JP2001223197A - 基板搬入搬出装置および基板洗浄システム - Google Patents

基板搬入搬出装置および基板洗浄システム

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JP2001223197A
JP2001223197A JP2000307930A JP2000307930A JP2001223197A JP 2001223197 A JP2001223197 A JP 2001223197A JP 2000307930 A JP2000307930 A JP 2000307930A JP 2000307930 A JP2000307930 A JP 2000307930A JP 2001223197 A JP2001223197 A JP 2001223197A
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wafer
carrier
unloading
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JP2000307930A
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English (en)
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Ryoichi Okura
領一 大蔵
Miyuki Takaishi
みゆき 高石
Hiroshi Yamaguchi
弘 山口
Hideo Kamikawachi
秀夫 上川内
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SES Co Ltd
M Tec Co Ltd
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SES Co Ltd
M Tec Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 装置構成が単純かつコンパクトでコストパー
フォーマンスに優れた基板洗浄システムに適した構造を
備えた基板搬入搬出装置を提供する。 【解決手段】 複数枚のウェハW,W,…を水平状態で
上下方向へ所定の配列ピッチをもって収納したキャリア
56を保持する基板保持部60と、この基板保持部60
を上下方向へ昇降移動させて、キャリア56内のウェハ
W,W,…の搬入または搬出のための位置決めを行う昇
降位置決め部61とを備えており、搬送用キャリア56
が、そのまま基板搬入搬出装置のストック用キャリアと
しても使用されて、スループット対策として優れた洗浄
システムの構築が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は基板搬入搬出装置
および基板洗浄システムに関し、さらに詳細には、半導
体や電子部品等のディバイス製造工程において、半導体
ウェハ等を一枚ずつウェット洗浄処理するための枚葉式
ウェット洗浄システムにおける半導体ウェハ等の搬入搬
出技術に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウェハ等(以下単にウェハと称す
る)をウェット洗浄する方法としては、従来、複数の洗
浄槽が連続して配列されてなるウェットベンチタイプの
洗浄槽に対して、キャリアカセットに収納した複数枚の
ウェハを、またはキャリアカセットを省略して直接複数
枚のウェハを搬送装置により順次浸漬して処理するいわ
ゆるバッチ式ウェット洗浄が主流であったが、半導体装
置もサブミクロン時代を迎え、このような装置構造の微
細化、高集積化に伴って、ウェハの表面にも非常に高い
清浄度が要求されている昨今、より高い清浄度の要求を
満足するウェット洗浄技術として、密閉された洗浄室内
でウェハを一枚ずつカセットレスでウェット洗浄するい
わゆる枚葉式ウェット洗浄が開発提案されるに至った。
【0003】この枚葉式ウェット洗浄にあっては、パー
ティクルの再付着等もなく高い清浄度雰囲気での洗浄を
高精度に行なうことができ、しかも装置構成が単純かつ
コンパクトで多品種少量生産にも有効に対応できるとい
う利点がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のバッ
チ式および枚葉式ウェット洗浄のいずれにあっても、洗
浄装置自体が清浄度雰囲気に保たれたクリーンルーム内
に設置されていることから、装置本体は、床部やウェハ
搬入搬出部等が開放されるとともに、装置本体内の各ブ
ース間も互いに開放されるなど、作業性を優先した装置
構成が採用されていた。
【0005】しかしながら、このような装置構成では、
洗浄処理後のウェハへのパーティクルの再付着や、ウェ
ハの洗浄処理に伴う洗浄液等の飛沫やウェハ自体からの
発塵による作業者への悪影響を完全に防止することがで
きず、また、装置本体の壁面全体に耐腐食性のコーティ
ングを施す必要もあり、装置コストが高いという問題も
あった。
【0006】本発明はかかる従来の問題点に鑑みてなさ
れたものであって、その目的とするところは、密閉され
た洗浄室内でウェハを一枚ずつカセットレスでウェット
洗浄する枚葉式ウェット洗浄の利点を生かしつつも、さ
らにパーティクルの再付着等もなく高い清浄度雰囲気で
の洗浄を高精度に行なうことができ、しかも装置構成が
単純かつコンパクトでコストパーフォーマンスにも優れ
た基板洗浄システムに適した基板搬入搬出装置を提供す
ることにある。
【0007】本発明のもう一つの目的とするところは、
上記基板搬入搬出装置を備えて、上記目的を達成するこ
とが可能な構成を備えた基板洗浄システムを提供するこ
とにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の基板搬入搬出装置は、ウェハを一枚ずつカ
セットレスでウェット洗浄する枚葉式基板洗浄システム
における基板搬入部または基板搬出部に配置されて、複
数枚ストックされたウェハを一枚ずつ搬入または搬出処
理する装置であって、複数枚のウェハを水平状態で上下
方向へ所定の配列ピッチをもって収納したキャリアを保
持する基板保持手段と、この基板保持部を上下方向へ昇
降移動させて、上記キャリア内のウェハの搬入または搬
出のための位置決めを行う昇降位置決め手段とを備えて
いることを特徴とする。
【0009】好適な実施態様として、上記基板保持手段
は、上記キャリアを保持するキャリア保持台が上下方向
へ少なくとも2つ所定間隔をもって配置されてなる。
【0010】また、上記基板保持手段に保持されるキャ
リア内のウェハを一枚ずつ移載する移載ロボットを備
え、この移載ロボットは、水平動作して上記ウェハを水
平状態のまま移載処理するハンド部を備え、上記昇降位
置決め手段は、上記基板保持手段を上下方向へウェハの
配列ピッチに対応した所定ピッチずつ昇降移動させて、
上記キャリア内のウェハのいずれか一枚を上記移載ロボ
ットのハンド部に対して位置決めするように構成されて
いる。
【0011】また、上記移載ロボットは、昇降動作する
とともに水平動作する一対のハンド部を備えたツインア
ームロボットの形態とされ、一方のハンド部が洗浄処理
前のウェハを移載処理するとともに、他方のハンド部が
洗浄処理後のウェハを移載処理する構成とされている。
【0012】さらに、上記基板保持手段に上記キャリア
が正しく配置されているか否かを検知するキャリア傾き
検出手段、上記基板保持手段に保持されたキャリア内の
ウェハを整列させるウェハ飛出し整列手段および/また
は上記基板保持手段に保持されるキャリア内のウェハの
配列状態を検出するウェハ検出手段を備える。
【0013】また、本発明の基板洗浄システムは、密閉
可能に構成された装置本体内に、洗浄処理前のウェハが
複数枚ストックされて搬入待機する基板搬入部および洗
浄処理後のウェハが複数枚ストックされて搬出待機する
基板搬出部とからなるローディング・アンローディング
ブースと、ウェハを一枚ずつ複数の洗浄液で洗浄処理す
る少なくとも一つの枚葉式基板洗浄チャンバを備える処
理ブースと、この処理ブースと上記ローディング・アン
ローディングブースの間でウェハを一枚ずつ移載する移
載ロボットを備えるロボットブースとが設けられてな
り、上記ローディング・アンローディングブースの基板
搬入部および基板搬出部と、上記ロボットブースとに、
上記基板搬入搬出装置が設けられていることを特徴とす
る。
【0014】好適な実施態様として、上記ローディング
・アンローディングブースにおいて、上記基板搬入部お
よび基板搬出部にストックされるウェハが上下方向へ所
定の配列ピッチをもって水平状態で配列されるととも
に、ローディング・アンローディングブース内を流れる
清浄空気が上記基板搬出部から基板搬入部へ向けて水平
に流れるように構成されている。
【0015】本発明の基板洗浄システムにおいては、密
閉可能に構成された装置本体内に、上記ローディング・
アンローディングブース、処理ブースおよびロボットブ
ースが設けられるとともに、上記ローディング・アンロ
ーディングブースの基板搬入部および基板搬出部と、上
記ロボットブースとに、上記基板搬入搬出装置が設けら
れて、ウェハを一枚ずつ処理する枚葉式とされているこ
とにより、パーティクル等の再付着もほとんどなく、ウ
ェハ毎の精密な処理を行なうことができ、基板洗浄チャ
ンバの洗浄空間も小さく、洗浄液も少量で済む。
【0016】また、ウェハを一枚ずつ複数の洗浄液で洗
浄処理する、つまり一つの基板洗浄チャンバで全洗浄工
程を行なうワンチャンバ式であることから、洗浄工程に
おいてウェハの出し入れがなく、大気に触れて、金属汚
染、イオンあるいは酸素等の影響を受けることもなく、
各基板洗浄チャンバの構成も単純かつ小型化できる。
【0017】しかも、上記基板搬入搬出装置は、複数枚
のウェハを水平状態で上下方向へ所定の配列ピッチをも
って収納したキャリアを保持する基板保持手段と、この
基板保持部を上下方向へ昇降移動させて、上記キャリア
内のウェハの搬入または搬出のための位置決めを行う昇
降位置決め手段とを備えているから、自動搬入装置(A
GV)またはオぺレータの手作業により、前工程からキ
ャリアに収容された垂直状態で搬送されてくる洗浄処理
前のウェハは、キャリアに収容されたままの状態で、垂
直状態から水平状態に姿勢変化された後、昇降位置決め
手段により、上下方向へ所定ピッチずつ昇降されて、移
載のための位置決めが行われるとともに、移載ロボット
によるウェハの搬入が一枚ずつ行われる。一方、洗浄処
理済みのウェハは、上記と逆の動作により、キャリア内
に所定枚数配列収容された後、キャリアごと次工程へ向
けて搬出される。
【0018】このように、搬送用キャリアが、そのまま
上記基板搬入搬出装置のストック用キャリアとしても使
用される結果、スループット対策として優れた洗浄シス
テムの構築が可能となる。
【0019】また、ローディング・アンローディングブ
ースにおいて、上記基板搬入部および基板搬出部にスト
ックされるウェハが上下方向へ所定の配列ピッチをもっ
て水平状態で配列されるとともに、ローディング・アン
ローディングブース内を流れる清浄空気が上記基板搬出
部から基板搬入部へ向けて水平に流れるように構成され
ることにより、あるいは、上記ロボットブースの移載ロ
ボットが、一対のハンド部を備えたツインアームロボッ
トの形態とされて、一方のハンド部が洗浄処理前のウェ
ハを移載処理するとともに、他方のハンド部が洗浄処理
後のウェハを移載処理する構成とされていることによ
り、洗浄処理済みのウェハに対する洗浄処理前のウェハ
からのパーティクル等の再付着が有効に防止される。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて詳細に説明する。
【0021】本発明に係る基板搬入搬出装置を図1〜図
11に示す。この基板搬入搬出装置120は、具体的に
は、図21〜図24に示す基板洗浄システムの一部を構
成するものである。
【0022】上記基板洗浄システムは、具体的には、ウ
ェハWの洗浄を一枚ずつ行う枚葉式の基板洗浄チャンバ
を基本単位として構成されるものであり、清浄雰囲気と
されたクリーンルーム内に設置される。この基板洗浄シ
ステムは、密閉可能に構成された装置本体1内に、ロー
ディング・アンローディングブースA、ロボットブース
Bおよび処理ブースCが設けられてなり、これら各ブー
スA,B,Cが隔壁2,3をもって区画形成されてい
る。
【0023】図示の実施形態においては、装置本体1の
前後両側にローディング・アンローディングブースAと
処理ブースCがそれぞれ配置されるとともに、これらロ
ーディング・アンローディングブースAと処理ブースC
との間にロボットブースBが介装されてなり、上記ロー
ディング・アンローディングブースAの前面側に装置本
体1外部のオペレーティング空間Oに開放可能な開閉口
4,5が設けられている。また、処理ブースC内には、
複数台(図示のものにおいては2台)の基板洗浄チャン
バ10,10が配置されてなるツーチャンバ方式とされ
ている。
【0024】上記基板洗浄チャンバ10は、それぞれ洗
浄液の供給源である洗浄液供給装置Dに連係されるとと
もに、各ブースおよび装置A〜Dは、システム制御装置
Eにより相互に連動して駆動制御される構成とされてい
る。
【0025】上記基板搬入搬出装置120は、上記枚葉
式基板洗浄システムにおいてウェハWを一枚ずつ搬入ま
たは搬出処理する装置であって、具体的には、基板保持
部(基板保持手段)60、昇降位置決め部(昇降位置決
め手段)61および移載ロボット70を備えてなり、上
記ローディング・アンローディングブースAとロボット
ブースBの主要部を構成している。以下、これら両ブー
スAおよびBについて具体的に説明する。
【0026】I.ローディング・アンローディングブー
スA:ローディング・アンローディングブースAは、基
板搬入部Aaと基板搬出部Abとからなる。
【0027】基板搬入部Aaは、ウェハWを前工程から
搬入する部位であり、ここには、洗浄処理前のウェハ
W,W.…が複数枚ストックされて搬入待機する。一
方、基板搬出部AbはウェハWを次工程へ搬出する部位
であり、ここには洗浄処理後のウェハW,W.…が複数
枚ストックされて搬出待機する。これら両部Aa,Ab
は、以下に説明するごとく同様の基本構成を備える。
【0028】すなわち、基板搬入部Aaを例にとって説
明すると、この基板搬入部Aaは、図1〜図3に示すよ
うに、上述した装置本体1の前面側壁面のローダ口11
によりオペレーティング空間Oに対して開閉可能とされ
るとともに、隔壁2の開口55によりロボットブースB
に対して連通されている。この開口55の開口面積は、
必要最小限度の大きさつまり後述する移載ロボット70
のハンドがウェハWを保持して挿通可能な最小の大きさ
に設定されている。
【0029】また、基板搬入部Aaは、基板搬入搬出装
置120を構成する基板保持部60と昇降位置決め部6
1を備えてなる。
【0030】基板保持部60は、複数枚のウェハW,
W,…を水平状態で上下方向へ所定の配列ピッチをもっ
て収納したキャリア56を保持するもので、具体的に
は、図4〜図6に示すように、複数枚(図示の場合は2
6枚)のウェハW,W,…が収納されたキャリア56を
載置保持する水平載置面を有するキャリア保持台60a
を備える。
【0031】図示の実施形態においては、基板保持部6
0は、支持フレーム62に、上下方向へ所定間隔をもっ
て二つのキャリア保持台60a,60aが配置されてな
る。これに対応して、上記ローダ口11は、上述したよ
うに、二つのキャリア56,56を上記二段のキャリア
保持台60a,60aに対して同時に挿入載置可能な開
口面積を有する。
【0032】また、上記キャリア56は、本システム外
におけるウェハ搬送用として兼用されるもので、図示し
ないが、その内部にはウェハWの周縁部を保持する保持
溝が所定の配列ピッチをもって設けられている。そし
て、キャリア56は、ウェハ搬送の際には、ウェハW,
W,…が垂直の起立状に保持される姿勢で取り扱われる
一方、上記キャリア保持台60aに載置される際には、
ウェハW,W,…が水平の倒伏状態に保持される姿勢で
取り扱われる。
【0033】昇降位置決め部(昇降位置決め手段)61
は、基板保持部60を上下方向へ昇降移動させて、キャ
リア56内のウェハW,W,…の搬入または搬出のため
の位置決めを行うもので、具体的には図4〜図7に示す
ように、上記支持フレーム62を昇降動作させる送りね
じ機構61aと、この送りねじ機構61aを回転駆動さ
せる駆動モータ61bとからなるキャリアエレベーショ
ン機構の形態とされている。
【0034】そして、後述する移載ロボット70の動作
と連動する駆動モータ61bの駆動により、送りねじ機
構61aを介して、キャリア保持台60a、60aさら
にはキャリア56、56内のウェハW,W,…が、上下
方向へ所定ピッチずつ昇降されて、その搬入出のための
位置決めが行われる。
【0035】また、上記構成に関連して、キャリア傾き
検出センサ(キャリア傾き検出手段)63、ウェハ飛出
し整列機構(ウェハ飛出し整列手段)64およびウェハ
マッピングセンサ(ウェハ検出手段)65が設けられて
いる。
【0036】キャリア傾き検出センサ63は、基板保持
部60のキャリア保持台60a、60a上にキャリア5
6が正しく配置されているか否かを検知するものであ
る。図示のキャリア傾き検出センサ63は、キャリア5
6がキャリア保持台60a、60a上に水平に正確に置
かれているか否かを検知する透過型光学式センサの形態
とされ、キャリア保持台60a,60a上にキャリア5
6が斜めに載ったときには、センシングできず、装置の
駆動を停止する安全機構(安全手段)として機能するよ
うに構成されている。
【0037】ウェハ飛出し整列機構64は、基板保持部
60に保持されたキャリア内のウェハを整列させて、後
述する移載ロボット70によるウェハWの抜き取り動作
等を円滑かつ確実に行うためのもので、図8および図9
に示すように、水平揺動可能な揺動アーム64aの先端
部分にウェハW,W,…のエッヂに接触し押動可能な接
触子64bが設けられるとともに、上記揺動アーム64
aを揺動させる駆動モータ64cを備えてなる。
【0038】そして、駆動モータ64cの駆動により、
キャリア保持台60a、60a上のキャリア56,56
に対して、ウェハ飛出し整列機構64の揺動アーム64
aが水平揺動して、接触子64bがキャリア56内のウ
ェハW,W,…のエッヂに接触動作し、これにより、そ
の飛出したウェハWの周縁(エッヂ)を押して、ウェハ
Wを所定位置に整列配置させる。このウェハ飛出し整列
機構64は、昇降位置決め部61によるキャリア56,
56の所定ピッチ毎の昇降の度に作動して、常時ウェハ
W,W,…が所定位置に整列配置するのを確保する。
【0039】なお、ウェハWの飛出しを検する光学式セ
ンサを設け、この光学式センサでウェハWの飛出しを検
知して、ウェハWが飛出している場合のみ、駆動モータ
64cが駆動して、上記ウェハ飛出し整列機構64が作
動する構成としても良い。
【0040】ウェハマッピングセンサ65は、基板保持
部60に保持されるキャリア内のウェハの配列状態を検
出して、ロボットブースBの移載ロボット70の駆動を
制御するための透過型光学式センサである。このウェハ
マッピングセンサ65は、図8および図9に示すよう
に、水平揺動可能な揺動アーム65aの先端部分にウェ
ハW,W,…に対応した複数の溝を備えた櫛形の透過型
光学式検知部65bが設けられるとともに、上記揺動ア
ーム65aを揺動させる駆動モータ65cを備えてな
る。
【0041】そして、駆動モータ65cの駆動により、
キャリア保持台60a、60a上のキャリア56,56
に対して、ウェハマッピングセンサ65の揺動アーム6
5aが水平揺動して、検知部65bがキャリア56内の
ウェハW,W,…に近接動作し、これにより、ウェハ
W,W,…がどういう配列でキャリア56,56に入っ
ているか、ウェハW,W,…の配列に歯抜けの部分がな
いか等つまりウェハW,W,…の配列状態を検出する。
この検出結果は、システム制御装置Eに送られて、移載
ロボット70の動きを制御する。ウェハマッピングセン
サ65は、キャリア保持台60a、60a上にキャリア
56,56に載置された際に一回のみ作動する。
【0042】なお、システム制御装置Eによる移載ロボ
ット70の駆動制御は、図示の実施形態においては、4
通り選択設定可能な構成とされている。つまり、i)基
板搬入部Aaの各キャリア56の上側のウェハWから抜
いて、処理後のウェハWを基板搬出部Abの各キャリア
56の上側から入れていく、ii)基板搬入部Aaの各キ
ャリア56の上側のウェハWから抜いて、処理後のウェ
ハWを基板搬出部Abの各キャリア56の下側から入れ
ていく、iii )基板搬入部Aaの各キャリア56の下側
のウェハWから抜いて、処理後のウェハWを基板搬出部
Abの各キャリア56の上側から入れていく、およびi
v)基板搬入部Aaの各キャリア56の下側のウェハW
から抜いて、処理後のウェハWを基板搬出部Abの各キ
ャリア56の下側から入れていく、という4つの方法か
ら選択可能である。
【0043】基板搬出部Abは、ウェハマッピングセン
サ65が設けられていない点を除いて、上記基板搬入部
Aaと同様の基本構成を備え、アンローダ口12の構成
も上述したローダ口11と同様である。
【0044】また、ローディング・アンローディングブ
ースAにおいては、上述したように、基板搬入部Aaお
よび基板搬出部AbにストックされるウェハW,W,…
が上下方向へ所定の配列ピッチをもって水平状態で配列
されるとともに、ローディング・アンローディングブー
スA内を流れる清浄空気の流路は、上記基板搬出部Ab
から基板搬入部Aaの方向へ向けて水平に流れるように
構成されている。具体的には、装置本体1の前面部のH
EPAフィルタ13から吸入される清浄空気は、まず、
アンローダ側である基板搬出部Abの処理済みのウェハ
W,W,…の間を通過してから、さらにローダ側である
基板搬入部Aaの処理前のウェハW,W,…の間を通過
し、装置本体1の背面部の排気口51から図外の工場排
気路へ送られる。
【0045】このようウェハW,W,…の配置構成を考
慮した清浄空気の気流制御が行われることにより、処理
済みのウェハW,W,…の高い清浄度が確保される。こ
れに関して、ロボットブースBおよび処理ブースC内を
流れる清浄空気の流路は、それぞれ装置本体1の天井部
に設けられたHEPAフィルタ66,67から下方へ向
けて垂直に流れるとともに、装置本体1の背面部の排気
口52から図外の工場排気路へ送られるところ、各隔壁
2,3がこれらの清浄空気の流れを整える整流作用をな
すとともに、ローディング・アンローディングブースA
内を流れる清浄空気の流路との隔壁をなすため、装置本
体1内の円滑な空気流路が確保される。
【0046】また、ローディング・アンローディングブ
ースAにおけるメカ機構の駆動部、つまり、昇降位置決
め部61、ウェハ飛出し整列機構64およびウェハマッ
ピングセンサ65等の機械的駆動部はすべて、SEMI
規格に従って高さ900mmよりも下側に配置されて、発
塵防止対策が施されている。
【0047】II. ロボットブースB:ロボットブースB
は、ローディング・アンローディングブースAと処理ブ
ースCとの間でウェハWを一枚ずつ移載する部位で、前
述したように、基板搬入搬出装置120を構成する移載
ロボット70と、基板反転装置71とを主要部として構
成されている。
【0048】ロボットブースBは、隔壁2の開口55,
55によりローディング・アンローディングブースAに
対して連通されるとともに、同じく隔壁3の開口72,
72により処理ブースCに対して連通されている。この
開口72の開口面積は、上記隔壁2の開口55と同様、
必要最小限度の大きさつまり移載ロボット70のハンド
がウェハWを保持して挿通可能な最小の大きさに設定さ
れている。
【0049】また、処理ブースCとの開口72,72の
上側部分には、イオナイザ94が設けられており(図6
参照)、ウェハWが洗浄処理チャンバ10に入る時と出
る時にイオナイザ94によるイオンシャワーを行い(イ
オン化したN2 等の供給)、そこでウェハWの帯電を防
ぐ構成とされている。つまり、洗浄処理チャンバ10で
は、ウェハWの乾燥時にかなり高速回転をするので、ウ
ェハWに静電気が発生して帯電する可能性が高い。この
ような静電気はゴミ等をウェハWに付着させるので、そ
れを防ぐため、イオナイザ94が設けられている。
【0050】移載ロボット70は、前述した基板保持部
60に保持されるキャリア56内のウェハW,W,…を
一枚ずつ水平状態のままで移載するもので、具体的に
は、基板搬入部Aaと基板洗浄チャンバ10の間、およ
びこの基板洗浄チャンバ10と上記基板搬出部Abとの
間で、ウェハWを一枚ずつ移載する構成とされている。
【0051】この移載ロボット70は、具体的には、図
14および図15に示すように、昇降動作するとともに
水平動作する一対のハンド部70a,70bを備えたツ
インアームロボットの形態とされている。これら一対の
ハンド部70a、70bは、一方のハンド部70aが洗
浄処理前のウェハWを移載処理するとともに、他方のハ
ンド部70bが洗浄処理後のウェハWを移載処理する構
成とされ、処理済みのウェハWにパーティクル等の不純
物が付着するのを防止している。
【0052】また、移載ロボット70のハンド部70
a,70bの先端部分に設けられた基板保持部75は、
ウェハWの下面を載置支持するソフトランディング方式
の支持形態とされて、ウェハWの破損等を防止する構造
とされている。
【0053】具体的には、移載ロボット70は、ロボッ
トブースB内を横方向へ水平移動可能とされるととも
に、移載ロボット70のハンド部70a,70bが、ロ
ボット本体70cに昇降可能かつ回転可能に設けられて
いる。このハンド部70a,70bの駆動源は、ロボッ
ト本体70c内部に設けられた駆動モータからなる。ま
た、具体的構成は図示しないが、上記基板保持部75と
しては、セラミック製のフォーク部材が採用されてお
り、この基板保持部75の平坦な上面によりウェハWを
水平状態で下側から保持するとともに、この基板保持部
75上面に設けられた複数のテーパ付きの位置決めピン
により、ウェハWの外周縁を位置決めする構成とされて
いる。
【0054】なお、図示しないが、従来周知の真空吸着
式の移載ロボットの形態とされてもよく、この目的のた
め、ハンド部70a,70bの先端部分の基板保持部7
5は、ウェハWを真空吸着チャッキングする基板吸着部
と交換可能な構造とされるとともに、図示しないが真空
ポンプ等の負圧源に連通可能とされている。
【0055】そして、移載ロボット70は、ハンド部7
0aまたは70bのハンドリング動作により、基板保持
部75が、基板搬入部Aaのキャリア56内または基板
洗浄チャンバ10の基板支持部104上のウェハWを水
平状態のまま抜き取り、移載ロボット70が移動した後
またはその位置で、水平方向へ所定角度だけ回転移動さ
せた後、上記基板支持部104上または基板搬出部Ab
のキャリア56上に移し替える。
【0056】この場合、基板搬入部Aaまたは基板搬出
部Abにおいては、移載ロボット70の動作と連動する
昇降位置決め部61により、キャリア56に対するウェ
ハWの抜き差しに際して、キャリア56が垂直方向へ1
ピッチ分だけ昇降動作して、ウェハW,W,…の搬入出
のための位置決めが行われる。
【0057】基板反転装置71は、ウェハWの表裏面の
上下位置を変換処理するもので、ウェハWの表面だけで
なく、裏面にも洗浄処理を施す場合に作動する構成とさ
れている。
【0058】具体的には、基板反転装置71は、図12
〜図14に示すように、チャック機構76、シリンダ装
置77および駆動モータ78を主要部として構成されて
いる。チャック機構76は、ウェハWの外周縁を把持状
にチャック支持するもので、一対の可動チャック76
a,76bが開閉可能に設けられてなり、これら両チャ
ック76a,76bには、ウェハWの外周縁を係合支持
する環状溝付きの支持ローラ79,79,79がそれぞ
れウェハWの円周に対応して3つずつ環状に設けられ、
このような環状に配された支持ローラ79,79,79
がそれぞれ同軸上に一対ずつ配されて、同時に2枚のウ
ェハW、Wをチャック支持可能な構造とされている。
【0059】上記可動チャック76a,76bは、シリ
ンダ装置77により,水平方向中心に向けて開閉動作す
る構成とされている。シリンダ装置77は具体的には圧
力空気を作動媒体としたエアシリンダから構成されてい
る。
【0060】また、上記両チャック76a,76bは、
駆動モータ78により、伝動ベルト機構を介して、垂直
方向へ回転可能に支持されている。
【0061】そして、ウェハWの表面だけでなく、裏面
にも洗浄処理を施す場合には、移載ロボット70によ
り、表面側の洗浄処理が完了したウェハW,Wが基板反
転装置71に移載されて、反転処理される。すなわち、
基板反転装置71は、シリンダ装置77により、チャッ
ク機構76を作動して、ウェハWの外周縁を把持状にチ
ャック支持した後、駆動モータ78の駆動により、ウェ
ハW,Wをチャック支持したチャック機構76を低速で
180度回転して、ウェハW,Wが反転される。この表
裏面が反転されたウェハW,Wは、再度移載ロボット7
0により、処理チャンバCの基板洗浄チャンバ10,1
0に処理前の裏面を上側にしてそれぞれ供給されて、こ
の裏面にも洗浄処理が施される。
【0062】また、ローディング・アンローディングブ
ースAと同様、ロボットブースBにおけるメカ機構の駆
動部、つまり、移載ロボット70および基板反転装置7
1の機械的駆動部はすべて、SEMI規格に従って高さ
900mmよりも下側に配置されて、発塵防止対策が施さ
れている。
【0063】続いて、上記基板洗浄システムを構成する
処理ブースCについて説明する。
【0064】III.処理ブースC:処理ブースCは、ウェ
ハWを一枚ずつ複数の洗浄液で洗浄処理する少なくとも
一つの枚葉式基板洗浄チャンバ10を備えてなり、図示
の実施形態においては、上述したように、2台の基板洗
浄チャンバ10,10を備えてなるツインチャンバ方式
が採用されてなる。なお、スループット対策として、基
板洗浄チャンバ10を適宜増加させて、3チャンバ方
式、4チャンバ方式としても良い。
【0065】基板洗浄チャンバ10は、図15〜図20
に示すように、相対的な上下方向移動が可能なチャンバ
本体80と基板回転装置81とを主要部として構成され
ており、基板回転装置81は、チャンバ本体80の中央
部に同心状に配置されている。
【0066】チャンバ本体80は、上下方向に配列され
た複数(図示の実施形態においては4つ)の円環状処理
槽85〜88を備えるとともに、上下方向へ昇降動作可
能な構成とされている。
【0067】具体的には、チャンバ本体80は、開閉可
能な基板搬入出用ゲート90を備えた密閉容器の形態と
され、薬液供給部91、不活性気体供給部92およびド
レン部93,94等を備えてなる。
【0068】チャンバ本体80は、一枚のウェハWを収
容する密閉可能な単一洗浄槽構成とされており、上部処
理待機部95と下部処理部96とからなる。
【0069】上部処理待機部95は、ウェハWを搬入出
する部位で、その側部には、ウェハWを搬入出するため
の上記ゲート90が設けられるとともに、その上半部に
は、チャンバカバー95aがワンタッチにて取外し可能
に設けられており、チャンバ本体80内のメンテナンス
が容易に行える構造とされている。
【0070】上記ゲート90は、チャンバ本体80の基
板搬入出口を構成する開閉可能なもので、具体的には、
ゲート90は、ウェハWを水平状態で保持した上記移載
ロボット70のハンド部70a,70bが通過し得る開
口面積を有する。また、上記ゲート90の扉90aは、
エアシリンダ等の駆動源により、上下方向へ開閉可能に
気密・水密性をもって閉塞される。
【0071】また、上部処理待機部95内には、上記薬
液供給部91と不活性気体供給部92が設けられてい
る。
【0072】薬液供給部91は、基板回転装置81に支
持されたウェハWの表面に洗浄液を供給するもので、具
体的には、基板回転装置81の基板支持部104に支持
されたウェハWの表面に上側から洗浄液を噴射供給する
噴射ノズルの形態とされている。
【0073】この噴射ノズル91は、上記チャンバ本体
80の上部処理待機部95内において、下向き状態で水
平旋回可能に設けられるとともに、洗浄液供給装置Dに
連通可能とされている。97は噴射ノズル91のスイン
グ用の駆動モータを示している。
【0074】そして、噴射ノズル91は、基板回転装置
81の基板支持部104に水平状態で回転支持されるウ
ェハWの表面に対して、その外周から中心にわたって水
平旋回しながら、あるいは水平旋回して静止後に洗浄液
を噴射供給する。
【0075】図示の実施形態においては、噴射ノズル9
1には、4つのノズル口が設けられており(図示省
略)、それぞれ後述するAPM液,純水、DHF液、N
2 の供給口として機能する。これらのノズル口は、楕円
テーパ形状に形成されており、ウェハWの表面に広く楕
円形状に供給されるように構成されている。これによ
り、ウェハWの回転動作と協働して、ウェハW表面に対
する洗浄液の供給分布が迅速かつ均一になる。
【0076】不活性気体供給部92は、チャンバ本体8
0内の洗浄液を排出置換するための不活性気体を供給す
るもので、上部処理待機部95の頂部に設けられるとと
もに、不活性気体供給源(図示省略)に連通可能とされ
ている。図示の実施形態においては、不活性気体として
2 が用いられる。また、上記不活性気体供給源は、上
記噴射ノズル91にも連通可能とされて、この噴射ノズ
ル91も、不活性気体供給部として機能しうる構成とさ
れている。
【0077】下部処理部96は、ウェハWを洗浄処理す
る部位で、その内径寸法は、後述するように、基板回転
装置81の基板支持部104との関係で設定されてい
る。具体的には、基板支持部104の外径縁と上記下部
処理部96の内径縁とが非接触で、かつこれら両縁の間
に形成される環状隙間が、洗浄液等の下側への漏れを阻
止する程度の微小間隔となるように設定される。
【0078】また、下部処理部96内には、前述した4
つの円環状処理槽85〜88が上下方向に多段式または
層状に設けられるとともに、各処理槽85〜88と下部
処理部96の底部96aには、装置外部へ連通する上記
ドレン部93,94がそれぞれ設けられており、これら
ドレン部93,94を介して、各処理槽85〜88内の
洗浄液または不活性気体が装置外部へ排出される。ま
た、各処理槽85〜88のドレン部93は、洗浄処理が
行われる際のみ開口して、他の処理槽における洗浄処理
が行われている場合には閉塞される構成とされている。
【0079】また、チャンバ本体80は、LMガイド9
8を介して上下方向へ垂直に昇降可能に支持されるとと
もに、基板回転装置81の基板支持部104に対して所
定ストローク分ずつ昇降動作する昇降機構100を備え
ている。
【0080】この昇降機構100は、具体的には、図1
7に示すように、上記支持フレーム62を昇降動作させ
る送りねじ機構100aと、この送りねじ機構100a
を回転駆動させる駆動モータ100bとからなる。
【0081】そして、後述する基板回転装置81の動作
と連動する駆動モータ100bの駆動により、送りねじ
機構100aを介して、チャンバ本体80が、上下方向
へ所定ストロークずつ昇降されて、洗浄処理工程を行う
べき円環状処理槽85〜88のいずれか一つの処理槽
が、上記回転装置81の基板支持部104に対して、そ
の高さ方向を選択的に位置決めされる。
【0082】基板回転装置81は、一枚のウェハWをス
ピン洗浄時およびスピン乾燥時において水平状態に支持
しながら水平回転させるもので、図17〜図20に示す
ように、回転軸103の先端部分に基板支持部104が
水平状態で取付け支持されるとともに、この回転軸10
3を回転駆動する駆動モータ105を備えてなる。
【0083】基板支持部104および回転軸103は、
軸受支持筒体106を介して、チャンバ本体80の中央
部に同心状に回転可能に配置されており、基板支持部1
04に一枚のウェハWを水平状態に支持する構成とされ
ている。具体的には、基板支持部104は、図18〜図
20に示すように、ウェハWの周縁部をチャッキング支
持する複数(図示のものにおいては6本)のチャッキン
グアーム110,110,…を備えてなる。
【0084】これらチャッキングアーム110,11
0,…は、図示のごとく、水平な状態で放射状に配置さ
れるとともに、開閉機構111により放射方向へ往復移
動可能とされている。チャッキングアーム110,11
0,…の先端にそれぞれ設けられたチャッキング爪11
2,112,…は、互いに同一高さになるように設定さ
れており、これにより、チャッキング時において、ウェ
ハWの周縁部を水平状態でチャッキング支持する。
【0085】また、チャッキング爪112のチャッキン
グ面112aは、ウェハWの周縁部の断面形状に対応し
た断面形状を有している。つまり、具体的には図示しな
いが、チャッキング面112aは上下方向に傾斜した直
角平面とされて、ウェハWの矩形断面の周縁部に対し
て、その周縁角部を点接触状態または線接触状態で当接
支持するように形成されている。
【0086】これにより、チャッキングアーム110,
110,…のチャッキング時において、ウェハWの周縁
部は、上記チャッキング面112a,112a,…によ
り上下方向へ拘束状態で支持されることとなる。また、
この支持状態は、ウェハWの周縁部を固定的ではなく、
周縁部の若干の移動を許容する程度に設定されている。
このような構成とされることにより、ウェハWの周縁部
のみを支持するため、ウェハWの裏側の汚染がない、チ
ャッキング面112aがウェハWの周縁部の断面形状に
対応しているため、ウェハW周縁部のチッピングがない
等の効果を有する。
【0087】上記開閉機構111は、回転軸103内部
に設けられたシリンダ装置111aと、このシリンダ装
置111aと上記チャッキングアーム110,110,
…を接続する接続ワイヤ111b,111b,…とを主
要部として構成されている。
【0088】そして、上記シリンダ装置111aの突出
動作により、接続ワイヤ111b,111b,…を介し
て、チャッキングアーム110,110,…が径方向内
側へ引き込まれて、チャッキング動作し、一方、シリン
ダ装置111aの退入動作により、復帰スプリング11
1c,111c,…の弾性復帰力で、チャッキングアー
ム110,110,…が径方向外側へ押し出されて、チ
ャッキング解除動作するように構成されている。
【0089】また、回転軸103は、軸受支持筒体10
6を介して起立状に回転支持されるとともに、その下端
部が駆動モータ105にベルト駆動可能に接続されてお
り、この駆動モータ105の駆動により回転駆動され
て、上記基板支持部104が所定の回転数をもって回転
される構成とされている。図示の実施形態においては、
軸受支持筒体106の回転速度は、スピン洗浄処理時に
おいては40〜50r.p.m.に設定されるとともに、スピ
ン乾燥時においては約3000r.p.m.に設定されてい
る。
【0090】しかして、上記構成とされた基板洗浄チャ
ンバ10においては、上記チャンバ本体80の上下方向
への昇降により、基板回転装置81の基板支持部104
に支持されたウェハWと上記チャンバ本体80の処理槽
85〜88のいずれかとの位置決めが選択的になされる
とともに、基板回転装置81により、基板支持部104
に支持されたウェハWが所定の回転速度をもって水平回
転される。
【0091】上述したように、基板洗浄チャンバ10の
構成は、基板回転装置81が上下方向の移動が固定され
るとともに、上記チャンバ本体80が上下方向へ昇降す
るようにされていることにより、高速回転する基板回転
装置81の支持構造が単純かつ堅牢であり、基板回転装
置81の回転部つまり基板支持部104に回転振動の発
生が有効に防止されて、この結果、下部処理部96の内
径縁と基板回転装置81の基板支持部104の外径縁と
の微小隙間が正確に保持されて、洗浄液等の下側への漏
れが、長期にわたり安定して阻止され得るという利点が
得られる。しかしながら、目的に応じて、この逆の構
成、つまり、基板回転装置81が上下方向の移動も担保
する構造を備えるとともに、上記チャンバ本体80が上
下方向へ固定的な構造も採用可能である。
【0092】また、以上のように構成された各ブース
A,B,Cが装置される装置本体1は、装置本体1内の
清浄度を維持促進する目的から、前述したように、外部
のクリーンルームに対して密閉可能な構造が採用されて
おり、その具体的構造が図21〜図24に示されてい
る。
【0093】装置本体1の外周壁は、鋼鈑の表面に耐酸
塗装処理が施されるとともに、上記処理ブースCの内壁
面のみ、鋼板の外周に耐腐食性材料による被覆処理、具
体的には塩化ビニル樹脂(PVC)の被覆処理が施され
て、洗浄液に対する耐腐食性が確保されている。このよ
うに、処理ブースCの内壁面のみ耐腐食性処理が施され
れば良いのは、装置本体1内の各ブースA,B,Cが隔
壁2,3をもってできるだけ隔離された空間を形成して
いるからであり、このような壁面構造とすることによ
り、装置フレーム製作上のコストダウン化と、施工時間
の短縮化が図られている。
【0094】装置本体1の前壁面には、図21に示すよ
うに、ローディング・アンローディングブースAのため
のローダ口11とアンローダ口12が設けられており、
これら両開口11,12は、後述するようにウェハW,
W,…を収容したキャリアを上下二段に挿入可能な開口
面積を有するとともに、内部を視認可能な透明カバーに
よるオートシャッタ機構が採用されて、上下にスライド
して自動開閉可能な密閉構造とされている。これによ
り、ローディング・アンローディングブースA内にクリ
ーンルームからのパーティクル等の侵入が最小限度に抑
えられている。13はHEPAフィルタを示しており、
このHEPAフィルタ13を介して、ローディング・ア
ンローディングブースA内に清浄化空気が吸入される。
14はタッチパネルを兼ねるディスプレイを示してお
り、このディスプレイ14により各種のレシピやパラメ
ータによる装置プログラムの運用方式が設定される。デ
ィスプレイ14の右側には、非常停止ボタン(赤)15
と一時停止ボタン(緑)16が設けられ、さらにその右
隣に、操作盤を接続するためのハンドペンダクトコネク
タ17およびパトライト18が設けられている。また、
上記ディスプレイ14の左側には警報ブザー20が設け
られるとともに、その下側に各種構成装置の起動停止を
行うオン・オフスイッチ21が設けられている。上記デ
ィスプレイ14の上側には、主として装置の電装系統や
シーケンサ等の各電装部のロック機構付き開閉ドア2
2、23が並列に設けられている。さらに、前壁面下部
には、ローディング・アンローディングブースAの各種
駆動機構用のメカメンテ口24、25が開閉可能に設け
られている。
【0095】装置本体1の右側壁面には、図22に示す
ように、中央部分に搬送系統のための開口30が設けら
れており、この開口30は、内部を視認可能な透明カバ
ーによるオートシャッタ機構が採用されて、自動開閉可
能な密閉構造とされている。また、この開口30の周囲
には、各種のメンテ口31〜34が開閉可能に設けられ
ている。
【0096】装置本体1の左側壁面には、図23に示す
ように、中央部分に、ロボットブースBのロボットメン
テ用開口40が設けられており、この開口40は、作業
者が出入りできる程度の開口面積を有するとともに、キ
ースイッチ付きのドアにより開閉可能とされて、キーを
差し込んで解除すると、装置の通電がオフ(ポーズ状
態)になるような安全対策が施されている。また、開口
40の両側には、ローディング・アンローディングブー
スA内を視認するための視認窓41と処理ブースC内を
視認するための視認窓42がそれぞれ設けられており、
その下側にはそれぞれメンテ口43,44が設けられて
いる。
【0097】装置本体1の背面側壁面には、図24に示
すように、非常停止ボタン45およびポーズ(一時停
止)ボタン46とハンドペンダクトコネクタ47が設け
られるとともに、その下側に基板洗浄チャンバ10の運
用のユースポイントのN2 圧力やエア圧力の表示計、レ
ギュレータ等が設けられたパネル48が配置されてい
る。49,50は処理ブースCの基板洗浄チャンバ10
のためのメンテ口を示しており、これら開口49,50
は、洗浄液等の装置外部への漏れを有効に防止するた
め、二重のシール構造となっている。51,52は装置
本体1内の空気の排気口を示しており、53,53,…
は各種配管接続用のコネクタ口を示している。
【0098】IV. 洗浄液供給装置D:洗浄液供給装置D
は、処理ブースCの基板洗浄チャンバ10に洗浄液を供
給する供給源で、図示の実施形態においては、選択的
に、APM(NH4 OH+H22 +H2 O)液による
洗浄を行うための構成と、DHF(HF+H2 O)液に
よる洗浄を行うための構成とを備える2薬液システムで
あり、これに対応して、基板洗浄チャンバ10のチャン
バ本体80における処理槽85〜88は、それぞれ、最
下段の処理槽85がAPM液による洗浄工程用、その上
の段の処理槽86がDHF液による洗浄工程用、その上
の段の処理槽87が純水によるリンス用、および最上段
の処理槽88がスピン乾燥用とされている。
【0099】そして、洗浄工程にかかるレシピを選択設
定することにより、i)APM+DHF+O3 +DIW
+DRY,ii)APM+DHF+DRY,iii)APM+
DRYおよびDHF+DRYなどの洗浄工程が選択的に
実行可能である。
【0100】VI.システム制御装置E:システム制御装
置Eは、上述した基板搬入部Aa、移載ロボット70、
基板反転装置71、基板洗浄チャンバ10,10および
基板搬出部Abを相互に連動して駆動制御するもので、
このシステム制御装置Eにより、以下の基板洗浄システ
ムにおける一連のウェット処理工程が、ウェハWの前工
程からの搬入時から次工程への搬出時まで全自動で実行
される。
【0101】(1)ウェハW,W,…の搬入:洗浄処理
前のウェハW,W,…は、AGV等により前工程からキ
ャリア56に収容された垂直状態でオペレーティング空
間Oまで搬送されてくる。
【0102】装置本体1のローダ口11が開かれ、洗浄
処理前のウェハW,W,…は、キャリア56を倒して垂
直状態から水平状態に姿勢変化された後、自動搬入装置
(図示省略)またはオぺレータの手作業により、上記ロ
ーダ口11を介して、キャリア56に収容されたまま、
ローディング・アンローディングブースAの基板搬入部
Aaにおける基板保持部60の上下2段のキャリア保持
台60a,60a上にそれぞれ搬入配置される。
【0103】この場合、まず上側の1段目のキャリア保
持台60a上にキャリア56が載置された後、昇降位置
決め部61により基板保持部60が上昇して、下側の2
段目のキャリア保持台60a上に次のキャリア56が載
置される。
【0104】上記ローダ口11が再び閉じられた後、キ
ャリア傾き検出センサ63によりキャリア56の傾きの
有無が検知され、傾きがなければウェハ飛出し整列機構
64により整列されるとともに、ウェハマッピングセン
サ65によりウェハW,W,…の配列状態が検出され
て、ロボットブースBの移載ロボット70を待機する。
【0105】移載ロボット70は、ウェハマッピングセ
ンサ65の検出結果に応じて、キャリア56内のウェハ
Wを一枚ずつ水平状態のままで抜き取り、処理ブースC
の各基板洗浄チャンバ10のチャンバ本体80内に順次
搬入する。
【0106】この際の移載ロボット70によるウェハW
の抜き取りは、隔壁2の開口55を介して行われ、ウェ
ハマッピングセンサ65の検出結果に従って、昇降位置
決め部61によるキャリア56の位置決め動作(キャリ
ア56が垂直方向へ1ピッチ分だけ昇降して、ウェハ
W,W,…の搬入のための位置決め動作)に連動して、
最上部または最下部のウェハWから順次行う。
【0107】一方、移載ロボット70によるウェハWの
搬入は、基板洗浄チャンバ10の基板支持部104がチ
ャンバ本体80の上部処理待機部95内のウェハ搬入出
位置に上昇待機した状態において、隔壁3の開口72お
よびチャンバ本体80のゲート90を介して行われる。
このゲート90はウェハWの搬入出時のみ開口し、チャ
ンバ本体80内のフュームの拡散やチャンバ本体80内
へのパーティクルの流入等が有効に防止される。
【0108】チャンバ本体80内の基板支持部104上
にウェハWが搬入されると、チャッキングアーム11
0,110,…が、ウェハWの周縁部を水平状態でチャ
ッキング支持する。
【0109】(2)基板洗浄チャンバ10におけるウエ
ット処理:基板支持部104がウェハWをチャッキング
支持すると、チャンバ本体80の昇降動作により、下部
処理部96内のウェハ洗浄処理位置に位置決めされた
後、前述した各種の洗浄処理が予め定められた手順で実
行される。
【0110】例えば、上述したii)の洗浄処理工程(A
PM+DHF+DRY)であれば、チャンバ本体80の
昇降位置決めにより、基板支持部104上のウェハW
が、まず、最下段の処理槽85に位置決め配置されて、
噴射ノズル91からAPM液が供給されるとともに、基
板回転装置81による低速回転によりスピン洗浄が行わ
れた後、上から2段目の処理槽87に位置決め配置され
て、噴射ノズル91から純水が供給されながら、基板回
転装置81による低速回転によりリンスが行われる。続
いて、上から3段目の処理槽86に位置決め配置され
て、噴射ノズル91からDHF液が供給されるととも
に、基板回転装置81による低速回転によりスピン洗浄
が行われた後、再び処理槽87に位置決め配置されて、
噴射ノズル91から純水が供給されながら、基板回転装
置81による低速回転によりリンスが行われる。そして
最後に、最上段の処理槽88に位置決め配置されて、噴
射ノズル91から不活性気体つまりN2 (窒素ガス)が
噴射されながら、基板回転装置81による高速回転によ
りスピン乾燥が行われる。
【0111】この場合、不活性気体供給部92からの不
活性気体、つまり本実施形態の場合はN2 (窒素ガス)
の導入により、チャンバ本体80内がN2 でパージされ
るとともに、各チャンバのドレン部93から強制排気す
ることにより、チャンバ本体80内には、不活性気体供
給部92から各チャンバのドレン部93に至るような経
路の気流が生じて、チャンバ本体80内のミストの巻き
上がりが有効に防止される。
【0112】また、各処理槽85〜88のドレン部93
は、その処理槽において洗浄処理が行われる際のみ開口
して、他の処理槽における洗浄処理が行われている場合
には閉塞されており、これにより、上記のチャンバ本体
80内のN2 パージ効果が促進される。
【0113】ウェハWの表面に対する一連の洗浄処理が
終了すると、チャンバ本体80の下降動作により、基板
支持部104が再び上部処理待機部95内のウェハ搬入
出位置に相対的に上昇した後、ロボットブースBの移載
ロボット70を待機する。
【0114】この場合、ウェハWの裏面も洗浄処理する
ときには、ウェハWは、移載ロボット70により基板反
転装置71へ搬送されて、表裏面が反転された後、再び
上記基板支持部104に搬入されて、上述した一連の洗
浄処理がウェハWの裏面に対して行われる。
【0115】(3)ウェハW,W,…の搬出:基板洗浄
チャンバ10における一連の洗浄処理が完了したウェハ
Wは、再び移載ロボット70により、前述と逆の要領
で、各基板洗浄チャンバ10のチャンバ本体80から搬
出されて、基板搬出部Abにおける基板保持部60の上
下2段のキャリア保持台60a,60a上にそれぞれ待
機するキャリア56,56内に順次水平状態で搬出収容
される。
【0116】この場合の具体的な搬出収容動作は、上述
した(1)のウェハW,W,…の搬入動作の要領と同様
である。
【0117】そして、これらキャリア56,56内部の
保持溝のすべてに、洗浄後のウェハW,W,…が配列さ
れて満たされると、装置本体1のアンローダ口12が開
かれ、キャリア56,56は、次工程のスパッタリング
やCVD処理等による薄膜形成のための処理工程へ向け
て搬送される。
【0118】洗浄処理前のウェハW,W,…は、AGV
等により前工程からキャリア56に収容された垂直状態
でオペレーティング空間Oまで搬送されてくる。
【0119】以上の一連の動作において、移載ロボット
70によるキャリア56内のウェハW,W,…の処理手
順は、前述したように、4通りの方法i)〜iv)の中か
ら選択設定される。
【0120】また、ローディング・アンローディングブ
ースAにおける基板搬入部Aaと基板搬出部Abにおけ
るローディング作業とアンローディング作業は、実際に
は同時に行われる。
【0121】しかして、以上のように構成された基板洗
浄システムにおいては、密閉可能に構成された装置本体
1内に、ローディング・アンローディングブースA、ロ
ボットブースBおよび処理ブースCが設けられるととも
に、これら各ブースA,B,Cが必要最小限度の開口面
積を有する隔壁2,3をもって区画形成されているか
ら、装置本体1内と外部のクリーンルームとの空気の出
入りが必要最小限度に抑えられ、装置本体1内を非常に
高い清浄度雰囲気に保持することができる。
【0122】また、上記ローディング・アンローディン
グブースAの基板搬入部Aaおよび基板搬出部Abと、
上記ロボットブースBとに、上記基板搬入搬出装置12
0が設けられて、ウェハW,W,…を一枚ずつ処理する
枚葉式とされていることにより、パーティクル等の再付
着もほとんどなく、ウェハW毎の精密な処理を行なうこ
とができ、基板洗浄チャンバ10の洗浄空間も小さく、
洗浄液も少量で済む。
【0123】また、ウェハWを一枚ずつ複数の洗浄液で
洗浄処理する、つまり一つの基板洗浄チャンバ10で全
洗浄工程を行なうワンチャンバ式であることから、洗浄
工程においてウェハWの出し入れがなく、大気に触れ
て、金属汚染、イオンあるいは酸素等の影響を受けるこ
ともなく、各基板洗浄チャンバの構成も単純かつ小型化
できる。
【0124】しかも、上記基板搬入搬出装置120は、
複数枚のウェハW,W,…を水平状態で上下方向へ所定
の配列ピッチをもって収納したキャリア56を保持する
基板保持部60と、この基板保持部60を上下方向へ昇
降移動させて、上記キャリア56内のウェハW,W,…
の搬入または搬出のための位置決めを行う昇降位置決め
部61とを備えているから、自動搬入装置(AGV)ま
たはオぺレータの手作業により、前工程からキャリア5
6に収容された垂直状態で搬送されてくる洗浄処理前の
ウェハW,W,…は、キャリア56に収容されたままの
状態で、垂直状態から水平状態に姿勢変化された後、昇
降位置決め部61により、上下方向へ所定ピッチずつ昇
降されて、移載のための位置決めが行われるとともに、
移載ロボット70によるウェハWの搬入が一枚ずつ行わ
れる。一方、洗浄処理済みのウェハWは、上記と逆の動
作により、キャリア56内に所定枚数配列収容された
後、キャリア56ごと次工程へ向けて搬出される。
【0125】このように、搬送用キャリア56が、その
まま上記基板搬入搬出装置120のストック用キャリア
としても使用される結果、スループット対策として優れ
た洗浄システムの構築が可能となる。
【0126】さらに、上記装置本体1の前後両側に上記
ローディング・アンローディングブースAと処理ブース
Cがそれぞれ配置されるとともに、これら両ブースA,
Cの間にロボットブースBが介装されており、処理ブー
スCにおける洗浄処理時に発生する有害気体やパーティ
クルが装置本体1外部のオペレーティング空間Oへ漏れ
ることがない。
【0127】また、ローディング・アンローディングブ
ースAにおいて、上記基板搬入部Aaおよび基板搬出部
AbにストックされるウェハWが上下方向へ所定の配列
ピッチをもって水平状態で配列されるとともに、ローデ
ィング・アンローディングブースA内を流れる清浄空気
が基板搬出部Abから基板搬入部Aaへ向けて水平に流
れるように構成されているから、洗浄処理済みのウェハ
Wに対する洗浄処理前のウェハWからのパーティクル等
の再付着が有効に防止される。
【0128】同様に、ロボットブースの移載ロボット7
0が、一対のハンド部を備えたツインアームロボットの
形態とされて、一方のハンド部が洗浄処理前のウェハW
を移載処理するとともに、他方のハンド部が洗浄処理後
のウェハWを移載処理する構成とされていることによ
り、洗浄処理済みのウェハWに対する洗浄処理前のウェ
ハWからのパーティクル等の再付着が有効に防止され
る。
【0129】なお、上述した実施形態はあくまでも本発
明の好適な実施態様を示すものであって、本発明はこれ
に限定されることなくその範囲内で種々の設計変更が可
能である。
【0130】例えば、図示の実施形態においては、上記
基板保持部60は、キャリア保持台60aが上下方向へ
2つ所定間隔をもって配置されてなるが、目的に応じて
さらに増設することも可能である。
【0131】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の基板搬入
搬出装置は、複数枚のウェハを水平状態で上下方向へ所
定の配列ピッチをもって収納したキャリアを保持する基
板保持手段と、この基板保持部を上下方向へ昇降移動さ
せて、上記キャリア内のウェハの搬入または搬出のため
の位置決めを行う昇降位置決め手段とを備えているか
ら、自動搬入装置(AGV)またはオぺレータの手作業
により、前工程からキャリアに収容された垂直状態で搬
送されてくる洗浄処理前のウェハは、キャリアに収容さ
れたままの状態で、垂直状態から水平状態に姿勢変化さ
れた後、昇降位置決め手段により、上下方向へ所定ピッ
チずつ昇降されて、移載のための位置決めが行われると
ともに、移載ロボットによるウェハの搬入が一枚ずつ行
われる。一方、洗浄処理済みのウェハは、上記と逆の動
作により、キャリア内に所定枚数配列収容された後、キ
ャリアごと次工程へ向けて搬出される。
【0132】このように、搬送用キャリアが、そのまま
上記基板搬入搬出装置のストック用キャリアとしても使
用される結果、スループット対策として優れた洗浄シス
テムの構築が可能となる。
【0133】また、本発明の基板洗浄システムにおいて
は、密閉可能に構成された装置本体内に、上記ローディ
ング・アンローディングブース、処理ブースおよびロボ
ットブースが設けられるとともに、上記ローディング・
アンローディングブースの基板搬入部および基板搬出部
と、上記ロボットブースとに、上記基板搬入搬出装置が
設けられて、ウェハを一枚ずつ処理する枚葉式とされて
いることにより、パーティクル等の再付着もほとんどな
く、ウェハ毎の精密な処理を行なうことができ、基板洗
浄チャンバの洗浄空間も小さく、洗浄液も少量で済む。
【0134】また、ウェハを一枚ずつ複数の洗浄液で洗
浄処理する、つまり一つの基板洗浄チャンバで全洗浄工
程を行なうワンチャンバ式であることから、洗浄工程に
おいてウェハの出し入れがなく、大気に触れて、金属汚
染、イオンあるいは酸素等の影響を受けることもなく、
各基板洗浄チャンバの構成も単純かつ小型化できる。
【0135】また、ローディング・アンローディングブ
ースにおいて、上記基板搬入部および基板搬出部にスト
ックされるウェハが上下方向へ所定の配列ピッチをもっ
て水平状態で配列されるとともに、ローディング・アン
ローディングブース内を流れる清浄空気が上記基板搬出
部から基板搬入部へ向けて水平に流れるように構成され
ることにより、あるいは、上記ロボットブースの移載ロ
ボットが、一対のハンド部を備えたツインアームロボッ
トの形態とされて、一方のハンド部が洗浄処理前のウェ
ハを移載処理するとともに、他方のハンド部が洗浄処理
後のウェハを移載処理する構成とされていることによ
り、洗浄処理済みのウェハに対する洗浄処理前のウェハ
からのパーティクル等の再付着が有効に防止される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る基板洗浄システムの
内部構成である基板搬入搬出装置を示す正面図である。
【図2】同じく同基板洗浄システムの内部構成を示す側
面断面図である。
【図3】同じく同基板洗浄システムの内部構成を示す平
面断面図である。
【図4】同基板搬入搬出装置の基板保持部および昇降位
置決め部を示す正面図である。
【図5】同じく同基板保持部および昇降位置決め部を示
す側面図である。
【図6】同じく同基板保持部および昇降位置決め部を示
す平面図である。
【図7】同昇降位置決め部を一部断面で示す側面図であ
る。
【図8】同基板搬入搬出装置のウェハマッピングセンサ
とウェハ飛出し整列機構を示す平面図である。
【図9】同じく同ウェハマッピングセンサとウェハ飛出
し整列機構を示す背面図である。
【図10】同基板搬入搬出装置の移載ロボットを示す平
面図である。
【図11】同じく同移載ロボットを示す側面図である。
【図12】同基板洗浄システムのロボットブースにおけ
る基板反転装置を示す正面図である。
【図13】同じく同基板反転装置を示す側面断面図であ
る。
【図14】同じく同基板反転装置を示す平面図である。
【図15】同基板洗浄システムの処理ブースにおける基
板洗浄チャンバを示す側面図である。
【図16】同じく同基板洗浄チャンバを示す平面図であ
る。
【図17】同じく同基板洗浄チャンバを示す正面断面図
である。
【図18】同基板洗浄チャンバのスピン装置を示す平面
図である。
【図19】同じく同スピン装置を示す正面断面図であ
る。
【図20】同スピン装置の基板支持部の要部を拡大して
示す正面断面図である。
【図21】同基板洗浄システムの外観を示す正面図であ
る。
【図22】同じく同基板洗浄システムの外観を示す右側
面図である。
【図23】同じく同基板洗浄システムの外観を示す左側
面図である。
【図24】同じく同基板洗浄システムの外観を示す背面
図である。
【符号の説明】
W ウェハ A ローディング・アンローディングブ
ース Aa 基板搬入部 Ab 基板搬出部 B ロボットブース C 処理ブース D 洗浄液供給装置 E システム制御装置 O オペレーティング空間 1 装置本体 2,3 隔壁 10 基板洗浄チャンバ 56 キャリア 60 基板保持部(基板保持手段) 60a キャリア保持台 61 昇降位置決め部(昇降位置決め手
段) 63 キャリア傾き検出センサ(キャリア
傾き検出手段) 64 ウェハ飛出し整列機構(ウェハ飛出
し整列手段) 65 ウェハマッピングセンサ(ウェハ検
出手段) 70 移載ロボット 71 基板反転装置 120 基板搬入搬出装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B25J 15/08 B25J 15/08 Z H01L 21/68 H01L 21/68 G (72)発明者 高石 みゆき 東京都青梅市今井3丁目9番18号 エス・ イー・エス株式会社内 (72)発明者 山口 弘 東京都青梅市今井3丁目9番18号 エス・ イー・エス株式会社内 (72)発明者 上川内 秀夫 東京都八王子市大楽寺町238番地 エムテ ック株式会社内 Fターム(参考) 3B201 AA02 AB24 AB34 AB42 BB22 BB45 BB92 BB93 BB96 CB15 CC01 CC12 CC13 CD11 3F060 AA01 AA07 AA08 CA12 EB02 EB07 FA02 GA05 GA13 GB19 HA12 HA28 3F061 AA01 BA01 BE13 BE44 BE47 DB04 DB06 DD01 5F031 CA02 DA01 FA01 FA07 FA09 FA11 FA12 FA14 FA21 GA03 GA06 GA08 GA13 GA14 GA15 GA36 GA38 GA44 GA47 GA48 GA49 HA24 HA27 HA29 HA48 HA59 JA02 JA05 JA13 JA23 JA25 JA30 KA02 KA03 LA13 LA15 MA03 MA11 MA23 NA02 NA16 NA18 PA08 PA21 PA23

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を一枚ずつカセットレスでウェット
    洗浄する枚葉式基板洗浄システムにおける基板搬入部ま
    たは基板搬出部に配置されて、複数枚ストックされた基
    板を一枚ずつ搬入または搬出処理する装置であって、 複数枚の基板を水平状態で上下方向へ所定の配列ピッチ
    をもって収納したキャリアを保持する基板保持手段と、 この基板保持部を上下方向へ昇降移動させて、前記キャ
    リア内の基板の搬入または搬出のための位置決めを行う
    昇降位置決め手段とを備えていることを特徴とする基板
    搬入搬出装置。
  2. 【請求項2】 前記基板保持手段は、前記キャリアを保
    持するキャリア保持台が上下方向へ少なくとも2つ所定
    間隔をもって配置されてなることを特徴とする請求項1
    に記載の基板搬入搬出装置。
  3. 【請求項3】 前記基板保持手段に保持されるキャリア
    内の基板を一枚ずつ移載する移載ロボットを備え、 この移載ロボットは、水平動作して前記基板を水平状態
    のまま移載処理するハンド部を備え、 前記昇降位置決め手段は、前記基板保持手段を上下方向
    へ基板の配列ピッチに対応した所定ピッチずつ昇降移動
    させて、前記キャリア内の基板のいずれか一枚を前記移
    載ロボットのハンド部に対して位置決めするように構成
    されていることを特徴とする請求項1または2に記載の
    基板搬入搬出装置。
  4. 【請求項4】 前記昇降位置決め手段は、前記基板保持
    手段を昇降動作させる送りねじ機構と、この送りねじ機
    構を回転駆動させる駆動モータとを備えてなることを特
    徴とする請求項1から3のいずれか一つに記載の基板搬
    入搬出装置。
  5. 【請求項5】 前記移載ロボットは、昇降動作するとと
    もに水平動作する一対のハンド部を備えたツインアーム
    ロボットの形態とされ、 一方のハンド部が洗浄処理前の基板を移載処理するとと
    もに、他方のハンド部が洗浄処理後の基板を移載処理す
    る構成とされていることを特徴とする請求項3に記載の
    基板搬入搬出装置。
  6. 【請求項6】 前記移載ロボットのハンド部の先端部分
    に設けられた基板保持部は、基板の下面を載置支持する
    ソフトランディング方式の支持形態とされていることを
    特徴とする請求項3または5に記載の基板搬入搬出装
    置。
  7. 【請求項7】 前記基板保持手段に前記キャリアが正し
    く配置されているか否かを検知するキャリア傾き検出手
    段を備えることを特徴とする請求項1から4のいずれか
    一つに記載の基板搬入搬出装置。
  8. 【請求項8】 前記キャリア傾き検出手段は、前記キャ
    リアが前記基板保持手段に水平に正確に置かれているか
    否かを検知する透過型光学式センサの形態とされて、キ
    ャリアが水平から傾いているときには装置の駆動を停止
    する安全手段として機能するように構成されていること
    を特徴とする請求項7に記載の基板搬入搬出装置。
  9. 【請求項9】 前記基板保持手段に保持されたキャリア
    内の基板を整列させるウェハ飛出し整列手段を備えるこ
    とを特徴とする請求項1から4のいずれか一つに記載の
    基板搬入搬出装置。
  10. 【請求項10】 前記ウェハ飛出し整列手段は、先端部
    に基板の周縁に接触可能な接触子を有し、水平揺動可能
    な揺動アームと、この揺動アームを揺動させる駆動モー
    タとを備えてなり、 前記駆動モータの駆動による前記揺動アームの水平揺動
    により、前記接触子が前記基板保持手段に保持されるキ
    ャリア内の基板の周縁に接触して、飛出した基板を所定
    位置に整列配置させるように構成されていることを特徴
    とする請求項9に記載の基板搬入搬出装置。
  11. 【請求項11】 前記ウェハ飛出し整列手段は、前記基
    板保持手段に保持されるキャリア内の基板の飛出しを検
    出する光学式センサを備え、 この光学式センサにより基板の飛出しを検知した場合
    に、前記駆動モータが駆動するように構成されているこ
    とを特徴とする請求項10に記載の基板搬入搬出装置。
  12. 【請求項12】 前記ウェハ飛出し整列手段は、前記昇
    降位置決め手段によるキャリアの所定ピッチ毎の昇降の
    度に作動して、基板を所定位置に整列配置する構成とさ
    れていることを特徴とする請求項9から11のいずれか
    一つに記載の基板搬入搬出装置。
  13. 【請求項13】 前記基板保持手段に保持されるキャリ
    ア内の基板の配列状態を検出するウェハ検出手段を備え
    ることを特徴とする請求項1から4のいずれか一つに記
    載の基板搬入搬出装置。
  14. 【請求項14】 前記ウェハ検出手段は、先端部に基板
    の配列ピッチに対応した複数の溝を備えた櫛形の透過型
    光学式検知部を有し、水平揺動可能な揺動アームと、こ
    の揺動アームを揺動させる駆動モータとを備えてなり、 前記駆動モータの駆動による前記揺動アームの水平揺動
    により、前記透過型光学式検知部が前記基板保持手段に
    保持されるキャリア内の基板に近接して、基板の配列状
    態を検出するとともに、この検出結果に応じて、前記移
    載ロボットの動きが制御されるように構成されているこ
    とを特徴とする請求項13に記載の基板搬入搬出装置。
  15. 【請求項15】 密閉可能に構成された装置本体内に、
    洗浄処理前の基板が複数枚ストックされて搬入待機する
    基板搬入部および洗浄処理後の基板が複数枚ストックさ
    れて搬出待機する基板搬出部とからなるローディング・
    アンローディングブースと、基板を一枚ずつ複数の洗浄
    液で洗浄処理する少なくとも一つの枚葉式基板洗浄チャ
    ンバを備える処理ブースと、この処理ブースと前記ロー
    ディング・アンローディングブースの間で基板を一枚ず
    つ移載する移載ロボットを備えるロボットブースとが設
    けられてなり、 前記ローディング・アンローディングブースの基板搬入
    部および基板搬出部と、前記ロボットブースとに、請求
    項1から14のいずれか一つに記載の基板搬入搬出装置
    が設けられていることを特徴とする基板洗浄システム。
  16. 【請求項16】 前記ローディング・アンローディング
    ブースにおいて、前記基板搬入部および基板搬出部にス
    トックされる基板が上下方向へ所定の配列ピッチをもっ
    て水平状態で配列されるとともに、ローディング・アン
    ローディングブース内を流れる清浄空気が前記基板搬出
    部から基板搬入部へ向けて水平に流れるように構成され
    ていることを特徴とする請求項15に記載の基板洗浄シ
    ステム。
  17. 【請求項17】 前記ロボットブースに、基板の表裏面
    の上下位置を変換処理する基板反転装置を備えているこ
    とを特徴とする請求項15または16に記載の基板洗浄
    システム。
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