JP2001174330A - 測光装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 周囲輝度の低輝度側において、広い領域から
集められた光を受光する一方の光センサの出力がリニア
リティを有しており狭い領域から集められた光を受光す
る他方の光センサの出力がリニアリティを有していない
場合に、不要な実測データおよび設計値データの増加を
低減させつつ測光精度の向上を図ることが可能にする。 【解決手段】 周囲輝度の低輝度側において一方の光セ
ンサＳＰＤ２の周囲輝度測定点を他方の光センサＳＰＤ
１の周囲輝度測定点より密に設定してある。よって、光
センサＳＰＤ２の出力に基づく演算回路１１２の実測デ
ータがリニアリティを有してなく光センサＳＰＤ１の出
力に基づく演算回路明るさ検出回路の出力がリニアリテ
ィを有している場合に、不要な実測データおよび設計値
データの増加を低減させつつ測光精度の向上を図ること
が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の技術分野】本発明は、測光装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えばカメラの露出計等に用いら
れる測光装置として、被写体を照明している光の平均的
な明るさを測定する入射光測定部と被写体の特定部分の
明るさを測定する反射光測定部とを備えているものがあ
る。

【０００３】図４は上述した測光装置の一例を示したも
のである。同図において、入射光測定は、本体ケース１
０１の前面に配設してある白球１０２により比較的広い
視野角（例えば３０°〜４０°）に対応した領域（第１
の領域）から光を取り込み、その取り込んだ光を白球１
０２の背後に配設したシリコンフォトダイオードなどの
光センサＳＰＤ１で受光し、そのときの光センサＳＰＤ
１の出力に基づいて周囲の平均的な明るさ、すなわち第
１の領域の明るさを測定している。反射光測定はいわゆ
るスポット測光で、本体ケース１０１の後面に配設して
あるレンズ１０３により比較的狭い視野角（例えば５°
〜１０°）に対応した領域（第２の領域）から光を取り
込み、その取り込んだ光をレンズ１０３の背後に配設し
たシリコンフォトダイオードなどの光センサＳＰＤ２で
受光し、そのときの光センサＳＰＤ２の出力に基づき特
定部分の明るさ、すなわち第２の領域の明るさを測定し
ている。なお、反射光測定する特定部分を画定するため
にファインダー１０４が設けられていることが多い。

【０００４】通常、白球１０２が設けてある本体ケース
１０１の前面には測定結果を表示する表示部１０５やモ
ードスイッチＳＷｍが配設され、レンズ１０３は白球１
０２が設けてある本体ケース１０１の面と反対側の面に
取り付けられたり、本体ケース１０１に対して回転可能
な構成にすることも考えられる。

【０００５】上述したように、反射光測定に用いる光セ
ンサＳＰＤ２は、入射光測定よりも狭い領域から集めら
れた光を受光する。よって、同じ周囲輝度の下で入射光
測定と反射光測定を行う場合、反射光測定に用いる光セ
ンサＳＰＤ２に入射する光量は入射光測定に用いる光セ
ンサＳＰＤ１に入射する光量より少なくなり、その出力
となる光電流も小さくなる。したがって、例えば部品の
共有化を図るために光センサＳＰＤ１、ＳＰＤ２として
同じような種類の光センサを採用し、それらの光電流を
同じような動作特性を有する光電流電圧変換回路、例え
ば同一の光電流電圧変換回路を用いて電圧に変換するよ
うな場合、その入出力関係は例えば図５に示すようなも
のとなる。つまり、同じ周囲輝度のもとで測光をした場
合、反射光測定に用いられる光センサＳＰＤ２からの光
電流に基づく光電流電圧変換回路の出力は、入射光測定
に用いられる光センサＳＰＤ１からの光電流に基づく光
電流電圧変換回路の出力より小さい値となる。

【０００６】図５に関連して光センサの入出力特性を以
下に説明する。一般に露出計等に用いられる電流電圧変
換回路を含めた光センサの入力（輝度ＬＶ）対出力（露
光量ＥＶ）特性は、所定の輝度領域ではリニアリティが
得られるが、その所定の輝度領域より高輝度領域又は低
輝度領域では出力のリニアリティが失われる傾向にあ
り、それは低輝度側の方が顕著である。図５の例におい
てもその傾向が示されており、上述したような光センサ
ＳＰＤ１、ＳＰＤ２への入射光量の違いにより、低輝度
側においては光センサＳＰＤ２からの光電流に基づく出
力のリニアリティが光センサＳＰＤ１からの光電流に基
づく出力に比べて高い輝度領域（〜６ＬＶ）から失われ
はじめ、高輝度側においては光センサＳＰＤ１からの光
電流に基づく出力のリニアリティが光センサＳＰＤ２か
らの光電流に基づく出力に比べて低い輝度領域（１５Ｌ
Ｖ〜）から失われはじめる。なお、通常は信号処理が容
易なリニアリティを有する所定輝度領域を測定可能領域
とするケースが多い。

【０００７】一方、製品誤差などによる測定結果の誤差
を設計値に補正する方法として特開平４‐４４０１８号
公報に示されるような直線補間方法が知られている。上
記直線補間方法を簡単に説明すると、予め複数設定され
た周囲輝度測定点等における出力の設計値（設計値デー
タ）と実測値（実測データ）を記憶し、実使用時におい
ては、測定可能な輝度領域に対する出力の設計値を上記
記憶した設定値に基づき直線補間して求め、上記記憶し
てある実測値と設計値との間の特性誤差に基づき実使用
時の実測値を上記直線補間して求めた設計値に補正する
ものである。例えば、１つのセンサを有する測光装置の
場合、製品の製造または検査工程で予め定められた複数
の輝度測定点における明るさで実際に測光を行い、その
ときの実測値と設計値を補正用データとしてＥＥＰＲＯ
Ｍ等の不揮発性メモリに記憶し、実使用時に、不揮発性
メモリに記憶された補正用データを用いて、この測光装
置を使用して得られた実測値を不揮発性メモリに記憶さ
れた補正用データ内の複数の設計値を直線補間して得ら
れる設計値に合わせこむものである。

【０００８】上記では１つのセンサを使用する例を示し
たが、上述したような２つの光センサを有する場合も実
使用時の実測値を設計値に補正する方法は上記と同様な
考え方で行っている。例えば、製造時や検査工程時に図
６のＰ５１〜Ｐ５６およびＱ５１〜Ｑ５６に示される周
囲輝度測定点における明るさ（図６の場合、ＬＶ＝１、
４、７、１０、１３、１６としてある。）でそれぞれ実
際に測光を行い、それぞれの周囲輝度測定点において光
センサＳＰＤ１、ＳＰＤ２によって得られた実測データ
と設計値データとを補正用データとして不揮発性メモリ
に記憶しておき、実使用時に、光センサＳＰＤ１やＳＰ
Ｄ２を使用して得られた実測値をＥＥＰＲＯＭに記憶し
てある補正用データを用いて設計値に補正する。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】従来は、図６に示すよ
うに光センサＳＰＤ１、ＳＰＤ２のような測光に用いる
複数の光センサに対して予め設定した周囲輝度測定点を
それぞれ同数、同輝度の点としていた。

【００１０】上述したように同じ周囲輝度でも入射光量
の異なる複数のセンサにおいては、周囲輝度の所定輝度
領域に対する低輝度側や高輝度側で入出力特性が異な
り、１つの光センサが入出力特性においてリニアリティ
を有しているのに他の光センサが入出力特性においてリ
ニアリティを有していない状況が生じてくる。

【００１１】したがって、このような状況下で予め設定
した輝度測定点をそれぞれ同数、同輝度の点とする場
合、一方の光センサにおいてリニアリティを有していな
い曲線状の入出力特性を有する輝度領域（例えば、図７
の破線で示した入出力特性となる領域）で出力精度を向
上させるために周囲輝度測定点を多くして直線補間によ
り求まる設計値を実際の曲線状の設計値に高い精度で合
わせこもうとすると、リニアリティを有している光セン
サ側では本来必要のない補正用データを記憶することに
なり不要なデータが多くなるという不都合が生じてしま
う。逆に、この不都合を解消しようとして、この輝度領
域における輝度測定点を少なくすると入出力特性におい
てリニアリティを有していない側で直線補間による設計
値と実際の曲線状の設計値とのずれが大きくなり、出力
値の精度が低下してしまう。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は、第１の領域か
ら集められた光を受光する第１の光センサと、上記第１
の領域よりも狭い第２の領域から集められた光を受光す
る第２の光センサと、上記第１の光センサの出力に基づ
き上記第１の領域の明るさを示す第１の実測値を出力す
ると共に上記第２の光センサの出力に基づき上記第２の
領域の明るさを示す第２の実測値を出力する明るさ検出
回路と、第１の複数の周囲輝度測定点における上記第１
の光センサの実測データおよび設計値データと第２の複
数の周囲輝度測定点における上記第２の光センサの実測
データおよび設計値データを記憶する記憶回路と、上記
記憶された実測データおよび設計値データを用いて上記
第１および第２の実測値をそれぞれ第１および第２の設
計値に補正する補正回路とを含む測光装置であって、上
記第２の複数の周囲輝度測定点は、周囲輝度の低輝度側
において上記第１の複数の周囲輝度測定点より密に設定
してあることおよび／または上記第１の複数の周囲輝度
測定点は、上記周囲輝度の高輝度側において上記第２の
複数の周囲輝度測定点より密に設定してある。よって、
第１および第２の光センサの入出力特性に応じて、それ
ぞれの周囲輝度測定点を個別に設定できるので精度のよ
い測光が可能になる。また、周囲輝度の低輝度側におい
て第２の複数の周囲輝度測定点を第１の複数の周囲輝度
測定点より密に設定してあるので、第２の光センサの出
力に基づく明るさ検出回路の出力がリニアリティを有し
てなく第１の光センサの出力に基づく明るさ検出回路の
出力がリニアリティを有している場合に、不要な実測デ
ータおよび設計値データの増加を低減させつつ測光精度
の向上を図ることが可能となる。特に、微少な光電流を
扱い、ノイズによる測定点の変動も大きく、入射光量の
少ない周囲輝度の低輝度側において、測光精度を向上さ
せることが可能になる。また、周囲輝度の高輝度側にお
いて第１の複数の周囲輝度測定点を第２の複数の周囲輝
度測定点より密に設定してあるので、第１の光センサの
出力に基づく明るさ検出回路の出力がリニアリティを有
してなく第２の光センサの出力に基づく明るさ検出回路
の出力がリニアリティを有している場合に、不要な実測
データおよび設計値データの増加を低減させつつ測光精
度の向上を図ることが可能となる。

【００１３】また、第２の複数の周囲輝度測定点を第１
の複数の周囲輝度測定点より多く設定すれば、第２の光
センサの出力に基づく明るさ検出回路の出力がリニアリ
ティを有してなく第１の光センサの出力に基づく明るさ
検出回路の出力がリニアリティを有している場合に、不
要な実測データおよび設計値データの増加を低減させつ
つ測光精度の向上を図ることが可能となる。

【００１４】また、上記第１の複数の周囲輝度測定点を
上記第２の複数の周囲輝度測定点より多く設定すれば、
第１の光センサの出力に基づく明るさ検出回路の出力が
リニアリティを有してなく第２の光センサの出力に基づ
く明るさ検出回路の出力がリニアリティを有している場
合に、不要な実測データおよび設計値データの増加を低
減させつつ測光精度の向上を図ることが可能となる。

【００１５】

【発明の実施の形態】本願の請求項１に係る発明は、第
１の領域から集められた光を受光する第１の光センサ
と、上記第１の領域よりも狭い第２の領域から集められ
た光を受光する第２の光センサと、上記第１の光センサ
の出力に基づき上記第１の領域の明るさを示す第１の実
測値を出力すると共に上記第２の光センサの出力に基づ
き上記第２の領域の明るさを示す第２の実測値を出力す
る明るさ検出回路と、第１の複数の周囲輝度測定点にお
ける上記第１の光センサの実測データおよび設計値デー
タと第２の複数の周囲輝度測定点における上記第２の光
センサの実測データおよび設計値データを記憶する記憶
回路と、上記記憶された実測データおよび設計値データ
を用いて上記第１および第２の実測値をそれぞれ第１お
よび第２の設計値に補正する補正回路とを含む測光装置
であって、上記第２の複数の周囲輝度測定点は、周囲輝
度の低輝度側において上記第１の複数の周囲輝度測定点
より密に設定してあることおよび／または上記第１の複
数の周囲輝度測定点は、周囲輝度の高輝度側において上
記第２の複数の周囲輝度測定点より密に設定してある。

【００１６】本願の請求項２に係る発明は、第１の領域
から集められた光を受光する第１の光センサと、上記第
１の領域よりも狭い第２の領域から集められた光を受光
する第２の光センサと、上記第１の光センサの出力に基
づき上記第１の領域の明るさを示す第１の実測値を出力
すると共に上記第２の光センサの出力に基づき上記第２
の領域の明るさを示す第２の実測値を出力する明るさ検
出回路と、第１の複数の周囲輝度測定点における上記第
１の光センサの実測データおよび設計値データと第２の
複数の周囲輝度測定点における上記第２の光センサの実
測データおよび設計値データを記憶する記憶回路と、上
記記憶された実測データおよび設計値データを用いて上
記第１および第２の実測値をそれぞれ第１および第２の
設計値に補正する補正回路とを含む測光装置であって、
上記第２の複数の周囲輝度測定点は、上記第１の複数の
周囲輝度測定点より多く設定してある、または上記第１
の複数の周囲輝度測定点を上記第２の複数の周囲輝度測
定点より多く設定してある。

【００１７】

【実施例】以下、本発明を図面に示す一実施例に基づき
具体的に説明する。

【００１８】図１は本発明を図４に示したような露出計
に採用したもので、同図において、図４と同一構成のも
のには同一符号を附してある。

【００１９】図１において、第１の光センサとしての入
射光測定用の光センサＳＰＤ１は、その一端が電源の高
電位側に接続してあり、その他端は半導体アナログスイ
ッチＳＷ１を介して電流電圧変換回路１１０の入力端子
Ｉｎに接続してある。第２の光センサとしての反射光測
定用の光センサＳＰＤ２は、その一端が光センサＳＰＤ
１の一端と同様に電源の高電位側に接続してあり、その
他端は半導体アナログスイッチＳＷ２を介して電流電圧
変換回路１１０の入力端子Ｉｎと接続してある。

【００２０】半導体アナログスイッチＳＷ１、ＳＷ２
は、それぞれのコントロール端子Ｃ１、Ｃ２が“Ｈ”の
ときオンし、半導体アナログスイッチＳＷ１のコントロ
ール端子Ｃ１はインバータＩＮＶを介して端子Ａに接続
してあり、半導体アナログスイッチＳＷ２のコントロー
ル端子Ｃ２は端子Ａと接続してある。よって、モードス
イッチＳＷｍのオンオフ状態に応じて半導体アナログス
イッチＳＷ１、ＳＷ２のいずれか一方が択一的にオン状
態となり、モードスイッチＳＷｍのオンオフ状態の切り
換えに応じてオン状態となる半導体アナログスイッチが
切り換わる。つまり、モードスイッチＳＷｍのオンオフ
状態に基づいて電流電圧変換回路１１０の入力端子Ｉｎ
に接続される光センサが選択される。

【００２１】電流電圧変換回路１１０は入力端子Ｉｎに
入力する光電流を電圧に変換して出力し、その出力はＡ
／Ｄ変換回路１１１でデジタル値に変換され、後述する
演算回路１１２でそのデジタル値が処理され、その処理
結果は表示部１０５で表示される。

【００２２】明るさ検出回路としての演算回路１１２は
ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等からなり、端子Ａの電圧レベ
ルを入力し、光センサＳＰＤ１と光センサＳＰＤ２のい
ずれが現在選択されているか、すなわちモードスイッチ
ＳＷｍで入射光測定と反射光測定のいずれが選択されて
いるかを認識し、Ａ／Ｄ変換回路１１１からの出力から
光センサ１の出力に基づく第１の実測値Ｙ１ａと光セン
サ２の出力に基づく第２の実測値Ｙ２ａとを演算すると
共に、補正回路としての直線近似演算回路１１２ａを含
み、直線近似演算回路１１２ａからの出力に基づいた内
容が表示部１０５で表示される。

【００２３】直線近似演算回路１１２ａは上述した特開
平４‐４４０１８号公報に記載の直線近似演算回路９ａ
に対応するもので、後述するＥＥＰＲＯＭ１１３に記憶
されている実測データＹ１ｎ（ｎ＝１、２、３・・
・）、Ｙ２ｎ（ｎ＝１、２、３・・・）と設計値データ
Ｘ１ｎ（ｎ＝１、２、３・・・）、Ｘ２ｎ（ｎ＝１、
２、３・・・）を用いた（１）式、（２）式により、第
１の実測値Ｙ１ａと第２の実測値Ｙ２ａを第１の設計値
Ｘ１ａおよび第２の設計値Ｘ２ａに補正する。

【数１】

【数２】

【００２４】記憶回路としてのＥＥＰＲＯＭ１１３は、
光センサＳＰＤ１用のＥＥＰＲＯＭ１１３ａと光センサ
ＳＰＤ２用のＥＥＰＲＯＭ１１３ｂを含み、上述した特
開平４‐４４０１８号公報に記載されたような方法で後
述する種々のデータが記憶される。ＥＥＰＲＯＭ１１３
ａは第１の複数の周囲輝度測定点における光センサＳＰ
Ｄ１の実測データＹ１ｎ（ｎ＝１、２、３・・・）およ
び設計値データＸ１ｎ（ｎ＝１、２、３・・・）を記憶
し、ＥＥＰＲＯＭ１１３ｂは第２の複数の周囲輝度測定
点における第２の光センサの実測データＹ２ｎ（ｎ＝
１、２、３・・・）および設計値データをＸ２ｎ（ｎ＝
１、２、３・・・）記憶する。これら実測データＹ１
ｎ、Ｙ２ｎおよび設計値データＸ１ｎ、Ｘ２ｎは、それ
ぞれ上述した特開平４‐４４０１８号公報に開示されて
いるＥＥＰＲＯＭ１１に記憶される実測露光コードと設
計露光コードと同様なものである。

【００２５】これら記憶される実測データＹ１ｎ、Ｙ２
ｎおよび設計値データＸ１ｎ、Ｘ２ｎの特徴としては、
例えば電流電圧変換回路１１０からの出力を含めた光セ
ンサＳＰＤ１、ＳＰＤ２の入出力特性（以下、単に「光
センサＳＰＤ１、ＳＰＤ２の入出力特性」という。）が
図２に示すような場合、すなわち測定可能輝度領域がＬ
Ｖ＝１〜１６で、この輝度領域においては光センサＳＰ
Ｄ１の設計上の入出力特性が全ての領域で所定精度が出
る範囲でのリニアリティを有し、光センサＳＰＤ２の設
計上の入出力特性がＬＶ＝５以上では所定精度が出る範
囲でのリニアリティがあるがそれ以下の値ではリニアリ
ティが失われて曲線状に変化する場合、図２に示したよ
うにＬＶ＜５の周囲輝度領域において光センサＳＰＤ２
の周囲輝度測定点（第２の複数の周囲輝度測定点）を光
センサＳＰＤ１の周囲輝度測定点（第１の複数の周囲輝
度測定点）より密に設定する点（図２の場合は、ＬＶ＜
５の周囲輝度領域において光センサＳＰＤ２の周囲輝度
測定点（図２の破線中に×印で示した点）を２個とし、
光センサＳＰＤ１の周囲輝度測定点（図２の実践中に・
印で示した点）を３個としている。）となる。なお、こ
れらの個数は上記に限らず、一方の光センサの入出力特
性がリニアリティを有さず、他方の光センサの入出力特
性がリニアリティを有する周囲輝度領域において、一方
の光センサの周囲輝度測定点を他方の周囲輝度測定点よ
り密にしてあればいかなる変更も可能である。

【００２６】このように、周囲輝度の低輝度側において
光センサＳＰＤ２に関する複数の周囲輝度測定点を光セ
ンサＳＰＤ１の複数の周囲輝度測定点より密に設定して
あるので、周囲輝度の低輝度側において光センサＳＰＤ
２の出力に基づく演算回路１１２の出力がリニアリティ
を有してなく光センサＳＰＤ１の出力に基づく演算回路
１１２の出力がリニアリティを有している場合に、不要
な実測データおよび設計値データの増加を低減させつつ
測光精度の向上を図ることが可能となる。特に、微少な
光電流を扱い、ノイズによる測定点の変動も大きく、入
射光量の少ない周囲輝度の低輝度側において、測光精度
を向上させることが可能になる。

【００２７】なお、図２の例では、光センサＳＰＤ２に
関する複数の周囲輝度測定点（第２の複数の周囲輝度測
定点）の数と光センサＳＰＤ１の複数の周囲輝度測定点
（第２の複数の周囲輝度測定点）の数とを同じにした
が、図３に示すように光センサＳＰＤ２に関する複数の
周囲輝度測定点の数を光センサＳＰＤ１の複数の周囲輝
度測定点の数より多く設定してもよい。このようにする
と、周囲輝度の低輝度側において光センサＳＰＤ２の出
力に基づく演算回路１１２の出力がリニアリティを有し
てなく光センサＳＰＤ１の出力に基づく演算回路１１２
の出力がリニアリティを有している場合に、周囲輝度の
低輝度側において光センサＳＰＤ２に関する複数の周囲
輝度測定点を光センサＳＰＤ１の複数の周囲輝度測定点
より密に設定しても、双方の光センサの入出力特性がリ
ニアリティを有している周囲輝度領域において周囲輝度
測定点を同じにでき、この領域では１つの周囲輝度で光
センサＳＰＤ１とＳＰＤ２の両方の実測データが得ら
れ、ＥＥＰＲＯＭ１１３内にデータを記憶させるときの
周囲輝度調整が容易となる。

【００２８】また、上記では、周囲輝度の低輝度側にお
いて光センサＳＰＤ２に関する複数の周囲輝度測定点を
光センサＳＰＤ１の複数の周囲輝度測定点より密に設定
する例を示したが、一方の光センサの出力に基づく演算
回路１１２の出力がリニアリティを有してなく他方の光
センサの出力に基づく演算回路１１２の出力がリニアリ
ティを有しているケースとしては、測定可能輝度領域の
とり方により図５で示したような周囲輝度の高輝度側で
も可能性がある。このような場合は、上記周囲輝度の高
輝度側において光センサＳＰＤ１に関する複数の周囲輝
度測定点を光センサＳＰＤ２の複数の周囲輝度測定点よ
り密に設定すれば良い。このように設定することによ
り、上記周囲輝度の高輝度側において光センサＳＰＤ１
の出力に基づく演算回路１１２の出力がリニアリティを
有してなく光センサＳＰＤ２の出力に基づく演算回路１
１２の出力がリニアリティを有している場合に、不要な
実測データおよび設計値データの増加を低減させつつ測
光精度の向上を図ることが可能となる。なお、この場
合、光センサＳＰＤ１に関する複数の周囲輝度測定点の
数を光センサＳＰＤ２の複数の周囲輝度測定点の数より
多く設定してもよい。このようにすると、周囲輝度の高
輝度側において光センサＳＰＤ１の出力に基づく演算回
路１１２の出力がリニアリティを有してなく光センサＳ
ＰＤ２の出力に基づく演算回路１１２の出力がリニアリ
ティを有している場合に、周囲輝度の高輝度側において
光センサＳＰＤ１に関する複数の周囲輝度測定点を光セ
ンサＳＰＤ２の複数の周囲輝度測定点より密に設定して
も、双方の光センサの入出力特性がリニアリティを有し
ている周囲輝度領域において周囲輝度測定点を同じにで
き、この領域では１つの周囲輝度で光センサＳＰＤ１と
ＳＰＤ２の両方の実測データが得られ、ＥＥＰＲＯＭ１
１３内にデータを記憶させるときの周囲輝度調整が容易
となる。

【００２９】また、測定可能輝度領域のとり方や使用す
る光センサＳＰＤ１、ＳＰＤ２の特性等によっては、周
囲輝度の高輝度側および低輝度側の両方で一方の光セン
サの出力に基づく演算回路１１２の出力がリニアリティ
を有してなく他方の光センサＳＰＤ１の出力に基づく演
算回路１１２の出力がリニアリティを有しているケース
が生じる可能性がある。この場合は、上記周囲輝度の高
輝度側において光センサＳＰＤ１に関する複数の周囲輝
度測定点を光センサＳＰＤ２の複数の周囲輝度測定点よ
り密に設定すると共に上記周囲輝度の低輝度側において
光センサＳＰＤ２に関する複数の周囲輝度測定点を光セ
ンサＳＰＤ１の複数の周囲輝度測定点より密に設定すれ
ばよい。このように設定すれば、不要な実測データおよ
び設計値データの増加を低減させつつ測光精度の向上を
図ることが可能となる。

【００３０】

【発明の効果】本発明によれば、第１および第２の光セ
ンサの入出力特性に応じて、それぞれの周囲輝度測定点
を個別に設定できるので精度のよい測光が可能になる。
また、周囲輝度の低輝度側において第２の複数の周囲輝
度測定点を第１の複数の周囲輝度測定点より密に設定し
てあるので、第２の光センサの出力に基づく明るさ検出
回路の出力がリニアリティを有してなく第１の光センサ
の出力に基づく明るさ検出回路の出力がリニアリティを
有している場合に、不要な実測データおよび設計値デー
タの増加を低減させつつ測光精度の向上を図ることが可
能となる。特に、微少な光電流を扱い、ノイズによる測
定点の変動も大きく、入射光量の少ない周囲輝度の低輝
度側において、測光精度を向上させることが可能にな
る。また、周囲輝度の高輝度側において第１の複数の周
囲輝度測定点を第２の複数の周囲輝度測定点より密に設
定してあるので、第１の光センサの出力に基づく明るさ
検出回路の出力がリニアリティを有してなく第２の光セ
ンサの出力に基づく明るさ検出回路の出力がリニアリテ
ィを有している場合に、不要な実測データおよび設計値
データの増加を低減させつつ測光精度の向上を図ること
が可能となる。

【００３１】また、第２の複数の周囲輝度測定点を第１
の複数の周囲輝度測定点より多く設定すれば、第２の光
センサの出力に基づく明るさ検出回路の出力がリニアリ
ティを有してなく第１の光センサの出力に基づく明るさ
検出回路の出力がリニアリティを有している場合に、不
要な実測データおよび設計値データの増加を低減させつ
つ測光精度の向上を図ることが可能となる。

【００３２】また、上記第１の複数の周囲輝度測定点を
上記第２の複数の周囲輝度測定点より多く設定すれば、
第１の光センサの出力に基づく明るさ検出回路の出力が
リニアリティを有してなく第２の光センサの出力に基づ
く明るさ検出回路の出力がリニアリティを有している場
合に、不要な実測データおよび設計値データの増加を低
減させつつ測光精度の向上を図ることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示した回路図。

【図２】図１の光センサＳＰＤ１、ＳＰＤ２の入出力特
性および周囲輝度測定点を示した説明図。

【図３】図１の光センサＳＰＤ１、ＳＰＤ２の入出力特
性および周囲輝度測定点を示した説明図。

【図４】本発明の一実施例の平面図。

【図５】ＳＰＤ１、ＳＰＤ２の入出力特性を示した説明
図。

【図６】ＳＰＤ１、ＳＰＤ２の入出力特性および周囲輝
度測定点を示した説明図。および従来の周囲輝度測定点
を示した説明図。

【図７】直線補間方式を示した説明図。

【符号の説明】

ＳＰＤ１ 第１の光センサ ＳＰＤ２ 第２の光センサ １１２ 明るさ検出回路 １１２ａ 補正回路 １１３ 記憶回路

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 第１の領域から集められた光を受光する
   第１の光センサと、 上記第１の領域よりも狭い第２の領域から集められた光
   を受光する第２の光センサと、 上記第１の光センサの出力に基づき上記第１の領域の明
   るさを示す第１の実測値を出力すると共に上記第２の光
   センサの出力に基づき上記第２の領域の明るさを示す第
   ２の実測値を出力する明るさ検出回路と、 第１の複数の周囲輝度測定点における上記第１の光セン
   サの実測データおよび設計値データと第２の複数の周囲
   輝度測定点における上記第２の光センサの実測データお
   よび設計値データを記憶する記憶回路と、 上記記憶された実測データおよび設計値データを用いて
   上記第１および第２の実測値をそれぞれ第１および第２
   の設計値に補正する補正回路とを含む測光装置であっ
   て、 上記第２の複数の周囲輝度測定点は、周囲輝度の低輝度
   側において上記第１の複数の周囲輝度測定点より密に設
   定してあることおよび／または上記第１の複数の周囲輝
   度測定点は、周囲輝度の高輝度側において上記第２の複
   数の周囲輝度測定点より密に設定してあることを特徴と
   する測光装置。
2. 【請求項２】 第１の領域から集められた光を受光する
   第１の光センサと、 上記第１の領域よりも狭い第２の領域から集められた光
   を受光する第２の光センサと、 上記第１の光センサの出力に基づき上記第１の領域の明
   るさを示す第１の実測値を出力すると共に上記第２の光
   センサの出力に基づき上記第２の領域の明るさを示す第
   ２の実測値を出力する明るさ検出回路と、 第１の複数の周囲輝度測定点における上記第１の光セン
   サの実測データおよび設計値データと第２の複数の周囲
   輝度測定点における上記第２の光センサの実測データお
   よび設計値データを記憶する記憶回路と、 上記記憶された実測データおよび設計値データを用いて
   上記第１および第２の実測値をそれぞれ第１および第２
   の設計値に補正する補正回路とを含む測光装置であっ
   て、 上記第２の複数の周囲輝度測定点は上記第１の複数の周
   囲輝度測定点より多く設定してある、または上記第１の
   複数の周囲輝度測定点は上記第２の複数の周囲輝度測定
   点より多く設定してあることを特徴とする測光装置。