JP2001005079A - 衝撃検出装置 - Google Patents
衝撃検出装置Info
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- JP2001005079A JP2001005079A JP11175482A JP17548299A JP2001005079A JP 2001005079 A JP2001005079 A JP 2001005079A JP 11175482 A JP11175482 A JP 11175482A JP 17548299 A JP17548299 A JP 17548299A JP 2001005079 A JP2001005079 A JP 2001005079A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】衝撃の検出が正確に行なえ、かつ、大型化しな
いで消費電流を低減する可能な衝撃検出装置を提供す
る。 【解決手段】衝撃が発生した際に、この衝撃に応じた信
号を出力する衝撃センサー２と、この衝撃センサー２に
より出力された衝撃信号を積分する積分回路（ダイオー
ド４、コンデンサ６）と、この積分回路の積分結果に応
じて衝撃のレベルを判定する制御回路１とを具備する。
いで消費電流を低減する可能な衝撃検出装置を提供す
る。 【解決手段】衝撃が発生した際に、この衝撃に応じた信
号を出力する衝撃センサー２と、この衝撃センサー２に
より出力された衝撃信号を積分する積分回路（ダイオー
ド４、コンデンサ６）と、この積分回路の積分結果に応
じて衝撃のレベルを判定する制御回路１とを具備する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は衝撃検出装置に関
し、特に、カメラ等の携帯可能な機器の故障の原因とな
る衝撃を検出するための衝撃検出装置に関する。
し、特に、カメラ等の携帯可能な機器の故障の原因とな
る衝撃を検出するための衝撃検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】カメラ等の携帯して使用する機器におい
ては、ユーザが携帯中にぶつけたり、落下させたりして
故障させてしまうことがある。これに対して、機器に加
わった衝撃を検知して、故障の可能性をユーザに告知し
たり、衝撃を記憶しておいて、故障の解析に用いる等の
提案がなされている。
ては、ユーザが携帯中にぶつけたり、落下させたりして
故障させてしまうことがある。これに対して、機器に加
わった衝撃を検知して、故障の可能性をユーザに告知し
たり、衝撃を記憶しておいて、故障の解析に用いる等の
提案がなされている。
【０００３】さらに、いつ発生するか分からない衝撃を
検出する検出回路で問題となる消費電流を抑える方法も
提案されている。例えば、特開平１０−１０４７０３号
には、衝撃センサーが衝撃に対応して所定値以上の起電
力を出力したときに回路の電源供給を開始する衝撃検出
装置が記載されている。
検出する検出回路で問題となる消費電流を抑える方法も
提案されている。例えば、特開平１０−１０４７０３号
には、衝撃センサーが衝撃に対応して所定値以上の起電
力を出力したときに回路の電源供給を開始する衝撃検出
装置が記載されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た特開平１０−１０４７０３号公報に記載の衝撃検出装
置では、衝撃を受けた後に検出回路の電源供給を開始し
ているので、実際に衝撃レベルの判定が行われるまでに
遅延を生じてしまい、検出結果に対する信頼性が低下し
てしまうという問題がある。
た特開平１０−１０４７０３号公報に記載の衝撃検出装
置では、衝撃を受けた後に検出回路の電源供給を開始し
ているので、実際に衝撃レベルの判定が行われるまでに
遅延を生じてしまい、検出結果に対する信頼性が低下し
てしまうという問題がある。
【０００５】また、上記した特開平１０−１０４７０３
号公報に記載の衝撃検出装置においては、衝撃の発生は
実際上対象機器の寿命内に起こらない可能性の方が高い
にもかかわらず、これを検出するためだけに機器本来の
機能とは別の比較的大規模な回路を追加している。この
ことは、近年の携帯機器の小型化に対する障害となるば
かりではなく、コスト高となってしまう。
号公報に記載の衝撃検出装置においては、衝撃の発生は
実際上対象機器の寿命内に起こらない可能性の方が高い
にもかかわらず、これを検出するためだけに機器本来の
機能とは別の比較的大規模な回路を追加している。この
ことは、近年の携帯機器の小型化に対する障害となるば
かりではなく、コスト高となってしまう。
【０００６】本発明はこのような課題に着目してなされ
たものであり、その目的とするところは、衝撃の検出を
正確に行なうとともに、大型化しないで消費電流を低減
することができる衝撃検出装置を提供することにある。
たものであり、その目的とするところは、衝撃の検出を
正確に行なうとともに、大型化しないで消費電流を低減
することができる衝撃検出装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明に係る衝撃検出装置は、衝撃が発生し
た際に、この衝撃に応じた信号を出力するセンサーと、
このセンサーにより出力された上記衝撃信号を蓄積する
蓄積手段と、この蓄積手段の蓄積結果に応じて衝撃のレ
ベルを判定する判定手段とを具備する。
めに、第１の発明に係る衝撃検出装置は、衝撃が発生し
た際に、この衝撃に応じた信号を出力するセンサーと、
このセンサーにより出力された上記衝撃信号を蓄積する
蓄積手段と、この蓄積手段の蓄積結果に応じて衝撃のレ
ベルを判定する判定手段とを具備する。
【０００８】また、第２の発明に係る衝撃検出装置は、
第１の発明において、上記蓄積手段は衝撃信号を積分す
る積分手段である。
第１の発明において、上記蓄積手段は衝撃信号を積分す
る積分手段である。
【０００９】また、第３の発明に係る衝撃検出装置は、
第２の発明において、上記判定手段は上記積分手段の積
分電圧をＡ／Ｄ変換し、その結果に基づいて衝撃のレベ
ルを判定する。
第２の発明において、上記判定手段は上記積分手段の積
分電圧をＡ／Ｄ変換し、その結果に基づいて衝撃のレベ
ルを判定する。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を詳細に説明する。
施形態を詳細に説明する。
【００１１】（第１実施形態）図１は本発明の第１実施
形態に係る衝撃検出装置の構成を示す図である。カメラ
機構９に接続された制御回路１は、マイクロプロセッサ
にＲＯＭ１ａ、ＲＡＭ１ｂ、Ａ／Ｄ変換回路１ｃ、Ａ／
Ｄ変換のための基準電圧発生回路１ｄ、割り込み検出回
路１ｅ等を付設した構成を有し、ＲＯＭ１ａに予め記憶
されたプログラムに従って所定の動作を実行する。
形態に係る衝撃検出装置の構成を示す図である。カメラ
機構９に接続された制御回路１は、マイクロプロセッサ
にＲＯＭ１ａ、ＲＡＭ１ｂ、Ａ／Ｄ変換回路１ｃ、Ａ／
Ｄ変換のための基準電圧発生回路１ｄ、割り込み検出回
路１ｅ等を付設した構成を有し、ＲＯＭ１ａに予め記憶
されたプログラムに従って所定の動作を実行する。
【００１２】衝撃センサー２はバイモルフ型圧電素子か
らなり、衝撃を加えるとその力学的エネルギが電気的エ
ネルギに変換され、給電されていない状態においても衝
撃の大きさに比例した電圧を発生する。衝撃センサー２
の一端は接地され、他端は負荷抵抗３、ダイオード４の
一端、さらには制御回路１の割り込み検出ポート７に接
続されている。ダイオード４の他端はコンデンサ６の一
端に接続され、これら２つの素子で半波整流型の積分回
路（蓄積手段）を形成している。この積分回路の出力は
制御回路１のＡ／Ｄ変換ポート８に接続されている。
らなり、衝撃を加えるとその力学的エネルギが電気的エ
ネルギに変換され、給電されていない状態においても衝
撃の大きさに比例した電圧を発生する。衝撃センサー２
の一端は接地され、他端は負荷抵抗３、ダイオード４の
一端、さらには制御回路１の割り込み検出ポート７に接
続されている。ダイオード４の他端はコンデンサ６の一
端に接続され、これら２つの素子で半波整流型の積分回
路（蓄積手段）を形成している。この積分回路の出力は
制御回路１のＡ／Ｄ変換ポート８に接続されている。
【００１３】なお、コンデンサ６に蓄積した電荷は予め
放電しておかなければ正確な検出ができないので、衝撃
検出に先立って積分結果をリセットする必要がある。こ
こでは、抵抗５及ぶトランジスタ１０からなる放電経路
を設け、放電が必要な場合に制御回路１がディスチャー
ジポート１３を介してトランジスタ１０をＯＮして電荷
を放電させるようにしている。
放電しておかなければ正確な検出ができないので、衝撃
検出に先立って積分結果をリセットする必要がある。こ
こでは、抵抗５及ぶトランジスタ１０からなる放電経路
を設け、放電が必要な場合に制御回路１がディスチャー
ジポート１３を介してトランジスタ１０をＯＮして電荷
を放電させるようにしている。
【００１４】上記した構成において、衝撃検出装置に衝
撃が加えられると、衝撃センサー２に並列に配置された
負荷抵抗３に衝撃の大きさに比例した電圧が発生し、こ
の電圧が制御回路１の割り込み検出ポート７に入力され
る。制御回路１はこの割り込み信号により衝撃があった
ことを知ることができるので、所定の割り込みプログラ
ムに従った検出動作を開始する。すなわち、積分回路で
整形された衝撃信号をＡ／Ｄ変換回路１ｃでＡ／Ｄ変換
することにより当該衝撃のレベルを判定する。
撃が加えられると、衝撃センサー２に並列に配置された
負荷抵抗３に衝撃の大きさに比例した電圧が発生し、こ
の電圧が制御回路１の割り込み検出ポート７に入力され
る。制御回路１はこの割り込み信号により衝撃があった
ことを知ることができるので、所定の割り込みプログラ
ムに従った検出動作を開始する。すなわち、積分回路で
整形された衝撃信号をＡ／Ｄ変換回路１ｃでＡ／Ｄ変換
することにより当該衝撃のレベルを判定する。
【００１５】図２は衝撃検出装置に衝撃が加えられたと
きに衝撃センサー２から出力される衝撃信号の波形（上
段）と、この衝撃信号を積分した際の積分波形（下段）
を示すタイミングチャートである。
きに衝撃センサー２から出力される衝撃信号の波形（上
段）と、この衝撃信号を積分した際の積分波形（下段）
を示すタイミングチャートである。
【００１６】図３は衝撃検出装置に衝撃が加えられたと
きの制御回路１の動作を説明するためのフローチャート
である。以下に図２及び図３を参照して制御回路１の動
作を説明する。衝撃検出装置に衝撃が加わると図２の上
段に示すような高周波の電圧が負荷抵抗３に発生する。
この電圧信号は制御回路１の割り込み検出ポート７に入
力される。制御回路１はこの信号に応答して割り込みプ
ログラムの実行を開始する。この時点では制御回路１は
省電流のために動作クロックを停止させているので、先
ず動作クロックの発振を開始する（ステップＳ１）。次
に動作クロックの発振が安定した後、Ａ／Ｄ変換のため
の基準電圧発生回路を起動する（ステップＳ２）。
きの制御回路１の動作を説明するためのフローチャート
である。以下に図２及び図３を参照して制御回路１の動
作を説明する。衝撃検出装置に衝撃が加わると図２の上
段に示すような高周波の電圧が負荷抵抗３に発生する。
この電圧信号は制御回路１の割り込み検出ポート７に入
力される。制御回路１はこの信号に応答して割り込みプ
ログラムの実行を開始する。この時点では制御回路１は
省電流のために動作クロックを停止させているので、先
ず動作クロックの発振を開始する（ステップＳ１）。次
に動作クロックの発振が安定した後、Ａ／Ｄ変換のため
の基準電圧発生回路を起動する（ステップＳ２）。
【００１７】次のステップＳ３では積分回路の出力をＡ
／Ｄ変換回路１ｃでＡ／Ｄ変換する。図２の下段は積分
回路の積分出力波形を示している。
／Ｄ変換回路１ｃでＡ／Ｄ変換する。図２の下段は積分
回路の積分出力波形を示している。
【００１８】次のステップＳ４ではステップＳ３で入力
した電圧値を予め設定された所定の電圧と比較する。こ
こで、入力電圧が所定値未満であれば、衝撃レベルは機
器を損傷するレベルではないと判断してステップＳ６に
進む。ステップＳ６ではトランジスタ１０をＯＮしてコ
ンデンサ６に蓄積されている電荷を放電する。そして衝
撃割り込み処理を終了し、再び省電流状態に移行する。
した電圧値を予め設定された所定の電圧と比較する。こ
こで、入力電圧が所定値未満であれば、衝撃レベルは機
器を損傷するレベルではないと判断してステップＳ６に
進む。ステップＳ６ではトランジスタ１０をＯＮしてコ
ンデンサ６に蓄積されている電荷を放電する。そして衝
撃割り込み処理を終了し、再び省電流状態に移行する。
【００１９】一方、ステップＳ４で入力電圧が所定値以
上であると判断された場合には、機器に大きな衝撃が加
えられたと考えられるので、次のステップＳ５に進んで
衝撃ダメージ処理を実行する。この衝撃ダメージ処理で
は、機器の動作禁止処理や、ユーザへの機器故障の可能
性の警告表示処理などを行う。
上であると判断された場合には、機器に大きな衝撃が加
えられたと考えられるので、次のステップＳ５に進んで
衝撃ダメージ処理を実行する。この衝撃ダメージ処理で
は、機器の動作禁止処理や、ユーザへの機器故障の可能
性の警告表示処理などを行う。
【００２０】上記した第１実施形態によれば、機器が故
障する可能性のある大きさの衝撃による信号レベルと、
割り込み発生からＡ／Ｄ変換が可能になるまでの時間を
考慮した適当な時定数となる値の抵抗５及びコンデンサ
ー６を選択することで、衝撃から判定までの時間的遅れ
による判定の信頼性の低下を防止して正確な衝撃検出を
行なうことができる。さらに、簡単な回路を追加するだ
けなので装置を大型化せずに消費電流を低減することが
できる。
障する可能性のある大きさの衝撃による信号レベルと、
割り込み発生からＡ／Ｄ変換が可能になるまでの時間を
考慮した適当な時定数となる値の抵抗５及びコンデンサ
ー６を選択することで、衝撃から判定までの時間的遅れ
による判定の信頼性の低下を防止して正確な衝撃検出を
行なうことができる。さらに、簡単な回路を追加するだ
けなので装置を大型化せずに消費電流を低減することが
できる。
【００２１】（第２実施形態）図４は本発明の第２実施
形態を説明するためのフローチャートである。この実施
形態ではＡ／Ｄ変換の回数を増やすことで比較的小さな
衝撃であっても正確に検出できるようにしている。すな
わち、ここでは衝撃信号１回分での整形信号のゲインを
抑え、ノイズに対するマージンをとった上で、衝撃信号
を確実に検出できるようにしている。
形態を説明するためのフローチャートである。この実施
形態ではＡ／Ｄ変換の回数を増やすことで比較的小さな
衝撃であっても正確に検出できるようにしている。すな
わち、ここでは衝撃信号１回分での整形信号のゲインを
抑え、ノイズに対するマージンをとった上で、衝撃信号
を確実に検出できるようにしている。
【００２２】まずステップＳ１１でクロック発振を行っ
てから次のステップＳ１２で基準電源を発生する。ステ
ップＳ１３でＡ／Ｄ変換の制限回数をＲＡＭ１ｂに設定
した後、次のステップＳ１４で積分回路の出力をＡ／Ｄ
変換する。次のステップＳ１５では入力した電圧値を予
め設定された所定の電圧と比較する。ここで、入力電圧
が所定値未満であれば、衝撃レベルは機器を損傷するレ
ベルではないと判断してステップＳ１６に進む。ステッ
プＳ１６では次回のＡ／Ｄ変換までのインターバル時間
が経過するまで待つ。次のステップＳ１７ではステップ
Ｓ１３で設定したＡ／Ｄ変換の回数を１回分だけ減算す
る。
てから次のステップＳ１２で基準電源を発生する。ステ
ップＳ１３でＡ／Ｄ変換の制限回数をＲＡＭ１ｂに設定
した後、次のステップＳ１４で積分回路の出力をＡ／Ｄ
変換する。次のステップＳ１５では入力した電圧値を予
め設定された所定の電圧と比較する。ここで、入力電圧
が所定値未満であれば、衝撃レベルは機器を損傷するレ
ベルではないと判断してステップＳ１６に進む。ステッ
プＳ１６では次回のＡ／Ｄ変換までのインターバル時間
が経過するまで待つ。次のステップＳ１７ではステップ
Ｓ１３で設定したＡ／Ｄ変換の回数を１回分だけ減算す
る。
【００２３】次のステップＳ１８では、ステップＳ１７
で減算した制限回数が０になったかどうか、すなわち、
ステップＳ１３で設定された制限回数のＡ／Ｄ変換が終
了したかどうかを判断し、終了した場合にはステップＳ
１９でコンデンサの電荷を放電させた後に、衝撃割り込
み処理を終了して再び省電流状態に移行する。一方、ス
テップＳ１８で制限回数のＡ／Ｄ変換が終了していなけ
ればステップＳ１４に戻って衝撃レベルの判定を続け
る。
で減算した制限回数が０になったかどうか、すなわち、
ステップＳ１３で設定された制限回数のＡ／Ｄ変換が終
了したかどうかを判断し、終了した場合にはステップＳ
１９でコンデンサの電荷を放電させた後に、衝撃割り込
み処理を終了して再び省電流状態に移行する。一方、ス
テップＳ１８で制限回数のＡ／Ｄ変換が終了していなけ
ればステップＳ１４に戻って衝撃レベルの判定を続け
る。
【００２４】一方、ステップＳ１５で入力電圧が所定値
以上であると判断された場合には、ステップＳ２０に移
行して衝撃ダメージ処理を行う。ここでの衝撃ダメージ
処理では図３のステップＳ５と同様の処理を行う。
以上であると判断された場合には、ステップＳ２０に移
行して衝撃ダメージ処理を行う。ここでの衝撃ダメージ
処理では図３のステップＳ５と同様の処理を行う。
【００２５】上記した第２実施形態によれば、第１実施
形態の効果に加えて判定の信頼性をさらに向上させるこ
とができる。
形態の効果に加えて判定の信頼性をさらに向上させるこ
とができる。
【００２６】（第３実施形態）図５は本発明の第３実施
形態の構成を示す図である。上記した図１の回路は、放
電経路として抵抗５とトランジスタ１０とを設けている
が、このトランジスタ１０をなくすことで第１実施形態
と同等の効果を得ながら回路のコストダウンを図ること
ができる。この場合は抵抗５を比較的高抵抗にしてお
き、コンデンサー６に蓄積された電荷が徐々に放電され
るようにする。
形態の構成を示す図である。上記した図１の回路は、放
電経路として抵抗５とトランジスタ１０とを設けている
が、このトランジスタ１０をなくすことで第１実施形態
と同等の効果を得ながら回路のコストダウンを図ること
ができる。この場合は抵抗５を比較的高抵抗にしてお
き、コンデンサー６に蓄積された電荷が徐々に放電され
るようにする。
【００２７】図６は衝撃検出装置に衝撃が加えられたと
きに衝撃センサー２から出力される衝撃信号の波形（上
段）と、この衝撃信号を積分した際の積分波形（下段）
を示すタイミングチャートである。
きに衝撃センサー２から出力される衝撃信号の波形（上
段）と、この衝撃信号を積分した際の積分波形（下段）
を示すタイミングチャートである。
【００２８】なお、上記した実施形態から以下のような
構成の発明が抽出される。
構成の発明が抽出される。
【００２９】１．衝撃が発生した際に、この衝撃に応じ
た信号を出力するセンサーと、このセンサーにより出力
された上記衝撃信号を蓄積する蓄積手段と、この蓄積手
段の蓄積結果に応じて衝撃のレベルを判定する判定手段
と、を具備し、この判定手段は、衝撃検出に先立って積
分結果をリセットするようにしたことを特徴とする衝撃
検出装置。
た信号を出力するセンサーと、このセンサーにより出力
された上記衝撃信号を蓄積する蓄積手段と、この蓄積手
段の蓄積結果に応じて衝撃のレベルを判定する判定手段
と、を具備し、この判定手段は、衝撃検出に先立って積
分結果をリセットするようにしたことを特徴とする衝撃
検出装置。
【００３０】
【発明の効果】本発明によれば、衝撃の検出が正確に行
なえ、かつ、大型化しないで消費電流を低減可能な衝撃
検出装置を提供することができる。
なえ、かつ、大型化しないで消費電流を低減可能な衝撃
検出装置を提供することができる。
【図１】本発明の第１実施形態に係る衝撃検出装置の構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図２】衝撃検出装置に衝撃が加えられたときに衝撃セ
ンサー２から出力される衝撃信号の波形（上段）と、こ
の衝撃信号を積分した際の積分波形（下段）を示すタイ
ミングチャートである。
ンサー２から出力される衝撃信号の波形（上段）と、こ
の衝撃信号を積分した際の積分波形（下段）を示すタイ
ミングチャートである。
【図３】衝撃検出装置に衝撃が加えられたときの制御回
路１の動作を説明するためのフローチャートである。
路１の動作を説明するためのフローチャートである。
【図４】本発明の第２実施形態を説明するためのフロー
チャートである。
チャートである。
【図５】本発明の第３実施形態の構成を示す図である。
【図６】衝撃検出装置に衝撃が加えられたときに衝撃セ
ンサー２から出力される衝撃信号の波形（上段）と、こ
の衝撃信号を積分した際の積分波形（下段）を示すタイ
ミングチャートである。
ンサー２から出力される衝撃信号の波形（上段）と、こ
の衝撃信号を積分した際の積分波形（下段）を示すタイ
ミングチャートである。
１…制御回路、 １ａ…ＲＯＭ、 １ｂ…ＲＡＭ、 １ｃ…Ａ／Ｄ変換回路、 １ｄ…基準電圧発生回路、 １ｅ…割り込み検出回路、 ２…衝撃センサー、 ３…負荷抵抗、 ４…ダイオード、 ５…抵抗、 ６…コンデンサ、 ７…割り込み検出ポート、 ８…Ａ／Ｄ変換ポート、 ９…カメラ機構、 １０…トランジスタ、 １３…ディスチャージポート。
Claims (3)
- 【請求項１】 衝撃が発生した際に、この衝撃に応じた
信号を出力するセンサーと、 このセンサーにより出力された上記衝撃信号を蓄積する
蓄積手段と、 この蓄積手段の蓄積結果に応じて衝撃のレベルを判定す
る判定手段と、 を具備することを特徴とする衝撃検出装置。 - 【請求項２】 上記蓄積手段は衝撃信号を積分する積分
手段であることを特徴とする請求項１記載の衝撃検出装
置。 - 【請求項３】 上記判定手段は上記積分手段の積分電圧
をＡ／Ｄ変換し、その結果に基づいて衝撃のレベルを判
定することを特徴とする請求項２記載の衝撃検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11175482A JP2001005079A (ja) | 1999-06-22 | 1999-06-22 | 衝撃検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11175482A JP2001005079A (ja) | 1999-06-22 | 1999-06-22 | 衝撃検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001005079A true JP2001005079A (ja) | 2001-01-12 |
Family
ID=15996822
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11175482A Withdrawn JP2001005079A (ja) | 1999-06-22 | 1999-06-22 | 衝撃検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001005079A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004357933A (ja) * | 2003-06-04 | 2004-12-24 | Olympus Corp | カプセル型内視鏡 |
| KR20100014653A (ko) * | 2007-02-28 | 2010-02-10 | 카드랩 에이피에스 | 변형 감지 수단을 구비한 전자 결재, 정보 또는 ｉｄ 카드 |
| JP2010197111A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-09 | Nec Corp | イベント記録装置及び電子機器 |
| JP2011099734A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Murata Mfg Co Ltd | 衝撃検出装置 |
| JP2011099733A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Murata Mfg Co Ltd | 衝撃検出装置 |
-
1999
- 1999-06-22 JP JP11175482A patent/JP2001005079A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004357933A (ja) * | 2003-06-04 | 2004-12-24 | Olympus Corp | カプセル型内視鏡 |
| JP4573502B2 (ja) * | 2003-06-04 | 2010-11-04 | オリンパス株式会社 | カプセル型内視鏡及びカプセル型内視鏡装置 |
| KR20100014653A (ko) * | 2007-02-28 | 2010-02-10 | 카드랩 에이피에스 | 변형 감지 수단을 구비한 전자 결재, 정보 또는 ｉｄ 카드 |
| KR101593105B1 (ko) * | 2007-02-28 | 2016-02-11 | 카드랩 에이피에스 | 변형 감지 수단을 구비한 전자 결제, 정보 또는 ｉｄ 카드 |
| EP2423858B1 (en) * | 2007-02-28 | 2016-08-03 | Cardlab ApS | An electronic payment, information, or ID card with a deformation sensing means |
| JP2010197111A (ja) * | 2009-02-23 | 2010-09-09 | Nec Corp | イベント記録装置及び電子機器 |
| JP2011099734A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Murata Mfg Co Ltd | 衝撃検出装置 |
| JP2011099733A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Murata Mfg Co Ltd | 衝撃検出装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060905 |