JP2000500275A - 低真空質量分析計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 この発明は、ガス分析器として用いられる低真空質量分析計を提供するもので、当該質量分析計は、一端部にガス流入口とイオン化領域とを有する移動チューブと、所要の高電圧を供給する電源と、前記移動チューブと接続可能で１Torrまでの真空レベルを維持する真空ポンプと、前記移動チューブの他端部に配置された検出器とを備え、前記検出器はほぼ細密充填の態様でともに結合されたビーズの多層構成からなるマルチスフィアプレートである。

Description

【発明の詳細な説明】 低真空質量分析計 発明の分野 本発明は、ガス分析器として用いられる、低真空質量分析計に関する。 発明の背景 ２つのタイプのガス分析器が存在する。１つは、もっとも一般的に用いられて いるもので、質量分析計（mass spectrometer（ＭＳ））である。ＭＳは、材料 サンプルをイオン化し、約１０^-6Torrの真空中で電界によって加速し、質量選別 をしてから、電荷検出器（ファラデーキャップ（Faraday cap）、電子増倍器、 マイクロチャネルプレート等）によって検出する。どのようなタイプであっても 、ＭＳの動作には高真空が不可欠である。最近では、大気圧イオン化機能を備え て改良されたＭＳもある。このような機器では、圧力変換器を使用して、検出器 に向けてイオンが加速するときの圧力を低減している。 第２のタイプのガス分析器は、イオン移動度分析計（ＩＭＳ）である。ＩＭＳ にあっては、サンプルはイオン化され、約１気圧に保持されたチューブの内部を 移動していく。そのチューブ内でのイオンとガスとの相互作用によって、イオン が電荷検出器に到達する時間が決まる。この装置では、電荷検出器はファラデー キャップに限定される。他に大気圧で動作可能な電荷検出器はないからである。 高真空が要求されるため、一般にＭＳは高価かつ大型の真空ポンプによって動 作する大型システムである。得られるデータは、検出器に到達するイオンの質量 に基づいている。より高度な分析能力を達成するために、ＭＳはガスクロマトグ ラフィー（ＧＣ）と組合せて用いられることがある。この場合、分析されるガス とＧＣのコラム内の材料との親和性が、分析能力を高めるように作用する。 ＭＳとは異なり、ＩＭＳは、サイズがコンパクトで操作も容易であり、大気圧 で動作するために低価格となっている。しかし、広く分析ツールとして利用しよ うとするに当たっては、２つの大きな問題がある。大気圧で動作することから、 場所や時間によって、結果を再現することが困難なことである。これは、海抜高 度及び天候条件によって、気圧が異なるからである。２つ目の重大な欠点は、ダ イナミックレンジが限られることである。イオンが低速度で生成されるので、イ オン化体積内に生成され得るイオンの数が、空間電荷によって限定されるのであ る。これが、得られる信号の上限である。検出器として使用されるファラデーキ ャップの感度が低いことが、測定可能となる信号について生成されねばならない イオンの数の下限値となる。これら２つの限界値の結果として、ＩＭＳの一般的 なダイナミックレンジは、約５０となっており、多くの分析用途については低す ぎるものとなっている。 そこで、本発明の目的の１つは、一般的なＭＳが有するダイナミックレンジ及 び感度と、ＩＭＳが有する操作の容易性及び低コストという特徴とを組合せるこ とによって、既存のガス分析器が持っている限界と欠点とを克服することである 。 発明の概要 この発明によれば、この目的は、一端部にガス流入口とイオン化領域とを有す る移動チューブと、所要の高電圧を供給する電源と、前記移動チューブと接続可 能で１Torrまでの真空レベルを維持する真空ポンプと、前記移動チューブの他端 部に配置された検出器とを備え、前記検出器はほぼ細密充填の態様でともに結合 されたビーズの多層構成からなるマルチスフィアプレートである、ガス分析器と して用いられる低真空質量分析計を提供することにより達成される。 本装置では、分析されるガスはイオン化領域に導入される。ガスは、電子ビー ム、放射性線源、あるいはレーザー等のイオン化手段によって、小さな体積内で イオン化される。移動チューブには電圧が印加され、イオンはそれによって検出 器の方へ移動していく。移動チューブは、約０．１Torr以下の圧力のガスで充填 される。チューブの中を移動しつつ、イオンはガスと衝突して減速されたり、ガ スと反応して新たなイオンを形成したりする。移動チューブを通過して、イオン はこのような低真空条件で動作可能なマルチスフィアプレート（ＭＳＰ）検出器 に衝突する。ＭＳＰは、信号を数倍増幅する。イオン化の瞬間から検出器に到達 する瞬間までの飛行時間は、高精度で計測することができ、一般に１０ナノ秒よ りも高い。この飛行時間パターンこそが、分析される分子の特徴として機能する のである。 ここで、この発明をさらに十分に理解することができるように、以下の図示例 を参照して好適実施例に関して説明することとする。 特に図面を詳細に参照すると、ここで強調しておきたいことは、それら特定の ものは本発明の例として、そして本発明の好適実施例を例にとって議論する目的 のためだけになされているのであり、この発明の原理と基本的な考え方との記述 を容易に理解するのにもっとも有用だと信ずるところを示すためのものであると いう点である。このような観点から、この発明を本質的に理解するのに必要と思 われる以上に詳細な構成上の細部を示そうとはしなかった。これらの図面と説明 とによって、実際的には本発明についていくつかの実施形態が可能であることは この技術の当業者にとって明らかとなろう。 図面の簡単な説明 これらの図面において、 図１は、本発明による低真空質量分析計（ＬＶＭＳ）の概略図である。 図２は、前記ＬＶＭＳの検出器として機能する微小球プレート（ＭＳＰ）の一 部を示す大縮尺の拡大図である。 図３は、ＭＳＰの増幅を圧力の関数として示すグラフである。 好適実施例の詳細な説明 図面を参照すると、図１には本発明によるＬＶＭＳが模式的に示されており、 そのＬＶＭＳは、ガス流入口４を有する移動チューブ２と、イオン化領域６と、 所要の高電圧を供給する電源８と、小型真空ポンプへのコネクタ１０と、いくつ かの加速電極１２（オプションである。）と、以下に説明する検出器１４とを備 えている。 分析されるサンプルは、気相分子の形態で、前記流入口４を通じてイオン化領 域６内に導入される。ＭＳで用いられるのと同様に、他の形態のサンプルとする ことも可能である。前記領域６内で、サンプル分子は、粒子または光子のショー トパルスによってイオン化される。電源８は、イオン化領域６内で形成されたイ オンを、移動チューブ２を通じて検出器１４に向けて加速する場を生成する。一 般に、数キロ電子ボルトの電圧が印加され、イオン化領域６が検出器１４の表面 に対して正にバイアスされるようにしている。移動チューブ２は、特定の用途に 応じて異なる長さとするようにしてもよい。一般には、その長さは１０〜１００ ｃｍである。移動チューブ２には、サンプルイオンのコライダーとして、あるい は反応物として機能するような、異なるガスが充填される。移動チューブ２内の 圧力は、検出器付近に行き渡っている圧力と異なるかも知れないが、小型ポンプ によって所望の値に保持される。 検出器１４は、図２に一部が図示されているが、微小球プレート（ＭＳＰ）１ ６の形態であって、多層構成の球状ビーズ１８を備えている。このビーズ１８は ガラスで形成することが有利であり、電子あるいは他の荷電粒子が衝突したとき に、二次電子放出１９を生じる。ビーズ１８がともに焼結されている場合には、 それらの間に蛇行する経路が形成される。ＭＳＰ１６は、実際には電子増倍器と して機能し、周辺を支配する動作圧力における電子の平均自由行路が、ＭＳＰ１ ６内部の表面と衝突する前に電子が移動しなければならない距離よりも大となる ように構成される。ビーズ１８間に必要とされる平均間隙ｄは動作圧力Ｐによっ て定まり、その関係は、ｄ＜（１０^-2／Ｐ）（ただし、Ｐの単位はミリバール、 ｄの単位はｃｍ）で表される。従って、球状ビーズ１８の細密充填について、ビ ーズはｄのオーダーの直径を有しなければならない。一般のＬＶＭＳに用いる微 小球プレート１６はガラスビーズから構成されており、厚さが約０．７ｍｍで、 直径約７０ｍｍである。もっとも外側の層２０には、電源２２から高電圧を印加 するために金属コーティングが施されている。前記したタイプの検出器は、約１ Torrまでの圧力で動作することが可能である。 前記蛇行経路によって検出器１４内におけるイオンのフィードバックが防止さ れる一方、球状ビーズ１８を細密充填することによって、電子が検出器１４内で ビーズの表面と衝突するまでに移動しなければならない距離が短縮される。検出 器１４として機能するＭＳＰ１６が持っているこれら２つの性質により、低真空 でも動作する構成が可能とされている。 図３は、ＭＳＰの増幅が圧力に対して依存している様子を示すグラフである。 図示されているように、増幅は１０^-1Torrより低い圧力で急峻に立ち上がり、約 １０^-1.5Torrから平坦となり、１０^-3Torrの圧力に対して約１０⁵となっている 。 本発明が前記例示した実施例の詳細に限定されるものではないこと、及び本発 明がその精神あるいは本質的な特徴を逸脱することなく他の特定の形態で実現可 能であることは、この技術の当業者にとっては明らかであろう。従って、本実施 例はいかなる点においても例示的なものと考えられるべきであって、限定的と捉 えられるべきではない。この発明の範囲は前記した記述ではなくむしろ付属する 請求の範囲によって示されているから、その請求の範囲と同等の意味及び範囲内 にあるすべての変更は、また請求の範囲に包含されるものである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．一端部にガス流入口とイオン化領域とを有する移動チューブと、 所要の高電圧を供給する電源と、 前記移動チューブと接続可能で１Torrまでの真空レベルを維持する真空ポンプ と、 前記移動チューブの他端部に配置された検出器とを備え、 前記検出器はほぼ細密充填の態様でともに結合されたビーズの多層構成からな るマルチスフィアプレートである ガス分析器として用いられる低真空質量分析計。 ２．前記移動チューブの内部に沿って間隔を隔てて設けられた加速電極をさらに 備えた請求の範囲第１項に記載の質量分析計。 ３．低真空質量分析計において、細密充填の態様でともに結合されたビーズの多 層構成からなる多層プレートで形成された検出器の形態における改良であって、 各ビーズの直径Ｄは前記移動チューブ内に行き渡っている圧力Ｐに依存し、ｄ ＜（１０^-2／Ｐ）なる関係によってＤはｄにほぼ等しくされている 改良。 ４．前記ビーズは球状である請求の範囲第３項に記載の質量分析計。 ５．前記ビーズは互いに焼結されている請求の範囲第３項に記載の質量分析計。 ６．前記微小球プレートの外側の層にあるビーズの少なくともいくつかは、少な くともその表面の一部に電気伝導性のコーティングが施され、高電圧が印加され るようになっている請求の範囲第３項に記載の質量分析計。 ７．前記移動チューブ内に行き渡っている圧力は１Torr以下である請求の範囲第 ３項に記載の質量分析計。