JP2000307023A - Production of printed wiring board - Google Patents

Production of printed wiring board

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JP2000307023A
JP2000307023A JP11112184A JP11218499A JP2000307023A JP 2000307023 A JP2000307023 A JP 2000307023A JP 11112184 A JP11112184 A JP 11112184A JP 11218499 A JP11218499 A JP 11218499A JP 2000307023 A JP2000307023 A JP 2000307023A
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wiring board
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和仁 山田
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洋一郎 川村
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods
    • H01L2224/11001Involving a temporary auxiliary member not forming part of the manufacturing apparatus, e.g. removable or sacrificial coating, film or substrate
    • H01L2224/11005Involving a temporary auxiliary member not forming part of the manufacturing apparatus, e.g. removable or sacrificial coating, film or substrate for aligning the bump connector, e.g. marks, spacers

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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make uniform the shape and height of solder bump without causing short circuit between solder bumps by performing solder paste printing for solder bump forming pads while subdividing into a plurality of printing times so that solder bumps dealing with fine pitch and fine patterning can be formed. SOLUTION: An opening 21b is formed only at a part facing a part of all solder bump forming pads. First time printing is performed using a mask 21 having a wide interval between openings and second time and subsequent printing are performed using a mask where the bump forming pads not printed during first time printing are opened. Since no mechanical problem occur at the opening 21b of the mask 21, strength of the mask 21 can be sustained and since the mask 21 is not damaged nor warped during solder printing, lifetime of the mask 21 is prolonged. Furthermore, insufficient removal and blurring of solder paste due to warpage are eliminated and the yield is increased in the formation of solder bumps.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ソルダーレジスト
層に形成した半田バンプ形成用パッド上に半田ペースト
を印刷する方法に特徴を有するプリント配線板の製造方
法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a printed wiring board, which is characterized by a method of printing a solder paste on a solder bump forming pad formed on a solder resist layer.

【0002】[0002]

【従来の技術】いわゆる多層ビルドアップ配線基板と呼
ばれる多層プリント配線板は、セミアディティブ法等に
より製造されており、コアと呼ばれる0.5〜1.5m
m程度のガラスクロス等で補強された樹脂基板の上に、
銅等による導体回路と層間樹脂絶縁層とを交互に積層す
ることにより作製される。この多層プリント配線板の層
間樹脂絶縁層を介した導体回路間の接続は、バイアホー
ルにより行われている。
2. Description of the Related Art A multilayer printed wiring board called a so-called multilayer build-up wiring board is manufactured by a semi-additive method or the like.
m on a resin substrate reinforced with glass cloth, etc.
It is manufactured by alternately laminating a conductor circuit made of copper or the like and an interlayer resin insulating layer. The connection between the conductor circuits via the interlayer resin insulation layer of the multilayer printed wiring board is performed by via holes.

【0003】従来、ビルドアップ多層プリント配線板
は、例えば、特開平9−130050号公報等に開示さ
れた方法により製造されている。すなわち、まず、銅箔
が貼り付けられた銅貼積層板に貫通孔を形成し、続いて
無電解銅めっき処理を施すことによりスルーホールを形
成する。続いて、基板の表面をフォトリソグラフィーの
手法を用いて導体パターン状にエッチング処理して導体
回路を形成する。次に、形成された導体回路の表面に、
無電解めっきやエッチング等により粗化面を形成し、そ
の粗化面を有する導体回路上に絶縁樹脂層を形成した
後、露光、現像処理を行ってバイアホール用開口を形成
し、その後、UV硬化、本硬化を経て層間樹脂絶縁層を
形成する。
Conventionally, build-up multilayer printed wiring boards have been manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-130050. That is, first, a through-hole is formed in the copper-clad laminate on which the copper foil is stuck, and then a through-hole is formed by performing an electroless copper plating process. Subsequently, the surface of the substrate is etched into a conductor pattern using a photolithography technique to form a conductor circuit. Next, on the surface of the formed conductor circuit,
After forming a roughened surface by electroless plating or etching, forming an insulating resin layer on the conductor circuit having the roughened surface, performing exposure and development processing to form a via hole opening, and then UV After curing and main curing, an interlayer resin insulating layer is formed.

【0004】さらに、層間樹脂絶縁層に酸や酸化剤など
により粗化形成処理を施した後、薄い無電解めっき膜を
形成し、この無電解めっき膜上にめっきレジストを形成
した後、電解めっきにより厚付けを行い、めっきレジス
ト剥離後にエッチングを行って、下層の導体回路とバイ
アホールにより接続された導体回路を形成する。これを
繰り返した後、最後に導体回路を保護するためのソルダ
ーレジスト層を形成し、ICチップ等の電子部品やマザ
ーボード等との接続のために開口を露出させた部分にめ
っき等を施した後、半田ペーストを印刷してICチップ
等の電子部品側に半田バンプを形成することにより、ビ
ルドアップ多層プリント配線板を製造する。また、必要
に応じて、マザーボード側にも、半田バンプを形成す
る。
Further, after performing a roughening treatment on the interlayer resin insulating layer with an acid or an oxidizing agent, a thin electroless plating film is formed, a plating resist is formed on the electroless plating film, and then an electrolytic plating is performed. Then, etching is performed after the plating resist is stripped to form a conductive circuit connected to the lower conductive circuit by a via hole. After repeating this, finally, a solder resist layer for protecting the conductor circuit is formed, and a portion where the opening is exposed for connection with an electronic component such as an IC chip or a motherboard is plated. Then, a solder paste is printed to form solder bumps on the electronic component side such as an IC chip, thereby producing a build-up multilayer printed wiring board. Also, if necessary, solder bumps are formed on the motherboard side.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】近年、ICチップなど
の電子部品の高密度化、高集積化に伴い、電子部品のバ
ンプの狭ピッチ化、ファイン化が進行しており、それに
伴い、基板側の半田バンプも同様に狭ピッチ化、ファイ
ン化が要望されている。
In recent years, as electronic components such as IC chips have become denser and more highly integrated, the pitch of electronic component bumps has become narrower and finer. Similarly, there is a demand for narrower pitch and finer solder bumps.

【0006】しかしながら、従来では、ソルダーレジス
トに形成した半田バンプ形成用パッドに対向する部分が
開口されたマスクを用い、このマスクをソルダーレジス
ト層に載置した後に半田ペーストを印刷し、リフローす
ることにより半田バンプを形成していたため、半田バン
プ形成用パッドが狭ピッチ化、ファイン化されると、以
下のような不都合が生じた。
However, conventionally, a mask having an opening at a portion facing a solder bump forming pad formed on a solder resist is used, and after mounting this mask on a solder resist layer, a solder paste is printed and reflowed. Therefore, when the pitch of the solder bump forming pad is made narrower and finer, the following inconvenience occurs.

【0007】すなわち、上記半田バンプ形成用パッドに
対応した開口を形成しようとすると、マスクの開口部間
の距離が狭くなるためマスク自体の強度が低下してしま
い、半田印刷中にマスクの破損や反りが生じることがあ
る。この場合、マスクの寿命(使用できるショット数)
が極めて短くなったり、反りにより半田ペーストの抜け
性が悪くなり、形成された半田バンプとICチップ等と
を接続させた場合、未接続部分が発生したり、バンプ間
が狭いため半田ペーストのニジミにより、半田バンプ間
での短絡が生じ、半田バンプの形成歩留りが悪くなって
いた。
That is, when an opening corresponding to the above-mentioned solder bump forming pad is to be formed, the distance between the openings of the mask is reduced, so that the strength of the mask itself is reduced. Warpage may occur. In this case, the life of the mask (number of usable shots)
The solder paste becomes extremely short, or the solder paste becomes less removable due to warpage. When the formed solder bumps are connected to an IC chip, etc., unconnected portions may occur or the solder paste may be too narrow due to the narrow gap between the bumps. As a result, a short circuit occurs between the solder bumps, and the formation yield of the solder bumps is deteriorated.

【0008】また、反り等がない場合でも、半田バンプ
間の距離が狭いため、印刷時に半田ペーストがにじむと
半田バンプ間での短絡が生じ、一方、ニジミをなくすた
めに開孔径を小さくし、マスクの厚みを厚くすると、半
田ペーストの抜け性が低下するという問題が発生してい
た。このように、従来のマスクを用いた半田ペーストの
印刷方法では、狭ピッチ、ファイン化に対応した半田バ
ンプの形成が困難になるという問題があった。
Even when there is no warpage or the like, since the distance between the solder bumps is small, if the solder paste bleeds during printing, a short circuit occurs between the solder bumps. On the other hand, the opening diameter is reduced to eliminate bleeding. When the thickness of the mask is increased, there has been a problem that the removability of the solder paste is reduced. As described above, the conventional solder paste printing method using a mask has a problem that it is difficult to form solder bumps corresponding to fine pitch and fineness.

【0009】本発明は、上記課題に鑑み、狭ピッチ化、
ファイン化に対応した半田バンプを形成することがで
き、半田バンプ間の短絡を起こさず、半田バンプの形
状、高さを均一にして、ICチップなどの電子部品との
接続を確実に行うことができる接続性、信頼性に優れた
プリント配線板を得ることを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and has a narrow pitch.
Solder bumps corresponding to fineness can be formed, short-circuit between solder bumps does not occur, the shape and height of solder bumps are made uniform, and connection with electronic components such as IC chips can be reliably performed. An object of the present invention is to obtain a printed wiring board having excellent connectivity and reliability.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】発明者は上記課題に鑑み
て鋭意研究した結果、複数のマスクを用い、半田バンプ
形成用パッドに対する半田ペーストの印刷を複数回に分
けて行うことにより、狭ピッチ化、ファイン化した半田
バンプ形成用パッドに半田ペーストを印刷する際にも、
マスクに形成する開口部間の間隔を比較的広くとること
ができ、形成する半田バンプの形状、高さを均一にする
ことができ、その結果、半田バンプ間の短絡のないプリ
ント配線板を製造することができることを見いだし、以
下に示す内容を要旨構成とする発明に到達した。
Means for Solving the Problems The inventor of the present invention has conducted intensive studies in view of the above-mentioned problems. When printing solder paste on solder bump formation pads that have been refined and refined,
The spacing between the openings formed in the mask can be made relatively wide, the shape and height of the solder bumps to be formed can be made uniform, and as a result, a printed wiring board with no short circuit between the solder bumps can be manufactured. It has been found that the present invention has the following features.

【0011】即ち、本発明のプリント配線板の製造方法
は、形成した導体回路上に層間絶縁層を形成する工程を
繰り返して、絶縁性基板上に層間絶縁層を挟んだ複数層
からなる導体回路を形成した後、最上層の導体回路上に
ソルダーレジスト層を設け、上記ソルダーレジスト層の
一部を開口して複数の半田バンプ形成用パッドを形成
し、上記半田バンプ形成用パッド上にマスクを用いて半
田ペーストを印刷し、半田バンプを形成するプリント配
線板の製造方法であって、形成された全半田バンプ形成
用パッドの一部に対向する部分にのみ開口部が形成さ
れ、開口部同士の間隔が広くとられたマスクを用いて1
回目の印刷処理を行い、2回目以降の印刷で1回目に印
刷されなかった半田バンプ形成用パッド部分が開口され
たマスクを用いて印刷処理を行うことを特徴とする。
That is, in the method of manufacturing a printed wiring board according to the present invention, the step of forming an interlayer insulating layer on the formed conductive circuit is repeated to form a conductive circuit comprising a plurality of layers with an interlayer insulating layer interposed on an insulating substrate. After forming, a solder resist layer is provided on the uppermost conductive circuit, a part of the solder resist layer is opened to form a plurality of solder bump forming pads, and a mask is formed on the solder bump forming pad. A method of manufacturing a printed wiring board, wherein a solder paste is printed using a solder paste to form solder bumps, wherein an opening is formed only in a portion facing a part of all of the formed solder bump forming pads, and the openings are formed with each other. Using a mask with a large space between
The second printing process is performed, and the printing process is performed using a mask in which a solder bump forming pad portion that is not printed in the first printing in the second and subsequent printing is opened.

【0012】上記プリント配線板の製造方法において
は、1回目の印刷で、形成された半田ペースト層の上面
がソルダーレジスト層の表面と略同一となるように半田
バンプ形成用パッドに半田ペーストを充填することが望
ましい。
In the method of manufacturing a printed wiring board, the solder paste is filled into the solder bump forming pad so that the upper surface of the formed solder paste layer is substantially the same as the surface of the solder resist layer in the first printing. It is desirable to do.

【0013】また、2回目以降の印刷では、新たに印刷
する部分のほかに、前に印刷した半田バンプ形成用パッ
ドに対向する部分にも、前に形成した開口部より小さな
開口部が設けられたマスクを用い、印刷処理を行うこと
が望ましい。
In the second and subsequent printings, an opening smaller than the previously formed opening is provided not only in a newly printed portion but also in a portion facing the previously printed solder bump forming pad. It is desirable to perform printing processing using a mask that has been set.

【0014】また、本発明では、半田ペーストの印刷工
程を全て終了した後、リフロー工程を行ってもよいが、
半田ペーストの印刷工程に続いてリフロー工程を行い、
次の半田ペーストの印刷工程を行うことが望ましい。さ
らに、本発明では、2回目以降の半田ペーストの印刷に
おいて、ソルダーレジストに当接する側の、前に形成し
た半田バンプ形成用パッドに対向する部分に凹部が形成
されたマスクを用いることが望ましい。
In the present invention, the reflow step may be performed after the solder paste printing step is completed.
Following the solder paste printing process, perform the reflow process,
It is desirable to perform the following solder paste printing process. Further, in the present invention, in the second and subsequent printing of the solder paste, it is preferable to use a mask in which a concave portion is formed in a portion which is in contact with the solder resist and which faces the previously formed solder bump forming pad.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明のプリント配線板の製造方
法は、形成した導体回路上に層間絶縁層を形成する工程
を繰り返して、絶縁性基板上に層間絶縁層を挟んだ複数
層からなる導体回路を形成した後、最上層の導体回路上
にソルダーレジスト層を設け、上記ソルダーレジスト層
の一部を開口して複数の半田バンプ形成用パッドを形成
し、上記半田バンプ形成用パッド上にマスクを用いて半
田ペーストを印刷し、半田バンプを形成するプリント配
線板の製造方法であって、形成された全半田バンプ形成
用パッドの一部に対向する部分にのみ開口部が形成さ
れ、開口部同士の間隔が広くとられたマスクを用いて1
回目の印刷処理を行い、2回目以降の印刷で1回目に印
刷されなかった半田バンプ形成用パッド部分が開口され
たマスクを用いて印刷処理を行うことを特徴とする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention comprises a plurality of layers with an interlayer insulating layer interposed on an insulating substrate by repeating a step of forming an interlayer insulating layer on the formed conductor circuit. After forming the conductive circuit, a solder resist layer is provided on the uppermost conductive circuit, a part of the solder resist layer is opened to form a plurality of solder bump forming pads, and the solder bump forming pad is formed on the solder resist layer. A method for manufacturing a printed wiring board, in which a solder paste is printed using a mask to form solder bumps, wherein an opening is formed only in a portion opposed to a part of all formed solder bump forming pads, and the opening is formed. 1 using a mask with a large space between parts
The second printing process is performed, and the printing process is performed using a mask in which a solder bump forming pad portion that is not printed in the first printing in the second and subsequent printing is opened.

【0016】ここで、「開口部同士の間隔が広くとられ
た」とは、マスクの全半田バンプ形成用パッドに対向す
る部分に開口部が形成された場合と比較して、マスクの
開口部同士の間隔が広くとられていることを意味する。
Here, "the distance between the openings is widened" means that the opening of the mask is larger than the case where the opening is formed in a portion of the mask facing all the pads for forming solder bumps. It means that the interval between them is wide.

【0017】上記プリント配線板の製造方法によれば、
マスクの開口部同士の間隔を広くとることができるの
で、マスクの開口に機械的な問題は発生せず、マスク自
体の強度を保つことができ、半田印刷中にマスクの破損
や反りが生じることもないため、マスクの寿命が長くな
り、反りによる半田ペーストの抜け不良やニジミ不良が
なくなり、半田バンプ形成の歩留りが向上する。
According to the method for manufacturing a printed wiring board,
Because the distance between the openings of the mask can be widened, there is no mechanical problem at the opening of the mask, the strength of the mask itself can be maintained, and the mask is damaged or warped during solder printing Since there is no mask, the life of the mask is prolonged, the defect of solder paste coming off and the defect of bleeding due to warpage are eliminated, and the yield of solder bump formation is improved.

【0018】また、マスク開口部の間隔が広くなるた
め、開口径を小さくする必要がなく、半田ペーストの抜
け性は良好となり、半田バンプの高さ、形状を均一に保
つことができ、ICチップなどの電子部品とバンプとの
接続を確実に行うことができる。そのため、従来よりも
狭ピッチで半田バンプを形成しても、接続性、信頼性に
優れたプリント配線板を製造することができる。
Further, since the space between the mask openings is widened, it is not necessary to reduce the opening diameter, so that the solder paste can be easily removed, and the height and shape of the solder bumps can be kept uniform. It is possible to surely connect the electronic component such as the bump to the bump. Therefore, even if the solder bumps are formed at a narrower pitch than in the related art, a printed wiring board having excellent connectivity and reliability can be manufactured.

【0019】次に、本発明のプリント配線板の製造方法
における半田バンプの形成方法について説明する。本発
明では、種々の工程の後、導体回路上にソルダーレジス
ト層を形成し、半田バンプ形成用パッドとなる部分を開
口する。この半田バンプ形成用パッドの開口は、フォト
リソグラフィーを用いた方法、レーザを用いた方法、パ
ンチングなどで行われる。平面視した開口部の形状は特
に限定されず、例えば、円形、長円形、正方形、長方形
などが挙げられるが、ソルダーレジスト層の開口形状の
安定性、設計の自由度(バンプ形成用パッド間のスペー
スが広くなり、配線を通すことができる)、半田バンプ
形状の安定性等の点から円形が望ましい。
Next, a method for forming solder bumps in the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention will be described. In the present invention, after various processes, a solder resist layer is formed on a conductor circuit, and a portion serving as a pad for forming a solder bump is opened. The opening of the pad for forming the solder bump is formed by a method using photolithography, a method using laser, punching, or the like. The shape of the opening in a plan view is not particularly limited, and includes, for example, a circle, an oval, a square, a rectangle, and the like. A circular shape is desirable from the viewpoint of increasing the space and allowing the wiring to pass through) and the stability of the solder bump shape.

【0020】なお、導体回路上には粗化層が形成されて
おり、その粗化層により、ソルダーレジスト層と導体回
路との密着が確保されている。この粗化層は、平均粗度
で0.5〜10μmが望ましく、1〜5μmがより望ま
しい。上記粗化層は、無電解めっき、エッチング、酸化
−還元処理や研磨処理などにより形成されることが望ま
しい。また、ソルダーレジスト層の厚みは、5〜70μ
mが望ましい。5μm未満である場合は、ソルダーレジ
スト層の剥がれ、クラックの発生等が起こり、70μm
を越えると開口部を形成しにくくなるからである。
A roughened layer is formed on the conductor circuit, and the roughened layer ensures the close contact between the solder resist layer and the conductor circuit. The roughened layer preferably has an average roughness of 0.5 to 10 μm, more preferably 1 to 5 μm. The roughened layer is desirably formed by electroless plating, etching, oxidation-reduction treatment, polishing treatment, or the like. The thickness of the solder resist layer is 5 to 70 μm.
m is desirable. If the thickness is less than 5 μm, the solder resist layer is peeled off, cracks occur, etc.
This is because it is difficult to form an opening when the ratio exceeds.

【0021】開口により露出した導体回路部分は、通
常、ニッケル、パラジウム、金、銀、白金等の耐食性金
属で被覆する。具体的には、ニッケル−金、ニッケル−
銀、ニッケル−パラジウム、ニッケル−パラジウム−金
などの金属により被覆層を形成する。上記被覆層は、例
えば、めっき法、蒸着法、電着法などによって形成する
が、これらのなかでは、膜の均一性という点からめっき
法が望ましい。
The conductor circuit portion exposed by the opening is usually covered with a corrosion-resistant metal such as nickel, palladium, gold, silver, and platinum. Specifically, nickel-gold, nickel-
The coating layer is formed of a metal such as silver, nickel-palladium, and nickel-palladium-gold. The coating layer is formed by, for example, a plating method, a vapor deposition method, an electrodeposition method, and the like. Among these, the plating method is preferable from the viewpoint of film uniformity.

【0022】次に、マスクを用いた半田ペーストの印刷
により、金属被覆層が形成された半田バンプ形成用パッ
ド上に半田ペースト層を形成する。
Next, a solder paste layer is formed on the solder bump forming pad on which the metal coating layer has been formed by printing the solder paste using a mask.

【0023】上記マスクの開口部は、ソルダーレジスト
層に対して平行な壁面を有するように形成されていても
よく、徐々にソルダーレジスト層側に拡径する形態のテ
ーパが形成されてもよいが、半田ペーストがマスクにひ
っかからないようにするためには、テーパが形成されて
いることが望ましい。開口部のテーパは、マスクのソル
ダーレジスト層側の最も広い部分の幅と半田ペースト入
口の最も狭い部分幅との差が、0〜25μmであること
が望ましく、5〜15μmがより望ましい。このような
テーパを設けることにより、半田ペーストのマスクから
の抜け性が向上するので、半田バンプ形成用パッドへの
充填性が改善され、形成される半田バンプの形状、大き
さを均一に保持することができる。また、テーパが形成
されたマスクを使用すると、半田バンプ形成用パッドへ
の充填性もよくなり、半田バンプ形成用パッド底部への
充填不足による隙間がなくなり、信頼性試験におけるプ
リント配線板の性能、品質が向上する。
The opening of the mask may be formed so as to have a wall surface parallel to the solder resist layer, or a taper may be formed such that the diameter gradually increases toward the solder resist layer. In order to prevent the solder paste from catching on the mask, it is desirable that a taper be formed. Regarding the taper of the opening, the difference between the width of the widest part on the solder resist layer side of the mask and the narrowest part width of the solder paste entrance is preferably 0 to 25 μm, more preferably 5 to 15 μm. By providing such a taper, the removability of the solder paste from the mask is improved, so that the filling property of the solder bump forming pad is improved, and the shape and size of the formed solder bump are uniformly maintained. be able to. In addition, the use of a mask having a tapered surface improves the filling property of the solder bump forming pad, eliminates a gap due to insufficient filling of the solder bump forming pad bottom, and improves the performance of the printed wiring board in a reliability test. Quality is improved.

【0024】2回目以降の半田ペーストの印刷に用いる
マスクには、ソルダーレジストに当接する側(以下、裏
側という)の、前に形成した半田バンプ形成用パッドに
対向する部分に凹部(以下、ザグリともいう)が形成さ
れたマスクを用いることが望ましい。マスクによる半田
バンプの損傷をなくすとともに、半田ペーストがマスク
の裏側に付着し、続いてソルダーレジスト表面に付着す
ることに起因する短絡を防止することができるからであ
る。
The mask used for the second and subsequent printing of the solder paste includes a recess (hereinafter referred to as a counterbore) in a portion which is in contact with the solder resist (hereinafter referred to as a back side) and which faces the previously formed solder bump forming pad. ) Is preferably used. This is because it is possible to prevent the solder bumps from being damaged by the mask and to prevent a short circuit caused by the solder paste adhering to the back side of the mask and subsequently adhering to the solder resist surface.

【0025】ただし、テーパおよびザグリの両方を設け
たマスクを作製する場合は、マスクの強度の劣化を防止
するために、テーパとザグリ間の距離を開けておく必要
がある。
However, when manufacturing a mask having both a taper and a counterbore, it is necessary to increase the distance between the taper and the counterbore in order to prevent the strength of the mask from deteriorating.

【0026】マスクの種類としては特に限定されず、プ
リント配線板の製造用印刷マスクやその他の印刷マスク
で用いられている材質すべてのものを用いることができ
る。具体的には、例えば、ニッケル合金、ニッケル−コ
バルト合金、SUS等からなるメタルマスク;エポキシ
樹脂、ポリイミド樹脂等からなるプラスチックマスク等
が挙げられる。マスクの製造方法としてはエッチング、
アディテイブ加工、レーザ加工等が挙げられる。
The type of the mask is not particularly limited, and all materials used for a print mask for manufacturing a printed wiring board and other print masks can be used. Specifically, for example, a metal mask made of a nickel alloy, a nickel-cobalt alloy, SUS, or the like; a plastic mask made of an epoxy resin, a polyimide resin, or the like can be given. Etching, as a manufacturing method of the mask,
Additive processing, laser processing, and the like are included.

【0027】マスクの厚みは、20〜70μmが望まし
く、30〜50μmがより望ましい。上記範囲の厚みに
設定することにより、半田ペーストの開口部の抜け性が
よくなり、適正な半田バンプの高さを設定することがで
き、ザグリを設けても機械的な強度に問題が生じないか
らある。
The thickness of the mask is preferably 20 to 70 μm, more preferably 30 to 50 μm. By setting the thickness in the above range, the removability of the opening of the solder paste is improved, the height of the solder bump can be set appropriately, and there is no problem in mechanical strength even if the counterbore is provided. From.

【0028】マスク厚みが20μm未満であると、形成
されるバンプの高さが低くなりすぎたり、均一になりに
くく、半田バンプ形成における望ましい幅のテーパ、ザ
グリを形成するのが難しくなる。また、逆にマスクの厚
みが70μmを超えると、半田ペーストの抜け性が低下
してしまい、開口部内にペーストが残留してしまうため
に、半田バンプの形状、高さが均一でなくなることがあ
り、半田バンプが狭ピッチ化、ファイン化されるにつれ
て、半田バンプの形成が難しくなる。
If the thickness of the mask is less than 20 μm, the height of the formed bump is too low or uniform, and it is difficult to form a taper or counterbore having a desired width in forming the solder bump. On the other hand, if the thickness of the mask exceeds 70 μm, the removability of the solder paste decreases, and the paste remains in the openings, so that the shape and height of the solder bumps may not be uniform. As the pitch of the solder bumps becomes smaller and finer, the formation of the solder bumps becomes more difficult.

【0029】印刷の際に用いる半田ペーストとしては特
に限定されず、一般にプリント配線板の製造で使用され
ているものすべてを用いることができる。具体的には、
例えば、Sn:Pb(重量比)=63:37、Sn:P
b:Ag=62:36:2、Sn:Ag=96.5:
3.5等からなるものが挙げられる。半田粒子径は、5
〜40μmが好ましく、印刷時の半田ペーストの粘度
は、23℃のおいて、100〜400Pa.sが望まし
い。半田ペーストの粘度が100Pa.sより低いと、
半田バンプの形状を保持することができず、400P
a.sを超えると、半田ペーストを半田バンプ形成用パ
ッド部分に効率よく充填することができないからであ
る。
The solder paste used for printing is not particularly limited, and any paste generally used in the manufacture of printed wiring boards can be used. In particular,
For example, Sn: Pb (weight ratio) = 63: 37, Sn: P
b: Ag = 62: 36: 2, Sn: Ag = 96.5:
3.5 and the like. Solder particle size is 5
The viscosity of the solder paste at the time of printing is 100 to 400 Pa. s is desirable. The viscosity of the solder paste is 100 Pa. lower than s
The shape of the solder bump cannot be maintained, and 400P
a. If the length exceeds s, the solder paste cannot be efficiently filled in the solder bump forming pad portion.

【0030】半田ペーストを印刷する際には、通常、印
刷用スキージを用いる。この印刷形成用スキージの材質
は特に限定されず、例えば、ポリエチレンなどのゴム;
鉄、ステンレスなどの金属;セラミックなど一般にプリ
ント配線板の印刷に用いられる材質を使用することがで
きる。
When printing the solder paste, a printing squeegee is usually used. The material of the squeegee for forming a print is not particularly limited, for example, rubber such as polyethylene;
Metals such as iron and stainless steel; and materials generally used for printing on printed wiring boards such as ceramics can be used.

【0031】上記スキージの形状に関しては、平型、角
型などの種々の形状のものが挙げられる。上記形状のス
キージに、適時切れ込みを入れることにより半田ペース
トの充填性を向上させてもよい。上記スキージの厚み
は、10〜30mmが望ましく、15〜25mmがより
望ましい。繰り返し印刷を行っても、反りやたわみがな
いからである。
With respect to the shape of the squeegee, there are various shapes such as a flat type and a square type. The squeegee having the above-described shape may be cut in time to improve the filling property of the solder paste. The thickness of the squeegee is preferably from 10 to 30 mm, more preferably from 15 to 25 mm. This is because there is no warping or bending even if printing is repeated.

【0032】しかし、スキージの目減り、摩耗による再
現性や半田ペーストへの異物混入を考慮すると、金属製
のものが望ましい。金属製の場合には、スキージの厚み
は、50〜300μmが望ましい。また、密閉式のスキ
ージユニットによる印刷を行ってもよい。このようなス
キージとしては、例えば、エアー圧入型、ローラー圧入
型、ピストン圧入型等が挙げられる。
However, in consideration of the reduction of the squeegee, the reproducibility due to abrasion, and the inclusion of foreign matter in the solder paste, a metal squeegee is preferable. In the case of metal, the thickness of the squeegee is desirably 50 to 300 μm. Further, printing may be performed by a closed squeegee unit. Examples of such a squeegee include an air press-fit type, a roller press-fit type, and a piston press-fit type.

【0033】上記マスク等を用いて半田ペーストを印刷
する際には、以下のような方法を用いる。図1は、プリ
ント配線板上のソルダーレジスト層に形成された半田バ
ンプ形成用パッドの配列状態の一例を模式的に示した平
面図であり、図2は、半田バンプ形成用パッドの配列状
態の他の一例を模式的に示した平面図である。
When printing the solder paste using the above mask or the like, the following method is used. FIG. 1 is a plan view schematically showing an example of an arrangement state of solder bump formation pads formed on a solder resist layer on a printed wiring board. FIG. 2 is a plan view of an arrangement state of solder bump formation pads. It is the top view which showed another example typically.

【0034】図1に示したように、半田バンプ形成用パ
ッドが縦横に整列した状態で形成されている場合には、
1回目に、隣り合った半田バンプ形成用パッド18のう
ちの一つの半田バンプ形成用パッド(○印)のみに半田
ペーストを印刷し、2回目に他の半田バンプ形成用パッ
ド(◎印)を印刷する。
As shown in FIG. 1, when the pads for forming solder bumps are formed in a state of being arranged vertically and horizontally,
First, solder paste is printed on only one of the adjacent solder bump forming pads 18 (marked by ○), and secondly, another solder bump forming pad (marked by ◎) is printed. Print.

【0035】また、図2に示したように、半田バンプ形
成用パッド18が縦一列に整列した状態で形成されてお
らず、横の一列おきに形成位置が半田バンプ形成用パッ
ド18の間隔の1/2づつ横にづれている場合には、1
回目に横の奇数列の半田バンプ形成用パッド(○印)の
みに半田ペーストを印刷し、2回目に他の偶数列の半田
バンプ形成用パッド(◎印)を印刷する。従って、マス
クは、その半田バンプ形成用パッドに対向する部分に開
口が形成されたマスクをそれぞれ用いる。
Further, as shown in FIG. 2, the pads 18 for forming the solder bumps are not formed in a state of being aligned in a vertical line, and the formation positions are set every other horizontal line to the distance between the pads 18 for forming the solder bumps. If it is halved by half, 1
The solder paste is printed only on the odd-numbered rows of solder bump forming pads (marked with ○) the second time, and the other even-numbered rows of solder bump forming pads (marked with ◎) are printed on the second time. Therefore, a mask having an opening formed in a portion facing the solder bump forming pad is used.

【0036】ただし、形成する半田バンプ間の距離や半
田バンプの高さ、半田バンプ形成用パッドの形状、半田
ペーストの組成、粘度、粒径などによっては、3回以上
半田ペーストの印刷を行ってもよい。これらに依存し
て、マスクに形成する開口間の距離を変化させた方がよ
い場合もあるからである。また、1回目の印刷では、ソ
ルダーレジスト層の表面より高くなるように、半田ペー
スト層を充填せず、半田ペースト層の上面がソルダーレ
ジスト層の表面と略同一となるように半田ペーストを充
填することが望ましい。1回目の印刷後であっても、ソ
ルダーレジスト表面は平坦であり、2回目の印刷で、マ
スクを載置しても、半田ペースト層に変形等が発生しな
いためである。1回目の印刷で、半田ペースト層の上面
がソルダーレジスト層の表面よりも高くなるように半田
ペースト層を形成した場合には、2回目以降の半田ペー
ストの印刷に用いるマスクには、図3に示すように、裏
側にザグリ21aを入れたマスク21を用いて半田ペー
スト層22aを形成することが望ましい。
However, depending on the distance between the solder bumps to be formed, the height of the solder bumps, the shape of the pads for forming the solder bumps, the composition, viscosity, and particle size of the solder paste, printing of the solder paste is performed three times or more. Is also good. This is because it may be better to change the distance between the openings formed in the mask depending on these. In the first printing, the solder paste is not filled so as to be higher than the surface of the solder resist layer, and the solder paste is filled so that the upper surface of the solder paste layer is substantially the same as the surface of the solder resist layer. It is desirable. This is because even after the first printing, the solder resist surface is flat, and even when a mask is placed in the second printing, no deformation or the like occurs in the solder paste layer. In the first printing, when the solder paste layer is formed so that the upper surface of the solder paste layer is higher than the surface of the solder resist layer, the mask used for the second and subsequent printing of the solder paste is shown in FIG. As shown, it is desirable to form the solder paste layer 22a using a mask 21 having a counterbore 21a on the back side.

【0037】また、2回目以降の印刷においては、図4
(a)に示すように、前に印刷することにより形成され
た半田ペースト層または半田バンプ部分22aに対向す
る部分に小さな開口部21bが形成されたマスク21を
用い、この半田ペースト層または半田バンプ部分22a
に、さらに半田ペースト層22cを形成させてもよい。
それにより、半田ペースト量が不足する部分を補うこと
ができ、また、所望の高さにした半田バンプを形成する
ことができる。また、図4(b)は、1回目の印刷で半
田ペースト層の上面がソルダーレジスト層の表面より高
くなるように半田ペースト層22aを充填した場合であ
り、この場合には、開口部21bの形状を半田ペースト
層22aに当たらないように工夫することにより、支障
なく半田ペーストの印刷を行うことができる。
Further, in the second and subsequent printing, FIG.
As shown in (a), a mask 21 having a small opening 21b formed in a portion facing a solder paste layer or solder bump portion 22a formed by printing before is used. Part 22a
Then, a solder paste layer 22c may be further formed.
This makes it possible to compensate for a portion where the amount of the solder paste is insufficient and to form a solder bump having a desired height. FIG. 4B shows a case where the solder paste layer 22a is filled in the first printing so that the upper surface of the solder paste layer is higher than the surface of the solder resist layer. By devising the shape so as not to hit the solder paste layer 22a, the solder paste can be printed without any trouble.

【0038】前に印刷した半田バンプ形成用パッドに対
向する部分に、小さな開口部を設けたのは、開口部間の
距離を広く保つためであるが、前の回で、ある程度半田
ペーストが印刷されているため、このような小さな開口
部であっても、充分に必要な量のペーストを供給するこ
とができる。
The reason why the small opening is provided in the portion facing the previously printed solder bump forming pad is to keep the distance between the openings wide. Therefore, even in such a small opening, a sufficient amount of paste can be supplied.

【0039】また、半田バンプ形成用パッドは、フラッ
トな導体回路上に形成され、平坦なものと、バイアホー
ル上に形成され、その中心に10〜120μmの径の凹
部を有するものの2種類があり、半田ペーストの印刷量
も、その種類により少し異なるため、種類別に開口部を
形成したマスクを用いて印刷を行ってもよい。
There are two types of pads for forming solder bumps, those formed on a flat conductor circuit and flat, and those formed on a via hole and having a recess with a diameter of 10 to 120 μm at the center. Since the amount of solder paste to be printed is also slightly different depending on the type, the printing may be performed using a mask having openings formed for each type.

【0040】1回の印刷で半田バンプを形成させる場
合、マスクの開口部の形状はソルダーレジスト層の半田
バンプ形成用パッドの形状より大きくするのが望まし
い。半田バンプ形成用パッド内へ充分に半田ペーストを
供給するためである。2回の印刷で半田バンプを形成す
る場合には、マスクの開口部の形状はソルダーレジスト
層の半田バンプ形成用パッドの形状とほぼ同じにする
が、テーパがつけられた開口部を形成する場合には、最
も狭い開口部分(半田ペースト入口側)の形状が半田バ
ンプ形成用パッドの形状とほぼ同じであることが望まし
い。
When the solder bump is formed by one printing, the shape of the opening of the mask is desirably larger than the shape of the solder bump forming pad of the solder resist layer. This is for sufficiently supplying the solder paste into the solder bump forming pad. When the solder bump is formed by two printings, the shape of the opening of the mask is almost the same as the shape of the solder bump forming pad of the solder resist layer, but when the tapered opening is formed. It is desirable that the shape of the narrowest opening (solder paste inlet side) is substantially the same as the shape of the solder bump forming pad.

【0041】上記したように、半田ペーストの印刷工程
を全て終了した後、リフロー工程を行っても半田バンプ
形成用パッドを形成してもよいが、形成した半田ペース
ト層にメタルマスクが当たり、半田ペースト層の変形、
マスクへの付着等による量の減少等の影響が出ないよう
にするため、1回の半田ペーストの印刷工程に続いてリ
フロー工程を行い、一定形状の半田バンプを形成した
後、次の半田ペーストの印刷工程を行ってもよい。1回
毎に、リフローを行うか否かは、形成する半田バンプの
径や高さ、半田バンプ形成用パッド開口径、ソルダーレ
ジスト層の厚みや半田ペーストの組成、粘度、粒径など
によって異なる。
As described above, after all the solder paste printing steps are completed, the reflow step may be performed or the solder bump forming pad may be formed. Deformation of the paste layer,
In order to prevent the effect of the decrease in the amount due to the adhesion to the mask, etc., a reflow process is performed following a single solder paste printing process to form solder bumps of a predetermined shape, and then the next solder paste is formed. May be performed. Whether or not reflow is performed each time depends on the diameter and height of the solder bump to be formed, the opening diameter of the pad for forming the solder bump, the thickness of the solder resist layer, the composition, viscosity, and particle size of the solder paste.

【0042】本発明の半田バンプの形成方法で形成する
半田バンプの形状は半円球状で、その高さは5〜50μ
mとなり、均一な高さや形状を有する半田バンプを形成
することができる。リフローは、窒素などの不活性雰囲
気下、150〜300℃の温度範囲で行うことが望まし
い。リフローの温度は、半田組成により設定を行う。
The shape of the solder bump formed by the method of forming a solder bump according to the present invention is semi-spherical, and its height is 5 to 50 μm.
m, and a solder bump having a uniform height and shape can be formed. The reflow is desirably performed in a temperature range of 150 to 300 ° C. in an inert atmosphere such as nitrogen. The reflow temperature is set according to the solder composition.

【0043】次に、本発明のプリント配線板の製造方法
について、簡単に説明する。 (1) 本発明のプリント配線板の製造方法においては、ま
ず、絶縁性基板の表面に導体回路が形成された基板を作
製する。
Next, a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be briefly described. (1) In the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention, first, a substrate having a conductive circuit formed on a surface of an insulating substrate is prepared.

【0044】絶縁性基板としては、樹脂基板が望まし
く、具体的には、例えば、ガラスエポキシ基板、ポリイ
ミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹脂基板、フッ
素樹脂基板、セラミック基板、銅貼積層板などが挙げら
れる。本発明では、この絶縁性基板にドリル等で貫通孔
を設け、該貫通孔の壁面および銅箔表面に無電解めっき
を施して表面導電膜およびスルーホールを形成する。無
電解めっきとしては銅めっきが好ましい。
As the insulating substrate, a resin substrate is desirable, and specific examples thereof include a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a fluororesin substrate, a ceramic substrate, and a copper-clad laminate. . In the present invention, a through hole is formed in the insulating substrate by a drill or the like, and the wall surface of the through hole and the surface of the copper foil are subjected to electroless plating to form a surface conductive film and a through hole. Copper plating is preferred as the electroless plating.

【0045】この無電解めっきの後、通常、スルーホー
ル内壁および電解めっき膜表面の粗化形成処理を行う。
粗化形成処理方法としては、例えば、黒化(酸化)−還
元処理、有機酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレ
ー処理、Cu−Ni−P針状合金めっきによる処理など
が挙げられる。
After the electroless plating, a roughening treatment is usually performed on the inner wall of the through hole and the surface of the electrolytic plating film.
Examples of the roughening forming treatment method include blackening (oxidation) -reduction treatment, spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, treatment with Cu-Ni-P needle-like alloy plating, and the like.

【0046】(2) 次に、無電解めっきが施された基板上
に導体回路形状のエッチングレジストを形成し、エッチ
ングを行うことにより導体回路を形成する。次に、この
導体回路が形成された基板表面に樹脂充填剤を塗布、乾
燥させて半硬化状態とした後、研摩を行い、樹脂充填材
の層を研削するとともに、導体回路の上部も研削し、基
板の両主面を平坦化する。この後、樹脂充填材の層を完
全硬化する。
(2) Next, a conductive circuit-shaped etching resist is formed on the substrate on which the electroless plating has been performed, and etching is performed to form a conductive circuit. Next, a resin filler is applied to the surface of the substrate on which the conductive circuit is formed, dried to a semi-cured state, then polished, the resin filler layer is ground, and the upper part of the conductive circuit is also ground. Then, both main surfaces of the substrate are flattened. Thereafter, the layer of the resin filler is completely cured.

【0047】(3) 次に、導体回路上に粗化層を形成す
る。粗化処理方法としては、例えば、黒化(酸化)−還
元処理、有機酸と第二銅錯体の混合水溶液によるスプレ
ー処理、Cu−Ni−P合金めっきによる処理などが挙
げられる。
(3) Next, a roughened layer is formed on the conductor circuit. Examples of the roughening treatment method include a blackening (oxidation) -reduction treatment, a spray treatment with a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, and a treatment with Cu-Ni-P alloy plating.

【0048】(4) ついで、形成された粗化層表面に、ス
ズ、亜鉛、銅、ニッケル、コバルト、タリウム、鉛等か
らなる被覆層を無電解めっき、蒸着などにより形成す
る。上記被覆層を0.01〜2μmの範囲で析出させる
ことにより、層間絶縁層から露出した導体回路を粗化液
やエッチング液から保護し、内層パターンの変色、溶解
を確実に防止することができるからである。
(4) Next, a coating layer made of tin, zinc, copper, nickel, cobalt, thallium, lead or the like is formed on the surface of the formed roughened layer by electroless plating, vapor deposition, or the like. By depositing the coating layer in the range of 0.01 to 2 μm, the conductor circuit exposed from the interlayer insulating layer can be protected from a roughening solution or an etching solution, and discoloration and dissolution of the inner layer pattern can be reliably prevented. Because.

【0049】(5) この後、粗化層が形成された導体回路
上に層間樹脂絶縁層を設ける。層間樹脂絶縁層の材料と
しては、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂の
一部を感光化した樹脂またはこれらの複合樹脂を使用す
ることができる。層間絶縁層は、未硬化の樹脂を塗布し
て形成してもよく、また、未硬化の樹脂フィルムを熱圧
着して形成してもよい。さらに、未硬化の樹脂フィルム
の片面に銅箔などの金属層が形成された樹脂フィルムを
貼付してもよい。このような樹脂フィルムを使用する場
合は、バイアホール形成部分の金属層をエッチングした
後、レーザ光を照射して開口を設ける。金属層が形成さ
れた樹脂フィルムとしては、樹脂付き銅箔などを使用す
ることができる。
(5) Thereafter, an interlayer resin insulating layer is provided on the conductor circuit on which the roughened layer has been formed. As a material of the interlayer resin insulating layer, a thermosetting resin, a thermoplastic resin, a resin obtained by sensitizing a part of the thermosetting resin, or a composite resin thereof can be used. The interlayer insulating layer may be formed by applying an uncured resin, or may be formed by thermocompression bonding an uncured resin film. Further, a resin film in which a metal layer such as a copper foil is formed on one surface of an uncured resin film may be attached. When such a resin film is used, an opening is formed by irradiating a laser beam after etching a metal layer in a via hole forming portion. As the resin film having the metal layer formed thereon, a resin-coated copper foil or the like can be used.

【0050】上記層間絶縁層を形成する際に、無電解め
っき用接着剤層を使用することができる。この無電解め
っき用接着剤は、硬化処理された酸あるいは酸化剤に可
溶性の耐熱性樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤に難溶性の
未硬化の耐熱性樹脂中に分散されてなるものが最適であ
る。酸、酸化剤で処理することにより、耐熱性樹脂粒子
が溶解除去されて、表面に蛸つぼ状のアンカーからなる
粗化面を形成できるからである。
When forming the interlayer insulating layer, an adhesive layer for electroless plating can be used. The most suitable adhesive for electroless plating is one in which heat-resistant resin particles soluble in a cured acid or oxidizing agent are dispersed in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or oxidizing agent. is there. By treating with an acid or an oxidizing agent, the heat-resistant resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface composed of an octopus pot-shaped anchor can be formed on the surface.

【0051】上記無電解めっき用接着剤において、特に
硬化処理された上記耐熱性樹脂粒子としては、(a) 平均
粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、(b) 平均粒径が
2μm以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、
(c) 平均粒径が2〜10μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平
均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、(d)
平均粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒
径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいず
れか少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子、(e) 平
均粒径が0.1〜0.8μmの耐熱性粉末樹脂粉末と平
均粒径が0.8μmを超え、2μm未満の耐熱性樹脂粉
末との混合物、(f) 平均粒径が0.1〜1.0μmの耐
熱性粉末樹脂粉末を用いることが望ましい。これらは、
より複雑なアンカーを形成することができるからであ
る。
In the above-mentioned adhesive for electroless plating, the heat-resistant resin particles particularly subjected to the curing treatment include (a) a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less, and (b) a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less. Aggregated particles obtained by aggregating heat-resistant resin powder,
(c) a mixture of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 to 10 μm and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less, (d)
Pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder or an inorganic powder having an average particle diameter of 2 μm or less to the surface of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 to 10 μm, A mixture of 0.1 to 0.8 μm heat-resistant powder resin powder and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of more than 0.8 μm and less than 2 μm, (f) an average particle diameter of 0.1 to 1.0 μm It is desirable to use heat-resistant resin powder. They are,
This is because a more complicated anchor can be formed.

【0052】上記酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱性樹
脂としては、「熱硬化性樹脂および熱可塑性樹脂からな
る樹脂複合体」または「感光性樹脂および熱可塑性樹脂
からなる樹脂複合体」などが望ましい。前者については
耐熱性が高く、後者についてはバイアホール用の開口を
フォトリソグラフィーにより形成できるからである。
Examples of the heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent include a “resin composite composed of a thermosetting resin and a thermoplastic resin” and a “resin composite composed of a photosensitive resin and a thermoplastic resin”. desirable. This is because the former has high heat resistance, and the latter can form an opening for a via hole by photolithography.

【0053】上記熱硬化性樹脂としては、例えば、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂などを使用
することができる。また、感光化した樹脂としては、メ
タクリル酸やアクリル酸などと熱硬化基をアクリル化反
応させたものが挙げられる。特にエポキシ樹脂をアクリ
レート化したものが最適である。エポキシ樹脂として
は、フェノールノボラック型、クレゾールノボラック
型、などのノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタ
ジエン変成した脂環式エポキシ樹脂などを使用すること
ができる。
As the thermosetting resin, for example, epoxy resin, phenol resin, polyimide resin and the like can be used. Examples of the photosensitized resin include those obtained by subjecting a thermosetting group to methacrylic acid or acrylic acid to undergo an acrylation reaction. In particular, an acrylated epoxy resin is most suitable. As the epoxy resin, a novolak type epoxy resin such as a phenol novolak type and a cresol novolak type, and an alicyclic epoxy resin modified with dicyclopentadiene can be used.

【0054】熱可塑性樹脂としては、ポリエーテルスル
フォン(PES)、ポリスルフォン(PSF)、ポリフ
ェニレンスルフォン(PPS)、ポリフェニレンサルフ
ァイド(PPES)、ポリフェニルエーテル(PP
E)、ポリエーテルイミド(PI)、フッ素樹脂などを
使用することができる。熱硬化性樹脂(感光性樹脂)と
熱可塑性樹脂の混合割合は、熱硬化性樹脂(感光性樹
脂)/熱可塑性樹脂=95/5〜50/50が望まし
い。耐熱性を損なうことなく、高い靱性値を確保できる
からである。
As the thermoplastic resin, polyether sulfone (PES), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenyl ether (PP
E), polyetherimide (PI), fluororesin and the like can be used. The mixing ratio of the thermosetting resin (photosensitive resin) and the thermoplastic resin is preferably thermosetting resin (photosensitive resin) / thermoplastic resin = 95/5 to 50/50. This is because a high toughness value can be secured without impairing the heat resistance.

【0055】上記耐熱性樹脂粒子の混合重量比は、耐熱
性樹脂マトリックスの固形分に対して5〜50重量%が
望ましく、10〜40重量%がさらに望ましい。耐熱性
樹脂粒子は、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グ
アナミン樹脂)、エポキシ樹脂などが望ましい。
The mixing weight ratio of the heat-resistant resin particles is preferably 5 to 50% by weight, more preferably 10 to 40% by weight, based on the solid content of the heat-resistant resin matrix. As the heat-resistant resin particles, an amino resin (a melamine resin, a urea resin, a guanamine resin), an epoxy resin, or the like is desirable.

【0056】(6) 次に、層間絶縁樹脂層を硬化する一方
で、その層間樹脂樹脂層にはバイアホ−ル形成用の開口
を設ける。層間絶縁樹脂層の開口は、無電解めっき用接
着剤の樹脂マトリックスが熱硬化樹脂である場合は、レ
−ザ−光や酸素プラズマ等を用いて行い、感光性樹脂で
ある場合には、露光現像処理にて行う。なお、露光現像
処理は、バイアホ−ル形成のための円パタ−ンが描画さ
れたフォトマスク(ガラス基板がよい)を、円パタ−ン
側を感光性の層間樹脂絶縁層の上に密着させて載置した
後、露光し、現像処理液に浸漬するか、現像処理液をス
プレーすることにより行う。充分な凹凸形状の粗化面を
有する導体回路上に形成された層間樹脂絶縁層を硬化さ
せることにより、導体回路との密着性に優れた層間樹脂
絶縁層を形成することができる。
(6) Next, while the interlayer insulating resin layer is cured, an opening for forming a via hole is provided in the interlayer resin layer. Opening of the interlayer insulating resin layer is performed using laser light or oxygen plasma when the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, and exposed when the resin matrix is a photosensitive resin. Performed by development processing. In the exposure and development process, a photomask (preferably a glass substrate) on which a circular pattern for forming a via hole is drawn is brought into close contact with the photosensitive interlayer resin insulating layer on the circular pattern side. After mounting, the substrate is exposed and immersed in a developing solution or sprayed with the developing solution. By curing the interlayer resin insulating layer formed on the conductor circuit having a roughened surface with a sufficient unevenness, an interlayer resin insulating layer having excellent adhesion to the conductor circuit can be formed.

【0057】(7) 次に、バイアホ−ル用開口を設けた層
間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を粗化
する。通常、粗化は、無電解めっき用接着剤層の表面に
存在する耐熱性樹脂粒子を酸または酸化剤で溶解除去す
ることにより行う。酸処理等により形成する粗化面の高
さは、Rmax=0.01〜20μmが望ましい。導体
回路との密着性を確保するためである。特にセミアディ
ティブ法では、0.1〜5μmが望ましい。密着性を確
保しつつ、無電解めっき膜を除去することができるから
である。
(7) Next, the surface of the interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) having the via hole opening is roughened. Usually, the roughening is performed by dissolving and removing the heat-resistant resin particles present on the surface of the adhesive layer for electroless plating with an acid or an oxidizing agent. The height of the roughened surface formed by acid treatment or the like is desirably Rmax = 0.01 to 20 μm. This is for ensuring adhesion to the conductor circuit. In particular, in the semi-additive method, 0.1 to 5 μm is desirable. This is because the electroless plating film can be removed while ensuring adhesion.

【0058】上記酸処理を行う際には、リン酸、塩酸、
硫酸、または、蟻酸や酢酸などの有機酸を用いることが
でき、特に有機酸を用いるのが望ましい。粗化形成処理
した場合に、バイアホ−ルから露出する金属導体層を腐
食させにくいからである。上記酸化処理は、クロム酸、
過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム等)を用いるこ
とが望ましい。
When performing the above acid treatment, phosphoric acid, hydrochloric acid,
Sulfuric acid or an organic acid such as formic acid or acetic acid can be used, and it is particularly preferable to use an organic acid. This is because the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded when the roughening treatment is performed. The oxidation treatment is performed using chromic acid,
It is desirable to use permanganate (such as potassium permanganate).

【0059】(8) 次に、粗化した層間絶縁樹脂上の全面
に薄付けの無電解めっき膜を形成する。この無電解めっ
き膜は、無電解銅めっきが好ましく、その厚みは、1〜
5μmが望ましく、2〜3μmがより望ましい。
(8) Next, a thin electroless plating film is formed on the entire surface of the roughened interlayer insulating resin. The electroless plating film is preferably formed by electroless copper plating, and has a thickness of 1 to 3.
5 μm is desirable, and 2-3 μm is more desirable.

【0060】(9) さらに、この上にめっきレジストを配
設する。めっきレジストとしては、市販の感光性ドライ
フィルムや液状レジストを使用することができる。そし
て、感光性ドライフィルムを貼り付けたり、液状レジス
トを塗布した後、紫外線露光処理を行い、アルカリ水溶
液で現像処理する。
(9) Further, a plating resist is provided thereon. As the plating resist, a commercially available photosensitive dry film or liquid resist can be used. Then, after applying a photosensitive dry film or applying a liquid resist, an ultraviolet exposure process is performed, and a developing process is performed with an alkaline aqueous solution.

【0061】(10)ついで、上記処理を行った基板を電気
めっき液に浸漬した後、無電解めっき層をカソードと
し、めっき被着金属をアノードとして直流電気めっきを
行い、バイアホール用開口をめっき充填するとともに、
上層導体回路を形成する。電解めっきとしては、電解銅
めっきが好ましく、その厚みは、10〜20μmが好ま
しい。
(10) Next, after the substrate subjected to the above treatment is immersed in an electroplating solution, direct current electroplating is performed using the electroless plating layer as a cathode and the metal to be plated as an anode, and plating the openings for via holes. While filling
An upper conductor circuit is formed. As the electrolytic plating, electrolytic copper plating is preferable, and its thickness is preferably 10 to 20 μm.

【0062】(11)ついで、めっきレジストを強アリカリ
水溶液で剥離した後にエッチングを行い、無電解めっき
層を除去することにより、上層導体回路およびバイアホ
ールを独立パターンとする。上記エッチング液として
は、硫酸/過酸化水素水溶液、塩化第二鉄、塩化第二
銅、過硫酸アンモニウムなどの過硫酸塩の水溶液が使用
される。なお、非導体回路部分に露出したパラジウム触
媒核は、クロム酸、硫酸、過酸化水素等により溶解除去
する。
(11) Next, the plating resist is peeled off with a strong alkali aqueous solution and then etched to remove the electroless plating layer, thereby forming the upper conductor circuit and the via hole into an independent pattern. As the etching solution, a sulfuric acid / hydrogen peroxide aqueous solution, an aqueous solution of a persulfate such as ferric chloride, cupric chloride, or ammonium persulfate is used. The palladium catalyst nuclei exposed on the non-conductor circuit portion are dissolved and removed with chromic acid, sulfuric acid, hydrogen peroxide or the like.

【0063】(12)この後、必要により、(3) 〜(11)の工
程を繰り返し、最上層の導体回路に上記(3) の工程と同
様の条件で無電解めっきを施し、最上層の導体回路上に
粗化層を形成する。
(12) Thereafter, if necessary, the steps (3) to (11) are repeated, and the uppermost conductive circuit is subjected to electroless plating under the same conditions as in the above step (3). A roughening layer is formed on the conductor circuit.

【0064】次に、最上層の導体回路を含む基板面にソ
ルダーレジスト層を形成し、上記した方法により半田バ
ンプを形成することによりプリント配線板の製造を終了
する。なお、製品認識文字などを形成するための文字印
刷工程やソルダーレジスト層の改質のために、酸素や四
塩化炭素などのプラズマ処理を適時行ってもよい。以上
の方法は、セミアディティブ法によるものであるが、フ
ルアディティブ法を採用してもよい。
Next, a solder resist layer is formed on the substrate surface including the uppermost conductive circuit, and solder bumps are formed by the above-described method, thereby completing the manufacture of the printed wiring board. In addition, a plasma treatment with oxygen, carbon tetrachloride, or the like may be performed as needed for a character printing process for forming a product recognition character or the like or for modifying a solder resist layer. Although the above method is based on the semi-additive method, a full additive method may be employed.

【0065】[0065]

【実施例】以下、本発明をさらに詳細に説明する。 (実施例1) A.無電解めっき用接着剤の調製(上層用接着剤) (i) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製、アロニックスM315)3.1
5重量部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5
重量部およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重
量部を容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物
を調製した。
The present invention will be described in more detail below. Example 1 A. Preparation of adhesive for electroless plating (adhesive for upper layer) (i) 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) at a concentration of 80% by weight of diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) 35 parts by weight of a resin solution dissolved in water, photosensitive monomer (Aronix M315, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.) 3.1
5 parts by weight, antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco) 0.5
Parts by weight and 3.6 parts by weight of N-methylpyrrolidone (NMP) were placed in a container and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0066】(ii)ポリエーテルスルフォン(PES)1
2重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、ポリマー
ポール)の平均粒径1.0μmのもの7.2重量部およ
び平均粒径0.5μmのもの3.09重量部を別の容器
にとり、攪拌混合した後、さらにNMP30重量部を添
加し、ビーズミルで攪拌混合し、別の混合組成物を調製
した。
(Ii) Polyether sulfone (PES) 1
2 parts by weight, 7.2 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Kasei Co., polymer pole) having an average particle diameter of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of an epoxy resin particle having an average particle diameter of 0.5 μm were placed in another container, After stirring and mixing, 30 parts by weight of NMP was further added and stirred and mixed with a bead mill to prepare another mixed composition.

【0067】(iii) イミダゾール硬化剤(四国化成社
製、2E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバ
ガイギー社製、イルガキュアー I−907)2重量
部、光増感剤(日本化薬社製、DETX−S)0.2重
量部およびNMP1.5重量部をさらに別の容器にと
り、攪拌混合することにより混合組成物を調製した。そ
して、(i) 、(ii)および(iii) で調製した混合組成物を
混合することにより無電解めっき用接着剤を得た。
(Iii) 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of a photopolymerization initiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba-Geigy), a photosensitizer (Nippon Kayaku) 0.2 parts by weight of DETX-S) and 1.5 parts by weight of NMP were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. Then, an adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in (i), (ii) and (iii).

【0068】B.無電解めっき用接着剤の調製(下層用
接着剤) (i) クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社
製、分子量:2500)の25%アクリル化物を80重
量%の濃度でジエチレングリコールジメチルエーテル
(DMDG)に溶解させた樹脂液35重量部、感光性モ
ノマー(東亜合成社製、アロニックスM315)4重量
部、消泡剤(サンノプコ社製 S−65)0.5重量部
およびN−メチルピロリドン(NMP)3.6重量部を
容器にとり、攪拌混合することにより混合組成物を調製
した。
B. Preparation of adhesive for electroless plating (adhesive for lower layer) (i) 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., molecular weight: 2500) at a concentration of 80% by weight of diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) 35 parts by weight of a resin solution, 4 parts by weight of a photosensitive monomer (manufactured by Toagosei Co., Aronix M315), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65 manufactured by Sannopco) and N-methylpyrrolidone (NMP) 3.6 parts by weight were placed in a container and mixed by stirring to prepare a mixed composition.

【0069】(ii)ポリエーテルスルフォン(PES)1
2重量部、および、エポキシ樹脂粒子(三洋化成社製、
ポリマーポール)の平均粒径0.5μmのもの14.4
9重量部を別の容器にとり、攪拌混合した後、さらにN
MP30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌混合し、別
の混合組成物を調製した。
(Ii) Polyether sulfone (PES) 1
2 parts by weight and epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Industries,
14.4 having an average particle size of 0.5 μm
9 parts by weight were placed in another container and mixed with stirring.
30 parts by weight of MP was added and mixed by stirring with a bead mill to prepare another mixed composition.

【0070】(iii) イミダゾール硬化剤(四国化成社
製、2E4MZ−CN)2重量部、光重合開始剤(チバ
ガイギー社製、イルガキュアー I−907)2重量
部、光増感剤(日本化薬社製、DETX−S)0.2重
量部およびNMP1.5重量部をさらに別の容器にと
り、攪拌混合することにより混合組成物を調製した。そ
して、(i) 、(ii)および(iii) で調製した混合組成物を
混合することにより無電解めっき用接着剤を得た。
(Iii) 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of a photopolymerization initiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba-Geigy), a photosensitizer (Nippon Kayaku) 0.2 parts by weight of DETX-S) and 1.5 parts by weight of NMP were placed in another container and mixed by stirring to prepare a mixed composition. Then, an adhesive for electroless plating was obtained by mixing the mixed compositions prepared in (i), (ii) and (iii).

【0071】C.樹脂充填材の調製 (i) ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
社製、分子量:310、YL983U)100重量部、
表面にシランカップリング剤がコーティングされた平均
粒径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下の
SiO2 球状粒子(アドテック社製、CRS 1101
−CE)170重量部およびレベリング剤(サンノプコ
社製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にとり、攪
拌混合することにより、その粘度が23±1℃で40〜
50Pa・sの樹脂充填材を調製した。なお、硬化剤と
して、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E4MZ
−CN)6.5重量部を用いた。
C. Preparation of resin filler (i) 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., molecular weight: 310, YL983U),
SiO 2 spherical particles having an average particle diameter of 1.6 μm and a maximum particle diameter of 15 μm or less (CRS 1101 manufactured by Adtec Co., Ltd.) having a surface coated with a silane coupling agent.
-CE) 170 parts by weight and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4 manufactured by San Nopco Co.) are placed in a container, and the mixture is stirred and mixed to have a viscosity of 40 to 40 at 23 ± 1 ° C.
A resin filler of 50 Pa · s was prepared. As the curing agent, an imidazole curing agent (2E4MZ manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)
-CN) 6.5 parts by weight.

【0072】D.プリント配線板の製造方法 (1) 厚さ1mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビス
マレイミドトリアジン)樹脂からなる基板1の両面に1
8μmの銅箔8がラミネートされている銅貼積層板を出
発材料とした(図5(a)参照)。まず、この銅貼積層
板をドリル削孔し、無電解めっき処理を施し、パターン
状にエッチングすることにより、基板1の両面に下層導
体回路4とスルーホール9を形成した。
D. Manufacturing method of printed wiring board (1) 1 mm thick glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin
A copper-clad laminate on which an 8 μm copper foil 8 was laminated was used as a starting material (see FIG. 5A). First, the copper-clad laminate was drilled, subjected to electroless plating, and etched in a pattern to form a lower conductor circuit 4 and through holes 9 on both surfaces of the substrate 1.

【0073】(2) スルーホール9および下層導体回路4
を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、NaOH(1
0g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO
4 (6g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする
黒化処理、および、NaOH(10g/l)、NaBH
4 (6g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を
行い、そのスルーホール9を含む下層導体回路4の全表
面に粗化面4a、9aを形成した(図5(b)参照)。
(2) Through hole 9 and lower conductor circuit 4
After the substrate on which was formed was washed with water and dried, NaOH (1
0 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 A blackening treatment using an aqueous solution containing (6 g / l) as a blackening bath (oxidizing bath), NaOH (10 g / l), NaBH
4 A reduction treatment was performed using an aqueous solution containing (6 g / l) as a reduction bath, and roughened surfaces 4a and 9a were formed on the entire surface of the lower conductor circuit 4 including the through holes 9 (see FIG. 5B). .

【0074】(3) 上記Cに記載した樹脂充填材を調製し
た後、下記の方法により調製後24時間以内に、スルー
ホール9内、および、下層導体回路4間に樹脂充填材1
0を塗布することにより充填した(図5(c)参照)。
この際、塗布方法としては、スキージを用いた印刷法を
採用し、1回目の印刷塗布においては、主にスルーホー
ル9を充填し、100℃で20分間乾燥させた。また、
2回目の印刷塗布では、主に下層導体回路4の形成で生
じた凹部を充填し、100℃で20分間乾燥させた。
(3) After preparing the resin filler described in the above C, within 24 hours after the preparation by the following method, the resin filler 1 in the through hole 9 and between the lower conductor circuits 4 is prepared.
0 (see FIG. 5 (c)).
At this time, as a coating method, a printing method using a squeegee was adopted. In the first printing coating, the through holes 9 were mainly filled and dried at 100 ° C. for 20 minutes. Also,
In the second printing application, the recesses mainly formed by the formation of the lower conductive circuit 4 were filled and dried at 100 ° C. for 20 minutes.

【0075】(4) 上記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600のベルト研磨紙(三共理化学社製)を用い
たベルトサンダー研磨により、下層導体回路4の表面や
スルーホール9のランド表面に樹脂充填材が残らないよ
うに研磨し、ついで、上記ベルトサンダー研磨による傷
を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一連の
研磨を基板の他方の面についても同様に行った。この
後、100℃で1時間、150℃で1時間の加熱処理を
行い、樹脂充填材の層を完全に硬化させた。
(4) One surface of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.) to form the surface of the lower conductor circuit 4 and the through holes 9 Was polished so that the resin filler did not remain on the land surface, and then buffed to remove the scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Thereafter, a heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and at 150 ° C. for 1 hour to completely cure the resin filler layer.

【0076】このようにして、スルーホール9や導体回
路非形成部に形成された樹脂充填材10の表層部および
下層導体回路4の表面を平坦化し、樹脂充填材10と下
層導体回路4の側面4aとが粗化面を介して強固に密着
し、またスルーホール9の内壁面9aと樹脂充填材10
とが粗化面を介して強固に密着した絶縁性基板を得た
(図5(d)参照)。
In this way, the surface portion of the resin filler 10 formed in the through hole 9 and the portion where the conductor circuit is not formed and the surface of the lower conductor circuit 4 are flattened, and the resin filler 10 and the side surface of the lower conductor circuit 4 are flattened. 4a is firmly adhered through the roughened surface, and the inner wall surface 9a of the through hole 9 and the resin filler 10
Was firmly adhered through the roughened surface to obtain an insulating substrate (see FIG. 5D).

【0077】(5) 次に、上記工程により導体回路を形成
した絶縁性基板を、絶縁性基板同士が3cmの間隔があ
くようにラックに収納し、アルカリ脱脂してソフトエッ
チングし、次いで、塩化パラジウムと有機酸とからなる
触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を活
性化した。
(5) Next, the insulating substrate on which the conductor circuit is formed by the above-described process is housed in a rack so that the insulating substrates are spaced apart from each other by 3 cm, alkali-degreased and soft-etched, Treatment with a catalyst solution consisting of palladium and an organic acid provided a Pd catalyst and activated the catalyst.

【0078】次に、硫酸銅(3.9×10-2mol/
l)、硫酸ニッケル(3.8×10-3mol/l)、ク
エン酸ナトリウム(7.8×10-3mol/l)、次亜
リン酸ナトリウム(2.3×10-1 mol/l)、界
面活性剤(日信化学工業社製、サーフィノール465)
(1.0g/l)を含む水溶液からなるpH=9の無電
解銅めっき浴に基板を浸漬し、浸漬1分後に、4秒あた
りに1回の割合で縦および横方向に振動させて、下層導
体回路およびスルーホールのランドの表面に、Cu−N
i−Pからなる針状合金の粗化層を設けた。さらに、ホ
ウフッ化スズ(0.1mol/l)、チオ尿素(1.0
mol/l)を含む温度35℃、pH=1.2のめっき
浴を用い、Cu−Sn置換反応させ、粗化層の表面に厚
さ0.3μmのSn層を設けた(図6(a)参照)。
Next, copper sulfate (3.9 × 10 -2 mol /
l), nickel sulfate (3.8 × 10 -3 mol / l), sodium citrate (7.8 × 10 -3 mol / l), sodium hypophosphite (2.3 × 10 -1 mol / l) ), Surfactant (Sufinol 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.)
(1.0 g / l), the substrate was immersed in an electroless copper plating bath of pH = 9 consisting of an aqueous solution containing 1 g of an aqueous solution, and after 1 minute of immersion, vibrated in the vertical and horizontal directions at a rate of once per 4 seconds. Cu-N on the surface of the land of the lower conductor circuit and the through hole
A roughened layer of a needle-shaped alloy made of iP was provided. Further, tin borofluoride (0.1 mol / l), thiourea (1.0 mol / l)
(mol / l), a Cu—Sn substitution reaction was performed using a plating bath at a temperature of 35 ° C. and a pH of 1.2 to provide an Sn layer having a thickness of 0.3 μm on the surface of the roughened layer (FIG. )reference).

【0079】(6) さらに、ホウフッ化スズ(0.1mo
l/l)、チオ尿素(1.0mol/l)を含む温度3
5℃、pH=1.2のスズ置換めっき液を用い、浸漬時
間10分でCu−Sn置換反応させ、粗化層の表面に厚
さ0.3μmのSn層を設けた。ただし、このSn層に
ついては、図示しない。
(6) Further, tin borofluoride (0.1 mol
1 / l), temperature 3 containing thiourea (1.0 mol / l)
Using a tin-substituted plating solution at 5 ° C. and a pH of 1.2, a Cu—Sn substitution reaction was performed for 10 minutes in an immersion time to provide a 0.3 μm-thick Sn layer on the surface of the roughened layer. However, this Sn layer is not shown.

【0080】(7) 基板の両面に、上記Bにおいて記載し
た下層用の無電解めっき用接着剤(粘度:1.5Pa・
s)を調製後24時間以内にロールコータを用いて塗布
し、水平状態で20分間放置してから、60℃で30分
の乾燥を行った。次いで、上記Aにおいて記載した上層
用の無電解めっき用接着剤(粘度:7Pa・s)を調製
後24時間以内にロールコータを用いて塗布し、同様に
水平状態で20分間放置してから、60℃で30分の乾
燥を行い、厚さ35μmの無電解めっき用接着剤の層2
a、2bを形成した(図6(b)参照)。
(7) Adhesive for lower layer electroless plating described in B above (viscosity: 1.5 Pa ·
s) was applied using a roll coater within 24 hours after preparation, allowed to stand in a horizontal state for 20 minutes, and then dried at 60 ° C. for 30 minutes. Next, the adhesive for electroless plating (viscosity: 7 Pa · s) for the upper layer described in the above A was applied using a roll coater within 24 hours after preparation, and similarly left for 20 minutes in a horizontal state, After drying at 60 ° C. for 30 minutes, a 35 μm-thick electroless plating adhesive layer 2
a and 2b were formed (see FIG. 6B).

【0081】(8) 上記(7) で無電解めっき用接着剤の層
を形成した基板の両面に、直径85μmの黒円が印刷さ
れたフォトマスクフィルムを密着させ、超高圧水銀灯に
より500mJ/cm2 強度で露光した後、DMDG溶
液でスプレー現像した。この後、さらに、この基板を超
高圧水銀灯により3000mJ/cm2 強度で露光し、
100℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時
間の加熱処理を施し、フォトマスクフィルムに相当する
寸法精度に優れた直径85μmのバイアホール用開口6
を有する厚さ35μmの層間樹脂絶縁層2を形成した
(図6(c)参照)。なお、バイアホールとなる開口に
は、スズめっき層を部分的に露出させた。
(8) A photomask film on which a black circle having a diameter of 85 μm is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate on which the layer of the adhesive for electroless plating is formed in the above (7), and is 500 mJ / cm by an ultrahigh pressure mercury lamp. After exposure at two intensities, it was spray-developed with a DMDG solution. Thereafter, the substrate was further exposed at 3000 mJ / cm 2 intensity using an ultra-high pressure mercury lamp,
A heat treatment at 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours is performed.
(See FIG. 6 (c)). Note that the tin plating layer was partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0082】(9) バイアホール用開口6を形成した基板
を、クロム酸水溶液(7500g/l)に19分間浸漬
し、層間樹脂絶縁層の表面に存在するエポキシ樹脂粒子
を溶解除去してその表面を粗化し、粗化面を得た。その
後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いし
た(図6(d)参照)。さらに、粗面化処理した該基板
の表面に、パラジウム触媒(アトテック社製)を付与す
ることにより、層間絶縁材層の表面およびバイアホール
用開口の内壁面に触媒核を付着させた。
(9) The substrate in which the via hole opening 6 was formed was immersed in a chromic acid aqueous solution (7500 g / l) for 19 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulating layer. Was roughened to obtain a roughened surface. Then, it was immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and washed with water (see FIG. 6D). Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment, catalyst nuclei were attached to the surface of the interlayer insulating material layer and the inner wall surface of the via hole opening.

【0083】(10)次に、以下の組成の無電解銅めっき水
溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6〜1.
2μmの無電解銅めっき膜12を形成した(図7(a)
参照)。 〔無電解めっき水溶液〕 EDTA 0.08 mol/l 硫酸銅 0.03 mol/l HCHO 0.05 mol/l NaOH 0.05 mol/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.10 g/l (ポリエチレングリコール) 〔無電解めっき条件〕65℃の液温度で20分
(10) Next, the substrate is immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition, and has a thickness of 0.6 to 1.
An electroless copper plating film 12 of 2 μm was formed (FIG. 7A)
reference). [Electroless plating aqueous solution] EDTA 0.08 mol / l Copper sulfate 0.03 mol / l HCHO 0.05 mol / l NaOH 0.05 mol / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.10 g / L (polyethylene glycol) [Electroless plating conditions] at a liquid temperature of 65 ° C for 20 minutes

【0084】(11)市販の感光性ドライフィルムを無電解
銅めっき膜12に貼り付け、マスクを載置して、100
mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶液
で現像処理することにより、厚さ15μmのめっきレジ
スト3を設けた(図7(b)参照)。
(11) A commercially available photosensitive dry film is adhered to the electroless copper plating film 12, and a mask is placed thereon.
Exposure was performed at mJ / cm 2 , and development was performed with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution to provide a plating resist 3 having a thickness of 15 μm (see FIG. 7B).

【0085】(12)ついで、レジスト非形成部に以下の条
件で電気銅めっきを施し、厚さ15μmの電気銅めっき
膜13を形成した(図7(c)参照)。 〔電気めっき水溶液〕 硫酸 2.24 mol/l 硫酸銅 0.26 mol/l 添加剤 19.5 ml/l (アトテックジャパン社製、カパラシドHL) 〔電気めっき条件〕 電流密度 1 A/dm2 時間 65 分 温度 22±2 ℃
(12) Next, the copper-free copper plating film 13 having a thickness of 15 μm was formed on the non-resist-formed portion under the following conditions (see FIG. 7C). [Electroplating aqueous solution] sulfuric acid 2.24 mol / l copper sulfate 0.26 mol / l additive 19.5 ml / l (manufactured by Atotech Japan, capparaside HL) [electroplating conditions] current density 1 A / dm 2 hours 65 minutes Temperature 22 ± 2 ℃

【0086】(13)さらにめっきレジストを5%KOH水
溶液で剥離除去した後、そのめっきレジスト下の無電解
めっき膜を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理
して溶解除去し、独立の上層導体回路5(バイアホール
7を含む)とした(図7(d)参照)。
(13) Further, after the plating resist is stripped and removed with a 5% KOH aqueous solution, the electroless plating film under the plating resist is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to form an independent upper layer. The conductor circuit 5 (including the via hole 7) was used (see FIG. 7D).

【0087】(14)導体回路を形成した基板に対し、上記
(5) と同様の処理を行い、導体回路の表面に厚さ2μm
のCu−Ni−Pからなる合金粗化層11を形成した
(図8(a)参照)。 (15)続いて、上記 (6)〜(14)の工程を、繰り返すことに
より、さらに上層の導体回路を形成した。(図8(b)
〜図9(b)参照)。
(14) With respect to the substrate on which the conductor circuit is formed,
Perform the same treatment as in (5), and apply a 2 μm thick
An alloy roughened layer 11 made of Cu—Ni—P was formed (see FIG. 8A). (15) Subsequently, the above steps (6) to (14) were repeated to form a further upper layer conductive circuit. (FIG. 8 (b)
To FIG. 9 (b)).

【0088】(16)次に、ジエチレングリコールジメチル
エーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるように
溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日
本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光
性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.67重
量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビ
スフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品
名:エピコート1001)15重量部、イミダゾール硬
化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)1.
6重量部、感光性モノマーである多官能アクリルモノマ
ー(日本化薬社製、商品名:R604)3重量部、同じ
く多価アクリルモノマー(共栄化学社製、商品名:DP
E6A)1.5重量部、分散系消泡剤(サンノプコ社
製、商品名:S−65)0.71重量部を容器にとり、
攪拌、混合して混合組成物を調製し、この混合組成物に
対して光重合開始剤としてベンゾフェノン(関東化学社
製)2.0重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン
(関東化学社製)0.2重量部を加えて、粘度を25℃
で2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト組成物
(有機樹脂絶縁材料)を得た。なお、粘度測定は、B型
粘度計(東京計器社製、DVL−B型)で60rpmの
場合はローターNo.4、6rpmの場合はローターN
o.3によった。
(16) Next, a cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) to a concentration of 60% by weight was used. 46.67 parts by weight of an oligomer for imparting property (molecular weight: 4000), 15 parts by weight of a bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001 manufactured by Yuka Shell Co., Ltd.) dissolved in methyl ethyl ketone, and 15 parts by weight of an imidazole curing agent ( (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN)
6 parts by weight, 3 parts by weight of a polyfunctional acrylic monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), which is a photosensitive monomer, and polyvalent acrylic monomer (trade name: DP, manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd.)
E6A) 1.5 parts by weight and 0.71 part by weight of a dispersion antifoaming agent (manufactured by San Nopco, trade name: S-65) in a container,
A mixed composition was prepared by stirring and mixing, and 2.0 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photopolymerization initiator and Michler's ketone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photosensitizer were added to the mixed composition. Add 0.2 parts by weight and adjust viscosity to 25 ° C
To obtain a solder resist composition (organic resin insulating material) adjusted to 2.0 Pa · s. The viscosity was measured with a B-type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.) when the rotor No. was 60 rpm. Rotor N at 4,6 rpm
o. According to 3.

【0089】(17)次に、多層配線基板の両面に、上記ソ
ルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70
℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行
った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画され
た厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト層に密
着させて1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DM
TG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口を形成
した。そして、さらに、80℃で1時間、100℃で1
時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件でそ
れぞれ加熱処理を行ってソルダーレジスト層を硬化さ
せ、はんだパッド部分が開口した、その厚さが20μm
のソルダーレジスト層(有機樹脂絶縁層)14を形成し
た。
(17) Next, the above-mentioned solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm,
After performing a drying process under the conditions of 20 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 30 minutes, a 5 mm-thick photomask on which a pattern of the opening of the solder resist is drawn is brought into close contact with the solder resist layer, and an ultraviolet ray of 1000 mJ / cm 2 is applied. Exposure with DM
Development was performed with a TG solution to form an opening having a diameter of 200 μm. Then, at 80 ° C. for 1 hour, and at 100 ° C. for 1 hour.
The solder resist layer was cured by performing a heat treatment under the conditions of 1 hour at 120 ° C. and 3 hours at 150 ° C., and the solder pad portion was opened, and the thickness was 20 μm.
Of the solder resist layer (organic resin insulating layer) 14 was formed.

【0090】(18)次に、ソルダーレジスト層(有機樹脂
絶縁層)14を形成した基板を、塩化ニッケル(2.3
×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8
×10 -1mol/l)、クエン酸ナトリウム(1.6×
10-1mol/l)を含むpH=4.5の無電解ニッケ
ルめっき液に20分間浸漬して、開口部に厚さ5μmの
ニッケルめっき層15を形成した。さらに、その基板を
シアン化金カリウム(7.6×10-3mol/l)、塩
化アンモニウム(1.9×10-1mol/l)、クエン
酸ナトリウム(1.2×10-1mol/l)、次亜リン
酸ナトリウム(1.7×10-1mol/l)を含む無電
解めっき液に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッ
ケルめっき層15上に、厚さ0.03μmの金めっき層
16を形成した。
(18) Next, a solder resist layer (organic resin
The substrate on which the insulating layer (14) is formed is coated with nickel chloride (2.3).
× 10-1mol / l), sodium hypophosphite (2.8
× 10 -1mol / l), sodium citrate (1.6 ×
10-1mol / l) and pH = 4.5
Immersion in a plating solution for 20 minutes, and a 5 μm thick
A nickel plating layer 15 was formed. In addition, the board
Potassium gold cyanide (7.6 × 10-3mol / l), salt
Ammonium iodide (1.9 × 10-1mol / l), quenched
Sodium acid (1.2 × 10-1mol / l), phosphorus hypophosphite
Sodium acid (1.7 × 10-1mol / l)
Immerse in a plating solution at 80 ° C for 7.5 minutes,
0.03 μm thick gold plating layer on the Kell plating layer 15
No. 16 was formed.

【0091】(19)次に、ICチップ等の電子部品を接続
するファインピッチ側のみに半田バンプを形成するた
め、半田ペーストの印刷を行った。この際、2枚のマス
クを用い、半田ペーストの印刷を2回に分けて行った。
まず、1回目の半田ペーストの印刷は、図2に示した半
田バンプ形成用パッド18の○印の部分、すなわち横に
並んだ半田バンプ形成用パッドに対して1列おきに印刷
することができるように構成されたマスクを用い、この
マスクをソルダーレジスト14上に載置し、硬度75°
のゴムスキージを用いて、半田バンプ形成用パッド部に
半田ペーストを充填した。マスクの開口径は、全て17
0μmであった。
(19) Next, solder paste was printed to form solder bumps only on the fine pitch side for connecting electronic components such as IC chips. At this time, the printing of the solder paste was performed twice using two masks.
First, in the first printing of the solder paste, printing can be performed every other row on the portion of the solder bump forming pad 18 shown in FIG. Using a mask configured as described above, this mask is placed on the solder resist 14 and has a hardness of 75 °.
Using a rubber squeegee, the solder paste was filled in the pad portion for forming the solder bump. The opening diameter of the mask is 17
It was 0 μm.

【0092】また、半田ペーストは、Sn/Pbを重量
比63:37で配合させた主として粒径5〜25μmの
半田を含むもので、その粘度が200Pa.sに調整さ
れたものである。
The solder paste mainly contains a solder having a particle diameter of 5 to 25 μm in which Sn / Pb is blended at a weight ratio of 63:37, and has a viscosity of 200 Pa.s. s.

【0093】次に、2回目の半田ペーストの印刷を行っ
たが、この際、図2に示した半田バンプ形成用パッドの
◎印の部分のみに印刷することができるように構成さ
れ、かつ、1回目に半田バンプを形成した部分に対向す
る部分にはザグリ21aが入れられた図3に示したよう
なマスクを使用した。印刷条件は、1回目の場合と同様
であり、マスクの開口径は、全て170μmであった。
この後、1回目及び2回目で形成された半田ペースト層
を200℃でリフローすることにより、半田バンプを形
成した(図9(c))。
Next, the second printing of the solder paste was performed. At this time, the printing was performed only on the portions marked with ◎ of the solder bump forming pad shown in FIG. A mask as shown in FIG. 3 having a counterbore 21a was used in a portion facing the portion where the solder bump was formed for the first time. The printing conditions were the same as in the first printing, and the opening diameters of the masks were all 170 μm.
Thereafter, solder bumps were formed by reflowing the solder paste layers formed in the first and second times at 200 ° C. (FIG. 9C).

【0094】(21)次に、フラックス洗浄を行い、ルータ
ーを持つ装置で、基板を適当な大きさに分割切断した
後、プリント配線板の短絡、断線を検査するチェッカー
工程を経て、プリント配線板を得た。 (20)上記方法により、複数のプリント配線板を製造し、
製造したプリント配線板の他の一部を用い、ICチップ
との接合を行った。すなわち、所定の取り付け装置を用
い、フラックス洗浄後、ターゲットマークを基準とし
て、プリント配線板の半田バンプとICチップに設けら
れたバンプとの位置合わせを行い、半田をリフローさせ
ることによりプリント配線板の半田バンプとICチップ
のバンプとを接合させた。そして、フラックス洗浄後、
該ICチップと多層プリント配線板との間にアンダーフ
ィルを充填し、これによってICチップが接続したプリ
ント配線板を得た。
(21) Next, the printed circuit board is subjected to flux cleaning, and the substrate is divided into pieces having an appropriate size by a device having a router. I got (20) By the above method, a plurality of printed wiring boards are manufactured,
The other part of the manufactured printed wiring board was joined to an IC chip. That is, using a predetermined mounting device, after the flux cleaning, the solder bumps of the printed wiring board are aligned with the bumps provided on the IC chip with reference to the target mark, and the solder is reflowed. The solder bump and the bump of the IC chip were joined. And after flux washing,
An underfill was filled between the IC chip and the multilayer printed wiring board to obtain a printed wiring board to which the IC chip was connected.

【0095】(実施例2)1回目の半田印刷後、形成さ
れた半田ペースト層を200℃でリフローすることによ
り、半田バンプを形成し、その後、2回目の半田ペース
トの印刷を行って、半田バンプを形成させたほかは実姉
例1と同様にしてプリント配線板を製造した。
(Embodiment 2) After the first solder printing, the formed solder paste layer is reflowed at 200 ° C. to form solder bumps, and then the second solder paste printing is performed. A printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that bumps were formed.

【0096】(比較例1)1回の半田ペーストの印刷で
全半田バンプに半田ペーストを充填し、半田バンプを形
成したほかは、実施例1と同様にしてプリント配線板を
製造した。
Comparative Example 1 A printed wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that all the solder bumps were filled with the solder paste by a single solder paste printing to form the solder bumps.

【0097】次に、実施例1、2および比較例1で製造
されたプリント配線板について、ソルダーレジスト層の
汚染を観察し、半田バンプ高さと形状、信頼性試験前と
後の性能試験等の評価を下記の方法により行い、また、
マスクの損傷の有無についても比較評価を行った。その
結果を表1に示した。
Next, with respect to the printed wiring boards manufactured in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1, contamination of the solder resist layer was observed, and solder bump height and shape, performance tests before and after the reliability test, and the like were performed. The evaluation is performed by the following method.
A comparative evaluation was also made on whether or not the mask was damaged. The results are shown in Table 1.

【0098】評価方法 (1)半田バンプの形状と高さ プリント配線板を半田バンプが形成されている部分で切
断し、切断した断面を顕微鏡で観察してソルダーレジス
ト層からの半田バンプの高さを測定し、形状を観察し
た。形状については、半球状になっているものを○、そ
うでないものを×とした。
[0098]Evaluation method  (1) Shape and height of solder bumps Cut the printed wiring board at the portions where the solder bumps are formed.
After observing the cross section with a microscope,
Measure the height of the solder bump from the solder layer, observe the shape,
Was. Regarding the shape, circle the hemisphere,
Those that were not eligible were marked X.

【0099】(2)信頼性試験(ヒートサイクル試験) 135℃、相対湿度85%の条件下で1000時間放置
した後、下記する導通試験を行い、プリント配線板を半
田バンプ部分が形成されている部分で切断して半田バン
プの状態を観察した。信頼性試験前と変わらないものを
○、クラック等が観察されたものを×としている。
(2) Reliability Test (Heat Cycle Test) After standing at 135 ° C. and a relative humidity of 85% for 1000 hours, the following continuity test was carried out, and the printed wiring board was formed with solder bump portions. The part was cut and the state of the solder bump was observed.も の indicates that there is no change from before the reliability test, and X indicates that cracks and the like are observed.

【0100】(3)導通試験 プリント配線板製造後上記信頼性試験の前、または、上
記信頼性試験後に導通試験を行い、モニターに表示され
た結果から導通状態を評価した。短絡、断線がないもの
を○、短絡、断線があったものを×としている。
(3) Continuity Test A continuity test was performed after the printed wiring board was manufactured, before the reliability test, or after the reliability test, and the continuity was evaluated based on the result displayed on the monitor.も の indicates that there was no short circuit or disconnection, and X indicates that there was a short circuit or disconnection.

【0101】(5)マスクの状態 マスクを目視で観察した。損傷が認められたものを×、
損傷が認められないものを○としている。
(5) State of Mask The mask was visually observed. ×, if damage was found
If no damage was observed, it is marked with a circle.

【0102】[0102]

【表1】 [Table 1]

【0103】表1に記載したように、実施例1、2で製
造されたプリント配線板では、半田バンプには高さ、形
状ともほぼ均一であり、半田ペーストのニジミに起因す
る半田バンプ間の短絡もなかった。また、マスク間の距
離が適切であったため、連続印刷を行ってもマスクの破
れや開口部の破壊など、マスクへの損傷も起こらなかっ
た。さらに、信頼性試験の前後で導通試験を行っても全
く問題がなく、半田バンプのクラック、剥がれも見当た
らなかった。
As shown in Table 1, in the printed wiring boards manufactured in Examples 1 and 2, the height and shape of the solder bumps were substantially uniform, and the solder bumps between the solder bumps due to the bleeding of the solder paste were used. There were no short circuits. In addition, since the distance between the masks was appropriate, even when continuous printing was performed, no damage to the mask such as tearing of the mask or destruction of the opening occurred. Further, even if a conduction test was performed before and after the reliability test, there was no problem at all, and no crack or peeling of the solder bump was found.

【0104】一方、比較例1で製造されたプリント配線
板は、半田バンプ内にボイドが形成され、高さも実施例
1と比べてもバラツキが大きく、形状も一様でなかっ
た。また、半田ペーストのニジミに起因する半田バンプ
間の短絡がみられた。導通試験に関しては、上記半田バ
ンプ形成時の半田バンプ間の短絡を除くと、半田バンプ
形成後は特に問題がなかったが、信頼性試験後に断線、
短絡が生じた。また、断線と確認された部分の半田バン
プの断面を切断すると、クラック、剥がれを引き起こし
ていた。半田バンプ内のボイドから誘発されたものであ
ると推定された。
On the other hand, the printed wiring board manufactured in Comparative Example 1 had voids formed in the solder bumps, had a large variation in height compared to Example 1, and had a non-uniform shape. In addition, a short circuit between the solder bumps due to the bleeding of the solder paste was observed. Regarding the continuity test, there was no particular problem after the formation of the solder bumps, except for the short circuit between the solder bumps during the formation of the solder bumps.
A short circuit has occurred. Further, when the cross section of the solder bump at the portion where the disconnection was confirmed was cut, cracks and peeling were caused. It was presumed to be caused by voids in the solder bumps.

【0105】[0105]

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明のプリ
ント配線板の製造方法によれば、ICチップなどの電子
部品の狭ピッチ化、ファイン化に対応した半田バンプを
形成することができ、半田バンプ間の短絡を起こさず、
半田バンプの形状、高さを均一にして、ICチップなど
の電子部品との接続を確実に行うことができる接続性、
信頼性に優れたプリント配線板を製造することができ
る。
As described above, according to the method of manufacturing a printed wiring board of the present invention, it is possible to form solder bumps corresponding to narrow pitch and fine pitch of electronic components such as IC chips. No short circuit between solder bumps
The uniformity of the shape and height of the solder bumps, and the connectivity that enables reliable connection with electronic components such as IC chips,
A highly reliable printed wiring board can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】プリント配線板上のソルダーレジスト層に形成
された半田バンプ形成用パッドの配列状態の一例を模式
的に示した平面図である。
FIG. 1 is a plan view schematically showing an example of an arrangement state of solder bump forming pads formed on a solder resist layer on a printed wiring board.

【図2】半田バンプ形成用パッドの配列状態の他の一例
を模式的に示した平面図である。
FIG. 2 is a plan view schematically showing another example of an arrangement state of pads for forming solder bumps.

【図3】本発明のプリント配線板の製造方法における半
田バンプの形成方法の一例を示した断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating an example of a method of forming a solder bump in the method of manufacturing a printed wiring board according to the present invention.

【図4】(a)、(b)は、本発明のプリント配線板の
製造方法における半田バンプの形成方法の他の例を示し
た断面図である。
FIGS. 4A and 4B are cross-sectional views showing another example of a method of forming a solder bump in the method of manufacturing a printed wiring board according to the present invention.

【図5】(a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 5A to 5D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図6】(a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 6A to 6D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図7】(a)〜(d)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 7A to 7D are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図8】(a)〜(c)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 8A to 8C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【図9】(a)〜(c)は、本発明のプリント配線板の
製造工程の一部を示す断面図である。
FIGS. 9A to 9C are cross-sectional views showing a part of the manufacturing process of the printed wiring board of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2(2a、2b) 層間樹脂絶縁層(無電解めっき用接
着剤層) 3 めっきレジスト層 4 下層導体回路 4a 粗化面 5 上層導体回路 7 バイアホール 8 銅箔 9 スルーホール 9a 粗化面 10 樹脂充填材 11 粗化層 12 無電界めっき層 13 電界めっき層 14 ソルダーレジスト層(有機樹脂絶縁層) 15 ニッケルめっき膜 16 金めっき膜 17 半田バンプ 18 半田バンプ形成用パッド 21 マスク 21a ザグリ 21b 開口部 22a、22b、22c 半田ペースト層
Reference Signs List 1 substrate 2 (2a, 2b) interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) 3 plating resist layer 4 lower layer conductor circuit 4a roughened surface 5 upper layer conductor circuit 7 via hole 8 copper foil 9 through hole 9a roughened surface DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Resin filler 11 Roughening layer 12 Electroless plating layer 13 Electroplating layer 14 Solder resist layer (organic resin insulating layer) 15 Nickel plating film 16 Gold plating film 17 Solder bump 18 Solder bump formation pad 21 Mask 21a Counterbore 21b Opening Parts 22a, 22b, 22c Solder paste layer

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 形成した導体回路上に層間絶縁層を形成
する工程を繰り返して、絶縁性基板上に層間絶縁層を挟
んだ複数層からなる導体回路を形成した後、最上層の導
体回路上にソルダーレジスト層を設け、前記ソルダーレ
ジスト層の一部を開口して複数の半田バンプ形成用パッ
ドを形成し、前記半田バンプ形成用パッド上にマスクを
用いて半田ペーストを印刷し、半田バンプを形成するプ
リント配線板の製造方法であって、形成された全半田バ
ンプ形成用パッドの一部に対向する部分にのみ開口部が
形成され、開口部同士の間隔が広くとられたマスクを用
いて1回目の印刷処理を行い、2回目以降の印刷で1回
目に印刷されなかった半田バンプ形成用パッド部分が開
口されたマスクを用いて印刷処理を行うことを特徴とす
るプリント配線板の製造方法。
A step of forming an interlayer insulating layer on the formed conductor circuit to form a plurality of conductive circuits on the insulating substrate with the interlayer insulating layer interposed therebetween; A solder resist layer is provided, a plurality of solder bump forming pads are formed by opening a part of the solder resist layer, a solder paste is printed on the solder bump forming pad using a mask, and the solder bumps are formed. A method of manufacturing a printed wiring board to be formed, wherein an opening is formed only in a portion facing a part of all the formed solder bump forming pads, and a mask having a large space between the openings is used. A printed wiring board, comprising: performing a first printing process; and performing a printing process using a mask having an opening in a solder bump forming pad portion that has not been printed in a second or subsequent printing process. Production method.
【請求項2】 1回目の印刷において、形成された半田
ペースト層の上面がソルダーレジスト層の表面と略同一
となるように半田バンプ形成用パッドに半田ペーストを
充填する請求項1に記載のプリント配線板の製造方法。
2. The print according to claim 1, wherein in the first printing, the solder paste is filled in the solder bump forming pad such that the upper surface of the formed solder paste layer is substantially the same as the surface of the solder resist layer. Manufacturing method of wiring board.
【請求項3】 2回目以降の印刷では、新たに印刷する
部分のほかに、前に印刷した半田バンプ形成用パッドに
対向する部分にも、前に形成した開口部より小さな開口
部が設けられたマスクを用い、印刷処理を行う請求項1
または2に記載のプリント配線板の製造方法。
3. In the second and subsequent printings, an opening smaller than the previously formed opening is provided not only in a newly printed portion but also in a portion facing the previously printed solder bump forming pad. 2. A printing process is performed using a mask that has been set.
Or the method for manufacturing a printed wiring board according to 2.
【請求項4】 半田ペーストの印刷工程に続いてリフロ
ー工程を行い、次の半田ペーストの印刷工程を行う請求
項1〜3のいずれかに記載のプリント配線板の製造方
法。
4. The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1, wherein a reflow process is performed after the solder paste printing process, and a subsequent solder paste printing process is performed.
【請求項5】 2回目以降の半田ペーストの印刷におい
ては、ソルダーレジストに当接する側の、前に形成した
半田バンプ形成用パッドに対向する部分に凹部が形成さ
れたマスクを用いる請求項1〜4のいずれかに記載のプ
リント配線板の製造方法。
5. The second or subsequent printing of a solder paste, wherein a mask having a concave portion formed on a portion in contact with the solder resist and facing a previously formed solder bump forming pad is used. 5. The method for manufacturing a printed wiring board according to any one of 4.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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