JP2001067669A5 - - Google Patents
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Description
【請求項３】 前記パルス生成制御手段は、所定の記録条件に応じて、前記第２、第３の各パルスのパルス期間長を、０Ｔ〜３Ｔの範囲で可変設定することを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
また、パルス生成制御手段は、所定の記録条件、例えば記録媒体の材質、メーカー、線速度、光学系特性などに応じて、第２、第３の各パルスのレベルを可変設定する。
またパルス生成制御手段は、所定の記録条件に応じて、第２、第３の各パルスのパルス期間長を、０Ｔ〜３Ｔの範囲で可変設定する。
またパルス生成制御手段は、直前に形成されるピット／ランド長に応じて、第１、第２、第３のパルスの全部又は一部について、そのパルス期間長を可変設定する。
またパルス生成制御手段は、所定の記録条件に応じて、第２、第３の各パルスのパルス期間長を、０Ｔ〜３Ｔの範囲で可変設定する。
またパルス生成制御手段は、直前に形成されるピット／ランド長に応じて、第１、第２、第３のパルスの全部又は一部について、そのパルス期間長を可変設定する。
そして、各パターンの使い分け、特にＬ１、Ｌ２期間の設定は、ピット／ランド長検出回路３１が検出した直前及び直後のピット長、ランド長に応じて行われる。例えば、直前のランド区間が長い場合はＬ１は長く、一方、直前のランド区間が短い場合はＬ１は短くされる。
即ちピット長／ランド長による熱蓄積量の変動に応じて、レーザドライブパターンが制御されることになる。
このＬ１、Ｌ２の期間長は０Ｔ〜３Ｔの範囲で可変とされる。
即ちピット長／ランド長による熱蓄積量の変動に応じて、レーザドライブパターンが制御されることになる。
このＬ１、Ｌ２の期間長は０Ｔ〜３Ｔの範囲で可変とされる。
さらに実際には、ディスクの材質（色素膜の材質）、製造メーカー、記録線速度、記録速度、ピックアップ１の光学系の特性などによっても、パルス幅やパルスレベルを調整する。
特に色素膜の材質の違い等によって熱反応の違いがあるため、記録動作の際に装填されているディスクの種別や製造メーカーを判別して、パルス幅やパルスレベルを調整することは有効である。また記録線速度、記録速度など、記録動作の実行環境についても、例えばシステムコントローラ１０が記録信号生成部２１に伝えることで、パルス幅やパルスレベルを調整するができ、適切な記録動作に有効となる。
特に色素膜の材質の違い等によって熱反応の違いがあるため、記録動作の際に装填されているディスクの種別や製造メーカーを判別して、パルス幅やパルスレベルを調整することは有効である。また記録線速度、記録速度など、記録動作の実行環境についても、例えばシステムコントローラ１０が記録信号生成部２１に伝えることで、パルス幅やパルスレベルを調整するができ、適切な記録動作に有効となる。
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