JP2001222342A - 電子機器および電子機器の計時制御方法および記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子機器を制御する制御部が休止してしまう
ことに起因する温度補正動作が不能な期間のずれの補正
をも行ってリアルタイムクロックの精度を格段に向上す
ることである。 【解決手段】 ＣＰＵ１０１が動作可能な状態で温度セ
ンサユニット１０９により測定された温度および経過時
間に基づき、ＣＰＵ１０１により自己導出されるＲＴＣ
１０５の計時誤差を積算しておき、計時される現在時刻
および現在温度を取得し、ＳＲＡＭ１０４に記憶されて
いる過去の時刻，温度とを比較して、動作不能であった
間の温度変化を推定し、該推定された温度変化に基づ
き、ＣＰＵ１０１により自己導出されるＲＴＣ１０５の
計時誤差を積算し、それぞれ積算される各計時誤差に基
づきＲＴＣ１０５が計時すべき現在時刻を補正する構成
を特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、常時電池によりバ
ックアップされる計時手段により計時される時刻に基づ
き、所定の動作を制御する制御部を備える電子機器およ
び電子機器の計時制御方法および記憶媒体に関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】従来、電源の状態に関わりなく時刻を管
理する内蔵の計時機能（リアルタイムクロック）を持つ
電子機器はさまざまなものがあるが、例えば複写機、Ｆ
ＡＸ等の事務機器においては、リアルタイムクロックに
時間に応じた動作を行わせるように工夫されている。

【０００３】例えばある時刻になったら自動的に電源を
切るとか、指定時刻になったらＦＡＸの通信動作を行わ
せるなどといった機能を実現している。

【０００４】さて、通常リアルタイムクロックは、一次
電池によってバッテリバックアップされており、装置の
電源が切られている間も水晶発振器で発振する基準クロ
ックをカウントし続けることにより常に現在時刻を保持
している。

【０００５】ここで、用いられる基準クロックには、例
えば３２．７６８ＫＨｚの安定した周波数を音叉型の水
晶振動子を利用して発生させるように構成されている。
水晶振動子の精度は、振動子自体が機械的に振動する周
期が安定していることに依存するものであり、安定した
ものではあるが、その構造上温度の変化により発振周波
数が変化することは避けられない。一般的にその変化は
次の第（１）式で表される特性を持っている。 ΔＦ＝a ΔＴ² ……（１） ここで、ΔＦは頂点温度における周波数からのｐｐｍ
（１．０００．０００分の１）で示した偏差、ΔＴは頂
点温度からの℃で示した温度偏差、ａは係数で−０.0３
５±０ .００５（ｐｐｍ／℃）程度の値である。上記頂
点温度は通常２５℃となるように設定されており、例え
ば２５℃を中心として温度偏差が大きくなるにつれ発振
周波数が低くなるという特性を持っている。

【０００６】温度変化による周波数のずれは僅かなもの
でも時計精度に与える影響は大きく、例えばリアルタイ
ムクロックの精度を１ヶ月あたり３０秒以内のずれにす
るためには、約１１．６ｐｐｍ以内の精度を実現しなけ
ればならないが、温度変化による周波数のずれはそれよ
りも大きな値になる場合がある。

【０００７】もし、装置がほぼ一定の動作状態を保つも
のであるならば、水晶振動子の温度が一定に保たれ、誤
差も常に一定であるため補正は容易であるが、複写機な
どの装置では使用中と待機中、あるいは電源オフ状態な
どで機内の温度が大きく変動するため、単純な補正がで
きず、精度を十分に上げることが難しかった。

【０００８】こうした問題を解消するため、例えば特開
平７−１５９５５３号公報に記載されているように、温
度センサを用いて水晶発振器の温度を測定し、計時誤差
を補正する方式が提案されている。この方式では、コン
トローラにより水晶振動子の温度を検出することによ
り、発振周波数のずれを算出して計時情報の誤差を補正
している。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】この場合、上記の補正
処理方式を安価に実現するため、補正を行うコントロー
ラを専用に用意する代わりに、もともと装置に組み込ま
れた装置の制御を行うプロセッサ（ＣＰＵ）を用いて、
ＣＰＵのタスクの１つとして補正動作をプログラムで実
行する方法が考えられる。

【００１０】しかしながら、ＣＰＵのタスクの１つとし
て補正動作をプログラムで実行するためには、常に定期
的に温度を測定し補正することが必要であり、プログラ
ム実行を受け持つプロセッサを使用して時刻の補正を行
う場合、装置の省電力化のためＣＰＵを停止してしまう
と、ＣＰＵが停止している間は温度補正が行えなくなる
等の問題点があった。

【００１１】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたもので、本発明の目的は、各種の電子機器が備
える制御部が動作可能な状態中に、温度測定手段により
測定された温度および経過時間に基づき、制御部により
自己導出される計時手段の計時誤差を積算しておき、制
御部が動作不能な状態から動作可能な状態に回復した
後、計時手段より計時される現在時刻および温度測定手
段より現在温度を取得し、不揮発性記憶手段に記憶され
ている過去の時刻，温度とを比較して、制御部が動作不
能であった間の温度変化を推定し、該推定された温度変
化に基づき、制御部により自己導出される前記計時手段
の計時誤差を積算し、それぞれ積算される各計時誤差に
基づき計時手段が計時すべき現在時刻を補正することに
より、電子機器を制御する制御部が休止してしまうこと
に起因する温度補正動作が不能な期間のずれの補正をも
行ってリアルタイムクロックの精度を上げることができ
る電子機器および電子機器の計時制御方法および記憶媒
体を提供することである。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明に係る第１の発明
は、常時電池によりバックアップされる計時手段（例え
ば図１に示すＲＴＣ１０５に相当）により計時される時
刻に基づき、所定の動作を制御する制御部（例えば図１
に示すＣＰＵ１０１に相当）を備える電子機器であっ
て、前記計時手段に近接する周辺温度を測定する温度測
定手段（例えば図１に示す温度センサ１０９に相当）
と、前記温度測定手段により測定された温度および経過
時間に基づき、導出される前記計時手段の計時誤差を積
算する第１の誤差積算手段（例えば図１に示すＣＰＵ１
０１に相当）と、前記計時手段により計時される現在時
刻および前記温度測定手段により得られた現在温度およ
び積算誤差を記憶する不揮発性記憶手段（例えば図１に
示すＢＡＴ１０６によりバックアップされるＳＲＡＭ１
０４に相当）と、前記第１の誤差積算手段が動作可能な
状態に回復した後、前記計時手段より計時される現在時
刻および前記温度測定手段より現在温度を取得し、前記
不揮発性記憶手段に記憶されている過去の時刻，温度と
を比較して、前記制御部が動作不能であった間の温度変
化を推定し、該推定された温度変化に基づき、導出され
る前記計時手段の計時誤差を積算する第２の誤差積算手
段（例えば図１に示すＣＰＵ１０１に相当）と、前記第
１および第２の誤差積算手段により積算される各計時誤
差に基づき前記計時手段が計時すべき現在時刻を補正す
る補正手段（例えば図１に示すＣＰＵ１０１に相当）と
を有するものである。

【００１３】本発明に係る第２の発明は、前記第１の誤
差積算手段は、一定時間毎に温度を測定し誤差を積算す
るものである。

【００１４】本発明に係る第３の発明は、前記第１の誤
差積算手段は、前記温度測定手段による測定温度が所定
範囲を超えた時に誤差を積算するものである。

【００１５】本発明に係る第４の発明は、前記現在時刻
および前記現在温度および積算誤差は、一定時間毎に不
揮発性記憶手段に記憶するものである。

【００１６】本発明に係る第５の発明は、前記現在時刻
および前記現在温度および積算誤差は、前記温度測定手
段による測定温度が一定範囲を超えたときに不揮発性記
憶手段に記憶するものである。

【００１７】本発明に係る第６の発明は、前記計時手段
は、ＲＴＣである。

【００１８】本発明に係る第７の発明は、前記制御部
は、電子写真プロセスに基づく所定の動作を制御するも
のである。

【００１９】本発明に係る第８の発明は、常時電池によ
りバックアップされる計時手段（例えば図１に示すＲＴ
Ｃ１０５に相当）により計時される時刻に基づき、所定
の動作を制御する制御部を備える電子機器の計時制御方
法であって、常時電池によりバックアップされる計時手
段に近接する周辺温度を測定する温度測定手段により測
定された温度および経過時間に基づき、前記制御部が自
己導出される前記計時手段の計時誤差を積算する第１の
誤差積算工程（図６に示すステップＳ６０４〜Ｓ６０
５）と、前記計時手段により計時される現在時刻および
前記温度測定手段により得られた現在温度および積算誤
差を不揮発性記憶手段に記憶する記憶工程（図６に示す
ステップＳ６０８）と、前記制御部が動作可能な状態に
回復した後、前記計時手段より計時される現在時刻およ
び前記温度測定手段より現在温度を取得し、前記不揮発
性記憶手段に記憶されている過去の時刻，温度とを比較
して、前記制御部が動作不能であった間の温度変化を推
定し、該推定された温度変化に基づき、導出される前記
計時手段の計時誤差を積算する第２の誤差積算工程（図
７に示すステップＳ７０５，Ｓ７０６）と、前記第１お
よび第２の誤差積算工程により積算される各計時誤差に
基づき前記計時手段が計時すべき現在時刻を補正する補
正工程（図７に示すステップＳ７０８）とを有するもの
である。

【００２０】本発明に係る第９の発明は、前記第１の誤
差積算工程は、一定時間毎に温度を測定し誤差を積算す
るものである。

【００２１】本発明に係る第１０の発明は、前記第１の
誤差積算工程は、前記温度測定手段による測定温度が所
定範囲を超えた時に誤差を積算するものである。

【００２２】本発明に係る第１１の発明は、前記現在時
刻および前記現在温度および積算誤差は、一定時間毎に
不揮発性記憶手段に記憶するものである。

【００２３】本発明に係る第１２の発明は、前記現在時
刻および前記現在温度および積算誤差は、前記温度測定
手段による測定温度が一定範囲を超えたときに不揮発性
記憶手段に記憶するものである。

【００２４】本発明に係る第１３の発明は、前記第１の
誤差積算工程は、前記温度測定手段により測定された温
度が所定の監視温度範囲から外れた場合に、前記制御部
に対して割込みを指示して前記計時手段により計時され
る時刻の計時誤差の自己導出を開始させるものである。

【００２５】本発明に係る第１４の発明は、常時電池に
よりバックアップされる計時手段（例えば図１に示すＲ
ＴＣ１０５に相当）により計時される時刻に基づき、所
定の動作を制御する制御部を備える電子機器に、常時電
池によりバックアップされる計時手段に近接する周辺温
度を測定する温度測定手段により測定された温度および
経過時間に基づき、前記制御部が自己導出される前記計
時手段の計時誤差を積算する第１の誤差積算工程（図６
に示すステップＳ６０４〜Ｓ６０５）と、前記計時手段
により計時される現在時刻および前記温度測定手段によ
り得られた現在温度および積算誤差を不揮発性記憶手段
に記憶する記憶工程（図６に示すステップＳ６０８）
と、前記制御部が動作可能な状態に回復した後、前記計
時手段より計時される現在時刻および前記温度測定手段
より現在温度を取得し、前記不揮発性記憶手段に記憶さ
れている過去の時刻，温度とを比較して、前記制御部が
動作不能であった間の温度変化を推定し、該推定された
温度変化に基づき、導出される前記計時手段の計時誤差
を積算する第２の誤差積算工程（図７に示すステップＳ
７０５，Ｓ７０６）と、前記第１および第２の誤差積算
工程により積算される各計時誤差に基づき前記計時手段
が計時すべき現在時刻を補正する補正工程（図７に示す
ステップＳ７０８）と実行させるためのプログラムをコ
ンピュータが読み取り可能な記憶媒体に記録したもので
ある。

【００２６】本発明に係る第１５の発明は、前記第１の
誤差積算工程は、一定時間毎に温度を測定し誤差を積算
するものである。

【００２７】本発明に係る第１６の発明は、前記第１の
誤差積算工程は、前記温度測定手段による測定温度が所
定範囲を超えた時に誤差を積算するものである。

【００２８】本発明に係る第１７の発明は、前記現在時
刻および前記現在温度および積算誤差は、一定時間毎に
不揮発性記憶手段に記憶するものである。

【００２９】本発明に係る第１８の発明は、前記現在時
刻および前記現在温度および積算誤差は、前記温度測定
手段による測定温度が一定範囲を超えたときに不揮発性
記憶手段に記憶するものである。

【００３０】本発明に係る第１９の発明は、前記第１の
誤差積算工程は、前記温度測定手段により測定された温
度が所定の監視温度範囲から外れた場合に、前記制御部
に対して割込みを指示して前記計時手段により計時され
る時刻の計時誤差の自己導出を開始させるものである。

【００３１】

【発明の実施の形態】図１は、本発明の一実施形態を示
す電子機器を適用可能な画像処理装置の一例を説明する
ブロック図である。

【００３２】図において、１０１はプロセッサ（以下Ｃ
ＰＵ）、１０２はＲＡＭで、データや画像信号などを記
憶する。１０３はＲＯＭで、プログラムやデータを記憶
しており、例えばＦｌａｓｈＲＯＭ等の不揮発性メモリ
媒体で構成されている。

【００３３】１０４はスタティックメモリからなる不揮
発性メモリ（以下ＳＲＡＭ）、１０５はリアルタイムク
ロック（以下ＲＴＣ）で、時刻を管理する。

【００３４】１０６は電池（以下ＢＡＴ）で、ＳＲＡＭ
１０４およびＲＴＣ１０５をバッテリバックアップし主
電源の供給が止まったときに動作のための電源を供給す
る。１０７はスキャナインタフェースで、スキャナユニ
ット（不図示）から画像を受信するとともにコマンドの
やり取りを行う。

【００３５】１０８はプリンタインタフェースで、プリ
ンタユニット（不図示）に画像を送るとともにコマンド
のやり取りを行う。１０９は温度センサユニット、１１
０は割込コントローラで、各ユニットから割り込み信号
を受け付けてＣＰＵ１０１に通知する。１１１は電源ユ
ニットで、主電源であるＡＣ１００Ｖから各ユニットの
動作に必要な電源を生成して供給する。

【００３６】１１２はクロック生成回路で、ＣＰＵ１０
１やスキャナインタフェース１０７、プリンタインター
フェース１０８など各ユニットで動作の基準として使用
するクロックを生成する。

【００３７】なお、ＣＰＵ１０１は本画像処理装置を制
御するものであって、ＲＯＭ１０３に記憶されているプ
ログラムにしたがって処理を行う。スキャナインタフェ
ース１０７でスキャナユニットと通信して原稿画像を読
み取り、画像信号を受信してＲＡＭ１０２に記憶し、続
いてプリンタインタフェース１０８を介してプリンタユ
ニットに画像信号を送って画像形成を行い、複写動作を
実現する。

【００３８】また、ＣＰＵ１０１はＲＴＣ１０５によっ
て得られる時刻情報を利用して、例えば一定時間以上画
像形成装置が使用されなかった場合は、消費電力の少な
い省電力モードに切り換えたり、更には指定された時刻
になったならば画像形成装置の電源を切ると言った動作
を行う。

【００３９】なお、省電力モードへの切り換えや、電源
の切断などはＣＰＵ１０１から電源ユニット１１１およ
びクロック生成回路１１２に出力ポートを使用して制御
信号を与えることにより制御が行われる。

【００４０】スキャナインタフェース１０７はスキャナ
ユニットとの間でコマンドをシリアル通信によりやり取
りすることと、読み取った画像信号を転送して受信する
機能を持つ。

【００４１】また、プリンタインタフェース１０８は、
プリンタユニットとの間でコマンドをシリアル通信によ
りやり取りすることと、画像信号を転送して送る機能を
持つ。

【００４２】そして、温度センサユニット１０９はＲＴ
Ｃ１０５のすぐそばに実装されており、内蔵する温度セ
ンサ部が発生する電圧をＡ／Ｄコンバータで変換してデ
ジタルデータ（温度情報）にすることで、ＣＰＵ１０１
からＲＴＣ１０５の温度を知ることができる。

【００４３】また、割込コントローラ１１０はＲＴＣ１
０５および温度センサユニット１０９、さらにはスキャ
ナインタフェース１０７やプリンタインタフェース１０
８などから発生する割込みを統合してＣＰＵ１０１に通
知するものである。

【００４４】さらに、電源ユニット１１１は一次電源の
ＡＣ１００Ｖから、各ユニットの動作に必要な＋３．３
Ｖ、＋５Ｖ、＋１２Ｖ、＋２４Ｖ等に変換して供給を行
う。また、ＣＰＵ１０１より指示があった場合に、電源
出力のうち＋３．３Ｖのみを残して、他の電圧の供給を
止める（スリープ時）とか、電源の出力を全て止める、
などといった動作を行うことで、装置の消費電力の制御
が可能である。

【００４５】また、クロック生成回路１１２は、ＣＰＵ
１０１の基準クロックとなる１３３ＭＨｚ、ＣＰＵ１０
１が他のデバイスを制御するバスの基準クロック３３Ｍ
Ｈｚ、スキャナインターフェース１０７およびプリンタ
インターフェース１０８での画像転送クロック５０ＭＨ
ｚなどの各種の周波数のクロックを生成するが、ＣＰＵ
１０１により指示があった場合にこれらのクロックのう
ち動作に必要のないクロック、例えばスキャナやプリン
タを使用していない場合は５０ＭＨｚのクロックの生成
を停止するといった動作を行うことにより、各ユニット
の消費電力を低減することが可能な構成となっている。

【００４６】図２は、図１に示した温度センサユニット
１０９の詳細構成を説明する回路ブロック図である。

【００４７】図において、２０１は温度センサ本体で、
検知する温度に従う、例えば電圧信号をＡ／Ｄコンバー
タ２０２に出力する。２０３は上限レジスタで、Ａ／Ｄ
コンバータ２０２から出力される温度データと比較参照
するための上限値が設定される。２０４は下限レジスタ
で、Ａ／Ｄコンバータ２０２から出力される温度データ
と比較参照するための下限値が設定される。

【００４８】２０５，２０６はコンパレータで、コンパ
レータ２０５は、上限レジスタ２０３に設定された上限
値とＡ／Ｄコンバータ２０２から出力される温度データ
とを比較して、温度データが上限値を超えた場合に、後
段のＯＲ回路２０７への入力信号レベルをＨｉｇｈレベ
ルとする。

【００４９】また、コンパレータ２０６は、下限レジス
タ２０４に設定された下限値とＡ／Ｄコンバータ２０２
から出力される温度データとを比較して、温度データが
下限値を下回った場合に、後段のＯＲ回路２０７への入
力信号レベルをＨｉｇｈレベルとする。

【００５０】２０８はバスインタフェース回路で、制御
バスを介してＣＰＵ１０１から設定値をレジスタ２０
３，２０４を設定するとともに、温度データをＣＰＵ１
０１に通知する。なお、温度センサ２０１はＰＮ接合素
子で構成され、画像処理装置の動作に伴い昇降する画像
処理装置内の温度に従った起電力を発生する。

【００５１】上記のように構成された温度センサユニッ
トにおいて、周辺温度に基づく温度に従い温度センサ２
０１から発生される電圧は、後段のＡ／Ｄコンバータ２
０２で変換することにより温度を表すデジタルデータと
なり、バスインタフェース回路２０８を介してＣＰＵ１
０１から温度を読み取ることができる。

【００５２】また、レジスタ２０３およびレジスタ２０
４はバスインタフェース回路２０８を介してＣＰＵ１０
１から設定する温度範囲の上限値・下限値を保持するレ
ジスタとして機能し、Ａ／Ｄコンバータ２０２の出力と
各レジスタ内容をコンパレータ２０５，２０６によりそ
れぞれ比較することにより、設定された上限値と下限値
の範囲から温度がはみ出た場合、ＯＲ回路２０７の出力
がＨｉｇｈレベルとなって、割込出力が発生し、ＣＰＵ
１０１は温度範囲を外れたことを検出することができ
る。

【００５３】図３は、図１に示したＲＴＣ１０５の温度
変化状態を説明する特性図であり、例えば複写シーケン
ス実行に伴う温度変化状態に対応する。なお、縦軸は温
度を示し、横軸は時間を示す。

【００５４】図において、時間Ｔ１で装置の電源が入る
と、各部の電源が供給され、素子の発熱などにより機内
温度が上昇し、やがてある温度で一定となる。次に、時
間Ｔ２でユーザの指示で複写動作を開始すると、装置内
部でモータやランプを駆動し、また半導体素子の動作が
増えることなどによりさらに機内温度が上昇する。

【００５５】そして、時間Ｔ３でスリープ状態に移行す
ると、今度は消費電力が減少するため機内温度は低くな
り、時間Ｔ４で電源をオフにすると機内温度は一番低い
状態へと移行する。

【００５６】図４は、図１に示したＲＴＣ１０５に内蔵
する水晶振動子からなる３２．７６８ＫＨｚの発振器の
発振周波数が温度により変化する様子を示した図であ
る。この図に示すように、ＲＴＣは設定温度を中心とし
た上に凸の二次曲線状に周波数が小さくなるため、設定
温度から外れるほど時計が遅れる方向になり、かつ設定
温度から外れるほど遅れも大きくなっていく。このた
め、温度ゾーンを補正の必要のないＣゾーン、０〜１０
ｐｐｍ遅れるＢ，Ｄゾーン、１０〜１５ｐｐｍ遅れる
Ａ，Ｅゾーンに分けて扱っている。ここでは便宜的に５
つの温度ゾーンに分類して説明しているが、分類を更に
細かく増やしても構わないのはもちろんである。

【００５７】図５は、本発明に係る電子機器における第
１のデータ処理手順の一例を説明するフローチャートで
あり、ＣＰＵ１０１が起動したときに行う時刻補正に関
わる初期化手順に対応する。なお、Ｓ５０１〜Ｓ５０５
は各ステップを示す。

【００５８】先ず、ステップＳ５０１で、ＲＴＣ１０５
にアクセスすることにより現在時刻を取得し、ステップ
Ｓ５０２で温度センサユニット１０９にアクセスして現
在温度を取得する。

【００５９】そして、ステップＳ５０２で取得した時
刻、温度は、ステップＳ５０３にて、ＳＲＡＭ１０４に
書き込んでおく。

【００６０】次に、ステップＳ５０４にて、現在温度が
どの温度ゾーンに属しているかを判定する。すなわち、
例えば現在温度が１７℃だった場合、ＣＰＵ１０１は、
図４の温度ゾーン分類を判定するためのルックアップテ
ーブルをプログラム（例えばＲＯＭ１０３内に確保され
る）で参照することにより、温度ゾーンＢに属している
と判断する。

【００６１】次に、ステップＳ５０５において、温度ゾ
ーンＢの上限（ここでは２０℃とする）と下限（ここで
は１０℃とする）を、温度センサユニット１０９の上限
レジスタ２０３、下限レジスタ２０４に設定する。こう
することにより、現在の温度ゾーンＢの範囲から温度が
外れたときに、温度センサユニット１０９は割込信号を
発生するように設定が完了する。

【００６２】次に、割込コントローラ１１０により、温
度センサユニット１０９からの割込がＣＰＵ１０１に通
知された場合の動作について図６のフローチャートによ
って説明する。

【００６３】図６は、本発明に係る電子機器における第
２のデータ処理手順の一例を説明するフローチャートで
あり、割込コントローラ１１０により、温度センサユニ
ット１０９からの割込がＣＰＵ１０１に通知された場合
の処理手順に対応する。なお、Ｓ６０１〜Ｓ６１０は各
ステップを示す。

【００６４】上記割込コントローラ１１０により温度割
込が発生したならば、ステップＳ６０１にて、ＲＴＣ１
０５から割込発生の時刻を取得する。次に、ステップＳ
６０２にて温度センサユニット１０９から割込みを起こ
した温度を取得する。

【００６５】続いて、ステップＳ６０３にて、現在温
度、現在時刻をＳＲＡＭ１０４に記憶する。このとき、
あらかじめ以前ＳＲＡＭ１０４に記憶されていた時刻、
温度のデータは読み出しておき、次のステップＳ６０４
にて誤差の算出に利用する。なお、ＳＲＡＭ１０４はＢ
ＡＴ１０６でバッテリバックアップされているので装置
の電源の供給が止まっても内容を保持する。

【００６６】次に、ステップＳ６０４では、下記第
（２）式に基づき、ＲＴＣ１０５の温度による時刻のず
れを近似的に導出する。

【００６７】 時刻のずれ＝前の温度ゾーンにおける平均誤差×（現在時刻−前の時刻） …（２） 例えば以前温度ゾーンＢに入っていて、現在時刻までの
間に１０分経過している場合、温度ゾーンＢの平均誤差
５ｐｐｍ６００秒＝０.0０３秒、すなわち０ .００３秒
遅れたというように近似的に誤差を算出する。

【００６８】ここで、温度ゾーンにおいての平均誤差の
算出は、本発明を適用可能な電子機器としての画像形成
装置の通常の稼働状態において、当該温度ゾーンを経由
して次の温度ゾーンに移行する時間などを実測したデー
タに基づき、最終的な算出結果がほぼ実際の時刻のずれ
と等しくなるように算出されたものを用いている。

【００６９】次に、ステップＳ６０５において、ＳＲＡ
Ｍ１０４に以前保存されていた時刻誤差の積算値と今回
ステップＳ６０４にて算出した時刻の誤差を加えること
により、新たな誤差の積算値を算出する。

【００７０】続いて、ステップＳ６０６において、誤差
の積算値が１秒を越えているかどうか判断し、越えてい
ないと判定した場合には、そのままステップＳ６０８へ
進み、もし越えていると判定した場合には、ステップＳ
６０７に進んで、ＲＴＣ１０５の現在時刻を積算誤差の
うち１秒を上回った秒数分だけ進めるとともに、積算さ
れた誤差からＲＴＣ１０５を補正した秒数分だけ減じて
おく。

【００７１】ここで、ＲＴＣ１０５の補正を行う積算誤
差は１秒として説明したが、誤差補正を行うための積算
誤差の大きさは他の数値（例えば５秒）としても良い。

【００７２】また、ＲＴＣ１０５の時刻を補正する際に
は、ＲＴＣ１０５により時刻待ちのイベント（例えば装
置の電源を落とすよう設定されている時刻など）を飛ば
してしまわないよう、装置のスケジュール管理タスクと
連携を取りつつ時刻補正を行うようにしている。

【００７３】次に、ステップＳ６０８において、新たな
積算誤差をＳＲＡＭ１０４に記憶し、ステップＳ６０９
において新しい温度ゾーンはどれに属しているかを判定
し、ステップＳ６１０において、温度センサユニット１
０９の上限レジスタ２０３・下限レジスタ２０４に新し
い温度範囲を設定し、割込処理を終わる。

【００７４】以上の手順により、ＣＰＵ１０１が動作し
ている間に発生するＲＴＣ１０５の温度変化は、温度ゾ
ーン毎に検出されることにより、ＲＴＣ１０５の時刻の
ずれを積算しつつ補正するという動作が実行される。

【００７５】次に、ＣＰＵ１０１が動作不能の状態に入
った場合のＲＴＣ１０５の時刻のずれの補正方法につい
て説明を行う。

【００７６】電子機器本体を制御する制御部としてのＣ
ＰＵ１０１が前述のような時刻のずれを補正する動作が
できなくなるのは、ＣＰＵ１０１への動作クロックを停
止されているスリープモードの状態か、ＣＰＵ１０１を
含めて電源ユニット１１１からの電力供給が止まってい
る場合が考えられる。

【００７７】このうちクロックのみ停止している場合
は、補正動作を行うための割込みによりクロックの供給
を再開するよう構成することで補正動作を行うこともで
きるが、電力供給が停止されている場合は、ＣＰＵ１０
１による補正動作は不可能である。従って、本発明を適
用可能な画像処理装置では、ＣＰＵ１０１の動作が再開
した後に、図７に示す手順によりＣＰＵ１０１が停止中
の時刻のずれを補正する。

【００７８】図７は、本発明に係る電子機器における第
３のデータ処理手順の一例を説明するフローチャートで
あり、ＣＰＵ１０１が停止中の時刻のずれを補正する処
理手順に対応する。なお、Ｓ７０１〜Ｓ７１１は各ステ
ップを示す。

【００７９】また、ＣＰＵ１０１への電力供給が止まる
前に、先に説明したとおり時刻補正動作の中の図５に示
したステップＳ５０３および図６に示したステップＳ６
０３において、動作時の時刻および温度データがＳＲＡ
Ｍ１０４に保存されている。

【００８０】従って、電源が復帰したのち、ステップＳ
７０１ではＳＲＡＭ１０４に記憶されていた時刻および
温度データのうち、最新のものを読み出す。続いて、ス
テップＳ７０２において、現在時刻を取得し、ステップ
Ｓ７０３において現在温度を取得する。ステップＳ７０
４において、現在温度、現在時刻をＳＲＡＭ１０４に記
憶した後、ステップＳ７０５において現在温度・現在時
刻と先にＳＲＡＭ１０４から読み出した以前の時刻・温
度からＲＴＣ１０５の時刻の誤差の算出を下記第（３）
式に基づき行う。

【００８１】 時刻のずれ＝Ｆ（以前の温度、現在の温度）＋Ｇ（現在の時刻、以前の時刻） …（３） というように、温度変化がもたらすずれ成分と時間経過
によるずれ成分により、時刻のずれを推定する。

【００８２】なお、第（３）式中のＦの項はあらかじめ
測定により得られた、電源を停止した場合に熱が拡散す
る度合いに応じて時間とともにＲＴＣ１０５の温度が低
下していく特性をあらかじめ実測したデータに基づき、
以前の温度から現在の温度まで下がるのに必要な時間の
推定を行い、該推定時間で温度による発信周波数のずれ
を積分することによって、温度変化による時刻のずれを
推定する項である。

【００８３】図８は、本発明に係る電子機器における温
度変化による時刻のずれの推定処理を説明するための特
性図であり、縦軸は温度を示し、横軸は時刻を示す。

【００８４】図８に示すように、電源オフ直前の温度か
ら電源再投入時の温度まで、外部温度の変化などを考慮
しないで温度が低下してきたものと仮定し、現在温度に
到達する時刻およびそれ以降の経過時間を算出し、その
温度変化をもとにしてＲＴＣ１０５の発信周波数の変動
を積分することにより、時刻のずれを推定する。

【００８５】また、上記第（３）式中のＧの項は、以前
の時刻から現在時刻までの経過時間、すなわち電力を停
止していた時間が例えば１日など長い場合に、一日のう
ちでの外気温の変動をモデル化し、画像形成装置の停止
している間にＲＴＣ１０５の温度が変動する度合いによ
って時刻のずれを推定する項である。

【００８６】図９は、本発明に係る電子機器における温
度変化状態を説明するための特性図であり、例えば一日
の間装置の電源をオフにした状態でのＲＴＣ１０５の、
外気温につられて変動する温度変化に対応するものであ
り、縦軸は温度を示し、横軸は時刻を示す。

【００８７】上記Ｇの項は、図９に示すように、一日の
間装置の電源をオフにした状態でのＲＴＣ１０５の、外
気温につられて変動する温度変化をモデル化したものを
用いて計算を行う。例えば２０時に電源を切って、翌朝
９時に電源が再投入されたことがわかったばあいには、
この温度変化モデルの２０時〜翌９時までの変動を参照
することにより、この間のＲＴＣ１０５の基準周波数の
ずれを推定する。ここに示した１日の間の温度変化のモ
デルについては、更にリアルタイムクロックにより知る
ことのできる月・日といったデータから、季節毎のモデ
ルを用いることにより、季節的な変動も盛り込んで推定
を行う。

【００８８】以上により誤差を推定した後、図７のステ
ップＳ７０６において、ＳＲＡＭ１０４に以前保存され
ていた時刻誤差の積算値と今回ステップＳ７０５にて推
定した誤差を加えることにより、新たな誤差の積算値と
を算出する。

【００８９】続いて、ステップＳ７０７において、誤差
の積算値が１秒を越えているかどうかを判断し、越えて
いないと判断した場合は、そのままステップＳ７０９に
進み、もし越えていたと判断した場合には、ステップＳ
７０８に進んでＲＴＣ１０５の現在時刻を積算誤差のう
ち１秒を上回った秒数分だけ進めるとともに、積算され
た誤差からＲＴＣ１０５を補正した秒数分だけ減じてお
く。

【００９０】続いて、ステップＳ７０９において、新た
な積算誤差をＳＲＡＭ１０４に記憶し、ステップＳ７１
０において、現在の温度がどの温度ゾーンにいるかどう
かの判定を行い、ステップＳ７１１において、温度セン
サユニット１０９の上限レジスタ２０３，下限レジスタ
２０４に新しい温度範囲を設定し、補正処理を終わる。

【００９１】以上の動作によって、ＣＰＵ１０１が動作
中の時刻のずれの補正、およびＣＰＵ１０１が停止し再
び復帰した場合の停止中の時刻のずれの補正が行われ、
ＲＴＣ１０５の時刻のずれを補正する動作が実現され
る。〔他の実施形態〕次に図１と同じハードウエア構成
において、温度変化による割込みではなく、一定周期の
割込みを基準として時刻補正を行う場合について説明を
行う。

【００９２】図１の構成からなる画像形成装置におい
て、ＲＴＣ１０５に対して一定周期で割込みを発生する
ように設定を行う。ここでは５分おきに割込みが発生す
るように設定する。なお、この割込周期は他の間隔でも
よくて間隔を短くすれば時刻の誤差の検出精度が高まる
が、補正頻度があまり多くなるとＣＰＵ１０１の時刻補
正に割り当てる時間の割合が増えるので、むやみに間隔
を短くするべきではない。

【００９３】さて、ＲＴＣ１０５から５分おきに割込み
が入ったときの動作を、図８を用いて説明する。

【００９４】図１０は、本発明に係る電子機器における
第４のデータ処理手順の一例を説明するフローチャート
である。なお、Ｓ８０１〜Ｓ８０８は各ステップを示
す。

【００９５】上記ＲＴＣ１０５からの割込みをＣＰＵ１
０１が検出すると、ステップＳ８０１にて割込発生の時
刻を取得する。次に、ステップＳ８０２にて、温度セン
サユニット１０９により現在温度を取得する。続いて、
ステップＳ８０３にて現往時刻、現在温度をＳＲＡＭ１
０４に記憶する。

【００９６】次に、ステップＳ８０４では、前回ＲＴＣ
１０５からの割込みがあってからの５分間における発信
周波数のずれを積分して時刻のずれを下記第（４）式に
基づいて算出する。

【００９７】 時刻のずれ＝現在温度における誤差×経過時間 …（４） ここで、現在温度における誤差の代わりに、一つ前の測
定時の温度と現在温度の平均値をとったものを用いて計
算することで、より精度を上げて時刻のずれを算出する
こともできる。

【００９８】次に、ステップＳ８０５において、ＳＲＡ
Ｍ１０４に以前保存されていた時刻誤差の積算値と今回
ステップＳ８０４にて算出した時刻の誤差を加えること
により、新たな誤差の積算値を算出する。

【００９９】続いて、ステップＳ８０６において、誤差
の積算値が１秒を越えているかどうか判断し、越えてい
ないと判定した場合は、そのままステップＳ８０８へ進
み、もし越えていると判定した場合には、ステップ８０
７に進んで、ＲＴＣ１０５の現在時刻を積算誤差のうち
１秒を上回った秒数分だけ進めるとともに、積算された
誤差からＲＴＣ１０５を補正した秒数だけ減じておく。

【０１００】続いて、ステップＳ８０８にて、新たな積
算誤差をＳＲＡＭ１０４に記憶して処理を終わる。

【０１０１】以上の動作によって、ＣＰＵ１０１が動作
を行っている間は一定時間毎に温度を測定し誤差を積算
することにより、ＲＴＣ１０５の温度による時刻のずれ
を補正する。次にＣＰＵ１０１が動作できない場合の補
正方法については、上記実施形態の場合と同じであるの
で説明は省略する。

【０１０２】なお、上記実施形態では、温度や時間経過
状態に基づき、計時手段の誤差を算出処理する場合につ
いて説明したが、所定のインタフェース（ネットワー
ク，電話回線，デジタル無線通信インタフェース等を含
む）を介して、例えばホスト（コンピュータ，サーバ，
専用機器）から外部入力されるコマンドに基づき、前記
制御部に対して割込みを指示して前記計時手段により計
時される時刻の計時誤差の自己導出を開始させるように
構成してもよい。

【０１０３】以下、図１１に示すメモリマップを参照し
て本発明に係る電子機器で読み出し可能なデータ処理プ
ログラムの構成について説明する。

【０１０４】図１１は、本発明に係る電子機器で読み出
し可能な各種データ処理プログラムを格納する記憶媒体
のメモリマップを説明する図である。

【０１０５】なお、特に図示しないが、記憶媒体に記憶
されるプログラム群を管理する情報、例えばバージョン
情報，作成者等も記憶され、かつ、プログラム読み出し
側のＯＳ等に依存する情報、例えばプログラムを識別表
示するアイコン等も記憶される場合もある。

【０１０６】さらに、各種プログラムに従属するデータ
も上記ディレクトリに管理されている。また、各種プロ
グラムをコンピュータにインストールするためのプログ
ラムや、インストールするプログラムが圧縮されている
場合に、解凍するプログラム等も記憶される場合もあ
る。

【０１０７】本実施形態における図５，図６，図７，図
１０に示す機能が外部からインストールされるプログラ
ムによって、ホストコンピュータにより遂行されていて
もよい。そして、その場合、ＣＤ−ＲＯＭやフラッシュ
メモリやＦＤ等の記憶媒体により、あるいはネットワー
クを介して外部の記憶媒体から、プログラムを含む情報
群を出力装置に供給される場合でも本発明は適用される
ものである。

【０１０８】以上のように、前述した実施形態の機能を
実現するソフトウエアのプログラムコードを記録した記
憶媒体を、システムあるいは装置に供給し、そのシステ
ムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰ
Ｕ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読出し
実行することによっても、本発明の目的が達成されるこ
とは言うまでもない。

【０１０９】この場合、記憶媒体から読み出されたプロ
グラムコード自体が本発明の新規な機能を実現すること
になり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本
発明を構成することになる。

【０１１０】プログラムコードを供給するための記憶媒
体としては、例えば、フロッピーディスク，ハードディ
スク，光ディスク，光磁気ディスク，ＣＤ−ＲＯＭ，Ｃ
Ｄ−Ｒ，磁気テープ，不揮発性のメモリカード，ＲＯ
Ｍ，ＥＥＰＲＯＭ等を用いることができる。

【０１１１】また、コンピュータが読み出したプログラ
ムコードを実行することにより、前述した実施形態の機
能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指
示に基づき、コンピュータ上で稼働しているＯＳ（オペ
レーティングシステム）等が実際の処理の一部または全
部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が
実現される場合も含まれることは言うまでもない。

【０１１２】さらに、記憶媒体から読み出されたプログ
ラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボー
ドやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わ
るメモリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指
示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに
備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行い、
その処理によって前述した実施形態の機能が実現される
場合も含まれることは言うまでもない。

【０１１３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る第１
〜第１９の発明によれば、制御部が動作可能な状態中
に、温度測定手段により測定された温度および経過時間
に基づき、制御部により自己導出される計時手段の計時
誤差を積算しておき、制御部が動作不能な状態から動作
可能な状態に回復した後、計時手段より計時される現在
時刻および温度測定手段より現在温度を取得し、不揮発
性記憶手段に記憶されている過去の時刻，温度とを比較
して、制御部が動作不能であった間の温度変化を推定
し、該推定された温度変化に基づき、制御部により自己
導出される前記計時手段の計時誤差を積算し、それぞれ
積算される各計時誤差に基づき計時手段が計時すべき現
在時刻を補正するので、電子機器を制御する制御部が休
止してしまうことに起因する温度補正動作が不能な期間
のずれの補正をも行ってリアルタイムクロックの精度を
格段に向上できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態を示す電子機器を適用可能
な画像処理装置の一例を説明するブロック図である。

【図２】図１に示した温度センサユニットの詳細構成を
説明する回路ブロック図である。

【図３】図１に示したＲＴＣの温度変化状態を説明する
特性図である。

【図４】図１に示したＲＴＣに内蔵する水晶振動子から
なる発振器の発振周波数が温度により変化する様子を示
した図である。

【図５】本発明に係る電子機器における第１のデータ処
理手順の一例を説明するフローチャートである。

【図６】本発明に係る電子機器における第２のデータ処
理手順の一例を説明するフローチャートである。

【図７】本発明に係る電子機器における第３のデータ処
理手順の一例を説明するフローチャートである。

【図８】本発明に係る電子機器における温度変化による
時刻のずれの推定処理を説明するための特性図である。

【図９】本発明に係る電子機器における温度変化状態を
説明するための特性図である。

【図１０】本発明に係る電子機器における第４のデータ
処理手順の一例を説明するフローチャートである。

【図１１】本発明に係る電子機器で読み出し可能な各種
データ処理プログラムを格納する記憶媒体のメモリマッ
プを説明する図である。

【符号の説明】

１０１ ＣＰＵ １０２ ＲＡＭ １０３ ＲＯＭ １０４ ＳＲＡＭ １０５ ＲＴＣ １０６ バッテリ １０９ 温度センサユニット １１０ 割込コントローラ

Claims (19)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 常時電池によりバックアップされる計時
   手段により計時される時刻に基づき、所定の動作を制御
   する制御部を有する電子機器であって、 前記計時手段に近接する周辺温度を測定する温度測定手
   段と、 前記温度測定手段により測定された温度および経過時間
   に基づき、導出される前記計時手段の計時誤差を積算す
   る第１の誤差積算手段と、 前記計時手段により計時される現在時刻および前記温度
   測定手段により得られた現在温度および積算誤差を記憶
   する不揮発性記憶手段と、 前記第１の誤差積算手段が動作可能な状態に回復した
   後、前記計時手段より計時される現在時刻および前記温
   度測定手段より現在温度を取得し、前記不揮発性記憶手
   段に記憶されている過去の時刻，温度とを比較して、前
   記制御部が動作不能であった間の温度変化を推定し、該
   推定された温度変化に基づき、導出される前記計時手段
   の計時誤差を積算する第２の誤差積算手段と、 前記第１および第２の誤差積算手段により積算される各
   計時誤差に基づき前記計時手段が計時すべき現在時刻を
   補正する補正手段と、を有することを特徴とする電子機
   器。
2. 【請求項２】 前記第１の誤差積算手段は、一定時間毎
   に温度を測定し誤差を積算することを特徴とする請求項
   １記載の電子機器。
3. 【請求項３】 前記第１の誤差積算手段は、前記温度測
   定手段による測定温度が所定範囲を超えた時に誤差を積
   算することを特徴とする請求項１または２記載の電子機
   器。
4. 【請求項４】 前記現在時刻および前記現在温度および
   積算誤差は、一定時間毎に不揮発性記憶手段に記憶する
   ことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の電子
   機器。
5. 【請求項５】 前記現在時刻および前記現在温度および
   積算誤差は、前記温度測定手段による測定温度が一定範
   囲を超えたときに不揮発性記憶手段に記憶することを特
   徴とする請求項１または４記載の電子機器。
6. 【請求項６】 前記計時手段は、ＲＴＣであることを特
   徴とする請求項１記載の電子機器。
7. 【請求項７】 前記制御部は、電子写真プロセスに基づ
   く所定の動作を制御することを特徴とする請求項１記載
   の電子機器。
8. 【請求項８】 常時電池によりバックアップされる計時
   手段により計時される時刻に基づき、所定の動作を制御
   する制御部を備える電子機器の計時制御方法であって、 常時電池によりバックアップされる計時手段に近接する
   周辺温度を測定する温度測定手段により測定された温度
   および経過時間に基づき、前記制御部が自己導出される
   前記計時手段の計時誤差を積算する第１の誤差積算工程
   と、 前記計時手段により計時される現在時刻および前記温度
   測定手段により得られた現在温度および積算誤差を不揮
   発性記憶手段に記憶する記憶工程と、 前記制御部が動作可能な状態に回復した後、前記計時手
   段より計時される現在時刻および前記温度測定手段より
   現在温度を取得し、前記不揮発性記憶手段に記憶されて
   いる過去の時刻，温度とを比較して、前記制御部が動作
   不能であった間の温度変化を推定し、該推定された温度
   変化に基づき、導出される前記計時手段の計時誤差を積
   算する第２の誤差積算工程と、 前記第１および第２の誤差積算工程により積算される各
   計時誤差に基づき前記計時手段が計時すべき現在時刻を
   補正する補正工程と、を有することを特徴とする電子機
   器の計時制御方法。
9. 【請求項９】 前記第１の誤差積算工程は、一定時間毎
   に温度を測定し誤差を積算することを特徴とする請求項
   ８記載の電子機器の計時制御方法。
10. 【請求項１０】 前記第１の誤差積算工程は、前記温度
    測定手段による測定温度が所定範囲を超えた時に誤差を
    積算することを特徴とする請求項８または９記載の電子
    機器の計時制御方法。
11. 【請求項１１】 前記現在時刻および前記現在温度およ
    び積算誤差は、一定時間毎に不揮発性記憶手段に記憶す
    ることを特徴とする請求項８記載の電子機器の計時制御
    方法。
12. 【請求項１２】 前記現在時刻および前記現在温度およ
    び積算誤差は、前記温度測定手段による測定温度が一定
    範囲を超えたときに不揮発性記憶手段に記憶することを
    特徴とする請求項８記載の電子機器の計時制御方法。
13. 【請求項１３】 前記第１の誤差積算工程は、前記温度
    測定手段により測定された温度が所定の監視温度範囲か
    ら外れた場合に、前記制御部に対して割込みを指示して
    前記計時手段により計時される時刻の計時誤差の自己導
    出を開始させることを特徴とする請求項８記載の電子機
    器の計時制御方法。
14. 【請求項１４】 常時電池によりバックアップされる計
    時手段により計時される時刻に基づき、所定の動作を制
    御する制御部を備える電子機器に、 常時電池によりバックアップされる計時手段に近接する
    周辺温度を測定する温度測定手段により測定された温度
    および経過時間に基づき、前記制御部が自己導出される
    前記計時手段の計時誤差を積算する第１の誤差積算工程
    と、 前記計時手段により計時される現在時刻および前記温度
    測定手段により得られた現在温度および積算誤差を不揮
    発性記憶手段に記憶する記憶工程と、 前記制御部が動作可能な状態に回復した後、前記計時手
    段より計時される現在時刻および前記温度測定手段より
    現在温度を取得し、前記不揮発性記憶手段に記憶されて
    いる過去の時刻，温度とを比較して、前記制御部が動作
    不能であった間の温度変化を推定し、該推定された温度
    変化に基づき、導出される前記計時手段の計時誤差を積
    算する第２の誤差積算工程と、 前記第１および第２の誤差積算工程により積算される各
    計時誤差に基づき前記計時手段が計時すべき現在時刻を
    補正する補正工程とを実行させるためのプログラムを記
    録したコンピュータが読み取り可能な記憶媒体。
15. 【請求項１５】 前記第１の誤差積算工程は、一定時間
    毎に温度を測定し誤差を積算することを特徴とする請求
    項１４記載の記憶媒体。
16. 【請求項１６】 前記第１の誤差積算工程は、前記温度
    測定手段による測定温度が所定範囲を超えた時に誤差を
    積算することを特徴とする請求項１４または１５記載の
    記憶媒体。
17. 【請求項１７】 前記現在時刻および前記現在温度およ
    び積算誤差は、一定時間毎に不揮発性記憶手段に記憶す
    ることを特徴とする請求項１４記載の記憶媒体。
18. 【請求項１８】 前記現在時刻および前記現在温度およ
    び積算誤差は、前記温度測定手段による測定温度が一定
    範囲を超えたときに不揮発性記憶手段に記憶することを
    特徴とする請求項１４記載の記憶媒体。
19. 【請求項１９】 前記第１の誤差積算工程は、前記温度
    測定手段により測定された温度が所定の監視温度範囲か
    ら外れた場合に、前記制御部に対して割込みを指示して
    前記計時手段により計時される時刻の計時誤差の自己導
    出を開始させることを特徴とする請求項１４記載の記憶
    媒体。