JP2001223263A - 小型環境の制御システムおよび方法 - Google Patents
小型環境の制御システムおよび方法Info
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Abstract
近く制御された環境にサンプルを配置かつ保存できる小
型環境の制御システムおよび方法を提供する。 【解決手段】 本発明による装置は、サンプル3を収容
して外部から隔離するための個別のエンクロージャ1を
含む。個別のエンクロージャ1に結合されるマイクロポ
ンプアレイ5が、個別のエンクロージャ1内に制御され
た真空を発生して維持する。搬送手段6により、個別の
エンクロージャ1にサンプル3を出し入れ可能である。
マイクロポンプアレイ5のマイクロポンプは、熱遷移作
用により作動するタイプとすることができる。マイクロ
温度センサ8、マイクロ圧力センサ9およびガス分析器
10は、搭載されたマイクロコンピュータ11を介して
マイクロポンプアレイ5の動作を制御可能である。
Description
造用の基板ウエハ等のサンプル、あるいはテストまたは
製造中の他のあらゆる要素を囲む環境を制御するための
装置および方法に関する。
ンルームの汚染物質から基板を隔離するために基板取扱
システムが使用されている。その原理は、EP0582
018AまたはUS5988233Aに教示されている
ように、加圧した窒素または他の中性ガスを含む共通の
集合ボックスに複数の基板を入れることにある。ボック
ス内の環境は制御されない。1つの不都合は、窒素また
は他の中性ガスが存在するため、上記EP058201
8Aに記載されているように、基板の真空処理前にイン
ターフェースで過渡的なガス抜きステップを必要とする
ことにある。別の不都合は、処理圧力に戻したときにガ
ス流によって生ずる汚染にあり、そのため、US598
8233Aに記載されたようなパージ装置が設けられ
る。
498Aでは、複数の基板が、共通の集合ボックスで搬
送可能であり、その環境は、外部源により設定される減
圧下にあって、代替中性ガスを含むことができる。だ
が、ボックスの環境の制御はない。せいぜいEP085
4498Aが、内部環境の連続攪拌およびフィルタリン
グと、アクセスドアの開放時における内部過圧の発生と
を教示しているだけである。上記の全ての文献は、共通
の集合ボックス内でサンプルを幾つかずつに分けること
によって、サンプルをまとめて搬送するようにしてい
る。
られている。US5871336Aに記載された、質量
分析器に用いられる小型ガス分析器または他の小型セン
サ内の真空生成に用いられる熱遷移マイクロポンプ、U
S5375979Aに記載されたガスの熱膨張によるポ
ンピングのマイクロポンプ、US4938742Aに記
載された、薬剤、生物学、冷却および燃料の供給の分野
で、液体または気体をポンピングするための、圧電効果
によって作動されるメンブレンマイクロポンプ、US5
975856Aに記載された、加速センサ、圧力センサ
または化学組成センサ、あるいは製薬産業または宇宙産
業用の流体制御に用いられ、ペルチエ効果接合部によっ
て得られるガスの容積変化によるポンピング式のマイク
ロポンプなどである。だが、これらの文献のどれ1つを
とっても、半導体ウエハのようなサンプルの処理におけ
る環境制御への適用を記載したり示唆したりしていな
い。
プルの処理またはテストの複数の連続操作の間に必要で
あった、過渡的な環境の変更および適応ステップをなく
し、あるいは著しく減らすことによって、サンプルの処
理または使用条件にできるだけ近く制御された環境に、
サンプルを配置かつ保存できる装置を構成することにあ
る。
たは処理条件に最も近くサンプルを配置かつ保存しよう
とする。
空下で個別のエンクロージャに個々にサンプルの搬送を
行うサンプル搬送ステップを含む、サンプルのテスト方
法または、エッチングおよび堆積によるサンプルの加工
方法を提案する。この方法により、サンプルが汚染され
る危険性を著しく低くできることが確認されている。
は、搬送されるサンプルの寸法よりもわずかに大きく、
個別のエンクロージャに配置されたサンプルが、小容量
の環境で囲まれるようにして、小型環境を構成する。
に、サンプルを囲む環境の制御装置を提案し、サンプル
を収容し、サンプルの周囲の小容量の内部環境により外
部環境からサンプルを隔離するように構成された気密の
個別のエンクロージャと、個別のエンクロージャに結合
され、個別のエンクロージャ内に制御された真空を発生
して維持し、電源に接続可能なマイクロポンプアレイ
と、個別のエンクロージャにサンプルを出し入れ可能な
搬送手段とを含む。
周囲に小型環境を構成し、サンプルが汚染される危険性
を著しく低くする。
ージャおよびマイクロポンプアレイからなるアセンブリ
は、少なくとも一時的にマイクロポンプアレイを給電す
るための内部電源を含むポータブル自立アセンブリであ
る。かくして、加圧窒素の入ったコンテナで必要であっ
たような過渡的なガス抜き操作を必要とせずに、2つの
連続するワークステーションの間でサンプルを移動可能
である。
ジャおよびマイクロポンプアレイからなるアセンブリを
固定し、半導体製造設備の搬送チャンバを構成する。
ために、有利な構成によれば、マイクロポンプアレイ
は、熱遷移作用により動作するマイクロポンプを含む。
熱遷移作用を得るための熱源は、電気抵抗もしくは、ペ
ルチエ効果をもつ接合部とすることができる。このよう
なマイクロポンプの長所は、可動部品を1つも含まない
ことにあり、どの部品も摩擦のために摩耗することがな
い。かくして高い信頼性が得られ、また摩擦による損失
がない。
しくない粒子を環境に放出しない。
ンブレンを備えたマイクロポンプ、圧電効果を持つマイ
クロポンプ、あるいは、電気抵抗またはペルチエ効果接
合部によりガスの加熱を実施可能なガスの熱膨張効果に
よるマイクロポンプを使用してもよい。
ロ圧力センサ、およびガス分析器により制御可能であ
り、搭載されたマイクロコンピュータを介してマイクロ
ポンプアレイを制御する。
付図面に関してなされた、特定の実施形態の以下の説明
により明らかになるであろう。
よる小型環境の環境制御装置が、気密周辺壁2を備えた
個別のエンクロージャ1を含み、前記個別のエンクロー
ジャが、サンプル3を収容するように、また個別のエン
クロージャ1の内部でサンプル3の周囲の小容量4によ
り、外部環境からサンプルを隔離するように構成されて
いる。たとえば半導体基板ウエハの場合、周辺壁2は、
平らな平行六面体の内部チャンバを画定可能であり、そ
の寸法は、半導体基板ウエハの寸法よりもわずかに大き
い。
クロポンプアレイ5は、個別のエンクロージャ1内に制
御された真空を発生および維持するように構成される。
マイクロポンプアレイ5は、電源に接続できる。
動される、両方向矢印20で示されたように長手方向に
摺動する搬送プレート19とにより示されており、個別
のエンクロージャ1にサンプル3を出し入れ可能にす
る。
ャ1およびマイクロポンプアレイ5から形成されるアセ
ンブリが、ポータブル自立アセンブリであり、マイクロ
ポンプアレイ5およびその制御装置を少なくとも一時的
に給電する内部電源7を含む。装置のアセンブリは、そ
のポータブル構成において、直径約200〜500m
m、厚さ約30〜50mmになる。
らに、たとえばマイクロ温度センサ8、マイクロ圧力セ
ンサ9といったマイクロセンサと、ガス分析器10とを
含み、個別のエンクロージャ1における環境を制御する
とともに、搭載マイクロコンピュータ11を介してマイ
クロポンプアレイ5を制御する。マイクロコンピュータ
11は、マイクロポンプ5の動作を制御して、個別のエ
ンクロージャ1内のサンプル3の周囲で環境を安定化す
るようにプログラムされる。
ンプアレイ5が、熱遷移効果により作動するマイクロポ
ンプを含む。クヌーセン(Knudsen)により明ら
かにされた熱遷移効果によれば、2つの大きな容積が、
横断方向の寸法が非常に小さい管路によって接続され、
この管路の半径が分子の平均自由行程未満であり、2つ
の大きな容積が異なる温度に置かれるとき、容積間に圧
力差が発生する。従って、管路および容積が連続する場
合には、大気圧から高真空までの圧力差を発生すること
ができる。
よって接続される2個の連続するチャンバ12、13を
考慮し、第2のチャンバ13の温度が第1のチャンバ1
2の温度よりも高く、たとえば第1のチャンバ12が3
00゜Kで、第2のチャンバ13が600゜Kである
時、第2のチャンバ13内の圧力は、第1のチャンバ1
2内の圧力よりも1.4倍大きい。圧力比は、2個のチ
ャンバ12、13の絶対温度の比の平方根にほぼ比例す
る。
個のチャンバ12、13の間の温度差を保持するのに十
分であるときにも生じる。
ンバを設けてもよい。
路14によって接続される一連のチャンバ12、13を
含み、管路の少なくとも横断方向の寸法が、マイクロポ
ンプ5に存在するガス分子の平均自由行程以下であるこ
とが有利である。また、ポンピング効果を発生するため
に、連続するチャンバ12、13の間に温度差を形成し
てこれを保持するための手段を備える。
イクロ技術で通常使用されるマイクロ加工方法により基
板上に構成できる。その場合、マイクロポンプアレイの
ポンピング容量を著しく増加させて、数百ミリバール・
L/秒にも達しうるように、また公称シーケンスおよび
冗長性シーケンスを得るように、複数(数千)のシーケ
ンスがウエハ全体に実施される。また可動部品が1つも
ないことに留意することが重要である。
プアレイ5では、ポンピング効果を発生するために、チ
ャンバ12、13のような連続するチャンバの間で温度
差を形成して保持することが必要である。
る熱遷移効果マイクロポンプアレイ5は、個別のエンク
ロージャ1の内部容量4に接続されるポンプ入口15
と、大気圧に接続されるポンプ出口16とを含むことが
できる。マイクロポンプアレイ5は、入口15から低い
圧力のガスを受容し、出口16から大気圧のガスを排気
する。
加工で実施しやすい長方形の横断面と、管路14内にガ
ス分子が存在する条件において、このガス分子の平均自
由行程以下である少なくとも1つの寸法とを有する。
るチャンバ間で温度差を形成して保持するための手段
は、第2のチャンバ13でガスを加熱するように配置さ
れた電気抵抗17を含む。電気抵抗17は有利には、第
2のチャンバ13の入口付近に配置され、制御および調
整手段により給電される。
段は、たとえば連続するチャンバ12、13の入口付近
に収容されるペルチエ効果接合部を含む。
される基板は、好適にはシリコン、シリカ、ヒ化ガリウ
ム、炭化ケイ素といった半導体材料である。
備えた管路が好ましく、その寸法の1つ、たとえば幅
は、およそ分子の平均自由行程以下である。
たガスは、マイクロポンプアレイ5の内部の複数段を通
過する。チャンバおよび管路は、ガス圧が高まるにつれ
て寸法が小さくなるが、これは、ガス圧が高くなると分
子の平均自由行程が短くなるからである。このような熱
遷移効果のマイクロポンプで使用される一般的な寸法
は、数百ミクロンから1ミクロン以下である。
ャンバおよび管路が非常に小型化することによる製造の
複雑性を回避するために、有利には、少なくとも1つの
第1の熱遷移効果マイクロポンプ段と、少なくとも1つ
の第2の圧電効果マイクロポンプ段とを直列に含むマイ
クロポンプアレイ5を構成可能である。
に示した。
平らな平行六面体のケースとして示し、図にサンプル3
およびドア装置6を示した。個別のエンクロージャ1
は、サンプル3の寸法に応じてカセットサイズにし、た
とえば直径約200〜500mm、厚さ約30〜50m
mにすることができる。
は、ワークステーション18まで手で簡単に移動可能で
あり、ワークステーションで、サンプル3は、個別のエ
ンクロージャ1と同じ圧力で保持されながら個別のエン
クロージャ1から引き出され、たとえば、半導体製造用
のエッチングまたは真空蒸着ステップが行われる。
のオンボード光学システム検知器のカプセル封入にあ
り、軌道に乗せる前の特定制御テスト中に、湿気や他の
汚染物質からこの検知器を保護するものである。
るものではなく、当業者が理解する様々な変形実施形態
や一般実施形態を含む。
アレイの構造の概略的な断面図である。
な断面図である。
半導体製造用のポータブル装置に使用するところを示す
図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 制御された真空下で個別のエンクロージ
ャに個々にサンプルの搬送を行うサンプル搬送ステップ
を含む、サンプルのテスト方法または、エッチングおよ
び堆積によるサンプルの加工方法。 - 【請求項2】 サンプル(3)を収容し、サンプル
(3)の周囲の小容量の内部環境(4)により外部環境
からサンプル(3)を隔離するよう構成された気密の個
別のエンクロージャ(1)と、 個別のエンクロージャ(1)に結合され、個別のエンク
ロージャ(1)内に制御された真空を発生して維持し、
電源に接続可能なマイクロポンプアレイ(5)と、 個別のエンクロージャ(1)にサンプル(3)を出し入
れ可能な搬送手段(6、19)とを含む、サンプル
(3)を囲む環境の制御装置。 - 【請求項3】 個別のエンクロージャ(1)およびマイ
クロポンプアレイ(5)からなるアセンブリが、少なく
とも一時的にマイクロポンプアレイ(5)を給電するた
めの内部電源(7)を含むポータブル自立アセンブリで
あることを特徴とする請求項2に記載の装置。 - 【請求項4】 個別のエンクロージャ(1)およびマイ
クロポンプアレイ(5)からなるアセンブリが固定さ
れ、半導体製造設備の搬送チャンバを構成することを特
徴とする請求項2に記載の装置。 - 【請求項5】 マイクロポンプアレイ(5)が、熱遷移
作用により作動するマイクロポンプを含むことを特徴と
する請求項2から4のいずれか一項に記載の装置。 - 【請求項6】 マイクロポンプアレイ(5)が、管路
(14)により接続された一連のチャンバ(12、1
3)を含み、管路の少なくとも横断方向の寸法が、マイ
クロポンプ(5)内に存在するガス分子の平均自由行程
以下であり、また、ポンピング作用を発生するために、
連続するチャンバ(12、13)間に温度差を形成して
保持する手段を含むことを特徴とする請求項5に記載の
装置。 - 【請求項7】 連続するチャンバ(12、13)間に温
度差を形成して保持する手段が、2個の連続するチャン
バの二番目のチャンバ(13)の入り口付近に配置され
る電気抵抗(17)を含むことを特徴とする請求項6に
記載の装置。 - 【請求項8】 連続するチャンバ(12、13)間に温
度差を形成して保持する手段が、連続するチャンバ(1
2、13)の入り口付近に収容されるペルチエ効果接合
部を含むことを特徴とする請求項6に記載の装置。 - 【請求項9】 マイクロポンプアレイ(5)が、マイク
ロメンブレンを備えたマイクロポンプを含むことを特徴
とする請求項2から4のいずれか一項に記載の装置。 - 【請求項10】 マイクロポンプアレイ(5)が、圧電
効果マイクロポンプを含むことを特徴とする請求項2か
ら4のいずれか一項に記載の装置。 - 【請求項11】 マイクロポンプアレイ(5)が、少な
くとも1つの第1の熱遷移作用マイクロポンプ段と、少
なくとも1つの第2の圧電効果マイクロポンプ段とを含
むことを特徴とする請求項2から4のいずれか一項に記
載の装置。 - 【請求項12】 マイクロ温度センサ(8)、マイクロ
圧力センサ(9)およびガス分析器(10)をさらに含
み、個別のエンクロージャ(1)の環境を制御するとと
もに、搭載されたマイクロコンピュータ(11)を介し
てマイクロポンプアレイ(5)を制御可能にすることを
特徴とする請求項2から11のいずれか一項に記載の装
置。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005163784A (ja) * | 2003-11-04 | 2005-06-23 | Alcatel | 熱遷移マイクロポンプを使用するポンピング装置 |
JP2005311361A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Alcatel | 制御雰囲気下で基板を輸送するための装置 |
JP2005311360A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Alcatel | 熱泳動効果によって保護される搬送ポッド |
JP2006218421A (ja) * | 2005-02-10 | 2006-08-24 | Kyoto Univ | 混合気体の分離方法、及び気体分離装置 |
JP2010190227A (ja) * | 2004-03-23 | 2010-09-02 | Osaka Vacuum Ltd | ポンプ装置及びそのポンプユニット |
JP2014514482A (ja) * | 2011-03-02 | 2014-06-19 | ゲーム・チェンジャーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 分散型マイクロクラスタのための耐故障性制御システム |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7514048B2 (en) * | 2002-08-22 | 2009-04-07 | Industrial Technology Research Institute | Controlled odor generator |
US7367781B2 (en) | 2003-01-16 | 2008-05-06 | The Regents Of The University Of Michigan | Packaged micromachined device such as a vacuum micropump, device having a micromachined sealed electrical interconnect and device having a suspended micromachined bonding pad |
US6986649B2 (en) * | 2003-04-09 | 2006-01-17 | Motorola, Inc. | Micropump with integrated pressure sensor |
US6913654B2 (en) * | 2003-06-02 | 2005-07-05 | Mykrolis Corporation | Method for the removal of airborne molecular contaminants using water gas mixtures |
US20060001569A1 (en) * | 2004-07-01 | 2006-01-05 | Marco Scandurra | Radiometric propulsion system |
TWI278426B (en) * | 2004-12-30 | 2007-04-11 | Prec Instr Dev Ct Nat | Composite plate device for thermal transpiration micropump |
JP2009503899A (ja) * | 2005-08-03 | 2009-01-29 | インテグリス・インコーポレーテッド | 移送容器 |
US20070144118A1 (en) * | 2005-12-22 | 2007-06-28 | Alvarez Daniel Jr | Purging of a wafer conveyance container |
JP4893156B2 (ja) * | 2006-08-21 | 2012-03-07 | 栗田工業株式会社 | 水質評価方法及びそれに用いられる基板接触器具 |
US9997325B2 (en) | 2008-07-17 | 2018-06-12 | Verity Instruments, Inc. | Electron beam exciter for use in chemical analysis in processing systems |
WO2012118995A1 (en) * | 2011-03-02 | 2012-09-07 | Game Changers, Llc | Thermal transpiration device and method of making same |
RU2462615C1 (ru) * | 2011-04-19 | 2012-09-27 | Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Московский Физико-Технический Институт (Государственный Университет)" | Газовый микронасос |
US11977025B2 (en) | 2022-07-07 | 2024-05-07 | Ge Infrastructure Technology Llc | System and method for on-board data analysis for multi-gas sensing |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5950538A (ja) * | 1982-09-17 | 1984-03-23 | Hitachi Ltd | ウエハ搬送装置 |
US4636128A (en) * | 1984-08-30 | 1987-01-13 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor slice cassette transport unit |
US4966519A (en) * | 1985-10-24 | 1990-10-30 | Texas Instruments Incorporated | Integrated circuit processing system |
US4676884A (en) * | 1986-07-23 | 1987-06-30 | The Boc Group, Inc. | Wafer processing machine with evacuated wafer transporting and storage system |
US4938742A (en) * | 1988-02-04 | 1990-07-03 | Smits Johannes G | Piezoelectric micropump with microvalves |
US4969556A (en) * | 1988-05-10 | 1990-11-13 | Hajime Ishimaru | Vacuum container |
DE3925749C1 (ja) * | 1989-08-03 | 1990-10-31 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De | |
DE4024973C2 (de) * | 1990-08-07 | 1994-11-03 | Ibm | Anordnung zum Lagern, Transportieren und Einschleusen von Substraten |
US5255783A (en) * | 1991-12-20 | 1993-10-26 | Fluoroware, Inc. | Evacuated wafer container |
DE4220077A1 (de) * | 1992-06-19 | 1993-12-23 | Bosch Gmbh Robert | Mikropumpe |
DE69205571T2 (de) * | 1992-08-04 | 1996-06-13 | Ibm | Unter Druck stehende Koppelsysteme zum Transferieren von einem Halbleiterwafer zwischen einem tragbaren abdichtbaren unter druckstehenden Behälter und einer Bearbeitungsanlage. |
US5295522A (en) * | 1992-09-24 | 1994-03-22 | International Business Machines Corporation | Gas purge system for isolation enclosure for contamination sensitive items |
FR2697000B1 (fr) * | 1992-10-16 | 1994-11-25 | Commissariat Energie Atomique | Boîte plate de confinement d'un objet plat sous atmosphère spéciale. |
US5810537A (en) * | 1995-10-18 | 1998-09-22 | Bye/Oasis Engineering Inc. | Isolation chamber transfer apparatus |
FR2747112B1 (fr) * | 1996-04-03 | 1998-05-07 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de transport d'objets plats et procede de transfert de ces objets entre ledit dispositif et une machine de traitement |
US5871336A (en) * | 1996-07-25 | 1999-02-16 | Northrop Grumman Corporation | Thermal transpiration driven vacuum pump |
US5843196A (en) * | 1997-01-21 | 1998-12-01 | International Business Machines Corporation | Ultra-clean transport carrier |
DE19719862A1 (de) * | 1997-05-12 | 1998-11-19 | Fraunhofer Ges Forschung | Mikromembranpumpe |
US5975856A (en) * | 1997-10-06 | 1999-11-02 | The Aerospace Corporation | Method of pumping a fluid through a micromechanical valve having N-type and P-type thermoelectric elements for heating and cooling a fluid between an inlet and an outlet |
US5988233A (en) * | 1998-03-27 | 1999-11-23 | Asyst Technologies, Inc. | Evacuation-driven SMIF pod purge system |
US6368079B2 (en) * | 1998-12-23 | 2002-04-09 | Battelle Pulmonary Therapeutics, Inc. | Piezoelectric micropump |
-
1999
- 1999-12-09 FR FR9915528A patent/FR2802335B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-12-06 EP EP00420248A patent/EP1107292B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 2000-12-06 AT AT00420248T patent/ATE385345T1/de not_active IP Right Cessation
- 2000-12-06 US US09/729,779 patent/US6422823B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-12-06 DE DE60037932T patent/DE60037932T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-12-08 JP JP2000374250A patent/JP2001223263A/ja not_active Ceased
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005163784A (ja) * | 2003-11-04 | 2005-06-23 | Alcatel | 熱遷移マイクロポンプを使用するポンピング装置 |
JP2010190227A (ja) * | 2004-03-23 | 2010-09-02 | Osaka Vacuum Ltd | ポンプ装置及びそのポンプユニット |
US7909583B2 (en) | 2004-03-23 | 2011-03-22 | Osaka Vacuum, Ltd. | Pump apparatus and pump unit thereof |
JP2005311361A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Alcatel | 制御雰囲気下で基板を輸送するための装置 |
JP2005311360A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Alcatel | 熱泳動効果によって保護される搬送ポッド |
JP4712425B2 (ja) * | 2004-04-21 | 2011-06-29 | アルカテル−ルーセント | 制御雰囲気下で基板を輸送するための装置 |
JP2006218421A (ja) * | 2005-02-10 | 2006-08-24 | Kyoto Univ | 混合気体の分離方法、及び気体分離装置 |
JP2014514482A (ja) * | 2011-03-02 | 2014-06-19 | ゲーム・チェンジャーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 分散型マイクロクラスタのための耐故障性制御システム |
US9784251B2 (en) | 2011-03-02 | 2017-10-10 | Game Changers, Lllc | Fault tolerant control system for distributed micro-thrusters |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1107292B1 (fr) | 2008-01-30 |
EP1107292A1 (fr) | 2001-06-13 |
DE60037932T2 (de) | 2009-01-29 |
US20010003572A1 (en) | 2001-06-14 |
DE60037932D1 (de) | 2008-03-20 |
FR2802335B1 (fr) | 2002-04-05 |
US6422823B2 (en) | 2002-07-23 |
FR2802335A1 (fr) | 2001-06-15 |
ATE385345T1 (de) | 2008-02-15 |
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