JP2001006356A - セルフ・リフレッシュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制御方法 - Google Patents

セルフ・リフレッシュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制御方法

Info

Publication number
JP2001006356A
JP2001006356A JP11173005A JP17300599A JP2001006356A JP 2001006356 A JP2001006356 A JP 2001006356A JP 11173005 A JP11173005 A JP 11173005A JP 17300599 A JP17300599 A JP 17300599A JP 2001006356 A JP2001006356 A JP 2001006356A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
refresh
self
binary counter
circuit
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11173005A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuji Muraoka
裕二 村岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority to JP11173005A priority Critical patent/JP2001006356A/ja
Publication of JP2001006356A publication Critical patent/JP2001006356A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 セルフ・リフレッシュに入る前と後に全ワー
ド線分の集中リフレッシュを実施しなければホ−ルドを
保障できず、それによる余分な電流を消費してしまって
いた。 【解決手段】 セルフ・リフレッシュに入った際のアド
レスがセルフ・リフレッシュ中に繰り返された時、即ち
全ワード線分のリフレッシュが完了するたびにI/O端
子に高電位を出力する。この高電位をメモリコントロー
ラが認識できてセルフ・リフレッシュから抜け出る事が
可能であれば、全てのワード線が少なくともリフレッシ
ュされているので、セルデータの破壊も起こらない。従
って、セルフ・リフレッシュ後の全ワード集中リフレッ
シュが不要となって余分な集中リフレッシュ分の消費電
流を削減できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、セルフ・リフレッ
シュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制御方法に関
し、特に、ダイナミックRAMに使用して好適なセルフ
・リフレッシュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制
御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体メモリのセルフ・リフレッシュは
低消費電流を特徴としており、ホールド期間中のセルの
データを保持できる事から常用される機能である。図5
は従来のセルフ・リフレッシュ方法における回路構成の
要部を示す図である。この従来例は、CBR(Cas
Before Ras)を行うタイミングを指示する信
号を出力するCBR判定回路900と、CBR判定信号
CBRを受けて起動してセルフ・リフレッシュを行うタ
イミングを指示するセルフ・リフレッシュタイマ−回路
901を備えている。
【0003】また、CBRリフレッシュ及びセルフ・リ
フレッシュにてリフレッシュを行うアドレスは、内部バ
イナリカウンタ回路903の出力にて指示されるように
なっている。図6,7はこのセルフ・リフレッシュ方法
における動作を示すタイミングチャートであり、図6は
集中リフレッシュのないタイミングチャート、図7はC
BRリフレッシュサイクルによる集中リフレッシュを入
れたタイミングチャートを示している。
【0004】図6のRead/Writeサイクルにお
いては、当初CBR判定信号が低電位のためA0〜A3
より入力された外部アドレス信号「a」,「a+1」,
「a+2」が内部回路に取り込まれる。このとき、バイ
ナリカウンタ回路は全く動作せず「n−1」を維持する
ようになっている。セルフ・リフレッシュはRAS降下
時であり、CASレベルが低電位のときにCBR判定信
号CBRが高電位になり起動する。これによりCKCB
Rが活性化し、それに伴いバイナリカウンタが「n−
1」からカウントアップされ「n」となり、その「n」
が内部アドレスとして取り込まれ「n」のワード線がリ
フレッシュされる。
【0005】RAS/CASの低電位状態がある期間継
続されると図5のセルフ・リフレッシュタイマ−回路が
活性化し、CKSELFが動作してバイナリカウンタが
「n」からカウントアップされて「n+1」となり、そ
のワード線がリフレッシュされる。セルフ・リフレッシ
ュはRAS/CASが低電位の期間中継続され、CKS
ELFに同期してバイナリカウンタがインクリメントさ
れ「n+2」,「n+3」・・・の順でリフレッシュさ
れる。
【0006】このとき、前サイクルのRead/Wri
teが「a」,「a+1」,「a+2」のようにインク
リメントアクセスしていると次のアドレスである「a+
3」は最もホールド状態が長いアドレスとなる。しか
し、バイナリカウンタが外部アドレスと関係なく決まっ
ているので、リフレッシュ期間中はどこのワード線がリ
フレッシュされるかは分からない。すなわち、「a+
3」のデータが破壊される恐れがある。これはセルフ・
リフレッシュから抜けてRead/Writeに移行す
る時も同様である。
【0007】そこで、このような現象を防ぐため、図7
に示すようにRead/Writeサイクルとセルフ・
リフレッシュの間にCBRリフレッシュを挿入し全ワー
ド線分集中リフレッシュを行っている例もある。集中リ
フレッシュでも最初にリフレッシュされるワード線
「n」は、前Read/Writeサイクルで使われた
「a+2」に依存しない。
【0008】しかし、この場合はセルフ・リフレッシュ
のようにリフレッシュ間隔が長くなく、最小時間のサイ
クルタイムでリフレッシュされるため「a+3」がどこ
でリフレッシュされてもセルデータが破壊されるほどホ
ールド時間は長くない。また、集中リフレッシュ後、実
行されるセルフ・リフレッシュはCBRと同一のバイナ
リーカウンタを使用しているため「前リフレッシュアド
レス+1」のアドレス、すなわち最もホールド状態の長
いアドレスからリフレッシュされるため、セルフ・リフ
レッシュ期間中のセルデータの破壊は起こらない。
【0009】さらに、ダイナミックRAMのリフレッシ
ュ方式は従来から様々な方式が提案されており、例え
ば、特開昭61−283095号公報に開示されている
ような技術が知られている。この特開昭61−2830
95号公報に開示されている技術においては、リフレッ
シュとRead/Writeがぶつかることがないよう
に、一度リフレッシュの要求があった後の一定時間はR
ead/Writeの要求を受け付けないようになって
いる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のセルフ
・リフレッシュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制
御方法においては、次のような課題があった。すなわ
ち、最初にリフレッシュされるべきワード線はそれまで
のサイクルで最もホールド状態の長かったワード線であ
るべきである。また、セルフ・リフレッシュサイクルか
ら抜けた際においても最初にWrite/Readされ
るべきワード線は最もホールド状態の長いワード線であ
るべきである。
【0011】しかし、前者のセルフ・リフレッシュ方式
では内部カウンタが外部アドレスと無関係に決まり出力
されるため、セルフ・リフレッシュに入って最初にリフ
レッシュされるワード線は不明である。したがって、何
もせずにセルフ・リフレッシュに入るもしくは抜ける
と、ホールド状態が一番長いワード線が後回しにされる
可能性がある。
【0012】ここで、セルフ・リフレッシュは低消費電
流を実現させるため、リフレッシュの間隔が長い。した
がって、ホールド状態が長いワード線はデータを保持で
きなくなりホールド不良を起こす可能性がある。後者の
セルフ・リフレッシュ方式はこれを防ぐためセルフ・リ
フレッシュに入る前と抜けた後はRASオンリー(RO
R)またはCBRにより全ワード分集中してリフレッシ
ュを行っていた。
【0013】しかし、上述したように、セルフ・リフレ
ッシュでは、内部カウンタにより次々とワード線を内部
で選択していくので内部制御が簡単ではあるが、低消費
電流を本来の目的として掲げている割には、セルフ・リ
フレッシュに入る前と後に全ワード線分の集中リフレッ
シュを実施しなければホールドを保障できず、それによ
る余分な電流を消費するという欠点があった。
【0014】また、特開昭61−283095号公報に
開示された技術においては、リフレッシュ要求を一定間
隔で発生させたとき、余分なリフレッシュによる処理能
力の低下をなくすことができるので、システム全体とし
ての処理能力が向上する。しかし、上述のようなセルフ
・リフレッシュにおいては、Read/Writeとリ
フレッシュ要求がぶつかるはずはなく、セルフ・リフレ
ッシュの消費電力低減等の問題を解決することはできな
い。
【0015】本発明は、上記課題にかんがみてなされた
もので、余分な処理動作を省き、消費電力を低減するこ
とが可能なセルフ・リフレッシュ制御回路およびセルフ
・リフレッシュ制御方法を提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1にかかる発明は、所定の動作タイミングを
指示するタイマー回路と、このタイマー回路の指示する
タイミングで動作し、セルフ・リフレッシュで使用する
ROWアドレスを決定する内部バイナリカウンタと、セ
ルフ・リフレッシュ開始時の内部バイナリカウンタの値
とセルフ・リフレッシュ実行中の内部バイナリカウンタ
の値とを比較するカウンタ比較手段と、このカウンタ比
較手段が比較するセルフ・リフレッシュ開始時と実行中
の内部バイナリカウンタ値が同じ値になったときに外部
I/O端子に対して集中リフレッシュが不要であること
を意味する所定の電位を出力する電位出力手段とを具備
する構成としてある。
【0017】すなわち、ダイナミックラムは、通常1ビ
ットを記憶するためのトランジスタおよびコンデンサ等
からなり、それぞれのビットはRowアドレスおよびC
olumnアドレスを指定することにより選択される。
セルフ・リフレッシュにおいて、最もホールド状態の長
いワード線を最初にリフレッシュし、さらに、全てのワ
ード線がリフレッシュされたことが分かれば、セルフ・
リフレッシュ後のCBRを省略することができる。
【0018】このため、タイマー回路は所定の動作タイ
ミングを指示する回路であり、内部バイナリカウンタは
このタイマー回路の指示するタイミングで動作してセル
フ・リフレッシュで使用するROWアドレスを決定す
る。カウンタ比較手段は、セルフ・リフレッシュ開始時
の内部バイナリカウンタの値とセルフ・リフレッシュ実
行中の内部バイナリカウンタの値とを比較する。電位出
力手段は、このカウンタ比較手段が比較するセルフ・リ
フレッシュ開始時と実行中の内部バイナリカウンタ値が
同じ値になったときに、外部I/O端子に対して集中リ
フレッシュが不要であることを意味する所定の電位を出
力する。
【0019】したがって、メモリコントローラ側でこの
所定の電位を認識できた場合には全ワード線がリフレッ
シュされたとみなすことができ、セルフ・リフレッシュ
後のCBRが不要となって余分な消費電力が削減され
る。ここで、タイマー回路は、メモリに対して集中リフ
レッシュおよびセルフ・リフレッシュを行うための所定
のタイミングを指示することができればよく、様々な構
成が考えられる。
【0020】その構成の一例として、請求項2にかかる
発明は、請求項1に記載のセルフ・リフレッシュ制御回
路において、上記タイマー回路が、集中リフレッシュ時
に内部バイナリカウンタの動作タイミングを指示する集
中リフレッシュ駆動信号出力回路と、セルフ・リフレッ
シュ時に内部バイナリカウンタの動作タイミングを指示
するセルフ・リフレッシュ駆動信号出力回路とを具備す
る構成としてある。
【0021】すなわち、集中リフレッシュ時とセルフ・
リフレッシュ時とに内部バイナリカウンタの値を使用し
てROWアドレスを決定するので、この内部バイナリカ
ウンタを所望のタイミングで駆動できるように構成す
る。このため、タイマー回路は、集中リフレッシュ駆動
信号出力回路と、セルフ・リフレッシュ駆動信号出力回
路を具備している。そして、集中リフレッシュ駆動信号
出力回路は集中リフレッシュ時に内部バイナリカウンタ
の動作タイミングを指示し、セルフ・リフレッシュ駆動
信号出力回路はセルフ・リフレッシュ時に内部バイナリ
カウンタの動作タイミングを指示するようになってい
る。
【0022】また、カウンタ比較手段は、セルフ・リフ
レッシュ開始時の内部バイナリカウンタの値とセルフ・
リフレッシュ実行中の内部バイナリカウンタの値とを比
較することができればよい。その構成の一例として、請
求項3にかかる発明は請求項1または請求項2に記載の
セルフ・リフレッシュ制御回路において、上記カウンタ
比較手段が、セルフ・リフレッシュ開始時の内部バイナ
リカウンタの値をラッチする開始アドレスラッチ回路を
具備し、この開始アドレスラッチ回路がラッチした値と
セルフ・リフレッシュ実行中の内部バイナリカウンタの
値とを比較する構成としてある。
【0023】すなわち、カウンタ比較手段は、開始アド
レスラッチ回路を具備しており、この開始アドレスラッ
チ回路はセルフ・リフレッシュ開始時の内部バイナリカ
ウンタの値をラッチする。そして、この開始時のラッチ
値とセルフ・リフレッシュ実行中の内部バイナリカウン
タの値とを比較するようにすればセルフ・リフレッシュ
の開始時と実行中のアドレスを比較することができる。
【0024】このように、ラッチした値と実行中の内部
バイナリカウンタの値とを比較するための構成も様々で
あり、その構成の一例として請求項4にかかる発明は、
請求項3に記載のセルフ・リフレッシュ制御回路におい
て、上記カウンタ比較手段が、開始アドレスラッチ回路
の所定ビット出力と、対応する実行中の内部バイナリカ
ウンタの所定ビット出力とを入力とするEXNOR回路
を具備し、このEXNOR回路の出力が全てのビットに
わたって等しくなったときに所定の出力を行うように組
み合わせたAND回路を具備する構成としてある。
【0025】すなわち、カウンタ比較手段はEXNOR
回路とAND回路とを具備している。EXNOR回路
は、開始アドレスラッチ回路の所定ビット出力と、対応
する実行中の内部バイナリカウンタの所定ビット出力と
を入力とし、AND回路は、このEXNOR回路の出力
が全ての回路にわたって等しくなったときに所定の出力
を行うように組み合わされている。EXNOR回路は、
開始アドレスラッチ回路の所定ビット出力と対応する実
行中の内部バイナリカウンタの所定ビット出力とが入力
されるので、これらの値が同一のとき、すなわち、開始
アドレスの所定ビットと実行中の対応するビットが同一
の値になったときに「1」を出力する。そして、これら
の出力をAND回路に入力することにより、全てのビッ
トが同一、すなわち、開始アドレスと実行中アドレスと
が同一となるときに組み合わされたAND回路から
「1」が出力され、これらの比較が行われる。
【0026】さらに、カウンタ比較回路の構成は様々で
あり、他の構成例として請求項5にかかる発明において
は、請求項1または請求項2に記載のセルフ・リフレッ
シュ制御回路において、上記カウンタ比較手段が、上記
内部バイナリカウンタより一ビット多いビット数のバイ
ナリカウンタを具備しており、セルフ・リフレッシュ開
始後にこのバイナリカウンタをカウントアップするとと
もに、このバイナリカウンタの最上位ビット出力によっ
てセルフ・リフレッシュ開始時と実行中の内部バイナリ
カウンタ値が同じ値であるか否かを判別する構成として
ある。
【0027】すなわち、カウンタ比較手段は、内部バイ
ナリカウンタより一ビット多いビット数のバイナリカウ
ンタを具備しており、セルフ・リフレッシュ開始後にこ
のバイナリカウンタをカウントアップする。この結果、
このバイナリカウンタの最上位ビット出力が「1」にな
ったときにセルフ・リフレッシュ開始時と実行中の内部
バイナリカウンタ値が同じ値になったと判別することが
できる。
【0028】このように、セルフ・リフレッシュ開始時
と実行中との内部カウンタ値を比較して、その後の集中
リフレッシュを省略する手法は方法の発明として捉える
ことも可能である。そこで、請求項6にかかる発明は、
内部バイナリカウンタの出力をROWアドレスとして使
用しつつセルフ・リフレッシュを行うセルフ・リフレッ
シュ制御方法であって、所定のタイミングで内部バイナ
リカウンタを動作させつつ、セルフ・リフレッシュ開始
時の内部バイナリカウンタの値とセルフ・リフレッシュ
実行中の内部バイナリカウンタの値とを比較し、この比
較値が同じ値になったときには外部I/O端子に対して
所定の電位を出力して集中リフレッシュを不要にする構
成としてある。すなわち、必ずしも実体のある装置に限
らず、その方法としても有効であることに相違はない。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、図面にもとづいて本発明の
実施形態を説明する。図1は本発明のセルフ・リフレッ
シュ制御回路を示す回路図であり、図1(a)はCBR
判定回路とCBR判定信号CBRを受けて起動するセル
フ・リフレッシュタイマ−回路を示している。以下/R
AS信号などど記した場合の「/」はローレベルでアク
ティブであることを示しており、図においてはRASの
文字の上にバーが記してある。
【0030】同図において、CBR判定回路100は/
RAS信号と/CAS信号とを入力として、これらの/
RAS信号と/CAS信号とがともにローレベルである
ときにCBR信号およびCKCBR信号が出力される。
この出力信号は分岐されてセルフ・リフレッシュタイマ
ー回路に入力されるようになっている。このセルフ・リ
フレッシュタイマー回路110は、セルフ・リフレッシ
ュを開始したときに所定のタイミングでクロッキングし
た信号であるCKSELF信号と、この開始時のアドレ
ス値を保持させるための信号であるSELF信号とを出
力するようになっている。
【0031】図1(b)は内部バイナリカウンタ200
の回路図を示しており、同図において、内部バイナリカ
ウンタ200は4つのD−FFにて構成され、上述のC
KCBR信号とCKSELF信号とがNOR回路および
インバータ回路を介して最下桁のCK端子に入力され
る。すなわち、内部バイナリカウンタ200は、CKC
BR信号もしくはCKSELF信号のパルスが入力する
個数をカウントする構成となっている。また、本実施形
態では、この内部バイナリカウンタ200の出力は下の
桁からC0〜C3とされており、CBR及びセルフ・リ
フレッシュ時にリフレッシュするワード線を決定する。
【0032】上述のSELF信号は図1(c)に示すラ
ッチ回路300に入力される。同図において、このラッ
チ回路300は、4つのD−FFからなるレジスタであ
り、同期パルスとしてSELF信号が入力されることに
より、そのときの内部バイナリカウンタ200の各ビッ
トC0〜C3の値をラッチするようになっている。すな
わち、このラッチした値がセルフ・リフレッシュ開始時
のアドレス値であり、この実施形態ではFC0〜FC3
とされている。このFC0〜FC3と内部バイナリカウ
ンタ200の出力値C0〜C3とは、図1(d)に示す
これらの値を比較するための回路に入力される。
【0033】同図において、C0〜C3のそれぞれにF
C0〜FC3が対応しており、これらの対応する二値を
一組としてEXNOR回路400a〜dに入力される。
これらのEXNOR回路400a〜dの出力はAND回
路410に入力される。このAND回路410は複数の
AND回路から構成されており、EXNOR回路400
a〜dの全ての出力が「1」であるときに端子Gに
「1」が出力されるように配線される。また、これらの
AND回路の入力の一つはCKSELF信号となってい
るので、このCKSELF信号に同期してC0〜C3と
FC0〜FC3が比較される構成となっている。
【0034】この比較の結果、端子Gに「1」が出力さ
れると、この出力は図1(e)に示す回路に入力され、
この回路のI/O端子に高電位を出力するようになって
いる。そして、このI/O端子に高電位を出力している
ときにメモリコントローラ側が認識してセルフ・リフレ
ッシュ後の集中リフレッシュを行わないようになってい
る。
【0035】以下、このような構成における動作を図2
に示すタイミングチャートに沿って説明する。同図にお
いて、セルフ・リフレッシュに入る前は、/RAS信号
と/CAS信号とがともにローレベルであるときにCK
CBR信号が出力され、このCKCBR信号によって内
部バイナリカウンタ200がカウントアップされる。図
2では、「n−3」から「n−1」までカウントした状
態を示している。その後、セルフ・リフレッシュに入る
とセルフ・リフレッシュタイマ−回路が動作してSEL
F信号を出力するとともにCKSELF信号のクロッキ
ングを始める。ここで、CKSELF信号の周期がセル
フ・リフレッシュの際のリフレッシュ周期である。
【0036】このとき、SELF信号が出力されること
によりラッチ回路300が駆動して、CKSELFが最
初にクロッキングした際の内部バイナリカウンタ200
の値「n」を保持する。内部バイナリカウンタ200で
カウントを行いつつセルフ・リフレッシュを行い、再び
内部バイナリカウンタ200の値が「n」になると、A
ND回路410の端子Gの出力が「1」になるので、図
1(e)に示すI/O端子が高電位になる。したがっ
て、この後に集中リフレッシュが行われることがなくな
って余分な電力消費を防ぐことができる。
【0037】この実施形態ではセルフ・リフレッシュ開
始時と実行中の内部バイナリカウンタ値を比較するため
に、EXNOR回路とAND回路とを構成したが、必ず
しもこのような構成にする必要があるわけではなく、様
々な構成が可能である。図3は本発明の他の実施形態を
示している。本実施形態では、セルフ・リフレッシュに
入った際の内部バイナリカウンタ値を保持する回路が、
セルフ・リフレッシュ中のリフレッシュ回数をカウント
する回路であるバイナリカウンタ310になっている。
また、内部バイナリカウンタ値と保持値を比較する回路
が、バイナリカウンタ310の最上位ビットが1になる
とワンショット的に活性化する信号Gを発生する回路に
なっている。
【0038】同図(a),(b),(e)は上述の実施
形態と同様な構成になっている。同図(c)は、5つの
D−FFからなるバイナリカウンタ310であり、上記
ワンショット的に活性化する信号GとSELF信号とに
よりリセットが可能であるとともに、CKSELF信号
のパルスをCK端子の入力としてこのパルスをカウント
する。このバイナリカウンタ310のD−FFは、内部
バイナリカウンタ200より1ビット分多い。したがっ
て、バイナリカウンタ310を内部バイナリカウンタ2
00のカウント開始と同時に駆動すると、内部バイナリ
カウンタ200の値が循環して再び開始時の値と同一と
なったときに最上位ビット出力F0が「1」になる。
【0039】また、この最上位ビット出力F0は図3
(d)に示す回路420に入力されるようになってお
り、最上位ビット出力F0が「1」になるとワンショッ
ト的に活性化する信号Gを発生する。この結果、本実施
形態においても図3(e)に示す回路のI/O端子出力
が高電位となって、その後の集中リフレッシュを省くこ
とができる。
【0040】以下、このような構成における動作を図4
に示すタイミングチャートに沿って説明する。セルフ・
リフレッシュに入る前のCBRでは上述の図2と同様な
動作を行い、セルフ・リフレッシュに入ると、セルフ・
リフレッシュタイマー回路110が出力するSELF信
号によりバイナリカウンタ310の値は「0」になる。
そのとき内部バイナリカウンタ200の値は「n」にな
っており、セルフ・リフレッシュ中には、上述の実施形
態と同様にCKSELF信号によって内部バイナリカウ
ンタ200がカウントアップされる。
【0041】このとき、内部バイナリカウンタ200の
カウントアップと同様にCKSELF信号によってバイ
ナリカウンタ310もカウントアップされる。セルフ・
リフレッシュが継続されて内部バイナリカウンタ200
の値が「n」になると、バイナリカウンタ310の最上
位ビット出力F0は「1」になる。最上位ビット出力F
0が「1」になることにより、それを受けて信号Gが活
性化し、この信号GによりI/O端子に高電位が出力さ
れる。
【0042】また、信号Gはバイナリカウンタ310の
リセット信号にも使われているので、このとき、バイナ
リカウンタ310の最上位ビット出力F0はリセットさ
れる。つまり、カウンタが1周するたびに信号Gが活性
化しI/O端子に高電位が出力する。したがって、メモ
リコントローラがこのI/O端子の高電位を認識して、
その後の集中リフレッシュを行わないようになる。
【0043】このように、本発明においてはセルフ・リ
フレッシュに入った際のアドレスがセルフ・リフレッシ
ュ中に繰り返されたとき、すなわち全ワード線分のリフ
レッシュが完了するたびにI/O端子に所定の電位を出
力する。この所定電位を、メモリコントローラ−が認識
できてセルフ・リフレッシュから抜け出ることが可能で
あれば、全てのワード線が少なくともリフレッシュされ
ているので、セルデータの破壊も起こらない。したがっ
て、セルフ・リフレッシュ後の全ワード集中リフレッシ
ュが不要となって余分な集中リフレッシュ分の消費電流
を削減できる。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、余
分な処理動作を省き、消費電力を低減することが可能な
セルフ・リフレッシュ制御回路を提供することができ
る。また、請求項2にかかる発明によれば、簡単に集中
リフレッシュとセルフ・リフレッシュとを行うタイミン
グを制御することができる。さらに、請求項3にかかる
発明によれば、簡易な構成によりセルフ・リフレッシュ
開始時のアドレスを保持することができる。
【0045】さらに、請求項4にかかる発明によれば、
簡易な構成により内部バイナリカウンタの開始時と実行
中との値を比較することができる。さらに、請求項5に
かかる発明によれば、簡易な構成により内部バイナリカ
ウンタの開始時と実行中との値を比較することができ
る。さらに、請求項6にかかる発明によれば、余分な処
理動作を省き、消費電力を低減することが可能なセルフ
・リフレッシュ制御回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のセルフ・リフレッシュ制御回路を示す
回路図である。
【図2】本発明のセルフ・リフレッシュ制御回路の動作
を示すタイミングチャートである。
【図3】本発明の他の実施形態を示す回路図である。
【図4】本発明の他の実施形態における動作を示すタイ
ミングチャートである。
【図5】従来のセルフ・リフレッシュ方法における回路
構成を示す図である。
【図6】従来のセルフ・リフレッシュ方法における動作
を示すタイミングチャートである。
【図7】従来のセルフ・リフレッシュ方法における動作
を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
100 CBR判定回路 110 セルフ・リフレッシュタイマー回路 200 内部バイナリカウンタ 300 ラッチ回路 400a〜d EXNOR回路 410 AND回路

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の動作タイミングを指示するタイマ
    ー回路と、 このタイマー回路の指示するタイミングで動作し、セル
    フ・リフレッシュで使用するROWアドレスを決定する
    内部バイナリカウンタと、 セルフ・リフレッシュ開始時の内部バイナリカウンタの
    値とセルフ・リフレッシュ実行中の内部バイナリカウン
    タの値とを比較するカウンタ比較手段と、 このカウンタ比較手段が比較するセルフ・リフレッシュ
    開始時と実行中の内部バイナリカウンタ値が同じ値にな
    ったときに、外部I/O端子に対して集中リフレッシュ
    が不要であることを意味する所定の電位を出力する電位
    出力手段とを具備したことを特徴とするセルフ・リフレ
    ッシュ制御回路。
  2. 【請求項2】 上記請求項1に記載のセルフ・リフレッ
    シュ制御回路において、 上記タイマー回路は、集中リフレッシュ時に内部バイナ
    リカウンタの動作タイミングを指示する集中リフレッシ
    ュ駆動信号出力回路と、セルフ・リフレッシュ時に内部
    バイナリカウンタの動作タイミングを指示するセルフ・
    リフレッシュ駆動信号出力回路とを具備することを特徴
    とするセルフ・リフレッシュ制御回路。
  3. 【請求項3】 上記請求項1または請求項2に記載のセ
    ルフ・リフレッシュ制御回路において、 上記カウンタ比較手段は、セルフ・リフレッシュ開始時
    の内部バイナリカウンタの値をラッチする開始アドレス
    ラッチ回路を具備し、この開始アドレスラッチ回路がラ
    ッチした値とセルフ・リフレッシュ実行中の内部バイナ
    リカウンタの値とを比較することを特徴とするセルフ・
    リフレッシュ制御回路。
  4. 【請求項4】 上記請求項3に記載のセルフ・リフレッ
    シュ制御回路において、 上記カウンタ比較手段は、開始アドレスラッチ回路の所
    定ビット出力と、対応する実行中の内部バイナリカウン
    タの所定ビット出力とを入力とするEXNOR回路を具
    備し、このEXNOR回路の出力が全てのビットにわた
    って等しくなったときに所定の出力を行うように組み合
    わせたAND回路を具備することを特徴とするセルフ・
    リフレッシュ制御回路。
  5. 【請求項5】 上記請求項1または請求項2に記載のセ
    ルフ・リフレッシュ制御回路において、 上記カウンタ比較手段は、上記内部バイナリカウンタよ
    り一ビット多いビット数のバイナリカウンタを具備して
    おり、セルフ・リフレッシュ開始後にこのバイナリカウ
    ンタをカウントアップするとともに、このバイナリカウ
    ンタの最上位ビット出力によって、セルフ・リフレッシ
    ュ開始時と実行中の内部バイナリカウンタ値が同じ値で
    あるか否かを判別することを特徴とするセルフ・リフレ
    ッシュ制御回路。
  6. 【請求項6】 内部バイナリカウンタの出力をROWア
    ドレスとして使用しつつセルフ・リフレッシュを行うセ
    ルフ・リフレッシュ制御方法であって、 所定のタイミングで内部バイナリカウンタを動作させつ
    つ、セルフ・リフレッシュ開始時の内部バイナリカウン
    タの値とセルフ・リフレッシュ実行中の内部バイナリカ
    ウンタの値とを比較し、この比較値が同じ値になったと
    きには外部I/O端子に対して所定の電位を出力して集
    中リフレッシュを不要にすることを特徴とするセルフ・
    リフレッシュ制御方法。
JP11173005A 1999-06-18 1999-06-18 セルフ・リフレッシュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制御方法 Pending JP2001006356A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11173005A JP2001006356A (ja) 1999-06-18 1999-06-18 セルフ・リフレッシュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制御方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11173005A JP2001006356A (ja) 1999-06-18 1999-06-18 セルフ・リフレッシュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制御方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001006356A true JP2001006356A (ja) 2001-01-12

Family

ID=15952435

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11173005A Pending JP2001006356A (ja) 1999-06-18 1999-06-18 セルフ・リフレッシュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制御方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001006356A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6950363B2 (en) 2002-09-04 2005-09-27 Elpida Memory, Inc. Semiconductor memory device
JP2006155841A (ja) * 2004-12-01 2006-06-15 Nec Electronics Corp 半導体記憶装置及びリフレッシュ制御方法
KR100881650B1 (ko) * 2002-07-25 2009-02-06 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤 반도체 메모리

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100881650B1 (ko) * 2002-07-25 2009-02-06 후지쯔 마이크로일렉트로닉스 가부시키가이샤 반도체 메모리
US6950363B2 (en) 2002-09-04 2005-09-27 Elpida Memory, Inc. Semiconductor memory device
JP2006155841A (ja) * 2004-12-01 2006-06-15 Nec Electronics Corp 半導体記憶装置及びリフレッシュ制御方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6560153B2 (en) Semiconductor device, method for refreshing the same, system memory, and electronics apparatus
US7193919B2 (en) Selective bank refresh
JPH11242883A (ja) 半導体メモリ装置のリフレッシュ方法及び回路
JPH0325870B2 (ja)
KR960008278B1 (ko) 셀프-리프레쉬 모드에서 동작가능한 다이나믹형 반도체기억장치 및 그의 동작방법
JPH01125795A (ja) 仮想型スタティック半導体記憶装置及びこの記憶装置を用いたシステム
JP2004259343A (ja) 半導体記憶装置
US6999368B2 (en) Semiconductor memory device and semiconductor integrated circuit device
JPH08138374A (ja) 半導体メモリ装置およびそのリフレッシュ方法
JPS63166093A (ja) 半導体メモリの制御回路
US5270982A (en) Dynamic random access memory device improved in testability without sacrifice of current consumption
US6501699B2 (en) Refresh control for semiconductor memory device
KR20040101329A (ko) 의사-정적 메모리 장치를 위한 비동기 인터페이스 회로와방법
JP2001006356A (ja) セルフ・リフレッシュ制御回路およびセルフ・リフレッシュ制御方法
JP3531598B2 (ja) 半導体装置、メモリシステムおよび電子機器
JP2004185686A (ja) 半導体記憶装置
US5410514A (en) Single clock memory having a page mode
JP3640165B2 (ja) 半導体装置、メモリシステムおよび電子機器
JPH0689571A (ja) ダイナミック型メモリ装置
JP4386657B2 (ja) 半導体記憶装置
JP3624811B2 (ja) 半導体装置、そのリフレッシュ方法、メモリシステムおよび電子機器
JP2004220697A (ja) 半導体メモリ装置のリフレッシュ制御
JP2001332083A (ja) 半導体記憶装置およびそのアドレス制御方法
TWI220525B (en) SRAM-compatible memory device employing DRAM cells
JP3624849B2 (ja) 半導体装置、そのリフレッシュ方法、メモリシステムおよび電子機器