JP2001024485A - Pll circuit - Google Patents

Pll circuit

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JP2001024485A
JP2001024485A JP11194901A JP19490199A JP2001024485A JP 2001024485 A JP2001024485 A JP 2001024485A JP 11194901 A JP11194901 A JP 11194901A JP 19490199 A JP19490199 A JP 19490199A JP 2001024485 A JP2001024485 A JP 2001024485A
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Japan
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current
voltage
circuit
type mos
power supply
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JP11194901A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuji Osagawa
勇二 長川
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Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a PLL circuit in which the fluctuation of a generated clock can be reduced against the fluctuation of a power supply voltage. SOLUTION: A PLL circuit is provided with a phase comparator, a loop filter, and a voltage control transmitter including a voltage/current converting circuit for converting a control voltage outputted from the loop filter into current, and a CMOS ring oscillator 1 constituted of plural ring oscillators 5 having current sources corresponding to the output current. The voltage/ current converting circuit 7 uses a variable resistance changing according to the fluctuation of a power supply voltage as an element for deciding the output current.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体集積回路
におけるPLL(フェーズ・ロックド・ループ)回路に
関するものである。
The present invention relates to a PLL (Phase Locked Loop) circuit in a semiconductor integrated circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は従来のPLL回路の基本構成を示
すブロック図であり、図において、101は位相比較器
PC、102はローパスフィルタLPF、103はアン
プ、104は電圧制御発信器VCOである。この動作に
ついて説明すると、基準信号frefと電圧制御発信器
の出力信号fvcをPCに入力して誤差の成分fref
−fvcを出力する。この後ローパスフィルタで位相比
較器からの出力を直流分を取り出して補正値電圧を得
る。これらが構成するループフィルタによるループの繰
り返しによって電圧制御発信器の出力信号fvcは基準
信号frefに正確に合うようになる。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a block diagram showing a basic configuration of a conventional PLL circuit. In the figure, 101 is a phase comparator PC, 102 is a low-pass filter LPF, 103 is an amplifier, and 104 is a voltage controlled oscillator VCO. is there. This operation will be described. The reference signal fref and the output signal fvc of the voltage controlled oscillator are input to the PC and the error component fref is input.
-Fvc is output. Thereafter, a DC component is extracted from the output from the phase comparator by a low-pass filter to obtain a correction value voltage. The output signal fvc of the voltage controlled oscillator accurately matches the reference signal fref by repeating the loop by the loop filter formed by these.

【0003】そして、図4は例えば図3に示すような従
来のPLL回路の電圧制御発信器であり、図において、
1はCMOSリングオシレータ、2a〜2eは電流制御
用のP型MOSトランジスタ、3a〜3eは電流制御用
のN型MOSトランジスタ、4a〜4eはそれぞれP型
MOSトランジスタ側においてP型MOSトランジスタ
2a〜2eが、N型MOSトランジスタ側においてN型
MOSトランジスタ3a〜3eが接続された奇数個のC
MOSインバータ、5はCMOSインバータ4a〜4e
がリング状に接続されたリングオシレータ、6はリング
オシレータ5の出力を増幅するバッファゲートである。
上記のCMOSリングオシレータ1はリングオシレータ
5とバッファゲート6により構成される。ここで、リン
グオシレータとは、インバータ、NAND、NORなど
の反転出力の論理ゲートを奇数段直列接続し、最終段の
出力を初段の入力に戻して自己発振させる回路のことを
いう。
FIG. 4 shows a conventional voltage-controlled oscillator of a PLL circuit as shown in FIG.
1 is a CMOS ring oscillator, 2a to 2e are P-type MOS transistors for current control, 3a to 3e are N-type MOS transistors for current control, and 4a to 4e are P-type MOS transistors 2a to 2e on the P-type MOS transistor side. Is an odd number of Cs connected to the N-type MOS transistors 3a to 3e on the N-type MOS transistor side.
MOS inverters 5 and CMOS inverters 4a to 4e
Is a ring oscillator connected in a ring shape, and 6 is a buffer gate for amplifying the output of the ring oscillator 5.
The above-described CMOS ring oscillator 1 includes a ring oscillator 5 and a buffer gate 6. Here, the ring oscillator is a circuit in which an odd-numbered logic gate of an inverted output such as an inverter, a NAND, or a NOR is connected in series, and the output of the last stage is returned to the input of the first stage and self-oscillates.

【0004】また、7は電圧−電流変換回路、10a’
は第1の電流合成回路、10bは第2の電流合成回路、
8はPLL回路のループフィルタからの出力Vinを+
側入力とする差動増幅器、3fは差動増幅器8の出力を
ゲート電極とし−側入力をソース電極とするN型MOS
トランジスタ、2fはN型MOSトランジスタ3fと電
源電圧VDD間に設けられたP型MOSトランジスタ、
2gはP型MOSトランジスタ2fとカレントミラー回
路を構成するP型トランジスタ、3gはP型MOSトラ
ンジスタ2gと接地電位GND間に設けられたN型トラ
ンジスタ、9aはN型MOSトランジスタ3fのソース
電極と差動増幅器8の−側入力との接続部と接地電圧G
NDとの間に設けられた抵抗であり、第1の電流合成回
路10a’は差動増幅器8とN型MOSトランジスタ3
fと抵抗9aとP型MOSトランジスタ2fとから構成
され、第2の電流合成回路10bはP型MOSトランジ
スタ2gとN型MOSトランジスタとから構成されてい
る。なお、P型MOSトランジスタ2gとN型MOSト
ランジスタ3gは、それぞれCMOSリングオシレータ
1の電流制御用P型MOSトランジスタ2g〜2e、電
流制御用N型MOSトランジスタ3a〜3eとカレント
ミラー回路を構成している。
[0004] Reference numeral 7 denotes a voltage-current conversion circuit, and 10a '.
Is a first current synthesis circuit, 10b is a second current synthesis circuit,
8 is the output Vin from the loop filter of the PLL circuit +
3f is an N-type MOS having an output of the differential amplifier 8 as a gate electrode and a negative input as a source electrode.
A transistor 2f is a P-type MOS transistor provided between the N-type MOS transistor 3f and the power supply voltage VDD;
2g is a P-type transistor forming a current mirror circuit with the P-type MOS transistor 2f, 3g is an N-type transistor provided between the P-type MOS transistor 2g and the ground potential GND, and 9a is a difference from the source electrode of the N-type MOS transistor 3f. Connection between the negative input of the operational amplifier 8 and the ground voltage G
The first current combining circuit 10a 'is a resistor provided between the differential amplifier 8 and the N-type MOS transistor 3.
f, a resistor 9a, and a P-type MOS transistor 2f, and the second current combining circuit 10b includes a P-type MOS transistor 2g and an N-type MOS transistor. The P-type MOS transistor 2g and the N-type MOS transistor 3g constitute a current mirror circuit with the current control P-type MOS transistors 2g to 2e and the current control N-type MOS transistors 3a to 3e of the CMOS ring oscillator 1, respectively. I have.

【0005】次に動作について説明する。ループフィル
タからの出力Vinが電圧制御発信器に入力すると、差
動増幅器8は+側入力と−側入力とが同電位となるよう
に作用するため、出力Vinと−側入力が同電位となる
ようN型MOSトランジスタ3fのゲート電位を制御す
る。そして、差動増幅器8の−側入力が抵抗9aに接続
されているため抵抗9aにVinの電圧が印加されるこ
ととなる。従って、第1の電流合成回路10a’には電
位Vinと抵抗9aにより決定される出力電流Iが流れ
る。一方、第2の電流合成回路10bもP型トランジス
タ2fと、P型MOSトランジスタ2gがカレントミラ
ー回路を構成しているため同一の電流Iが流れることと
なる。
Next, the operation will be described. When the output Vin from the loop filter is input to the voltage controlled oscillator, the differential amplifier 8 acts so that the + side input and the − side input have the same potential, so that the output Vin and the − side input have the same potential. Thus, the gate potential of the N-type MOS transistor 3f is controlled. Since the negative input of the differential amplifier 8 is connected to the resistor 9a, the voltage Vin is applied to the resistor 9a. Therefore, the output current I determined by the potential Vin and the resistor 9a flows through the first current synthesis circuit 10a '. On the other hand, the same current I flows in the second current synthesis circuit 10b because the P-type transistor 2f and the P-type MOS transistor 2g form a current mirror circuit.

【0006】これに対して、CMOSリングオシレータ
1はCMOSインバータ4a〜4eの各出力部に寄生す
る容量を充放電する時間により発信周波数fvcが決定
される。充電に要する電流の大きさは、電流制御用P型
MOSトランジスタ2a〜2eに流れる電流で決まる
が、この電流制御用P型MOSトランジスタ2a〜2e
はP型MOSトランジスタ2fとカレントミラー回路を
構成しているため、第1の電流合成回路10a’の電流
と同一となり電流Iとなる。
On the other hand, the transmission frequency fvc of the CMOS ring oscillator 1 is determined by the time for charging and discharging the parasitic capacitance of each output of the CMOS inverters 4a to 4e. The magnitude of the current required for charging is determined by the current flowing through the current control P-type MOS transistors 2a to 2e.
Constitutes a current mirror circuit with the P-type MOS transistor 2f, so that the current becomes the same as the current of the first current combining circuit 10a '.

【0007】また、放電に要する電流の大きさは、電流
制御用N型MOSトランジスタ3a〜3eに流れる電流
で決まるが、電流制御用N型MOSトランジスタ3a〜
3eはN型トランジスタ3gとカレントミラー回路を構
成しているため、やはり第2の電流合成回路10bの電
流と同一となり電流Iとなる。
The magnitude of the current required for discharging is determined by the current flowing through the current control N-type MOS transistors 3a to 3e.
Since 3e forms a current mirror circuit with the N-type transistor 3g, the current becomes the same as the current of the second current synthesizing circuit 10b.

【0008】従って、第1の電流合成回路10a’の電
流Iが変化すると、CMOSインバータ4a〜4eの各
出力部に寄生する容量を充放電する時間が変化し、その
結果、CMOSリングオシレータ1からの発信周波数f
vcが変化することになる。
Therefore, when the current I of the first current synthesizing circuit 10a 'changes, the time for charging and discharging the parasitic capacitance at each output of the CMOS inverters 4a to 4e changes, and as a result, the CMOS ring oscillator 1 Transmission frequency f
vc will change.

【0009】このCMOSリングオシレータ1の発信周
波数fvcは第1の電流合成回路10a’の電流Iによ
り変化するが、その一方で、電源電圧VDDにも依存す
る。この電源電圧VDDに依存する理由はCMOSイン
バータ4a〜4eのスレッショルド電圧、すなわちしき
い値電圧が電源電圧VDDに依存するためであり、CM
OSインバータ4a〜4eのスレッショルド電圧は電源
電圧VDDが高くなるほど高くなり電源電圧VDDが低
くなるほど低くなる。
The oscillation frequency fvc of the CMOS ring oscillator 1 changes depending on the current I of the first current synthesis circuit 10a ', but also depends on the power supply voltage VDD. The reason for relying on the power supply voltage VDD is that the threshold voltage of the CMOS inverters 4a to 4e, that is, the threshold voltage depends on the power supply voltage VDD.
The threshold voltages of the OS inverters 4a to 4e increase as the power supply voltage VDD increases and decrease as the power supply voltage VDD decreases.

【0010】従って、CMOSインバータ4a〜4eの
各出力部に寄生する容量を充放電する電流Iが一定な場
合、CMOSインバータ4a〜4eのスレッショルド電
圧に到達するまでの時間は、電源電圧VDDが高いほど
長くかかり、電源電圧VDDが低いほど短くてすむ。そ
の結果、CMOSリングオシレータ1の発信周波数fv
cは電源電圧VDDが高いほど遅くなり、電源電圧VD
Dが低いほど速くなる。
Therefore, when the current I for charging / discharging the parasitic capacitance of each output part of the CMOS inverters 4a to 4e is constant, the power supply voltage VDD is high until the threshold voltage of the CMOS inverters 4a to 4e is reached. The longer the power supply voltage VDD, the shorter the power supply voltage VDD. As a result, the transmission frequency fv of the CMOS ring oscillator 1
c is slower as the power supply voltage VDD is higher, and the power supply voltage VD
The lower the D, the faster.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】従来のPLL回路は、
以上のように電流制御発信器の一部がリングオシレータ
5により構成されているので、CMOSリングオシレー
タ1が電源電圧VDDにより周波数を変化させるため、
電源電圧VDDの変動により生成したクロックが変動す
るといった課題があった。この発明は上記のような課題
を解決するためになされたもので、電源電圧VDDの変
動に対して生成したクロックの変動が少ないPLL回路
を得ることを目的する。
The conventional PLL circuit is
As described above, since a part of the current control oscillator is constituted by the ring oscillator 5, the CMOS ring oscillator 1 changes the frequency by the power supply voltage VDD.
There is a problem that the generated clock fluctuates due to the fluctuation of the power supply voltage VDD. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and has as its object to obtain a PLL circuit in which a generated clock has a small variation with respect to a variation in a power supply voltage VDD.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】この発明に係るPLL回
路は、位相比較器と、ループフィルタと、これより出力
される制御電圧を電流に変換する電圧−電流変換回路お
よびその出力電流に対応した電流源を有し、リング状に
電気接続した複数の論理ゲート回路より構成する発信回
路を含む電圧制御発信器とを備えており、電圧−電流変
換回路は出力電流を決定する素子として電源電圧の変動
に応じて変化する可変抵抗を用いるものである。
A PLL circuit according to the present invention has a phase comparator, a loop filter, a voltage-current conversion circuit for converting a control voltage output from the phase filter into a current, and an output current thereof. A voltage-controlled oscillator having a current source and including a plurality of logic gate circuits electrically connected in a ring shape, the voltage-current conversion circuit having a power supply voltage as an element for determining an output current. A variable resistor that changes according to the fluctuation is used.

【0013】この発明に係るPLL回路は、可変抵抗が
電源電圧と接地電圧間を分圧する分圧回路と、この出力
をゲート電極に電気接続したP型MOSトランジスタお
よびゲート電極を接地電圧に電気接続したN型MOSト
ランジスタからなるトランスミッションゲートと、抵抗
とを備えており、トランスミッションゲートおよび抵抗
が直列または並列に接続するものである。
A PLL circuit according to the present invention includes a voltage dividing circuit in which a variable resistor divides a voltage between a power supply voltage and a ground voltage, a P-type MOS transistor having its output electrically connected to a gate electrode, and an electrical connection between the gate electrode and the ground voltage. A transmission gate formed of an N-type MOS transistor and a resistor, and the transmission gate and the resistor are connected in series or in parallel.

【0014】この発明に係るPLL回路は、発信回路が
CMOSリングオシレータからなるものである。
[0014] In the PLL circuit according to the present invention, the oscillation circuit is formed of a CMOS ring oscillator.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1によるP
LL回路の電圧制御発信器を示す回路図であり、図にお
いて、1はCMOSリングオシレータ、2a〜2eは電
流制御用のP型MOSトランジスタ、3a〜3eは電流
制御用のN型MOSトランジスタ、4a〜4eはそれぞ
れP型MOSトランジスタ側においてP型MOSトラン
ジスタ2a〜2eが、N型MOSトランジスタ側におい
てN型MOSトランジスタ3a〜3eが接続された奇数
個のCMOSインバータ、5はCMOSインバータ4a
〜4eがリング状に接続されたリングオシレータ、6は
リングオシレータ5の出力を増幅するバッファゲートで
ある。上記CMOSリングオシレータ1はリングオシレ
ータ5とバッファゲート6とにより構成される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below. Embodiment 1 FIG. FIG. 1 is a diagram showing a P according to Embodiment 1 of the present invention.
FIG. 3 is a circuit diagram showing a voltage controlled oscillator of an LL circuit, in which 1 is a CMOS ring oscillator, 2a to 2e are P-type MOS transistors for current control, 3a to 3e are N-type MOS transistors for current control, 4a 4 to 4e are odd-numbered CMOS inverters connected to P-type MOS transistors 2a to 2e on the P-type MOS transistor side and N-type MOS transistors 3a to 3e on the N-type MOS transistor side, and 5 is a CMOS inverter 4a.
4e are ring oscillators connected in a ring, and 6 is a buffer gate for amplifying the output of the ring oscillator 5. The CMOS ring oscillator 1 includes a ring oscillator 5 and a buffer gate 6.

【0016】また、7は電圧−電流変換回路、10aは
第1の電流合成回路、10bは第2の電流合成回路、8
はPLL回路のループフィルタからの出力Vinを+側
入力とする差動増幅器、3fは差動増幅器8の出力をゲ
ート電極とし−側入力をソース電極とするN型MOSト
ランジスタ、2fはN型MOSトランジスタ3fと電源
電圧VDD間に設けられたP型MOSトランジスタ、2
gはP型MOSトランジスタ2fとカレントミラー回路
を構成するP型MOSトランジスタ、3gはP型MOS
トランジスタ2gと接地電位GND間に設けられたN型
MOSトランジスタ、2hはP型MOSトランジスタ、
3hはN型MOSトランジスタ、12aはP型MOSト
ランジスタ2hとN型MOSトランジスタ3hとからな
るトランスミッションゲート、9b,9c,9dは抵
抗、13は抵抗9cと抵抗9dとから構成され電源電圧
VDDと接地電圧GND間をこれらにより分圧する分圧
回路であり、可変抵抗11aはトランスミッションゲー
ト12aと抵抗9bと分圧回路13とにより構成されて
いる。上記トランスミッションゲート12aを構成する
P型MOSトランジスタ2hとN型MOSトランジスタ
3hのゲート電極はそれぞれ、接地電圧GND、分圧回
路13の出力に接続されている。
7 is a voltage-current conversion circuit, 10a is a first current synthesis circuit, 10b is a second current synthesis circuit, 8
Is an N-type MOS transistor having an output Vin from the loop circuit of the PLL circuit as a + side input, 3f is an N-type MOS transistor having an output of the differential amplifier 8 as a gate electrode and a − side input as a source electrode, 2f is an N-type MOS transistor. A P-type MOS transistor provided between the transistor 3f and the power supply voltage VDD;
g is a P-type MOS transistor forming a current mirror circuit with the P-type MOS transistor 2f, and 3g is a P-type MOS transistor.
N-type MOS transistor provided between transistor 2g and ground potential GND, 2h is a P-type MOS transistor,
3h is an N-type MOS transistor, 12a is a transmission gate including a P-type MOS transistor 2h and an N-type MOS transistor 3h, 9b, 9c and 9d are resistors, 13 is a resistor 9c and a resistor 9d, and includes a power supply voltage VDD and ground. This is a voltage dividing circuit that divides the voltage between the voltages GND by these components. The variable resistor 11a is composed of a transmission gate 12a, a resistor 9b, and a voltage dividing circuit 13. The gate electrodes of the P-type MOS transistor 2h and the N-type MOS transistor 3h constituting the transmission gate 12a are connected to the ground voltage GND and the output of the voltage dividing circuit 13, respectively.

【0017】分圧回路13の出力電位は、電源電圧VD
Dが高いほどその出力電位が高くなるため、N型MOS
トランジスタ3hのソース、ドレイン間のインピーダン
スは電源電圧VDDが高いほど小さくなる。従って、ト
ランスミッションゲート12aと抵抗9bの直列の合成
抵抗からなる可変抵抗11aの抵抗値も電源電圧VDD
が高いほど小さくなる。
The output potential of voltage dividing circuit 13 is equal to power supply voltage VD
Since the output potential increases as D increases, the N-type MOS
The impedance between the source and the drain of the transistor 3h decreases as the power supply voltage VDD increases. Accordingly, the resistance value of the variable resistor 11a, which is composed of a series combination of the transmission gate 12a and the resistor 9b, is also equal to the power supply voltage VDD.
The higher is the smaller.

【0018】なお、P型MOSトランジスタ2gとN型
MOSトランジスタ3gは、それぞれCMOSリングオ
シレータ1の電流制御用P型MOSトランジスタ2g〜
2e、電流制御用N型MOSトランジスタ3a〜3eと
カレントミラー回路を構成している。
The P-type MOS transistor 2g and the N-type MOS transistor 3g are the current control P-type MOS transistors 2g to 2g of the CMOS ring oscillator 1, respectively.
2e, and a current mirror circuit with the current control N-type MOS transistors 3a to 3e.

【0019】次に動作について説明する。ループフィル
タからの出力Vinが電圧制御発信器に入力すると、差
動増幅器8は+側入力と、−側入力が同電位となるよう
作用するため、出力Vinと−側入力が同電位となるよ
うN型MOSトランジスタ3fのゲート電位を制御す
る。そして、差動増幅器8の−側入力が可変抵抗11a
に接続されているため可変抵抗11aにVinの電圧が
印加されることとなる。従って、第1の電流合成回路1
0aには電位Vinと可変抵抗11aにより決定される
出力電流Iが流れる。従って、可変抵抗11aの抵抗値
の電源電圧依存性により電流合成回路10aの電流Iは
電源電圧VDDが高いほど大きくなり、電源電圧VDD
が低いほど小さくなる。一方、第2の電流合成回路10
bもP型MOSトランジスタ2fと、P型MOSトラン
ジスタ2gがカレントミラー回路を構成しているため同
一の電流Iが流れることとなる。
Next, the operation will be described. When the output Vin from the loop filter is input to the voltage-controlled oscillator, the differential amplifier 8 acts so that the positive input and the negative input have the same potential, so that the output Vin and the negative input have the same potential. The gate potential of the N-type MOS transistor 3f is controlled. The negative input of the differential amplifier 8 is a variable resistor 11a.
, The voltage Vin is applied to the variable resistor 11a. Therefore, the first current combining circuit 1
An output current I determined by the potential Vin and the variable resistor 11a flows through 0a. Therefore, due to the power supply voltage dependence of the resistance value of the variable resistor 11a, the current I of the current synthesis circuit 10a increases as the power supply voltage VDD increases, and the power supply voltage VDD
The lower is the smaller. On the other hand, the second current synthesis circuit 10
In b, the same current I flows because the P-type MOS transistor 2f and the P-type MOS transistor 2g form a current mirror circuit.

【0020】CMOSリングオシレータ1は、CMOS
インバータ4a〜4eの各出力部に寄生する容量を充放
電する時間によりその発信周波数fvcが決定される。
充電に要する電流の大きさは、電流制御用P型MOSト
ランジスタ2a〜2eに流れる電流で決まるが、電流制
御用P型MOSトランジスタ2a〜2eはP型MOSト
ランジスタ2fとカレントミラー回路を構成しているた
め、第1の電流合成回路10aの電流と同一となり電流
Iとなる。また、放電に要する電流の大きさは、電流制
御用N型MOSトランジスタ3a〜3eに流れる電流で
決まるが、電流制御用N型MOSトランジスタ3a〜3
eはN型MOSトランジスタ3gとカレントミラー回路
を構成しているため第2の電流合成回路10bの電流と
同一となり電流Iとなる。
The CMOS ring oscillator 1 is a CMOS ring oscillator.
The transmission frequency fvc is determined by the time for charging and discharging the parasitic capacitance of each output unit of the inverters 4a to 4e.
The magnitude of the current required for charging is determined by the current flowing through the current control P-type MOS transistors 2a to 2e. The current control P-type MOS transistors 2a to 2e constitute a current mirror circuit with the P-type MOS transistor 2f. Therefore, the current becomes the same as the current of the first current synthesis circuit 10a and becomes the current I. The magnitude of the current required for discharging is determined by the current flowing through the current control N-type MOS transistors 3a to 3e.
Since e forms a current mirror circuit with the N-type MOS transistor 3g, it becomes the same as the current of the second current combining circuit 10b and becomes the current I.

【0021】このように、第1の電流合成回路10aの
電流Iは、差動増幅器8の+側入力Vinと、可変抵抗
11aにより決定される。従って、可変抵抗11aの抵
抗値の電源電圧VDD依存性により電流合成回路10a
の電流Iは電源電圧VDDが高いほど大きくなり、電源
電圧VDDが低いほど小さくなる。
As described above, the current I of the first current combining circuit 10a is determined by the positive input Vin of the differential amplifier 8 and the variable resistor 11a. Therefore, the current combining circuit 10a is controlled by the dependency of the resistance value of the variable resistor 11a on the power supply voltage VDD.
The current I increases as the power supply voltage VDD increases, and decreases as the power supply voltage VDD decreases.

【0022】また、CMOSリングオシレータ1は、C
MOSインバータ4a〜4eのスレッショルド電圧は電
源電圧VDDが高くなるほど高くなり、CMOSインバ
ータ4a〜4eのスレッショルド電圧に到達する時間が
長くなるように作用するが、上記のように電流合成回路
10aの電流Iも電源電圧VDDが高くなるほど増える
ため、CMOSインバータ4a〜4eの各出力部に寄生
する容量の充放電時間が短くなるよう作用する。すなわ
ち、CMOSインバータ4a〜4eの各出力部に寄生す
る容量を充放電する電流Iが変化することとなる。その
結果、CMOSリングオシレータ1の発信周波数fvc
の電源電圧VDDに対する依存性を少なくすることが可
能となる。
The CMOS ring oscillator 1 has a C
The threshold voltage of the MOS inverters 4a to 4e increases as the power supply voltage VDD increases, and acts so as to increase the time to reach the threshold voltage of the CMOS inverters 4a to 4e. Since the power supply voltage VDD increases as the power supply voltage VDD increases, the charge / discharge time of the capacitance parasitic to each output unit of the CMOS inverters 4a to 4e is shortened. That is, the current I that charges and discharges the parasitic capacitance of each output unit of the CMOS inverters 4a to 4e changes. As a result, the transmission frequency fvc of the CMOS ring oscillator 1
Can be less dependent on the power supply voltage VDD.

【0023】以上のように、この実施の形態1によれ
ば、PLL回路は電圧制御発信器104を構成する電圧
−電流変換回路5の出力電流Iを決定する素子として、
トランスミッションゲート12aと抵抗9bとを直列に
接続し、上記トランスミッションゲート12aの抵抗値
を電源電圧VDDと接地電圧GND間を分圧する分圧回
路13により制御する可変抵抗11aを用いて構成した
ので、この可変抵抗11aがCMOSインバータ4a〜
4eのスレショルド電圧の変化に対する周波数の変化を
補うように、CMOSインバータ4a〜4eの各出力部
に寄生する容量を充放電する電流Iが変化するように作
用するので、これにより、生成したクロックfvcの電
源電圧VDDによる変動が小さくなる効果が得られる。
As described above, according to the first embodiment, the PLL circuit is used as an element for determining the output current I of the voltage-current conversion circuit 5 constituting the voltage controlled oscillator 104.
The transmission gate 12a and the resistor 9b are connected in series, and the resistance value of the transmission gate 12a is configured using the variable resistor 11a which is controlled by the voltage dividing circuit 13 for dividing the voltage between the power supply voltage VDD and the ground voltage GND. The variable resistor 11a is connected to the CMOS inverter 4a to
In order to compensate for the change in frequency with respect to the change in the threshold voltage of the CMOS inverter 4e, the current I that charges and discharges the parasitic capacitance of each output of the CMOS inverters 4a to 4e acts so as to change. The effect of reducing the fluctuation due to the power supply voltage VDD is obtained.

【0024】実施の形態2.図2はこの発明の実施の形
態2によるPLL回路に含まれる電圧制御発信器を示す
回路図であり、図において、11bは差動増幅器8の−
側入力と接地電圧GNDとの間に設けられた可変抵抗、
2jはP型MOSトランジスタ、3jはN型MOSトラ
ンジスタ、12bはP型MOSトランジスタ2jとN型
MOSトランジスタ3jとからなるトランスミッション
ゲート、9eは抵抗、13は分圧回路であり、同一符号
は同一または相当部分を示すのでその説明は省略する。
トランスミッションゲート12bと抵抗9eは差動増幅
器8の−側入力と接地電圧GND間に並列に接続されて
おり、トランスミッションゲート12bを構成するP型
MOSトランジスタ2jとN型MOSトランジスタ3j
のゲート電極はそれぞれ、接地電圧GND、分圧回路1
3の出力に接続されている。
Embodiment 2 FIG. FIG. 2 is a circuit diagram showing a voltage controlled oscillator included in a PLL circuit according to a second embodiment of the present invention.
A variable resistor provided between the side input and the ground voltage GND;
2j is a P-type MOS transistor, 3j is an N-type MOS transistor, 12b is a transmission gate composed of a P-type MOS transistor 2j and an N-type MOS transistor 3j, 9e is a resistor, and 13 is a voltage dividing circuit. Since the corresponding parts are shown, the description is omitted.
The transmission gate 12b and the resistor 9e are connected in parallel between the negative input of the differential amplifier 8 and the ground voltage GND, and the P-type MOS transistor 2j and the N-type MOS transistor 3j constituting the transmission gate 12b
Are respectively connected to the ground voltage GND and the voltage dividing circuit 1
3 is connected to the output.

【0025】次に動作について説明する。分圧回路13
の出力電位は、電源電圧VDDが高いほどその出力電位
が高くなるため、N型トランジスタ3jのソース、ドレ
イン間のインピーダンスは電源電圧VDDが高いほど小
さくなる。従って、トランスミッションゲート12bと
抵抗9eの並列の合成抵抗からなる可変抵抗11bの抵
抗値も電源電圧VDDが高いほど小さくなる。
Next, the operation will be described. Voltage dividing circuit 13
Is higher as the power supply voltage VDD is higher, the impedance between the source and the drain of the N-type transistor 3j is lower as the power supply voltage VDD is higher. Therefore, the resistance value of the variable resistor 11b, which is a parallel combined resistor of the transmission gate 12b and the resistor 9e, decreases as the power supply voltage VDD increases.

【0026】電流合成回路10aの電流値Iは、図1の
回路と同様に作用し、差動増幅器8の+側入力Vin
と、可変抵抗11bにより決定される。従って、可変抵
抗11bの抵抗値の電源電圧依存性により、電流合成回
路10aの電流Iは電源電圧VDDが高いほど大きくな
り、電源電圧VDDが低いほど小さくなる。
The current value I of the current synthesizing circuit 10a operates in the same manner as the circuit of FIG.
And the variable resistance 11b. Therefore, due to the power supply voltage dependence of the resistance value of the variable resistor 11b, the current I of the current combining circuit 10a increases as the power supply voltage VDD increases and decreases as the power supply voltage VDD decreases.

【0027】CMOSリングオシレータ1は、図1の回
路と同様なので、CMOSインバータ4a〜4eのスレ
ッショルド電圧は電源電圧VDDが高くなるほど高くな
り、CMOSインバータ4a〜4eのスレッショルド電
圧に到達する時間が長くなるよう作用するが、上記のよ
うに、電流合成回路10aの電流Iも電源電圧VDDが
高くなるほど増えるため、CMOSインバータ4a〜4
eの各出力部に寄生する容量の充放電時間が短くなるよ
う作用する。すなわち、CMOSインバータ4a〜4e
のスレッショルド電圧の変化に対する周波数の変化を補
うよう、CMOSインバータ4a〜4eの各出力部に寄
生する容量を充放電する電流Iが変化することになる。
その結果、CMOSリングオシレータ1の発信周波数f
vcの電源電圧依存性を少なくすることが可能となる。
Since the CMOS ring oscillator 1 is the same as the circuit of FIG. 1, the threshold voltages of the CMOS inverters 4a to 4e increase as the power supply voltage VDD increases, and the time to reach the threshold voltages of the CMOS inverters 4a to 4e increases. However, as described above, the current I of the current combining circuit 10a also increases as the power supply voltage VDD increases, so that the CMOS inverters 4a to 4a
e serves to shorten the charge / discharge time of the parasitic capacitance of each output section. That is, the CMOS inverters 4a to 4e
The current I for charging / discharging the parasitic capacitance of each output section of the CMOS inverters 4a to 4e changes so as to compensate for the change in the frequency with respect to the change in the threshold voltage.
As a result, the transmission frequency f of the CMOS ring oscillator 1
It is possible to reduce the power supply voltage dependency of vc.

【0028】以上のように、この実施の形態2によれ
ば、PLL回路では、電圧制御発信器VCOを構成する
電圧−電流変換回路7の出力電流Iを決定する素子とし
て、トランスミッションゲート12bと抵抗9eとを並
列に接続し、トランスミッションゲート12bの抵抗値
を電源電圧VDDと接地電圧GND間を分圧する分圧回
路13により制御するよう構成した可変抵抗11bを用
いたことにより、CMOSインバータ4a〜4eのスレ
ッショルド電圧の変化に対する周波数の変化を補うよう
に、CMOSインバータ4a〜4eの各出力部に寄生す
る容量を充放電する電流Iが変化するように作用するの
で、これにより、生成したクロックの電源電圧による変
動が少なくなるという効果が得られる。
As described above, according to the second embodiment, in the PLL circuit, the transmission gate 12b and the resistor are used as elements for determining the output current I of the voltage-current conversion circuit 7 constituting the voltage controlled oscillator VCO. 9e is connected in parallel, and the variable resistance 11b configured to control the resistance value of the transmission gate 12b by the voltage dividing circuit 13 for dividing the voltage between the power supply voltage VDD and the ground voltage GND is used, so that the CMOS inverters 4a to 4e are used. Of the CMOS inverters 4a-4e so as to compensate for the change in the frequency with respect to the change in the threshold voltage of the CMOS inverter 4a-4e. The effect of reducing the fluctuation due to the voltage is obtained.

【0029】なお、上記実施の形態1,2の分圧回路1
3は、抵抗9c,9dにより電源電圧VDDと接地電圧
GNDを分圧しているが、これに限定されるものではな
く、コンデンサ、ダイオードにより分圧しても同様の効
果が得られる。
The voltage dividing circuit 1 of the first and second embodiments
Reference numeral 3 divides the power supply voltage VDD and the ground voltage GND by the resistors 9c and 9d. However, the present invention is not limited to this, and the same effect can be obtained by dividing the voltage by a capacitor or a diode.

【0030】また、上記実施の形態1,2では、可変抵
抗11a,11bをいずれもトランスミッションゲート
12a,12bと抵抗9b,9eとによって構成してい
たが、これらのトランスミッションゲート12a,12
bに限定されるものではなく、任意のN型MOSトラン
ジスタと抵抗により構成しても同様の効果が得られる。
In the first and second embodiments, each of the variable resistors 11a and 11b is constituted by the transmission gates 12a and 12b and the resistors 9b and 9e.
The present invention is not limited to b, and the same effect can be obtained by using an arbitrary N-type MOS transistor and a resistor.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、電圧
制御発信器がループフィルタから出力される制御電圧を
電流に変換する電圧−電流変換回路と、その出力電流に
対応した電流源を有し、リング状に接続した複数の論理
ゲート回路より構成する発信回路とを含み、電圧−電流
変換回路は出力電流を決定する素子として電源電圧の変
動に応じて変化する可変抵抗を用いるように構成したの
で、可変抵抗がリング状に接続した論理ゲート回路のス
レッショルド電圧の変化に対する周波数の変化を補うた
め、この論理ゲート回路の各出力部に寄生する容量を充
放電する電流が変化するように作用するので、発信回路
より生成したクロックの電源電圧による変動が減少する
効果がある。
As described above, according to the present invention, a voltage-controlled oscillator converts a control voltage output from a loop filter into a current, and a current source corresponding to the output current. And a transmission circuit comprising a plurality of logic gate circuits connected in a ring, and the voltage-current conversion circuit uses a variable resistor that changes in accordance with a change in power supply voltage as an element that determines an output current. Because the variable resistor compensates for the change in the frequency with respect to the change in the threshold voltage of the logic gate circuit in which the variable resistor is connected in a ring shape, the current that charges and discharges the parasitic capacitance at each output of the logic gate circuit is changed. Therefore, there is an effect that the fluctuation of the clock generated by the transmission circuit due to the power supply voltage is reduced.

【0032】この発明に係るPLL回路は、可変抵抗が
電源電圧と接地電圧間を分圧する分圧回路と、この出力
をゲート電極に電気接続したP型MOSトランジスタお
よびゲート電極を接地電圧に電気接続したN型MOSト
ランジスタからなるトランスミッションゲートと、抵抗
とを備えており、トランスミッションゲートおよび抵抗
が直列または並列に接続するように構成したので、電源
電圧の変動に応じて制御量を変化させる制御手段として
の分圧回路からの出力で可変抵抗を変化することがで
き、上記の発信回路より生成したクロックの電源電圧に
よる変動が減少する効果がある。
A PLL circuit according to the present invention has a voltage dividing circuit in which a variable resistor divides a voltage between a power supply voltage and a ground voltage, a P-type MOS transistor whose output is electrically connected to a gate electrode, and a gate electrode which is electrically connected to a ground voltage. A transmission gate composed of an N-type MOS transistor and a resistance, and the transmission gate and the resistance are connected in series or in parallel, so that the control means changes the control amount in accordance with the fluctuation of the power supply voltage. The variable resistor can be changed by the output from the voltage dividing circuit, and there is an effect that the fluctuation of the clock generated from the above-mentioned transmitting circuit due to the power supply voltage is reduced.

【0033】この発明に係るPLL回路は、発信回路が
CMOSリングオシレータからなるように構成したの
で、これに含まれるCMOSインバータのスレッショル
ド電圧の変化に対する周波数の変化を補うように、CM
OSインバータの各出力部に寄生する容量を充放電する
電流を変化させるように可変抵抗を構成することがで
き、これが電圧−電流変換回路での電流が電源電圧の変
動に応じて制御量を変化させる制御手段として作用する
ので、上記の発信回路より生成したクロックの電源電圧
による変動が減少する効果がある。
In the PLL circuit according to the present invention, the oscillation circuit is constituted by a CMOS ring oscillator. Therefore, the CM circuit compensates for a change in the frequency with respect to a change in the threshold voltage of the CMOS inverter included therein.
A variable resistor can be configured to change the current that charges and discharges the parasitic capacitance of each output of the OS inverter, and the current in the voltage-current conversion circuit changes the control amount according to the fluctuation of the power supply voltage. Since it acts as control means for causing the clock, the fluctuation of the clock generated by the above-mentioned oscillation circuit due to the power supply voltage is reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1によるPLL回路に
含まれる電圧制御発信器の回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a voltage-controlled oscillator included in a PLL circuit according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】 この発明の実施の形態2によるPLL回路に
含まれる電圧制御発信器の回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram of a voltage controlled oscillator included in a PLL circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図3】 従来のPLL回路の基本構成を示すブロック
図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a basic configuration of a conventional PLL circuit.

【図4】 従来のPLL回路に含まれる電圧制御発信器
の回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram of a voltage controlled oscillator included in a conventional PLL circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 CMOSリングオシレータ、2a〜2h P型MO
Sトランジスタ、3a〜3h N型MOSトランジス
タ、4a〜4e CMOSインバータ、5 リングオシ
レータ、6 バッファゲート、7 電圧−電流変換回
路、8 差動増幅器、9a〜9e 抵抗、10a,10
a’ 電流合成回路、11a,11b 可変抵抗、12
a,12b トランスミッションゲート、13 分圧回
路、101位相比較器、102 ローパスフィルタ、1
03 アンプ、104 電圧制御発信器。
1 CMOS ring oscillator, 2a-2h P-type MO
S transistor, 3a-3h N-type MOS transistor, 4a-4e CMOS inverter, 5 ring oscillator, 6 buffer gate, 7 voltage-current conversion circuit, 8 differential amplifier, 9a-9e resistance, 10a, 10
a 'current combining circuit, 11a, 11b variable resistor, 12
a, 12b transmission gate, 13 voltage divider circuit, 101 phase comparator, 102 low-pass filter, 1
03 Amplifier, 104 Voltage controlled transmitter.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J043 AA02 AA07 BB01 DD02 DD07 DD14 DD15 LL01 5J106 AA04 CC03 CC21 CC38 CC41 DD05 JJ01 KK14 LL01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5J043 AA02 AA07 BB01 DD02 DD07 DD14 DD15 LL01 5J106 AA04 CC03 CC21 CC38 CC41 DD05 JJ01 KK14 LL01

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 位相比較器と、ループフィルタと、この
ループフィルタから出力される制御電圧を電流に変換す
る電圧−電流変換回路およびその出力電流に対応した電
流源を有し、リング状に電気接続した複数の論理ゲート
回路より構成する発信回路を含む電圧制御発信器とを備
えたPLL回路において、 上記電圧−電流変換回路は上記出力電流を決定する素子
として電源電圧の変動に応じて変化する可変抵抗を用い
ることを特徴とするPLL回路。
An electric circuit comprising a phase comparator, a loop filter, a voltage-current conversion circuit for converting a control voltage output from the loop filter into a current, and a current source corresponding to the output current. A voltage-controlled oscillator including an oscillation circuit composed of a plurality of logic gate circuits connected to each other, wherein the voltage-current conversion circuit changes according to a change in power supply voltage as an element for determining the output current. A PLL circuit using a variable resistor.
【請求項2】 可変抵抗が電源電圧と接地電圧間を分圧
する分圧回路と、この出力をゲート電極に電気接続した
P型MOSトランジスタおよびゲート電極を接地電圧に
電気接続したN型MOSトランジスタからなるトランス
ミッションゲートと、抵抗とを備えており、上記トラン
スミッションゲートおよび抵抗が直列または並列に接続
することを特徴とする請求項1記載のPLL回路。
2. A voltage dividing circuit in which a variable resistor divides a voltage between a power supply voltage and a ground voltage, a P-type MOS transistor having an output electrically connected to a gate electrode, and an N-type MOS transistor having a gate electrode electrically connected to a ground voltage. The PLL circuit according to claim 1, further comprising a transmission gate and a resistor, wherein the transmission gate and the resistor are connected in series or in parallel.
【請求項3】 発信回路がCMOSリングオシレータか
らなることを特徴とする請求項1または請求項2記載の
PLL回路。
3. The PLL circuit according to claim 1, wherein the transmission circuit comprises a CMOS ring oscillator.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007018105A1 (en) * 2005-08-11 2007-02-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Voltage controlled oscillator and phase-locked loop
JP2007074709A (en) * 2005-08-11 2007-03-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Voltage controlled oscillation circuit, phase-locked loop circuit using thereof, and semiconductor apparatus with same
CN1312839C (en) * 2003-10-22 2007-04-25 雅马哈株式会社 Voltage-controlled oscillator
US7262990B2 (en) 2004-10-26 2007-08-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device
US7663447B2 (en) 2006-10-31 2010-02-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oscillator circuit having a stable output signal resistant to power supply voltage fluctuation
JP2011163924A (en) * 2010-02-09 2011-08-25 Denso Corp Liquid level measuring system
CN111682876A (en) * 2020-07-08 2020-09-18 湖南国科微电子股份有限公司 Annular voltage-controlled oscillator, voltage-controlled oscillator and integrated circuit

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1312839C (en) * 2003-10-22 2007-04-25 雅马哈株式会社 Voltage-controlled oscillator
US7262990B2 (en) 2004-10-26 2007-08-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device
US7436711B2 (en) 2004-10-26 2008-10-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device
WO2007018105A1 (en) * 2005-08-11 2007-02-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Voltage controlled oscillator and phase-locked loop
JP2007074709A (en) * 2005-08-11 2007-03-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Voltage controlled oscillation circuit, phase-locked loop circuit using thereof, and semiconductor apparatus with same
US7466208B2 (en) 2005-08-11 2008-12-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Voltage controlled oscillator circuit, phase-locked loop circuit using the voltage controlled oscillator circuit, and semiconductor device provided with the same
US7936225B2 (en) 2005-08-11 2011-05-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Voltage controlled oscillator circuit, phase-locked loop circuit using the voltage controlled oscillator circuit, and semiconductor device provided with the same
US8502611B2 (en) 2005-08-11 2013-08-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Voltage controlled oscillator circuit, phase-locked loop circuit using the voltage controlled oscillator circuit, and semiconductor device provided with the same
US7663447B2 (en) 2006-10-31 2010-02-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oscillator circuit having a stable output signal resistant to power supply voltage fluctuation
JP2011163924A (en) * 2010-02-09 2011-08-25 Denso Corp Liquid level measuring system
CN111682876A (en) * 2020-07-08 2020-09-18 湖南国科微电子股份有限公司 Annular voltage-controlled oscillator, voltage-controlled oscillator and integrated circuit
CN111682876B (en) * 2020-07-08 2023-05-02 湖南国科微电子股份有限公司 Ring voltage controlled oscillator, voltage controlled oscillator and integrated circuit

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