JP2000339767A - 光ディスク、光ディスクの検査方法、光ディスクの検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクＡに設けられている透かし模様パ
ターン６を検出して光ディスクＡの良否判別を行う検査
装置を提供する。 【解決手段】 点光源１０から出射する光線１０ａ又は
平行光線１０ｂを検査光線として、光ディスクのＡの基
板表面１ｂに対して照射する照射手段と、光ディスクＡ
から反射した反射光１２の反射光強度パターン１３を検
出する画像取込回路１５と、この反射光強度パターン１
３と基準パターンとを照合する比較回路１６と、照合結
果が所定の範囲内であれば光ディスクＡを良品の光ディ
スクと判定し、照合結果が所定の範囲外であれば不良品
の光ディスクと判定する良否判定回路２０とを有してい
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、特に情報記録面上
に、本来の情報と異なる情報を目視可能なレベルで作成
する「透かし模様パターン」を形成した光ディスクであ
り、この光ディスクの良否を「透かし模様パターン」を
検査することにより行う光ディスク検査方法、光ディス
ク検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクは、その記録情報量の多さ、
取り扱いの簡便さから、広く一般に普及している。コン
パクトディスクと呼ばれる単板の一方の表面に情報を記
録し、反対面側より再生する光ディスクにおいて、最近
はその偽造品が横行し、ディスク販売業界は偽造防止開
発に大きな力をさいている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】このような偽造防止を
はかり、また記録量を増加させた貼合型の光ディスクが
開発された。こうした新しい貼合型の光ディスクにおい
ても偽造防止開発は引き続き行われるが今のところ有効
な手段はない。その中でディスク信号面上に凸凹模様を
形成させたいわゆる「透かし模様付きディスク」は、そ
のディスクが正しく製造されているかどうかを検査する
手段は目視検査以外有効な検査方法はなかった。そこ
で、透かし模様の作成法の一例として、本発明は、前述
した課題に鑑みて成されたものであり、基板上に、反射
層、紫外線硬化型接着剤を用いて成る接着層、保護層を
順次積層してなる光ディスクであって、所定の模様パタ
ーンが形成されている遮光マスクを介して、紫外線を前
記保護層側から前記接着層に照射して、前記接着層上に
前記模様パターンで露光又は遮光される部分と、前記模
様パターン以外の部分で遮光又は露光される部分とを形
成することによって、露光される部分と遮光される部分
とにおける紫外線硬化型接着剤の硬化速度の違いを利用
して、前記反射層上には、前記模様パターンに対応した
凹凸形状の透かし模様パターンが形成されており、前記
透かし模様パターンは、点光源から出射する光線又は平
行光線を前記基板表面上に照射することによって、検出
可能であることを特徴とする光ディスクを提供すると共
に、この光ディスクに形成されている前記透かし模様パ
ターンを用いて、光ディスクの良否を検査する検査方法
であって、点光源から出射する光線又は平行光線を検査
光線として、被検査光ディスクの基板表面上に照射し
て、この被検査光ディスクから反射する反射光の反射光
強度パターンを検出し、検査の基準とする透かし模様パ
ターンに対応した反射光強度パターンを基準パターンと
して、この基準パターンに対して被検査光ディスクの反
射光強度パターンを照合し、この照合結果が所定の範囲
内であれば、被検査光ディスクを良品の光ディスクと判
定し、照合結果が所定の範囲外であれば、被検査光ディ
スクを不良品の光ディスクと判定することを特徴とする
光ディスクの検査方法を提供することを目的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明は、次の（１）〜（５）の構成の光ディ
スク、光ディスクの検査方法、光ディスクの検査装置を
提供する。 （１） 図１〜図４に示すように、基板１上に、反射層
２、紫外線硬化型接着剤を用いて成る接着層３、保護層
４を順次積層して成る光ディスク（貼り合せ型光ディス
ク）Ａであって、所定の模様パターン６が形成されてい
る遮光マスクＭを介して、紫外線Ｕを前記保護層４側か
ら前記接着層３に照射して、前記接着層３上に前記模様
パターン６（マスク部分Ｍ０）で露光（又は遮光）され
る部分５ａと、前記模様パターン６以外の部分（マスク
部分Ｍ１，Ｍ２）で遮光（又は露光）される部分５ｂと
を形成することによって、露光される部分５ａと遮光さ
れる部分５ｂとにおける紫外線硬化型接着剤の硬化速度
の違いを利用して、前記反射層上には、前記模様パター
ンに対応した凹凸形状の透かし模様パターンが形成され
ており、前記透かし模様パターン６は、点光源１０から
出射する光線１０ａ又は平行光線１０ｂを前記基板表面
１ｂ上に照射することによって、検出可能であることを
特徴とする光ディスク。 （２） 図２〜図５に示すように、請求項１記載の光デ
ィスクＡ（図１）に形成されている前記透かし模様パタ
ーン６を用いて、光ディスクＡの良否を検査する検査方
法であって、点光源１０から出射する光線１０ａ又は平
行光線１０ｂを検査光線として、被検査光ディスクＡの
基板表面１ｂ上に照射して、この被検査光ディスクＡか
ら反射する反射光１２の反射光強度パターン（反射像）
１３を検出し、検査の基準とする透かし模様パターンに
対応した反射光強度パターンを基準パターン（基準デー
タ）として、この基準パターンに対して被検査光ディス
クＡの反射光強度パターン（反射像）１３を照合し、こ
の照合結果が所定の範囲内であれば、被検査光ディスク
Ａを良品の光ディスクと判定し、照合結果が所定の範囲
外であれば、被検査光ディスクＡを不良品の光ディスク
と判定することを特徴とする光ディスクの検査方法。 （３） 請求項２記載の光ディスクの検査方法であっ
て、前記検査光線は、前記被検査光ディスクの直径より
大きい径を有する光線であることを特徴とする光ディス
クの検査方法。 （４） 図１〜図５に示すように、請求項１記載の光デ
ィスクＡに形成されている前記透かし模様パターン６を
用いて、光ディスクＡの良否を検査する検査装置Ｂであ
って、点光源１０から出射する光線１０ａ又は平行光線
１０ｂを検査光線として、被検査光ディスクＡの基板表
面１ｂ上に照射する照射手段と、被検査光ディスクから
Ａ反射する反射光１２の反射光強度パターン（反射像）
１３を検出する反射光検出手段（画像取込回路）１５
と、検査の基準とする透かし模様パターン６に対応した
反射光強度パターンを基準パターンとして、この基準パ
ターンに対して被検査光ディスクＡの反射光強度パター
ン（反射像）１３を照合する照合手段（比較回路）１６
と、この照合結果が所定の範囲内であれば、被検査光デ
ィスクＡを良品の光ディスクと判定し、照合結果が所定
の範囲外であれば、被検査光ディスクＡを不良品の光デ
ィスクと判定する判定手段（良否判定回路）２０とを有
することを特徴とする光ディスクの検査装置。 （５） 請求項４記載の光ディスクの検査装置Ｂであっ
て、前記検査光線は、前記被検査光ディスクＡの直径よ
り大きい径を有する光線であることを特徴とする光ディ
スクの検査装置。

【０００５】また、本発明は、次の（ａ），（ｂ）の構
成の光ディスクの検査方法を提供することができる。 （ａ） 単板または、２枚の光ディスク基板を貼り合わ
せてなる、貼り合わせ光ディスクにおいて、光ディスク
の記録面上に透かし模様の入っている光ディスクを回転
テーブルに装着し、光ディスクを回転させ、光ディスク
に対して点光源または平行光線を記録面上に照射し、そ
の反射光の強弱の時間変化を信号処理し、装置内に記憶
されている反射光の時間変化と比較し、光ディスクが良
品か不良品かを判別する光ディスクの検査方法。 （ｂ） 単板または、２枚の光ディスク基板を貼り合わ
せてなる、貼り合わせ光ディスクにおいて、光ディスク
の記録面上に透かし模様の入っている光ディスクに、点
光源または平行光線を光ディスクの直径より大きな直径
に広げ光ディスクに照射し、その反射光の強弱を一度に
検出し、信号処理を行い、装置内に記憶されている反射
光の強度変化と比較し、光ディスクが良品か不良品かを
判別する光ディスクの検査方法。

【０００６】

【発明の実施の態様】以下、本発明の光ディスク、光デ
ィスクの検査方法、光ディスクの検査装置について、図
面に沿って説明する。図１は本発明の光ディスクの構造
を説明するための図、図２〜図４はそれぞれ本発明の光
ディスクの検査装置の基本構成を説明するための第１実
施例〜第３実施例図、図５は本発明の光ディスクの検査
装置の一実施例のブロック構成図である。

【０００７】本発明の光ディスクＡは、図１（Ａ），
（Ｂ）に示すように、本来の情報が螺旋状又は同心円状
の微小ピット列又は溝で連続して記録形成されている記
録面１ａ，読出面である基板表面１ｂを有する光透過性
基板１上に、反射層２、紫外線硬化型接着剤を用いた接
着層３、保護層４を順次積層してなる貼合型の光ディス
クである。読出用レーザ光は、図１（Ｂ）中矢印Ｌ方向
から基板１の基板表面１ｂに照射される。Ｔは基板表面
１ｂに対して斜めあるいは垂直に照射される後述する検
査光線の照射方向を示している。Ｍは紫外線Ｕを遮光す
る遮光マスクであり、遮光マスク部分Ｍ０は紫外線Ｕを
透過し、遮光マスク部分Ｍ１，Ｍ２は紫外線Ｕを遮光す
る。

【０００８】また、光ディスクＡは、例えば「ＡＢＣ」
などの模様パターン６が形成されている遮光マスクＭを
介して、紫外線Ｕを保護層４側から接着層３上に照射し
て、接着層３上に模様パターン６（マスク部分Ｍ０）を
透過してくる紫外線Ｕにより露光される部分５ａと、模
様パターン６以外の部分（マスク部分Ｍ１，Ｍ２）で紫
外線Ｕを遮光される部分５ｂとを形成することによっ
て、露光される部分５ａと遮光される部分５ｂとにおけ
る紫外線硬化型接着剤の硬化速度の違いを利用して、反
射層２上には、模様パターン６に対応した凹凸形状の透
かし模様パターン６が形成されている。前記遮光マスク
Ｍは保護層４上から所定の間隔離間した状態であって
も、保護層４上に直接載置してあっても良い。

【０００９】この透かし模様パターン６は、図２〜図４
に示すように、点光源１０から出射する光線１０ａ又は
平行光線１０ｂを基板表面１ｂに対して斜め方向又は垂
直方向のいずれからの入射角度で照射される検査光線に
よって、透かし模様パターン６を検出可能である。

【００１０】詳しくは、本発明の基本的なメカニズムは
以下のようである。基板１の記録面１ａが微小な凸凹で
構成される透かし模様パターン部分５ａを備えており、
その凸凹模様を光の反射で目視可能な絵、文字、数字な
どとして表す光ディスク用透かし模様（透かし模様パタ
ーン６）は、文献を調べてみると、古く江戸時代に隠れ
キリシタンが用いた「魔鏡」と同様な原理で目視できる
物である事が分かった。つまり光ディスクＡの基板表面
１ｂに対して斜めから照射される平行光線が、記録面１
ａ上で反射すると、記録面１ａ上の微少な凸凹（透かし
模様パターン６）により、平行光線が集束発散し、光の
強度が変化し模様（透かし模様パターン６）として確認
できるのである。この模様は光ディスクＡの基板表面１
ｂに対して光を垂直に入射させても良いが、斜めから照
射させるとよく見えるようになる。つまり、光ディスク
Ａの基板表面１ｂに対して垂直に入射させると入射光と
反射光とが重なって見えにくくなるのである。

【００１１】具体的には、光ディスクＡの基板表面１ｂ
に対して入射光１０ｂを垂直に入射させると入射光１０
ｂと反射光１２とが重なって、この反射光１２から明瞭
な反射像１３が得られにくくなるので、この場合には、
後述する図３に示すように、入射光１０ｂに対して所定
の角度（α＝０〜４５°）て傾けたハーフミラー又は透
明板（半透過鏡）２４を用いて反射光１２の光路を変更
して（反射して）分離することによって、この反射光１
２から明瞭な反射像１３を得ることができる。

【００１２】一方、光ディスクＡの基板表面１ｂに対し
て入射光１０ｂを斜め（α＝０〜４５°）に入射させる
と、後述する図２に示すように、この反射光１２から明
瞭な反射像１３を得ることができる。また、後述する図
４に示すように、光ディスクＡの基板表面１ｂに対して
入射光１０ｂを斜め（α＝０〜４５°）に入射させて、
これにより得られた反射光１２だけをミラー（又は半透
過鏡）２５で反射して、反射光１２ａを得て、この反射
光１２ａから明瞭な反射像１３を得ることができる。

【００１３】前述したように、垂直又は斜め方向で、入
射光１０ｂ、反射光１２の光路中に、半透過鏡２４，２
５を設けて、出射光である反射光１２の方向を変える場
合には、半透過鏡２４，２５が前記光路となす角度（斜
め方向の角度α）は４５°未満とする。この角度αが４
５°以上となると、光ディスクＡの反射像１３の楕円形
状が著しくなり、画像処理回路１４（図２〜図４）又は
比較回路１６（図５）で、反射像１３の楕円形状を真円
に修正する必要が新たに生じる。

【００１４】ところで、光ディスクＡの基板表面１ｂに
対して入射光１０ｂを斜めから光ディスクＡ全体に照射
すると、光ディスクＡは円状なので反射光は楕円状とな
り、目視上は都合がよいが、楕円の長軸を基本として受
光素子を製作しなくてはならず、透かし模様の良否を検
査する検査装置が大型化する。

【００１５】さて、本発明の光ディスクの検査装置の基
本構成は、図２〜図４に示すように、前述した構成の光
ディスクＡ（図１）に設けられている透かし模様パター
ン６に基いて被検査光ディスクＡの良否を検査する検査
装置である。即ち、

【００１６】図２に示すように、点光源１０から出射す
る光線１０ａ又はこの光線１０ａを反射板１１で反射し
て得た平行光線１０ｂを検査光線として、被検査光ディ
スクＡ上に照射する。被検査光ディスクＡの基板表面１
ｂに対する検査光線の入射角度は０〜４５°である。基
板１被検査光ディスクＡから反射した反射光１２は反射
光強度パターンを形成している。画像処理回路１４はこ
の反射光強度パターンから反射像１３を抽出する。そし
て、画像処理回路１４は、この反射像１３が検査の基準
となる反射光強度パターンに応じた反射像との照合が行
われる。この照合結果が所定の範囲内であれば被検査光
ディスクＡを良品の光ディスクとし、反対に照合結果が
所定の範囲外であれば被検査光ディスクＡを不良品の光
ディスクとする検査結果を外部へ出力する。また、前記
検査光線は、被検査光ディスクＡの直径より大きい径を
有している光線である。

【００１７】また、図３に示すように、点光源１０から
出射する光線１０ａ又はこの光線１０ａを反射板１１で
反射して得た平行光線１０ｂを検査光線として、半透過
鏡であるハーフミラー２４を透過して、被検査光ディス
クＡ上に照射する。被検査光ディスクＡの基板表面１ｂ
に対する検査光線の入射角度は略９０°である。被検査
光ディスクＡから反射した反射光１２はハーフミラー２
４で反射されて、反射光強度パターンを形成する。画像
処理回路１４はこの反射光強度パターンから反射像１３
を抽出する。そして、画像処理回路１４は、この反射像
１３が検査の基準となる反射光強度パターンに応じた反
射像との照合が行われる。この照合結果が所定の範囲内
であれば被検査光ディスクＡを良品の光ディスクとし、
反対に照合結果が所定の範囲外であれば被検査光ディス
クＡを不良品の光ディスクとする検査結果を外部へ出力
する。また、前記検査光線は、被検査光ディスクＡの直
径より大きい径を有している光線である。

【００１８】さらに、図４に示すように、点光源１０か
ら出射する光線１０ａ又はこの光線１０ａを反射板１１
で反射して得た平行光線１０ｂを検査光線として、被検
査光ディスクＡ上に照射する。被検査光ディスクＡの基
板表面１ｂに対する検査光線の入射角度αは０〜略４５
°である。被検査光ディスクＡから反射した反射光１２
はミラー２５で反射されて、反射光強度パターンを形成
する。画像処理回路１４はこの反射光強度パターンから
反射像１３を抽出する。そして、画像処理回路１４は、
この反射像１３が検査の基準となる反射光強度パターン
に応じた反射像との照合が行われる。この照合結果が所
定の範囲内であれば被検査光ディスクＡを良品の光ディ
スクとし、反対に照合結果が所定の範囲外であれば被検
査光ディスクＡを不良品の光ディスクとする検査結果を
外部へ出力する。また、前記検査光線は、被検査光ディ
スクＡの直径より大きい径を有している光線である。

【００１９】上述した図２〜図４に示した検査装置の基
本構成を用いて、本発明の光ディスクの検査装置は、次
の通り構成されている。即ち、本発明の光ディスクの検
査装置Ｂは、図１〜図５に示すように、請求項１記載の
光ディスクＡに形成されている前記透かし模様パターン
６を用いて、光ディスクＡの良否を検査する検査装置Ｂ
であって、点光源１０から出射する光線１０ａ又は平行
光線１０ｂを検査光線として、被検査光ディスクＡの基
板表面１ｂ上に照射する照射手段と、被検査光ディスク
からＡ反射する反射光１２の反射光強度パターン（反射
像）１３を検出する反射光検出手段（画像取込回路）１
５と、検査の基準とする透かし模様パターン６に対応し
た反射光強度パターンを基準パターンとして、この基準
パターンに対して被検査光ディスクＡの反射光強度パタ
ーン（反射像）１３を照合する照合手段（比較回路）１
６と、この照合結果が所定の範囲内であれば、被検査光
ディスクＡを良品の光ディスクと判定し、照合結果が所
定の範囲外であれば、被検査光ディスクＡを不良品の光
ディスクと判定する判定手段（良否判定回路）２０とを
有している。また、前記検査光線は、被検査光ディスク
Ａの直径より大きい径を有している光線である。

【００２０】具体的に、本発明の光ディスクの検査装置
の基本構成を仔細に検討してみると、被検査光ディスク
Ａに照射する光線は平行光線１０ｂでなくても、点光源
１０から発散する光線１０ａであっても良好な反射象１
３が得られることが分かった。一般的に使用可能な点光
源１０としては次のようなものがあり、いずれも反射板
１１である放物面鏡などと組み合わせることで平行光線
１０ｂとすることができる。簡単な実験では、懐中電灯
などに使用される豆電球である。豆電球は細い発光光源
に電流を流し発光させ使用される。これと同様なもの
は、家庭用白熱電球、自動車用ハロゲンランプ、顕微鏡
用ランプなどがある。このような光源は加える電流を変
化させると照度が変わるので、このような光源を用いた
検査装置を制作後、透かし模様（透かし模様パターン
６）のコントラストを得るときなど、この光源の照度を
変化させ、検査装置の性能が充分に得られるところで使
用することができ便利である。また、ＬＥＤ（発光ダイ
オード）や半導体レーザーなどの新しい光源も使用可能
である。一方、蛍光灯や磨りガラス付き白熱電球など、
直接光源が点状に見えないものは、たとえば凸レンズを
用い光束を収束させたり、反射板１１を工夫し、出射光
が点光源状になるように工夫することにより、前記した
点光源１０として用いることができる。

【００２１】ところで、点光源１０から出射した光線１
０ａ，１０ｂは被検査光ディスクＡに照射され反射層２
で反射されてくる。反射された光１２は、前記した透か
し模様パターン６の微少な凸凹模様により、光学的な干
渉が起き、透かし模様の濃淡が得られている。従って反
射されてくる光１２の光路上に図示せぬフォトダイオー
ドやＣＣＤなどの光検出装置を設置しておけば、透かし
模様パターン６の反射像１３が光の強弱として現れるの
で、電気信号の強弱として変換して取り出すことができ
る。また、光路を例えば被検査光ディスクＡの半径分だ
けスリットなどを用いて、細い光束とすることもでき
る。この場合、被検査光ディスクＡを回転させながら、
その反射光１２の光路上に、先ほどのようにフォトダイ
オードやＣＣＤなどの光検出器を設置し、被検査光ディ
スクＡの回転とともに反射光１２の強弱が検出できるよ
うにしておいてもよい。

【００２２】このように光１０ａ，１０ｂを照射し、そ
の反射光１２の強弱から、透かし模様パターン６の反射
像１３の出来、不出来を検出する装置ができる。反射光
１２の強弱がどの程度の範囲まで許されるかについて
は、その反射光強度の分布表を作成しておき、測定値が
分布表の評価基準の範囲に入っているか否かを判断する
ことでなされる。一般的には、透かし模様パターン６の
反射像１３の限度見本を作り、検査装置で検査し、その
電気変換出力の最大値と最小値の範囲に入っているかど
うか出見分ける方法が簡単かつ確実である。この場合に
は検査装置には限度見本である電気出力の分布を記憶し
ておく回路を有する必要がある。

【００２３】また、透かし模様パターン６の反射像１３
の検査がいつも同じ模様パターンとなるような位相から
スタートすると、記憶装置のデータとの照合が確実にで
きるので、光ディスクの検査装置が検査するときの透か
し模様パターン６の位相をそろえるような、位置出し回
転機構を有していると便利である。しかしこの機構は必
ずしも必要ではなく、検査装置の機能を拡大して、見本
の透かし模様パターン６との照合が自動的にプログラム
上でできるようにすることでも行うことができる。

【００２４】また先ほど透かしの限度見本を作成して検
査装置に記憶させることを述べたが、前述したように、
例えば被検査光ディスクＡに照射する光１０ａ，１０ｂ
の強弱を変化させても同様な効果がある場合には、いつ
も同じコントラストの電気信号が得られるように、照射
する光強度の上限下限を検査装置に記憶させておき、透
かし模様パターン６の限度見本と照射する光の強度との
２つのパラメーターより、透かしの出来、不出来を判定
するようにしてもよい。

【００２５】被検査光ディスクＡの透かし模様パターン
６に例えば、一枚ごとに異なる絵、数字、模様などが入
っている場合は、その一枚ごとに変化する部分の光の反
射強度分布を前述の記憶装置に入れておくことでなされ
る。ディスク一枚ごとに異なるバーコードなど、線の太
さや間隔の違いを情報として入れてある透かし模様も同
様に、変化する部分の光強度の分布を検査装置の記憶装
置に入れておくことが望ましい。

【００２６】ディスクの透かし模様の中にディスク毎に
異なった番号などの管理情報が入っている場合、検査装
置でディスクが不良品ではねられたときは、この一連番
号などの管理情報に欠番が生じてしまうので、検査機内
で不良品で欠番が出たことを記憶しておく装置も付属さ
せておいた方が望ましい。このように光を反射させて透
かし模様の出来、不出来を検査する検査装置には各種の
付属装置を包含した形で一体とすることが望ましい。

【００２７】次に、本発明の光ディスクの検査装置の一
実施例のブロック構成について、図５を用いて説明す
る。前述したものと同一構成部分には同一符号を付しそ
の説明を省略する。

【００２８】本発明の光ディスクの検査装置Ｂは、図３
に示すように、光源１０、反射板１１、測定物である被
検査光ディスクＡ、画像取込回路１５、比較回路１６、
基準データ入力回路１７、最大最小（Ｍａｘ，Ｍｉｎ）
参照データ計算回路１８、光源光量制御回路１９、良否
（ＯＫ／ＮＧ）判定回路２０、良否（ＯＫ／ＮＧ）表
示，選別回路２１、良品（ＯＫ品）記憶表示回路２２、
不良品（ＮＧ品）記憶表示回路２３を備えている。ま
た、光源１０と被検査光ディスクＡとの間にハーフミラ
ー２４を介挿しても良い。また、被検査光ディスクＡと
反射像１３との間にミラー２５を介挿しても良い。

【００２９】次に、前述した構成の光ディスクの検査装
置Ｂの検査動作について説明する。検査工程の前工程で
透かし模様パターン６を入れられた被検査光ディスクＡ
は、図示せぬ搬送装置を用いて、検査装置Ｂの図示せぬ
ターンテーブル上に、透かし模様パターン６が基板表面
１ｂ側から観察できるように装着される。次に、検査装
置Ｂの検査部分に搬送される。検査部分は外からの光が
入ってこないように遮光された箱の中に入っている。ま
ず被検査光ディスクＡの斜め上方から光源１０である高
輝度ハロゲンランプが照射される。ハロゲンランプの光
の迷走をさけるため、ハロゲンランプ後方には反射防止
用の艶消し黒色板が取り付けてある。

【００３０】ハロゲンランプへの電気の供給は図示して
ないが、電源供給部より、被検査光ディスクＡの反射光
１２から一定のコントラストが得られるように電力制御
装置を介して供給される。ハロゲンランプから出射し
て、被検査光ディスクＡ上で反射した光１２は、ハロゲ
ンランプとは反対の位置に設置された、図示せぬ集光用
凸レンズに入射する。凸レンズで集光された反射像１３
は画像取り込み回路１５であるＣＣＤにより検出され
る。ＣＣＤからの出力（被検査透かし模様パターンのデ
ータ）は比較回路１６に供給される。

【００３１】比較回路１６はこの被検査透かし模様パタ
ーンのデータを最大最小参照データ計算回路１８から出
力する基準透かし模様パターンの最大最小参照データに
照合し、その結果を良否判定回路２０に出力する。最大
最小参照データ計算回路１８は、基準データ入力回路１
７に入力されてデータ化された基準透かし模様パターン
の最大最小参照データを計算し、この最大最小参照デー
タを出力する。比較回路１６は、ターンテーブル上の被
検査光ディスクＡの回転方向の位相が参照される透かし
模様と一致しない場合もあるので、その場合はターンテ
ーブルを適度に回転させ、参照される基準透かし模様パ
ターンのデータと一致させる。次に参照される透かし模
様パターンデータと被検査透かし模様パターンのデータ
との一致が光強度分布の範囲内にあるかどうかを比較す
る。

【００３２】被検査光ディスクＡ内の被検査透かし模様
パターンに、ディスク毎に異なる番号、絵、模様、バー
コードなどがある場合、これの一致も確認する。ディス
ク毎に異なる番号、絵、模様、バーコードは例えばディ
スク１０枚毎のようにあるロットで同一であってもよ
い。これらの透かし情報が参照ディスクの反射強度限度
内であれば良品と見なされ、搬送装置により、良品とし
て次工程に運ばれる。一方反射強度限度外となったもの
は不良品とされ、搬送装置で不良品管理工程に運ばれ
る。ディスク毎に異なる番号、絵、模様、バーコードな
どがある場合この情報は良品ディスクとなったか、不良
品ディスクとなったかが記憶される。このように本発明
の光ディスク検査装置を用いることで、迅速かつ正確に
光ディスクの透かし検査が可能となる。

【００３３】また、上述したのは、本発明を貼り合せデ
ィスクの場合について説明したが、基板の信号面上に微
小凸凹を省いたり、ディスクの読み出し面に微小凸凹を
有していないものであっても、本発明を適用することが
できることは言うまでもない。

【００３４】

【発明の効果】上述した構成を有する本発明の光ディス
クの検査装置によれば、被検査光ディスクに設けられて
いる透かし模様パターンを迅速かつ正確に検出が可能と
なるので、この結果、光ディスクの良品判別の検査効率
が向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ディスクの構造を説明するための図
である。

【図２】本発明の光ディスクの検査装置の基本構成を説
明するための第１実施例図である。

【図３】本発明の光ディスクの検査装置の基本構成を説
明するための第２実施例図である。

【図４】本発明の光ディスクの検査装置の基本構成を説
明するための第３実施例図である。

【図５】本発明の光ディスクの検査装置の一実施例のブ
ロック構成図である。

【符号の説明】

１ 基板、光透過性基板 １ａ 記録面 １ｂ 基板表面 ２ 反射層 ３ 接着層 ４ 保護層 ５ａ，５ｂ 部分 ６ 透かし模様パターン、模様パターン １０ 点光源 １０ａ 光線 １０ｂ 平行光線 １２ 反射光 １３ 反射像、反射光強度パターン １５ 画像取り込み回路（反射光検出手段） １６ 比較回路（照合手段） ２０ 良否判定回路（判定手段） Ａ 光ディスク、被検査光ディスク Ｂ 検査装置 Ｍ 遮光マスク Ｍ０，Ｍ１，Ｍ２ マスク部分 Ｔ 斜め方向

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 基板上に、反射層、紫外線硬化型接着剤
   を用いて成る接着層、保護層を順次積層して成る光ディ
   スクであって、 所定の模様パターンが形成されている遮光マスクを介し
   て、紫外線を前記保護層側から前記接着層に照射して、
   前記接着層上に前記模様パターンで露光又は遮光される
   部分と、前記模様パターン以外の部分で遮光又は露光さ
   れる部分とを形成することによって、露光される部分と
   遮光される部分とにおける紫外線硬化型接着剤の硬化速
   度の違いを利用して、前記反射層上には、前記模様パタ
   ーンに対応した凹凸形状の透かし模様パターンが形成さ
   れており、 前記透かし模様パターンは、点光源から出射する光線又
   は平行光線を前記基板表面上に照射することによって、
   検出可能であることを特徴とする光ディスク。
2. 【請求項２】 請求項１記載の光ディスクに形成されて
   いる前記透かし模様パターンを用いて、光ディスクの良
   否を検査する検査方法であって、 点光源から出射する光線又は平行光線を検査光線とし
   て、被検査光ディスクの基板表面上に照射して、この被
   検査光ディスクから反射する反射光の反射光強度パター
   ンを検出し、 検査の基準とする透かし模様パターンに対応した反射光
   強度パターンを基準パターンとして、この基準パターン
   に対して被検査光ディスクの反射光強度パターンを照合
   し、 この照合結果が所定の範囲内であれば、被検査光ディス
   クを良品の光ディスクと判定し、照合結果が所定の範囲
   外であれば、被検査光ディスクを不良品の光ディスクと
   判定することを特徴とする光ディスクの検査方法。
3. 【請求項３】 請求項２記載の光ディスクの検査方法で
   あって、 前記検査光線は、前記被検査光ディスクの直径より大き
   い径を有する光線であることを特徴とする光ディスクの
   検査方法。
4. 【請求項４】 請求項１記載の光ディスクに形成されて
   いる前記透かし模様パターンを用いて、光ディスクの良
   否を検査する検査装置であって、 点光源から出射する光線又は平行光線を検査光線とし
   て、被検査光ディスクの基板表面上に照射する照射手段
   と、 被検査光ディスクから反射する反射光の反射光強度パタ
   ーンを検出する反射光検出手段と、 検査の基準とする透かし模様パターンに対応した反射光
   強度パターンを基準パターンとして、この基準パターン
   に対して被検査光ディスクの反射光強度パターンを照合
   する照合手段と、 この照合結果が所定の範囲内であれば、被検査光ディス
   クを良品の光ディスクと判定し、照合結果が所定の範囲
   外であれば、被検査光ディスクを不良品の光ディスクと
   判定する判定手段とを有することを特徴とする光ディス
   クの検査装置。
5. 【請求項５】 請求項４記載の光ディスクの検査装置で
   あって、 前記検査光線は、前記被検査光ディスクの直径より大き
   い径を有する光線であることを特徴とする光ディスクの
   検査装置。