JP2000338132A - 積層型接触子 - Google Patents
積層型接触子Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 集積回路等に構成される電子回路のように回
路端子間隔が小さくなった場合、変形部の材料配置空間
がなく、適切な動作ストロークと接触圧を確保できなか
ったため、接触子の制作誤差、回路端子の機械停止位置
のばらつきにも対応できる、適切な変形部分の占有空間
を確保できる面配列式接触子組立の機構を提供するこ
と。 【解決手段】 被試験回路の回路端子の格子座標軸と一
定角度傾斜させて薄板状接触子を配置し、前記格子の複
数ピッチにまたがる長さで配置しても他の接触子との干
渉がないものとし、変形動作方向に一定の幅と厚さを有
し横方向にも長い材料取りを可能にし、撓みに関与でき
る材料取り空間を大きくした。
路端子間隔が小さくなった場合、変形部の材料配置空間
がなく、適切な動作ストロークと接触圧を確保できなか
ったため、接触子の制作誤差、回路端子の機械停止位置
のばらつきにも対応できる、適切な変形部分の占有空間
を確保できる面配列式接触子組立の機構を提供するこ
と。 【解決手段】 被試験回路の回路端子の格子座標軸と一
定角度傾斜させて薄板状接触子を配置し、前記格子の複
数ピッチにまたがる長さで配置しても他の接触子との干
渉がないものとし、変形動作方向に一定の幅と厚さを有
し横方向にも長い材料取りを可能にし、撓みに関与でき
る材料取り空間を大きくした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、回路端子の配列が
平面状をなす電子デバイスの回路検査等に使用する電気
接続用の積層型接触子及び平面状に回路端子が配置され
た電子部品用コネクターに関する。
平面状をなす電子デバイスの回路検査等に使用する電気
接続用の積層型接触子及び平面状に回路端子が配置され
た電子部品用コネクターに関する。
【０００２】
【従来の技術】垂直方向に変形する弾性体の変形と、変
形によって発生する力を利用して接触子と回路端子間に
接触圧を得る方法があった。弾性体には、コイルばねが
利用されていた。しかし集積回路の発展に伴い、回路網
が微細化し、これを試験するための接触子に要求される
ピッチも非常に小さくなった。その結果１個の接触子に
割り当てられる弾性体材料の占有できる空間に不足を生
じ、適切なばね定数を有する接触子を実現することは難
しかった。弾性変形量が小さくなると、動作範囲が狭く
なるため、接触子の制作誤差、接触子を内臓する装置の
接触動作時の機械停止誤差等が発生すると、適切な接触
圧が得られない欠点があった。
形によって発生する力を利用して接触子と回路端子間に
接触圧を得る方法があった。弾性体には、コイルばねが
利用されていた。しかし集積回路の発展に伴い、回路網
が微細化し、これを試験するための接触子に要求される
ピッチも非常に小さくなった。その結果１個の接触子に
割り当てられる弾性体材料の占有できる空間に不足を生
じ、適切なばね定数を有する接触子を実現することは難
しかった。弾性変形量が小さくなると、動作範囲が狭く
なるため、接触子の制作誤差、接触子を内臓する装置の
接触動作時の機械停止誤差等が発生すると、適切な接触
圧が得られない欠点があった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記従来の問
題点に鑑みてなされたもので、その目的は集積回路等に
構成される電子回路のように回路端子間隔が小さくなっ
た場合、変形部の材料配置空間がなく、適切な動作スト
ロークと接触圧を確保できなかったため、接触子の制作
誤差、回路端子の機械停止位置のばらつきにも対応でき
る、適切な変形部分の占有空間を確保できる面配列型接
触子組立の機構を提供することである。
題点に鑑みてなされたもので、その目的は集積回路等に
構成される電子回路のように回路端子間隔が小さくなっ
た場合、変形部の材料配置空間がなく、適切な動作スト
ロークと接触圧を確保できなかったため、接触子の制作
誤差、回路端子の機械停止位置のばらつきにも対応でき
る、適切な変形部分の占有空間を確保できる面配列型接
触子組立の機構を提供することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】図１に示すような薄板状
接触子１の変形部４において、適切な接触圧と動作スト
ロークを得るためには、適切な長さａ、幅ｂ、厚さｃが
要求される。一定の格子ピッチにおいて、面配列型接触
子組立において、１つの接触子に対してｚ方向には許容
される空間はある程度確保できるが、ｘｙ平面において
占有できるスペースの割り当てが制限されている。複数
の同一形状接触子配列するとき、占有空間が斜めに長い
変形部即ち概略平行四辺形断面を有するの変形部を有
し、個々の接触子の高さ方向の位相差を利用し、斜めに
長い変形部の長さが確保できるものとした。即ち長さａ
の確保ができる構造とした。
接触子１の変形部４において、適切な接触圧と動作スト
ロークを得るためには、適切な長さａ、幅ｂ、厚さｃが
要求される。一定の格子ピッチにおいて、面配列型接触
子組立において、１つの接触子に対してｚ方向には許容
される空間はある程度確保できるが、ｘｙ平面において
占有できるスペースの割り当てが制限されている。複数
の同一形状接触子配列するとき、占有空間が斜めに長い
変形部即ち概略平行四辺形断面を有するの変形部を有
し、個々の接触子の高さ方向の位相差を利用し、斜めに
長い変形部の長さが確保できるものとした。即ち長さａ
の確保ができる構造とした。
【０００５】また、被試験回路の回路端子の格子座標軸
と一定角度傾斜させて薄板状接触子を配置し、前記格子
の複数ピッチにまたがる長さで配置しても他の接触子と
の干渉がないものとし、変形動作方向に一定の幅と厚さ
を有し横方向にも長い材料取りを可能にし、撓みに関与
できる材料取り空間を大きくした。即ち一定角度傾斜し
て配置することにより幅ｂ、厚さｃの確保が出来る構造
とした。
と一定角度傾斜させて薄板状接触子を配置し、前記格子
の複数ピッチにまたがる長さで配置しても他の接触子と
の干渉がないものとし、変形動作方向に一定の幅と厚さ
を有し横方向にも長い材料取りを可能にし、撓みに関与
できる材料取り空間を大きくした。即ち一定角度傾斜し
て配置することにより幅ｂ、厚さｃの確保が出来る構造
とした。
【０００６】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、接触部と該接触部からｙ方向及びｚ方向方向に適当
量変位した位置に固定部及び出力部を有し、固定部と接
触部の間を連結する斜めに長い（接触部が下で固定部が
上）変形部を有する一体化された同一形状の斜めに長い
変形部を有する薄板状接触子をｙ方向に複数個配置し、
変形部の高低の位相差により干渉がなく、被試験回路の
端子間隔に比べて斜めに長い変形部を有することを特徴
とする積層型接触子立。
は、接触部と該接触部からｙ方向及びｚ方向方向に適当
量変位した位置に固定部及び出力部を有し、固定部と接
触部の間を連結する斜めに長い（接触部が下で固定部が
上）変形部を有する一体化された同一形状の斜めに長い
変形部を有する薄板状接触子をｙ方向に複数個配置し、
変形部の高低の位相差により干渉がなく、被試験回路の
端子間隔に比べて斜めに長い変形部を有することを特徴
とする積層型接触子立。
【０００７】本発明の請求項２に記載の発明は、請求項
１に記載の接触子組立をｘ方向に複数個配列して成る面
配列型接触子組立であり、ｙ方向に長い変形部を有する
接触子の面配列型被試験の回路端子に対応できる積層型
接触子を提供するものである。
１に記載の接触子組立をｘ方向に複数個配列して成る面
配列型接触子組立であり、ｙ方向に長い変形部を有する
接触子の面配列型被試験の回路端子に対応できる積層型
接触子を提供するものである。
【０００８】本発明の請求項３に記載の発明は、請求項
１に記載の接触子組立をx方向と一定の角度を成しx方向
の被試験回路の回路端子に対向して複数配置して斜交座
標系を形成し、接触子の長さ、幅、厚さを適切に確保で
きる面配列型積層型接触子。
１に記載の接触子組立をx方向と一定の角度を成しx方向
の被試験回路の回路端子に対向して複数配置して斜交座
標系を形成し、接触子の長さ、幅、厚さを適切に確保で
きる面配列型積層型接触子。
【０００９】本発明の請求項４に記載の発明は、請求項
３に記載の接触子組立において、三角形Ｉ（ｉ−ｎ，
ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋１）において、 ∠Ｉ（ｉ−Ｒｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋
１） は直角であることを特徴とする直交格子配列型である。
３に記載の接触子組立において、三角形Ｉ（ｉ−ｎ，
ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋１）において、 ∠Ｉ（ｉ−Ｒｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋
１） は直角であることを特徴とする直交格子配列型である。
【００１０】以下、本発明の実施の形態について図面を
用いて説明する。 （実施の形態１）図１は本発明を具体化した実施の形態
１の接触子１の側面図である。図１において符号１は接
触子、２は入力部、３は固定部、４は変形部、５は出力
部、６は回路端子、７は支持部、８は接続回路である。
用いて説明する。 （実施の形態１）図１は本発明を具体化した実施の形態
１の接触子１の側面図である。図１において符号１は接
触子、２は入力部、３は固定部、４は変形部、５は出力
部、６は回路端子、７は支持部、８は接続回路である。
【００１１】接触子１は入力部２と固定部３と変形部４
から成り立っている。入力部２は回路端子６と対向して
ありその先端部が鋭利な凸状をなしている。固定部３は
被試験回路の回路端子６と前記薄板状の接触子１を一定
の距離関係を維持するべく支持部７に固定されている。
変形部４は図１の実線及び破線で示す概略平行四辺形形
状を有し、固定部３と入力部２の中間に位置し、固定部
３が支持部７に連結固定されているため、片持ち梁の状
態となって作用する。回路試験時、回路端子６と入力部
２が接触し上下移動動作をするとき、変形部４が片持ち
梁の条件の変形をする。出力部５は固定部３の一部分で
あり、試験回路（図示せず）等の接続回路と接続してい
る。回路端子６は被試験回路等の接続端子で試験回路と
の電気的導通は接触子１を通じて達成される。接続回路
８はプリント基板等と同様の回路配線を有し出力部５と
電気的接続がなされている。接触子１の出力部２と回路
端子６の間に適当な接触圧と動作ストロークを生じさせ
るには、変形部４にモーメントが作用する適当な長さと
断面が必要である。本実施の形態１においては特に変形
部４の横方向の長さを必要とする場合に有効である。
から成り立っている。入力部２は回路端子６と対向して
ありその先端部が鋭利な凸状をなしている。固定部３は
被試験回路の回路端子６と前記薄板状の接触子１を一定
の距離関係を維持するべく支持部７に固定されている。
変形部４は図１の実線及び破線で示す概略平行四辺形形
状を有し、固定部３と入力部２の中間に位置し、固定部
３が支持部７に連結固定されているため、片持ち梁の状
態となって作用する。回路試験時、回路端子６と入力部
２が接触し上下移動動作をするとき、変形部４が片持ち
梁の条件の変形をする。出力部５は固定部３の一部分で
あり、試験回路（図示せず）等の接続回路と接続してい
る。回路端子６は被試験回路等の接続端子で試験回路と
の電気的導通は接触子１を通じて達成される。接続回路
８はプリント基板等と同様の回路配線を有し出力部５と
電気的接続がなされている。接触子１の出力部２と回路
端子６の間に適当な接触圧と動作ストロークを生じさせ
るには、変形部４にモーメントが作用する適当な長さと
断面が必要である。本実施の形態１においては特に変形
部４の横方向の長さを必要とする場合に有効である。
【００１２】図２は実施の形態１の線配列ユニットの正
面図である。図３は線配列ユニットの平面図である。図
２において回路端子６、支持部７、接続回路８は図２を
複雑化するため省略されているが実際は存在していて図
１について説明した通りの作用を有する。図２は図１に
説明した接触子１が等間隔に配置されたものでそのピッ
チはｐである。また接触子１の変形部の横方向概略の長
さはａである。変形部の高さは概略ｈである。本接触子
の形状上の特徴は接触子１の一端である入力部２と固定
部３は高さ方向に高低差を有し（本実施の形態１の場合
は入力部２が低く固定部３が高い）、配列された同一形
状の接触子が高低差によって干渉しない様に配列されて
いる。Ｉ（ｉ，１），Ｉ（ｉ，２），……，Ｉ（ｉ，
ｊ），・……Ｉ（ｉ，ｌ）は配列された入力部２に付け
られた入力座標番号であり、Ｏ（ｉ，１），Ｏ（ｉ，
２），…・，Ｏ（ｉ，ｊ），……・・，Ｏ（ｉ，ｌ）の
出力部５に付けられた出力座標番号である。入力座標番
号Ｉ（ｉ，ｊ）の入力部２と出力座標番号Ｏ（ｉ，ｊ）
の出力部５は電気的に導通である。ａはｐと比較して非
常に大きい値を可能とすることによって横に長い接触子
を得ることを可能としている。この方式はピッチがある
程度粗く前記した変形部の断面の高さｃがある程度大き
い値を作用させる事が可能である場合には有効である。
面図である。図３は線配列ユニットの平面図である。図
２において回路端子６、支持部７、接続回路８は図２を
複雑化するため省略されているが実際は存在していて図
１について説明した通りの作用を有する。図２は図１に
説明した接触子１が等間隔に配置されたものでそのピッ
チはｐである。また接触子１の変形部の横方向概略の長
さはａである。変形部の高さは概略ｈである。本接触子
の形状上の特徴は接触子１の一端である入力部２と固定
部３は高さ方向に高低差を有し（本実施の形態１の場合
は入力部２が低く固定部３が高い）、配列された同一形
状の接触子が高低差によって干渉しない様に配列されて
いる。Ｉ（ｉ，１），Ｉ（ｉ，２），……，Ｉ（ｉ，
ｊ），・……Ｉ（ｉ，ｌ）は配列された入力部２に付け
られた入力座標番号であり、Ｏ（ｉ，１），Ｏ（ｉ，
２），…・，Ｏ（ｉ，ｊ），……・・，Ｏ（ｉ，ｌ）の
出力部５に付けられた出力座標番号である。入力座標番
号Ｉ（ｉ，ｊ）の入力部２と出力座標番号Ｏ（ｉ，ｊ）
の出力部５は電気的に導通である。ａはｐと比較して非
常に大きい値を可能とすることによって横に長い接触子
を得ることを可能としている。この方式はピッチがある
程度粗く前記した変形部の断面の高さｃがある程度大き
い値を作用させる事が可能である場合には有効である。
【００１３】（実施の形態２）実施の形態２は、線配列
ユニット１１の接触部をｘ方向に配列した直線状の回路
端子と一致させ、ｘ方向に同線配列ユニット１１を複数
配置して面配列型回路端子に対応することを可能にした
ものである。図４は実施の形態２の面配列接触子組立の
平面図を示す。図５は実施の形態２の面配列組立の投影
図である。
ユニット１１の接触部をｘ方向に配列した直線状の回路
端子と一致させ、ｘ方向に同線配列ユニット１１を複数
配置して面配列型回路端子に対応することを可能にした
ものである。図４は実施の形態２の面配列接触子組立の
平面図を示す。図５は実施の形態２の面配列組立の投影
図である。
【００１４】（実施の形態３）実施の形態３は、線配列
ユニット１１の接触子１の配列間隔ｐの１／複数の格子
ピッチの面配列に対応でき、基本的には線配列ユニット
１１の接触子の形状を維持したままでも達成する機構方
式である。図６は本実施の形態３の正面図である。図７
は図６のＤ−Ｄ断面を示す。実施の形態３は、線配列ユ
ニット１１をｘ方向と一定角Ａ°傾斜して等間隔にｋ個
配列したものである。図６において配列間隔ｐは配列ユ
ニット１１のｘ方向の配列ピッチｓと比べると複数倍大
きい。また配列ピッチｓは接触子の板厚ｔ複数倍に相当
する。この様な線配列ユニット１１の配置によりＸＹ斜
交座標系が構成される。入力座標番号Ｉ（ｉ，ｊ）及び
出力座標番号Ｏ（ｉ，ｊ）でｉはｘ方向の座標番号を示
し、ｉ＝１，２，・…，ｉ，…・・，ｋで表す。ｊはｙ
方向の座標番号であり、ｊ＝１，２，……・，ｊ，……
ｌで表す。
ユニット１１の接触子１の配列間隔ｐの１／複数の格子
ピッチの面配列に対応でき、基本的には線配列ユニット
１１の接触子の形状を維持したままでも達成する機構方
式である。図６は本実施の形態３の正面図である。図７
は図６のＤ−Ｄ断面を示す。実施の形態３は、線配列ユ
ニット１１をｘ方向と一定角Ａ°傾斜して等間隔にｋ個
配列したものである。図６において配列間隔ｐは配列ユ
ニット１１のｘ方向の配列ピッチｓと比べると複数倍大
きい。また配列ピッチｓは接触子の板厚ｔ複数倍に相当
する。この様な線配列ユニット１１の配置によりＸＹ斜
交座標系が構成される。入力座標番号Ｉ（ｉ，ｊ）及び
出力座標番号Ｏ（ｉ，ｊ）でｉはｘ方向の座標番号を示
し、ｉ＝１，２，・…，ｉ，…・・，ｋで表す。ｊはｙ
方向の座標番号であり、ｊ＝１，２，……・，ｊ，……
ｌで表す。
【００１５】例えば、ｔ＝0,０２ｍｍの板厚でｓ＝０．
２ｍｍ、ｐ＝０．８〜１ｍｍは可能となる。また前記し
た変形部の長さａもｐの複数倍を可能にする方式である
ため、ｓ＝５〜８ｍｍ以上の値を取りうる。また図１に
示したｂはｐより若干小さい値で十分である。ｃについ
てはｚ方向には十分に空間を確保できるので条件に合う
値の選択が可能である。
２ｍｍ、ｐ＝０．８〜１ｍｍは可能となる。また前記し
た変形部の長さａもｐの複数倍を可能にする方式である
ため、ｓ＝５〜８ｍｍ以上の値を取りうる。また図１に
示したｂはｐより若干小さい値で十分である。ｃについ
てはｚ方向には十分に空間を確保できるので条件に合う
値の選択が可能である。
【００１６】また実施の形態３は斜交座標系から直交座
標系を形成できるものである。ｎを斜交座標から直交格
子を得るために関係する座標番号数（整数）で、図７に
示すような入力座標番号Ｉ（ｉ，ｊ）位置座標とする
と、三角形Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，
ｊ＋１）において、三角形Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，
ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋１）において、 ∠Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋１） が直角であるとき、入力座標はｎピッチ離れた接触子と
関係を有する直交格子状の配列となる。この様に直交格
子状に配列される座標系をＸｒＹｒ座標系により示す。
一般的に、面配列型の被試験回路の回路端子は直交格子
状に配列さているので、直交ＸｒＹｒ座標系を使用する
ことにより対応できる。本実施の形態３においては、線
配列ユニット１１の複数個の配列組立により実施の形態
３の実現したが、接触子１を図７に示すような関係の配
列を実現すれば特に線配列ユニット１１の組立による実
現である必要はない。
標系を形成できるものである。ｎを斜交座標から直交格
子を得るために関係する座標番号数（整数）で、図７に
示すような入力座標番号Ｉ（ｉ，ｊ）位置座標とする
と、三角形Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，
ｊ＋１）において、三角形Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，
ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋１）において、 ∠Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋１） が直角であるとき、入力座標はｎピッチ離れた接触子と
関係を有する直交格子状の配列となる。この様に直交格
子状に配列される座標系をＸｒＹｒ座標系により示す。
一般的に、面配列型の被試験回路の回路端子は直交格子
状に配列さているので、直交ＸｒＹｒ座標系を使用する
ことにより対応できる。本実施の形態３においては、線
配列ユニット１１の複数個の配列組立により実施の形態
３の実現したが、接触子１を図７に示すような関係の配
列を実現すれば特に線配列ユニット１１の組立による実
現である必要はない。
【００１７】
【発明の効果】本発明は、上記実施の形態から明らかな
ように、一定の格子ピッチで、面配列型接触子組立にお
いて、１つの接触子に対してｚ方向には許容される空間
はある程度確保できるが、ｘｙ平面において占有できる
スペースの割り当てが制限されている場合、複数の同一
形状接触子配列するとき、占有空間が斜めに長い変形部
即ち概略平行四辺形断面を有するの変形部を有し、個々
の接触子の高さ方向の位相差を利用し、斜めに長い変形
部の長さが確保できるものとした。
ように、一定の格子ピッチで、面配列型接触子組立にお
いて、１つの接触子に対してｚ方向には許容される空間
はある程度確保できるが、ｘｙ平面において占有できる
スペースの割り当てが制限されている場合、複数の同一
形状接触子配列するとき、占有空間が斜めに長い変形部
即ち概略平行四辺形断面を有するの変形部を有し、個々
の接触子の高さ方向の位相差を利用し、斜めに長い変形
部の長さが確保できるものとした。
【００１８】集積回路等に構成される電子回路のように
回路端子間隔が小さくなった場合、変形部の材料配置空
間がなく、適切な動作ストロークと接触圧を確保できな
かったため、接触子の制作誤差、回路端子の機械停止位
置のばらつきにも対応できる、適切な変形部分の占有空
間を確保できる面配列式接触子の機構を可能とした。
回路端子間隔が小さくなった場合、変形部の材料配置空
間がなく、適切な動作ストロークと接触圧を確保できな
かったため、接触子の制作誤差、回路端子の機械停止位
置のばらつきにも対応できる、適切な変形部分の占有空
間を確保できる面配列式接触子の機構を可能とした。
【図１】本発明を具体化した実施の形態１の接触子１の
側面図
側面図
【図２】実施の形態１の線配列ユニットの正面図
【図３】線配列ユニットの平面図
【図４】本発明を具体化した実施の形態２の面配列接触
子組立の平面図
子組立の平面図
【図５】実施の形態２の面配列組立の投影図
【図６】本実施の形態３の正面図
【図７】図６のＤ−Ｄ断面
１ 接触子 ２ 入力部 ３ 固定部 ４ 変形部 ５ 出力部 ６ 回路端子 ７ 支持部 ８ 接続回路 １１ 線配列ユニット ａ 接触子１の長さ Ａ°接触子１のＸ軸と成す角度 ｂ 接触子１の幅 ｃ 接触子１の厚さ ｉ ｘ方向の座標番号 ｊ ｙ方向の座標番号 ｋ 接触子１のＸ方向の配列数 ｌ 接触子１のＹ方向への配列数 ｎ 斜交座標から直交格子を得るために関係する座標番
号数（整数） ｐ 接触子１の配列ピッチ ｓ ｘ方向の格子ピッチ ｔ 接触子１の板厚 Ｉ（ｉ，ｊ） 入力座標番号 Ｏ（ｉ，ｊ） 出力座標番号 ＸＹ 斜交座標 ＸｒＹｒ 直交座標
号数（整数） ｐ 接触子１の配列ピッチ ｓ ｘ方向の格子ピッチ ｔ 接触子１の板厚 Ｉ（ｉ，ｊ） 入力座標番号 Ｏ（ｉ，ｊ） 出力座標番号 ＸＹ 斜交座標 ＸｒＹｒ 直交座標
Claims (4)
- 【請求項１】 接触部と該接触部からｙ方向及びｚ方向
方向に適当量変位した位置に固定部及び出力部を有し、
固定部と接触部の間を連結する斜めに長い（接触部が下
で固定部が上）変形部を有する一体化された同一形状の
斜めに長い変形部を有する薄板状接触子をｙ方向に複数
個配置し、変形部の高低の位相差により干渉がなく、被
試験回路の端子間隔に比べて斜めに長い変形部を有する
ことを特徴とする積層型接触子。 - 【請求項２】 請求項１に記載の接触子組立をｘ方向に
複数個配列して成る面配列型積層型接触子。 - 【請求項３】 請求項１に記載の接触子組立をx方向と
一定の角度を成しx方向の被試験回路の回路端子に対向
して複数配置して斜交座標系を形成し、接触子の長さ、
幅、厚さを適切に確保できる面配列型積層型接触子。 - 【請求項４】 請求項３に記載の接触子組立において、
三角形Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋
１）において、 ∠Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ）Ｉ（ｉ，ｊ）Ｉ（ｉ−ｎ，ｊ＋１） が直角であることを特徴とする直交格子配列型積層型接
触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11151429A JP2000338132A (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | 積層型接触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11151429A JP2000338132A (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | 積層型接触子 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010014748A Division JP2010122235A (ja) | 2010-01-06 | 2010-01-06 | 積層型接触子及び積層型接触子組立体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000338132A true JP2000338132A (ja) | 2000-12-08 |
Family
ID=15518432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11151429A Pending JP2000338132A (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | 積層型接触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000338132A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009090907A1 (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-23 | Alps Electric Co., Ltd. | プローブカードおよびその製造方法 |
| CN109564244A (zh) * | 2016-07-28 | 2019-04-02 | 日本电产理德股份有限公司 | 检查辅助具、具备所述辅助具的基板检查装置及检查辅助具的制造方法 |
-
1999
- 1999-05-31 JP JP11151429A patent/JP2000338132A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009090907A1 (ja) * | 2008-01-17 | 2009-07-23 | Alps Electric Co., Ltd. | プローブカードおよびその製造方法 |
| CN109564244A (zh) * | 2016-07-28 | 2019-04-02 | 日本电产理德股份有限公司 | 检查辅助具、具备所述辅助具的基板检查装置及检查辅助具的制造方法 |
| CN109564244B (zh) * | 2016-07-28 | 2022-01-07 | 日本电产理德股份有限公司 | 检查辅助具、基板检查装置及检查辅助具的制造方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060516 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080212 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080411 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091006 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100106 |
|
| A521 | Written amendment |
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|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
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