JP2001074818A

JP2001074818A - 実装基板の不良探索方法及び実装基板の不良探索装置

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Publication number: JP2001074818A
Application number: JP24710899A
Authority: JP
Inventors: Masato Nikaido; 正人二階堂
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1999-09-01
Filing date: 1999-09-01
Publication date: 2001-03-23

Abstract

(57)【要約】【課題】ＩＣ及び電子部品が実装された実装基板の不
良箇所を特定する不良探索方法において、自動的且つ短
時間に不良探索を行う汎用的な探索手法及び探索装置を
提供する。【解決手段】良品基板と対象基板をそれぞれ別個にテ
ストプログラムで動作させ、測定手段を用いて全ネット
または選択ネットの信号を測定する（Ｓ１）。対応する
ネットで設定レベル以上の差が見られた対象基板の不良
伝播ネットを抽出し（Ｓ２）、これから信号の上流側に
向かって探索経路を選定するにあたって、ネットのパタ
ーンを分類し、その分類に基づいて更に部品端子を信号
入力端子又は信号出力端子に分類して、ネット相互間の
信号の流れ方向を判定する（Ｓ３）。更に、ネットパタ
ーンの分類に基づいた優先順位付けで次の探索候補とな
る不良伝播ネットを選択する（Ｓ４）ことで、不良ネッ
トを自動的に且つ短時間で検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣ又は電子部品
等の電子回路が実装された実装基板の機能不良や製造不
良の箇所を探索する、実装基板の不良探索方法及び装置
に関し、特に、良品基板と対象基板との間で各ネットの
信号を相互に比較して対象基板の異常ネットを抽出した
後に、源流の不良箇所を探索する際に好適な実装基板の
不良探索方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、電子回路を実装した実装基板の機
能不良の探索は、熟練者または回路設計者が、ＩＣ端子
や基板パッドに電気プローブを当てて、オシロスコープ
やスペクトルアナライザ等の計測器を用いて信号を解析
し、各個人が持つ知識やノウハウによって不良箇所の探
索を行っていた。

【０００３】上記以外に、電子回路実装基板の機能不良
を自動的に探索する自動探索装置が、例えば特開平１−
２６３５７１号公報に提案されている。同公報は、機能
不良の探索作業を自動的に行うことにより、不良探索作
業を行う作業者のスキルや経験に左右されることなく、
一定の上限時間内に電子回路実装基板の機能不良探索を
行うことを目的としたものである。

【０００４】図１６は、上記公報に記載の機能不良探索
装置の構成を示した機能ブロック図である。この機能不
良探索装置は、不良探索を行う電子回路実装基板（対象
基板）２７の機能検証を行うファンクションボードテス
タ部２１と、コンタクトピン２６をＸ−Ｙ−Ｚ方向に自
動的に移動するハンドラ部２２と、コンタクトピン２６
が採取した対象基板２７の各ポイントのデータを入力し
て解析するシグネチャアナライザ部２３と、シグネチャ
アナライザ部２３からの解析データと正しいデータとを
比較照合して、対象基板の各ポイントの良否の判定を行
うコンピュータ部２４と、コンピュータ部２４に各種の
指令を入力するキーボード２５とを具備している。

【０００５】上記機能不良探索装置では、ファンクショ
ンボードテスタ部２１から、対象基板２７に所定のテス
トパターンを有するテストデータが送られる。コンピュ
ータ部２４が、対象基板２７の回路の論理的に浅い順に
対象基板２７上のＩＣのＸ−Ｙ座標を出力し、その位置
にハンドラ部２２に取り付けられたヘッド部２８が位置
決めされ、コンタクトピン２６がＩＣのピンにコンタク
トする。コンタクトピン２６を経由して対象基板２７の
１ポイントのデータがシグネチャアナライザ部２３に取
り込まれ、予め採取されている良品データとの比較照合
がコンピュータ部２４により行われる。良品との比較照
合結果が良の場合には、対象基板２７の１ステップ深い
位置にハンドラ部２２を移動して、次のポイントにコン
タクトピン２６をコンタクトさせる。

【０００６】以上の作業を、対象基板の電子回路の論理
的に浅い位置から深い位置について順次に繰り返し、良
品データとの比較照合結果が否と判定されたときは、探
索を停止し、否と判定されたポイントをディスプレイに
表示するので、この位置のＩＣを良品と交換すればよ
い。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来技術では、次のような問題点があった。まず、人
間の手作業による探索では、各個人の能力や経験が探索
効率に影響する上に、高密度化が進展する実装基板に対
してはプローブによる作業が困難であり、また、探索に
多大な時間を有するという問題があった。

【０００８】一方、従来のシグネチャアナライザを用い
た機能不良探索装置では、ファンクションボードテス
タ、シグネチャアナライザといった高価な測定機器を必
要とし、探索システムが高価になる上に、シグネチャア
ナライザでは、同期、波形比較といった高度な解析のた
めに、データ取得や解析に時間がかかるという問題があ
った。

【０００９】本発明の目的は、ＩＣ及び／又は電子部品
から成る電子回路が実装された実装基板の機能不良ある
いは製造不良の箇所を特定する不良探索を行う方法であ
って、詳細な回路情報を必要とすることなく、簡易な装
置構成で自動的に且つ短時間で不良探索を行うことがで
きる、汎用的な探索手法を実現した実装基板の不良探索
方法及び実装基板の不良探索装置を提供するものであ
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の実装基板の不良
探索方法は、電子回路が実装された基板の不良探索を行
う実装基板不良探索方法において、予め作成したテスト
プログラムを用いて、良品基板及び対象基板をそれぞれ
動作させ、信号測定手段を用いて全ネット又は選択され
た所定ネットの信号を測定する第１の工程と、前記良品
基板及び前記対象基板の測定結果を相互に比較し、対応
する双方のネットで設定レベル以上の差が検出された対
象基板のネットを不良伝播ネットとして抽出する第２の
工程と、前記不良伝播ネットを該不良伝播ネットに接続
する部品端子の属性に基づいて複数種類のネットパター
ンに分類し、該ネットパターンの分類に基づいて、前記
部品端子を、信号を出力する信号出力端子、又は、信号
を入力する信号入力端子の何れかに分類する第３の工程
と、前記不良伝播ネットから他の不良伝播ネットに遡る
工程であって、前記不良伝播ネットに接続され且つ前記
出力信号端子として分類された端子を有する部品を中継
地点として、該部品の信号入力端子に接続されたネット
を不良伝播ネット候補として抽出し、該抽出された不良
伝播ネット候補に基づいて前記第３の工程及び次の不良
伝播ネット候補の抽出を繰り返し、順次に上流側の不良
伝播ネット候補を抽出することで源流の不良発生ネット
を特定する第４の工程とを有し、前記第４の工程では、
前記第３の工程で設定したネットパターンの分類に基づ
いて、前記中継地点において不良伝播ネット候補に優先
順位を付けることを特徴とする。

【００１１】本発明の実装基板の不良探索方法によれ
ば、テストプログラムを印加しながら、全ネット又は所
定の選択されたネットに対して、簡易な回路構成によっ
て測定及び比較が可能な測定項目であるパルス数、周波
数又は電圧等を測定し、良品基板との比較から不良伝播
ネットを抽出する。抽出された不良伝播ネットから、信
号の伝達方向で見て上流側の不良伝播ネット候補に探索
を移行する際に、ネットに接続する部品端子の属性に基
づいてネットを複数種類のネットパターンに分類し、そ
の分類に基づいて各不良伝播ネット候補に優先順位を付
けて探索を行うことにより、順次に次の不良伝播ネット
に移行でき、これによって容易に源流の不良箇所を抽出
できるので、簡易なシステム構成を保ちつつ自動的に且
つ高速で不良箇所を特定できる。

【００１２】本発明の不良探索方法の第３の工程におけ
る前記ネットパターンの分類では、前記不良伝播ネット
又は不良伝播ネット候補に接続した部品端子の属性に基
づいて、前記不良伝播ネット又は不良伝播ネット候補
を、電源を含むネットである第１分類ネット（以下、Ｖ
ネットと呼ぶ）、グランド（接地）を含むネットである
第２分類ネット（以下、Ｇネットと呼ぶ）、出力端子と
入力端子とに接続されたネットである第３分類ネット
（以下、ＯＩネットと呼ぶ）、出力端子と１つの双方向
端子とに接続されたネットである第４分類ネット（以
下、ＯＢネットと呼ぶ）、入力端子と１つの双方向端子
とに接続されたネットである第５分類ネット（以下、Ｂ
Ｉネットと呼ぶ）、出力端子と双方向端子と入力端子と
に接続されたネットである第６分類ネット（以下、ＯＢ
Ｉネットと呼ぶ）、出力端子と２つ以上の双方向端子と
に接続されたネットである第７分類ネット（以下、ＯＢ
Ｂネットと呼ぶ）、ＯＢネット、ＢＩネット、ＯＢＩネ
ット、ＯＢＢネットに含まれず、かつ双方向端子に接続
されたネットである第８分類ネット（以下ＢＢネットと
呼ぶ）、入力端子のみに接続されたネットである第９分
類ネット（以下Ｉネットと呼ぶ）の何れかに分類するこ
とが好ましい。このように分類することによって、探索
経路が不良伝播ネットから、信号伝達方向で見て上流側
の不良伝播ネット候補に移行する際に、有効に優先順位
を付けることができるので、不良探索における作業効率
が向上する。

【００１３】ここで、前記部品端子の分類は、ＯＩネッ
トでは部品の出力端子を信号出力端子に、入力端子を信
号入力端子に分類し、ＯＢネットでは部品の出力端子を
信号出力端子に、双方向端子を信号入力端子に夫々分類
し、ＢＩネットでは部品の双方向端子を信号出力端子
に、入力端子を信号入力端子に夫々分類し、ＯＢＩネッ
トでは部品の出力端子を信号出力端子に、双方向端子を
信号出力端子および信号入力端子に、入力端子を信号入
力端子に夫々分類し、ＯＢＢネットでは部品の出力端子
を信号出力端子に、双方向端子を信号出力端子および信
号入力端子に夫々分類し、ＢＢネットでは部品の双方向
端子を信号出力端子および信号入力端子に、入力端子を
信号入力端子に夫々分類し、Ｉネットでは部品の入力端
子を信号入力端子に分類することが好ましい。かかる構
成によって、探索中の不良伝播ネットから、信号伝達方
向に見て上流側の探索経路に容易に移行できる。

【００１４】前記部品端子の分類では、一般に、Ｖネッ
トでは該Ｖネット内の任意の部品端子を信号入力端子に
分類し、Ｇネットでは該Ｇネット内の任意の部品端子を
信号入力端子に分類する。

【００１５】前記第４の工程において、前記中継地点に
おける不良伝播ネット候補として、既に抽出済みの不良
伝播ネット又は不良伝播ネット候補と、新たに抽出され
た不良伝播ネット候補とが存在するときには、該新たに
抽出された不良伝播ネット候補を選択することが好まし
い。既に抽出されたネットを除くことで作業の効率化が
可能である。

【００１６】前記第４の工程において、前記中継地点に
おける不良伝播ネット候補が、既に抽出された不良伝播
ネット又は不良伝播ネット候補のみを含む場合には、該
中継地点で経路の探索を終了することが好ましい。この
場合には、これ以上の探索経路が見つかる見込みがない
からである。

【００１７】前記第４の工程において、前記中継地点の
部品の信号入力端子の何れにも不良伝播ネットが接続さ
れていない場合には、最終的に行き着いた不良伝播ネッ
ト、及び、該最終的に行き着いた不良伝播ネットの１段
入力側のネットを不良発生ネットと判定することが好ま
しい。１段入力側のネットを含めるのは、不良ネット自
体には、信号異常が見られない場合があるからである。

【００１８】前記第４の工程において、探索中の不良伝
播ネットに複数の中継地点があり、該複数の中継地点
が、既に探索された中継地点と、新たに探索された中継
地点とを含む場合には、該新たに探索された中継地点を
次の探索の中継地点として選択することが好ましい。既
に探索された中継地点からは新たな不良伝播ネット候補
が見つかる見込みがないからである。

【００１９】前記第４の工程において、前記不良伝播ネ
ット又は不良伝播ネット候補に複数の信号出力端子が接
続されており、該複数の信号出力端子が部品の出力端子
及び双方向端子を含み、且つ、双方に不良伝播ネット候
補が存在する場合には、前記出力端子を有する部品を次
の探索の中継地点として選択することが好ましい。この
場合、不良ネットに行き着く可能性がより高い。

【００２０】前記第４の工程において、次の探索経路と
して、部品の入力端子に接続された不良伝播ネット又は
不良伝播ネット候補と、双方向端子に接続された不良伝
播ネット又は不良伝播ネット候補とが存在するときに
は、前記入力端子に接続された不良伝播ネット又は不良
伝播ネット候補を次の探索経経路として選択することが
好ましい。この場合にも、不良ネットに行き着く可能性
がより高い。

【００２１】前記第４の工程において、前記不良伝播ネ
ット候補として、Ｖネット又はＧネットが抽出されたと
きには、該Ｖネット又はＧネットを次の探索経路として
選択することが好ましい。Ｖネット及びＧネットは、多
数の部品が接続されるので、不良が発生する頻度が高
く、従って、不良ネットに行き着く可能性が高いからで
ある。

【００２２】前記第４の工程において、前記不良伝播ネ
ット候補として、ＯＩネット又はＯＢネット又はＢＩネ
ットと、ＯＢＩネット又はＯＢＢネット又はＢＢネット
又はＢネットとが抽出されたときには、ＯＩネット又は
ＯＢネット又はＢＩネットを次の探索経路として選択す
ることが好ましい。この場合にも、不良ネットに行き着
く可能性がより高い。

【００２３】前記第４の工程において、次の探索候補と
して、ＩネットとＩネット以外の不良伝播ネットとが抽
出された場合、Ｉネット以外の不良伝播ネットを次の探
索経路として溯ることが好ましい。この場合にも、不良
ネットに行き着く可能性がより高い。

【００２４】第１の工程における測定は、予め作成した
テストプログラムに代えて、実装基板に電源のみを供給
した状態で行うことも本発明の好ましい態様である。特
定の電子回路の場合には、単に電源の供給のみで不良探
索が可能であり、この場合、簡易に不良探索が可能であ
る。

【００２５】前記第１の工程における測定は、対象とす
るネットの信号特性に基づいて、パルス数、周波数及び
電圧の少なくとも１つを測定するものであることが好ま
しい。簡素な構成の測定回路で測定が可能であり、ま
た、これに基づく判定も容易である。

【００２６】前記第１の工程における測定時間は、測定
ポイントにおいて、テストプログラムの開始から一定時
間、又は、前記テストプログラム実行中の任意のタイミ
ングにおける一定時間、又は、前記テストプログラムの
開始から不良が発生するまでの時間、又は、前記テスト
プログラムの開始からパルス数が予め設定された値にな
るまでの時間、又は、前記テストプログラムの一周期の
時間の何れかであることが好ましい。これらの測定によ
って通常の不良は容易に検出できる。

【００２７】前記第１の工程における測定が電圧測定を
含み、該電圧測定は、測定時における最高電圧及び平均
電圧の少なくとも一方の測定であることが好ましい。こ
の場合、ネットの構成を勘案して、何れか又は双方を選
択する。

【００２８】前記第２の工程における判定は、対象基板
におけるパルス数、周波数又は電圧の測定値と、良品基
板における対応する測定値との間の比または差分に基づ
いて行われることが好ましい。比及び差分は容易に得ら
れ、また、これらによって良／不良の判定が可能だから
である。

【００２９】ネットパターンの分類は、前記不良伝播ネ
ット又は不良伝播ネット候補に接続される部品端子の出
力、入力、双方向、電源、又は、グランド（接地）から
なる端子属性、及び、該端子属性の種類数によって、伝
播タイプ別に分類することが好ましい。これらによっ
て、不良の伝播方向が定まるからである。

【００３０】前記第４の工程では、複数個の不良伝播ネ
ット間で閉ループを形成し、かつ、該閉ループ上にある
任意の不良伝播ネットに対して、入力側へ溯る別の不良
伝播ネットが存在しない場合には、前記閉ループ上にあ
る全ての不良伝播ネットおよび前記閉ループ上にある全
ての不良伝播ネットの１段入力側のネットを不良ネット
と判定することが好ましい。１段入力側のネットを含め
るのは、不良ネット自体には、信号異常が見られない場
合があるからである。

【００３１】また、本発明の実装基板の不良探索装置
は、電子回路が実装された基板の不良探索を行う実装基
板不良探索装置において、良品基板及び対象基板の信号
を測定する測定手段と、前記良品基板及び前記対象基板
の測定結果を相互に比較し、前記対象基板の不良伝播ネ
ットを抽出する第１の抽出手段と、前記不良伝播ネット
を該不良伝播ネットに接続する部品端子の属性に基づい
て複数種類のネットパターンに分類し、該ネットパター
ンの分類に基づいて、前記部品端子を、信号を出力する
信号出力端子、又は、信号を入力する信号入力端子の何
れかに分類する分類手段と、前記抽出された不良伝播ネ
ットの中から前記第３の工程で分類したネットパターン
の分類に基づき源流の不良発生ネットを抽出する第２の
抽出手段とを具備することを特徴とする。

【００３２】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態例に基づ
いて図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の
一実施形態例の実装基板の不良探索方法を示すフローチ
ャートである。本実施形態例の不良探索方法は、良品基
板及び対象基板（不良基板）をそれぞれ別個に、予め作
成したテストプログラムで動作させ、全ネット又は選択
されたネットの信号を測定する第１の工程（ステップＳ
１）と、双方の基板の測定結果を比較し、対応するネッ
トの信号が設定レベル以上の差異を有すると判定された
場合には、対象基板のネットを不良伝播ネットとして抽
出する第２の工程（ステップＳ２）と、不良伝播ネット
を、該不良伝播ネットに接続する部品端子の属性に基づ
いて複数種類のネットパターンに分類し、更に、このネ
ットパターンの分類に基づいて、接続された各部品端子
を信号出力端子又は信号入力端子の何れかに分類する第
３の工程（ステップＳ３）と、任意の不良伝播ネット
（又は不良伝播ネット候補）に対して、該不良伝播ネッ
トと接続された部品端子の属性及び分類を調べ、不良伝
播ネットと信号出力端子で接続された部品を抽出し、次
にこの抽出された部品を中継地点として、該中継地点に
接続された複数個の別の不良伝播ネット（又は不良伝播
ネット候補）の中から、他の部品の信号出力端子に接続
された不良伝播ネットを抽出し、順次に、同様の手順で
信号の上流側に不良伝播ネット又は不良伝播ネット候補
を溯り、源流の不良ネットを特定する第４の工程（ステ
ップＳ４）とを有する。

【００３３】第４の工程では、第３の工程で設定したネ
ットパターンの分類と、各ネットパターン毎に予め定め
た優先順位とに基づいて、複数の不良伝播ネットに優先
順位を付け、この優先順位に基づいて次の探索経路とな
る不良伝播ネット候補を抽出し、第３の工程とこの手順
とを繰り返すことで、不良伝播ネット及び不良伝播ネッ
ト候補を入力側に溯り、源流の不良ネットを抽出する。

【００３４】ここで、源流とは不良個所又は障害箇所の
根元箇所をいい、電子回路では、その根元箇所から源流
に基づく不良原因を引きずって出力側の末端にまで影響
がある。このため、本発明では、不良伝播ネットと判定
されたネットから、入力側に不良伝播ネット及び不良伝
播ネット候補を遡っていって源流に至り、この源流の不
良を正常化することによって一連の作業を終了する。

【００３５】なお、上記第１の工程における測定時間
は、所望の測定ポイントにおいて、テストプログラム開
始から一定時間、或いは、テストプログラム実行中の任
意のタイミングにおける一定時間、或いは、テストプロ
グラム開始から不良が発生するまでの時間、或いは、テ
ストプログラム開始からパルス数が予め設定した値にな
るまでの時間、或いは、テストプログラムの一周期の時
間の何れかとする。

【００３６】一般的に、制御信号等のパルス信号は不規
則な信号であり、測定するタイミングや測定時間により
その測定値が異なる。そこで、本実施形態例では、テス
トプログラムの開始から一定時間の領域で測定する測定
方法や、テストプログラムの１周期と等しい測定時間で
測定する測定方法等を適用する。テストプログラムの開
始から一定時間経過後に測定する測定方法を採用する場
合に、その一定時間が短いと、良品と不良品とで測定信
号に差が生じない場合があり得る。そのような場合に
は、テストプログラムの開始から不良発生に至るまでの
時間が既知であるならば、その不良発生までの既知の時
間を設定することにより、必要最小時間内で差が検出で
きる。なお、パルスカウントの測定は、電圧しきい値を
ハイレベル判定範囲の下限付近に設定し、パルスの立ち
下がりまたは立ち上がりで測定すれば良い。

【００３７】また、これまでは、テストプログラムで基
板を稼動させた状態での測定を前提としていたが、パソ
コンのマザーボードなど、基板上にＣＰＵを搭載し、基
板単独で信号を制御できる機能を有している基板におい
ては、電源投入状態またはリセット状態である定常状態
に固定されていると考えることができる。このような基
板に対しては、電源投入のみの状態で、任意のタイミン
グにおける一定時間内のパルス数及び電圧を測定するこ
とで同様の検査が可能である。

【００３８】図２は、図１で示した探索手順を実行する
システムの構成例を示すブロック図である。本不良探索
システムは、テストプログラム制御部１、プローブ移動
機構２、パーソナルコンピュータ（以下パソコンと略
称）３、カウンタ４、電圧計５、及び、プローブ６を具
備している。図中符号７は、良品又は検査対象である実
装基板を示す。

【００３９】テストプログラム制御部１は、実装基板７
を予め作成したテストプログラムに基づいて稼動させ
る。プローブ移動機構２は、プローブ６を実装基板７上
における指定されたポイントに移動する機構であり、
Ｘ、Ｙ、Ｚの３軸移動機構を備えている。カウンタ４
は、プローブ６の検出信号からパルス数をカウントす
る。電圧計５は、プローブ６の検出信号から電圧を測定
する。パソコン３は、テストプログラム制御部１及びプ
ローブ移動機構２を制御し、かつカウンタ４及び電圧計
５の測定結果を読み込み信号処理を行う。

【００４０】上記実施形態例のシステムでは、パルス数
や電圧等の測定は、実装基板７のレイアウトデータと、
ネット接続情報とに基づいて、各ネットに接続されてい
る部品端子または基板パッドを、各ネットで１ポイント
選択し、自動プロービング及び測定を順次に繰り返すこ
とで実行される。

【００４１】パルス数と電圧の測定による不良ネット、
不良ＩＣの検出原理の概要を説明する。一般に不良の原
因として、プリント基板内の断線や配線の短絡不良、実
装部品の端子接合部でのオープンやショート不良といっ
た製造不良や、電子部品の故障が挙げられる。このた
め、実装基板の製造工程においては、インサーキットテ
ストや外観検査により製造不良の検査を実施している。
しかしながら、近年の実装基板の微細化、高密度化の進
展により、すべての端子やテストパッドにプロービング
することができず、製造不良をすべて検出することは事
実上不可能である。

【００４２】不良ネットの存在によって、これに後続す
るネットは、不良伝播ネット（異常ネット）となる。通
常、デジタルＩＣの信号はパルス信号であるので、パル
ス発生タイミング等の厳密な解析には、ロジックアナラ
イザやスペクトロアナライザ等のパルス波形評価用の高
価な計測器が必要である。しかし、単に異常ネットを検
出することを考えた場合には、簡素な構成の測定器によ
って、パルス数、周波数または電圧を測定し、良品デー
タとの比または差分を求め、予め設定した判定レベルで
識別することで容易にこの異常ネットを抽出できる。そ
こで、本検査方法では、各ネットのパルス数と電圧を測
定し、それらを良品基板と比較することにより、異常ネ
ットの抽出を行う。ここで重要なことは、測定の再現性
である。本検査方法では、機能検査等で用いられるテス
トプログラムで被測定基板を起動させた状態で測定する
ことを基本としている。

【００４３】次に、電圧測定の必要性について説明す
る。ディジタルＩＣの出力には、パルス信号以外に、論
理判定値としてのハイレベル、ローレベルの２つの電圧
値が存在する。このようなＤＣ信号に対しては、電圧測
定が必要である。一方、パルス信号に対しても、パルス
の電圧レベルがハイレベルの下限近傍で突発的に不良を
発生するような場合には、パルス数のみでの比較では不
良箇所を見逃す可能性がある。従って、パルス数の測定
に加え、測定パルスの最高電圧または平均電圧をも同時
に測定することにより、良品と差のある箇所を精度良く
検出できる。

【００４４】次に、不良が存在した場合の不良伝播の一
例を、図１３を参照して説明する。図１３は、部品１０
１が不良であった場合、部品１０１の出力端子が接続不
良の場合、又は、ネット５１の断線の場合などの不良伝
播の様子を示している。部品１０２は、上流側から正常
な信号を受信できないため異常ネットとなり、この異常
ネット５１と入力端子で接続された部品１０２は正常動
作ができない。さらに、ネット５２、５３は、上流側か
ら正常な信号を受信できないため異常ネットとなり、こ
の異常ネット５２、５３と入力端子で接続された部品１
０３、１０７も正常動作ができない。その結果、部品１
０３、１０７の出力端子に接続されたネット５４、５
５、５６、５７は異常ネットとなり、この影響が、信号
の伝達方向で見て下流側（出力側）の部品１０４、１０
８、１１０にも伝達される。その後同様にしてさらに下
流側の部品１０５、１０６、１０９へと不良が伝播して
いく。

【００４５】次に、図３に示した例を参照して第３の工
程を説明する。図３は、図１３と同様に或るネットに発
生した不良によって、その不良が伝播する回路の一例を
示しており、ここでは、ネット３０１に不良が発生した
ために、ネット３０２から３１０まで不良が伝播する例
を示している。同図では、本発明に基づいて、各ネット
を、接続された部品端子の属性に基づいて、複数種類の
ネットパターンに分類している。

【００４６】第３の工程に従って、各ネットをこれに接
続された端子の属性に基づいて分類した結果、不良伝播
ネット３０１のネットパターンはＯＢネットであり、こ
れに基づいて、部品５０１及び５０２に接続した出力端
子は信号出力端子に分類され、部品５０３に接続した双
方向端子は信号入力端子に分類される。不良伝播ネット
３０２（及び３０３）はＢＢネットに分類され、これに
基づいて、部品５０３及び５０４に接続した双方向端子
は何れも信号出力端子及び信号入力端子に分類される。
不良伝播ネット３０４はＢＢネットに分類され、これに
基づいて、部品５０４及び５０５に接続した双方向端子
は何れも信号入力端子及び信号出力端子に分類される。
不良伝播ネット３０５はＢＩネットに分類され、これに
基づいて、部品５０４に接続した双方向端子は信号出力
端子に、部品５０６に接続した入力端子は信号入力端子
に夫々分類される。不良伝播ネット３０６はＩネットに
分類され、これに基づいて、部品５０６及び５０７に接
続した入力端子は何れも信号入力端子に分類される。不
良伝播ネット３０７はＯＢＩネットに分類され、これに
基づいて、部品５０５に接続した出力端子は信号出力端
子に、部品５０８に接続した入力端子は信号入力端子
に、部品５０９に接続した双方向端子は信号出力端子及
び信号入力端子に夫々分類される。不良伝播ネット３０
８はＯＢＢネットに分類され、これに基づいて、部品５
１１に接続した出力端子は信号出力端子に分類され、部
品５０９及び５１２に接続した双方向端子は何れも信号
出力端子及び信号入力端子に分類される。不良伝播ネッ
ト３０９はＯＩネットに分類され、これに基づいて、部
品５１２に接続した出力端子は信号出力端子に分類さ
れ、部品５１１に接続した入力端子は信号入力端子に分
類される。不良伝播ネット３１０はＯＩネットに分類さ
れ、これに基づいて、部品５０４に接続した出力端子は
信号出力端子に、部品５１１に接続した入力端子は信号
入力端子に分類される。

【００４７】更に、図３を参照して、第４の工程を詳細
に説明する。不良伝播ネット３０１から３１０のいずれ
から探索を開始しても良いが、例えば不良伝播ネット３
０７が検出され、これから探索を開始する場合を考え
る。

【００４８】ＯＢＩネット３０７に信号出力端子で接続
した部品５０５及び５０９を夫々中継地点とし、該中継
地点において信号入力端子に接続したＢＢネット３０４
及びＯＢＢネット３０８が次の探索経路の候補となる。
ＢＢネット３０４を次の探索経路として溯ると、部品５
０４及び５０５に接続した双方向端子は共に信号出力端
子であるから、部品５０４及び５０５を中継地点とし
て、該中継地点において信号入力端子で接続したＢＢネ
ット３０２及び３０３が次の探索候補である。ＢＢネッ
ト３０２（及び３０３）を次の探索経路として溯ると、
信号出力端子が接続した部品５０３及び５０４を中継地
点として、該中継地点において信号入力端子に接続した
ＯＢネット３０１及びＢＢネット３０３（及び３０２）
が次の探索経路の候補である。ここで、部品５０４は既
に探索した経路上の部品であるから、部品５０４よりも
部品５０３が次の探索経路への中継地点として優先され
る。すなわち、ＯＢネット３０１及びＢＢネット３０３
（３０２）が次の探索候補となる。ここで、一般的に、
ＯＢネットとＢＢネットでは、ＯＢネットが優先される
ため、ＯＢネット３０１に溯る。ＯＢネット３０１の信
号出力端子に接続した部品５０１及び５０２には、信号
入力端子で接続した不良伝播ネットが見つからないた
め、ＯＢネット３０１が不良ネットと判定される。

【００４９】一方、ＯＢＩネット３０７の次の探索経路
として、ＯＢＢネット３０８に溯ると、信号出力端子に
接続した部品５１１、５１２及び５０９を中継地点とし
て、該中継地点において信号入力端子に接続したＯＩネ
ット３０９及び３１０が次の探索候補である。ここで、
ＯＩネット３０９の信号出力端子は部品５１２である
が、部品５１２は、それまで溯ってきた経路上、すなわ
ちＯＢＢネット３０８に接続した部品であるため、ＯＩ
ネット３０９よりもＯＩネット３１０が優先される。す
なわちＯＩネット３１０が探索される。次に、ＯＩネッ
ト３１０の信号出力端子に接続した部品５０４を中継地
点として、該中継地点において信号入力端子に接続した
ＢＢネット３０２、３０３及び３０４が次の探索候補で
ある。ここでＢＢネット３０２又は３０３を経由して溯
ると、ＯＢネット３０１に至り、この信号を調べること
で不良ネットと判定できる。ＢＢネット３０４に溯る
と、信号出力端子に接続した部品５０４及び５０５を中
継地点として、該中継地点において信号入力端子に接続
したＢＢネット３０２及び３０３が次の探索候補とな
る。次に、ＢＢネット３０２又は３０３いずれに溯った
場合でも、ＯＢネット３０１が不良ネットと判定でき
る。

【００５０】Ｉネット３０６は入力端子のみで構成され
たネットであり、該Ｉネットよりも上流側のネットは無
いので、不良ネットであると考えられる。一般に、Ｉネ
ットにはキャパシタや抵抗などの受動部品が接続してい
るために、電圧やパルスカウントが安定せずに、不良伝
播ネットとして抽出される場合がある。したがって第４
の工程における探索では、Ｉネットの優先順位は最も低
くしてある。

【００５１】図４は、不良伝播経路上にＶネットが存在
する場合の不良伝播ネットと部品の構成の一例を示す。
Ｖネット３１３に不良が存在するので、不良伝播ネット
３１１から３１５までに不良が伝播した例である。いず
れから探索を開始しても良いが、例えば不良伝播ネット
３１５で不良伝播が検出されこれから探索を開始する場
合を考える。まず、ＯＢネット３１５の信号出力端子に
接続した部品５１６を中継地点として、該中継地点にお
いて信号入力端子に接続したＯＩネット３１４が次の探
索経路となる。次に、ＯＩネット３１４の信号出力端子
に接続した部品５１５を中継地点として、該中継地点に
おいて信号入力端子に接続したＶネット３１３を次の探
索経路として溯り、Ｖネット３１３の信号を調べて不良
ネットと判定する。

【００５２】また、ＯＩネット３１１から探索を開始し
た場合には、ＯＩネット３１１の信号出力端子に接続し
た部品５１４を中継地点として、該中継地点において信
号入力端子に接続したＢＩネット３１２が次の探索経路
である。次に、ＢＩネット３１２の信号出力端子に接続
した部品５１５を中継地点として、該中継地点において
信号入力端子に接続したＶネット３１３を次の探索経路
として溯り、Ｖネット３１３を不良ネットと判定する。

【００５３】図５は、不良伝播経路上にＧネットが存在
した場合の不良伝播ネットと部品の構成の一例を示す説
明図である。Ｇネット３１８に不良が発生したために、
不良伝播ネット３１６から３２０にまで不良が伝播した
例である。いずれから探索を開始しても良いが、例えば
不良伝播ネット３２０からとして考える。まず、ＯＢネ
ット３２０の信号出力端子に接続した部品５２１を中継
地点として、該中継地点において信号入力端子に接続し
たＯＩネット３１９が次の探索経路である。次に、ＯＩ
ネット３１９の信号出力端子に接続した部品５２０を中
継地点として、該中継地点において信号入力端子で接続
したＧネット３１８を次の探索経路として溯り、Ｇネッ
ト３１８を不良ネットと判定する。

【００５４】また、ＯＩネット３１６から探索を開始し
た場合には、ＯＩネット３１６の信号出力端子に接続し
た部品５１９を中継地点として、該中継地点において信
号入力端子に接続したＢＩネット３１７が次の探索経路
である。次に、ＢＩネット３１７の信号出力端子に接続
した部品５２０を中継地点として、該中継地点において
信号入力端子で接続したＧネット３１８を次の探索経路
として溯り、Ｇネット３１８を不良ネットと判定する。

【００５５】ここで、第３の工程で分類する各ネットパ
ターンについて、図面を参照して説明する。図６は、Ｏ
Ｉネットに接続した端子の端子属性の構成例を示す説明
図である。ＯＩネット４０５は、部品の出力端子と入力
端子とに接続されており、出力端子２２５および２２６
が信号出力端子に、入力端子２２７および２２８が信号
入力端子に夫々分類される。

【００５６】図７は、ＯＢネットに接続した端子の端子
属性の構成例を示す説明図である。ＯＢネット４０６
は、部品の出力端子と１つの双方向端子とに接続されて
おり、出力端子２２９および２３０が信号出力端子に、
双方向端子２３１が信号入力端子に夫々分類される。

【００５７】図８は、ＢＩネットに接続した端子の端子
属性の構成例を示す説明図である。ＢＩネット４０７
は、部品の入力端子と１つの双方向端子とに接続されて
おり、双方向端子２３２が信号出力端子に、入力端子２
３３および２３４が信号入力端子に夫々分類される。こ
のように、伝播タイプ別にネットを分類することで、Ｏ
Ｂネット及びＢＩネットに接続される部品の双方向端子
について、信号の入出力方向を特定できる。

【００５８】図９は、ＯＢＩネットに接続した端子の端
子属性の構成例を示す説明図である。ＯＢＩネット４０
８は、部品の出力端子と双方向端子と入力端子とに接続
されており、出力端子２３５は信号出力端子に、双方向
端子２３６は信号入力端子および信号出力端子に、入力
端子２３７および２３８は信号入力端子に夫々分類され
る。

【００５９】図１０は、ＯＢＢネットに接続した端子の
端子属性の構成例を示す説明図である。ＯＢＢネット４
０９は、部品の出力端子と２つ以上の双方向端子とに接
続されており、出力端子２３９および２４０は信号出力
端子に分類され、双方向端子２４１および２４２は何れ
も信号出力端子および信号入力端子に分類される。

【００６０】図１１は、ＢＢネットに接続した端子の端
子属性の構成例を示す説明図である。ＢＢネット４１０
は、ＯＢネット、ＢＩネット、ＯＢＩネット、ＯＢＢネ
ットの何れにも分類されず、かつ双方向端子に接続され
たネットである。双方向端子２４３および２４５は何れ
も信号出力端子および信号入力端子に分類され、入力端
子２４５は信号入力端子に分類される。ＯＢＩネット、
ＯＢＢネットおよびＢＢネットに接続される各双方向端
子は、ＯＢネットおよびＢＩネットとは異なり、信号出
力端子であるか信号入力端子であるかは特定できなく、
そのいずれにもなり得る。

【００６１】図１２は、Ｉネットに接続した端子の端子
属性の構成例を示す説明図である。Ｉネット４１１は、
入力端子に接続されたネットであり、入力端子２４６か
ら２４８は何れも信号入力端子に分類される。

【００６２】図１４は、不良伝播ネットが閉ループを形
成する場合の不良伝播ネットと部品の構成の一例を示す
説明図である。不良伝播ネット６６から６９は閉ループ
を形成しているため、源流の不良ネットを特定すること
ができない。この場合には、閉ループを形成する全ての
ネット、即ち、不良伝播ネット６６から６９、及び、そ
の閉ループから１段入力側のネットを不良ネットとして
抽出する。

【００６３】図１５（ａ）及び（ｂ）は夫々、不良伝播
経路の一部が閉ループを形成する場合の不良伝播ネット
と部品の構成の一例を示す説明図である。不良伝播ネッ
ト７０から７２（７４から７６）のいずれが不良発生ネ
ットであっても、不良伝播ネット７０から７３（７４か
ら７７）にはその不良が伝達する。そのため、不良伝播
ネット７０から７２（７４から７６）までを源流の不良
ネットとして抽出する。

【００６４】上記実施形態例によれば、全ネット又は選
択された所定のネットに対して、測定及び比較が容易な
パルス数、周波数又は電圧を測定し、良品基板との比較
から不良伝播ネットを抽出し、端子属性の構成によっ
て、不良伝播ネットを信号の伝播タイプ別に分類し、次
いで、その分類に基づいて部品端子を信号出力端子と信
号入力端子とに分類することで、信号の入出力方向を一
方向に特定できない不良伝播ネットに対して、探索方向
を優先順位付けし、各不良伝播ネットの入出力特性から
源流の不良箇所を抽出する。このため、簡易なシステム
構成で自動的に高速で不良箇所を特定できる。

【００６５】また、上記実施形態例では、実装基板に搭
載したＩＣやＬＳＩ等の不良を検索する例を示したが、
シリコンウェハー上に形成されたＤＳＰやＡＳＩＣ等の
ＩＣやＬＳＩ自体についても、本発明を適用できる。従
って、本発明における実装基板には、これらＤＳＰやＡ
ＳＩＣ等のＬＳＩの基板も含まれる。この場合、ＩＣピ
ンではなくて、論理回路の論理端子が不良個所の検索等
に利用される。

【００６６】上記実施形態例によれば、従来の検査方法
のようにボードテスタやシグネチャアナライザ等の測定
機器を用いてタイミングあるいは動作波形を良品データ
と比較する代わりに、良品基板及び不良基板におけるネ
ットのパルス数、周波数、及び／又は、電圧を測定して
比較することにより、測定に付随する情報量を大幅に削
減でき、測定時間及び処理時間を大幅に短縮できる上
に、パルス数や電圧の測定手段としてはカウンタや電圧
計という簡易な測定機器でシステムを構成でき、装置コ
ストを安くできる。

【００６７】また、不良探索は、全ネットまたは選択さ
れたネットの信号を測定し、良品との比較から不良伝播
ネットを抽出し、その不良伝播ネットを信号の伝播タイ
プ別に分類して信号の伝達方向を特定することで、探索
経路を選定しつつ源流の不良を探索するという方法であ
るため、電子部品などが実装された回路基板の不良探索
を、特に詳細な回路情報を必要とすることなく、自動的
に且つ短時間で探索できる。

【００６８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
特に詳細な回路情報を必要とすることなく、簡素な測定
装置によって、自動的に且つ短時間で不良伝播ネットか
ら不良個所を探索できる、汎用的な探索手法を実現した
実装基板の不良探索方法及び不良探索装置が提供でき
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態例に係る実装基板の不良探
索方法を示すフローチャート。

【図２】図１で示した探索手順を実行するシステム構成
の一例を示すブロック図。

【図３】本発明における実装基板の不良探索方法を示す
ための対象基板のネット系統図。

【図４】本発明における実装基板の不良探索方法を示す
ための対象基板のネット系統図。

【図５】本発明における実装基板の不良探索方法を示す
ための対象基板のネット系統図。

【図６】本発明におけるネットの分類を説明するための
ネット構成図。

【図７】本発明におけるネットの分類を説明するための
ネット構成図。

【図８】本発明におけるネットの分類を説明するための
ネット構成図。

【図９】本発明におけるネットの分類を説明するための
ネット構成図。

【図１０】本発明におけるネットの分類を説明するため
のネット構成図。

【図１１】本発明におけるネットの分類を説明するため
のネット構成図。

【図１２】本発明におけるネットの分類を説明するため
のネット構成図。

【図１３】本発明が対象とする実装基板における不良伝
播の一例を示すネット系統図。

【図１４】本発明が対象とする実装基板における不良伝
播ネットが閉ループを形成する場合のネット系統図。

【図１５】本発明が対象とする実装基板における不良伝
播ネットが閉ループを形成する場合のネット系統図であ
り、（ａ）は閉ループを形成する回路の部品端子が入力
端子及び出力端子である場合の系統図、（ｂ）は閉ルー
プを形成する回路の部品端子が双方向端子の場合の系統
図。

【図１６】従来の実装基板の不良探索装置の一例を示す
ブロック図。

【符号の説明】１…テストプログラム制御部２…プローブ移動機構
３…パソコン４…カウンタ５…電圧計６…プローブ７…
実装基板５１〜８５、３０１〜３２０、４０５〜４１１…不良伝
播ネット１０１〜１２２、５０１〜５２２…部品２２５〜２
４８…端子

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】電子回路が実装された基板の不良探索を
行う実装基板不良探索方法において、予め作成したテストプログラムを用いて、良品基板及び
対象基板をそれぞれ動作させ、信号測定手段を用いて全
ネット又は選択された所定ネットの信号を測定する第１
の工程と、前記良品基板及び前記対象基板の測定結果を相互に比較
し、対応する双方のネットで設定レベル以上の差異が検
出された対象基板のネットを不良伝播ネットとして抽出
する第２の工程と、前記不良伝播ネットを該不良伝播ネットに接続する部品
端子の属性に基づいて複数種類のネットパターンに分類
し、該ネットパターンの分類に基づいて、前記部品端子
を、信号を出力する信号出力端子、又は、信号を入力す
る信号入力端子の何れかに分類する第３の工程と、前記不良伝播ネットから他の不良伝播ネットに遡る工程
であって、前記不良伝播ネットに接続され且つ前記信号
出力端子として分類された端子を有する部品を中継地点
として、該部品の信号入力端子に接続されたネットを不
良伝播ネット候補として抽出し、該抽出された不良伝播
ネット候補に基づいて前記第３の工程及び次の不良伝播
ネット候補の抽出を繰り返し、順次に上流側の不良伝播
ネット候補を抽出することで源流の不良発生ネットを特
定する第４の工程とを有し、前記第４の工程では、前記
第３の工程で設定したネットパターンの分類に基づい
て、前記中継地点において不良伝播ネット候補に優先順
位を付けることを特徴とする実装基板の不良探索方法。
【請求項２】前記ネットパターンの分類では、前記不
良伝播ネット又は不良伝播ネット候補に接続した部品端
子の属性に基づいて、前記不良伝播ネット又は不良伝播
ネット候補を、電源を含むネットである第１分類ネット
（以下、Ｖネットと呼ぶ）、グランド（接地）を含むネ
ットである第２分類ネット（以下、Ｇネットと呼ぶ）、
出力端子と入力端子とに接続されたネットである第３分
類ネット（以下、ＯＩネットと呼ぶ）、出力端子と１つ
の双方向端子とに接続されたネットである第４分類ネッ
ト（以下、ＯＢネットと呼ぶ）、入力端子と１つの双方
向端子とに接続されたネットである第５分類ネット（以
下、ＢＩネットと呼ぶ）、出力端子と双方向端子と入力
端子とに接続されたネットである第６分類ネット（以
下、ＯＢＩネットと呼ぶ）、出力端子と２つ以上の双方
向端子とに接続されたネットである第７分類ネット（以
下、ＯＢＢネットと呼ぶ）、ＯＢネット、ＢＩネット、
ＯＢＩネット、ＯＢＢネットに含まれず、かつ双方向端
子に接続されたネットである第８分類ネット（以下ＢＢ
ネットと呼ぶ）、入力端子のみに接続されたネットであ
る第９分類ネット（以下Ｉネットと呼ぶ）の何れかに分
類することを特徴とする、請求項１に記載の実装基板の
不良探索方法。
【請求項３】前記部品端子の分類は、ＯＩネットでは
部品の出力端子を信号出力端子に、入力端子を信号入力
端子に夫々分類し、ＯＢネットでは部品の出力端子を信
号出力端子に、双方向端子を信号入力端子に夫々分類
し、ＢＩネットでは部品の双方向端子を信号出力端子
に、入力端子を信号入力端子に夫々分類し、ＯＢＩネッ
トでは部品の出力端子を信号出力端子に、双方向端子を
信号出力端子および信号入力端子に、入力端子を信号入
力端子に夫々分類し、ＯＢＢネットでは部品の出力端子
を信号出力端子に、双方向端子を信号出力端子および信
号入力端子に夫々分類し、ＢＢネットでは部品の双方向
端子を信号出力端子および信号入力端子に、入力端子を
信号入力端子に夫々分類し、Ｉネットでは部品の入力端
子を信号入力端子に分類することを特徴とする、請求項
２に記載の実装基板の不良探索方法。
【請求項４】前記部品端子の分類は、Ｖネットでは該
Ｖネット内の任意の部品端子を信号入力端子に分類し、
Ｇネットでは該Ｇネット内の任意の部品端子を信号入力
端子に分類することを特徴とする、請求項２又は３に記
載の実装基板の不良探索方法。
【請求項５】前記第４の工程において、前記中継地点
における不良伝播ネット候補として、既に抽出済みの不
良伝播ネット又は不良伝播ネット候補と、新たに抽出さ
れた不良伝播ネット候補とが存在するときには、該新た
に抽出された不良伝播ネット候補を選択することを特徴
とする、請求項１〜４の何れかに記載の実装基板の不良
探索方法。
【請求項６】前記第４の工程において、前記中継地点
における不良伝播ネット候補が、既に抽出された不良伝
播ネット又は不良伝播ネット候補のみを含む場合には、
該中継地点で経路の探索を終了することを特徴とする、
請求項１〜５の何れかに記載の実装基板の不良探索方
法。
【請求項７】前記第４の工程において、前記中継地点
の部品の信号入力端子の何れにも不良伝播ネットが接続
されていない場合には、最終的に行き着いた不良伝播ネ
ット、及び、該最終的に行き着いた不良伝播ネットの１
段入力側のネットを不良発生ネットと判定することを特
徴とする、請求項１〜６の何れかに記載の実装基板の不
良探索方法。
【請求項８】前記第４の工程において、探索中の不良
伝播ネットに複数の中継地点があり、該複数の中継地点
が、既に探索された中継地点と、新たに探索された中継
地点とを含む場合には、該新たに探索された中継地点を
次の探索の中継地点として選択することを特徴とする、
請求項１から７記載の実装基板の不良探索方法。
【請求項９】前記第４の工程において、前記不良伝播
ネット又は不良伝播ネット候補に複数の信号出力端子が
接続されており、該複数の信号出力端子が部品の出力端
子及び双方向端子を含み、且つ、双方に不良伝播ネット
候補が存在する場合には、前記出力端子を有する部品を
次の中継地点として選択することを特徴とする、請求項
１〜８の何れかに記載の実装基板の不良探索方法。
【請求項１０】前記第４の工程において、次の探索経
路として、部品の入力端子に接続された不良伝播ネット
候補と、双方向端子に接続された不良伝播ネット候補と
が存在するときには、前記入力端子に接続された不良伝
播ネット候補を次の探索経路として選択することを特徴
とする、請求項１〜９の何れかに記載の実装基板の不良
探索方法。
【請求項１１】前記第４の工程において、前記不良伝
播ネット候補として、Ｖネット又はＧネットが抽出され
たときには、該Ｖネット又はＧネットを次の探索経路と
して選択することを特徴とする、請求項１〜１０の何れ
かに記載の実装基板の不良探索方法。
【請求項１２】前記第４の工程において、前記不良伝
播ネット候補として、ＯＩネット又はＯＢネット又はＢ
Ｉネットと、ＯＢＩネット又はＯＢＢネット又はＢＢネ
ット又はＢネットとが抽出されたときには、ＯＩネット
又はＯＢネット又はＢＩネットを次の探索経路として選
択することを特徴とする、請求項１〜１１の何れかに記
載の実装基板の不良探索方法。
【請求項１３】前記第４の工程において、次の探索候
補として、ＩネットとＩネット以外の不良伝播ネット候
補とが抽出された場合、Ｉネット以外の不良伝播ネット
候補を次の探索経路として溯ることを特徴とする請求項
１から１２記載の実装基板の不良探索方法。
【請求項１４】第１の工程における測定は、予め作成
したテストプログラムに代えて、実装基板に電源のみを
供給した状態で行うことを特徴とする、請求項１に記載
の実装基板の不良探索方法。
【請求項１５】前記第１の工程における測定は、対象
とするネットの信号特性に基づいて、パルス数、周波数
及び電圧の少なくとも１つを測定するものであることを
特徴とする、請求項１又は１４に記載の実装基板の不良
探索方法。
【請求項１６】前記第１の工程における測定時間は、
測定ポイントにおいて、テストプログラムの開始から一
定時間、又は、前記テストプログラム実行中の任意のタ
イミングにおける一定時間、又は、前記テストプログラ
ムの開始から不良が発生するまでの時間、又は、前記テ
ストプログラムの開始からパルス数が予め設定された値
になるまでの時間、又は、前記テストプログラムの一周
期の時間の何れかであることを特徴とする、請求項１、
１４又は１５に記載の実装基板の不良探索方法。
【請求項１７】前記第１の工程における測定が電圧測
定を含み、該電圧測定は、測定時における最高電圧及び
平均電圧の少なくとも一方の測定であることを特徴とす
る、請求項１、１４〜１６の何れかに記載の実装基板の
不良探索方法。
【請求項１８】前記第２の工程における判定は、対象
基板におけるパルス数、周波数又は電圧の測定値と、良
品基板における対応する測定値との間の比または差に基
づいて行われることを特徴とする、請求項１に記載の実
装基板の不良探索方法。
【請求項１９】前記ネットパターンの分類は、前記不
良伝播ネット又は不良伝播ネット候補に接続される部品
端子の出力、入力、双方向、電源、又は、グランド（接
地）からなる端子属性、及び、該端子属性の種類数によ
って、伝播タイプ別に分類することを特徴とする、請求
項１〜４に記載の実装基板の不良探索方法。
【請求項２０】前記第４の工程では、複数個の不良伝
播ネット間で閉ループを形成し、かつ、該閉ループ上に
ある任意の不良伝播ネットに対して、入力側へ溯る別の
不良伝播ネットが存在しない場合には、前記閉ループ上
にある全ての不良伝播ネットおよび前記閉ループ上にあ
る全ての不良伝播ネットの１段入力側のネットを不良ネ
ットと判定することを特徴とする、請求項１、５〜１３
の何れかに記載の実装基板の不良探索方法。
【請求項２１】電子回路が実装された基板の不良探索
を行う実装基板不良探索装置において、良品基板及び対象基板の信号を測定する測定手段と、前
記良品基板及び前記対象基板の測定結果を相互に比較
し、前記対象基板の不良伝播ネットを抽出する第１の抽
出手段と、前記不良伝播ネットを該不良伝播ネットに接
続する部品端子の属性に基づいて複数種類のネットパタ
ーンに分類し、該ネットパターンの分類に基づいて、前
記部品端子を、信号を出力する信号出力端子、又は、信
号を入力する信号入力端子の何れかに分類する分類手段
と、前記抽出された不良伝播ネットの中から前記第３の
工程で分類したネットパターンの分類に基づき源流の不
良発生ネットを抽出する第２の抽出手段とを具備するこ
とを特徴とする実装基板の不良探索装置。