JP2001242488A - Liquid crystal display device and its manufacturing method - Google Patents

Liquid crystal display device and its manufacturing method

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JP2001242488A
JP2001242488A JP2000055324A JP2000055324A JP2001242488A JP 2001242488 A JP2001242488 A JP 2001242488A JP 2000055324 A JP2000055324 A JP 2000055324A JP 2000055324 A JP2000055324 A JP 2000055324A JP 2001242488 A JP2001242488 A JP 2001242488A
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JP
Japan
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wiring
repair
liquid crystal
display device
crystal display
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Application number
JP2000055324A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Susumu Shibata
晋 柴田
Akio Nakayama
明男 中山
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Advanced Display Inc
Original Assignee
Advanced Display Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a liquid crystal display device, in which a route librating electromagnetic noise which enter into a repair wiring from a high speed signal to a GRD is secured and which is capable of reducing the effect of electromagnetic waves by connecting the the repair wiring, which is apt to be affected by the electromagnetic noise of the high speed signal and which is not used in restoring the disconnection and the short circuit to a grounding wiring, and to prevent its manufacturing method. SOLUTION: In a liquid crystasl display device, which is provided with an insulating substrate having, first wirings 1 which are arrangingly formed in a row direction and which are composed of plural lines of mutually insulated wirings and second wirings 2, which are formed arranged in a column direction orthogonal to the first wirings and which are composed of plural lines of mutually insulated wirings and with a repair wiring 9, which is formed on the insulating substrate or on the external circuit substrate connected to the insulating substrate and which is provided with respect to the first or the second wirings, the device has constitution in which the repair wiring 9 is grounded.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置、特
に、ゲート配線又はソース配線等の配線の断線、配線間
又は配線と電極間の短絡を修復するリペア配線を有する
液晶表示装置およびその製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to a liquid crystal display device having a repair wiring for repairing a disconnection of a wiring such as a gate wiring or a source wiring, a short circuit between wirings or a short circuit between wirings and electrodes, and manufacturing thereof. It is about the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置の各画素に設けた非線形能
動素子(例えば、薄膜トランジスタ(以下、「TFT」
と称す。)によって液晶層に印加された電圧を制御する
駆動方法をアクティブマトリクス駆動といい、この駆動
方式を採用した液晶表示装置をアクティブマトリクス型
液晶表示装置という。アクティブマトリクス駆動におい
ては、非選択画素の表示信号電圧リークに起因するクロ
ストークと呼ばれる現象を、単純マトリクス駆動と比較
して格段に改善でき、大画面化に伴うコントラストの低
下を回避できると期待されている。TFTを搭載した液
晶表示装置のTFTアレイ基板は、絶縁性基板上に行方
向に複数本が配列形成されたゲート配線と、絶縁膜を介
して行配線と交差する列方向に複数本が配列形成された
ソース配線と、ゲート配線と同層にかつ並行に配置さ
れ、絶縁層を介してソース配線と交差している補助容量
確保を目的とした共通配線と、ゲート配線とソース配線
に囲まれた領域に配置された画素電極と、ゲート配線と
ソース配線の交点に配置され、画素電極と電気的に接続
されたTFTから構成されている。
2. Description of the Related Art A non-linear active element (for example, a thin film transistor (hereinafter referred to as "TFT") provided in each pixel of a liquid crystal display device.
Called. The driving method for controlling the voltage applied to the liquid crystal layer according to the above method is referred to as active matrix driving, and a liquid crystal display device employing this driving method is referred to as an active matrix liquid crystal display device. In active matrix driving, a phenomenon called crosstalk caused by display signal voltage leakage of non-selected pixels can be significantly improved as compared with simple matrix driving, and it is expected that a decrease in contrast due to a large screen can be avoided. ing. A TFT array substrate of a liquid crystal display device having a TFT mounted thereon has a plurality of gate lines arranged and arranged in a row direction on an insulating substrate and a plurality of lines arranged in a column direction intersecting the row lines via an insulating film. Source wiring, a common wiring that is arranged in the same layer and in parallel with the gate wiring and intersects with the source wiring via an insulating layer for the purpose of securing an auxiliary capacitance, and is surrounded by the gate wiring and the source wiring. A pixel electrode disposed in the region and a TFT disposed at an intersection of a gate line and a source line and electrically connected to the pixel electrode.

【0003】以下に、従来の液晶表示装置において、T
FTアレイ基板上のソース配線に断線が生じた場合の修
復方法について図9を参照して説明する。ドレインバス
ライン13に断線箇所20がある場合、断線箇所20の
存在するドレインバスライン13と断線修復用配線12
との交差点にレーザ光を照射する、いわゆるレーザウエ
ルディング法を用いることによってドレインバスライン
13と断線修復用配線12とを上下の断線修復箇所21
において接続する。次に、図において一点鎖線で示す切
断箇所22において、周辺接続15及び抵抗19と、断
線修復用配線12及びドレインバスライン13とを切断
する。次いで、図示しないものの、個々のタブ16を電
気的に開放したのち、断線修復用配線12の端部に設け
たタブを含めて、タブ打ちを行い、一方の断線修復用配
線12の端部に設けたタブと他方の断線修復用配線12
の端部に設けたタブとを、ガラス基板11の周辺にはり
めぐらしたジャンパ線によって接続する。そして、実際
の駆動の際には、駆動電圧を断線修復用配線12のタブ
に印加することによって、断線箇所20を有するドレイ
ンバスライン13は両側から電圧が印加されるので、正
常に動作することができるということが、特開平9−2
74199号公報に開示されている。
Hereinafter, in a conventional liquid crystal display device, T
A method of repairing a case where a disconnection occurs in a source wiring on an FT array substrate will be described with reference to FIG. In the case where the drain bus line 13 has a disconnection portion 20, the drain bus line 13 where the disconnection portion 20 exists and the disconnection repair line 12
The intersection between the drain bus line 13 and the wire for repairing disconnection 12 is formed by using a so-called laser welding method in which the intersection between
Connect at Next, the peripheral connection 15 and the resistor 19, the disconnection repairing wiring 12, and the drain bus line 13 are cut at a cutting portion 22 indicated by a dashed line in the drawing. Next, although not shown, after the individual tabs 16 are electrically opened, tabs including the tabs provided at the ends of the disconnection repairing wires 12 are performed, and the tabs are punched. The provided tab and the other wire for repairing disconnection 12
Is connected to the periphery of the glass substrate 11 by a jumper wire. In the actual driving, by applying a drive voltage to the tab of the disconnection repairing wiring 12, the voltage is applied from both sides to the drain bus line 13 having the disconnection portion 20. Is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 9-2
No. 74199.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のリペア
配線は、断線又は短絡が原因による線欠陥の修復に使用
され、修復を行った場合にはリペア配線にデータ信号が
印可されるが、修復を行わない場合では信号の印加され
ていないフローティング状態となる。一般に、このよう
なフローティング配線は外部からの電磁波の影響を受け
やすい。また、液晶表示装置の周辺回路には数十MHZ
の信号線が多数(数十本)配置されており、 リペア配線
はこれら高速信号の電磁ノイズを直接受けやすい構造と
なっている。更に、リペア配線はその使用目的上、デー
タ信号の迂回路として配置されるため、引回し距離も長
く、電磁波の放射源(アンテナ)となりやすい。本発明
は上記のような課題を解決するためになされたもので、
ゲート配線又はソース配線の断線又は短絡が生じた場合
に容易に修復できる液晶表示装置及びその製造方法を提
供することを目的とする。また、ゲート配線又はソース
配線に断線及び短絡が生じなかった場合には、リペア配
線をフローティング状態とならない液晶表示装置及びそ
の製造方法を提供することを目的とする。
However, the conventional repair wiring is used for repairing a line defect caused by disconnection or short circuit, and when repair is performed, a data signal is applied to the repair wiring. Is not performed, a floating state where no signal is applied is obtained. Generally, such a floating wiring is susceptible to external electromagnetic waves. The number in the peripheral circuit of the liquid crystal display device tens MH Z
A large number (several tens) of signal lines are arranged, and the repair wiring has a structure that is easily susceptible to the electromagnetic noise of these high-speed signals. Further, since the repair wiring is arranged as a detour of the data signal for the purpose of use, the routing distance is long, and the repair wiring is likely to be a radiation source (antenna) of electromagnetic waves. The present invention has been made to solve the above problems,
It is an object of the present invention to provide a liquid crystal display device that can be easily repaired when disconnection or short circuit of a gate wiring or a source wiring occurs, and a method for manufacturing the same. Another object of the present invention is to provide a liquid crystal display device in which a repair wiring does not enter a floating state when a disconnection or a short circuit does not occur in a gate wiring or a source wiring, and a method for manufacturing the same.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この発明に係る液晶表示
装置は、行方向に配列形成され、相互に絶縁された複数
本の配線からなる第一の配線と、第一の配線と交差する
列方向に配列形成され、相互に絶縁された複数本の配線
からなる第二の配線とを有する絶縁性基板、絶縁性基板
または絶縁性基板に接続された外部回路基板に形成さ
れ、第一または第二の配線に対するリペア配線を備えた
液晶表示装置において、リペア配線が接地されているも
のである。
According to the present invention, there is provided a liquid crystal display device having a first wiring composed of a plurality of wirings arranged in a row direction and insulated from each other, and a column intersecting the first wiring. An insulating substrate having a second wiring composed of a plurality of wirings insulated from each other in the direction, and formed on an insulating substrate or an external circuit board connected to the insulating substrate or the first or second wiring. In a liquid crystal display device provided with a repair wiring for the second wiring, the repair wiring is grounded.

【0006】この発明に係る液晶表示装置は、また、リ
ペア配線が、外部回路基板に形成された接続部材を介し
て接地されているものである。
In the liquid crystal display device according to the present invention, the repair wiring is grounded via a connection member formed on the external circuit board.

【0007】この発明に係る液晶表示装置は、また、リ
ペア配線が、絶縁性基板または絶縁性基板に接続された
外部回路基板に設けられたグランド配線に接続されてい
るものである。
In the liquid crystal display device according to the present invention, the repair wiring is connected to a ground wiring provided on an insulating substrate or an external circuit board connected to the insulating substrate.

【0008】この発明に係る液晶表示装置は、また、行
方向に配列形成され、相互に絶縁された複数本の配線か
らなる第一の配線と、第一の配線と交差する列方向に配
列形成され、相互に絶縁された複数本の配線からなる第
二の配線とを有する絶縁性基板、絶縁性基板または前記
絶縁性基板に接続された外部回路基板に形成され、第一
または第二の配線に対するリペア配線を備えた液晶表示
装置において、リペア配線が、電源に接続されているも
のである。
The liquid crystal display device according to the present invention also has a first wiring composed of a plurality of mutually insulated wirings arranged in a row direction and an array formed in a column direction intersecting the first wirings. A first or second wiring formed on an insulating substrate having a second wiring composed of a plurality of wirings insulated from each other, an insulating substrate or an external circuit board connected to the insulating substrate; , The repair wiring is connected to a power supply.

【0009】この発明に係る液晶表示装置は、また、リ
ペア配線が、外部回路基板に形成された接続部材を介し
て電源に接続されているものである。
In the liquid crystal display device according to the present invention, the repair wiring is connected to a power supply via a connection member formed on the external circuit board.

【0010】この発明に係る液晶表示装置は、また、行
方向に配列形成され、相互に絶縁された複数本の配線か
らなる第一の配線と、第一の配線と交差する列方向に配
列形成され、相互に絶縁された複数本の配線からなる第
二の配線とを有する絶縁性基板、絶縁性基板または絶縁
性基板に接続された外部回路基板に形成され、第一また
は第二の配線に対するリペア配線を備えた液晶表示装置
において、リペア配線が共通電極配線、Vcom電位配
線又は対向電極と接続されているものである。
In the liquid crystal display device according to the present invention, a first wiring composed of a plurality of wirings which are arranged and formed in a row direction and are insulated from each other, and an array formed in a column direction which intersects the first wiring. Is formed on an insulating substrate having a second wiring composed of a plurality of wirings mutually insulated, an insulating substrate or an external circuit board connected to the insulating substrate, and the first or second wiring In a liquid crystal display device having a repair wiring, the repair wiring is connected to a common electrode wiring, a Vcom potential wiring, or a counter electrode.

【0011】この発明に係る液晶表示装置は、また、リ
ペア配線が、外部回路基板に形成された接続部材を介し
てVcom電位配線と接続されているものである。
In the liquid crystal display device according to the present invention, the repair wiring is connected to the Vcom potential wiring via a connecting member formed on the external circuit board.

【0012】この発明に係る液晶表示装置は、また、接
続部材が、零オームチップ抵抗とされるものである。
In the liquid crystal display device according to the present invention, the connection member has a zero ohm chip resistance.

【0013】この発明に係る液晶表示装置の製造方法
は、行方向に配列され、相互に絶縁された複数本の配線
からなる第一の配線と、絶縁膜を介して第一の配線と交
差する列方向に配列され、相互に絶縁された複数本の配
線からなる第二の配線とを絶縁性基板上に形成すると共
に、第一の配線又は第二の配線と絶縁膜を介して交差す
るリペア配線を、グランド配線と接続して形成するもの
において、第一の配線又は第二の配線の断線時に、断線
した配線の両端とリペア配線とを接続する工程と、リペ
ア配線とグランド配線との接続を断つ工程とを含むもの
である。
In the method for manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention, a first wiring composed of a plurality of wirings arranged in a row direction and mutually insulated intersects with the first wiring via an insulating film. A second wiring composed of a plurality of wirings arranged in the column direction and insulated from each other is formed on an insulating substrate, and the first wiring or the second wiring intersects with the second wiring via an insulating film. A step of connecting both ends of the disconnected wiring to the repair wiring when the first wiring or the second wiring is disconnected, and connecting the repair wiring to the ground wiring when forming the wiring by connecting to the ground wiring; And a step of cutting off.

【0014】この発明に係る液晶表示装置の製造方法
は、また、リペア配線とグランド配線とを接続部材を介
して接続して形成するものにおいて、第一の配線又は第
二の配線の断線時に、断線した配線の両端とリペア配線
とを接続する工程と、接続部材を外部回路基板より取り
外す工程とを含むものである。
According to the method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention, the repair wiring and the ground wiring are connected to each other via a connecting member. The method includes a step of connecting both ends of the disconnected wiring and the repair wiring, and a step of removing the connection member from the external circuit board.

【0015】この発明に係る液晶表示装置の製造方法
は、また、行方向に配列され、相互に絶縁された複数本
の配線からなる第一の配線と、絶縁膜を介して第一の配
線と交差する列方向に配列され、相互に絶縁された複数
本の配線からなる第二の配線とを絶縁性基板上に形成す
ると共に、第一の配線又は第二の配線と絶縁膜を介して
交差するリペア配線を、電源に接続して形成するものに
おいて、第一の配線又は第二の配線の断線時に、断線し
た配線の両端とリペア配線とを接続する工程と、リペア
配線と電源との接続を断つ工程とを含むものである。
The method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention further comprises a first wiring composed of a plurality of wirings arranged in a row direction and insulated from each other, and a first wiring through an insulating film. A second wiring composed of a plurality of wirings arranged in the intersecting column direction and mutually insulated is formed on the insulating substrate, and the second wiring intersects with the first wiring or the second wiring via the insulating film. A step of connecting both ends of the disconnected wiring to the repair wiring when the first wiring or the second wiring is disconnected, and connecting the repair wiring to the power supply. And a step of cutting off.

【0016】この発明に係る液晶表示装置の製造方法
は、また、リペア配線を、接続部材を介して電源に接続
して形成するものにおいて、第一の配線又は第二の配線
の断線時に、断線した配線の両端とリペア配線とを接続
する工程と、接続部材を外部回路基板より取り外す工程
とを含むものである。
In the method for manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention, the repair wiring is formed by connecting to a power supply via a connecting member. And connecting the repair wiring to both ends of the wiring and removing the connection member from the external circuit board.

【0017】この発明に係る液晶表示装置の製造方法
は、また、行方向に配列され、相互に絶縁された複数本
の配線からなる第一の配線と、絶縁膜を介して第一の配
線と交差する列方向に配列され、相互に絶縁された複数
本の配線からなる第二の配線とを絶縁性基板上に形成す
ると共に、第一の配線又は第二の配線と絶縁膜を介して
交差するリペア配線を、共通電極配線、Vcom電位配
線又は対向電極に接続して形成するものにおいて、第一
の配線又は第二の配線の断線時に、断線した配線の両端
とリペア配線とを接続する工程と、リペア配線と共通電
極配線、Vcom電位配線または対向電極との接続を断
つ工程とを含むものである。
The method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention further comprises a first wiring composed of a plurality of wirings arranged in a row direction and insulated from each other, and a first wiring through an insulating film. A second wiring composed of a plurality of wirings arranged in the intersecting column direction and mutually insulated is formed on the insulating substrate, and the second wiring intersects with the first wiring or the second wiring via the insulating film. Connecting the repair wiring to the common electrode wiring, the Vcom potential wiring or the counter electrode, and connecting both ends of the broken wiring to the repair wiring when the first wiring or the second wiring is broken. And disconnecting the repair wiring from the common electrode wiring, the Vcom potential wiring or the counter electrode.

【0018】この発明に係る液晶表示装置の製造方法
は、また、リペア配線を、Vcom電位配線に接続部材
を介して接続して形成するものにおいて、第一の配線又
は第二の配線の断線時に、断線した配線の両端とリペア
配線とを接続する工程と、接続部材を外部回路基板より
取り外す工程とを含むものである。
In the method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention, the repair wiring is connected to the Vcom potential wiring via a connecting member, and is formed when the first wiring or the second wiring is disconnected. And a step of connecting both ends of the disconnected wiring and the repair wiring, and a step of removing the connection member from the external circuit board.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】実施の形態1.本発明の一実施の
形態を図1乃至図5を用いて説明する。尚、本実施の形
態ではソース配線の断線及び短絡修復可能なパネルを想
定している。図1に本発明が適用されるアクティブマト
リクス型液晶表示装置のTFTアレイ基板の回路図の一
例を示す。図1に示す回路構成は、保持容量Csを画素
電極とゲート配線で形成するCs on gate方式
と呼ばれるものである。ここで、1は行方向に複数本が
等間隔かつ平行に配列形成された走査電圧を供給するゲ
ート配線、2は絶縁膜を介してゲート配線1と交差する
列方向に複数本が等間隔かつ平行に配列形成された信号
電圧を供給するためのソース配線、ゲート配線1とソー
ス配線2の各々の交差部には液晶に電圧を印加する際の
スイッチング素子として用いるTFT3が配置されてい
る。4は光の透過/非透過のスイッチングを行う液晶を
等価回路的に容量で示した液晶容量、5は液晶容量4に
並列に配置されTFTの寄生容量の影響を低減するため
の保持容量、6は液晶容量4の片側の電極をコモン電圧
に接続するコモン電極、7はゲート側外部回路をゲート
配線1にテープキャリアパッケージ(tape car
rier package,以下、「TCP」と称
す。)などを用いて接続するためのゲート端子、8はソ
ース側外部回路とソース配線2にTCPなどを用いて接
続するためのソース端子、9はソース配線が断線又は短
絡した場合などに用いる修復用の配線(以下「リペア配
線」と称す。)、10は外部回路基板に形成されたリペ
ア配線とTFTアレイ基板に形成されたリペア配線にT
CPなどを用いて接続するためのリペア端子である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 One embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In the present embodiment, a panel capable of repairing disconnection and short-circuit of the source wiring is assumed. FIG. 1 shows an example of a circuit diagram of a TFT array substrate of an active matrix liquid crystal display device to which the present invention is applied. The circuit configuration shown in FIG. 1 is a so-called Cs on gate method in which a storage capacitor Cs is formed by a pixel electrode and a gate wiring. Here, reference numeral 1 denotes a gate line for supplying a scanning voltage in which a plurality of lines are arranged at equal intervals and in parallel in a row direction, and 2 denotes a plurality of lines at equal intervals and in a column direction crossing the gate line 1 via an insulating film. A TFT 3 used as a switching element for applying a voltage to the liquid crystal is disposed at each intersection of a source line for supplying signal voltages arranged in parallel, a gate line 1 and a source line 2. Reference numeral 4 denotes a liquid crystal capacitor which is equivalent to a liquid crystal that performs light transmission / non-transmission switching and is represented by a capacitance. Reference numeral 5 denotes a storage capacitor arranged in parallel with the liquid crystal capacitor 4 to reduce the influence of the parasitic capacitance of the TFT. Is a common electrode that connects one electrode of the liquid crystal capacitor 4 to a common voltage, and 7 is a tape carrier package (tape car) that connects an external circuit on the gate side to the gate wiring 1.
rier package, hereinafter referred to as “TCP”. ), 8 is a source terminal for connecting to the source side external circuit and the source wiring 2 using TCP or the like, and 9 is a repair terminal used when the source wiring is disconnected or short-circuited. (Hereinafter, referred to as “repair wiring”), and 10 is a wiring for the repair wiring formed on the external circuit board and the repair wiring formed on the TFT array substrate.
This is a repair terminal for connection using a CP or the like.

【0020】前記では保持容量5が次段あるいは前段の
ゲート配線との間で形成されたCson gate構造
に関して説明したが、図2の回路図に示すような、1ゲ
ート遅延に有利な保持容量配線をゲート配線と別に形成
した共通配線構造としてもよい。ここで、保持容量5は
共通配線11に接続されている。また、共通配線11は
コンタクトホール12を介して、共通配線引き出し線1
3に接続されている。コモン電圧は共通配線引き出し線
13に接続されている共通配線端子14を介して外部か
ら電圧を印加する。その他の部分の機能と符号は図1と
同じである。共通配線方式においては、共通配線11は
ゲート配線1と同じ材料で同時に形成することが最も良
く、共通配線引き出し線13は少なくともそのゲート配
線1との交差部はゲート配線とは異層のソース配線2の
材料を用いる。場合によってはゲート配線との交差部以
外は、ゲート配線材料で共通配線引き出し線を形成して
もよい。TFTアレイ基板に対向して、カラーフィルタ
が形成された対向基板を組み合わせ、液晶を注入後、液
晶表示パネルとする。図3は、図1又は図2に示したT
FTアレイ基板をTCPを介してプリント基板に接続し
た外部回路基板(プリント基板及びTCPを、以下、同
様に総称する。)付TFTアレイ基板の配線部の平面図
である。
In the above description, the Cson gate structure in which the storage capacitor 5 is formed between the next-stage or previous-stage gate wiring has been described. However, as shown in the circuit diagram of FIG. May be formed as a common wiring structure formed separately from the gate wiring. Here, the storage capacitor 5 is connected to the common wiring 11. Further, the common wiring 11 is connected to the common wiring lead line 1 through the contact hole 12.
3 is connected. A common voltage is applied from the outside via a common wiring terminal 14 connected to the common wiring lead line 13. The functions and reference numerals of the other parts are the same as those in FIG. In the common wiring method, it is best that the common wiring 11 is formed simultaneously with the same material as the gate wiring 1, and the common wiring lead line 13 has at least an intersection with the gate wiring 1 at a source wiring in a different layer from the gate wiring. 2 material is used. In some cases, the common wiring lead line may be formed of the gate wiring material except for the intersection with the gate wiring. A liquid crystal display panel is formed after a liquid crystal is injected by combining a counter substrate on which a color filter is formed so as to face the TFT array substrate. FIG. 3 is a graph showing the T shown in FIG. 1 or FIG.
It is a top view of the wiring part of the TFT array board | substrate with the external circuit board (printed board and TCP are similarly collectively similarly hereafter) which connected the FT array board to the printed board via TCP.

【0021】図3において、15は液晶駆動用集積回路
(integrated circuit,IC)を搭載したTCP、該T
CP15の電極にプリント基板16とTFTアレイ基板
が接続されている。TFTアレイ基板及び外部回路基板
にはリペア配線9が形成されており、TFTアレイ基板
上のリペア配線9とソース配線2の交差部は絶縁膜を介
しており、断線修復する必要のない場合(以下、「通常
状態」と称す。)はこれらの配線間は絶縁されている。
ここで、TFTアレイ基板上のリペア配線は、例えばゲ
ート配線材料を用いゲート配線1と同層で形成する。ま
た、図4に示すようなCs on gate方式を例に
とって挙げると、リペア配線9とソース配線2との交差
部において、ソース配線をコンタクトホール17a 、1
7b を利用してゲート配線材料で形成し、ゲート配線1
と同層の配線に一旦変換してもよい。この時リペア配線
9はソース配線材料を用いて形成する。
In FIG. 3, reference numeral 15 denotes a TCP on which an integrated circuit (IC) for driving a liquid crystal is mounted;
The printed board 16 and the TFT array board are connected to the electrodes of the CP 15. The repair wiring 9 is formed on the TFT array substrate and the external circuit board, and the intersection of the repair wiring 9 and the source wiring 2 on the TFT array substrate is interposed through an insulating film. , "Normal state") are insulated between these wirings.
Here, the repair wiring on the TFT array substrate is formed in the same layer as the gate wiring 1 using, for example, a gate wiring material. Also, taking the Cs on gate method as shown in FIG. 4 as an example, at the intersection of the repair wiring 9 and the source wiring 2, the source wiring is connected to the contact holes 17 a and 1.
7b, the gate wiring 1 is formed of a gate wiring material.
The wiring may be once converted to a wiring of the same layer. At this time, the repair wiring 9 is formed using a source wiring material.

【0022】また、図5のようにソース配線2におい
て、コンタクトホール17bを介してゲート配線と同じ
材料に変換してソース端子8までつなげても良い。この
場合、例えば、保護膜が薄い場合など、ピンホールを介
して水分が進入し、シール部の外側に存在する端子部8
近傍でソース配線を腐食するのを防ぐことができる。以
上、リペア配線の配線方法について幾つか述べたが、こ
れに限られる必要はない。更に図3に示すように、プリ
ント基板16上のリペア配線9は通常状態では、グラン
ド電位のようにインピーダンスの小さい電源電位に接続
するようにする。本実施の形態では、 プリント基板12
上にはグランド配線18を形成しており、該グランド配
線18は零オームチップ抵抗19を介してリペア配線9
と接続している。このような構成では、通常状態でもリ
ペア配線をフローティング状態で無くすことができ、高
速信号からリペア配線に進入してくる電磁ノイズをGN
Dに逃がす経路が確保されるため、フローティング状態
に比べてリペア配線からの電磁放射を低減できる。
As shown in FIG. 5, the source wiring 2 may be converted to the same material as the gate wiring through the contact hole 17b and connected to the source terminal 8. In this case, for example, when the protective film is thin, moisture enters through the pinhole, and the terminal portion 8 existing outside the seal portion is formed.
Corrosion of the source wiring in the vicinity can be prevented. As described above, several wiring methods for repair wiring have been described, but it is not necessary to limit to this. Further, as shown in FIG. 3, in a normal state, the repair wiring 9 on the printed circuit board 16 is connected to a power supply potential having a small impedance such as a ground potential. In the present embodiment, the printed circuit board 12
A ground wire 18 is formed on the upper portion, and the ground wire 18 is connected to the repair wire 9 via a zero ohm chip resistor 19.
Is connected to In such a configuration, the repair wiring can be eliminated from the floating state even in the normal state, and the electromagnetic noise entering the repair wiring from the high-speed signal can be reduced to GN.
Since a path to escape to D is secured, electromagnetic radiation from the repair wiring can be reduced as compared with the floating state.

【0023】以下に、本実施の形態におけるソース配線
の断線修復方法を示す。本構成においてTFTアレイ基
板上のソース配線2に断線が生じたときは、断線が生じ
たソース配線とリペア配線との交差部にレーザを照射し
て、これらの配線を接続する。また、プリント基板16
上のハンダにより接続された零オームチップ抵抗19を
取り外すことにより、グランド配線18との接続をオー
プンとする。これにより列配線駆動回路のデータ信号
を、リペア配線を介して断線部以降のソース配線にも印
加し、線欠陥を修復できる。以上の修復方法では断線不
良について述べたが、ソース配線が、ソース配線同士、
ゲート配線、共通配線等(以下、「他の配線」と称
す。)及びゲート電極、共通電極及び対向電極等(以
下、「短絡電極」と称す。)と短絡した場合、短絡不良
となったソース配線には、列電極駆動回路から出力され
るデータ信号と短絡した他の配線又は短絡電極に供給さ
れる信号とが印加されるため、結果的に列配線には所望
の電圧が印加されずに線欠陥不良となる。この短絡不良
については短絡部を切断、もしくは短絡部近傍の一方の
短絡配線を切断し該短絡配線を断線させて、断線不良と
同じ状態として、断線不良と同様の修復を行う。
A method for repairing a disconnection of a source wiring according to the present embodiment will be described below. In this configuration, when a disconnection occurs in the source wiring 2 on the TFT array substrate, the intersection of the source wiring and the repair wiring in which the disconnection has occurred is irradiated with laser to connect these wirings. The printed circuit board 16
By removing the zero ohm chip resistor 19 connected by the upper solder, the connection with the ground wiring 18 is opened. As a result, the data signal of the column wiring drive circuit is applied to the source wiring after the disconnection via the repair wiring, and the line defect can be repaired. In the above repair method, the disconnection failure was described.
When a short circuit occurs with a gate wiring, a common wiring, and the like (hereinafter, referred to as “other wiring”) and a gate electrode, a common electrode, a counter electrode, and the like (hereinafter, referred to as a “short-circuit electrode”), a short-circuited source is generated. Since the data signal output from the column electrode driving circuit and the signal supplied to the other wiring or the short-circuit electrode that is short-circuited are applied to the wiring, a desired voltage is not applied to the column wiring as a result. A line defect will result. With respect to this short-circuit failure, the short-circuit portion is cut, or one short-circuit wire near the short-circuit portion is cut, and the short-circuit wire is disconnected.

【0024】本実施の形態では、周辺回路基板上のリペ
ア配線とグランド配線の接続有無の切り換えを零オーム
チップ抵抗で行っていたが、オープン又はショートを切
り替え可能なスイッチで行うことも可能であり、この方
法であれば、より簡単に修復の有無に対応できる。尚、
リペア配線とグランド配線との接続に零オームチップ抵
抗やオープン又はショートを切り替え可能なスイッチを
用いることにより、断線及び短絡修復し易いものとして
いるが、リペア配線とグランド配線との接続に零オーム
チップ抵抗やオープン又はショートを切り替え可能なス
イッチを用いなくとも、通常状態ではリペア配線をフロ
ーティング状態で無くすことができ、高速信号からリペ
ア配線に進入してくる電磁ノイズをGNDに逃がす経路
が確保されるため、フローティング状態に比べてリペア
配線からの電磁放射を低減できる。また、本実施の形態
では周辺回路基板上のリペア配線とグランド配線を零オ
ームチップ抵抗を使って一箇所で接続しているが、一般
に、接続箇所を増やすと電磁ノイズをGNDに逃がす経
路が増し、電磁放射の低減効果がより大きくなる。更
に、本実施の形態では、プリント基板上のリペア配線を
グランド配線と接続したが、グランド配線以外にも入力
電源、列電極駆動回路電源、行電極駆動回路電源のいず
れかと接続しても電磁放射の低減が期待できる。尚、本
実施の形態では、列配線の断線及び短絡修復可能な液晶
表示装置について述べてきたが、行配線についても同様
なリペア配線を設け、修復することが可能である。
In this embodiment, the connection of the repair wiring and the ground wiring on the peripheral circuit board is switched by the zero ohm chip resistor. However, the switching can be performed by a switch capable of switching between open and short. According to this method, it is possible to more easily cope with the presence or absence of the repair. still,
The use of a zero ohm chip resistor or a switch that can switch between open and short circuit is used for the connection between the repair wiring and the ground wiring. In a normal state, the repair wiring can be eliminated in a floating state without using a switch capable of switching between resistance and open or short, and a path for releasing electromagnetic noise entering the repair wiring from a high-speed signal to GND is secured. Therefore, electromagnetic radiation from the repair wiring can be reduced as compared with the floating state. Further, in the present embodiment, the repair wiring and the ground wiring on the peripheral circuit board are connected at one place by using a zero ohm chip resistor. However, in general, when the number of connection places is increased, a path for releasing electromagnetic noise to GND increases. In addition, the effect of reducing electromagnetic radiation is greater. Further, in the present embodiment, the repair wiring on the printed circuit board is connected to the ground wiring. However, even if the repair wiring is connected to any of the input power supply, the column electrode drive circuit power supply, and the row electrode drive circuit power supply other than the ground wiring, Can be expected to be reduced. In the present embodiment, the liquid crystal display device capable of repairing disconnection and short-circuiting of the column wiring has been described. However, a similar repair wiring can be provided for the row wiring and repaired.

【0025】実施の形態2.本実施の形態でのアレイ基
板の構成と実施の形態1で述べたアレイ基板の構成の違
いは、リペア配線の引回し方の違いであり、他の部分は
基本的にほぼ同一であるので説明は一部省略する。図6
は本発明の他の実施の形態を示す液晶表示装置を構成す
る外部回路基板付アレイ基板の配線部の平面図である。
尚、本実施の形態では列配線の断線及び短絡修復可能な
パネルを想定している。図6において、実施の形態1の
説明で用いた図での同一符号は同一部分を示す。リペア
配線9はアレイ基板のみに配置され、リペア配線9とソ
ース配線2との交差部は絶縁層を介しており、通常状態
ではこれらの配線は絶縁されている。また、アレイ基板
上の共通電極及び対向基板上の対向電極20に印加され
るVcom電位はプリント基板16上の周辺回路で生成
され、TCP15、FPC等の回路を介して、アレイ基
板上にITO、Cr、Al等の金属薄膜で形成される共
通電極配線21に入力され、更に共通電極及び対向電極
20に印加される。
Embodiment 2 The difference between the configuration of the array substrate according to the present embodiment and the configuration of the array substrate described in the first embodiment is a difference in the manner in which the repair wiring is routed, and the other parts are basically the same. Is partially omitted. FIG.
FIG. 9 is a plan view of a wiring portion of an array substrate with an external circuit board that constitutes a liquid crystal display device according to another embodiment of the present invention.
In this embodiment, it is assumed that the panel is capable of repairing disconnection and short-circuit of column wiring. 6, the same reference numerals in the drawings used in the description of the first embodiment denote the same parts. The repair wiring 9 is arranged only on the array substrate, and the intersection between the repair wiring 9 and the source wiring 2 is interposed via an insulating layer, and these wirings are insulated in a normal state. The Vcom potential applied to the common electrode on the array substrate and the opposing electrode 20 on the opposing substrate is generated by a peripheral circuit on the printed circuit board 16, and is transferred onto the array substrate through circuits such as TCP 15 and FPC. The signal is input to a common electrode wiring 21 formed of a metal thin film of Cr, Al, or the like, and further applied to the common electrode and the counter electrode 20.

【0026】本実施の形態ではリペア用共通電極配線2
2とアレイ基板上のリペア配線9をITO、Cr、Al
等の金属薄膜で接続する構造とする。このような構造で
はリペア配線9をフローティング状態で無くすことがで
き、高速信号からリペア配線9に進入してくる電磁ノイ
ズをVcom電位配線23に逃がす経路が確保されるた
め、フローティング状態に比べてリペア配線からの電磁
放射を低減できる。以下に、本実施の形態におけるソー
ス配線の断線修復方法を示す。本構成においてアレイ基
板上のソース配線2に断線が生じたときは、断線が発生
したソース配線とリペア配線との交差部にレーザを照射
して、これらの配線を接続する。また、対向電極20と
リペア配線9との接続部分であるリペア用共通電極配線
22にレーザを照射して、これら配線の接続をオープン
とする。これにより列電極駆動回路のデータ信号を、リ
ペア配線を介して断線部以降のソース配線にも印加し、
線欠陥を修復できる。以上の修復方法では断線不良につ
いて述べたが、ソース配線が、ソース配線同士、他の配
線及び短絡電極と短絡した場合、短絡部を切断、もしく
は短絡部近傍の一方の短絡配線を切断し該短絡配線を断
線させて、断線不良と同じ状態として、断線不良と同様
の修復を行う。尚、本実施の形態では、通常状態でリペ
ア配線を共通電極配線に接続していたが、グランド配
線、入力電極、行電極駆動回路電源又は列電極駆動回路
電源に接続しても、同様にリペア配線をフローティング
状態で無くすことが可能である。また、本実施の形態で
は、ソース配線の断線及び短絡修復可能な液晶表示装置
について述べてきたが、ゲート配線についても同様なリ
ペア配線を設け、修復することが可能である。
In this embodiment, the repair common electrode wiring 2
2 and the repair wiring 9 on the array substrate are made of ITO, Cr, Al
And so on. In such a structure, the repair wiring 9 can be eliminated in a floating state, and a path for releasing electromagnetic noise entering the repair wiring 9 from a high-speed signal to the Vcom potential wiring 23 is secured. Electromagnetic radiation from wiring can be reduced. The method for repairing the disconnection of the source wiring according to the present embodiment will be described below. In this configuration, when a disconnection occurs in the source wiring 2 on the array substrate, the intersection of the source wiring and the repair wiring in which the disconnection has occurred is irradiated with laser to connect these wirings. Further, a laser is applied to the repair common electrode wiring 22, which is a connection portion between the counter electrode 20 and the repair wiring 9, to open the connection of these wirings. As a result, the data signal of the column electrode drive circuit is applied to the source wiring after the disconnection via the repair wiring,
Line defects can be repaired. In the above repair method, a disconnection failure was described. However, when the source wiring is short-circuited between the source wirings, other wirings, and the short-circuit electrode, the short-circuited portion is cut, or one of the short-circuited wires near the short-circuited portion is cut and the short-circuit is performed. The wiring is disconnected, and the same state as the disconnection failure is performed, and the same repair as the disconnection failure is performed. In the present embodiment, the repair wiring is connected to the common electrode wiring in the normal state. However, the repair wiring may be similarly connected to the ground wiring, the input electrode, the row electrode driving circuit power supply or the column electrode driving circuit power supply. It is possible to eliminate the wiring in a floating state. In this embodiment mode, a liquid crystal display device capable of repairing disconnection and short-circuit of a source wiring has been described. However, a similar repair wiring can be provided for a gate wiring to repair the same.

【0027】実施の形態3.本実施の形態でのアレイ基
板の構成と実施の形態1で述べたアレイ基板の構成の違
いは、リペア配線の引回し方の違いであり、他の部分は
基本的にほぼ同一であるので説明は一部省略する。図7
は本発明の他の実施の形態を示す液晶表示装置を構成す
る外部回路基板付アレイ基板の配線部の平面図である。
尚、本実施の形態では列配線の断線及び短絡修復可能な
パネルを想定している。図7において、実施の形態1及
び2の説明で用いた図での同一符号は同一部分を示す。
リペア配線9はアレイ基板、外部回路基板に配置され、
アレイ基板上のリペア配線9とソース配線2との交差部
は絶縁層を介しており、通常状態ではこれらの配線は絶
縁されている。また、アレイ基板上の共通電極及び対向
基板上の対向電極20に印加されるVcom電位はプリ
ント基板16上の周辺回路で生成され、TCP15、F
PC等の回路を介して、アレイ基板上にITO、Cr、
Al等の金属薄膜で形成される共通電極配線21に入力
され、更に共通電極及び対向電極20に印加される。
Embodiment 3 The difference between the configuration of the array substrate according to the present embodiment and the configuration of the array substrate described in the first embodiment is a difference in the manner in which the repair wiring is routed, and the other parts are basically the same. Is partially omitted. FIG.
FIG. 9 is a plan view of a wiring portion of an array substrate with an external circuit board that constitutes a liquid crystal display device according to another embodiment of the present invention.
In this embodiment, it is assumed that the panel is capable of repairing disconnection and short-circuit of column wiring. 7, the same reference numerals in the drawings used in the description of the first and second embodiments indicate the same parts.
The repair wiring 9 is arranged on an array substrate and an external circuit substrate,
The intersection between the repair wiring 9 and the source wiring 2 on the array substrate is interposed through an insulating layer, and these wirings are insulated in a normal state. The Vcom potential applied to the common electrode on the array substrate and the counter electrode 20 on the counter substrate is generated by a peripheral circuit on the printed circuit board 16, and the TCP 15, F
Through circuits such as PC, ITO, Cr,
The signal is input to a common electrode wiring 21 formed of a metal thin film of Al or the like, and further applied to the common electrode and the counter electrode 20.

【0028】本実施の形態ではリペア用共通電極配線2
2とアレイ基板上のリペア配線9をITO、Cr、Al
等の金属薄膜で接続する構造とする。このような構造で
はリペア配線9をフローティング状態で無くすことがで
き、高速信号からリペア配線9に進入してくる電磁ノイ
ズをVcom電位配線23に逃がす経路が確保されるた
め、フローティング状態に比べてリペア配線からの電磁
放射を低減できる。以下に、本実施の形態におけるソー
ス配線の断線修復方法を示す。本構成においてアレイ基
板上のソース配線2に断線が生じたときは、断線が発生
したソース配線とリペア配線との交差部にレーザを照射
して、これらの配線を接続する。また、対向電極20と
リペア配線9との接続部分であるリペア用共通電極配線
22にレーザを照射して、これら配線の接続をオープン
とする。これにより列電極駆動回路のデータ信号を、リ
ペア配線を介して断線部以降のソース配線にも印加し、
線欠陥を修復できる。以上の修復方法では断線不良につ
いて述べたが、ソース配線が、ソース配線同士、他の配
線及び短絡電極と短絡した場合、短絡部を切断、もしく
は短絡部近傍の一方の短絡配線を切断し該短絡配線を断
線させて、断線不良と同じ状態として、断線不良と同様
の修復を行う。尚、本実施の形態では、ソース配線の断
線及び短絡修復可能な液晶表示装置について述べてきた
が、ゲート配線についても同様にリペア配線を設け、修
復することが可能である。
In this embodiment, the repair common electrode wiring 2
2 and the repair wiring 9 on the array substrate are made of ITO, Cr, Al
And so on. In such a structure, the repair wiring 9 can be eliminated in a floating state, and a path for releasing electromagnetic noise entering the repair wiring 9 from a high-speed signal to the Vcom potential wiring 23 is secured. Electromagnetic radiation from wiring can be reduced. The method for repairing the disconnection of the source wiring according to the present embodiment will be described below. In this configuration, when a disconnection occurs in the source wiring 2 on the array substrate, the intersection of the source wiring and the repair wiring in which the disconnection has occurred is irradiated with laser to connect these wirings. Further, a laser is applied to the repair common electrode wiring 22, which is a connection portion between the counter electrode 20 and the repair wiring 9, to open the connection of these wirings. As a result, the data signal of the column electrode drive circuit is applied to the source wiring after the disconnection via the repair wiring,
Line defects can be repaired. In the above repair method, a disconnection failure was described. However, when the source wiring is short-circuited between the source wirings, other wirings, and the short-circuit electrode, the short-circuited portion is cut, or one of the short-circuited wires near the short-circuited portion is cut and the short-circuit is performed. The wiring is disconnected, and the same state as the disconnection failure is performed, and the same repair as the disconnection failure is performed. In the present embodiment, the liquid crystal display device capable of repairing disconnection and short-circuit of the source wiring has been described. However, it is also possible to provide repair wiring for the gate wiring and repair the same.

【0029】実施の形態4.本実施の形態でのアレイ基
板の構成と実施の形態1で述べたアレイ基板の構成の違
いは、リペア配線の引回し方の違いであり、他の部分は
基本的にほぼ同一であるので説明は一部省略する。図8
は本発明の他の実施の形態を示す液晶表示装置を構成す
る外部回路基板付アレイ基板の配線部の平面図である。
尚、本実施の形態ではソース配線の断線及び短絡修復可
能なパネルを想定している。図8において、実施の形態
1、2及び3の説明で用いた図での同一符号は同一部分
を示す。リペア配線9はアレイ基板、外部回路基板に配
置され、アレイ基板上のリペア配線9とソース配線2と
の交差部は絶縁層を介しており、通常状態ではこれらの
配線は絶縁されている。また、アレイ基板上の共通電極
及び対向基板上の対向電極20に印加されるVcom電
位はプリント基板16上の周辺回路で生成され、TCP
15、FPC等の回路を介して、アレイ基板上にIT
O、Cr、Al等の金属薄膜で形成される共通電極配線
21に入力され、更に共通電極及び対向電極20に印加
される。
Embodiment 4 The difference between the configuration of the array substrate according to the present embodiment and the configuration of the array substrate described in the first embodiment is a difference in the manner in which the repair wiring is routed, and the other parts are basically the same. Is partially omitted. FIG.
FIG. 9 is a plan view of a wiring portion of an array substrate with an external circuit board that constitutes a liquid crystal display device according to another embodiment of the present invention.
In the present embodiment, a panel capable of repairing disconnection and short-circuit of the source wiring is assumed. 8, the same reference numerals in the drawings used in the description of the first, second, and third embodiments denote the same parts. The repair wiring 9 is arranged on the array substrate and the external circuit board, and the intersection of the repair wiring 9 and the source wiring 2 on the array substrate is interposed via an insulating layer, and these wirings are insulated in a normal state. The Vcom potential applied to the common electrode on the array substrate and the counter electrode 20 on the counter substrate is generated by a peripheral circuit on the printed circuit board 16,
15. IT on the array substrate through circuits such as FPC
The signal is input to a common electrode wiring 21 formed of a metal thin film of O, Cr, Al or the like, and further applied to a common electrode and a counter electrode 20.

【0030】本実施の形態ではリペア用共通電極配線2
2とアレイ基板上のリペア配線9をITO、Cr、Al
等の金属薄膜で接続する構造とする。このような構造で
はリペア配線9をフローティング状態で無くすことがで
き、高速信号からリペア配線9に進入してくる電磁ノイ
ズをVcom電位配線23に逃がす経路が確保されるた
め、フローティング状態に比べてリペア配線からの電磁
放射を低減できる。更に、これに加えてプリント基板1
6上で、共通電極配線21と同電位であるVcom電位
配線23とリペア配線9とを零オームチップ抵抗19を
介して接続し、リペア配線9とVcom電位配線23と
の接続箇所を増やすことにより、電磁放射の低減に対し
て実施の形態3より大きな効果が期待できる。
In this embodiment, the repair common electrode wiring 2
2 and the repair wiring 9 on the array substrate are made of ITO, Cr, Al
And so on. In such a structure, the repair wiring 9 can be eliminated in a floating state, and a path for releasing electromagnetic noise entering the repair wiring 9 from a high-speed signal to the Vcom potential wiring 23 is secured. Electromagnetic radiation from wiring can be reduced. Furthermore, in addition to this, the printed circuit board 1
6, the Vcom potential wiring 23 having the same potential as the common electrode wiring 21 and the repair wiring 9 are connected via the zero ohm chip resistor 19 to increase the number of connection points between the repair wiring 9 and the Vcom potential wiring 23. A greater effect can be expected on the reduction of electromagnetic radiation than in the third embodiment.

【0031】以下に、本実施の形態におけるソース配線
の断線修復方法を示す。本構成においてアレイ基板上の
ソース配線2に断線が生じたときは、断線が発生したソ
ース配線とリペア配線との交差部にレーザを照射して、
これらの配線を接続する。また、対向電極20とリペア
配線9との接続部分であるリペア用共通電極配線22に
レーザを照射して、これら配線の接続をオープンとす
る。更に、プリント基板16上の零オームチップ抵抗1
9を取り外すことによりVcom電位配線23との接続
をオープンとする。これにより列電極駆動回路のデータ
信号を、リペア配線を介して断線部以降のソース配線に
も印加し、線欠陥を修復できる。以上の修復方法では断
線不良について述べたが、ソース配線が、ソース配線同
士、他の配線及び短絡電極と短絡した場合、短絡部を切
断、もしくは短絡部近傍の一方の短絡配線を切断し該短
絡配線を断線させて、断線不良と同じ状態として、断線
不良と同様の修復を行う。本実施の形態では、周辺回路
基板上のリペア配線とVcom電位配線の接続有無の切
り換えを零オームチップ抵抗で行っていたが、オープン
又はショートを切り替え可能なスイッチで行うことも可
能であり、この方法であれば、より簡単に修復の有無に
対応できる。
The method of repairing the disconnection of the source wiring according to the present embodiment will be described below. In this configuration, when a disconnection occurs in the source wiring 2 on the array substrate, a laser is applied to the intersection between the source wiring and the repair wiring in which the disconnection has occurred,
Connect these wirings. The repair common electrode wiring 22, which is a connection portion between the counter electrode 20 and the repair wiring 9, is irradiated with a laser to open the connection of these wirings. Furthermore, the zero ohm chip resistor 1 on the printed circuit board 16
9 is removed to open the connection with the Vcom potential wiring 23. Thus, the data signal of the column electrode driving circuit is applied to the source wiring after the disconnection via the repair wiring, and the line defect can be repaired. In the repair method described above, the disconnection failure was described. However, when the source wiring is short-circuited between the source wirings, another wiring and the short-circuit electrode, the short-circuited portion is cut or one of the short-circuited wires near the short-circuited portion is cut and the short-circuit is performed. The wiring is disconnected, and the same state as the disconnection failure is performed, and the same repair as the disconnection failure is performed. In the present embodiment, the connection of the repair wiring and the Vcom potential wiring on the peripheral circuit board is switched by the zero ohm chip resistor. However, it is also possible to switch by a switch capable of switching between open and short. If it is a method, it can respond to the presence or absence of repair more easily.

【0032】尚、リペア配線とVcom電位配線との接
続に零オームチップ抵抗やオープン又はショートを切り
替え可能なスイッチを用いることにより、断線及び短絡
修復し易いものとしているが、リペア配線とVcom電
位配線との接続に零オームチップ抵抗やオープン又はシ
ョートを切り替え可能なスイッチを用いなくとも、通常
状態ではリペア配線をフローティング状態で無くすこと
ができ、高速信号からリペア配線に進入してくる電磁ノ
イズをVcom電位配線に逃がす経路が確保されるた
め、フローティング状態に比べてリペア配線からの電磁
放射を低減できる。また、本実施の形態では周辺回路基
板上のリペア配線とVcom電位配線を零オームチップ
抵抗を使って一箇所で接続しているが、一般に、接続箇
所を増やすと電磁ノイズをVcom電位配線に逃がす経
路が増し、電磁放射の低減効果がより大きくなる。
The connection between the repair wiring and the Vcom potential wiring uses a zero ohm chip resistor or a switch capable of switching between open and short, so that the disconnection and the short circuit can be easily repaired. Without using a zero ohm chip resistor or a switch that can switch between open and short, the repair wiring can be eliminated in a floating state in a normal state, and the electromagnetic noise entering the repair wiring from a high-speed signal is Vcom. Since a path to escape to the potential wiring is secured, electromagnetic radiation from the repair wiring can be reduced as compared with the floating state. Further, in the present embodiment, the repair wiring and the Vcom potential wiring on the peripheral circuit board are connected at one place using a zero ohm chip resistor. However, in general, when the number of connection points is increased, electromagnetic noise is released to the Vcom potential wiring. The number of paths is increased, and the effect of reducing electromagnetic radiation is greater.

【0033】尚、本実施の形態では、ソース配線の断線
及び短絡修復可能な液晶表示装置について述べてきた
が、ゲート配線についても同様にリペア配線を設け、修
復することが可能である。尚、本願発明はTN(Twi
sted Nematic)モードの液晶表示装置のみ
ならず、IPS(In−plane switchin
g)モード等のリペア配線を形成しているあらゆる表示
装置に適用することができる。
In the present embodiment, the liquid crystal display device capable of repairing the disconnection and short-circuit of the source wiring has been described. However, it is also possible to provide a repair wiring for the gate wiring and repair the same. The present invention is based on TN (Twi)
In addition to the liquid crystal display device of the sted Nematic mode, the IPS (In-plane switch)
g) The present invention can be applied to any display device having a repair wiring in a mode or the like.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、液晶
表示装置の製造において、ゲート配線及びソース配線に
断線又は短絡が生じなかった場合には、リペア配線を接
地しておくことによってリペア配線からの電磁放射を抑
制することができ、液晶表示装置の低EMI化が可能で
ある。また、予め、零オームチップ抵抗を介してグラン
ド配線に接続しておくことによって、ゲート配線及びソ
ース配線に断線又は短絡が生じた場合においては、容易
に修復可能である。更に、液晶表示装置の製造におい
て、ゲート配線及びソース配線に断線又は短絡が生じな
かった場合には、リペア配線を入力電源、行電極駆動回
路電源又は列電極駆動回路電源等の電源と接続しておく
ことによってリペア配線からの電磁放射を抑制すること
ができ、液晶表示装置の低EMI化が可能である。更
に、液晶表示装置の製造において、ゲート配線及びソー
ス配線に断線又は短絡が生じなかった場合には、リペア
配線を共通電極配線と接続しておくことによってリペア
配線からの電磁放射を抑制することができ、液晶表示装
置の低EMI化が可能である。また、予め、零オームチ
ップ抵抗を介してVcom電位配線に接続しておくこと
によって、列配線及び行配線に断線又は短絡が生じた場
合においては、容易に修復可能である。
As described above, according to the present invention, in the manufacture of the liquid crystal display device, when no disconnection or short circuit occurs in the gate wiring and the source wiring, the repair wiring is grounded to repair the wiring. Electromagnetic radiation from the wiring can be suppressed, and the EMI of the liquid crystal display device can be reduced. In addition, by previously connecting to the ground wiring via a zero-ohm chip resistor, it is possible to easily repair a disconnection or a short circuit in the gate wiring and the source wiring. Further, in the manufacture of the liquid crystal display device, when no disconnection or short circuit occurs in the gate wiring and the source wiring, the repair wiring is connected to a power supply such as an input power supply, a row electrode drive circuit power supply or a column electrode drive circuit power supply. By doing so, the electromagnetic radiation from the repair wiring can be suppressed, and the EMI of the liquid crystal display device can be reduced. Further, in the manufacture of a liquid crystal display device, when disconnection or short circuit does not occur in the gate wiring and the source wiring, it is possible to suppress the electromagnetic radiation from the repair wiring by connecting the repair wiring to the common electrode wiring. Thus, EMI of the liquid crystal display device can be reduced. In addition, if the column wiring and the row wiring are disconnected or short-circuited, they can be easily repaired by connecting them to the Vcom potential wiring via a zero-ohm chip resistor in advance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 Cs on gate方式を示すTFTアレ
イ基板の回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a TFT array substrate showing a Cs on gate method.

【図2】 共通配線方式を示すTFTアレイ基板の回路
図である。
FIG. 2 is a circuit diagram of a TFT array substrate showing a common wiring method.

【図3】 本発明の実施の形態1を示す外部回路基板付
アレイ基板の平面図である。
FIG. 3 is a plan view of an array board with an external circuit board according to the first embodiment of the present invention.

【図4】 ソース配線とリペア配線の交差部の例を示す
回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of an intersection between a source wiring and a repair wiring.

【図5】 ソース配線とリペア配線の交差部の他の例を
示す回路図である。
FIG. 5 is a circuit diagram showing another example of an intersection between a source wiring and a repair wiring.

【図6】 本発明の実施の形態2を示す外部回路基板付
アレイ基板の平面図である。
FIG. 6 is a plan view of an array board with an external circuit board according to a second embodiment of the present invention.

【図7】 本発明の実施の形態3を示す外部回路基板付
アレイ基板の平面図である。
FIG. 7 is a plan view of an array board with an external circuit board according to a third embodiment of the present invention.

【図8】 本発明の実施の形態4を示す外部回路基板付
アレイ基板の平面図である。
FIG. 8 is a plan view of an array board with an external circuit board according to a fourth embodiment of the present invention.

【図9】 従来の断線修復用配線の説明図である。FIG. 9 is an explanatory view of a conventional wire for repairing disconnection.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ゲート配線、 2 ソース配線、 3 TFT 4
液晶容量、5 保持容量、 6 コモン電極、 7
ゲート端子、 8 ソース端子、9 リペア配線、 1
0 リペア端子、 11 共通配線、12 コンタクト
ホール、 13 共通配線引き出し線、14 共通配線
端子、 15 TCP、 16プリント基板、17a
コンタクトホール、 17b コンタクトホール、18
グランド配線、 19 零オームチップ抵抗、20
対向電極、21 共通電極配線、 22 リペア用共通
電極配線、23 Vcom電位配線。
1 gate wiring, 2 source wiring, 3 TFT 4
Liquid crystal capacitance, 5 storage capacitance, 6 common electrode, 7
Gate terminal, 8 source terminals, 9 repair wiring, 1
0 repair terminal, 11 common wiring, 12 contact hole, 13 common wiring lead line, 14 common wiring terminal, 15 TCP, 16 printed circuit board, 17a
Contact hole, 17b Contact hole, 18
Ground wiring, 19 zero ohm chip resistor, 20
Counter electrode, 21 common electrode wiring, 22 repair common electrode wiring, 23 Vcom potential wiring.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 JA24 JB73 JB74 MA48 MA52 NA25 5C094 AA42 AA43 AA60 BA03 BA43 CA19 DA13 DB01 DB02 DB04 DB05 EA04 EA05 EA10 EB02 FA01 FB12 GB10 JA05 5G435 AA00 AA17 BB12 CC09 EE41 KK02 KK09 KK10  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F-term (reference) 2H092 JA24 JB73 JB74 MA48 MA52 NA25 5C094 AA42 AA43 AA60 BA03 BA43 CA19 DA13 DB01 DB02 DB04 DB05 EA04 EA05 EA10 EB02 FA01 FB12 GB10 JA05 5G435 AA00 AA17 BB12 KK10 KK12 KK

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 行方向に配列形成され、相互に絶縁され
た複数本の配線からなる第一の配線と、前記第一の配線
と交差する列方向に配列形成され、相互に絶縁された複
数本の配線からなる第二の配線とを有する絶縁性基板、
前記絶縁性基板または前記絶縁性基板に接続された外部
回路基板に形成され、前記第一または第二の配線に対す
るリペア配線を備えた液晶表示装置において、前記リペ
ア配線が接地されていることを特徴とする液晶表示装
置。
1. A first wiring comprising a plurality of wirings arranged and arranged in a row direction and mutually insulated, and a plurality of wirings arranged and formed in a column direction intersecting the first wiring and mutually insulated. An insulating substrate having a second wiring consisting of book wiring,
In the liquid crystal display device formed on the insulating substrate or an external circuit board connected to the insulating substrate and provided with a repair wire for the first or second wire, the repair wire is grounded. Liquid crystal display device.
【請求項2】 リペア配線は、外部回路基板に形成され
た接続部材を介して接地されていることを特徴とする請
求項1記載の液晶表示装置。
2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the repair wiring is grounded via a connecting member formed on the external circuit board.
【請求項3】 リペア配線は、絶縁性基板または前記絶
縁性基板に接続された外部回路基板に設けられたグラン
ド配線に接続されていることを特徴とする請求項1記載
の液晶表示装置。
3. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the repair wiring is connected to a ground wiring provided on the insulating substrate or an external circuit board connected to the insulating substrate.
【請求項4】 行方向に配列形成され、相互に絶縁され
た複数本の配線からなる第一の配線と、前記第一の配線
と交差する列方向に配列形成され、相互に絶縁された複
数本の配線からなる第二の配線とを有する絶縁性基板、
前記絶縁性基板または前記絶縁性基板に接続された外部
回路基板に形成され、前記第一または第二の配線に対す
るリペア配線を備えた液晶表示装置において、前記リペ
ア配線は、電源に接続されていることを特徴とする液晶
表示装置。
4. A first wiring composed of a plurality of wirings formed in a row direction and mutually insulated, and a plurality of wirings formed in a column direction intersecting with the first wiring and formed in a mutually insulated manner. An insulating substrate having a second wiring consisting of book wiring,
In a liquid crystal display device formed on the insulating substrate or an external circuit board connected to the insulating substrate and provided with a repair wire for the first or second wire, the repair wire is connected to a power supply A liquid crystal display device characterized by the above-mentioned.
【請求項5】 リペア配線は、外部回路基板に形成され
た接続部材を介して電源に接続されていることを特徴と
する請求項4記載の液晶表示装置。
5. The liquid crystal display device according to claim 4, wherein the repair wiring is connected to a power supply via a connection member formed on the external circuit board.
【請求項6】 行方向に配列形成され、相互に絶縁され
た複数本の配線からなる第一の配線と、前記第一の配線
と交差する列方向に配列形成され、相互に絶縁された複
数本の配線からなる第二の配線とを有する絶縁性基板、
前記絶縁性基板または前記絶縁性基板に接続された外部
回路基板に形成され、前記第一または第二の配線に対す
るリペア配線を備えた液晶表示装置において、前記リペ
ア配線は共通電極配線、Vcom電位配線又は対向電極
と接続されていることを特徴とする液晶表示装置。
6. A first wiring composed of a plurality of wirings which are arranged and formed in a row direction and mutually insulated, and a plurality of wirings which are arranged and formed in a column direction intersecting with the first wiring and are mutually insulated. An insulating substrate having a second wiring consisting of book wiring,
In a liquid crystal display device formed on the insulating substrate or an external circuit board connected to the insulating substrate and provided with a repair wire for the first or second wire, the repair wire is a common electrode wire, a Vcom potential wire. Alternatively, the liquid crystal display device is connected to a counter electrode.
【請求項7】 リペア配線は、外部回路基板に形成され
た接続部材を介してVcom電位配線と接続されている
ことを特徴とする請求項6記載の液晶表示装置。
7. The liquid crystal display device according to claim 6, wherein the repair wiring is connected to the Vcom potential wiring via a connecting member formed on the external circuit board.
【請求項8】 接続部材は、零オームチップ抵抗である
ことを特徴とする請求項2または請求項5あるいは請求
項7記載の液晶表示装置。
8. The liquid crystal display device according to claim 2, wherein the connection member is a zero ohm chip resistor.
【請求項9】 行方向に配列され、相互に絶縁された複
数本の配線からなる第一の配線と、絶縁膜を介して前記
第一の配線と交差する列方向に配列され、相互に絶縁さ
れた複数本の配線からなる第二の配線とを絶縁性基板上
に形成すると共に、前記第一の配線又は第二の配線と絶
縁膜を介して交差するリペア配線を、グランド配線と接
続して形成する液晶表示装置の製造方法において、前記
第一の配線又は第二の配線の断線時に、断線した配線の
両端と前記リペア配線とを接続する工程と、前記リペア
配線とグランド配線との接続を断つ工程とを含むことを
特徴とする液晶表示装置の製造方法。
9. A first wiring composed of a plurality of wirings arranged in a row direction and mutually insulated, and a first wiring arranged in a column direction intersecting with said first wiring via an insulating film, and mutually insulated. A second wiring composed of a plurality of wirings is formed on an insulating substrate, and a repair wiring crossing the first wiring or the second wiring via an insulating film is connected to a ground wiring. A step of connecting both ends of the broken wire and the repair wire when the first wire or the second wire is broken, and connecting the repair wire and the ground wire. And a step of cutting off the liquid crystal display device.
【請求項10】 リペア配線とグランド配線とを接続部
材を介して接続して形成する液晶表示装置の製造方法に
おいて、第一の配線又は第二の配線の断線時に、断線し
た配線の両端と前記リペア配線とを接続する工程と、前
記接続部材を外部回路基板より取り外す工程とを含むこ
とを特徴とする請求項9記載の液晶表示装置の製造方
法。
10. A method of manufacturing a liquid crystal display device in which a repair wiring and a ground wiring are connected to each other via a connecting member, wherein when the first wiring or the second wiring is broken, both ends of the broken wiring are connected to the both ends. The method for manufacturing a liquid crystal display device according to claim 9, further comprising: a step of connecting to a repair wiring; and a step of removing the connection member from an external circuit board.
【請求項11】 行方向に配列され、相互に絶縁された
複数本の配線からなる第一の配線と、絶縁膜を介して前
記第一の配線と交差する列方向に配列され、相互に絶縁
された複数本の配線からなる第二の配線とを絶縁性基板
上に形成すると共に、前記第一の配線又は第二の配線と
絶縁膜を介して交差するリペア配線を、電源に接続して
形成する液晶表示装置の製造方法において、前記第一の
配線又は第二の配線の断線時に、断線した配線の両端と
前記リペア配線とを接続する工程と、前記リペア配線と
前記電源との接続を断つ工程とを含むことを特徴とする
液晶表示装置の製造方法。
11. A first wiring comprising a plurality of wirings arranged in a row direction and mutually insulated, and a first wiring arranged in a column direction intersecting with said first wiring via an insulating film, and mutually insulated. A second wiring composed of a plurality of wirings is formed on an insulating substrate, and a repair wiring crossing the first wiring or the second wiring via an insulating film is connected to a power supply. In the method for manufacturing a liquid crystal display device to be formed, when the first wiring or the second wiring is disconnected, a step of connecting both ends of the disconnected wiring and the repair wiring, and a step of connecting the repair wiring and the power supply. And a disconnecting step.
【請求項12】 リペア配線を、接続部材を介して電源
に接続して形成する液晶表示装置の製造方法において、
第一の配線又は第二の配線の断線時に、断線した配線の
両端と前記リペア配線とを接続する工程と、前記接続部
材を外部回路基板より取り外す工程とを含むことを特徴
とする請求項11記載の液晶表示装置の製造方法。
12. A method of manufacturing a liquid crystal display device, wherein a repair wiring is formed by connecting to a power supply via a connecting member.
12. The method according to claim 11, further comprising: when disconnecting the first wiring or the second wiring, connecting both ends of the disconnected wiring and the repair wiring, and removing the connection member from an external circuit board. The manufacturing method of the liquid crystal display device according to the above.
【請求項13】 行方向に配列され、相互に絶縁された
複数本の配線からなる第一の配線と、絶縁膜を介して前
記第一の配線と交差する列方向に配列され、相互に絶縁
された複数本の配線からなる第二の配線とを絶縁性基板
上に形成すると共に、前記第一の配線又は第二の配線と
絶縁膜を介して交差するリペア配線を、共通電極配線、
Vcom電位配線又は対向電極に接続して形成する液晶
表示装置の製造方法において、前記第一の配線又は第二
の配線の断線時に、断線した配線の両端と前記リペア配
線とを接続する工程と、前記リペア配線と前記共通電極
配線、Vcom電位配線または対向電極との接続を断つ
工程とを含むことを特徴とする液晶表示装置の製造方
法。
13. A first wiring composed of a plurality of wirings arranged in a row direction and mutually insulated, and a first wiring arranged in a column direction intersecting said first wiring via an insulating film, and mutually insulated. A second wiring composed of a plurality of wirings formed on an insulating substrate, and a repair wiring crossing the first wiring or the second wiring via an insulating film, a common electrode wiring,
In the method for manufacturing a liquid crystal display device formed by connecting to a Vcom potential wiring or a counter electrode, when disconnecting the first wiring or the second wiring, connecting both ends of the disconnected wiring and the repair wiring, Disconnecting the connection between the repair wiring and the common electrode wiring, the Vcom potential wiring or the counter electrode.
【請求項14】 リペア配線を、Vcom電位配線に接
続部材を介して接続して形成する液晶表示装置の製造方
法において、第一の配線又は第二の配線の断線時に、断
線した配線の両端と前記リペア配線とを接続する工程
と、前記接続部材を外部回路基板より取り外す工程とを
含むことを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
14. A method of manufacturing a liquid crystal display device in which a repair wiring is connected to a Vcom potential wiring via a connecting member via a connecting member, wherein when the first wiring or the second wiring is broken, both ends of the broken wiring are connected to each other. A method for manufacturing a liquid crystal display device, comprising: a step of connecting the repair wiring; and a step of removing the connection member from an external circuit board.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005249993A (en) * 2004-03-03 2005-09-15 Hitachi Displays Ltd Active matrix type display apparatus and manufacturing method for the same
JP2008026900A (en) * 2006-07-18 2008-02-07 Samsung Electronics Co Ltd Driver chip and display device equipped with the same, and repair method
JP2009020477A (en) * 2007-07-16 2009-01-29 Au Optronics Corp Active array substrate for flat panel display
JP2011150371A (en) * 2004-02-19 2011-08-04 Samsung Electronics Co Ltd Liquid crystal display panel and display apparatus having the same
KR101571775B1 (en) 2009-03-09 2015-12-07 삼성디스플레이 주식회사 Array substrate method of manufacturing the same and method of repairing array substrate

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011150371A (en) * 2004-02-19 2011-08-04 Samsung Electronics Co Ltd Liquid crystal display panel and display apparatus having the same
JP2005249993A (en) * 2004-03-03 2005-09-15 Hitachi Displays Ltd Active matrix type display apparatus and manufacturing method for the same
JP4583052B2 (en) * 2004-03-03 2010-11-17 株式会社 日立ディスプレイズ Active matrix display device
JP2008026900A (en) * 2006-07-18 2008-02-07 Samsung Electronics Co Ltd Driver chip and display device equipped with the same, and repair method
JP2009020477A (en) * 2007-07-16 2009-01-29 Au Optronics Corp Active array substrate for flat panel display
KR101571775B1 (en) 2009-03-09 2015-12-07 삼성디스플레이 주식회사 Array substrate method of manufacturing the same and method of repairing array substrate

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