JP2000502820A - 超大集積空間光変調器用の位相変調微細構造 - Google Patents

超大集積空間光変調器用の位相変調微細構造

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Abstract

(57)【要約】 入射する光線(32)の位相変調のための構造であって、ミラー(32)とミラー上に設けられた変形可能な透明誘電体(36)と少なくとも2個の電極(41,42;41a,41b,42;50,50')とを有しており、該電極は1個以上の固定電位を有し、1個以上の制御電圧が印加されて電界(58)を誘電体(36)の少なくとも部分領域に発生し、これにより電界が印加されない誘電体(36)の状態に対して誘電体(36)を通過する光線の光路長を変化させる。CMOS活性マトリックス上に付与されたそのような位相変調構造が超大集積空間変調器を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】 超大集積空間光変調器用の位相変調微細構造 この発明は光弁のための超大集積空間光変調器に関するもので、特に構造上に 入射した光の位相変調のための位相変調構造に関するものである。 光弁に用いられる空間光変調器はときには所謂シュリーエン・イメージ・シス テムに間連して用いられて、半導体ウエファーの投射や直接曝露に応用されてき た。電子的なイメージ情報は対応する光線の移送変調(空間光変調器による)に 変換される。シュリーエン・イメージ・システムはついでこの光線の位相変調を 観察板上の光度変動に変換する。これには例えば非変調光線は阻止して、空間光 変調器の変調された部分に入射した光の通過のみを許すのである。 変調された光が観察板に到達するモードをポジティブモードという。非変調光 のみが観察板に到達し変調光が阻止されるようにシュリーエン・イメージ・シス テムが構成されている場合には、全体の曝露構造は所謂ネガティブモードで作用 する。 この発明の応用分野の理解を容易とすべく、以下に公知の空間光変調器を利用 してシュリーエン・イメージ・システムについて簡単に説明する。公知の曝露手 段はWO91/17483号に開示されている。 しばしばレーザーの形で与えられる光源は光線拡大光学システムおよび焦点光 学システムを介して光線をバーミラー機構に送信する。この光線はシュリーレン レンズによって空間光変調器上に反射される。変調器の画素がアドレスされるか 否かに応じて、変調から反射された光線は、シュリーレンレンズを通って再びバ ーミラー機構上に反射されるか、シュリーレンレンズを通って投射レンズ手段に 到達し、観察板上に光線のイメージを形成する。この観察板には例えば曝露され るべきウエファーが配置される。 以上の述べたように、シュリーエン・イメージ・システム全体としては、空間 光変調器によって変調さらた光線のイメージを観察板上に形成することができる 。これはポジティブモードである。また光学SHシステムは変調器に処理されな か った光線のイメージを観察板上に形成することもできる。これはネガティブモー ドである。ここでは変調さらた光線は観察板により阻止され、例えば光源に戻り 反射される。 WO91/17483号に開示された曝露装置が利用している空間光変調器は 、シュリーレンレンズに向かう方向で反射面(例えば金属フィルムである)にお いて終わっている粘弾性制御層にを含んでいる。この変調器はさらに所謂活性ア ドレス・マトリックスを含んでおり、このマトリックスはMOSトランジスター の一体的な集積構造から構成されたものであり、活性CMOSマトリックスとも 呼ばれており、制御電極対を有している。光変調器の反射面の各画素または表面 部分は1個以上の電極対っを具えた2個のトランジスターを有しており、各トラ ンジスターは粘弾性層よびその反射面とともに1以上の格子期間の回析格子を構 成している。 論文“Deformation behavior of thin visco elastic layers used in active−matrix−a ddressed spatial light modulater、 SPIE 、vol. 1018、Electro−Optic and Magneto− Optic Materials”(1988)に記載されているように、0. 1μmの範囲の粘弾性制御層の変形振幅のためには少なくとも約±10ボルトの 電圧が必要である。かくした活性マトリックスのトランジスターは少なくとも2 0v以上のピーク対ピーク電圧にたえなければならない。しかし従来のMOS成 分の多くは12vの最大作用電圧しか有していないのである。したがって低価格 のCMOS成分を従来のそのような光変調器に用いることはできない。代りに粘 弾性層を具えた公知の光変調器は、充分な破壊電圧を得るためには、特別にドー プされたトランジスターを必要とするのである。 USP4728185号に開示された空間光変調器は多数の電気的にアドレス 可能な微視力学的なレバーバーからなる反射面を有している。 JPA−4350819号には、良好な再現性と制御性とを具えた位相差を生 み出す可変位相板が開示されている。この可変位相板は層状の内部誘電体を有し ており、これが外部誘電体の対応寸法の孔中に弾性材料によって取り付けられて いる。内部誘電体の両主面は第1と第2の電極により被覆されており、外部誘電 体の両主面も第1と第2の電極により被覆されている。電極は光伝達性の導体層 であって、それに電位を印加することができる。 特定の差動電圧が内部誘電体に取り付けられた電極に印加されると、内部誘電 体の厚さが変化する。外部誘電体上の電極に差動電圧が印加されないかまたは異 なる差動電圧が印加されると、内部誘電体を通過する光線の位相が外部誘電体を 通過する光線の位相と異なったものとなる。内部誘電体を外部誘電体に連結して いる弾性材料は両誘電体の異なる厚さを許容する機能を有している。 DE−AS1291416号はこの発明の請求の範囲の請求項1がその基盤と するものであるが、光学位相変調器を開示している。この変調器はレジストレー ション帯に取り付けられた第1の反射電極を有している。この第1の電極の上方 には圧電層が設けられていて、その第1の電極に離間対向する表面上に第2の透 明な電極を有している。この第2の電極は光線の入射方向に透明な基材により被 覆されている。レジストレーション帯により第1の電極の異なる部分に電圧を印 加すると、それに対応する態様で圧電層の一部の厚さが変化する。電圧が印加さ れた圧電層を通過して第1の電極により反射されて圧電層の上記部分を通過する 光線の位相は、異なる電圧が印加された圧電層の異なる部分を通過して第1の電 極により反射されて該異なる部分を通過する光線の位相とは、異なっている。こ れはなぜかと言うと、異なる電圧が印加された圧電層の部分の厚さが互いに異な るからである。 USP4660938号は透明な電極上に形成された回折格子を有した光弁を 開示しており、特定波長の光線(個々の回折格子バー間の空間を通過する)の光 路長が回折格子を通過する光線の半波長に対して奇数差をなすように、回折格子 の溝の深さを設定する。透明な電極に対向して追加の透明な電極が設けられてお り、2個の電極の間の空間には空気と透明な液体がある。 2個の電極に電圧が印加されると、電界が形成されて液体を回折格子バー間の 空間中に惹きつけ、それによりそれらの空間を通過する光線の光路長を変化させ る。回折格子バーを通る光線と回折格子バー間の空間を通る光線の光路長の当初 の差異が変更されたから、隣接する光線の解消はもうなく、光線は回折格子構造 中を通過できるのである。かくして、電圧が印加されないときには光弁は実質的 に光線を伝達しない。電圧が印加されると、液体が異なる態様で配列されるので 、光線は構造を通って伝達される。 USP3560955号には負荷にさらされたときに複屈折を表示できる等方 性の透明材料の層を有した光学的要素が開示されている。この負荷は実質的に均 一な態様で層上に分散された複数個の負荷発生要素により生成されるものであり 、該負荷発生要素は電気ひずみおよび磁気ひずみ材料を含んでおり、それに所定 量の負荷を制御可能に印加する印加手段に効果的に接続されている。負荷状態で 複屈折を表示する等方性材料は偏光スクリーンと分析スクリーンとの間に配置さ れている。また両スクリーンの間およびに等方性材料に隣接して、電気ひずみ変 換バーが設けられており、その2側部は電流導通性の薄い金属被覆によりコーチ ングされて電極を構成しており、これに電圧が印加されると変換バーが変形する 。これにより等方性材料に負荷を印加して複屈折性にする。すると分析スクリー ンを通って伝達された光線の色が変化する。 GB1596649号には位相変調のための手段が開示されている。この手段 は光線が通過する2個の光線伝達端部を具えた水晶結晶を含んでいる。水晶結晶 上の端部の脇には2対の電極が設けられている。電極に適当な電圧が印加される と、水晶結晶が振動して屈曲し、そこを通過する光線に位相変調を施す。 この発明の目的は光線の位相変調のための位相変調構造およびそれよりなる空 間光変調器を提供することにある。 かかる目的は請求範囲の請求項1および請求項12に記載の発明により達成さ れるものである。 コンデンサーの容量が最大に達したかまたはコンデンサーの空気容量が誘電体 により満たされる(以下図1a、1bにより詳細に説明するように)までに電圧 を印加されたコンデンサーのフィールド領域に誘電体が惹かれる効果を利用する ものである。 特にミラー上の液状誘電体を用いることにより、この発明の位相変調構造上に 入射する光線の位相変調を小さな電圧で充分なものとすることができる。しかし てCMOSマトリックスの助けを借りて、この発明の位相変調構造を利用して空 間光変調器を制御することが可能となる。CMOS成分は高価でなく、電力消費 量も低く、超大集積化することができるのである。 この発明の他の利点は、特定の位相変調を生じるのに必要な電圧が小さく構造 のサイズも小さいことである。例えばこの発明によった超大集積光弁の熱動力発 散は小さく、サイズが小さいので同時に小さい電圧を制御するのに小さなトラン ジスターを用いることができる。すなわちこの発明はサイズという観念において 利益がある。 さらに活性CMOSマトリックスに間連してこの発明による位相変調構造は、 空間光変調器の極端なる小型化を可能とし、これにより極端に微細な画素領域と 同時に極端に高い画素数(106〜109)が可能となる。画素を通して得られる 位相変調は好ましくは0〜πの範囲であるが、より大なる位相変調も可能である 。 空間光変調器の微少化は、例えば半導体ウエファーの直接曝露および複雑で高 損失な光学的構造などがなくなるので、有利である。なぜならば、達成可能な空 間光変調器の寸法(例えば曝露されるべきウエファー)がすでにオーダーに組み 込まれ得るからである。 以下添付の図面によりこの発明の実施例をさらに詳細に説明する。 図1aおよび図1bはこの発明による位相変調構造の効果を示すグラフであり 、 図2は直交光入射の場合の光線の位相変調の生成を示すものであり、 図3はこの発明の第1の実施例による位相変調構造列の平面図であり、 図4は図3の位相変調構造列の断面図であり、 図5はこの発明の第2の実施例による位相変調構造列の平面図であり、 図6は図5の位相変調構造列の断面図であり、 図7aと図7bは図5の位相変調構造列の作用モードを示すものであり、 図8は位相変調構造列の上方に配置された修正レンズ機構の効果を示すもので あり、 図9はこの発明の第3の実施例による位相変調構造列の平面図であり、 図10は図9の位相変調構造列の断面図であり、 図11はこの発明の第4の実施例による位相変調構造列の平面図であり、 図12aは図11の位相変調構造列の断面図であり、 図12bは図11の位相変調構造列のさらなる断面図である。 コンデンサーの容量が最大に到達するか、または可能な限り大なる程度までコ ンデンサーが誘電体により満たされるまで、誘電体がコンデンサーのフィールド 領域の方に惹かれるという効果に、この発明は立脚するものである。これを図1 aと図1bに示す簡単な構造により以下説明する。 図1aと図1bに容器10と板コンデンサー12とを示す。コンデンサーの2 枚の板の間の距離を「d」で示す。図1aにおいてコンデンサーには電圧は印加 されてない(U−0)。容器中には液状誘電体14が収容されており、コンデン サーの板と板外では同じ液位を有している。液体の表面張力と毛細管現象の故に 、コンデンサーの2枚の板と容器の壁においてのみ、誘電体の液位は若干上がっ ている。 コンデンサー12の電極に制御電圧USが印加されると、上記の効果によりコ ンデンサー板間の液位は重力に抗して毛細管現象(図1a)による液位の上方に 上がる。印加電圧が0である場合と印加電圧がUSである場合との液の差異をΔ hで示す。これは液状誘電体の場合だけ起こる効果ではなく、固体状または気体 状誘電体においても起きるものである。 下記に示す例は数値によりオーダーを示すものである。例えば、液状誘電体1 4として密度が約1g/cm3で誘電率εrが約2.5のがシリコンオイルを用い た場合には、コンデンサー板間距離が25μmで印加電圧が1Vなら、コンデン サー板間の液位は約1μm上昇する。一般的に言うと、液の差異はU2/d2に比 例する。ここでdはコンデンサー板間距離であり、Uはコンデンサー板における 電圧である。 図2に液状誘電体の液位変化による位相変調の行われ方を示す。図2において 誘電体14の下方に設けられたミラー16は屈折率がn1である。誘電体14の 上方には屈折率n0の異なる誘電体18が設けられており、例えば空気などであ る。図2の左半分は図1aに相当する。すなわち誘電体14中には誘電場が存在 しない。また右半分は図1bに相当し、誘電体14中の誘電場の故に誘電体の液 位が上昇している。 ほぼ直交状態で衝突する2本の光線20a、20bを比較する。これらの光線 は部分的に異なる液位で伝達して、地点EおよびE’においてミラー16により 反射され、その後逆行して屈折率n1、n0の誘電体とを通過する。AからBへお よびA’からB’への途中で2本の光線は液位差Δhの故に異なる光路をたどる 。この光路の差異はそれ自身2本の光線20a、20bの位相差において下記の ように示されるものである。 ΔΦ=4π・(n0−n1)・Δh/λ この式において、λは入射光線の波長を示す。n1=1.4の液体(例えばシ リコン・オイル)を用いると、位相変調π(すなわちλ/2)には液位差Δh= λ/1.6が必要となる。換言すれば、誘電体14中に存在する電界は上記の効 果の故に光線の光路を延長するのである。したがって図1a、図1bに示す構成 によれば電圧に応じて入射光線の移送を変調することが可能である。 図3に上平面図に示すのはこの発明の第1の実施例の空間光変調器30であっ て、図4はそれを図3中で線A−Aに沿って取った断面図である。ここで「上平 面」とはその方向から光線が変調器30上に衝突する側をいうものである。すな わち図3中において光線は上側から紙面に衝突する。構造30の上面とは光線3 2が衝突する面をいう。 図3および図4に示すように、変調30は複数個の位相変調構造34から構成 されており、各位相変調構造は変調器30の個々の画素を画定している。各位相 変調構造34の概要を図3に示す。図中破線は変調器30の構成には関係なく、 構造34を表示するのみである。 以下図4により各位相変調構造34を説明する。入射光線32はまず液状誘電 体36に衝突する。この誘電体36はミラー40上の薄い誘電体層38上に配置 されている。この実施例にあっては、ミラー40と電極41(ミラー電極ともい う)とは一体に構成されており、ミラー40は電極41の適当な表面により与え られる。しかしミラー40と電極41とは別体であってもよい。 ミラー電極41と金属電極42(これは制御電極とも言われる)との間には固 体状の誘電体44が設けられており、ここで制御電極42とミラー電極41と固 体状誘電体44とは緩衝コンデンサー46を構成し、その単位長当たりの容量は 固定誘電体44の厚さと誘電率とにより調節することができる。 制御電極42は基材48上に設けられており、該基材は例えばCMOSマトリ ックスであってもよく、かつ変調器30の制御電極42をアドレスできるもので ある。変調器は位相変調構造34の列により構成され、必要な制御電圧を光学的 に持ちかつ充分な解像度を有している。 実質的に方形の制御電極(その縁部は図3中の位相変調構造34の破線を若干 越えている)はその中央にタングステンなどの導電性の材料からなるピン50を 有している。このピン50はミラー電極41とミラー40中の孔52を通って延 在している。この孔52は図3中では実質的に方形であるが、円形など他の形状 でもよいことは自明である。またピン50は制御電極42と導電的に接続されて おり、固体状誘電体44および薄い誘電体層38によりミラー電極41から電気 的に隔離されている。 偏光された誘電体44とその上に配置されてミラー電極41を構成する金属層 の故に、平面性が高くかつ反射性が高いミラー面が得られた。すでに指摘したよ うに、薄い誘電体層38は制御電極42(すなわちピン50)をミラー電極41 から隔離する。また例えば制御電極42に対向するミラー電極4の領域を湿潤し かつ液状誘電体からミラーを化学的に分離する。これにより全体の耐腐食性が改 良される。制御電極42は誘電体で被覆してもよい。 液状誘電体36は薄い誘電体層38上方の空間中に配置されている。誘電体3 6の表面張力により、ミラー40とミラー電極41と誘電体層38と制御電極4 2(つまりピン50)からなるシステムに間連するその密度および湿潤性は調整 または最適化することができる。また不動態化により液状誘電体35の表面形状 も調整または最適化することができる。液状誘電体の光学的に理想的な状態は、 位相変調構造34に電圧が印加されないときに、ミラー40の領域を均質なレベ ルの液状誘電体36で被覆することにより得られる。誘電体層38は機能化と隔 離のためには原理的には必要ではない。しかしそれを利用して液体による最適湿 潤と液体フィルムの表面の最適化が達成されるのである。 この発明の第1の実施例の空間光変調器30の作用態様を以下位相変調構造3 4の作用態様により以下さらに詳しく説明する。ミラー電極41は好ましくは例 えばグランド電位などの固定電位とする。CMOS活性マトリックス(位相変調 構造34の基材48を構成する)により制御電極42に電圧USが印加されると 、液状誘電体36は制御電極42(すなわちピン50)とミラー電極41とから なるコンデンサーの空気で満たされた領域中に惹き込まれる。 図4に示すのはアドレスされたとき(すなわち制御電極42に電圧USが印加 されたとき)の位相変調構造34の状態である。図4の左右に示すアドレスされ ない状態の2個の位相変調構造の液体形状に比べて、位相変調構造34は変更さ れた液体形状54を呈している。液状誘電体36はピン50上に配置されており 、ピン50から離間した液体形状54はアドレスされない状態に比べて液位の減 少を示している。位相変調構造は全て相互に独立にアドレス可能であり、液状誘 電体36の液位や位相変調構造の領域などの全ての作用パラメーターは、隣接す る位相変調構造が相互に影響を及ぼさないように、選択される。 アドレスされた位相変調構造34上に入射した光線32は、液状誘電体の液位 の差またはアドレスされた構造の液体構造54の故に、アドレスされない位相変 調構造上に入射した光線に対して位相ずれを生じる。制御電極42に印加されて いた電圧USが不活性化すると(すなわちコンデンサーが放電すると)、液状誘 電体36は重力の影響によりリセットされ、液位液体形状が実質的に再記憶され る。 図3,4に示すようなこの発明の実施例はその光学的占拠レベル(Occup ancy level)が高いことに特徴がある。ここで占拠レベルとは画素の 全領域に対する光学的に活性な領域の比を言うものである。この点に関して、図 3,4はサイズを示すものではなく、画素のサイズに比べてミラー電極を貫通す る孔52が顕著に拡大されていることを示すものである。好ましき実施例におい ては、画素の領域は10x10μm2であり、ピン50の直径は0.8μmであ り、円形孔52の直径は1.6μmである。例えばこの実施例だと98%の占拠 レベルが得られる。3x3μm2のより小さな画素と0.5μmのピン50と1 .6μm直径の孔52である他の実施例にあっては、占拠レベルは89%となる 。 第1の実施例の空間光変調器30を示す図3において、個々の孔52は別とし て、ミラー40とミラー電極41とは変調器全体を通して連続した設計である。 さらに変調器30全体の構造(すなわち誘電体層38により被覆されたミラー電 極41)は全体が液状誘電体36により被覆されており、ピン50のみが液状誘 電体35の実質的に平らな表面から突出している。変調器30が駆動されていな いときには、これは「島」と言える。 図5(上平面図)と図6(断面図)に示すのはこの発明の第2の実施例である 。図3,4に示す第1の実施例とほぼ同じであるが、図6に明らかなように薄い 誘電体層38と固体状の誘電体44を欠いている点で異なる。さらにピン50は ミラー電極41a,41bの表面から突出してなく、面一となっている。 第1の実施例に関連して記載したように、この実施例でもミラー40はミラー 電極帯体41a,41bの表面により構成されている。しかしミラー40はこれ らの帯体とは別体に構成することもできる。基材48と液状誘電体36(この実 施例でもミラー電極40と制御電極42との間の空間中に延在している)とは図 6中では割愛してある。第1の実施例も誘電体層38および固体状誘電体44な しでよく、ピン50は面一であってもよい。また第2の実施例でも誘電体層38 、固体状誘電体44および突出状ピン50などを設けてもよい。 同様に図3の空間光変調器56においても個々の位相変調構造34’は破線で 区切って示されている。各破線で画定してある方形は画素である。各画素(すな わち位相変調構造)は必ずしも方形であることは必要なく、適宜所望の形状とす ることができる。 図3の構成と異なる点としては、位相変調構造34’の長手方向に延在する孔 52’が設けられているが、つぎの画素より若干前から始まっている。第1の実 施例と比べて、図5に示すように孔52’は隣接する孔52’に連続している。 この結果図3の構造に連続するミラー電極41は図5では連続してなくて、ミラ ー電極41,41bが形成され、ミラー電極帯体41aが孔52’の右側に位置 しており、孔52’の右側のミラー電極帯体41bから電気的に隔離されている 。ミラー電極41a,41bの表面により構成されるので、ミラー40(図5) は図6,8中では参照番号により示されてない。 第2の実施例の電子的な制御は第1の実施例と同じ手法で行われる。しかし2 個のミラー電極帯体41a,41bが相互に電気的に隔離されているので、異な る固定または制御可能な電圧U0+ΔUとU0−ΔUがそれぞれに印加されるよう になっている。図4の実施例ではミラー電極帯体41aは印加電圧U0+ΔUを ミラー電極41bは印加電圧U0−ΔUである。しかしこの逆であってもよい。 ピン50に設けられた制御電極42の電圧はUSである。ピン50は制御電極4 2と一体であってもよい。この電圧は両ミラー電極帯体のそれの間のレベルであ る。したがって制御電極42は電圧振幅2ΔUにより制御される。 第2の実施例の作用を複数個の位相変調構造34’を示した図7a,7bに示 す。ミラー電極帯体41a,41bに印加される電圧U0+ΔU、U0−ΔUと制 御電極に印加される電圧U0、U0−ΔUおよびU0−ΔUとは図中下側に示され ている。電極42へのU0+ΔUとU0−ΔUとの間の電圧は適宜選択できる。各 位相変調構造は破線で区画してある。図7aにおいて上記の電圧状態で起きる電 界線58は2個の位相変調構造34’に示してある。 図7a中左側の位相変調構造34’において全ての電極41a、42および4 1bは異なる電位であり、制御電極42の電位は2個のミラー電極帯体の間にあ る。制御電極とミラー電極帯体との電極の差はそれぞれΔUである。図7a中左 側の位相変調構造34’の上方に液位を示してある。制御電極42の両側の電圧 差がΔUであるので、最小液位は60mとなる。図中模型化して示してあるが、 実際には急な液体の変転は連続している。 図7a中の上記の位相変調構造34’の右側にはミラー電極帯体41bと制御 電極42との間には電位差は存在していない。なぜならともに同じ電位U0−Δ Uだからである。しかし2ΔUの電圧差がミラー電極帯体41aと制御電極42 との間に起きるから、全ての電界線58はミラーD電極41aの左半分に入り、 制御電極42とミラー電極帯体41aとの間の領域の液位は60hと高くなる。 ミラー電極帯体41bと制御電極42との間には電圧差がないので、液状誘電体 36のレベルの効果はなく、ここでは低い液位60nとなる。 図7a中右側の位相変調構造34’において制御電圧はU0+ΔUである。電 界58の分布は上記の場合と同じであり、液位は60nと60hである。 電圧振幅ΔUの制御電圧を示すべく、図7bに3個の隣接する位相変調構造を 示す。ここでは左右の位相変調構造では電圧状態は変わっておらず、中央の位相 変調構造の制御電圧はU0−ΔUからU0+ΔUに変わっている。この電圧振幅2 ΔUの切換えの反作用として、制御電極42とミラー電極帯体との間の新たな電 圧差に応じて、中央の位相変調構造上方の液位は反転している。 しかし他の位相変調構造の液位は実質的にこの反転によっては影響されない。 しかし制御電圧U0を印加することにより、対応する画素における液位は均一と なる。これは第1の実施例で0Vの制御電圧USとなるアドレスされない状態に 対応する。しかし制御電圧U0とは異なる制御電圧が制御電極42に印加される と、対応する画素に液位60hと60nとが現れる。これに対して位相変調構造 34’に入射する光線32の位相変調では液位60m,60mとなる。 位相形状は電極表面または電極形状の詳細な設計により調整または最適化する ことができる。例えば、第1の実施例のピン50のピークのようにしたり、表面 特性、湿潤性その他の液体パラメーターにより調整することができる。 第2の実施例における位相変調はU0xUS2に比例する。第2の実施例にお いて達成される効果は、液状誘電体35が切り替えられる画素内部でのみ移動し 、画素をアドレスするのに必要とされる位相形状によってのみ左右されるという 点である。重力に加えて、アドレス作用と同じ電気力(electric fo rce)により画素のリセットが有利に行われる。 図9,10にこの発明の第3の実施例を示す。これは第1(図3)と第2(図 5)の実施例とを組み合わせたものである。 第1の実施例にあっては、タングステンのピン50に適宜接続された制御電極 42が用いられ、ピンはミラー電極41とその表面を構成するミラー40とに形 成された孔中に延在している。図1中の縦破線において基準電極50’が形成さ れている点が第1の実施例とは異なる。図10に示すように、この基準電極50 ’は導電性の帯体、例えばアルミニウムなどで形成されている。画素34'' は 図中破線で画定されている。図10に示すように、3個のピン50が最小液位6 0hを越えて突出している。これらはそれぞれの孔52を覆う寸法に設定されて いる。しかしピン50,50’の寸法と個数とは重要ではなく適宜変更すること が できる。 ある画素34'' から隣接する画素34'' へと液位の変動を得るべく、基準電 極D帯体50’には電圧U0+ΔUとU0−ΔUとが印加される。制御電圧USは 制御電極42に印加される。これによりピン50には特別の電圧が掛かり、この 結果液位は60m、60hおよび60nとなる。ミラー電極40は固定または制 御可能な電位であって、例えばグランド電位または電位など誘電体36の表面の 調整を最適化する電位である。 この第3の実施例はミラー電極に異なる電圧を印加したくないような光変調の 場合に適している。これは第1の実施例の場合も言えるが、第3の実施例の場合 には第2の実施例の場合の利点も有している。すなわち大きな液位変動と画素反 転におけるリセットの改良である。図示の画素構造は与えられた電圧振幅に間連 してよい最大の位相変調を得るのに適している。 寄生位相格子としての全ての電極50,50’の影響を最小にすべく、ピン5 0と帯体50’との厚さを調整することにより、非アドレス状態60mの液位と 誘電体38との形状は、ミラー40と金属電極50,50’上に入射反射される 光線が非アドレス状態と同じ位相変化にさらされるように、選択される。さらに 寄生位相変調の影響は、イメージ形成のための回折方向が寄生効果による方向と 異なるように、抑制される。実施例1,2においても同様な効果が得られること は明らかである。 液体は別として光り変調器の全ては従来の半導体技術で製造可能である。液状 誘電体36に関しては、密度、光学的透明度、電気的破壊強度、誘電率、屈折率 、温度抵抗、速度、光抵抗、表面張力および蒸気圧などのパラメーターが重要で ある。 液体の汚染、損傷および蒸発に対して保護すべく、この発明の光変調器30と 帯状空間光変調器56とは水晶板などの光学的に透明な窓を用いてシール被覆す ることができる。 例えば非アドレス状態での位相形状の光学的な修正のために、図8に示すよう に光学的修正体62を変調器30または56の前に配置するとよい。これにより 例えば意図しない位相変調を回避したり、光学的に寄生的または不活性なものの 影響を低減することができる。 このために適当な光学的修正体62(画素により必要とされる精度を有した) を画素の面の正確に上方に位置させる必要がある。いかにして液状誘電体36の 表面をレンズ状の予変形(例えば液状誘電体36の表面張力の毛管現象により存 在する)を光学的修正体62(例えば修正レンズ)によりバランスしなければな らないかを図8に示す。このような修正レンズは例えばミクロ技術によりガラス 基材から製造されアニオン接着技術により添加される。 図11、図12a(図11中線12aに沿って取った断面図)および図12b (同じく線12bに沿って取った断面図)に示すのは位相変調構造の第4の実施 例である。ここには帯状で相互に交差した(格子状)2個の電極42a、42b が用いられており、破線は位相変調構造を示す。これらの電極はほぼ画素の中央 で相互作用し、異なる電位を印加することにより交差点近傍には電界が形成され る。交差点近傍の誘電体36はかくして電極が電界を形成する一部領域を構成す る。参照番号34''' は位相変調構造を示すものである。 図12aに示すように、変形可能で透明な誘電体(好ましくは液状誘電体)は 帯状の電極42b(好ましくは固体状誘電体中に埋設された電極42a上に延在 する)を覆っている。水平電極42bは誘電体中に埋設されてもよく、垂直電極 42a(図11)は液状誘電体により覆われてもよい。液状誘電体は必ずしも電 極42bを覆う必要はないが、電極よりは低い液位である。全体の構造はミラー 40(構造上に入射した光線がここで反射されて二度固体状誘電体44と液状誘 電体36を通って構造を離れる)により下方に画定されている。固体状誘電体4 4は透明でなければならない。 図12bは図11の実施例のものの他の断面を示すもので、電極43bは切欠 き状にして、いかにして光線32が構造上に入射して液状誘電体32と固体状誘 電体44とを通過してミラー40で反射するかを示してある。電極42aには電 圧U0が、電極42bには電圧USがそれぞれ印加されている。図12a、12b は電圧USが0であって液状誘電体36の表面がレベルである状態を示している 。電圧USの場合には、液状誘電体の形状は図4と同じとなる。すなわち帯状電 極の交差点近傍で液位が増加する。その他の点では全て前記のものと同じであ る。 この発明の空間光変調器はウエファーの直接曝露に限らず、投射器ディスプレ イ、ホログラフ・ディスプレイ、プログラム可能なレンズ、格子、光学的修正、 コンピューターおよびヘッドアップ・ディスプレイなどにも応用できる。光学的 透明度とは使用される光線に対する透明度であり、その波長は可視範囲に限定さ れるものではない。応用いかんでは赤外線または紫外線も同様に使用できる。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】1998年1月19日(1998.1.19) 【補正内容】 請求の範囲(補正) 1.1個のミラー(40)と:ミラー(40)上に取り付けられた1個の変形可 能な透明誘電体(36)と:電圧が印加されると誘電体(36)の少なくとも一 部領域に電界(58)を発生して、それにより電界が印加されない誘電体(36 )の状態に対して該誘電体(36)を通過する光線の光路を変える、少なくとも 2個の電極(41;42;41a,41b,42;50,50')とを含んでな り、かつ 電極(41,42;41a,41b,42;50,50')に対して上記の誘 電体(36)が、誘電体(36)を通過する光線が、いずれかの電極(41;4 2;41a,41b,42;50,50')に衝突する前に、誘電体の少なくと も電界が印加された部分流域の一部を通過するように、設けられており、 誘電体(36)、ミラー(40)および電極(41,42;41a,41b, 42;50,50')が基材(48)上に配置されており、該基材を通って電圧 が電極に印加される ことを特徴とする入射光線の位相変調のための構造。 2.光線(32)が入射する電極(41;41a,41b)の表面によりミラー (40)が構成される ことを特徴とする請求項1に記載の構造。 3.変形可能な透明誘電体(36)が液状誘電体である ことを特徴とする請求項1または2に記載の構造。 4.変形可能な透明誘電体(36)が層タイプである ことを特徴とする請求項1〜3のいずれかひとつに記載の構造。 5.層タイプ誘電体(36)がミラー(40)に平行に配置されている ことを特徴とする請求項4に記載の構造。 6.一方の電極(41;41a,41b)とミラー(40)とが孔(52;52 ')を有してその中に他方の電極(42)の少なくとも一部(50;50')が位 置しており、 該電極(41,42;41a,41b,42)が誘電体(36)により相互に 電気的に隔離されている ことを特徴とする請求項5に記載の構造。 7.前記他方の電極(42)の一部(50;50')が孔(52;52')を通っ て一方の電極(41;41a,41b)を越えてかつ誘電体(36)を通って延 在している ことを特徴とする請求項6に記載の構造。 8.一方の電極(41;41a,41b)と他方の電極(42)との間に固体状 の誘電体(44)が設けられており、これが2個の電極(41,42;41a, 41b,42)とともに緩衝コンデンサー(46)を構成する ことを特徴とする請求項6または7に記載の構造。 9.前記の孔が連続孔(52')であって、これにより相互に隔離されたミラー 電極帯体(41a,41b)が形成される ことを特徴とする請求項に記載の6〜8のいずれかひとつに記載の構造。 10.請求範囲1〜9のいずれかひとつに記載の同一または異なる構造(34; 34';34'')の複数個が列状に配置されている 空間光変調器。 11.請求範囲10に記載の同一または異なる構造(34;34';34'')の 複数個が表面上に適宜配置されている ことを特徴とする請求項10に記載の変調器。 12.複数個の構造(34;34',34'')の他方の電極(42)が相互に電 気的に隔離されている ことを特徴とする請求項10または11に記載の変調器。 13.請求項8〜10のいずれかひとつに記載の構造(34)の一方の電極(4 1)とミラー(40)とが連続した設計である ことを特徴とする請求項10〜12のいずれかひとつに記載の変調器。 14.請求項11に記載の複数個の構造(34')の一方の電極(41)とミラ ー(40)とが一方の列方向のみの連続設計であって、延在している孔(52' )によって他方の列方向に分離されている ことを特徴とする請求項10〜12のいずれかひとつに記載の変調器。 15.ミラー電極帯体(40a,40b)には電圧(U0+ΔU,U0−ΔU)が 交番的に印加され、該電圧が基準値(U0)について対称である ことを特徴とする請求項13に記載の変調器。 16.画素(34'')の少なくとも2個の境界において、連続状の電極帯体(5 0')が形成され、隣接する電極帯体(50')には異なる電圧が印加される ことを特徴とする請求項10〜12のいずれかひとつに記載の変調器。 17.透明な保護窓が複数個の構造(34;34';34'')上に設けられてい る ことを特徴とする請求項10〜16のいずれかひとつに記載の変調器。 18.複数個の構造(34;34';34'')上に光学的修正体(62)が設け られている ことを特徴とする請求項10〜17のいずれかひとつに記載の変調器。 19.ピン(50)と電極(50';41a,41b)の厚さ、アドレスされな い状態の液位および/または誘電体(38)の厚さが、寄生構造の影響が最小と なるように、調整されている ことを特徴とする請求項10〜18のいずれかひとつに記載の変調器。 20.それぞれが格子状に配置された2組の帯体状電極(42a,42b)と1 組の平行電極(42a)とが、他の組の平行電極(42b)から、固体状誘電体 (44)により電気的に隔離されている ことを特徴とする請求項10に記載の変調器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 クンツェ,デットレフ ドイツ国 デー―01097 ドレスデン,ハ オプトシュトラーセ 48

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.1個のミラー(40)と:ミラー(40)上に取り付けられた1個の変形可 能な透明誘電体(36)と:電圧が印加されると誘電体(36)の少なくとも一 部領域に電界(58)を発生して、それにより電界が印加されない誘電体(36 )の状態に対して該誘電体(36)を通過する光線の光路を変える、少なくとも 2個の電極(41;42;41a,41b,42;50,50')とを含んでな り、かつ 電極(41,42;41a,41b,42;50,50')に対して上記の誘 電体(36)が、誘電体(36)を通過する光線が、いずれかの電極(41;4 2;41a,41b,42;50,50')に衝突する前に、誘電体の少なくと も電界が印加された部分流域の一部を通過するように、設けられている ことを特徴とする入射光線の位相変調のための構造。 2.光線(32)が入射する電極(41;41a,41b)の表面によりミラー (40)が構成される ことを特徴とする請求項1に記載の構造。 3.変形可能な透明誘電体(36)が液状誘電体である ことを特徴とする請求項1または2に記載の構造。 4.誘電体(36)とミラー(40)と電極(41;42;41a,41b,4 2;50,50')とが基材(38)上に設けられている ことを特徴とする請求項1〜3のいずれかひとつに記載の構造。 5.基材(38)がCMOS活性マトリックスである ことを特徴とする請求項4に記載の構造。 6.変形可能な透明誘電体(36)が層タイプである ことを特徴とする請求項1〜5のいずれかひとつに記載の構造。 7.層タイプ誘電体(36)がミラー(40)に平行に配置されている ことを特徴とする請求項6に記載の構造。 8.一方の電極(41;41a,41b)とミラー(40)とが孔(52;52 ')を有してその中に他方の電極(42)の少なくとも一部(50;50')が位 置 しており、 該電極(41,42;41a,41b,42)が誘電体(36)により相互に 電気的に隔離されている ことを特徴とする請求項7に記載の構造。 9.前記他方の電極(42)の一部(50;50')が孔(52;52')を通っ て一方の電極(41;41a,41b)を越えてかつ誘電体(36)を通って延 在している ことを特徴とする請求項8に記載の構造。 10.一方の電極(41;41a,41b)と他方の電極(42)との間に固体 状の誘電体(44)が設けられており、これが2個の電極(41,42;41a ,41b,42)とともに緩衝コンデンサー(46)を構成する ことを特徴とする請求項8または9に記載の構造。 11.前記の孔が連続孔(52’)であって、これにより相互に隔離されたミラ ー電極帯体(41a,41b)が形成される ことを特徴とする請求項に記載の8〜10のいずれかひとつに記載の構造。 12.請求範囲1〜11のいずれかひとつに記載の同一または異なる構造(34; 34';34'')の複数個が列状に配置されている 空間光変調器。 13.請求範囲8〜11のいずれかひとつに記載の同一または異なる構造(34; 34';34'')の複数個が表面上に適宜配置されている ことを特徴とする請求項12に記載の変調器。 14.複数個の構造(34;34',34'')の他方の電極(42)が相互に電 気的に隔離されている ことを特徴とする請求項12または13に記載の変調器。 15.請求項8〜10のいずれかひとつに記載の構造(34)の一方の電極(4 1)とミラー(40)とが連続した設計である ことを特徴とする請求項12に記載の変調器。 16.請求項11に記載の複数個の構造(34')の一方の電極(41)とミラ ー(40)とが一方の列方向のみの連続設計であって、延在している孔(52' ) によって他方の列方向に分離されている ことを特徴とする請求項12に記載の変調器。 17.ミラー電極帯体(40a,40b)には電圧(U0+ΔU,U0−ΔU)が 交番的に印加され、該電圧が基準値(U0)について対称である ことを特徴とする請求項15に記載の変調器。 18.画素(34'')の少なくとも2個の境界において、連続状の電極帯体(5 0')が形成され、隣接する電極帯体(50')には異なる電圧が印加される ことを特徴とする請求項12〜14のいずれかひとつに記載の変調器。 19.透明な保護窓が複数個の構造(34;34';34'')上に設けられてい る ことを特徴とする請求項12〜18のいずれかひとつに記載の変調器。 20.複数個の構造(34;34';34'')上に光学的修正体(62)が設け られている ことを特徴とする請求項12〜19のいずれかひとつに記載の変調器。 21.ピン(50)と電極(50;41a,41b)の厚さ、アドレスされない 状態の液位および/または誘電体(38)の厚さが、寄生構造の影響が最小とな るように、調整されている ことを特徴とする請求項12〜20のいずれかひとつに記載の変調器。 22.それぞれが格子状に配置された2組の帯体状電極(42a,42b)と1 組の平行電極(42a)とが、他の組の平行電極(42b)から、固体状誘電体 (44)により電気的に隔離されている ことを特徴とする請求項12に記載の変調器。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006189575A (ja) * 2005-01-05 2006-07-20 Ricoh Co Ltd 光学素子、レーザ加工装置及びレーザマニピュレーション装置

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1143849B1 (de) 1999-01-22 2003-05-02 Haag-Streit Ag Ophthalmologisches gerät mit einem beleuchtungs- und/oder strahlenbehandlungsstrahl, dessen flächige intensitätsverteilung einstellbar ist, sowie anordnung mit diesem gerät zur augenbehandlung
US6519073B1 (en) * 2000-01-10 2003-02-11 Lucent Technologies Inc. Micromechanical modulator and methods for fabricating the same
US6407848B1 (en) * 2000-12-27 2002-06-18 All Optical Networks, Inc. Servo-stabilized-phase, differential coherence detector
US6624880B2 (en) 2001-01-18 2003-09-23 Micronic Laser Systems Ab Method and apparatus for microlithography
US6880275B2 (en) * 2001-05-16 2005-04-19 Hon Technology Inc. Lenticular fireplace
CN101446773A (zh) 2001-11-07 2009-06-03 应用材料有限公司 无掩膜光子电子点格栅阵列光刻机
EP1446703A2 (en) * 2001-11-07 2004-08-18 Applied Materials, Inc. Optical spot grid array printer
US20030133651A1 (en) * 2002-01-16 2003-07-17 Teraphase Technologies, Inc. Filtering noise in optical signal transmission
US20040208436A1 (en) * 2002-01-16 2004-10-21 Teraphase Technologies, Inc. Forming optical signals having soliton pulses with certain spectral band characteristics
US20040208651A1 (en) * 2002-05-23 2004-10-21 Farhad Hakimi Optical signal receiver
US20030228095A1 (en) * 2002-06-10 2003-12-11 Farhad Hakimi System for and method of replicating optical pulses
US20040208627A1 (en) * 2002-08-02 2004-10-21 Farhad Hakimi Optical signal transmission method
US6666561B1 (en) * 2002-10-28 2003-12-23 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Continuously variable analog micro-mirror device
DE10252793B4 (de) * 2002-11-13 2005-04-28 Festo Ag & Co Elektrostatischer Antrieb und damit ausgestattetes Ventil
DE102004026133A1 (de) * 2004-05-28 2005-12-29 Infineon Technologies Ag Sendeanordnung, Empfangsanordnung, Transceiver sowie Verfahren zum Betreiben einer Sendeanordnung
DE102004051969A1 (de) * 2004-10-25 2006-05-04 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Optisches System mit veränderlichen Abbildungseigenschaften und Verfahren zur Einstellung veränderlicher Abbildungseigenschaften
DE102006004301A1 (de) * 2006-01-20 2007-08-02 Seereal Technologies S.A. Holographische Projektionsvorrichtung zur Vergrößerung eines Rekonstruktionsbereichs
DE102007007162A1 (de) * 2007-02-09 2008-08-14 GM Global Technology Operations, Inc., Detroit Hologaphisches Informations-Display

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3001447A (en) * 1957-08-29 1961-09-26 Zeiss Ikon A G Stuttgart Image reproducing device for visible and invisible radiation images
US3480348A (en) * 1964-12-16 1969-11-25 Perkin Elmer Corp Apparatus for use in phase modulating a beam of light
US3560955A (en) * 1968-12-30 1971-02-02 Teeg Research Inc Birefringent display systems
CH537129A (de) * 1971-10-27 1973-05-15 Eidophor Ag Projektionsvorrichtung, insbesondere für Fernsehbilder
US4030813A (en) * 1974-12-20 1977-06-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Control element having liquid layer attainable to geometrically uneven state in response to electrical signal
US4289403A (en) * 1977-03-04 1981-09-15 Isco, Inc. Optical phase modulation instruments
DE3012253A1 (de) * 1980-03-28 1981-10-15 Hoechst Ag, 6000 Frankfurt Verfahren zum sichtbarmaschen von ladungsbildern und eine hierfuer geeignete vorichtung
US4660938A (en) * 1985-03-11 1987-04-28 Xerox Corporation Optical display device
JPH04350819A (ja) 1991-05-29 1992-12-04 Sony Corp 可変位相板
US5521747A (en) * 1993-02-22 1996-05-28 Engle; Craig D. Electronically addressed deformable media light modulator
US5668611A (en) * 1994-12-21 1997-09-16 Hughes Electronics Full color sequential image projection system incorporating pulse rate modulated illumination
US5933183A (en) * 1995-12-12 1999-08-03 Fuji Photo Film Co., Ltd. Color spatial light modulator and color printer using the same
JP3571887B2 (ja) * 1996-10-18 2004-09-29 キヤノン株式会社 アクティブマトリクス基板及び液晶装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006189575A (ja) * 2005-01-05 2006-07-20 Ricoh Co Ltd 光学素子、レーザ加工装置及びレーザマニピュレーション装置
JP4523420B2 (ja) * 2005-01-05 2010-08-11 株式会社リコー 光学素子、レーザ加工装置及びレーザマニピュレーション装置

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