JP2001174370A - サンプル供給装置 - Google Patents

サンプル供給装置

Info

Publication number
JP2001174370A
JP2001174370A JP35612999A JP35612999A JP2001174370A JP 2001174370 A JP2001174370 A JP 2001174370A JP 35612999 A JP35612999 A JP 35612999A JP 35612999 A JP35612999 A JP 35612999A JP 2001174370 A JP2001174370 A JP 2001174370A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
chamber
tray
samples
supply device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP35612999A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3753222B2 (ja
Inventor
Hiroyuki Tomiyama
弘幸 富山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP35612999A priority Critical patent/JP3753222B2/ja
Publication of JP2001174370A publication Critical patent/JP2001174370A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3753222B2 publication Critical patent/JP3753222B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 サンプルを複数個装着し、制御手段を用いて
自動的に交換可能な構成として作業性の効率化を図った
サンプル供給装置を提供する。 【解決手段】 チャンバ1a内の所定の箇所からチャン
バの外側に出し入れ自在に設けられたサンプル導入手段
10と、このサンプル導入手段がチャンバの外側に位置
した状態で測定すべきサンプルを複数個載置したサンプ
ルトレー21を供給するサンプル供給装置であって、前
記チャンバ外に配置され前記サンプルトレーの複数個を
保管するサンプルトレー保管手段22と、前記サンプル
導入手段がチャンバの外側に位置した状態で、測定が完
了したサンプルトレーと未測定のサンプルが載置された
サンプルトレーを交換するサンプルトレー交換手段を設
けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばマイクロ波誘導
プラズマ(以下「MIP」という)を利用した元素分析
計のプラズマ発生部にサンプル(パ―ティクル)を供給
するためのサンプル供給装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】はじめに本発明のサンプル供給装置が適
用される元素分析計について、簡単に説明する。元素分
析計はディスパ―サ及びアナライザから構成されてい
る。ディスパ―サとしては、プラズマ発生部にサンプル
を供給する装置(特開平4−5554号公報参照)が、
アナライザとしては、発光分光分析計に検出器として装
着される発光分光検出器(特開平4−5555号公報参
照)が知られている。
【0003】即ち、ディスパ―サは、アスピレ―タ、表
面にサンプルが付着したフィルタを固定するサンプルホ
ルダが装着されたア―ム、第1モ―タの回転を全ア―ム
の水平方向回転運動に変換する固定軸、及び第2モ―タ
の回転をア―ムの上下方向直線運動に変換するボ―ルネ
ジを設け、アスピレ―タの吸引口がフィルタと一定距離
に近づいた状態で、キャリアガスがアスピレ―タに供給
されたとき、アスピレ―タによってサンプルを吸引して
放電管を用いてプラズマ発生部に供給するものとなって
いる。
【0004】又、アナライザは、例えば、ディスパ―サ
側に位置するディスチャージ管、マイクロ波を空洞共鳴
させてディスチャージ管の外管内にMIPを発生させる
キャビティ、外管の軸方向に取り出して集光する光学
系、及びこの光学系で集光された光を分光して信号処理
する信号処理部が設けられて、試料中の被測定元素を検
出するようになっている。
【0005】図5はプラズマ発生部にサンプルを供給す
る装置の説明に供する図である。図において、100は
サンプル導入装置であるディスパ―サ、101はArや
Heで成るキャリアガスを導入するキャリアガス導入
口、102は例えばArやHe等の置換ガスを導入する
置換ガス導入口、103a〜103eは開閉弁、10
4,105はガス排出口、106は吸引ポンプ、107
は表面に微粒子が付着されたフィルタ、108はアスピ
レ―タ、109は放電管、110はキャビティ、111
はマイクロ波誘導プラズマである。
【0006】このような構成において、キャビティ11
0の中心部にはマイクロ波発生器(図省略)からマイク
ロ波が照射されたとき、キャビティ110の中心部に挿
入されている放電管109内のキャリアガスを励起して
マイクロ波誘導プラズマ111が発生する。
【0007】図6(イ),(ロ)はこのようなサンプル
供給装置に用いられるディスパーサの要部を示すもの
で、1はネジやシ―ル部材等によって外からの空気の漏
れ込みを防ぐように構成されているチャンバ、2はフィ
ルタ(図省略)上のサンプルを吸引して放電管(図6参
照)に供給するアスピレ―タ、2´はアスピレ―タの吸
引口、3はノズル閉塞部材、4は先端部にノズル閉塞部
材3が装着された第1ア―ムである。チャンバ1はガス
置換部などを構成し吸引口2´を介してアスピレ―タ2
と連通している。
【0008】ノズル閉塞部材3は第1ア―ム4の先端付
近に取り付けられており、この第1アーム4は第2ア―
ム8と共に支柱6に取り付けられている。ノズル閉塞部
材3は支柱6の回転に基づく第1アーム4の昇降によ
り、吸引口2´に蓋をすることによって、この吸引口2
´とチャンバ―5の連通を遮断する。
【0009】サンプルを採取したフィルタ(図示省略)
は第2ア―ム8の先端付近に設けられたフィルタホルダ
7に装着されている。尚、フィルタホルダ7に装着され
たフィルタとアスピレ―タ2の吸引口との間隔は例えば
0.1mm以下になるように制御されている。交換窓9
はフィルタホルダ7からフィルタを取外したりするとき
に使用する。
【0010】このような構成においてその動作は以下の
ようになる。はじめに図7に示すように第1,第2アー
ムを交換窓9の位置に配置させ、交換窓9を開いてサン
プル(パ―ティクル)を採取したフィルタアセンブリ
(図省略)をフィルタホルダ―7に乗せる。次に支柱6
を回転させて、第1ア―ム4,第2ア―ム8を介してサ
ンプルホルダ7及びノズル閉塞部材3を下降させる。
【0011】その後に、第1ア―ム4,第2ア―ム8を
図7の太線矢印方向Fに回転させて図6(イ)の状態に
する。その状態で、支柱6を回転させてノズル閉塞部材
3を上昇させて吸引口2´をシ―ルする。
【0012】その後、図5における開閉弁103b,1
03dを閉として開閉弁103cを開とする。この状態
で吸引ポンプ106を駆動させてチャンバ5内の空気を
吸引してチャンバ内を真空とする。
【0013】チャンバ1内が一定の真空度に達したら、
開閉弁103cを閉じ、開閉弁103bを開にしてチャ
ンバ5内に置換ガスを充填する。置換ガスが充填されて
チャンバ1内が大気圧になったら開閉弁103dを開に
してチャンバ5内を大気解放にする。と同時に、図6
(ロ)の支柱6を回転させてノズル閉塞部材3を下降さ
せ、第1ア―ム4,第2ア―ム8を更に回転させて図8
の位置とする。
【0014】この後、支柱6を回転させて、サンプルホ
ルダ7を上昇させる。所定の位置でサンプルホルダ7の
上昇を停止させた後にサンプルの吸引を開始させる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来のサンプル供給装置ではサンプルホルダ交換に際し
ては、交換窓9をはずして、上部からサンプルホルダを
フィルタホルダ7にセットするという作業を要するた
め、作業性に劣る上に、内部にサンプルホルダを落とし
てしまう恐れがあるという問題があった。本発明は上記
従来技術の問題点を解決するためになされたもので、作
業性の向上と操作性の簡単化を図ったサンプル供給装置
を提供することを目的とするものである。
【0016】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明のサンプル供給装置は、請求項1においては
チャンバ内の所定の箇所からチャンバの外側に出し入れ
自在に設けられたサンプル導入手段と、このサンプル導
入手段がチャンバの外側に位置した状態で測定すべきサ
ンプルを複数個載置したサンプルトレーを供給するサン
プル供給装置であって、前記チャンバ外に配置され前記
サンプルトレーの複数個を保管するサンプルトレー保管
手段と、前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置
した状態で、測定が完了したサンプルが載置されたサン
プルトレーと未測定のサンプルが載置されたサンプルト
レーを交換するサンプルトレー交換手段を設けたことを
特徴とする。
【0017】請求項2においては請求項1記載のサンプ
ル供給装置において、複数のサンプルはサンプルトレー
の円周上に配置され、サンプル導入手段がチャンバの外
側に位置した状態で、交換対象のサンプルトレーとサン
プル保管手段に保管された複数のサンプルトレーの中心
が直線上に一致するように配置されたことを特徴とす
る。
【0018】請求項3においては請求項1記載のサンプ
ル供給装置において、交換対象のサンプルトレーとサン
プル保管手段に保管された複数のサンプルトレーは直線
上を移動するスライダに設けられたサンプル把持手段に
より把持されて移動することを特徴とする。
【0019】請求項4においては、チャンバ内の所定の
箇所からチャンバの外側に出し入れ自在に設けられたサ
ンプル導入手段と、このサンプル導入手段がチャンバの
外側に位置した状態で測定すべきサンプルを供給するサ
ンプル供給装置であって、前記チャンバ外に配置され前
記サンプルの複数個を保管するサンプル保管手段と、前
記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態
で、測定が完了したサンプルと未測定のサンプルを交換
するサンプル交換手段を設けたことを特徴とする。
【0020】請求項5においては請求項4記載のサンプ
ル供給装置において、複数のサンプルは回転手段により
回転するサンプルトレーの円周上に配置され、サンプル
導入手段がチャンバの外側に位置した状態で、交換対象
のサンプルとサンプル保管手段に保管された複数のサン
プルの中心が直線上に一致するように配置されたことを
特徴とする。
【0021】請求項6においては請求項4記載のサンプ
ル供給装置において、交換対象のサンプルとサンプル保
管手段に保管された複数のサンプルは直線上を移動する
スライダに設けられたサンプル把持手段により把持され
て移動することを特徴とする。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明の請求項1〜3の実
施形態の一例について図を用いて詳細に説明する。図1
は本発明のサンプル供給装置の概要を示す斜視図、図2
はサンプルトレーとサンプル導入手段の関係を示す斜視
図、図3はスライダとサンプルトレーがサンプル導入手
段に位置決めされた状態を示す斜視図である。
【0023】図1において、1aはチャンバであり、図
6に示す従来のチャンバ1とは交換窓9の下部側面にサ
ンプル導入手段10を出し入れするための開口部11が
設けられている点が異なっている。
【0024】20はサンプル導入手段10を含んで構成
されたサンプル供給手段である。このサンプル供給手段
20はキャビティ1aの側面に密着して固定されてお
り、サンプルトレー21を所定の位置と間隔で保管する
サンプルトレー保管手段22を有している。
【0025】サンプルトレー21上には図2の拡大図に
示すように、一部が切り欠かかれた円盤の円周上に等間
隔に5個のサンプルホルダ41a〜41eが載置されて
おり、このうち1個のサンプルホルダ41aはチェック
用として使用される。
【0026】21aは位置決め孔、21bはサンプルト
レーを回転させるためのテーパ軸10aが挿入される貫
通孔であり、図では省略するがサンプル導入手段10が
チャンバ1a内に挿入された状態で、図示しない回転機
構により回転されてサンプルホルダ21が順次所定の位
置(アスピレータの吸引口 …図6,7参照)に送られ
るようになっている。21cは図3に示すチャック30
の爪30aに把持される突起である。
【0027】図1に戻り、サンプルトレー保管手段22
の一端には第1支柱23が固定され、他端にはモータ2
4が組み込まれた第2支柱25が固定されており、これ
ら支柱23,25の間には2本のシャフト26が平行に
掛け渡されている。
【0028】27は2本のシャフト26に貫通して保持
されたスライダで、第2支柱25に組み込まれたモータ
24の回転軸(図示省略)に係合されたタイミングベル
ト28の移動にしたがってシャフト26に沿って移動す
る。
【0029】このスライダ27にはスライダの動きに対
して直角方向に移動可能なチャック駆動機構29が組み
込まれており、このチャック駆動機構29の下方には3
本の爪30aを有するチャック30が固定されている。
【0030】なお、モータ24の回転、チャック駆動機
構29の上下動、チャック30の開閉、サンプル導入手
段10の出し入れ、サンプルトレー21の回転のタイミ
ングは図示しない制御装置により制御されている。ま
た、3個のサンプルトレー21の中心はサンプル導入手
段10が外部に引き出された状態でテーパ軸10aの中
心と直線上に一致するように配置されている。
【0031】上記の構成において、はじめにサンプルホ
ルダ41が装着された3個のサンプルトレー21がサン
プルトレー保管手段22上に載置される。次に制御手段
に対して測定開始の指令がなされると、サンプル導入手
段10がチャンバ1aの外部に引き出された状態とな
り、モータ24が回転してタイミングベルト28を駆動
し、スライダ27に装着されたチャック30の中心をイ
の位置にあるサンプルトレー21上に移動させる。
【0032】次にチャック駆動機構29が下方に駆動さ
れ、所定の位置まで下降した爪30aがサンプルトレー
21の突起21cを掴んで元の位置まで上昇する。次
に、モータ24が回転してタイミングベルト28が駆動
されることによりスライダ27がサンプル導入手段10
上に移動し、その位置からチャック駆動機構29が下降
し、図3に示すようにサンプルトレー21の中心に形成
された貫通孔21bがサンプル導入手段10のテーパ軸
10aに挿入され、位置決め孔21aが位置出しピン1
0b(図2参照)に挿入されて回転方向の動きが規制さ
れる。
【0033】次に爪30aが開きチャック駆動機構29
が上方に移動して元の位置に戻った時点でサンプル導入
手段10がチャンバ1aの内部に挿入され、サンプルト
レー21に載置されたサンプルホルダ41が図示しない
駆動手段により所定の位置まで搬送され、サンプルがア
スピレータにより吸引される。
【0034】サンプルトレー21上のサンプルのすべて
が測定されたらサンプル挿入手段10が引き出され、前
述とは逆の動作によりサンプルトレー21が元のイの位
置に搬送される。次にロ,ハの位置にあるサンプルトレ
ー21に載置されたサンプルが同様の動作により測定さ
れて終了する。
【0035】図4は請求項4〜6の実施形態の一例を示
すものである。図において図1と同一要素には同一符号
を付して重複する説明は省略する。この実施例において
はサンプルトレー21はサンプル導入手段10に一つ配
置され、モータ24a及びこのモータの回転軸に係合す
る駆動アーム24bにより回転可能とされている。
【0036】また、この実施例ではサンプルホルダ41
はサンプル保管手段22上に等間隔で直線上に配置され
ており、直線の延長上にサンプルトレーの中心が位置す
るようになっている。
【0037】ここでは、スライダ27はサンプルホルダ
41を一つづつ把持してサンプル導入手段10に配置さ
れたサンプルトレー21側に搬送して所定の位置に載置
し、チャック駆動手段29が元の位置に戻った時点でサ
ンプルトレー21が所定の角度回転し、次にサンプルホ
ルダ41を載置すべき位置となるように制御される。
【0038】スライダ27は予めプログラミングされた
シーケンスに従ってイ〜ホまでのサンプルホルダ21を
サンプル導入手段10に搬送する。搬送が終了したら駆
動アーム24bはサンプル導入手段10の挿入に支障の
ない位置に移動する。
【0039】その後、サンプル導入手段10がチャンバ
1aの内部に挿入され、サンプルホルダ41上のサンプ
ルがアスピレータにより吸引される。
【0040】サンプルトレー21上のサンプルのすべて
が測定されたらサンプル挿入手段10が引き出され前述
とは逆の動作によりサンプルホルダ41が元のイ〜ホの
位置に順次搬送される。次にヘ〜ヌの位置にあるサンプ
ルホルダ41が同様の動作により測定されて終了する。
【0041】なお、図では省略するが、サンプル供給手
段はモータ,スライダ,サンプル導入手段などの駆動に
際して発塵を伴う。したがってサンプル供給手段全体若
しくは一部をカバーで囲ったり、囲った部分を真空引き
して発生した塵を吸引するようにしてもよい。
【0042】本発明の以上の説明は、説明および例示を
目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。し
たがって本発明はその本質から逸脱せずに多くの変更、
変形をなし得ることは当業者に明らかである。例えば、
チャック30やサンプルトレー21は図示の形状以外に
も任意に設計可能であり、スライダ27の駆動方法も図
示のものに限るものではない。
【0043】また、制御シーケンスも任意に変更可能で
あり、要は複数のサンプルが順次自動的に測定可能なも
のであればよい。特許請求の範囲の欄の記載により定義
される本発明の範囲は、その範囲内の変更、変形を包含
するものとする。
【0044】
【発明の効果】以上、実施例を用いて詳しく説明したよ
うに本発明の請求項1〜3によれば、チャンバ外に配置
され前記サンプルトレーの複数個を保管するサンプルト
レー保管手段と、前記サンプル導入手段がチャンバの外
側に位置した状態で、測定が完了したサンプルトレーと
未測定のサンプルが載置されたサンプルトレーを交換す
るサンプルトレー交換手段を設け、交換対象のサンプル
トレーとサンプル保管手段に保管された複数のサンプル
トレーの中心が直線上に一致するように配置し、直線上
を移動するスライダに設けられたサンプル把持手段によ
り把持して移動するようにしたので、チャンバ内部にサ
ンプルユニットを落としてしまう恐れもなく、複数のサ
ンプルを制御手段を用いて自動的に交換可能な構成とし
たので作業性の効率化を図ることができる。
【0045】また、請求項4〜6においては、チャンバ
外に配置され前記サンプルの複数個を保管するサンプル
保管手段と、前記サンプル導入手段がチャンバの外側に
位置した状態で、測定が完了したサンプルと未測定のサ
ンプルを交換するサンプル交換手段を設け、交換対象の
サンプルとサンプル保管手段に保管された複数のサンプ
ルの中心が直線上に一致するように配置し、交換対象の
サンプルとサンプル保管手段に保管された複数のサンプ
ルは直線上を移動するスライダに設けたサンプル把持手
段により把持されて移動するようにした。その結果、チ
ャンバ内部にサンプルユニットを落としてしまう恐れも
なく、複数のサンプルを制御手段を用いて自動的に交換
可能な構成としたので作業性の効率化を図ることができ
る。
【0046】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のサンプル供給装置の概要を示す斜視図
である。
【図2】サンプルトレーとサンプル導入手段の関係を示
す斜視図である。
【図3】スライダとサンプルトレーがサンプル導入手段
に位置決めされた状態を示す斜視図である。
【図4】本発明の他のサンプル供給装置の概要を示す斜
視図である。
【図5】従来の技術の説明に供する図である。
【図6】従来の技術の説明に供する図である。
【図7】従来の技術の説明に供する図である。
【図8】従来の技術の説明に供する図である。
【符号の説明】
1a チャンバ 10 サンプル導入手段 10a テーパ軸 11 開口部 20 サンプル供給手段 21 サンプルトレー 22 サンプルトレー保管手段 23 第1支柱 24,24a モータ 25 第2支柱 26 シャフト 27 スライダ 28 タイミングベルト 29 チャック駆動機構 30 チャック 30a 爪 41 サンプルホルダ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】チャンバ内の所定の箇所からチャンバの外
    側に出し入れ自在に設けられたサンプル導入手段と、こ
    のサンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態で
    測定すべきサンプルを複数個載置したサンプルトレーを
    供給するサンプル供給装置であって、 前記チャンバ外に配置され前記サンプルトレーの複数個
    を保管するサンプルトレー保管手段と、 前記サンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態
    で、測定が完了したサンプルが載置されたサンプルトレ
    ーと未測定のサンプルが載置されたサンプルトレーを交
    換するサンプルトレー交換手段を設けたことを特徴とす
    るサンプル導入装置。
  2. 【請求項2】複数のサンプルはサンプルトレーの円周上
    に配置され、サンプル導入手段がチャンバの外側に位置
    した状態で、交換対象のサンプルトレーとサンプル保管
    手段に保管された複数のサンプルトレーの中心が直線上
    に一致するように配置されたことを特徴とする請求項1
    記載のサンプル供給装置。
  3. 【請求項3】交換対象のサンプルトレーとサンプル保管
    手段に保管された複数のサンプルトレーは直線上を移動
    するスライダに設けられたサンプル把持手段により把持
    されて移動することを特徴とする請求項1記載のサンプ
    ル供給装置。
  4. 【請求項4】チャンバ内の所定の箇所からチャンバの外
    側に出し入れ自在に設けられたサンプル導入手段と、こ
    のサンプル導入手段がチャンバの外側に位置した状態で
    測定すべきサンプルを供給するサンプル供給装置であっ
    て、 前記チャンバ外に配置され前記サンプルの複数個を保管
    するサンプル保管手段と、前記サンプル導入手段がチャ
    ンバの外側に位置した状態で、測定が完了したサンプル
    と未測定のサンプルを交換するサンプル交換手段を設け
    たことを特徴とするサンプル供給装置。
  5. 【請求項5】複数のサンプルは回転手段により回転する
    サンプルトレーの円周上に配置され、サンプル導入手段
    がチャンバの外側に位置した状態で、交換対象のサンプ
    ルとサンプル保管手段に保管された複数のサンプルの中
    心が直線上に一致するように配置されたことを特徴とす
    る請求項4記載のサンプル供給装置。
  6. 【請求項6】交換対象のサンプルとサンプル保管手段に
    保管された複数のサンプルは直線上を移動するスライダ
    に設けられたサンプル把持手段により把持されて移動す
    ることを特徴とする請求項4記載のサンプル供給装置。
JP35612999A 1999-12-15 1999-12-15 サンプル供給装置 Expired - Fee Related JP3753222B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35612999A JP3753222B2 (ja) 1999-12-15 1999-12-15 サンプル供給装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35612999A JP3753222B2 (ja) 1999-12-15 1999-12-15 サンプル供給装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001174370A true JP2001174370A (ja) 2001-06-29
JP3753222B2 JP3753222B2 (ja) 2006-03-08

Family

ID=18447486

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35612999A Expired - Fee Related JP3753222B2 (ja) 1999-12-15 1999-12-15 サンプル供給装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3753222B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012211837A (ja) * 2011-03-31 2012-11-01 Jx Nippon Mining & Metals Corp 試料分析装置及び試料分析方法
KR101459013B1 (ko) 2013-06-17 2014-11-07 (주)재인정공 대상물의 샘플 채취 설비 및 그의 운전 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012211837A (ja) * 2011-03-31 2012-11-01 Jx Nippon Mining & Metals Corp 試料分析装置及び試料分析方法
KR101459013B1 (ko) 2013-06-17 2014-11-07 (주)재인정공 대상물의 샘플 채취 설비 및 그의 운전 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP3753222B2 (ja) 2006-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5323089B2 (ja) 臨床分析器のためのサンプル管の自動装填
US6203582B1 (en) Modular semiconductor workpiece processing tool
KR101613135B1 (ko) 반도체 기판의 위치 검출 장치 및 위치 검출 방법
US7935187B2 (en) Film forming apparatus
JP4313824B2 (ja) 基板移載装置及び基板移載方法並びに記憶媒体
JP5593384B2 (ja) プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
US6652219B2 (en) Semiconductor wafer processing apparatus having improved wafer input/output handling system
KR20020015957A (ko) 피처리체의 처리시스템
KR20090105585A (ko) 반도체 웨이퍼 오염물질 측정장치의 스캐닝 암과, 이를이용한 스캐닝 유닛
JP4128811B2 (ja) 表面検査装置
JP3965131B2 (ja) 基板処理装置
JP2001174370A (ja) サンプル供給装置
CN114755432B (zh) 多通道荧光免疫层析分析系统及方法
US10724942B2 (en) Inspection apparatus and inspection method
JP2002299421A (ja) ノッチ整列方法及びノッチ整列機構並びに半導体製造装置
JP2002164406A (ja) 処理装置
JP3247665B2 (ja) X線分析装置における試料交換機
JP5875316B2 (ja) 加工装置
JP4181447B2 (ja) 透過電子顕微鏡における試料交換装置
JPH11254378A (ja) 基板ハンドリングロボット
WO1998002912A1 (en) Interface apparatus for a semiconductor workpiece processing tool
WO2024018544A1 (ja) 荷電粒子線システム、およびその制御方法
JP2000214094A (ja) 微粒子導入装置
KR100788068B1 (ko) 피처리체의 처리시스템
JP2587200Y2 (ja) 真空室への搬出入装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20041215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050425

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050602

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20051124

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20051207

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091222

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees