JP2001108660A - 被膜検査方法および装置 - Google Patents
被膜検査方法および装置Info
- Publication number
- JP2001108660A JP2001108660A JP29093099A JP29093099A JP2001108660A JP 2001108660 A JP2001108660 A JP 2001108660A JP 29093099 A JP29093099 A JP 29093099A JP 29093099 A JP29093099 A JP 29093099A JP 2001108660 A JP2001108660 A JP 2001108660A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating
- metal material
- voltage
- partial discharge
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 金属材の表面に形成した塗装または防食用被
膜の内部欠陥および被膜と金属材表面との間に存在する
欠陥を、容易に正確にしかも短時間に検出することがで
きる。 【解決手段】 金属材２金属材２の面に形成された被膜
３の間に電圧を印加し、印加電圧値の上昇に伴って被膜
３内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少な
くとも一方に生じた部分放電に基づいて、被膜３の内部
および被膜３と金属材２の表面との間に存在する欠陥を
検出する。
膜の内部欠陥および被膜と金属材表面との間に存在する
欠陥を、容易に正確にしかも短時間に検出することがで
きる。 【解決手段】 金属材２金属材２の面に形成された被膜
３の間に電圧を印加し、印加電圧値の上昇に伴って被膜
３内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少な
くとも一方に生じた部分放電に基づいて、被膜３の内部
および被膜３と金属材２の表面との間に存在する欠陥を
検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、被膜検査方法お
よび装置、特に、金属材の表面に形成した塗装または防
食用被膜の内部欠陥および被膜と金属材表面との間に存
在する欠陥を、容易に正確にしかも短時間に検出するこ
とが可能な被膜検査方法および装置に関するものであ
る。
よび装置、特に、金属材の表面に形成した塗装または防
食用被膜の内部欠陥および被膜と金属材表面との間に存
在する欠陥を、容易に正確にしかも短時間に検出するこ
とが可能な被膜検査方法および装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】鋼矢板や被覆鋼管等の金属材の表面に防
食または美観を目的として、ポリエチレン等の被膜を形
成する場合、被膜内部および被膜と金属材表面との間に
欠陥が存在することがある。
食または美観を目的として、ポリエチレン等の被膜を形
成する場合、被膜内部および被膜と金属材表面との間に
欠陥が存在することがある。
【０００３】なお、被膜内部に存在する欠陥とは、ボイ
ド（空隙）等である。被膜内部にこのような欠陥が存在
すると、被膜による絶縁性が低下したり、水の浸透が容
易になって、金属材の腐食を招く。一方、被膜と金属材
表面との間の欠陥とは、うき、ふくれ、空気ボイド、水
等である。被膜と金属材表面との間にこのような欠陥が
存在すると、金属材と被膜との密着性が低下して、被膜
の単位面積当たりの接着力が低下して、被膜が金属材か
ら剥離することによる欠陥が生じ、金属材の腐食を招
く。
ド（空隙）等である。被膜内部にこのような欠陥が存在
すると、被膜による絶縁性が低下したり、水の浸透が容
易になって、金属材の腐食を招く。一方、被膜と金属材
表面との間の欠陥とは、うき、ふくれ、空気ボイド、水
等である。被膜と金属材表面との間にこのような欠陥が
存在すると、金属材と被膜との密着性が低下して、被膜
の単位面積当たりの接着力が低下して、被膜が金属材か
ら剥離することによる欠陥が生じ、金属材の腐食を招
く。
【０００４】そこで、従来、上述した欠陥を検出する手
段として、以下の手段がとられていた。 （１）指触検査法 実際に指で被膜表面を触って、うき、ふくれ等の有無を
検査する。 （２）目視検査法 被膜を目で見て、うき、ふくれ等の有無を検査する。 （３）絶縁抵抗測定法 欠陥の有無により電気抵抗が変化することを利用するも
ので、被膜に電流を流して被膜の電気抵抗を測定し、抵
抗値の大きさで欠陥の有無を検出する。 （４）ピンホール試験 金属材と被膜との間に高電圧（１万から２万Ｖ）をか
け、ピンホール個所で電流が流れることを利用して、欠
陥の有無を検査する。 （５）剥離検査法 被膜に剥離試験治具を取り付け、この治具を試験機によ
って引っ張り、被膜が剥離する際の力の大きさによっ
て、うき、ふくれ等の有無を検査する。
段として、以下の手段がとられていた。 （１）指触検査法 実際に指で被膜表面を触って、うき、ふくれ等の有無を
検査する。 （２）目視検査法 被膜を目で見て、うき、ふくれ等の有無を検査する。 （３）絶縁抵抗測定法 欠陥の有無により電気抵抗が変化することを利用するも
ので、被膜に電流を流して被膜の電気抵抗を測定し、抵
抗値の大きさで欠陥の有無を検出する。 （４）ピンホール試験 金属材と被膜との間に高電圧（１万から２万Ｖ）をか
け、ピンホール個所で電流が流れることを利用して、欠
陥の有無を検査する。 （５）剥離検査法 被膜に剥離試験治具を取り付け、この治具を試験機によ
って引っ張り、被膜が剥離する際の力の大きさによっ
て、うき、ふくれ等の有無を検査する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来技術は、以下のような問題を有していた。
た従来技術は、以下のような問題を有していた。
【０００６】（１）および（２）の方法は、比較的大き
な欠陥しか検出することができないと共に検出精度に個
人差によるバラツキが生じる。（３）および（４）の方
法は、微小欠陥や内部欠陥を検出することができない。
そして、（５）の方法は、検査後の補修が必要となるの
で、時間がかかりコスト高となる。
な欠陥しか検出することができないと共に検出精度に個
人差によるバラツキが生じる。（３）および（４）の方
法は、微小欠陥や内部欠陥を検出することができない。
そして、（５）の方法は、検査後の補修が必要となるの
で、時間がかかりコスト高となる。
【０００７】従って、この発明の目的は、金属材の表面
に形成した被膜の内部欠陥および被膜と金属材表面との
間に存在する欠陥を容易に正確にしかも短時間に検出す
ることが可能な被膜検査方法および装置を提供すること
にある。
に形成した被膜の内部欠陥および被膜と金属材表面との
間に存在する欠陥を容易に正確にしかも短時間に検出す
ることが可能な被膜検査方法および装置を提供すること
にある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】次に、部分放電を利用し
た、この発明の原理について説明する。
た、この発明の原理について説明する。
【０００９】部分放電とは、次のような現象をいう。絶
縁物を挟んだ電極は、コンデンサと見なせる。図６に示
すように、その絶縁物中に欠陥としてのボイドが存在し
て、絶縁物の組成が一様でない場合には、図７の等価回
路図に示すように、種々の容量を持つコンデンサの集合
と見なせる。図７において、Ｃvがボイドの静電容量を
示す。
縁物を挟んだ電極は、コンデンサと見なせる。図６に示
すように、その絶縁物中に欠陥としてのボイドが存在し
て、絶縁物の組成が一様でない場合には、図７の等価回
路図に示すように、種々の容量を持つコンデンサの集合
と見なせる。図７において、Ｃvがボイドの静電容量を
示す。
【００１０】通常、ボイドは、空気等の気体で形成され
ており、その大きさは微小である。従って、Ｃvも小さ
く、他のコンデンサＣ2、Ｃ3に比べて小さい。電極間に
電圧を印加すると、静電容量の小さいボイドにかかる。
静電容量が小さいボイドは、比較的低い電圧で放電する
が、ボイド間で放電が発生しても絶縁物があるので、電
極間を短絡する放電には至らない。
ており、その大きさは微小である。従って、Ｃvも小さ
く、他のコンデンサＣ2、Ｃ3に比べて小さい。電極間に
電圧を印加すると、静電容量の小さいボイドにかかる。
静電容量が小さいボイドは、比較的低い電圧で放電する
が、ボイド間で放電が発生しても絶縁物があるので、電
極間を短絡する放電には至らない。
【００１１】このように、絶縁物中のボイドで放電が発
生しても、電極間を短絡する放電には至らない放電を部
分放電という。
生しても、電極間を短絡する放電には至らない放電を部
分放電という。
【００１２】部分放電に限らず、通常、放電現象は、ラ
ンダムに発生するので、同じ被試験物に同じ電圧を印加
しても、常に同じ量の部分放電が生じるとは限らない。
また、部分放電は、パルス状に電流が流れる現象である
ので、その大きさを電流の実効値で表わすことが困難で
ある。従って、部分放電量は、電流値ではなく、電流を
積分した電荷量（Ｃ）で表わすのが一般的である。
ンダムに発生するので、同じ被試験物に同じ電圧を印加
しても、常に同じ量の部分放電が生じるとは限らない。
また、部分放電は、パルス状に電流が流れる現象である
ので、その大きさを電流の実効値で表わすことが困難で
ある。従って、部分放電量は、電流値ではなく、電流を
積分した電荷量（Ｃ）で表わすのが一般的である。
【００１３】図８に電極間に印加された電圧と放電との
関係を示す。図８に示すように、電圧を徐々に上昇させ
て行くと、先ず、部分放電が開始される（Ａ）。次に、
（Ｂ）から（Ｃ）の安定領域に入り、この領域におい
て、絶縁物中の複数のボイドで部分放電が発生する。そ
の後、（Ｃ）から（Ｄ）の部分放電の急増域を経て、各
ボイド間の絶縁が破壊されてアーク放電に移行する
（Ｅ）。
関係を示す。図８に示すように、電圧を徐々に上昇させ
て行くと、先ず、部分放電が開始される（Ａ）。次に、
（Ｂ）から（Ｃ）の安定領域に入り、この領域におい
て、絶縁物中の複数のボイドで部分放電が発生する。そ
の後、（Ｃ）から（Ｄ）の部分放電の急増域を経て、各
ボイド間の絶縁が破壊されてアーク放電に移行する
（Ｅ）。
【００１４】本願発明者等は、上述した部分放電を、金
属材の表面に形成された被膜の欠陥検出に利用すれば、
被膜の内部に存在するボイド等の欠陥、および、被膜と
金属材表面との間に存在する、うき、ふくれ等の欠陥を
容易に正確にしかも短時間に検出することができるとい
った知見を得た。
属材の表面に形成された被膜の欠陥検出に利用すれば、
被膜の内部に存在するボイド等の欠陥、および、被膜と
金属材表面との間に存在する、うき、ふくれ等の欠陥を
容易に正確にしかも短時間に検出することができるとい
った知見を得た。
【００１５】この発明は、上述した知見に基づきなされ
たものであって、請求項１記載の発明は、金属材と前記
金属材の表面に形成された被膜との間に電圧を印加し、
印加電圧値の上昇に伴って前記被膜の内部および前記被
膜と前記金属材の表面との間の内の少なくとも一方に生
じた部分放電に基づいて、前記被膜の内部および前記被
膜と前記金属材の表面との間に存在する欠陥を検出する
ことに特徴を有するものである。
たものであって、請求項１記載の発明は、金属材と前記
金属材の表面に形成された被膜との間に電圧を印加し、
印加電圧値の上昇に伴って前記被膜の内部および前記被
膜と前記金属材の表面との間の内の少なくとも一方に生
じた部分放電に基づいて、前記被膜の内部および前記被
膜と前記金属材の表面との間に存在する欠陥を検出する
ことに特徴を有するものである。
【００１６】請求項２記載の発明は、金属材と前記金属
材の表面に形成された被膜との間に交流電圧を印加し、
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間の内の少なくとも一方に生じた部分放電による電流
を、印加電圧の所定サイクル毎に積分して、印加電圧を
上昇させながら印加電圧毎に部分放電電荷量を測定し、
部分放電が開始する印加電圧値と予め設定した閾値とを
比較し、そして、この比較結果に基づいて、前記被膜の
内部および前記被膜と前記金属材の表面との間に存在す
る欠陥の有無を検出することに特徴を有するものであ
る。
材の表面に形成された被膜との間に交流電圧を印加し、
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間の内の少なくとも一方に生じた部分放電による電流
を、印加電圧の所定サイクル毎に積分して、印加電圧を
上昇させながら印加電圧毎に部分放電電荷量を測定し、
部分放電が開始する印加電圧値と予め設定した閾値とを
比較し、そして、この比較結果に基づいて、前記被膜の
内部および前記被膜と前記金属材の表面との間に存在す
る欠陥の有無を検出することに特徴を有するものであ
る。
【００１７】請求項３記載の発明は、金属材と前記金属
材の表面に形成された被膜との間に交流電圧を印加し、
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間の内の少なくとも一方に生じた部分放電による電流
を、印加電圧の所定サイクル毎に積分して、印加電圧を
上昇させながら印加電圧毎に部分放電電荷量を測定し、
このようにして測定した部分放電電荷量と予め設定した
閾値とを比較し、そして、この比較結果に基づいて、前
記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との間
に存在する欠陥の有無を検出することに特徴を有するも
のである。
材の表面に形成された被膜との間に交流電圧を印加し、
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間の内の少なくとも一方に生じた部分放電による電流
を、印加電圧の所定サイクル毎に積分して、印加電圧を
上昇させながら印加電圧毎に部分放電電荷量を測定し、
このようにして測定した部分放電電荷量と予め設定した
閾値とを比較し、そして、この比較結果に基づいて、前
記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との間
に存在する欠陥の有無を検出することに特徴を有するも
のである。
【００１８】請求項４記載の発明は、金属材と前記金属
材の表面に形成された被膜との間に交流電圧を印加し、
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間の内の少なくとも一方に生じた部分放電による電流
を、印加電圧の所定サイクル毎に積分して、印加電圧を
上昇させながら印加電圧毎に部分放電電荷量を測定し、
このようにして測定した部分放電電荷量が予め設定した
閾値（Ｃｓ）以上になる印加電圧（Ｖｏ）と予め設定し
た判定基準印加電圧の閾値（Ｖｓ）とを比較し、そし
て、この比較結果に基づいて、前記被膜の内部および前
記被膜と前記金属材の表面との間に存在する欠陥の種類
を判定することに特徴を有するものである。
材の表面に形成された被膜との間に交流電圧を印加し、
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間の内の少なくとも一方に生じた部分放電による電流
を、印加電圧の所定サイクル毎に積分して、印加電圧を
上昇させながら印加電圧毎に部分放電電荷量を測定し、
このようにして測定した部分放電電荷量が予め設定した
閾値（Ｃｓ）以上になる印加電圧（Ｖｏ）と予め設定し
た判定基準印加電圧の閾値（Ｖｓ）とを比較し、そし
て、この比較結果に基づいて、前記被膜の内部および前
記被膜と前記金属材の表面との間に存在する欠陥の種類
を判定することに特徴を有するものである。
【００１９】請求項５記載の発明は、前記印加電圧（Ｖ
ｏ）が前記閾値（Ｖｓ）より小さい場合には、前記被膜
の内部および前記被膜と前記金属材の表面との間の内の
少なくとも一方に水が存在する欠陥であると判定し、一
方、前記印加電圧（Ｖｏ）が前記閾値（Ｖｓ）より大き
い場合には、前記被膜の内部および前記被膜と前記金属
材の表面との間の内の少なくとも一方に空気ボイドが存
在する欠陥であると判定することに特徴を有するもので
ある。
ｏ）が前記閾値（Ｖｓ）より小さい場合には、前記被膜
の内部および前記被膜と前記金属材の表面との間の内の
少なくとも一方に水が存在する欠陥であると判定し、一
方、前記印加電圧（Ｖｏ）が前記閾値（Ｖｓ）より大き
い場合には、前記被膜の内部および前記被膜と前記金属
材の表面との間の内の少なくとも一方に空気ボイドが存
在する欠陥であると判定することに特徴を有するもので
ある。
【００２０】請求項６記載の発明は、金属材と前記金属
材の表面に形成された被膜との間に交流電圧を印加し、
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間の内の少なくとも一方に生じた部分放電による電流
を、印加電圧の所定サイクル毎に積分して、印加電圧を
上昇させながら印加電圧毎に部分放電電荷量を測定し、
そして、印加電圧と部分放電電荷量との関係に基づい
て、前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面
との間の内の少なくとも一方に存在する、前記被膜に対
する欠陥の割合を検出することに特徴を有するものであ
る。
材の表面に形成された被膜との間に交流電圧を印加し、
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間の内の少なくとも一方に生じた部分放電による電流
を、印加電圧の所定サイクル毎に積分して、印加電圧を
上昇させながら印加電圧毎に部分放電電荷量を測定し、
そして、印加電圧と部分放電電荷量との関係に基づい
て、前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面
との間の内の少なくとも一方に存在する、前記被膜に対
する欠陥の割合を検出することに特徴を有するものであ
る。
【００２１】請求項７記載の発明は、金属材と前記金属
材の表面に形成された被膜との間に電圧を印加するため
の電源と、前記電源による印加電圧値の上昇に伴って前
記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との間
の内の少なくとも一方に生じた部分放電を検出するため
の部分放電検出器と、前記部分放電検出器からの検出信
号に基づいて、前記被膜の内部および前記被膜と前記金
属材の表面との間に欠陥が存在するか否かを判定するた
めの欠陥判定器とを備えたことに特徴を有するものであ
る。
材の表面に形成された被膜との間に電圧を印加するため
の電源と、前記電源による印加電圧値の上昇に伴って前
記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との間
の内の少なくとも一方に生じた部分放電を検出するため
の部分放電検出器と、前記部分放電検出器からの検出信
号に基づいて、前記被膜の内部および前記被膜と前記金
属材の表面との間に欠陥が存在するか否かを判定するた
めの欠陥判定器とを備えたことに特徴を有するものであ
る。
【００２２】
【発明の実施の形態】次に、この発明の被膜検査方法お
よび装置の一実施態様を、図面を参照しながら説明す
る。
よび装置の一実施態様を、図面を参照しながら説明す
る。
【００２３】図１は、この発明の被膜検査装置を示すブ
ロック図、図２は、印加電圧値と印加電圧の閾値とを比
較して、欠陥の有無を検出する場合の部分放電電荷量と
印加電圧との関係を示す図、図３は、部分放電電荷量と
部分放電電荷量の閾値とを比較して、欠陥の有無を検出
する場合の部分放電電荷量と印加電圧との関係を示す
図、図４は、部分放電電荷量が予め設定した閾値（Ｃ
ｓ）以上になる印加電圧（Ｖｏ）と判定基準印加電圧の
閾値（Ｖｓ）とを比較して、欠陥の種類を判定する場合
の部分放電電荷量と印加電圧との関係を示す図、図５
は、印加電圧と部分放電電荷量との関係に基づいて、被
膜に対する欠陥の割合を検出する場合の部分放電電荷量
と印加電圧との関係を示す図である。
ロック図、図２は、印加電圧値と印加電圧の閾値とを比
較して、欠陥の有無を検出する場合の部分放電電荷量と
印加電圧との関係を示す図、図３は、部分放電電荷量と
部分放電電荷量の閾値とを比較して、欠陥の有無を検出
する場合の部分放電電荷量と印加電圧との関係を示す
図、図４は、部分放電電荷量が予め設定した閾値（Ｃ
ｓ）以上になる印加電圧（Ｖｏ）と判定基準印加電圧の
閾値（Ｖｓ）とを比較して、欠陥の種類を判定する場合
の部分放電電荷量と印加電圧との関係を示す図、図５
は、印加電圧と部分放電電荷量との関係に基づいて、被
膜に対する欠陥の割合を検出する場合の部分放電電荷量
と印加電圧との関係を示す図である。
【００２４】図１において、１は、交流電源であり、鋼
板等の金属材２と金属材２の表面に形成されたポリエチ
レン等の被膜３との間に電極４を介して交流電圧を上昇
させながら印加する。５は、後述する部分放電によるパ
ルス電流が電源１側に流れるのを防止するためのブロッ
キングインピーダンス、６は、部分放電検出器であり、
電源１による印加電圧値の上昇に伴って被膜３の内部お
よび被膜と金属材２の表面との間の内の少なくとも一方
に生じた部分放電を検出する。７は、部分放電検出器６
からの検出信号に基づいて、被膜３の内部および被膜３
と金属材２の表面との間に欠陥が存在するか否かを判定
するための欠陥判定器である。
板等の金属材２と金属材２の表面に形成されたポリエチ
レン等の被膜３との間に電極４を介して交流電圧を上昇
させながら印加する。５は、後述する部分放電によるパ
ルス電流が電源１側に流れるのを防止するためのブロッ
キングインピーダンス、６は、部分放電検出器であり、
電源１による印加電圧値の上昇に伴って被膜３の内部お
よび被膜と金属材２の表面との間の内の少なくとも一方
に生じた部分放電を検出する。７は、部分放電検出器６
からの検出信号に基づいて、被膜３の内部および被膜３
と金属材２の表面との間に欠陥が存在するか否かを判定
するための欠陥判定器である。
【００２５】欠陥判定器７は、図２に示すように、被膜
３の内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少
なくとも一方に生じた部分放電による電流を、印加電圧
の所定サイクル毎（例えば、１サイクル毎）に積分し
て、印加電圧毎に部分放電電荷量（Ｃ１）を測定し、部
分放電が開始する印加電圧値（Ｖ１）と予め設定した印
加電圧の閾値（ＶＳ１）とを比較し、そして、この比較
結果に基づいて、被膜３の内部および被膜３と金属材２
の表面との間に存在する欠陥の有無を検出する。（請求
項２） 図２において、Ｃ２は、無欠陥の場合の部分放電電荷
量、Ｖ２は、無欠陥の場合の部分放電の開始印加電圧で
ある。Ｖ２は、欠陥有の場合の部分放電の開始印加電圧
Ｖ１に比べて高くなっている。
３の内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少
なくとも一方に生じた部分放電による電流を、印加電圧
の所定サイクル毎（例えば、１サイクル毎）に積分し
て、印加電圧毎に部分放電電荷量（Ｃ１）を測定し、部
分放電が開始する印加電圧値（Ｖ１）と予め設定した印
加電圧の閾値（ＶＳ１）とを比較し、そして、この比較
結果に基づいて、被膜３の内部および被膜３と金属材２
の表面との間に存在する欠陥の有無を検出する。（請求
項２） 図２において、Ｃ２は、無欠陥の場合の部分放電電荷
量、Ｖ２は、無欠陥の場合の部分放電の開始印加電圧で
ある。Ｖ２は、欠陥有の場合の部分放電の開始印加電圧
Ｖ１に比べて高くなっている。
【００２６】欠陥判定器７は、図３に示すように、被膜
３の内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少
なくとも一方に生じた部分放電による電流を、印加電圧
の所定サイクル毎に積分して、印加電圧毎に部分放電電
荷量（Ｃ１）を測定し、このようにして測定した部分放
電電荷量（Ｃ１）と予め設定した部分放電電荷量の閾値
（ＣＳ１）とを比較し、そして、この比較結果に基づい
て、被膜３の内部および被膜３と金属材２の表面との間
に存在する欠陥の有無を検出するものであっても良い。
（請求項３） 図３に示すように、無欠陥の場合の部分放電電荷量（Ｃ
２）は、欠陥有の場合の部分放電電荷量（Ｃ１）に比べ
て低くなっている。
３の内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少
なくとも一方に生じた部分放電による電流を、印加電圧
の所定サイクル毎に積分して、印加電圧毎に部分放電電
荷量（Ｃ１）を測定し、このようにして測定した部分放
電電荷量（Ｃ１）と予め設定した部分放電電荷量の閾値
（ＣＳ１）とを比較し、そして、この比較結果に基づい
て、被膜３の内部および被膜３と金属材２の表面との間
に存在する欠陥の有無を検出するものであっても良い。
（請求項３） 図３に示すように、無欠陥の場合の部分放電電荷量（Ｃ
２）は、欠陥有の場合の部分放電電荷量（Ｃ１）に比べ
て低くなっている。
【００２７】欠陥判定器７は、図４に示すように、被膜
３の内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少
なくとも一方に生じた部分放電による電流を、印加電圧
の所定サイクル毎に積分して、印加電圧毎に部分放電電
荷量（Ｃ１）、（Ｃ３）を測定し、このようにして測定
した部分放電電荷量（Ｃ１）、（Ｃ３）が予め設定した
閾値（Ｃｓ）以上になる印加電圧（Ｖｏ１）、（Ｖｏ
２）と予め設定した判定基準印加電圧の閾値（Ｖｓ）と
を比較し、そして、この比較結果に基づいて、被膜３の
内部および被膜３と金属材２の表面との間に存在する欠
陥の種類を判定するものであっても良い。
３の内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少
なくとも一方に生じた部分放電による電流を、印加電圧
の所定サイクル毎に積分して、印加電圧毎に部分放電電
荷量（Ｃ１）、（Ｃ３）を測定し、このようにして測定
した部分放電電荷量（Ｃ１）、（Ｃ３）が予め設定した
閾値（Ｃｓ）以上になる印加電圧（Ｖｏ１）、（Ｖｏ
２）と予め設定した判定基準印加電圧の閾値（Ｖｓ）と
を比較し、そして、この比較結果に基づいて、被膜３の
内部および被膜３と金属材２の表面との間に存在する欠
陥の種類を判定するものであっても良い。
【００２８】この例では、 欠陥判定器７は、印加電圧
（Ｖｏ１）が閾値（Ｖｓ）より小さいので、被膜３の内
部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少なくと
も一方に水が存在する欠陥であると判定し、一方、印加
電圧（Ｖｏ２）が閾値（Ｖｓ）より大きいので、被膜３
の内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少な
くとも一方に空気ボイドが存在する欠陥であると判定す
る。（請求項４） 更に、欠陥判定器７は、図５に示すように、被膜３の内
部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少なくと
も一方に生じた部分放電による電流を、印加電圧の所定
サイクル毎に積分して、印加電圧毎に部分放電電荷量を
測定し、そして、印加電圧と部分放電電荷量との関係に
基づいて、被膜３の内部および被膜３と金属材２の表面
との間の内の少なくとも一方に存在する、被膜３に対す
る欠陥の割合（欠陥率）を判定する。（請求項５） なお、欠陥率とは、被膜内部に欠陥がある場合には、被
膜３の単位体積当たりの欠陥数（体積）であり、被膜３
と金属材２の表面との間に欠陥がある場合には、被膜３
単位面積当たりの欠陥数である。
（Ｖｏ１）が閾値（Ｖｓ）より小さいので、被膜３の内
部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少なくと
も一方に水が存在する欠陥であると判定し、一方、印加
電圧（Ｖｏ２）が閾値（Ｖｓ）より大きいので、被膜３
の内部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少な
くとも一方に空気ボイドが存在する欠陥であると判定す
る。（請求項４） 更に、欠陥判定器７は、図５に示すように、被膜３の内
部および被膜３と金属材２の表面との間の内の少なくと
も一方に生じた部分放電による電流を、印加電圧の所定
サイクル毎に積分して、印加電圧毎に部分放電電荷量を
測定し、そして、印加電圧と部分放電電荷量との関係に
基づいて、被膜３の内部および被膜３と金属材２の表面
との間の内の少なくとも一方に存在する、被膜３に対す
る欠陥の割合（欠陥率）を判定する。（請求項５） なお、欠陥率とは、被膜内部に欠陥がある場合には、被
膜３の単位体積当たりの欠陥数（体積）であり、被膜３
と金属材２の表面との間に欠陥がある場合には、被膜３
単位面積当たりの欠陥数である。
【００２９】図５から明らかなように、欠陥率が大きな
場合と小さな場合との差は明らかである。
場合と小さな場合との差は明らかである。
【００３０】以上は、交流印加電圧を連続的に上昇させ
て、部分放電電荷量を測定した場合であるが、被膜の材
質等によって予め部分放電の開始電圧が分かっている場
合には、予め設定した所定電圧から交流電圧の印加を開
始しても良い。また、交流印加電圧を上昇させる代わり
に、下降させて部分放電電荷量を測定しても良い。
て、部分放電電荷量を測定した場合であるが、被膜の材
質等によって予め部分放電の開始電圧が分かっている場
合には、予め設定した所定電圧から交流電圧の印加を開
始しても良い。また、交流印加電圧を上昇させる代わり
に、下降させて部分放電電荷量を測定しても良い。
【００３１】次に、この発明を実施例により更に説明す
る。
る。
【００３２】２００Ａ用のシュリンクチューブを３０×
３０ｍｍに切断し、３０×３０×３．２ｍｍの鋼板の一
方の表面に付着させた。シュリンクチューブ付着時にシ
ュリンクチューブと鋼板との間に、欠陥となる空気、水
を介在させた試料および無欠陥の試料を用意した。そし
て、各試料の両面に電極を接触させ、２０Ｖ／ｍｉｎの
割合で最大２ＫＶまで交流電圧を印加して部分放電開始
電圧（Ｕｉ）を測定した。なお、部分放電開始電圧（Ｕ
ｉ）は、１サイクルの部分放電電圧積算値が１００ｐＣ
を超えた電圧である。この結果を表１に示す。
３０ｍｍに切断し、３０×３０×３．２ｍｍの鋼板の一
方の表面に付着させた。シュリンクチューブ付着時にシ
ュリンクチューブと鋼板との間に、欠陥となる空気、水
を介在させた試料および無欠陥の試料を用意した。そし
て、各試料の両面に電極を接触させ、２０Ｖ／ｍｉｎの
割合で最大２ＫＶまで交流電圧を印加して部分放電開始
電圧（Ｕｉ）を測定した。なお、部分放電開始電圧（Ｕ
ｉ）は、１サイクルの部分放電電圧積算値が１００ｐＣ
を超えた電圧である。この結果を表１に示す。
【００３３】
【表１】
【００３４】表１から明らかなように、無欠陥と欠陥と
は部分放電開始電圧（Ｕｉ）の値が明らかにが異なり、
確実に欠陥の有無を検出できることが分かった。即ち、
部分放電開始電圧（Ｕｉ）の閾値を１．８８ＫＶ程度の
値に設定すれば、欠陥の有無を容易且つ確実に検出する
ことが可能となる。しかも、空気ボイドと水の部分放電
開始電圧（Ｕｉ）の値が異なることから、部分放電開始
電圧（Ｕｉ）の値から欠陥の種類を判定することができ
ることも確認した。
は部分放電開始電圧（Ｕｉ）の値が明らかにが異なり、
確実に欠陥の有無を検出できることが分かった。即ち、
部分放電開始電圧（Ｕｉ）の閾値を１．８８ＫＶ程度の
値に設定すれば、欠陥の有無を容易且つ確実に検出する
ことが可能となる。しかも、空気ボイドと水の部分放電
開始電圧（Ｕｉ）の値が異なることから、部分放電開始
電圧（Ｕｉ）の値から欠陥の種類を判定することができ
ることも確認した。
【００３５】次に、シュリンクチューブ付着時にシュリ
ンクチューブと鋼板との間に、欠陥となる空気層を設け
た上記試料を用いて、最大部分放電積算値（Ｐdmax）を
測定し、無欠陥の場合と比較した。なお、最大部分放電
積算値（Ｐdmax）は、印加電圧を２ＫＶに、５秒間保持
したときの最大部分放電電荷量の積算値である。この結
果を表２に示す。
ンクチューブと鋼板との間に、欠陥となる空気層を設け
た上記試料を用いて、最大部分放電積算値（Ｐdmax）を
測定し、無欠陥の場合と比較した。なお、最大部分放電
積算値（Ｐdmax）は、印加電圧を２ＫＶに、５秒間保持
したときの最大部分放電電荷量の積算値である。この結
果を表２に示す。
【００３６】
【表２】
【００３７】表２から明らかなように、無欠陥と欠陥と
は最大部分放電積算値（Ｐdmax）部分放電開始電圧（Ｕ
ｉ）の値が明らかにが異なり、確実に欠陥の有無を検出
できることが分かった。
は最大部分放電積算値（Ｐdmax）部分放電開始電圧（Ｕ
ｉ）の値が明らかにが異なり、確実に欠陥の有無を検出
できることが分かった。
【００３８】次に、シュリンクチューブ付着時にシュリ
ンクチューブと鋼板との間に、欠陥となる空気層を、１
０×１０ｍｍおよび１５×１５ｍｍの大きさで設けた上
記試料を用いて、最大部分放電積算値（Ｐdmax）を測定
し、欠陥の大きさによるＰdmaxの差を調べた。この結果
を表３に示す。
ンクチューブと鋼板との間に、欠陥となる空気層を、１
０×１０ｍｍおよび１５×１５ｍｍの大きさで設けた上
記試料を用いて、最大部分放電積算値（Ｐdmax）を測定
し、欠陥の大きさによるＰdmaxの差を調べた。この結果
を表３に示す。
【００３９】
【表３】
【００４０】表３から明らかように、空気ボイドの大き
さによりＰdmaxの値が明らかに相違することから、Ｐdm
ax値から欠陥の大きさを判定することができることが分
かった。
さによりＰdmaxの値が明らかに相違することから、Ｐdm
ax値から欠陥の大きさを判定することができることが分
かった。
【００４１】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、金属材と前記金属材の表面に形成された被膜との間
に電圧を印加し、印加電圧値の上昇に伴って前記被膜の
内部および前記被膜と前記金属材の表面との間の内の少
なくとも一方に生じた部分放電に基づいて、前記被膜の
内部および前記被膜と前記金属材の表面との間に存在す
る欠陥を検出することによって、金属材の表面に形成し
た塗装または防食用被膜の内部欠陥および被膜と金属材
表面との間に存在する欠陥を、容易に正確にしかも短時
間に検出することができるといった有用な効果がもたら
される。
ば、金属材と前記金属材の表面に形成された被膜との間
に電圧を印加し、印加電圧値の上昇に伴って前記被膜の
内部および前記被膜と前記金属材の表面との間の内の少
なくとも一方に生じた部分放電に基づいて、前記被膜の
内部および前記被膜と前記金属材の表面との間に存在す
る欠陥を検出することによって、金属材の表面に形成し
た塗装または防食用被膜の内部欠陥および被膜と金属材
表面との間に存在する欠陥を、容易に正確にしかも短時
間に検出することができるといった有用な効果がもたら
される。
【図１】この発明の被膜検査装置を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】印加電圧値と印加電圧の閾値とを比較して、欠
陥の有無を検出する場合の部分放電電荷量と印加電圧と
の関係を示す図である。
陥の有無を検出する場合の部分放電電荷量と印加電圧と
の関係を示す図である。
【図３】部分放電電荷量と部分放電電荷量の閾値とを比
較して、欠陥の有無を検出する場合の部分放電電荷量と
印加電圧との関係を示す図である。
較して、欠陥の有無を検出する場合の部分放電電荷量と
印加電圧との関係を示す図である。
【図４】部分放電電荷量が予め設定した閾値（Ｃｓ）以
上になる印加電圧（Ｖｏ）と判定基準印加電圧の閾値
（Ｖｓ）とを比較して、欠陥の種類を判定する場合の部
分放電電荷量と印加電圧との関係を示す図である。
上になる印加電圧（Ｖｏ）と判定基準印加電圧の閾値
（Ｖｓ）とを比較して、欠陥の種類を判定する場合の部
分放電電荷量と印加電圧との関係を示す図である。
【図５】印加電圧と部分放電電荷量との関係に基づい
て、被膜に対する欠陥の割合を検出する場合の部分放電
電荷量と印加電圧との関係を示す図である。
て、被膜に対する欠陥の割合を検出する場合の部分放電
電荷量と印加電圧との関係を示す図である。
【図６】ボイドの説明図である。
【図７】絶縁物の等価回路図である。
【図８】部分放電が生じる際の電流と電圧の関係を示す
図である。
図である。
１：交流電源 ２：金属材 ３：被膜 ４：電極 ５：ブロッキングインピーダンス ６：部分放電検出器 ７：欠陥判定器
Claims (7)
- 【請求項１】 金属材と前記金属材の表面に形成された
被膜との間に電圧を印加し、印加電圧値の上昇に伴って
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間の内の少なくとも一方に生じた部分放電に基づいて、
前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との
間に存在する欠陥を検出することを特徴とする被膜検査
方法。 - 【請求項２】 金属材と前記金属材の表面に形成された
被膜との間に交流電圧を印加し、前記被膜の内部および
前記被膜と前記金属材の表面との間の内の少なくとも一
方に生じた部分放電による電流を、印加電圧の所定サイ
クル毎に積分して、印加電圧を上昇させながら印加電圧
毎に部分放電電荷量を測定し、部分放電が開始する印加
電圧値と予め設定した閾値とを比較し、そして、この比
較結果に基づいて、前記被膜の内部および前記被膜と前
記金属材の表面との間に存在する欠陥の有無を検出する
ことを特徴とする被膜検査方法。 - 【請求項３】 金属材と前記金属材の表面に形成された
被膜との間に交流電圧を印加し、前記被膜の内部および
前記被膜と前記金属材の表面との間の内の少なくとも一
方に生じた部分放電による電流を、印加電圧の所定サイ
クル毎に積分して、印加電圧を上昇させながら印加電圧
毎に部分放電電荷量を測定し、このようにして測定した
部分放電電荷量と予め設定した閾値とを比較し、そし
て、この比較結果に基づいて、前記被膜の内部および前
記被膜と前記金属材の表面との間に存在する欠陥の有無
を検出することを特徴とする被膜検査方法。 - 【請求項４】 金属材と前記金属材の表面に形成された
被膜との間に交流電圧を印加し、前記被膜の内部および
前記被膜と前記金属材の表面との間の内の少なくとも一
方に生じた部分放電による電流を、印加電圧の所定サイ
クル毎に積分して、印加電圧を上昇させながら印加電圧
毎に部分放電電荷量を測定し、このようにして測定した
部分放電電荷量が予め設定した閾値（Ｃｓ）以上になる
印加電圧（Ｖｏ）と予め設定した判定基準印加電圧の閾
値（Ｖｓ）とを比較し、そして、この比較結果に基づい
て、前記被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面
との間に存在する欠陥の種類を判定することを特徴とす
る被膜検査方法。 - 【請求項５】 前記印加電圧（Ｖｏ）が前記閾値（Ｖ
ｓ）より小さい場合には、前記被膜の内部および前記被
膜と前記金属材の表面との間の内の少なくとも一方に水
が存在する欠陥であると判定し、一方、前記印加電圧
（Ｖｏ）が前記閾値（Ｖｓ）より大きい場合には、前記
被膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との間の
内の少なくとも一方に空気ボイドが存在する欠陥である
と判定することを特徴とする、請求項４記載の被膜検査
方法。 - 【請求項６】 金属材と前記金属材の表面に形成された
被膜との間に交流電圧を印加し、前記被膜の内部および
前記被膜と前記金属材の表面との間の内の少なくとも一
方に生じた部分放電による電流を、印加電圧の所定サイ
クル毎に積分して、印加電圧を上昇させながら印加電圧
毎に部分放電電荷量を測定し、そして、印加電圧と部分
放電電荷量との関係に基づいて、前記被膜の内部および
前記被膜と前記金属材の表面との間の内の少なくとも一
方に存在する、前記被膜に対する欠陥の割合を検出する
ことを特徴とする被膜検査方法。 - 【請求項７】 金属材と前記金属材の表面に形成された
被膜との間に電圧を印加するための電源と、前記電源に
よる印加電圧値の上昇に伴って前記被膜の内部および前
記被膜と前記金属材の表面との間の内の少なくとも一方
に生じた部分放電を検出するための部分放電検出器と、
前記部分放電検出器からの検出信号に基づいて、前記被
膜の内部および前記被膜と前記金属材の表面との間に欠
陥が存在するか否かを判定するためのための欠陥判定器
とを備えたことを特徴とする被膜検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29093099A JP2001108660A (ja) | 1999-10-13 | 1999-10-13 | 被膜検査方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29093099A JP2001108660A (ja) | 1999-10-13 | 1999-10-13 | 被膜検査方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001108660A true JP2001108660A (ja) | 2001-04-20 |
Family
ID=17762359
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29093099A Pending JP2001108660A (ja) | 1999-10-13 | 1999-10-13 | 被膜検査方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001108660A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003075413A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-12 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 袋状容器の製造方法及び製造装置 |
| JP2005326379A (ja) * | 2004-05-17 | 2005-11-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 部分放電の損傷量検出方法及び部分放電の損傷量検出装置 |
| JP2010281673A (ja) * | 2009-06-04 | 2010-12-16 | Toshiba Corp | 部分放電電圧計測システム及び部分放電電圧計測方法 |
| WO2015146689A1 (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-01 | Ntn株式会社 | 軸受部品の内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 |
-
1999
- 1999-10-13 JP JP29093099A patent/JP2001108660A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003075413A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-12 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 袋状容器の製造方法及び製造装置 |
| JP2005326379A (ja) * | 2004-05-17 | 2005-11-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 部分放電の損傷量検出方法及び部分放電の損傷量検出装置 |
| JP4594646B2 (ja) * | 2004-05-17 | 2010-12-08 | 住友金属工業株式会社 | 部分放電の損傷量検出方法及び部分放電の損傷量検出装置 |
| JP2010281673A (ja) * | 2009-06-04 | 2010-12-16 | Toshiba Corp | 部分放電電圧計測システム及び部分放電電圧計測方法 |
| WO2015146689A1 (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-01 | Ntn株式会社 | 軸受部品の内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DK2659266T3 (en) | Method for detecting defects in a packaging material | |
| JP7056998B2 (ja) | 交流－直流高電圧リーク検出のためのシステムおよび方法 | |
| EP2006699A3 (en) | Test method and apparatus for spark plug insulator | |
| JP4008173B2 (ja) | 蓄電器の絶縁抵抗測定方法および絶縁抵抗測定装置 | |
| US6636031B1 (en) | Method and device for detecting pinholes in organic film on concrete surface | |
| JP2001108660A (ja) | 被膜検査方法および装置 | |
| CN104730110A (zh) | 一种金属-电介质薄层粘结或涂层结构的界面缺陷检测方法及装置 | |
| US6694268B2 (en) | Leakage inspection method for sealed container and apparatus for carrying out the method | |
| JP3611037B2 (ja) | 導電性塗膜検査方法及び装置 | |
| CN111103506B (zh) | 一种异形板件击穿电压的检测方法 | |
| JP2010066012A (ja) | 密封容器のリーク検査方法及びその装置 | |
| CN112834330B (zh) | 一种搪瓷钢板表面瓷层抗变形能力的测量方法 | |
| JPH07128392A (ja) | 非破壊絶縁試験装置 | |
| Mitra et al. | Eddy-Current Measurements of Corrosion-Related Thinning in Aluminium Lap Splices | |
| JP6737078B2 (ja) | コイルの絶縁検査方法およびコイルの絶縁検査装置 | |
| JPS60203866A (ja) | 部分放電位相特性による電気機器のボイド欠陥診断方法 | |
| JP2011158253A (ja) | 電極間絶縁特性測定装置 | |
| JP2003107118A (ja) | コンデンサの良否判定方法 | |
| JP2011028931A (ja) | 電池絶縁検査装置 | |
| JP2836097B2 (ja) | 欠陥検出装置及び検出方法 | |
| JP2004342476A (ja) | 二次電池の検査方法及び検査装置 | |
| JP5140032B2 (ja) | ガス絶縁電気装置の部分放電診断方法 | |
| JP3505638B2 (ja) | コンクリート面有機皮膜のピンホール検出方法 | |
| TWI582876B (zh) | Insulator state determination assembly and method | |
| JPH09170996A (ja) | 非接触式絶縁体欠陥検査方法 |