JP2001014700A - 光軸制御装置及び光ピックアップ - Google Patents

光軸制御装置及び光ピックアップ

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JP2001014700A
JP2001014700A JP11180735A JP18073599A JP2001014700A JP 2001014700 A JP2001014700 A JP 2001014700A JP 11180735 A JP11180735 A JP 11180735A JP 18073599 A JP18073599 A JP 18073599A JP 2001014700 A JP2001014700 A JP 2001014700A
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JP11180735A
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English (en)
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Kenji Yokoyama
健司 横山
Michio Miura
道夫 三浦
Yasumasa Sasahara
康正 笹原
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Yamaha Corp
Original Assignee
Yamaha Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光源の出射する光の光軸ずれを補正する。 【解決手段】 受光素子9は、光透過部と、その周囲に
配置される4つの受光面を有している。また、受光素子
9は、レーザーダイオード3の出射する光軸位置が所定
の位置にある場合に、出射光が光透過部を通過する位置
に配置されている。この構成の下、光軸がずれた場合、
受光素子9における光透過部の周囲に配置された受光面
に光が受光され、この受光結果に基づいて制御部2が光
軸制御装置8内のペルチェ素子を制御し、レーザーダイ
オード3を冷却するとともに、熱変形によりレーザーダ
イオード3を保持する部材を傾かせて光軸位置を補正す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光軸制御装置及び
光ピックアップに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、CD−R等の光ディスクの記録再
生装置に使用される光ピックアップにおいては、レーザ
ーダイオードより出射されたレーザービームを所定の光
学系を介して光ディスクに照射し、その反射光を受光す
ることにより受光結果を出力できるようになっている。
このような光ピックアップは、受光結果に基づいて対物
レンズがトラッキング方向及びフォーカス方向に移動さ
れて光ディスク上のピット列又はプリグループ上にレー
ザービームを照射できるようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うな光ピックアップでは、レーザーダイオードの出射す
る光の光軸の位置は、予め定められた位置となるように
組み立てられる。しかし、経時変化や外部からの衝撃等
によって光軸が傾いたり、大幅にずれてしまうこともあ
る。このように光軸がずれた場合、レーザービームを正
しい位置に照射できなくなり、誤動作の原因となってし
まう。
【0004】本発明は、上記の事情を考慮してなされた
ものであり、光源を移動させることにより、光源の出射
する光の光軸を補正することが可能な光軸制御装置、及
びこれを備えた光ピックアップを提供することを目的と
する。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の請求項1に記載の光軸制御装置は、光源
と、前記光源を保持する保持部材と、前記保持部材の位
置を移動させる調整手段と、前記光源の出射する光を透
過させる光透過部、および前記光透過部の周囲に設けら
れる受光素子を有する受光手段とを具備しており、前記
受光手段は、前記光源の出射する光の光軸が予め設定さ
れた位置にある場合に、前記光源の出射する光の光路中
に前記光透過部が位置するように固定配置されており、
前記調整手段は、前記受光手段の受光結果に基づいて、
前記光源の出射する光の光軸が前記設定された位置に来
るように前記保持部材を移動させて前記光源の光軸位置
を調整することを特徴としている。
【0006】また、請求項2に記載の光軸制御装置は、
請求項1に記載の光軸制御装置において、前記調整手段
は、電力を供給することにより温度制御が可能な熱制御
素子を有し、前記熱制御素子によって前記保持部材を熱
変形させることにより、前記保持部材を移動させること
を特徴としている。
【0007】また、請求項3に記載の光軸制御装置は、
請求項2に記載の光軸制御装置において、前記熱制御素
子を複数有し、前記複数の熱制御素子に供給される電力
は、前記光源の周囲を予め設定された温度範囲に維持す
るために要求される電力値である基準電力値を基準に前
記移動量に応じてそれぞれ増減され、かつ、前記複数の
熱制御素子に供給される電力の平均値は、前記基準電力
値に維持されていることを特徴としている。
【0008】また、請求項4に記載の光軸制御装置は、
請求項1に記載の光軸制御装置において、前記調整手段
は、前記保持部材と接する位置に設けられる圧電素子
と、前記圧電素子に供給する電力を制御する電力供給手
段とを有しており、電力を供給して前記圧電素子を変形
させることにより、前記保持部材を移動させることを特
徴としている。
【0009】また、請求項5に記載の光軸制御装置は、
請求項4に記載の光軸制御装置において、前記光源の発
する熱を放熱する放熱機構をさらに具備し、前記放熱機
構は、電力を供給することにより温度制御が可能な熱制
御素子を有していることを特徴としている。
【0010】また、請求項6に記載の光ピックアップ
は、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の光軸制御
装置を備えることを特徴としている。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について説明する。 A.第1実施形態 A−1.全体構成 まず、図1は本発明の第1実施形態に係る光ピックアッ
プの概略構成を示す図である。同図に示すように、この
光ピックアップ1は、CDやDVDなどの光ディスクの
記録再生装置に内蔵され、この記録再生装置の制御部
(調整手段)2により動作制御されるようになってい
る。
【0012】光ピックアップ1は、レーザービームLを
出射するレーザーダイオード(光源)3と、レーザービ
ームLを光ディスク4の情報記録面に集光する光学系5
と、反射光を受光する2つの受光素子6,7と、レーザ
ーダイオード3を搭載する光軸制御装置(調整手段)8
と、レーザービームLの光路中に配置される受光素子
(受光手段)9とを備えている。
【0013】A−2.光学系 光ピックアップ1において、レーザーダイオード3は、
制御部2により駆動されてレーザービームLを出射す
る。レーザーダイオード3から出射されたレーザービー
ムLは、偏向ビームスプリッタ10、コリメータレンズ
11、1/4波長板12、偏向ビームスプリッタ10a
を経た後、受光素子9を通過し、対物レンズ13により
光ディスク4の情報記録面に集光される。そして、光デ
ィスク4の情報記録面で反射されたレーザービームL
を、再び対物レンズ13、受光素子9、偏向ビームスプ
リッタ10a、1/4波長板12、コリメータレンズ1
1を透過させて、偏向ビームスプリッタ10で2方向に
反射させる。偏向ビームスプリッタ10に反射された光
の一方は、シリンドリカルレンズ14を経て受光素子6
に入射し、他方の光は受光素子7に入射するようになっ
ている。
【0014】対物レンズ13は、フォーカスアクチュエ
ータ15及びトラッキングアクチュエータ16によって
保持されており、レーザービームLの光軸方向及び光デ
ィスク4の半径方向に移動可能になされている。
【0015】A−3.光軸制御装置 図2は、光軸制御装置8の分解斜視図である。光軸制御
装置8は、ベースフレーム18と、ベースフレーム18
上にねじ24によって固定されるフレーム23と、フレ
ーム23の内部に配置されるリフレクタ22とを有して
いる。リフレクタ22は、シリコン、スチレン等の発砲
樹脂の表面にアルミニウム膜が形成された略八角形形状
の枠形状の部材であり、内部を外部から断熱すると共
に、内部で発生した輻射熱を反射して内部の温度を均一
に保つようになっている。
【0016】リフレクタ22の枠内には、4つのペルチ
ェ素子(熱制御素子)P1,P2,P3,P4、断熱シ
ート19、ペルチェホルダー20、4つのバイメタル2
1a,21b,21c,21d、レーザーダイオード3
および保持部材17が配置されている。
【0017】図2、図3および図4に示すように、レー
ザーダイオード3は、保持部材17の中央に形成された
貫通穴17aに嵌合されて取り付けられている。保持部
材17は、上述した貫通穴17aが形成される保持部1
7bと、保持部17bの四方(図3参照)に互いに間隔
を有する状態で配置される放熱部材17c,17d,1
7e,17fとを有しいる。放熱部材17c,17d,
17e,17fにおける保持部17bとの結合部は他の
部分よりも細く形成されている。このように各放熱部材
間に間隔を持たせることにより、各放熱部材17c,1
7d,17e,17f間での熱伝達が行われることを抑
制している。保持部材17としては、SUS(ステンレ
ス鋼)又は鉄等の高剛性の金属材料が用いられる。
【0018】保持部材17の放熱部材17c,17d,
17e,17fの下面には、それぞれ薄板状のバイメタ
ル21a,21b,21c,21dの上面が密着させら
れており、バイメタル21a,21b,21c,21d
の下面には、それぞれペルチェ素子P1,P2,P3,
P4が密着させられている。ペルチェ素子P1,P2,
P3,P4は、ベースフレーム18上に設けられてお
り、断熱材からなる断熱シート19およびペルチェホル
ダー20に形成された4つの挿入孔に嵌合されることに
より、各ペルチェ素子が位置決めされている。本実施形
態においては、ペルチェ素子P1,P2,P3,P4
は、レーザーダイオード3を中心とした90゜毎に配置
されるようになっている(図3参照)。
【0019】ペルチェ素子P1,P2,P3,P4は、
2つの電極間にp型の熱電材料とn型の熱電材料を一対
にした素子を多数個並べて構成され、電極間に電流を流
すことにより、一方の電極側で吸熱を行い、他方の電極
側で排熱をすることができる熱制御素子である。従っ
て、ペルチェ素子P1,P2,P3,P4に電流を供給
すれば、バイメタル21a,21b,21c,21dを
介して放熱部材17c,17d,17e,17fを冷却
してレーザーダイオード3を冷却することができるよう
になっている。
【0020】上述した配置構成の下、最上部に配置され
る保持部材17がベースフレーム18との間にバイメタ
ル21a,21b,21c,21dや断熱シート19等
を挟んだ状態でねじ25によりねじ止めされる。ねじ2
5の頭の部分と保持部材17の上面との間には、ばね2
6が設けられており、このばね26の付勢力により保持
部材17が下方に押し下げられて、保持部材17等が位
置決めされる。ここで、ペルチェ素子P1,P2,P
3,P4のいずれか1つ(ペルチェ素子P1とする)に
他のペルチェ素子よりも多く電流を供給した場合、上述
したようにペルチェ素子P1と密着するバイメタル21
aが他のバイメタルよりも冷却され、これによりバイメ
タル21aが他のバイメタルよりも収縮する。このよう
にバイメタル21aが他のバイメタルよりも収縮する
と、これに密着配置される放熱部材17cがばね26に
よって他の放熱部材よりも下方に押し下げられる。この
ため、保持部材17が放熱部材17c側に傾くことにな
る。このようにペルチェ素子P1,P2,P3,P4に
供給する電流を制御することにより、保持部材17を任
意の方向に傾かせることができ、保持部材17に保持さ
れたレーザーダイオード3の光軸を任意の方向に傾ける
ことができる。従って、光軸制御装置8は、レーザーダ
イオード3を冷却するとともに、レーザーダイオード3
の光軸を任意の方向に傾けることもできる。
【0021】A−4.制御構成 図1に戻り、この光ピックアップ1は、3つの受光素子
6,7,9を有し、これらの受光結果に基づいて、制御
部2が装置各部を制御するようになっている。受光素子
6は、光ディスク4の情報記録面からの光を受光し、受
光結果に応じた信号を制御部2に出力する。制御部2
は、この信号に基づいてフォーカスエラー信号、トラッ
キングエラー信号を生成して、フォーカスアクチュエー
タ15及びトラッキングアクチュエータ16に供給し、
トラッキング制御やフォーカス制御を行う。また、光デ
ィスク4に記録されたデータを再生する場合には、受光
素子6から送出される信号に基づいて、再生信号を生成
する。
【0022】受光素子7は、光ディスク4の情報記録面
からの反射光を受光し、受光結果に応じた信号を制御部
2に出力する。制御部2は、この信号に基づいてレーザ
ーダイオード3の出射するレーザービームLの強度を検
知する。制御部2は、この検知結果に基づいて、所定の
強度のレーザービームLがレーザーダイオード3から出
射されるように制御している。
【0023】次に、図5は受光素子9を示す平面図であ
る。同図においては、紙面垂直方向がレーザーダイオー
ド3の光軸方向とほぼ一致する。受光素子9は、光を透
過するガラス等から形成される基板90の面上に4つの
受光面91a,91b,91c,91dを配置した構成
となっている。受光面91a,91b,91c,91d
は、基板90の中央部分の周囲を覆うように配置されて
おり、これにより受光素子9の中央部分には光を透過す
る光透過部92が形成される。光透過部92は、受光素
子9が配置された位置におけるレーザービームLのビー
ム径φよりも若干大きくなされている。また受光素子9
は、レーザーダイオード3の光軸が予め設定された位置
にある場合に、光透過部92の中央をレーザービームL
が通過する位置に固定配置されている。各受光面91
a,91b,91c,91dからは、受光結果に応じた
信号が制御部2に送出される。従って、受光素子9で
は、光軸の適正位置である光透過部92の周囲に配置さ
れた受光面が受光することにより、光軸ずれを検出でき
るので、従来のトラッキング制御等に用いられる受光素
子よりも光軸ずれを広範囲にわたって検出することがで
きる。
【0024】制御部2は、受光素子9から送出される各
受光面91a,91b,91c,91dの受光結果に応
じた信号に基づいて、各ペルチェ素子P1,P2,P
3,P4に電流を供給し、レーザーダイオード3を傾け
て光軸ずれを補正する。ここで、各受光面91a,91
b,91c,91dから出力される信号をそれぞれ信号
a,b,c,dとすると、レーザーダイオードの発する
レーザービームが光透過部92の中央にある場合、次の
2式が成り立つことになる。 (a+b)−(c+d)=0 ……(1) (a+c)−(b+d)=0 ……(2)
【0025】ここで、(1)式は光ディスク4の円周方
向のほぼ中央にレーザービームが位置している場合の条
件を示し、(2)式は光ディスク4の半径方向のほぼ中
央にレーザービームが位置している場合の条件を示すも
のとする。従って、制御部2は、上記2つの式が成り立
つように各ペルチェ素子P1,P2,P3,P4に電流
を供給するようにすればよい。ここで、図6は、受光素
子9の各受光面から入力される信号に基づいて、各ペル
チェ素子に電力を供給する制御回路を示す。同図に示す
ように、この制御回路Cは、ペルチェ素子P1,P3
(光ディスク4の円周方向に配置されている)を制御す
る円周方向制御回路160および円周方向制御ドライバ
162と、ペルチェ素子P2,P4(光ディスク4の半
径方向に配置されている)を制御する半径方向制御回路
161および半径方向制御ドライバ163とを備えてい
る。
【0026】円周方向制御回路160は、受光面91a
に対応する出力信号aと受光面91bに対応する出力信
号bを加算し、加算信号S1(=a+b)を生成する。
また、円周方向制御回路160は、受光面91cに対応
する出力信号cと受光面91dに対応する出力信号dを
加算し、加算信号S2(=c+d)を生成する。
【0027】次に、円周方向制御回路160は、加算信
号S1から加算信号S2を減算し、オペアンプOA1で
位相制御した後、制御信号SC(=(a+b)−(c+
d))を生成する。
【0028】円周方向制御ドライバ162は、制御信号
SC及び温度センサDSの検出結果に基づいてペルチェ
素子P1及びP3に供給する電流を制御する。すなわ
ち、円周方向制御ドライバ162は、ペルチェ素子P1
に電流I+Iscを供給し、ペルチェ素子P3に電流I−
Iscを供給する。ここで、電流Iscは、制御信号SCが
ゼロになるような電流であり、電流Iは、保持部材17
の温度を計測する温度センサDSの出力結果に基づき設
定される電流である。これにより、保持部材17の温度
が一定の範囲内になるようにペルチェ素子P1及びP3
に供給する電流Iを制御する。さらに、制御信号SCが
ゼロになるようにペルチェ素子P1及びP3に供給する
電流を電流Iを基準に相補的に増減することにより、前
述したようにレーザービームLの光軸位置を光ディスク
4の円周方向に傾けることができる。このとき、ペルチ
ェ素子P1及びP3に供給する電流の平均値が電流Iで
あるので、レーザービームLの光軸位置を傾けるときで
も保持部材17を一定温度に維持することができる
【0029】半径方向制御回路161は、受光面91a
に対応する出力信号aと受光面91cに対応する出力信
号cを加算して加算信号S3(=a+c)を生成し、受
光面91bに対応する出力信号bと受光面91dに対応
する出力信号dを加算して、加算信号S4(=b+d)
を生成する。そして、半径方向制御回路161は、加算
信号S3から加算信号S4を減算して、オペアンプOA
2で位相制御した後、制御信号SR(=(a+c)−
(b+d))を生成する。
【0030】半径方向制御ドライバ163は、制御信号
SR及び温度センサDSの検出結果に基づいて、ペルチ
ェ素子P2及びP4に供給する電流を制御する。すなわ
ち、半径方向制御ドライバ162は、ペルチェ素子P2
に電流I+Isrを供給し、ペルチェ素子P4に電流I−
Isrを供給する。ここで、電流Isrは、制御信号SRが
ゼロになるような電流であり、電流Iは、前述したよう
に保持部材17の温度を計測する温度センサDSの出力
結果に基づき設定される電流である。これにより、保持
部材17の温度が一定の範囲内になるようにペルチェ素
子P2及びP4に供給する電流Iを制御するようになっ
ている。さらに、制御信号SRがゼロになるようにペル
チェ素子P2及びP4に供給する電流を電流Iを基準に
相補的に増減することにより、前述したようにレーザー
ビームLの光軸位置を光ディスク4の半径方向に傾ける
ことができる。このとき、ペルチェ素子P2及びP4に
供給する電流の平均値が電流Iであるので、レーザービ
ームLの光軸位置を傾けるときでも保持部材17を一定
温度に維持することができる。なお、円周半径方向制御
ドライバ162及び半径方向制御ドライバ163には、
直流−直流変換供給電源装置(DC−to−DCドライ
バ)、パルス幅変調(PWM)ドライバが適用される。
【0031】B.第2実施形態 次に、本発明の第2実施形態に係る光ピックアップにつ
いて説明する。第2実施形態においては、第1実施形態
における光軸制御装置8に代えて、図7及び図8に示す
光軸制御装置70を用いており、他の光学系5や受光素
子9等の構成は第1実施形態と同様である。
【0032】図7および図8に示すように、光軸制御装
置70は、レーザーダイオード3を保持するための保持
部材116を有している。保持部材116は、その形状
がほぼ四角錐台となるように形成されており、その中央
部には上下方向に貫通する保持孔101が形成されてい
る。この保持孔101内にレーザーダイオード3が配置
されており、レーザーダイオード3は、保持孔101か
ら上方に向けてレーザービームLを照射するようになっ
ている。
【0033】保持部材116は、固定配置されたフレー
ム102に形成された孔103内に配置されるようにな
っている。ここで、孔103は、ほぼ四角錐台状の保持
部材16の台形状の4つの斜面116a,116b,1
16c,116dにそれぞれ対向する斜面102a,1
02b,102c,102dを有しており、これら対向
する斜面間にそれぞれ圧電素子P1,P2,P3,P4
が配置されている。ここで、各圧電素子は、保持部材1
16およびフレーム102の両斜面に密着させられた状
態で固着されている。
【0034】フレーム102の上面には、押さえバネ1
04の一端が固定されている。押さえバネ104の自由
端は保持部材116の上面に押圧接触しており、押さえ
バネ104により保持部材116は下方側に付勢されて
いる。フレーム102の下面側には、基板105が設け
られており、この基板105上の配線パターンと各圧電
素子E1,E2,E3,E4およびレーザーダイオード
3が電気的に接続されている。
【0035】各圧電素子E1,E2,E3,E4は、制
御部2(図1参照)からの印加電圧値に応じて変形す
る。この変形により各圧電素子E1,E2,E3,E4
と密着している保持部材116が押さえバネ104の付
勢力に抗して移動させられる。ここで、図9は光軸制御
装置70を示す平面図である。同図に示すように、各圧
電素子E1,E2,E3,E4がレーザーダイオード3
を中心として90゜毎に配置されており、圧電素子E
1,E3は光ディスク4の円周方向に配列され、圧電素
子E2,E4は光ディスク4の半径方向に配列されてい
る。同図において、レーザーダイオード3の光軸補正の
ために図の左側(光ディスク4の半径方向)にレーザー
ダイオード3を傾ける場合には、図の右側に配置された
圧電素子E4に傾ける量に応じた電圧を印加すれば、圧
電素子E4が変形して保持部材116の斜面116dを
押し上げる。これにより、図10に示すように保持部材
116が図中左側である圧電素子E2側に傾き、これに
保持されたレーザーダイオード3が傾くようになってい
る。なお、図10においては、保持部材116の傾きを
明確化するために、実際よりもその傾きを大きく示して
いる。また、圧電素子E3,E4に電圧を印加すれば、
保持部材116を図9の左下側に傾けることができる。
このように光軸制御装置70では、圧電素子E1,E
2,E3,E4を選択的、かつ傾ける量に応じた電圧値
を印加すれば、任意の方向に保持部材116を傾けてレ
ーザーダイオード3の光軸位置を補正することができ
る。
【0036】この構成の下、上述した第1実施形態と同
様に、受光素子9(図1及び図5参照)の各受光面91
a,91b,91c,91dからの信号a,b,c,d
に基づいて、制御部2が圧電素子E1,E2,E3,E
4に印加する電圧値を制御すれば、上述した第1実施形
態と同様にレーザーダイオード3を傾けて光軸ずれを補
正することができる。
【0037】C.変形例 なお、本発明は、上述した第1および第2実施形態に限
定されるものではなく、以下のような種々の変形が可能
である。
【0038】(1)上述した第1および第2実施形態に
おいては、受光素子9の光透過部92が正方形状になさ
れていたが、これに限らず、例えば図11(a)に示す
ように、光透過部92を円形にするようにしてもよい。
また、図11(b)に示すような形状の受光面91a,
91b,91c,91dを配置して光透過部92を形成
するようにしてもよい。また、受光面は5つ以上設ける
ようにしてもよいし、3つ以下であってもよい。
【0039】(2)上述した第2実施形態において、記
録速度等の高速化を実現するために強いレーザービーム
を出射するレーザーダイオード3を使用した場合、レー
ザーダイオード3の発熱量が増大し、この熱に起因して
レーザーダイオード3が誤動作を生じることがある。
【0040】このような場合、上述した実施形態に加え
て、図12に示すような放熱機構を設け、レーザーダイ
オード3の発熱による誤動作を低減するようにしてもよ
い。同図に示すように、保持部材116の上面にほぼ直
方体状の放熱ブロック201が配置されている。放熱ブ
ロック201としては、アルミニウムや銅などの熱伝導
性に優れた材質のものが用いられる。また、放熱ブロッ
ク201は、保持部材16に形成された保持孔101と
同軸状に形成される孔202を有しており、レーザーダ
イオード3のレーザービームは、この孔202を通過し
て上方に向けて出射される。
【0041】放熱ブロック201の側面の周囲には、内
側から順番に放熱シート203、熱制御素子204が配
置されており、この熱制御素子204が筐体205に取
り付けられている。熱制御素子204はペルチェ素子等
であり、図示せぬドライバーから電力が供給されること
により、放熱シート203を冷却する。放熱シート20
3は熱伝導性に優れ、かつ弾性を有するシリコンゴム等
であり、熱制御素子204と放熱ブロック201との間
で熱を効率よく伝達する。また、圧電素子E1,E2,
E3,E4によって保持部材116が傾けられた場合に
も、放熱シート203が弾性変形することにより、保持
部材116の傾きを許容することができる。
【0042】この構成の下、レーザーダイオード3がレ
ーザービームを出射することにより、発熱すると、その
熱が保持部材116、放熱ブロック201、放熱シート
203、および熱制御素子204に効率よく伝達され、
筐体205において放熱される。ここで、フレーム10
2としては、熱伝導率の小さいプラスチック等を用いれ
ば、レーザーダイオード3の発した熱のより多くが放熱
ブロック201に伝達され、さらに効率のよい放熱を行
うことができる。
【0043】(3)また、上述した第1および第2実施
形態においては、レーザービームLの光軸位置を傾けて
光軸位置を移動させる場合について述べたが、本発明は
これに限らず、ペルチェ素子または圧電素子を保持部材
の側面に複数配置して、レーザーダイオード3を平行移
動させてレーザービームLの光軸位置を移動させるよう
にしてもよい。例えば、図13〜図15に示すような構
成の光軸制御装置を用いるようにしてもよい。
【0044】図13に示すように、この光軸制御装置
は、ヒートシンク131と、ヒートシンク131上に配
置される四角筒状の断熱ケース132とを有している。
ヒートシンク131上における断熱ケース132の内部
には、放熱シート133、ペルチェ素子P1,P2,P
3,P4、バイメタル134a,134b,134c,
134d、ペルチェホルダー135、断熱プレート13
6、レーザーダイオード3およびアクチュエータプレー
ト137が配置されている。
【0045】図13,図14および図15に示すよう
に、レーザーダイオード3は、銅、アルミニウム、鉄ま
たはSUS等の金属からなるアクチュエータプレート1
37の中央に形成された貫通穴137aに嵌合されて取
り付けられている。アクチュエータプレート137は、
上述した貫通穴137aが形成される保持部137b
と、保持部137bの四方に延出する伝熱部材137
c,137d,137e,137fとを有している。
【0046】伝熱部材137c,137d,137e,
137fの内面側には、それぞれバイメタル134a,
134b,134c,134dが配置されており、バイ
メタル134a,134b,134c,134dの内面
側には、それぞれペルチェ素子P1,P2,P3,P4
が配置されている。ペルチェ素子P1,P2,P3,P
4は、ペルチェホルダー135の四面に形成された嵌合
部にそれぞれ嵌合されており、これにより各ペルチェ素
子が位置決めされている。ペルチェ素子P1,P2,P
3,P4に電流を供給すれば、バイメタル134a,1
34b,134c,134dを介して伝熱部材137
c,137d,137e,137fを冷却してレーザー
ダイオード3を冷却することができるようになってい
る。
【0047】この構成の下、上述した実施形態と同様
に、対向配置されるペルチェ素子P1,P3およびペル
チェ素子P2,P4に供給する電流値を調整すれば、対
向配置されるバイメタル134a,134cおよびバイ
メタル134b,134dの変位量が異なることにな
る。これにより、レーザーダイオード3を保持するアク
チュエータプレート137を水平方向(図15の左右方
向)に平行移動させることができる。なお、図14にお
いては、断熱ケース132内部の構成を示すために、ペ
ルチェホルダー135を省略している。
【0048】(4)また、上述した第1および第2実施
形態においては、光軸制御装置を光ピックアップの光軸
制御に使用する場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、光増幅器やレーザーダイオード以外の光源を有
する機器に広く使用することができる。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
受光手段の受光結果に基づいて光源の位置を移動させる
ことができ、光源の出射光の光軸ずれを自動的に補正す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施形態に係る光ピックアップ
の概略構成を示す図である。
【図2】 前記光ピックアップの構成要素である光軸制
御装置の分解斜視図である。
【図3】 前記光軸制御装置を示す平面図である。
【図4】 図3のIV−IV線に沿って視た図である。
【図5】 前記光ピックアップ1の構成要素である受光
素子を示す平面図である。
【図6】 前記受光素子の受光結果に基づいて、光軸補
正および温度制御を行う制御回路を示す回路図である。
【図7】 本発明の第2実施形態に係る光ピックアップ
の構成要素である光軸制御装置の分解斜視図である。
【図8】 第2実施形態に係る光ピックアップの前記光
軸制御装置を示す側断面図である。
【図9】 第2実施形態に係る光ピックアップの前記光
軸制御装置を示す平面図である。
【図10】 第2実施形態に係る光ピックアップの前記
光軸制御装置により光軸補正時の状態を示す側断面図で
ある。
【図11】 第1及び第2実施形態に係る光ピックアッ
プの変形例の受光素子を示す平面図である。
【図12】 第2実施形態に係る光ピックアップの変形
例の光軸制御装置を示す側断面図である。
【図13】 第1実施形態に係る光ピックアップの他の
変形例の光軸制御装置の分解斜視図である。
【図14】 第1実施形態に係る光ピックアップの他の
変形例の光軸制御装置を示す平面図である。
【図15】 図14のXV−XV線に沿ってみた図である。
【符号の説明】
1……、2……制御部(調整手段)、3……レーザーダ
イオード(光源)、4……光ディスク、5……光学系、
6……受光素子、7……受光素子、8……光軸制御装置
(調整手段)、9……受光素子(受光手段)、17……
保持部材、70……光軸制御装置、116……保持部
材、E1〜E4……圧電素子、L……レーザービーム、
P1〜P4……ペルチェ素子(熱制御素子)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 笹原 康正 静岡県浜松市中沢町10番1号 ヤマハ株式 会社内 Fターム(参考) 2H043 AD03 AD11 AD20 5D118 AA13 BA01 CD04 DC09 EA11 5D119 AA28 BA01 EC15 FA35 FA37 LB06

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と、 前記光源を保持する保持部材と、 前記保持部材の位置を移動させる調整手段と、 前記光源の出射する光を透過させる光透過部、および前
    記光透過部の周囲に設けられる受光素子を有する受光手
    段とを具備しており、 前記受光手段は、前記光源の出射する光の光軸が予め設
    定された位置にある場合に、前記光源の出射する光の光
    路中に前記光透過部が位置するように固定配置されてお
    り、 前記調整手段は、前記受光手段の受光結果に基づいて、
    前記光源の出射する光の光軸が前記設定された位置に来
    るように前記保持部材を移動させて前記光源の光軸位置
    を調整することを特徴とする光軸制御装置。
  2. 【請求項2】 前記調整手段は、電力を供給することに
    より温度制御が可能な熱制御素子を有し、 前記熱制御素子によって前記保持部材を熱変形させるこ
    とにより、前記保持部材を移動させることを特徴とする
    請求項1に記載の光軸制御装置。
  3. 【請求項3】 前記熱制御素子を複数有し、 前記複数の熱制御素子に供給される電力は、前記光源の
    周囲を予め設定された温度範囲に維持するために要求さ
    れる電力値である基準電力値を基準に前記移動量に応じ
    てそれぞれ増減され、かつ、前記複数の熱制御素子に供
    給される電力の平均値は、前記基準電力値に維持されて
    いることを特徴とする請求項2に記載の光軸制御装置。
  4. 【請求項4】 前記調整手段は、前記保持部材と接する
    位置に設けられる圧電素子と、前記圧電素子に供給する
    電力を制御する電力供給手段とを有しており、 電力を供給して前記圧電素子を変形させることにより、
    前記保持部材を移動させることを特徴とする請求項1に
    記載の光軸制御装置。
  5. 【請求項5】 前記光源の発する熱を放熱する放熱機構
    をさらに具備し、 前記放熱機構は、電力を供給することにより温度制御が
    可能な熱制御素子を有していることを特徴とする請求項
    4に記載の光軸制御装置。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至請求項5のいずれかに記載
    の光軸制御装置を備えることを特徴とする光ピックアッ
    プ。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100442016B1 (ko) * 2000-09-27 2004-07-30 히다치 글로벌 스토리지 테크놀로지스 네덜란드 비.브이. 디스크 드라이브 시스템 및 하드 디스크 드라이브
KR100467840B1 (ko) * 2002-05-22 2005-01-24 삼성전기주식회사 광 픽업의 레이저 다이오드 조정장치
JP2005239683A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Taisho Pharmaceut Co Ltd 眼科用剤
JP2013018797A (ja) * 2012-10-31 2013-01-31 Taisho Pharmaceutical Co Ltd 眼科用剤

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100442016B1 (ko) * 2000-09-27 2004-07-30 히다치 글로벌 스토리지 테크놀로지스 네덜란드 비.브이. 디스크 드라이브 시스템 및 하드 디스크 드라이브
KR100467840B1 (ko) * 2002-05-22 2005-01-24 삼성전기주식회사 광 픽업의 레이저 다이오드 조정장치
JP2005239683A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Taisho Pharmaceut Co Ltd 眼科用剤
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