 CC101 CD001 CH071 CM041 DA056 DE077 DE147 DE217 DH006 DH016 DJ007 DJ017 FD017 FD136 GQ00 5E314 AA27 AA32 AA36 AA39 AA41 AA42 CC02 CC15 FF02 FF05 FF17 GG08 GG11 GG14 5E343 AA07 AA15 AA16 AA17 AA18 AA19 AA23 BB24 BB44 BB55 BB72 CC33 CC43 CC67 CC73 CC78 DD03 DD33 DD43 DD76 EE02 EE33 EE37 EE52 ER16 ER18 ER33 ER39 FF04 GG13 GG16 5E346 AA12 CC04 CC08 CC09 CC10 CC13 CC14 CC16 DD25 DD47 EE08 EE33 EE39 FF03 FF15 FF18 FF22 GG15 GG17 GG22 HH07 HH18 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) C08K 3/36 C08K 3/36 C08L 101/00 C08L 101/00 H01L 23/12 H05K 3/28 C H05K 3 / 28 3/38 A 3/38 H01L 23/12 N (72) Inventor: Yukihiko Toyoda 1-1, Ibikawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture Ibiden Co., Ltd. Ogaki Kita Plant F-term (reference) 4J002 BB001 BD121 CC031 CC101 CD001 CH071 CM041 DA056 DE077 DE147 DE217 DH006 DH016 DJ007 DJ017 FD017 FD136 GQ00 5E314 AA27 AA32. EE37 EE52 ER16 ER18 ER33 ER39 FF04 GG13 GG16 5E346 AA12 CC04 CC08 CC09 CC10 CC13 CC14 CC16 DD25 DD47 EE08 EE33 EE39 FF03 FF15 FF1 8 FF22 GG15 GG17 GG22 HH07 HH18

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に導体回路と樹脂絶縁層とが順次
形成され、これら導体回路がバイアホールを介して接続
された多層プリント配線板であって、前記樹脂絶縁層
は、リンおよび/またはリン化合物を含むことを特徴と
する多層プリント配線板。
1. A multilayer printed wiring board in which a conductive circuit and a resin insulating layer are sequentially formed on a substrate, and the conductive circuits are connected via via holes, wherein the resin insulating layer includes phosphorus and / or A multilayer printed wiring board comprising a phosphorus compound.
【請求項2】 前記リンは、赤リンである請求項1記載
の多層プリント配線板。
2. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein said phosphorus is red phosphorus.
【請求項3】 前記リンおよびリン化合物は、その粒径
が0.1〜15μmである請求項1または2記載の多層
プリント配線板。
3. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the phosphorus and the phosphorus compound have a particle size of 0.1 to 15 μm.
【請求項4】 前記リンおよびリン化合物の含有量は、
0.5〜10重量%である請求項1、2または3に記載
の多層プリント配線板。
4. The content of the phosphorus and the phosphorus compound is as follows:
The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the content is 0.5 to 10% by weight.
【請求項5】 前記樹脂絶縁層は、ケイ素化合物、アル
ミニウム化合物およびマグネシウム化合物からなる群よ
り選択される少なくとも一種を含む請求項1〜4のいず
れか1に記載の多層プリント配線板。
5. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the resin insulating layer contains at least one selected from the group consisting of a silicon compound, an aluminum compound, and a magnesium compound.
【請求項6】 前記樹脂絶縁層は、エポキシ樹脂、フェ
ノール樹脂、ポリオレフィン系樹脂、ポリフェニレンエ
ーテル(PPE)、ポリフェニレンオキサイド(PP
O)、フッ素樹脂およびポリイミド樹脂からなる群より
選択される少なくとも一種を含む請求項1〜5のいずれ
か1に記載の多層プリント配線板。
6. The resin insulating layer is made of an epoxy resin, a phenol resin, a polyolefin resin, a polyphenylene ether (PPE), a polyphenylene oxide (PP).
The multilayer printed wiring board according to any one of claims 1 to 5, comprising at least one selected from the group consisting of O), a fluorine resin and a polyimide resin.
【請求項7】 前記樹脂絶縁層は、熱硬化性樹脂と熱可
塑性樹脂とからなる樹脂複合体を含む請求項1〜6のい
ずれか1に記載の多層プリント配線板。
7. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the resin insulating layer includes a resin composite made of a thermosetting resin and a thermoplastic resin.
【請求項8】 請求項1〜7のいずれか1に記載の多層
プリント配線板の製造方法であって、少なくとも下記
(1)および(2)の工程を含むことを特徴とする多層
プリント配線板の製造方法。 (1)リンおよび/またはリン化合物を含む未硬化の樹
脂組成物を調製する工程と、(2)導体回路の形成され
た基板または導体回路の形成された樹脂絶縁層上に、前
記未硬化の樹脂組成物を塗布することにより樹脂組成物
の層を形成する工程。
8. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1, comprising at least the following steps (1) and (2): Manufacturing method. (1) a step of preparing an uncured resin composition containing phosphorus and / or a phosphorus compound; and (2) a step of forming the uncured resin composition on a substrate on which a conductor circuit is formed or a resin insulating layer on which a conductor circuit is formed. A step of forming a layer of the resin composition by applying the resin composition;
【請求項9】 請求項1〜7のいずれか1に記載の多層
プリント配線板の製造方法であって、少なくとも下記
(1)および(2)の工程を含むことを特徴とする多層
プリント配線板の製造方法。 (1)リンおよび/またはリン化合物を含む樹脂フィル
ムを作製する工程と、(2)導体回路の形成された基板
または導体回路の形成された樹脂絶縁層上に、前記樹脂
フィルムを圧着することにより樹脂フィルムの層を形成
する工程。
9. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 1, comprising at least the following steps (1) and (2): Manufacturing method. (1) a step of preparing a resin film containing phosphorus and / or a phosphorus compound; and (2) crimping the resin film on a substrate on which a conductor circuit is formed or a resin insulating layer on which a conductor circuit is formed. A step of forming a resin film layer;
【請求項10】 請求項7記載の多層プリント配線板の
製造方法であって、少なくとも下記(1)〜(5)の工
程を含むことを特徴とする多層プリント配線板の製造方
法。 (1)リンおよび/またはリン化合物、並びに、熱硬化
性樹脂を含む樹脂組成物Aを調製する工程と、(2)熱
可塑性樹脂を含む樹脂組成物Bを調製する工程と、
(3)硬化剤を含む硬化剤成分Cを調製する工程と、
(4)前記樹脂組成物A、前記樹脂組成物Bおよび前記
硬化剤成分Cを混練して混合組成物Dを調製した後、前
記混合組成物Dからなる樹脂フィルムEを作製する工程
と、(5)導体回路の形成された基板または導体回路の
形成された樹脂絶縁層上に、前記樹脂フィルムEを圧着
することにより樹脂フィルムEの層を形成する工程。
10. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to claim 7, comprising at least the following steps (1) to (5). (1) a step of preparing a resin composition A containing phosphorus and / or a phosphorus compound and a thermosetting resin; and (2) a step of preparing a resin composition B containing a thermoplastic resin.
(3) a step of preparing a curing agent component C containing a curing agent;
(4) a step of kneading the resin composition A, the resin composition B, and the curing agent component C to prepare a mixed composition D, and then preparing a resin film E made of the mixed composition D; 5) a step of forming a layer of the resin film E by press-bonding the resin film E on a substrate on which the conductor circuit is formed or on a resin insulating layer on which the conductor circuit is formed.
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