JP2001068802A - Insulation sheet for wiring board and manufacture thereof - Google Patents

Insulation sheet for wiring board and manufacture thereof

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JP2001068802A
JP2001068802A JP24449799A JP24449799A JP2001068802A JP 2001068802 A JP2001068802 A JP 2001068802A JP 24449799 A JP24449799 A JP 24449799A JP 24449799 A JP24449799 A JP 24449799A JP 2001068802 A JP2001068802 A JP 2001068802A
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JP
Japan
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insulating sheet
wiring board
hole conductor
thermosetting resin
via hole
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JP24449799A
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Japanese (ja)
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Takayuki Neura
孝之 禰占
Katsura Hayashi
桂 林
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form a wiring board which can transfer excellently a fine wiring circuit layer composed of a metal foil on an insulation sheet, reduces thermal expansion difference from a semiconductor element, and is excellent in resistance to moisture. SOLUTION: In an insulation sheet in an uncured state or a semi-cured state (B stage), 30-70 vol.% of spherical silica whose average particle diameter is at most 10 μm is contained to thermosetting resin whose melt viscosity at 60-150 deg.C is 103-107 poise. The insulation sheet for a wiring board wherein the coefficient of thermal expansion (20 deg.C) is at most 250 ppm/ deg.C and the void content is 5-20% after perfect thermosetting is used. By transferring a wiring circuit layer constituted of a metal foil previously formed on a transfer sheet surface on the surface of the insulation sheet, a wiring board is formed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板を作製す
るための配線基板用絶縁シートと、それを用いた半導体
素子収納用パッケージや多層配線基板などに適した配線
基板の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an insulating sheet for a wiring board for manufacturing a wiring board, and a method of manufacturing a wiring board using the same, which is suitable for a package for housing semiconductor elements or a multilayer wiring board. is there.

【0002】[0002]

【従来技術】近年、電子機器は小型化が進んでいるが、
近年携帯情報端末の発達や、コンピューターを持ち運ん
で操作するいわゆるモバイルコンピューティングの普及
によってさらに小型、薄型且つ高精細の多層配線基板が
求められる傾向にある。
2. Description of the Related Art In recent years, electronic devices have been reduced in size.
In recent years, with the development of portable information terminals and the spread of so-called mobile computing in which a computer is carried and operated, there is a tendency that a smaller, thinner, and higher-definition multilayer wiring board is required.

【0003】また、通信機器に代表されるように、高速
動作が求められる電子機器が広く使用されるようになっ
てきた。高速動作が求められるということは、高い周波
数の信号に対し、正確なスイッチングが可能であるなど
多種な要求を含んでいる。そのような電子機器に対応す
るため、高速な動作に適した多層プリント配線板が求め
られている。
[0003] Further, electronic devices that require high-speed operation, such as communication devices, have been widely used. The requirement for high-speed operation includes various requirements such as accurate switching of high-frequency signals. In order to cope with such electronic devices, a multilayer printed wiring board suitable for high-speed operation is required.

【0004】高速な動作を行うためには、配線の長さを
短くし、電気信号の伝播に要する時間を短縮することが
必要である。配線の長さを短縮するために、配線の幅を
細くし、配線の間隙を小さくするという、小型、薄型且
つ高精細の多層配線基板が求められる傾向にある。
In order to perform high-speed operation, it is necessary to reduce the length of wiring and shorten the time required for transmitting an electric signal. In order to reduce the length of the wiring, there is a tendency for a small, thin, and high-definition multilayer wiring substrate in which the width of the wiring is reduced and the gap between the wirings is reduced.

【0005】そのような高密度配線の要求に対応するた
め、セラミック多層配線基板の製造工程と同様な工程、
即ち、ビアホール導体および配線回路層が形成された複
数の絶縁シートを積層する多層プリント配線板が特開平
10−27959号公報などによって提案されている。
In order to respond to such a demand for high-density wiring, a process similar to the manufacturing process of the ceramic multilayer wiring board,
That is, a multilayer printed wiring board in which a plurality of insulating sheets on which via-hole conductors and wiring circuit layers are formed is proposed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 10-27959.

【0006】この方法では、具体的には、絶縁シートに
ビアホールを加工し金属粉末を充填してビアホール導体
を形成した後、予め表面に金属箔からなる配線回路層が
形成された転写シートから、前記配線回路層を転写して
配線回路層を形成して1層の配線シートを作成し、同様
にして作成した複数の配線シートを積層して一体化して
多層化するものである。
In this method, specifically, after a via hole is formed in an insulating sheet, a metal powder is filled in the insulating sheet to form a via hole conductor, and then a transfer sheet having a wiring circuit layer made of a metal foil formed on a surface thereof is used. The wiring circuit layer is transferred to form a wiring circuit layer to form a single-layer wiring sheet, and a plurality of wiring sheets created in the same manner are laminated and integrated to form a multilayer.

【0007】また、最近では、かかるプリント配線基板
の表面に半導体素子を搭載したり、配線基板の内部に半
導体素子を埋設した配線基板等も要求されている。
Recently, there has been a demand for a printed circuit board on which a semiconductor element is mounted on the surface, a wiring board in which the semiconductor element is embedded inside the printed circuit board, and the like.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上記の特開平10−2
7959号公報によって提案される転写法では、絶縁シ
ートをエッチング液やメッキ液などの薬品に浸漬しない
ドライプロセスで作製することができるために、絶縁シ
ートの劣化が無く、また熱と圧力により配線回路層を絶
縁シート表面に埋設させるため平坦性に優れ、半導体素
子をフリップチップ実装する場合に良好な実装が可能と
なるなどの長所を有する。
SUMMARY OF THE INVENTION The above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 10-2 is disclosed.
In the transfer method proposed by JP-A-7959, the insulating sheet can be manufactured by a dry process that is not immersed in a chemical such as an etching solution or a plating solution. Since the layers are buried in the surface of the insulating sheet, the flatness is excellent, and there is an advantage that good mounting is possible when flip-chip mounting the semiconductor element.

【0009】しかしながら、用いる絶縁シートに対して
は、a)転写シート表面の緻密質な金属箔からなる配線
回路層を絶縁シートに転写させる場合に、微細な回路で
あっても配線の切れなどがなく良好に転写できること、
b)最終的に熱硬化される絶縁シートにおける熱膨張係
数が半導体素子の熱膨張とできる限り近似しているこ
と、さらには、c)半導体素子などを搭載した配線基板
として耐湿性に優れていること等が要求されている。
However, for the insulating sheet to be used, a) when the wiring circuit layer made of dense metal foil on the surface of the transfer sheet is transferred to the insulating sheet, the wiring may be cut even in a fine circuit. Good transfer without
b) The thermal expansion coefficient of the insulating sheet finally cured is as close as possible to the thermal expansion of the semiconductor element, and c) The wiring board on which the semiconductor element and the like are mounted has excellent moisture resistance. Is required.

【0010】しかしながら、従来の絶縁シートでは、転
写性を高めるためには、絶縁シート中の樹脂量を増加さ
せて接着性を高めることが望ましいが、その反面、熱膨
張係数が大きくなり、半導体素子との熱膨張差が大きく
なってしまうという問題があり、上記の特性をすべて満
足し得る絶縁シートについて充分な検討がなされていな
いのが現状であった。
However, in the conventional insulating sheet, in order to enhance the transferability, it is desirable to increase the amount of resin in the insulating sheet to increase the adhesiveness. However, there has been a problem that a difference in thermal expansion between the insulating sheet and the insulating sheet becomes large. At present, sufficient investigation has not been made on an insulating sheet that can satisfy all of the above characteristics.

【0011】従って、本発明は、上記従来の課題を解決
するもので、絶縁シートの表面に金属箔からなる微細な
配線回路層を良好に転写できるとともに、半導体素子と
の熱膨張差を低減し、且つ耐湿性に優れた配線基板を作
製することのできる絶縁シートを提供する、並びにかか
る絶縁シートを用いて高信頼性の配線基板を歩留りよく
製造するための配線基板の製造方法を提供することを目
的とする。
Accordingly, the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and it is possible to satisfactorily transfer a fine wiring circuit layer made of a metal foil to the surface of an insulating sheet and to reduce a difference in thermal expansion from a semiconductor element. Provided is an insulating sheet capable of manufacturing a wiring board having excellent moisture resistance, and a method of manufacturing a wiring board for manufacturing a highly reliable wiring board with a high yield using such an insulating sheet. With the goal.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記目的
に対して検討を重ねた結果、60〜150℃における溶
融粘度が103 〜107 ポイズの熱硬化性樹脂に対し
て、平均粒径が10μm以下の球状シリカを30〜70
体積%の割合で含有してなる未硬化状態または半硬化状
態(Bステージ)の絶縁シートであって、完全熱硬化後
における熱膨張係数(20℃)が25ppm/℃以下、
開気孔率が5〜20%である配線基板用絶縁シートによ
って、上記の目的が達成できることを見いだした。
Means for Solving the Problems As a result of repeated studies on the above objects, the present inventors have found that a thermosetting resin having a melt viscosity at 60 to 150 ° C. of 10 3 to 10 7 poise has an average Spherical silica having a particle size of 10 μm or less
An insulating sheet in an uncured or semi-cured state (B stage) containing a volume percentage of 25% and having a coefficient of thermal expansion (20 ° C.) of 25 ppm / ° C. or less after complete thermal curing.
It has been found that the above object can be achieved by a wiring board insulating sheet having an open porosity of 5 to 20%.

【0013】また、配線基板の製造方法としては、上記
絶縁シートの所定箇所にビアホールを形成し、該ビアホ
ール内に金属粉末を含有する導電性組成物を充填してビ
アホール導体を形成するビアホール導体形成工程と、転
写シート表面に予め形成された金属箔からなる配線回路
層を前記ビアホール導体が形成された絶縁シート表面に
転写する転写工程と、前記ビアホール導体および配線回
路層が形成された絶縁シートを加熱して前記熱硬化性樹
脂を硬化させる熱硬化工程とを具備することを特徴とす
るものである。
A method of manufacturing a wiring board includes forming a via hole in a predetermined portion of the insulating sheet, filling the via hole with a conductive composition containing metal powder to form a via hole conductor. And a transfer step of transferring a wiring circuit layer made of a metal foil previously formed on the transfer sheet surface to the insulating sheet surface on which the via-hole conductor is formed, and an insulating sheet on which the via-hole conductor and the wiring circuit layer are formed. And a thermosetting step of heating to cure the thermosetting resin.

【0014】また、多層化された配線基板を製造するに
は、上記絶縁シートの所定箇所にビアホールを形成し、
該ビアホール内に金属粉末を含有する導電性組成物を充
填してビアホール導体を形成するビアホール導体形成工
程と、転写シート表面に予め形成された金属箔からなる
配線回路層を前記ビアホール導体が形成された絶縁シー
ト表面に転写する転写工程と、前記ビアホール導体形成
工程および転写工程を経て作製された複数の絶縁シート
を積層圧着する積層工程と、該積層体を加熱して前記熱
硬化性樹脂を硬化させる工程とを具備することを特徴と
するものである。
In order to manufacture a multi-layered wiring board, a via hole is formed at a predetermined position on the insulating sheet.
A via-hole conductor forming step of forming a via-hole conductor by filling the conductive composition containing a metal powder in the via-hole, and forming the via-hole conductor by forming a wiring circuit layer made of a metal foil formed in advance on a transfer sheet surface. A transfer step of transferring to the surface of the insulating sheet, a laminating step of laminating and pressing a plurality of insulating sheets produced through the via hole conductor forming step and the transferring step, and heating the laminate to cure the thermosetting resin. And a step of causing

【0015】[0015]

【作用】本発明の配線基板用絶縁シートによれば、特に
転写法によって金属箔からなる配線回路層を形成するた
めに好適に用いられるものであって、絶縁シートを熱硬
化性樹脂と無機質フィラーによって形成し、熱硬化性樹
脂として所定の溶融粘度を有する熱硬化性樹脂によって
形成するとともに、無機質フィラーとして平均粒径が1
0μm以下の球状シリカを用いることにより、金属箔を
転写した場合に、熱硬化性樹脂と球状シリカの流動性が
高めまるために、金属箔が絶縁シート表面に押しつけら
れた際に金属箔が絶縁シートに埋設され、また、粘度が
低下した熱硬化性樹脂の粘着性が高まるために、金属箔
との密着性を高めることができる結果、転写シートから
絶縁シートへの金属箔からなる配線回路層の転写性を高
めることができる。しかも、その球状シリカの量を30
〜70体積%とすることにより、樹脂による金属箔への
密着性とともに、球状シリカによる熱膨張係数を低下さ
せる作用とのバランスを保つことができる。
According to the insulating sheet for a wiring board of the present invention, it is particularly preferably used for forming a wiring circuit layer made of a metal foil by a transfer method, wherein the insulating sheet is made of a thermosetting resin and an inorganic filler. And a thermosetting resin having a predetermined melt viscosity as a thermosetting resin, and having an average particle size of 1 as an inorganic filler.
By using a spherical silica of 0 μm or less, when the metal foil is transferred, the fluidity of the thermosetting resin and the spherical silica increases, so that when the metal foil is pressed against the surface of the insulating sheet, the metal foil is insulated. The wiring circuit layer made of metal foil from the transfer sheet to the insulating sheet as a result of increasing the adhesiveness of the thermosetting resin embedded in the sheet and the reduced viscosity of the thermosetting resin and increasing the adhesiveness with the metal foil. Transferability can be improved. Moreover, the amount of the spherical silica is 30
By setting the content to 70% by volume, the balance between the adhesion of the resin to the metal foil and the action of reducing the thermal expansion coefficient of the spherical silica can be maintained.

【0016】さらに、絶縁シートにおける開気孔率を低
減することにより、完全硬化後においてボイドの発生を
抑制し、そのボイドに起因する耐湿性の低下を防止する
ことができる。特に、耐湿性向上の観点から熱硬化型ポ
リフェニレンエーテル樹脂からなることが最も望まし
い。
Furthermore, by reducing the open porosity of the insulating sheet, it is possible to suppress the generation of voids after complete curing, and to prevent a decrease in moisture resistance due to the voids. In particular, it is most desirable to use a thermosetting polyphenylene ether resin from the viewpoint of improving moisture resistance.

【0017】また、本発明の配線基板の製造方法によれ
ば、上記の絶縁シートに対してビアホール導体を形成し
た後、その表面に金属箔からなる配線回路層を転写する
ことにより、配線回路層の形成にあたり、配線回路層の
転写不良の発生を防止しつつ、また、配線回路層を絶縁
シートの表面にビアホール導体の変形なく容易に埋設で
きることから、各配線シートの平坦性および配線回路層
とビアホール導体との電気接続性に優れることから、単
層および多層化のいずれにおいても、配線基板の平坦化
に優れまた信頼性の高い配線基板および多層配線基板を
作製することができる。
Further, according to the method of manufacturing a wiring board of the present invention, after forming a via-hole conductor on the above-mentioned insulating sheet, a wiring circuit layer made of metal foil is transferred onto the surface of the via-hole conductor. When forming the wiring circuit layer, the occurrence of transfer failure of the wiring circuit layer is prevented, and the wiring circuit layer can be easily buried on the surface of the insulating sheet without deformation of the via hole conductor. Since the electrical connection with the via-hole conductor is excellent, it is possible to produce a wiring board and a multilayer wiring board which are excellent in flattening of the wiring board and highly reliable in both single layer and multilayer.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】(絶縁シート)本発明の配線基板
用絶縁シートは、熱硬化性樹脂と無機質フィラーを構成
成分とするものであり、この絶縁シート中における熱硬
化性樹脂、無機質フィラーは、熱硬化性樹脂70〜30
体積%、シリカ(SiO2 )からなる無機質フィラーを
30〜70体積%の割合でそれぞれ含有される。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (Insulating Sheet) The insulating sheet for a wiring board of the present invention comprises a thermosetting resin and an inorganic filler as constituents, and the thermosetting resin and the inorganic filler in the insulating sheet are , Thermosetting resin 70-30
%, And an inorganic filler composed of silica (SiO 2 ) is contained at a ratio of 30 to 70% by volume.

【0019】熱硬化性樹脂、無機質フィラーの割合を上
記の範囲に限定したのは、熱硬化性樹脂が30体積%よ
りも少なく、無機質フィラーが70体積%よりも多い
と、絶縁シートの熱膨張係数は小さくなる反面、樹脂量
が少ないことにより、金属箔の転写性が極端に低下し、
熱硬化性樹脂が70体積%よりも多く、無機質フィラー
が30体積%よりも少ないと、絶縁シートの硬化後の熱
膨張係数が25ppm/℃よりも大きくなってしまい、
半導体素子実装または内蔵時に実装不良が生じやすくな
るためである。好適には熱硬化性樹脂40〜60体積
%、無機質フィラーを60〜40体積%である。
The reason why the proportion of the thermosetting resin and the inorganic filler is limited to the above range is that when the content of the thermosetting resin is less than 30% by volume and the content of the inorganic filler is more than 70% by volume, the thermal expansion of the insulating sheet is reduced. Although the coefficient is small, the transferability of the metal foil is extremely reduced due to the small amount of resin,
When the thermosetting resin is more than 70% by volume and the inorganic filler is less than 30% by volume, the thermal expansion coefficient after curing of the insulating sheet becomes larger than 25 ppm / ° C.,
This is because mounting defects are likely to occur when mounting or incorporating the semiconductor element. Preferably, the thermosetting resin is 40 to 60% by volume and the inorganic filler is 60 to 40% by volume.

【0020】また、用いる熱硬化性樹脂としては、60
〜150℃における溶融粘度が103 〜107 ポイズ、
特に104 〜106 ポイズであることが重要である。こ
れは、金属箔転写時の樹脂分の流動性および接着性に与
える影響が大きく、上記溶融粘度が107 ポイズよりも
大きいと、樹脂が流動せず,銅箔の転写ができず、10
3 ポイズよりも小さいと、樹脂が流れすぎて金属箔の位
置ずれが発生する。
The thermosetting resin used is 60
Melt viscosity at ~ 150 ° C is 10 3 to 10 7 poise,
In particular, it is important that the pressure is 10 4 to 10 6 poise. This has a large influence on the resin content of the flowability and adhesion during metal foil transfer, when the melt viscosity is greater than 10 7 poise, the resin does not flow, can not transfer the copper foil, 10
If it is smaller than 3 poises, the resin will flow too much and the metal foil will be displaced.

【0021】この熱硬化性樹脂としては、例えば、PP
E(ポリフェニレンエーテル)、BTレジン(ビスマレ
イミドトリアジン)、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、
フッ素樹脂、フェノール樹脂が挙げられ、さらにそれら
の樹脂の硬化剤を含有するが、これらの中でも特に熱硬
化型のポリフェニレンエーテルが、低誘電率、低誘電損
失、低吸水率、高Tgの特性を有する材料であり、高周
波用としても好適であるなどの理由から最も望ましい。
As the thermosetting resin, for example, PP
E (polyphenylene ether), BT resin (bismaleimide triazine), epoxy resin, polyimide resin,
Fluororesins, phenolic resins, and the like, and further contain a curing agent for those resins. Of these, thermosetting polyphenylene ethers have characteristics of low dielectric constant, low dielectric loss, low water absorption, and high Tg. It is the most desirable material because it is suitable for high frequency.

【0022】また、この絶縁シート中に無機質フィラー
として、平均粒径が10μm以下の球状シリカを用いる
ことが重要である。これは、Al2 3 などに比較し
て、シリカは、比重が軽く、熱膨張係数が小さい点で優
れている。また、粒子形状としては球状であることが重
要である。これは、破砕された粉末に比較して、球状体
からなる方が粒子の流動性に優れることから、金属箔転
写時における無機質フィラーの流動性によってシリカ粒
子が再配列によって細密充填となり、それに伴い樹脂分
が金属箔との間に染みだし、これによって金属箔の絶縁
シートへの密着性を高めることができる。
It is important to use spherical silica having an average particle size of 10 μm or less as an inorganic filler in the insulating sheet. This is excellent in that silica has a lower specific gravity and a smaller coefficient of thermal expansion than Al 2 O 3 or the like. It is important that the particles have a spherical shape. This is because, compared to the crushed powder, the spherical particles are more excellent in the fluidity of the particles, so the silica particles become finely packed by rearrangement due to the fluidity of the inorganic filler at the time of transferring the metal foil, The resin oozes out between the resin and the metal foil, whereby the adhesion of the metal foil to the insulating sheet can be enhanced.

【0023】また、平均粒径が10μmよりも大きい
と、ビアホールを形成するときに脱粒やビア形状がいび
つになり、また平坦度が低下するためである。特に7μ
m以下であることが望ましい。
On the other hand, if the average particle size is larger than 10 μm, when forming a via hole, the particles are shed or the via shape is distorted, and the flatness is reduced. Especially 7μ
m or less.

【0024】また、絶縁シートを熱硬化性樹脂と無機質
フィラーとの複合材によって形成すれば、絶縁シートの
熱的安定性とともに機械的強度を高めることができる。
また、通常のガラス−エポキシ基板等に比較して、マイ
グレーションの進展しやすいガラスと樹脂との界面が孤
立している形態を取っていることから、絶縁信頼性に優
れる。
Further, when the insulating sheet is formed of a composite material of a thermosetting resin and an inorganic filler, the mechanical strength as well as the thermal stability of the insulating sheet can be increased.
Further, since the interface between the glass and the resin, in which migration easily progresses, is isolated as compared with a normal glass-epoxy substrate or the like, the insulation reliability is excellent.

【0025】本発明によれば、絶縁シートの開気孔率が
5〜20%、特に7〜15%であることが重要である。
開気孔率を上記の範囲に限定したのは開気孔率が5%よ
りも低いと、金属箔や金属箔からなる配線回路層を絶縁
シート表面に接着または転写させる際に金属箔と絶縁シ
ートの間に空気を巻き込んだ場合においても、巻き込ま
れた空気が開気孔を通じて系外に放出することができ
ず、金属箔と絶縁シートとの間にボイドとして残存して
しまい、配線回路層表面の平坦性が低下するとともに、
転写不良や密着不良等を引き起こしやすくなるためであ
る。
According to the present invention, it is important that the open porosity of the insulating sheet is 5 to 20%, particularly 7 to 15%.
When the open porosity is limited to the above range, when the open porosity is lower than 5%, when the metal foil or the wiring circuit layer made of the metal foil is adhered or transferred to the surface of the insulating sheet, the metal foil and the insulating sheet are not bonded. Even if air is trapped in between, the trapped air cannot be released out of the system through the open pores, and remains as a void between the metal foil and the insulating sheet. As the nature decreases,
This is because transfer failure, adhesion failure, and the like are likely to occur.

【0026】一方、開気孔率が20%を超えると、熱硬
化後の絶縁シートの表面にボイドが多数存在することに
なり、その結果、このボイドの存在によって雰囲気中の
水分がトラップされやすくなり、硬化後の基板の耐湿性
を劣化させてしまう。また、絶縁シートの生強度が低下
してしまう。なお、絶縁シートの平均開気孔径が10μ
m以下、特に8μm以下であることがビアホール導体の
形成時の加工精度を高め、また配線回路層の変形を防止
する上で望ましい。
On the other hand, when the open porosity exceeds 20%, a large number of voids are present on the surface of the insulating sheet after heat curing, and as a result, moisture in the atmosphere is easily trapped by the presence of the voids. This degrades the moisture resistance of the cured substrate. Further, the green strength of the insulating sheet is reduced. The average open pore diameter of the insulating sheet was 10 μm.
m or less, especially 8 μm or less, is desirable in order to increase the processing accuracy when forming the via-hole conductor and to prevent deformation of the wiring circuit layer.

【0027】本発明の絶縁シートは、所定の熱硬化性樹
脂および球状シリカを所定の割合で混合した混合物を溶
媒としてトルエン等を用いてスラリー化した後、このス
ラリーを用いてドクターブレード法、カレンダーロール
法などによってシート状に成形することにより作製する
ことができる。
The insulating sheet of the present invention is prepared by slurrying a mixture obtained by mixing a predetermined thermosetting resin and spherical silica at a predetermined ratio with toluene or the like as a solvent, and then using this slurry to form a doctor blade method or a calendar. It can be manufactured by molding into a sheet by a roll method or the like.

【0028】また、本発明の絶縁シートは、未硬化状態
または半硬化状態(Bステージ)が良い。硬化してしま
うと絶縁シートの接着強度が低くなり、金属箔との密着
性のみならず、絶縁シート間の接着性も低下し、多層化
時に層間の剥離が起きてしまう。また、この絶縁シート
は、温度60〜150℃、圧力2kgf/cm2 で、表
面粗さRaが0.5〜1μmの面を絶縁シートに押しつ
け、その銅箔を引き剥がす時の接着強度が0. 1kgf
/cm以上、特に0.3kgf/cm以上であることが
望ましい。これは転写シートと銅箔の接着強度が通常
0. 1kgf/cm程度なので絶縁シートに転写シート
の金属箔を加熱加圧後、転写シートを剥離する際、転写
シートのみを剥離することができ良好な転写性が得られ
る。
The insulating sheet of the present invention is preferably in an uncured state or a semi-cured state (B stage). When cured, the adhesive strength of the insulating sheet decreases, and not only the adhesion to the metal foil, but also the adhesiveness between the insulating sheets decreases, and delamination occurs during multilayering. Further, this insulating sheet has a bonding strength of 60 to 150 ° C., a pressure of 2 kgf / cm 2 , a surface having a surface roughness Ra of 0.5 to 1 μm pressed against the insulating sheet, and a copper foil having an adhesive strength of 0 to 1.0 mm. . 1kgf
/ Cm or more, particularly preferably 0.3 kgf / cm or more. Since the adhesive strength between the transfer sheet and the copper foil is usually about 0.1 kgf / cm, only the transfer sheet can be peeled off when the transfer sheet is peeled off after heating and pressing the metal foil of the transfer sheet on the insulating sheet. Transferability is obtained.

【0029】(多層配線基板の製造方法)次に、上記の
絶縁シートを用いて配線基板、特に多層配線基板を製造
する方法について図1をもとに説明する。まず、絶縁シ
ート1に対して、未硬化の状態(Bステージ状態)でパ
ンチング、レーザー等により所望のビアホール2を形成
し(a)、そのビアホール2内に導体ペーストを充填し
てビアホール導体3を形成する(b)。
(Method of Manufacturing Multilayer Wiring Board) Next, a method of manufacturing a wiring board, particularly a multilayer wiring board using the above-mentioned insulating sheet will be described with reference to FIG. First, a desired via hole 2 is formed on the insulating sheet 1 by punching, laser or the like in an uncured state (B stage state) (a), and the via hole 2 is filled with a conductive paste to form a via hole conductor 3. (B).

【0030】導体ペーストは、銅、アルミニウム、金、
銀の群から選ばれる少なくとも1種、または2種以上の
合金を主体とする金属粉末、溶剤、熱硬化性樹脂及び硬
化剤より構成される。溶剤はα−テルピネオール、2−
オクタノールや室温で液状の熱硬化性樹脂などが用いら
れる。熱硬化性樹脂及び硬化剤は絶縁シートの硬化を妨
げない同組成の樹脂もしくは同じ温度で硬化する樹脂が
選択される。これは導電性組成物同士の硬化後の保形性
を保つために用いられる。
The conductor paste is made of copper, aluminum, gold,
It is composed of a metal powder mainly composed of at least one or two or more alloys selected from the group consisting of silver, a solvent, a thermosetting resin and a curing agent. The solvent is α-terpineol, 2-
Octanol or a thermosetting resin liquid at room temperature is used. As the thermosetting resin and the curing agent, a resin having the same composition that does not hinder the curing of the insulating sheet or a resin that cures at the same temperature is selected. This is used to maintain the shape retention of the conductive compositions after curing.

【0031】次に、転写シート4表面に金属箔を接着し
た後、エッチング等の処理により配線回路層5を形成し
たものを作製する(c)。転写シート4は、配線回路層
5形成時のエッチングなどの工程に耐える機械的特性や
寸法安定性を有するものが用いられ、ポリエチレン系の
ものが好適に使用される。また、金属箔を接着するため
の接着剤としては、酸、アルカリに強いアクリル酸エス
テル等が好適に用いられる。
Next, a metal foil is adhered to the surface of the transfer sheet 4 and then a wiring circuit layer 5 is formed by a process such as etching (FIG. 3C). As the transfer sheet 4, a sheet having mechanical properties and dimensional stability that can withstand processes such as etching when forming the wiring circuit layer 5 is used, and a polyethylene-based sheet is preferably used. Further, as an adhesive for bonding the metal foil, an acrylate ester which is resistant to acid and alkali is preferably used.

【0032】その後、ビアホール導体3が形成された絶
縁シート1に上記配線回路層5が形成された転写シート
4を位置合わせして積層し、Bステージ状態の絶縁シー
トを70〜200℃に加熱しながら配線回路層5が絶縁
シート1表面に埋設できる程度の圧力を印加し、その
後、転写シート4を引き剥がすことにより、配線回路層
5を絶縁シート4の表面に転写して1層の配線シートa
を作製する(d)。配線回路層5を埋設するための圧力
としては、10kg/cm2 以上、特に20〜70kg
/cm2 の範囲が望ましい。
Thereafter, the transfer sheet 4 on which the wiring circuit layer 5 is formed is positioned and laminated on the insulating sheet 1 on which the via hole conductor 3 is formed, and the B-staged insulating sheet is heated to 70 to 200 ° C. While applying a pressure that allows the wiring circuit layer 5 to be embedded in the surface of the insulating sheet 1, the transfer sheet 4 is then peeled off, so that the wiring circuit layer 5 is transferred to the surface of the insulating sheet 4 to form a single-layer wiring sheet. a
(D). The pressure for embedding the wiring circuit layer 5 is 10 kg / cm 2 or more, especially 20 to 70 kg.
/ Cm 2 is desirable.

【0033】かかる転写工程において、所定の開気孔を
有している絶縁シート1に形成された配線回路層5と
は、その厚み方向に対する絶縁シート1が有する収縮性
または圧縮性から絶縁シート表面と配線回路層5表面と
が同一平面となるように平坦化することができる。ビア
ホール導体3は、配線回路層5の埋設によって厚み方向
に圧縮されることから充填性がアップし低抵抗化が実現
できる。
In the transfer step, the wiring circuit layer 5 formed on the insulating sheet 1 having the predetermined open pores is formed on the surface of the insulating sheet 1 due to the shrinkage or compressibility of the insulating sheet 1 in the thickness direction. Flattening can be performed so that the surface of the wiring circuit layer 5 is flush with the surface. The via-hole conductor 3 is compressed in the thickness direction by burying the wiring circuit layer 5, so that the filling property is improved and the resistance can be reduced.

【0034】その後、上記と同様な工程によって、片面
のみ及び両面に配線回路層を転写した絶縁シートb,c
を作製し、これらを位置合わせして積層した後、絶縁シ
ート1中の熱硬化性樹脂が完全硬化する温度に加熱する
ことにより、多層配線基板を作製することができる
(e)。
Thereafter, the insulating sheets b and c having the wiring circuit layer transferred to only one side and both sides by the same process as described above.
Are prepared, and they are aligned and laminated, and then heated to a temperature at which the thermosetting resin in the insulating sheet 1 is completely cured, whereby a multilayer wiring board can be produced (e).

【0035】また、本発明によれば、一般に、プリプレ
グと呼ばれるガラスなどの繊維体と熱硬化性樹脂との複
合材料からなる絶縁板の表面および裏面に配線回路層や
スルーホール導体が形成されたコア基板を作製し、この
コア基板の表面および裏面にビアホール導体や配線回路
層が形成された配線シートを複数層積層した後、上記と
同様に熱硬化することによっても多層配線基板を作製す
ることができる。
According to the present invention, a wiring circuit layer and a through-hole conductor are generally formed on the front and back surfaces of an insulating plate made of a composite material of a fibrous body such as glass and a thermosetting resin, which is called a prepreg. Producing a core substrate, laminating a plurality of wiring sheets having via hole conductors and wiring circuit layers formed on the front and back surfaces of the core substrate, and then thermosetting as described above to produce a multilayer wiring substrate. Can be.

【0036】[0036]

【実施例】絶縁シートとして、60〜150℃における
溶融粘度が102 〜108 ポイズの種々の熱硬化型ポリ
フェニレンエーテル(PPE)を用い、平均粒径が表1
に示す球状の溶融シリカ粉末または破砕シリカ粉末を用
いて、表1の比率で秤量し、これに溶媒としてトルエン
を加えて攪拌機によってスラリーを形成し、これをドク
ターブレード法によって厚さ120μmのシートに成形
し、これを60℃で1時間乾燥させて半硬化状態の絶縁
シートを作製した。
EXAMPLES As the insulating sheet, various thermosetting polyphenylene ethers (PPE) having a melt viscosity of 10 2 to 10 8 poise at 60 to 150 ° C. were used.
Using spherical fused silica powder or crushed silica powder as shown in Table 1, weighed in the ratio of Table 1, toluene was added as a solvent to form a slurry by a stirrer, and this was formed into a sheet having a thickness of 120 μm by a doctor blade method. It was molded and dried at 60 ° C. for 1 hour to produce a semi-cured insulating sheet.

【0037】作製した絶縁シートについて、アルキメデ
ス法によって開気孔率を測定した。また、シートを20
0℃で1時間加熱してPPEを完全熱硬化させた後、2
0℃における熱膨張係数を測定した。
The open porosity of the produced insulating sheet was measured by the Archimedes method. In addition, the seat
After heating at 0 ° C. for 1 hour to completely cure the PPE,
The coefficient of thermal expansion at 0 ° C. was measured.

【0038】次に、表1に示した各絶縁シートを用い
て、パンチングにより所定位置に直径が0.1mmのス
ルーホールを形成し、このビアホールに、平均粒径が4
μmの表面に銀を被覆した銅粉100重量部、セルロー
ス0.2重量部、2−オクタノール10重量部とを混合
した金属ペーストを充填してビアホール導体を形成し、
50℃で60分加熱して乾燥させた。
Next, a through-hole having a diameter of 0.1 mm was formed at a predetermined position by punching using each of the insulating sheets shown in Table 1.
A via-hole conductor was formed by filling a metal paste obtained by mixing 100 parts by weight of copper powder coated with silver on the surface of μm, 0.2 parts by weight of cellulose, and 10 parts by weight of 2-octanol,
It was dried by heating at 50 ° C. for 60 minutes.

【0039】その後、厚さ12μmの銅箔を接着した2
枚の転写シートの銅箔に対してフォトレジスト法によっ
て線幅が100μm以下の微細な表面用配線回路層およ
び裏面用配線回路層を形成した。そして、ビアホール導
体を形成した絶縁基板の表面側および裏面側に転写シー
トを位置合わせして重ね合わせ、少なくともスルーホー
ル導体形成位置に5kg/cm2 の圧力を印加して、ス
ルーホール導体の両端部側から配線回路層を絶縁層内に
埋め込み処理し、コア用配線シートを作製した。この時
のスルーホール導体の端部に設けられる配線回路層の最
小径は0.2mmとした。
Thereafter, a copper foil having a thickness of 12 μm was bonded
Fine wiring circuit layers for the front and back sides having a line width of 100 μm or less were formed on the copper foil of the transfer sheets by a photoresist method. Then, the transfer sheet is positioned and superimposed on the front side and the back side of the insulating substrate on which the via-hole conductor is formed, and a pressure of 5 kg / cm 2 is applied to at least the position where the through-hole conductor is formed, and both ends of the through-hole conductor are applied. The wiring circuit layer was buried in the insulating layer from the side to prepare a core wiring sheet. At this time, the minimum diameter of the wiring circuit layer provided at the end of the through-hole conductor was 0.2 mm.

【0040】また、同様にして、ビアホール導体を形成
した絶縁シートの片面のみに配線回路層を形成した配線
シートを4枚作製し、前記コア用配線シートの上下面に
2枚の配線シートを位置合わせして積層した後、温度2
00℃、圧力20kg/cm2 で硬化して、配線回路層
6層の多層配線基板を作製した。
Similarly, four wiring sheets having a wiring circuit layer formed on only one surface of the insulating sheet having via-hole conductors formed thereon were prepared, and two wiring sheets were positioned on the upper and lower surfaces of the core wiring sheet. After stacking together, temperature 2
The composition was cured at 00 ° C. and a pressure of 20 kg / cm 2 to prepare a multilayer wiring board having six wiring circuit layers.

【0041】なお、金属箔からなる配線回路層の転写性
について評価し、転写時に銅箔からなる配線回路層が配
線の断線なく良好に転写されたものを○、転写されなか
ったものを×として記した。
The transferability of the wiring circuit layer made of a metal foil was evaluated, and when the wiring circuit layer made of a copper foil was satisfactorily transferred without disconnection of the wiring at the time of transfer, it was evaluated as ○. Noted.

【0042】また、得られた多層配線基板に対して、平
坦度を測定し、また、耐湿性の評価を行った。評価は、
平坦度は基板の表面および裏面の配線回路層の30mm
□内の平坦度を測定しその平均を算出した。また、耐湿
性は吸水率を測定し、0.5%未満を○、0.5%以上
を×と表1に示した。
The flatness of the obtained multilayer wiring board was measured, and the moisture resistance was evaluated. Evaluation,
The flatness is 30 mm for the wiring circuit layer on the front and back surfaces of the substrate
The flatness in □ was measured and the average was calculated. The moisture resistance was measured by measuring the water absorption rate, and the results are shown in Table 1 below.

【0043】また、作製した多層配線基板を121℃、
湿度100%、2気圧下のプレッシャークッカーテスト
(PCT)を行い、試験後の配線回路層のふくれや回路
の抵抗変化が生じたものを不良として、各試料につき5
0サンプル作製したうちの良品率を表1に示した。
Further, the produced multilayer wiring board was heated at 121 ° C.
A pressure cooker test (PCT) under a humidity of 100% and a pressure of 2 atm was performed.
Table 1 shows the percentage of non-defective products among the 0 samples.

【0044】[0044]

【表1】 [Table 1]

【0045】表1の結果から明らかなように、絶縁シー
トの開気孔率が5%よりも小さい試料No.20では、金
属箔と絶縁シートとの間にボイドによる凹凸が観察され
平坦度の低いものであった。また、PCT試験後の良品
率が低く信頼性の低いものであった。また、開気孔率が
20%を超える試料No.1,2,3では、耐湿性が悪
く、PCT試験後の良品率も低かった。
As is clear from the results shown in Table 1, in the sample No. 20 in which the open porosity of the insulating sheet is smaller than 5%, irregularities due to voids are observed between the metal foil and the insulating sheet, and the flatness is low. Was something. In addition, the yield after the PCT test was low and the reliability was low. Samples Nos. 1, 2, and 3 having an open porosity of more than 20% had poor moisture resistance and a low yield after the PCT test.

【0046】さらに樹脂の溶融粘度が107 ポイズより
大きい試料No.11では、粘度が高すぎて銅箔の転写不
良が発生した。溶融粘度が103 ポイズより小さい試料
No.15では、転写時の変形によって転写不良が生じ
た。また、球状シリカ量が30体積%よりも少ない試料
No.17、18では、樹脂の流動性が大きく、転写時に
金属箔の位置ずれが起こり、また熱膨張係数が25pp
m/℃以上であり、70体積%よりも多い試料No.7、
8では、樹脂量が少ないために銅箔の転写不良が発生し
た。
Further, in Sample No. 11 in which the melt viscosity of the resin was greater than 10 7 poise, the viscosity was too high and transfer failure of the copper foil occurred. In Sample No. 15 having a melt viscosity of less than 10 3 poise, transfer failure occurred due to deformation during transfer. In Samples Nos. 17 and 18 in which the amount of spherical silica was less than 30% by volume, the fluidity of the resin was large, the metal foil was displaced during transfer, and the coefficient of thermal expansion was 25 pp.
m / ° C. or more and more than 70% by volume
In No. 8, transfer failure of the copper foil occurred due to a small amount of resin.

【0047】球状シリカの平均粒径が10μmよりも大
きい試料No.1、2、3では、平坦度、耐湿性およびビ
ア形状が悪くなり、PCT試験後の良品率が低かった。
In Samples Nos. 1, 2, and 3 in which the average particle size of the spherical silica was larger than 10 μm, the flatness, the moisture resistance, and the via shape were poor, and the yield rate after the PCT test was low.

【0048】さらに破砕シリカを用いた試料No.21で
は、同量の球状シリカを配合した試料No.9に比較して
転写性が低下することがわかった。
Further, it was found that the transferability of Sample No. 21 using crushed silica was lower than that of Sample No. 9 containing the same amount of spherical silica.

【0049】これらの比較例に対して、本発明の試料
は、いずれも平坦度10μm以下、銅箔の接着強度が
0.4kgf/cm以上と高く、また、転写性も良好
で、熱膨張係数も25ppm/℃以下と良好な特性を示
し、さらには耐湿性にも優れたものであった。
In contrast to these comparative examples, all of the samples of the present invention had a flatness of 10 μm or less, an adhesive strength of copper foil of 0.4 kgf / cm or more, good transferability, and a coefficient of thermal expansion. Also showed good characteristics of 25 ppm / ° C. or less, and was also excellent in moisture resistance.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上詳述した通り、本発明によれば、絶
縁シートの表面に金属箔からなる微細な配線回路層を良
好に転写できるとともに、半導体素子との熱膨張差を低
減し、且つ耐湿性に優れた配線基板を作製することがで
きる。
As described above in detail, according to the present invention, a fine wiring circuit layer made of a metal foil can be satisfactorily transferred to the surface of an insulating sheet, the difference in thermal expansion from a semiconductor element can be reduced, and A wiring board with excellent moisture resistance can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明における多層配線基板の製造方法の一例
を説明するための工程図である。
FIG. 1 is a process diagram illustrating an example of a method for manufacturing a multilayer wiring board according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 絶縁シート 2 ビアホール 3 ビアホール導体 4 転写シート 5 配線回路層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Insulation sheet 2 Via hole 3 Via hole conductor 4 Transfer sheet 5 Wiring circuit layer

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】60〜150℃における溶融粘度が103
〜107 ポイズの熱硬化性樹脂に対して、平均粒径が1
0μm以下の球状シリカを30〜70体積%の割合で含
有してなる未硬化状態または半硬化状態(Bステージ)
の絶縁シートであって、完全熱硬化後における熱膨張係
数(20℃)が25ppm/℃以下、開気孔率が5〜2
0%であることを特徴とする配線基板用絶縁シート。
1. A melt viscosity at 60 to 150 ° C. of 10 3
Relative to 107 poise thermosetting resin, an average particle size of 1
Uncured or semi-cured state containing spherical silica of 0 μm or less at a ratio of 30 to 70% by volume (B stage)
An insulating sheet having a thermal expansion coefficient (20 ° C.) of 25 ppm / ° C. or less after complete thermal curing and an open porosity of 5-2.
An insulating sheet for a wiring board, which is 0%.
【請求項2】前記熱硬化性樹脂が熱硬化型ポリフェニレ
ンエーテルを主とする請求項1記載の配線基板用絶縁シ
ート。
2. The insulating sheet for a wiring board according to claim 1, wherein said thermosetting resin mainly comprises thermosetting polyphenylene ether.
【請求項3】60〜150℃における溶融粘度が103
〜107 ポイズの熱硬化性樹脂に対して、平均粒径が1
0μm以下の球状シリカを30〜70体積%の割合で含
有してなる未硬化状態または半硬化状態(Bステージ)
の絶縁シートであって、完全熱硬化後における熱膨張係
数(20℃)が25ppm/℃以下、開気孔率が5〜2
0%である配線基板用絶縁シートの所定箇所にビアホー
ルを形成し、該ビアホール内に金属粉末を含有する導電
性組成物を充填してビアホール導体を形成するビアホー
ル導体形成工程と、転写シート表面に予め形成された金
属箔からなる配線回路層を前記ビアホール導体が形成さ
れた絶縁シート表面に転写する転写工程と、前記ビアホ
ール導体および配線回路層が形成された絶縁シートを加
熱して前記熱硬化性樹脂を硬化させる熱硬化工程とを具
備することを特徴とする配線基板の製造方法。
3. A melt viscosity at 60 to 150 ° C. of 10 3
Relative to 107 poise thermosetting resin, an average particle size of 1
Uncured or semi-cured state containing spherical silica of 0 μm or less at a ratio of 30 to 70% by volume (B stage)
An insulating sheet having a thermal expansion coefficient (20 ° C.) of 25 ppm / ° C. or less after complete thermal curing and an open porosity of 5-2.
A via hole conductor forming step of forming a via hole at a predetermined position of a wiring board insulating sheet at 0%, filling the via hole with a conductive composition containing a metal powder to form a via hole conductor, and forming a via hole conductor on the transfer sheet surface. A transfer step of transferring a wiring circuit layer made of a metal foil formed in advance onto the surface of the insulating sheet on which the via-hole conductor is formed; and heating the insulating sheet on which the via-hole conductor and the wiring circuit layer are formed to form the thermosetting resin. A method for manufacturing a wiring board, comprising: a thermosetting step of curing a resin.
【請求項4】60〜150℃における溶融粘度が103
〜107 ポイズの熱硬化性樹脂に対して、平均粒径が1
0μm以下の球状シリカを30〜70体積%の割合で含
有してなる未硬化状態または半硬化状態(Bステージ)
の絶縁シートの所定箇所にビアホールを形成し、該ビア
ホール内に金属粉末を含有する導電性組成物を充填して
ビアホール導体を形成するビアホール導体形成工程と、
転写シート表面に予め形成された金属箔からなる配線回
路層を前記ビアホール導体が形成された絶縁シート表面
に転写する転写工程と、前記ビアホール導体形成工程お
よび転写工程を経て作製された複数の絶縁シートを積層
圧着する積層工程と、該積層体を加熱して前記熱硬化性
樹脂を硬化させる工程とを具備することを特徴とする配
線基板の製造方法。
4. A melt viscosity at 60 to 150 ° C. of 10 3
Relative to 107 poise thermosetting resin, an average particle size of 1
Uncured or semi-cured state containing spherical silica of 0 μm or less at a ratio of 30 to 70% by volume (B stage)
Forming a via hole in a predetermined portion of the insulating sheet, filling the conductive composition containing a metal powder in the via hole to form a via hole conductor forming a via hole conductor,
A transfer step of transferring a wiring circuit layer made of a metal foil previously formed on the transfer sheet surface to the surface of the insulating sheet on which the via-hole conductor is formed; and a plurality of insulating sheets produced through the via-hole conductor forming step and the transfer step. And a step of heating the laminate to cure the thermosetting resin.
【請求項5】前記熱硬化性樹脂が熱硬化型ポリフェニレ
ンエーテルを主とする請求項3または請求項4記載の配
線基板の製造方法。
5. The method for manufacturing a wiring board according to claim 3, wherein said thermosetting resin mainly comprises thermosetting polyphenylene ether.
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