JP2000348990A - Inspection device for electrolytic capacitor and inspection method using the same - Google Patents

Inspection device for electrolytic capacitor and inspection method using the same

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JP2000348990A
JP2000348990A JP15612899A JP15612899A JP2000348990A JP 2000348990 A JP2000348990 A JP 2000348990A JP 15612899 A JP15612899 A JP 15612899A JP 15612899 A JP15612899 A JP 15612899A JP 2000348990 A JP2000348990 A JP 2000348990A
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capacitor
electrolytic capacitor
inrush current
current supply
inspection
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Terumi Fujiyama
輝巳 藤山
Takashi Arichika
隆司 有近
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide the inspection device for an electrolytic capacitor, which can detect shorting due to dropped parts of the cut burrs of a cathode foil and an anode foil, which occurs only seldomly by the use conditions of the electrolytic capacitor, in the initial inspection of the electrolytic capacitor and can improve the quality of the electrolytic capacitor, and to provide an inspection method using the device. SOLUTION: For an inspection device, an inrush current supply capacitor C1, a power source PS1 charging the inrush current supply capacitor C1 and a backup capacitor C2 are installed, and a charging resistor R2 is installed between the backup capacitor C2 and the inrush current supply capacitor C1 in series. Inrush current is applied to a test electrolytic capacitor Cs, and the change of voltage or current is inspected. Thus, shorting due to dropped parts of cut burrs on a cathode foil and an anode foil, which occurs only seldomly, can be detected, and an electrolytic capacitor of high quality can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は各種電子機器に使用
される電解コンデンサの検査装置およびこれを用いた検
査方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for an electrolytic capacitor used in various electronic devices and an inspection method using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に電解コンデンサは図3に示すよう
に、所定の寸法にスリッターで切断した陽極箔1と陰極
箔2にリード線3,4を接続してセパレータ5,6と共
に巻回し、駆動用電解液(図示せず)を含浸して形成さ
れるコンデンサ素子7を、有底円筒状の金属ケース(図
示せず)に収納した後、コンデンサ素子7より導出され
たリード線3,4を封口板(図示せず)に貫通させた
後、上記金属ケースの解放端を封口板と共に絞り封口し
た構造を有している。
2. Description of the Related Art Generally, as shown in FIG. 3, an electrolytic capacitor is wound with separators 5 and 6 by connecting lead wires 3 and 4 to an anode foil 1 and a cathode foil 2 cut to a predetermined size by a slitter. After the capacitor element 7 formed by impregnating the electrolyte for use (not shown) is housed in a cylindrical metal case (not shown) having a bottom, the lead wires 3 and 4 led out from the capacitor element 7 are removed. After penetrating through a sealing plate (not shown), the open end of the metal case is squeezed and sealed together with the sealing plate.

【0003】このように作製した電解コンデンサは、エ
ージングで陽極箔1の修復化成を行うことにより、より
品質の高い電解コンデンサを得るようにしている。
In the electrolytic capacitor thus manufactured, a higher quality electrolytic capacitor is obtained by repairing and forming the anode foil 1 by aging.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな電解コンデンサは、所定寸法に切断された陽極箔1
および陰極箔2の切断面は、図3に示したように微細な
裁断バリ8がある。この微細な裁断バリ8がセパレータ
5,6を介して巻回する工程中に脱落し巻き込まれる場
合がある。このような状態の電解コンデンサはエージン
グ程度の電圧では何ら問題にならないが、セット製品に
組み込んで使用したときの使用条件によっては、裁断バ
リ8の脱落部でショートする場合があるという課題を抱
えている。
However, such an electrolytic capacitor is provided with an anode foil 1 cut to a predetermined size.
The cut surface of the cathode foil 2 has fine cutting burrs 8 as shown in FIG. The fine cutting burr 8 may fall off and be involved in the process of winding through the separators 5 and 6. The electrolytic capacitor in such a state does not cause any problem at a voltage of about aging, but has a problem that a short-circuit may occur at a falling part of the cutting burr 8 depending on use conditions when used in a set product. I have.

【0005】本発明はこのような課題を解決し、電解コ
ンデンサの使用条件によってまれにしかでない陽極箔お
よび陰極箔の裁断バリの脱落部によるショートを電解コ
ンデンサの初期検査で発見することによって電解コンデ
ンサの品質を高めることができる電解コンデンサの検査
装置およびこれを用いた検査方法を提供することを目的
とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the above-mentioned problems, and finds a short circuit due to a cut-off portion of a cutting burr of an anode foil and a cathode foil which is rarely caused by the use condition of an electrolytic capacitor in an initial inspection of the electrolytic capacitor. It is an object of the present invention to provide an electrolytic capacitor inspection apparatus and an inspection method using the same, which can improve the quality of the electrolytic capacitor.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、供試電解コンデンサに抵抗を介して並列に
配置したインラッシュ電流供給コンデンサと、このイン
ラッシュ電流供給コンデンサを充電する電源とバックア
ップコンデンサを設け、バックアップコンデンサとイン
ラッシュ電流供給コンデンサの間に直列に充電抵抗を具
備した構成の検査装置としたもので、供試電解コンデン
サに定格電圧またはサージ電圧までインラッシュ電流を
印加して、充電後の電圧または電流の変化を検査するよ
うにしたものである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides an inrush current supply capacitor arranged in parallel with a test electrolytic capacitor via a resistor, and a power supply for charging the inrush current supply capacitor. And a backup capacitor, and a test device with a charging resistor in series between the backup capacitor and the inrush current supply capacitor.The inrush current is applied to the test electrolytic capacitor up to the rated voltage or surge voltage. Thus, a change in voltage or current after charging is inspected.

【0007】この本発明により、電解コンデンサの使用
条件によって極希にしか出ない陽極箔および陰極箔の裁
断バリの脱落部によるショートを電解コンデンサの初期
検査で発見することができ、信頼性の高い電解コンデン
サが得られる。
According to the present invention, it is possible to detect short-circuits caused by falling-off portions of cutting burrs of the anode foil and the cathode foil, which are rarely caused depending on the use conditions of the electrolytic capacitor, in the initial inspection of the electrolytic capacitor, thereby achieving high reliability. An electrolytic capacitor is obtained.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、供試電解コンデンサに抵抗を介して並列に配置した
インラッシュ電流供給コンデンサと、このインラッシュ
電流供給コンデンサを充電する電源とバックアップコン
デンサを設け、バックアップコンデンサとインラッシュ
電流供給コンデンサの間に直列に充電抵抗を具備した構
成としたもので、この構成により、充電用電源の電流容
量を低くすることができ、インラッシュ電流供給コンデ
ンサに電荷を徐々に蓄えて、一気に大電流を供試電解コ
ンデンサに放電することができるという作用を有するも
のである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention is directed to an inrush current supply capacitor disposed in parallel with a test electrolytic capacitor via a resistor, and a power supply for charging the inrush current supply capacitor. A backup capacitor is provided, and a charging resistor is provided in series between the backup capacitor and the inrush current supply capacitor. With this configuration, the current capacity of the charging power supply can be reduced, and the inrush current supply This has the function of gradually accumulating charge in the capacitor and discharging a large current to the test electrolytic capacitor at a stretch.

【0009】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の発明において、インラッシュ電流供給コンデンサの容
量が供試電解コンデンサの4倍以上としたもので、供試
電解コンデンサの電圧変動を抑制することができるとい
う作用を有するものである。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the capacitance of the inrush current supply capacitor is four times or more the size of the test electrolytic capacitor. It has the effect that it can be suppressed.

【0010】請求項3に記載の発明は、請求項1または
2に記載の発明において、バックアップコンデンサの容
量がインラッシュ電流供給コンデンサの4倍以上とした
もので、インラッシュ電流供給コンデンサの電圧変動を
抑制することができるという作用を有するものである。
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the invention, the capacity of the backup capacitor is four times or more the capacity of the inrush current supply capacitor. Can be suppressed.

【0011】請求項4に記載の発明は、請求項1〜3の
いずれか一つに記載の発明において、供試電解コンデン
サに定格電圧またはサージ電圧までインラッシュ電流を
印加して、充電後の電圧または電流の変化を検査するよ
うにしたもので、インラッシュ電流供給コンデンサに電
荷を徐々に蓄えて、一気に大電流を供試電解コンデンサ
に放電することで電解コンデンサを精度良く検査するこ
とができるという作用を有するものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the invention according to any one of the first to third aspects, an inrush current is applied to the test electrolytic capacitor up to a rated voltage or a surge voltage, and after the battery is charged. It is designed to inspect the change of voltage or current.Electric capacitor can be inspected with high accuracy by gradually storing electric charge in inrush current supply capacitor and discharging large current to test electrolytic capacitor at once. It has the action of:

【0012】請求項5に記載の発明は、請求項4に記載
の発明において、供試電解コンデンサに30A以上のイ
ンラッシュ電流を印加して検査を行うようにしたもの
で、電解コンデンサの信頼性を高くすることができると
いう作用を有するものである。
According to a fifth aspect of the present invention, in the invention of the fourth aspect, the test is performed by applying an inrush current of 30 A or more to the test electrolytic capacitor. Can be increased.

【0013】請求項6に記載の発明は、請求項4または
5に記載の発明において、供試電解コンデンサを、放電
状態で60℃以上で3分以上の熱処理をした後に検査を
行うようにしたもので、放電状態で加熱すると電解コン
デンサの信頼性をさらに高くすることができるという作
用を有するものである。
According to a sixth aspect of the present invention, in the invention of the fourth or fifth aspect, the test electrolytic capacitor is subjected to a heat treatment at 60 ° C. or more for 3 minutes or more in a discharged state, and then the inspection is performed. It has an effect that the reliability of the electrolytic capacitor can be further increased by heating in a discharged state.

【0014】以下、本発明の一実施の形態について図面
を用いて説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】図1は本発明の一実施の形態による電解コ
ンデンサの検査装置の概要を示した回路図である。同図
において、PS1は電気エネルギーを供給する電源、C
1は供試電解コンデンサCsにインラッシュ電流を印加
させるインラッシュ電流供給コンデンサ、C2はインラ
ッシュ電流供給コンデンサC1のバックアップコンデン
サ、R1は放電抵抗、R2,R3は充電抵抗、SW1は
検査するときのスイッチである。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an outline of an electrolytic capacitor inspection apparatus according to one embodiment of the present invention. In the figure, PS1 is a power supply for supplying electric energy, C
1 is an inrush current supply capacitor for applying an inrush current to the test electrolytic capacitor Cs, C2 is a backup capacitor of the inrush current supply capacitor C1, R1 is a discharge resistor, R2 and R3 are charge resistors, and SW1 is a test resistor. Switch.

【0016】このような回路からなる電解コンデンサの
検査装置において、電気エネルギーを供給する電源PS
1より充電抵抗R3を介してバックアップコンデンサC
2に電荷が蓄えられる。次に充電抵抗R2を介してイン
ラッシュ電流供給コンデンサC1に電荷が蓄えられる。
この状態で、端子A,Bに供試電解コンデンサCsを接
続してスイッチSW1をオンにすると、放電抵抗R1を
介してインラッシュ電流供給コンデンサC1から供試電
解コンデンサCsに電流を一気に流すことができる。
In the inspection apparatus for an electrolytic capacitor having such a circuit, a power supply PS for supplying electric energy
1 and backup capacitor C via charging resistor R3
The charge is stored in 2. Next, charge is stored in the inrush current supply capacitor C1 via the charging resistor R2.
In this state, when the test electrolytic capacitor Cs is connected to the terminals A and B and the switch SW1 is turned on, a current can flow from the inrush current supply capacitor C1 to the test electrolytic capacitor Cs at once through the discharge resistor R1. it can.

【0017】このとき充電抵抗R2は、検査と検査する
間の時間にインラッシュ電流供給コンデンサC1がフル
充電できる定数(充電時間t=4・C1・R1で約98
%充電)以下が好ましい。
At this time, the charging resistor R2 is a constant (about 98 at charging time t = 4 · C1 · R1) at which the inrush current supply capacitor C1 can be fully charged during the time between tests.
% Charge) is preferred.

【0018】また、インラッシュ電流供給コンデンサC
1の容量が、供試電解コンデンサCsの4倍以上にする
と、供試電解コンデンサCsの電圧がインラッシュ電流
供給コンデンサC1の電圧により近づくので、供試電解
コンデンサCsの電圧変動を抑制することができる。
The inrush current supply capacitor C
If the capacity of the capacitor 1 is four times or more the electrolytic capacitor Cs, the voltage of the electrolytic capacitor Cs approaches the voltage of the in-rush current supply capacitor C1, so that the voltage fluctuation of the electrolytic capacitor Cs can be suppressed. it can.

【0019】さらには、バックアップコンデンサC2の
容量が、インラッシュ電流供給コンデンサC1の4倍以
上にすると、インラッシュ電流供給コンデンサC1の電
圧がバックアップコンデンサC2の電圧により近づき、
インラッシュ電流供給コンデンサC1の電圧変動を抑制
することができる。
Further, when the capacity of the backup capacitor C2 is four times or more the capacity of the inrush current supply capacitor C1, the voltage of the inrush current supply capacitor C1 approaches the voltage of the backup capacitor C2,
Voltage fluctuations of the inrush current supply capacitor C1 can be suppressed.

【0020】次に、この検査装置を用いて供試電解コン
デンサCsを検査する方法について述べる。
Next, a method of inspecting the test electrolytic capacitor Cs using the inspection apparatus will be described.

【0021】蓄えられたインラッシュ電流供給コンデン
サC1の電荷を、端子A,Bに供試電解コンデンサCs
を接続してスイッチSW1をオンにすると、放電抵抗R
1を介してインラッシュ電流供給コンデンサC1から供
試電解コンデンサCsに電流が一気に流れる。このとき
の試供電解コンデンサCsの電圧または電流の変化を測
定して検査する。そのときの電圧と電流の変化を図2に
示す。同図において、良品の電圧は急速充電後飽和状態
となる。また、電流の変化はインラッシュ電流が流れた
後に急速に減衰する。
The stored charge of the inrush current supply capacitor C1 is transferred to terminals A and B by a test electrolytic capacitor Cs.
Is connected to turn on the switch SW1, the discharge resistance R
1, a current flows from the inrush current supply capacitor C1 to the test electrolytic capacitor Cs at a stretch. At this time, a change in the voltage or current of the sample electrolytic capacitor Cs is measured and inspected. FIG. 2 shows changes in voltage and current at that time. In the figure, the voltage of a non-defective product becomes saturated after rapid charging. Also, the change in the current rapidly attenuates after the inrush current flows.

【0022】一方、不良品の電圧は、急速充電後供試電
解コンデンサCs内の放電により電圧が降下状態とな
る。また電流はインラッシュ電流が流れた後に急速に減
衰するが、供試電解コンデンサCs内の放電により電流
値が増加する。
On the other hand, the voltage of the defective product drops due to discharge in the test electrolytic capacitor Cs after rapid charging. The current rapidly attenuates after the inrush current flows, but the current value increases due to discharge in the test electrolytic capacitor Cs.

【0023】このように、電圧および電流の変化を検査
することにより、良品または不良品の判別を行うことが
できる。
As described above, by inspecting the change in the voltage and the current, it is possible to determine a non-defective product or a defective product.

【0024】また、上記検査方法において、供試電解コ
ンデンサCsを、放電状態で60℃以上で3分以上の熱
処理をした後に検査を行うと、放電状態で加熱するため
供試電解コンデンサCsの陽極箔と陰極箔に適正の電圧
が均一にかかるので、より信頼性の高い検査を行うこと
ができる。
In the above-mentioned inspection method, if the test electrolytic capacitor Cs is subjected to a heat treatment at 60 ° C. or more for 3 minutes or more in a discharged state and then inspected, the anode of the test electrolytic capacitor Cs is heated in the discharged state. Since an appropriate voltage is uniformly applied to the foil and the cathode foil, a more reliable inspection can be performed.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上のように本発明の電解コンデンサの
検査装置は、電気エネルギーを供給する電源の電流容量
が低くても、インラッシュ電流供給コンデンサを配置す
ることで、一気に大電流を供試電解コンデンサに放電す
ることができる検査装置で、この検査装置により、使用
条件によってはまれにしかでない陽極箔および陰極箔の
裁断バリの脱落部によるショートを電解コンデンサの初
期検査で発見し、電解コンデンサの品質を高めた電解コ
ンデンサが得られる。
As described above, the inspection apparatus for an electrolytic capacitor of the present invention can test a large current at a stretch by arranging an inrush current supply capacitor even if the current capacity of a power supply for supplying electric energy is low. An inspection device that can discharge to an electrolytic capacitor.This inspection device detects in the initial inspection of the electrolytic capacitor a short circuit due to the cut-off part of the cutting burr of the anode foil and the cathode foil, which is rare depending on the use conditions. Thus, an electrolytic capacitor with improved quality can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態による電解コンデンサの
検査装置の概略を示す回路図
FIG. 1 is a circuit diagram schematically illustrating an inspection apparatus for an electrolytic capacitor according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施の形態による電解コンデンサの検査によ
る電圧および電流の変化を表した波形図
FIG. 2 is a waveform chart showing changes in voltage and current by inspection of the electrolytic capacitor according to the embodiment.

【図3】従来の電解コンデンサのコンデンサ素子を示す
展開斜視図
FIG. 3 is a developed perspective view showing a capacitor element of a conventional electrolytic capacitor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

C1 インラッシュ電流供給コンデンサ C2 バックアップコンデンサ Cs 供試電解コンデンサ R1 放電抵抗 R2,R3 充電抵抗 SW1 スイッチ PS1 電気エネルギーを供給する電源 C1 Inrush current supply capacitor C2 Backup capacitor Cs Test electrolytic capacitor R1 Discharge resistor R2, R3 Charge resistor SW1 Switch PS1 Power supply for supplying electric energy

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G036 AA22 BB02 CA12 5E082 AA07 AB04 AB09 BC36 BC38 GG04 KK04 MM24 MM35 MM38 PP01 PP05 PP06  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G036 AA22 BB02 CA12 5E082 AA07 AB04 AB09 BC36 BC38 GG04 KK04 MM24 MM35 MM38 PP01 PP05 PP06

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 供試電解コンデンサに抵抗を介して並列
に配置したインラッシュ電流供給コンデンサと、このイ
ンラッシュ電流供給コンデンサを充電する電源とバック
アップコンデンサを設け、バックアップコンデンサとイ
ンラッシュ電流供給コンデンサの間に直列に充電抵抗を
具備した電解コンデンサの検査装置。
1. An inrush current supply capacitor disposed in parallel with a test electrolytic capacitor via a resistor, a power supply for charging the inrush current supply capacitor and a backup capacitor are provided, and a backup capacitor and an inrush current supply capacitor are provided. Inspection device for electrolytic capacitors with a charging resistor in series between them.
【請求項2】 インラッシュ電流供給コンデンサの容量
が供試電解コンデンサの4倍以上の容量である請求項1
に記載の電解コンデンサの検査装置。
2. The capacity of the inrush current supply capacitor is at least four times the capacity of the test electrolytic capacitor.
An inspection device for an electrolytic capacitor according to item 1.
【請求項3】 バックアップ用コンデンサの容量がイン
ラッシュ電流供給コンデンサの4倍以上の容量である請
求項1または2に記載の電解コンデンサの検査装置。
3. The electrolytic capacitor inspection device according to claim 1, wherein the capacity of the backup capacitor is at least four times the capacity of the inrush current supply capacitor.
【請求項4】 供試電解コンデンサに定格電圧またはサ
ージ電圧までインラッシュ電流を印加して、充電後の電
圧または電流の変化を検査する請求項1〜3のいずれか
一つに記載の電解コンデンサの検査装置を用いた電解コ
ンデンサの検査方法。
4. The electrolytic capacitor according to claim 1, wherein an inrush current is applied to the test electrolytic capacitor up to a rated voltage or a surge voltage, and a change in voltage or current after charging is inspected. Method for inspecting electrolytic capacitors using the inspection apparatus of the present invention.
【請求項5】 供試電解コンデンサに30A以上のイン
ラッシュ電流を印加して検査を行うようにした請求項4
に記載の電解コンデンサの検査方法。
5. The test is performed by applying an inrush current of 30 A or more to a test electrolytic capacitor.
Inspection method of the electrolytic capacitor described in the above.
【請求項6】 供試電解コンデンサを放電状態で60℃
以上で3分以上の熱処理をした後に検査する請求項4ま
たは5に記載の電解コンデンサの検査方法。
6. The test electrolytic capacitor is discharged at 60 ° C.
The inspection method for an electrolytic capacitor according to claim 4 or 5, wherein the inspection is performed after the heat treatment for three minutes or more.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015142075A (en) * 2014-01-30 2015-08-03 パナソニックIpマネジメント株式会社 Method of manufacturing capacitor and inspection apparatus of capacitor

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015142075A (en) * 2014-01-30 2015-08-03 パナソニックIpマネジメント株式会社 Method of manufacturing capacitor and inspection apparatus of capacitor

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