JP2001202680A

JP2001202680A - 光ディスク判別方法及び光ディスク装置

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Publication number: JP2001202680A
Application number: JP2000014254A
Authority: JP
Inventors: Yukio Shishido; 由紀夫宍戸
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 2000-01-20
Filing date: 2000-01-20
Publication date: 2001-07-27
Anticipated expiration: 2020-01-20
Also published as: JP4461544B2

Abstract

(57)【要約】【課題】記録密度が高められた光ディスクであるか否か
の判別を容易に行う。【解決手段】標準密度あるいは高密度光ディスクを再生
して得た読出信号ＳRF-N，ＳRF-Hのレベル「Ｐmax」
は、ピットが無い位置に光ビームが照射されたときの反
射光に基づく信号レベルであり、「Ｐ0」は反射光がな
いときのレベルである。標準密度での信号ＳRF-Nのボト
ムピークレベルは「Ｐ(min-N)」となり、高密度光ディ
スクでの信号ＳRF-Hは「Ｐ(min-N)」よりもレベルの高
い「Ｐ(min-H)」となる。「Ｐmax」と「Ｐmin」のレベ
ル差を「Ｌ0」とする。「Ｐmax−Ｐ(min-N)」を「Ｌ
１」として標準密度での変調度「Ｌ1／Ｌ0」を求める。
「Ｐmax−Ｐ(min-H)」を「Ｌ2」として高密度での変調
度「Ｌ2／Ｌ0」を求める。基準レベル信号Ｌthを「（Ｌ
1／Ｌ0）＞Ｌth＞（Ｌ2／Ｌ0）」として変調度と比較す
ることにより光ディスクが標準密度であるか高密度であ
るか判別できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスク判別
方法と光ディスク装置に関する。詳しくは、光ディスク
を再生して得られた信号から、符号間干渉量によってレ
ベルが変化する判別量を求め、判別量を所定の基準レベ
ルと比較して、比較結果に基づき光ディスクが標準密度
光ディスクであるか標準密度よりも線密度が高い高密度
光ディスクであるかの判別を行うものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、記録メディアの大容量化の要求が
高まってきており、光ディスクにおいても信号の記録フ
ォーマットを大幅に変更することなく記録密度を高める
ことができるように、トラックピッチを狭めたり記録ピ
ットの最短長を短くして線密度を高くする等の方法が提
案されている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、光ディスク
の記録容量の大容量化が図られた場合、光ディスク装置
では、記録容量の大容量化が図られた光ディスク（以下
「高密度光ディスク」という）であるか、従来の記録容
量である光ディスク（以下「標準密度光ディスク」とい
う）であるかの判別をデータ復調処理等の前に速やかに
簡単に行うことができなければ、高密度光ディスクに特
有な信号処理の準備やハードウェアの動作準備等を行う
ことができない。このため、高密度光ディスクを用いた
場合には光ディスク装置の動作が遅くなってしまう。

【０００４】そこで、この発明では線密度を高めて記録
容量の大容量化が図られた光ディスクであるか否かの判
別を容易に行うことができる光ディスク判別方法及び光
ディスク装置を提供するものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この発明に係る光ディス
ク判別方法は、光ディスクを再生して得られた信号か
ら、符号間干渉量によってレベルが変化する判別量を求
め、判別量を所定の基準レベルと比較して、比較結果に
基づき光ディスクが標準密度光ディスクであるか標準密
度よりも線密度が高い高密度光ディスクであるかの判別
を行うものである。

【０００６】また、光ディスク装置は、光ディスクに記
録された信号を読み出す信号読出手段と、信号読出手段
によって読み出された信号から、符号間干渉量によって
レベルが変化する判別量を求める判別量検出手段と、判
別量検出手段で求められた判別量を所定の基準レベルと
比較して、比較結果に基づき光ディスクが標準密度光デ
ィスクであるか標準密度よりも線密度が高い高密度光デ
ィスクであるか否かを示すディスク判別信号を生成する
判別手段とを備えるものである。

【０００７】この発明においては、光ディスクを再生し
て得られた信号から、符号間干渉量によってレベルが変
化する判別量として、変調度や信号のピーク位置の直流
レベルが求められる。この求められた判別量を所定の基
準レベルと比較することで、線密度が高められて変調度
が低下あるいはピーク位置の直流レベルが高いものとさ
れているか否かによって光ディスクが標準密度光ディス
クであるか標準密度よりも線密度が高い高密度光ディス
クであるかの判別が行われる。

【０００８】

【発明の実施の形態】続いて、この発明について図を参
照して詳細に説明する。コンパクトディスクの規格で
は、光ディスクに記録するデータに対してＣＩＲＣ(Cro
ss InterleaveReed-Solomon Code)のエンコード処理を
行い、このＣＩＲＣエンコード処理が行われた信号をＥ
ＦＭ(Eight to Fourteen Modulation)変調して光ディス
クに記録することが行われている。

【０００９】ＣＩＲＣエンコード処理では８ビットを１
シンボルとして処理すると共に、ＥＦＭ変調ではＣＩＲ
Ｃエンコード処理して得られた１シンボルあたり８ビッ
トのデータやパリティの信号を１シンボルあたり１４ビ
ットの信号に変換する。このＥＦＭ変調処理された３２
シンボル（３２×１４ビット）のデータやパリティの信
号に対して、図１に示すように、２４ビットのフレーム
同期信号や１シンボル（１４ビット）のサブコード信号
を付加すると共に、各シンボル間の結合及びシンボルと
フレーム同期信号の結合のための３ビットの信号を付加
して、ビット間隔が「３Ｔ」〜「１１Ｔ」（Ｔは最小チ
ャネルビット間隔）であると共に低い周波数成分の低減
等をはかり、この５８８チャネルビットの信号が１フレ
ームの信号として光ディスクに記録される。

【００１０】次に、光ディスクを用いて信号の記録や再
生を行う光ディスク装置２０について図２を使用して説
明する。光ディスク１０はスピンドルモータ部２２によ
って、所定の速度で回転される。なお、スピンドルモー
タ部２２は、後述するデータ処理部４０からのスピンド
ル駆動信号ＳSDによって、光ディスク１０の回転速度が
所定の速度となるように駆動される。

【００１１】光ディスク１０には、光ディスク装置２０
の光ピックアップ３０から光量をコントロールされたレ
ーザ光が照射される。光ディスク１０で反射されたレー
ザ光は、光ピックアップ３０の光検出部（図示せず）に
照射される。光検出部は分割光検出器を用いて構成され
ており、光電変換及び電流電圧変換によって反射光に応
じた電圧信号を生成してＲＦアンプ部３２に供給する。

【００１２】ＲＦアンプ部３２では、光ピックアップ３
０からの電圧信号に基づいて読出信号ＳRF、フォーカス
誤差信号ＳFE、トラッキング誤差信号ＳTEを生成して、
変換処理／サーボ制御部３３に供給する。ここで、ＲＦ
アンプ部３２はＡＧＣ(Automatic Gain Control)回路を
有しており、光ディスク１０が交換されてディスクの反
射率が変化しても読出信号ＳRFの信号レベルが所望の信
号レベルとなるように制御される。

【００１３】変換処理／サーボ制御部３３では、供給さ
れた読出信号ＳRFのアシンメトリ補正及び２値化を行い
ディジタル信号に変換する。このディジタル信号は、読
出データ信号ＤRFとしてデータ処理部４０に供給され
る。また、標準密度光ディスクであるか線密度が高めら
れた高密度光ディスクであるかのディスク判別を行い、
ディスク判別信号ＤＴＴを示す制御部５０に供給する。

【００１４】図３は、変換処理／サーボ制御部３３の構
成の一部であり、アシンメトリ補正や２値化およびディ
スク判別を行う変換処理部分を示している。読出信号Ｓ
RFは、高域フィルタ３３１によって帯域制限されたのち
イコライザ３３２によって波形等化が行われる。この波
形等化後の読出信号ＳRFはリミッタ回路３３３やドロッ
プアウト検出回路３３４、判別量検出回路３３７に供給
される。

【００１５】リミッタ回路３３３では、後述するアンプ
３３６から出力された基準信号ＳLSとイコライザ３３２
からの読出信号ＳRFを比較して、読出信号ＳRFの２値化
を行いディジタルの読出データ信号ＤRFに変換する。こ
の読出データ信号ＤRFは、積分回路３３５と後述するデ
ータ処理部４０に供給される。

【００１６】ドロップアウト検出回路３３４では、光デ
ィスク１０の傷や光ディスク１０に付着したゴミ等によ
って生じた信号の欠落部分（ドロップアウト）を検出し
て、検出結果を示す信号ＤＴＤを積分回路３３５に供給
する。積分回路３３５では、信号ＤＴＤで示されたドロ
ップアウトの期間を除いて、読出データ信号ＤRFの積分
を行う。この積分回路３３５で得られた積分信号は、ア
ンプ３３６を介してリミッタ回路３３３に基準信号ＳLS
として供給される。このように、読出データ信号ＤRFに
基づいて基準信号ＳLSの信号レベルが可変されてリミッ
タ回路３３３に供給されるので、リミッタ回路３３３か
らは、光ディスク１０に記録された信号のピット長を正
しく判別できるようにアシンメトリ補正が行われた読出
データ信号ＤRFが出力される。

【００１７】判別量検出回路３３７では、光ディスク１
０が標準密度であるか高密度であるかを判別するために
用いる判別量を検出して、判別量信号ＬRFとしてコンパ
レータ３３８に供給する。このコンパレータ３３８に
は、しきい値設定回路３３９から、光ディスク１０が標
準密度あるいは高密度であるかを判別するための判別基
準である基準レベル信号Ｌthが供給されており、コンパ
レータ３３８では、この基準レベル信号Ｌthと判別量検
出回路３３７からの判別量信号ＬRFを比較して、比較結
果を示す信号を光ディスク１０が標準密度あるいは高密
度であるかを示すディスク判別信号ＤＴＴとして制御部
５０に供給する。なお、しきい値設定回路３３９では、
制御部５０から供給された制御信号ＣＴＡに基づいて基
準レベル信号Ｌthを生成してコンパレータ３３８に供給
する。

【００１８】また、変換処理／サーボ制御部３３では、
読出データ信号ＤRFに同期するクロック信号ＣＫRFの生
成も行い、生成したクロック信号ＣＫRFもデータ処理部
４０に供給する。さらに、ＲＦアンプ部３２から供給さ
れたフォーカス誤差信号ＳFEに基づき、レーザ光の焦点
位置が光ディスク１０の記録層の位置となるように光ピ
ックアップ３０の対物レンズ（図示せず）を制御するた
めのフォーカス制御信号ＳFCを生成すると共に、供給さ
れたトラッキング誤差信号ＳTEに基づき、レーザ光の照
射位置が所望のトラックの中央位置となるように光ピッ
クアップ３０の対物レンズを制御するためのトラッキン
グ制御信号ＳTCを生成する。この生成されたフォーカス
制御信号ＳFCおよびトラッキング制御信号ＳTCはドライ
バ３５に供給される。

【００１９】ドライバ３５では、フォーカス制御信号Ｓ
FCに基づいてフォーカス駆動信号ＳFDを生成すると共
に、トラッキング制御信号ＳTCに基づいてトラッキング
駆動信号ＳTDを生成する。この生成されたフォーカス駆
動信号ＳFD及びトラッキング駆動信号ＳTDを光ピックア
ップ３０のアクチュエータ（図示せず）に供給すること
により対物レンズの位置が制御されて、レーザ光が所望
のトラックの中央位置で焦点を結ぶように制御される。

【００２０】なお、変換処理／サーボ制御部３３では、
レーザ光の照射位置がトラッキング制御範囲を超えない
ように、光ピックアップ３０を光ディスク１０の径方向
に移動させるためのスレッド制御信号ＳSCを生成してス
レッド部３６に供給する。このスレッド部３６では、供
給されたスレッド制御信号ＳSCに基づきスレッドモータ
（図示せず）を駆動して光ピックアップ３０を光ディス
ク１０の径方向に移動させる。

【００２１】データ処理部４０では、供給されたクロッ
ク信号ＣＫRFを用いて供給された読出データ信号ＤRFの
ＥＦＭ復調処理を行う。また、データ処理部４０に接続
されたＲＡＭ４１を用いてデインタリーブ処理やＣＩＲ
Ｃ(Cross Interleave Reed-Solomon Code)誤り訂正等の
誤り訂正処理を行い、得られた信号をＲＡＭ４２に一時
保持する。その後、ＲＡＭ４２に保持されている信号が
読み出されて、インタフェース部４３を介して再生デー
タ信号ＲＤとして出力される。

【００２２】また、データ処理部４０では、ＥＦＭ復調
後のデータ信号のフレーム同期信号ＦＳＺを検出してス
ピンドル駆動信号ＳSDを生成してスピンドルモータ部２
２に供給することにより、光ディスク１０が所望の速度
で回転される。

【００２３】制御部５０にはＲＯＭ５１が接続されてお
り、ＲＯＭ５１に記憶されている動作制御用プログラム
や、外部からインタフェース部４３およびデータ処理部
４０を介して供給された制御信号ＥＣＴに基づいて、変
換処理／サーボ制御部３３に制御信号ＣＴＡやデータ処
理部４０に制御信号ＣＴＢを供給して、各部の動作を制
御する。また、制御部５０からＲＦアンプ部３２に制御
信号ＣＴＣが供給されて、ＲＦアンプ部３２によって、
光ピックアップ３０のレーザダイオードのオンオフ制
御、レーザノイズや読出信号への外乱を低減するために
レーザ光に高周波を重畳させる処理等も行われる。さら
に、制御部５０では、変換処理／サーボ制御部３３から
のディスク判別信号ＤＴＴに基づき、光ディスクが、線
密度を高めて記録容量を大容量化した高密度光ディスク
であるか、従来通りの記録容量である標準密度光ディス
クであるかのディスク識別が行われると共に、識別結果
に基づいた制御動作を行う。

【００２４】ここで、図４を用いて符号間干渉について
説明する。図４Ａに示すように、記録された信号ＷＤの
ハイレベル「Ｈ」の期間がローレベル「Ｌ」の期間に比
べて短いとき、例えばハイレベル「Ｈ」の期間が「４
Ｔ」でローレベル「Ｌ」の期間が「８Ｔ」であるとき、
読出信号ＳRFは図４Ｂに示すようにハイレベル「Ｈ」の
期間と対応するパルス波形が孤立波形となる。なお、読
出信号ＳRFは、光ピックアップ３０の光学特性、特にＭ
ＴＦ(Modulation Transfer Function)により帯域制限さ
れて、波形のすそのが広がる。

【００２５】次に、信号ＷＤのパルス間隔が狭くされて
いるとき、例えば図４Ｃに示すようにハイレベル「Ｈ」
の期間が「４Ｔ」でローレベル「Ｌ」の期間が「３Ｔ」
であるときには、図４Ｄに示すように隣接するピットの
符号間干渉すなわち孤立波形どうしの重なりが生じてし
まい、波形のボトム側の信号レベルが上昇して読出信号
ＳRFの波形はなだらかなものとなってしまう。このた
め、標準密度光ディスクと線密度が高くパルス間隔の狭
い高密度光ディスクでは、符号間干渉によって読出信号
ＳRFの波形差を生じることから、この波形差を利用して
ディスク判別を行うことができる。また、符号間干渉量
によって読出信号ＳRFの波形が変化する。

【００２６】図５は、光ディスク装置２０のディスク判
別動作を説明するための図である。読出信号ＳRFの信号
レベル「Ｐmax」は、光ディスク１０のピットが無い位
置に光ビームが照射されたときの反射光に基づく信号レ
ベルを示すものである。また、信号レベル「Ｐ0」は光
ディスク１０からの反射光がないときの信号レベルを示
している。なお、上述したようにＲＦアンプ部３２はＡ
ＧＣ回路を有していることから、「Ｐmax」と「Ｐ0」の
レベル差「Ｌ0（＝Ｐmax−Ｐ0）」は光ディスクにかか
わらず一定となる。

【００２７】また、図５Ａは標準密度光ディスクを再生
したときの読出信号ＳRF-Nを示しており、図５Ｂは標準
密度光ディスクの最小チャネルビット間隔を例えば
「０．７６倍」とした高密度光ディスクを再生したとき
の読出信号ＳRF-Hである。この図に示すように、高密度
光ディスクのボトム側のピークレベル（以下「ボトムピ
ークレベル」という）は、符号間干渉によって標準密度
光ディスクのボトムピークレベル「Ｐ(min-N)」よりも
レベルの高い「Ｐ(min-H)」となる。

【００２８】ここで、判別量検出回路３３７では、読出
信号ＳRFの信号レベル「Ｐmax」とボトムピークレベル
「Ｐmin」のレベル差を求めて、得られたレベル差をレ
ベル差「Ｌ0」で除算することにより変調度を検出す
る。例えば、標準密度光ディスクのボトムピークレベル
は「Ｐ(min-N)」であることから、信号レベルの差分は
「Ｌ1（＝Ｐmax−Ｐ(min-N)）」となり、変調度は「Ｌ1
／Ｌ0」となる。同様に、高密度光ディスクでは、ボト
ムピークレベルが「Ｐ(min-N)」から「Ｐ(min-H)」のレ
ベルまで上昇されていることから、信号レベルの差分は
「Ｌ2（＝Ｐmax−Ｐ(min-H)）」となり、変調度は「Ｌ2
／Ｌ0」となる。このようにして得られた変調度を、判
別量信号ＬRFとしてコンパレータ３３８に供給する。

【００２９】また、コンパレータ３３８には、しきい値
設定回路３３９から基準レベル信号Ｌthが供給されてお
り、判別量検出回路３３７で得られた判別量信号ＬRFと
基準レベル信号Ｌthが比較される。ここで、しきい値設
定回路３３９では、制御部５０からの制御信号ＣＴＡに
基づいて、基準レベル信号Ｌthを「（Ｌ1／Ｌ0）＞Ｌth
＞（Ｌ2／Ｌ0）」となるように設定するものとすれば、
コンパレータ３３８からの出力信号は、光ディスク１０
が標準密度光ディスクであるか高密度光ディスクである
かを示す信号となる。このコンパレータ３３８からの出
力信号をディスク判別信号ＤＴＴとして制御部５０に供
給することにより、制御部５０では光ディスク１０が標
準密度ディスクあるいは高密度ディスクであるかに応じ
て制御動作を行うことが容易にできる。

【００３０】ところで、図１を用いて説明したように、
コンパクトディスクの規格では光ディスクに記録される
信号の最初ピットが「３Ｔ」で最大ピットが「１１Ｔ」
とされている。このため、光ディスク１０に記録された
信号ＷＤが例えば図６Ａに示すように「３Ｔ」が連続す
るパターンと「１１Ｔ」が連続するパターンを有してい
る場合では符号間干渉量が異なり、図６Ｂに示すように
読出信号ＳRFのボトムピークレベルが記録されている信
号パターンによって変化して、符号間干渉量が大きい
「３Ｔ」が連続するパターンでは、ボトムピークのレベ
ルが「Ｍ2」となり、「１１Ｔ」が連続するパターンで
のレベル「Ｍ1」よりも高くなってしまう。

【００３１】このため、光ディスク１０を最初に用いる
際にディスクを所定の速度で所定の期間回転させて、こ
の期間中（以下「ディスク判別期間」という）の読出信
号ＳRFのボトムピーク毎に変調度を算出して、基準レベ
ル信号Ｌthよりも変調度が小さくなったことが検出され
たときには高密度光ディスクであり、変調度が小さくな
ったことが検出されないときには標準密度光ディスクと
判別することで、正しくディスク判別を行うことができ
る。

【００３２】さらに、ディスク判別期間中に符号間干渉
量が最も大きいボトムピークのレベルすなわちボトムピ
ークの最も高いレベル「Ｍ2」を検出して、このレベル
に基づき変調度を求めてディスク判別を行うものとして
も、同様に正しくディスク判別を行うことができる。

【００３３】また、上述の実施の形態では、符号間干渉
量によってレベルが変化する判別量として変調度を用い
てディスク判別を行うものとしたが、記録密度の違いに
よって生じる符号間干渉量差に応じてレベル差が生ずる
判別量であれば、他の判別量を利用するものとしても良
い。

【００３４】図７は、判別量として例えば読出信号ＳRF
の直流成分のレベルを利用してディスク判別を行う場合
の動作を示している。この場合、図３に示す判別量検出
回路３３７では、符号間干渉量によってレベルが変換す
るボトムピークの直流レベルを検出して、この直流レベ
ルを判別量信号ＬRFとして出力する。

【００３５】図７Ａは標準密度で記録された信号ＷＤ、
図７Ｂは図７Ａの信号を再生したときの読出信号ＳRFを
それぞれ示している。また、図７Ｃは線密度が高められ
て記録された信号ＷＤ、図７Ｄは図７Ｃの信号を再生し
たときの読出信号ＳRFをそれぞれ示している。

【００３６】標準密度光ディスクを再生して得られた読
出信号ＳRFのボトムピークの直流レベルが「ＶN」であ
るとき、高密度光ディスクを再生して得られた読出信号
ＳRFのボトムピークの直流レベルは、符号間干渉によっ
て「ＶN」よりもレベルの高い「ＶH」となる。また、こ
の直流レベル「ＶN」あるいは「ＶH」を示す信号が判別
量信号ＬRFとして判別量検出回路３３７からコンパレー
タ３３８に出力される。

【００３７】ここで、しきい値設定回路３３９では、制
御部５０からの制御信号ＣＴＡに基づいて、基準レベル
信号Ｌthを「ＶH＞Ｌth＞ＶN」となるように設定すれ
ば、コンパレータ３３８からの出力信号は、光ディスク
１０が標準密度光ディスクであるか高密度光ディスクで
あるかを示す信号となる。このコンパレータ３３８から
の出力信号をディスク判別信号ＤＴＴとして制御部５０
に供給することにより、上述の実施の形態と同様にディ
スクの種類に応じた制御動作を容易に行うことができ
る。

【００３８】なお、ボトムピークの直流レベルは、上述
の実施の形態と同様にディスク判別期間中にピーク毎に
求めるものとして、この直流レベルを示す判別量信号Ｌ
RFが基準レベル信号Ｌthよりも高くなったことが検出さ
れたときに高密度光ディスクと判別したり、ディスク判
別期間中に最もレベルの高い直流レベルを求めて、この
直流レベルを示す判別量信号ＬRFが基準レベル信号Ｌth
よりも高くなったことが検出されたときに高密度光ディ
スクと判別するものとしても良い。

【００３９】さらに、上述の実施の形態では、ピーク毎
に判別量を求めたり符号間干渉の影響が最も大きい判別
量を求めて、この判別量に基づいてディスク判別を行う
ものとしたが、高密度光ディスクでは、線密度が高めら
れていることから標準密度光ディスクに比べて符号間干
渉量が多くなることから、ディスク判別期間内に於ける
読出信号ＳRFのボトムピークの平均レベルを求めて、得
られた平均レベルを利用して光ディスク１０の判別を行
うものとしても良いことは勿論である。

【００４０】

【発明の効果】この発明によれば、光ディスクを再生し
て得られた信号から、符号間干渉量によってレベルが変
化する判別量が求められて、この判別量が所定の基準レ
ベルと比較されて、比較結果に基づき光ディスクが標準
密度光ディスクであるか標準密度よりも線密度が高い高
密度光ディスクであるかを容易に判別できるので、判別
結果に基づき光ディスクの種類に応じた制御動作を行っ
て、信号の読み出し等を速やかに正しく行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】信号のフォーマットを示す図である。

【図２】光ディスク装置の構成を示す図である。

【図３】変換処理／サーボ制御部の構成の一部を示す図
である。

【図４】符号間干渉を説明するための図である。

【図５】ディスク判別動作を説明するための図である。

【図６】記録された信号と読出信号の関係を示す図であ
る。

【図７】他のディスク判別動作を説明するための図であ
る。

【符号の説明】

１０・・・光ディスク、２０・・・光ディスク装置、３
０・・・光ピックアップ、３２・・・ＲＦアンプ部、３
３・・・変換処理／サーボ制御部、４０・・・データ処
理部、４３・・・インタフェース部、５０・・・制御
部、３３２・・・イコライザ、３３３・・・リミッタ回
路、３３４・・・ドロップアウト検出回路、３３５・・
・積分回路、３３６・・・アンプ、３３７・・・判別量
検出回路、３３８・・・コンパレータ、３３９・・・し
きい値設定回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクを再生して得られた信号か
ら、符号間干渉量によってレベルが変化する判別量を求
め、前記判別量を所定の基準レベルと比較して、比較結果に
基づき前記光ディスクが標準密度光ディスクであるか前
記標準密度よりも線密度が高い高密度光ディスクである
かの判別を行うことを特徴とする光ディスク判別方法。
【請求項２】前記判別量は、前記光ディスクを再生し
て得られた信号の変調度であることを特徴とする請求項
１記載の光ディスク判別方法。
【請求項３】前記判別量は、前記光ディスクを再生し
て得られた信号のピーク位置の直流レベルであることを
特徴とする請求項１記載の光ディスク判別方法。
【請求項４】光ディスクに記録された信号を読み出す
信号読出手段と、前記信号読出手段によって読み出された信号から、符号
間干渉量によってレベルが変化する判別量を求める判別
量検出手段と、前記判別量検出手段で求められた判別量を所定の基準レ
ベルと比較して、比較結果に基づき前記光ディスクが標
準密度光ディスクであるか前記標準密度よりも線密度が
高い高密度光ディスクであるか否かを示すディスク判別
信号を生成する判別手段とを備えることを特徴とする光
ディスク装置。
【請求項５】前記判別量検出手段は、前記判別量とし
て前記光ディスクを再生して得られた信号の変調度を求
めることを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項６】前記判別量検出手段は、前記判別量とし
て前記光ディスクを再生して得られた信号のピーク位置
の直流レベルを求めることを特徴とする請求項４記載の
光ディスク装置。