JP2001099647A - 測量装置およびターゲット - Google Patents
測量装置およびターゲットInfo
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- JP2001099647A JP2001099647A JP27563399A JP27563399A JP2001099647A JP 2001099647 A JP2001099647 A JP 2001099647A JP 27563399 A JP27563399 A JP 27563399A JP 27563399 A JP27563399 A JP 27563399A JP 2001099647 A JP2001099647 A JP 2001099647A
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測点の特定を容易にする測量装置およびター
ゲットを提供すること。 【解決手段】 測量装置（１０）は、同一の対物レンズ
（１８）を共有する視準、発光および受光の３つの光学
系（２０，２２，２４）を備える光波測距機構（１２）
と、視準光学系（２０）に入射する、測点に据えられる
ターゲット（２６）に表示されたバーコード（４８）の
反射可視光線（３０）からバーコードを読み取るための
読み取り機構（１４）とを備える。読み取り機構は、例
えば、バーコードの反射可視光線を受ける、CCDを使用
した半導体イメージセンサを備える。
ゲットを提供すること。 【解決手段】 測量装置（１０）は、同一の対物レンズ
（１８）を共有する視準、発光および受光の３つの光学
系（２０，２２，２４）を備える光波測距機構（１２）
と、視準光学系（２０）に入射する、測点に据えられる
ターゲット（２６）に表示されたバーコード（４８）の
反射可視光線（３０）からバーコードを読み取るための
読み取り機構（１４）とを備える。読み取り機構は、例
えば、バーコードの反射可視光線を受ける、CCDを使用
した半導体イメージセンサを備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、測量装置および測
点に据えられるターゲットに関する。
点に据えられるターゲットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、同一の対物レンズを共有する視
準、発光および受光の３つの光学系を備える光波測距機
構を備える測量装置が用いられ、また、測点に据えられ
るターゲットが用いられている。
準、発光および受光の３つの光学系を備える光波測距機
構を備える測量装置が用いられ、また、測点に据えられ
るターゲットが用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記従来の
測量装置による測点の特定は、もっぱら、測定者の記憶
や判断によっていた。
測量装置による測点の特定は、もっぱら、測定者の記憶
や判断によっていた。
【０００４】このため、地盤沈下、法面の変位、構造物
の変位、トンネルの内空断面の変位、ロックフィルダム
の表面の変位等の測定のように多数の測点における時間
的間隔をおいた複数回にわたる測量を必要とするとき
は、同一の測点の特定が容易でなく、また、大規模建築
工事における、設備機器や配管を躯体に支持するための
埋め込み支持金具の設置位置（測点）の割り出し、確認
等のように多数の支持金具とこれらの設置位置との整合
が容易でなかった。
の変位、トンネルの内空断面の変位、ロックフィルダム
の表面の変位等の測定のように多数の測点における時間
的間隔をおいた複数回にわたる測量を必要とするとき
は、同一の測点の特定が容易でなく、また、大規模建築
工事における、設備機器や配管を躯体に支持するための
埋め込み支持金具の設置位置（測点）の割り出し、確認
等のように多数の支持金具とこれらの設置位置との整合
が容易でなかった。
【０００５】本発明の目的は、測点の特定を容易にする
測量装置およびターゲットを提供することにある。
測量装置およびターゲットを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る測量装置
は、同一の対物レンズを共有する視準、発光および受光
の３つの光学系を備える光波測距機構と、前記視準光学
系に入射する、測点に据えられるターゲットに表示され
たバーコードの反射可視光線から前記バーコードを読み
取るための読み取り機構とを備える。前記読み取り機構
は、例えば、前記バーコードの反射可視光線を受ける、
CCDを使用した半導体イメージセンサと、該半導体イメ
ージセンサに電気的に接続された演算部と、該演算部に
電気的に接続された表示部とからなる。また、前記ター
ゲットは、バーコードが表示されたシートと、該バーコ
ードを覆うコールドフィルタとからなるものとすること
ができる。
は、同一の対物レンズを共有する視準、発光および受光
の３つの光学系を備える光波測距機構と、前記視準光学
系に入射する、測点に据えられるターゲットに表示され
たバーコードの反射可視光線から前記バーコードを読み
取るための読み取り機構とを備える。前記読み取り機構
は、例えば、前記バーコードの反射可視光線を受ける、
CCDを使用した半導体イメージセンサと、該半導体イメ
ージセンサに電気的に接続された演算部と、該演算部に
電気的に接続された表示部とからなる。また、前記ター
ゲットは、バーコードが表示されたシートと、該バーコ
ードを覆うコールドフィルタとからなるものとすること
ができる。
【０００７】
【発明の作用および効果】本発明によれば、測量装置
が、測点に据えられるターゲットに表示されたバーコー
ドを読み取るための読み取り機構を備えることから、測
点の数が多く、また、測量時点が異なる場合にあって
も、個々のターゲットにおけるバーコードの読み取りに
より得られる情報から、測点を確実に特定してその測量
を行うことができる。また、前記視準光学系に入射する
前記バーコードの反射可視光線からその情報を読み取る
こととしたことから、前記バーコードの反射可視光線の
入射対象として前記視準光学系とは別個の光学系を設け
る場合と比較して、測量装置の機構上のコンパクト化お
よび操作性の向上を図ることができる。
が、測点に据えられるターゲットに表示されたバーコー
ドを読み取るための読み取り機構を備えることから、測
点の数が多く、また、測量時点が異なる場合にあって
も、個々のターゲットにおけるバーコードの読み取りに
より得られる情報から、測点を確実に特定してその測量
を行うことができる。また、前記視準光学系に入射する
前記バーコードの反射可視光線からその情報を読み取る
こととしたことから、前記バーコードの反射可視光線の
入射対象として前記視準光学系とは別個の光学系を設け
る場合と比較して、測量装置の機構上のコンパクト化お
よび操作性の向上を図ることができる。
【０００８】前記ターゲットについて、これを、前記バ
ーコードが表示されたシートと、該バーコードを覆う、
可視光線の通過を許すが近赤外光線を反射するコールド
フィルタとからなるものとすることにより、前記ターゲ
ットに対して近赤外光線を発射して行う前記光波測距機
構による測距と、前記読み取り機構によるターゲットの
識別とを同時に行うことができる。
ーコードが表示されたシートと、該バーコードを覆う、
可視光線の通過を許すが近赤外光線を反射するコールド
フィルタとからなるものとすることにより、前記ターゲ
ットに対して近赤外光線を発射して行う前記光波測距機
構による測距と、前記読み取り機構によるターゲットの
識別とを同時に行うことができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１に示すように、本発明に係る
測量装置１０は、光波測距機構１２と、測点に据えられ
る後述のターゲットに表示されたバーコードを読み取る
ための読み取り機構１４とを備える。
測量装置１０は、光波測距機構１２と、測点に据えられ
る後述のターゲットに表示されたバーコードを読み取る
ための読み取り機構１４とを備える。
【００１０】光波測距機構１２および読み取り機構１４
は測量装置１０のハウジング１６内に配置されている。
は測量装置１０のハウジング１６内に配置されている。
【００１１】光波測距機構１２は従来の単眼系の光波測
距儀と同じものであり、同一の対物レンズ１８を共有す
る視準光学系２０、発光光学系２２および受光光学系２
４を備える。
距儀と同じものであり、同一の対物レンズ１８を共有す
る視準光学系２０、発光光学系２２および受光光学系２
４を備える。
【００１２】視準光学系２０は、測点に据えられるター
ゲット２６を視準するために設けられ、発光光学系２２
はターゲット２６に向けて測距用の近赤外光を発するた
めに設けられ、また、受光光学系２４はターゲット２６
で反射された前記近赤外光を受け入れるために設けられ
ている。
ゲット２６を視準するために設けられ、発光光学系２２
はターゲット２６に向けて測距用の近赤外光を発するた
めに設けられ、また、受光光学系２４はターゲット２６
で反射された前記近赤外光を受け入れるために設けられ
ている。
【００１３】視準光学系２０は、対物レンズ１８の他、
該対物レンズと共同して視準用の望遠鏡をなす接眼レン
ズ２８を含み、ターゲット２６から反射される可視光線
３０の入射を許す。対物および接眼の両レンズ１８，２
８間には合焦レンズ２９が配置されている。可視光線３
０は、視準光学系２０を経て、測量装置１０の操作者の
目３２に届き、ターゲット２６の視準がなされる。
該対物レンズと共同して視準用の望遠鏡をなす接眼レン
ズ２８を含み、ターゲット２６から反射される可視光線
３０の入射を許す。対物および接眼の両レンズ１８，２
８間には合焦レンズ２９が配置されている。可視光線３
０は、視準光学系２０を経て、測量装置１０の操作者の
目３２に届き、ターゲット２６の視準がなされる。
【００１４】発光光学系２２は、近赤外光を発する発光
ダイオード３４と、対物レンズ１８と接眼レンズ２８と
の間において可視光線３０の光路上に配置されたミラー
３６とを含む。ミラー３６は、例えば、可視光線３０の
透過を許しかつ前記近赤外線を反射させる特性を有する
ダイクロイックミラーから成る。ミラー３６は、発光ダ
イオード３４から発せられた近赤外光線を反射させ、前
記近赤外光線が可視光線３０の光路上を対物レンズ１８
に向けて進行するように配置されている。これにより、
前記近赤外光線は対物レンズ１８を経てターゲット２６
に照射される。
ダイオード３４と、対物レンズ１８と接眼レンズ２８と
の間において可視光線３０の光路上に配置されたミラー
３６とを含む。ミラー３６は、例えば、可視光線３０の
透過を許しかつ前記近赤外線を反射させる特性を有する
ダイクロイックミラーから成る。ミラー３６は、発光ダ
イオード３４から発せられた近赤外光線を反射させ、前
記近赤外光線が可視光線３０の光路上を対物レンズ１８
に向けて進行するように配置されている。これにより、
前記近赤外光線は対物レンズ１８を経てターゲット２６
に照射される。
【００１５】受光光学系２４は、ミラー３６と接眼レン
ズ２８との間において可視光線３０の光路上に配置され
た、ミラー３６と同様の他のミラー３８と、受光ダイオ
ード４０とを含む。他のミラー３８は、ターゲット２６
で反射され、測距機構１０に入射し、対物および合焦の
両レンズ１８，２９を順次に経る近赤外光線４２を反射
させて受光ダイオード４０に導く作用をなす。ミラー３
８も、また、可視光線３０の透過を許す。
ズ２８との間において可視光線３０の光路上に配置され
た、ミラー３６と同様の他のミラー３８と、受光ダイオ
ード４０とを含む。他のミラー３８は、ターゲット２６
で反射され、測距機構１０に入射し、対物および合焦の
両レンズ１８，２９を順次に経る近赤外光線４２を反射
させて受光ダイオード４０に導く作用をなす。ミラー３
８も、また、可視光線３０の透過を許す。
【００１６】受光ダイオード４０に受光され、光電変換
された近赤外光線４２の電気信号は、受光ダイオード４
０に電気的に接続された、中央処理装置（図示せず）を
含むハウジング１６内の斜距離計算部４４部に送られ、
ここで必要な演算処理を施され、斜距離計算部４４に電
気的に接続された、ハウジング１６の表面に露出する液
晶画面（図示せず）を含む表示部４６に測距値が表示さ
れる。
された近赤外光線４２の電気信号は、受光ダイオード４
０に電気的に接続された、中央処理装置（図示せず）を
含むハウジング１６内の斜距離計算部４４部に送られ、
ここで必要な演算処理を施され、斜距離計算部４４に電
気的に接続された、ハウジング１６の表面に露出する液
晶画面（図示せず）を含む表示部４６に測距値が表示さ
れる。
【００１７】ターゲット２６はその表面に表示されたバ
ーコード４８を有する。バーコード４８は、ターゲット
に十字線や同心円を表示する場合と比べて、測点に関す
るより多くの情報を提供する。
ーコード４８を有する。バーコード４８は、ターゲット
に十字線や同心円を表示する場合と比べて、測点に関す
るより多くの情報を提供する。
【００１８】図示のターゲット２６は、全体に矩形を呈
する板状体からなる。バーコード４８は前記板状体の中
央部に表示されており、また、前記矩形の各辺の中間部
と各コーナ部とに、これらの中間部およびコーナ部から
それぞれバーコード４８に向けてこれに至る手前まで伸
びる短い線分５０が表示されている。
する板状体からなる。バーコード４８は前記板状体の中
央部に表示されており、また、前記矩形の各辺の中間部
と各コーナ部とに、これらの中間部およびコーナ部から
それぞれバーコード４８に向けてこれに至る手前まで伸
びる短い線分５０が表示されている。
【００１９】これらの線分５０は、視準を行う際の目安
とすることができる。すなわち、前記望遠鏡の視準軸を
定めるために該望遠鏡内に配置された十字線（図示せ
ず）を線分５０の一部に重ね合わせることにより正確な
視準を行うことができる。
とすることができる。すなわち、前記望遠鏡の視準軸を
定めるために該望遠鏡内に配置された十字線（図示せ
ず）を線分５０の一部に重ね合わせることにより正確な
視準を行うことができる。
【００２０】ターゲット２６のバーコード４８を読み取
るための機構１４は、接眼レンズ２８と受光光学系のミ
ラー３８との間において可視光線３０の光路上に配置さ
れたビームスプリッタ５２と、CCDを使用した半導体イ
メージセンサ５４と、該半導体イメージセンサに電気的
に接続された演算部５６と、該演算部に電気的に接続さ
れた表示部４６とを含む。
るための機構１４は、接眼レンズ２８と受光光学系のミ
ラー３８との間において可視光線３０の光路上に配置さ
れたビームスプリッタ５２と、CCDを使用した半導体イ
メージセンサ５４と、該半導体イメージセンサに電気的
に接続された演算部５６と、該演算部に電気的に接続さ
れた表示部４６とを含む。
【００２１】ターゲット２６を反射して前記望遠鏡内に
入射する可視光線３０は、両ミラー３６，３８およびビ
ームスプリッタ５２を順次に経て接眼レンズ２８に至る
が、その一部はビームスプリッタ５２で反射され、半導
体イメージセンサ５４に入力する。
入射する可視光線３０は、両ミラー３６，３８およびビ
ームスプリッタ５２を順次に経て接眼レンズ２８に至る
が、その一部はビームスプリッタ５２で反射され、半導
体イメージセンサ５４に入力する。
【００２２】半導体イメージセンサ５４に入力した可視
光線３０の一部は、ここで電気信号（デジタル信号）に
変換され、中央処理装置を含む演算部５６における処理
を経て、表示部４６に識別情報が表示される。
光線３０の一部は、ここで電気信号（デジタル信号）に
変換され、中央処理装置を含む演算部５６における処理
を経て、表示部４６に識別情報が表示される。
【００２３】図示の半導体イメージセンサ５４はライン
センサからなり、また、バーコード４８は一次元のもの
から成る。図示の例に代えて、エリアセンサと二次元の
バーコードとの組み合わせとすることができる。
センサからなり、また、バーコード４８は一次元のもの
から成る。図示の例に代えて、エリアセンサと二次元の
バーコードとの組み合わせとすることができる。
【００２４】次に、図２に示すように、ターゲット２６
は、そのシート５７に印刷されたバーコード４８がコー
ルドフィルタ５８で覆われたものとすることが望まし
い。これによれば、前記コールドフィルタは、近赤外線
を反射させかつ可視光線を透過させる特性を有するた
め、測距用の前記近赤外光線はコールドフィルタ５８を
透過することなく該コールドフィルタが規定する平坦面
で反射される。他方、可視光線はコールドフィルタ５８
を透過してバーコード４８が表示されたシート５６の表
面に至り、該表面で反射される。
は、そのシート５７に印刷されたバーコード４８がコー
ルドフィルタ５８で覆われたものとすることが望まし
い。これによれば、前記コールドフィルタは、近赤外線
を反射させかつ可視光線を透過させる特性を有するた
め、測距用の前記近赤外光線はコールドフィルタ５８を
透過することなく該コールドフィルタが規定する平坦面
で反射される。他方、可視光線はコールドフィルタ５８
を透過してバーコード４８が表示されたシート５６の表
面に至り、該表面で反射される。
【００２５】これにより、前記近赤外光線を用いる測距
作業と、前記反射可視光線を用いるターゲット２６の識
別による測点の特定作業とを同時に行うことができる。
作業と、前記反射可視光線を用いるターゲット２６の識
別による測点の特定作業とを同時に行うことができる。
【００２６】また、ターゲット２６の情報を含む前記反
射可視光線の光路について、これを視準用光路と同軸と
したことから、非同軸とする場合と比べて、測量装置１
０をよりコンパクトにし、また、その操作性、例えば焦
点調節をより良いものとすることができる。
射可視光線の光路について、これを視準用光路と同軸と
したことから、非同軸とする場合と比べて、測量装置１
０をよりコンパクトにし、また、その操作性、例えば焦
点調節をより良いものとすることができる。
【００２７】なお、測量装置１０は、従来のトータルス
テーションと同様、水平角および鉛直角を測定するため
の計測部６０を有するものとすることができる。計測部
６０については、前記トータルステーションにおけると
同様の構造を有する。
テーションと同様、水平角および鉛直角を測定するため
の計測部６０を有するものとすることができる。計測部
６０については、前記トータルステーションにおけると
同様の構造を有する。
【図１】本発明の測量装置の概略図である。
【図２】ターゲットの側面図である。
１０ 測量装置 １２ 光波測距機構 １４ 読み取り機構 １８，２８ 対物レンズおよび接眼レンズ ２０，２２，２４ 視準光学系、発光光学系および受光
光学系 ２６，４８ ターゲットおよびバーコード ３０，４２ 反射可視光線および反射近赤外光線 ５２ ビームスプリッタ ５４，５６，４６ 半導体イメージセンサ、演算部およ
び表示部
光学系 ２６，４８ ターゲットおよびバーコード ３０，４２ 反射可視光線および反射近赤外光線 ５２ ビームスプリッタ ５４，５６，４６ 半導体イメージセンサ、演算部およ
び表示部
Claims (3)
- 【請求項１】 測量装置であって、同一の対物レンズを
共有する視準光学系、発光光学系および受光光学系を備
える光波測距機構と、前記視準光学系に入射する、測点
に据えられるターゲットに表示されたバーコードの反射
可視光線から前記バーコードを読み取るための読み取り
機構とを備える、測量装置。 - 【請求項２】 前記読み取り機構は、前記バーコードの
反射可視光線を受ける、CCDを使用した半導体イメージ
センサと、該半導体イメージセンサに電気的に接続され
た演算部と、該演算部に電気的に接続された表示部とか
らなる、請求項１に記載の測量装置。 - 【請求項３】 請求項１または２に記載の測量装置によ
る測距のために用いられるターゲットであって、バーコ
ードが表示されたシートと、該バーコードを覆うコール
ドフィルタとからなる、ターゲット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27563399A JP2001099647A (ja) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | 測量装置およびターゲット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27563399A JP2001099647A (ja) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | 測量装置およびターゲット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001099647A true JP2001099647A (ja) | 2001-04-13 |
Family
ID=17558189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27563399A Withdrawn JP2001099647A (ja) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | 測量装置およびターゲット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001099647A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005017644A3 (ja) * | 2003-08-13 | 2005-03-31 | Topcon Corp | ３次元測量装置及び電子的記憶媒体 |
| US7316355B2 (en) * | 2002-04-11 | 2008-01-08 | Sensormatic Electronics Corporation | System and method for optimizing range of an electronic article surveillance system |
| JP2020056746A (ja) * | 2018-10-04 | 2020-04-09 | 株式会社トプコン | 角度検出システム |
| JP2020056616A (ja) * | 2018-09-28 | 2020-04-09 | 株式会社トプコン | 点群データ表示システム |
-
1999
- 1999-09-29 JP JP27563399A patent/JP2001099647A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7316355B2 (en) * | 2002-04-11 | 2008-01-08 | Sensormatic Electronics Corporation | System and method for optimizing range of an electronic article surveillance system |
| WO2005017644A3 (ja) * | 2003-08-13 | 2005-03-31 | Topcon Corp | ３次元測量装置及び電子的記憶媒体 |
| JPWO2005017644A1 (ja) * | 2003-08-13 | 2006-11-24 | 株式会社トプコン | ３次元測量装置及び電子的記憶媒体 |
| JP2020056616A (ja) * | 2018-09-28 | 2020-04-09 | 株式会社トプコン | 点群データ表示システム |
| JP7112929B2 (ja) | 2018-09-28 | 2022-08-04 | 株式会社トプコン | 点群データ表示システム |
| JP2020056746A (ja) * | 2018-10-04 | 2020-04-09 | 株式会社トプコン | 角度検出システム |
| JP7118845B2 (ja) | 2018-10-04 | 2022-08-16 | 株式会社トプコン | 角度検出システム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20061205 |