JP2001014744A - 光磁気記録媒体及びその再生方法 - Google Patents

光磁気記録媒体及びその再生方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 再生磁性層に隣接して面内磁化層を配置した
光磁気記録媒体において、再生層における面内磁化マス
クを強化し、再生分解能を向上する。 【解決手段】 再生磁性層1と記録磁性層5の間に、第
1の面内磁化層2,第2の面内磁化層3が配置されてい
る。第1の面内磁化層1は、再生磁性層1に隣接してい
る。第2の面内磁化層3は第1の面内磁化層2に隣接し
ている。第1の面内磁化層2と第2の面内磁化層3は互
いに磁気的極性が異なっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気記録再生装
置に適用される光磁気ディスク、光磁気テープ、光磁気
カード等の光磁気記録媒体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、書き換え可能な光記録媒体と
して、光磁気記録媒体を用いた光磁気ディスクが実用化
されている。このような光磁気ディスクでは、半導体レ
ーザから出射される光ビームを光記録媒体上に集光照射
することにより、光磁気記録媒体の局部温度を上昇させ
ることにより記録,消去が行われる。そして、記録,消
去が起こらない強度の光ビームを光磁気記録媒体に集光
照射し、その反射光の偏光状態を判別することにより、
記録情報の再生が行われる。
【0003】しかし、従来より、このような光磁気記録
媒体では、光ビームのビームスポット径に対して、記録
された磁区の記録ビット径及び記録ビット間隔が小さく
なってくると、再生特性が劣化してくるという問題があ
る。これは、目的とする記録ビット上に集光された光ビ
ームのビームスポット内に、隣接する記録ビットが入る
ために、個々の記録ビットを分離して再生することがで
きなくなるためである。
【0004】上記問題を解決する光磁気記録媒体とし
て、室温において面内磁化状態であり臨界温度以上の温
度で垂直磁化状態となる再生磁性層と、前記臨界温度近
傍にキュリー温度を有する面内磁化層と、非磁性中間層
と、垂直磁化膜からなり情報を記録する記録磁性層とか
らなる光磁気記録媒体が提案されている(特開平9−3
20134号公報)。また、垂直磁化膜からなる再生磁
性層と、面内磁化層と、垂直磁化膜からなり情報を記録
する記録磁性層とからなる光磁気記録媒体が提案されて
いる(特開平10−049926号公報)。
【0005】これらの光磁気記録媒体では、臨界温度以
下の温度範囲、または、面内磁化層のキュリー温度以下
の温度範囲において、再生磁性層が面内磁化状態となる
ため、記録磁性層へ記録された記録磁区情報が再生層へ
と転写されず、記録磁区情報は再生されない。これに対
して、臨界温度以上の温度範囲、または、面内磁化層の
キュリー温度以下の温度範囲において、再生磁性層が垂
直磁化状態となり、記録磁性層へ記録された記録磁区情
報が再生磁性層へと転写され、記録磁区情報が再生され
る。このため、再生磁性層上に集光された光ビームのビ
ームスポット内に、隣接する記録ビットが入る場合にお
いても、光ビームの再生パワーと再生磁性層が垂直磁化
状態となる臨界温度を適切に設定しておけば、個々の記
録ビットを分離して再生することができ、高密度に記録
された情報を再生することが可能となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
光ディスクに対して、さらに大きな記録容量が求められ
るようになり、上述の特開平9−320134号公報お
よび特開平10−049926号公報に記載の光磁気記
録媒体においては、面内磁化によるマスク効果が不十分
であり、再生分解能が不足するという問題があった。
【0007】本発明は、面内磁化によるマスク効果を高
めることのできる光磁気記録媒体及びその再生方法を提
供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する本
発明の光磁気記録媒体は以下のようなものである。
【0009】(1)室温で面内磁化状態であり、臨界温
度以上で垂直磁化状態に移行する再生磁性層と、前記臨
界温度近傍にキュリー温度を有する複数層の面内磁化層
と、垂直磁化膜からなる記録磁性層と、をこの順に、少
なくとも有してなり、前記複数層の面内磁化層は、磁気
的極性の異なる面内磁化層を交互に積層することで形成
されており、前記再生磁性層と前記複数層の面内磁化層
は、少なくとも室温において交換結合しているものであ
る。
【0010】(2)前記光磁気記録媒体において、前記
複数層の面内磁化層における最も再生磁性層側の面内磁
化層と、前記再生磁性層と、の磁気的極性が異なるもの
である。
【0011】(3)単層において、室温以上キュリー温
度以下の温度範囲で、垂直磁化状態である再生磁性層
と、前記再生磁性層のキュリー温度より低いキュリー温
度を有する複数層の面内磁化層と、垂直磁化膜からなる
記録磁性層と、をこの順に、少なくとも有してなり、前
記複数層の面内磁化層は、磁気的極性の異なる面内磁化
層を交互に積層することで形成されており、前記再生磁
性層と前記複数層の面内磁化層は、少なくとも室温にお
いて交換結合して、面内磁化を示すものである。
【0012】(4)上記(1)〜(3)において、前記
複数層の面内磁化層と前記記録磁性層との間に、非磁性
中間層が設けられているものである。
【0013】(5)上記(4)において、前記非磁性中
間層と前記記録磁性層との間に、反射層が設けられてい
るものである。
【0014】(6)上記(1)〜(5)において、前記
複数層の面内磁化層を構成する各面内磁化層は3nm以
上の膜厚を有しており、前記再生磁性層と前記記録磁性
層との間の距離が60nm以下であるものである。
【0015】また、本発明の再生方法は、以下のような
ものである。
【0016】(イ)上記(1)の光磁気記録媒体から情
報を再生する再生方法において、前記再生磁性層及び前
記複数層の面内磁化層を、前記臨界温度近傍以上に昇温
するものである。
【0017】(ロ)上記(3)の光磁気記録媒体から情
報を再生する再生方法において、前記再生磁性層及び前
記複数層の面内磁化層を、前記複数層の面内磁化層のキ
ュリー温度以上に昇温するものである。
【0018】
【発明の実施の形態】(実施の形態1)以下、本発明の
実施の形態1を図面を用いて詳細に説明する。
【0019】まず、本実施の形態における光磁気記録媒
体の再生動作原理を説明する。図1は本発明の光磁気記
録媒体の超解像再生動作原理を説明する断面図であり、
図12は従来の超解像再生動作原理を説明する断面図で
ある。
【0020】まず、従来の超解像再生動作について説明
する。従来の超解像光磁気記録媒体は、図12に示すよ
うに、室温で面内磁化状態であり、臨界温度以上の温度
で垂直磁化状態となる希土類金属と遷移金属との合金か
らなる再生磁性層101と、室温からキュリー温度まで
面内磁化状態であり、上記臨界温度近傍にキュリー温度
を有する面内磁化層102と、非磁性中間層4と、室温
に補償温度を有する希土類金属と遷移金属との合金から
なる記録磁性層5とが順次積層された構成である。
【0021】再生は、光ビーム6を再生磁性層101側
から集光照射することにより行われる。光ビーム6が照
射されると、媒体には光ビーム6の強度分布に対応した
ガウシアン分布状の温度分布が形成される。再生磁性層
101は、その温度が分布に伴って徐々に面内磁化状態
から垂直磁化状態へと遷移し、ある臨界温度以上の温度
で垂直磁化状態となる。ここで、面内磁化層102は、
該臨界温度近傍にキュリー温度を有する面内磁化膜であ
るため、該臨界温度以下の温度で再生磁性層101と面
内磁化層102とが交換結合することにより、該臨界温
度以下の温度状態にある再生磁性層101の磁化に対し
て面内磁化状態にしようとする交換結合力が作用するこ
とになる。
【0022】以上の作用により、温度上昇に伴う再生磁
性層101における面内磁化状態から垂直磁化状態への
遷移を急峻なものとすることが可能となり、光ビーム照
射にともない温度上昇した領域のみの記録磁性層5の磁
化情報を、静磁結合により、再生磁性層101へと転写
し、光ビーム6により再生することができる。
【0023】ここで、記録磁性層5としては、最適な静
磁結合状態を実現するため、温度上昇とともにトータル
磁化が大きくなり、温度上昇した領域において大きな漏
洩磁束が発生するように組成調整されており、室温近傍
に補償温度を有する垂直磁化膜が用いられる。
【0024】また、非磁性中間層4が、記録磁性層5と
再生磁性層101及び面内磁化層102との安定した静
磁結合を実現する目的で設けられている。
【0025】以上説明した従来の光磁気記録媒体の再生
においては、再生磁性層101が垂直磁化状態となる臨
界温度以上の範囲のみの情報が転写再生されることが望
ましい。しかしながら、図12に示すように、記録層5
から発生する漏洩磁束が温度上昇とともに徐々に強くな
るため、十分に温度上昇していない領域5aにおいて
も、ある程度の強度の漏洩磁束が記録層5から発生する
ことになる。そのため、比較的キュリー温度が高くトー
タル磁化の大きい再生磁性層101が、この漏洩磁束の
影響を受け、再生磁性層101の磁化方向を漏洩磁束の
向きに揃えるべく静磁結合力を受けることになる。ここ
で、面内磁化層102のキュリー温度近傍においては、
面内磁化層102が面内磁化状態であろうとする力が弱
くなっているため、再生磁性層101と交換結合した面
内磁化層102の磁化方向が再生磁性層101と反平行
な方向に揃ってしまうことになる。
【0026】図12では、再生磁性層101としては、
室温面内磁化状態であり温度上昇とともに垂直磁化状態
となる磁性層であり、再生温度範囲において、希土類金
属(RE)モーメントと遷移金属(TM)モーメントが
釣り合う補償組成に対して希土類金属モーメントを多く
含有するRE−rich組成のものを仮定しており、ま
た、面内磁化層102としてはTM−rich組成の面
内磁化膜を仮定している。この場合、交換結合が働く
と、再生磁性層101と面内磁化層102のトータル磁
化の向きは反平行となる。このため、再生磁性層101
において、臨界温度以下の温度範囲で、再生に寄与する
垂直磁化成分を有する傾いた状態の磁化が存在すること
になり、再生分解能が劣化することになる。
【0027】以上のことから、再生分解能を向上させる
ためには、面内磁化層102が面内磁化状態であろうと
する力を強くすることにより、温度上昇過程にある再生
磁性層101の磁化の向きを完全な面内磁化状態とする
必要がある。しかし、図12に示す従来の構成では、面
内磁化層102のキュリー温度近傍において、面内磁化
層102が面内磁化状態であろうとする力を強くするこ
とは困難である。
【0028】我々は、上記再生分解能向上の限界を克服
し、さらに高い再生分解能を得ることが可能な媒体構成
を新たに開発した。
【0029】図1は、本実施の形態の超解像光磁気記録
媒体の再生動作原理を説明する断面図である。本発明の
光磁気記録媒体は、再生磁性層1、第1の面内磁化層
2、第2の面内磁化層3、非磁性中間層4、記録磁性層
5が順次積層されている。
【0030】再生磁性層1は、図12に示す従来の再生
磁性層101と同様、室温で面内磁化状態であり、臨界
温度以上の温度で垂直磁化状態となる希土類金属と遷移
金属との合金からなる磁性膜である。
【0031】第1の面内磁化層2は、図12に示す従来
の面内磁化層102と同様、室温からキュリー温度まで
面内磁化状態であり、上記臨界温度近傍にキュリー温度
を有する希土類金属と遷移金属との合金からなる面内磁
化膜である。
【0032】第2の面内磁化層3は、室温からキュリー
温度まで面内磁化状態であり、上記臨界温度近傍にキュ
リー温度を有する希土類金属と遷移金属との合金からな
り、第1の面内磁化層2とは磁気的極性の異なる面内磁
化膜である。
【0033】また、非磁性中間層4、及び、記録磁性層
5は、図12に示す従来の超解像光磁気媒体と同一であ
る。
【0034】上記本発明の光磁気記録媒体によれば、第
1の面内磁化層2と第2の面内磁化層3とが交換結合す
ることにより、第1の面内磁化層2及び第2の面内磁化
層3が面内磁化状態であろうとする力を著しく強くする
ことができ、高い再生分解能を得ることが可能となる。
【0035】以下、この2つの面内磁化層2,3の作用
を説明する。図2(a)及び(b)は、単層の面内磁化
層102の磁化状態を、図2(c)及び(d)は、第1
の面内磁化層2と第2の面内磁化層3とが交換結合した
場合の磁化状態を示す比較図である。なお、ここでは第
1の面内磁化層2がTM−rich組成であり、第2の
面内磁化層3がRE−rich組成である場合について
説明するが、勿論、この逆であっても構わない。
【0036】単層の面内磁化層102の場合、漏洩磁束
が存在しない状態(a)においては、磁化は完全に面内
磁化状態である。ここで、面内磁化層102はTM−r
ich組成の面内磁化膜であり、トータル磁化の向きと
TMモーメントの向きは平行となっている。次に、漏洩
磁束が存在する状態(b)においては、トータル磁化が
漏洩磁束と静磁結合することにより、トータル磁化の向
きは、漏洩磁束の向きと平行になろうとする力を受け、
膜面に対してトータル磁化及びTMモーメントの向きが
傾いた状態となる。
【0037】これに対して、TM−rich組成の第1
の面内磁化層2とRE−rich組成の第2の面内磁化
層3とが交換結合している場合、漏洩磁束が存在しない
状態(c)においては、第1の面内磁化層2と第2の面
内磁化層3の磁化は共に完全に面内磁化状態である。こ
こで、第1の面内磁化層2はTM−rich組成の面内
磁化膜であり、トータル磁化の向きとTMモーメントの
向きは平行となっており、第2の面内磁化層3はRE−
rich組成の面内磁化膜であり、トータル磁化の向き
とTMモーメントの向きは反平行となっている。
【0038】次に、漏洩磁束が存在する状態(d)にお
いては、第1の面内磁化層2と第2の面内磁化層3のト
ータル磁化が漏洩磁束と静磁結合することにより、それ
ぞれのトータル磁化の向きが、漏洩磁束の向きと平行に
なろうとする力を受けることになる。ここで、第1の面
内磁化層2と第2の面内磁化層3の磁気的極性が異なる
ため、第1の面内磁化層2のTMモーメントは上向き
に、第2の面内磁化層3のTMモーメントは下向きにな
ろうとする。このとき、第1の面内磁化層2と第2の面
内磁化層3との間に界面磁壁が形成されることになり、
界面磁壁形成による磁壁エネルギーが蓄積される。この
場合、静磁結合によるエネルギーと磁壁エネルギーとを
合せたトータルエネルギーが極小になるように磁化状態
が決定されるため、磁壁エネルギーが蓄積されることに
より、トータル磁化及びTMモーメントの傾きは、単層
の面内磁化層102の場合に比べて小さくなる。
【0039】以上のように、極性の異なる面内磁化層を
交換結合させ、界面磁壁を形成することにより、漏洩磁
束に対して、面内磁化状態であろうとする力を著しく強
くすることができる。
【0040】また、本実施の形態において、さらに、再
生磁性層1と第1の面内磁化層2における磁気的極性が
逆となるように設定すれば、再生磁性層1と第1の面内
磁化層2との関係において、上述の第1の面内磁化層2
と第2の面内磁化層3の関係と同様に、低温領域での面
内磁化状態であろうとする力を強くすることができる。
【0041】(実施例1)本発明の実施例1について、
図面に基づいて説明すれば以下の通りである。本実施例
では、光磁気記録媒体を光磁気ディスクに適用した場合
について説明する。
【0042】図3はこの光磁気ディスクの構成を示す断
面図である。この光磁気ディスクは、基板7,透明誘電
体層8,再生磁性層1,第1の面内磁化層2,第2の面
内磁化層3,非磁性中間層4,記録磁性層5,保護層
9,オーバーコート層10が、この順にて積層されたデ
ィスク本体を有している。
【0043】このような光磁気ディスクでは、その記録
方式としてキュリー温度記録方式が用いられており、半
導体レーザから出射される光ビーム6が対物レンズによ
り再生磁性層1に絞り込まれ、極カー効果として知られ
ている光磁気効果によって情報が記録再生されるように
なっている。上記極カー効果とは、入射表面に垂直な磁
化の向きにより、反射光の偏光面の回転の向きが逆方向
になる現象である。
【0044】基板7は、例えばポリカーボネート等の透
明な基材からなり、ディスク状に形成される。
【0045】透明誘電体層8は、AlN,SiN,Al
SiN等の酸素を含まない材料で構成されることが望ま
しく、その膜厚は、入射するレーザ光に対して、良好な
干渉効果が実現し、媒体のカー回転角が増大すべく設定
される必要があり、再生光の波長をλ,透明誘電体層8
の屈折率をnとした場合、透明誘電体層8の膜厚は(λ
/4n)程度に設定される。例えば、レーザ光の波長を
680nmとした場合、透明誘電体層8の膜厚を40n
m以上100nm以下程度に設定すれば良い。
【0046】再生磁性層1は、希土類遷移金属合金から
なる磁性膜であり、その磁気特性が、室温において面内
磁化状態であり、温度上昇にともない、ある臨界温度以
上の温度で垂直磁化状態となるように組成調整されてい
る。
【0047】再生磁性層1の臨界温度は、100℃以上
200℃以下であることが望ましい。該臨界温度が10
0℃より低くなると、僅かな温度上昇により再生磁性層
1が垂直磁化状態となり、環境温度の変化に対して、安
定した再生特性を得ることができなくなる。また、臨界
温度が200℃より高くなると、臨界温度と記録磁性層
5のキュリー温度が近接することにより、再生レーザパ
ワーマージンを確保することが困難となる。
【0048】再生磁性層1の膜厚は、10nm以上50
nm以下であることが望ましい。再生磁性層1の膜厚を
薄くすることにより、より高い再生分解能を得ることが
可能となるが、10nmより薄くなると、再生磁性層1
からの反射光が減少し、再生信号強度が著しく低下して
しまう。また、その膜厚を50nmより厚くすると、該
第1の面内磁化層2及び第2の面内磁化層3の膜厚に対
して、再生磁性層1の膜厚が相対的に厚くなりすぎるこ
とにより、再生分解能が低下してしまうことになる。
【0049】第1の面内磁化層2は、希土類遷移金属合
金からなる磁性膜、または、遷移金属と非磁性元素との
合金からなる磁性膜であり、膜面に水平な方向に磁化を
有する面内磁化膜である。上記したように、第1の面内
磁化層2は、上記臨界温度以下の温度で再生磁性層1と
交換結合することにより、再生磁性層1の面内磁化状態
を保持し、面内磁化マスクを強化するために設けられた
ものである。
【0050】第1の面内磁化層2のキュリー温度は、再
生磁性層1の臨界温度の近傍に設定されていることが望
ましく、(臨界温度±30℃)の範囲に設定されている
ことが望ましい。
【0051】第1の面内磁化層2の膜厚は、3nm以上
であることが望ましい。第1の面内磁化層2の膜厚が3
nmより薄くなると、再生磁性層1の膜厚に比べて薄く
なりすぎることにより、再生磁性層1の面内磁化マスク
を強化する力が弱くなり、再生分解能が劣化してしま
う。
【0052】第2の面内磁化層3は、第1の面内磁化層
2と磁気的極性の異なる希土類遷移金属合金からなる磁
性膜であり、膜面に水平な方向に磁化を有する面内磁化
膜である。上記したように、第2の面内磁化層3は、上
記臨界温度以下の温度で第1の面内磁化層2と交換結合
することにより、再生磁性層1の面内磁化状態を保持
し、面内磁化マスクを強化するために設けられたもので
ある。
【0053】第2の面内磁化層3のキュリー温度は、第
1の面内磁化層2と同様に再生磁性層1の臨界温度の近
傍に設定されていることが望ましく、(臨界温度±30
℃)の範囲に設定されていることが望ましい。
【0054】第2の面内磁化層3の膜厚は、第1の面内
磁化層の膜厚とほぼ等しくすることが望ましい。第1の
面内磁化層2と第2の面内磁化層3の膜厚をほぼ等しく
設定することにより、記録磁性層5から、第1の面内磁
化層2に働く静磁結合力と第2の面内磁化層3に働く静
磁結合力がほぼ等しくなり、効率よく界面磁壁を形成す
ることができ、第1の面内磁化層2及び第2の面内磁化
層3の面内磁化を安定して強化することが可能となる。
【0055】非磁性中間層4は、AlN,SiN,Al
SiN等の誘電体、または、Al,Ti,Ta等の非磁
性金属合金からなり、再生磁性層1及び第1の面内磁化
層2及び第2の面内磁化層3と記録磁性層5とが静磁結
合すべく、その膜厚が0.5nm以上40nm以下に設
定されている。非磁性中間層4の膜厚が0.5nmより
薄くなると、非磁性中間層4が連続的に形成されず、安
定した静磁結合状態を維持することができなくなる。ま
た、非磁性中間層4の膜厚が40nmより厚くなると、
記録磁性層5と第2の再生磁性層3との距離が離れるこ
とにより、安定した静磁結合状態を維持できなくなる。
【0056】また、第1の面内磁化層2と第2の面内磁
化層3と非磁性中間層4とのトータル膜厚を60nm以
下とすることが望ましい。トータル膜厚が60nmより
厚くなると、再生磁性層1と記録磁性層5とが離れすぎ
ることにより、両者の間の静磁結合力が弱くなり、安定
した再生を行なうことができなくなる。
【0057】記録磁性層5は、室温近傍に補償温度を有
する希土類遷移金属合金からなる垂直磁化膜からなり、
その膜厚が20nm以上80nm以下の範囲に設定され
ている。記録磁性層5の膜厚が20nmより薄くなる
と、記録磁性層5から発生する漏洩磁束が小さくなるこ
とにより、安定した静磁結合状態を維持できなくなる。
また、記録磁性層5の膜厚が80nmより厚くなると、
膜厚増加による記録感度劣化が著しくなる。
【0058】保護層9は、AlN,SiN,AlSiN
等の誘電体、または、Al,Ti,Ta等の非磁性金
属合金からなり、再生磁性層1及び第1の面内磁化層2
及び第2の面内磁化層3及び記録磁性層5に用いる希土
類遷移金属合金の酸化を防止する目的で形成されるもの
であり、その膜厚が5nm以上60nm以下の範囲に設
定されている。
【0059】オーバーコート層10は、紫外線硬化樹脂
または熱硬化樹脂をスピンコートにより塗布して、紫外
線を照射するか、または、加熱するかによって形成され
る。
【0060】次に、この構成の光磁気ディスクの形成方
法及び記録再生特性の具体例を説明する。
【0061】(1)光磁気ディスクの形成方法 上記構成の光磁気ディスクの形成方法について説明す
る。
【0062】まず、Alターゲットと、GdFeCo合
金ターゲットと、第1のGdFe合金ターゲットと、第
2のGdFe合金ターゲットと、TbFeCo合金ター
ゲットとをそれぞれ備えたスパッタ装置内の基板ホルダ
ーに、0.6μm幅のランド記録領域とグルーブ記録領
域とがスパイラル状に形成されたランド・グルーブ記録
可能なディスク状に形成されたポリカーボネート製の基
板7を配置する。そして、スパッタ装置内を1×10-6
Torrまで真空排気した後、アルゴンと窒素の混合ガ
スを導入し、Alターゲットに電力を供給して、ガス圧
4×10-3Torrの条件で、基板7上にAlNからな
る透明誘電体層8を膜厚60nmで形成する。
【0063】次に、再度、スパッタ装置内を1×10-6
Torrまで真空排気した後、アルゴンガスを導入し、
GdFeCo合金ターゲットに電力を供給して、ガス圧
4×10-3Torrとし、上記透明誘電体層8上に、G
0.31(Fe0.80Co0.20 0.69からなる再生磁性層1
を膜厚25nmで形成した。その再生磁性層1は、室温
において面内磁化状態であり、150℃の温度で垂直磁
化状態となる特性を有し、その補償温度が300℃(従
って、少なくとも室温から再生温度においてはRE−r
ich組成)、そのキュリー温度が320℃であった。
【0064】続いて、第1のGdFe合金ターゲットに
電力を供給して、ガス圧4×10-3Torrとし、上記
再生磁性層1上に、Gd0.12Fe0.88からなるTM−r
ich組成の第1の面内磁化層2を膜厚15nmで形成
した。その第1の面内磁化層2は、キュリー温度が15
0℃であり、室温からキュリー温度(150℃)まで、
膜面に平行な方向に磁化を有する面内磁化膜であった。
【0065】続いて、第2のGdFe合金ターゲットに
電力を供給して、ガス圧4×10-3Torrとし、上記
第1の面内磁化層2上に、Gd0.46Fe0.54からなるR
E−rich組成の第2の面内磁化層3を膜厚15nm
で形成した。その第2の面内磁化層3は、キュリー温度
が150℃であり、室温から該キュリー温度(150
℃)まで、膜面に平行な方向に磁化を有する面内磁化膜
であった。
【0066】次に、アルゴンと窒素の混合ガスを導入
し、Alターゲットに電力を供給して、ガス圧4×10
-3Torrの条件で、上記第2の面内磁化層3上にAl
Nからなる非磁性中間層4を膜厚2nmで形成した。
【0067】次に、再度、スパッタ装置内を1×10-6
Torrまで真空排気した後、アルゴンガスを導入し、
TbFeCo合金ターゲットに電力を供給して、ガス圧
4×10-3Torrとし、上記非磁性中間層4上に、T
0.23(Fe0.80Co0.20 0.77からなる記録磁性層5
を膜厚50nmで形成した。その記録磁性層5は、25
℃に補償温度を有し、キュリー温度が275℃であっ
た。
【0068】次に、アルゴンと窒素の混合ガスを導入
し、Alターゲットに電力を供給して、ガス圧4×10
-3Torrの条件で、上記記録磁性層5上にAlNから
なる保護層9を膜厚20nmとして形成した。
【0069】最後に、上記保護層9上に、紫外線硬化樹
脂をスピンコートにより塗布して、紫外線を照射するこ
とによりオーバーコート層10を形成した。
【0070】(2)記録再生特性 上記光磁気ディスクを、波長680nmの半導体レーザ
を用いた光ピックアップを有する評価装置で、磁界変調
記録方式により情報を記録しれ、ランド記録領域におけ
るCNR(信号対雑音比)のマーク長依存性(CNR
1)及び、両隣接グルーブ記録領域に、対応するマーク
長で記録を行なった際にランド記録領域にもれ込むクロ
ストーク信号量(CT1)を測定した。図4は、その結
果を示す図である。
【0071】なお、図4では、比較のため、比較例1と
して、第2の面内磁化層3を設けず、第1の面内磁化層
2の膜厚を30nmとした構成の光磁気ディスクにおけ
るCNRのマーク長依存性(CNR11)及びクロスト
ーク信号量(CT11)を同図に示す。
【0072】また、ここで示すCNRのマーク長依存性
は、マーク長に対応する長さの記録磁区をマーク長の2
倍の長さの記録磁区ピッチで連続形成した時の信号対雑
音比を表すものである。
【0073】マーク長0.3μmでのCNR1及びCN
R11は、それぞれ、36dB及び33dBとなってお
り、比較例1に比べて、実施例1のCNRが大きくなっ
ていることがわかる。また、マーク長0.7μmでのC
T1及びCT11は、それぞれ、18dB及び28dB
となっており、比較例1に比べて実施例1のCTが小さ
くなっていることがわかる。
【0074】比較例1(CNR11)においては、面内
磁化層が単層で構成されており、該面内磁化層が面内磁
化状態であろうとする力が弱いため、再生磁性層におけ
る面内磁化マスクが弱くなり、再生分解能が低下するこ
とにより、短いマーク長でのCNRが低下が著しいのに
対して、実施例1においては、極性の異なる第1の面内
磁化層と第2の面内磁化層3とが積層され界面磁壁を形
成することにより、該第1の面内磁化層と該第2の面内
磁化層3が面内磁化状態であろうとする力が強くなるこ
とにより、再生磁性層における面内磁化マスクが強化さ
れ、再生分解能が向上し、短いマーク長において、より
高いCNRを得ることができたものと考えられる。ま
た、同様に再生分解能が向上したことにより、長いマー
ク長でのCTを低減することができたものと考えられ
る。
【0075】以上のように、実施例1の光磁気記録媒体
では、極性の異なる第1の面内磁化層2と第2の面内磁
化層3を積層することにより、再生分解能を向上させ、
短いマーク長でのCNRを大きくすることが可能になる
とともに、クロストークを低減することができる。
【0076】尚、ここでは、再生磁性層1としてGdF
eCoを用い、第1の面内磁化層2及び第2の面内磁化
層3として、GdFeを用いた結果について記述してい
るが、これに限定されるものでなく、それぞれ、必要と
される磁気特性を満足する磁性材料を用いることが可能
であり、再生磁性層1としては、GdFeCo以外の磁
性材料として、NdGdFeCo、GdTbFeCo、
GdDyFeCo等の希土類遷移金属合金を用いること
が可能であり、第1の面内磁化層2としては、GdFe
Co、NdFeCo、NdGdFeCo等の希土類遷移
金属合金からなる面内磁化膜、及び、これらの希土類遷
移金属合金のキュリー温度を低下させることを目的とし
て、非磁性金属を添加した合金を用いることが可能であ
り、第2の面内磁化層としては、第1の面内磁化層と磁
気的極性の異なるGdFeCo、NdGdFeCo等の
希土類遷移金属合金からなる面内磁化膜、及び、これら
の希土類遷移金属合金のキュリー温度を低下させること
を目的として、非磁性金属を添加した合金を用いること
が可能である。
【0077】〔実施の形態2〕図5は、本実施の形態2
の光磁気記録媒体の再生動作原理を説明する断面図であ
る。ここで、実施の形態1と同一部分については同一符
号を付し、説明を省略する。
【0078】実施の形態2の光磁気記録媒体は、再生磁
性層1、第1の面内磁化層2、第2の面内磁化層3、記
録磁性層5が順次積層されており、実施の形態1の非磁
性中間層4が存在しない構成である。再生磁性層1及び
第1の面内磁化層2及び第2の面内磁化層3は、それぞ
れ、実施の形態1と同様な磁性層であり、基本的に実施
の形態1と同様な原理により、磁気的な超解像再生を実
現することが可能である。但し、実施の形態2において
は、非磁性中間層4が存在しないため、記録磁性層5と
第2の面内磁化層3との間に、第2の面内磁化層を垂直
磁化状態にしようとする交換結合力が働くため、実施の
形態1に比べて、第2の面内磁化層3を厚くすることが
望ましい。
【0079】(実施例2)本実施の形態の実施例(実施
例2)について図面に基づいて説明すれば以下の通りで
ある。本実施例では、光磁気記録媒体を光磁気ディスク
に適用した場合について説明する。
【0080】図6は、実施例2の超解像光磁気記録媒体
の構成を示す断面図である。実施例2の光磁気ディスク
は、基板7,透明誘電体層8,再生磁性層1,第1の面
内磁化層2,第2の面内磁化層3,記録磁性層5,保護
層9,オーバーコート層10がこの順にて順次積層され
た構成を有している。
【0081】次に、この光磁気ディスクの形成方法、記
録再生特性について説明する。
【0082】(1)光磁気ディスクの形成方法 実施例2の光磁気ディスクとして、実施例1に記載の光
磁気ディスクの形成方法と同様にして、基板7上にAl
Nからなる膜厚60nmの透明誘電体層8、膜厚25n
mのGd0.31(Fe0.80Co0.200.69からなり、再生
温度近傍においてRE−richの再生磁性層1、膜厚
15nmのGd0.12Fe0.88からなるTM−rich組
成の第1の面内磁化層2、膜厚35nmのGd0.46Fe
0.54からなるRE−rich組成の第2の面内磁化層
3、膜厚50nmのTb0.23(Fe 0.80Co0.200.77
からなる記録磁性層5、膜厚20nmのAlNからなる
保護層9、オーバーコート層10を順次形成した。
【0083】また、比較例2として、実施例2の光磁気
ディスクの第2の面内磁化層3を設けず、第1の面内磁
化層の膜厚を50nmとした光磁気ディスクを別途作製
した。
【0084】(2)記録再生特性 実施例1と同様にして、マーク長0.3μmにおけるC
NRを測定した結果、実施例1におけるCNRが36d
Bであったのに対して、実施例2においても、35.5
dBのCNRが得られ、実施例1と同程度の再生特性が
得られた。これに対して、第2の面内磁化層が存在しな
い比較例2においては、32dBのCNRしか得られ
ず、第2の面内磁化層を設けた実施例2において、再生
分解能の向上が実現していることを確認した。
【0085】次に、第2の面内磁化層3の膜厚を変えて
同様な測定を行なった。第2の面内磁化層3の膜厚が2
0nmの場合、マーク長0.3μmにおけるCNRが3
5dBとなり、実施例2とほぼ同程度のCNRが得られ
たが、第2の面内磁化層3の膜厚を15nmとした場
合、マーク長0.3μmにおけるCNRが29dBと著
しく低下した。これは、第2の面内磁化層3に働く記録
磁性層5からの交換結合力により、第2の面内磁化層に
垂直方向の磁化が転写され、再生層1における面内磁化
マスクが弱くなったためである。従って、実施例2にお
いて、第2の面内磁化層3の膜厚は、20nm以上であ
ることが望ましい。
【0086】また、第1の面内磁化層2と第2の面内磁
化層3のトータル膜厚を60nm以下とすることが望ま
しい。該トータル膜厚が60nmより厚くなると、再生
磁性層1と記録磁性層5とが離れすぎることにより、両
者の間の静磁結合力が弱くなり、安定した再生を行なう
ことができなくなる。
【0087】なお、以上示した実施の形態2において
も、第1の面内磁化層2と第2の面内磁化層3はその磁
気的極性が互いに逆であればよく、実施例2のように第
1の面内磁化層2がTM−rich組成で第2の面内磁
化層3がRE−rich組成である必要はない。但し、
再生磁性層1が再生温度近傍においてRE−rich組
成である場合には、上述のように、第1の面内磁化層2
がTM−rich組成で第2の面内磁化層3がRE−r
ich組成であることが、望ましい。
【0088】〔実施の形態3〕図7は、本発明の実施の
形態3の超解像光磁気記録媒体の再生動作原理を説明す
る断面図である。実施の形態3の光磁気記録媒体は、再
生磁性層1、第1の面内磁化層2、第2の面内磁化層
3、第3の面内磁化層11、非磁性中間層4、記録磁性
層5が順次積層されている。
【0089】本実施の形態は、実施の形態1にさらに、
第3の面内磁化層11が付加された構成である。再生磁
性層1及び第1の面内磁化層2及び第2の面内磁化層3
及び非磁性中間層4、記録磁性層5は、それぞれ、実施
例1と同様な磁性層であり、基本的に実施例1と同様な
原理により、磁気的な超解像再生を実現することが可能
である。
【0090】図7に示すように、第2の面内磁化層3
に、第2の面内磁化層3と極性の異なる第3の面内磁化
層11を積層することにより、面内磁化層間に形成され
る界面磁壁の数が増え、それぞれの面内磁化層は、さら
に垂直磁化状態となり難くなる。従って、再生磁性層1
における面内磁化マスクがより強化され、より再生分解
能の高い光磁気記録媒体を実現することが可能となる。
【0091】(実施例3)本実施の形態の実施例(実施
例3)について図面に基づいて説明すれば、以下の通り
である。本実施例では、光磁気記録媒体を光磁気ディス
クに適用した場合について説明する。
【0092】実施例3の光磁気ディスクは、図8に示す
ように、基板7、透明誘電体層8、再生磁性層1、第1
の面内磁化層2、第2の面内磁化層3、第3の面内磁化
層11、非磁性中間層4、記録磁性層5、保護層9、オ
ーバーコート層10がこの順にて順次積層された構成を
有している。
【0093】次に、この光磁気ディスクの形成方法、記
録再生特性について説明する。
【0094】(1)光磁気ディスクの形成方法 実施例3の光磁気ディスクとして、実施例1に記載の光
磁気ディスクの形成方法と同様にして、基板7上にAl
Nからなる膜厚60nmの透明誘電体層8、膜厚25n
mのGd0.31(Fe0.80Co0.200.69からなる再生温
度近傍でRE−rich組成の再生磁性層1、膜厚10
nmのGd0.12Fe0.88からなるTM−rich組成の
第1の面内磁化層2、膜厚10nmのGd0.46Fe0.54
からなるRE−rich組成の第2の面内磁化層3、膜
厚10nmのGd0.12Fe0.88からなるTM−rich
組成の第3の面内磁化層11、膜厚2nmのAlNから
なる非磁性中間層4、膜厚50nmのTb0.23(Fe
0.80Co0.200.77からなる記録磁性層5、膜厚20n
mのAlNからなる保護層9、オーバーコート層10を
順次形成した。
【0095】(2)記録再生特性 実施例1と同様にして、マーク長0.3μmにおけるC
NRを測定した結果、実施例1におけるCNRが36d
Bであったのに対して、実施例3において、37.5d
BのCNRが得られ、実施例1よりも良好な再生特性が
得られた。
【0096】この実施例3においても実施例1同様に、
第1の面内磁化層2と第2の面内磁化層3と第3の面内
磁化層11と非磁性中間層4とのトータル膜厚を60n
m以下とすることが望ましい。トータル膜厚が60nm
より厚くなると、再生磁性層1と記録磁性層5とが離れ
すぎることにより、両者の間の静磁結合力が弱くなり、
安定した再生を行なうことができなくなる。
【0097】なお、以上示した実施の形態3において
も、第1〜第3の面内磁化層2,3,11は隣接磁性層
間で磁気的極性が互いに逆であるものであればよく、必
ずしも実施例3の構成でなくても良い。但し、再生磁性
層1が再生温度近傍においてRE−rich組成である
場合には、上述のように、第1〜第3の面内磁化層2,
3,4がそれぞれTM−rich,RE−rich,T
M−rich組成であることが、望ましい。
【0098】また、本実施の形態では面内磁化層を3層
構造としたが、さらに多層で構成しても構わない。
【0099】また、以上示した実施の形態1〜3では再
生磁性層1として、単層においても、室温で面内磁化状
態であり温度上昇に伴い垂直磁化状態となる磁性層を用
いた。この場合、再生磁性層1としては、再生温度近傍
においてRE−rich組成であるもの、TM−ric
h組成であるものの両方が使用できるが、本発明のよう
に記録磁性層5の磁化を静磁結合により再生磁性層1に
転写する構成においては、補償温度の高い(または補償
温度がキュリー温度までに存在しない)RE−rich
組成のものが望ましい。
【0100】〔実施の形態4〕図9は、実施の形態4の
超解像光磁気記録媒体の再生動作原理を説明する断面図
である。実施の形態4の光磁気記録媒体は、再生磁性層
12、第1の面内磁化層2、第2の面内磁化層3、非磁
性中間層4、記録磁性層5が順次積層されている。
【0101】実施の形態1〜3においては、再生磁性層
1として、室温において面内磁化状態であり、臨界温度
以上の温度で垂直磁化状態に移行する希土類遷移金属合
金薄膜からなる磁性膜を用いて磁気的超解像再生を実現
するものであり、再生磁性層1として、再生が行われる
温度範囲において、RE−rich組成の希土類遷移金
属合金薄膜であることが望ましかった。また、記録磁性
層5としては、温度上昇とともにトータル磁化が大きく
なり、再生が行われる温度範囲においてトータル磁化が
極大を示すこと、すなわち、室温に補償温度を有するT
M−rich組成の希土類遷移金属合金薄膜からなる磁
性膜であることが望ましかった。
【0102】この場合、TM−rich組成の記録磁性
層5とRE−rich組成の再生磁性層1とが静磁結合
するため、再生磁性層1に転写された磁区のTMモーメ
ントの向きと記録磁性層5に存在する磁区のTMモーメ
ントの向きとが反平行となり、従来の光磁気ディスクに
対して再生極性が反転するという問題がある。
【0103】実施の形態4においては、再生磁性層12
として、室温以上の温度範囲において、本質的に(単層
において)垂直磁化状態である希土類遷移金属合金薄膜
からなる磁性膜を用いて、磁気的超解像再生を実現する
ものである。すなわち、垂直磁化膜である再生磁性層1
2に対して、再生磁性層12及び記録磁性層5と比較し
てキュリー温度の低い面内磁化膜である第1の面内磁化
層2及び第2の面内磁化層3を交換結合させることによ
り、第1の面内磁化層2及び第2の面内磁化層3のキュ
リー温度以下の温度範囲における再生磁性層12の磁化
の向きを面内方向に向け、面内磁化状態とすることによ
り、実施例1と同様な面内磁化マスクを再生磁性層12
に形成することにより磁気的超解像再生を実現するもの
である。
【0104】この場合、再生磁性層1としてTM−ri
ch組成のものを使用することができ、TM−rich
組成の記録磁性層5とTM−rich組成の再生磁性層
12とを静磁結合させることができるため、再生磁性層
1に転写された磁区のTMモーメントの向きと記録磁性
層5に存在する磁区のTMモーメントの向きとが平行と
なり、従来の光磁気ディスクに対して同極性で再生を行
なうことができる。
【0105】(実施例4)本発明の実施例4について図
面に基づいて説明すれば以下の通りである。本実施例で
は、光磁気記録媒体を光磁気ディスクに適用した場合に
ついて説明する。
【0106】実施例4の光磁気ディスクは、図10に示
すように、基板7、透明誘電体層8、再生磁性層12、
第1の面内磁化層2、第2の面内磁化層3、非磁性中間
層4、記録磁性層5、保護層9、オーバーコート層10
がこの順にて順次積層された構成を有している。
【0107】次に、この光磁気ディスクの形成方法、記
録再生特性について説明する。
【0108】(1)光磁気ディスクの形成方法 実施例4の光磁気ディスクとして、実施例1に記載の光
磁気ディスクの形成方法と同様にして、基板7上にAl
Nからなる膜厚60nmの透明誘電体層8、室温以上の
温度範囲においてTM−rich組成の垂直磁化膜であ
るところの膜厚25nmのGd0.18(Fe0.80
0.200.82からなる再生磁性層12、膜厚20nmの
Gd0.12Fe0.88からなるTM−rich組成の第1の
面内磁化層2、膜厚20nmのGd0.46Fe0.54からな
るRE−rich組成の第2の面内磁化層3、膜厚2n
mのAlNからなる非磁性中間層4、膜厚50nmのT
0.23(Fe0.80Co0.200.77からなる記録磁性層
5、膜厚20nmのAlNからなる保護層9、オーバー
コート層10を順次形成した。
【0109】(2)記録再生特性 実施例1と同様にして、マーク長0.3μmにおけるC
NRを測定した結果、実施例1におけるCNRが36d
Bであったのに対して、実施例3において、36.5d
BのCNRが得られ、実施例1と同様な再生特性が得ら
れた。さらに、その再生時の極性を調査した結果、実施
例1の再生極性が、記録磁性層5の再生極性に対して反
転していたのに対して、実施例4の再生極性は、記録磁
性層5の再生極性と同一であることが確認された。
【0110】また、実施例4においても実施例1同様
に、第1の面内磁化層2と第2の面内磁化層3と非磁性
中間層4のトータル膜厚を60nm以下とすることが望
ましい。トータル膜厚が60nmより厚くなると、再生
磁性層12と記録磁性層5とが離れすぎることにより、
両者の間の静磁結合力が弱くなり、安定した再生を行な
うことができなくなる。
【0111】また、実施例4に記載した光磁気記録媒体
は、実施例2と同様にして、非磁性中間層4を形成して
いない場合においても、同様な再生特性を得ることが可
能である。さらに、実施例3と同様にして、面内磁化層
を第1の面内磁化層2と第2の面内磁化層3と第3の面
内磁化層11とで構成し、界面磁壁を増加させることに
より、さらに高い再生分解能を得ることが可能である。
【0112】〔実施の形態5〕図11は、実施の形態5
の光磁気記録媒体の一構成例を示す断面図である。この
光磁気記録媒体は、再生磁性層1、第1の面内磁化層
2、第2の面内磁化層3、光に対して透明な誘電体から
なる非磁性中間層13、反射層14、記録磁性層5が順
次積層されており、実施の形態1の非磁性中間層4を、
光に対して透明な誘電体からなる非磁性中間層13で構
成し、さらに、反射層14が形成された構成である。再
生磁性層1及び第1の面内磁化層2及び第2の面内磁化
層3及び記録磁性層5は、それぞれ、実施の形態1と同
様な磁性層であり、基本的に実施の形態1と同様な原理
により、磁気的な超解像再生を実現することが可能であ
る。
【0113】実施の形態5は、実施の形態1において、
非磁性中間層4を透明誘電体からなる非磁性中間層13
とし、更に反射層14を設けることにより、多層膜構造
において発生する干渉効果を利用したカー回転角の増大
を図ることが可能となる。さらに、反射層14において
光ビーム6が反射されることにより、記録磁性層5から
の信号再生をより完全に遮断し、再生磁性層1に転写さ
れた情報のみを再生することが可能となり、超解像再生
特性を改善することが可能となる。
【0114】なお、本実施の形態のように非磁性中間層
4を透明誘電体からなる非磁性中間層13とし更に反射
層14を設ける構成は、上述の実施の形態1のみなら
ず、実施の形態3,4にも適用できる。
【0115】(実施例5)本実施例では、光磁気記録媒
体を光磁気ディスクに適用した場合について説明する。
実施例5の光磁気ディスクは、基板7、透明誘電体層
8、再生磁性層1、第1の面内磁化層2、第2の面内磁
化層3、透明誘電体からなる非磁性中間層13、反射層
14、記録磁性層5、保護層9、オーバーコート層10
がこの順にて順次積層された構成を有している。
【0116】次に、この光磁気ディスクの形成方法、記
録再生特性について説明する。
【0117】(1)光磁気ディスクの形成方法 実施例5の光磁気ディスクとして、実施例1に記載の光
磁気ディスクの形成方法と同様にして、基板7上にAl
Nからなる膜厚60nmの透明誘電体層8、膜厚25n
mのGd0.31(Fe0.80Co0.200.69からなる再生磁
性層1、膜厚10nmのGd0.12Fe0.88からなるTM
−rich組成の第1の面内磁化層2、膜厚10nmの
Gd0.46Fe0.54からなるRE−rich組成の第2の
面内磁化層3、膜厚10nmのAlNからなる光ビーム
6に対して透明な非磁性中間層13、膜厚10nmのA
0.8Ti0.2からなる反射層14、膜厚50nmのTb
0. 23(Fe0.80Co0.200.77からなる記録磁性層5、
膜厚20nmのAlNからなる保護層9、オーバーコー
ト層10を順次形成した。
【0118】(2)記録再生特性 実施例1と同様にして、マーク長0.3μmにおけるC
NRを測定した結果、実施例1におけるCNRが36d
Bであったのに対して、実施例5において、38dBの
CNRが得られ、実施例1よりも良好な超解像再生特性
が得られることが確認された。
【0119】実施例5において、透明誘電体からなる非
磁性中間層13は、AlN,SiN,AlSiN,Ta
23等の非磁性誘電体を用いることが可能である。
【0120】反射層14は、Al,Ti,Ta,Pt,
Au,Cu等の非磁性金属、または、それらの非磁性金
属からなる合金を用いることが可能である。
【0121】また、良好な干渉効果を得るためには、透
明誘電体層8の膜厚を実施例1と同じく、40nm以上
100nm以下に設定し、再生磁性層1と第1の面内磁
化層2と第2の面内磁化層3とのトータル膜厚を50n
m以下とすることが望ましい。該トータル膜厚が50n
mより厚くなると、再生磁性層1及び第1の面内磁化層
2及び第2の面内磁化層3を透過する光量が少なくな
り、干渉効果によりカー回転角を増大させることが困難
となる。
【0122】また、カー回転角を効果的に増大させるた
めには、透明誘電体からなる非磁性中間層13の膜厚を
5nm以上30nm以下とすることが望ましい。
【0123】また、反射層14により、記録磁性層5か
らの信号再生をより完全に遮断し、再生磁性層1に転写
された情報のみを再生するためには、反射層14の膜厚
を少なくとも5nm以上とする必要がある。
【0124】また、第1の面内磁化層2と第2の面内磁
化層3と透明誘電体からなる非磁性中間層13と反射層
14とのトータル膜厚を60nm以下とすることが望ま
しい。該トータル膜厚が60nmより厚くなると、再生
磁性層1と記録磁性層5とが離れすぎることにより、両
者の間の静磁結合力が弱くなり、安定した再生を行なう
ことができなくなる。
【0125】また、実施例5に記載した光磁気記録媒体
は、実施例3と同様にして、面内磁化層を第1の面内磁
化層2と第2の面内磁化層3と第3の面内磁化層11と
で構成し、界面磁壁を増加させることにより、さらに高
い再生分解能を得ることが可能である。
【0126】以上、実施の形態1〜5で示したように、
本発明の光磁気記録媒体は、再生磁性層に隣接して少な
くとも2層の面内磁化層を有し、その面内磁化層が隣接
する面内磁化層との間で互いに磁気的極性が異なってい
るものであり、この構成により、面内磁化マスクを強化
することができ、再生分解能を高めることができるとい
う効果を得るものである。したがって、その主旨の範囲
内であれば様々な変形が可能である。
【0127】また、本発明において、再生磁性層と記録
磁性層との間の距離は60nm以下であることが望まし
い。この範囲であれば、再生磁性層と記録磁性層とが良
好に静磁結合力して、安定した再生を行なうことができ
る。また、各面内磁化層は良好な面内磁化マスクを実現
するため、3nm以上の膜厚を有することが望ましい。
再生磁性層と記録磁性層との間には少なくとも2層の面
内磁化層が存在することを考慮すると、再生磁性層と記
録磁性層との間の距離は6nmより大きく60nm以下
であることが望ましい。
【0128】
【発明の効果】本発明によれば、面内磁化層によるマス
ク効果の向上を実現でき、小さい記録ビット径および小
さい記録ビット間隔であっても十分な再生信号を得るこ
と、すなわち磁気的超解像再生において再生分解能を高
めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態1の光磁気記録媒体の再生原理を説
明する断面図である。
【図2】本発明の面内磁化層の効果を説明する断面図で
ある。
【図3】実施例1の光磁気ディスクの構成を示す断面図
である。
【図4】実施例1の光磁気ディスクの再生特性を示す図
である。
【図5】実施の形態2の光磁気記録媒体の再生原理を説
明する断面図である。
【図6】実施例2の光磁気ディスクの構成を示す断面図
である。
【図7】実施の形態3の光磁気記録媒体の再生原理を説
明する断面図である。
【図8】実施例3の光磁気ディスクの構成を示す断面図
である。
【図9】実施の形態4の光磁気記録媒体の再生原理を説
明する断面図である。
【図10】実施例4の光磁気ディスクの構成を示す断面
図である。
【図11】実施の形態5の光磁気記録媒体の一構成例を
示す断面図である。
【図12】従来の光磁気ディスクの再生原理を説明する
断面図である。
【符号の説明】
1 再生磁性層 2 第1の面内磁化層 3 第2の面内磁化層 4 非磁性中間層 5 記録磁性層 6 光ビーム 7 基板 8 透明誘電体層 9 保護層 10 オーバーコート層 11 第3の面内磁化層 12 再生磁性層 13 透明誘電体からなる非磁性中間層 14 反射層

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 室温で面内磁化状態であり、臨界温度以
    上で垂直磁化状態に移行する再生磁性層と、 前記臨界温度近傍にキュリー温度を有する複数層の面内
    磁化層と、 垂直磁化膜からなる記録磁性層と、をこの順に、少なく
    とも有してなり、 前記複数層の面内磁化層は、磁気的極性の異なる面内磁
    化層を交互に積層することで形成されており、 前記再生磁性層と前記複数層の面内磁化層は、少なくと
    も室温において交換結合していることを特徴とする光磁
    気記録媒体。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の光磁気記録媒体におい
    て、 前記複数層の面内磁化層における最も再生磁性層側の面
    内磁化層と、前記再生磁性層と、の磁気的極性が異なる
    ことを特徴とする光磁気記録媒体。
  3. 【請求項3】 単層において、室温以上キュリー温度以
    下の温度範囲で、垂直磁化状態である再生磁性層と、 前記再生磁性層のキュリー温度より低いキュリー温度を
    有する複数層の面内磁化層と、 垂直磁化膜からなる記録磁性層と、をこの順に、少なく
    とも有してなり、 前記複数層の面内磁化層は、磁気的極性の異なる面内磁
    化層を交互に積層することで形成されており、 前記再生磁性層と前記複数層の面内磁化層は、少なくと
    も室温において交換結合して、面内磁化を示すことを特
    徴とする光磁気記録媒体。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至請求項3のいずれかに記載
    の光磁気記録媒体において、 前記複数層の面内磁化層と前記記録磁性層との間に、非
    磁性中間層が設けられていることを特徴とする光磁気記
    録媒体。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載の光磁気記録媒体におい
    て、 前記非磁性中間層と前記記録磁性層との間に、反射層が
    設けられていることを特徴とする光磁気記録媒体。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至請求項5に記載の光磁気記
    録媒体において、 前記複数層の面内磁化層を構成する各面内磁化層は3n
    m以上の膜厚を有しており、 前記再生磁性層と前記記録磁性層との間の距離が60n
    m以下であることを特徴とする光磁気記録媒体。
  7. 【請求項7】 請求項1に記載の光磁気記録媒体から情
    報を再生する再生方法において、 前記再生磁性層及び前記複数層の面内磁化層を、前記臨
    界温度近傍以上に昇温することを特徴とする再生方法。
  8. 【請求項8】 請求項3に記載の光磁気記録媒体から情
    報を再生する再生方法において、 前記再生磁性層及び前記複数層の面内磁化層を、前記複
    数層の面内磁化層のキュリー温度以上に昇温することを
    特徴とする再生方法。
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