JP2001021653A - 検出装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＡＤ変換器のダイナミックレンジを有効に利
用することができ、高精度の検出ができる検出装置を提
供する。 【解決手段】 ＡＤ変換器３５の入力側に、アナログ信
号を微分する微分手段４０を設けるか、または、階段状
のアナログ信号の前後を相対移動させて階段始めと階段
終わりの高低差を小さくするオフセット手段を設け、Ａ
Ｄ変換器３５に入力される信号を小さくする。
用することができ、高精度の検出ができる検出装置を提
供する。 【解決手段】 ＡＤ変換器３５の入力側に、アナログ信
号を微分する微分手段４０を設けるか、または、階段状
のアナログ信号の前後を相対移動させて階段始めと階段
終わりの高低差を小さくするオフセット手段を設け、Ａ
Ｄ変換器３５に入力される信号を小さくする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、検出装置に関し、
特に、試料に対して一次Ｘ線もしくは電子線を照射し、
試料から放出される特性Ｘ線の強度に基づいて試料中に
含まれる成分の定量分析を行う放射線検出装置などに関
する。
特に、試料に対して一次Ｘ線もしくは電子線を照射し、
試料から放出される特性Ｘ線の強度に基づいて試料中に
含まれる成分の定量分析を行う放射線検出装置などに関
する。
【０００２】
【従来の技術】図５は、検出装置の一例である放射線検
出装置の構成を概略的に示す図である。この図におい
て、１は試料載置台、２はＸ線源部、３は放射線検出
部、４は信号処理部、５は制御部であり、これらから放
射線検出装置が構成されている。
出装置の構成を概略的に示す図である。この図におい
て、１は試料載置台、２はＸ線源部、３は放射線検出
部、４は信号処理部、５は制御部であり、これらから放
射線検出装置が構成されている。
【０００３】試料載置台１は、開口１１を備え、この開
口１１が形成されている部分の上に、固体状の試料１２
を載置できるように構成されている。
口１１が形成されている部分の上に、固体状の試料１２
を載置できるように構成されている。
【０００４】Ｘ線源部２は、前記試料載置台１の下方に
配設され、Ｘ線発生部１３と、駆動部１４とから構成さ
れている。前記Ｘ線発生部１３は、前記駆動部１４に備
えられる高電圧発生回路をから供給される高電圧によっ
て駆動されて一次Ｘ線１５を発生するＸ線管と、一次Ｘ
線フィルタとからなる。前記Ｘ線管から出力された一次
Ｘ線１５は、一次Ｘ線フィルタを通過することにより、
例えばある元素を励起するのに効率のよいエネルギー分
布を持つ一次Ｘ線１５となって試料１２に照射されるよ
うに構成されている。
配設され、Ｘ線発生部１３と、駆動部１４とから構成さ
れている。前記Ｘ線発生部１３は、前記駆動部１４に備
えられる高電圧発生回路をから供給される高電圧によっ
て駆動されて一次Ｘ線１５を発生するＸ線管と、一次Ｘ
線フィルタとからなる。前記Ｘ線管から出力された一次
Ｘ線１５は、一次Ｘ線フィルタを通過することにより、
例えばある元素を励起するのに効率のよいエネルギー分
布を持つ一次Ｘ線１５となって試料１２に照射されるよ
うに構成されている。
【０００５】放射線検出部（Ｘ線検出器）３は、例えば
Ｓｉ（Ｌｉ）などの半導体検出素子２２とこれを駆動す
る高圧電源２３とからなり、半導体検出素子２２に入射
する蛍光Ｘ線２４のエネルギーに応じたアナログ電流信
号ａを出力するよう構成されている。
Ｓｉ（Ｌｉ）などの半導体検出素子２２とこれを駆動す
る高圧電源２３とからなり、半導体検出素子２２に入射
する蛍光Ｘ線２４のエネルギーに応じたアナログ電流信
号ａを出力するよう構成されている。
【０００６】信号処理部４は、プリアンプ部１９と、リ
セット用フィードバック部２０と、ＡＤ変換器３５と、
ディジタルフィルタ３６と、マルチチャネルパルスハイ
トアナライザー３７とを備えてなる。
セット用フィードバック部２０と、ＡＤ変換器３５と、
ディジタルフィルタ３６と、マルチチャネルパルスハイ
トアナライザー３７とを備えてなる。
【０００７】プリアンプ部１９は、電界効果トランジス
タ２５、アンプ２６、積分用コンデンサ２７などからな
り、前記放射線検出部３からのアナログ電流信号ａを完
全積分してアナログ電圧信号ｂを出力するように構成さ
れている。
タ２５、アンプ２６、積分用コンデンサ２７などからな
り、前記放射線検出部３からのアナログ電流信号ａを完
全積分してアナログ電圧信号ｂを出力するように構成さ
れている。
【０００８】リセット用フィードバック部２０は、前記
アナログ電圧信号ｂを比較電源２８からの基準電圧ｃと
を比較する比較器２９と、この比較器２９の出力側に抵
抗３０を介して一端が接続されると共に、他端が電源３
１に接続された発光素子３２とからなり、前記アナログ
電圧信号ｂが一定レベル（基準電圧ｃ）に達したとき、
インヒビット信号を発して発光素子３２を発光させて前
記積分用コンデンサ２７に蓄積された電荷を放電させる
ことにより、前記プリアンプ部１９をリセットさせるよ
うに構成されている。
アナログ電圧信号ｂを比較電源２８からの基準電圧ｃと
を比較する比較器２９と、この比較器２９の出力側に抵
抗３０を介して一端が接続されると共に、他端が電源３
１に接続された発光素子３２とからなり、前記アナログ
電圧信号ｂが一定レベル（基準電圧ｃ）に達したとき、
インヒビット信号を発して発光素子３２を発光させて前
記積分用コンデンサ２７に蓄積された電荷を放電させる
ことにより、前記プリアンプ部１９をリセットさせるよ
うに構成されている。
【０００９】前記プリアンプ部１９及び前記リセット用
フィードバック部２０により、蛍光Ｘ線２４が入射する
毎に、放射線線検出部３から出力されるアナログ電圧信
号ｂは、図６に示すように階段状に上昇するが、一定の
レベルｃになると、ゼロに戻るといった動作を繰り返
す。
フィードバック部２０により、蛍光Ｘ線２４が入射する
毎に、放射線線検出部３から出力されるアナログ電圧信
号ｂは、図６に示すように階段状に上昇するが、一定の
レベルｃになると、ゼロに戻るといった動作を繰り返
す。
【００１０】ＡＤ変換器３５は、例えば計数型のＡＤ変
換器であり、前記アナログ電圧信号ｂをディジタル信号
ｆに変換するものである。ディジタルフィルタ３６は、
ディジタル信号ｆを平滑化するものである。マルチチャ
ネルパルスハイトアナライザー３７は、図７に示すよう
に、前記ディジタル信号ｆを分析処理して放射線検出部
３に入射する蛍光Ｘ線のエネルギースペクトルを出力す
るものである。
換器であり、前記アナログ電圧信号ｂをディジタル信号
ｆに変換するものである。ディジタルフィルタ３６は、
ディジタル信号ｆを平滑化するものである。マルチチャ
ネルパルスハイトアナライザー３７は、図７に示すよう
に、前記ディジタル信号ｆを分析処理して放射線検出部
３に入射する蛍光Ｘ線のエネルギースペクトルを出力す
るものである。
【００１１】制御部５は、例えばマイコンなどの制御部
であり、前記マルチチャネルパルスハイトアナライザー
３７での処理を経て各種演算や表示を行うための演算回
路やメモリを備えると共に、前記駆動部１４のオンオフ
制御などの各種の制御を行うように構成されている。
であり、前記マルチチャネルパルスハイトアナライザー
３７での処理を経て各種演算や表示を行うための演算回
路やメモリを備えると共に、前記駆動部１４のオンオフ
制御などの各種の制御を行うように構成されている。
【００１２】前記構成の放射線検出装置においては、Ｘ
線源部２から一次Ｘ線１５を試料１２に対して照射し、
そのときの試料１２において生じる蛍光Ｘ線２４の強度
に基づいて試料１２中に含まれる成分の種類およびその
量（濃度）を調べることができる。
線源部２から一次Ｘ線１５を試料１２に対して照射し、
そのときの試料１２において生じる蛍光Ｘ線２４の強度
に基づいて試料１２中に含まれる成分の種類およびその
量（濃度）を調べることができる。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のよう
に構成された検出装置においては、検出部３からのアナ
ログ電圧信号ｂが階段状に出力されるため、このような
階段状出力をそのままＡＤ変換する場合、図６の如き小
さな出力εまでＡＤ変換しようとすると、ＡＤ変換器３
５のダイナミックレンジを広く（ビット数を多く）しな
ければならず、ＡＤ変換器３５の性能が検出装置の精度
の限界になるという問題点があった。
に構成された検出装置においては、検出部３からのアナ
ログ電圧信号ｂが階段状に出力されるため、このような
階段状出力をそのままＡＤ変換する場合、図６の如き小
さな出力εまでＡＤ変換しようとすると、ＡＤ変換器３
５のダイナミックレンジを広く（ビット数を多く）しな
ければならず、ＡＤ変換器３５の性能が検出装置の精度
の限界になるという問題点があった。
【００１４】本発明は、前記従来の問題に鑑みてなされ
たものであり、その目的は、ＡＤ変換器のダイナミック
レンジを有効に利用することができ、高精度の検出がで
きる検出装置を提供することである。
たものであり、その目的は、ＡＤ変換器のダイナミック
レンジを有効に利用することができ、高精度の検出がで
きる検出装置を提供することである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、第１本発明は、検出器の出力を積分して階段状のア
ナログ信号を出力するプリアンプ部と、このアナログ信
号をディジタル信号に変換するＡＤ変換器とを備える検
出装置において、前記ＡＤ変換器の入力側に、前記アナ
ログ信号を微分する微分手段を設けたことを特徴とする
検出装置である。
に、第１本発明は、検出器の出力を積分して階段状のア
ナログ信号を出力するプリアンプ部と、このアナログ信
号をディジタル信号に変換するＡＤ変換器とを備える検
出装置において、前記ＡＤ変換器の入力側に、前記アナ
ログ信号を微分する微分手段を設けたことを特徴とする
検出装置である。
【００１６】ＡＤ変換器の入力側（前段）の微分手段に
より、プリアンプ部からのアナログ信号を微分すると、
ＡＤ変換器の入力信号が小さくなるため、ＡＤ変換器の
ビット数を有効に利用できる。
より、プリアンプ部からのアナログ信号を微分すると、
ＡＤ変換器の入力信号が小さくなるため、ＡＤ変換器の
ビット数を有効に利用できる。
【００１７】また、第２本発明は、検出部の出力を積分
して階段状のアナログ信号を出力するプリアンプ部と、
このアナログ信号をディジタル信号に変換するＡＤ変換
器とを備える検出装置において、前記ＡＤ変換器の入力
側に、階段状の前記アナログ信号の前後を相対移動させ
て階段始めと階段終わりの高低差を小さくするオフセッ
ト手段を設けたことを特徴とする検出装置である。
して階段状のアナログ信号を出力するプリアンプ部と、
このアナログ信号をディジタル信号に変換するＡＤ変換
器とを備える検出装置において、前記ＡＤ変換器の入力
側に、階段状の前記アナログ信号の前後を相対移動させ
て階段始めと階段終わりの高低差を小さくするオフセッ
ト手段を設けたことを特徴とする検出装置である。
【００１８】ＡＤ変換器の入力側（前段）のオフセット
手段により、プリアンプ部からの階段状のアナログ信号
の前後を相対移動、例えば階段状のアナログ信号の前半
部分を一定量嵩上げすると、階段状のアナログ信号の階
段始めと階段終わりの高低差が小さくなって、ＡＤ変換
器のビット数を有効に利用できる。
手段により、プリアンプ部からの階段状のアナログ信号
の前後を相対移動、例えば階段状のアナログ信号の前半
部分を一定量嵩上げすると、階段状のアナログ信号の階
段始めと階段終わりの高低差が小さくなって、ＡＤ変換
器のビット数を有効に利用できる。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
従って説明する。図１は、第１本発明に係る検出装置で
ある放射線検出装置の機器ブロック図であり、図２は、
第１本発明に係る検出装置である放射線検出装置の作動
を示すグラフ図である。
従って説明する。図１は、第１本発明に係る検出装置で
ある放射線検出装置の機器ブロック図であり、図２は、
第１本発明に係る検出装置である放射線検出装置の作動
を示すグラフ図である。
【００２０】図１において、図５と異なる部分は、信号
処理部４において、ＡＤ変換器３５の入力側に、微分器
（微分手段）４０が設けられ、微分器（微分手段）４０
の追加に対応して、ディジタルフィルタ４１の機能を変
更した点である。その他の部分は、図５で説明したもの
と同様であるため、図５と同じ符号を付して詳細な説明
を省略する。
処理部４において、ＡＤ変換器３５の入力側に、微分器
（微分手段）４０が設けられ、微分器（微分手段）４０
の追加に対応して、ディジタルフィルタ４１の機能を変
更した点である。その他の部分は、図５で説明したもの
と同様であるため、図５と同じ符号を付して詳細な説明
を省略する。
【００２１】微分手段としての微分器４０は、放射線検
出部３からの階段状のアナログ信号の信号を微分する機
能を有するものである。公知の種々の微分器４０が使用
できる。微分器４０により、図２（ａ）のような階段状
のアナログ信号ｂを微分すると、図２（ｂ）のようにピ
ーク信号の列に変換される。微分後のピーク信号ｈの高
さが、階段状のアナログ信号ｂの出力εに相当する。Ａ
Ｄ変換器３５は、ピーク信号ｈをディジタル信号に変換
する。ディジタルフィルタ４１は、微分器４０で微分処
理が施され、その後ディジタル化された信号を、積分処
理して信号のノイズを除去する構成になっている。
出部３からの階段状のアナログ信号の信号を微分する機
能を有するものである。公知の種々の微分器４０が使用
できる。微分器４０により、図２（ａ）のような階段状
のアナログ信号ｂを微分すると、図２（ｂ）のようにピ
ーク信号の列に変換される。微分後のピーク信号ｈの高
さが、階段状のアナログ信号ｂの出力εに相当する。Ａ
Ｄ変換器３５は、ピーク信号ｈをディジタル信号に変換
する。ディジタルフィルタ４１は、微分器４０で微分処
理が施され、その後ディジタル化された信号を、積分処
理して信号のノイズを除去する構成になっている。
【００２２】図２（ａ）のような階段状のアナログ信号
ｂをそのままＡＤ変換器３５でディジタル信号に変換す
ると、Ｒ１で表示されるダイナミックレンジが必要にな
る。しかし、図２（ｂ）のように微分され、ピーク信号
の列になったアナログ信号をディジタル信号に変換する
ためには、Ｒ２で表示されるダイナミックレンジで済む
ことになる。すなわち、同じビット数のＡＤ変換器３５
を用いた場合、より小さなピーク信号までディジタル信
号に変換できる。その結果、図７で示される蛍光Ｘ線の
エネルギースペクトルが精密なものとなり、放射線検出
装置の検出精度が向上する。
ｂをそのままＡＤ変換器３５でディジタル信号に変換す
ると、Ｒ１で表示されるダイナミックレンジが必要にな
る。しかし、図２（ｂ）のように微分され、ピーク信号
の列になったアナログ信号をディジタル信号に変換する
ためには、Ｒ２で表示されるダイナミックレンジで済む
ことになる。すなわち、同じビット数のＡＤ変換器３５
を用いた場合、より小さなピーク信号までディジタル信
号に変換できる。その結果、図７で示される蛍光Ｘ線の
エネルギースペクトルが精密なものとなり、放射線検出
装置の検出精度が向上する。
【００２３】図３は、第２本発明に係る検出装置である
放射線検出装置の機器ブロック図であり、図４は、第２
本発明に係る検出装置である放射線検出装置の作動を示
すグラフ図である。
放射線検出装置の機器ブロック図であり、図４は、第２
本発明に係る検出装置である放射線検出装置の作動を示
すグラフ図である。
【００２４】図３において、図５と異なる部分は、信号
処理部４において、ＡＤ変換器３５の入力側に、オフセ
ット手段４２が設けられ、ディジタルフィルタ３６の前
段に減算器４８を設けた点である。その他の部分は、図
５で説明したものと同様であるため、図５と同じ符号を
付して詳細な説明を省略する。
処理部４において、ＡＤ変換器３５の入力側に、オフセ
ット手段４２が設けられ、ディジタルフィルタ３６の前
段に減算器４８を設けた点である。その他の部分は、図
５で説明したものと同様であるため、図５と同じ符号を
付して詳細な説明を省略する。
【００２５】オフセット手段４１は、前記アナログ電圧
信号ｂを比較電源４２からの基準電圧ｄとを比較する比
較器４４と、この比較器４４の出力側に接続されるＤＡ
変換器４５と、このＤＡ変換器４５に基づいてオフセッ
トさせる矩形状のアナログ信号を形成するオフセット回
路４６と、矩形状のアナログ信号を電圧信号ｂに加算す
る加算器４７とからなる構成である。また、ＡＤ変換器
４５は、矩形状のアナログ信号に相当するディジタル信
号を出力し、ＡＤ変換器３５の出力側に設けられた減算
器４８により、ＡＤ変換器３５の出力から前記ディジタ
ル信号を減算する構成である。
信号ｂを比較電源４２からの基準電圧ｄとを比較する比
較器４４と、この比較器４４の出力側に接続されるＤＡ
変換器４５と、このＤＡ変換器４５に基づいてオフセッ
トさせる矩形状のアナログ信号を形成するオフセット回
路４６と、矩形状のアナログ信号を電圧信号ｂに加算す
る加算器４７とからなる構成である。また、ＡＤ変換器
４５は、矩形状のアナログ信号に相当するディジタル信
号を出力し、ＡＤ変換器３５の出力側に設けられた減算
器４８により、ＡＤ変換器３５の出力から前記ディジタ
ル信号を減算する構成である。
【００２６】図４（ａ）に示すアナログ電圧信号ｂが立
ち上がりから一定レベル（基準電圧ｄ）に達する迄、Ｄ
Ａ変換器４５を経てオフセット回路４６から出力される
矩形状のアナログ信号ｉ（図４（ｂ）参照）が加算器４
７によりアナログ電圧信号ｂにプラスされ、アナログ電
圧信号ｂの階段状の前段がプラス側にオフセットされる
（図４（ｃ）参照）。前記アナログ電圧信号ｂが一定レ
ベル（基準電圧ｄ）を越えると、ＤＡ変換器４５を経て
オフセット回路４６から出力される信号ゼロになり、ア
ナログ電圧信号ｂはオフセットされない（図４（ｃ）参
照）。
ち上がりから一定レベル（基準電圧ｄ）に達する迄、Ｄ
Ａ変換器４５を経てオフセット回路４６から出力される
矩形状のアナログ信号ｉ（図４（ｂ）参照）が加算器４
７によりアナログ電圧信号ｂにプラスされ、アナログ電
圧信号ｂの階段状の前段がプラス側にオフセットされる
（図４（ｃ）参照）。前記アナログ電圧信号ｂが一定レ
ベル（基準電圧ｄ）を越えると、ＤＡ変換器４５を経て
オフセット回路４６から出力される信号ゼロになり、ア
ナログ電圧信号ｂはオフセットされない（図４（ｃ）参
照）。
【００２７】図４（ｃ）のように階段状のアナログ信号
の前段を嵩上げ状態にオフセットすると、前記階段状の
アナログ信号の階段始めと階段終わりの高低差（Ｒ４）
になり、オフセット前の高低差（Ｒ３）より小さくな
る。そのため、ＡＤ変換器３５のダイナミックレンジを
有効に活用して、ディジタル信号に変換できる。そし
て、ＤＡ変換器４５からアナログ信号ｉに相当するディ
ジタル信号を減算器４８でＡＤ変換器３５の出力側のデ
ィジタル信号を減算すると、元の階段状のアナログ信号
に相当するディジタル信号に戻される。このように、Ａ
Ｄ変換器３５のダイナミックレンジを有効活用できる結
果、図７で示される蛍光Ｘ線のエネルギースペクトルが
精密なものとなり、放射線検出装置の検出精度が向上す
る。
の前段を嵩上げ状態にオフセットすると、前記階段状の
アナログ信号の階段始めと階段終わりの高低差（Ｒ４）
になり、オフセット前の高低差（Ｒ３）より小さくな
る。そのため、ＡＤ変換器３５のダイナミックレンジを
有効に活用して、ディジタル信号に変換できる。そし
て、ＤＡ変換器４５からアナログ信号ｉに相当するディ
ジタル信号を減算器４８でＡＤ変換器３５の出力側のデ
ィジタル信号を減算すると、元の階段状のアナログ信号
に相当するディジタル信号に戻される。このように、Ａ
Ｄ変換器３５のダイナミックレンジを有効活用できる結
果、図７で示される蛍光Ｘ線のエネルギースペクトルが
精密なものとなり、放射線検出装置の検出精度が向上す
る。
【００２８】なお、アナログ信号のオフセット手段４２
に対応して、ディジタル信号の減算器４８を設ける構成
は好ましい構成であるが必須ではない。図４（ｃ）のア
ナログ信号をそのままＡＤ変換器３５で変換することも
できる。この場合、階段状のアナログ信号の一つが飛ば
されることになる。そこで、図４（ａ）において、階段
状のアナログ信号ｂが基準電圧ｄを越えると、直ぐに矩
形状アナログ信号ｉをゼロにするのではなく、階段の平
行部分でオフセットされるように、所定時間経過後に矩
形状アナログ信号ｉをゼロとすると、階段の立ち上がり
の全てが検出できるようになる。
に対応して、ディジタル信号の減算器４８を設ける構成
は好ましい構成であるが必須ではない。図４（ｃ）のア
ナログ信号をそのままＡＤ変換器３５で変換することも
できる。この場合、階段状のアナログ信号の一つが飛ば
されることになる。そこで、図４（ａ）において、階段
状のアナログ信号ｂが基準電圧ｄを越えると、直ぐに矩
形状アナログ信号ｉをゼロにするのではなく、階段の平
行部分でオフセットされるように、所定時間経過後に矩
形状アナログ信号ｉをゼロとすると、階段の立ち上がり
の全てが検出できるようになる。
【００２９】また、階段状のアナログ信号ｂをオフセッ
トさせるために、アナログ信号ｂの後段を下げる方向に
オフセットさせてもよく、要するに階段状のアナログ信
号ｂの前後を相対移動させれぱよい。さらに、階段状の
アナログ信号ｂを一段でオフセットさせるだけではな
く、複数段でオフセットさせてもよい。
トさせるために、アナログ信号ｂの後段を下げる方向に
オフセットさせてもよく、要するに階段状のアナログ信
号ｂの前後を相対移動させれぱよい。さらに、階段状の
アナログ信号ｂを一段でオフセットさせるだけではな
く、複数段でオフセットさせてもよい。
【００３０】さらに、検出装置として放射線検出装置の
場合を説明したが、本発明は、検出部の出力を積分して
階段状のアナログ信号を出力するプリアンプ部と、この
アナログ信号をディジタル信号に変換するＡＤ変換器と
を備える検出装置であれば、種々の検出装置に対して適
用できる。
場合を説明したが、本発明は、検出部の出力を積分して
階段状のアナログ信号を出力するプリアンプ部と、この
アナログ信号をディジタル信号に変換するＡＤ変換器と
を備える検出装置であれば、種々の検出装置に対して適
用できる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、第１本発明によれ
ば、ＡＤ変換器の入力側の微分手段により、プリアンプ
部からのアナログ信号が微分され、ＡＤ変換器の入力信
号が小さくなるため、ＡＤ変換器のダイナミックレンジ
（ビット数）を有効に利用できる。その結果、特性Ｘ線
などのエネルギースペクトルが精密なものとなり、例え
ば放射線検出装置の検出精度が向上する。
ば、ＡＤ変換器の入力側の微分手段により、プリアンプ
部からのアナログ信号が微分され、ＡＤ変換器の入力信
号が小さくなるため、ＡＤ変換器のダイナミックレンジ
（ビット数）を有効に利用できる。その結果、特性Ｘ線
などのエネルギースペクトルが精密なものとなり、例え
ば放射線検出装置の検出精度が向上する。
【００３２】第２本発明によれば、ＡＤ変換器の入力側
（前段）のオフセット手段により、例えば階段状アナロ
グ信号の前半部分を一定量嵩上げすると、階段状のアナ
ログ信号の階段始めと階段終わりの構成差が小さくなっ
て、ＡＤ変換器のダイナミックレンジ（ビット数）を有
効に利用できる。その結果、特性Ｘ線などのエネルギー
スペクトルが精密なものとなり、例えば放射線検出装置
の検出精度が向上する。
（前段）のオフセット手段により、例えば階段状アナロ
グ信号の前半部分を一定量嵩上げすると、階段状のアナ
ログ信号の階段始めと階段終わりの構成差が小さくなっ
て、ＡＤ変換器のダイナミックレンジ（ビット数）を有
効に利用できる。その結果、特性Ｘ線などのエネルギー
スペクトルが精密なものとなり、例えば放射線検出装置
の検出精度が向上する。
【図１】第１本発明に係る検出装置である放射線検出装
置の機器ブロック図である。
置の機器ブロック図である。
【図２】第１本発明に係る検出装置である放射線検出装
置の作動を示すグラフ図である。
置の作動を示すグラフ図である。
【図３】第２本発明に係る検出装置である放射線検出装
置の機器ブロック図である。
置の機器ブロック図である。
【図４】第２本発明に係る検出装置である放射線検出装
置の作動を示すグラフ図である。
置の作動を示すグラフ図である。
【図５】従来の検出装置である放射線検出装置の機器ブ
ロック図である。
ロック図である。
【図６】従来の検出装置である放射線検出装置の作動を
示すグラフ図である。
示すグラフ図である。
【図７】放射線検出装置の蛍光Ｘ線のエネルギースペク
トルの一例を示すグラフ図である。
トルの一例を示すグラフ図である。
１ 放射線検出部（検出部） １９ プリンアンプ部 ３５ ＡＤ変換器 ４０ 微分器（微分手段） ４２ オフセット手段
Claims (2)
- 【請求項１】 検出部の出力を積分して階段状のアナロ
グ信号を出力するプリアンプ部と、このアナログ信号を
ディジタル信号に変換するＡＤ変換器とを備える検出装
置において、前記ＡＤ変換器の入力側に、前記アナログ
信号を微分する微分手段を設けたことを特徴とする検出
装置。 - 【請求項２】 検出部の出力を積分して階段状のアナロ
グ信号を出力するプリアンプ部と、このアナログ信号を
ディジタル信号に変換するＡＤ変換器とを備える検出装
置において、前記ＡＤ変換器の入力側に、階段状の前記
アナログ信号の前後を相対移動させて階段始めと階段終
わりの高低差を小さくするオフセット手段を設けたこと
を特徴とする検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19716699A JP2001021653A (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19716699A JP2001021653A (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001021653A true JP2001021653A (ja) | 2001-01-26 |
Family
ID=16369892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19716699A Pending JP2001021653A (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001021653A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1298358A2 (en) | 2001-09-26 | 2003-04-02 | JATCO Ltd | Control system for automatic transmissions |
| JP2011047798A (ja) * | 2009-08-27 | 2011-03-10 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線分布検出回路 |
-
1999
- 1999-07-12 JP JP19716699A patent/JP2001021653A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1298358A2 (en) | 2001-09-26 | 2003-04-02 | JATCO Ltd | Control system for automatic transmissions |
| EP1298358A3 (en) * | 2001-09-26 | 2004-09-29 | JATCO Ltd | Control system for automatic transmissions |
| JP2011047798A (ja) * | 2009-08-27 | 2011-03-10 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線分布検出回路 |
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