JP2001154215A - Conductive film and its producing method - Google Patents

Conductive film and its producing method

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JP2001154215A
JP2001154215A JP33912899A JP33912899A JP2001154215A JP 2001154215 A JP2001154215 A JP 2001154215A JP 33912899 A JP33912899 A JP 33912899A JP 33912899 A JP33912899 A JP 33912899A JP 2001154215 A JP2001154215 A JP 2001154215A
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JP
Japan
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conductive layer
group
layer
conductive
conductive film
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JP33912899A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshio Tani
善夫 谷
Ken Kawada
憲 河田
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a conductive film having good conducting performance which can be produced in an easy process. SOLUTION: The conductive film 10 consists of a supporting body 12 and a conductive layer 14 formed by applying a coating liquid containing a metal acetylide on the supporting body 12 and heat treating. The surface electric resistance of the conductive layer 14 is <=500 Ω/unit (square). The metal element included in the metal acetylide is preferably a metal element selected from a group of metal elements of silver, gold, copper, aluminum, nickel and palladium.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、導電性フィルム、
およびその作製方法に関し、より詳細には、フレキシブ
ル配線板(PWB)、フレキシブル銅張積層板(FC
L)、電磁波シールド(EMI)フィルタとして利用し
得る導電性フィルタおよびその作製方法に関する。
The present invention relates to a conductive film,
More specifically, the present invention relates to a flexible wiring board (PWB), a flexible copper-clad laminate (FC
L), a conductive filter that can be used as an electromagnetic wave shield (EMI) filter and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】導電性フィルムは、一般的に、フレキシ
ブルな高分子フィルム上に導電性薄膜を形成したもので
あり、柔軟性、および軽量性を有し、且つ、小型化およ
び薄型化が容易である。近年、ディスプレイ機器、通信
機器をはじめとする民生機器に対する、小型化および軽
量化への要求が強く、導電性フィルムについては、種々
の民生機器の電子部品としての用途が拡大している。例
えば、高分子フィルム上に、銅導体を接着したフレキシ
ブル銅張積層板は、小型電子機器のプリント配線板とし
て種々使用されている。また、金属からなるメッシュパ
ターンを有する導電性フィルムは、電磁波シールドフィ
ルタの部材として利用されている。
2. Description of the Related Art In general, a conductive film is formed by forming a conductive thin film on a flexible polymer film, has flexibility and light weight, and can be easily reduced in size and thickness. It is. In recent years, there is a strong demand for miniaturization and weight reduction of consumer devices such as display devices and communication devices, and the use of conductive films as electronic components of various consumer devices is expanding. For example, flexible copper-clad laminates in which a copper conductor is bonded on a polymer film are used in various ways as printed wiring boards for small electronic devices. In addition, a conductive film having a mesh pattern made of metal is used as a member of an electromagnetic wave shield filter.

【0003】前記フレキシブル銅張積層板(FCL)に
は、銅導体と基板フィルムとを接着する接着層を有する
3層FCLと、接着層が設けられていない2層FCLと
がある。耐熱性が必要な回路板への適用や、超薄型の用
途には、接着剤が不要な2層FCLが有利である。従
来、2層FCLの製造方法としては、スパッタリング法
を利用して高分子フィルム上に導体層を形成する方法が
知られている。しかし、前記スパッタリング法は、導体
層と高分子フィルム支持体との密着性が充分でなく、性
能信頼性が低いという問題がある。また、生産工程が煩
雑であるととともに、生産コスト高になるという問題が
ある。
[0003] The flexible copper-clad laminate (FCL) includes a three-layer FCL having an adhesive layer for bonding a copper conductor and a substrate film, and a two-layer FCL without an adhesive layer. For application to circuit boards that require heat resistance or ultra-thin applications, a two-layer FCL that does not require an adhesive is advantageous. Conventionally, as a method for manufacturing a two-layer FCL, a method of forming a conductor layer on a polymer film by using a sputtering method is known. However, the sputtering method has a problem that the adhesion between the conductor layer and the polymer film support is not sufficient, and the performance reliability is low. Further, there is a problem that the production process is complicated and the production cost is increased.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記問題点
に鑑みなされたものであって、簡易な工程により作製し
得る、良好な導電性能を有する導電性フィルムを提供す
ることを目的とする。また、本発明は、簡易な工程によ
り、且つ低コストで、良好な導電性能を有する導電性フ
ィルムを安定的に製造する方法を提供することを目的と
する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a conductive film having good conductive performance, which can be manufactured by a simple process. . Another object of the present invention is to provide a method for stably producing a conductive film having good conductive performance by a simple process and at low cost.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
の手段は以下の通りである。 <1> 支持体と、該支持体上に金属アセチリドを含有
する塗布液を塗布し、加熱処理してなる導電層とを有
し、該導電層の表面電気抵抗が500Ω/□以下である
導電性フィルム。 <2> 金属アセチリドに含まれる金属元素が、銀、
金、銅、アルミニウム、ニッケル、およびパラジウムか
らなる金属元素群から選ばれるいずれかの金属元素であ
る<1>に記載の導電性フィルム。 <3> 支持体が、短期耐熱温度が150℃以上である
<1>または<2>に記載の導電性フィルム。 <4> 導電層上に、導電層をメッキ核として形成して
なるメッキ層を有する<1>から<3>までのいずれか
に記載の導電性フィルム。 <5> 導電層が合金を含有する<1>から<4>まで
のいずれかに記載の導電性フィルム。
Means for solving the above problems are as follows. <1> A conductive material having a support and a conductive layer obtained by applying a coating solution containing metal acetylide on the support and subjecting the coating to heat treatment, wherein the conductive layer has a surface electric resistance of 500 Ω / □ or less. Film. <2> The metal element contained in the metal acetylide is silver,
The conductive film according to <1>, which is any metal element selected from the group consisting of gold, copper, aluminum, nickel, and palladium. <3> The conductive film according to <1> or <2>, wherein the support has a short-term heat-resistant temperature of 150 ° C or higher. <4> The conductive film according to any one of <1> to <3>, having a plating layer formed on the conductive layer by using the conductive layer as a plating nucleus. <5> The conductive film according to any one of <1> to <4>, wherein the conductive layer contains an alloy.

【0006】<6> 少なくとも金属アセチリドを含有
する塗布液を支持体上に塗布し、加熱処理して、導電層
を形成する第1の工程と、形成された前記導電層を、パ
ラジウム、錫、および銀からなる金属元素群から選ばれ
るいずれかの金属元素のイオンを含有する酸性溶液に少
なくとも接触させて処理する第2の工程とを有する導電
性フィルムの作製方法。 <7> 第2の工程の後、導電層をメッキ核として、前
記導電層上にメッキ層を形成する第3の工程を有する<
6>に記載の導電性フィルムの作製方法。
<6> A first step of applying a coating solution containing at least a metal acetylide on a support and subjecting it to a heat treatment to form a conductive layer, and forming the conductive layer formed of palladium, tin, And a second step of treating by contacting at least an acidic solution containing ions of any metal element selected from the group consisting of silver and metal elements. <7> After the second step, the method includes a third step of forming a plating layer on the conductive layer using the conductive layer as a plating nucleus.
6> The method for producing a conductive film according to <1>.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】本発明の導電性フィルムの第1の
実施形態の概略断面図を図1に示す。導電性フィルム1
0は、高分子フィルムからなる支持体12と、その上
に、導電層14とを有する。導電層14は、その表面1
4aの電気抵抗は500Ω/□以下、好ましくは200
Ω/□以下である。前記導電層14は、金属アセチリド
を含有する塗布液を塗布し、加熱処理してなるので、支
持体12との密着性が高いとともに、高い導電性を有す
る。また、金属アセチリドを含む塗布液は塗布適正に優
れているので、生産性が良好である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a first embodiment of the conductive film of the present invention. Conductive film 1
No. 0 has a support 12 made of a polymer film and a conductive layer 14 thereon. The conductive layer 14 has a surface 1
4a has an electric resistance of 500Ω / □ or less, preferably 200Ω / □.
Ω / □ or less. Since the conductive layer 14 is formed by applying a coating solution containing metal acetylide and performing heat treatment, the conductive layer 14 has high adhesion to the support 12 and high conductivity. Further, since the coating liquid containing metal acetylide is excellent in coating aptitude, the productivity is good.

【0008】以下、導電性フィルム10の作製方法につ
いて説明する。まず、金属アセチリドを含有する塗布液
を調製する。金属アセチリドを含有する塗布液は、炭
素−炭素三重結合を有するモノマーおよび金属元素を有
する金属化合物を所定の溶媒に分散および/または溶解
する(以下、「塗布液」という)ことによって、ある
いは金属アセチリドを所定の溶媒に分散および/また
は溶解する(以下、「塗布液」という)ことによって
調製することができる。塗布液では、溶媒中で炭素−
炭素結合を有するモノマーと金属元素が反応することに
よって、前記モノマーの一部または全部が金属アセチリ
ドに変化する。前記塗布液において、前記炭素−炭素
三重結合を有するモノマーとしては下記一般式(1)で
表される化合物が好ましい。
Hereinafter, a method for manufacturing the conductive film 10 will be described. First, a coating solution containing metal acetylide is prepared. The coating solution containing metal acetylide is prepared by dispersing and / or dissolving a monomer having a carbon-carbon triple bond and a metal compound having a metal element in a predetermined solvent (hereinafter referred to as “coating solution”), or Can be prepared by dispersing and / or dissolving in a predetermined solvent (hereinafter, referred to as “coating solution”). In the coating solution, carbon-
When a monomer having a carbon bond reacts with a metal element, a part or all of the monomer is changed to a metal acetylide. In the coating liquid, the monomer having a carbon-carbon triple bond is preferably a compound represented by the following general formula (1).

【0009】[0009]

【化1】 Embedded image

【0010】前記一般式(1)中、Aはポリオキシエー
エル基、ポリアミノエーテル基、またはポリチオエーテ
ル基を表し、R1は水素元素、カルボキシル基もしくは
その塩、アルキル基、シクロアルキル基、アルケニル
基、アルキニル基、アリール基、アラルキル基、または
複素環基を表し、Lは炭素−炭素三重結合とAとを連結
する化学結合、もしくは(k+m)価の基を表し、kお
よびnは各々1以上の整数を表し、mは0以上の整数を
表す。
In the general formula (1), A represents a polyoxyether group, a polyaminoether group, or a polythioether group, and R 1 represents a hydrogen element, a carboxyl group or a salt thereof, an alkyl group, a cycloalkyl group, an alkenyl group. , An alkynyl group, an aryl group, an aralkyl group, or a heterocyclic group, L represents a chemical bond connecting a carbon-carbon triple bond and A, or a (k + m) -valent group, and k and n each represent 1 or more. And m represents an integer of 0 or more.

【0011】また、前記一般式(1)において、Aはさ
らに水酸基、アミノ基、メルカプト基、スルフィノ基も
しくはその塩、スルホ基もしくはその塩、カルボキシル
基もしくはその塩、または重合性の基で置換されていて
もよい。前記重合性の基としては、例えば、グリシジル
基、ビニル基、イソシアナート基等が挙げられる。
In the general formula (1), A is further substituted with a hydroxyl group, an amino group, a mercapto group, a sulfino group or a salt thereof, a sulfo group or a salt thereof, a carboxyl group or a salt thereof, or a polymerizable group. May be. Examples of the polymerizable group include a glycidyl group, a vinyl group, an isocyanate group, and the like.

【0012】前記一般式(1)において、R1は水素元
素、カルボキシル基もしくはその塩、アルキル基、シク
ロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アリール
基、アラルキル基、または複素環基を表す。前記一般式
(1)中、R1が表すアルキル基としては、炭素原子数
1〜10のアルキル基が好ましく、アルキル基は直鎖状
であっても分岐していてもよい。また、R1が表すシク
ロアルキル基としては、炭素原子数5〜6のシクロアル
キル基が好ましい。R1が表すアルケニル基としては、
炭素原子数2〜10のアルケニル基が好ましく、アルケ
ニル基は直鎖状であっても分岐していてもよい。R1
表すアルキニル基としては、炭素原子数2〜10のアル
キニル基が好ましく、アルキニル基は直鎖状であっても
分岐していてもよい。R1が表すアリール基しては、炭
素原子数6〜10のアリール基が好ましい。R1が表す
アラルキル基としては、炭素原子数7〜10のアラルキ
ル基が好ましい。R1が表す複素環基としては、窒素原
子、硫黄原子、または酸素原子等を含む、5〜6員環か
らなる複素環基が好ましい。R1が表すアルキル基、シ
クロアルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アリー
ル基、アラルキル基、および複素環基は各々置換されて
いてもよく、置換基としては、水酸基、アセチル基、エ
ポキシ基、カルボキシル基、スルホン酸基等が挙げられ
る。
In the general formula (1), R 1 represents a hydrogen element, a carboxyl group or a salt thereof, an alkyl group, a cycloalkyl group, an alkenyl group, an alkynyl group, an aryl group, an aralkyl group, or a heterocyclic group. In the general formula (1), the alkyl group represented by R 1 is preferably an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and the alkyl group may be linear or branched. As the cycloalkyl group represented by R 1, preferably a cycloalkyl group having a carbon number of 5-6. The alkenyl group represented by R 1 includes
An alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms is preferable, and the alkenyl group may be linear or branched. The alkynyl group represented by R 1 is preferably an alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, and the alkynyl group may be linear or branched. The aryl group represented by R 1 is preferably an aryl group having 6 to 10 carbon atoms. The aralkyl group represented by R 1 is preferably an aralkyl group having 7 to 10 carbon atoms. The heterocyclic group represented by R 1, a nitrogen atom, a sulfur atom or an oxygen atom, etc., a heterocyclic group preferably comprises a 5-6 membered ring. The alkyl group, cycloalkyl group, alkenyl group, alkynyl group, aryl group, aralkyl group, and heterocyclic group represented by R 1 may be substituted, and examples of the substituent include a hydroxyl group, an acetyl group, an epoxy group, and a carboxyl group. And sulfonic acid groups.

【0013】前記一般式(1)において、Lは炭素−炭
素三重結合とAを連結する化学結合、もしくは(k+
m)価の基を表す。例えば、Lは、各々置換されていて
もよいアルキレン基、アリール基、アラルキレン基、ビ
ニレン基、シクロアルキレン基、グルタロイル基、フタ
ロイル基、ヒドラゾ基、ウレイレン基、チオ基、カルボ
ニル基、オキシ基、イミノ基、スルフィニル基、スルホ
ニル基、チオカルボニル基、オキザリル基、アゾ基等を
表す。また、前記いずれかの基を2種以上組み合わせた
基であってもよい。尚、Lは、さらに種々の置換基で置
換されていてもよく、該置換基としては、Aの置換基と
して例示した基が挙げられる。
In the general formula (1), L is a chemical bond connecting A to a carbon-carbon triple bond, or (k +
m) represents a valent group. For example, L represents an optionally substituted alkylene group, aryl group, aralkylene group, vinylene group, cycloalkylene group, glutaroyl group, phthaloyl group, hydrazo group, ureylene group, thio group, carbonyl group, oxy group, imino Group, sulfinyl group, sulfonyl group, thiocarbonyl group, oxalyl group, azo group and the like. Further, it may be a group obtained by combining any two or more of the above groups. In addition, L may be further substituted with various substituents, and examples of the substituent include those exemplified as the substituent of A.

【0014】前記一般式(1)において、kおよびl
は、各々、1以上の整数を表す。kは1〜4の整数であ
るのが好ましく、lは1〜2の整数であるのが好まし
い。また、前記一般式(1)において、mは0以上の整
数を表し、中でも、1〜3の整数であるのが好ましい。
In the general formula (1), k and l
Represents an integer of 1 or more. k is preferably an integer of 1 to 4, and 1 is preferably an integer of 1 to 2. In the general formula (1), m represents an integer of 0 or more, and among them, an integer of 1 to 3 is preferable.

【0015】前記一般式(1)で表される化合物につい
て、以下に、具体例(1)〜(16)を示す。
Specific examples (1) to (16) of the compound represented by the general formula (1) are shown below.

【0016】[0016]

【化2】 Embedded image

【0017】[0017]

【化3】 Embedded image

【0018】炭素−炭素三重結合を有するモノマーとし
ては、具体例(1)が好ましい。
As the monomer having a carbon-carbon triple bond, specific example (1) is preferred.

【0019】前記塗布液に含有される金属元素は、周
期律表8族および1B族元素から選ばれるいずれかの元
素であるのが好ましい。周期律表8族元素としては、例
えば、ニッケル、ルテニウム、ロジウム、パラジウム、
白金等が挙げられ、また1B族元素としては銅、銀、金
が挙げられる。中でも、金属元素は、銀、金、銅、アル
ミニウム、ニッケル、またはパラジウムであるのが好ま
しく、銀または銅であるのがより好ましい。また、前記
元素は、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用
してもよい。前記金属元素は、金属塩および金属錯体の
形態で前記塗布液の調製に用いられるのが好ましい。前
記金属塩としては、硝酸銀、酢酸銀、四フッ化ホウ素酸
銀、塩化パラジウム、塩化第一銅、塩化白金等が挙げら
れる。前記金属錯体としては、ジ−μ−クロロビス(η
−2−メチルアリル)ジパラジウム(II)錯体、テトラ
キス(トリフェニルホスフィン)パラジウム錯体、ジ−
μ−クロロテトラカルボニルジロジウム(I)錯体、
1,4,7,10,13−ペンタオキシシクロドデカン
・ナトリウムテトラクロルバナジナイト、ジシクロペン
タジエン−金(I)クロリド等が挙げられる。尚、塗
布液にも、前記金属元素の金属塩および/または金属錯
体を含有させてもよい。
The metal element contained in the coating solution is preferably any one element selected from Group 8 and Group 1B elements of the periodic table. Examples of group 8 elements of the periodic table include nickel, ruthenium, rhodium, palladium,
Platinum and the like are mentioned, and as the group 1B element, copper, silver and gold are mentioned. Among them, the metal element is preferably silver, gold, copper, aluminum, nickel, or palladium, and more preferably silver or copper. The elements may be used alone or in combination of two or more. The metal element is preferably used for preparing the coating solution in the form of a metal salt and a metal complex. Examples of the metal salt include silver nitrate, silver acetate, silver tetrafluoroboronate, palladium chloride, cuprous chloride, and platinum chloride. Examples of the metal complex include di-μ-chlorobis (η
-2-methylallyl) dipalladium (II) complex, tetrakis (triphenylphosphine) palladium complex, di-
μ-chlorotetracarbonyldirhodium (I) complex,
Examples thereof include 1,4,7,10,13-pentaoxycyclododecane / sodium tetrachlorovanadinite and dicyclopentadiene-gold (I) chloride. The coating liquid may contain a metal salt and / or a metal complex of the metal element.

【0020】前記塗布液に用いられる金属アセチリド
は、下記一般式(2)で表される化合物であるのが好ま
しい。
The metal acetylide used in the coating solution is preferably a compound represented by the following general formula (2).

【0021】[0021]

【化4】 Embedded image

【0022】前記一般式(2)中、Aはポリオキシエー
エル基、ポリアミノエーテル基、またはポリチオエーテ
ル基を表し、R2は金属元素を表し、Lは炭素−炭素三
重結合とAとを連結する化学結合、もしくは(k+m)
価の基を表し、kおよびnは各々1以上の整数を表し、
mは0以上の整数を表す。前記一般式(2)中の、A、
L、k、n、およびmについては、前記一般式(1)の
各々と同義であり、好ましい例も同様である。
In the general formula (2), A represents a polyoxyether group, a polyaminoether group, or a polythioether group, R 2 represents a metal element, and L connects a carbon-carbon triple bond to A. Chemical bond or (k + m)
And k and n each represent an integer of 1 or more;
m represents an integer of 0 or more. In the general formula (2), A,
L, k, n, and m have the same meanings as those in Formula (1), and preferred examples are also the same.

【0023】前記一般式(2)中、R2は金属元素を表
す。R2が表す金属元素としては、水素を除く1A族
(アルカリ元素)、1B族(銅族)、2A族(アルカリ
土類元素)、2B族(亜鉛族)、ホウ素を除く3B族、
炭素とケイ素を除く4B族、8族(鉄族および白金
族)、3A族、4A族、5A族、6A族および7A族に
属する元素とアンチモン、ビスマス、ポロニウムが挙げ
られる。中でも、R2は、銀、金、銅、アルミニウム、
ニッケル、またはパラジウム原子であることが好まし
く、銀または銅原子であるのが好ましい。尚、前記塗
布液には、前記塗布液と同様に金属元素を含有させて
もよい。
In the general formula (2), R 2 represents a metal element. Examples of the metal element represented by R 2 include group 1A (alkali element) excluding hydrogen, group 1B (copper group), group 2A (alkaline earth element), group 2B (zinc group), group 3B excluding boron,
Examples thereof include elements belonging to Groups 4B, 8 (iron group and platinum group) excluding carbon and silicon, 3A group, 4A group, 5A group, 6A group, and 7A group, and antimony, bismuth, and polonium. Among them, R 2 is silver, gold, copper, aluminum,
It is preferably a nickel or palladium atom, more preferably a silver or copper atom. The coating liquid may contain a metal element as in the case of the coating liquid.

【0024】前記一般式(2)で表される化合物の具体
例としては、前記一般式(1)の具体例で示した化合物
(1)〜(16)において、R1に相当する基を金属元
素に置換した化合物が挙げられる。中でも、具体例
(1)のアセチレン基の末端水素原子が金属元素、特に
銀元素に置換された化合物が好ましい。
As a specific example of the compound represented by the general formula (2), in the compounds (1) to (16) shown in the specific examples of the general formula (1), the group corresponding to R 1 may be a metal. Compounds substituted with elements are listed. Among them, the compounds in which the terminal hydrogen atom of the acetylene group in the specific example (1) is substituted with a metal element, particularly a silver element, are preferable.

【0025】尚、前記一般式(1)および一般式(2)
中、R1およびR2とアセチレン基との結合は、各々、σ
結合であってもπ結合であってもよい。
The above general formulas (1) and (2)
Wherein the bond between R 1 and R 2 and the acetylene group is σ
It may be a bond or a π bond.

【0026】前記および塗布液の調製に用いられる
溶媒としては、純水、または有機溶媒を用いることがで
きる。特に、塗布液に含有される金属アセチリドは、
純水に対しても分散性および/または溶解性が高いの
で、純水を溶媒として塗布液を調製することができ、生
産工程の環境安全性が向上するので好ましい。前記有機
溶媒としては、メタノール、エタノール、イソプロピル
アルコール等のアルコール類、アセトン、メチルエチル
ケトンのようなケトン類、クロロホルム、塩化メチレン
のようなハロゲン化合物、酢酸エチルのようなエステル
類、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、N
−メチル−2−ピロリドンのようなアミド類、アセトニ
トリルのようなニトリル類、ジエチルエーテル、エチル
メチルエーテル等のエーテル類、メトキシエチルアセテ
ート、メトキシプロピルアセテートの様なアセテート類
が挙げられる。
Pure water or an organic solvent can be used as the solvent used for preparing the coating solution. In particular, metal acetylide contained in the coating solution,
Since it has high dispersibility and / or solubility in pure water, a coating solution can be prepared using pure water as a solvent, which is preferable because environmental safety in a production process is improved. Examples of the organic solvent include methanol, ethanol, alcohols such as isopropyl alcohol, acetone, ketones such as methyl ethyl ketone, chloroform, halogen compounds such as methylene chloride, esters such as ethyl acetate, dimethylacetamide, dimethylformamide, N
Examples include amides such as -methyl-2-pyrrolidone, nitriles such as acetonitrile, ethers such as diethyl ether and ethyl methyl ether, and acetates such as methoxyethyl acetate and methoxypropyl acetate.

【0027】前記塗布液においては、金属アセチリド
は溶解または0.1μm以下の分散粒子径で溶媒中に分
散しているのが、導電層14を均一な層厚で形成できる
ので好ましい。尚、前記塗布液の調製時には、塗布液
中に含有される金属元素とモノマーとが反応して金属ア
セチリドが生成するが、生成した金属アセチリドは溶解
または前記範囲の分散粒子径で溶媒中に分散しているの
が好ましい。
In the coating solution, the metal acetylide is preferably dissolved or dispersed in a solvent with a dispersed particle diameter of 0.1 μm or less, since the conductive layer 14 can be formed with a uniform thickness. During the preparation of the coating liquid, the metal element contained in the coating liquid and the monomer react with each other to generate metal acetylide, and the generated metal acetylide is dissolved or dispersed in a solvent having a dispersed particle diameter in the above range. Preferably.

【0028】前記および塗布液中におけるモノマー
等の分散性および/または溶解性を向上させることを目
的として、各々の塗布液中に界面活性剤を含有させても
よい。界面活性剤としては、フッ素系、アンモニウム塩
系、スルホン酸塩系、エチレンオキサイド系界面活性剤
等が挙げられる。その他、前記および塗布液中に
は、各々、バインダ樹脂、可塑剤、増粘剤等を含有させ
てもよい。
For the purpose of improving the dispersibility and / or solubility of the monomers and the like in the above-mentioned and coating solutions, a surfactant may be contained in each of the coating solutions. Examples of the surfactant include a fluorine-based, ammonium salt-based, sulfonate-based, and ethylene oxide-based surfactant. In addition, a binder resin, a plasticizer, a thickener and the like may be contained in each of the above-mentioned and the coating liquid.

【0029】調製した前記塗布液を、高分子フィルムか
らなる支持体12の表面に塗布し、その後、加熱する。
加熱時には、金属アセチリド(塗布液では、塗布液中
に生成した金属アセチリド)が重合して導電層14が形
成されるとともに、導電層14に含まれる有機成分の一
部が分解する。その結果、導電層14と高分子フィルム
からなる支持体12との間は極めて高い密着力により密
着し、且つ導電層14に含有される金属成分の割合が増
大し、導電層14は高い導電性を示す。特に、本実施の
形態では、高分子フィルムを支持体12として用いてい
るが、金属アセチリド(塗布液では塗布液中で生成す
る金属アセチリド)は低温分解性を有するので、高分子
フィルムの耐熱温度範囲で加熱することによって、高い
導電性を有する導電層14を形成できる。加熱温度は、
150℃〜300℃であるのが好ましく、170℃〜2
00℃であるのがより好ましい。さらに、加熱時間は3
0秒〜5分が好ましく、より好ましくは10秒〜3分で
ある。
The prepared coating solution is applied to the surface of a support 12 made of a polymer film, and then heated.
At the time of heating, metal acetylide (in a coating solution, metal acetylide generated in the coating solution) is polymerized to form the conductive layer 14 and a part of the organic components contained in the conductive layer 14 is decomposed. As a result, the conductive layer 14 and the support 12 made of a polymer film adhere to each other with an extremely high adhesion force, and the ratio of the metal component contained in the conductive layer 14 increases. Is shown. In particular, in the present embodiment, the polymer film is used as the support 12. However, since the metal acetylide (the metal acetylide formed in the coating solution in the coating solution) has low-temperature decomposability, the heat resistance temperature of the polymer film is low. By heating in the range, the conductive layer 14 having high conductivity can be formed. The heating temperature is
It is preferably from 150 ° C to 300 ° C, and from 170 ° C to 2 ° C.
More preferably, it is 00 ° C. Furthermore, the heating time is 3
The time is preferably from 0 seconds to 5 minutes, more preferably from 10 seconds to 3 minutes.

【0030】支持体12は、導電層14形成時の熱処理
に耐える必要があるので、支持体12に用いられる高分
子フィルムとしては、短期耐熱温度が150℃以上であ
るのが好ましい。例えば、ポリエチレンテレフタレート
(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポ
リカーボネート(PC)、ポリイミド(PI)、ポリエ
ーテルエーテルケトン(PEEK)からなる高分子フィ
ルムが好ましい。尚、短期耐熱温度とは、非晶性ポリマ
ーではガラス転移温度(Tg)を、結晶性ポリマーでは
Tm−50℃(Tmは融点℃)をいう。
Since the support 12 needs to withstand heat treatment when the conductive layer 14 is formed, the short-term heat resistance of the polymer film used for the support 12 is preferably 150 ° C. or higher. For example, a polymer film composed of polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polycarbonate (PC), polyimide (PI), and polyetheretherketone (PEEK) is preferable. In addition, the short-term heat-resistant temperature means a glass transition temperature (Tg) for an amorphous polymer and Tm-50 ° C. (Tm is a melting point ° C.) for a crystalline polymer.

【0031】次に、形成された導電層14を、パラジウ
ム、錫、および銀からなる金属元素群から選ばれるいず
れかの金属元素のイオンを含有する酸性溶液に少なくと
も接触させ、例えば、浸漬して処理する。この処理によ
って、酸性溶液中に含まれる前記金属元素イオンが、導
電層14の表面にイオン的に析出し、導電層14中の金
属と合金化する。その結果、導電層14の表面電気抵抗
は500Ω/□以下、好ましくは200Ω/□以下にな
る。金属元素イオンを含有する前記酸性溶液は、金属塩
を酸性溶液に溶解することによって調製できる。用いる
金属塩としては、塩化パラジウム、塩化錫、臭化銀等が
挙げられる。
Next, the formed conductive layer 14 is brought into contact at least with an acidic solution containing an ion of any metal element selected from the group consisting of palladium, tin, and silver, and is immersed, for example. To process. By this treatment, the metal element ions contained in the acidic solution are ionically precipitated on the surface of the conductive layer 14 and are alloyed with the metal in the conductive layer 14. As a result, the surface electric resistance of the conductive layer 14 becomes 500Ω / □ or less, preferably 200Ω / □ or less. The acidic solution containing a metal element ion can be prepared by dissolving a metal salt in the acidic solution. Examples of the metal salt used include palladium chloride, tin chloride, silver bromide and the like.

【0032】中でも、パラジウムのイオンを含有する酸
性溶液を用いるのが好ましい。特に、銀の金属アセチリ
ドから導電層14を形成した場合は、銀とパラジウムの
合金が形成されることで、導電層回路間に生じるマイグ
レーションを軽減することができる。
Among them, it is preferable to use an acidic solution containing palladium ions. In particular, when the conductive layer 14 is formed from silver metal acetylide, the migration between the conductive layer circuits can be reduced by forming an alloy of silver and palladium.

【0033】前記酸性溶液による処理後、導電層14の
表面を純水等で洗浄するのが好ましい。また、洗浄後、
室温〜150℃で乾燥するのが好ましい。
After the treatment with the acidic solution, the surface of the conductive layer 14 is preferably washed with pure water or the like. Also, after washing,
It is preferable to dry at room temperature to 150 ° C.

【0034】前記酸性溶液による処理後、導電層14中
に含有される金属元素の量は0.2g/m2以上である
と、表面電気抵抗を低下させることができるので好まし
く、0.5g/m2以上であるのがより好ましい。
After the treatment with the acidic solution, the amount of the metal element contained in the conductive layer 14 is preferably 0.2 g / m 2 or more, since the surface electric resistance can be reduced. It is more preferably at least m 2 .

【0035】導電層14の層厚は、0.05μm以上1
μm以下であるのが好ましく、0.1μm以上0.5μ
m以下であるのがより好ましい。導電層14の層厚は、
塗布液の塗布量を調整することによって、好ましい範囲
にすることができる。また、支持体12として透明なフ
ィルムを用いるとともに、導電層14を光透過性とする
と、例えば、電磁波シールドフィルム等の光透過性が要
求される部材に利用することができる。塗布液(金属
塩粒子を別途添加しない塗布液)を用いて導電層14を
形成することによって、導電層14を光透過性とするこ
とができる。
The thickness of the conductive layer 14 is 0.05 μm or more and 1
μm or less, preferably 0.1 μm or more and 0.5 μm
m is more preferable. The layer thickness of the conductive layer 14 is
By adjusting the amount of application of the coating liquid, a preferable range can be obtained. Further, when a transparent film is used as the support 12 and the conductive layer 14 is made light-transmissive, for example, it can be used for a member requiring light transparency such as an electromagnetic wave shielding film. By forming the conductive layer 14 using a coating liquid (a coating liquid to which metal salt particles are not separately added), the conductive layer 14 can be made light-transmitting.

【0036】本実施の形態において、支持体12と導電
層14との密着性をより向上させることを目的として、
支持体12と導電層14との間に下塗り層を設けてもよ
い。下塗り層の材料としては、エポキシ樹脂、アクリル
樹脂、フェノール樹脂、およびポリエステル樹脂が好ま
しい。また、本実施の形態では、支持体12の片面にの
み導電層14を形成したが、これに限定されず、用途に
応じて、支持体12の両面に導電層14を形成してもよ
い。
In the present embodiment, for the purpose of further improving the adhesion between the support 12 and the conductive layer 14,
An undercoat layer may be provided between the support 12 and the conductive layer 14. As a material of the undercoat layer, an epoxy resin, an acrylic resin, a phenol resin, and a polyester resin are preferable. Further, in the present embodiment, the conductive layer 14 is formed only on one surface of the support 12, but the present invention is not limited to this, and the conductive layer 14 may be formed on both surfaces of the support 12 depending on the application.

【0037】前記作製方法の各工程は、真空室等で行う
必要はなく、スパッタリングによる作製工程と比較し
て、工程が簡易であるとともに、導電性フィルムの生産
コストを軽減することができる。また、接着剤を使用し
ていないので、耐熱性が要求される部材、例えば、回路
板等の部材として使用することができる。
It is not necessary to perform each step of the manufacturing method in a vacuum chamber or the like, so that the steps are simpler and the production cost of the conductive film can be reduced as compared with the manufacturing step by sputtering. Further, since no adhesive is used, it can be used as a member requiring heat resistance, for example, a member of a circuit board or the like.

【0038】本発明の導電性フィルムの第2の実施の形
態の概略断面図を図2に示す。導電性フィルム20は、
導電性フィルム10の導電層14上に、導電層14をメ
ッキ核として形成してなるメッキ層16を有する。導電
層14の表面14aの表面電気抵抗は500Ω/□以下
であるので、メッキ核として機能させることができ、導
電層14上にメッキ層を容易に形成することができる。
FIG. 2 is a schematic sectional view of a second embodiment of the conductive film of the present invention. The conductive film 20
On the conductive layer 14 of the conductive film 10, there is provided a plating layer 16 formed by using the conductive layer 14 as a plating nucleus. Since the surface electrical resistance of the surface 14a of the conductive layer 14 is 500Ω / □ or less, it can function as a plating nucleus, and the plating layer can be easily formed on the conductive layer 14.

【0039】電解メッキ処理は、通常の方法に従って実
施することができる。メッキ浴に含有させる金属として
は、ニッケル、アルミニウム、銅、銀、金、パラジウム
が好ましい。本実施の形態の導電性フィルムを、フレキ
シブル銅張積層板、あるいは電磁波シールドフィルタに
適用する場合は、メッキ浴として銅メッキ浴を使用する
のが好ましい。銅メッキ浴としては、硫酸銅浴、ピロリ
ン酸銅浴が挙げられる。また、銀メッキ浴としては、シ
アン化銀カリウム浴が一般的である。メッキ浴のpHは
8〜9、メッキ処理時のメッキ浴の温度は50℃〜70
℃に維持されるのが好ましい。また、メッキ処理時に
は、電流密度を30〜80A/dm2で実施するのが好
ましい。尚、メッキ層16の層厚は、メッキ処理時の電
流値、メッキ処理時間によって適宜設定できる。
The electrolytic plating can be performed according to a usual method. As the metal contained in the plating bath, nickel, aluminum, copper, silver, gold, and palladium are preferable. When the conductive film of the present embodiment is applied to a flexible copper-clad laminate or an electromagnetic wave shielding filter, it is preferable to use a copper plating bath as a plating bath. Examples of the copper plating bath include a copper sulfate bath and a copper pyrophosphate bath. Further, as a silver plating bath, a silver potassium cyanide bath is generally used. The pH of the plating bath is 8-9, and the temperature of the plating bath during the plating process is 50 ° C-70.
Preferably it is maintained at ° C. Further, at the time of plating, it is preferable to carry out the current density at 30 to 80 A / dm 2 . The thickness of the plating layer 16 can be appropriately set according to the current value during plating and the plating time.

【0040】前記工程は、真空室等で行う必要はなく、
スパッタリングによる作製工程と比較して、工程が簡易
であるとともに、導電性フィルムの生産コストを軽減す
ることができる。また、接着剤を使用していないので、
耐熱性が要求される部材、例えば、回路板等の部材とし
て使用することができる。
The above step does not need to be performed in a vacuum chamber or the like.
Compared with the manufacturing process by sputtering, the process is simple and the production cost of the conductive film can be reduced. Also, since no adhesive is used,
It can be used as a member requiring heat resistance, for example, a member of a circuit board or the like.

【0041】本発明の導電性フィルムの第3の実施の形
態の概略断面図を図3に示す。導電性フィルム30は、
導電性フィルム20の導電層14およびメッキ層16が
各々パターニング処理されてなる導電層14’およびメ
ッキ層16’とを有する。例えば、本実施の形態をフレ
キシブル銅張積層板に適用する場合は、パターン化さた
導電層14’およびメッキ層16’は、微細回路を構成
する。また、例えば、本実施の形態を電磁波シールドフ
ィルタに適用する場合は、パターン化さた導電層14’
およびメッキ層16’は、電磁波をシールドするための
メシュパターンを構成する。
FIG. 3 is a schematic sectional view of a third embodiment of the conductive film of the present invention. The conductive film 30
The conductive layer 14 and the plating layer 16 of the conductive film 20 have a conductive layer 14 ′ and a plating layer 16 ′, respectively, which are patterned. For example, when this embodiment is applied to a flexible copper-clad laminate, the patterned conductive layer 14 'and plated layer 16' constitute a fine circuit. Further, for example, when the present embodiment is applied to an electromagnetic wave shield filter, the patterned conductive layer 14 ′
The plating layer 16 'forms a mesh pattern for shielding electromagnetic waves.

【0042】前記導電層14’およびメッキ層16’
は、第2の実施の形態の導電性フィルム20を作製した
後、即ちメッキ層16を形成した後に導電層14とメッ
キ層16を同時にパターニング処理して形成してもよい
し、第1の実施の形態の導電性フィルム20を作製した
後に、導電層14をパターニング処理し、パターン化さ
れた導電層14’をメッキ核としてメッキ層16’を形
成してもよい。
The conductive layer 14 'and the plating layer 16'
May be formed by forming the conductive film 20 of the second embodiment, that is, after forming the plating layer 16, by patterning the conductive layer 14 and the plating layer 16 at the same time. After the formation of the conductive film 20 of the above-described embodiment, the conductive layer 14 may be subjected to a patterning process to form the plating layer 16 'using the patterned conductive layer 14' as a plating nucleus.

【0043】図4に、第2の実施の形態の導電性フィル
ム20を形成した後、導電層14およびメッキ層16を
同時にパターニング処理する例を示す。導電性フィルム
20を用意し(図4(a))、メッキ層16上に、フォ
トレジス材料を含有する感光層22をラミネート処理に
より形成する(図4(b))。次に、感光層22上か
ら、フォトマスク24を介して光を照射する(図4
(c))。光照射によって、感光層22の光照射部は硬
化して、現像液に対する溶解性が低下する。その後、ア
ルカリ性の現像液等で現像すると、感光層22の非光照
射部のみが除去される(図4(d))さらに、エッチン
グ処理を施し、感光層22によって保護されていない領
域の導電層14およびメッキ層16を除去する(図4
(e))。次に、アセトン、メタノール、メチルエチル
ケトン等の有機溶媒で洗浄し、残存する感光層22を除
去して、導電性フィルム30が得られる(図4
(f))。尚、光照射は、フォトマスクを使用せずに、
レーザによってパターン状に光照射してもよい。
FIG. 4 shows an example in which the conductive layer 14 and the plating layer 16 are simultaneously patterned after forming the conductive film 20 of the second embodiment. A conductive film 20 is prepared (FIG. 4A), and a photosensitive layer 22 containing a photoresist material is formed on the plating layer 16 by a lamination process (FIG. 4B). Next, light is irradiated from above the photosensitive layer 22 through the photomask 24 (FIG. 4).
(C)). The light irradiation cures the light-irradiated portion of the photosensitive layer 22 and reduces the solubility in the developer. Thereafter, when the photosensitive layer 22 is developed with an alkaline developer or the like, only the non-light-irradiated portions of the photosensitive layer 22 are removed (FIG. 4D). 14 and the plating layer 16 are removed (FIG. 4).
(E)). Next, the conductive film 30 is obtained by washing with an organic solvent such as acetone, methanol and methyl ethyl ketone to remove the remaining photosensitive layer 22.
(F)). In addition, light irradiation does not use a photomask,
Light may be irradiated in a pattern by a laser.

【0044】図5に、第1の実施の形態の導電性フィル
ム10を作製した後、導電層14をパターニング処理し
て導電層14’を形成し、導電層14’をメッキ核とし
てメッキ層16’を形成する例を示す。導電性フィルム
10を用意し(図5(a))、導電層14上に、フォト
レジス材料を含有する感光層22をラミネート処理によ
り形成する(図5(b))。次に、感光層22上から、
フォトマスク24を介して光を照射する(図5
(c))。光照射によって、感光層22の光照射部は硬
化して、現像液に対する溶解性が低下する。その後、ア
ルカリ性の現像液等で現像すると、感光層22の非光照
射部のみが除去される(図5(d))。さらに、塩化第
二銅水溶液等でエッチング処理を施し、感光層22によ
って保護されていない領域の導電層14を除去する(図
5(e))。次に、アセトン、メタノール、メチルエチ
ルケトン等の有機溶媒で洗浄し、残存する感光層22を
除去することによって、支持体12上に、パターン化さ
れた導電層14’を形成することができる(図5
(f))。さらに、導電層14’をメッキ核として、前
記第2の実施の形態で示した方法によりメッキ処理を施
すと、導電性フィルム30が得られる(図5(g))。
尚、光照射は、フォトマスクを使用せずに、レーザによ
ってパターン状に光照射してもよい。
FIG. 5 shows that after forming the conductive film 10 of the first embodiment, the conductive layer 14 is patterned to form a conductive layer 14 ', and the conductive layer 14' is 'Is shown. A conductive film 10 is prepared (FIG. 5A), and a photosensitive layer 22 containing a photoresist material is formed on the conductive layer 14 by a lamination process (FIG. 5B). Next, from above the photosensitive layer 22,
Light is irradiated through the photomask 24 (FIG. 5).
(C)). The light irradiation cures the light-irradiated portion of the photosensitive layer 22 and reduces the solubility in the developer. Thereafter, when development is performed with an alkaline developer or the like, only the non-light-irradiated portions of the photosensitive layer 22 are removed (FIG. 5D). Further, an etching process is performed with a cupric chloride aqueous solution or the like to remove the conductive layer 14 in a region not protected by the photosensitive layer 22 (FIG. 5E). Next, by washing with an organic solvent such as acetone, methanol, and methyl ethyl ketone to remove the remaining photosensitive layer 22, a patterned conductive layer 14 'can be formed on the support 12 (FIG. 5).
(F)). Further, by performing plating using the conductive layer 14 'as a plating nucleus by the method described in the second embodiment, a conductive film 30 is obtained (FIG. 5G).
Note that the light irradiation may be performed in a pattern by a laser without using a photomask.

【0045】この様にして形成された導電性フィルム3
0は、導電層14’とメッキ層16’との密着性が良好
で、高い性能信頼性を有する。前記工程は、真空室等で
行う必要はなく、スパッタリングによる作製工程と比較
して、工程が簡易であるとともに、生産コストを軽減す
ることができる。
The conductive film 3 thus formed
0 indicates that the adhesion between the conductive layer 14 'and the plating layer 16' is good and has high performance reliability. The process does not need to be performed in a vacuum chamber or the like, and the process is simpler and the production cost can be reduced as compared with a manufacturing process by sputtering.

【0046】この様にして作製した導電性フィルム30
は、2層タイプの銅張積層板として利用できる。さら
に、導電層14の形成、メッキ層16の形成、およびパ
ターニング(導電層14’およびメッキ層16’の形
成)、あるいは導電層14の形成、パターニングによる
導電層14’の形成、およびメッキ層16’の形成工程
を繰り返すことによって、微細で且つ緻密な回路のフレ
キシブルプリント基板とすることができる。フレキシブ
ルプリント基板として使用する場合、導電層14、1
4’上に、所望により、耐水性、耐熱性、絶縁性等を有
する被覆層を形成してもよい。
The conductive film 30 thus produced
Can be used as a two-layer type copper-clad laminate. Further, formation of the conductive layer 14, formation of the plating layer 16, and patterning (formation of the conductive layer 14 'and the plating layer 16'), or formation of the conductive layer 14, formation of the conductive layer 14 'by patterning, and formation of the plating layer 16 By repeating the step of forming ', a flexible printed circuit board having fine and dense circuits can be obtained. When used as a flexible printed circuit board, the conductive layers 14, 1
If desired, a coating layer having water resistance, heat resistance, insulation, and the like may be formed on 4 ′.

【0047】また、導電層14’およびメッキ層16’
を光透過性とすることで、微細なメッシュパターンを有
する磁気シールドフィルターに利用することができる。
導電性フィルム30を利用した磁気シールドフィルター
は、例えば、メッキ層16’上にさらに、接着層を形成
し、該接着層を、フィルタの基板となるアクリル板等の
表面に接着して作製することができる。導電性フィルム
30を利用した磁気シールドフィルタ−は、良好な磁気
シールド性能を有するとともに、高い性能信頼性を有す
る。
The conductive layer 14 'and the plating layer 16'
Can be used for a magnetic shield filter having a fine mesh pattern.
The magnetic shield filter using the conductive film 30 is manufactured by, for example, forming an adhesive layer on the plating layer 16 ′ and bonding the adhesive layer to a surface of an acrylic plate or the like serving as a filter substrate. Can be. The magnetic shield filter using the conductive film 30 has good magnetic shield performance and high performance reliability.

【0048】[0048]

【実施例】以下、実施例によって、本発明の効果を明ら
かにするが、本発明は、下記の実施例によって、なんら
制限されるものではない。尚、「部」は「重量部」示す
ものとする。 <下塗り層用塗布液の調製>下記に示す組成の下塗り層
用塗布液を調製した。 エポキシ樹脂 5部 (油化シェルエポキシ(株)製、「エピコート1001B80」) イミダゾール系硬膜剤 0.02部 (油化シェルエポキシ(株)製、「エピキューアBMI−12」) メチルエチルケトン 100部
EXAMPLES Hereinafter, the effects of the present invention will be clarified by examples, but the present invention is not limited by the following examples. Note that “parts” indicates “parts by weight”. <Preparation of Undercoat Layer Coating Solution> An undercoat layer coating solution having the following composition was prepared. Epoxy resin 5 parts (Yuika Shell Epoxy Co., Ltd., "Epicoat 1001B80") Imidazole hardener 0.02 parts (Yuka Shell Epoxy Co., Ltd., "Epicure BMI-12") methyl ethyl ketone 100 parts

【0049】<導電層用塗布液の調製> ・導電層用塗布液aの調製 下記に示す組成の導電層用塗布液aを調製した。尚、塗
布液は、0.5μmφのポアサイズのフィルターで濾過
した後に使用した。 導電剤 20部 (下記構造式1で表される化合物) 界面活性剤 0.1部 (ノニオン型フッ素系界面活性剤) 純水 80部
<Preparation of Coating Solution for Conductive Layer> Preparation of Coating Solution a for Conductive Layer A coating solution a for conductive layer having the following composition was prepared. The coating solution was used after being filtered through a filter having a pore size of 0.5 μmφ. Conductive agent 20 parts (compound represented by the following structural formula 1) Surfactant 0.1 part (Nonionic fluorine-based surfactant) Pure water 80 parts

【0050】・導電層用塗布液bの調製 下記に示す組成の導電層用塗布液bを調製した。尚、塗
布液は、0.5μmφのポアサイズのフィルターで濾過
した後に使用した。 導電剤 13.1部 (下記構造式1で表される化合物) 硝酸銀溶液(1規定) 45.9部 界面活性剤 0.1部 (ノニオン型フッ素系界面活性剤) メタノール 41部
Preparation of Conductive Layer Coating Solution b A conductive layer coating solution b having the following composition was prepared. The coating solution was used after being filtered through a filter having a pore size of 0.5 μmφ. Conductive agent 13.1 parts (compound represented by the following structural formula 1) Silver nitrate solution (1N) 45.9 parts Surfactant 0.1 part (Nonionic fluorine-based surfactant) Methanol 41 parts

【0051】[0051]

【化5】 Embedded image

【0052】[実施例1]ポリイミド樹脂(厚さ50μ
m、短期耐熱温度420℃)フィルム上に、前記下塗り
層用塗布液を、乾燥膜厚が0.25μmとなる様にバー
コータにより塗布した。次に、150℃で1時間熱処理
し、下塗り層を形成した。該下塗り層上に、前記導電層
用塗布液aを、乾燥膜厚が0.5μmになる様にバーコ
ータにより塗布した。次に、185℃で5分間熱処理を
行い導電層を形成した。次に、形成された導電層を塩化
パラジウムの1規定塩酸溶液に浸漬し、水洗した後、1
時間100℃で乾燥した。
Example 1 A polyimide resin (50 μm thick)
m, short-term heat-resistant temperature 420 ° C.) The undercoat layer coating solution was applied on a film by a bar coater so that the dry film thickness was 0.25 μm. Next, heat treatment was performed at 150 ° C. for 1 hour to form an undercoat layer. The conductive layer coating liquid a was applied on the undercoat layer using a bar coater such that the dry film thickness became 0.5 μm. Next, heat treatment was performed at 185 ° C. for 5 minutes to form a conductive layer. Next, the formed conductive layer is immersed in a 1N hydrochloric acid solution of palladium chloride, washed with water, and
Dry at 100 ° C. for hours.

【0053】その後、導電層の表面電気抵抗および透過
率を測定した。表面電気抵抗は、JIS規格 C−64
81に従って測定した。また、光透過率は分光光度計を
用いて測定した。測定結果を下記表1に示す。
Thereafter, the surface electric resistance and the transmittance of the conductive layer were measured. Surface electric resistance is JIS standard C-64
81. The light transmittance was measured using a spectrophotometer. The measurement results are shown in Table 1 below.

【0054】次に、希塩酸水溶液で表面処理を施した
後、導電層をメッキ核とし、硫酸銅水溶液をメッキ浴と
して、導電層上に、約10μmの厚みを有する銅メッキ
層を形成し、フレキシブル銅張積層板(FCL)を作製
した。
Next, after performing a surface treatment with a dilute hydrochloric acid aqueous solution, a copper plating layer having a thickness of about 10 μm is formed on the conductive layer using the conductive layer as a plating nucleus and a copper sulfate aqueous solution as a plating bath. A copper clad laminate (FCL) was produced.

【0055】[実施例2]導電層用塗布液aの代わりに
導電層用塗布液bを用いた以外は、実施例1と同様にし
て、FCLを作製した。FCLの作製工程の途中で、実
施例1と同様にして、導電層の表面電気抵抗および透過
率を測定した。測定結果を下記表1に示す。
Example 2 An FCL was prepared in the same manner as in Example 1, except that the conductive layer coating liquid b was used instead of the conductive layer coating liquid a. During the process of manufacturing the FCL, the surface electric resistance and the transmittance of the conductive layer were measured in the same manner as in Example 1. The measurement results are shown in Table 1 below.

【0056】[0056]

【表1】 [Table 1]

【0057】[比較例1]比較例用試料として、東洋メ
タライジング(株)製の「メタロイヤル」の2層タイプ
のFCLを使用した。このFCLは、ポリイミド樹脂の
フィルム(厚さ50μm)上に、銅の無電解メッキ層、
およびさらにその上に、銅メッキ層が形成された構成で
あった。 [比較例2]比較例用試料として、ニッカン工業製の
「ニカフレックス」の3層タイプのFCLを使用した。
このFCLは、ポリイミド樹脂のフィルム(厚さ50μ
m)上に、アクリル樹脂接着剤からなる接着層、および
さらにその上に、圧延銅層が形成された構成であった。
Comparative Example 1 As a sample for a comparative example, a two-layer type FCL of "Metaroyal" manufactured by Toyo Metallizing Co., Ltd. was used. This FCL is composed of an electroless copper plating layer on a polyimide resin film (50 μm thick).
Further, a copper plating layer was formed thereon. [Comparative Example 2] As a sample for Comparative Example, a three-layer type FCL of "Nikaflex" manufactured by Nikkan Kogyo was used.
This FCL is a polyimide resin film (thickness 50μ).
m), an adhesive layer made of an acrylic resin adhesive, and further thereon a rolled copper layer.

【0058】作製した実施例1〜2のFCLについて、
および市販の比較例1〜2のFCLについて、各々、ピ
ール強度、およびピンホールの発生の有無を調べた。ピ
ール強度については、JIS規格 C−6471に従っ
て測定した。また、ピンホールについては、透過型顕微
鏡を使用して、10cm×10cmの面積内に発生して
いるピンホールの数を数えた。評価結果を下記表2に各
々示した。
Regarding the prepared FCLs of Examples 1 and 2,
With respect to the commercially available FCLs of Comparative Examples 1 and 2, peel strength and occurrence of pinholes were examined. The peel strength was measured according to JIS C-6471. Regarding the pinholes, the number of pinholes generated within an area of 10 cm × 10 cm was counted using a transmission microscope. The evaluation results are shown in Table 2 below.

【0059】次に、作製した実施例1〜2のFCLにつ
いて、および市販の比較例1〜2のFCLについて、導
電性フィルム富士写真フイルム社製のDFR(「HL−
020」)をラミネーターを用いて、メッキ層上に各々
積層した。次に、対抗櫛型のネガパターン(S/L=5
0μm/50μm)を介して、50mJでDFRを露光
した。その後、Na2CO3(1%濃度)水溶液で現像処
理し、更に、塩化第二銅の溶液で50秒間エッチング処
理した。更に、アセトンで残存するDFRを除去した。
次に、パターン化された銅メッキ層上および露出してい
る下塗り層上に、ソルダーレジスト(Du Pont社
製)を含有する層をスクリーン印刷により形成し(厚
さ、約20μm)、150℃で1時間熱処理して、微細
パターンの櫛型の回路が形成されたプリント基板を各々
作製した。
Next, for the prepared FCLs of Examples 1 and 2 and the commercially available FCLs of Comparative Examples 1 and 2, the conductive film DFR manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd. (“HL-
020 ") was laminated on the plating layer using a laminator. Next, an opposing comb-shaped negative pattern (S / L = 5)
(0 μm / 50 μm) to expose the DFR at 50 mJ. Thereafter, the film was developed with an aqueous solution of Na 2 CO 3 (1% concentration), and further etched with a solution of cupric chloride for 50 seconds. Further, the remaining DFR was removed with acetone.
Next, a layer containing a solder resist (manufactured by Du Pont) is formed by screen printing on the patterned copper plating layer and on the exposed undercoat layer (thickness: about 20 μm), and at 150 ° C. Heat treatment was performed for one hour to produce printed circuit boards each having a micropatterned comb-shaped circuit.

【0060】作製した各々のプリント基板に直流電圧5
Vを印可して、配線間の絶縁抵抗を測定した。さらに、
直流電圧5Vを連続的に印可して、温度100℃、湿度
90%RH、1.3Kg/cm2の荷重下において、配
線間の絶縁抵抗の耐久性を調べた。評価結果を下記表2
に各々示した。
A DC voltage of 5 was applied to each of the produced printed circuit boards.
V was applied and the insulation resistance between the wirings was measured. further,
A DC voltage of 5 V was continuously applied, and the durability of the insulation resistance between the wirings was examined at a temperature of 100 ° C., a humidity of 90% RH, and a load of 1.3 kg / cm 2 . Table 2 below shows the evaluation results.
Respectively.

【0061】[0061]

【表2】 [Table 2]

【0062】[0062]

【発明の効果】本発明によれば、簡易な工程により作製
し得る、良好な導電性能を有する導電性フィルムを提供
することができる。また、本発明によれば、簡易な工程
により、且つ低コストで、良好な導電性能を有する導電
性フィルムを安定的に製造する方法を提供することがで
きる。
According to the present invention, it is possible to provide a conductive film having good conductive performance, which can be manufactured by a simple process. Further, according to the present invention, it is possible to provide a method for stably producing a conductive film having good conductive performance by a simple process and at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態の導電性フィルムの層
構成を模式的に示す概略断面図である。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view schematically illustrating a layer configuration of a conductive film according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施形態の導電性フィルムの層
構成を模式的に示す概略断面図である。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view schematically illustrating a layer configuration of a conductive film according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3の実施形態の導電性フィルムの層
構成を模式的に示す概略断面図である。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view schematically illustrating a layer configuration of a conductive film according to a third embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3の実施形態の導電性フィルムの作
製工程例を模式的に示す図である。
FIG. 4 is a diagram schematically illustrating an example of a manufacturing process of a conductive film according to a third embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3の実施形態の導電性フィルムの作
製工程の他の例を模式的に示す図である。
FIG. 5 is a view schematically showing another example of the process of manufacturing the conductive film according to the third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 20 30 導電性フィルム 12 支持体 14 14’ 導電層 16 16’ メッキ層 22 感光層 24 マスク 10 20 30 conductive film 12 support 14 14 'conductive layer 16 16' plating layer 22 photosensitive layer 24 mask

フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 GA50 GA51 GA64 HA18 MA10 MA11 NA28 4F100 AB10B AB10H AB16B AB16H AB17B AB17H AB24B AB24H AB31B AB40B AB40H AH02B AH02H AH08B AH08H AK49A AT00A BA02 BA10A BA10B CC00B EH461 EH462 EH662 EJ421 EJ422 EJ681 EJ682 GB43 JG01B JG04B JJ03A JL02 YY00A YY00B 4K022 AA13 AA18 AA32 AA41 BA01 BA02 BA03 BA08 BA14 BA18 CA15 CA17 CA19 CA20 CA21 DA06 DB01 5G307 GA06 GB01 GC01 GC02 5G435 AA17 HH02 HH12 KK07 Continued on the front page F-term (reference) 2H092 GA50 GA51 GA64 HA18 MA10 MA11 NA28 4F100 AB10B AB10H AB16B AB16H AB17B AB17H AB24B AB24H AB31B AB40B AB40H AH02B AH02H AH08B AH08H AK49A AT00A BA02E EBJE 431 JL02 YY00A YY00B 4K022 AA13 AA18 AA32 AA41 BA01 BA02 BA03 BA08 BA14 BA18 CA15 CA17 CA19 CA20 CA21 DA06 DB01 5G307 GA06 GB01 GC01 GC02 5G435 AA17 HH02 HH12 KK07

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 支持体と、該支持体上に金属アセチリド
を含有する塗布液を塗布し、加熱処理してなる導電層と
を有し、該導電層の表面電気抵抗が500Ω/□以下で
ある導電性フィルム。
1. A support comprising: a support; and a conductive layer obtained by applying a coating solution containing metal acetylide on the support and subjecting the coating to heat treatment, wherein the conductive layer has a surface electric resistance of 500 Ω / □ or less. Certain conductive films.
【請求項2】 金属アセチリドに含まれる金属元素が、
銀、金、銅、アルミニウム、ニッケル、およびパラジウ
ムからなる金属元素群から選ばれるいずれかの金属元素
である請求項1に記載の導電性フィルム。
2. The method according to claim 1, wherein the metal element contained in the metal acetylide is
The conductive film according to claim 1, wherein the conductive film is any metal element selected from a metal element group consisting of silver, gold, copper, aluminum, nickel, and palladium.
【請求項3】 支持体が、短期耐熱温度が150℃以上
である請求項1または請求項2に記載の導電性フィル
ム。
3. The conductive film according to claim 1, wherein the support has a short-term heat-resistant temperature of 150 ° C. or higher.
【請求項4】 導電層上に、導電層をメッキ核として形
成してなるメッキ層を有する請求項1から請求項3まで
のいずれか1項に記載の導電性フィルム。
4. The conductive film according to claim 1, further comprising a plating layer formed on the conductive layer by using the conductive layer as a plating nucleus.
【請求項5】 導電層が合金を含有する請求項1から請
求項4までのいずれか1項に記載の導電性フィルム。
5. The conductive film according to claim 1, wherein the conductive layer contains an alloy.
【請求項6】 少なくとも金属アセチリドを含有する塗
布液を支持体上に塗布し、加熱処理して、導電層を形成
する第1の工程と、形成された前記導電層を、パラジウ
ム、錫、および銀からなる金属元素群から選ばれるいず
れかの金属元素のイオンを含有する酸性溶液に少なくと
も接触させて処理する第2の工程とを有する導電性フィ
ルムの作製方法。
6. A first step of applying a coating solution containing at least a metal acetylide onto a support and subjecting it to a heat treatment to form a conductive layer, and forming the conductive layer with palladium, tin, and A second step of treating by contacting at least with an acidic solution containing ions of any metal element selected from the group consisting of silver metal elements.
【請求項7】 第2の工程の後、導電層をメッキ核とし
て、前記導電層上にメッキ層を形成する第3の工程を有
する請求項6に記載の導電性フィルムの作製方法。
7. The method for producing a conductive film according to claim 6, further comprising a third step of forming a plating layer on the conductive layer using the conductive layer as a plating nucleus after the second step.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7291385B2 (en) * 2003-08-05 2007-11-06 Fujifilm Corporation Conductive film and method for preparing the same
WO2007138345A1 (en) * 2006-05-26 2007-12-06 Johnson Matthey Public Limited Company Process for producing stabilised metal nanoparticles
US7947328B2 (en) 2007-09-28 2011-05-24 Fujifilm Corporation Metal pattern forming method

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