JP2001286814A - 粒子膜形成方法 - Google Patents
粒子膜形成方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液体、固体粒子を混合・分散・乳化させた液
体またはガスを混入した液体などの液体ターゲットによ
って微小領域に液体粒子膜または固体粒子膜を形成させ
る方法を提供すること。 【解決手段】 液体1、固体粒子7を混合・分散・乳化
させた液体8またはガスを混入した液体のいずれかをタ
ーゲットとし、このターゲットを一方の極とした電極
に、直流電圧または直流バイアス電圧を有する交流電圧
を印加し、他方の極3方向に微粒子化したターゲットを
放出させ、特定領域にターゲット中に含まれる粒子を堆
積させることにより、液体粒子膜または固体粒子膜を形
成させるようにしたことを特徴としている。
体またはガスを混入した液体などの液体ターゲットによ
って微小領域に液体粒子膜または固体粒子膜を形成させ
る方法を提供すること。 【解決手段】 液体1、固体粒子7を混合・分散・乳化
させた液体8またはガスを混入した液体のいずれかをタ
ーゲットとし、このターゲットを一方の極とした電極
に、直流電圧または直流バイアス電圧を有する交流電圧
を印加し、他方の極3方向に微粒子化したターゲットを
放出させ、特定領域にターゲット中に含まれる粒子を堆
積させることにより、液体粒子膜または固体粒子膜を形
成させるようにしたことを特徴としている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、液体粒子膜また
は固体粒子膜などの粒子膜を形成する方法に関する。
は固体粒子膜などの粒子膜を形成する方法に関する。
【0002】
【従来の技術およびその解決課題】図11は、従来から
知られている電界噴霧の原理を概略的に示すもので、こ
の図において、71は金属製の容器で、その下部にはノ
ズル72が一体的に形成されている。73はノズル72
の下方に設けられる金属板73である。そして、容器7
1内に適宜の液体74を収容して、直流電源75の陽極
側を容器71に接続する一方、直流電源75の陰極側を
金属板73に接続すると、ノズル72から液体74がビ
ーム状75に噴出する。このとき、金属板73を互いに
直交するX方向およびY方向に適宜移動させると、金属
板73の上面に液体の塗膜76が形成される。この電界
噴霧の原理の最も実用的な応用として、静電塗装があ
る。
知られている電界噴霧の原理を概略的に示すもので、こ
の図において、71は金属製の容器で、その下部にはノ
ズル72が一体的に形成されている。73はノズル72
の下方に設けられる金属板73である。そして、容器7
1内に適宜の液体74を収容して、直流電源75の陽極
側を容器71に接続する一方、直流電源75の陰極側を
金属板73に接続すると、ノズル72から液体74がビ
ーム状75に噴出する。このとき、金属板73を互いに
直交するX方向およびY方向に適宜移動させると、金属
板73の上面に液体の塗膜76が形成される。この電界
噴霧の原理の最も実用的な応用として、静電塗装があ
る。
【0003】これは、液体を電極としてこれに直流電圧
を印加すれば、液体に表面張力のエネルギーが消滅し、
表面エネルギーがキャンセルされるため、界面が電位勾
配に応じて自由に変形し、高電界が微小領域に集中する
ことにより、液体自体が空気中に微小粒子として放出さ
れる効果を利用して、液体ターゲット材料を対向電極に
堆積させる技術である。
を印加すれば、液体に表面張力のエネルギーが消滅し、
表面エネルギーがキャンセルされるため、界面が電位勾
配に応じて自由に変形し、高電界が微小領域に集中する
ことにより、液体自体が空気中に微小粒子として放出さ
れる効果を利用して、液体ターゲット材料を対向電極に
堆積させる技術である。
【0004】そして、液体の比抵抗(導電率)との関係
で噴霧状態が変化する。図12は、溶液の導電率と噴霧
状態との関係を示すもので、図中、曲線Aは平均粒子径
の変化を示し、曲線Bは標準変化の変化を示している。
比抵抗が小さいと、液内部のイオンが多いので、微粒子
の形状は、正負電極の選択による液内イオンの大きさと
粒子全体の電荷とのバランスが非常に微妙に影響する。
一方、比抵抗が非常に大きくなると、対向電極側にどこ
までも延びて曳糸状態になる。比抵抗がこの中間である
ときは、図13にも示すように、自然な振動状態とな
り、液滴が対向電極側に分散して噴霧される。
で噴霧状態が変化する。図12は、溶液の導電率と噴霧
状態との関係を示すもので、図中、曲線Aは平均粒子径
の変化を示し、曲線Bは標準変化の変化を示している。
比抵抗が小さいと、液内部のイオンが多いので、微粒子
の形状は、正負電極の選択による液内イオンの大きさと
粒子全体の電荷とのバランスが非常に微妙に影響する。
一方、比抵抗が非常に大きくなると、対向電極側にどこ
までも延びて曳糸状態になる。比抵抗がこの中間である
ときは、図13にも示すように、自然な振動状態とな
り、液滴が対向電極側に分散して噴霧される。
【0005】しかしながら、上述の電界噴霧は、液体を
単に噴霧させるものに過ぎず、液体を霧状にして鋼板な
どの基板に付着させ、溶剤が蒸発し、残留物が塗装状態
になるようにしたものであり、半導体プロセスなどで要
求される様々な材料を精密に制御された状態で堆積させ
る技術には応用することはできないものである。
単に噴霧させるものに過ぎず、液体を霧状にして鋼板な
どの基板に付着させ、溶剤が蒸発し、残留物が塗装状態
になるようにしたものであり、半導体プロセスなどで要
求される様々な材料を精密に制御された状態で堆積させ
る技術には応用することはできないものである。
【0006】ところで、低真空中で離れた二つの電極に
電圧を印加すると、内部に残留するガスは放電電圧のエ
ネルギーを得て励起され、ガスはイオン化される。この
イオン種の電荷によって、イオンは電極側に引き寄せら
れる。ガス体が電極材料と反応しない場合、イオン化さ
れたガスは、電極面に衝突し、電極材料表面の原紙を跳
ね飛ばし、周辺にその電極材料層を形成させることはよ
く知られている。この現象を薄膜形成方法として捉えら
れて、スパッタ方式として最先端の技術として活用され
ている。
電圧を印加すると、内部に残留するガスは放電電圧のエ
ネルギーを得て励起され、ガスはイオン化される。この
イオン種の電荷によって、イオンは電極側に引き寄せら
れる。ガス体が電極材料と反応しない場合、イオン化さ
れたガスは、電極面に衝突し、電極材料表面の原紙を跳
ね飛ばし、周辺にその電極材料層を形成させることはよ
く知られている。この現象を薄膜形成方法として捉えら
れて、スパッタ方式として最先端の技術として活用され
ている。
【0007】現在のスパッタ法は、ガス体としてアルゴ
ンガスなどの不活性ガスが用いられ、アルゴンガス+イ
オンが陰極面(ターゲット面)にぶつかって、ターゲッ
ト材料の表面の原子を飛ばし、陽極面やその他の周辺の
目的とする堆積部分(基板)に跳ね飛ばす。この基板に
堆積した薄膜を半導体プロセスとして利用している。
ンガスなどの不活性ガスが用いられ、アルゴンガス+イ
オンが陰極面(ターゲット面)にぶつかって、ターゲッ
ト材料の表面の原子を飛ばし、陽極面やその他の周辺の
目的とする堆積部分(基板)に跳ね飛ばす。この基板に
堆積した薄膜を半導体プロセスとして利用している。
【0008】そして、金属薄膜を形成する場合には、タ
ーゲットは金属とし、図14(A)に示すように、ター
ゲット金属81が陰極となるように、そして、薄膜82
が形成される基板83が陽極となるように、両者81,
83を直流電源84に接続する。つまり、ターゲットが
金属など導電体である場合には、直流電圧を印加するこ
とによりガス体をイオン化することができる。なお、8
5は放電領域である。
ーゲットは金属とし、図14(A)に示すように、ター
ゲット金属81が陰極となるように、そして、薄膜82
が形成される基板83が陽極となるように、両者81,
83を直流電源84に接続する。つまり、ターゲットが
金属など導電体である場合には、直流電圧を印加するこ
とによりガス体をイオン化することができる。なお、8
5は放電領域である。
【0009】一方、金属酸化物薄膜をスパッタによって
形成したい場合などターゲット材料が高絶縁材料である
場合には、直流電圧でガスをイオン化することはできな
い。この場合には、図14(B)に示すように、二つの
電極86,87間に交流電源88を接続し、さらに、二
つの電極86,87に直流電位をもたせ、陰極側をター
ゲット、陽極側を基板とする。この条件下では、イオン
化したガス原子は相対的な陰極である酸化物表面に衝突
し、その酸化物成分の元素ごとではあるが、基板側に飛
ばすことができる。この場合、元素ごとにスパッタ率が
異なるので、目的成分の薄膜を形成するには、ターゲッ
トの成分比をスパッタ比率を考慮して設定するなどの工
夫が必要である。
形成したい場合などターゲット材料が高絶縁材料である
場合には、直流電圧でガスをイオン化することはできな
い。この場合には、図14(B)に示すように、二つの
電極86,87間に交流電源88を接続し、さらに、二
つの電極86,87に直流電位をもたせ、陰極側をター
ゲット、陽極側を基板とする。この条件下では、イオン
化したガス原子は相対的な陰極である酸化物表面に衝突
し、その酸化物成分の元素ごとではあるが、基板側に飛
ばすことができる。この場合、元素ごとにスパッタ率が
異なるので、目的成分の薄膜を形成するには、ターゲッ
トの成分比をスパッタ比率を考慮して設定するなどの工
夫が必要である。
【0010】前記スパッタ法は、固体材料を原子に分解
し、原子を真空中で飛ばし、1個ごとの原子を積み上げ
る方式であり、また、飛ばされた原子は衝突エネルギー
を持っているので、蒸着法はふんわりと堆積するのとは
異なり、基板に突入し、緻密に成膜することができ、薄
膜成膜として非常に優れた方式として用いられている。
しかしながら、このスパッタ法は、原子単位の移動であ
るので、成膜速度が小さく、1000〜5000Å程度
の薄膜の形成に適用されるが、1μm以上の膜厚をえよ
うとすると、非常に長い時間成膜させる必要があり、生
産性が悪いといった欠点がある。
し、原子を真空中で飛ばし、1個ごとの原子を積み上げ
る方式であり、また、飛ばされた原子は衝突エネルギー
を持っているので、蒸着法はふんわりと堆積するのとは
異なり、基板に突入し、緻密に成膜することができ、薄
膜成膜として非常に優れた方式として用いられている。
しかしながら、このスパッタ法は、原子単位の移動であ
るので、成膜速度が小さく、1000〜5000Å程度
の薄膜の形成に適用されるが、1μm以上の膜厚をえよ
うとすると、非常に長い時間成膜させる必要があり、生
産性が悪いといった欠点がある。
【0011】そして、前記スパッタ法は、真空度を低下
させると、ガス体を放電させる真空度条件から外れて、
ガス体を放電させることができない。また、たとえ原子
が飛び出しても、原子の平均自由行程が小さくなって、
ガス体と衝突して基板にまで到達することができない。
つまり、スパッタ条件は、13.3〜0.133Paと
いうように特定の真空領域に限定される。また、成膜装
置としてかなり大型の真空装置が必要となり、装置全体
が高価になる。そして、実際には、電極近傍では放電エ
ネルギーによって温度が高くなるので、プラスチックな
どの低融点、低軟化点、低分解材料では使用できないの
で、電極数を3または4にするなどの工夫がなされてい
るが、ターゲット材料の適用範囲を広げようとすると、
装置がますます高価になってしまう。
させると、ガス体を放電させる真空度条件から外れて、
ガス体を放電させることができない。また、たとえ原子
が飛び出しても、原子の平均自由行程が小さくなって、
ガス体と衝突して基板にまで到達することができない。
つまり、スパッタ条件は、13.3〜0.133Paと
いうように特定の真空領域に限定される。また、成膜装
置としてかなり大型の真空装置が必要となり、装置全体
が高価になる。そして、実際には、電極近傍では放電エ
ネルギーによって温度が高くなるので、プラスチックな
どの低融点、低軟化点、低分解材料では使用できないの
で、電極数を3または4にするなどの工夫がなされてい
るが、ターゲット材料の適用範囲を広げようとすると、
装置がますます高価になってしまう。
【0012】また、ほとんどの液体は、前記特定の真空
領域ではその蒸気圧が高く、蒸発してしまい、所望の真
空度が得られず、ターゲットとして用いることは極めて
困難である。なお、液体は、大気より少し低い減圧状態
では、その蒸気圧も小さく、ターゲットとして使用する
ことができるが、この場合には、ガス体の放電領域外で
あるため、スパッタ方式を適用することはできない。
領域ではその蒸気圧が高く、蒸発してしまい、所望の真
空度が得られず、ターゲットとして用いることは極めて
困難である。なお、液体は、大気より少し低い減圧状態
では、その蒸気圧も小さく、ターゲットとして使用する
ことができるが、この場合には、ガス体の放電領域外で
あるため、スパッタ方式を適用することはできない。
【0013】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、その目的は、液体、固体粒子を混合・分散・
乳化させた液体またはガスを混入した液体などの液体タ
ーゲットによって微小領域に液体粒子膜または固体粒子
膜を形成させる方法を提供することである。
たもので、その目的は、液体、固体粒子を混合・分散・
乳化させた液体またはガスを混入した液体などの液体タ
ーゲットによって微小領域に液体粒子膜または固体粒子
膜を形成させる方法を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の粒子膜形成方法は、液体、固体粒子を混
合・分散・乳化させた液体またはガスを混入した液体の
いずれかをターゲットとし、このターゲットを一方の極
とした電極に、直流電圧または直流バイアス電圧を有す
る交流電圧を印加し、他方の極方向に微粒子化したター
ゲットを放出させ、特定領域にターゲット中に含まれる
粒子を堆積させることにより、液体粒子膜または固体粒
子膜を形成させるようにしたことを特徴としている。
め、この発明の粒子膜形成方法は、液体、固体粒子を混
合・分散・乳化させた液体またはガスを混入した液体の
いずれかをターゲットとし、このターゲットを一方の極
とした電極に、直流電圧または直流バイアス電圧を有す
る交流電圧を印加し、他方の極方向に微粒子化したター
ゲットを放出させ、特定領域にターゲット中に含まれる
粒子を堆積させることにより、液体粒子膜または固体粒
子膜を形成させるようにしたことを特徴としている。
【0015】上記粒子膜形成方法においては、ターゲッ
トとして、例えば液体を用いた場合、この液体ターゲッ
トを陰極とし、この液体ターゲットと対向配置される基
板をを陽極として、両者間に例えば直流電圧を印加する
と、液体ターゲットの表面エネルギーがキャンセルさ
れ、液体ターゲットの表面が電位勾配に応じて自由に変
形し、微小な領域に高電圧が集中して印加されるため、
液体自身が空気中に液体微粒子として放出されるように
なり、この液体微粒子は、基板表面に付着して、液体微
粒子よりなる膜が形成される。
トとして、例えば液体を用いた場合、この液体ターゲッ
トを陰極とし、この液体ターゲットと対向配置される基
板をを陽極として、両者間に例えば直流電圧を印加する
と、液体ターゲットの表面エネルギーがキャンセルさ
れ、液体ターゲットの表面が電位勾配に応じて自由に変
形し、微小な領域に高電圧が集中して印加されるため、
液体自身が空気中に液体微粒子として放出されるように
なり、この液体微粒子は、基板表面に付着して、液体微
粒子よりなる膜が形成される。
【0016】上記成膜に際しては、直流電圧または直流
バイアス電圧を有する交流電圧を印加するだけでよく、
しかも、大気中であっても、高圧下または減圧下であっ
ても所望の粒子膜を形成することができる。特に、直流
バイアス電圧を有する交流電圧を印加した場合は、ター
ゲットが高絶縁液体であっても低電圧で液体微粒子を放
出させることができる。
バイアス電圧を有する交流電圧を印加するだけでよく、
しかも、大気中であっても、高圧下または減圧下であっ
ても所望の粒子膜を形成することができる。特に、直流
バイアス電圧を有する交流電圧を印加した場合は、ター
ゲットが高絶縁液体であっても低電圧で液体微粒子を放
出させることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】この発明の実施の形態を、図面を
参照しながら説明する。図1〜図4は、この発明の電界
噴霧方式の薄膜形成方法を説明するための図である。ま
ず、図1(A)において、1は上方が開口した適宜の金
属容器2内に収容されたターゲットとしての液体、3は
この液体1の上方にやや離れて水平に設けられる金属板
である。4は直流電源で、この直流電源4は、金属容器
2側が陰極、つまり、液体1が陰極となり、金属板3が
陽極となるように接続される。
参照しながら説明する。図1〜図4は、この発明の電界
噴霧方式の薄膜形成方法を説明するための図である。ま
ず、図1(A)において、1は上方が開口した適宜の金
属容器2内に収容されたターゲットとしての液体、3は
この液体1の上方にやや離れて水平に設けられる金属板
である。4は直流電源で、この直流電源4は、金属容器
2側が陰極、つまり、液体1が陰極となり、金属板3が
陽極となるように接続される。
【0018】上記のように、液体1と金属板3とを対向
配置し、これらの間に直流の高電圧(例えば、1〜10
kV程度)を印加すると、液体1の表面エネルギーがキ
ャンセルされ、液面(界面)が電位勾配に応じて自由に
変形し、微小な領域に高電圧が集中して印加されるた
め、図1(B)に示すように、液体1の表面1Aの一部
に鋭い尖端部1aが生じ、これが成長するように上方に
伸び、液体自身が空気中に液体微粒子5として放出され
るようになる。この液体微粒子5は、基板3の表面3a
に付着して液体粒子膜6となる。
配置し、これらの間に直流の高電圧(例えば、1〜10
kV程度)を印加すると、液体1の表面エネルギーがキ
ャンセルされ、液面(界面)が電位勾配に応じて自由に
変形し、微小な領域に高電圧が集中して印加されるた
め、図1(B)に示すように、液体1の表面1Aの一部
に鋭い尖端部1aが生じ、これが成長するように上方に
伸び、液体自身が空気中に液体微粒子5として放出され
るようになる。この液体微粒子5は、基板3の表面3a
に付着して液体粒子膜6となる。
【0019】図2は、陰極としての金属容器2の開口面
積を大きくするとともに、この上方に設けられる陽極と
しての金属板3の面積も前記開口面積に合わせて大きく
した実施の形態を示し、このようにした場合、液体1の
液面1Aには複数の尖端部1aが生ずる。
積を大きくするとともに、この上方に設けられる陽極と
しての金属板3の面積も前記開口面積に合わせて大きく
した実施の形態を示し、このようにした場合、液体1の
液面1Aには複数の尖端部1aが生ずる。
【0020】図3は、ターゲットとして固体粒子7を混
合または分散あるいは乳化させた液体8を用いて、これ
を微粒子化してターゲットとして金属板3の表面3aに
放出させ、この表面3aに固形物薄膜9を形成する例を
示し、この実施の形態においては、金属板3にヒータ1
0を設け、金属板3を適宜加熱して、液体分を蒸発さ
せ、添加物である固形物の薄膜9の形成を行うようにし
ている。11はヒータ10への電流供給端子である。
合または分散あるいは乳化させた液体8を用いて、これ
を微粒子化してターゲットとして金属板3の表面3aに
放出させ、この表面3aに固形物薄膜9を形成する例を
示し、この実施の形態においては、金属板3にヒータ1
0を設け、金属板3を適宜加熱して、液体分を蒸発さ
せ、添加物である固形物の薄膜9の形成を行うようにし
ている。11はヒータ10への電流供給端子である。
【0021】図4は、液体1が高絶縁液体であるときの
実施の形態を示し、この実施の形態においては、液体1
と金属板3との間に、直流バイアス電圧を有する交流電
圧を印加する。この図において、12は交流電源、13
は直流電源で、直流電源13の陰極側が液体1を収容し
た金属容器2に接続される。1
実施の形態を示し、この実施の形態においては、液体1
と金属板3との間に、直流バイアス電圧を有する交流電
圧を印加する。この図において、12は交流電源、13
は直流電源で、直流電源13の陰極側が液体1を収容し
た金属容器2に接続される。1
【0022】そして、図示は省略しているが、ターゲッ
トとしては、上記液体1または固体粒子7を混合または
分散あるいは乳化させた液体8のほかに、液体にガスを
混入したものを用いることができる。この場合、ガスと
しては溶存ガスであってもよく、またはガスをキャリア
ガスとして蒸発した液体ミストや、あるいは別のガスま
たはガスに分散させた無機微粒子または有機化合物や有
機金属化合物を含むものであってもよい。
トとしては、上記液体1または固体粒子7を混合または
分散あるいは乳化させた液体8のほかに、液体にガスを
混入したものを用いることができる。この場合、ガスと
しては溶存ガスであってもよく、またはガスをキャリア
ガスとして蒸発した液体ミストや、あるいは別のガスま
たはガスに分散させた無機微粒子または有機化合物や有
機金属化合物を含むものであってもよい。
【0023】上記図1〜図4に示したように、この発明
の薄膜形成方法は、液体の界面を印加する電圧条件によ
って自由に変えることができるので、界面からの突起を
ノズルを用いて一つに絞り、これから液滴を放出した
り、液面全体において多数の突起から液滴を放出するこ
とができる。そして、印加する電圧や、ターゲットと基
板間の距離、ターゲットの導電率などの条件を適宜設定
することにより、基板上に形成される膜厚を任意に設定
できる。
の薄膜形成方法は、液体の界面を印加する電圧条件によ
って自由に変えることができるので、界面からの突起を
ノズルを用いて一つに絞り、これから液滴を放出した
り、液面全体において多数の突起から液滴を放出するこ
とができる。そして、印加する電圧や、ターゲットと基
板間の距離、ターゲットの導電率などの条件を適宜設定
することにより、基板上に形成される膜厚を任意に設定
できる。
【0024】次に、上記薄膜形成方法の応用分野につい
て、図5〜図10を参照しながら説明する。
て、図5〜図10を参照しながら説明する。
【0025】まず、図5は半導体プロセス用マイクロス
ピナーへの応用を示すもので、マイクロマシニング加工
によって形成したノズル孔14を有する金属容器15内
に塗料16を収容し、ノズル14の下方にモータ17に
よって回転する円盤18の上面に金属板19を載せて、
直流電源4を図のように接続して、金属板19の上面に
膜を形成するようにしたものである。
ピナーへの応用を示すもので、マイクロマシニング加工
によって形成したノズル孔14を有する金属容器15内
に塗料16を収容し、ノズル14の下方にモータ17に
よって回転する円盤18の上面に金属板19を載せて、
直流電源4を図のように接続して、金属板19の上面に
膜を形成するようにしたものである。
【0026】図6は、微細インクジェットへの応用を示
すもので、金属容器20の側面にマイクロマシニング加
工によって形成したノズル孔21を有するシリコン側壁
22を設け、このシリコン側壁22の前面側に、直交す
る二つの方向(X,Y方向)に偏向電極23を設け、ノ
ズル孔21から放出されるインク24を金属板25の表
面に二次元的に走査しながら付着させるものである。な
お、26,27は直流電源で、一方の電源27は出力が
可変である。このように構成したものにおいては、プロ
グラムされた位置に所定の文字や図柄などの膜を任意に
形成することができる。
すもので、金属容器20の側面にマイクロマシニング加
工によって形成したノズル孔21を有するシリコン側壁
22を設け、このシリコン側壁22の前面側に、直交す
る二つの方向(X,Y方向)に偏向電極23を設け、ノ
ズル孔21から放出されるインク24を金属板25の表
面に二次元的に走査しながら付着させるものである。な
お、26,27は直流電源で、一方の電源27は出力が
可変である。このように構成したものにおいては、プロ
グラムされた位置に所定の文字や図柄などの膜を任意に
形成することができる。
【0027】図7は、基板上にPZT酸化膜を形成する
MOCVD装置への応用を示すもので、この図におい
て、28は内部が大気圧または減圧雰囲気に調整された
反応室で、その内部には、液体溶媒29を収容し、上方
が開口した陰極としての金属容器30が設けられるとと
もに、陽極としての基板31が金属容器30に対向する
ように上方に設けられている。この基板31はヒータ3
2によって適宜の温度に加熱されるように構成されてい
る。そして、33は直流電源である。
MOCVD装置への応用を示すもので、この図におい
て、28は内部が大気圧または減圧雰囲気に調整された
反応室で、その内部には、液体溶媒29を収容し、上方
が開口した陰極としての金属容器30が設けられるとと
もに、陽極としての基板31が金属容器30に対向する
ように上方に設けられている。この基板31はヒータ3
2によって適宜の温度に加熱されるように構成されてい
る。そして、33は直流電源である。
【0028】そして、34は前記金属容器30にガスを
供給する流路で、この流路34にはその上流側から順
に、ソース原料気化部35、流量計36、混合室37、
開閉弁38が設けられるとともに、酸素ガスの添加流路
39が流路34に接続されており、Pb、Ti、Zrを
それぞれ含む有機金属ガスと酸素ガスとを混合して金属
容器30内の液体溶媒29に混入するものである。
供給する流路で、この流路34にはその上流側から順
に、ソース原料気化部35、流量計36、混合室37、
開閉弁38が設けられるとともに、酸素ガスの添加流路
39が流路34に接続されており、Pb、Ti、Zrを
それぞれ含む有機金属ガスと酸素ガスとを混合して金属
容器30内の液体溶媒29に混入するものである。
【0029】上記構成の装置においては、常圧状態の不
活性ガス中または減圧下の不活性ガス中において、金属
容器30内の液体溶媒29に有機金属ガスと酸素ガスと
の混合されたガスが混入し、基板31の表面に噴霧粒子
が堆積する。そして、基板31が所定の温度に加熱され
ているので、有機金属が分解して基板31の表面にPZ
T酸化膜40が形成される。なお、41は液体溶媒29
中のPb、Ti、Zrであり、42はヒータ32への電
流供給端子である。
活性ガス中または減圧下の不活性ガス中において、金属
容器30内の液体溶媒29に有機金属ガスと酸素ガスと
の混合されたガスが混入し、基板31の表面に噴霧粒子
が堆積する。そして、基板31が所定の温度に加熱され
ているので、有機金属が分解して基板31の表面にPZ
T酸化膜40が形成される。なお、41は液体溶媒29
中のPb、Ti、Zrであり、42はヒータ32への電
流供給端子である。
【0030】図8は、プリント基板の配線装置への応用
を示すもので、同図(A)に示すように、下方にマイク
ロマシニング加工によって形成したノズル孔43を有す
る金属容器44とプリント基板45との間に直流電源4
6を接続し、まず、Al2 O 3 粉末をシリコーン系溶媒
に分散させ、この溶媒液47をノズル孔43から噴出し
て、同図(B)上段に示すように、プリント基板45上
にAl2 O3 層48を形成し、次いで、レジスト塗布や
フォトリソグラフィでパターニングして、同図(B)第
2段に示すように、レジスト層49を形成し、その後、
別の金属容器44内にCu微粉末を液体に分散させて、
この液体をノズル孔43から噴出して、同図(B)第3
段に示すように、レジスト層49上にCu層50を形成
する。このとき、プリント基板45側を二次元方向に移
動させて、所定のパターンを描かせる。その後、レジス
ト層49を除去することにより、同図(B)最下段に示
すように、導電部51が形成される。この装置によれ
ば、10μm以下のマイクロ化金属配線が可能になる。
を示すもので、同図(A)に示すように、下方にマイク
ロマシニング加工によって形成したノズル孔43を有す
る金属容器44とプリント基板45との間に直流電源4
6を接続し、まず、Al2 O 3 粉末をシリコーン系溶媒
に分散させ、この溶媒液47をノズル孔43から噴出し
て、同図(B)上段に示すように、プリント基板45上
にAl2 O3 層48を形成し、次いで、レジスト塗布や
フォトリソグラフィでパターニングして、同図(B)第
2段に示すように、レジスト層49を形成し、その後、
別の金属容器44内にCu微粉末を液体に分散させて、
この液体をノズル孔43から噴出して、同図(B)第3
段に示すように、レジスト層49上にCu層50を形成
する。このとき、プリント基板45側を二次元方向に移
動させて、所定のパターンを描かせる。その後、レジス
ト層49を除去することにより、同図(B)最下段に示
すように、導電部51が形成される。この装置によれ
ば、10μm以下のマイクロ化金属配線が可能になる。
【0031】図9は、電子部品の実装への応用を示すも
ので、前記金属容器44内にモールド用接着剤またはは
んだ微粉末を液体に分散させてもの52を収容し、プリ
ント基板44上に設けられているベアチップなどの微小
な電子部品53を固定するようにしている。微小な電子
部品53をプリント基板45上に表面実装を行う場合、
微小な電子部品53を接着剤で固定し、全体をモールド
したりしているが、上記手法によれば、微小な電子部品
53を確実に固定・実装することができる。なお、図9
における矢印は、プリント基板45の移動方向を示して
いる。
ので、前記金属容器44内にモールド用接着剤またはは
んだ微粉末を液体に分散させてもの52を収容し、プリ
ント基板44上に設けられているベアチップなどの微小
な電子部品53を固定するようにしている。微小な電子
部品53をプリント基板45上に表面実装を行う場合、
微小な電子部品53を接着剤で固定し、全体をモールド
したりしているが、上記手法によれば、微小な電子部品
53を確実に固定・実装することができる。なお、図9
における矢印は、プリント基板45の移動方向を示して
いる。
【0032】上記図8や図9に示した実施の形態からも
理解されるように、この発明の粒子膜形成方法は、微小
領域に所定の粒子膜を確実に形成することができるが、
この技術は、医療や健康管理の分野においても利用する
ことができる。すなわち、図10は、微小領域に医薬を
塗布する例を示すもので、ハンディ型の薬品塗布装置5
4内に液体状の薬剤55を収容し、例えば、掌56の患
部に薬剤57を塗布するようにしたものである。この場
合、手首58に薬品塗布装置54側と電気的に接続され
た電極ベルト59を巻き、皮膚電位を制御する必要があ
る。なお、60は薬品塗布装置54と電極ベルト59と
を接続する電気線である。
理解されるように、この発明の粒子膜形成方法は、微小
領域に所定の粒子膜を確実に形成することができるが、
この技術は、医療や健康管理の分野においても利用する
ことができる。すなわち、図10は、微小領域に医薬を
塗布する例を示すもので、ハンディ型の薬品塗布装置5
4内に液体状の薬剤55を収容し、例えば、掌56の患
部に薬剤57を塗布するようにしたものである。この場
合、手首58に薬品塗布装置54側と電気的に接続され
た電極ベルト59を巻き、皮膚電位を制御する必要があ
る。なお、60は薬品塗布装置54と電極ベルト59と
を接続する電気線である。
【0033】なお、上述した各実施の形態における直流
電源の接続極性は、溶媒の電気抵抗など溶媒の性質と関
係によって適宜設定されるものであり、図示した接続極
性に限定されるものではない。
電源の接続極性は、溶媒の電気抵抗など溶媒の性質と関
係によって適宜設定されるものであり、図示した接続極
性に限定されるものではない。
【0034】上述したように、この発明の粒子膜形成方
法は種々の分野に利用されるが、上記例示したもの以外
にも成膜を必要とする分野は、基礎技術分野から最先端
技術分野まで多岐にわたっている。以下、これについ
て、応用分野ごとに列記する。
法は種々の分野に利用されるが、上記例示したもの以外
にも成膜を必要とする分野は、基礎技術分野から最先端
技術分野まで多岐にわたっている。以下、これについ
て、応用分野ごとに列記する。
【0035】 ・半導体工業 プロセス成膜;薄膜スパッタ、CVD装置の代用としての薄膜形成 電極配線 ;マイクロ接着&マイクロモールド、液晶塗布 液膜塗布 ;レジスト塗布、エッチング液局部塗布 装置化 ;局部スピナー(マイクロマシン用スピナー装置化も可能) ・電子工業 デバイス実装;電子部品のモールド、マイクロ接着 ・理化学計測 ;試薬の微小液滴下装置 ・医学 ;医薬品の局部噴霧 ・医薬品製造 ;マイクロコーティング ・バイオ ;細胞、DNAなど微小機能物質の微量分散および固定 ・コスメティック;皮膚局部への塗布、紫外線防止剤局部塗布 ・メッキ・塗装 ;マイクロメッキ、マイクロ塗装 ・ファインセラミックス;微粉末の特定部部分への固定化
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、この発明の粒子膜
形成方法によれば、微小な領域に液体粒子膜または固体
粒子膜を簡単かつ確実に形成することができる。そし
て、前記粒子膜の形成に際しては、その雰囲気は大気
中、高圧、減圧のいずれでも可能であり、用いるターゲ
ットの種類によって適宜設定すればよく、雰囲気制御を
非常に簡単に行うことができる。また、従来のように、
高真空装置などを要しないため、装置の構成が複雑にな
ったり大型化するといったこともない。
形成方法によれば、微小な領域に液体粒子膜または固体
粒子膜を簡単かつ確実に形成することができる。そし
て、前記粒子膜の形成に際しては、その雰囲気は大気
中、高圧、減圧のいずれでも可能であり、用いるターゲ
ットの種類によって適宜設定すればよく、雰囲気制御を
非常に簡単に行うことができる。また、従来のように、
高真空装置などを要しないため、装置の構成が複雑にな
ったり大型化するといったこともない。
【図1】この発明の粒子膜形成方法の基本原理を説明す
るための図である。
るための図である。
【図2】開口が広い金属容器を用いたときの粒子膜形成
方法の一例を示す図である。
方法の一例を示す図である。
【図3】基板側を加熱したときの粒子膜形成方法の一例
を示す図である。
を示す図である。
【図4】ターゲットが高絶縁性を有するときの粒子膜形
成方法の一例を示す図である。
成方法の一例を示す図である。
【図5】前記粒子膜形成方法を用いた半導体プロセス用
マイクロスピナーの一例を示す図である。
マイクロスピナーの一例を示す図である。
【図6】前記粒子膜形成方法を用いた微細インクジェッ
トの一例を示す図である。
トの一例を示す図である。
【図7】前記粒子膜形成方法を用いたMOCVD装置の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図8】前記粒子膜形成方法を用いたプリント基板の配
線装置の一例を示す図である。
線装置の一例を示す図である。
【図9】前記粒子膜形成方法を用いたプリント基板にお
ける電子部品の実装の一例を示す図である。
ける電子部品の実装の一例を示す図である。
【図10】前記粒子膜形成方法を用いた微小領域に医薬
を塗布する例を示す図である。
を塗布する例を示す図である。
【図11】電界噴霧を説明するための図である。
【図12】溶液の導電率と噴霧状態との関係を示す図で
ある。
ある。
【図13】振動微粒子化領域における噴霧状態の一例を
示す図である。
示す図である。
【図14】スパッタ法を説明するための図である。
1,8,16,24,29,47,52,55…一方の
極(ターゲット)、3,19,25,31,45,5
3,56…他方の極、6…粒子膜、7,41…固体粒
子。
極(ターゲット)、3,19,25,31,45,5
3,56…他方の極、6…粒子膜、7,41…固体粒
子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 廣瀬 渉 京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地 株式会社堀場製作所内 Fターム(参考) 4D075 AA09 AA87 BB32Y CA47 DA06 DB01 DC21 EA05 4K030 AA11 AA24 BA18 BA22 FA10 KA49 LA01 5F045 AA03 AA06 AB31 AC07 DP03 DQ10 EF02 5F103 AA10 RR10
Claims (1)
- 【請求項1】 液体、固体粒子を混合・分散・乳化させ
た液体またはガスを混入した液体のいずれかをターゲッ
トとし、このターゲットを一方の極とした電極に、直流
電圧または直流バイアス電圧を有する交流電圧を印加
し、他方の極方向に微粒子化したターゲットを放出さ
せ、特定領域にターゲット中に含まれる粒子を堆積させ
ることにより、液体粒子膜または固体粒子膜を形成させ
るようにしたことを特徴とする粒子膜形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000103942A JP2001286814A (ja) | 2000-04-05 | 2000-04-05 | 粒子膜形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000103942A JP2001286814A (ja) | 2000-04-05 | 2000-04-05 | 粒子膜形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001286814A true JP2001286814A (ja) | 2001-10-16 |
Family
ID=18617568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000103942A Pending JP2001286814A (ja) | 2000-04-05 | 2000-04-05 | 粒子膜形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001286814A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007142234A (ja) * | 2005-11-21 | 2007-06-07 | Tokyo Electron Ltd | 塗布膜の成膜方法及びその装置 |
US7393411B2 (en) | 2003-02-24 | 2008-07-01 | Waseda University | β-Ga2O3 single crystal growing method, thin-film single crystal growing method, Ga2O3 light-emitting device, and its manufacturing method |
JP2013139006A (ja) * | 2012-01-05 | 2013-07-18 | Nano Mist Technologies Kk | 静電霧化装置、霧の生成方法 |
JP2013203611A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Mitsubishi Materials Corp | 強誘電体薄膜の製造方法 |
TWI717651B (zh) * | 2018-11-06 | 2021-02-01 | 馗鼎奈米科技股份有限公司 | 壓電材料薄膜之製造方法與設備 |
-
2000
- 2000-04-05 JP JP2000103942A patent/JP2001286814A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US7713353B2 (en) | 2003-02-24 | 2010-05-11 | Waseda University | β-Ga2O3 single crystal growing method, thin-film single crystal growing method, Ga2O3 light-emitting device, and its manufacturing method |
US8262796B2 (en) | 2003-02-24 | 2012-09-11 | Waseda University | β-Ga2O3 single crystal growing method, thin-film single crystal growing method, Ga2O3 light-emitting device, and its manufacturing method |
US8747553B2 (en) | 2003-02-24 | 2014-06-10 | Waseda University | β-Ga2O3 single crystal growing method including crystal growth method |
JP2007142234A (ja) * | 2005-11-21 | 2007-06-07 | Tokyo Electron Ltd | 塗布膜の成膜方法及びその装置 |
JP4493034B2 (ja) * | 2005-11-21 | 2010-06-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 塗布膜の成膜方法及びその装置 |
US7926444B2 (en) | 2005-11-21 | 2011-04-19 | Tokyo Electron Limited | Method for forming thin film and film-forming device |
JP2013139006A (ja) * | 2012-01-05 | 2013-07-18 | Nano Mist Technologies Kk | 静電霧化装置、霧の生成方法 |
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