JP2000321204A - 近赤外線分光分析装置 - Google Patents
近赤外線分光分析装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 農家で収穫される米などの穀物品質を測定す
る近赤外線分光分析装置に関し、複数箇所で同時に同じ
基準状態で測定を行わせようとする。 【解決手段】 複数の近赤外線分光分析装置を通信媒体
で結びデータの授受を行えるよう構成し、親機の標準サ
ンプル等に基づく基準スペクトルと、子機の基準スペク
トルとを比較する手段を設け、当該比較結果に基づいて
異常信号を出力し、又は補正作業要求の信号を出力すべ
く構成する。
る近赤外線分光分析装置に関し、複数箇所で同時に同じ
基準状態で測定を行わせようとする。 【解決手段】 複数の近赤外線分光分析装置を通信媒体
で結びデータの授受を行えるよう構成し、親機の標準サ
ンプル等に基づく基準スペクトルと、子機の基準スペク
トルとを比較する手段を設け、当該比較結果に基づいて
異常信号を出力し、又は補正作業要求の信号を出力すべ
く構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、農家で収穫される米な
どの穀物品質を測定する近赤外線分光分析装置に関する
ものである。
どの穀物品質を測定する近赤外線分光分析装置に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】複数箇
所での同時期の収穫米に対する近赤外分光分析を必要と
する場合であっても、基準スペクトルの元での測定が望
ましいから、一箇所に設置の近赤外分光分析装置に集中
して順次測定処理するものであった。
所での同時期の収穫米に対する近赤外分光分析を必要と
する場合であっても、基準スペクトルの元での測定が望
ましいから、一箇所に設置の近赤外分光分析装置に集中
して順次測定処理するものであった。
【０００３】しかしながら、測定結果の即時公開などが
のぞまれる場合には、一箇所集中では処理できず、改良
がのぞまれる。そこで、本発明は、必要箇所に子機を配
置し、親機と通信媒体で結ぶことにより、上記した欠点
を解消しようとするものである。
のぞまれる場合には、一箇所集中では処理できず、改良
がのぞまれる。そこで、本発明は、必要箇所に子機を配
置し、親機と通信媒体で結ぶことにより、上記した欠点
を解消しようとするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、本発明は、以下のような技術的手段を講じた。即
ち、複数の近赤外線分光分析装置を通信媒体で結びデー
タの授受を行えるよう構成し、親機の標準サンプル等に
基づく基準スペクトルと、子機の基準スペクトルとを比
較する手段を設け、当該比較結果に基づいて異常信号を
出力し、又は補正作業要求の信号を出力すべく構成して
なる。
めに、本発明は、以下のような技術的手段を講じた。即
ち、複数の近赤外線分光分析装置を通信媒体で結びデー
タの授受を行えるよう構成し、親機の標準サンプル等に
基づく基準スペクトルと、子機の基準スペクトルとを比
較する手段を設け、当該比較結果に基づいて異常信号を
出力し、又は補正作業要求の信号を出力すべく構成して
なる。
【０００５】
【発明の作用及び効果】本発明は、上記のように構成し
たから、親機から子機のチェックが容易にでき、同一期
間中に複数台の子機を用いてサンプル測定する際に、子
機間の誤差がなくなって測定精度が向上する。
たから、親機から子機のチェックが容易にでき、同一期
間中に複数台の子機を用いてサンプル測定する際に、子
機間の誤差がなくなって測定精度が向上する。
【０００６】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について、
詳細に説明する。本実施例は、米などの収穫穀物につい
て蛋白質含有量などの品質評価項目により品質別に区分
する際の基準値を、収穫年度ごとに収穫穀物の作柄（作
況）に応じて、以下のように算出するものである。な
お、上記の品質評価項目としては、蛋白質含有量の他
に、食味値、粘り、または甘みなどが挙げられる。
詳細に説明する。本実施例は、米などの収穫穀物につい
て蛋白質含有量などの品質評価項目により品質別に区分
する際の基準値を、収穫年度ごとに収穫穀物の作柄（作
況）に応じて、以下のように算出するものである。な
お、上記の品質評価項目としては、蛋白質含有量の他
に、食味値、粘り、または甘みなどが挙げられる。
【０００７】ここで、その算出法を説明する前に、図１
について説明する。この図１は、収穫した米のサンプル
の蛋白質含有量を測定し、その測定分布を調べたもので
ある。図１において、実線の部分は豊作の場合を示し、
点線の部分は凶作の場合を示し、その収穫年度の作柄に
より測定分布が異なることがわかる。
について説明する。この図１は、収穫した米のサンプル
の蛋白質含有量を測定し、その測定分布を調べたもので
ある。図１において、実線の部分は豊作の場合を示し、
点線の部分は凶作の場合を示し、その収穫年度の作柄に
より測定分布が異なることがわかる。
【０００８】次に、上記の基準値の算出法の一例とし
て、米を蛋白質含有量に応じて品質区分する際の基準値
の算出法について説明する。いま、収穫した米を蛋白質
含有量に応じて、上位１５％、中位６０％、または下位
２５％として等級付けを行うために、３つのグループに
区分するものとする。この場合には、例えば図１の点線
で示す凶作の場合のように、２つの基準値（しきい値）
Ａ１、Ａ２が必要となる。そして、この基準値Ａ１は、
次式により算出する。
て、米を蛋白質含有量に応じて品質区分する際の基準値
の算出法について説明する。いま、収穫した米を蛋白質
含有量に応じて、上位１５％、中位６０％、または下位
２５％として等級付けを行うために、３つのグループに
区分するものとする。この場合には、例えば図１の点線
で示す凶作の場合のように、２つの基準値（しきい値）
Ａ１、Ａ２が必要となる。そして、この基準値Ａ１は、
次式により算出する。
【０００９】Ａ１＝Ｂ１×ｘ１／ｘ０ ここで、上式中のＢ１は前年度または例年の実績値（図
１参照）、ｘ１／ｘ０は予測係数である。また、ｘ１
は、区分すべき米の収穫前にあらかじめ坪刈りし、その
サンプルの蛋白質含有量を測定した今年の測定平均値で
ある。ｘ０は、同様に測定した昨年の蛋白質含有量の測
定平均値である。蛋白質含有量などは、近赤外線分光分
析装置により測定する。
１参照）、ｘ１／ｘ０は予測係数である。また、ｘ１
は、区分すべき米の収穫前にあらかじめ坪刈りし、その
サンプルの蛋白質含有量を測定した今年の測定平均値で
ある。ｘ０は、同様に測定した昨年の蛋白質含有量の測
定平均値である。蛋白質含有量などは、近赤外線分光分
析装置により測定する。
【００１０】さらに、上記の基準値Ａ２も基準値Ａ１と
同様にして算出する。このようにして求めた基準値Ａ
１、Ａ２は、今年収穫した米を蛋白質含有量に応じて品
質区分する際に利用する。すなわち、今年収穫した米の
サンプルについて蛋白質の含有量を測定し、その測定値
を上記のように求めた基準値Ａ１、Ａ２と比較し、その
比較結果に応じて、蛋白質の含有量別にその米を上位、
中位、または下位に等級付け（品質区分）する。
同様にして算出する。このようにして求めた基準値Ａ
１、Ａ２は、今年収穫した米を蛋白質含有量に応じて品
質区分する際に利用する。すなわち、今年収穫した米の
サンプルについて蛋白質の含有量を測定し、その測定値
を上記のように求めた基準値Ａ１、Ａ２と比較し、その
比較結果に応じて、蛋白質の含有量別にその米を上位、
中位、または下位に等級付け（品質区分）する。
【００１１】ところで、上記の品質評価項目中の甘みを
検出するには、一昼夜水に浸漬した白米中のオリゴ糖の
検出により行う。この検出を近赤外線分光分析装置によ
り測定するときには、少なくとも波長が２１００ｎｍ、
１５８０ｎｍにおける吸光度を測定することにより行
う。
検出するには、一昼夜水に浸漬した白米中のオリゴ糖の
検出により行う。この検出を近赤外線分光分析装置によ
り測定するときには、少なくとも波長が２１００ｎｍ、
１５８０ｎｍにおける吸光度を測定することにより行
う。
【００１２】以上の実施例では、米などの穀物を品質評
価項目により品質別に区分する際の基準値を算出するの
に、去年の実績値に今年の収穫物の作況を考慮して予測
するようにしたので、収穫年度ごとの作況に応じた適正
な基準値を求めることができる。従って、その基準値に
より穀物を品質区分すれば、豊作や凶作にかかわらず作
況に応じた穀物の品質区分が図れ、その結果、収穫年度
ごとの作況に応じた穀物の適切な後処理や流通が図れ
る。
価項目により品質別に区分する際の基準値を算出するの
に、去年の実績値に今年の収穫物の作況を考慮して予測
するようにしたので、収穫年度ごとの作況に応じた適正
な基準値を求めることができる。従って、その基準値に
より穀物を品質区分すれば、豊作や凶作にかかわらず作
況に応じた穀物の品質区分が図れ、その結果、収穫年度
ごとの作況に応じた穀物の適切な後処理や流通が図れ
る。
【００１３】次に、上記実施例を米の倉庫管理に適用し
た場合について、図２を参照して説明する。これを説明
すると、トラック１などにより運搬されてエレベータ２
の受入れ口に投入された籾は、エレベータ２によりタン
ク３に張り込まれる。タンク３から排出された籾は、乾
燥・籾すり機４で乾燥したのちに籾すりが行われる。乾
燥・籾すり機４で処理済みの玄米は、その一部がサンプ
リングされて近赤外線分光分析装置５に導かれるととも
に、その玄米の大部分はフレキシブルコンテナ６に導か
れて充填される。
た場合について、図２を参照して説明する。これを説明
すると、トラック１などにより運搬されてエレベータ２
の受入れ口に投入された籾は、エレベータ２によりタン
ク３に張り込まれる。タンク３から排出された籾は、乾
燥・籾すり機４で乾燥したのちに籾すりが行われる。乾
燥・籾すり機４で処理済みの玄米は、その一部がサンプ
リングされて近赤外線分光分析装置５に導かれるととも
に、その玄米の大部分はフレキシブルコンテナ６に導か
れて充填される。
【００１４】近赤外線分光分析装置５に導かれた玄米サ
ンプルは、その蛋白質含有量が測定され、その測定値
は、上述のように算出されている基準値Ａ１、Ａ２と比
較される。その比較の結果、近赤外線分光分析装置５
は、フレキシブルコンテナ６に充填された玄米につい
て、上位、中位、または下位のいずれかの格付けを行う
（図１参照）。その格付けに応じて搬入すべき倉庫が、
近赤外線分光分析装置５の表示画面に表示される。そこ
で、フレキシブルコンテナ６を、表示画面により指定さ
れた倉庫に搬送し、そこで保存管理する。
ンプルは、その蛋白質含有量が測定され、その測定値
は、上述のように算出されている基準値Ａ１、Ａ２と比
較される。その比較の結果、近赤外線分光分析装置５
は、フレキシブルコンテナ６に充填された玄米につい
て、上位、中位、または下位のいずれかの格付けを行う
（図１参照）。その格付けに応じて搬入すべき倉庫が、
近赤外線分光分析装置５の表示画面に表示される。そこ
で、フレキシブルコンテナ６を、表示画面により指定さ
れた倉庫に搬送し、そこで保存管理する。
【００１５】このような米の倉庫管理を実施すると、作
柄に応じて所定の量ごとに等級区分ができるので、限ら
れた個数の倉庫やタンクの枠内で米の管理ができ、米の
管理における省スペース化が図れる。上述のように本実
施例では、穀物サンプルの蛋白質含有量などを近赤外線
分光分析装置で測定するが、この近赤外線分光分析装置
は図４に示すように親機と複数の子機とからなるシステ
ムで成り立っている。
柄に応じて所定の量ごとに等級区分ができるので、限ら
れた個数の倉庫やタンクの枠内で米の管理ができ、米の
管理における省スペース化が図れる。上述のように本実
施例では、穀物サンプルの蛋白質含有量などを近赤外線
分光分析装置で測定するが、この近赤外線分光分析装置
は図４に示すように親機と複数の子機とからなるシステ
ムで成り立っている。
【００１６】即ち、複数の近赤外線分光分析装置を通信
媒体で結び、データの授受を行えるようにしたシステム
である。図４に示すように親機１１とｎ個の子機１２と
を電話回線１３などの通信媒体で接続するものであり、
親機１１および子機１２は、いずれも近赤外線分光分析
装置から構成する。
媒体で結び、データの授受を行えるようにしたシステム
である。図４に示すように親機１１とｎ個の子機１２と
を電話回線１３などの通信媒体で接続するものであり、
親機１１および子機１２は、いずれも近赤外線分光分析
装置から構成する。
【００１７】このような構成では、親機１１でセラミッ
ク板または標準サンプルの吸光度を測定してそれに基づ
く基準スペクトルを格納しておき、子機１２では同様に
して基準スペクトルを測定して格納する。親機１１は、
各子機１１の基準スペクトルを定期的または操作者の操
作により電話回線１３を通じてそれぞれ呼び出し、親機
１１側において自己の基準スペクトルと呼び出した基準
スペクトルとの比較を行う。
ク板または標準サンプルの吸光度を測定してそれに基づ
く基準スペクトルを格納しておき、子機１２では同様に
して基準スペクトルを測定して格納する。親機１１は、
各子機１１の基準スペクトルを定期的または操作者の操
作により電話回線１３を通じてそれぞれ呼び出し、親機
１１側において自己の基準スペクトルと呼び出した基準
スペクトルとの比較を行う。
【００１８】その比較の結果、異常がない場合には、異
常がない旨を示す信号を親機１１は子機１２に向けて返
送する。他方、異常がある場合には、基準スペクトルと
のずれ量（差分吸光度）とともに補正作業を要求する旨
の信号を、親機１１は子機１２に向けて返送する。
常がない旨を示す信号を親機１１は子機１２に向けて返
送する。他方、異常がある場合には、基準スペクトルと
のずれ量（差分吸光度）とともに補正作業を要求する旨
の信号を、親機１１は子機１２に向けて返送する。
【００１９】これに対して、子機１２は、親機１１に対
して補正処理のために所定の要求をし、その要求に基づ
いて所定の手順で補正処理を行う。なお、親機１１が波
長走査型であり子機１２が固定波長型の場合には、固定
フィルタの波長における吸光度データを比較する。
して補正処理のために所定の要求をし、その要求に基づ
いて所定の手順で補正処理を行う。なお、親機１１が波
長走査型であり子機１２が固定波長型の場合には、固定
フィルタの波長における吸光度データを比較する。
【００２０】このような発明では、子機のチェックが容
易にできるので、同一期間中に複数台の子機を用いてサ
ンプル測定する際に、子機間の誤差がなくなって測定精
度が向上する。図３は近赤外分光分析装置の第１の関連
発明を示し、近赤外線分光分析装置の自動校正法に関
し、親機である近赤外線分光分析装置で測定した基準ス
ペクトルと、子機である近赤外線分光分析装置で測定し
た基準スペクトルとのずれ量（差分）に基づき、子機を
校正するものである。
易にできるので、同一期間中に複数台の子機を用いてサ
ンプル測定する際に、子機間の誤差がなくなって測定精
度が向上する。図３は近赤外分光分析装置の第１の関連
発明を示し、近赤外線分光分析装置の自動校正法に関
し、親機である近赤外線分光分析装置で測定した基準ス
ペクトルと、子機である近赤外線分光分析装置で測定し
た基準スペクトルとのずれ量（差分）に基づき、子機を
校正するものである。
【００２１】この発明について詳述すると、まず親機に
おいて、セラミック板または標準サンプルのスペクトル
を複数回測定して平均し、その平均スペクトルを親機の
基準スペクトルＲＭとする。その基準スペクトルＲＭを
子機のハードディスク（ＨＤＤ）にあらかじめインスト
ールしておく。
おいて、セラミック板または標準サンプルのスペクトル
を複数回測定して平均し、その平均スペクトルを親機の
基準スペクトルＲＭとする。その基準スペクトルＲＭを
子機のハードディスク（ＨＤＤ）にあらかじめインスト
ールしておく。
【００２２】次に、子機ではその測定に際して、図３の
フローチャートに示すように、ハードディスクにインス
トールされる基準スペクトルＲＭを利用して校正を図
る。すなわち、まず子機においてセラミック板を複数回
測定する（Ｓ１）。次いで、親機の基準スペクトルＲＭ
をハードディスクから読み出すとともに（Ｓ２）、上記
の測定に基づいて子機の基準スペクトルＲＯを演算する
（Ｓ３）。引き続き、親機の基準スペクトルＲＭから子
機の基準スペクトルＲＯを減算して差分スペクトルＳと
し（Ｓ４）、その差分、すなわちずれ量が規定値以内か
どうかを判定する（Ｓ５）。
フローチャートに示すように、ハードディスクにインス
トールされる基準スペクトルＲＭを利用して校正を図
る。すなわち、まず子機においてセラミック板を複数回
測定する（Ｓ１）。次いで、親機の基準スペクトルＲＭ
をハードディスクから読み出すとともに（Ｓ２）、上記
の測定に基づいて子機の基準スペクトルＲＯを演算する
（Ｓ３）。引き続き、親機の基準スペクトルＲＭから子
機の基準スペクトルＲＯを減算して差分スペクトルＳと
し（Ｓ４）、その差分、すなわちずれ量が規定値以内か
どうかを判定する（Ｓ５）。
【００２３】その判定の結果、規定値を上回るときには
異常である旨の表示を行う（Ｓ６）。他方、規定値を下
回るときには、サンプルの測定を行う（Ｓ７）。サンプ
ルの測定が終わると、その測定スペクトルを修正するた
めに、サンプルデータＤＳに対して差分データＳを加算
する（Ｓ８）。次に、その修正されたスペクトルデータ
に基づいて例えば食味値データを算出し（Ｓ９）、その
算出した食味値データを表示画面に表示する（Ｓ１
０）。
異常である旨の表示を行う（Ｓ６）。他方、規定値を下
回るときには、サンプルの測定を行う（Ｓ７）。サンプ
ルの測定が終わると、その測定スペクトルを修正するた
めに、サンプルデータＤＳに対して差分データＳを加算
する（Ｓ８）。次に、その修正されたスペクトルデータ
に基づいて例えば食味値データを算出し（Ｓ９）、その
算出した食味値データを表示画面に表示する（Ｓ１
０）。
【００２４】このような発明によれば、子機のランプの
放射特性の差異、セラミック板の汚れ、センサの劣化、
または増幅器の出力変化などに起因する誤差発生を減少
でき、機種間の差や劣化による誤差を防止できる。次
に、第２の関連発明は、近赤外線分光分析装置におい
て、光源（ランプ）の交換前後の吸光度データに基づい
て検量線または吸光度データを自動校正するものであ
る。
放射特性の差異、セラミック板の汚れ、センサの劣化、
または増幅器の出力変化などに起因する誤差発生を減少
でき、機種間の差や劣化による誤差を防止できる。次
に、第２の関連発明は、近赤外線分光分析装置におい
て、光源（ランプ）の交換前後の吸光度データに基づい
て検量線または吸光度データを自動校正するものであ
る。
【００２５】この発明について詳述すると、ランプが切
れる以前から定期的にセラミック板または標準サンプル
の吸光度を測定しておく。そして、ランプが切れたとき
には、ランプの交換が終了した時点で、上記と同様にセ
ラミック板または標準サンプルの吸光度を測定する。こ
こで、ランプ交換前後の各データは、複数回測定してそ
の平均とするのが精度の向上が図れるので好ましい。
れる以前から定期的にセラミック板または標準サンプル
の吸光度を測定しておく。そして、ランプが切れたとき
には、ランプの交換が終了した時点で、上記と同様にセ
ラミック板または標準サンプルの吸光度を測定する。こ
こで、ランプ交換前後の各データは、複数回測定してそ
の平均とするのが精度の向上が図れるので好ましい。
【００２６】次に、得られた吸光度データは、装置が波
長走査型の場合には例えば２時微分処理を行い、検量線
にのせる。この場合には、ランプ固有の特性差がある
と、ランプの変換前後では検量線により求まる分析値に
差が生ずる。そこで、この差をなくすために、検量線の
定数項（バイアス値）ＫＯを、あらかじめ設定した誤差
範囲内に分析値が入るように補正する。
長走査型の場合には例えば２時微分処理を行い、検量線
にのせる。この場合には、ランプ固有の特性差がある
と、ランプの変換前後では検量線により求まる分析値に
差が生ずる。そこで、この差をなくすために、検量線の
定数項（バイアス値）ＫＯを、あらかじめ設定した誤差
範囲内に分析値が入るように補正する。
【００２７】一方、吸光度データそのものを補正する場
合には、ランプの交換前後のセラミック板の２つの測定
吸光データから、その差である差分吸光度を算出する。
そして、ランプ交換後の吸光度がランプ交換前の吸光度
に対してあらかじめ設定した誤差範囲内に入るように補
正する。
合には、ランプの交換前後のセラミック板の２つの測定
吸光データから、その差である差分吸光度を算出する。
そして、ランプ交換後の吸光度がランプ交換前の吸光度
に対してあらかじめ設定した誤差範囲内に入るように補
正する。
【００２８】このような発明によれば、ランプを交換し
てもランプ固有の特性差に起因する分析値の誤差を防止
できる。また、検量線の作成のためのデータ収集途中に
おいてランプを交換した場合にも、その交換の前後にお
いてランプ特性による誤差をキャンセルできるので、検
量線の作成が失敗することがない。
てもランプ固有の特性差に起因する分析値の誤差を防止
できる。また、検量線の作成のためのデータ収集途中に
おいてランプを交換した場合にも、その交換の前後にお
いてランプ特性による誤差をキャンセルできるので、検
量線の作成が失敗することがない。
【００２９】次に、第３の関連発明は、近赤外線分光分
析装置で使用する検量線を自動的に移設するものに関
し、穀物の水分値や脂肪酸度などのように貯蔵に伴って
時々刻々変化する成分の測定に有用なものである。この
発明の実施例は、図５に示すように、サンプルを貯蔵す
るｎ個のサンプル貯蔵タンク２１、近赤外線分光分析装
置からなる親機２２、同じく近赤外線分光分析装置から
なる子機２３、コンピュータ２４、ＲＳ−２３２Ｃユニ
ット２５、およびサンプル貯蔵タンクの弁を開閉制御す
る制御ユニット２６などから構成する。
析装置で使用する検量線を自動的に移設するものに関
し、穀物の水分値や脂肪酸度などのように貯蔵に伴って
時々刻々変化する成分の測定に有用なものである。この
発明の実施例は、図５に示すように、サンプルを貯蔵す
るｎ個のサンプル貯蔵タンク２１、近赤外線分光分析装
置からなる親機２２、同じく近赤外線分光分析装置から
なる子機２３、コンピュータ２４、ＲＳ−２３２Ｃユニ
ット２５、およびサンプル貯蔵タンクの弁を開閉制御す
る制御ユニット２６などから構成する。
【００３０】次に、この実施例の動作例について説明す
ると、コンピュータ２４からの指示で１番目のサンプル
貯蔵タンク２１の底部側バルブを開放し、親機２２にサ
ンプルを供給する。サンプルの供給が完了したことを検
出すると、親機２２による測定分析が開始され、一定時
間後にその測定分析が終了する。その測定分析後には、
親機２２からサンプルが排出されて子機２３に供給され
る。
ると、コンピュータ２４からの指示で１番目のサンプル
貯蔵タンク２１の底部側バルブを開放し、親機２２にサ
ンプルを供給する。サンプルの供給が完了したことを検
出すると、親機２２による測定分析が開始され、一定時
間後にその測定分析が終了する。その測定分析後には、
親機２２からサンプルが排出されて子機２３に供給され
る。
【００３１】サンプルの子機２３への供給が完了したこ
とが検出されると、子機２３による測定分析が開始さ
れ、一定時間後に測定分析が終了する。その分析終了後
には、親機２２からサンプルが排出され、元の１番目の
サンプル貯蔵タンク２１に戻される。
とが検出されると、子機２３による測定分析が開始さ
れ、一定時間後に測定分析が終了する。その分析終了後
には、親機２２からサンプルが排出され、元の１番目の
サンプル貯蔵タンク２１に戻される。
【００３２】これら一連の作業を、事前に設定したｎ個
のサンプル、すなわちｎ個のサンプル貯蔵タンク２１に
収容されている各サンプルについて順次実施する。そし
て、ｎ個のサンプルについて測定が終了した時点で、親
機２２と子機２３との成分の分析値の平均的なずれ量Ｋ
Ｏ１を算出し、子機２３に収納すべく予定した検量線の
定数項（バイアス値）ＫＯを、（ＫＯ＋ＫＯ１）に修正
する。
のサンプル、すなわちｎ個のサンプル貯蔵タンク２１に
収容されている各サンプルについて順次実施する。そし
て、ｎ個のサンプルについて測定が終了した時点で、親
機２２と子機２３との成分の分析値の平均的なずれ量Ｋ
Ｏ１を算出し、子機２３に収納すべく予定した検量線の
定数項（バイアス値）ＫＯを、（ＫＯ＋ＫＯ１）に修正
する。
【００３３】このような実施例によれば、穀物の水分値
や脂肪酸度といった時々刻々と変化する成分の検量線を
移設する場合に、親機２２と子機２３とにより同じサン
プルを測定し、そのずれを自動的に補正するようにした
ので、特に時々刻々と含有量が変化してしまう成分の検
量線の移設に伴う工数を大幅に低減できる。
や脂肪酸度といった時々刻々と変化する成分の検量線を
移設する場合に、親機２２と子機２３とにより同じサン
プルを測定し、そのずれを自動的に補正するようにした
ので、特に時々刻々と含有量が変化してしまう成分の検
量線の移設に伴う工数を大幅に低減できる。
【図１】米の蛋白質含有量の分布を示す図である。
【図２】米の倉庫管理一例を説明する図である。
【図３】データ処理例を説明するフローチャートであ
る。
る。
【図４】本発明の具体例を説明する説明図である。
【図５】関連発明の具体例を説明する説明図である。
２２…親機，２３…子機
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の近赤外線分光分析装置を通信媒体
で結びデータの授受を行えるよう構成し、親機の標準サ
ンプル等に基づく基準スペクトルと、子機の基準スペク
トルとを比較する手段を設け、当該比較結果に基づいて
異常信号を出力し、又は補正作業要求の信号を出力すべ
く構成してなる近赤外線分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000120725A JP3252843B2 (ja) | 1993-01-25 | 2000-04-21 | 近赤外線分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000120725A JP3252843B2 (ja) | 1993-01-25 | 2000-04-21 | 近赤外線分光分析装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2857493A Division JP3246031B2 (ja) | 1993-01-25 | 1993-01-25 | 穀物の区分方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000321204A true JP2000321204A (ja) | 2000-11-24 |
| JP3252843B2 JP3252843B2 (ja) | 2002-02-04 |
Family
ID=18631486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000120725A Expired - Fee Related JP3252843B2 (ja) | 1993-01-25 | 2000-04-21 | 近赤外線分光分析装置 |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP3252843B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007163353A (ja) * | 2005-12-15 | 2007-06-28 | Satake Corp | 分光分析装置における機体差の補正方法 |
| JP2007178325A (ja) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Toshiba Corp | 光学測定装置検査用チップ、光学測定装置の検査方法、光学測定装置の製造方法、及び光学測定装置の使用方法 |
| JP2007187624A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Yokogawa Electric Corp | 近赤外分光法における検量線補正方法 |
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|---|---|---|---|---|
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2000
- 2000-04-21 JP JP2000120725A patent/JP3252843B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP3252843B2 (ja) | 2002-02-04 |
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