JPH10177053A - 回転電機の固定子コイルの劣化検知方法及び装置 - Google Patents
回転電機の固定子コイルの劣化検知方法及び装置Info
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- JPH10177053A JPH10177053A JP33793096A JP33793096A JPH10177053A JP H10177053 A JPH10177053 A JP H10177053A JP 33793096 A JP33793096 A JP 33793096A JP 33793096 A JP33793096 A JP 33793096A JP H10177053 A JPH10177053 A JP H10177053A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】回転電機の固定子コイル１の絶縁層の漏水また
は剥離による劣化を検出するには、対地静電容量が影響
して検出しにくかった。 【構成】固定子コイル１のコイル絶縁層４の表面に電極
３０を配置し、この電極３０とコイル導体２との間の絶
縁層３１の静電容量または誘電率を測定する。 【効果】絶縁上の問題もなく、既設の回転電機に適用で
き、浮遊の静電容量や絶縁厚みのバラツキによる影響を
除去して、コイル絶縁層４の吸水や剥離による変化を比
誘電率や静電容量の変化として精度よく評価できる。
は剥離による劣化を検出するには、対地静電容量が影響
して検出しにくかった。 【構成】固定子コイル１のコイル絶縁層４の表面に電極
３０を配置し、この電極３０とコイル導体２との間の絶
縁層３１の静電容量または誘電率を測定する。 【効果】絶縁上の問題もなく、既設の回転電機に適用で
き、浮遊の静電容量や絶縁厚みのバラツキによる影響を
除去して、コイル絶縁層４の吸水や剥離による変化を比
誘電率や静電容量の変化として精度よく評価できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は回転電機の固定子コ
イル絶縁層の剥離劣化または直接水冷却発電機固定子コ
イル絶縁層の水漏れ劣化を検出する方法及び装置に関す
る。
イル絶縁層の剥離劣化または直接水冷却発電機固定子コ
イル絶縁層の水漏れ劣化を検出する方法及び装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に大容量回転電機の固定子コイルに
おいては、固定子コイルの素線内に冷却水を通す、いわ
ゆる直接水冷却方式を採用している。固定子コイルは固
定子鉄心スロットに収納されるとともに、エンド部にて
他のスロットに納められたコイルと電気的に接続すると
ともに、冷却水の通水路も形成する必要がある。この冷
却水通水路は電気接続部と一体とされ、固定子コイル端
部には中空のクリップが設けられている。このような接
続にはろう付けで行われているが、複雑な構造のため、
フラックス等が残り腐食し、水漏れが発生することがあ
る。この水漏れを検出するため、例えば特開昭49−3105
号公報のように感水絶縁層を介して電極を絶縁層内に配
置したような方法が行われていた。
おいては、固定子コイルの素線内に冷却水を通す、いわ
ゆる直接水冷却方式を採用している。固定子コイルは固
定子鉄心スロットに収納されるとともに、エンド部にて
他のスロットに納められたコイルと電気的に接続すると
ともに、冷却水の通水路も形成する必要がある。この冷
却水通水路は電気接続部と一体とされ、固定子コイル端
部には中空のクリップが設けられている。このような接
続にはろう付けで行われているが、複雑な構造のため、
フラックス等が残り腐食し、水漏れが発生することがあ
る。この水漏れを検出するため、例えば特開昭49−3105
号公報のように感水絶縁層を介して電極を絶縁層内に配
置したような方法が行われていた。
【０００３】また、発電機の固定子コイルの絶縁層は長
年の使用により層内に剥離劣化が発生することがある
が、このような劣化は例えば電気学会技術報告(II部)第
１８２号２５ページ記載（昭和５２年１２月発行）のよ
うな絶縁劣化診断により検出する方法が行われていた。
年の使用により層内に剥離劣化が発生することがある
が、このような劣化は例えば電気学会技術報告(II部)第
１８２号２５ページ記載（昭和５２年１２月発行）のよ
うな絶縁劣化診断により検出する方法が行われていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来例のような方法で
は、予め感水絶縁層と電極を絶縁層に配置しておく必要
があり、既に運転中の回転電機には適用できない。ま
た、電極に接続された接続線を外部に出しておく必要が
あり、絶縁上問題があった。
は、予め感水絶縁層と電極を絶縁層に配置しておく必要
があり、既に運転中の回転電機には適用できない。ま
た、電極に接続された接続線を外部に出しておく必要が
あり、絶縁上問題があった。
【０００５】また、従来例のようなコイル絶縁層の剥離
検出法は固定子巻線全体で検出試験を実施するため、ほ
とんど全コイルが剥離するような場合でないと検出でき
ず、数本のコイルのみが剥離している場合は検出できな
いという問題点があった。
検出法は固定子巻線全体で検出試験を実施するため、ほ
とんど全コイルが剥離するような場合でないと検出でき
ず、数本のコイルのみが剥離している場合は検出できな
いという問題点があった。
【０００６】本発明の目的は、既設の回転電機に適用で
き、浮遊の静電容量や絶縁厚みのバラツキによる影響を
除去して、コイル絶縁層の吸水や剥離による変化を比誘
電率や静電容量の変化として精度よく評価できる回転電
機の固定子コイルの劣化検知方法を提供することにあ
る。
き、浮遊の静電容量や絶縁厚みのバラツキによる影響を
除去して、コイル絶縁層の吸水や剥離による変化を比誘
電率や静電容量の変化として精度よく評価できる回転電
機の固定子コイルの劣化検知方法を提供することにあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は既に運転中の機
器にも適用できて、絶縁上の問題もなく、また数本のコ
イルのみに発生した剥離劣化を検出できる装置、方法を
提供するもので、コイルエンド部のコイル表面に配置し
た電極とこの電極をコイル表面に密着させる手段、コイ
ル導体とこの電極間の静電容量を測定する手段、この静
電容量を評価し劣化コイルを検出する手段とからなる。
器にも適用できて、絶縁上の問題もなく、また数本のコ
イルのみに発生した剥離劣化を検出できる装置、方法を
提供するもので、コイルエンド部のコイル表面に配置し
た電極とこの電極をコイル表面に密着させる手段、コイ
ル導体とこの電極間の静電容量を測定する手段、この静
電容量を評価し劣化コイルを検出する手段とからなる。
【０００８】発電機コイル絶縁層の比誘電率は約４に対
し、水は約８０，空気や水素は１である。従って、コイ
ルに漏水が発生して絶縁層が吸水すると絶縁層の比誘電
率が増加して、静電容量が増加することになる。一方水
素中や空気中で使用されているコイルの絶縁層が剥離す
ると、この部分に空気や水素が充填され、絶縁層の比誘
電率が低下して、静電容量が低下する。本発明は個々の
コイルの絶縁層の静電容量を測定して、健全部の値と比
較してコイル絶縁層の漏水または剥離を検出するもので
ある。
し、水は約８０，空気や水素は１である。従って、コイ
ルに漏水が発生して絶縁層が吸水すると絶縁層の比誘電
率が増加して、静電容量が増加することになる。一方水
素中や空気中で使用されているコイルの絶縁層が剥離す
ると、この部分に空気や水素が充填され、絶縁層の比誘
電率が低下して、静電容量が低下する。本発明は個々の
コイルの絶縁層の静電容量を測定して、健全部の値と比
較してコイル絶縁層の漏水または剥離を検出するもので
ある。
【０００９】スロット内のコイルの絶縁層最外部は低抵
抗コロナシールド層と称せられる抵抗率の小さなコイル
表面接地層で固定子コアに接触されており、またコイル
導体は全コイルが接続されているため、スロット内の部
分では個々のコイルの絶縁層の静電容量は測定できな
い。本発明では、この低抵抗コロナシールドの外側のコ
イルエンド部分に測定用の電極を配置し、この電極と個
々のコイル導体との間のコイル絶縁層の静電容量を測定
できるようにしたものである。
抗コロナシールド層と称せられる抵抗率の小さなコイル
表面接地層で固定子コアに接触されており、またコイル
導体は全コイルが接続されているため、スロット内の部
分では個々のコイルの絶縁層の静電容量は測定できな
い。本発明では、この低抵抗コロナシールドの外側のコ
イルエンド部分に測定用の電極を配置し、この電極と個
々のコイル導体との間のコイル絶縁層の静電容量を測定
できるようにしたものである。
【００１０】このような電極による静電容量は十数ｐＦ
ときわめて小さな値であるため電極周囲の浮遊静電容量
の影響をなくした電極構成にした。
ときわめて小さな値であるため電極周囲の浮遊静電容量
の影響をなくした電極構成にした。
【００１１】一方、絶縁層の静電容量はコイル絶縁層の
厚さに依存するにもかかわらず、このコイルエンド部分
は曲げられた形状部や、接続部があるため、絶縁層の厚
みが必ずしも一定ではないので、コイルの両側面に形成
した電極間の絶縁層の静電容量による方法や、２以上の
周波数の静電容量による方法により、絶縁層の厚みの影
響が少ない絶縁層の漏水，剥離劣化を検出する手段を提
供するものである。
厚さに依存するにもかかわらず、このコイルエンド部分
は曲げられた形状部や、接続部があるため、絶縁層の厚
みが必ずしも一定ではないので、コイルの両側面に形成
した電極間の絶縁層の静電容量による方法や、２以上の
周波数の静電容量による方法により、絶縁層の厚みの影
響が少ない絶縁層の漏水，剥離劣化を検出する手段を提
供するものである。
【００１２】
【発明の実施の形態】即ち、コイル表面の両側面に配置
した電極間の静電容量は、コイルよりコイル導体を除い
た絶縁層の部分の静電容量Ｃｓｐとして Ｃｓｐ＝ε0εＳ／（Ｄ−ｄ） で計算される。ここでε0；真空の誘電率、ε；絶縁層
の比誘電率、Ｄ；コイルの厚み、ｄ；コイル導体の厚
み、Ｓ；電極の面積である。
した電極間の静電容量は、コイルよりコイル導体を除い
た絶縁層の部分の静電容量Ｃｓｐとして Ｃｓｐ＝ε0εＳ／（Ｄ−ｄ） で計算される。ここでε0；真空の誘電率、ε；絶縁層
の比誘電率、Ｄ；コイルの厚み、ｄ；コイル導体の厚
み、Ｓ；電極の面積である。
【００１３】一方、コイル導体はスロット内の絶縁層の
大きな静電容量を介して接地されているので、コイル表
面の両側面に配置した電極間の静電容量は直接には測定
できないが、個々の電極とコイル導体との間の静電容量
Ｃｎａ，Ｃｎｂを測定して、 Ｃｐ＝１／（１／Ｃｎａ＋１／Ｃｎｂ） より、両電極間の静電容量Ｃｐを求めることができる。
この静電容量は上記Cspの計算式よりわかるように、実
測できるコイル厚みＤと、バラツキのほとんどないコイ
ル導体の厚みｄの差に反比例する値であるので、この値
を用いて同じ絶縁厚みの静電容量に補正して、他のコイ
ル表面の、コイルの両側面に配置した電極間の静電容量
Ｃｐ′と比較することができる。すなわち、絶縁層の厚
さのバラツキの影響を除去した評価ができる。
大きな静電容量を介して接地されているので、コイル表
面の両側面に配置した電極間の静電容量は直接には測定
できないが、個々の電極とコイル導体との間の静電容量
Ｃｎａ，Ｃｎｂを測定して、 Ｃｐ＝１／（１／Ｃｎａ＋１／Ｃｎｂ） より、両電極間の静電容量Ｃｐを求めることができる。
この静電容量は上記Cspの計算式よりわかるように、実
測できるコイル厚みＤと、バラツキのほとんどないコイ
ル導体の厚みｄの差に反比例する値であるので、この値
を用いて同じ絶縁厚みの静電容量に補正して、他のコイ
ル表面の、コイルの両側面に配置した電極間の静電容量
Ｃｐ′と比較することができる。すなわち、絶縁層の厚
さのバラツキの影響を除去した評価ができる。
【００１４】なお、複雑な形状をしているがコイル絶縁
層を形成するマイカ絶縁テープの巻回数が同じで、コイ
ル断面形状と曲げ形状は型で成形するため、スロット出
口部近傍のコイルエンド部では、異なるコイル同士でも
同じ位置の絶縁層の厚みのバラツキは小さいので、同じ
位置で静電容量を測定し比較する場合は絶縁層の厚みの
バラツキの影響は小さい。
層を形成するマイカ絶縁テープの巻回数が同じで、コイ
ル断面形状と曲げ形状は型で成形するため、スロット出
口部近傍のコイルエンド部では、異なるコイル同士でも
同じ位置の絶縁層の厚みのバラツキは小さいので、同じ
位置で静電容量を測定し比較する場合は絶縁層の厚みの
バラツキの影響は小さい。
【００１５】一方、コイル絶縁層の静電容量の周波数特
性１０１，１０２，１０３は、一般に図４に示すように
測定周波数が低いほど大きいが、吸水劣化したコイル絶
縁層では、吸水した水分と絶縁層を構成する物質との相
互作用の影響で高い周波数になるほど分極しにくくなる
ため、１０１のように高い周波数の静電容量に対し、低
い周波数の静電容量が著しく大きくなる。一方剥離劣化
したコイル絶縁層ではほとんど分極しない空気や水素が
含有されるため、１０３のように静電容量は測定周波数
に依存しにくくなる。劣化のない健全なコイル絶縁層の
静電容量の周波数特性は１０２のようにこの中間の周波
数依存性を示す。尚、１０１は吸水劣化したコイル絶縁
層の静電容量の周波数特性、１０２は健全なコイル絶縁
層の静電容量の周波数特性、１０３は剥離劣化したコイ
ル絶縁層の静電容量の周波数特性である。従って、例え
ば低い周波数で測定した静電容量と高い周波数で測定し
た静電容量の比は、吸水劣化したコイル絶縁層では著し
く大きく、剥離劣化したコイル絶縁層ではほぼ１に近い
値となる。そして劣化のない健全なコイル絶縁層ではそ
の中間の値となる。この値は絶縁層の厚みに依存しない
ので、この比を用いると絶縁層のバラツキの影響を除去
した評価ができる本発明になる実施例を以下に説明す
る。図５は本発明になる一実施例を示し、固定子コイル
１のコイルエンド部のｎ番目とｎ＋１番目のクリップ部
分１０に適用したものである。
性１０１，１０２，１０３は、一般に図４に示すように
測定周波数が低いほど大きいが、吸水劣化したコイル絶
縁層では、吸水した水分と絶縁層を構成する物質との相
互作用の影響で高い周波数になるほど分極しにくくなる
ため、１０１のように高い周波数の静電容量に対し、低
い周波数の静電容量が著しく大きくなる。一方剥離劣化
したコイル絶縁層ではほとんど分極しない空気や水素が
含有されるため、１０３のように静電容量は測定周波数
に依存しにくくなる。劣化のない健全なコイル絶縁層の
静電容量の周波数特性は１０２のようにこの中間の周波
数依存性を示す。尚、１０１は吸水劣化したコイル絶縁
層の静電容量の周波数特性、１０２は健全なコイル絶縁
層の静電容量の周波数特性、１０３は剥離劣化したコイ
ル絶縁層の静電容量の周波数特性である。従って、例え
ば低い周波数で測定した静電容量と高い周波数で測定し
た静電容量の比は、吸水劣化したコイル絶縁層では著し
く大きく、剥離劣化したコイル絶縁層ではほぼ１に近い
値となる。そして劣化のない健全なコイル絶縁層ではそ
の中間の値となる。この値は絶縁層の厚みに依存しない
ので、この比を用いると絶縁層のバラツキの影響を除去
した評価ができる本発明になる実施例を以下に説明す
る。図５は本発明になる一実施例を示し、固定子コイル
１のコイルエンド部のｎ番目とｎ＋１番目のクリップ部
分１０に適用したものである。
【００１６】図５において、本発明になる電極３０は直
径４５mmの導電性ゴムからなり、内側に空気を充填でき
る袋５１の外側の両表面に形成されている。この電極３
０は袋５１の内部に充填された空気圧により、並列する
ｎ番目とｎ＋１番目のクリップ部分１０の対向する絶縁
層表面に押当て密着させている。空気の加圧力は、空気
圧制御装置５２により０.３kg／cm2に制御している。電
極３０と静電容量測定器４０との間に電極切替装置４１
を設け、ｎ番目のコイル導体との静電容量を測定するＡ
電極３０Ａと、ｎ＋１番目のコイル導体との静電容量を
測定するＢ電極３０Ｂと静電容量測定器４０との接続を
切り替えている。
径４５mmの導電性ゴムからなり、内側に空気を充填でき
る袋５１の外側の両表面に形成されている。この電極３
０は袋５１の内部に充填された空気圧により、並列する
ｎ番目とｎ＋１番目のクリップ部分１０の対向する絶縁
層表面に押当て密着させている。空気の加圧力は、空気
圧制御装置５２により０.３kg／cm2に制御している。電
極３０と静電容量測定器４０との間に電極切替装置４１
を設け、ｎ番目のコイル導体との静電容量を測定するＡ
電極３０Ａと、ｎ＋１番目のコイル導体との静電容量を
測定するＢ電極３０Ｂと静電容量測定器４０との接続を
切り替えている。
【００１７】この電極切替装置４１の操作により、Ａ，
Ｂ電極一括の場合、Ａ電極３０Ａのみの場合、Ｂ電極３
０Ｂのみの場合、Ａ，Ｂ電極とも接続しない場合の測定
ができるようになっている。この測定結果をＣ１２，Ｃ
１，Ｃ２，Ｃ０とすると、Ｃ０は静電容量測定器４０か
ら電極切替装置４１までの接続部分の静電容量である。
Ｃ１はＡ電極３０Ａとｎ番目のコイル導体２との間の静
電容量に、Ａ電極３０Ａと隣接するｎ＋１番目のコイル
導体２との間の浮遊静電容量が加算されたものである。
Ｂ電極一括の場合、Ａ電極３０Ａのみの場合、Ｂ電極３
０Ｂのみの場合、Ａ，Ｂ電極とも接続しない場合の測定
ができるようになっている。この測定結果をＣ１２，Ｃ
１，Ｃ２，Ｃ０とすると、Ｃ０は静電容量測定器４０か
ら電極切替装置４１までの接続部分の静電容量である。
Ｃ１はＡ電極３０Ａとｎ番目のコイル導体２との間の静
電容量に、Ａ電極３０Ａと隣接するｎ＋１番目のコイル
導体２との間の浮遊静電容量が加算されたものである。
【００１８】一方、Ｃ２はＢ電極３０Ｂとｎ＋１番目の
コイル導体２との間の静電容量に、Ｂ電極３０Ｂと隣接
するｎ番目のコイル導体２との間の浮遊の静電容量が加
算されたものである。本実施例のようにＡ，Ｂ電極間が
近い場合には、電極と隣接するコイル導体間の浮遊の静
電容量はＡ，Ｂ電極間の浮遊の静電容量Ｃｇにほぼ等し
いので、Ｃ１２ではこの電極が同じ電位になり、この電
極間の浮遊静電容量が測定されず、Ａとｎ番の導体，Ｂ
電極ｎ＋１番目のコイル導体との間の静電容量が加算さ
れたものである。
コイル導体２との間の静電容量に、Ｂ電極３０Ｂと隣接
するｎ番目のコイル導体２との間の浮遊の静電容量が加
算されたものである。本実施例のようにＡ，Ｂ電極間が
近い場合には、電極と隣接するコイル導体間の浮遊の静
電容量はＡ，Ｂ電極間の浮遊の静電容量Ｃｇにほぼ等し
いので、Ｃ１２ではこの電極が同じ電位になり、この電
極間の浮遊静電容量が測定されず、Ａとｎ番の導体，Ｂ
電極ｎ＋１番目のコイル導体との間の静電容量が加算さ
れたものである。
【００１９】静電容量の評価部４２では、この測定結果
Ｃ１２，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ０より、Ａ電極とｎ番目、Ｂ電
極とｎ＋１番目のコイル導体との静電容量をそれぞれＣ
ｎａ，Ｃ（ｎ＋１）ｂとして Ｃｇ＝（Ｃ１＋Ｃ２−Ｃ１２−Ｃ０）／２ Ｃｎａ＝Ｃ１−Ｃ０−Ｃｇ Ｃ（ｎ＋１）ｂ＝Ｃ２−Ｃ０−Ｃｇ で算出した。この測定を順に実施していくと、全コイル
について両側面の静電容量が得られる。その結果よりｎ
番目のコイルに対し、Ａ，Ｂ電極間の静電容量 Ｃｐ＝１／（１／Ｃｎａ＋１／Ｃｎｂ） を求めた。またこのコイルの厚みＤを測定し、導体の厚
みｄを用いて、Ａ，Ｂ電極間静電容量の計算値Ｃｓｐ Ｃｓｐ＝ε0εＳ／（Ｄ−ｄ） との比Ｋ Ｋ＝Ｃｐ／Ｃｓｐ を求めた。
Ｃ１２，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ０より、Ａ電極とｎ番目、Ｂ電
極とｎ＋１番目のコイル導体との静電容量をそれぞれＣ
ｎａ，Ｃ（ｎ＋１）ｂとして Ｃｇ＝（Ｃ１＋Ｃ２−Ｃ１２−Ｃ０）／２ Ｃｎａ＝Ｃ１−Ｃ０−Ｃｇ Ｃ（ｎ＋１）ｂ＝Ｃ２−Ｃ０−Ｃｇ で算出した。この測定を順に実施していくと、全コイル
について両側面の静電容量が得られる。その結果よりｎ
番目のコイルに対し、Ａ，Ｂ電極間の静電容量 Ｃｐ＝１／（１／Ｃｎａ＋１／Ｃｎｂ） を求めた。またこのコイルの厚みＤを測定し、導体の厚
みｄを用いて、Ａ，Ｂ電極間静電容量の計算値Ｃｓｐ Ｃｓｐ＝ε0εＳ／（Ｄ−ｄ） との比Ｋ Ｋ＝Ｃｐ／Ｃｓｐ を求めた。
【００２０】個々のコイルのＫを用いて、全コイルのＫ
の平均値ｍとその標準偏差μを算出し、各コイル毎のＫ
について、このＫの平均値ｍからの偏差を算出し、この
偏差が全コイルのＫの標準偏差μの３倍以上大きいコイ
ルは漏水劣化と判定し、全コイルのＫの標準偏差μの３
倍以下に小さいコイルは剥離劣化と判定する装置とし
た。
の平均値ｍとその標準偏差μを算出し、各コイル毎のＫ
について、このＫの平均値ｍからの偏差を算出し、この
偏差が全コイルのＫの標準偏差μの３倍以上大きいコイ
ルは漏水劣化と判定し、全コイルのＫの標準偏差μの３
倍以下に小さいコイルは剥離劣化と判定する装置とし
た。
【００２１】上述のようにＣ１２，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ０を
測定して、Ｃｎａ，Ｃ（ｎ＋１）ｂを求める処理方法に
よると、例えば、Ａ電極と隣接するｎ＋１番目のコイル
の導体との浮遊静電容量はほぼＡ，Ｂ電極間の静電容量
Ｃｇに等しくなり、ＣｎａにはこのＣｇを除去している
ので、浮遊の静電容量の影響を除去した高精度のＣａを
測定できる効果がある。
測定して、Ｃｎａ，Ｃ（ｎ＋１）ｂを求める処理方法に
よると、例えば、Ａ電極と隣接するｎ＋１番目のコイル
の導体との浮遊静電容量はほぼＡ，Ｂ電極間の静電容量
Ｃｇに等しくなり、ＣｎａにはこのＣｇを除去している
ので、浮遊の静電容量の影響を除去した高精度のＣａを
測定できる効果がある。
【００２２】本実施例では静電容量の比Ｋで評価した
が、 ε＝Ｃｐ（Ｄ−ｄ）／ε0Ｓ により、比誘電率により評価しても同様の効果が得られ
る。
が、 ε＝Ｃｐ（Ｄ−ｄ）／ε0Ｓ により、比誘電率により評価しても同様の効果が得られ
る。
【００２３】また、電極をコイル表面より容易に脱着で
きるので、同一電極によりすべてのコイルの測定を行う
ことができ、電極の違いによる測定値のバラツキをなく
することができる効果がある。
きるので、同一電極によりすべてのコイルの測定を行う
ことができ、電極の違いによる測定値のバラツキをなく
することができる効果がある。
【００２４】本発明になる他の実施例を以下に説明す
る。図１は本発明を固定子コイル１のｎ番目とｎ＋１番
目のスロット出口近傍のコイルエンド部３に適用したも
のである。この図１の実施例では、本発明になる電極３
０は直径４５mmの導電性ゴムからなり、Ｐから見た図１
の拡大図２のように、さらにポリイミドフイルムからな
る絶縁層３１で絶縁して銅箔からなるシールド層３２を
設けた構成にしている。この電極３０を内部に充填した
空気圧により伸縮するポリプロピレン製の蛇腹状の袋５
１の外側表面に２個配置し、空気圧で袋５１を伸ばし
て、並列するｎ番目とｎ＋１番目のコイルのコイルエン
ド部３の対向する絶縁層表面に押当て密着させている。
空気の加圧力は、空気圧制御装置５２により０.３kg／c
m2に制御している。電極３０と静電容量測定器４０との
間に電極切替装置４１を設け、ｎ番目のコイル導体２と
の静電容量を測定するＡ電極３０Ａと、ｎ＋１番目のコ
イル導体２との静電容量を測定するＢ電極３０Ｂと静電
容量測定器４０との接続を切り替えている。
る。図１は本発明を固定子コイル１のｎ番目とｎ＋１番
目のスロット出口近傍のコイルエンド部３に適用したも
のである。この図１の実施例では、本発明になる電極３
０は直径４５mmの導電性ゴムからなり、Ｐから見た図１
の拡大図２のように、さらにポリイミドフイルムからな
る絶縁層３１で絶縁して銅箔からなるシールド層３２を
設けた構成にしている。この電極３０を内部に充填した
空気圧により伸縮するポリプロピレン製の蛇腹状の袋５
１の外側表面に２個配置し、空気圧で袋５１を伸ばし
て、並列するｎ番目とｎ＋１番目のコイルのコイルエン
ド部３の対向する絶縁層表面に押当て密着させている。
空気の加圧力は、空気圧制御装置５２により０.３kg／c
m2に制御している。電極３０と静電容量測定器４０との
間に電極切替装置４１を設け、ｎ番目のコイル導体２と
の静電容量を測定するＡ電極３０Ａと、ｎ＋１番目のコ
イル導体２との静電容量を測定するＢ電極３０Ｂと静電
容量測定器４０との接続を切り替えている。
【００２５】静電容量測定器４０は供試体に１ｋＨｚの
正弦波電圧を印加し、供試体に流れる電流成分より静電
容量を測定できる構成にし、測定器本体を絶縁変圧器で
完全に電源より切離して、この電流成分を計測する部分
４３をバイパスする端子、所謂ゲート端子４４を接地よ
りフロートにしても、安定して静電容量を測定できるよ
うにした。そして、静電容量測定器４０と電極切替装置
４１，電極３０のゴム電極とを結ぶシールド接続線４５
はシールド線とし、このシールドをこのゲート端子４４
に接続した。更に電極３０に設けたシールド層３２をこ
のシールド接続線４５のシールドに接続した。
正弦波電圧を印加し、供試体に流れる電流成分より静電
容量を測定できる構成にし、測定器本体を絶縁変圧器で
完全に電源より切離して、この電流成分を計測する部分
４３をバイパスする端子、所謂ゲート端子４４を接地よ
りフロートにしても、安定して静電容量を測定できるよ
うにした。そして、静電容量測定器４０と電極切替装置
４１，電極３０のゴム電極とを結ぶシールド接続線４５
はシールド線とし、このシールドをこのゲート端子４４
に接続した。更に電極３０に設けたシールド層３２をこ
のシールド接続線４５のシールドに接続した。
【００２６】この実施例によると電極３０のシールド層
３２とゴム電極は同電位になるので、蛇腹を伸ばして電
極をコイル絶縁層表面に押しつけて、シールド層３２と
ゴム電極との距離が変化した場合にも、電流成分の値は
変わらず、即ち、静電容量の測定に影響をおよぼさな
い。そして、シールド接続線や電極のシールド層の効果
により、電極と隣接するコイル導体との浮遊の静電容量
は測定されないので、特に実施例の１で採用したような
処理はせず、Ａ，Ｂ電極それぞれに接続した場合の静電
容量を、それぞれＡ電極とｎ番目、Ｂ電極とｎ＋１番目
のコイル導体との静電容量Ｃｎａ，Ｃ（ｎ＋１）ｂとし
た。
３２とゴム電極は同電位になるので、蛇腹を伸ばして電
極をコイル絶縁層表面に押しつけて、シールド層３２と
ゴム電極との距離が変化した場合にも、電流成分の値は
変わらず、即ち、静電容量の測定に影響をおよぼさな
い。そして、シールド接続線や電極のシールド層の効果
により、電極と隣接するコイル導体との浮遊の静電容量
は測定されないので、特に実施例の１で採用したような
処理はせず、Ａ，Ｂ電極それぞれに接続した場合の静電
容量を、それぞれＡ電極とｎ番目、Ｂ電極とｎ＋１番目
のコイル導体との静電容量Ｃｎａ，Ｃ（ｎ＋１）ｂとし
た。
【００２７】このスロット出口近傍のコイルエンド部３
は複雑な形状をしているが、コイル絶縁層を形成するマ
イカ絶縁テープの巻回数が同じで、コイル断面形状と曲
げ形状は型で成形するため、異なるコイル同士でも同じ
位置の絶縁層の厚みのバラツキは小さいので、同じ位置
の静電容量を測定して、これを比較しているので絶縁層
の厚みのバラツキの影響は小さい。
は複雑な形状をしているが、コイル絶縁層を形成するマ
イカ絶縁テープの巻回数が同じで、コイル断面形状と曲
げ形状は型で成形するため、異なるコイル同士でも同じ
位置の絶縁層の厚みのバラツキは小さいので、同じ位置
の静電容量を測定して、これを比較しているので絶縁層
の厚みのバラツキの影響は小さい。
【００２８】そこでまず個々のコイルのＡ電極３０Ａの
測定値Ｃａを用いて、全コイルのＣａの平均値ｍａとそ
の標準偏差μａを算出し、各コイル毎のＣａについて、
このＣａの平均値ｍａからの偏差を算出し、この偏差が
全コイルのＣａの標準偏差μａの３倍以上大きいコイル
は漏水劣化と判定し、全コイルのＣａの標準偏差μａの
３倍以下に小さいコイルは剥離劣化と判定する装置とし
た。また個々のコイルのＢ電極３０Ｂの測定値Ｃｂを用
いて、全コイルのＣｂの平均値ｍｂとその標準偏差μｂ
を算出し、各コイル毎のＣｂについて、このＣｂの平均
値ｍｂからの偏差を算出し、この偏差が全コイルのＣｂ
の標準偏差μｂの３倍以上大きいコイルは漏水劣化と判
定し、全コイルのＣｂの標準偏差μｂの３倍以下に小さ
いコイルは剥離劣化と判定する装置とした。この実施例
のようにコイルのＡ電極側、Ｂ電極側それぞれ個別に静
電容量を評価すると、コイルの片側のみが劣化している
場合もこの劣化を検出できる効果があった。
測定値Ｃａを用いて、全コイルのＣａの平均値ｍａとそ
の標準偏差μａを算出し、各コイル毎のＣａについて、
このＣａの平均値ｍａからの偏差を算出し、この偏差が
全コイルのＣａの標準偏差μａの３倍以上大きいコイル
は漏水劣化と判定し、全コイルのＣａの標準偏差μａの
３倍以下に小さいコイルは剥離劣化と判定する装置とし
た。また個々のコイルのＢ電極３０Ｂの測定値Ｃｂを用
いて、全コイルのＣｂの平均値ｍｂとその標準偏差μｂ
を算出し、各コイル毎のＣｂについて、このＣｂの平均
値ｍｂからの偏差を算出し、この偏差が全コイルのＣｂ
の標準偏差μｂの３倍以上大きいコイルは漏水劣化と判
定し、全コイルのＣｂの標準偏差μｂの３倍以下に小さ
いコイルは剥離劣化と判定する装置とした。この実施例
のようにコイルのＡ電極側、Ｂ電極側それぞれ個別に静
電容量を評価すると、コイルの片側のみが劣化している
場合もこの劣化を検出できる効果があった。
【００２９】実施例１のようにＣ１２,Ｃ１,Ｃ２,Ｃ０
を測定して、Ｃｎａ,Ｃ（ｎ＋１）ｂを求める処理方法
を適用しても特に問題はない。また、本実施例のＣ１
２，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ０のおのおのの測定において、５回
の測定の平均値を３回測定し、その中央の値を静電容量
測定値とした場合、突発的な雑音が混入した場合にもそ
の影響を除去できる効果があった。
を測定して、Ｃｎａ,Ｃ（ｎ＋１）ｂを求める処理方法
を適用しても特に問題はない。また、本実施例のＣ１
２，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ０のおのおのの測定において、５回
の測定の平均値を３回測定し、その中央の値を静電容量
測定値とした場合、突発的な雑音が混入した場合にもそ
の影響を除去できる効果があった。
【００３０】また、実施例１の場合と同様、本実施例で
も電極をコイル表面より容易に脱着できるので、同一電
極によりすべてのコイルの測定を行うことができ、電極
の違いによる測定値のバラツキをなくすることができる
効果がある。
も電極をコイル表面より容易に脱着できるので、同一電
極によりすべてのコイルの測定を行うことができ、電極
の違いによる測定値のバラツキをなくすることができる
効果がある。
【００３１】また、本実施例では、静電容量測定器４０
の本体を絶縁変圧器で電源より切り離したが、電池を電
源として同じ構成の装置とした場合にも同じ効果が得ら
れた。また本実施例においてはケーブルの静電容量が測
定値に含まれないので、静電容量検出感度を高くするこ
とができる効果があった。
の本体を絶縁変圧器で電源より切り離したが、電池を電
源として同じ構成の装置とした場合にも同じ効果が得ら
れた。また本実施例においてはケーブルの静電容量が測
定値に含まれないので、静電容量検出感度を高くするこ
とができる効果があった。
【００３２】また、図３のようにコイル表面に対向する
ゴム電極面の外周に絶縁した銅箔によるガード層３３を
設け、シールド層３２と接続した電極３０を用いた場合
にはさらに外乱の影響を小さくできた。特に電極３０を
配置した部分のコイル絶縁層にコイル表面電界緩和用の
高抵抗コロナシールド層がある場合には、このシールド
層の抵抗値が静電容量の測定値に影響しない効果があっ
た。
ゴム電極面の外周に絶縁した銅箔によるガード層３３を
設け、シールド層３２と接続した電極３０を用いた場合
にはさらに外乱の影響を小さくできた。特に電極３０を
配置した部分のコイル絶縁層にコイル表面電界緩和用の
高抵抗コロナシールド層がある場合には、このシールド
層の抵抗値が静電容量の測定値に影響しない効果があっ
た。
【００３３】本発明になる他の実施例３を以下に説明す
る。実施例３では、本発明を固定子コイル１のｎ番目と
ｎ＋１番目のコイルエンド部３に適用したものである。
実施例２と同様に電極３０，空気圧制御装置５２，静電
容量測定器４０を接続した。この静電容量測定器は少な
くとも２個以上の周波数で静電容量を計測できる装置と
した。本実施例では５０Ｈｚと６０Ｈｚ,２００Ｈｚ,１
０００Ｈｚで測定できる装置とした。実施例と同様に電
極を配置したのち、測定器の周波数を５０Ｈｚと１００
０Ｈｚに切り替えてＡ電極３０Ａとｎ番目のコイル導体
２とのそれぞれの静電容量Ｃｎａ５０，Ｃｎａ１０００
を測定した。そして両者の比Ｋｆ Ｋｆａ＝Ｃｎａ５０／Ｃｎａ１０００ を求めた。
る。実施例３では、本発明を固定子コイル１のｎ番目と
ｎ＋１番目のコイルエンド部３に適用したものである。
実施例２と同様に電極３０，空気圧制御装置５２，静電
容量測定器４０を接続した。この静電容量測定器は少な
くとも２個以上の周波数で静電容量を計測できる装置と
した。本実施例では５０Ｈｚと６０Ｈｚ,２００Ｈｚ,１
０００Ｈｚで測定できる装置とした。実施例と同様に電
極を配置したのち、測定器の周波数を５０Ｈｚと１００
０Ｈｚに切り替えてＡ電極３０Ａとｎ番目のコイル導体
２とのそれぞれの静電容量Ｃｎａ５０，Ｃｎａ１０００
を測定した。そして両者の比Ｋｆ Ｋｆａ＝Ｃｎａ５０／Ｃｎａ１０００ を求めた。
【００３４】このそれぞれのコイルのＫｆａについて、
全コイルのＫｆａの平均値ｍｆａとその標準偏差μｆａ
を算出し、各コイル毎のＫｆａについて、このＫｆａの
平均値ｍｆａからの偏差を算出し、この偏差が全コイル
のＫｆａの標準偏差μｆａの３倍以上大きいコイルは漏
水劣化と判定し、全コイルのＫｆａの標準偏差μｆａの
３倍以下に小さいコイルは剥離劣化と判定する装置とし
た。また同様にＢ電極３０Ｂの測定値についても同様の
処理をする装置とした。
全コイルのＫｆａの平均値ｍｆａとその標準偏差μｆａ
を算出し、各コイル毎のＫｆａについて、このＫｆａの
平均値ｍｆａからの偏差を算出し、この偏差が全コイル
のＫｆａの標準偏差μｆａの３倍以上大きいコイルは漏
水劣化と判定し、全コイルのＫｆａの標準偏差μｆａの
３倍以下に小さいコイルは剥離劣化と判定する装置とし
た。また同様にＢ電極３０Ｂの測定値についても同様の
処理をする装置とした。
【００３５】この測定周波数は５０Ｈｚと１０００Ｈｚ
に限るものではなく、例えば１００Ｈｚや１０００Ｈｚ
あるいは５０Ｈｚ使用区域では６０Ｈｚと１０００Ｈｚ
とした場合にも同様の効果が得られた。
に限るものではなく、例えば１００Ｈｚや１０００Ｈｚ
あるいは５０Ｈｚ使用区域では６０Ｈｚと１０００Ｈｚ
とした場合にも同様の効果が得られた。
【００３６】以上実施例１，２，３とも静電容量の偏差
は全コイルの平均値からの偏差を用いたが、必ずしも全
コイルである必要はなく、全コイルの一部の、同一ロッ
トのコイルの平均値や、測定できたコイルの平均値を用
いた場合でもほぼ同様の効果が得られた。
は全コイルの平均値からの偏差を用いたが、必ずしも全
コイルである必要はなく、全コイルの一部の、同一ロッ
トのコイルの平均値や、測定できたコイルの平均値を用
いた場合でもほぼ同様の効果が得られた。
【００３７】
【発明の効果】本発明によれば、浮遊の静電容量や絶縁
厚みのバラツキによる影響を除去して、コイル絶縁層の
吸水や剥離による変化を誘電率や静電容量の変化として
精度よく評価できる。
厚みのバラツキによる影響を除去して、コイル絶縁層の
吸水や剥離による変化を誘電率や静電容量の変化として
精度よく評価できる。
【図１】本発明の一実施例である固定子コイルの説明図
である。
である。
【図２】図２は図１のＰから見ると共に回転電機の固定
子コイルの劣化検知装置の説明図である。
子コイルの劣化検知装置の説明図である。
【図３】図１及び図２の電極部の説明図である。
【図４】健全または劣化したコイル絶縁層の静電容量の
周波数特性を示す。
周波数特性を示す。
【図５】本発明の他の実施例になる装置を固定子コイル
クリップ部に適用したところを示す図である。
クリップ部に適用したところを示す図である。
１…固定子コイル、２…コイル導体、３…コイルエンド
部、４…コイル絶縁層、５…高抵抗コロナシールド層、
１０…クリップ部、３０…電極、３１…絶縁層、３２…
シールド層、３３…ガード層、４０…静電容量測定器、
４１…電極切替装置、４２…評価部、４３…電流成分計
測部、４４…ゲート端子、４５…シールド接続線、５１
…袋、５２…空気圧制御装置。
部、４…コイル絶縁層、５…高抵抗コロナシールド層、
１０…クリップ部、３０…電極、３１…絶縁層、３２…
シールド層、３３…ガード層、４０…静電容量測定器、
４１…電極切替装置、４２…評価部、４３…電流成分計
測部、４４…ゲート端子、４５…シールド接続線、５１
…袋、５２…空気圧制御装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内沼 善朗 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式会 社日立製作所日立工場内 (72)発明者 木村 康雄 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式会 社日立製作所日立工場内 (72)発明者 伊藤 義見 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式会 社日立製作所日立工場内
Claims (10)
- 【請求項１】固定子コイルの絶縁層の表面に電極を配置
し、この電極とコイル導体との間の絶縁層の静電容量ま
たは誘電率を測定することを特徴とする回転電機の固定
子コイルの劣化検知方法。 - 【請求項２】請求項１において、かかる電極がコイル表
面より着脱できるものであることを特徴とするコイル絶
縁層の漏水または剥離による劣化を検出することを特徴
とする回転電機の固定子コイルの劣化検知方法。 - 【請求項３】請求項１において、並列して配置されてい
るコイルの互いに対向するそれぞれのコイル表面に電極
を配置したことを特徴とする回転電機の固定子コイルの
劣化検知方法。 - 【請求項４】請求項２において、かかる電極が内側に空
気を充填できる袋の外側表面に導電性の弾性体で形成さ
れ、袋の内側に充填した空気の圧力を制御して、一定の
圧力でコイル絶縁層表面におし当てるものであることを
特徴とする回転電機の固定子コイルの劣化検知方法。 - 【請求項５】請求項１において、かかる静電容量または
誘電率の測定を２個以上の周波数の交流電圧に対して行
うことを特徴とする回転電機の固定子コイルの劣化検知
方法。 - 【請求項６】請求項３において、２個の対向する電極と
静電容量を測定する装置との間に接続切り替え装置を配
置し、この静電容量測定器とこの電極との接続を切り替
えるようにして、両電極に測定電圧を印加した場合、片
側電極のみに測定電圧を印加した場合、測定電圧は切り
替え装置までのみに印加し両電極ともに印加しない場合
の静電容量から、かかる電極とコイル導体との間の静電
容量または誘電率を測定することを特徴とする回転電機
の固定子コイルの劣化検知方法。 - 【請求項７】請求項１において、静電容量を測定する装
置は、印加電圧に対する電流成分を測定する構成とし、
電流成分測定部分をバイパスするゲート端子を接地より
フロートできる装置であることを特徴とする回転電機の
固定子コイルの劣化検知装置。 - 【請求項８】請求項７において、電極の測定面以外の部
分に導電体のシールド層を配置し、かつかかる静電容量
測定器と電極とはシールド線で接続し、このシールドを
電極のシールド層と静電容量測定器のゲート端子に接続
したことを特徴とする回転電機の固定子コイルの劣化検
知装置。 - 【請求項９】請求項１においてスロット出口近傍のコイ
ルエンド部または、水冷却配管とコイル導体素線とを接
続するクリップ部に電極を形成したことを特徴とする回
転電機の固定子コイルの劣化検知装置。 - 【請求項１０】請求項１において、測定した静電容量ま
たは誘電率の理論値からの偏差、または同一方法で製作
したコイル群の平均値からの偏差の評価により劣化コイ
ルを検出することを特徴とする固定子コイルの劣化検知
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33793096A JPH10177053A (ja) | 1996-12-18 | 1996-12-18 | 回転電機の固定子コイルの劣化検知方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33793096A JPH10177053A (ja) | 1996-12-18 | 1996-12-18 | 回転電機の固定子コイルの劣化検知方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10177053A true JPH10177053A (ja) | 1998-06-30 |
Family
ID=18313342
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33793096A Pending JPH10177053A (ja) | 1996-12-18 | 1996-12-18 | 回転電機の固定子コイルの劣化検知方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10177053A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030033692A (ko) * | 2001-10-24 | 2003-05-01 | 한국전력공사 | 발전기 고정자의 권선용 정전용량 측정프로브 |
| JP2003315402A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Toshiba Corp | コイル劣化診断方法およびこの診断方法に適用するコイル劣化診断装置 |
| EP1703293A1 (en) * | 2003-10-24 | 2006-09-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method and device for estimating remaining service life of coil |
| KR100669951B1 (ko) | 2005-04-08 | 2007-01-17 | 고려대학교 산학협력단 | 교류 전동기의 구동 및 절연 진단 장치 |
| JP2008281563A (ja) * | 2007-05-11 | 2008-11-20 | General Electric Co <Ge> | ステータ構成要素のキャパシタンスを測定するシステム、方法および装置 |
| CN106226604A (zh) * | 2016-09-30 | 2016-12-14 | 中国大唐集团科学技术研究院有限公司西北分公司 | 水内冷发电机定子绕组介质损耗测量装置及方法 |
| CN106970325A (zh) * | 2017-05-15 | 2017-07-21 | 中国大唐集团科学技术研究院有限公司华东分公司 | 在高电位测量的发电机手包绝缘反接线检查装置与方法 |
| CN110018417A (zh) * | 2019-05-24 | 2019-07-16 | 湖南大学 | 基于径向杂散磁通检测的电机故障诊断方法、系统及介质 |
| CN113466642A (zh) * | 2021-07-02 | 2021-10-01 | 北京北重汽轮电机有限责任公司 | 一种电容均压式防电晕结构的防电晕漆国产化的方法 |
-
1996
- 1996-12-18 JP JP33793096A patent/JPH10177053A/ja active Pending
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030033692A (ko) * | 2001-10-24 | 2003-05-01 | 한국전력공사 | 발전기 고정자의 권선용 정전용량 측정프로브 |
| JP2003315402A (ja) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Toshiba Corp | コイル劣化診断方法およびこの診断方法に適用するコイル劣化診断装置 |
| WO2003091743A1 (fr) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Procede et systeme de diagnostic de deterioration de bobine |
| EP1703293A4 (en) * | 2003-10-24 | 2010-07-28 | Toshiba Kk | METHOD AND DEVICE FOR ESTIMATING THE REMAINING LIFE OF A COIL |
| EP1703293A1 (en) * | 2003-10-24 | 2006-09-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method and device for estimating remaining service life of coil |
| EP2345903A1 (en) | 2003-10-24 | 2011-07-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method and device for estimating remaining service life of coil |
| KR100669951B1 (ko) | 2005-04-08 | 2007-01-17 | 고려대학교 산학협력단 | 교류 전동기의 구동 및 절연 진단 장치 |
| JP2008281563A (ja) * | 2007-05-11 | 2008-11-20 | General Electric Co <Ge> | ステータ構成要素のキャパシタンスを測定するシステム、方法および装置 |
| CN106226604A (zh) * | 2016-09-30 | 2016-12-14 | 中国大唐集团科学技术研究院有限公司西北分公司 | 水内冷发电机定子绕组介质损耗测量装置及方法 |
| CN106970325A (zh) * | 2017-05-15 | 2017-07-21 | 中国大唐集团科学技术研究院有限公司华东分公司 | 在高电位测量的发电机手包绝缘反接线检查装置与方法 |
| CN106970325B (zh) * | 2017-05-15 | 2024-04-02 | 中国大唐集团科学技术研究院有限公司华东分公司 | 在高电位测量的发电机手包绝缘反接线检查装置与方法 |
| CN110018417A (zh) * | 2019-05-24 | 2019-07-16 | 湖南大学 | 基于径向杂散磁通检测的电机故障诊断方法、系统及介质 |
| CN110018417B (zh) * | 2019-05-24 | 2020-05-15 | 湖南大学 | 基于径向杂散磁通检测的电机故障诊断方法、系统及介质 |
| CN113466642A (zh) * | 2021-07-02 | 2021-10-01 | 北京北重汽轮电机有限责任公司 | 一种电容均压式防电晕结构的防电晕漆国产化的方法 |
| CN113466642B (zh) * | 2021-07-02 | 2023-11-14 | 北京北重汽轮电机有限责任公司 | 一种电容均压式防电晕结构的防电晕漆国产化的方法 |
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