JP2001001256A - ワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置 - Google Patents

ワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置

Info

Publication number
JP2001001256A
JP2001001256A JP17431899A JP17431899A JP2001001256A JP 2001001256 A JP2001001256 A JP 2001001256A JP 17431899 A JP17431899 A JP 17431899A JP 17431899 A JP17431899 A JP 17431899A JP 2001001256 A JP2001001256 A JP 2001001256A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polishing
cleaning
drying
finish
work
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP17431899A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriaki Mizuno
憲明 水野
Tsukasa Asano
吏 浅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SpeedFam Co Ltd
Original Assignee
SpeedFam Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SpeedFam Co Ltd filed Critical SpeedFam Co Ltd
Priority to JP17431899A priority Critical patent/JP2001001256A/ja
Publication of JP2001001256A publication Critical patent/JP2001001256A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 多数のワークの仕上げ研磨と洗浄と乾燥とを
一台の装置で行うことができるようにして、量産性の向
上と装置の小型化とを図ったワーク仕上げ研磨,洗浄及
び乾燥の一体化処理装置を提供する。 【解決手段】 ローダ部と仕上げ研磨部2とスクラブ洗
浄部と仕上げ洗浄部と乾燥部とアンローダ部とを一体化
した処理装置である。複数の磁気ディスク基板Wを仕上
げ研磨部2で仕上げ研磨した後、スクラブ洗浄部でスク
ラブ洗浄し、仕上げ洗浄部で仕上げ洗浄する。そして、
蒸気乾燥式の乾燥部で磁気ディスク基板Wを乾燥する。
特に、仕上げ研磨部2では、流液式の処理槽20に研磨
液と電解液との混合液Cを収容し、キャリア8に収納さ
れた複数の磁気ディスク基板Wを混合液C内に全浸漬す
る。そして、複数の磁気ディスク基板Wをポリッシング
/テクスチャ加工手段30によりポリッシング加工及び
テクスチャ加工し、電解研磨手段40により、磁気ディ
スク基板Wに所定の電圧を印加して電解研磨する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、磁気ディスク基
板等のワークを仕上げ研磨,洗浄及び乾燥するためのワ
ーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置であ
り、特に、ポリッシング加工,テキクチャ加工及び電解
研磨加工による仕上げ研磨加工を行うことができるワー
ク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、ハードディスクなどの磁気ディ
スクにおいては、磁気ディスクに対する磁気ヘッドの読
み書き性能を向上させるために、磁気ディスクの製造工
程において、ポリッシング加工,テキクチャ加工及び電
解研磨加工等の仕上げ研磨加工を磁気ディスク基板に施
す。図10は、仕上げ研磨加工を行うことが可能な従来
の仕上げ研磨装置の一例を示す概略図である。図10に
おいて、符号Wが磁気ディスク基板であり、この磁気デ
ィスク基板Wを仕上げ研磨加工する際には、磁気ディス
ク基板Wを磁気ディスク基板Wの中心周りで駆動回転さ
せると共に、摺擦テープ100をローラ101で磁気デ
ィスク基板Wの表面に圧接しながら送り出す。これによ
り、磁気ディスク基板Wの表面を摺擦テープ100によ
ってポリッシング加工すると同時にテクスチャ加工する
ことができる。さらに、かかる加工時に、研磨液Sをノ
ズル102から磁気ディスク基板W表面に噴射するが、
この仕上げ研磨装置では、研磨液Sの中に、電解液を混
入し、磁気ディスク基板W側を陽極にすると共に、ロー
ラ101側を陰極にすることで、磁気ディスク基板Wを
電解研磨し、加工精度を更に向上させている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の技術では、次のような問題がある。磁気ディス
ク基板Wを1枚ずつ仕上げ研磨加工する構造であるの
で、量産性がない。これに対して、この仕上げ研磨装置
を多数並設して、量産性を高めることが考えられるが、
これらの仕上げ研磨装置が限られた工場内で大きなスペ
ースを占有してしまうという問題がある。また、仕上げ
研磨加工後に、磁気ディスク基板Wを洗浄処理及び乾燥
処理する必要がある。したがって、多数の仕上げ研磨装
置と洗浄装置と乾燥装置とを組み合わせて処理工程をラ
イン化することは、それらの設置条件などから困難な場
合が多い。なお、この技術に類似する技術が特開平7−
272265号公報及び同11−58205号公報に開
示されているが、これらの技術も上記問題を解決するも
のではない。
【0004】この発明は上述した課題を解決するために
なされたもので、多数のワークの仕上げ研磨と洗浄と乾
燥とを一台の装置で行うことができるようにして、量産
性の向上と装置の小型化とを図ったワーク仕上げ研磨,
洗浄及び乾燥の一体化処理装置を提供することを目的と
するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1の発明に係るワーク仕上げ研磨,洗浄及び
乾燥の一体化処理装置は、研磨液と電解液との混合液を
収容した処理槽を有し、ワーク収納体に収納された状態
で混合液内に全浸漬された複数のワークを回転する複数
の摺擦ブラシでポリッシング加工及びテクスチャ加工す
ると共に、複数のワークに所定電圧を印加して、ワーク
の加工面を電解研磨することにより、複数のワークを研
磨する仕上げ研磨部と、洗浄液を収容した処理槽を有
し、ワーク収納体に収納された状態で洗浄液内に全浸漬
された複数のワークを回転する摺擦ブラシで洗浄するス
クラブ洗浄部と、リンス液を収容した処理槽を有し、ワ
ーク収納体に収納された状態でリンス液内に全浸漬され
た複数のワークを当該リンス液で洗浄する仕上げ洗浄部
と、ワーク収納体に収納された複数のワークを乾燥処理
する乾燥部と、ワーク収納体を仕上げ研磨部,スクラブ
洗浄部,及び仕上げ洗浄部の各処理槽内に搬送した後、
当該ワーク収納体を乾燥部に搬送する搬送部とを具備す
る構成とした。かかる構成により、搬送部によって、複
数のワークが収納されたワーク収納体が仕上げ研磨部の
処理槽に搬送されると、処理槽内の混合液に全浸漬され
た複数のワークが回転する複数の摺擦ブラシによって、
ポリッシング加工及びテクスチャ加工される。また、ワ
ークに所定電圧が印加され、ワークの加工面が電解研磨
される。そして、このように仕上げ研磨されたワークを
収納したワーク収納体が搬送部によって、スクラブ洗浄
部の処理槽に搬送されると、処理槽の洗浄液内に全浸漬
された複数のワークが回転する摺擦ブラシで洗浄され
る。さらに、スクラブ洗浄部でスクラブ洗浄されたワー
クを収納したワーク収納体が搬送部によって、仕上げ洗
浄部の処理槽に搬送されると、処理槽のリンス液内に全
浸漬された複数のワークが当該リンス液で仕上げ洗浄さ
れる。最後に、仕上げ洗浄されたワークを収納したワー
ク収納体が搬送部によって乾燥部に搬送されると、これ
らの複数のワークが乾燥処理される。
【0006】また、請求項2の発明は、請求項1に記載
のワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置に
おいて、ワーク収納体を、収納された複数のワークを回
転可能に保持する構造にすると共に、複数の摺擦ブラシ
を、駆動回転可能な複数の円板体の両面に研磨パッドを
それぞれ貼り付けることで構成し、仕上げ研磨部におけ
るポリッシング加工及びテクスチャ加工を、複数の摺擦
ブラシの研磨パッドで複数のワークの両面の略上半部を
それぞれ挟んだ状態で、複数の円板体を駆動回転させる
ことにより、実行する構成とした。かかる構成により、
仕上げ研磨部において、複数の摺擦ブラシの研磨パッド
が複数のワークの両面の略上半部をそれぞれ挟んだ状態
で回転すると、ワーク収納体に収納された複数のワーク
が回転して、複数のワークの両面全面が研磨パッドによ
ってポリッシング加工及びテクスチャ加工される。
【0007】請求項3の発明は、請求項1または請求項
2に記載のワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処
理装置において、ワーク収納体を、収納された複数のワ
ークと電気的に接触可能な構造にし、仕上げ研磨部にお
ける電解研磨を、ワーク収納体が処理槽内に配されたと
きに当該ワーク収納体を介して複数のワークと電気的に
接続される一方の電極と、処理槽内の混合液に接触した
状態で設けられた他方の電極とに通電させることによ
り、実行する構成とした。かかる構成により、仕上げ研
磨部において、ワーク収納体が処理槽内に配されると、
複数のワークがワーク収納体を介して一方の電極に電気
的に接続される。この状態で、一方及び他方の電極に通
電させると、処理槽内の混合液を介して各ワークに所定
電圧が印加され、複数のワークが電解研磨される。
【0008】ところで、仕上げ研磨部やスクラブ洗浄部
の処理部の構造は、処理槽内の液体を淀ませずに、新た
な液体が供給される流液式の方が、研磨及び洗浄効率の
面から好ましい。そこで、請求項4の発明は、請求項1
ないし請求項3のいずれかに記載のワーク仕上げ研磨,
洗浄及び乾燥の一体化処理装置において、仕上げ研磨部
の処理槽を、混合液が処理槽の一方向から他方向に流れ
る流液式の構造にした。また、請求項5の発明は、請求
項1ないし請求項4のいずれかに記載のワーク仕上げ研
磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置において、スクラブ
洗浄部の処理槽を、洗浄液が処理槽の一方向から他方向
に流れる流液式の構造にした。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。図1はこの発明の一実施
形態に係るワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処
理装置を示す概略構成図である。このワーク仕上げ研
磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置は、図1に示すよう
に、ワークとしての磁気ディスク基板Wを本装置に供給
するローダ部1と、ローダ部1から運ばれてきた磁気デ
ィスク基板Wを仕上げ研磨処理するための仕上げ研磨部
2と、仕上げ研磨された磁気ディスク基板Wをスクラブ
洗浄処理するためのスクラブ洗浄部3と、スクラブ洗浄
された磁気ディスク基板Wを仕上げ洗浄処理するための
仕上げ洗浄部4と、仕上げ洗浄された磁気ディスク基板
Wを乾燥処理するための乾燥部5と、乾燥された磁気デ
ィスク基板Wを本装置から取り出すためのアンローダ部
6とを一体に組付け、搬送部7を構成する5つのワーク
搬送器7a〜7eをローダ部1〜アンローダ部6の各部
間に取り付けた構造になっている。
【0010】この装置では、磁気ディスク基板Wをワー
ク収納体としてのキャリア8に収納した状態で、各処理
を行うようになっている。図2は、磁気ディスク基板W
を収納したキャリア8を一部破断して示す正面図であ
り、図3は、キャリア8の側面図である。キャリア8
は、これらの図に示すように、相対する一対のフレーム
10の間に、4本を一組とする支持棒11を2組並べて
取り付けた構造になっている。そして、1組の支持棒1
1の表面には、25個の支持溝12が削設されており、
1組の支持棒11に対して25枚の磁気ディスク基板W
がこれらの支持溝12を介して横並びに収納され、キャ
リア8全体では、50枚の磁気ディスク基板Wが収納さ
れる。各支持棒11はフレーム10,10に回転自在に
取り付けられ、50枚の磁気ディスク基板Wがこれらの
支持棒11によって回転自在に保持された状態になって
いる。また、フレーム10,10の外側面には、ワーク
搬送器7a〜7eがキャリア8を吊り上げるために用い
るローラ状のフック13が突設されている。
【0011】図1に示す仕上げ研磨部2は、上記キャリ
ア8に収納された50枚の磁気ディスク基板Wを一度に
仕上げ研磨する部分であり、図4に示すように、処理槽
20とポリッシング/テクスチャ加工手段30と電解研
磨手段40とを有している。
【0012】処理槽20は、セリウムやシリカ等を研磨
材とする研磨液と、所定の電解成分を有した電解液との
混合液Cを収納する槽体であり、しかも、混合液Cを一
方向から多方向に流す流液式の構造となっている。具体
的には、処理槽20の一方端部に給液口21aを有した
給液部21が設けられ、左端部に、排液口22aを有し
た排液部22が設けられている。給液部21は、閉じた
箱形に形成されていて、処理槽20との境界面には、混
合液Cが通過できる空隙等の範囲内で可能な限り繊維密
度を高くした不織布等の繊維プレートと、硬質板に複数
の通水孔を穿設してなる孔開きプレートとからなる整流
部材23とが取り付けられている。また、排液部22に
は、処理槽20との境界部分に孔開きプレート24が設
けられている。さらに、処理槽20の底部は、上記給液
部21から排液部22側に向けて次第に低くなるように
傾斜している。これにより、給液部21内の混合液Cに
圧力をかけて整流部材23から処理槽20内に押し出す
ことで、混合液Cが処理槽20内を全液深について一様
な流速で排液部22側に向かって流れ、排液部22側に
至った混合液Cが孔開きプレート24の通水孔を通過す
ると共に、孔開きプレート24をオーバーフローして排
液部22内に流れ込む。
【0013】このような処理槽20には、キャリア8を
移動させるための移動機構25が設けられている。この
移動機構25は、キャリア8を載置するための支持台2
6と、支持台26を移動させるためのねじ棒27と、ね
じ棒27を回転させるためのモータ28とからなってい
る。支持台26は、図4及び図5に示すように、処理槽
20内部に位置し且つ処理槽20の両側壁及び底壁に沿
うように凹んだ第1部分26aと、処理槽20の外側を
取り囲むように位置する第2部分26bとからなってい
る。そして、第2部分26bの底面には、ナット部材2
9が取り付けられ、このナット部材29がねじ棒27に
螺合されている。これにより、モータ28を正,逆回転
させることで、支持台26を処理槽20に沿って往復移
動させることができる。
【0014】図4に示すポリッシング/テクスチャ加工
手段30は、キャリア8に収納された50枚の磁気ディ
スク基板Wを一度にポリッシング及びテクスチャ加工す
るための手段であり、処理槽20の略中央上部に配置さ
れたブラシホルダ31と、このブラシホルダ31に保持
された摺擦ブラシ32とよりなっている。具体的には、
ブラシホルダ31は図示しない支持機構により上下動自
在に支持され、このブラシホルダ31に、26枚一組の
摺擦ブラシ32が二組取り付けられている。すなわち、
2本のブラシ軸33,33がブラシホルダ31の幅方向
に平行に取り付けられ、各ブラシ軸33に、26枚の円
板形の摺擦ブラシ32が25枚の磁気ディスク基板Wを
両側から挟み可能な間隔で取り付けられている。そし
て、2本のブラシ軸33が、ブラシホルダ31に取り付
けられたモータ34によって駆動回転されるようになっ
ている。摺擦ブラシ32は、図6に示すように、アルミ
ニウム等の金属や合成樹脂等からなら硬質の円板体32
aの両面に、研磨パッド32bを貼り付けた構造になっ
ている。ここで、研磨パッド32bとしては、例えばロ
ーデルニッタ社製のIC1000やSUBA400等が
用いられている。
【0015】また、図4に示す電解研磨手段40は、キ
ャリア8に収納された50枚の磁気ディスク基板Wに所
定の電圧を加えて一度に電解研磨する手段であり、一方
の電極41と、他方の電極42と、これら電極41,4
2に電流を供給する給電器43とよりなっている。一方
の電極41は、図5に示すように、支持台26の第1部
分26aの底壁に取り付けられ、電極41に電気的に接
続された導電線41aが支持台26の内側を伝わって、
第2部分26bから外部に延出して、給電器43の一方
の極に接続されている。他方の電極42は2つあり、こ
れら電極42,42は、混合液Cに接触した状態で対向
するように支持台26の第1部分26aの側壁に取り付
けられている。これらの電極42,42にも、導電線4
2aがそれぞれ電気的に接続されており、導電線42a
も支持台26の内側を伝わって、第2部分26bから外
部に延出して、給電器43の他方の極に接続されてい
る。給電器43は、これら電極41,42に直流電流や
交流電流を供給するための周知の機器である。
【0016】ところで、上記給電器43を用いてキャリ
ア8内の磁気ディスク基板Wに所定の電圧を印加するた
めには、電極41と磁気ディスク基板Wが電気的に接続
されている必要がある。そこで、この実施形態では、図
3に示すように、キャリア8のフレーム10,10の下
部にガイド部材44を渡し、このガイド部材44の略中
央部であって、且つ電極41に対向する箇所に、導電性
部材45を設けた。この導電性部材45は、下方に突出
した弾性の板バネ部45aを有しており、キャリア8を
支持台26に載置すると、この板バネ部45aが電極4
1に電気的に接触するようになっている。また、導電性
部材45には、導電線45bが電気的に接続されてお
り、導電線45bがガイド部材44を伝わって、8本の
導電性の支持棒11に電気的に接続されている。これに
より、給電器43の一方の極が、導電線41a,電極4
1,導電性部材45,導電線45b,及び支持棒11の
電気経路を介して、磁気ディスク基板Wに電気的に接続
されるので、給電器43を駆動すると、電極42と磁気
ディスク基板Wとの間に混合液Cの電解液を介して電界
が発生し、磁気ディスク基板Wが所定の電圧に印加され
ることとなる。
【0017】図1において、上記仕上げ研磨部2の後段
のスクラブ洗浄部3は、仕上げ研磨終了後の磁気ディス
ク基板Wをスクラブ洗浄するための部分である。スクラ
ブ洗浄部3は、図4に示した仕上げ研磨部2とほぼ同じ
構成となっているが、スクラブ洗浄手段と処理槽20内
の収容液とが異なり、しかも電解研磨手段40を有して
いない。スクラブ洗浄手段は、仕上げ研磨部2のポリッ
シング/テクスチャ加工手段30において、摺擦ブラシ
32の研磨パッド32bの代わりにスポンジ状や布状あ
るいは短繊維状の柔軟で圧縮性のある図示しない摺擦部
材を円板体32aの両面に貼り付けた構成となってお
り、処理槽20内には、純水や水道水のような洗浄液が
供給される。その他の構成は、図4の仕上げ研磨部2と
同じであるので、改めて図示及び説明は省略する。
【0018】上記スクラブ洗浄部3の後段の仕上げ洗浄
部4は、スクラブ洗浄後の磁気ディスク基板Wを仕上げ
洗浄するための部分である。仕上げ洗浄部4は、図7に
示すように、スクラブ洗浄部3とほぼ同じ構成になって
いるが、スクラブ洗浄手段のように、摺擦ブラシを回転
させて洗浄する手段がない。すなわち、処理槽20内に
は、純水等のリンス液Lが収容され、このリンス液Lを
リサイクルするためのリサイクルシステム50が特設さ
れている。尚、かかる構成以外はスクラブ洗浄部3と同
じ構成であるので、図7に示す共通部材には共通の符号
を付して、その説明を省略する。リサイクルシステム5
0は、排液部22に排出されたリンス液Lを回収して再
処理するためのタンク51と、タンク51内のリンス液
Lを給液部21内に戻すポンプ52とで構成されてい
る。これにより、磁気ディスク基板Wの仕上げ洗浄に使
用されたリンス液Lがタンク51で再処理された後、ポ
ンプ52で再供給されるので、処理槽20内のリンス液
Lを循環的に再使用することができる。
【0019】上記仕上げ洗浄部4の後段の乾燥部5は、
仕上げ洗浄後の磁気ディスク基板Wを乾燥させるための
部分であり、磁気ディスク基板Wを高温の溶剤蒸気に接
触させることにより、溶剤蒸気を磁気ディスク基板Wの
表面で凝縮,流下させて、磁気ディスク基板W表面の水
分を除去する蒸気乾燥式の構成をとっている。図8は、
乾燥部5を示す断面図である。乾燥部5は、図8に示す
ように、イソプロピルアルコールのような有機溶剤の収
容部61が底部に形成された乾燥槽60を有している。
そして、この乾燥槽60の内部には、蒸気溶剤を加熱し
て蒸気を発生させる第1加熱管62と、上記蒸気を再加
熱して温度を高める第2加熱管63と、磁気ディスク基
板Wを溶剤蒸気に接触させるための処理領域64と、磁
気ディスク基板W表面で凝縮して水分と共に流下するド
レンを排出するためのドレン排出機構65とが設けられ
ている。また、処理領域64より下側には、溶剤蒸気を
冷却してドレン排出機構65内に凝縮させる第1冷却管
66が設けられると共に、処理領域64の上側には、キ
ャリア8を出し入れするための開口部69が形成され、
開口部69の内部に、溶剤蒸気が開口部69から逃げる
ことを防止するための第2冷却管67が設けられてい
る。
【0020】図1に示す搬送部7は、上記したように、
ワーク搬送器7a〜7eで構成されている。ワーク搬送
器7aは磁気ディスク基板Wを収納したキャリア8をロ
ーダ部1から仕上げ研磨部2に、ワーク搬送器7bはキ
ャリア8を仕上げ研磨部2からスクラブ洗浄部3に、ワ
ーク搬送器7cはキャリア8をスクラブ洗浄部3から仕
上げ洗浄部4に、ワーク搬送器7dはキャリア8を仕上
げ洗浄部4から乾燥部5に、そして、ワーク搬送器7e
はキャリア8を乾燥部5からアンローダ部6に搬送する
器機である。ワーク搬送器7a〜7eは、同じ構成を有
しているので、ここでは、ワーク搬送器7bの構成につ
いて説明し、その他のワーク搬送器については、その説
明を省略する。
【0021】ワーク搬送器7bは、図4及び図9に示す
ように、基端部に取り付けられた支軸70を中心に18
0度揺動回転自在のスイングアーム71を有している。
このスイングアーム71の先端には、水平に延びる吊支
軸72が取り付けられていて、この吊支軸72に、キャ
リア8の両側面のフック13に係止する左右一対の吊支
部材73,73がキャリア8の長さより若干広い間隔を
保って鉛直に取り付けられている。これらの吊支部材7
3,73は逆T字形をしていて、下端の水平部分73a
の上縁に窪み73bを有し、この窪み73bの位置に上
記フック13を下方から引っ掛けてキャリア8を吊り上
げるようになっている。
【0022】かかる構成により、スイングアーム71が
仕上げ研磨部2側に回動し、処理槽20の上流端におい
て吊支部材73,73がキャリア8の両側面のフック1
3に係止する位置より若干下方に下降した状態で待機し
ているところに、支持台26によりキャリア8が送られ
てきて一対の吊支部材73,73の間に送り込まれる
と、スイングアーム71が若干上昇し、吊支部材73,
73をフック13に係止させてキャリア8を持ち上げた
後、180度揺動回転して隣接するスクラブ洗浄部3内
にキャリア8を送り込む。そして、スイングアーム71
は、吊支部材73,73がフック13から外れる位置ま
で下降して待機する。しかる後、スクラブ洗浄部3内の
移動機構25によりキャリア8が上記吊支部材73,7
3の間から離れるところまで移動すると、スイングアー
ム71は再び上昇して復帰し、次の動作を行う。このよ
うにして、キャリア8をスイングアーム71によりを隣
接する処理部に順次搬送することができる。
【0023】次に、この実施形態の処理装置が示す動作
について説明する。まず、前工程を経てローダ部1に運
ばれてきた50枚の磁気ディスク基板W入りのキャリア
8は、図4に示すように、ワーク搬送器7aによって、
ローダ部1から仕上げ研磨部2の処理槽20内に搬入さ
れ、処理槽20の下流端の受取位置に待機している支持
台26の第1部分26a上に載置される。すると、モー
タ28が駆動してねじ棒27が回転し、支持台26が混
合液C中を上流側へと移動して、処理槽20の中央部で
一端停止する。この状態で、ブラシホルダ31が摺擦ブ
ラシ32を回転させながら下降し、図5及び図6に示す
ように、摺擦ブラシ32の下半部を混合液C中に半浸漬
させて、隣接する2つの摺擦ブラシ32,32によって
各磁気ディスク基板Wの上半部を挟持し、混合液C中に
全浸漬された各磁気ディスク基板Wの両面を摺擦する。
このとき、各磁気ディスク基板Wは、摺擦ブラシ32,
32との摩擦力により従動的に回転し、全面が摺擦され
ることになる。すなわち、ポリッシング及びテクスチャ
加工によって、50枚の磁気ディスク基板Wの表面が一
度に平滑に研磨されると共に、50枚の磁気ディスク基
板Wの表面に所定の線条痕がそれぞれ形成される。
【0024】このようなポリッシング及びテクスチャ加
工動作と並行して、キャリア8に収納された50枚の磁
気ディスク基板Wに対して電解研磨動作が実行される。
すなわち、上記のようにキャリア8がワーク搬送器7a
によってローダ部1から処理槽20内に搬入されると、
図3及び図5に示すように、キャリア8のガイド部材4
4に取り付けられ導電性部材45の板バネ部45aが電
解研磨手段40の電極41に接触する。この状態で、給
電器43が駆動され、50枚の磁気ディスク基板Wが混
合液Cの電解液を介して所定の電圧に印加されて、電解
研磨される。これによりポリッシング加工及びテクスチ
ャ加工だけでは磁気ディスク基板W表面に残るであろう
と予想される突起やバリなどがエッチングによって略完
全に除去される。
【0025】上記のように、仕上げ研磨が完了すると、
ブラシホルダ31が上昇して摺擦ブラシ32の回転が停
止する。一方、磁気ディスク基板Wは支持台26により
キャリア8ごと処理槽20内を上流側に向けて移送さ
れ、上流端の取出位置に停止したあと、ワーク搬送器7
bによりキャリア8が処理槽20から取り出されて後段
のスクラブ洗浄部3に送られる。そして、キャリア8が
取り出された上記支持台26は、処理槽20内を下流側
へと移動して下流端の受取位置に停止し、ワーク搬送器
7aにより次の新たな磁気ディスク基板W入りキャリア
8が供給され、上述した動作を繰り返す。
【0026】スクラブ洗浄部3において、仕上げ研磨さ
れた磁気ディスク基板Wを収容したキャリア8がワーク
搬送器7bによって仕上げ研磨部2からスクラブ洗浄部
3の処理槽20内に搬入され、待機している支持台26
上に載置されると、キャリア8を支持台26が洗浄液中
を上流側へと移動して、処理槽20の中央部で一端停止
する。この状態で、ブラシホルダ31の摺擦ブラシ32
を回転しながら下降し、洗浄液中に全浸漬されている5
0枚の磁気ディスク基板Wが、スポンジ状や布状あるい
は短繊維状の柔軟で圧縮性のある摺擦部材を有した摺擦
ブラシ32でスクラブ洗浄され、磁気ディスク基板Wに
付着した研磨材などが洗い落とされる。
【0027】上記のように、スクラブ洗浄部3で洗浄が
終わった磁気ディスク基板Wは、ワーク搬送器7cによ
りキャリア8ごと後段の仕上げ洗浄部4に送られる。す
ると、図7に示すように、キャリア8が待機している支
持台26上に載置され、一方向から他方向に向けてリン
ス液Lを連続的に流す処理槽20内において、キャリア
8に収納された50枚の磁気ディスク基板Wがリンス液
L中に全浸漬された状態で下流側から上流側に向けて移
動させられる。これにより、50枚の磁気ディスク基板
Wが流れるリンス液Lによって仕上げ洗浄される。
【0028】上記仕上げ洗浄が終了すると、ワーク搬送
器7dにより、図8に示すように、磁気ディスク基板W
を収納したキャリア8が乾燥部5の開口部69から乾燥
槽60内に搬入される。すると、高温の溶剤蒸気が各磁
気ディスク基板Wと接触して凝縮し、磁気ディスク基板
Wの表面を流下することによって水分やその他の付着物
を洗い流す。そして、磁気ディスク基板Wの温度上昇と
共に溶剤蒸気の擬縮が次第に滅少して、磁気ディスク基
板Wの乾燥が進行し、約60秒前後で乾燥が完了する。
この乾燥が終わると、キャリア8はワーク搬送器7eに
よりアンローダ部6に取り出され、次工程に送られる。
【0029】このように、この実施形態の処理装置によ
れば、一台の処理装置で一度に50枚の磁気ディスク基
板Wを仕上げ研磨,スクラブ洗浄,仕上げ洗浄,及び乾
燥処理することができるので、装置の小型化と量産性の
向上とを図ることができる。
【0030】なお、この発明は、上記実施形態に限定さ
れるものではなく、発明の要旨の範囲内において種々の
変形や変更が可能である。例えば、上記実施形態では、
ワークとして磁気ディスク基板Wを適用したが、電解研
磨手段40で電圧印加が可能な素材で形成されたあらゆ
る平板状の部材をワークとして使用することができる。
また、仕上げ研磨部2において、処理槽20の底面や側
面等の適宜位置に超音波照射手段を付設しても良い。こ
れにより、超音波を照射しながら仕上げ研磨処理をした
り、混合液Cを攪拌して混合液C内の研磨材が沈殿しな
いようにすることができる。同様に、スクラブ洗浄部3
や仕上げ洗浄部4においても処理槽20に超音波照射手
段を付設し、洗浄液中やリンス液L中に超音波を照射し
ながら洗浄処理を行うようにしても良い。
【0031】また、上記実施形態では、仕上げ研磨部2
とスクラブ洗浄部3及ぴ仕上げ洗浄部4が横溝形の処理
槽20を有し、この処理槽20内を横向きに流れる混合
液Cや洗浄液等の処理液の流れの中で磁気ディスク基板
Wを処理するようにしたが、それらの中の少なくとも一
つの工程を、オーバーフロー式の処理槽を使用して、槽
底部から供給されて槽上部からオーバーフローする処理
液の上向きの流れの中で磁気ディスク基板Wを処理する
ように構成することもできる。あるいは、処理液の流れ
の中で磁気ディスク基板Wを処理することなく、溜めた
処理液の中で処理するようにしても良い。これらの処理
方法を用いる場合、磁気ディスク基板Wを槽内で移動さ
せる必要はない。
【0032】また、上記実施形態では、スクラブ洗浄部
3に洗浄液のリサイクルシステムを付設しなかった。し
かし、スクラブ洗浄部3で洗浄液として高価な純水を使
用する場合には、純水リサイクルシステムを給液口21
aと排液口22aとの間に接続し、排液口22aから回
収した洗浄水を再生処理して給液口21aに供給するこ
とにより、循環的に再使用するように構成することが望
ましい。
【0033】また、仕上げ洗浄部4には、磁気ディスク
基板Wの種類等に応じて、その前段に、純水や純水に有
機溶剤等を添加したものあるいはアルカリ性等に調整さ
れたものなどからなるリンス液L中に磁気ディスク基板
Wを静止状態で浸漬し且つその状態で磁気ディスク基板
Wに超音波を照射して洗浄する前処理用の第1洗浄部を
設けても良い。この場合、上述した仕上げ洗浄部4が第
2洗浄部となる。なお、上記第1洗浄部も流液式とする
ことが望ましい。
【0034】また、上記実施形態では、乾燥部を蒸気乾
燥式の乾燥部5としたが、蒸気乾燥方式以外のものでも
良く。例えば、磁気ディスク基板Wを輻射熱や温風など
で乾燥させる熱乾燥方式のものや、磁気ディスク基板W
を高速回転させて水切りをするスピン乾燥、真空プラズ
マ乾燥、高速でエアが吸引される吸引ダクトの途中に磁
気ディスク基板Wを置いて乾燥させる吸引ブロー乾燥方
式のもの等を使用することもできる。なお、乾燥部5の
後段には、磁気ディスク基板Wの種類等により必要に応
じて、乾燥処理された磁気ディスク基板Wに紫外線を照
射して静電気を除去するための紫外線処理部を設けるこ
ともできる。さらに、乾燥部5の前段に、溶剤蒸気が磁
気ディスク基板Wと接触したときに効率良く凝縮できる
ようにするため、磁気ディスク基板Wを冷却するための
前処理部を設け、この前処理部において、処理槽内に入
れられた液状溶剤に磁気ディスク基板Wを浸漬させるよ
うにすることもできる。
【0035】また、上記ワーク搬送器7a〜7eにおい
て、吊支部材73,73をキャリア8に係止させたり搬
送後のキャリア8を吊支部材73,73から解放する方
法は、上記のものに限らず、一対の吊支部材73,73
の間隔を変化させる方法や、窪みの代わりに鍵形の金具
を取り付け、この金具をフック13に係脱させるといっ
たような方法であっても良い。さらに、スイングアーム
71がどの揺動角度にあっても吊支部材73,73が鉛
直を保つようにするため、換言すれば、スイングアーム
71の如何なる揺動角度においてもキャリア8を水平に
保つために、吊支部材73,73を吊支軸72に回転自
在に取り付け、適当な制御機構でその回転角度を制御す
ることもできる。
【0036】
【発明の効果】以上詳しく説明したように、請求項1な
いし請求項3の発明に係る発明によれば、ワークの仕上
げ研磨,スクラブ洗浄,仕上げ洗浄及び乾燥という一連
の処理を一台の装置で行うことができる小型な装置を提
供することができるので、工場内の設置スペースや設置
条件を考慮することなく、工場内の小さなスペースに一
連の処理ラインを簡単に設置することができるという優
れた効果がある。しかも、多数のワークを同時に仕上げ
研磨,洗浄及び乾燥することができるので、量産性が向
上する。特に、請求項4及び請求項5の発明によれば、
仕上げ研磨部とスクラブ洗浄部の処理槽の構造を流液式
にしたので、仕上げ研磨効率と洗浄効率を向上させるこ
とができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態に係るワーク仕上げ研
磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置を示す概略構成図で
ある。
【図2】磁気ディスク基板を収納したキャリアを一部破
断して示す正面図である。
【図3】キャリアの側面図である。
【図4】仕上げ研磨部を示す断面図である。
【図5】図4の矢視A−A断面図である。
【図6】摺擦ブラシの構造を示す断面図である。
【図7】仕上げ洗浄部を示す断面図である。
【図8】乾燥部を示す断面図である。
【図9】ワーク搬送器を示す側面図である。
【図10】仕上げ研磨加工を行うことが可能な従来の仕
上げ研磨装置の一例を示す概略図である。
【符号の説明】 1…ローダ部、 2…仕上げ研磨部、 3…スクラブ洗
浄部、 4…仕上げ洗浄部、 5…乾燥部、 6…アン
ローダ部、 7…搬送部、 7a〜7e…ワーク搬送
器、 8…キャリア、 20…処理槽、 25…移動機
構、 26…支持台、 30…ポリッシング/テクスチ
ャ加工手段、 31…ブラシホルダ、 32…摺擦ブラ
シ、 40…電解研磨手段、 41,42…電極、 4
3…給電器、 C…混合液、 L…リンス液、 W…磁
気ディスク基板。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成11年6月22日(1999.6.2
2)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正内容】
【発明の名称】 ワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の
一体化処理装置

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 研磨液と電解液との混合液を収容した処
    理槽を有し、ワーク収納体に収納された状態で上記混合
    液内に全浸漬された複数のワークを回転する複数の摺擦
    ブラシでポリッシング加工及びテクスチャ加工すると共
    に、上記複数のワークに所定電圧を印加して、ワークの
    加工面を電解研磨することにより、上記複数のワークを
    研磨する仕上げ研磨部と、 洗浄液を収容した処理槽を有し、上記ワーク収納体に収
    納された状態で上記洗浄液内に全浸漬された複数のワー
    クを回転する摺擦ブラシで洗浄するスクラブ洗浄部と、 リンス液を収容した処理槽を有し、上記ワーク収納体に
    収納された状態で上記リンス液内に全浸漬された複数の
    ワークを当リンス液で洗浄する仕上げ洗浄部と、 上記ワーク収納体に収納された複数のワークを乾燥処理
    する乾燥部と、 上記ワーク収納体を上記仕上げ研磨部,スクラブ洗浄
    部,及び仕上げ洗浄部の各処理槽内に搬送した後、当該
    ワーク収納体を上記乾燥部に搬送する搬送部とを具備す
    ることを特徴とするワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の
    一体化処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のワーク仕上げ研磨,洗
    浄及び乾燥の一体化処理装置において、 上記ワーク収納体を、収納された複数のワークを回転可
    能に保持する構造にすると共に、 上記複数の摺擦ブラシを、駆動回転可能な複数の円板体
    の両面に研磨パッドをそれぞれ貼り付けることで構成
    し、 上記仕上げ研磨部におけるポリッシング加工及びテクス
    チャ加工を、上記複数の摺擦ブラシの研磨パッドで上記
    複数のワークの両面の略上半部をそれぞれ挟んだ状態
    で、上記複数の円板体を駆動回転させることにより、実
    行する、 ことを特徴とするワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一
    体化処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2に記載のワーク
    仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置において、 上記ワーク収納体を、収納された複数のワークと電気的
    に接触可能な構造にし、 上記仕上げ研磨部における電解研磨を、上記ワーク収納
    体が処理槽内に配されたときに当該ワーク収納体を介し
    て上記複数のワークと電気的に接続される一方の電極
    と、上記処理槽内の混合液に接触した状態で設けられた
    他方の電極とに通電させることにより、実行する、 ことを特徴とするワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一
    体化処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれかに記
    載のワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置
    において、 上記仕上げ研磨部の処理槽を、上記混合液が処理槽の一
    方向から他方向に流れる流液式の構造にした、 ことを特徴とするワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一
    体化処理装置。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし請求項4のいずれかに記
    載のワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置
    において、 上記スクラブ洗浄部の処理槽を、上記洗浄液が処理槽の
    一方向から他方向に流れる流液式の構造にした、 ことを特徴とするワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一
    体化処理装置。
JP17431899A 1999-06-21 1999-06-21 ワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置 Withdrawn JP2001001256A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17431899A JP2001001256A (ja) 1999-06-21 1999-06-21 ワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17431899A JP2001001256A (ja) 1999-06-21 1999-06-21 ワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001001256A true JP2001001256A (ja) 2001-01-09

Family

ID=15976561

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17431899A Withdrawn JP2001001256A (ja) 1999-06-21 1999-06-21 ワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001001256A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109262437A (zh) * 2018-10-29 2019-01-25 温州康通环保科技有限公司 一种全自动三通管磁力抛光清洗烘干设备
CN109465974A (zh) * 2017-09-07 2019-03-15 株式会社迪思科 切削刀具提供装置和切削刀具容器
CN111376173A (zh) * 2018-12-28 2020-07-07 广州意达数控科技有限公司 一种数控打磨机用快速冷却清洗机
CN114619295A (zh) * 2022-03-13 2022-06-14 温州聚星科技股份有限公司 一种用于铆钉电触头黑点去除的磁力抛光设备

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109465974A (zh) * 2017-09-07 2019-03-15 株式会社迪思科 切削刀具提供装置和切削刀具容器
CN109262437A (zh) * 2018-10-29 2019-01-25 温州康通环保科技有限公司 一种全自动三通管磁力抛光清洗烘干设备
CN111376173A (zh) * 2018-12-28 2020-07-07 广州意达数控科技有限公司 一种数控打磨机用快速冷却清洗机
CN114619295A (zh) * 2022-03-13 2022-06-14 温州聚星科技股份有限公司 一种用于铆钉电触头黑点去除的磁力抛光设备
CN114619295B (zh) * 2022-03-13 2024-04-26 温州聚星科技股份有限公司 一种用于铆钉电触头黑点去除的磁力抛光设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4067307B2 (ja) 回転保持装置
US6352467B1 (en) Integrated electrodeposition and chemical mechanical polishing tool
JP4127926B2 (ja) ポリッシング方法
KR20010109299A (ko) 반도체기판처리장치 및 처리방법
US5954888A (en) Post-CMP wet-HF cleaning station
JP2008013851A (ja) 回転保持装置及び半導体基板処理装置
KR100341011B1 (ko) 기판의 양면세정장치 및 양면세정방법
US6676765B2 (en) Method of removing particles and a liquid from a surface of substrate
KR101884640B1 (ko) 화학 기계적 연마 시스템
JP2001001256A (ja) ワーク仕上げ研磨,洗浄及び乾燥の一体化処理装置
JP2002096037A (ja) 基板洗浄具及び基板洗浄装置
JP2000301089A (ja) 板状ワークの処理方法及び装置
US11929264B2 (en) Drying system with integrated substrate alignment stage
JP2008296351A (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
US7410814B1 (en) Process and apparatus for cleaning silicon wafers
JP2003306793A (ja) めっき装置及び方法
JP7221375B2 (ja) 基板処理ブラシの洗浄方法及び基板処理装置
JPH11320385A (ja) 研磨方法及びその装置
JP3225273B2 (ja) ウエハ基板の総合研磨装置
JP2005032915A (ja) 基板処理方法および基板処理装置
JP2023171224A (ja) 基板処理装置、基板処理方法、及び、記憶媒体
KR20060025836A (ko) 기판 세정 장치 및 기판 세정 방법
KR20230161356A (ko) 기판 처리 장치, 기판 처리 방법 및 기억 매체
JP2002217152A (ja) ウエハの総合研磨洗浄方法
US20110214691A1 (en) Method and apparatus for washing substrates

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20060905