JP2001072496A - 強磁性p型単結晶酸化亜鉛およびその製造方法 - Google Patents

強磁性p型単結晶酸化亜鉛およびその製造方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 強磁性転移温度の高い単結晶ZnO薄膜の合
成。 【構成】 遷移金属元素Mnとp型ドーパントを含有し
ている強磁性p型単結晶酸化亜鉛および遷移金属元素M
nとn型ドーパントとp型ドーパントを含有している強
磁性p型単結晶酸化亜鉛。本発明の単結晶酸化亜鉛を、
既に実現しているn型およびp型の透明電極ZnOや光
ファイバーと組み合わせることにより量子コンピュータ
や大容量光磁気記録、また可視光から紫外光領域にわた
る光エレクトロニクス材料として高性能な情報通信、量
子コンピュータへの応用が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、Mnをドープした
強磁性p型単結晶酸化亜鉛(ZnO)およびその製造方
法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】酸化亜鉛は、半導性、光導電性、圧電性
等を有し、圧電体材料やオプトエレクトロニクス材料へ
の適用のための透明性と結晶軸配向性を有する酸化亜鉛
をスパッタリング法やCVD法で製造する方法が知られ
ている(特開平5−254991号公報)。また、原料
酸化亜鉛にドーピング物質をドーピングして導電性また
は絶縁性透明酸化亜鉛を製造する方法も公知である(特
開平5−70286号公報)。さらに、酸化亜鉛を主成
分とする単結晶からなる圧電性半導体を製造する方法と
して水熱法が知られている(特開平6−279192号
公報、特開平6−279193号公報等)。しかし、酸
化亜鉛について、強磁性状態の実現の報告はこれまでに
みられない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】強磁性転移温度の高い
Mnをドープした単結晶ZnO薄膜が合成できれば、大
量情報の伝達に必要な光アイソレータや高密度磁気記録
が可能になり、将来の大量情報伝達に必要な電子材料を
作成することができる。また、ZnOのバンドギャップ
は3.3eVと大きく、光を通す強磁性体の作製が可能
になり、コヒーレントなスピン状態を利用した光量子コ
ンピュータなどの光デバイス作製技術の大きな発展が期
待される。
【0004】ZnOにMnをドープして、高い強磁性転
移温度をもつ強磁性状態を実現するためには、ワイドギ
ャップ半導体であるZnOにドープしたMnのスピンを
強磁性的に揃えるための相互作用となるホール(p型キ
ャリアー)を高濃度にドープする必要がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記の課題
を解決するためにp型ドーパントを単独またはp型ドー
パントとn型ドーパントを同時にドーピングすることに
よる新しい価電子制御法を開発し、ZnOにドープした
Mnのスピンを高濃度にドープしたホールの遍歴的な運
動エネルギーによるエネルギー利得により、強磁性的に
揃えることに成功した。
【0006】すなわち、本発明は、強磁性の担い手であ
る遷移金属元素であるMnとp型ドーパント(ホール)
を含有している強磁性p型単結晶酸化亜鉛(ZnO)で
ある
【0007】MnをドープしたZnOにp型ドーパント
がドープされていると遍歴的なホールによる運動エネル
ギーの低下により、反強磁性や常磁性状態よりも強磁性
状態を安定化させる原理により、安定で強磁性臨界温度
の高いp型単結晶酸化亜鉛が得られる。
【0008】さらに本発明は、強磁性の担い手である遷
移金属元素であるMnとp型ドーパント(ホール)を含
有しているp型の強磁性単結晶ZnOにおいて、Mn間
の磁気的相互作用を強磁性体化するため、p型化を実現
し大量の遍歴的ホールを増大させるため、n型ドーパン
トとp型ドーパントを同時に含有してい強磁性p型単結
晶ZnOである。
【0009】p型ドーパントは、C、N、またはこれら
の酸化物(例えば、CO2,CO,N2O,NO,N
3)の群から選択される1種または2種以上であり、
n型ドーパントは、B,Al,In,Ga,Zn、また
はH、およびこれらの酸化物(例えば、B23,Al2
3,In23,Ga23,ZnO)の群から選択され
る1種または2種以上とすることができる。
【0010】MnはZnOに全率固溶するので、本発明
の強磁性p型単結晶ZnOに含有されるMn濃度は、1
〜99モル%とすることができる。
【0011】本発明の強磁性p型単結晶ZnOは、ホー
ル濃度が1×1018cm-3以上であり、低抵抗(1Ω・
cm以下)単結晶ZnOである。ホール濃度が高濃度に
なることにより、ドープしたホールがMnイオン間を遍
歴し、ホールの運動エネルギーの低下により強磁性状態
がより安定化され、Mnイオン間に強磁性的な相互作用
を誘起する。
【0012】本発明の強磁性p型単結晶ZnOは、強磁
性転移臨界温度が150K以上である。MnをZnOに
ドープする際、ウルツァイト構造を保ちつつ、Mnはイ
オン半径の大きさが近いZn位置を置換し、Zn2+がM
2+に置換され、Mnは電子スピンS=5/2をもつ高
スピン状態となり、Mn濃度を調整することにより強磁
性的なスピン間相互作用を制御することができる。
【0013】強磁性転移温度は、Mn濃度およびホール
濃度の増加とともに増大するので、単結晶ZnO中のM
n濃度およびホール濃度を調整することにより、Mn濃
度とドープしたホール濃度により低温から高温まで目的
にあわせて自在に強磁性転移温度を変えることが可能で
ある。
【0014】また、本発明は、MOCVD法やMBE法
などを用いた薄膜形成法において、Zn固体ソースまた
はZn酸化物固体ソースからの原子状ガス、活性化した
酸素を半導体基板上に供給して、単結晶酸化亜鉛薄膜を
基板上に成長させる際に、原子状p型ドーパントと原子
状Mnを同時に基板上に供給して、低温で積もらせるこ
とにより上記の強磁性p型単結晶酸化亜鉛を製造する方
法である。
【0015】Zn固体ソースまたはZn酸化物固体ソー
スとしては純亜鉛粉末、ZnO焼結体などを使用でき
る。
【0016】基板温度は、300℃〜800℃が好まし
い。300℃より低いと薄膜成長速度が極端に遅くな
り、実用化に向かない。800℃より高いと酸素抜けが
激しくなり、欠陥が多くなるため、結晶性が悪くなると
ともにドーピング効果が弱くなる。基板としては、シリ
コン単結晶基板、SiCを形成したシリコン単結晶基
板、サファイア単結晶基板などを使用できる。基板とし
てはZnOと同じ結晶構造、ZnOの格子定数とほとん
ど相違がないものが好ましい。これらの基板の間では、
優劣の大きな相違はない。また、基板と薄膜との間にそ
れぞれの格子定数の中間の格子定数を有する酸化クロム
や酸化チタンなどの層を介在させて結晶格子の不整合性
を緩和してもよい。
【0017】さらに、本発明は、上記の製造方法におい
て、強磁性を生ぜしめるためにp型ドーパントの濃度が
n型ドーパントの濃度よりも大きくなるように、例え
ば、仕込み量における調整とその原子ガス圧の調整によ
りn型ドーパントをドーピングすることを特徴とする強
磁性p型単結晶酸化亜鉛を製造する方法である。
【0018】上記の製造方法において、単結晶酸化亜鉛
中のMn濃度およびp型ドーパント濃度(ホール濃度)
を調整することにより、酸化亜鉛の強磁性転移温度を調
整することができる。強磁性臨界温度は、Mn濃度の増
大とともに増加し、またドープしたホール濃度の増大と
ともに増加する。従って、Mn濃度とホール濃度との二
つの調整可能なパラメータにより強磁性転移温度を目的
にあわせて調整することができる。
【0019】p型ドーパント、n型ドーパント、または
これらの酸化物、MnまたはMn酸化物をドープする
際、電子線によって電子励起して原子状にするために、
ラジオ波、レーザー、X線、または電子線を用いること
ができる。
【0020】ZnOは、バンドキャップが3.3eVと
大きいため透明であり、しかも励起子寿命がGaNなど
よりも長く、紫外・青色レーザーや紫外・青色発光素子
の材料として注目されている。しかしながら、低抵抗の
p型ZnOを作成することが低抵抗のn型と比較して単
極性のため困難であった。
【0021】本発明では、例えば、n型のドーパントで
あるGa,Al,Inとp型のドーパントであるNを
1:2の割合で同時ドーピングすることにより、N単独
では1018cmー3程度しかドーピングできないZnOを
1019cmー3〜1021cmー3程度まで高濃度ドーピング
できる。これらの遍歴的なホールの運動エネルギーによ
りドープしたMnの強磁性状態を基底状態に変え、強磁
性状態をより安定化することができる。
【0022】
【作用】ZnO中にドープしたMnの電子スピンはS=
5/2であり、Mn2+(d5)の交換分裂(〜3eV)
は、結晶場分裂(〜0.8eV)よりも大きく、高スピ
ン状態が実現している。これらの系にホールをドープす
ると、強磁性状態ではドープしたホールがMn間をスピ
ンを反転することなく結晶の中を遍歴し運動エネルギー
の低下により強磁性状態が反強磁性状態よりも安定化す
る。
【0023】反強磁性状態ではドープしたホールが結晶
の中を遍歴するためにはスピンを反転しなければなら
ず、スピンの反転に必要なエネルギーが大きく、交換相
互作用による大きなエネルギーの増加が生じるため、遍
歴的なホールのドーピングによりMnの強磁性状態の方
が反強磁性や常磁性状態よりも安定化させるための電子
論的機構を提供する。
【0024】
【実施例】以下、MBE法により基板上に強磁性p型単
結晶ZnO薄膜を形成する方法を実施例に基づいてさら
に詳しく説明する。 実施例1 図1に示すように、真空度10-8Torrに維持された
真空チャンバ1内にAl2 3 基板2を設置し、この基
板2にZnの原子状ガスとOの原子状ガスを供給し、Z
nO薄膜を基板2上に作製した。Zn、Mnとしては、
純度99.99999%の固体ソースをヒータ加熱によ
って原子状にしたものを用いた。また、OとNは、
2 ,N2 O(またはN2 )をRFラジカルセルにより
活性化した純度99.99999%の原子状ガスを用い
た。p型アクセプターとなるNは、RF(13.56M
Hz)励起型ラジカルビーム源によって発生させた窒素
ラジカルであり、Ga、Mnは、分子ガスにマイクロ波
領域の電磁波を照射したり、また、単体セルを高温で原
子状にしたものを用いた。図1には、そのためのRF
(高周波)コイル3、ヒータ4、単体セル(Ga源)
5、単体セル(Mn源)7を示している。成膜中に、こ
の基板2に向けて、n型ドーパントであるGaを分圧1
-7Torrで、さらにp型ドーパントである原子状N
を分圧5×10-7Torrで、また原子状Mnを10-7
Torrで、同時に基板2上に流しながら、350℃、
400℃、450℃、600℃、750℃でMnドープ
強磁性p型単結晶ZnO薄膜6を結晶成長させた。
【0025】各結晶成長温度で得られた強磁性p型単結
晶ZnO薄膜に対して、ホール濃度測定、SIMSによ
るMn濃度測定、また強磁性転移温度をSQUIDおよ
び帯磁率の測定で決定した結果を表1に示す。
【0026】
【表1】
【0027】表1に示される強磁性転移温度のMn濃
度、アクセプター濃度、基板温度に対する依存性からわ
かるように、Mn濃度とp型キャリアー(ホール)濃度
の高い方が強磁性転移温度(度K)は高く、Mn間の強
磁性的相互作用はホール濃度により増大し、Mnスピン
間の強磁性的相互作用もMn濃度の増加に従って増大す
ることがわかる。
【0028】図2に、Mnを高濃度にドープした強磁性
p型単結晶ZnOの電子状態密度を示す。多数派スピン
と少数派スピンの交換分裂は約3eVであり、結晶場分
裂は約0.8eVとなり,高スピン状態(S=5/2)
が実現し、Mn位置における局在磁気モーメントはMn
原子あたり4.8ボーア・マグネトン(μB )となって
いる。
【0029】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明のMnと
p型ドーパント(ホール)を含有している新規な強磁性
p型単結晶ZnO(酸化亜鉛)は、既に実現しているn
型およびp型の透明電極ZnOや光ファイバーと組み合
わせることにより量子コンピュータや大容量光磁気記
録、また可視光から紫外光領域にわたる光エレクトロニ
クス材料として高性能な情報通信、量子コンピュータへ
の応用が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】Mnドープした強磁性p型単結晶ZnOをMB
E法により製造する装置の概略構成を示す側面図であ
る。
【図2】遷移金属元素Mn、ドナー元素Ga、アクセプ
ター元素Nを同時ドーピングした強磁性p型ZnOの電
子状態密度を示すグラフである。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】遷移金属元素Mnとp型ドーパントを含有
    している強磁性p型単結晶酸化亜鉛。
  2. 【請求項2】遷移金属元素Mnとn型ドーパントとp型
    ドーパントを含有している強磁性p型単結晶酸化亜鉛。
  3. 【請求項3】Zn固体ソースまたはZn酸化物固体ソー
    スからの原子状ガス、活性化した酸素を半導体基板上に
    供給して、単結晶酸化亜鉛薄膜を基板上に成長させる際
    に、原子状p型ドーパントと原子状Mnを同時に基板上
    に供給することを特徴とする請求項1記載の強磁性p型
    単結晶酸化亜鉛を製造する方法。
  4. 【請求項4】請求項3記載の方法において、p型ドーパ
    ントの濃度がn型ドーパントの濃度よりも大きくなるよ
    うにn型ドーパントをドーピングすることを特徴とする
    請求項2記載の強磁性p型単結晶酸化亜鉛を製造する方
    法。
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EP20000942464 EP1219731B1 (en) 1999-09-01 2000-07-03 FERROMAGNETIC p-TYPE SINGLE CRYSTAL ZINC OXIDE AND METHOD FOR PREPARATION THEREOF
DE2000610299 DE60010299T2 (de) 1999-09-01 2000-07-03 Ferromagnetischer p-typ zinkoxideinkristall und herstellungsverfahren dafür
US10/049,615 US7022182B1 (en) 1999-09-01 2000-07-03 Ferromagnetic p-type single-crystal zinc oxide material and manufacturing method thereof
KR10-2002-7000066A KR100446144B1 (ko) 1999-09-01 2000-07-03 강자성 피형 단결정 산화아연 및 그 제조방법
PCT/JP2000/004433 WO2001016411A1 (fr) 1999-09-01 2000-07-03 Oxyde de zinc monocristallin ferromagnetique de type p et son procede de preparation
TW089115311A TW589417B (en) 1999-09-01 2000-07-31 Ferromagnetic p-type single crystalline zinc oxide and its manufacturing method

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005121715A (ja) * 2003-10-14 2005-05-12 Ricoh Co Ltd 光スイッチ

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100421800B1 (ko) * 2001-04-02 2004-03-10 한국과학기술연구원 아연산화물 반도체 제조 방법
KR100476321B1 (ko) * 2002-01-24 2005-03-10 조성래 전이금속이 치환된 강자성반도체 단결정
SE0300352D0 (sv) 2003-02-06 2003-02-06 Winto Konsult Ab Ferromagnetism in semiconductors
US7161173B2 (en) 2003-05-20 2007-01-09 Burgener Ii Robert H P-type group II-VI semiconductor compounds
US7141489B2 (en) 2003-05-20 2006-11-28 Burgener Ii Robert H Fabrication of p-type group II-VI semiconductors
US7227196B2 (en) 2003-05-20 2007-06-05 Burgener Ii Robert H Group II-VI semiconductor devices
US7172813B2 (en) * 2003-05-20 2007-02-06 Burgener Ii Robert H Zinc oxide crystal growth substrate
US7675133B2 (en) 2004-06-17 2010-03-09 Burgener Ii Robert H Persistent p-type group II-IV semiconductors
US7575979B2 (en) * 2004-06-22 2009-08-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method to form a film
JP5396579B2 (ja) 2005-08-18 2014-01-22 国立大学法人山梨大学 酸化亜鉛薄膜の製造方法及び製造装置
KR100769986B1 (ko) * 2006-02-08 2007-10-25 전남대학교산학협력단 유도결합 플라즈마법 및 유기금속 화학기상증착법을 이용한박막 제조방법
KR100714974B1 (ko) * 2006-05-19 2007-05-04 한국과학기술연구원 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4174421A (en) * 1977-09-13 1979-11-13 Murata Manufacturing Co., Ltd. Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same
US5393444A (en) * 1992-09-08 1995-02-28 Ngk Insulators, Ltd. Piezoelectric semiconductor
KR960012995B1 (ko) * 1993-03-31 1996-09-25 엘지전자 주식회사 단결정 페라이트
JPH07288259A (ja) * 1994-04-15 1995-10-31 Nippon Steel Corp 分子線エピタキシー装置
US5679965A (en) * 1995-03-29 1997-10-21 North Carolina State University Integrated heterostructures of Group III-V nitride semiconductor materials including epitaxial ohmic contact, non-nitride buffer layer and methods of fabricating same
US6300640B1 (en) * 1997-11-28 2001-10-09 Nanocrystal Imaging Corporation Composite nanophosphor screen for detecting radiation having optically reflective coatings
US6291085B1 (en) 1998-08-03 2001-09-18 The Curators Of The University Of Missouri Zinc oxide films containing P-type dopant and process for preparing same
US6342313B1 (en) 1998-08-03 2002-01-29 The Curators Of The University Of Missouri Oxide films and process for preparing same
US6498362B1 (en) * 1999-08-26 2002-12-24 Micron Technology, Inc. Weak ferroelectric transistor
JP4365495B2 (ja) * 1999-10-29 2009-11-18 ローム株式会社 遷移金属を含有する強磁性ZnO系化合物およびその強磁性特性の調整方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005121715A (ja) * 2003-10-14 2005-05-12 Ricoh Co Ltd 光スイッチ

Also Published As

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