JP2001165908A - 金属材料の検査方法及びその検査装置 - Google Patents
金属材料の検査方法及びその検査装置Info
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- JP2001165908A JP2001165908A JP34767199A JP34767199A JP2001165908A JP 2001165908 A JP2001165908 A JP 2001165908A JP 34767199 A JP34767199 A JP 34767199A JP 34767199 A JP34767199 A JP 34767199A JP 2001165908 A JP2001165908 A JP 2001165908A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 センサと被検査体との距離を正確に一定にし
た状態で、複数位置におけるセンサ出力を得ることがで
きる金属材料の検査方法及びその検査装置を提供するこ
とである。 【解決手段】 渦電流式ギャップセンサ８を用いて金属
材料の組織又は組成を検査する金属材料の検査方法であ
って、センサ８が設けられた移動体６に設けられた当接
部１０をブレーキディスク１６に当接させ、当接状態を
維持したまま移動体６を移動させることにより、センサ
８とブレーキディスク１６の距離を所定の距離に維持し
たままブレーキディスク１６の複数の位置におけるセン
サ８の出力を取得し、この複数の位置におけるセンサ８
の出力からブレーキディスク１６の材料組織又は組成を
検査する。
た状態で、複数位置におけるセンサ出力を得ることがで
きる金属材料の検査方法及びその検査装置を提供するこ
とである。 【解決手段】 渦電流式ギャップセンサ８を用いて金属
材料の組織又は組成を検査する金属材料の検査方法であ
って、センサ８が設けられた移動体６に設けられた当接
部１０をブレーキディスク１６に当接させ、当接状態を
維持したまま移動体６を移動させることにより、センサ
８とブレーキディスク１６の距離を所定の距離に維持し
たままブレーキディスク１６の複数の位置におけるセン
サ８の出力を取得し、この複数の位置におけるセンサ８
の出力からブレーキディスク１６の材料組織又は組成を
検査する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、金属材料である
被検査体の材料組織又は組成の状態に応じた電気出力を
発生するセンサを用いて金属材料の組織又は組成を検査
する金属材料の検査方法及びその検査装置に関するもの
である。
被検査体の材料組織又は組成の状態に応じた電気出力を
発生するセンサを用いて金属材料の組織又は組成を検査
する金属材料の検査方法及びその検査装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来、インピーダンス変化を検出するこ
とにより試料、即ち被検査体の材料組成を検査する装置
が存在する（特開平２−１６２２５３号）。この装置に
おいては、コイルの高周波に対するインピーダンスの変
化を用いて被検査体の材料組成の検査を行っている。
とにより試料、即ち被検査体の材料組成を検査する装置
が存在する（特開平２−１６２２５３号）。この装置に
おいては、コイルの高周波に対するインピーダンスの変
化を用いて被検査体の材料組成の検査を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとしている課題】ところで、被検査
体の複数位置においてセンサ出力をとり、被検査体の均
一さを検査する場合には、センサ出力にセンサと被検査
体との距離が影響するため、センサと被検査体との距離
を正確に一定にした状態でセンサ出力をとる必要があ
る。
体の複数位置においてセンサ出力をとり、被検査体の均
一さを検査する場合には、センサ出力にセンサと被検査
体との距離が影響するため、センサと被検査体との距離
を正確に一定にした状態でセンサ出力をとる必要があ
る。
【０００４】しかしながら、上述の装置等においては、
センサと被検査体との距離を正確に一定にした状態で、
複数位置におけるセンサ出力を得ることができる構成は
採用されていなかった。
センサと被検査体との距離を正確に一定にした状態で、
複数位置におけるセンサ出力を得ることができる構成は
採用されていなかった。
【０００５】この発明の課題は、センサと被検査体との
距離を正確に一定にした状態で、複数位置におけるセン
サ出力を得ることができる金属材料の検査方法及びその
検査装置を提供することである。
距離を正確に一定にした状態で、複数位置におけるセン
サ出力を得ることができる金属材料の検査方法及びその
検査装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の金属材料
の検査方法は、金属材料である被検査体の材料組織又は
組成の状態に応じた電気出力を発生するセンサを用いて
金属材料の組織又は組成を検査する金属材料の検査方法
であって、前記センサが設けられた移動体に設けられた
当接部を前記被検査体に当接させ、当接状態を維持した
まま前記移動体を移動させることにより、前記センサと
前記被検査体の距離を所定の距離に維持したまま前記被
検査体の複数の位置における前記センサの出力を取得
し、この複数の位置におけるセンサの出力から前記被検
査体の材料組織又は組成を検査することを特徴とする。
の検査方法は、金属材料である被検査体の材料組織又は
組成の状態に応じた電気出力を発生するセンサを用いて
金属材料の組織又は組成を検査する金属材料の検査方法
であって、前記センサが設けられた移動体に設けられた
当接部を前記被検査体に当接させ、当接状態を維持した
まま前記移動体を移動させることにより、前記センサと
前記被検査体の距離を所定の距離に維持したまま前記被
検査体の複数の位置における前記センサの出力を取得
し、この複数の位置におけるセンサの出力から前記被検
査体の材料組織又は組成を検査することを特徴とする。
【０００７】この請求項１記載の金属材料の検査方法に
よれば、移動体に設けられた当接部を被検査体に当接さ
せ、当接状態を維持したまま移動体を移動させることに
より、センサと被検査体の距離を所定の距離に維持した
まま被検査体の複数の位置におけるセンサの出力を取得
することができる。従って、この複数の位置におけるセ
ンサの出力から被検査体の複数位置における材料組織又
は組成の不均一を検出することができる。
よれば、移動体に設けられた当接部を被検査体に当接さ
せ、当接状態を維持したまま移動体を移動させることに
より、センサと被検査体の距離を所定の距離に維持した
まま被検査体の複数の位置におけるセンサの出力を取得
することができる。従って、この複数の位置におけるセ
ンサの出力から被検査体の複数位置における材料組織又
は組成の不均一を検出することができる。
【０００８】また、請求項２記載の金属材料の検査装置
は、請求項１記載の金属材料の検査方法に用いられる金
属材料の検査装置であって、前記当接部は球面形状を有
することを特徴とする。
は、請求項１記載の金属材料の検査方法に用いられる金
属材料の検査装置であって、前記当接部は球面形状を有
することを特徴とする。
【０００９】この請求項２記載の金属材料の検査装置に
よれば、当接部が球面形状を有していることからセンサ
と被検査体の距離を被検査体に起伏等がある場合におい
ても正確に所定の距離に維持したまま被検査体の複数の
位置におけるセンサの出力を取得することができる。従
って、この複数の位置におけるセンサの出力から被検査
体の複数位置における材料組織又は組成の不均一を検出
することができる。
よれば、当接部が球面形状を有していることからセンサ
と被検査体の距離を被検査体に起伏等がある場合におい
ても正確に所定の距離に維持したまま被検査体の複数の
位置におけるセンサの出力を取得することができる。従
って、この複数の位置におけるセンサの出力から被検査
体の複数位置における材料組織又は組成の不均一を検出
することができる。
【００１０】また、請求項３記載の金属材料の検査装置
は、請求項１記載の金属材料の検査方法に用いられる金
属材料の検査装置であって、前記当接部は前記センサと
前記被検査体との間に配置された非電導体又は非磁性体
からなることを特徴とする。
は、請求項１記載の金属材料の検査方法に用いられる金
属材料の検査装置であって、前記当接部は前記センサと
前記被検査体との間に配置された非電導体又は非磁性体
からなることを特徴とする。
【００１１】この請求項３記載の金属材料の検査装置に
よれば、当接部がセンサと被検査体との間に配置された
非電導体又は非磁性体からなるため被検査体の複数の位
置における正確なセンサ出力を取得することができる。
従って、この複数の位置におけるセンサの出力から被検
査体の複数位置における材料組織又は組成の不均一を検
出することができる。
よれば、当接部がセンサと被検査体との間に配置された
非電導体又は非磁性体からなるため被検査体の複数の位
置における正確なセンサ出力を取得することができる。
従って、この複数の位置におけるセンサの出力から被検
査体の複数位置における材料組織又は組成の不均一を検
出することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図１〜図２を参照して、こ
の発明の実施の形態の説明を行う。図１は、金属材料の
検査装置２の構成図である。この金属材料の検査装置２
は、保持台４により保持されたダイヤルゲージ６の先端
部に円板状のセンサ取付部６ａが設けられ、このセンサ
取付部６ａの下面に渦電流式ギャップセンサ８が取り付
けられ、この渦電流式ギャップセンサ８の下面にガラス
製で半球形状を有する当接部１０が貼り付けられてい
る。
の発明の実施の形態の説明を行う。図１は、金属材料の
検査装置２の構成図である。この金属材料の検査装置２
は、保持台４により保持されたダイヤルゲージ６の先端
部に円板状のセンサ取付部６ａが設けられ、このセンサ
取付部６ａの下面に渦電流式ギャップセンサ８が取り付
けられ、この渦電流式ギャップセンサ８の下面にガラス
製で半球形状を有する当接部１０が貼り付けられてい
る。
【００１３】駆動装置１２により回転駆動される円板状
の被検査体載置部１４には、被検査体であるブレーキデ
ィスク１６が載置されている。上述の渦電流式ギャップ
センサ８の下面に貼り付けられている半球形状の当接部
１０の先端がダイヤルゲージ６に内蔵されているバネ部
材（図示せず）により、ブレーキディスク１６の表面に
押し付けられている。なお、この当接部１０は、非電導
体、非磁性体で耐摩耗性を有する部材であり、渦電流式
ギャップセンサ８とブレーキディスク１６の表面との距
離を正確に一定に維持する。
の被検査体載置部１４には、被検査体であるブレーキデ
ィスク１６が載置されている。上述の渦電流式ギャップ
センサ８の下面に貼り付けられている半球形状の当接部
１０の先端がダイヤルゲージ６に内蔵されているバネ部
材（図示せず）により、ブレーキディスク１６の表面に
押し付けられている。なお、この当接部１０は、非電導
体、非磁性体で耐摩耗性を有する部材であり、渦電流式
ギャップセンサ８とブレーキディスク１６の表面との距
離を正確に一定に維持する。
【００１４】上述の渦電流式ギャップセンサ８により検
出された検出値は、電圧出力としてマイクロプロセッサ
１８に入力され、モニタ２０により表示される。一方マ
イクロプロセッサ１８から駆動回路１２に対して被検査
体載置部１４を回転駆動するための制御信号が出力され
る。
出された検出値は、電圧出力としてマイクロプロセッサ
１８に入力され、モニタ２０により表示される。一方マ
イクロプロセッサ１８から駆動回路１２に対して被検査
体載置部１４を回転駆動するための制御信号が出力され
る。
【００１５】この金属材料の検査装置２において、ブレ
ーキディスク１６の材料組織又は組成の不均一を検出す
る場合には、先ず、ブレーキディスク１６を被検査体載
置部１４上に載置する。次に、渦電流式ギャップセンサ
８の下面に貼り付けられている半球形状の当接部１０の
先端をブレーキディスク１６の表面に押し付ける。
ーキディスク１６の材料組織又は組成の不均一を検出す
る場合には、先ず、ブレーキディスク１６を被検査体載
置部１４上に載置する。次に、渦電流式ギャップセンサ
８の下面に貼り付けられている半球形状の当接部１０の
先端をブレーキディスク１６の表面に押し付ける。
【００１６】次に、マイクロプロセッサ１８から駆動部
１２に対して制御信号を出力し、被検査体載置部１４を
回転させることによりブレーキディスク１６を１回転さ
せる。即ち、ブレーキディスク１６に対して当接部１０
を相対的に移動させる。この場合に、半球形状の当接部
１０により渦電流式ギャップセンサ８とブレーキディス
ク１６の表面との距離が一定に維持される。即ち、図２
に示すようにブレーキディスク１６の表面に起伏がある
場合においても半球状の当接部１０の中心は、常にブレ
ーキディスク１６の表面と一定の距離に保たれる。
１２に対して制御信号を出力し、被検査体載置部１４を
回転させることによりブレーキディスク１６を１回転さ
せる。即ち、ブレーキディスク１６に対して当接部１０
を相対的に移動させる。この場合に、半球形状の当接部
１０により渦電流式ギャップセンサ８とブレーキディス
ク１６の表面との距離が一定に維持される。即ち、図２
に示すようにブレーキディスク１６の表面に起伏がある
場合においても半球状の当接部１０の中心は、常にブレ
ーキディスク１６の表面と一定の距離に保たれる。
【００１７】当接部１０の先端をブレーキディスク１６
の表面に当接した状態でブレーキディスク１６を１回転
させると、その間に渦電流式ギャップセンサ８において
検出された検出値が電圧出力としてマイクロプロセッサ
１８に入力され、モニタ２０に表示される。なお、ダイ
ヤルゲージ６は、被検査体載置部１４上に載置されたブ
レーキディスク１６が水平状態にあることを確認するた
めに用いられる。
の表面に当接した状態でブレーキディスク１６を１回転
させると、その間に渦電流式ギャップセンサ８において
検出された検出値が電圧出力としてマイクロプロセッサ
１８に入力され、モニタ２０に表示される。なお、ダイ
ヤルゲージ６は、被検査体載置部１４上に載置されたブ
レーキディスク１６が水平状態にあることを確認するた
めに用いられる。
【００１８】従って、この出力電圧の変動によりブレー
キディスク１６の振動要因である材料組織又は組成の不
均一を検出することができる。即ち、渦電流式ギャップ
センサ８の出力電圧は材料組織又は組成に応じて変化す
ることから、非破壊でブレーキディスク１６の材料組織
又は組成の不均一を検出することができる。また、装置
構成か簡単で小型化が可能である。
キディスク１６の振動要因である材料組織又は組成の不
均一を検出することができる。即ち、渦電流式ギャップ
センサ８の出力電圧は材料組織又は組成に応じて変化す
ることから、非破壊でブレーキディスク１６の材料組織
又は組成の不均一を検出することができる。また、装置
構成か簡単で小型化が可能である。
【００１９】この金属材料の検査装置を用いた検査によ
り、製造段階におけるブレーキディスクの材料組織又は
組成の均一さを確認することができ、またブレーキの振
動及び鳴き等の摩擦特性に影響を受ける現象が発生した
場合に、ブレーキディスクの材料組織又は組成の不均一
さを確認することによりその現象の原因の特定を行うこ
とができる。
り、製造段階におけるブレーキディスクの材料組織又は
組成の均一さを確認することができ、またブレーキの振
動及び鳴き等の摩擦特性に影響を受ける現象が発生した
場合に、ブレーキディスクの材料組織又は組成の不均一
さを確認することによりその現象の原因の特定を行うこ
とができる。
【００２０】なお、上述の実施の形態においては、渦電
流式のセンサを用いているが、これに限らず磁力式セン
サ等、被検査体の金属材料の違いにより出力特性が異な
るセンサを用いてもよい。
流式のセンサを用いているが、これに限らず磁力式セン
サ等、被検査体の金属材料の違いにより出力特性が異な
るセンサを用いてもよい。
【００２１】また、上述の実施の形態においては、ガラ
ス製で半球形状を有する当接部１０を用いているが、当
接部１０は、非電導体又は非磁性体で耐摩耗性を有すれ
ばよいことから、ルビー製、サファイヤ製で半球形状を
有する当接部を用いてもよい。
ス製で半球形状を有する当接部１０を用いているが、当
接部１０は、非電導体又は非磁性体で耐摩耗性を有すれ
ばよいことから、ルビー製、サファイヤ製で半球形状を
有する当接部を用いてもよい。
【００２２】また、上述の実施の形態においては、半球
形状を有する当接部１０を用いているが球形状を有する
当接部を用いてもよい。
形状を有する当接部１０を用いているが球形状を有する
当接部を用いてもよい。
【００２３】また、当接部１０を当接させる装置として
ダイヤルゲージ６を用いているが、所定の荷重で当接部
１０を押し付けて当接させる装置であれば、他のどのよ
うな装置を用いてもよい。
ダイヤルゲージ６を用いているが、所定の荷重で当接部
１０を押し付けて当接させる装置であれば、他のどのよ
うな装置を用いてもよい。
【００２４】また、上述の実施の形態においては、当接
部１０の先端をブレーキディスク１６の表面に押し付け
た状態でブレーキディスク１６を１回転させているが、
ブレーキディスク１６を固定した状態で当接部１０をブ
レーキディスク１６に押し付け、この状態で渦電流式ギ
ャップセンサ８側を移動するようにしてもよい。
部１０の先端をブレーキディスク１６の表面に押し付け
た状態でブレーキディスク１６を１回転させているが、
ブレーキディスク１６を固定した状態で当接部１０をブ
レーキディスク１６に押し付け、この状態で渦電流式ギ
ャップセンサ８側を移動するようにしてもよい。
【００２５】
【発明の効果】この発明の金属材料の検査方法によれ
ば、移動体に設けられた当接部を被検査体に当接させ、
当接状態を維持したまま移動体を移動させることによ
り、センサと被検査体の距離を所定の距離に維持したま
ま被検査体の複数の位置におけるセンサの出力を取得す
ることができるため、この複数の位置におけるセンサの
出力から被検査体の複数位置における材料組織又は組成
の不均一を検出することができる。
ば、移動体に設けられた当接部を被検査体に当接させ、
当接状態を維持したまま移動体を移動させることによ
り、センサと被検査体の距離を所定の距離に維持したま
ま被検査体の複数の位置におけるセンサの出力を取得す
ることができるため、この複数の位置におけるセンサの
出力から被検査体の複数位置における材料組織又は組成
の不均一を検出することができる。
【００２６】また、この発明の金属材料の検査装置によ
れば、当接部が球面形状を有していることからセンサと
被検査体の距離を正確に所定の距離に維持したまま被検
査体の複数の位置におけるセンサの出力を取得すること
ができる。また、当接部がセンサと被検査体との間に配
置された非伝導体又は非磁性体からなるため被検査体の
複数の位置における正確なセンサ出力を取得することが
できる。従って、この複数の位置におけるセンサの出力
から被検査体の複数位置における材料組織又は組成の不
均一を検出することができる。
れば、当接部が球面形状を有していることからセンサと
被検査体の距離を正確に所定の距離に維持したまま被検
査体の複数の位置におけるセンサの出力を取得すること
ができる。また、当接部がセンサと被検査体との間に配
置された非伝導体又は非磁性体からなるため被検査体の
複数の位置における正確なセンサ出力を取得することが
できる。従って、この複数の位置におけるセンサの出力
から被検査体の複数位置における材料組織又は組成の不
均一を検出することができる。
【図１】この発明の実施形態に係る金属材料の検査装置
の構成図である。
の構成図である。
【図２】この発明の実施形態に係る金属材料の検査装置
のにおける被検査体の検査の状態を示す図である。
のにおける被検査体の検査の状態を示す図である。
【符号の説明】 ２…金属材料検査装置、４…保持台、６…ダイヤルゲー
ジ、８…渦電流式ギャップセンサ、１０…当接部、１２
…駆動装置、１４…被検査体載置部、１６…ブレーキデ
ィスク、１８…マイクロプロセッサ、２０…モニタ。
ジ、８…渦電流式ギャップセンサ、１０…当接部、１２
…駆動装置、１４…被検査体載置部、１６…ブレーキデ
ィスク、１８…マイクロプロセッサ、２０…モニタ。
Claims (3)
- 【請求項１】 金属材料である被検査体の材料組織又は
組成の状態に応じた電気出力を発生するセンサを用いて
金属材料の組織又は組成を検査する金属材料の検査方法
であって、 前記センサが設けられた移動体に設けられた当接部を前
記被検査体に当接させ、当接状態を維持したまま前記移
動体を移動させることにより、前記センサと前記被検査
体の距離を所定の距離に維持したまま前記被検査体の複
数の位置における前記センサの出力を取得し、この複数
の位置におけるセンサの出力から前記被検査体の材料組
織又は組成を検査することを特徴とする金属材料の検査
方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の金属材料の検査方法に用
いられる金属材料の検査装置であって、前記当接部は球
面形状を有することを特徴とする金属材料の検査装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の金属材料の検査方法に用
いられる金属材料の検査装置であって、前記当接部は前
記センサと前記被検査体との間に配置された非電導体又
は非磁性体からなることを特徴とする金属材料の検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34767199A JP2001165908A (ja) | 1999-12-07 | 1999-12-07 | 金属材料の検査方法及びその検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34767199A JP2001165908A (ja) | 1999-12-07 | 1999-12-07 | 金属材料の検査方法及びその検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001165908A true JP2001165908A (ja) | 2001-06-22 |
Family
ID=18391800
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34767199A Pending JP2001165908A (ja) | 1999-12-07 | 1999-12-07 | 金属材料の検査方法及びその検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001165908A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113720905A (zh) * | 2021-08-25 | 2021-11-30 | 苏州德斯森电子有限公司 | 一种刹车盘涡流检测机 |
| KR102434224B1 (ko) | 2021-07-26 | 2022-08-19 | (주)글로스코 | 타원형 알고리즘이 포함된 자기공명탐상방법에 의한 검사 장치 및 방법 |
-
1999
- 1999-12-07 JP JP34767199A patent/JP2001165908A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102434224B1 (ko) | 2021-07-26 | 2022-08-19 | (주)글로스코 | 타원형 알고리즘이 포함된 자기공명탐상방법에 의한 검사 장치 및 방법 |
| CN113720905A (zh) * | 2021-08-25 | 2021-11-30 | 苏州德斯森电子有限公司 | 一种刹车盘涡流检测机 |
| CN113720905B (zh) * | 2021-08-25 | 2022-11-11 | 苏州德斯森电子有限公司 | 一种刹车盘涡流检测机 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040702 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041026 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041222 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050314 |