JP2000315809A - Fabrication of integrated thin film solar cell and patterning system - Google Patents

Fabrication of integrated thin film solar cell and patterning system

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JP2000315809A
JP2000315809A JP11281845A JP28184599A JP2000315809A JP 2000315809 A JP2000315809 A JP 2000315809A JP 11281845 A JP11281845 A JP 11281845A JP 28184599 A JP28184599 A JP 28184599A JP 2000315809 A JP2000315809 A JP 2000315809A
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film
groove
semiconductor film
solar cell
tool
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JP11281845A
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Japanese (ja)
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Shinichi Shimakawa
伸一 島川
Shinko Muro
真弘 室
Takayuki Negami
卓之 根上
Masayuki Takahashi
正行 高橋
Masatoshi Kitagawa
雅俊 北川
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance characteristics while increasing yield by forming a lower electrode on one major surface of an insulating substrate then removing a part of a semiconductor film or an upper electrode film by making a trench in the outer circumferential part of the part being removed and stripping the part being removed. SOLUTION: A trench is made only in a semiconductor film 92 by means of a trenching tool, e.g. a diamond pin, on the opposite sides of a part being removed using an Mo film as a stopper. The semiconductor film 92 is then stripped from the part being removed by means of a scraper 16, or the like. Subsequently, an upper electrode film is formed to cover the semiconductor film 92 and a lower electrode 91 on an insulating substrate 90 exposed by removing the semiconductor film 92. That film is connected electrically with the lower electrode 91 through a split part of the semiconductor film 92. Subsequently, the semiconductor film 92 and the upper electrode film are removed partially in stripe and split into stripe. An integrated solar cell is formed by making a trench only in the semiconductor film 92 and the upper electrode film and the upper electrode film of each cell unit is connected in series with the lower electrode 91 of an adjacent unit cell.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、集積型薄膜太陽電
池の製造方法およびパターニング装置に関する。
The present invention relates to a method of manufacturing an integrated thin-film solar cell and a patterning apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】Ib族元素、IIIb族元素およびVIb族
元素からなる化合物半導体膜(カルコパイライト構造半
導体膜)であるCuInSe2(CIS)またはGaを
固溶したCu(In,Ga)Se2(CIGS)、ある
いはCuInS2を光吸収層に用いた薄膜太陽電池モジ
ュールの構造および製造方法については、従来から報告
されている(たとえば、13TH EUROPEAN
PHOTOVOLTAICSOLAR CONFERE
NCE 1995 P.1451−1455)。このよ
うなCIS薄膜太陽電池においては、基板上に複数のユ
ニットセルを直列接続した集積型構造が一般的である。
2. Description of the Related Art CuInSe 2 (CIS), which is a compound semiconductor film (chalcopyrite structure semiconductor film) comprising a group Ib element, a group IIIb element and a group VIb element, or Cu (In, Ga) Se 2 (a solid solution of Ga). The structure and manufacturing method of a thin-film solar cell module using CIGS) or CuInS 2 for the light absorbing layer have been reported (for example, 13TH EUROPEAN).
PHOTOVOLTAIC SOLAR CONFERE
NCE 1995 p. 1451-1455). In such a CIS thin-film solar cell, an integrated structure in which a plurality of unit cells are connected in series on a substrate is generally used.

【0003】従来の集積型薄膜太陽電池の製造方法につ
いて、図15を参照しながら一例を説明する。まず、図
15(a)に示すように、絶縁性基板1上に下部電極膜
2となるMo膜などをスパッタリング法によって形成し
た後、連続発振のレーザビームL1を照射することによ
って、上記Mo膜等をストライプ状に除去して短冊状の
下部電極膜2を形成する。その後、図15(b)に示す
ように、蒸着法、スパッタリング法または化学析出法な
どによってp型CuInSe2薄膜とn型CdS薄膜と
の積層膜からなる半導体膜3を形成する。その後、図1
5(c)に示すように、メカニカルスクライブ法によっ
て半導体膜3を短冊状に分割する。その後、図15
(d)に示すように、上部電極膜4となる透明導電膜、
たとえばZnO膜やITO膜を形成する。そして、図1
5(e)に示すように、メカニカルスクライブ法によっ
て上部電極膜4を短冊状に分割する。このようにして、
集積型薄膜太陽電池が製造される。図15(e)の集積
型薄膜太陽電池では、各ユニットセル5の上部電極膜4
が、隣接するユニットセル5の下部電極膜2と接続する
ことによって、各ユニットセル5が直列接続している。
An example of a conventional method of manufacturing an integrated thin-film solar cell will be described with reference to FIG. First, as shown in FIG. 15A, a Mo film or the like serving as the lower electrode film 2 is formed on an insulating substrate 1 by a sputtering method, and then the Mo film is irradiated with a continuous wave laser beam L1. Are stripped to form a strip-shaped lower electrode film 2. Thereafter, as shown in FIG. 15B, a semiconductor film 3 composed of a laminated film of a p-type CuInSe 2 thin film and an n-type CdS thin film is formed by an evaporation method, a sputtering method, a chemical deposition method, or the like. Then, FIG.
As shown in FIG. 5C, the semiconductor film 3 is divided into strips by a mechanical scribe method. Then, FIG.
(D), a transparent conductive film serving as the upper electrode film 4,
For example, a ZnO film or an ITO film is formed. And FIG.
As shown in FIG. 5E, the upper electrode film 4 is divided into strips by a mechanical scribe method. In this way,
An integrated thin-film solar cell is manufactured. In the integrated thin-film solar cell of FIG. 15E, the upper electrode film 4 of each unit cell 5
However, each unit cell 5 is connected in series by being connected to the lower electrode film 2 of the adjacent unit cell 5.

【0004】図15(c)および(e)の工程におい
て、メカニカルスクライブ法による薄膜の分割は、カッ
ターナイフや図16(a)に示す針のようなもので、薄
膜の一部を除去することによって行われる。
In the steps shown in FIGS. 15C and 15E, the thin film is divided by a mechanical scribe method by removing a part of the thin film with a cutter knife or a needle shown in FIG. 16A. Done by

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
メカニカルスクライブ法では、図16(a)に示す針や
カッター等で一度に半導体膜等の薄膜を除去するため、
図16(b)に示すように、薄膜を除去した後の加工溝
の幅が一定しなかった。また、下部電極膜2と半導体膜
3との密着性が悪い場合は、図16(c)に示すよう
に、半導体膜3が大きくはがれてしまい、不必要な部分
まで除去してしまうことがあった。このため、従来のメ
カニカルスクライブ法では、加工時のずれを考慮してパ
ターニングする必要があり、太陽電池の有効面積が減少
するという問題があった。さらに、半導体膜3がはがれ
た場合には、下部電極膜2と上部電極膜4との接触不良
が生じやすいという問題もあった。そのため、上記従来
の製造方法では、集積型薄膜太陽電池の特性および歩留
まりが低下するという問題があった。
However, in the conventional mechanical scribe method, since a thin film such as a semiconductor film is removed at once by a needle or a cutter shown in FIG.
As shown in FIG. 16B, the width of the processed groove after removing the thin film was not constant. Further, when the adhesion between the lower electrode film 2 and the semiconductor film 3 is poor, the semiconductor film 3 is largely peeled off as shown in FIG. Was. For this reason, in the conventional mechanical scribe method, it is necessary to perform patterning in consideration of a shift during processing, and there is a problem that the effective area of the solar cell is reduced. Further, when the semiconductor film 3 is peeled off, there is a problem that poor contact between the lower electrode film 2 and the upper electrode film 4 is likely to occur. Therefore, the conventional manufacturing method described above has a problem that the characteristics and the yield of the integrated thin-film solar cell are reduced.

【0006】一方、図15(c)および(e)の工程を
レーザスクライブ法でパターニングした場合には、レー
ザ照射時の熱によって半導体膜3がダメージを受け、太
陽電池の特性が低下するという問題があった。
On the other hand, when the steps shown in FIGS. 15C and 15E are patterned by the laser scribe method, the semiconductor film 3 is damaged by heat at the time of laser irradiation, and the characteristics of the solar cell deteriorate. was there.

【0007】上記問題を解決するため、本発明は、特性
が高い集積型薄膜太陽電池を歩留まりよく製造できる集
積型薄膜太陽電池の製造方法およびこれに用いるパター
ニング装置を提供することを目的とする。
[0007] In order to solve the above-mentioned problems, an object of the present invention is to provide a method of manufacturing an integrated thin-film solar cell capable of manufacturing an integrated thin-film solar cell having high characteristics with a high yield, and a patterning apparatus used therefor.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の集積型薄膜太陽電池の製造方法は、直列接
続された2以上の太陽電池ユニットセルを絶縁性基板上
に形成する集積型薄膜太陽電池の製造方法であって、前
記絶縁性基板の一主面上に下部電極膜を形成したのち、
前記下部電極膜を短冊状に分割する第1の工程と、前記
下部電極膜上に、pn接合を含む半導体膜を形成する第
2の工程と、前記半導体膜の一部をストライプ状に除去
することによって前記半導体膜を短冊状に分割する第3
の工程と、前記半導体膜および前記半導体膜が除去され
て露出した前記下部電極膜上に上部電極膜を形成する第
4の工程と、前記半導体膜および前記上部電極膜の一部
を共にストライプ状に除去することによって前記上部電
極膜を短冊状に分割する第5の工程とを含み、前記第3
および第5の工程から選ばれる少なくとも一つの工程
は、除去される前記一部の外周部に溝を形成し前記一部
を剥離する工程を含むことを特徴とする。上記製造方法
では、半導体膜の一部または上部電極膜の一部をストラ
イプ状に除去する際に、除去する部分の外周部に溝を形
成してから剥離して除去する。したがって、上記製造方
法によれば、膜へのダメージが少なく高精度なパターニ
ングを行うことができ、特性が高い集積型薄膜太陽電池
を歩留まりよく製造することができる。
In order to achieve the above object, a method of manufacturing an integrated type thin film solar cell according to the present invention is directed to an integrated thin film solar cell in which two or more solar cell unit cells connected in series are formed on an insulating substrate. A method for manufacturing a thin film solar cell, comprising: forming a lower electrode film on one main surface of the insulating substrate;
A first step of dividing the lower electrode film into strips, a second step of forming a semiconductor film including a pn junction on the lower electrode film, and removing a part of the semiconductor film in a stripe shape A third step of dividing the semiconductor film into strips by
A fourth step of forming an upper electrode film on the semiconductor film and the lower electrode film which is exposed by removing the semiconductor film; and forming a part of the semiconductor film and a part of the upper electrode film in a stripe shape. A fifth step of dividing the upper electrode film into strips by removing the upper electrode film in a strip shape.
And at least one step selected from the fifth step includes a step of forming a groove in an outer peripheral portion of the part to be removed and peeling the part. In the above manufacturing method, when a part of the semiconductor film or a part of the upper electrode film is removed in a stripe shape, a groove is formed in an outer peripheral portion of a part to be removed, and then a peeling is performed. Therefore, according to the above manufacturing method, highly accurate patterning can be performed with little damage to the film, and an integrated thin-film solar cell having high characteristics can be manufactured with high yield.

【0009】上記製造方法では、前記溝が、除去される
前記一部の側の第1の側面と前記第1の側面とは異なる
第2の側面とによって形成された断面略V字状の溝であ
り、前記絶縁性基板の前記一主面と前記第1の側面とが
なす平均角度が、前記絶縁性基板の前記一主面と前記第
2の側面とがなす平均角度よりも小さいことが好まし
い。上記構成によれば、除去しない部分の膜が剥離する
ことを防止でき、また、除去すべき部分の剥離が容易に
なる。
In the above manufacturing method, the groove is formed by a first side surface on the part of the side to be removed and a second side surface different from the first side surface, the groove having a substantially V-shaped cross section. Wherein the average angle formed between the one main surface and the first side surface of the insulating substrate is smaller than the average angle formed between the one main surface and the second side surface of the insulating substrate. preferable. According to the above configuration, it is possible to prevent the film of the portion not to be removed from being peeled off, and to easily peel off the portion to be removed.

【0010】上記製造方法では、前記絶縁性基板の前記
一主面と前記第1の側面とがなす平均角度が30度以下
であり、前記絶縁性基板の前記一主面と前記第2の側面
とがなす平均角度が60度以上90度以下であることが
好ましい。上記構成によれば、除去しない部分の膜が剥
離することを特に防止でき、また、除去すべき部分の剥
離が特に容易になる。
In the above manufacturing method, the average angle formed between the one main surface of the insulating substrate and the first side surface is 30 degrees or less, and the one main surface and the second side surface of the insulating substrate are provided. It is preferable that the average angle formed by the angles is 60 degrees or more and 90 degrees or less. According to the above configuration, it is possible to particularly prevent the film in the portion not to be removed from peeling, and it is particularly easy to peel off the portion to be removed.

【0011】上記製造方法では、前記溝の形成は、2つ
の面によって形成された断面略V字状の接触面を有する
溝形成工具を、除去する膜に前記接触面を押圧しながら
移動させることによって行われ、前記溝を形成する際
に、前記接触面を形成する面であって除去される前記一
部の側の第1の面と前記除去する膜の一主面とがなす平
均角度が、前記接触面を形成する面であって前記第1の
面とは異なる第2の面と前記除去する膜の一主面とがな
す平均角度よりも小さい状態で前記溝形成工具を移動さ
せることが好ましい。上記構成によれば、除去しない部
分の膜が剥離することを防止でき、また、除去すべき部
分の剥離が容易になる。
In the above manufacturing method, the groove is formed by moving a groove forming tool having a contact surface having a substantially V-shaped cross section formed by two surfaces while pressing the contact surface against a film to be removed. When forming the groove, the average angle between the first surface of the partial surface to be removed, which is the surface forming the contact surface, and one main surface of the film to be removed is Moving the groove forming tool in a state smaller than an average angle formed by a second surface different from the first surface, which is a surface forming the contact surface, and one main surface of the film to be removed. Is preferred. According to the above configuration, it is possible to prevent the film of the portion not to be removed from being peeled off, and to easily peel off the portion to be removed.

【0012】上記製造方法では、前記除去する膜の一主
面と前記第1の面とがなす平均角度が30度以下であ
り、前記除去する膜の一主面と前記第2の面とがなす平
均角度が60度以上90度以下であることが好ましい。
上記構成によれば、除去しない部分の膜が剥離すること
を特に防止でき、また、除去すべき部分の剥離が特に容
易になる。
In the above manufacturing method, the average angle between one principal surface of the film to be removed and the first surface is 30 degrees or less, and the one principal surface of the film to be removed and the second surface are different from each other. It is preferable that the average angle is 60 degrees or more and 90 degrees or less.
According to the above configuration, it is possible to particularly prevent the film in the portion not to be removed from peeling, and it is particularly easy to peel off the portion to be removed.

【0013】上記製造方法では、前記溝を形成する際
に、前記除去する膜の一主面と前記溝形成工具とがなす
角度のうち、前記溝形成工具を移動させる方向の角度の
平均角度が、15度以下の状態で前記溝形成工具を移動
させることが好ましい。上記構成によれば、パターニン
グ時に、除去すべきでない部分の膜が剥離することを防
止できる。
[0013] In the above manufacturing method, when forming the groove, an average angle of a direction in which the groove forming tool is moved among angles formed by one main surface of the film to be removed and the groove forming tool is set. It is preferable that the groove forming tool is moved in a state of not more than 15 degrees. According to the above configuration, it is possible to prevent the film of the portion that should not be removed from being peeled during patterning.

【0014】上記製造方法では、前記半導体膜が、I族
元素とIII族元素とVI族元素とを含む化合物半導体膜
と、II族元素とVI族元素とを含み前記化合物半導体膜に
積層された化合物膜とを含むことが好ましい。
In the above manufacturing method, the semiconductor film is laminated on the compound semiconductor film containing a group I element, a group III element and a group VI element, and the compound semiconductor film containing a group II element and a group VI element. It is preferable to include a compound film.

【0015】また、本発明のパターニング装置は、基板
上に形成された薄膜をパターニングするためのパターニ
ング装置であって、前記基板を保持する基板ステージ
と、前記薄膜に溝を形成するための溝形成工具と、溝が
形成された前記薄膜を剥離する剥離工具とを含むことを
特徴とする。上記パターニング装置では、除去しようと
する部分の外周部に溝形成工具を用いて溝を形成したの
ち、剥離工具を用いて剥離することができる。したがっ
て、上記パターニング装置によれば、膜へのダメージが
少なく高精度パターニングを容易に行うことができ、特
性が高い集積型薄膜太陽電池を歩留まりよく製造でき
る。
Further, the patterning apparatus of the present invention is a patterning apparatus for patterning a thin film formed on a substrate, comprising: a substrate stage for holding the substrate; and a groove formation for forming a groove in the thin film. It is characterized by including a tool and a peeling tool for peeling the thin film on which the groove is formed. In the above patterning device, after a groove is formed on an outer peripheral portion of a portion to be removed using a groove forming tool, the groove can be peeled off using a peeling tool. Therefore, according to the patterning apparatus, high-precision patterning can be easily performed with little damage to the film, and an integrated thin-film solar cell having high characteristics can be manufactured with high yield.

【0016】上記パターニング装置では、前記溝形成工
具および前記剥離工具ならびに前記基板ステージから選
ばれる少なくとも一つが、前記薄膜が形成された前記基
板の一主面と平行な方向に可動であり、前記溝形成工具
および前記剥離工具ならびに前記基板ステージから選ば
れる少なくとも一つが、前記一主面と垂直な方向に可動
であることが好ましい。
In the above patterning apparatus, at least one selected from the groove forming tool, the peeling tool, and the substrate stage is movable in a direction parallel to one main surface of the substrate on which the thin film is formed. It is preferable that at least one selected from a forming tool, the peeling tool, and the substrate stage is movable in a direction perpendicular to the one main surface.

【0017】上記パターニング装置では、加工負荷調整
手段をさらに含み、前記溝形成工具および前記剥離工具
は、前記加工負荷調整手段によって前記薄膜を加工する
負荷が調整されることが好ましい。上記構成によって、
パターニングする際の膜へのダメージを減少させること
ができる。
In the above patterning apparatus, it is preferable that the patterning apparatus further includes a processing load adjusting means, and the load for processing the thin film is adjusted by the processing load adjusting means in the groove forming tool and the peeling tool. With the above configuration,
Damage to the film during patterning can be reduced.

【0018】上記パターニング装置では、回転可能な工
具保持部をさらに含み、前記溝形成工具が前記工具保持
部によって回転可能に保持されていることが好ましい。
上記構成によれば、溝形成工具を回転させることによっ
て、膜に対する溝形成工具の角度を変化させることがで
きるため、特に信頼性よくパターニングを行うことがで
きる。
In the above patterning apparatus, it is preferable that the pattern forming apparatus further includes a rotatable tool holding unit, and the groove forming tool is rotatably held by the tool holding unit.
According to the above configuration, since the angle of the groove forming tool with respect to the film can be changed by rotating the groove forming tool, patterning can be performed with high reliability.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて具体的に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be specifically described below.

【0020】(実施形態1)実施形態1では、本発明の
パターニング装置について、一例を説明する。
Embodiment 1 In Embodiment 1, an example of a patterning apparatus of the present invention will be described.

【0021】実施形態1のパターニング装置10につい
て、斜視図を図1に模式的に示す。図1を参照して、パ
ターニング装置10は、架台11と、架台11上に配置
された基板ステージ12およびZテーブル支持台13
と、Zテーブル支持台13に設置されたZテーブル14
と、Zテーブル14に設置された溝形成工具15および
スクレイパー(剥離工具)16と、コントローラ17と
を備える。溝形成工具15およびスクレイパー16は、
それぞれ、加工負荷調整手段18および19を介してZ
テーブル14に設置されている。
FIG. 1 schematically shows a perspective view of the patterning apparatus 10 of the first embodiment. With reference to FIG. 1, a patterning apparatus 10 includes a gantry 11, a substrate stage 12 and a Z-table support 13 arranged on the gantry 11.
And a Z table 14 installed on the Z table support 13
, A groove forming tool 15 and a scraper (peeling tool) 16 installed on the Z table 14, and a controller 17. The groove forming tool 15 and the scraper 16
Through the machining load adjusting means 18 and 19, respectively,
It is installed on a table 14.

【0022】基板ステージ12は、真空吸着機能を有
し、基板20を固定する。基板ステージ12は、図1の
XY平面方向(薄膜が形成されている基板20の一主面
と平行な方向)に可動であり、コントローラ17からの
指令によって移動する。
The substrate stage 12 has a vacuum suction function and fixes the substrate 20. The substrate stage 12 is movable in the direction of the XY plane in FIG. 1 (a direction parallel to one main surface of the substrate 20 on which the thin film is formed), and moves according to a command from the controller 17.

【0023】Zテーブル14は、Z軸方向(薄膜が形成
されている基板20の一主面と垂直な方向)に可動であ
り、コントローラ17からの指令によって移動する。
The Z table 14 is movable in the Z axis direction (a direction perpendicular to one main surface of the substrate 20 on which the thin film is formed), and moves according to a command from the controller 17.

【0024】溝形成工具15は、基板20上に形成され
た薄膜に溝を形成するための工具であり、たとえば、断
面略V字状の溝(以下、V字溝という場合がある。)を
形成するための工具である。溝形成工具としては、たと
えば、ダイヤモンドピンやダイヤモンドホイールを用い
ることができる。
The groove forming tool 15 is a tool for forming a groove in the thin film formed on the substrate 20. For example, a groove having a substantially V-shaped cross section (hereinafter, may be referred to as a V-shaped groove). It is a tool for forming. As the groove forming tool, for example, a diamond pin or a diamond wheel can be used.

【0025】溝形成工具15について、進行方向に対し
て垂直方向の断面の一例を図2に示す。図2(a)に示
すように、溝形成工具15は、第1の面15bおよび第
2の15cによって形成された断面略V字状の接触面1
5aを有することが好ましい。上記構成では、除去する
膜に接触面を押圧しながら移動させることによって、V
字溝を形成できる。さらに、溝形成工具15は、第1の
面15bと第2の面15cとがなす角度αが60度以上
120度以下であることが好ましい。上記構成によっ
て、溝を形成する際に、除去すべきでない部分の膜が剥
離することを防止できる。
FIG. 2 shows an example of a cross section of the groove forming tool 15 in a direction perpendicular to the traveling direction. As shown in FIG. 2A, the groove forming tool 15 has a contact surface 1 having a substantially V-shaped cross section formed by a first surface 15b and a second surface 15c.
5a is preferred. In the above configuration, by moving the contact surface while pressing the film to be removed, V
A groove can be formed. Furthermore, in the groove forming tool 15, it is preferable that the angle α formed by the first surface 15b and the second surface 15c is not less than 60 degrees and not more than 120 degrees. With the above-described structure, it is possible to prevent the film in a portion that should not be removed from being peeled when forming the groove.

【0026】また、溝形成工具15は、図2(b)に示
すように断面形状が進行方向に対して左右非対称であっ
てもよい。断面形状が左右非対称なダイヤモンドホイー
ルについて、一例の側面図(進行方向の側面から見た
図)を図3(a)に、正面図(進行方向から見た図)を
図3(b)に示す。図3(b)に示すように、ダイヤモ
ンドホイール30の接触面30aを形成する2つ面のう
ち、膜を除去する側の第1の面30bと除去される膜3
1(ハッチングは省略する)の主面とがなす角度の平均
値θv1(平均角度θv1)が30度以下であることが
好ましい。また、接触面を形成する2つの面のうち、第
1の面30bとは異なる第2の面30cと除去される膜
31とがなす平均の角度θv2(平均角度θv2)が6
0度以上90度以下であることが好ましい。上記構成に
よれば、以下の実施形態において説明するように、溝を
形成する際に除去すべきでない部分の膜が剥離すること
を防止でき、また、除去すべき部分の膜の剥離が容易に
なる。
Further, as shown in FIG. 2B, the groove forming tool 15 may have a cross-sectional shape that is asymmetrical with respect to the traveling direction. FIG. 3A shows a side view (viewed from the side in the traveling direction) and FIG. 3B shows a front view (viewed from the traveling direction) of an example of a diamond wheel having an asymmetrical cross-sectional shape. . As shown in FIG. 3B, of the two surfaces forming the contact surface 30a of the diamond wheel 30, the first surface 30b on the side from which the film is removed and the film 3 to be removed
It is preferable that the average value θv1 (average angle θv1) of the angle formed by the main surface of No. 1 (hatching is omitted) is 30 degrees or less. The average angle θv2 (average angle θv2) between the second surface 30c different from the first surface 30b and the film 31 to be removed among the two surfaces forming the contact surface is 6
It is preferable that it is 0 degree or more and 90 degrees or less. According to the above configuration, as described in the following embodiments, it is possible to prevent the film of a portion that should not be removed when forming a groove from being peeled, and to easily remove the film of a portion that should be removed. Become.

【0027】図1に示すスクレイパー16は、基板20
上に形成された薄膜の一部を剥離するための剥離工具で
ある。なお、スクレイパー16の代わりに、他の剥離工
具を用いてもよい。溝形成工具15およびスクレイパー
16は、Zテーブル14を図1中のZ軸方向に移動させ
ることによって、高さを調整することができる。また、
溝形成工具15およびスクレイパー16は、どちらか一
方のみを使用することができる。
The scraper 16 shown in FIG.
This is a peeling tool for peeling a part of the thin film formed thereon. In addition, another peeling tool may be used instead of the scraper 16. The height of the groove forming tool 15 and the scraper 16 can be adjusted by moving the Z table 14 in the Z-axis direction in FIG. Also,
Only one of the groove forming tool 15 and the scraper 16 can be used.

【0028】コントローラ17は、基板ステージ12、
Zテーブル14ならびに加工負荷調整手段18および1
9の動作をコントロールするためのコントロール手段で
ある。
The controller 17 includes the substrate stage 12,
Z table 14 and machining load adjusting means 18 and 1
9 is control means for controlling the operation of No. 9.

【0029】加工負荷調整手段18および19は、たと
えば、板バネおよび荷重計からなり、溝形成工具15ま
たはスクレイパー16の加工負荷を調整するために用い
られる。なお、加工負荷調整手段18および19は、空
気圧などの他の方法を用いて加工負荷を調整するもので
もよい。
The machining load adjusting means 18 and 19 are composed of, for example, a leaf spring and a load meter, and are used for adjusting the machining load of the groove forming tool 15 or the scraper 16. The processing load adjusting means 18 and 19 may adjust the processing load by using another method such as air pressure.

【0030】図4を参照して、溝形成工具15の機能を
説明する。図4に示すように、基板40上に形成された
薄膜41(半導体膜や透明導電膜)に溝形成工具15を
押しつけ、矢印の方向に移動させることによって、薄膜
41に溝(たとえばV字溝)を形成することができる。
溝形成工具15を用いて、除去しようとする部分の両側
に溝を形成することによって、スクレイパー16で膜を
除去することが容易になり、膜へのダメージが少なくな
る。
The function of the groove forming tool 15 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 4, the groove forming tool 15 is pressed against a thin film 41 (semiconductor film or transparent conductive film) formed on the substrate 40 and moved in the direction of the arrow, thereby forming a groove (for example, a V-shaped groove) in the thin film 41. ) Can be formed.
By forming grooves on both sides of the portion to be removed using the groove forming tool 15, it is easy to remove the film with the scraper 16, and damage to the film is reduced.

【0031】図5を参照して、スクレイパー16の機能
を説明する。図5に示すように、スクレイパー16を矢
印の方向に移動させることによって、V字溝によって区
切られた薄膜41を剥離し、薄膜41の一部を線状に除
去することができる。
The function of the scraper 16 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 5, by moving the scraper 16 in the direction of the arrow, the thin film 41 separated by the V-shaped groove can be peeled off, and a part of the thin film 41 can be linearly removed.

【0032】上記実施形態1のパターニング装置10に
よれば、薄膜のうち除去される部分の外周部に、溝形成
工具15によって薄膜へのダメージが少ない溝を形成し
たのちにスクレイパー16によって薄膜を剥離するた
め、剥離工程において剥離部分以外の部分に、欠け、ク
ラックまたは膜剥離等が生じることを抑制できる。さら
に、パターニング装置10によれば、高精度で薄膜をパ
ターニングすることができる。したがって、パターニン
グ装置10によれば、たとえば集積型薄膜太陽電池を製
造する場合において、特性および歩留まりが高い集積型
薄膜太陽電池を製造できる。
According to the patterning apparatus 10 of the first embodiment, a groove with little damage to the thin film is formed by the groove forming tool 15 on the outer peripheral portion of the portion to be removed of the thin film, and then the thin film is peeled by the scraper 16. Accordingly, chipping, cracking, film peeling, and the like can be suppressed in portions other than the peeled portion in the peeling step. Further, according to the patterning apparatus 10, a thin film can be patterned with high accuracy. Therefore, according to the patterning apparatus 10, for example, when manufacturing an integrated thin-film solar cell, an integrated thin-film solar cell having high characteristics and a high yield can be manufactured.

【0033】なお、上記実施形態1では、基板ステージ
12がXY平面方向に可動である場合を示したが、溝形
成工具15およびスクレイパー16がXY平面方向に可
動である場合でもよい。
In the first embodiment, the case where the substrate stage 12 is movable in the XY plane direction has been described. However, the groove forming tool 15 and the scraper 16 may be movable in the XY plane direction.

【0034】また、実施形態1では、溝形成工具15お
よびスクレイパー16がZ軸方向に可動である場合を示
したが、基板ステージ12がZ軸方向に可動である場合
でもよい。
In the first embodiment, the case where the groove forming tool 15 and the scraper 16 are movable in the Z-axis direction has been described. However, the case where the substrate stage 12 is movable in the Z-axis direction may be used.

【0035】さらに、パターニング装置10は、図6に
示すように配置された2つの溝形成工具15とスクレイ
パー16とを備えてもよい。図6に示す構成では、矢印
の方向に2つの溝形成工具15とスクレイパー16とを
移動させることによって、1回の移動で薄膜を剥離する
ことができ、生産性よくパターニングできる。
Further, the patterning apparatus 10 may include two groove forming tools 15 and a scraper 16 arranged as shown in FIG. In the configuration shown in FIG. 6, by moving the two groove forming tools 15 and the scraper 16 in the direction of the arrow, the thin film can be peeled by one movement, and patterning can be performed with high productivity.

【0036】さらに、溝形成工具15とスクレイパー1
6とを、一体化してもよい。溝形成工具15とスクレイ
パー16とを一体化した工具70について、一例の斜視
図を図7に示す。図7に示すように、工具70は、2つ
の溝形成部70aを備え、2つの溝形成部70aの距離
はパターニング幅(たとえば、20μm〜200μm)
と略等しい。上記工具70によれば、一度の走査でパタ
ーニングを行うことができる。
Further, the groove forming tool 15 and the scraper 1
6 may be integrated. FIG. 7 shows a perspective view of an example of the tool 70 in which the groove forming tool 15 and the scraper 16 are integrated. As shown in FIG. 7, the tool 70 includes two groove forming portions 70a, and a distance between the two groove forming portions 70a is a patterning width (for example, 20 μm to 200 μm).
Is approximately equal to According to the tool 70, patterning can be performed by one scan.

【0037】(実施形態2)実施形態2では、本発明の
パターニング装置について、他の一例を説明する。な
お、実施形態2のパターニング装置10aは、実施形態
1で説明したものと、一部のみが異なるため、重複する
説明を省略する。
Embodiment 2 In Embodiment 2, another example of the patterning apparatus of the present invention will be described. Note that the patterning apparatus 10a according to the second embodiment is partially different from the apparatus described in the first embodiment, and a duplicate description will be omitted.

【0038】実施形態2のパターニング装置10aにつ
いて、斜視図を図8に模式的に示す。図8を参照して、
パターニング装置10aは、架台11と、架台11上に
配置された基板ステージ12およびZテーブル支持台1
3と、Zテーブル支持台13に設置されたZテーブル1
4と、Zテーブル14に設置された溝形成工具15およ
びスクレイパー16と、コントローラ17とを備える。
溝形成工具15およびスクレイパー16は、それぞれ、
加工負荷調整手段18および19を介してZテーブル1
4に設置されている。さらに、加工負荷調整手段18
は、回転テーブル80に接続されている。
FIG. 8 schematically shows a perspective view of the patterning apparatus 10a of the second embodiment. Referring to FIG.
The patterning apparatus 10 a includes a gantry 11, a substrate stage 12 disposed on the gantry 11, and a Z-table support 1.
3 and Z table 1 installed on Z table support 13
4, a groove forming tool 15 and a scraper 16 installed on the Z table 14, and a controller 17.
The groove forming tool 15 and the scraper 16 are respectively
Z table 1 via machining load adjusting means 18 and 19
4 Further, the processing load adjusting means 18
Is connected to the turntable 80.

【0039】回転テーブル80は、図8のX−Z平面内
で回転可能なテーブルである。したがって、パターニン
グ装置10aにおいては、溝形成工具15もX−Z平面
内で回転可能である。
The rotary table 80 is a table that can rotate in the XZ plane of FIG. Therefore, in the patterning device 10a, the groove forming tool 15 is also rotatable in the XZ plane.

【0040】実施形態2のパターニング装置10aでは
溝形成工具15を回転できるため、溝形成工具15の接
触面と薄膜とがなす角度を自由に調整することができ
る。したがって、以下の実施形態で説明するように、パ
ターニングを特に信頼性よく行うことができる。また、
パターニング装置10aによれば、溝形成工具15の接
触面と薄膜とがなす角度を、薄膜の種類や膜厚に応じて
変化させることができるため、さまざまな薄膜を信頼性
よくパターニングすることができる。
In the patterning apparatus 10a of the second embodiment, since the groove forming tool 15 can be rotated, the angle between the contact surface of the groove forming tool 15 and the thin film can be freely adjusted. Therefore, as described in the following embodiment, patterning can be performed with particularly high reliability. Also,
According to the patterning device 10a, the angle formed between the contact surface of the groove forming tool 15 and the thin film can be changed according to the type and thickness of the thin film, so that various thin films can be patterned with high reliability. .

【0041】(実施形態3)実施形態3では、本発明の
集積型薄膜太陽電池の製造方法について、一例を説明す
る。
Embodiment 3 In Embodiment 3, an example of a method for manufacturing an integrated thin-film solar cell of the present invention will be described.

【0042】実施形態3の太陽電池の製造方法では、ま
ず、図9(a)に示すように、絶縁性基板90の一主面
上に下部電極膜91を形成したのち、下部電極膜91を
短冊状に分割する。下部電極膜91は、たとえばMo薄
膜からなり、スパッタリング法や蒸着法によって形成で
きる。下部電極膜91の膜厚は、たとえば0.5μm〜
2.0μmである。また、下部電極膜91を短冊状に分
割する工程は、たとえば、レーザビームL1を用いたレ
ーザスクライブ法によって行うことができる。
In the method for manufacturing a solar cell according to Embodiment 3, first, as shown in FIG. 9A, a lower electrode film 91 is formed on one main surface of an insulating substrate 90, and then the lower electrode film 91 is formed. Divide into strips. The lower electrode film 91 is made of, for example, a Mo thin film and can be formed by a sputtering method or an evaporation method. The thickness of the lower electrode film 91 is, for example, 0.5 μm to
2.0 μm. The step of dividing the lower electrode film 91 into strips can be performed, for example, by a laser scribe method using a laser beam L1.

【0043】その後、図9(b)に示すように、半導体
膜92を形成し、半導体膜92のうちストライプ状に除
去すべき部分の外周部(両側)に溝aを形成する。半導
体薄膜82は、p型半導体膜およびn型半導体膜(化合
物膜)からなるpn接合を含む。p型半導体膜として
は、たとえば、I族元素とIII族元素とVI族元素とを含
む化合物半導体膜を用いることができる。具体的には、
たとえばCuInSe2(CIS)膜、Cu(In,G
a)Se2(CIGS)膜またはCuInS2などのカル
コパイライト構造半導体膜を、蒸着法またはスパッタリ
ング法等によって成膜すればよい。n型半導体膜(化合
物膜)としては、たとえば、CdS、ZnO、Zn
(O,OH)、Zn(O,OH,S)等のように、II族
元素およびVI族元素を含む化合物からなる膜を、化学析
出法またはスパッタリング法等で形成すればよい。
Thereafter, as shown in FIG. 9B, a semiconductor film 92 is formed, and a groove a is formed in the outer peripheral portion (both sides) of a portion of the semiconductor film 92 to be removed in a stripe shape. The semiconductor thin film 82 includes a pn junction composed of a p-type semiconductor film and an n-type semiconductor film (compound film). As the p-type semiconductor film, for example, a compound semiconductor film containing a Group I element, a Group III element, and a Group VI element can be used. In particular,
For example, CuInSe 2 (CIS) film, Cu (In, G
a) A chalcopyrite structure semiconductor film such as a Se 2 (CIGS) film or CuInS 2 may be formed by an evaporation method, a sputtering method, or the like. As the n-type semiconductor film (compound film), for example, CdS, ZnO, Zn
A film made of a compound containing a group II element and a group VI element such as (O, OH), Zn (O, OH, S) may be formed by a chemical deposition method, a sputtering method, or the like.

【0044】その後、図9(c)に示すように、半導体
膜92のうち除去すべき部分をストライプ状に除去す
る。図9(b)および(c)の工程を、図10を用いて
説明する。図9(b)の工程では、まず、図10(a)
および(b)に示すように、ダイヤモンドピンなどの溝
形成工具を用いて除去しようとする部分の両側に溝aを
形成する。このとき、下部電極膜91のMo膜は硬度が
高いため、溝aはMo膜をストッパーとして半導体膜9
2のみに溝aが形成される。その後、図10(c)に示
すように、スクレイパーなどの剥離工具を用いて除去し
ようとする部分の半導体膜92を剥離する。なお、溝を
形成する際の加工負荷および半導体膜92を剥離する際
の加工負荷は、膜へのダメージがより少なくなるように
調整する。加工負荷は、たとえば、100mN程度であ
る。このようにして、半導体膜92の一部をストライプ
状に除去し、半導体膜92を短冊状に分割する。
Thereafter, as shown in FIG. 9C, portions of the semiconductor film 92 to be removed are removed in a stripe shape. The steps in FIGS. 9B and 9C will be described with reference to FIG. In the step of FIG. 9B, first, FIG.
As shown in (b), grooves a are formed on both sides of the portion to be removed using a groove forming tool such as a diamond pin. At this time, since the Mo film of the lower electrode film 91 has high hardness, the groove a is formed by using the Mo film as a stopper and the semiconductor film 9.
The groove a is formed only in the groove 2. Thereafter, as shown in FIG. 10C, the portion of the semiconductor film 92 to be removed is peeled off using a peeling tool such as a scraper. Note that the processing load for forming the groove and the processing load for peeling the semiconductor film 92 are adjusted so that damage to the film is reduced. The processing load is, for example, about 100 mN. Thus, a part of the semiconductor film 92 is removed in a stripe shape, and the semiconductor film 92 is divided into strips.

【0045】その後、図9(d)に示すように、半導体
膜92および半導体膜92が除去されて露出した下部電
極膜91を覆うように上部電極膜93を形成する。上部
電極膜93としては、たとえばZnO膜、ZnO:Al
膜、ITO膜等をスパッタリング法によって形成すれば
よい。上部電極膜93は、半導体膜92の分割部分を通
じて下部電極膜91と電気的に接続する。
Thereafter, as shown in FIG. 9D, an upper electrode film 93 is formed so as to cover the semiconductor film 92 and the lower electrode film 91 exposed by removing the semiconductor film 92. As the upper electrode film 93, for example, a ZnO film, ZnO: Al
A film, an ITO film, or the like may be formed by a sputtering method. The upper electrode film 93 is electrically connected to the lower electrode film 91 through a divided portion of the semiconductor film 92.

【0046】その後、図9(e)に示すように、半導体
膜92および上部電極膜93の一部をストライプ状に除
去することによって、半導体膜92および上部電極膜9
3を短冊状に分割する。このときの工程を図11に示
す。図9(e)の工程では、まず、図11(a)および
(b)に示すように、ダイヤモンドピンなどの溝形成工
具を用いて除去しようとする部分の両側に溝を形成す
る。このとき、下部電極膜91のMo膜は硬度が高いた
め、Mo膜をストッパーとして半導体膜92および上部
電極膜93のみに溝が形成される。その後、図11
(c)に示すように、スクレイパーなどの剥離工具を用
いて除去しようとする部分の上部電極膜93を剥離す
る。このとき、半導体膜92が下部電極膜91よりも軟
らかいため、上部電極膜93とともに半導体膜92が除
去される。なお、V字溝を形成する際の加工負荷および
上部電極膜93を剥離する際の加工負荷は、膜へのダメ
ージがより少なくなるように調整する。このようにし
て、上部電極膜93の一部をストライプ状に除去し、半
導体膜92および上部電極膜93を短冊状に分割する。
Thereafter, as shown in FIG. 9E, the semiconductor film 92 and the upper electrode film 9 are removed by removing a part of the semiconductor film 92 and the upper electrode film 93 in a stripe shape.
3 is divided into strips. The process at this time is shown in FIG. In the step of FIG. 9E, first, as shown in FIGS. 11A and 11B, grooves are formed on both sides of a portion to be removed using a groove forming tool such as a diamond pin. At this time, since the Mo film of the lower electrode film 91 has high hardness, a groove is formed only in the semiconductor film 92 and the upper electrode film 93 using the Mo film as a stopper. Then, FIG.
As shown in (c), the portion of the upper electrode film 93 to be removed is peeled using a peeling tool such as a scraper. At this time, since the semiconductor film 92 is softer than the lower electrode film 91, the semiconductor film 92 is removed together with the upper electrode film 93. The processing load for forming the V-shaped groove and the processing load for peeling off the upper electrode film 93 are adjusted so that damage to the film is further reduced. Thus, a part of the upper electrode film 93 is removed in a stripe shape, and the semiconductor film 92 and the upper electrode film 93 are divided into strips.

【0047】上記図10および11の工程は、実施形態
1または2で説明したパターニング装置10または10
aを用いて容易に行うことができる。
The steps shown in FIGS. 10 and 11 correspond to the patterning device 10 or 10 described in the first or second embodiment.
This can be easily performed using a.

【0048】このようにして、集積型薄膜太陽電池が形
成される。図9(e)の集積型薄膜太陽電池では、各太
陽電池ユニットセル94の上部電極膜93が、隣接する
太陽電池ユニットセル94の下部電極膜91と接続する
ことによって、各太陽電池ユニットセル94が直列接続
している。図9(e)の集積型薄膜太陽電池の一部平面
図を図12に示す。
Thus, an integrated thin-film solar cell is formed. In the integrated thin-film solar cell of FIG. 9E, the upper electrode film 93 of each solar cell unit cell 94 is connected to the lower electrode film 91 of the adjacent solar cell unit cell 94, so that each solar cell unit cell 94 Are connected in series. FIG. 12 shows a partial plan view of the integrated thin-film solar cell of FIG.

【0049】なお、図9(b)および(e)の工程にお
いて、除去すべき膜に形成される溝aについて、好まし
い形状および好ましい形成方法を以下に説明する。
In the steps shown in FIGS. 9B and 9E, a preferred shape and a preferred method of forming the groove a formed in the film to be removed will be described below.

【0050】溝aの構造は、断面略V字状で左右非対称
の形状であることが好ましい。除去すべき部分の両側に
形成された2つの溝aの好ましい構造の一例について、
溝aに垂直な方向の断面図を図13に示す。なお、図1
3では、理解を容易にするためハッチングを省略する。
図13を参照して、好ましい溝aは、膜が除去される一
部の側の第1の側面a1と第1の側面a1とは異なる第
2の側面a2とによって形成されており、第1の側面a
1と絶縁性基板90の一主面(半導体膜92の一主面と
略平行である)とがなす角度の平均値θa1(平均角度
θa1)は、第2の側面a2と絶縁性基板90の一主面
とがなす角度の平均値θa2(以下、平均角度θa2と
いう)よりも小さい。平均角度θa1は、30度以下で
あることが特に好ましい。また、平均角度θa2は、6
0度以上90度以下であることが特に好ましい。
The structure of the groove a is preferably substantially V-shaped in cross section and asymmetrical in the left-right direction. Regarding an example of a preferable structure of two grooves a formed on both sides of a portion to be removed,
FIG. 13 shows a sectional view in a direction perpendicular to the groove a. FIG.
3, the hatching is omitted for easy understanding.
Referring to FIG. 13, a preferred groove a is formed by a first side surface a1 on a part of the side from which the film is removed and a second side surface a2 different from the first side surface a1, and Side a
1 and one principal surface of the insulating substrate 90 (substantially parallel to one principal surface of the semiconductor film 92), the average value θa1 (average angle θa1) of the second side surface a2 and the insulating substrate 90 It is smaller than the average value θa2 of the angles formed by one main surface (hereinafter, referred to as average angle θa2). The average angle θa1 is particularly preferably 30 degrees or less. The average angle θa2 is 6
It is particularly preferable that the angle is 0 degree or more and 90 degrees or less.

【0051】上記好ましい溝aは、溝形成工具15を所
定の角度で除去される膜に押圧しながら移動させること
によって形成できる。この場合の好ましい工程の一例に
ついて、図14を用いて説明する。図14(a)は除去
される膜の側から溝形成工具15の一例を見た図であ
り、図14(b)は図14(a)の線X−X’における
断面図であり、図14(c)は図14(b)の線Y−
Y’における断面図である。なお、図14においては溝
形成工具15のハッチングを省略している。
The preferable groove a can be formed by moving the groove forming tool 15 at a predetermined angle while pressing the film to be removed. An example of a preferable process in this case will be described with reference to FIG. FIG. 14A is a view of an example of the groove forming tool 15 from the side of the film to be removed, and FIG. 14B is a cross-sectional view taken along line XX ′ of FIG. 14 (c) is a line Y- in FIG. 14 (b).
It is sectional drawing in Y '. In FIG. 14, hatching of the groove forming tool 15 is omitted.

【0052】図14(a)に示すように、溝形成工具1
5の先端は略三角錐状になっており、膜に接触する接触
面15aは、第1の面15bと第2の面15cとによっ
て形成されている。そして、接触面15aを膜に押圧し
ながら移動させることによって膜にV字溝を形成するこ
とができる。
As shown in FIG. 14A, the groove forming tool 1
5 has a substantially triangular pyramid shape, and a contact surface 15a that contacts the film is formed by a first surface 15b and a second surface 15c. Then, a V-shaped groove can be formed in the film by moving the contact surface 15a while pressing the film.

【0053】図14(b)に示すように、接触面15a
と除去される膜(半導体膜92)の一主面とがなす角度
のうち溝形成工具15を移動させる方向の角度の平均値
θh(平均角度θh)は15度以下であることが好まし
い。また、溝形成工具15の角度α(進行方向と平行な
方向の接触面の角度)は、75度以上120度以下であ
ることが好ましい。角度αを75度以上120度以下と
することによって、溝形成工具15と膜との接触面積を
大きくすることができ、溝を形成する際に除去すべきで
ない部分の膜が剥離することを防止できる。
As shown in FIG. 14B, the contact surface 15a
It is preferable that the average value θh (average angle θh) of the angle in the direction in which the groove forming tool 15 is moved among the angles formed by the main surface of the film to be removed (semiconductor film 92) is 15 degrees or less. The angle α of the groove forming tool 15 (the angle of the contact surface in a direction parallel to the traveling direction) is preferably 75 degrees or more and 120 degrees or less. By setting the angle α to 75 degrees or more and 120 degrees or less, the contact area between the groove forming tool 15 and the film can be increased, and the film that should not be removed when forming the groove is prevented from peeling. it can.

【0054】図14(c)に示すように、溝を形成する
際には、膜が除去される部分の側の第1の面15bと除
去する膜の一主面(絶縁性基板90の一主面と略平行で
ある)とがなす角度の平均値θv1(平均角度θv1)
が、第2の面15cと除去する膜の一主面とがなす角度
の平均値θv2(平均角度θv2)よりも小さいことが
好ましい。平均角度θv1は、30度以下であることが
好ましい。平均角度θv2は、60度以上90度以下で
あることが好ましい。図14に示す工程は、実施形態2
で説明したパターニング装置10aを用いることによっ
て、容易に実施することができる。すなわち、ストライ
プ状に除去する部分の両側に2本の溝aを形成する際
に、溝形成工具15を除去する部分の側に傾けて最初の
溝aを形成したのち、溝形成工具15を反対側に傾けて
第2の溝aを形成すればよい。
As shown in FIG. 14C, when forming the groove, the first surface 15b on the side where the film is to be removed and one main surface of the film to be removed (one surface of the insulating substrate 90). Average value θv1 (average angle θv1) of the angle formed by the main surface and the main surface).
Is preferably smaller than the average value θv2 (average angle θv2) of the angle formed between the second surface 15c and one main surface of the film to be removed. The average angle θv1 is preferably equal to or less than 30 degrees. The average angle θv2 is preferably not less than 60 degrees and not more than 90 degrees. The process shown in FIG.
By using the patterning device 10a described in the above section, it can be easily implemented. That is, when forming two grooves a on both sides of the portion to be removed in a stripe shape, the first groove a is formed by inclining to the side of the portion from which the groove forming tool 15 is to be removed, and then the groove forming tool 15 is reversed. The second groove a may be formed to be inclined to the side.

【0055】上記実施形態3で説明した集積型薄膜太陽
電池の製造方法によれば、半導体膜または上部電極膜を
パターニングする工程において、溝形成工具によって薄
膜へのダメージが少ない溝を形成したのちに剥離工具に
よって薄膜を剥離してパターニングするため、剥離工程
において剥離部分以外に欠け、クラック、膜剥離等が生
じない。したがって、上記製造方法によれば、特性が高
い集積型薄膜太陽電池を歩留まりよく製造できる。さら
に、図13で説明した溝を形成した場合、または図14
で説明した方法で溝を形成した場合には、特性および歩
留まりが特に高い集積型太陽電池を製造できる。
According to the method of manufacturing the integrated thin-film solar cell described in the third embodiment, in the step of patterning the semiconductor film or the upper electrode film, after forming the groove with less damage to the thin film by the groove forming tool, Since the thin film is peeled off and patterned by a peeling tool, the thin film is not chipped except at the peeled portion in the peeling step, and cracks and film peeling do not occur. Therefore, according to the manufacturing method, an integrated thin-film solar cell having high characteristics can be manufactured with high yield. Further, when the groove described with reference to FIG.
In the case where the grooves are formed by the method described above, an integrated solar cell having particularly high characteristics and high yield can be manufactured.

【0056】なお、上記実施形態2では、半導体膜92
を除去する工程(図9(b)および(c))、ならびに
半導体膜92および上部電極膜93を除去する工程(図
9(e))の両工程において、本発明の特徴である上記
パターニング方法を用いる場合を示したが、いずれか一
つの工程において上記パターニング方法を用いることに
より、従来の製造方法と比較して、特性が高い集積型薄
膜太陽電池を歩留まりよく製造できる。
In the second embodiment, the semiconductor film 92
9 (b) and 9 (c)) and the step of removing the semiconductor film 92 and the upper electrode film 93 (FIG. 9 (e)). However, by using the patterning method in any one of the steps, an integrated thin-film solar cell having higher characteristics can be manufactured with higher yield than in the conventional manufacturing method.

【0057】[0057]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の集積型薄
膜太陽電池の製造方法によれば、特性が高い集積型薄膜
太陽電池を歩留まりよく製造できる。
As described above, according to the method for manufacturing an integrated thin-film solar cell of the present invention, an integrated thin-film solar cell having high characteristics can be manufactured with high yield.

【0058】また、本発明のパターニング装置によれ
ば、薄膜へのダメージが少なく、高精度なパターニング
が可能であり、特性が高い集積型太陽電池を歩留まりよ
く製造できる。
Further, according to the patterning apparatus of the present invention, it is possible to manufacture an integrated type solar cell having high characteristics with little damage to a thin film, high precision patterning, and high characteristics.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明のパターニング装置について一例を示
す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of a patterning device of the present invention.

【図2】 本発明のパターニング装置について溝形成工
具の一例を示す図である。
FIG. 2 is a view showing an example of a groove forming tool for the patterning apparatus of the present invention.

【図3】 本発明のパターニング装置について溝形成工
具の他の一例を示す図である。
FIG. 3 is a view showing another example of a groove forming tool for the patterning apparatus of the present invention.

【図4】 本発明のパターニング装置について溝形成工
具の機能を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a function of a groove forming tool in the patterning apparatus of the present invention.

【図5】 本発明のパターニング装置についてスクレイ
パーの機能を示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing a function of a scraper in the patterning apparatus of the present invention.

【図6】 本発明のパターニング装置について溝形成工
具とスクレイパーの配置の一例を示す模式図である。
FIG. 6 is a schematic view showing an example of an arrangement of a groove forming tool and a scraper in the patterning apparatus of the present invention.

【図7】 本発明のパターニング装置について工具の一
例を示す図である。
FIG. 7 is a view showing an example of a tool for the patterning apparatus of the present invention.

【図8】 本発明のパターニング装置について他の一例
を示す斜視図である。
FIG. 8 is a perspective view showing another example of the patterning apparatus of the present invention.

【図9】 本発明の集積型薄膜太陽電池の製造方法につ
いて一例を示す工程図である。
FIG. 9 is a process chart showing an example of a method for manufacturing an integrated thin-film solar cell of the present invention.

【図10】 本発明の集積型薄膜太陽電池の製造方法に
ついて製造工程を示す斜視図である。
FIG. 10 is a perspective view showing a manufacturing process in the method of manufacturing an integrated thin-film solar cell according to the present invention.

【図11】 本発明の集積型薄膜太陽電池の製造方法に
ついて他の製造工程を示す斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing another manufacturing step in the method for manufacturing an integrated thin-film solar cell of the present invention.

【図12】 本発明の集積型薄膜太陽電池の製造方法に
ついて製造された太陽電池の一例を示す一部平面図であ
る。
FIG. 12 is a partial plan view showing an example of a solar cell manufactured by the method for manufacturing an integrated thin-film solar cell of the present invention.

【図13】 本発明の集積型太陽電池の製造方法につい
て形成された溝の一例を示す断面図である。
FIG. 13 is a cross-sectional view illustrating an example of a groove formed in the method of manufacturing an integrated solar cell according to the present invention.

【図14】 本発明の集積型太陽電池の製造方法につい
て溝の形成方法の一例を示す図である。
FIG. 14 is a diagram illustrating an example of a method of forming a groove in the method of manufacturing an integrated solar cell according to the present invention.

【図15】 従来の集積型薄膜太陽電池の製造方法につ
いて一例を示す工程図である。
FIG. 15 is a process chart showing an example of a conventional method for manufacturing an integrated thin-film solar cell.

【図16】 従来の集積型薄膜太陽電池の製造方法につ
いて製造工程の一例を示す図である。
FIG. 16 is a diagram showing an example of a manufacturing process for a conventional method for manufacturing an integrated thin-film solar cell.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、10a パターニング装置 12 基板ステージ 15 溝形成工具 15a 接触面 15b 第1の面 15c 第2の面 16 スクレイパー(剥離工具) 20 基板 80 回転テーブル 90 絶縁性基板 91 下部電極膜 92 半導体膜 93 上部電極膜 94 太陽電池ユニットセル a 溝 a1 第1の側面 a2 第2の側面 θa1、θa2、θh、θv1、θv2 平均角度 10, 10a Patterning device 12 Substrate stage 15 Groove forming tool 15a Contact surface 15b First surface 15c Second surface 16 Scraper (peeling tool) 20 Substrate 80 Rotary table 90 Insulating substrate 91 Lower electrode film 92 Semiconductor film 93 Upper electrode Film 94 solar cell unit cell a groove a1 first side surface a2 second side surface θa1, θa2, θh, θv1, θv2 average angle

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 根上 卓之 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 高橋 正行 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 北川 雅俊 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5F051 EA02 EA10 EA11 EA13  ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor Takuyuki Negami 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Masatoshi Kitagawa 1006 Kazuma Kadoma, Kadoma-shi, Osaka Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. F-term (reference) 5F051 EA02 EA10 EA11 EA13

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 直列接続された2以上の太陽電池ユニッ
トセルを絶縁性基板上に形成する集積型薄膜太陽電池の
製造方法であって、 前記絶縁性基板の一主面上に下部電極膜を形成したの
ち、前記下部電極膜を短冊状に分割する第1の工程と、 前記下部電極膜上に、pn接合を含む半導体膜を形成す
る第2の工程と、 前記半導体膜の一部をストライプ状に除去することによ
って前記半導体膜を短冊状に分割する第3の工程と、 前記半導体膜および前記半導体膜が除去されて露出した
前記下部電極膜上に上部電極膜を形成する第4の工程
と、 前記半導体膜および前記上部電極膜の一部を共にストラ
イプ状に除去することによって前記上部電極膜を短冊状
に分割する第5の工程とを含み、 前記第3および第5の工程から選ばれる少なくとも一つ
の工程は、除去される前記一部の外周部に溝を形成し前
記一部を剥離する工程を含むことを特徴とする集積型薄
膜太陽電池の製造方法。
1. A method for manufacturing an integrated thin-film solar cell, comprising forming two or more solar cell unit cells connected in series on an insulating substrate, comprising: forming a lower electrode film on one main surface of the insulating substrate. A first step of dividing the lower electrode film into strips after forming, a second step of forming a semiconductor film including a pn junction on the lower electrode film, and striping a part of the semiconductor film. A third step of dividing the semiconductor film into strips by removing the semiconductor film, and a fourth step of forming an upper electrode film on the semiconductor film and the lower electrode film exposed by removing the semiconductor film. And a fifth step of dividing the upper electrode film into strips by removing both the semiconductor film and a part of the upper electrode film in a stripe shape, wherein the fifth step is selected from the third and fifth steps. At least one The method includes a step of forming a groove in an outer peripheral portion of the part to be removed and exfoliating the part.
【請求項2】 前記溝が、除去される前記一部の側の第
1の側面と前記第1の側面とは異なる第2の側面とによ
って形成された断面略V字状の溝であり、 前記絶縁性基板の前記一主面と前記第1の側面とがなす
平均角度が、前記絶縁性基板の前記一主面と前記第2の
側面とがなす平均角度よりも小さい請求項1に記載の集
積型薄膜太陽電池の製造方法。
2. The groove is a substantially V-shaped groove formed by a first side surface on the partial side to be removed and a second side surface different from the first side surface, The average angle formed between the one main surface of the insulating substrate and the first side surface is smaller than the average angle formed between the one main surface and the second side surface of the insulating substrate. Method for manufacturing an integrated thin-film solar cell.
【請求項3】 前記絶縁性基板の前記一主面と前記第1
の側面とがなす平均角度が30度以下であり、前記絶縁
性基板の前記一主面と前記第2の側面とがなす平均角度
が60度以上90度以下である請求項2に記載の集積型
薄膜太陽電池の製造方法。
3. The first main surface of the insulating substrate and the first main surface of the insulating substrate.
The integrated angle according to claim 2, wherein an average angle formed by the side surface of the insulating substrate is 30 degrees or less, and an average angle formed by the one main surface of the insulating substrate and the second side surface is 60 degrees or more and 90 degrees or less. Method of manufacturing a thin-film solar cell.
【請求項4】 前記溝の形成は、2つの面によって形成
された断面略V字状の接触面を有する溝形成工具を、除
去する膜に前記接触面を押圧しながら移動させることに
よって行われ、 前記溝を形成する際に、前記接触面を形成する面であっ
て除去される前記一部の側の第1の面と前記除去する膜
の一主面とがなす平均角度が、前記接触面を形成する面
であって前記第1の面とは異なる第2の面と前記除去す
る膜の一主面とがなす平均角度よりも小さい状態で前記
溝形成工具を移動させる請求項1に記載の集積型薄膜太
陽電池の製造方法。
4. The formation of the groove is performed by moving a groove forming tool having a contact surface having a substantially V-shaped cross section formed by two surfaces while pressing the contact surface against a film to be removed. When forming the groove, the average angle between the first surface of the part of the film to be removed, which is a surface forming the contact surface, and one main surface of the film to be removed is equal to the contact angle. 2. The groove forming tool according to claim 1, wherein the groove forming tool is moved in a state smaller than an average angle formed by a second surface different from the first surface and a main surface of the film to be removed. A method for producing the integrated thin-film solar cell according to the above.
【請求項5】 前記除去する膜の一主面と前記第1の面
とがなす平均角度が30度以下であり、前記除去する膜
の一主面と前記第2の面とがなす平均角度が60度以上
90度以下である請求項4に記載の集積型薄膜太陽電池
の製造方法。
5. An average angle between one main surface of the film to be removed and the first surface is 30 degrees or less, and an average angle between one main surface of the film to be removed and the second surface. 5. The method for producing an integrated thin-film solar cell according to claim 4, wherein the angle is not less than 60 degrees and not more than 90 degrees.
【請求項6】 前記溝を形成する際に、前記除去する膜
の一主面と前記溝形成工具とがなす角度のうち、前記溝
形成工具を移動させる方向の角度の平均角度が、15度
以下の状態で前記溝形成工具を移動させる請求項4また
は5に記載の集積型薄膜太陽電池の製造方法。
6. An average angle of a direction in which the groove forming tool is moved out of angles formed by one main surface of the film to be removed and the groove forming tool when forming the groove is 15 degrees. The method for manufacturing an integrated thin-film solar cell according to claim 4 or 5, wherein the groove forming tool is moved in the following state.
【請求項7】 前記半導体膜が、I族元素とIII族元素
とVI族元素とを含む化合物半導体膜と、II族元素とVI族
元素とを含み前記化合物半導体膜に積層された化合物膜
とを含む請求項1ないし6のいずれかに記載の集積型薄
膜太陽電池の製造方法。
7. The compound semiconductor film according to claim 1, wherein the semiconductor film includes a compound semiconductor film including a group I element, a group III element, and a group VI element, and a compound film including a group II element and a group VI element and stacked on the compound semiconductor film. The method for manufacturing an integrated thin-film solar cell according to claim 1, comprising:
【請求項8】 基板上に形成された薄膜をパターニング
するためのパターニング装置であって、 前記基板を保持する基板ステージと、前記薄膜に溝を形
成するための溝形成工具と、溝が形成された前記薄膜を
剥離する剥離工具とを含むことを特徴とするパターニン
グ装置。
8. A patterning apparatus for patterning a thin film formed on a substrate, comprising: a substrate stage for holding the substrate; a groove forming tool for forming a groove in the thin film; A stripping tool for stripping the thin film.
【請求項9】 前記溝形成工具および前記剥離工具なら
びに前記基板ステージから選ばれる少なくとも一つが、
前記薄膜が形成された前記基板の一主面と平行な方向に
可動であり、 前記溝形成工具および前記剥離工具ならびに前記基板ス
テージから選ばれる少なくとも一つが、前記一主面と垂
直な方向に可動である請求項8に記載のパターニング装
置。
9. At least one selected from the groove forming tool, the peeling tool, and the substrate stage,
The thin film is movable in a direction parallel to one main surface of the substrate, and at least one selected from the groove forming tool, the peeling tool, and the substrate stage is movable in a direction perpendicular to the one main surface. The patterning apparatus according to claim 8, wherein
【請求項10】 加工負荷調整手段をさらに含み、 前記溝形成工具および前記剥離工具は、前記加工負荷調
整手段によって前記薄膜を加工する負荷が調整される請
求項8または9に記載のパターニング装置。
10. The patterning apparatus according to claim 8, further comprising a processing load adjusting unit, wherein a load for processing the thin film in the groove forming tool and the peeling tool is adjusted by the processing load adjusting unit.
【請求項11】 回転可能な工具保持部をさらに含み、 前記溝形成工具が前記工具保持部によって回転可能に保
持されている請求項8ないし10のいずれかに記載のパ
ターニング装置。
11. The patterning apparatus according to claim 8, further comprising a rotatable tool holder, wherein the groove forming tool is rotatably held by the tool holder.
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