JP2001046352A5 - 磁気共鳴イメージング装置及び撮影パラメータ算出方法 - Google Patents
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Description
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に静磁場を与える手段と、前記被検体に複数方向の傾斜磁場を印加する傾斜磁場発生手段と、前記被検体を構成する原子の原子核に磁気共鳴を起こさせる高周波パルスを発生する手段と、前記被検体からの核磁気共鳴信号を検出する検出手段と、検出信号の演算を行う演算手段と、前記傾斜磁場発生手段、高周波パルス発生手段および検出手段の動作タイミングを所定の撮影パラメータに基づき制御する制御手段と、前記演算手段の演算結果を画像として表示する表示手段とを備えた磁気共鳴イメージング装置において、
前記演算手段は、時系列的に連続する計測で得られた信号から空間位相分布を求め、異なる時刻の空間位相分布間の複素差分計算を行なう手段と、前記差分計算を行なった空間位相分布から温度変化の分布を求める手段と、前記温度変化の分布に基づき、所定の計測時刻における温度を予測する手段と、前記予測した温度における撮影パラメータを計算する手段とを備え、
前記制御手段は、前記所定の計測時刻における撮影パラメータとして、前記計算された撮影パラメータを用いることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項２】
前記表示手段は、前記演算手段で求めた温度変化と予測した温度変化を表示する手段を備えたことを特徴とする請求項１記載の磁気共鳴イメージング装置。
【請求項３】
磁気共鳴イメージング装置における撮影パラメータ算出方法であって、
時系列的に連続して計測された核磁気共鳴信号からそれぞれ空間位相分布を求めるステップと、
異なる時刻の前記空間位相分布の間で複素差分計算を行なうステップと、
前記差分結果の空間位相分布から温度変化の分布を求めるステップと、
前記温度変化の分布に基づき、所定の計測時刻における温度を予測するステップと、
前記予測された温度における撮影パラメータを計算するステップと、
前記計算された撮影パラメータを所定の計測時刻における撮影パラメータとして設定するステップ、
を有することを特徴とする撮影パラメータ算出方法。
【請求項１】
被検体に静磁場を与える手段と、前記被検体に複数方向の傾斜磁場を印加する傾斜磁場発生手段と、前記被検体を構成する原子の原子核に磁気共鳴を起こさせる高周波パルスを発生する手段と、前記被検体からの核磁気共鳴信号を検出する検出手段と、検出信号の演算を行う演算手段と、前記傾斜磁場発生手段、高周波パルス発生手段および検出手段の動作タイミングを所定の撮影パラメータに基づき制御する制御手段と、前記演算手段の演算結果を画像として表示する表示手段とを備えた磁気共鳴イメージング装置において、
前記演算手段は、時系列的に連続する計測で得られた信号から空間位相分布を求め、異なる時刻の空間位相分布間の複素差分計算を行なう手段と、前記差分計算を行なった空間位相分布から温度変化の分布を求める手段と、前記温度変化の分布に基づき、所定の計測時刻における温度を予測する手段と、前記予測した温度における撮影パラメータを計算する手段とを備え、
前記制御手段は、前記所定の計測時刻における撮影パラメータとして、前記計算された撮影パラメータを用いることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
【請求項２】
前記表示手段は、前記演算手段で求めた温度変化と予測した温度変化を表示する手段を備えたことを特徴とする請求項１記載の磁気共鳴イメージング装置。
【請求項３】
磁気共鳴イメージング装置における撮影パラメータ算出方法であって、
時系列的に連続して計測された核磁気共鳴信号からそれぞれ空間位相分布を求めるステップと、
異なる時刻の前記空間位相分布の間で複素差分計算を行なうステップと、
前記差分結果の空間位相分布から温度変化の分布を求めるステップと、
前記温度変化の分布に基づき、所定の計測時刻における温度を予測するステップと、
前記予測された温度における撮影パラメータを計算するステップと、
前記計算された撮影パラメータを所定の計測時刻における撮影パラメータとして設定するステップ、
を有することを特徴とする撮影パラメータ算出方法。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する本発明のMRI装置は、被検体に静磁場を与える手段と、前記被検体に複数方向の傾斜磁場を印加する傾斜磁場発生手段と、前記被検体を構成する原子の原子核に磁気共鳴を起こさせる高周波パルスを発生する手段と、前記被検体からの核磁気共鳴信号を検出する検出手段と、検出信号の演算を行う演算手段と、前記傾斜磁場発生手段、高周波パルス発生手段および検出手段の動作タイミングを所定の撮影パラメータに基づき制御する制御手段と、前記演算手段の演算結果を画像として表示する表示手段とを備え、前記演算手段は、時系列的に連続する計測で得られた信号から空間位相分布を求め、異なる時刻の空間位相分布間の複素差分計算を行なう手段と、前記差分計算を行なった空間位相分布から温度変化の分布を求める手段と、前記温度変化の分布に基づき、所定の計測時刻における温度を予測する手段と、前記予測した温度における撮影パラメータを計算する手段とを備え、前記制御手段は、前記所定の計測時刻における撮影パラメータとして、前記計算された撮影パラメータを用いるこことを特徴とする。
また、上記課題を解決する本発明のMRI装置における撮影パラメータ算出方法は、 時系列的に連続して計測された核磁気共鳴信号からそれぞれ空間位相分布を求めるステップと、異なる時刻の前記空間位相分布の間で複素差分計算を行なうステップと、前記差分結果の空間位相分布から温度変化の分布を求めるステップと、前記温度変化の分布に基づき、所定の計測時刻における温度を予測するステップと、前記予測された温度における撮影パラメータを計算するステップと、前記計算された撮影パラメータを所定の計測時刻における撮影パラメータとして設定するステップ、を有することを特徴とする。
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決する本発明のMRI装置は、被検体に静磁場を与える手段と、前記被検体に複数方向の傾斜磁場を印加する傾斜磁場発生手段と、前記被検体を構成する原子の原子核に磁気共鳴を起こさせる高周波パルスを発生する手段と、前記被検体からの核磁気共鳴信号を検出する検出手段と、検出信号の演算を行う演算手段と、前記傾斜磁場発生手段、高周波パルス発生手段および検出手段の動作タイミングを所定の撮影パラメータに基づき制御する制御手段と、前記演算手段の演算結果を画像として表示する表示手段とを備え、前記演算手段は、時系列的に連続する計測で得られた信号から空間位相分布を求め、異なる時刻の空間位相分布間の複素差分計算を行なう手段と、前記差分計算を行なった空間位相分布から温度変化の分布を求める手段と、前記温度変化の分布に基づき、所定の計測時刻における温度を予測する手段と、前記予測した温度における撮影パラメータを計算する手段とを備え、前記制御手段は、前記所定の計測時刻における撮影パラメータとして、前記計算された撮影パラメータを用いるこことを特徴とする。
また、上記課題を解決する本発明のMRI装置における撮影パラメータ算出方法は、 時系列的に連続して計測された核磁気共鳴信号からそれぞれ空間位相分布を求めるステップと、異なる時刻の前記空間位相分布の間で複素差分計算を行なうステップと、前記差分結果の空間位相分布から温度変化の分布を求めるステップと、前記温度変化の分布に基づき、所定の計測時刻における温度を予測するステップと、前記予測された温度における撮影パラメータを計算するステップと、前記計算された撮影パラメータを所定の計測時刻における撮影パラメータとして設定するステップ、を有することを特徴とする。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22870399A JP4179576B2 (ja) | 1999-08-12 | 1999-08-12 | 磁気共鳴イメージング装置及び撮影パラメータ算出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22870399A JP4179576B2 (ja) | 1999-08-12 | 1999-08-12 | 磁気共鳴イメージング装置及び撮影パラメータ算出方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001046352A JP2001046352A (ja) | 2001-02-20 |
| JP2001046352A5 true JP2001046352A5 (ja) | 2006-06-29 |
| JP4179576B2 JP4179576B2 (ja) | 2008-11-12 |
Family
ID=16880489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22870399A Expired - Fee Related JP4179576B2 (ja) | 1999-08-12 | 1999-08-12 | 磁気共鳴イメージング装置及び撮影パラメータ算出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4179576B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6184050B2 (ja) * | 2010-07-02 | 2017-08-23 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 磁気共鳴イメージング装置 |
| CN114820838B (zh) * | 2021-02-08 | 2023-05-30 | 华科精准（北京）医疗科技有限公司 | 校正磁化率误差的磁共振温度成像方法 |
-
1999
- 1999-08-12 JP JP22870399A patent/JP4179576B2/ja not_active Expired - Fee Related
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