JP2001112159A - 試験用端子装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 計器用変成器の２次回路に設けられた試験対
象の保護継電器の単独及び連動の動作試験が、プラグ挿
入とスイッチ切換えとにより、簡単にかつ短時間に行え
るようにする。 【解決手段】 計器用変成器（計器用変流器４）の２次
回路と試験対象の保護継電器（過電流継電器６）との接
続部，継電器６の接点６’の両端部及び試験装置１５の
連動の接点信号の入力部に端子部１６ａ〜１６ｄそれぞ
れを有し，各端子部１６ａ〜１６ｄにそれぞれプラグ挿
入口１９及び各１対の本体側接続端子２２ａ，２２ｂが
設けられた本体１６と、複数のプラグロッド２８を有す
るとともに，各ロッド２８を介して各挿入口１９の１対
の本体側接続端子２２ａ，２２ｂそれぞれに接続される
複数のプラグ側接続端子３１ａ，３１ｂ及び単独試験，
連動試験の切換スイッチ３２を有し，本体１６に着脱自
在に装着されるプラグ体２６とにより、試験用端子装置
を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、受変電設備等の電
力設備の過電流継電器等の保護継電器の動作試験の際
に、試験対象の保護継電器等を、通常の接続状態から単
独，連動の動作試験の接続状態に変える試験用端子装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、電力設備の各種の保護継電器の動
作試験を行うときは、試験対象の保護継電器等の接続状
態が、端子接続や配線を変更等し、例えば図５に示すよ
うに、通常の接続状態から変更される。

【０００３】図５は受変電設備のスイッチギヤの所定の
過電流継電器を試験対象の保護継電器とした場合の単線
結線図であり、電力系統１に接続されたフィーダ線２に
受変電設備の主回路の遮断器（ＣＢ）３が設けられ、こ
の遮断器３の負荷側に計器用変流器（ＣＴ）４が設けら
れ、この変流器４の２次回路には、通常、端子部５を介
して、試験対象の保護継電器である過電流継電器（Ｏ
Ｃ）６が接続される。

【０００４】この過電流継電器６の常開の接点６’は遮
断器３のトリップ回路７に設けられ、このトリップ回路
７は正（Ｐ），負（Ｎ）の直流電源端子８，９間に、接
点６’，トリップロック端子１０，トリップコイル１１
及び遮断器３の常開の補助接点３’を直列接続して形成
される。

【０００５】そして、遮断器３が投入される常時は、こ
の投入に連動して、補助接点３’が閉成され、遮断器３
の常閉の補助接点３”が開放される。

【０００６】この状態でフィーダ線２の負荷側で事故が
発生し、過電流継電器６が過電流を検出し、この検出に
基づいて接点６’が閉成されると、トリップコイル１１
が通電されて遮断器３が開放され、この開放に連動し
て、補助接点３’が開放されるとともに、補助接点３”
が閉成され、この接点３”が遮断器３の開放トリップ表
示の接点信号を発生する。

【０００７】なお、トリップロック端子１０は、図６の
（ａ）の正面図及び同図の（ｂ）の側面図に示すよう
に、接点６’側の端子１０ａ，トリップコイル１１側の
端子１０ｂと、両端子１０ａ，１０ｂ間を開閉する短絡
片１０ｃとからなり、通常は、端子１０ａ，１０ｂに短
絡片１０ｃの両端が締め付けられて取付けられ、端子１
０ａ，１０ｂ間が短絡される。

【０００８】つぎに、過電流継電器６の動作試験を行う
場合、この試験は、過電流継電器６の単独試験と、トリ
ップ回路７に実装した状態での連動試験とに大別され
る。

【０００９】そして、いずれの試験であっても、端子部
５の端子間接続の変更（切換え）により、計器用変流器
４の２次回路から過電流継電器６を切離し、試験電源１
２を、試験スイッチ１３，端子部５を介して過電流継電
器６に接続する。

【００１０】また、単独試験のときはトリップロック端
子１０の短絡片１０ｃを外し、端子１０ａ，１０ｂ間を
開放して接点６’をトリップ回路７から切離した後、配
線作業により、接点６’の両端を配線１４，１４’を介
して試験装置１５に接続する。

【００１１】そして、試験スイッチ１３を投入して試験
電源１２で過電流継電器６を作動し、試験装置１５によ
り、例えば、試験スイッチ１３の投入から接点６’が閉
成するまでの時間を過電流継電器６の動作時間として計
測し、その正常，異常から単独試験による過電流継電器
６の動作確認を行う。

【００１２】また、単独試験を終了して連動試験を行う
ときは、試験スイッチ１３を開放し過電流継電器６の通
電を停止して接点６’を開放した後、トリップロック端
子１０の短絡片１０ｃを締め直して端子１０ａ，１０ｂ
間を短絡し、接点６’をトリップ回路７に実装する。

【００１３】さらに、配線作業により、接点６’と試験
装置１５との間の配線１４，１４’を取外し、代わり
に、補助接点３”の両端を配線１６，１６’を介して試
験装置１５に接続する。

【００１４】そして、試験スイッチ１３を投入して過電
流継電器６を作動し、その接点６’を閉成して遮断器３
を実際に開放し、例えば、この開放に連動して補助接点
３”が閉成するまでの時間を計測し、その正常，異常か
ら連動試験による過電流継電器６の動作確認を行う。

【００１５】なお、試験終了後は端子部５の端子接続を
元に戻し、計器用変流器４の２次回路に接続部５を介し
て過電流継電器６を接続し、試験前の元の実装状態にす
る。

【００１６】

【発明が解決しようとする課題】前記従来のように、例
えば過電流継電器６の動作試験をするため、端子部５及
びトリップロック端子１０を設け、試験の際に、端子部
５の端子間の接続を変更するとともに、トリップロック
端子１０の短絡片１０ｃを着脱し、さらに、試験に応じ
て接点６’，３”を択一的に試験装置１５に接続して過
電流継電器６の単独試験，連動試験を順に行う場合、つ
ぎのような問題点がある。

【００１７】まず、試験の内容に応じて試験装置１５に
接続する接点を接点６’，３”に順に変更するため、時
間を要する煩雑な配線変更の作業を要し、作業性が悪
く、しかも、短時間に試験を終了することができず、試
験に伴って比較的長い作業停電を招来する等の問題点が
ある。

【００１８】また、端子部５とトリップロック端子１０
とは別体であり、スイッチギヤ等におけるそれらの取付
個所が異なることから、スイッチギヤ等の製造時に部品
数が多くなり、それらの取付けに時間を要し、生産性の
向上が図れず、コストアップ等を招来する問題点があ
る。

【００１９】そして、電力設備の種々の計器用変成器の
２次回路の各種の保護継電器を試験対象の保護継電器と
した場合に、従来は、前記と同様の問題点が生じる。

【００２０】本発明は、従来のようにトリップロック端
子を設けることなく、しかも、配線変更等の煩雑な作業
を行うことなく、プラグ挿入とスイッチの切換えによ
り、簡単にかつ短時間に、計器用変成器の２次回路に設
けられた試験対象の保護継電器の単独及び連系の動作試
験が行えるようにすることを課題とする。

【００２１】

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、本発明の試験用端子装置は、電力設備の計器用変
成器の２次回路の過電流継電器等の試験対象の保護継電
器（以下試験継電器という）を、２次回路から切離して
試験電源に接続し、試験継電器の接点信号，試験継電器
の動作によって生じる遮断器のトリップ動作等の連系動
作の接点信号を試験装置に供給し、試験継電器の単独試
験，連動試験を行わせる試験用端子装置であって、２次
回路と試験継電器との接続部，試験継電器の接点の両端
部及び試験装置の連系動作の接点信号の入力部それぞれ
に端子部を有し，各端子部にそれぞれ複数のプラグ挿入
口及び各挿入口へのプラグロッドの挿入より押開かれる
接触子を介して短絡した各１対の本体側接続端子が設け
られた本体と、各プラグロッドを有するとともに，各プ
ラグロッドを介して各プラグ挿入口の１対の本体側接続
端子にそれぞれ接続される複数のプラグ側接続端子及び
単独試験，連動試験の切換スイッチを有し，本体に着脱
自在に装着されるプラグ体とからなり、２次回路と試験
継電器との接続部に位置した端子部は、各１対の本体側
接続端子の一方が２次回路に接続されて他方が試験継電
器に接続され、各プラグ挿入口への各プラグロッドの挿
入により、２次回路から試験継電器を切離し、試験継電
器をプラグ側接続端子を介して試験電源に接続し、試験
継電器の接点の両端部に位置した端子部は、各１対の本
体側接続端子が試験継電器の接点の両端部それぞれの通
電路に設けられ、各プラグ挿入口へのプラグロッドの挿
入により、試験継電器の接点の両端部の通電路に切換ス
イッチの接点を挿入し、切換スイッチは、単独試験に切
換えられたときにのみ、試験継電器の接点の両端部を通
電路から切離し、試験継電器の接点をプラグ側接続端子
を介して試験装置に接続し、試験装置の入力部に位置し
た端子部は、各１対の本体側接続端子が試験装置に接続
され、各プラグ挿入口への各プラグロッドの挿入によ
り、プラグ側接続端子の連系動作の接点信号を試験装置
の連系動作の接点信号の入力部に伝送することを特徴と
するものである。

【００２２】したがって、予め本体の各端子部のプラグ
挿入口毎の１対の本体側接続端子を、それぞれ端子接続
しておくと、プラグ体が装着されない常時（非試験時）
は、各１対の本体側接続端子がそれぞれ接触子により短
絡されて接続され、これら本体側接続端子が設けられて
いない状態と等価になり、試験継電器が本来の実装状態
に保たれる。

【００２３】つぎに、動作試験を行うため、プラグ体を
本体に装着し、各プラグ挿入口にプラグ体の各プラグロ
ッドを挿入すると、各１対の本体側接続端子間が開放さ
れ、各１対の本体側接続端子にプラグ体の各プラグ側接
続端子が接続される。

【００２４】このとき、計器用変成器の２次回路と試験
継電器との接続部においては、自動的に、２次回路から
試験継電器が切離され、試験継電器がプラグ側接続端子
を介して試験電源に接続される。

【００２５】また、試験継電器の接点の両端部にプラグ
体の切換スイッチの接点が接続される。

【００２６】そして、この切換スイッチを単独試験に切
換えると、自動的に、試験継電器の接点が遮断器のトリ
ップ回路等の実装回路から切離され、その接点信号が試
験装置に供給されて試験継電器の単独試験が行われる。

【００２７】さらに、この切換スイッチを連動試験に切
換えると、自動的に、試験継電器の接点が実装回路に再
接続され、試験電源の供給に基づく試験継電器の接点信
号により、例えば遮断器のトリップ回路が動作して遮断
器が開放され、その接点信号が連系動作の接点信号とし
て試験装置に供給され、試験継電器の連動試験が行われ
る。

【００２８】そして、試験終了後はプラグ体を本体から
取外すことにより、自動的に、各部が試験前の状態に戻
る。

【００２９】そのため、従来のトリップロック端子を設
けることなく、しかも、試験装置の入力部等の配線変更
作業を行うことなく、本体にプラグ体を着脱する簡単な
プラグ挿入とスイッチ切換えとにより、短時間に迅速に
試験継電器の単独及び連系の動作試験が行える。

【００３０】しかも、スイッチギヤ等を製造する際は、
本体のみをスイッチギヤ等に設ければよく、スイッチギ
ヤ等に取付ける部品数が少なく、その取付作業も簡単で
あり、スイッチギヤ等の生産性の向上及び製作が効率よ
く行え、コストダウンを図ることができる。

【００３１】

【発明の実施の形態】本発明の実施の１形態につき、図
１ないし図４を参照して説明する。まず、本発明の試験
用端子装置の構造について、図１及び図２を参照して説
明する。図１の（ａ），（ｂ）は、例えばスイッチギヤ
の制御盤のパネルに取付けられる本体１６の正面図，背
面図であり、同図の（ｃ）はパネルに取付けた状態の切
断側面図である。

【００３２】そして、本体１６は、正面板１７に、通常
は着脱自在のカバー（キャップ）１８で閉塞された複数
のプラグ挿入口１９が一列に配設され、正面板１７の後
方の本体ケース２０の背面部２１に、プラグ挿入口１９
毎に１対の本体側接続端子２２ａ，２２ｂが着脱自在の
端子銘板２３を介して上下に配設される。

【００３３】さらに、本体ケース２０内において、各１
対の本体側接続端子２２ａ，２２ｂは、プラグ挿入によ
る不用意な端子間の開放を防止するため、後述のプラグ
ロッドの非挿入時、接触子２４ａ，２４ｂの主接触子回
路と、接触子２４ａ，２４ｂより挿入口１９側に位置し
た接触子２５ａ，２５ｂの副接触子回路との２重接触子
回路により短絡して相互に接続される。

【００３４】なお、本体側接続端子２２ａに接続された
上側の接触子２４ａ，２５ａの端部と、本体側接続端子
２２ｂに接続された下側の接触子２４ｂ，２５ｂの端部
とがプラグ挿入口１９の中央で接触し、主，副接触子回
路は、それぞれ中央部に接点を有する横向きのＷ字状に
形成されている。

【００３５】また、主接触子回路を形成する接触子２４
ａ，２４ｂの接触端部は、ばね等の弾性体により、互に
接近する方向に付勢されている。

【００３６】さらに、図１では左端のプラグ挿入口１９
の１対の本体側接続端子２２ａ，２２ｂをＰ１，Ｐ２の
端子とし、その右隣りのプラグ挿入口１９の１対の本体
側接続端子２２ａ，２２ｂをＰ３，Ｐ４の端子とし、以
下同様にして、右端のプラグ挿入口１９の本体側接続端
子２２ａ，２２ｂをＰ１１，Ｐ１２の端子とし、正面板
１７の各プラグ挿入口１９の近傍及び端子銘板２３に、
各本体側接続端子２２ａ，２２ｂの端子番号Ｐ１〜Ｐ１
２を記載している。

【００３７】図２の（ａ）は本体１６に着脱自在に装着
されるプラグ体２６の正面図，同図の（ｂ）はプラグ体
２６の一部の切断側面図である。

【００３８】そして、プラグ体２６は本体１６の正面板
１７に重なるプラグケース２７を有し、このケース２７
の裏面から突出した各プラグロッド２８が本体１６の各
プラグ挿入口１９に挿入されてプラグ体２６が本体１６
に装着される。

【００３９】各プラグロッド２８は外側面のほぼ上，下
の半周に適当な絶縁間隔を設けて接触子２９ａ，２９ｂ
それぞれが設けられ、両接触子２９ａ，２９ｂは、通
常、プラグケース２７内のリード３０ａ，３０ｂを介し
てプラグケース２７の正面側に突出したプラグロッド２
８毎の１対のプラグ側接続端子３１ａ，３１ｂそれぞれ
に接続される。

【００４０】なお、各１対のプラグ側接続端子３１ａ，
３１ｂは、端子接続等を考慮してプラグロッド２８毎に
上下にずらしてプラグケース２７に設けられている。

【００４１】そして、プラグ体２６を装着したときは、
各プラグロッド２８が本体１６の各プラグ挿入口１９の
主，副接触子回路の２接触子２４ａと２４ｂ，２５ａと
２５ｂの接点を押開き、各１対の本体側接続端子２２
ａ，２２ｂ間が開放される。

【００４２】このとき、上側の接触子２４ａ，２５ａが
プラグロッド２８の上側の接触子２９ａに接触し、下側
の接触子２４ｂ，２５ｂがプラグロッド２８の下側の接
触子２９ｂに接触し、通常は、各１対の本体側接続端子
２２ａ，２２ｂが各プラグロッド２８のプラグ側接続端
子３１ａ，３１ｂそれぞれに接続される。

【００４３】また、プラグケース２７の右側に単独試験
と連動試験との切換スイッチ３２が設けられ、このスイ
ッチ３２はプラグケース２７の内部で結線される。

【００４４】ところで、図２の（ａ）においては、各プ
ラグ側接続端子３１ａ，３１ｂに、対応する本体側接続
端子２２ａ，２２ｂの端子番号にダッシを付した端子番
号Ｐ１’〜Ｐ１２’を付し、プラグケース２７の表面
（正面）の各プラグ側接続端子３１ａ，３１ｂの近傍に
それぞれの端子番号Ｐ１’〜Ｐ１２’を記載している。

【００４５】そして、スイッチ３２の結線に用いられる
Ｐ７’〜Ｐ１０’のプラグ側接続端子３１ａ，３１ｂに
ついては、リード線３０ａ，３０ｂがなく、それらのプ
ラグロッド２８の接触子２９ａ，２９ｂと接続されてい
ない。

【００４６】つぎに、この試験用端子装置が設けられた
電力設備の結線及び動作試験について、図３及び図４を
参照して説明する。

【００４７】図３は図５に対応する単線結線図であり、
計器用変流器４の２次回路の過電流継電器６を試験対象
の保護継電器とする場合を示し、図２と同一符号は同一
もしくは相当するものを示す。

【００４８】この図３において、１６ａは計器用変流器
４の２次回路と過電流継電器６との接続部に位置した本
体１６の端子部であり、Ｐ１〜Ｐ６の本体側接続端子２
２ａ，２２ｂからなる。

【００４９】１６ｂ，１６ｃは接点６’の両端部に位置
した本体１６の端子部であり、端子部１６ｂはＰ７，Ｐ
８の本体側接続端子２２ａ，２２ｂからなり、端子部１
６ｃはＰ９，Ｐ１０の本体側接続端子２２ａ，２２ｂか
らなる。

【００５０】１６ｄは試験装置１５の連系動作の接点信
号（補助接点３”の接点信号）の入力部に設けられた本
体１６の端子部であり、Ｐ１１，Ｐ１２の本体側接続端
子２２ａ，２２ｂからなる。

【００５１】そして、各端子部１６ａ〜１６ｄ等の３相
の具体的な結線は図４に示すようになる。

【００５２】すなわち、端子部１６ａにおいては、計器
用変流器４の２次回路の各相に本体１６のＰ１，Ｐ３，
Ｐ５の各本体側接続端子２２ａが接続され、Ｐ２，Ｐ
４，Ｐ６の各本体側接続端子２２ｂに過電流継電器６が
接続される。

【００５３】また、Ｐ２，Ｐ４，Ｐ６の各本体側接続端
子２２ｂに対応するプラグ体２６のＰ２’，Ｐ４’，Ｐ
６’の各プラグ側接続端子３１ｂに、試験スイッチ１３
を介して試験電源１２が接続される。

【００５４】そして、プラグ体２６を本体１６に装着す
ると、各プラグ挿入口１９へのプラグロッド２８の挿入
により、図４の破線に示すＰ１とＰ２，Ｐ３とＰ４，Ｐ
５とＰ６の各１対の本体側接続端子２２ａ，２２ｂ間の
接触子２４ａ，２４ｂ，２５ａ，２５ｂによる短絡接続
が開放され、２次回路から過電流継電器６が切離され、
この継電器６が試験電源１２に接続される。

【００５５】そして、試験スイッチ１３が投入されて試
験電源１２が過電流継電器６に供給されると、この継電
器６が動作してその接点６’が閉成する。

【００５６】なお、Ｐ１，Ｐ３，Ｐ５の本体側接続端子
２２ａは、試験中は、Ｐ１’，Ｐ３’，Ｐ５’の各プラ
グ側接続端子３１間の短絡片３３ａ，３３ｂにより短絡
される。

【００５７】つぎに、接点６’の正側（電源端子８側）
の端子部１６ｂにおいては、Ｐ７，Ｐ８の本体側接続端
子２２ａ，２２ｂが電源端子８，接点６’それぞれに接
続され、接点６’の負側（電源端子９側）の端子部１６
ｃにおいては、Ｐ９，Ｐ１０の本体側接続端子２２ａ，
２２ｂが接点６’，トリップコイル１１それぞれに接続
される。

【００５８】一方、プラグ体２６の切換スイッチ３２
は、連動する４接点として、単独試験用の２個の常開接
点３２ａ，３２ｂと、連動試験用の２個の常閉接点３２
ｃ，３２ｄとを有する。

【００５９】そして、プラグケース２７内での結線によ
り、接点３２ａはＰ８’のプラグ側接続端子３１ｂと，
その接触子２９ｂとの間に設けられ、接点３２ｂはＰ
９’のプラグ側接続端子３１ａと，その接触子２９ａと
の間に設けられる。

【００６０】また、接点３２ｃはＰ７’の接触子２９ａ
とＰ８’の接触子２９ｂとの間に設けられ、接点３２ｄ
はＰ９’の接触子２９ａとＰ１０’の接触子２９ｂとの
間に設けられる。

【００６１】したがって、プラグ体２６の非装着時（通
常）は、接点３２ａ，３２ｂが開放，接点３２ｃ，３２
ｄが閉成に保持され、接点６’が接点３２ｃ，３２ｄを
介してトリップ回路７に接続される。

【００６２】一方、単独試験時は、接点３２ａ，３２ｂ
が閉成されて接点３２ｃ，３２ｄが開放されるため、接
点６’がトリップ回路７から切離される。

【００６３】このとき、Ｐ８’，Ｐ９’のプラグ側接続
端子３１ｂ，３１ａに試験装置１５の単独試験の入力部
が接続され、接点６’の接点信号が試験装置１５に供給
されて過電流継電器６の動作が単独試験される。

【００６４】つぎに、試験装置１５の連動試験の入力部
に位置した端子部１６ｄにおいては、Ｐ１１，Ｐ１２の
本体側接続端子２２ａ，２２ｂに補助接点３”の両端が
接続され、試験装置１５に接続されたＰ１１’，Ｐ１
２’のプラグ側接続端子３１ａ，３１ｂは、接点３２ａ
〜３２ｄに連動するプラグケース２７内の常閉接点３２
ｅ，３２ｆを介してＰ１１’の接触子２９ａ，Ｐ１２’
の接触子２９ｂそれぞれに接続される。

【００６５】そして、連動試験時は非装着時（通常）と
同様であり、切換スイッチ３２の接点３２ｃ，３２ｄを
介して接点６’がトリップ回路７に接続され、このと
き、接点３２ａ，３２ｂの開放によりＰ８’，Ｐ９’の
プラグ側接続端子３１ｂ，３１ａと試験装置１５との間
は開放されるとともに、接点３”が接点３２ｅ，３２ｆ
を介して試験装置１５に接続される。

【００６６】この状態で、試験スイッチ１３を投入する
と、過電流継電器６が動作して接点６’が閉成され、ト
リップコイル１１が通電されて遮断器３が開放され、こ
の開放に連動して接点３’が開放されて接点３”が閉成
され、この接点３”の接点信号の変化に基づき、試験装
置１５により、過電流継電器６の作動から接点３”の開
放までの時間等を計測して連動試験が行われる。

【００６７】そして、一連の試験が終了すると、本体１
６からプラグ体２６が取外されて試験電源１２，試験装
置１５等が切離される。

【００６８】したがって、従来のトリップロック端子１
０を設けることなく、しかも、従来のような煩雑な配線
作業やその変更作業等を行うことなく、本体１６にプラ
グ体２６を装着し、切換スイッチ３２を切換えるのみ
で、過電流継電器６の単独及び連動の一連の動作試験が
簡単かつ短時間に行える。

【００６９】なお、トリップロック端子１０が設けられ
ないため、試験終了時にトリップロック端子１０の短絡
片１０ｃを締付けて端子１０を短絡状態に戻したりする
必要がなく、トリップロック端子１０の締忘れ等の作業
ミスが発生することもない。

【００７０】また、スイッチギヤ等に本体１６を取付け
て端子結線するのみでよいため、スイッチギヤ等の製造
における取付け部品数が少なくて済み、生産性の向上及
びコストダウンを図ることができる。

【００７１】ところで、電力系統１の複数のフィーダ線
の過電流継電器の動作試験を行う場合には、各フィーダ
線の過電流継電器の２次回路側に図１の本体１６をそれ
ぞれ設けて図３，図４のように配線し、プラグ体２６及
び試験電源１３，試験装置１５等を共用し、単独，連動
の一連の試験が終了する毎に、プラグ体２６をつぎのフ
ィーダ線の本体１６に装着して各過電流継電器の動作試
験を順に行えばよい。

【００７２】そして、本体１６及びプラグ体２６の構造
は実施の形態のものに限られるものではない。

【００７３】また、計器用変成器及びその２次回路の試
験対象の保護継電器が、実施の形態の計器用変流器４及
び過電流継電器６以外であっても同様の効果が得られ
る。

【００７４】

【発明の効果】本発明は、以下の効果を奏する。本発明
の試験用端子装置は本体１６と，本体１６に着脱自在に
装着されるプラグ体２６とからなり、試験対象の保護継
電器（過電流継電器６），すなわち試験継電器６の動作
試験を行うため、プラグ体２６を本体１６に装着し、本
体１６の各プラグ挿入口１９にプラグ体２６の各プラグ
ロッド２８を挿入すると、本体１６の各１対の本体側接
続端子２１ａ，２１ｂ間が開放されて各１対の本体側接
続端子２２ａ，２２ｂにプラグ体２６の各プラグ側接続
端子３１ａ，３１ｂが接続される。

【００７５】このとき、計器用変成器（計器用変流器
４）の２次回路と試験継電器６との接続部においては、
本体１６の端子部１６ａへのプラグ挿入により、自動的
に、２次回路から試験継電器６が切離され、試験継電器
６がプラグ側接続端子３１ａ，３１ｂを介して試験電源
１２に接続される。

【００７６】また、試験継電器６の接点６’の両端部の
本体１６の端子部１６ｂ，１６ｃへのプラグ挿入によ
り、プラグ体２６の切換スイッチ３２の接点３２ａ〜３
２ｄが接続され、切換スイッチ３２を単独試験に切換え
ると、自動的に、試験継電器６の接点６’が遮断器３の
トリップ回路７等の実装回路から切離され、その接点信
号が試験装置１５に供給されて試験継電器６の単独試験
が行われる。

【００７７】さらに、この切換スイッチ３２を連動試験
に切換えると、自動的に、試験継電器６の接点６’がト
リップ回路７等に再接続され、試験電源１２の供給に基
づく試験継電器６の接点信号により、例えばトリップ回
路７が動作して遮断器３が開放され、その接点信号が連
動試験の接点信号として試験装置１５に供給され、試験
継電器６の連動試験が行われる。

【００７８】そして、試験終了後は、プラグ体２６を本
体１６から取外すことにより、自動的に、各部が試験前
の通常の状態に戻る。

【００７９】したがって、従来のトリップロック端子を
設けることなく、しかも、試験装置１５の入力部等の煩
雑な配線変更作業を行うことなく、本体１６にプラグ体
２６を着脱する簡単な作業で短時間に迅速に試験継電器
６の単独試験及び連動試験を行うことができる。

【００８０】しかも、スイッチギヤ等を製造する際は、
本体１６をスイッチギヤ等に取付ければよく、取付ける
部品数が減少し、その取付作業も容易であり、スイッチ
ギヤ等の生産効率が向上し、そのコストダウンを図るこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ），（ｂ），（ｃ）は本発明の実施の１形
態の本体の正面図，背面の端子台の説明図、パネルに取
付けた状態の切断左側面図である。

【図２】（ａ），（ｂ）は図１の本体に装着されるプラ
グ体の正面図，一部の拡大切断面図である。

【図３】図１の本体に図２のプラグ体を装着して試験す
る際の単線結線図である。

【図４】図３の具体的な３線結線図である。

【図５】従来例の単線結線図である。

【図６】（ａ），（ｂ）は図５のトリップロック端子の
正面図，側面図である。

【符号の説明】

４ 計器用変流器 ６ 過電流継電器 ６’ 過電流継電器６の接点 ７ トリップ回路 １２ 試験電源 １５ 試験装置 １６ 本体 １６ａ〜１６ｄ 端子部 ２１ａ，２１ｂ 本体側接続端子 ２２ａ，２２ｂ 本体側接続端子 ２６ プラグ体 ２８ プラグロッド ３１ａ，３１ｂ プラグ側接続端子 ３２ 切換スイッチ ３２ａ〜３２ｄ 切換スイッチ３２の接点

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電力設備の計器用変成器の２次回路の過
   電流継電器等の試験対象の保護継電器を、前記２次回路
   から切離して試験電源に接続し、 前記保護継電器の接点信号，前記保護継電器の動作によ
   って生じる遮断器のトリップ動作等の連系動作の接点信
   号を試験装置に供給し、 前記保護継電器の単独試験，連動試験を行わせる試験用
   端子装置であって、 前記２次回路と前記保護継電器との接続部，前記保護継
   電器の接点の両端部及び前記試験装置の前記連系動作の
   接点信号の入力部それぞれに端子部を有し，該各端子部
   にそれぞれプラグ挿入口及び該各挿入口へのプラグロッ
   ドの挿入より押開かれる接触子を介して短絡した各１対
   の本体側接続端子が設けられた本体と、 前記各プラグロッドを有するとともに，該各プラグロッ
   ドを介して前記各プラグ挿入口の１対の本体側接続端子
   にそれぞれ接続される複数のプラグ側接続端子及び前記
   単独試験，前記連動試験の切換スイッチを有し，前記本
   体に着脱自在に装着されるプラグ体とからなり、 前記２次回路と前記保護継電器との接続部に位置した端
   子部は、各１対の本体側接続端子の一方が前記２次回路
   に接続されて他方が前記保護継電器に接続され、前記各
   プラグ挿入口への前記各プラグロッドの挿入により、前
   記２次回路から前記保護継電器を切離し、前記保護継電
   器をプラグ側接続端子を介して前記試験電源に接続し、 前記保護継電器の接点の両端部に位置した端子部は、各
   １対の本体側接続端子が前記保護継電器の接点の両端部
   それぞれの通電路に設けられ、各プラグ挿入口へのプラ
   グロッドの挿入により、前記保護継電器の接点の両端部
   の通電路に前記切換スイッチの接点を挿入し、 前記切換スイッチは、前記単独試験に切換えられたとき
   にのみ、前記保護継電器の接点の両端部を前記通電路か
   ら切離し、前記保護継電器の接点をプラグ側接続端子を
   介して前記試験装置に接続し、 前記試験装置の前記連系動作の入力部に位置した端子部
   は、各１対の本体側接続端子が前記試験装置に接続さ
   れ，前記各プラグ挿入口への前記各プラグロッドの挿入
   により、プラグ側接続端子の前記連系動作の接点信号を
   前記試験装置の前記連系動作の接点信号の入力部に伝送
   することを特徴とする試験用端子装置。