JP2000500875A - 改良された分光光度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 光のビーム（１５）を放出するように作用する光源（１）、分析されるべき試料（８）に光ビーム（１５）を向けるための光学システム、及び該光ビームが試料（８）と相互作用した後該光ビームの強度を検出する検出器（９）を具備する分光光度計。光源（１）は、光が放出されていない時間の間隔により隔てられている光のバーストを放出するように作用する。例として、キセノンチューブをその目的に使用することができる。分光光度計は、各光のバーストにより発生された光ビームの強度をその光ビームが試料と相互作用した後測定する。各々のこのような光ビームは、試料（８）との相互作用の前に第１部分及び第２部分（５と４）に分割することができ、そして該光学システムは、該第１部分（５）を該試料（８）に向け、そして該第２部分（４）を第２検出器（７）に向けて対照測定を行うように配置されている。暗信号測定は各光のバーストの直前又は直後に行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】 改良された分光光度計 本発明は、分光法に関するものであり、特に紫外線／可視／赤外線分光光度計 に関する。 慣用の紫外線／可視／赤外線分光光度計は、光を連続して放出する１個又はそ れより多くの光源を使用する。例えば、良く普及している組み合わせは、それぞ れスペクトルの紫外部及び可視／赤外部を包含するために重水素アークランプ及 び石英ハロゲンフィラメントランプである。機器からの高品質の読み取りを得る ために、３つの別々の測定を得ることが必要である。試料を存在させないときの 光源の強度の測定（対照測定（ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ） と呼ばれる）、試料が存在するときの強度の測定（試料測定（ｓａｍｐｌｅ ｍ ｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ）と呼ばれる）及び光源からの光が検出器に到達しないと きの信号の測定（暗信号（ｄａｒｋ ｓｉｇｎａｌ）と呼ばれる）。試料により 吸収されなかった光のフラクションの測定は次いで下記の如くして計算すること ができる。 （試料 − 暗）／（対照 −暗） このような測定を得るために、その位置に依存して２つの路のいずれかに沿っ て光源からのビームを方向づける機械的チョッピング機構（ｍｅｃｈａｎｉｃａ ｌ ｃｈｏｐｐｉｎｇ ｍｅｃｈａｎｉｓｍ）を使用することは普通に実施され ていることである。１つの路は試料をバイパスし、次いで対照測定のための検出 器に行き、これに対して他方の路は試料へと進み、次いで試料測定のための検出 器に至る。チョッピング機構は、暗測定（ｄａｒｋ ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ） のため光源から検 出器への光ビームを阻止する働きもする。 このような装置はいくつかの問題となる欠点を有する。先ず最初に、チョッパ は機械的装置であるので、システムが１つの測定から次の測定に切り替えること ができる実際上の限界がある（典型的には１ミリ秒より多く、しばしば約１０ミ リ秒より多い）。この切り替え期間中のシステムの条件の変化は正しく排除され ないであろう。例えば、もし光源の出力が時間と共に変動するならば、試料測定 と対照測定との間の有効強度の変化は排除されないであろう。更に、暗測定の主 要成分は光と検出器間の光路（ｏｐｔｉｃａｌ ｐａｔｈ）に入る室光（ｒｏｏ ｍ ｌｉｇｈｔ）であり、そして室光の強度は、特に蛍光が部屋の中で使用され ている場合には時間とともに有意に且つ急速に変動するすることがある。暗策定 と試料測定間、及び暗測定と対照測定間のこの強度の変化は正しくキャンセルさ れないであろう。この問題は、試料の前に分光分解能サブシステム（ｓｐｅｃｔ ｒａｌ ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ ｓｕｂｓｙｓｔｅｍ）が配置されている分光光 度計において特に明白である。このような装置では、光源光の非常に小さなフラ クションのみが分光分解能サブシステムを通過し、その結果試料上の光源光の強 度は相対的に低い。故に、室光進入は問題となるファクターであり、そして慣用 の機器では、すべての室光を厳密に排除する処置を講じることが必要である。 上記した問題は、試料の後ろに分光分解能サブシステムが配置されており、従 って白色光で試料を照射する分光光度計ではそんなに顕著なものではない。何故 ならば、光源からの総光強度は通常光路に受け入れられた室光よりはるかに大き いからである。他方、このような機器は或る種の試料を測定するとき極めて重要 な制限を有する。重要な波長以外の 波長の光が、試料に重要な波長における追加の光を放出させる蛍光を励起するこ とがある。第２の問題は、試料に影響を与えるのに十分であり、そのため測定プ ロセスにおいて誤差を生じさせうる試料に入射する光の総量である。 慣用の装置の他の欠点は、光源が安定化するのに（操作温度が平衡化するのに ）通常或る時間を必要とし、それ故測定がなされているかいないかにかかわりな く機器のスイッチが入っている間は光源は点けたままにされるということである 。試料測定は機器のスイッチが入っている時間の小さな部分にわたって行われ、 結果として光源の連続的付勢はパワーを消費しそして光源の有効寿命を短くする 。更に、試料はそれが試料区画室内にある時間中に照射されたままであり、結果 として試料が受ける総光負荷は或る環境では非常に問題となりうる。これは感光 性である（速度論試料（ｋｉｎｅｔｉｃｓ ｓａｍｐｌｅｓ）について極めて普 通である）試料について問題となりうる。 本発明の目的は、前記の欠点を克服するか又は少なくとも緩和することである 。本発明の更なる目的は、相対的に安価であり、それにもかかわらず相対的に正 確な試料分析を可能とする分光光度計を提供することである。 本発明に従う分光光度計は、短い強い光のバーストを発生させそして引き続く バーストの中間では光が放出されないように、光源がパルス化される（ｐｕｌｓ ｅｄ）ことを特徴とする。その目的に適当な光源の例はキセノンフラッシュチュ ーブである。暗信号測定は試料測定と対照測定が行われる時間に近い時間に（例 えば５００マイクロ秒以内に）行われることが好ましい。暗信号測定は光のパル ス又はバーストが発生され る直前に信号レベルを明瞭に（ｅｘｐｌｉｃｉｔｌｙ）測定することにより行う ことができ又はそれは光のパルス又はバーストが発生される直前に検出器の出力 をゼロに電子工学的に調節することにより行うことができる。本発明に従う機器 は、好ましくは、試料と対照の同時測定を可能とするように配置された２つの検 出器及び光学システムを含む。少なくとも、試料測定及び対照測定は、同じ光の バースト由来の２つの光学的信号に対して行われることができ、そしてこれらの 信号は同時にその光のバースト由来のものであることが好ましい。 本発明の態様を、添付図面を参照して以下において詳細に説明する。しかしな がら、図面は、本発明がいかに実施されうるかを単に説明するものであり、従っ て示されたような種々の特徴の特定の形態及び配列は、本発明を限定するものと 解するべきではない。 図面において、 第１図は本発明の１つの態様に従う分光光度計の線図である。 第２図は第１図の分光光度計と使用するための制御された回路の１つの形態の 線図である。 第３図は、第２図により示された回路の操作方法を示す線図である。 第４図は、先行技術の装置に存在する光源のモノクロメータ入り口スリットと アーク位置との関係の線図である。 第５図は本発明の１つの態様において採用された異なる関係を示す第４図と同 様な線図である。 第６図は本発明の他の態様を示す第１図と同様な線図である。 第１図により示された装置において、キセノンフラッシュチューブのようなパ ルス化光源（ｐｕｌｓｅｄ ｌｉｇｈｔ ｓｏｕｒｃｅ）１は 光の非常に短い強いバーストを放出するのに公知の仕方で操作可能であり、該バ ーストの各々は例えば、２〜２０マイクロ秒の期間を有することができる。引き 続くバーストの中間の間隔においては光は放出されない。１図により示された光 学装置はランプ１から受け入れられた入射光ビーム３を予め決定された強度比を 有する２つのビーム４及び５に分ける固定されたビームスプリッタ２を含む。例 として２つのビーム４及び５は、実質的に等しい強度であることができる。ビー ム４は、随意の対照セル６を通るように向けられ、そしてそこから対照検出器７ に進む。ビーム５は試料セル８に向けられそしてそこから試料検出器９に進む。 このような装置は、対照及び試料測定のベースとなる光学信号の同時的検出を可 能とし、それにより２つの信号の強度の予想できない変動から生じうる問題を排 除するという利点を有する。それぞれ対照測定及び試料測定をもたらす信号の各 々の最終加工は同時に平行して行っても行わなくてもよい。 第１図に示された装置は試料の透過率測定を伴う。即ち、ビーム５は分析され るべき試料を含むセル８を通過する。本発明は、分析されるべき試料が反射率測 定に付される分光光度計にも適用可能であり、結果としてセルそれ自体の存在を 必要としないことは理解されるべきである。 ランプ１は引き続くバーストの中間の時間間隔においては光を放出しないので 、暗信号測定を決定するために光ビームを遮断する機械的手段の必要がない。更 に、各光パルスの期間は短いので、暗信号測定がランプパルスの直前又は直後に 行われるならば、暗信号測定と試料／対照測定との間の非常に短い遅れを達成す ることが可能である。例として、遅れは２０〜３０マイクロ秒のオーダーである ことができる。 暗信号測定は、ランプ１がトリガーされて光のパルスを発生する直前に信号レ ベルを明白に測定し、その測定を慣用のシステムで採用された他の読み取りから 引き算することにより行われる。別法として、暗信号測定はランプ１がトリガー されて光のパルスを発生する直前に検出器出力を０に電子工学的に調節すること により行うことができる。その別法を利用する装置の例は第２図及び第３図によ り例示される。 第２図は、試料検出器９からの信号が増幅器１０を通過し、そして以下に述べ られるスイッチの状態に依存して、増幅器１０から、バッファ１１、積分器１２ 及び更なるバッファ１３を含む回路を通して進行する回路のレイアウトの例を示 す。対応する回路レイアウトは、対照検出器７により発生された信号についても 与えられるが、説明の便宜上示されていない。故に、第２図の回路レイアウトの 下記の説明は対照検出器７に対する対応する回路レイアウトにも当てはまるもの として理解されるべきである。 光パルスに先立つ期間中、スイッチＳＷ１は閉じられていて、バッファ増幅器 １１への入力が０に保たれることを確実にする。検出器増幅器１０からのいかな る出力もキャパシタＣ１を横切る電圧として現れ、そこでそれはいかなるその後 の光読み取りからも自動的にに引き算される。同時に、スイッチＳＷ２は開き、 そしてスイッチＳＷ３は閉じられて積分器１２がリセットに保たれる（グラウン ド電位で）ことを確実にする。光パルスが発生されるとき、第３図に示されたよ うにそれぞれスイッチＳＷ１、ＳＷ２及びＳＷ３は開かれ、閉じられ及び開かれ 、そしてスイッチＳＷ４は試料／ホールド増幅器（ｈｏｌｄ ａｍｐｌｉｆｉｅ ｒ）１３が積分器１２によりリセットされることを許容するように光パルスの 前に短い時間（Ｔ２）閉じられる。そのときの種々のスイッチの状態は積分器１ ２が増幅器１０及びバッファ１１を経由して検出器信号９を積分することを開始 させる。スイッチＳＷ１が開かれて以後検出器増幅器１０の出力の変化のみが上 記した理由でバッファ増幅器１１の入力に現れるであろう。光パルスが停止した 後スイッチＳＷ１は閉じられ、そしてスイッチＳＷ２は開かれて更なる積分を阻 止する。スイッチＳＷ４は短い時間（Ｔ１）閉じられていて、試料／ホールドバ ッファ１３がセトル(settle)することを許容し、その後スイッチＳＷ４は開きそ してスイッチＳＷ３は閉じて検出器９からの積分された出力をバッファ１３の出 力上にホールドする。 上記した回路以外の回路レイアウトを同じ結果を達成するのに採用することが できる。 ランプ１はモノクロメータ１４（１図）に対して特定の配置を有することがで きる。キセノンフラッシュチューブのアーク位置はフラッシュからフラッシュで 移動する傾向があり、その結果ランプ１からの光の反射されたビーム１５がモノ クロメータ１４の入り口スリット１６上に正確に位置づけられるのは時折に過ぎ ないであろう。それは、ランプ１の引き続くフラッシュからモノクロメータによ り受け取られるエネルギーの有意な変動を引き起こす効果を有する。第４図によ り示された慣用の装置では、ランプ１のアークは、線１７に比べて線１７’によ り表されるアークの運動（ａｒｃ ｍｏｖｅｍｅｎｔ）がモノクロメータスリッ ト１６の方向に対して横断方向であるようにモノクロメータスリット１６に対し て位置づけられる。参照番号１８はランプ電極の像を表す。本発明に従う可能な 装置においては、ランプアークは、アークの運動が第 ５図により示されたようにスリット１６の方向にあるように配置されうる。 第５図により示された装置は、アークの運動に対する鋭敏性を減少させること ができるが、光スループット（ｌｉｇｈｔ ｔｈｒｏｕｇｈｐｕｔ）を減少させ ることがある。所望ならば、光の損失は短いアーク長さを有するフラッシュチュ ーブを使用することにより最小にすることができる。例えば、１．５〜２ミリメ ートルのアーク長さは適当でありうる。 本発明を取り入れる分光光度計は暗信号測定と試料／対照測定間の短い遅れの ため室光の変動に対して相対的に鈍感であることは前記の説明から明らかであろ う。故に光を通さない区画室に試料を配置することは必要ではなく、そしてそれ は多くの利点を有する。 本発明に従う分光光度計の更なる利点は、試料及び対照ビームの同時検出が光 源強度の変動の影響をあまり受けないシステムをもたらすことである。パルス化 光源の使用は光源の付勢を測定がなされるべき時間に制限することを可能とし、 それによりパワー消費を減少させそして光源の寿命を非常に有意義に延長する。 更に、光源をパルス化する速度はなされる測定に従って調節することができる。 例えば波長に対する試料吸光度の測定を行う場合に、光源は非常に速く（必要な らば典型的には３０回／秒の慣用の機器の機械的チョッピング速度に比べて典型 的には約１００回／秒又はそれより早くすら）パルス化することができる。これ は、秒当たりより多くのデータ点を集めることを可能とし、分析をより速くする 。別法として、長い速度論実験（ｋｉｎｅｔｉｃｓ ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔ）を 行う場合には、フラッシュ速度は減少させることがで き、かくしてまだ時間に伴う吸光度の変動を特徴付けるのに十分なデータを集め ると共に、試料に対する総光負荷（ｔｏｔａｌ ｌｉｇｈｔ ｌｏａｄ）を減少 させる。例えば、速度論実験の期間が１時間だとすれば、１０秒毎の読み取りは 吸光度／時間の関係を決定するのに極めて十分である。故に、ランプは１０秒毎 に１回だけフラッシュされる。慣用の装置に比較して、これは約１０００倍の率 で試料に対する総光負荷を減少させる（典型的には１００回／秒フラッシュされ るランプで、試料にしてシステムにより課せられた光負荷が慣用の機器に匹敵す る）。この差は正確な答えと意味のないデータとの差を意味することができる。 本発明に従う分光光度計の更なる利点は、光源のパルシング（従って測定の瞬 間）は外部の事象又は状態と同期させることができることである。短い期間のパ ルス及びパルスのトリガリングの制御の組み合わせは、測定の瞬間をマイクロ秒 内で外部の事象（又は測定システム内の他の事象）と同期させることを可能とす る。例えば、第６図により線図で示されたように、本発明は、連続的に運動して いるシステムで特定の瞬間に相当な精度で測定を行うことを可能とする。このよ うな連続的に運動しているシステムは、各々が分光光度法分析用のそれぞれの試 料を含むキュベット８を有するカルーセル（ｃａｒｏｕｓｅｌ）１９であること ができる。試料キュベット８の位置付けを光源１による光のバーストの放出と同 期させるのに任意の適当な制御手段２０を採用することができる。かくして本発 明は、このようなカルーセル１９を円滑に且つ連続的に回転させることを可能と しそして各試料が測定位置を通過するにつれて各試料に関して測定がなされるこ とを可能とする改良された測定分解能（ｍｅａｓｕｒｅｅｍｅｎｔ ｒｅｓｏｌ ｕｔｉｏｎ）を与える。対照 的に、機械的チョツピング機構を使用する先行技術の測定方法は、このようなカ ルーセル１９を段階的に回転させて各試料を測定位置に持っていきそしてその位 置に測定がなされるための十分な時間保持さすることを必要とする。本発明は或 る仕事については３までのオーダーのマクラチュードの改良された時間分解能（ ｔｉｍｅ ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ）を与えることができると考えられる。 第６図に示されたブロック２１の各々は第２図に関して説明された種類の回路 を表す。 本発明に従う機器で実現可能な更なる利点は、その熱発生が慣用の先行技術の 機器の熱発生よりも少ないという点である。一般に、慣用の機器は、１００〜１ ２０ワットに近い組合わさった熱散逸（ｃｏｍｂｉｎｅｄ ｈｅａｔ ｄｉｓｓ ｉｐａｔｉｏｎ）及び典型的には１５０ワットを越える総機器散逸（ｔｏｔａｌ ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ ｄｉｓｓｉｐａｔｉｏｎ）を有する光源を使用する。 このような先行技術の機器の熱発生システムが気密シールされる（ｈｅｒｍｅｔ ｉｃａｌｌｙ ｓｅａｌｅｄ）ならば、このエネルギーの取り出しを確実にする ために複雑な熱交換構造が設けられなければならず、そうしなければ機器は許容 できない程度に加熱されるであろう。反対に、本発明に従う機器は１ワットの平 均ランプ散逸及び約３ワットの総機器散逸を有する。かくしてそれは複雑な冷却 システムを必要とすることなく又は過度の温度上昇の危険もなく容易に気密シー ルされうる。このような気密シールは、腐食性又は危険な環境（易燃性ガスの存 在下のような）で操作するべき機器に必要でありうる。気密シールは、大気への オゾン放出の可能性を排除するのにも必要である。オゾンは、１９０ｎｍ以下の 紫外線の発生の不可 避な副生物である。本発明に従う機器は、この点でその光源が、その間欠的且つ 低パワー操作のため、慣用の機器よりも少ないオゾンを発生するという点で有利 である。 本発明の１つの態様では、少なくとも分光光度計の光源及び光学システムは、 周囲大気中の腐食性又は妨害性蒸気及びガスの実質的な進入に対してシールされ る。しかし一般に、シールされた環境を試料が位置付けられている部分以外の光 学システムのこれらの部分に制限することは好都合である。それは分析されるべ き試料の便利な配置を可能とするのに必要であるか又は適当でありうる。 請求の範囲に記載の本発明の精神又は範囲から逸脱することなく前記した部分 の構造及び配置に、種々の変更、修正及び／又は追加を導入することができる。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ， ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，Ｌ Ｕ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ， ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＫＥ，ＬＳ，ＭＷ，Ｓ Ｄ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，ＵＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ， ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，Ｆ Ｉ，ＧＢ，ＧＥ，ＧＨ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＳ，ＪＰ ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ， ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，Ｍ Ｗ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ， ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＷ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．光のバーストを放出するように作用する光源を具備し、各２つの引き続く 該光のバーストは該光源により光が放出されない時間の間隔により隔てられてお り、更に、分析されるべき試料に各該光のバーストのビームを向けるための光学 システムと、該光ビームと該試料との相互作用の後該光ビームの強度を検出する 検出器を具備する分光光度計。 ２．該光源がキセノンフラッシュチューブである請求の範囲１に記載の分光光 度計。 ３．該検出器が各該光のバーストが放出される直前又は直後に暗信号測定を行 うように作用する請求の範囲１又は２に記載の分光光度計。 ４．該暗信号測定が、該光のバーストが放出される直前又は直後に該検出器の 出力信号のレベルを測定することにより行われる請求の範囲３に記載の分光光度 計。 ５．該暗信号測定が、該検出器の出力を該光のバーストが放出される直前にゼ ロに調節することにより行われる請求の範囲３に記載の分光光度計。 ６．該検出器からの信号を受け取るための第１バッファと、該第１バッファの 出力を第２バッファの高インピーダンス入力に接続するキャパシタと、該第２バ ッファの該入力をゼロに接続するように作用するスイッチとを含む回路によって 、該検出器出力がゼロに電子工学的に調節される請求の範囲５に記載の分光光度 計。 ７．該検出器が試料測定を行うための第１検出器であり、そして第２検出器が 対照測定を行うために設けられている前記請求の範囲のいずれかに記載の分光光 度計。 ８．該光学システムが該試料の前で該ビームを第１ビーム部分と第２ビーム部 分に分割するビームスプリッタを含み、そして該システムは該第１ビーム部分を 該試料に向けそして該第２ビーム部分を該第２検出器に向ける請求の範囲７に記 載の分光光度計。 ９．対照セルが該第２検出器の前に該第２ビーム部分の路に配置されている請 求の範囲８に記載の分光光度計。 １０．該試料測定及び該対照測定が同じ該光のバースト由来の２つの光学信号 に対して行われる請求の範囲７〜９のいずれかに記載の分光光度計。 １１．該回路が各該検出器の出力に接続されている請求の範囲６に追加される 場合の請求の範囲７〜１０のいずれかに記載の分光光度計。 １２．該光学システムは入り口スリットを有するモノクロメータを含み、該ス リットの長手方向軸線は、該光源のアーク位置が引き続く該バーストの間で動く 傾向がある方向と実質的に同じ方向に延びている前記請求の範囲のいずれかに記 載の分光光度計。 １３．少なくとも２つの該試料を担持するための手段であって、各該試料を引 き続いて該光ビームの路に及び該光ビームの路から移動させるように作用可能な 手段と、該光源の操作を該試料担持手段の運動と同期させ、それにより該路内に その試料が位置付けられている間に該光ビームが該試料と相互作用するようにし た制御手段を含む、前記請求の範囲のいずれかに記載の分光光度計。 １４．各該試料は休みなく該光ビーム路へと及び該光ビーム路から移動する請 求の範囲１３に記載の分光光度計。 １５．少なくとも該光源及び該光学システムは周囲大気中の腐食性又 妨害性蒸気及びガスの実質的進入に対してシールされている、前記請求の範囲の いずれかに記載の分光光度計。 １６．該シールは該試料が位置付けられている該光学システムのその部分に延 びていない請求の範囲１５に記載の分光光度計。 １７．引き続く光のバーストを、各２つの引き続く該光のバーストを隔てる時 間の期間中は光を放出しない光源により発生させる工程と、各該バーストにより 発生させた光を分析されるべき試料に向ける工程と、該光ビームの強度を該光ビ ームが該試料と相互作用した後測定する工程を含む、試料の分光光度法による分 析を行う方法。 １８．該光ビームが第１部分と第２部分に分割され、該第１部分を該試料に向 け、そして該試料から第１検出器に向け、該第２部分を第２検出器に向け、そし て各該光のバーストについて両該ビーム部分の強度を測定する、請求の範囲１７ に記載の方法。 １９．該第２ビーム部分は該第２検出器により受け取られる前に対照セルと相 互作用する請求の範囲１８に記載の方法。