JP2001235396A

JP2001235396A - 光ファイバの欠陥検出方法

Info

Publication number: JP2001235396A
Application number: JP2000380676A
Authority: JP
Inventors: Shinpei Tofuji; 慎平東藤; Yasuhiro Naka; 恭宏仲; Akira Aikawa; 明相川
Original assignee: Furukawa Electric Co Ltd
Current assignee: Furukawa Electric Co Ltd
Priority date: 1999-12-16
Filing date: 2000-12-14
Publication date: 2001-08-31
Anticipated expiration: 2020-12-14
Also published as: JP4609820B2

Abstract

(57)【要約】【課題】検査処理に時間がかかり線引き速度の高
速化が難しい。【解決手段】被測定光ファイバにその光軸と交差する
方向からレーザ光を照射して、同光ファイバ内を透過し
て散乱される前方散乱光の強度分布を調べ、同強度分布
のパターンから被測定光ファイバの欠陥を検出する方法
において、強度分布のパターンに、平滑度の弱い平滑化
処理と平滑度の強い平滑化処理を施して第１、第２のパ
ターンを作り、これら第１、第２のパターンの差、或い
は商から判定用パターンを作り、同判定用パターンの大
きさを評価して被測定光ファイバの欠陥を検出する。強
度分布のパターンをフーリエ変換して周波数スぺクトル
パターンにし、この周波数スぺクトルパターンを両対数
軸にて評価して同スぺクトルパターンにこれと寄与率が
高い判定用曲線を当てはめ、この判定用曲線に対する前
記周波数スぺクトルパターンの分散を求めてその大きさ
から被測定光ファイバの欠陥を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ファイバの欠陥を
調べる欠陥検出方法に関するものであり、線引き中の光
ファイバを検査するインライン検査に適したものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】光ファイバは内部に空洞等の欠陥がある
と光伝送損失の増大や機械的強度の低下、或いは融着接
続時の端面融着の失敗等の望ましくない問題を生じる。
そこで、光ファイバ線引設備では線引き中にインライン
にてこの空洞欠陥の検出を行っている。

【０００３】例えば、特開平４−１０６４４８号公報、
その他では図９（ａ）に示すように、線引き中の被測定
光ファイバ素線（以下、単に被測定光ファイバと記す）
Ａにその側方からレーザ光Ｂを照射し、当該光ファイバ
Ａ内を透過して前方に散乱される前方散乱光ＣをＣＣＤ
ラインセンサ等のイメージセンサＤで受光し、この信号
を信号処理部Ｅ及び判定処理部Ｆで処理して、前方散乱
光Ｃの強度分布パターンＧを得ると共に同パターンＧか
ら被測定光ファイバＡの欠陥を検出するシステムが開示
されている。

【０００４】前記信号処理部Ｅは、イメージセンサＤで
受光された散乱光Ｃの光強度をその走査ライン方向（図
９（ａ）中の矢印ａ方向）に読み出して光強度分布のパ
ターンＧを出力する。この場合、イメージセンサＤの走
査ライン方向の中央部付近に図示されていない光源から
直進するレーザ光Ｂ（変位角が０度の散乱光Ｃ）が受光
され、前記中央部の両側に被測定光ファイバＡで散乱さ
れた散乱光Ｃが受光されるようになっており、縦軸をセ
ンサ位置座標（散乱光の変位角）とし、横軸を光強度と
して強度分布のパターンをプロットすれば、図９（ｂ）
に示されるようにセンサ位置座標０付近にピークを持
つ、山形のパターンＧが得られるようになっている。

【０００５】前記判定処理部Ｆは、イメージセンサＤで
とらえられた強度分布のパターンＧを、予め計測してお
いた正常な光ファイバからの強度分布パターン（基準パ
ターン）と比較し、両者パターンの―致度成いは不一致
度をある閾値をもって判定し、被測定光ファイバＡが正
常であるか異常であるかを判別する。この場合、基準パ
ターンは、予め他の方法で欠陥が無いと判定された光フ
ァイバに光を照射して得られる前方散乱光のパターンか
ら得られる。基準パターンは、正常と判断された複数の
光ファイバについて前方散乱光の強度分布のパターンを
調べ、その結果を平均化したものとする場合も有るが、
いずれにしても基準パターンは固定的なものが使われ
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】線引中のオンライン測
定においては、被測定光ファイバＡが振動したり、位置
が移動したり、ファイバ外径が変動したり、或いはレー
ザ光強度が変動したりして、実際に判定処理部Ｆで処理
される強度分布パターンＧには様々な変動要素が付加さ
れてしまう。例えば図１０（ａ）に示すようにパターン
Ｇが全体的に上下したり、同図（ｂ）に示すように全体
的に左右に移動したり、同図（ｃ）に示すようにパター
ンＧの傾きが変化したりする（これらの図にはパターン
Ｇについてセンサ位置座標０より正の部分成いは負部分
だけを表示してある）。この結果、基準パターンが固定
的に与えられていると、被測定光ファイバＡそのものに
異常が無いにも関わらず測定で得られたパターンＧとの
間に大きな差異が生じて異常有りと判断されてしまうこ
とがある。そこで一般には、このような外的変動要因を
考慮して基準パターンにある幅（遊び）を持たせ、計測
されたパターンＧが基準パターンに対してある範囲内
（閾値内）にあれば被測定光ファイバＡは正常であると
判断するようにしている。

【０００７】しかし、最近、この遊びが本来検出される
べき欠陥を見逃す例があることが判ってきた。例えば、
光ファイバの断面位置においてコア近傍に欠陥がある
と、コアから離れたところに欠陥がある場合に比べて、
基準パターンと比較した際の差異が小さくなり、差異が
閾値の遊びの中に入り、本来異常と判断されなければな
らないにも関わらず、正常と判断されてしまうことがあ
る。従って、図１０（ａ）、（ｂ）、（ｃ）に示すよう
な光ファイバの欠陥によらない変動分を解消して正確に
被測定光ファイバＡの異常を検出することができるアル
ゴリズムが必要とされている。

【０００８】近年の画像処理を含めたデジタル信号処理
能力のソフトウエア的、ハードウエア的発達により、光
ファイバの欠陥によらない変動分をキャンセルするよう
に基準レベルを変動させることも不可能ではない。しか
しながら、光ファイバの製造コストの低減のために線引
速度のさらなる高速化も要求され続け、欠陥検出の測定
周期も高速化が要求されており、精度良く判定できる高
度な処理であっても、処理時間がかかる内容では意味が
ない。従って、画像処理に要する演算の負担が軽く、高
速処理が可能なアルゴリズムが必要とされている。

【０００９】また、光ファイバの断面方向に屈折率分
布、或いは測定用照射レーザ光の強度分布等に局所的な
偏りがあると、オンライン測定時、ファイバ振動を伴っ
て、それらが拡大検知される場合があり、従って、この
ような局所的偏りに影響されないアルゴリズムが必要と
されている。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明のうち請求項１記
載の光ファイバの欠陥検出方法は、被測定光ファイバに
その光軸と交差する方向からレーザ光を照射して、同光
ファイバ内を透過して散乱される前方散乱光の強度分布
を調べ、同強度分布のパターンから被測定光ファイバの
欠陥を検出する方法において、前記強度分布のパターン
に、平滑度の弱い平滑化処理と平滑度の強い平滑化処理
を施して第１、第２のパターンを作り、これら第１、第
２のパターンの差から判定用パターンを作り、同判定用
パターンの大きさを評価して被測定光ファイバの欠陥を
検出するものである。

【００１１】本発明のうち請求項２記載の光ファイバの
欠陥検出方法は、被測定光ファイバにその光軸と交差す
る方向からレーザ光を照射して、同光ファイバ内を透過
して散乱される前方散乱光の強度分布を調べ、同強度分
布のパターンから被測定光ファイバの欠陥を検出する方
法において、前記強度分布のパターンに、平滑度の弱い
平滑化処理と平滑度の強い平滑化処理を施して第１、第
２のパターンを作り、第２のパターンに対する第１のパ
ターンの商から判定用パターンを作り、同判定用パター
ンの大きさを評価して被測定光ファイバの欠陥を検出す
るものである。

【００１２】本発明のうち請求項３記載の光ファイバの
欠陥検出方法は、第１或いは第２のパターンと連動され
る変動閾値パターンを作り、これを判定用パターンと比
較することにより同判定用パターンの大きさを評価する
ものである。

【００１３】本発明のうち請求項４記載の光ファイバの
欠陥検出方法は、平滑化処理に移動平均法を用いるもの
である。

【００１４】本発明のうち請求項５記載の光ファイバの
欠陥検出方法は、被測定光ファイバにその光軸と交差す
る方向からレーザ光を照射して、同光ファイバ内を透過
して散乱される前方散乱光の強度分布を調べ、同強度分
布のパターンから被測定光ファイバの欠陥を検出する方
法において、前記強度分布のパターンをフーリエ変換し
てフーリエ変換パターンにし、このフーリエ変換パター
ンを両対数軸にて評価して同パターンにこれと寄与率が
高い判定用曲線を当てはめ、この判定用曲線に対する前
記フーリエ変換パターンの分散を求めてその大きさから
被測定光ファイバの欠陥を検出するものである。

【００１５】本発明のうち請求項６記載の光ファイバの
欠陥検出方法は、強度分布のパターンに、平滑度の弱い
平滑化処理と平滑度の強い平滑化処理を施して第１、第
２のパターンを作り、第１、第２のパターンの差が最大
となる、或いは第２のパターンに対する第1のパターン
の商が最大となるような領域をパターンに設定し、この
領域のパターンに部分的にフーリエ変換を施して被測定
光ファイバの欠陥を検出するものである。

【００１６】

【発明の実施の形態１】図１は本発明の光ファイバの欠
陥検出方法を実施するための装置の概略図であり、光源
１２は線引き中の被測定光ファイバ（光ファイバ素線）
１にその光軸と交差する方向からレーザ光２を照射でき
るように配置され、イメージセンサ１３は前記光源１２
と被測定光ファイバ１を挟んで対向するように配置され
ている。そして光源１２から出射されたレーザ光２が被
測定光ファイバ１内を透過して散乱され、その前方散乱
光（以下、単に散乱光と記載する）がイメージセンサ１
３で受光されるようにしてある。なお、レーザ光２は被
測定光ファイバ１の直径を上回る光線幅を有するもので
あり、光源１２から連続的に出射される。

【００１７】前記イメージセンサ１３はＣＣＤラインセ
ンサのようなものであり、図１に示されるように水平方
向に幅広く、同方向に走査すれば被測定光ファイバ１で
散乱された散乱光の水平方向の光強度分布を検出するこ
とができるようになっている。このイメージセンサ１３
は、光源１２からの入射レーザ光の光軸に正対する位置
に配置することもできるが、その位置から適宜の角度
（受光角度）の範囲内に配置することもできる。このイ
メージセンサ１３からの信号を、横軸を水平方向におけ
る位置（散乱光３の変位角）、縦軸を光強度としてプロ
ットすれば、図２（ａ）や図２（ｂ）に示されるような
山形のパターン４が観測できるようにしてある。そして
被測定光ファイバ１が正常であれば図２（ａ）に示され
るような水平方向に左右対象なパターン４が得られ、異
常が有れば図２（ｂ）に示されるようなどこかに凹凸の
あるパターン４が得られるようになっている。

【００１８】図１のイメージセンサ１３でとらえられた
散乱光３のパターン４は、Ａ/Ｄ変換器１４でサンプリ
ングされてデジタル信号に変換され、パーソナルコンピ
ュータ（ＰＣ）１５に入力されるようにしてある。

【００１９】図１のＰＣ１５には入力されるデジタル信
号を処理して本件発明の光ファイバの欠陥検出方法を実
現するソフトウエアプログラムが記憶されている。図３
はこのソフトウエアプログラムのフローチャートであ
り、イメージセンサ１３で1回のライン走査が完了する
毎に図３に示す一連の処理が１回行われる。なお、イメ
ージセンサ１３における１回のライン走査時間は、被測
定光ファイバ１の線引き速度等にあわせて適切な値を選
択し、高速で移動する被測定光ファイバ１の断面を所定
の間隔で検査することができるようにする。

【００２０】次に、前記図３のソフトウエアプログラム
による処理を、図４（ａ）に示すようなパターン４が得
られた場合の例で説明する。なお、図４（ａ）〜図４
（ｃ）にはイメージセンサ１３でとらえられる実際のパ
ターン４の片側半分だけが図示されており、本件発明に
おいてはこの片側半分だけを処理しても、図２（ａ）、
（ｂ）に示されるようにパターン全体を処理してもよ
い。

【００２１】（１）ＰＣ１５に入力されたデジタル信号
を読み込み、図４（ａ）に示すような光強度分布のパタ
ーン４を得る。このパターン４には被測定光ファイバ１
の欠陥に伴う異常が検出されているが、そのままでは異
常箇所を判別することはできない。

【００２２】（２）読み込んだパターン４を複製して全
く同じ２つのパターン４を作り出す（データのコピ
ー）。

【００２３】（３）複製された一方のパターン４に同パ
ターン４を構成する要素への有効範囲を狭く作用させた
移動平均処理を施し、他方のパターン４に各要素への有
効範囲を広く作用させた移動平均処理を施して、図４
（ｂ）に示される第1のパターン５（以下、パターンＡ
（ｘ）と記載する）と第２のパターン６（以下、パター
ンＢ（ｘ）と記載する）を得る。なお、移動平均は平滑
化処理の一つであり、数１で表されるものである。この
場合の各要素への有効範囲を狭くしたり広くしたりする
ことは数１におけるnを小さくしたり大きくしたりする
ことである。またｆ（ｘ）、ｆ（ｉ）は水平位置におけ
る各要素点ｘやｉにおける光強度を表す。

【００２４】

【数１】

【００２５】（４）パターンＡ（ｘ）とパターンＢ
（ｘ）の差をとり、図４（ｃ）に示される判定用パター
ン７（以下、判定用パターンＣ（ｘ）と記載する）を得
る。判定用パターンＣ（ｘ）＝|パターンＡ（ｘ）−パター
ンＢ（ｘ）|

【００２６】前記（４）の処理における、判定用パター
ンＣ（ｘ）は、判定用パターンＣ（ｘ）＝|（パターンＡ（ｘ））／
（パターンＢ（ｘ））| により得られるものであっても良い。こちらの方が判定
用パターンＣ（ｘ）を作成する負担が軽いが、どちらを
選択するかはシステムの処理能力を考慮して選択すれば
良い。

【００２７】（５）前記（４）の処理と平行してパター
ンＢ（ｘ）を複製し、これにＮ（ｘ）なるパターンを乗
算して変動閾値パターン８（以下、閾値パターンＬ
（ｘ）と記載する）を算出する。この閾値パターンＬ
（ｘ）はパターンＢ（ｘ）の変動に比例される。前記Ｎ
（ｘ）は、光源１２やイメージセンサ１３の配置位置
等、計測系の状態に応じて実験的に求められるものであ
り、オンライン測定において正常状態でのばらつきを計
測し、平均的な期待値として求めたものを使用すること
ができる。

【００２８】（６）判定用パターンＣ（ｘ）と閾値パタ
ーンＬ（ｘ）とを比較し、図４（ｃ）に示されるように
判定用パターンＣ（ｘ）に閾値パターンＬ（ｘ）を越え
る箇所が部分的にでもあれば"異常"の判定を出力する。
閾値パターンＬ（ｘ）を超える部分がなければ"正常"の
判定結果を出カするものとする。

【００２９】（７）前記（１）から（６）までの処理を
繰り返し行い、線引き中の被測定光ファイバ１の欠陥を
インラインにて検出する。

【００３０】前記ＰＣ１５はデジタル信号を処理する以
外に、イメージセンサ１３から受け取ったデータを記録
する記録機能や、イメージセンサ１３でとらえられたパ
ターン４等を表示する表示機能、"異常"が検出された場
合にそれを報知するアラーム機能、アラームが検出され
た場合に線引き装置を自動的に停止させたりする機能
等、必要な機能を備えることができる。

【００３１】

【発明の実施の形態２】この実施形態は、前記実施形態
１の光ファイバの欠陥検出方法はイメージセンサ１３で
得られる光強度分布のパターン４をデジタル信号に変換
してソフトウエアプログラムとＰＣ（パソコン等のハー
ドウエア）１５との組み台わせで演算処理する例である
が、本件発明においてはソフトウエアプログラムを用い
ずに、ハードウエアだけで行うこともできる。この場合
は図５の様な検査装置とすることができる。図５は、図
９の検査装置と同様に信号処理部１６と判定処理部１７
とを有し、判定処理部１７は信号複製機能、平滑化処理
機能、判定用パターン作成機能、閾値発生機能、パター
ン判定機能を持つ。なお、実際にはこれらに加えて図９
と同様にアラームや記録部、モニタ等を備えることがで
きる。

【００３２】信号処理部１６は、イメージセンサ１３の
走査線を水平方向に走査して受光された散乱光３の光強
度分布を時系列的に出力させるものであり、１回のライ
ン走査で図２に示すような強度分布のパターン４を得る
ことができるようにしてある。

【００３３】判定処理部１７の信号複製機能は信号処理
部１６から出力されるパターン４を２つに分岐して２つ
の同じパターン４を作り出すものである。このような回
路としては分岐器がある。

【００３４】前記平滑化処理機能は、信号複製機能で得
られた２つのパターン４に平滑化処理を施すものであ
り、―方のパターン４には実施形態1と同様に平滑度の
弱い平滑化を施してパターンＡ（ｘ）を作り出し、他方
のパターン４には平滑度の強い平滑化を施してパターン
Ｂ（ｘ）を作り出す。この平滑化処理を行う回路として
は積分回路があり、平滑の度合いは回路の時定数により
設定することができる。

【００３５】前記判定用パターン発生機能は、平滑化処
理機能で得られたパターンＡ（ｘ）、Ｂ（ｘ）からそれ
らの差或いは商を得て、実施形態１における判定用パタ
ーンＣ（ｘ）と同じものを得るものである。

【００３６】前記閾値発生機能は、平滑度を強くしたパ
ターンＢ（ｘ）にさらに別のパターン値（実施形態１の
Ｎ（ｘ）に相当するもの）を掛けて閾値パターンＬ
（ｘ）を得るものである。

【００３７】前記パターン判定機能は、判定用パターン
Ｃ（ｘ）と、閾値パターンＬ（ｘ）とを比較するもので
あり、判定用パターンＣ（ｘ）に閾値パターンＬ（ｘ）
を部分的にでも上回れば"異常"を、そうでなければ"正
常"を出力するものである。

【００３８】

【発明の実施の形態３】本発明の光ファイバの欠陥検出
方法は図８に示すような光学系によっても実施すること
ができる。具体的には、被測定光ファイバ１で散乱され
た散乱光３をハーフミラー１８により２つに分岐し、そ
れらを散乱板１９、２０を通して別々のイメージセンサ
１３（１３ａ、１３ｂ）で観測するようにしたものであ
る。この場合、２枚の散乱板１９、２０は光の散乱度数
を違えてあり、一方は散乱度を弱く、他方は散乱度を高
くしてあり、前者を透過してイメージセンサ１３ａに受
光される散乱光３からは実施形態１と同様のパターンＡ
（ｘ）が得られ、後者を透過してイメージセンサ１３ｂ
に受光される散乱光３からは実施形態１と同様のパター
ンＢ（ｘ）が得られるようにしてある。この２つのイメ
ージセンサ１３ａ、１３ｂで得られたパターンＡ（ｘ）
とパターンＢ（ｘ）は実施形態１で説明したようなデジ
タル処理系で処理したり、実施形態２で説明したような
アナログ処理系で処理して、判定用パターンＣ（ｘ）と
閾値パターンＬ（ｘ）とを求め、これらを比較して被測
定光ファイバ１の良否を判断することができる。

【００３９】

【発明の実施の形態４】以上は光ファイバの欠陥検出方
法に平滑化処理を用いた例であるが、本発明ではフーリ
エ変換を用いても良い。この場合、散乱光３の強度分布
パターン４を得てそのデジタル信号をＰＣ１５に入力す
るところまでは実施形態１と同じであるが、信号を処理
するソフトウエアプログラムは図６に示すものを用い
る。

【００４０】以下に図６のソフトウエアプログラムによ
る処理の流れを説明する。（１）読み込んだパターン４に対してフーリエ変換を施
して、フーリエ変換パターン９を得、そのフーリエ変換
パターン９を図７に示すような両対数のグラフにて評価
する。

【００４１】（２）図７のグラフに低周波数域を基点と
した基準線（判定用曲線）１０を引く。この引き方はイ
メージセンサ１３の配置やその他の系の構成要素により
微妙に異なるが、低周波数域側で安定した点、例えば１
０Ｈｚのポイントを通り、傾きが−１の直線を当てはめ
ることができる。

【００４２】（３）フーリエ変換パターン９の基準線１
０に対する偏差の２乗和を求める（分散を求める）。こ
の場合、周波数域に有効範囲を設定し、例えば、基点に
したポイントよりも低周波側は有効範囲外として除外し
ても良い。また、最大周波数（フーリエ変換時に利用し
たデータ数により決まる）に対して（最大周波数）／２
より高周波域では不安定となりやすいのでこれも除外し
て良い。

【００４３】（４）求まった偏差の２乗和を所定の閾値
と比較し、閾値以下であれば"正常"の結果を出力し、閾
値を越えれば欠陥があるとして"異常"の結果を出力す
る。

【００４４】（５）前記（１）〜（４）の処理を繰り返
すことにより、線引中の被測定光ファイバ１のオンライ
ン検査を行うことができる。

【００４５】以上の処理は全て図６に示したソフトウエ
アプログラムにより電子的に行われるものであって、例
えば図７のフーリエ変換パターン９への基準線１０の当
てはめを人手により行うものではない。

【００４６】前記フーリエ変換がＰＣ１５での処理に時
間がかかる場合、実施形態１で説明したパターンＡ
（ｘ）とパターンＢ（ｘ）とから|Ａ−Ｂ|或いは|Ａ／
Ｂ|を求め、これらの値が最大となる領域、例えば図４
（ｃ）においてパターンＣ（ｘ）が最大ピークを持つよ
うな領域を選びだし、この領域に対して前記図６のプロ
グラムに基づく判定法を実施することにより、処理を高
速化することができる。フーリエ変換はＦＦＴ（高速フ
ーリエ変換）により効率的に演算処理することができる
が、それでも移動平均と比較すれば処理負担は大きいた
め、領域を限定することにより処理速度を速めることが
できる。

【００４７】平滑化処理には、各要素での値をその周辺
領域の値の平均値で置き換える移動平均の他に、周辺領
域の値の中央値（メディアン:median）で置き換えるこ
とによって平滑化する方法や、フーリエ変換した後に低
域通過フィルタによって高い周波数の成分をより小さく
し、その後逆フーリエ変換を行うことによって平滑化す
る手法等もある。

【００４８】

【発明の効果】本発明の光ファイバの欠陥検出方法によ
れば次のような効果がある。１．移動平均等の処理に時間のかからない平滑化処理を
アルゴリズムとして採用するため、線引き速度が速くて
も容易にオンライン検査を行うことができる。２．平滑化処理は電気回路や光学系により簡単に実行す
ることができるため、高速検査が可能である。３．被測定光ファイバの変動やレーザ光の変動分をキャ
ンセルできるように閾値が変動されるため、正確な検査
が可能である。４．請求項５のフーリエ変換を採用する検査方法におい
ても、請求項６に記載されているようにパターン全体に
ついてフーリエ変換を行う必要はないため、高速検査が
可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ファイバの欠陥検出方法を採用した
検査装置の第１例を示した概略図。

【図２】図１のイメージセンサで観測される散乱光の強
度分布パターンを表した説明図であり、（ａ）は正常
な光ファイバに対するもの、（ｂ）は異常がある光ファ
イバに対するもの。

【図３】図１の欠陥装置における検出方法の流れを示し
たフローチャート図。

【図４】（ａ）〜（ｃ）は図３の検査方法におけるパタ
ーン判定の様子を説明するための説明図。

【図５】本発明の光ファイバの欠陥検出方法を採用した
検査装置の第２例を示した概略図。

【図６】欠陥検出方法にフーリエ変換を採用した場合の
処理の流れを説明するフローチャート図。

【図７】図６のフーリオ変換法におけるパターン判定の
様子を説明するための説明図。

【図８】本発明の光ファイバの欠陥検出方法を採用した
検査装置の第３例を示した概略図。

【図９】（ａ）は従来の光ファイバの欠陥検出装置の一
例を示した概略図、（ｂ）は同装置において観測される
散乱光の様子を示した説明図。

【図１０】（ａ）〜（ｃ）は図９の装置における問題点
を示した説明図。

【符号の説明】

１被測定光ファイバ２レーザ光３散乱光４パターン５第1のパターン６第2のパターン７判定用パターン８変動閾値パターン９フーリエ変換パターン１０判定用曲線

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被測定光ファイバ（１）にその光軸と交差
する方向からレーザ光（２）を照射して、同光ファイバ
（１）内を透過して散乱される前方散乱光（３）の強度
分布を調べ、同強度分布のパターン（４）から被測定光
ファイバ（１）の欠陥を検出する方法において、前記強
度分布のパターン（４）に、平滑度の弱い平滑化処理と
平滑度の強い平滑化処理を施して第１、第２のパターン
（５、６）を作り、これら第１、第２のパターン（５、
６）の差から判定用パターン（７）を作り、同判定用パ
ターン（７）の大きさを評価して被測定光ファイバ
（１）の欠陥を検出することを特徴とする光ファイバの
欠陥検出方法。
【請求項２】被測定光ファイバ（１）にその光軸と交差
する方向からレーザ光（２）を照射して、同光ファイバ
（１）内を透過して散乱される前方散乱光（３）の強度
分布を調べ、同強度分布のパターン（４）から被測定光
ファイバ（１）の欠陥を検出する方法において、前記強
度分布のパターン（４）に、平滑度の弱い平滑化処理と
平滑度の強い平滑化処理を施して第１、第２のパターン
（５、６）を作り、第２のパターン（６）に対する第１
のパターン（５）の商から判定用パターン（７）を作
り、同判定用パターン（７）の大きさを評価して被測定
光ファイバ（１）の欠陥を検出することを特徴とする光
ファイバの欠陥検出方法。
【請求項３】第１或いは第２のパターン（５、６）と連
動される変動閾値パターン（８）を作り、これを判定用
パターン（７）と比較することにより同判定用パターン
（７）の大きさを評価することを特徴とする請求項１又
は請求項２記載の光ファイバの欠陥検出方法。
【請求項４】平滑化処理に移動平均法を用いることを特
徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の光フ
ァイバの欠陥検出方法。
【請求項５】被測定光ファイバ（１）にその光軸と交差
する方向からレーザ光（２）を照射して、同光ファイバ
（１）内を透過して散乱される前方散乱光（３）の強度
分布を調べ、同強度分布のパターン（４）から被測定光
ファイバ（１）の欠陥を検出する方法において、前記強
度分布のパターン（４）をフーリエ変換してフーリエ変
換パターン（９）にし、このフーリエ変換パターン
（９）を両対数軸にて評価して同パターン（９）にこれ
と寄与率が高い判定用曲線（１０）を当てはめ、この判
定用曲線（１０）に対する前記フーリエ変換パターン
（９）の分散を求めてその大きさから被測定光ファイバ
（１）の欠陥を検出することを特徴とする光ファイバの
欠陥検出方法。
【請求項６】強度分布のパターン（４）に、平滑度の弱
い平滑化処理と平滑度の強い平滑化処理を施して第１、
第２のパターン（５、６）を作り、第１、第２のパター
ン（５、６）の差が最大となる、或いは第２のパターン
（６）に対する第1のパターン（５）の商が最大となる
ような領域をパターン（４）に設定し、この領域のパタ
ーン（４）に部分的にフーリエ変換を施して被測定光フ
ァイバ（１）の欠陥を検出するようにしたことを特徴と
する請求項５記載の光ファイバの欠陥検出方法。