JP2001221813A - 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 - Google Patents
非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法Info
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- JP2001221813A JP2001221813A JP2000032006A JP2000032006A JP2001221813A JP 2001221813 A JP2001221813 A JP 2001221813A JP 2000032006 A JP2000032006 A JP 2000032006A JP 2000032006 A JP2000032006 A JP 2000032006A JP 2001221813 A JP2001221813 A JP 2001221813A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 絶縁材で被覆された被測定導体の電圧を、精
度良く、非接触で測定することが可能な非接触電圧測定
装置および非接触電圧測定方法を提供すること。 【解決手段】 本発明に係る非接触電圧測定装置は、被
測定導体を被覆している絶縁材を加熱し、絶縁材の温度
を所定温度にする加熱手段６と、加熱手段６で加熱され
た絶縁材上から被測定導体の電位を測定する電位測定手
段１、２とを備えている。
度良く、非接触で測定することが可能な非接触電圧測定
装置および非接触電圧測定方法を提供すること。 【解決手段】 本発明に係る非接触電圧測定装置は、被
測定導体を被覆している絶縁材を加熱し、絶縁材の温度
を所定温度にする加熱手段６と、加熱手段６で加熱され
た絶縁材上から被測定導体の電位を測定する電位測定手
段１、２とを備えている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁材で被覆され
た被測定導体の印加電圧を測定する非接触電圧測定装置
および非接触電圧測定方法に関するものである。
た被測定導体の印加電圧を測定する非接触電圧測定装置
および非接触電圧測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】導体に接することなく被測定導体の電圧
を測定する非接触電圧測定の手法としては、従来様々な
手法のものが提案されている。例えば、特開平１０−３
３９７５４号公報に示された従来の表面電位検出装置で
は、被測定導体が露出した状態で、この被測定導体と所
定距離へだてて音叉の一片に固定された検出電極を配置
し、音叉を振動させることにより、検出電極と被測定導
体との距離を変化させて、検出電極に帯電される電荷量
の変位を検出する（被測定導体の電位を検出する）よう
にしている。
を測定する非接触電圧測定の手法としては、従来様々な
手法のものが提案されている。例えば、特開平１０−３
３９７５４号公報に示された従来の表面電位検出装置で
は、被測定導体が露出した状態で、この被測定導体と所
定距離へだてて音叉の一片に固定された検出電極を配置
し、音叉を振動させることにより、検出電極と被測定導
体との距離を変化させて、検出電極に帯電される電荷量
の変位を検出する（被測定導体の電位を検出する）よう
にしている。
【０００３】しかしながら、上記特開平１０−３３９７
５４号公報に記載された方法等の従来の手法では、被測
定導体が露出した状態での測定には適しているが、ケー
ブル等、被測定導体が絶縁材で被覆されている状態での
測定では、ケーブル周囲の環境の影響や被測定導体に印
加された電圧に応じて絶縁材表面が帯電するため、被測
定導体の電位のみを精度良く測定できなかった。
５４号公報に記載された方法等の従来の手法では、被測
定導体が露出した状態での測定には適しているが、ケー
ブル等、被測定導体が絶縁材で被覆されている状態での
測定では、ケーブル周囲の環境の影響や被測定導体に印
加された電圧に応じて絶縁材表面が帯電するため、被測
定導体の電位のみを精度良く測定できなかった。
【０００４】そこで、ケーブル周囲の環境の影響や被測
定導体に印加された電圧に応じて発生する絶縁材表面の
帯電等の静電気を除去するために、絶縁材表面をアルコ
ール等の溶剤で濡らした後に被測定導体を測定する手法
が用いられていた。
定導体に印加された電圧に応じて発生する絶縁材表面の
帯電等の静電気を除去するために、絶縁材表面をアルコ
ール等の溶剤で濡らした後に被測定導体を測定する手法
が用いられていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の非
接触電圧測定装置では、アルコール等の溶剤で絶縁材表
面を濡らすことで、絶縁材で被覆された被測定導体の電
圧を一時的に測定することは可能であるが、溶剤の乾燥
等により、絶縁材表面に安定した、かつ一定の溶剤を塗
布することができないので、被測定導体の電位を安定し
て測定できないという問題点があった。また溶剤を塗布
するための装置を新たに設けると、装置が大型化、複雑
化するという問題点があった。
接触電圧測定装置では、アルコール等の溶剤で絶縁材表
面を濡らすことで、絶縁材で被覆された被測定導体の電
圧を一時的に測定することは可能であるが、溶剤の乾燥
等により、絶縁材表面に安定した、かつ一定の溶剤を塗
布することができないので、被測定導体の電位を安定し
て測定できないという問題点があった。また溶剤を塗布
するための装置を新たに設けると、装置が大型化、複雑
化するという問題点があった。
【０００６】なお、絶縁材を除去して被測定導体に接触
できれば、テスター等により、被測定導体の電位を安定
して測定することも可能であるが、絶縁材を破壊しなけ
れば被測定導体の測定ができないという問題点があっ
た。
できれば、テスター等により、被測定導体の電位を安定
して測定することも可能であるが、絶縁材を破壊しなけ
れば被測定導体の測定ができないという問題点があっ
た。
【０００７】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたもので、絶縁材で被覆された被測定導体の電圧
を、精度良く、非接触で測定することが可能な非接触電
圧測定装置および非接触電圧測定方法を提供することを
目的とする。
されたもので、絶縁材で被覆された被測定導体の電圧
を、精度良く、非接触で測定することが可能な非接触電
圧測定装置および非接触電圧測定方法を提供することを
目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明に係る非接触電圧
測定装置は、被測定導体を被覆している絶縁材を加熱
し、上記絶縁材の温度を所定温度にする加熱手段と、上
記加熱手段で加熱された絶縁材上から上記被測定導体の
電位を測定する電位測定手段とを備えたものである。
測定装置は、被測定導体を被覆している絶縁材を加熱
し、上記絶縁材の温度を所定温度にする加熱手段と、上
記加熱手段で加熱された絶縁材上から上記被測定導体の
電位を測定する電位測定手段とを備えたものである。
【０００９】また、加熱手段が、絶縁材の表面温度を４
５〜１００℃にするようにしてもよい。
５〜１００℃にするようにしてもよい。
【００１０】また、電位測定手段が、被測定導体の表面
電位を検出する電圧検出電極部を有し、この電圧検出電
極部の位置を移動させる移動手段を設けるようにしても
よい。
電位を検出する電圧検出電極部を有し、この電圧検出電
極部の位置を移動させる移動手段を設けるようにしても
よい。
【００１１】また、電圧測定時に、被測定導体を被覆す
る絶縁材の一側面を遮蔽するシールド手段を備えるよう
にしてもよい。
る絶縁材の一側面を遮蔽するシールド手段を備えるよう
にしてもよい。
【００１２】また、本発明による非接触電圧測定方法
は、被測定導体を被覆している絶縁材を加熱して上記絶
縁材の温度を所定温度にし、この加熱された絶縁材上か
ら上記被測定導体の電位を測定するものである。
は、被測定導体を被覆している絶縁材を加熱して上記絶
縁材の温度を所定温度にし、この加熱された絶縁材上か
ら上記被測定導体の電位を測定するものである。
【００１３】さらに、絶縁材の表面温度を４５〜１００
℃にするようにしてもよい。
℃にするようにしてもよい。
【００１４】
【発明の実施の形態】実施の形態１．図１はこの実施の
形態１による非接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視
図である。図２は図１に示した非接触電圧測定装置を構
成する各部分及び被測定導体である被測定電線の関係を
示した概略模式図である。図３は図１に示した非接触電
圧装置に被測定導体である被測定電線を装着した場合を
示す概略斜視図である。
形態１による非接触電圧測定装置の構成を示す概略斜視
図である。図２は図１に示した非接触電圧測定装置を構
成する各部分及び被測定導体である被測定電線の関係を
示した概略模式図である。図３は図１に示した非接触電
圧装置に被測定導体である被測定電線を装着した場合を
示す概略斜視図である。
【００１５】図において、１は電圧検出電極部、２は電
圧検出回路部、３は表面電位検出装置（電位測定手
段）、４は被測定導体である被測定電線（ケーブル）、
５は絶縁材で被測定導体４を被覆している絶縁被覆、６
は加熱処理部（加熱手段）である赤外線照射素子、７は
温度センサ、８は温度制御部、９はシールド板、１０は
電圧検出電極移動部、１１は非接触電圧測定装置、１２
は被測定電線固定治具である。
圧検出回路部、３は表面電位検出装置（電位測定手
段）、４は被測定導体である被測定電線（ケーブル）、
５は絶縁材で被測定導体４を被覆している絶縁被覆、６
は加熱処理部（加熱手段）である赤外線照射素子、７は
温度センサ、８は温度制御部、９はシールド板、１０は
電圧検出電極移動部、１１は非接触電圧測定装置、１２
は被測定電線固定治具である。
【００１６】被測定電線４を被覆する絶縁被覆５として
は、ビニル、ＥＰゴム、架橋ポリエチレン、耐熱ビニ
ル、ハイパロン等が挙げられるが、なかでも、例えば、
ＫＨＤ社製の器具用単身ビニルコード（ＶＳＦ）材料等
に代表されるビニルでは、絶縁被覆５の温度が４５〜１
００℃の範囲でも精度良く（１００Ｖ印加で誤差５％以
内）被測定導体の電圧を測定することが可能であり、本
発明の手法を適用するのに、より適している。
は、ビニル、ＥＰゴム、架橋ポリエチレン、耐熱ビニ
ル、ハイパロン等が挙げられるが、なかでも、例えば、
ＫＨＤ社製の器具用単身ビニルコード（ＶＳＦ）材料等
に代表されるビニルでは、絶縁被覆５の温度が４５〜１
００℃の範囲でも精度良く（１００Ｖ印加で誤差５％以
内）被測定導体の電圧を測定することが可能であり、本
発明の手法を適用するのに、より適している。
【００１７】次に動作について説明する。図３に示すよ
うに、絶縁被覆５により被覆された被測定電線４を被測
定電線固定治具１２のＶ型溝部に装着した後、シールド
板９を被測定電線４にかぶせる。なお、このシールド板
９は電圧検出回路部２のアースに接続されており、この
シールド板９により、外来ノイズの影響が抑制されるよ
うになっている。図３には、被測定電線４の上面と側面
の１部を覆う平板折り曲げ構造のシールド板９について
のみ示したが、被測定電線４の全周を覆う構造にしても
よい。
うに、絶縁被覆５により被覆された被測定電線４を被測
定電線固定治具１２のＶ型溝部に装着した後、シールド
板９を被測定電線４にかぶせる。なお、このシールド板
９は電圧検出回路部２のアースに接続されており、この
シールド板９により、外来ノイズの影響が抑制されるよ
うになっている。図３には、被測定電線４の上面と側面
の１部を覆う平板折り曲げ構造のシールド板９について
のみ示したが、被測定電線４の全周を覆う構造にしても
よい。
【００１８】一方、電圧検出電極部１の加熱処理時の昇
温を防止するために、測定前には、電圧検出電極移動部
１０により電圧検出電極部１を下降しておく。（電圧検
出電極部１は矢印Ａ方向に移動可能である）。その後、
被測定電線４の加熱処理を赤外線照射素子６により開始
する。図１には赤外線照射素子６を６つ設置している
が、１つでも複数個でもよい。またＶ型溝部の片側のみ
に設置し、片側から加熱する構成にしてもよい。
温を防止するために、測定前には、電圧検出電極移動部
１０により電圧検出電極部１を下降しておく。（電圧検
出電極部１は矢印Ａ方向に移動可能である）。その後、
被測定電線４の加熱処理を赤外線照射素子６により開始
する。図１には赤外線照射素子６を６つ設置している
が、１つでも複数個でもよい。またＶ型溝部の片側のみ
に設置し、片側から加熱する構成にしてもよい。
【００１９】この加熱処理により絶縁被覆５が設定温度
（４５〜１００℃程度）に達したことを温度センサ７が
検知したら、加熱処理を中止する。そして、電圧検出電
極移動部１０により電圧検出電極部１をＶ型溝部の底面
である測定位置まで上昇させ、被測定電線４の印加電圧
を表面電位検出装置３により測定する。
（４５〜１００℃程度）に達したことを温度センサ７が
検知したら、加熱処理を中止する。そして、電圧検出電
極移動部１０により電圧検出電極部１をＶ型溝部の底面
である測定位置まで上昇させ、被測定電線４の印加電圧
を表面電位検出装置３により測定する。
【００２０】このように絶縁被覆５を加熱した状態で、
被測定電線４の印加電圧を検出する理由について説明す
る。絶縁抵抗の高い絶縁被覆５をもつ被測定電線４に直
流電圧を印可すると、導体電位と絶縁被覆の帯電間で電
位が相殺される。この状態で被測定電線４の電位を表面
電位検出装置３で測定すると、誤った電位が測定される
ことになる。
被測定電線４の印加電圧を検出する理由について説明す
る。絶縁抵抗の高い絶縁被覆５をもつ被測定電線４に直
流電圧を印可すると、導体電位と絶縁被覆の帯電間で電
位が相殺される。この状態で被測定電線４の電位を表面
電位検出装置３で測定すると、誤った電位が測定される
ことになる。
【００２１】それに対して、絶縁被覆５を加熱処理部６
により所定温度まで温めると、絶縁被覆５に自由電子が
生じ、絶縁被覆表面の電荷を移動、減少させる。これは
絶縁物の体積抵抗率は、温度の上昇で減少する性質があ
るためで、漏れ電流となる。したがって、昇温後に測定
を行うと、被測定電線４の導体電位の測定が正しく行え
ることになる。
により所定温度まで温めると、絶縁被覆５に自由電子が
生じ、絶縁被覆表面の電荷を移動、減少させる。これは
絶縁物の体積抵抗率は、温度の上昇で減少する性質があ
るためで、漏れ電流となる。したがって、昇温後に測定
を行うと、被測定電線４の導体電位の測定が正しく行え
ることになる。
【００２２】上記絶縁被覆表面の電荷を移動、減少させ
るために必要な温度は、絶縁被覆５の材質により変動す
るが、一般には、４５〜１００℃、好ましくは、６０〜
１００℃に設定するのがよい。図４からもわかるよう
に、温度を６０〜１００℃にした場合には、ほとんどの
材質の絶縁被覆５に対して、電圧値を精度良く測定する
ことができる。
るために必要な温度は、絶縁被覆５の材質により変動す
るが、一般には、４５〜１００℃、好ましくは、６０〜
１００℃に設定するのがよい。図４からもわかるよう
に、温度を６０〜１００℃にした場合には、ほとんどの
材質の絶縁被覆５に対して、電圧値を精度良く測定する
ことができる。
【００２３】図４は、測定電圧の精度と絶縁被覆の温度
との関係を示す図である。なお、ケーブルとしては、Ｌ
ＭＦＣ（６６００Ｖ難燃可とう性架橋ポリエチレン絶縁
電線：三和電線工業）と、ＨＫＩＶ（６００Ｖ電機機器
用耐熱ビニル電線：太陽電線）とを用いた。図からわか
るように、温度を６０〜１００℃にした場合には、上記
各々のケーブルに対して、５％以内の測定誤差で電圧値
を測定することができる。
との関係を示す図である。なお、ケーブルとしては、Ｌ
ＭＦＣ（６６００Ｖ難燃可とう性架橋ポリエチレン絶縁
電線：三和電線工業）と、ＨＫＩＶ（６００Ｖ電機機器
用耐熱ビニル電線：太陽電線）とを用いた。図からわか
るように、温度を６０〜１００℃にした場合には、上記
各々のケーブルに対して、５％以内の測定誤差で電圧値
を測定することができる。
【００２４】図５は被測定電線４への印加電圧と表面電
位検出装置３で検出された計測電圧との関係を示す図で
ある。なお、図５では、横軸は印加電圧（Ｖ）、縦軸は
計測電圧（Ｖ）を示したおり、温度６０〜１００℃にお
ける測定データを示したものである。図からわかるよう
に、温度６０〜１００℃では、２００（Ｖ）前後まで、
ほとんど誤差なく被測定電線４の電位を測定できること
がわかる。
位検出装置３で検出された計測電圧との関係を示す図で
ある。なお、図５では、横軸は印加電圧（Ｖ）、縦軸は
計測電圧（Ｖ）を示したおり、温度６０〜１００℃にお
ける測定データを示したものである。図からわかるよう
に、温度６０〜１００℃では、２００（Ｖ）前後まで、
ほとんど誤差なく被測定電線４の電位を測定できること
がわかる。
【００２５】また、この実施の形態では、加熱処理部に
赤外線照射素子を用いているが、これは特に限定するも
のではなく、熱風吹付け、電磁誘導加熱、電熱線等によ
り被測定電線の昇温を行う等、被測定電線の温度を上げ
られるものであればよい。
赤外線照射素子を用いているが、これは特に限定するも
のではなく、熱風吹付け、電磁誘導加熱、電熱線等によ
り被測定電線の昇温を行う等、被測定電線の温度を上げ
られるものであればよい。
【００２６】図６はこの実施の形態１における他の非接
触電圧測定装置の構成を示す概略斜視図である。図にお
いて、９ａ、９ｂは被測定電線固定治具１２、被測定電
線固定治具１３内の治具外周に沿って配置したシールド
板、１３はＶ型溝部を有した被測定電線固定治具で、こ
の被測定電線固定治具内には、矢印Ａ方向に移動可能な
電圧検出電極部１を含む表面電位検出装置３、及び電圧
検出電極移動部１０が設けられている。一方、被測定電
線固定治具１２内には、温度制御部８が設けられてい
る。
触電圧測定装置の構成を示す概略斜視図である。図にお
いて、９ａ、９ｂは被測定電線固定治具１２、被測定電
線固定治具１３内の治具外周に沿って配置したシールド
板、１３はＶ型溝部を有した被測定電線固定治具で、こ
の被測定電線固定治具内には、矢印Ａ方向に移動可能な
電圧検出電極部１を含む表面電位検出装置３、及び電圧
検出電極移動部１０が設けられている。一方、被測定電
線固定治具１２内には、温度制御部８が設けられてい
る。
【００２７】なお、動作については、被測定電線固定治
具１２、１３で被測定電線４を挟み込むこと以外は図１
に示した非接触電圧測定装置と同じであるので説明は省
略する。
具１２、１３で被測定電線４を挟み込むこと以外は図１
に示した非接触電圧測定装置と同じであるので説明は省
略する。
【００２８】図６に示した非接触電圧測定装置では、シ
ールド板９を被測定電線固定治具１２、１３内の治具外
周に沿って設置したが、治具内に収めずに治具の外側に
設置してもよい。
ールド板９を被測定電線固定治具１２、１３内の治具外
周に沿って設置したが、治具内に収めずに治具の外側に
設置してもよい。
【００２９】なお、この実施の形態では、電圧検出電極
移動部１０により電圧検出電極部１を移動したが、加熱
処理時、昇温の影響を受けない測定位置に電圧検出電極
部１を設置できれば、特に電圧検出電極移動部１０を設
けなくともよい。
移動部１０により電圧検出電極部１を移動したが、加熱
処理時、昇温の影響を受けない測定位置に電圧検出電極
部１を設置できれば、特に電圧検出電極移動部１０を設
けなくともよい。
【００３０】この実施の形態では、加熱手段により、被
測定導体を被覆している絶縁材を加熱し、この絶縁材の
表面温度を所定温度にした状態で、電位測定手段により
被測定導体の電位を測定するようにしているので、絶縁
材で被覆されている被測定導体の電位を、非接触で、か
つ絶縁材を介した状態で精度良く測定できる。
測定導体を被覆している絶縁材を加熱し、この絶縁材の
表面温度を所定温度にした状態で、電位測定手段により
被測定導体の電位を測定するようにしているので、絶縁
材で被覆されている被測定導体の電位を、非接触で、か
つ絶縁材を介した状態で精度良く測定できる。
【００３１】実施の形態２．実施の形態１では、温度セ
ンサにより、絶縁被覆が所定温度になるように加熱処理
を制御するようにしていたが、この実施の形態２では、
加熱処理時間管理部を設けて加熱処理時間を管理するこ
とにより、絶縁被覆が所定温度になるようにしたもので
ある。
ンサにより、絶縁被覆が所定温度になるように加熱処理
を制御するようにしていたが、この実施の形態２では、
加熱処理時間管理部を設けて加熱処理時間を管理するこ
とにより、絶縁被覆が所定温度になるようにしたもので
ある。
【００３２】図７はこの実施の形態２の非接触電圧測定
装置を構成する各部分及び被測定導体である被測定電線
の関係を示した概略模式図である。図において、７ａは
加熱処理時間管理部（タイマー）である。なお、この実
施の形態２は、実施の形態１の温度センサ７を加熱処理
時間管理部（タイマー）７ａに置き換えた以外は同じで
あるので他の説明は省略する。
装置を構成する各部分及び被測定導体である被測定電線
の関係を示した概略模式図である。図において、７ａは
加熱処理時間管理部（タイマー）である。なお、この実
施の形態２は、実施の形態１の温度センサ７を加熱処理
時間管理部（タイマー）７ａに置き換えた以外は同じで
あるので他の説明は省略する。
【００３３】次に、動作について説明する。測定前に、
加熱処理手段別に、絶縁被覆（被測定導体）の加熱時間
−温度特性を予め把握しておき、絶縁材が所定温度にな
るのに必要な加熱時間を予め把握しておく。そして、加
熱開始後の加熱処理時間を加熱処理時間管理部（タイマ
ー）７ａにおいて測定し、絶縁被覆（被測定導体）に応
じて定められた一定時間経過後、加熱処理を中止し、表
面電位検出装置３により、被測定導体の印加電圧を測定
する。
加熱処理手段別に、絶縁被覆（被測定導体）の加熱時間
−温度特性を予め把握しておき、絶縁材が所定温度にな
るのに必要な加熱時間を予め把握しておく。そして、加
熱開始後の加熱処理時間を加熱処理時間管理部（タイマ
ー）７ａにおいて測定し、絶縁被覆（被測定導体）に応
じて定められた一定時間経過後、加熱処理を中止し、表
面電位検出装置３により、被測定導体の印加電圧を測定
する。
【００３４】この実施の形態では、実施の形態１の温度
センサに代えて加熱処理時間管理部（タイマー）を設
け、この加熱処理時間管理部により、絶縁材が所定温度
になるように設定しているので、実施の形態１の効果に
加えて、装置を簡略化することができる。
センサに代えて加熱処理時間管理部（タイマー）を設
け、この加熱処理時間管理部により、絶縁材が所定温度
になるように設定しているので、実施の形態１の効果に
加えて、装置を簡略化することができる。
【００３５】実施の形態３．図８はこの実施の形態３に
よる非接触電圧測定装置を構成する各部分及び被測定導
体である被測定電線の関係を示した概略模式図である。
図において、１４は直流カットコンデンサ、１５はＡＣ
／ＤＣ変換部、１６は交流電圧表示器、１７は直流電圧
表示器である。この実施の形態３は、実施の形態２に交
流電圧測定部を加え、直流、交流を分けて表示する機能
を備えたものである。
よる非接触電圧測定装置を構成する各部分及び被測定導
体である被測定電線の関係を示した概略模式図である。
図において、１４は直流カットコンデンサ、１５はＡＣ
／ＤＣ変換部、１６は交流電圧表示器、１７は直流電圧
表示器である。この実施の形態３は、実施の形態２に交
流電圧測定部を加え、直流、交流を分けて表示する機能
を備えたものである。
【００３６】直流、交流を分けて測定し、表示する機能
を備えたことにより、被測定導体に印可された電圧が直
流、交流いずれの場合においても精度良く検出できる効
果がある。
を備えたことにより、被測定導体に印可された電圧が直
流、交流いずれの場合においても精度良く検出できる効
果がある。
【００３７】また、この実施の形態３においては、加熱
処理時間管理部（タイマー）８を用いているが、実施の
形態１のように温度センサ７を用いるようにしてもよ
い。
処理時間管理部（タイマー）８を用いているが、実施の
形態１のように温度センサ７を用いるようにしてもよ
い。
【００３８】
【発明の効果】本発明に係る非接触電圧測定装置は、被
測定導体を被覆している絶縁材を加熱し、上記絶縁材の
表面温度を所定温度にする加熱手段と、上記加熱手段で
加熱された絶縁材上から上記被測定導体の電位を測定す
る電位測定手段とを備えているので、絶縁材で被覆され
ている被測定導体の電位を精度よく測定することができ
る。
測定導体を被覆している絶縁材を加熱し、上記絶縁材の
表面温度を所定温度にする加熱手段と、上記加熱手段で
加熱された絶縁材上から上記被測定導体の電位を測定す
る電位測定手段とを備えているので、絶縁材で被覆され
ている被測定導体の電位を精度よく測定することができ
る。
【００３９】また、加熱手段が、絶縁材の表面温度を４
５〜１００℃にする場合には、絶縁材で被覆されている
被測定導体の電位を精度よく測定することができる。
５〜１００℃にする場合には、絶縁材で被覆されている
被測定導体の電位を精度よく測定することができる。
【００４０】また、電位測定手段が、被測定導体の表面
電位を検出する電圧検出電極部を有し、この電圧検出電
極部の位置を移動させる移動手段を設けた場合には、加
熱処理によって電圧検出電極部が昇温するのを防止する
ことができる。
電位を検出する電圧検出電極部を有し、この電圧検出電
極部の位置を移動させる移動手段を設けた場合には、加
熱処理によって電圧検出電極部が昇温するのを防止する
ことができる。
【００４１】さらに、電圧測定時に、被測定導体を被覆
する絶縁材の一側面を遮蔽するシールド手段を備えた場
合には、外来ノイズの影響が抑制することができ、より
正確な測定をすることができる。
する絶縁材の一側面を遮蔽するシールド手段を備えた場
合には、外来ノイズの影響が抑制することができ、より
正確な測定をすることができる。
【００４２】また、本発明に係る非接触電圧測定方法
は、被測定導体を被覆している絶縁材を加熱して上記絶
縁材の温度を所定温度にし、この加熱された絶縁材上か
ら上記被測定導体の電位を測定するので、絶縁材で被覆
されている被測定導体の電位を精度よく測定することが
できる。
は、被測定導体を被覆している絶縁材を加熱して上記絶
縁材の温度を所定温度にし、この加熱された絶縁材上か
ら上記被測定導体の電位を測定するので、絶縁材で被覆
されている被測定導体の電位を精度よく測定することが
できる。
【００４３】さらに、絶縁材の表面温度を４５〜１００
℃にするので、絶縁材で被覆されている被測定導体の電
位を精度よく測定することができる。
℃にするので、絶縁材で被覆されている被測定導体の電
位を精度よく測定することができる。
【図１】 本発明の実施の形態１による非接触電圧測定
装置の構成を示す概略図である。
装置の構成を示す概略図である。
【図２】 図１に示した非接触電圧測定装置及び被測定
電線の関係を示した概略模式図である。
電線の関係を示した概略模式図である。
【図３】 図１に示した非接触電圧装置に被測定導体で
ある被測定電線を装着した場合を示す概略図である。
ある被測定電線を装着した場合を示す概略図である。
【図４】 測定電圧の精度と絶縁被覆の温度との関係を
示す図である。
示す図である。
【図５】 被測定電線への印加電圧と表面電位検出装置
で検出された計測電圧との関係を示す図である。
で検出された計測電圧との関係を示す図である。
【図６】 本発明の実施の形態１による他の非接触電圧
測定装置の構成を示す概略図である。
測定装置の構成を示す概略図である。
【図７】 本発明の実施の形態２による非接触電圧測定
装置及び被測定電線の関係を示した概略模式図である。
装置及び被測定電線の関係を示した概略模式図である。
【図８】 本発明の実施の形態３による非接触電圧測定
装置及び被測定電線の関係を示した概略模式図である。
装置及び被測定電線の関係を示した概略模式図である。
１ 電圧検出電極部 ２ 電圧検出回路
部 ３ 表面電位検出装置 ４ 被測定電線 ５ 絶縁被覆 ６ 加熱処理部 ７ 温度センサ ７ａ 加熱処理時間
管理部 ８ 温度制御部 ９、９ａ、９ｂ シ
ールド板 １０ 電圧検出電極移動部 １１ 非接触電圧
測定装置 １２被測定電線固定治具 １３ 被測定電線
固定治具 １４ 直流カットコンデンサ １５ ＡＣ／ＤＣ
変換部 １６ 交流電圧表示器 １７ 直流電圧表
示器
部 ３ 表面電位検出装置 ４ 被測定電線 ５ 絶縁被覆 ６ 加熱処理部 ７ 温度センサ ７ａ 加熱処理時間
管理部 ８ 温度制御部 ９、９ａ、９ｂ シ
ールド板 １０ 電圧検出電極移動部 １１ 非接触電圧
測定装置 １２被測定電線固定治具 １３ 被測定電線
固定治具 １４ 直流カットコンデンサ １５ ＡＣ／ＤＣ
変換部 １６ 交流電圧表示器 １７ 直流電圧表
示器
Claims (6)
- 【請求項１】 被測定導体を被覆している絶縁材を加熱
し、上記絶縁材の温度を所定温度にする加熱手段と、上
記加熱手段で加熱された絶縁材上から上記被測定導体の
電位を測定する電位測定手段とを備えたことを特徴とす
る非接触電圧測定装置。 - 【請求項２】 加熱手段は、絶縁材の表面温度を４５〜
１００℃にすることを特徴とする請求項１記載の非接触
電圧測定装置。 - 【請求項３】 電位測定手段は、被測定導体の表面電位
を検出する電圧検出電極部を有し、この電圧検出電極部
の位置を移動させる移動手段を設けたことを特徴とする
請求項１記載の非接触電圧測定装置。 - 【請求項４】 電圧測定時に、被測定導体を被覆する絶
縁材の一側面を遮蔽するシールド手段を備えたことを特
徴とする請求項１記載の非接触電圧測定装置。 - 【請求項５】 被測定導体を被覆している絶縁材を加熱
して上記絶縁材の温度を所定温度にし、この加熱された
絶縁材上から上記被測定導体の電位を測定することを特
徴とする非接触電圧測定方法。 - 【請求項６】 絶縁材の表面温度を４５〜１００℃にす
ることを特徴とする請求項５記載の非接触電圧測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000032006A JP3731107B2 (ja) | 2000-02-09 | 2000-02-09 | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000032006A JP3731107B2 (ja) | 2000-02-09 | 2000-02-09 | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001221813A true JP2001221813A (ja) | 2001-08-17 |
| JP3731107B2 JP3731107B2 (ja) | 2006-01-05 |
Family
ID=18556674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000032006A Expired - Fee Related JP3731107B2 (ja) | 2000-02-09 | 2000-02-09 | 非接触電圧測定装置および非接触電圧測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3731107B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016148597A (ja) * | 2015-02-13 | 2016-08-18 | 横河電機株式会社 | 電流センサ |
| CN115616302A (zh) * | 2022-09-27 | 2023-01-17 | 国网江苏省电力有限公司南通供电分公司 | 一种直流导线绝缘层电荷电势聚集与检测方法及装置 |
-
2000
- 2000-02-09 JP JP2000032006A patent/JP3731107B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| CN115616302A (zh) * | 2022-09-27 | 2023-01-17 | 国网江苏省电力有限公司南通供电分公司 | 一种直流导线绝缘层电荷电势聚集与检测方法及装置 |
| CN115616302B (zh) * | 2022-09-27 | 2024-02-13 | 国网江苏省电力有限公司南通供电分公司 | 一种直流导线绝缘层电荷电势聚集与检测方法及装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3731107B2 (ja) | 2006-01-05 |
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