JP2001093955A - 基板処理装置および基板処理方法 - Google Patents

基板処理装置および基板処理方法

Info

Publication number
JP2001093955A
JP2001093955A JP27101999A JP27101999A JP2001093955A JP 2001093955 A JP2001093955 A JP 2001093955A JP 27101999 A JP27101999 A JP 27101999A JP 27101999 A JP27101999 A JP 27101999A JP 2001093955 A JP2001093955 A JP 2001093955A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
time
processing
substrates
transfer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27101999A
Other languages
English (en)
Inventor
Kentaro Nishioka
賢太郎 西岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP27101999A priority Critical patent/JP2001093955A/ja
Publication of JP2001093955A publication Critical patent/JP2001093955A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 一定のサイクル時間ごとに基板を受け入れて
処理する基板処理装置において、前工程の処理時間のば
らつきによるスループットの低下を抑える。 【解決手段】 複数の基板を保持して一括搬送し、受入
部、第1処理部、第2処理部および払出部を順次経由す
るように各基板を搬送する基板処理装置であって、所定
のサイクル時間T1ごとに基板を搬送する必要がある基
板処理装置において、1枚目の基板が受け入れられた時
刻0から所定の待機時間T2だけ基板の搬送開始を遅ら
せる。これにより、前工程の動作のばらつきにより基板
の受け入れ時刻が予定の時刻よりも時間ΔTだけ遅れた
としても、この基板を予定通りに搬送して処理を行うこ
とができる。その結果、基板を受け取り損ねてスループ
ットが低下してしまうことを防止することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、液晶ディスプレ
イ、プラズマディスプレイ等のFPD(フラットパネル
ディスプレイ)の製造に用いられるガラス基板に処理を
行う基板処理装置および基板処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、液晶ディスプレイ等のガラス
基板(以下、「基板」という。)の製造に用いられる装
置として、複数の処理部に順次基板を搬送して各基板に
複数の処理を順に施す装置がある。このような装置とし
て、サイクル時間(いわゆる、タクトタイム)ごとに基
板を受け入れ、装置内部では複数の基板を一括保持して
同時に処理部間を搬送するものがあり、処理内容によっ
てはサイクル時間を一定に維持する必要がある。
【0003】例えば、受入部、加熱を行う第1処理部
(いわゆる、ホットプレート)、冷却を行う第2処理部
(いわゆる、クールプレート)および払出部へと基板が
順次搬送される場合において、第1処理部による過剰加
熱(いわゆる、オーバーベーク)や加熱不足を防止する
ために、サイクル時間を一定に維持する必要が生じる。
【0004】図8はこのような基板処理装置の動作の一
例を説明するためのタイムチャートである。符号L9
1,L92,L93はそれぞれ一連(1ロット)の基板
のうちの1枚目、2枚目、3枚目の基板の移動の様子を
示している。なお、図8では基板の搬送時間を便宜上無
視して示している。
【0005】図8中の時刻0は1枚目の基板が受入部に
受け入れられる時刻であり、基板が受け入れられるとす
ぐに基板処理装置内にて基板の搬送が開始され、第1処
理部へと搬送される。
【0006】ここで、サイクル時間がT1であるとする
と、時刻T1では2枚目の基板が受入部に受け入れられ
るとともに、1枚目および2枚目の基板の一括搬送が行
われて1枚目の基板が第2処理部へと搬送され、2枚目
の基板が第1処理部へと搬送される。
【0007】時刻TI×2では3枚目の基板が受入部に
受け入れられるとともに1枚目ないし3枚目の基板の一
括搬送が行われ、1枚目の基板が払出部へと搬送され、
2枚目の基板が第2処理部へと搬送され、3枚目の基板
が第1処理部へと搬送される。以後、順次搬送が行われ
ることにより、各基板は第1処理部にて加熱され、第2
処理部にて冷却されて払出部へと送られる。
【0008】以上のような動作により、各基板は第1処
理部に時間T1だけ載置されることとなり、適切な加熱
を伴う処理が行われる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところが、基板処理装
置の上流の前工程の処理によってはサイクル時間T1ご
とに正確に受入部に基板が受け入れられるとは限らな
い。例えば、前工程がコンベア搬送にて行われるスプレ
ー洗浄やブラシ洗浄であったり、エアシリンダによる処
理室の開閉を伴うコータやデベロッパ等の場合には、若
干の処理時間のばらつきが生じる。この場合、前工程か
らの基板はおよそサイクル時間T1ごとに受け入れら
れ、基板の受け入れが徐々に遅れていくということはな
いが、基板の受け入れ時刻に多少のばらつきが生じる。
【0010】図9は前工程の影響により受入部に基板が
受け入れられる時刻が予定よりずれた場合の従来の基板
処理装置の動作の様子を例示するタイムチャートであ
る。
【0011】図9では符号L91にて示すように、1枚
目の基板は時刻0に受入部に受け入れられ、適切に第1
処理部、第2処理部、払出部へと順に搬送される。ここ
で、符号L922にて示すように、前工程の影響により
2枚目の基板が本来の時刻T1よりも時間ΔTだけ遅れ
て受入部に受け入れられたとすると、1枚目の基板が第
2処理部へと搬送される時刻と2枚目の基板が第1処理
部へと搬送される時刻とを一致させることができない。
なぜならば、1枚目の基板の第2処理部への搬送を時刻
(T1+ΔT)に行ったならば1枚目の基板は第1処理
部にて過剰加熱されてしまうからである。その結果、1
枚目の基板と2枚目の基板とを一括保持してそれぞれを
第2処理部および第1処理部へと搬送することが不可能
となる。
【0012】そこで、従来の基板処理装置では、基板の
受け入れが予定の時刻から遅れてしまった場合にはさら
に次の搬送動作(1サイクル時間の搬送動作)の際に搬
送を行うようにしている。すなわち、本来、2枚目の基
板は図9中、符号L921にて示すように搬送されてい
くべきであるが、搬送を時刻T1に開始することができ
なかったため、時刻(T1+ΔT)から時刻(T1×
2)まで受入部に放置し、時刻(T1×2)になってか
ら第1処理部へと2枚目の基板を搬送する。このとき、
1枚目の基板は払出部へと搬送される。
【0013】具体的には、前工程から基板が時刻0、6
0,120,180(秒)に受け入れられる予定の場合
(サイクル時間T1が60秒の場合)に、実際には、時
刻0,61,119,181(秒)に基板を受け入れた
とすると、2枚目の基板の搬送を時刻60(秒)に行う
ことができず、次の搬送時刻120(秒)に2枚目の基
板の搬送が行われる。
【0014】このように、所定のサイクル時間ごとに基
板の搬送を行わなければならない基板処理装置では、従
来より、基板の受け入れが遅れた場合の対策として基板
の搬送を1サイクル時間T1だけ遅らせるようにしてい
る。その結果、基板処理装置の搬送は図9に示すように
いわゆる歯抜け状態にて行われ、その後の基板の搬送は
1サイクル時間ずつ遅れてしまう。図9中の符号L93
1は図8中の符号L93にて示す3枚目の基板の搬送よ
りも時間T1だけ遅れて搬送が行われる様子を示してい
る。また、3枚目の基板の受け入れ時刻を遅らせる必要
が生じることから、2枚目の基板を適切に受け入れるこ
とができなかった旨が前工程の装置へと通知され、基板
搬送の遅れの影響が前工程の装置にも及ぶ。
【0015】特に、液晶ディスプレイの大型化に伴う基
板の大型化が進むにつれ、装置間で複数枚の基板をカセ
ットに収容して搬送することが困難となっていることか
ら、前工程から基板を1枚ずつ受け入れる装置が必要と
なってきており、基板の受け入れ時刻のばらつきにより
生じるスループットの低下は重要な問題となっている。
【0016】なお、図9中の符号L941にて示すよう
に、受け入れ時刻が時間ΔTだけ早まった場合には、受
入部にて基板が時間ΔTだけ放置され、搬送には影響は
生じない。
【0017】以上のように、従来の基板処理装置では基
板を受け入れるべき時刻に基板を受け入れることができ
なかった場合には、その都度、サイクル時間T1だけ基
板の搬送を遅らせるようにしていた(ただし、搬送動作
はサイクル時間ごとに行われる。)。その結果、前工程
の処理時間のばらつきの影響によりスループットが低下
するという問題があった。
【0018】この発明は上記課題に鑑みなされたもので
あり、一定のサイクル時間ごとに基板を受け入れて処理
する基板処理装置において前工程の動作の影響によるス
ループットの低下の防止を図ることを目的としている。
【0019】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、前工
程からのガラス基板を一定のサイクル時間ごとに受け入
れて処理を行う基板処理装置であって、複数の処理部
と、一連のガラス基板のそれぞれが前記複数の処理部を
順次経由するように、複数のガラス基板を一括搬送する
搬送手段と、前工程の動作に基づいて決定される搬送基
準時から前工程の処理時間の最大ばらつき時間を超える
所定の待機時間経過後に、一連のガラス基板の最初のガ
ラス基板の搬送を前記搬送手段に開始させる制御手段と
を備える。
【0020】請求項2の発明は、請求項1に記載の基板
処理装置であって、前記複数の処理部が、薬液塗布後の
ガラス基板を加熱する処理部を含む。
【0021】請求項3の発明は、請求項1または2に記
載の基板処理装置であって、前記搬送手段が、複数の基
板を一括保持する保持部材と、前記保持部材を前記複数
の処理部の並び方向に移動させる移動手段とを有する。
【0022】請求項4の発明は、請求項1ないし3のい
ずれかに記載の基板処理装置であって、前記制御手段
が、前記サイクル時間に所定の割合を乗じて前記待機時
間を求める手段を有する。
【0023】請求項5の発明は、前工程からのガラス基
板を一定のサイクル時間ごとに受け入れ、複数の処理部
を順次経由させながら前記ガラス基板に処理を行う基板
処理方法であって、前工程の動作に基づいて決定される
搬送基準時から前工程の処理時間の最大ばらつき時間を
超える所定の待機時間だけ待機する工程と、前記待機時
間の経過後に複数のガラス基板の一括搬送を開始し、一
連のガラス基板を順次受け入れて処理を行う工程とを有
する。
【0024】
【発明の実施の形態】図1はこの発明の一の実施の形態
に係る基板処理装置1の構成を説明するための平面図で
ある。なお、図1では基板処理装置1と前工程および後
工程の装置との関係も図示している。
【0025】基板処理装置1は、液晶ディスプレイ用の
ガラス基板(以下、「基板」という。)8の製造に用い
られる装置であり、前工程装置91によりレジストが塗
布された基板8が搬送ロボット911により渡され、基
板8にレジスト塗布後の加熱および冷却を行う。加熱お
よび冷却が行われた基板8は搬送ロボット921により
取り出されて適宜、後工程装置92へと送られる。
【0026】図1に示すように、基板処理装置1は外部
から基板8を受け入れる受入部11、基板8を加熱する
第1処理部12、第1処理部12にて加熱された基板8
を冷却する第2処理部13、および、後工程に向けて払
い出される基板8が載置される払出部14を備え、これ
らの部位は基板8が搬送される方向に沿って並んでい
る。
【0027】受入部11、第1処理部12、第2処理部
13および払出部14には基板8を下方から支持するピ
ン111が複数設けられており、これらのピン111は
基板8の受け渡しの際に昇降する。
【0028】受入部11は外部から受け入れられる基板
8を載置しておく台であり、払出部14は外部へと払い
出される基板8を載置しておく台となっている。第1処
理部12には基板8を加熱するためのヒータが取り付け
られたホットプレートが設けられており、第1処理部1
2に受け入れられた基板8はピン111の下降によりホ
ットプレート上に載置され、加熱を伴う処理が行われ
る。第2処理部13には冷却されているクールプレート
が設けられており、第2処理部13に受け入れられた基
板8はピン111の下降によりクールプレート上に載置
され、冷却される。
【0029】また、基板処理装置1には基板8を搬送す
る搬送機構15が設けられており、搬送機構15は処理
部等の並び方向に伸びる1対の保持部材151、およ
び、保持部材151を処理部等の並び方向に移動させる
駆動部152を有する。駆動部152は搬送制御部16
からの信号を受けて制御されるようになっている。
【0030】各保持部材151は保持する基板8に向か
って突出する3つの載置部153を有しており、各載置
部153には基板8を支持するパッド154が取り付け
られている。このような構成により、1対の保持部材1
51は3対の載置部153を用いて3つの基板8を一括
して保持することが可能とされている。なお、1対の保
持部材151は駆動部152により同期して移動するよ
うになっている。
【0031】搬送機構15の動作制御を行う搬送制御部
16は待機時間設定部161を有しており、後述する待
機時間の設定は操作者の入力により、あるいは、自動的
に行われる。
【0032】次に、基板処理装置1の基本的な搬送動作
について図1ないし図3を用いて説明する。
【0033】まず、図1に示す状態にて3つの基板8は
受入部11、第1処理部12および第2処理部13のピ
ン111により上方に突き上げられており、1対の保持
部材151の3対の載置部153が各基板8の下方に位
置する。ここで、ピン111が下降し、各基板8が3対
の載置部153のパッド154上に載置される。
【0034】保持部材151が基板8を受け取ると、駆
動部152により保持部材151が矢印M1にて示す方
向に移動し、基板8が搬送される。これにより、受入部
11、第1処理部12および第2処理部13から各基板
8が第1処理部12、第2処理部13および払出部14
の上方に移動する。図2はこのときの基板8の位置を示
す図である。
【0035】基板8が搬送されると、第1処理部12、
第2処理部13および払出部14のピン111が上昇し
て基板8を突き上げ、保持部材151の載置部153か
らピン111へと基板8が渡される。その後、駆動部1
52により保持部材151が矢印M2にて示すように搬
送方向とは反対の方向へ移動し、各載置部153が受入
部11、第1処理部12、第2処理部13および払出部
14の間に位置する位置で停止する。図3はこのときの
保持部材151の様子を示す図である。
【0036】その後、第1処理部12および第2処理部
13では、ピン111が下降し、これにより、各処理部
にて基板8がホットプレートまたはクールプレート上に
載置される。その結果、第1処理部12では基板8が加
熱され、第2処理部13では基板8が冷却される。
【0037】所定の時間が経過して基板8の加熱を伴う
処理および冷却が完了すると、再び、第1処理部12お
よび第2処理部13ではピン111が基板8を上昇させ
る。また、基板8が加熱または冷却を受けている間に、
受入部11には前工程装置91にて処理が完了した基板
8が搬送ロボット911により載置され、払出部14の
基板8は搬送ロボット921により後工程装置92へと
払い出される(図1参照)。
【0038】処理を終えた基板8がピン111により上
昇すると、保持部材151が矢印M3にて示すようにさ
らに移動し、図1に示す状態に戻る。なお、以下の説明
では、図3に示す状態から図1および図2に示す状態を
経由して再び図3に示す状態に戻る一連の動作を「1回
の搬送動作」と呼ぶ。
【0039】以上のように、基板処理装置1では1回の
搬送動作にて受入部11上の基板8が第1処理部12へ
と搬送され、第1処理部12上の基板8が第2処理部1
3へと搬送され、第2処理部13上の基板8が払出部1
4へと搬送される。また、搬送機構15は3枚の基板8
の一括保持が可能であり、保持されたこれらの基板8は
同時に搬送される。
【0040】次に、搬送制御部16による基板処理装置
1の搬送動作について説明する。図4および5は基板処
理装置1の搬送動作の流れを示す流れ図であり、図6は
前工程の処理において処理時間のばらつきがないと仮定
した場合の基板8の移動の様子を示すタイムチャートで
ある。なお、図6では各搬送動作間の時間であるサイク
ル時間をT1とし、1枚目の基板8が受入部11に受け
入れられる時刻を0(基準時刻)としている。また、基
板8の搬送に要する時間を便宜上無視して図示してい
る。
【0041】まず、前工程の処理時間にばらつきがない
ものと仮定した上で基板処理装置1の動作について説明
し、後に、前工程の処理時間にばらつきがある場合の基
板処理装置1における基板8の移動の様子について説明
する。なお、前工程の処理時間とは、前工程装置91に
おける処理や搬送ロボット911による搬送を含む前工
程において要する時間というものとする。
【0042】基板処理装置1では、従来の基板処理装置
と異なり、一連の基板8(1ロットの基板8)の最初の
基板8が受入部11に受け入れられた直後に一定の待機
時間だけ搬送の開始の遅延が行われる。これにより、図
9に例示したような基板8を予定通りに受け取ることが
できずにスループットが低下してしまうという問題を解
決している。
【0043】そこで、基板処理装置1では搬送動作が開
始される前に、予め所定の待機時間T2が設定される
(ステップS11)。待機時間T2の設定は、操作者に
より入力されてもよく、サイクル時間T1に所定の割合
を乗じて得られる時間が待機時間T2として設定されて
もよい。なお、待機時間T2の設定条件の詳細について
は後述するが、適切な待機時間T2が設定されたものと
して以下の動作説明を行う。
【0044】待機時間T2の設定が行われると、基板処
理装置1は前工程の搬送ロボット911からの搬送開始
信号を待つ(ステップS12)。前工程の搬送ロボット
911は前工程装置91から基板8を受け取るとこの基
板8を受入部11のピン111上に載置し、基板処理装
置1の搬送制御部16に向けて基板8の搬送が可能とな
った旨を示す搬送開始信号を発信する。
【0045】搬送制御部16が搬送開始信号を受信する
と、この受信を基準としてタイマがスタートし、待機時
間T2の間だけ待機を行う(ステップS13,S1
4)。待機時間T2だけ時間が経過すると搬送制御部1
6はタイマをリセットするとともに搬送動作を開始する
(ステップS15,S21〜S25)。
【0046】搬送動作の際には、まず、タイマをスター
トした上で図1ないし図3に示した1回分の搬送動作が
行われる(ステップS21,S22)。すなわち、図3
から図1に示す状態に移行して受入部11の基板8を搬
送機構15が受け取り、図1から図2に示す状態に移行
して1枚目の基板8を第1処理部12に渡し、図2から
図3に示す状態に移行して停止する。これにより、処理
すべき一連の基板8のうち1枚目の基板8が受入部11
から第1処理部12へと搬送され、1枚目の基板8の加
熱を伴う処理が開始される。
【0047】その後、搬送制御部16では最後の基板8
が払出部14に送られたかどうかを確認した上でサイク
ル時間T1の経過を待つ(ステップS23,S24)。
サイクル時間T1が経過すると、タイマをリセットして
次の搬送動作を行う(ステップS25)。
【0048】2回目の搬送動作が開始される際には、時
刻T1に2枚目の基板8が受入部11に受け入れられて
いることから、図3、図1、図2に示す状態を経由して
図3に示す状態に戻ることにより、1枚目の基板8が第
1処理部12から第2処理部13へと移され、2枚目の
基板8が受入部11から第1処理部12へと移される。
これにより、1枚目の基板8が冷却され、2枚目の基板
8が加熱される。
【0049】続いて、3回目の搬送動作が行われると、
1枚目の基板8が払出部14に載置され、2枚目の基板
8が第2処理部13に移され、3枚目の基板8が第1処
理部12に移される。これにより、1枚目の基板8は払
出部14から搬送ロボット921により後工程装置92
へと送られ、2枚目の基板8は冷却され、3枚目の基板
8は加熱される。
【0050】以後、サイクル時間T1ごとに搬送動作が
繰り返され、一連の基板8が受入部11、第1処理部1
2、第2処理部13および払出部14を順次経由するよ
うに搬送される。
【0051】一連の基板8の最後の基板8が払出部14
に送られると、ステップS23により基板処理装置1の
動作が終了する。
【0052】図6は以上の搬送動作の様子をタイムチャ
ートにて示す図であり、図6中の符号L11,L12,
L13,L14はそれぞれ1枚目、2枚目、3枚目、4
枚目の基板8の移動の様子を示している。
【0053】前工程の処理に要する時間にばらつきがな
い、すなわち、搬送ロボット911が受入部11に基板
8を載置する時刻がサイクル時間T1ごとであってばら
つきがないと仮定した場合、1枚目の基板8が受入部1
1に受け入れられる時刻を基準時刻0とすると、時刻T
1,(T1×2),(T1×3)・・・に基板8は受入
部11に受け入れられる。
【0054】ここで、基板処理装置1では基準時刻0か
ら待機時間T2だけ待機を行うので、1枚目、2枚目、
3枚目の基板8はそれぞれ時刻T2,(T1+T2),
(T1×2+T2)に第1処理部12に向けて搬送され
る。
【0055】次に、1枚目の基板8の搬送を待機後に開
始する基板処理装置1において、前工程の処理に要する
時間がばらつく場合、すなわち、搬送ロボット911が
受入部11に基板8を載置する時刻にばらつきある場合
の基板8の移動の様子について図7を参照しながら説明
する。図7において、符号L21,L22,L23,L
24はそれぞれ一連の基板8の1枚目、2枚目、3枚
目、4枚目の基板8の移動の様子を示す。なお、他の図
と同様、搬送に要する時間を無視して示している。
【0056】まず、基準時刻0において1枚目の基板8
が受入部11に受け入れられると、待機時間T2だけ待
機した後、1枚目の基板8は第1処理部12へと搬送さ
れる。次に、時刻T1に受入部11に受け入れられるは
ずであった2枚目の基板8が時間ΔTだけ遅れて(すな
わち、時刻(T1+ΔT)に)受入部11に受け入れら
れたとする。この場合、後述する設定方法により待機時
間T2が時間ΔTよりも長く設定されているため、2枚
目の基板8は時刻(T1+T2)まで受入部11に放置
され、時刻(T1+T2)に第1処理部12に向けて搬
送される。
【0057】したがって、基板処理装置1では2枚目の
基板8は、図6に示す基板8の受け入れ時刻にばらつき
が生じない場合と同様に搬送されていくこととなり、ス
ループットが低下するという問題は生じない。同様に、
3枚目以降の基板8についても、基板8の受け入れが予
定よりも遅れたとしても図6と同様のタイミングで基板
8は搬送されていき、スループットが低下することはな
い。
【0058】なお、図7では符号L24にて4枚目の基
板8が受入部11に予定時刻(時刻(T1×3)よりも
時間ΔTだけ早く受け入れられた場合の様子を例示して
いるが、この場合には基板8が受入部11に放置される
時間が長くなるだけであり、基板8の搬送には影響は生
じない。
【0059】以上の説明の具体例として、例えば、前工
程から時刻0,60,120,180(秒)に基板8が
受け入れられる予定である場合に(サイクル時間T1が
60秒の場合に)、待機時間T2を20秒に設定する
と、前工程から実際には時刻0,61,119,181
(秒)に基板8が受け入れられたとしても搬送動作は時
刻20,80,140,200(秒)に行われ、これら
の時刻に各基板8を確実に搬送することが可能となり、
サイクル時間T1を60秒とする処理が実現される。
【0060】以上のように、基板処理装置1では1枚目
の基板8の搬送を開始する時刻を基準時刻0から待機時
間T2だけ遅らせることにより、受入部11への基板8
の受け入れ時刻がばらついたとしてもスループットの低
下を抑えることができる。
【0061】すなわち、従来の基板処理装置では図9に
示したように、基準時刻0に1枚目の基板8の搬送を開
始するため、基板8の受け入れが予定の時刻から遅れて
しまうとこの基板8を予定通りに搬送することができ
ず、スループットが低下してしまう。仮に、遅れた基板
8をタイミングを遅らせて搬送したならば(処理部での
基板の滞留時間と処理時間とが同一であることから)第
1処理部12による過剰加熱により基板8が損なわれて
しまう。しかしながら、このような問題はこの発明に係
る基板処理装置1では発生しない。
【0062】次に、搬送制御部16の待機時間設定部1
61における待機時間T2の設定条件について説明す
る。
【0063】基板8の受け入れ時刻が予定の時刻よりも
最大ΔT1だけ遅れる可能性があり、予定の時刻よりも
最大ΔT2だけ早まる可能性がある場合には、ある基板
8が受入部11に受け入れられてから次の基板8が受入
部11に受け入れられるまでの時間は、最長で(T1+
ΔT1+ΔT2)となる。
【0064】ここで、待機時間T2は前工程による処理
時間のばらつきを主な原因とする基板8の受け入れ時刻
のばらつきの影響をなくすために設定されるものである
ことから、待機時間T2は、基板8の受け入れ時刻の最
大のばらつき時間(ΔT1+ΔT2)よりも長い時間と
して設定される。そして、待機時間T2の設定により、
1枚目の基板8の搬送は、1枚目の基板8が受入部11
に受け入れられてから待機時間T2の経過後に開始され
る。
【0065】なお、次の基板8が受入部11に受け入れ
られるまでには既に受け入れられている先の基板8に対
する搬送動作を開始する必要があり、先の基板8が受入
部11に受け入れられてから次の基板8が受入部11に
受け入れられるまでの時間は、最短で(T1−ΔT1−
ΔT2)であることから、最終的には待機時間T2は数
1の条件を満たす必要がある。
【0066】
【数1】
【0067】実際に設定される待機時間T2は、さらに
安全を考慮して設定される。また、待機時間T2が自動
的に求められる場合には、前工程の処理時間のばらつき
がおよそサイクル時間T1に比例することから、サイク
ル時間T1に安全を考慮した割合を乗じたものが待機時
間T2とされる。
【0068】以上の説明は、1枚目の基板8が実際に受
入部11に受け入れられる時刻を基準時刻0とする場合
の待機時間T2の設定である。このような設定方法は、
例えば、前工程の搬送ロボット911が1枚目の基板8
を受入部11に載置してから搬送ロボット911が搬送
制御部16に搬送開始信号を発信する場合に適した方法
である。
【0069】一方、装置の仕様によっては(例えば、前
工程装置91の基板8の払い出し位置が受入部11であ
る場合には)前工程装置91から受入部11に1枚目の
基板8が載置される予定の時刻が搬送開始信号として転
送される場合もある。すなわち、前工程装置91の動作
と基板処理装置1の動作との同期が図られる場合には、
受入部11に実際に基板8が載置された時刻が基準とな
るのではなく、前工程装置91の動作サイクルを基準と
して基板処理装置1の動作タイミングが決定される。
【0070】この場合には、1枚目の基板8が基準時刻
0に受け入れられる予定とされ、2枚目の基板8は時刻
T1に受け入れられる予定とされる。したがって、各基
板8は予定時刻から最大ΔT1だけ遅れて受入部11に
受け入れられる可能性があり、予定時刻よりも最大ΔT
2だけ早く受入部に受け入れられる可能性があるとする
と、待機時間T2は最大の遅れ時間ΔT1よりも長く設
定する必要があり、先の基板8の受け入れ予定時刻から
次の基板8が受け入れられる可能性のある時刻までの時
間(T1−ΔT2)よりも短く設定する必要がある。す
なわち、数2の条件を満たすことが必要となる。
【0071】
【数2】
【0072】なお、実際の待機時間T2の設定では、次
の基板8が受け入れられる時刻を考慮しなければならな
いほど長い待機時間T2が設定されることはあまりな
く、基板8が予定時刻よりも遅れて受け入れられる場合
に注目して設定される。すなわち、1枚目の基板8が受
け入れられる時刻を基準時刻とする場合には、待機時間
T2を最大ばらつき時間(ΔT1+ΔT2)よりも長く
設定し、1枚目の基板8の受け入れ予定時刻を基準時刻
とする場合には、待機時間T2を最大ばらつき時間ΔT
1よりも長く設定することが重要となる。
【0073】以上のように、待機時間T2の設定は前工
程の動作に基づく基準時刻の決定方法に依存するもので
あるが、前工程の最大のばらつき時間(最長の遅れ時
間)を超える時間として設定される。
【0074】以上、この発明の一の実施の形態に係る基
板処理装置1について説明してきたが、この発明は上記
実施の形態に限定されるものではなく、様々な変形が可
能である。
【0075】例えば、上記実施の形態における基板処理
装置1は、基板8にレジスト塗布後の加熱を伴う処理お
よび冷却を行う装置であるが、レジスト以外の薬液塗布
後の基板に加熱を行う基板処理装置にも利用可能であ
り、洗浄後の加熱乾燥を行う基板処理装置にも利用可能
である。さらに、加熱を伴う処理に限定されず、一定の
サイクル時間ごとに基板8を受け入れて処理する必要の
ある基板処理装置であるならばどのようなものにもこの
発明を適用することができる。同様に、前工程もレジス
ト塗布装置に限定されるものではなく、基板の払い出し
がサイクル時間T1に対してばらつきを生じる装置であ
れば、この発明に係る基板処理装置が効果を奏すること
ができる。
【0076】なお、この発明に係る基板処理装置1で
は、基板8の払い出しをサイクル時間T1ごとに一定に
行うことができるため、後工程装置92が基板8の受け
入れ時刻のばらつきを許容しない装置である場合であっ
ても、基板処理装置1と後工程装置92との連携動作を
容易に行うことができる。
【0077】また、上記実施の形態では待機時間T2が
手動により、あるいは、自動的に設定されると説明した
が、基板処理装置1の処理内容(レシピ)の変更が予定
されていない場合には、待機時間T2は固定値として搬
送制御部16に保持されていてもよい。
【0078】また、上記実施の形態では処理部等の並び
方向に長い保持部材151を用いて複数の基板8を処理
部等の並び方向に一括して搬送するようになっている
が、処理部等が円周上に配置され、複数の基板8が円周
方向に一括搬送されるようになっていてもよい。処理部
の数も2つに限定されるものではなく3以上であっても
よく、一括保持される基板8の最大数も4以上であって
もよい。
【0079】また、上記実施の形態では基板8は液晶デ
ィスプレイ製造用のガラス基板であるが、他のガラス基
板(例えば、プラズマディスプレイ製造用のガラス基
板)であってもよい。
【0080】
【発明の効果】請求項1ないし5の発明では、基板処理
のスループットの低下を抑えることができる。
【0081】また、請求項2の発明では、薬液塗布後の
基板の加熱を適切に行うことができる。
【0082】また、請求項3の発明では、複数の基板の
一括搬送を行うことができる。
【0083】また、請求項4の発明では、適切な待機時
間を自動的に求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一の実施の形態に係る基板処理装置
の構成を示す平面図である。
【図2】図1に示す基板処理装置の動作を説明するため
の図である。
【図3】図1に示す基板処理装置の動作を説明するため
の図である。
【図4】図1に示す基板処理装置の動作の流れを示す流
れ図である。
【図5】図1に示す基板処理装置の動作の流れを示す流
れ図である。
【図6】図1に示す基板処理装置における基板の移動の
様子を示すタイムチャートである。
【図7】図1に示す基板処理装置における基板の移動の
様子を示すタイムチャートである。
【図8】従来の基板処理装置における基板の移動の様子
を示すタイムチャートである。
【図9】従来の基板処理装置における基板の移動の様子
を示すタイムチャートである。
【符号の説明】
1 基板処理装置 8 基板 12 第1処理部 13 第2処理部 15 搬送機構 16 搬送制御部 151 保持部材 152 駆動部 161 待機時間設定部 S11〜S15,S21〜S25 ステップ T1 サイクル時間 T2 待機時間

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 前工程からのガラス基板を一定のサイク
    ル時間ごとに受け入れて処理を行う基板処理装置であっ
    て、 複数の処理部と、 一連のガラス基板のそれぞれが前記複数の処理部を順次
    経由するように、複数のガラス基板を一括搬送する搬送
    手段と、 前工程の動作に基づいて決定される搬送基準時から前工
    程の処理時間の最大ばらつき時間を超える所定の待機時
    間経過後に、一連のガラス基板の最初のガラス基板の搬
    送を前記搬送手段に開始させる制御手段と、を備えるこ
    とを特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置であっ
    て、 前記複数の処理部が、薬液塗布後のガラス基板を加熱す
    る処理部を含むことを特徴とする基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の基板処理装置
    であって、 前記搬送手段が、 複数の基板を一括保持する保持部材と、 前記保持部材を前記複数の処理部の並び方向に移動させ
    る移動手段と、を有することを特徴とする基板処理装
    置。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかに記載の基
    板処理装置であって、 前記制御手段が、前記サイクル時間に所定の割合を乗じ
    て前記待機時間を求める手段を有することを特徴とする
    基板処理装置。
  5. 【請求項5】 前工程からのガラス基板を一定のサイク
    ル時間ごとに受け入れ、複数の処理部を順次経由させな
    がら前記ガラス基板に処理を行う基板処理方法であっ
    て、 前工程の動作に基づいて決定される搬送基準時から前工
    程の処理時間の最大ばらつき時間を超える所定の待機時
    間だけ待機する工程と、 前記待機時間の経過後に複数のガラス基板の一括搬送を
    開始し、一連のガラス基板を順次受け入れて処理を行う
    工程と、を有することを特徴とする基板処理方法。
JP27101999A 1999-09-24 1999-09-24 基板処理装置および基板処理方法 Pending JP2001093955A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27101999A JP2001093955A (ja) 1999-09-24 1999-09-24 基板処理装置および基板処理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27101999A JP2001093955A (ja) 1999-09-24 1999-09-24 基板処理装置および基板処理方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001093955A true JP2001093955A (ja) 2001-04-06

Family

ID=17494284

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27101999A Pending JP2001093955A (ja) 1999-09-24 1999-09-24 基板処理装置および基板処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001093955A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2005055314A1 (ja) * 2003-12-01 2007-06-28 株式会社日立国際電気 基板処理装置
JP2013038126A (ja) * 2011-08-04 2013-02-21 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板処理方法および記憶媒体
CN111489986A (zh) * 2019-01-28 2020-08-04 东京毅力科创株式会社 基片处理装置和基片处理方法
KR20220040390A (ko) * 2020-09-23 2022-03-30 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 반도체 제조 장치, 기판 반송 방법 및 프로그램

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2005055314A1 (ja) * 2003-12-01 2007-06-28 株式会社日立国際電気 基板処理装置
JP4568231B2 (ja) * 2003-12-01 2010-10-27 株式会社日立国際電気 基板処理装置及び半導体装置の製造方法
JP2013038126A (ja) * 2011-08-04 2013-02-21 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板処理方法および記憶媒体
CN111489986A (zh) * 2019-01-28 2020-08-04 东京毅力科创株式会社 基片处理装置和基片处理方法
CN111489986B (zh) * 2019-01-28 2024-03-22 东京毅力科创株式会社 基片处理装置和基片处理方法
KR20220040390A (ko) * 2020-09-23 2022-03-30 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 반도체 제조 장치, 기판 반송 방법 및 프로그램
KR102640519B1 (ko) 2020-09-23 2024-02-23 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 반도체 제조 장치, 기판 반송 방법 및 프로그램

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5392190B2 (ja) 基板処理システム及び基板処理方法
TWI288455B (en) Substrate recovery method and substrate processing apparatus
US6834210B2 (en) Substrate processing system and substrate processing method
US20070166030A1 (en) Semiconductor device fabrication equipment and method of using the same
TW499697B (en) Film forming unit
JP4279102B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
JP2001093955A (ja) 基板処理装置および基板処理方法
CN110943005B (zh) 基板处理装置以及基板处理方法
WO2008013211A1 (en) Substrate processing method, program, computer-readable recording medium, and substrate processing system
US6461986B2 (en) Substrate processing method apparatus and substrate carrying method
JP2002043208A (ja) 塗布現像処理方法
JP4172553B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JP4343326B2 (ja) 基板搬送装置および露光装置
JP2004296773A (ja) 基板の温度管理方法及び温度管理装置
JPH11340297A (ja) 基板搬送装置および方法
JP3793004B2 (ja) 基板の搬送方法
JPH10335412A (ja) 基板処理装置
JP2000033540A (ja) 生産システム
JP3793063B2 (ja) 処理方法及び処理装置
JP4219447B2 (ja) 現像処理装置および現像処理方法
TW487835B (en) Automation system and its control method
JP6891006B2 (ja) 基板処理システム及び基板処理システムの搬入制御方法
JP3093094B2 (ja) カラーフィルタ製造装置
KR100984360B1 (ko) 노광 시스템
JP2012048061A (ja) 露光システム及びその制御方法