JP2000507700A - X線回折を用いて表面下結晶構造を検知するための装置及び方法 - Google Patents
X線回折を用いて表面下結晶構造を検知するための装置及び方法Info
- Publication number
- JP2000507700A JP2000507700A JP9535302A JP53530297A JP2000507700A JP 2000507700 A JP2000507700 A JP 2000507700A JP 9535302 A JP9535302 A JP 9535302A JP 53530297 A JP53530297 A JP 53530297A JP 2000507700 A JP2000507700 A JP 2000507700A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- data
- rays
- ray
- computer system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.試料の1または2以上の結晶粒構造を検知するための試料検査装置であっ て、 a)i) 試料中にX線を放射するX線手段; ii)試料をX線中に位置決めする試料位置決め手段;及び iii)試料により回折されたX線が発生する透過X線回折パターンを検出し 、透過検出データを発生する電気−光学的検出器である透過検出器手段よりなる 検査装置と、 b) 透過検出データよりなる試料検査データをコンピュータシステムへ送る 通信手段と c)コンピュータシステムとよりなり、 コンピュータシステムは、 i) 試料検査データをX線手段、試料位置決め手段、透過検出器手段の間 の以前に求めた関係及び起こり得るその回折パターンを示すデータと比較するこ とにより試料の結晶粒構造を求める分析手段、及び ii)試料の結晶粒構造を表示する表示手段よりなる試料検査装置。 2.X線手段は、 広帯域波長X線を発し、連続モードで動作し、少なくとも1つのコリメータを 有する第1のX線源または、 所定の結晶粒構造を検出するための所定の狭帯域波長X線を発し、連続モード で動作し、少なくとも1つのコリメータを有する第2のX線源若しくは、 扇形ビームX線源である請求項1の装置。 3.X線源がさらにX線手段データを発生する手段を含み、 試料検査データがさらにX線手段データを含む請求項2の装置。 4.試料位置決め手段がさらに試料を保持するステージを含み、ステージがX 線源に対して垂直及び水平に移動可能であり、また垂直軸を中心として回転可能 であり、試料位置決め手段がさらに試料位置決め手段データを発生する手段を含 み、 試料検査データがさらに試料位置決め手段データを含む請求項1の装置。 5.ステージは水平面における2つの交差する軸を中心として回転可能である 。請求項4の装置。 6.試料位置決め手段はさらにコンベアを含む請求項1の装置。 7.分析手段は、X線手段、試料位置決め手段、透過検出器手段の間の以前に 求めた関係及び起こり得る回折パターンを示すデータのデータベースと、コンピ ュータシステムに指令を送って試料検査データをデータベース中のデータに対し て分析するコンピュータプログラムとよりなる請求項1の装置。 8.試料位置決め手段はコンピュータシステムにより移動可能である請求項7 の装置。 9.分析手段は、試料検査データを分析し、結晶粒構造を検出するコンピュー タプログラムよりなる請求項1の装置。 10.表示手段は、 試料の可視的な二次元結晶マップまたは、 試料の可視的な三次元結晶マップまたは、 光源若しくは、 音声を発生する請求項1の装置。 11.試料により回折されたX線が発生する後方散乱X線回折パターンを検出 して後方散乱回折データを発生する後方散乱検出器手段をさらに含み、 試料検査データはさらに後方散乱検出器手段のデータを含み、 分析手段はさらに試料検査データを後方散乱検出器手段と起こり得る回折パタ ーンの間の以前に求めた関係を示すデータと比較する請求項1の装置。 12.試料の1または2以上の結晶粒構造を検出する方法であって、 X線手段により放射されるX線の通路において試料を位置決めし、 試料により回折された透過回折X線を少なくとも1つの電気−光学的検出器に より検出し、 X線、透過回折X線、電気−光学的検出器及び試料に関する試料検査データを 発生させてコンピュータシステムへ送り、 試料検査データをX線、透過回折X線、試料、電気−光学的検出器及び起こり 得る回折パターンの間の以前に求めた関係を示すデータと比較することにより試 料の結晶粒構造を求めるべく試料検査データを分析し、 分析ステップに基づき試料の結晶粒構造を表示するステップよりなる方法。 13.X線手段は、 広帯域波長X線を発し、連続モードで動作し、少なくとも1つのコリメータを 有する第1のX線源または、 所定の結晶粒構造を検出するための所定の狭帯域波長X線を発し、連続モード で動作し、少なくとも1つのコリメータを有する第2のX線源若しくは、 扇形ビームX線源である請求項12の装置。 14.試料位置決めステップは、X線源に対して垂直及び水平に移動可能であ り、垂直軸を中心として回転可能であるステージ上に試料を配置し、ステージを 移動させて試料を位置決めするステップを含む請求項12の方法。 15.試料位置決めステップは、試料をコンベアによりX線の通路に移動させ るステップを含む請求項12の方法。 16.分析ステップは、X線、回折X線、電気−光学的検出器、試料の間の以 前に求めた関係及び起こり得る回折パターンを示すデータのデータベースと、コ ンピュータシステムに指令を送って試料検査データをデータベース中のデータに 対して分析するコンピュータプログラムとよりなる請求項12の方法。 17.位置決めステップは、コンピュータシステムを用いて試料を位置決めす るステップよりなる請求項16の方法。 18.分析ステップは、コンピュータプログラムにより試料検査データを分析 し、結晶粒構造を検出するステップよりなる請求項12の方法。 19.表示ステップは、コンピュータプログラムにより、 試料の可視的な二次元結晶マップまたは、 試料の可視的な三次元結晶マップまたは、 光源若しくは、 音声を発生させる請求項12の方法。 20.検出ステップは、後方散乱X線回折パターンを検出するステップよりな る請求項12の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/625,350 | 1996-04-01 | ||
US08/625,350 US6005913A (en) | 1996-04-01 | 1996-04-01 | System and method for using X-ray diffraction to detect subsurface crystallographic structure |
PCT/US1997/004386 WO1997037214A1 (en) | 1996-04-01 | 1997-03-19 | System and method for using x-ray diffraction to detect subsurface crystallographic structure |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000507700A true JP2000507700A (ja) | 2000-06-20 |
Family
ID=24505661
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9535302A Ceased JP2000507700A (ja) | 1996-04-01 | 1997-03-19 | X線回折を用いて表面下結晶構造を検知するための装置及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6005913A (ja) |
EP (1) | EP0891542A1 (ja) |
JP (1) | JP2000507700A (ja) |
KR (1) | KR20000005407A (ja) |
CA (1) | CA2250748A1 (ja) |
WO (1) | WO1997037214A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018025618A1 (ja) * | 2016-07-30 | 2018-02-08 | 株式会社リガク | 物質構造の探索方法とそれに用いるx線構造解析システム |
JP2019536042A (ja) * | 2016-11-28 | 2019-12-12 | サフラン | ターボエンジン部品の非破壊的制御方法 |
CN111337524A (zh) * | 2020-03-04 | 2020-06-26 | 金华职业技术学院 | 张应力低温退火诱导非晶合金材料多形相变检测方法和装置 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6163592A (en) * | 1999-01-28 | 2000-12-19 | Bruker Axs, Inc. | Beam scattering measurement system with transmitted beam energy detection |
US6542578B2 (en) * | 1999-11-13 | 2003-04-01 | Heimann Systems Gmbh | Apparatus for determining the crystalline and polycrystalline materials of an item |
US6430256B1 (en) * | 2001-04-30 | 2002-08-06 | Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem | Direct structure determination of systems with two dimensional periodicity |
FR2828752B1 (fr) * | 2001-08-20 | 2004-03-12 | Ge Med Sys Global Tech Co Llc | Procede de correction de la densite de contraste d'une image dans un dispositif de radiographie |
GB0312499D0 (en) * | 2003-05-31 | 2003-07-09 | Council Cent Lab Res Councils | Tomographic energy dispersive diffraction imaging system |
US7034931B2 (en) * | 2003-06-30 | 2006-04-25 | United Technologies Corporation | Method to grain inspect directionally solidified castings |
US7078712B2 (en) * | 2004-03-18 | 2006-07-18 | Axcelis Technologies, Inc. | In-situ monitoring on an ion implanter |
CN100485373C (zh) * | 2004-07-14 | 2009-05-06 | 西南技术工程研究所 | 短波长x射线衍射测量装置和方法 |
US7646850B2 (en) * | 2007-01-18 | 2010-01-12 | The Research Foundation Of State University Of New York | Wide-field, coherent scatter imaging for radiography using a divergent beam |
WO2013098122A1 (en) | 2011-12-30 | 2013-07-04 | Arcelik Anonim Sirketi | A cooling device comprising a door opening mechanism |
US8937282B2 (en) | 2012-10-26 | 2015-01-20 | Fei Company | Mineral identification using mineral definitions including variability |
US9939393B2 (en) | 2015-09-28 | 2018-04-10 | United Technologies Corporation | Detection of crystallographic properties in aerospace components |
EP3462150A1 (en) | 2017-09-27 | 2019-04-03 | Rolls-Royce Corporation | Temperature determination using radiation diffraction |
GB201900583D0 (en) | 2019-01-16 | 2019-03-06 | Rolls Royce Plc | Method of detecting an anomaly in a single crystal structure |
JP7237210B2 (ja) * | 2019-06-24 | 2023-03-10 | エス・エム・エス・グループ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 多結晶製品の材料特性を特定するための方法および装置 |
GB201910587D0 (en) | 2019-07-24 | 2019-09-04 | Rolls Royce Plc | Defining parameters for scan of single crystal structure |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1308948A (en) * | 1969-05-30 | 1973-03-07 | Abrahamsson S | Monitoring occurence of respective events at a plurality of predetermied positions |
DE3439471A1 (de) * | 1984-10-27 | 1986-04-30 | MTU Motoren- und Turbinen-Union München GmbH, 8000 München | Verfahren und vorrichtung zum pruefen einkristalliner gegenstaende |
US4802195A (en) * | 1986-02-25 | 1989-01-31 | General Electric Company | Device for method for manipulating a part |
US4910758A (en) * | 1988-08-09 | 1990-03-20 | Amoco Corporation | X-ray diffraction method for generating mineralogy record of whole core |
US5491738A (en) * | 1993-03-15 | 1996-02-13 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | X-ray diffraction apparatus |
GB2288961B (en) * | 1994-04-22 | 1998-10-14 | Rolls Royce Plc | An apparatus and a method for inspecting a crystal |
-
1996
- 1996-04-01 US US08/625,350 patent/US6005913A/en not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-03-19 KR KR1019980708139A patent/KR20000005407A/ko not_active Application Discontinuation
- 1997-03-19 WO PCT/US1997/004386 patent/WO1997037214A1/en not_active Application Discontinuation
- 1997-03-19 EP EP97919886A patent/EP0891542A1/en not_active Ceased
- 1997-03-19 JP JP9535302A patent/JP2000507700A/ja not_active Ceased
- 1997-03-19 CA CA002250748A patent/CA2250748A1/en not_active Abandoned
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018025618A1 (ja) * | 2016-07-30 | 2018-02-08 | 株式会社リガク | 物質構造の探索方法とそれに用いるx線構造解析システム |
JP2019536042A (ja) * | 2016-11-28 | 2019-12-12 | サフラン | ターボエンジン部品の非破壊的制御方法 |
JP7203730B2 (ja) | 2016-11-28 | 2023-01-13 | サフラン | ターボエンジン部品の非破壊的制御方法 |
CN111337524A (zh) * | 2020-03-04 | 2020-06-26 | 金华职业技术学院 | 张应力低温退火诱导非晶合金材料多形相变检测方法和装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA2250748A1 (en) | 1997-10-09 |
WO1997037214A1 (en) | 1997-10-09 |
KR20000005407A (ko) | 2000-01-25 |
US6005913A (en) | 1999-12-21 |
EP0891542A1 (en) | 1999-01-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2000507700A (ja) | X線回折を用いて表面下結晶構造を検知するための装置及び方法 | |
US7265754B2 (en) | Method for displaying material characteristic information | |
JPS62249040A (ja) | X線検査装置および検査方法 | |
Campbell | Inspection of metals: understanding the basics | |
US6873680B2 (en) | Method and apparatus for detecting defects using digital radiography | |
WO2003099054A2 (en) | Method and apparatus for identifying gemstones | |
Lampman et al. | Nondestructive testing in failure analysis | |
JP3101257B2 (ja) | 試料表面の検査方法およびこれを使用するx線分析装置 | |
CN110609047A (zh) | 基于单色x射线衍射的单晶应力检测方法 | |
Davies et al. | Combined application of electron backscatter diffraction and stereo‐photogrammetry in fractography studies | |
Srawley et al. | Investigation of hydrotest failure of Thiokol Chemical Corporation 260-inch-diameter SL-1 motor case | |
KR100936746B1 (ko) | Χ-선 토포그래피에 의한 결함의 3-차원 분포의 분석 | |
WO1994017362A1 (fr) | Procede de controle non destructif du comportement mecanique d'un article subissant une charge, procede d'evaluation et appareil associes | |
JP7093929B2 (ja) | ニッケル基超合金の劣化診断方法、装置およびシステム | |
JP3091856B2 (ja) | 構造材料の疲労度を評価する方法 | |
JP2020159849A (ja) | 多結晶金属材料の劣化診断方法、装置およびシステム | |
Mayton et al. | Characterizing the effects of sonic IR variables on turbine disk inspection using a design of experiments approach | |
Cinbiz et al. | Yttrium Hydride Post-Irradiation Examination Plan | |
Wardhani | RADIOGRAPHIC EXAMINATION PROCEDURE AS NON DESTRUCTIVE TESTING METHOD IN PROCESS PIPING | |
Clay et al. | Improving single-crystal orientation determination for advanced nickel-based alloys. | |
Ayad et al. | Panoramic X-Ray Mode for Testing Weld Quality of Natural Gas Pipeline from Khoms City to Tripoli. | |
Degtyareva et al. | The X-ray investigation of the macro-stresses and design for its realization (laboratory practicum) | |
JPH02216036A (ja) | 構造物余寿命評価方法 | |
Mylavarapu et al. | Sensitivity evaluation of NDT techniques on naturally initiating fatigue cracks-An experimental approach for a POD framework | |
Wiacker et al. | 57972 Holmstrom, JE. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040318 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050524 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20050822 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20051007 |
|
A313 | Final decision of rejection without a dissenting response from the applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A313 Effective date: 20060110 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060214 |