JP2001063141A - 光学ユニット調整方法および光学ユニット調整装置ならびに記録媒体 - Google Patents

光学ユニット調整方法および光学ユニット調整装置ならびに記録媒体

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JP2001063141A
JP2001063141A JP24377499A JP24377499A JP2001063141A JP 2001063141 A JP2001063141 A JP 2001063141A JP 24377499 A JP24377499 A JP 24377499A JP 24377499 A JP24377499 A JP 24377499A JP 2001063141 A JP2001063141 A JP 2001063141A
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optical unit
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Kazuhiro Yamada
一博 山田
Shuji Imamura
修二 今村
Satoshi Ishida
敏 石田
Makoto Iwamoto
良 岩本
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PFU Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学ユニット調整において、調整状態表示と
調整作業指示とを含む調整に必要な情報を作業者が容易
に確認できるようにコンピュータ処理を実現する光学ユ
ニット調整方法および光学ユニット調整装置ならびに光
学ユニット調整を実現する記録媒体を提供する。 【解決手段】 走査線上に配置する一対の倍率誤差測定
確認パターンと、副走査方向調整用パターンと、主走査
位置調整用パターンと、ピント調整用パターンとを備え
る調整用パターンを形成するテストチャートと、テスト
チャートを調整対象の光学ユニットで1ラスタ読取る光
学調整用治具と、光学調整用治具が読取った読取りデー
タを解析し調整項目の定量データを算出して比較値と比
較し、調整項目の良否判定を行う調整データ解析部と、
調整データ解析部が処理した判定結果と調整指示とを表
示する表示部と、調整項目のデータを保存する調整デー
タ保存部とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光学ユニット調
整に関し、特に、調整状態表示と調整作業指示とを含む
調整に必要な情報を作業者が容易に確認できるように自
動コンピュータ処理を実現する光学ユニット調整方法お
よび光学ユニット調整装置ならびに光学ユニット調整を
実現する記録媒体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、画像読取り装置を構成する光学
ユニットは、少なくともイメージセンサとレンズとを備
えており、読取り位置の文字や絵などのイメージ情報を
光学・電気的に走査し、レンズを介してイメージセンサ
に結像させて光電変換することで画像データを得るよう
に構成している。
【0003】ここで、この発明にかかる次の用語につい
て、その定義を示して明確にする。
【0004】走査線:原稿上の2次元画素を1次元の電
気信号に変換するために、順次画素単位に読取っていく
ための仮想線をいう。 主走査:原稿上の2次元情報に対し、走査線方向に走査
すること。すなわち、イメージセンサ自体の電子的な走
査によって行われる。 副走査:原稿、イメージセンサまたはミラーなどの機械
的な移動により行われる。すなわち、主走査に対して直
角をなす方向に走査が行われ、主走査による一次元的な
画像データを蓄積させて面状の二次元的な画像データを
構成する。
【0005】光学ユニットがイメージ情報を一次元像、
または二次元像として検知する場合、所定の画素が読取
り基準位置に対して主走査方向において許容範囲内にあ
ることを確認する必要がある。また、理想とする走査線
に対して副走査方向において左右のずれ量が許容範囲内
にあることを確認する必要がある。さらに、レンズを介
してイメージセンサに結像する焦点深度が許容範囲内に
あることを確認する必要がある。
【0006】上記に示した確認事項は、光学ユニットの
調整項目となるものであり、調整対象の光学ユニットで
調整用のテストチャートを読取り、各種調整項目の確認
を行うようにしている。
【0007】図11は、光学ユニット調整用のテストチ
ャートを示すものである。同図において、テストチャー
トに形成する各種調整用のパターンを説明する。各種調
整用のパターンは、1ラスタ読取りできるように走査線
上に形成している。
【0008】すなわち、調整用パターンは、倍率誤差を
確認する倍率誤差測定確認パターンを両端に形成する。
また、主走査位置のずれ量を確認する主走査位置調整用
パターンを一端に形成する。さらに、副走査方向におい
て左右のずれ量を確認する副走査方向調整用パターンを
テストチャートの中央部を挟んでほぼ左右対象の位置に
それぞれ形成する。
【0009】さらに、ピント調整用パターンとして、黒
基準パターンと、白基準パターンと、走査線に対して直
交する白黒ラインペアと、走査線に対して所定の角度で
傾斜させた傾斜白黒ラインペアとを形成する。
【0010】図12は、従来技術の構成図を示す。同図
において、前述の図11で示した調整用パターン55を
形成する光学ユニット調整用のテストチャート54を光
学調整用治具52に搭載する調整対象となる光学ユニッ
ト53で読取る。読取った読取りデータはオシロスコー
プなどの波型読取り機61に転送される。作業者は、波
型読取り機61の波形を確認しながら、前述で説明した
各種の調整項目の良否を目視で確認し、必要な調整作業
を実施する。
【0011】図13は、従来技術のフローチャートを示
す。なお、符号は図12を引用する。ステップS51に
おいて、調整対象となる光学ユニット53でテストチャ
ート54に形成する調整用パターン55を読取る。
【0012】ステップS52において、作業者は、波型
読取り機61の波形を確認しながら、調整項目の良否を
目視で確認し、ステップS53において、必要な調整作
業を行う。
【0013】ステップS54において、作業者は、目視
によって調整作業の良否を判定する。ステップS55に
おいて、調整作業がOKの場合は処理を終了し、NGの
場合はステップS52に戻る。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】前記のごとく、従来の
技術では次のような問題点がある。
【0015】1)光学ユニット調整は、オシロスコープ
などの波型読取り機で行っており、種々の調整操作にお
いて、作業者の熟練が必要となる。
【0016】2)調整項目の良否判定は、作業者の目視
によるものであり、作業者ごとに調整のばらつきが発生
する。
【0017】この発明の課題は、上記の問題点を解決す
るために、調整に必要な各種情報を作業者が容易に確認
できるようにすることにある。すなわち、 1)コンピュータによる調整状態表示と調整作業指示と
を行い、調整に必要な各種情報を作業者が容易に確認で
きるように表示することにある。 2)これによって、調整作業の難易度を低減し、作業者
による調整のばらつきを排除することにある。 3)また、コンピュータを使用することによって、定量
的なデータ収集を可能とし、品質管理の精度を向上する
ことにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】前記の問題点を解決する
ために、この発明では次のような手段を取る。
【0019】走査線上に各種調整項目を確認する各種調
整用のパターンを形成するテストチャートと、当該テス
トチャートを調整対象の光学ユニットで読取る光学調整
用治具と、光学調整用治具が読取った読取りデータをコ
ンピュータ処理によって解析し、調整項目の定量データ
を算出して比較値と比較し、調整項目の良否判定を行う
処理手段と、処理手段が処理した判定結果と調整指示と
を表示する表示手段と、調整項目のデータを保存する保
存手段とを備える。
【0020】また、走査線上に各種調整項目を確認する
各種調整用パターンを1ラスタ読取る手順と、読取った
波形出力を解析する手順と、その定量データと、調整項
目の良否判定と、その判定結果から調整指示を与える手
順とを備える。
【0021】また、前記光学ユニット調整を実現するコ
ンピュータ読取り可能な制御プログラムを記録媒体に記
録する。
【0022】上記の手段を取ることにより、コンピュー
タによる調整状態表示と調整作業指示とを行い、調整に
必要な各種情報を作業者が容易に確認できるように表示
することで、調整作業の難易度を低減し、作業者による
調整のばらつきを排除する。また、コンピュータを使用
することによって、定量的なデータ収集を可能とし、品
質管理の精度を向上する。
【0023】また、コンピュータを動作させるプログラ
ムを用いて実現することができ、このプログラムは、こ
れを記録するための適切な種々の記録媒体に格納するの
で、必要時に任意の処理装置にインストールし、処理を
行わせる。
【0024】
【発明の実施の形態】この発明は、次に示したような実
施の形態をとる。
【0025】光学ユニット調整方法は、走査線上に配置
する一対の倍率誤差測定確認パターンと、副走査方向調
整用パターンと、主走査位置調整用パターンと、ピント
調整用パターンとを備える調整用パターンを調整対象の
光学ユニットで1ラスタ読取り、読取った波形出力を解
析し、その定量データと、調整項目の良否判定と、その
判定結果から調整指示を与える。
【0026】さらに、前記光学ユニット調整方法は、副
走査方向調整用パターンを測定して副走査位置のずれ量
を算出し、そのずれ量を表示する。
【0027】さらに、前記光学ユニット調整方法は、走
査線上の略中央部を挟んで配置する一対の副走査方向調
整用パターンを読取り、読取った一対の副走査方向調整
用パターンの走査線の傾きから副走査位置のずれ量を算
出し、基準に対して上方向のずれを正とし、基準に対し
て下方向のずれを負とし、一定距離離れた2本の垂直線
に測定したずれ量をプロットし、プロットした2点を結
ぶラインを引いて副走査方向の傾きとして表示させる。
【0028】さらに、前記光学ユニット調整方法は、副
走査位置のずれ量を調整する複数のスペーサを用いて一
定量ずつ段階的に調整する。
【0029】さらに、前記光学ユニット調整方法は、光
学ユニットの現在の副走査位置のずれ量から副走査位置
のずれ量が最小になるレベルを自動的に決定する。
【0030】さらに、前記光学ユニット調整方法は、主
走査位置調整用パターンを測定して主走査位置のずれ量
を算出し、そのずれ量を表示する。
【0031】さらに、前記光学ユニット調整方法は、主
走査位置のずれ量を調整する複数のスペーサを用いて一
定量ずつ段階的に調整する。
【0032】さらに、前記光学ユニット調整方法は、光
学ユニットの現在の主走査位置のずれ量から主走査位置
のずれ量が最小になるレベルを自動的に決定する。
【0033】さらに、前記光学ユニット調整方法は、走
査線上に配置する黒基準パターンと、白基準パターン
と、走査線に対して直交する白黒ラインペアとを形成す
るピント調整用パターンを1ラスタ読取り、黒基準と白
基準との階調差と、白黒ラインペア内で検出された最大
階調差とを測定し、白黒ラインペア内での最大階調差
と、黒基準と白基準との階調差とから主走査CTFを算
出し、その主走査CTFを表示してピント調整を行う。
【0034】さらに、前記光学ユニット調整方法は、走
査線上に配置する黒基準パターンと、白基準パターン
と、走査線に対して所定の角度で傾斜させた傾斜白黒ラ
インペアとを形成するピント調整用パターンを1ラスタ
読取り、黒基準と白基準との階調差と、傾斜白黒ライン
ペア内で検出された最大階調差とを測定し、傾斜白黒ラ
インペア内での最大階調差と、黒基準と白基準との階調
差とから副走査CTFを算出し、その副走査CTFを表
示してピント調整を行う。
【0035】さらに、前記光学ユニット調整方法は、走
査線上に配置する黒基準パターンと、白基準パターン
と、走査線に対して直交する白黒ラインペアと、走査線
に対して所定の角度で傾斜させた傾斜白黒ラインペアと
を形成するピント調整用パターンを1ラスタ読取り、黒
基準と白基準との階調差と、各白黒ラインペア内で検出
された最大階調差とを測定し、各白黒ラインペア内での
最大階調差と、黒基準と白基準との階調差とから主走査
CTFと副走査CTFとを算出し、その主走査CTFと
副走査CTFとを表示してピント調整を行う。
【0036】さらに、前記光学ユニット調整方法は、測
定して得られた調整項目の定量データを予め設定された
許容値と比較し、良否判定を行い、良否判定結果を表示
しながら調整を行う。
【0037】さらに、前記光学ユニット調整方法は、主
走査CTFおよび副走査CTFと、主走査位置と、倍率
の定量データと、それぞれの波形と、副走査方向の傾き
と、良否判定結果とを同時に表示しながら調整を行う。
【0038】さらに、前記光学ユニット調整方法は、調
整項目のデータ表示と、良否判定とその表示と、調整指
示とを行い、調整項目のデータを保存する。
【0039】また、図1に示すように、光学ユニット調
整装置1は、走査線上に配置する一対の倍率誤差測定確
認パターンと、副走査方向調整用パターンと、主走査位
置調整用パターンと、ピント調整用パターンとを備える
調整用パターン5を形成するテストチャート4と、前記
テストチャート4を調整対象の光学ユニット3で1ラス
タ読取る光学調整用治具2と、光学調整用治具2が読取
った読取りデータを解析し調整項目の定量データを算出
して比較値と比較し、調整項目の良否判定を行う調整デ
ータ解析部6と、調整データ解析部6が処理した判定結
果と調整指示とを表示する表示部7とを備える。
【0040】さらに、図1に示すように、前記光学ユニ
ット調整装置1は、調整項目のデータを保存する調整デ
ータ保存部8を備える。
【0041】また、光学ユニット調整を実現する記録媒
体は、コンピュータに、走査線上に配置する一対の倍率
誤差測定確認パターンと、副走査方向調整用パターン
と、主走査位置調整用パターンと、ピント調整用パター
ンとを備える調整用パターンを1ラスタ読取る手順と、
読取った波形出力を解析する手順と、その定量データ
と、調整項目の良否判定と、その判定結果から調整指示
を与える手順とを実現させるためのコンピュータ読取り
可能なプログラムを記録する。なお、このプログラム
は、これを記録するためのFDやCDなどの適切な種々
の記録媒体に格納している。
【0042】上記の実施の形態をとることにより、以下
に示す作用が働く。
【0043】調整用パターンを調整対象の光学ユニット
で1ラスタ読取り、読取った波形出力を解析し、その定
量データと、調整項目の良否判定と、その判定結果から
調整指示を与えることにより、調整に必要な各種情報を
作業者が容易に確認できるようにする。
【0044】すなわち、コンピュータによる調整状態表
示と調整作業指示とを行い、調整に必要な各種情報を作
業者が容易に確認できるように表示部に表示する。
【0045】これによって、調整作業の難易度を低減
し、作業者による調整のばらつきを排除する。
【0046】また、調整データ保存部に定量的なデータ
を保存するので、品質管理の精度を向上する。
【0047】さらに、Vマークからなる副走査方向調整
用パターンを読取ることで、読取ったVマークの幅から
光学ユニットの副走査方向のずれ量を算出し、その副走
査方向の傾きを描画させる。
【0048】さらに、副走査方向を調整する時、あるい
は、主走査方向を調整する時にスペーサによって段階的
に調整する。さらに、調整時に最適なスペーサを自動的
に選択する。
【0049】さらに、ピント調整用パターンを1ラスタ
読取り、コントラスト差から主走査CTFおよび副走査
CTFを算出することにより、主走査方向のピント調整
および副走査方向のピント調整を各々行う。また、主走
査方向のピント調整と副走査方向のピント調整とを一度
に行う。
【0050】また、コンピュータを動作させるプログラ
ムを用いて実現することができ、このプログラムは、こ
れを記録するための適切な種々の記録媒体に格納するの
で、必要時に任意の処理装置にインストールし、処理を
行わせる。
【0051】
【実施例】この発明による代表的な実施例を図1ないし
図10によって説明する。なお、以下において、同じ箇
所は同一の符号を付して有り、詳細な説明を省略するこ
とがある。
【0052】図1は本発明の構成図を示す。
【0053】同図において、光学ユニット調整装置1
は、光学調整用治具2と、テストチャート4と、調整デ
ータ解析部6と、表示部7と、調整データ保存部8とを
構成している。
【0054】光学調整用治具2は、調整対象となる光学
ユニット3を搭載している。テストチャート4は、前述
の図11で示した調整用パターンと同様の調整用パター
ン5を形成している。
【0055】すなわち、調整用パターン5は、1ラスタ
読取りできるように走査線上に形成し、倍率誤差を確認
する一対の倍率誤差測定確認パターンを両端に形成して
いる。また、主走査位置のずれ量を確認する主走査位置
調整用パターンを一端に形成している。さらに、副走査
方向において左右のずれ量を確認するVマークからなる
副走査方向調整用パターンをテストチャートの中央部を
挟んでほぼ左右対象の位置にそれぞれ形成している。さ
らに、ピント調整用パターンとして、黒基準パターン
と、白基準パターンと、走査線に対して直交する白黒ラ
インペアと、走査線に対して所定の角度で傾斜させた傾
斜白黒ラインペアとを形成している。
【0056】なお、調整用パターン5は、調整用パター
ン5を形成するテストチャート4を光学調整用治具2に
搭載する調整対象となる光学ユニット3で1ラスタ読取
られる。
【0057】調整データ解析部6は、光学調整用治具2
が読取った調整用パターン5の読取りデータを解析し、
調整項目の定量データを算出して比較値と比較し、調整
項目の良否判定を行う。なお、詳細は後述する。表示部
7は、調整データ解析部6が処理した判定結果と調整指
示とを表示する。なお、詳細は後述する。調整データ保
存部8は、調整項目のデータを保存する。
【0058】図2は本発明の実施例の図を示す。
【0059】同図において、調整データ解析部6が処理
した判定結果と調整指示とを表示する調整画面の具体例
を説明する。表示部7が表示する調整画面は、上段と中
段と下段とに分割される。上段は、調整用パターン5を
読取った全体の波型波形と、倍率誤差とを表示する。中
段は、主走査位置調整用パターンを読取った波型波形
と、測定した主走査位置と、許容範囲と、その判定結果
とを表示する。また副走査方向調整用パターンを読取
り、副走査方向の基準位置と、副走査方向の傾きと、そ
の判定結果とを表示する。なお、この例では左側に主走
査位置の状態を表示し、右側に副走査位置の状態をそれ
ぞれ表示している。
【0060】下段は、ピント調整用パターンを読取った
波型波形と、算出した主走査CTF(Contrast
Transfer Function)と副走査CT
Fと、その判定結果と、全ての判定結果とを表示させ
る。なお、左側に走査線における左側の状態を表示し、
中央に走査線における中央部の状態を表示し、右側に走
査線における右側の状態をそれぞれ表示している。
【0061】図3は本発明の実施例の図を示す。
【0062】同図において、調整データ解析部6が処理
する倍率誤差について説明する。前述の図2で示した上
段に表示された全体の波型波形の左端と右端近傍には、
倍率誤差測定確認パターンに対応する倍率を確認するた
めの基準線が存在する。この2つの基準線をそれぞれ
L,Rとする。
【0063】倍率誤差は次式による。 倍率誤差(%)=(B/A−1)×100 上式において、 A:LR間の理想距離。 B:測定したLR間の距離。
【0064】図4は本発明の実施例の図を示す。
【0065】同図において、調整データ解析部6が処理
する副走査位置のずれ量を算出する処理と、副走査方向
の傾きを描画(表示)させる方法について説明する。
【0066】同図(a)において、Vマークからなる副
走査方向調整用パターンと走査線とが交差した図を示
す。Vマーク幅BCから走査線のずれ量を算出する処理
を説明する。角度BDA=90度、角度BAD=45度
とすると、DA=DB、DA=DCと近似できる。上記
の関係式から、BC=2DAが導かれる。副走査方向の
ずれ量が「0」での走査線との接点をD1、副走査方向
のずれ量が「0」でのVマークと走査線との接点をB
1、C1とする。
【0067】副走査位置のずれ量は次式による。 副走査位置のずれ量=DD1=(AD−AD1)=(B
C−B1C1)/2 上式において、 DD1:副走査位置のずれ量。 AD:測定した副走査方向でのVマークの頂点と走査線
との接点間の距離。 AD1:副走査方向のずれ量が「0」でのVマークの頂
点と走査線との接点間の距離。 BC:測定した副走査方向でのVマークと走査線との接
点間の距離。 B1C1:副走査方向のずれ量が「0」でのVマークと
走査線との接点間の距離。
【0068】同図(b)において、副走査方向のずれ量
を高さに置き換えれば、走査線の傾きをトレースでき
る。すなわち、左の副走査方向のずれ量と、右の副走査
方向のずれ量とを高さに置き換え、走査線の傾きをトレ
ースする。要するに、基準に対して上方向のずれを正と
し、基準に対して下方向のずれを負とし、副走査方向に
一定距離離れた2本の垂直線に測定したずれ量をプロッ
トし、プロットした2点を結ぶラインを引いて副走査方
向の傾きとして表示させることができる。
【0069】図5は本発明の実施例の図を示す。
【0070】同図において、光学ユニットの位置を調整
する物理的な治具について説明する。同図(a)は、主
走査方向の調整を示す。調整前の状態において、光学ユ
ニット3の一端に第一スペーサ11を当接している。こ
の時、光学ユニット3の主走査方向の位置が理想位置に
対して左側に位置する場合は、光学ユニット3が理想位
置に達するような寸法を持つ第二スペーサ12を当接し
て光学ユニット3を固定する。なお、光学ユニット3を
固定した後は第二スペーサ12を取外す。
【0071】同図(b)は、副走査方向の調整を示す。
調整前の状態において、光学ユニット3の一端に第三ス
ペーサ13を当接している。この時、光学ユニット3の
副走査方向の位置が理想位置に対して傾斜する場合は、
光学ユニット3が理想位置に達するような寸法を持つ第
四スペーサ14を当接して光学ユニット3を固定する。
なお、光学ユニット3を固定した後は第四スペーサ14
を取外す。
【0072】要するに、主走査位置のずれ量と副走査位
置のずれ量を調整する複数のスペーサを用いて一定量ず
つ段階的に調整するものである。なお、調整データ解析
部6によって、光学ユニットの現在の主走査位置のずれ
量から主走査位置のずれ量が最小になるレベルを自動的
に決定することもできる。また、光学ユニットの現在の
副走査位置のずれ量から副走査位置のずれ量が最小にな
るレベルを自動的に決定することもできる。すなわち、
調整データ解析部6は、調整に必要な最適なスペーサを
自動的に選択するものである。
【0073】図6は本発明の実施例の図を示す。
【0074】同図において、調整データ解析部6が処理
する主走査CTFと副走査CTFとを算出する処理を説
明する。同図(a)はテストチャート読取り波形の概略
例を示す。すなわち、前述の走査線上に配置する黒基準
パターンと、白基準パターンと、走査線に対して直交す
る白黒ラインペアと、走査線に対して所定の角度で傾斜
させた傾斜白黒ラインペアとを形成するピント調整用パ
ターンを1ラスタ読取った波形を示している。
【0075】同図において、黒基準と白基準との階調差
をAとし、走査線に対して直交する白黒ラインペア内で
の最大階調差をBとし、傾斜白黒ラインペア内での最大
階調差をCとする。
【0076】主走査CTFおよび副走査CTFは次式に
よる。 主走査CTF(%)=(B/A)×100 副走査CTF(%)=(C/A)×100 上式において、 A:黒基準と白基準との階調差。 B:走査線に対して直交する白黒ラインペア内での最大
階調差。 C:傾斜白黒ラインペア内での最大階調差。
【0077】つぎに、光学ユニット調整方法の処理手順
について説明する。
【0078】図7は本発明の実施例の構成図を示す。
【0079】同図において、光学調整用治具2が備える
演算制御部10は、調整対象の光学ユニット3の動作を
制御するとともに、光学ユニット3で読取ったテストチ
ャート4に形成する前記調整用パターンの読取りデータ
を調整処理装置21へ転送する。
【0080】調整処理装置21は演算制御部23によっ
て制御され、ドライバプログラム22を介して光学調整
用治具2とデータの授受を行い、受信した前記調整用パ
ターンの読取りデータは、演算制御部23の指示により
制御プログラム26によって処理される。表示部24
は、前述の図2に示したように、光学ユニット調整にお
ける定量データと、調整項目の良否判定と、その判定結
果と、調整指示とを含む調整に必要な情報を表示する。
記憶部25は、調整項目のデータを格納する。
【0081】制御プログラム26は、調整データ解析部
27と、判定部28とを備え、調整データ解析部27
は、倍率誤差の算出、副走査位置のずれ量の算出、主走
査位置のずれ量の算出、主走査CTFの算出および副走
査CTFの算出、主走査位置調整および副走査位置調整
に必要なスペーサの選択などを含む調整項目を解析し、
定量データを作成する。また、判定部28は、調整デー
タ解析部27が作成した調整項目の定量データを比較値
と比較し、調整項目の良否判定を行う。
【0082】図8は本発明の実施例のフローチャートを
示す。なお、以下において符号は図7を引用する。
【0083】ステップS01において、光学調整用治具
2は、調整対象の光学ユニット3でテストチャー4に形
成する調整用パターンを1ラスタ読取り、読取りデータ
を調整処理装置21に転送する。
【0084】ステップS02において、制御プログラム
26の調整データ解析部27は、転送された読取りデー
タの波形出力を解析する。
【0085】ステップS03において、調整データ解析
部27は、前述の倍率誤差の算出、副走査位置のずれ量
の算出、主走査位置のずれ量の算出、主走査CTFの算
出および副走査CTFの算出、主走査位置調整および副
走査位置調整に必要なスペーサの選択などを含む調整項
目を解析し定量データを作成する。
【0086】ステップS04において、判定部28は、
調整項目の定量データを比較値と比較する。
【0087】ステップS05において、判定部28は、
調整項目の良否判定を行う。
【0088】ステップS06において、表示部24は、
その定量データと、調整項目の良否判定と、その判定結
果から調整指示とを表示する。
【0089】ステップS07において、記憶部25は、
調整項目のデータを格納して処理を終了する。
【0090】つぎに、主走査位置調整および副走査位置
調整に必要なスペーサの自動選択処理について説明す
る。
【0091】図9は本発明の実施例のフローチャートを
示す。
【0092】ステップS11において、調整データ解析
部27は、主走査方向の位置のずれ量を算出する。
【0093】ステップS12において、調整データ解析
部27は、算出したずれ量から最適なスペーサを算出す
る。
【0094】ステップS13において、表示部24は、
算出した最適なスペーサの種類を表示し、処理を終了す
る。
【0095】図10は本発明の実施例のフローチャート
を示す。
【0096】ステップS21において、調整データ解析
部27は、副走査方向の位置のずれ量を算出する。
【0097】ステップS22において、調整データ解析
部27は、算出したずれ量から最適なスペーサを算出す
る。
【0098】ステップS23において、表示部24は、
算出した最適なスペーサの種類を表示し、処理を終了す
る。
【0099】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、次
に示すような効果が期待できる。
【0100】調整用パターンを調整対象の光学ユニット
で1ラスタ読取り、読取った波形出力を解析し、その定
量データと、調整項目の良否判定と、その判定結果から
調整指示を与えることにより、調整に必要な各種情報を
作業者が容易に確認できるようにすることができる。
【0101】すなわち、コンピュータによる調整状態表
示と調整作業指示とを行い、調整に必要な各種情報を作
業者が容易に確認できるように表示部に表示することが
できる。
【0102】これによって、調整作業の難易度を低減
し、作業者による調整のばらつきを排除することができ
る。
【0103】また、調整データ保存部に定量的なデータ
を保存するので、品質管理の精度を向上することができ
る。
【0104】さらに、Vマークからなる副走査方向調整
用パターンを読取ることで、読取ったVマークの幅から
光学ユニットの副走査方向のずれ量を算出し、その副走
査方向の傾きを描画させることができる。
【0105】さらに、副走査方向を調整する時、あるい
は主走査方向を調整する時に、スペーサによって段階的
に調整することができる。さらに、調整時に最適なスペ
ーサを自動的に選択することができる。
【0106】さらに、ピント調整用パターンを1ラスタ
読取り、コントラスト差から主走査CTFおよび副走査
CTFを算出することにより、主走査方向のピント調整
および副走査方向のピント調整を各々行うことができ
る。また、主走査方向のピント調整と副走査方向のピン
ト調整とを一度に行うことができる。
【0107】また、コンピュータを動作させるプログラ
ムを用いて実現することができ、このプログラムは、こ
れを記録するための適切な種々の記録媒体に格納するの
で、必要時に任意の処理装置にインストールし、処理を
行わせることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の構成図である。
【図2】本発明の実施例の図である。
【図3】本発明の実施例の図である。
【図4】本発明の実施例の図である。
【図5】本発明の実施例の図である。
【図6】本発明の実施例の図である。
【図7】本発明の実施例の構成図である。
【図8】本発明の実施例のフローチャートである。
【図9】本発明の実施例のフローチャートである。
【図10】本発明の実施例のフローチャートである。
【図11】光学ユニット調整用のテストチャート
【図12】従来技術の構成図である。
【図13】従来技術のフローチャートである。
【符号の説明】
1:光学ユニット調整装置 2:光学調整用治具 3:光学ユニット 4:テストチャート 5:調整用パターン 6:調整データ解析部 7:表示部 8:調整データ保存部 10:演算制御部 11:第一スペーサ 12:第二スペーサ 13:第三スペーサ 14:第四スペーサ 21:調整処理装置 22:ドライバプログラム 23:演算制御部 24:表示部 25:記憶部 26:制御プログラム 27:調整データ解析部 28:判定部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩本 良 石川県河北郡宇ノ気町字宇野気ヌ98番地の 2 株式会社ピーエフユー内 Fターム(参考) 2C362 AA47 AA48 BA85 BA90 CB73 DA03 DA04 2H043 AA03 AA12 AA27 5B047 CA05 CA07 CA12 CA17 CB23 DC02 5C072 AA01 BA02 DA23 FB03 FB04 FB06 RA11 RA18 UA17

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】走査線上に配置する一対の倍率誤差測定確
    認パターンと、副走査方向調整用パターンと、主走査位
    置調整用パターンと、ピント調整用パターンとを備える
    調整用パターンを調整対象の光学ユニットで1ラスタ読
    取り、 読取った波形出力を解析し、 その定量データと、調整項目の良否判定と、その判定結
    果から調整指示を与える、 ことを特徴とする光学ユニット調整方法。
  2. 【請求項2】前記光学ユニット調整方法は、 副走査方向調整用パターンを測定して副走査位置のずれ
    量を算出し、 そのずれ量を表示する、 ことを特徴とする請求項1記載の光学ユニット調整方
    法。
  3. 【請求項3】前記光学ユニット調整方法は、 走査線上の略中央部を挟んで配置する一対の副走査方向
    調整用パターンを読取り、 読取った一対の副走査方向調整用パターンの走査線の傾
    きから副走査位置のずれ量を算出し、 基準に対して上方向のずれを正とし、基準に対して下方
    向のずれを負とし、一定距離離れた2本の垂直線に測定
    したずれ量をプロットし、プロットした2点を結ぶライ
    ンを引いて副走査方向の傾きとして表示させる、 ことを特徴とする請求項2記載の光学ユニット調整方
    法。
  4. 【請求項4】前記光学ユニット調整方法は、 副走査位置のずれ量を調整する複数のスペーサを用いて
    一定量ずつ段階的に調整する、 ことを特徴とする請求項1または請求項2記載の光学ユ
    ニット調整方法。
  5. 【請求項5】前記光学ユニット調整方法は、 光学ユニットの現在の副走査位置のずれ量から副走査位
    置のずれ量が最小になるレベルを自動的に決定する、 ことを特徴とする請求項4記載の光学ユニット調整方
    法。
  6. 【請求項6】前記光学ユニット調整方法は、 主走査位置調整用パターンを測定して主走査位置のずれ
    量を算出し、 そのずれ量を表示する、 ことを特徴とする請求項1記載の光学ユニット調整方
    法。
  7. 【請求項7】前記光学ユニット調整方法は、 主走査位置のずれ量を調整する複数のスペーサを用いて
    一定量ずつ段階的に調整する、 ことを特徴とする請求項1または請求項6記載の光学ユ
    ニット調整方法。
  8. 【請求項8】前記光学ユニット調整方法は、 光学ユニットの現在の主走査位置のずれ量から主走査位
    置のずれ量が最小になるレベルを自動的に決定する、 ことを特徴とする請求項7記載の光学ユニット調整方
    法。
  9. 【請求項9】前記光学ユニット調整方法は、 走査線上に配置する黒基準パターンと、白基準パターン
    と、走査線に対して直交する白黒ラインペアとを形成す
    るピント調整用パターンを1ラスタ読取り、 黒基準と白基準との階調差と、白黒ラインペア内で検出
    された最大階調差とを測定し、 白黒ラインペア内での最大階調差と、黒基準と白基準と
    の階調差とから主走査CTFを算出し、 その主走査CTFを表示してピント調整を行う、 ことを特徴とする請求項1記載の光学ユニット調整方
    法。
  10. 【請求項10】前記光学ユニット調整方法は、 走査線上に配置する黒基準パターンと、白基準パターン
    と、走査線に対して所定の角度で傾斜させた傾斜白黒ラ
    インペアとを形成するピント調整用パターンを1ラスタ
    読取り、 黒基準と白基準との階調差と、傾斜白黒ラインペア内で
    検出された最大階調差とを測定し、 傾斜白黒ラインペア内での最大階調差と、黒基準と白基
    準との階調差とから副走査CTFを算出し、 その副走査CTFを表示してピント調整を行う、 ことを特徴とする請求項1記載の光学ユニット調整方
    法。
  11. 【請求項11】前記光学ユニット調整方法は、 走査線上に配置する黒基準パターンと、白基準パターン
    と、走査線に対して直交する白黒ラインペアと、走査線
    に対して所定の角度で傾斜させた傾斜白黒ラインペアと
    を形成するピント調整用パターンを1ラスタ読取り、 黒基準と白基準との階調差と、各白黒ラインペア内で検
    出された最大階調差とを測定し、 各白黒ラインペア内での最大階調差と、黒基準と白基準
    との階調差とから主走査CTFと副走査CTFとを算出
    し、 その主走査CTFと副走査CTFとを表示してピント調
    整を行う、 ことを特徴とする請求項1記載の光学ユニット調整方
    法。
  12. 【請求項12】前記光学ユニット調整方法は、 測定して得られた調整項目の定量データを予め設定され
    た許容値と比較し、 良否判定を行い、良否判定結果を表示しながら調整を行
    う、 ことを特徴とする請求項1記載の光学ユニット調整方
    法。
  13. 【請求項13】前記光学ユニット調整方法は、 主走査CTFおよび副走査CTFと、主走査位置と、倍
    率の定量データと、それぞれの波形と、副走査方向の傾
    きと、良否判定結果とを同時に表示しながら調整を行
    う、 ことを特徴とする請求項1,11または12記載の光学
    ユニット調整方法。
  14. 【請求項14】前記光学ユニット調整方法は、 調整項目のデータ表示と、良否判定とその表示と、調整
    指示とを行い、 調整項目のデータを保存する、 ことを特徴とする請求項1,11,12または13記載
    の光学ユニット調整方法。
  15. 【請求項15】走査線上に配置する一対の倍率誤差測定
    確認パターンと、副走査方向調整用パターンと、主走査
    位置調整用パターンと、ピント調整用パターンとを備え
    る調整用パターンを形成するテストチャートと、 前記テストチャートを調整対象の光学ユニットで1ラス
    タ読取る光学調整用治具と、 光学調整用治具が読取った読取りデータを解析し調整項
    目の定量データを算出して比較値と比較し、調整項目の
    良否判定を行う調整データ解析部と、 調整データ解析部が処理した判定結果と調整指示とを表
    示する表示部とを備える、 ことを特徴とする光学ユニット調整装置。
  16. 【請求項16】前記光学ユニット調整装置は、 調整項目のデータを保存する調整データ保存部を備え
    る、 ことを特徴とする請求項15記載の光学ユニット調整装
    置。
  17. 【請求項17】光学ユニット調整を実現する記録媒体に
    おいて、 コンピュータに、 走査線上に配置する一対の倍率誤差測定確認パターン
    と、副走査方向調整用パターンと、主走査位置調整用パ
    ターンと、ピント調整用パターンとを備える調整用パタ
    ーンを1ラスタ読取る手順と、 読取った波形出力を解析する手順と、 その定量データと、調整項目の良否判定と、その判定結
    果から調整指示を与える手順とを実現させるためのコン
    ピュータ読取り可能なプログラムを記録した、記録媒
    体。
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