JP2000306781A - 電解コンデンサ用金属粉末ならびにこれを用いた電解コンデンサ用陽極体および電解コンデンサ - Google Patents
電解コンデンサ用金属粉末ならびにこれを用いた電解コンデンサ用陽極体および電解コンデンサInfo
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- H01G9/00—Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B22F1/00—Metallic powder; Treatment of metallic powder, e.g. to facilitate working or to improve properties
- B22F1/05—Metallic powder characterised by the size or surface area of the particles
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- H01G9/048—Electrodes or formation of dielectric layers thereon characterised by their structure
- H01G9/052—Sintered electrodes
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電解コンデンサ用陽極体を製造する際の陽極
酸化処理電圧と電解コンデンサ用金属粉末の粒子径との
適正化を図り、金属粉末の粒子径に対して適切な厚さの
陽極酸化皮膜を形成して静電容量の高いコンデンサが得
られるようにする。 【解決手段】 電解コンデンサ用金属粉末からなる陽極
焼結体に陽極酸化皮膜を形成する際の陽極酸化処理電圧
がＶｆ（単位：Ｖ）であるとき、画像解析法によって求
められる一次粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（単
位：ｎｍ）の範囲である粒子を５０重量％以上含む電解
コンデンサ用金属粉末を使用して電解コンデンサ用陽極
体を製造する。
酸化処理電圧と電解コンデンサ用金属粉末の粒子径との
適正化を図り、金属粉末の粒子径に対して適切な厚さの
陽極酸化皮膜を形成して静電容量の高いコンデンサが得
られるようにする。 【解決手段】 電解コンデンサ用金属粉末からなる陽極
焼結体に陽極酸化皮膜を形成する際の陽極酸化処理電圧
がＶｆ（単位：Ｖ）であるとき、画像解析法によって求
められる一次粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（単
位：ｎｍ）の範囲である粒子を５０重量％以上含む電解
コンデンサ用金属粉末を使用して電解コンデンサ用陽極
体を製造する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電解コンデンサ用の
陽極体を製造するのに好適な金属粉末、ならびにこれを
用いた電解コンデンサ用陽極体および電解コンデンサに
関する。
陽極体を製造するのに好適な金属粉末、ならびにこれを
用いた電解コンデンサ用陽極体および電解コンデンサに
関する。
【０００２】
【従来の技術】図１は電解コンデンサ用陽極体の例を示
した斜視図である。図中符号１は陽極焼結体であり陽極
酸化被膜が形成されている。２はリードワイヤであり、
リードワイヤ２の一部は陽極焼結体１内に埋め込まれて
いる。電解コンデンサ用陽極体を製造するには、まずタ
ンタルやニオブなどの電解コンデンサ用金属粉末とリー
ドワイヤ２をダイス内に入れて加圧成形した後、焼結す
る。これにより金属粉末は圧粉、焼結されて多孔質の陽
極焼結体１を形成する。陽極焼結体１とリードワイヤ２
とは一体化される。そして陽極焼結体１に対して陽極酸
化処理を施して陽極酸化皮膜を形成することによって電
解コンデンサ用陽極体が得られる。このようにして得ら
れた陽極体の陽極焼結体１上に、例えば二酸化マンガン
や酸化鉛等の固体電解質層、グラファイト層、および銀
ペースト層を形成し、陰極端子および陽極端子を接続し
た後、樹脂外装を形成したものが電解コンデンサとして
用いられる。
した斜視図である。図中符号１は陽極焼結体であり陽極
酸化被膜が形成されている。２はリードワイヤであり、
リードワイヤ２の一部は陽極焼結体１内に埋め込まれて
いる。電解コンデンサ用陽極体を製造するには、まずタ
ンタルやニオブなどの電解コンデンサ用金属粉末とリー
ドワイヤ２をダイス内に入れて加圧成形した後、焼結す
る。これにより金属粉末は圧粉、焼結されて多孔質の陽
極焼結体１を形成する。陽極焼結体１とリードワイヤ２
とは一体化される。そして陽極焼結体１に対して陽極酸
化処理を施して陽極酸化皮膜を形成することによって電
解コンデンサ用陽極体が得られる。このようにして得ら
れた陽極体の陽極焼結体１上に、例えば二酸化マンガン
や酸化鉛等の固体電解質層、グラファイト層、および銀
ペースト層を形成し、陰極端子および陽極端子を接続し
た後、樹脂外装を形成したものが電解コンデンサとして
用いられる。
【０００３】陽極焼結体１上に陽極酸化皮膜を形成する
ための陽極酸化処理は、陽極焼結体１を例えばＨ3ＰＯ4
などの陽極酸化処理液中に浸漬させて電圧を印加するこ
とによって行われる。本明細書では、このとき印加され
る電圧を陽極酸化処理電圧という（単に処理電圧という
こともある）。陽極酸化処理においては、多孔質の陽極
焼結体１を構成している金属粉末表面のうち、陽極酸化
処理液と接触している部分に酸化物が生成し酸化皮膜が
形成される。
ための陽極酸化処理は、陽極焼結体１を例えばＨ3ＰＯ4
などの陽極酸化処理液中に浸漬させて電圧を印加するこ
とによって行われる。本明細書では、このとき印加され
る電圧を陽極酸化処理電圧という（単に処理電圧という
こともある）。陽極酸化処理においては、多孔質の陽極
焼結体１を構成している金属粉末表面のうち、陽極酸化
処理液と接触している部分に酸化物が生成し酸化皮膜が
形成される。
【０００４】例えば電解コンデンサ用のタンタル粉末
は、フッ化タンタル酸カリウムをナトリウム還元して得
られる一次粒子を熱処理して凝集させた後に解砕し、適
当な粒度範囲に篩分けしたものが用いられている。そし
て陽極酸化処理においては、例えば図２に模式的に示す
ように、タンタル粉末１１の表面部分が消費されて酸化
物（Ｔａ2Ｏ5）が生成することによって酸化皮膜１２が
形成される。陽極酸化処理電圧が高くなるほど、酸化皮
膜１２の厚さは厚くなる。タンタル電解コンデンサにお
いては、酸化被膜１２とその内部の酸化されていない部
分（金属タンタルということもある）１３との界面が蓄
電に寄与している。したがって、例えば１個のタンタル
粉末１１について考えると、陽極酸化処理によってタン
タル粉末１１の全体が酸化物になり、中心に金属タンタ
ル１３の部分が存在しなくなると、そのタンタル粉末１
１においてはコンデンサ機能が発揮されないことにな
る。
は、フッ化タンタル酸カリウムをナトリウム還元して得
られる一次粒子を熱処理して凝集させた後に解砕し、適
当な粒度範囲に篩分けしたものが用いられている。そし
て陽極酸化処理においては、例えば図２に模式的に示す
ように、タンタル粉末１１の表面部分が消費されて酸化
物（Ｔａ2Ｏ5）が生成することによって酸化皮膜１２が
形成される。陽極酸化処理電圧が高くなるほど、酸化皮
膜１２の厚さは厚くなる。タンタル電解コンデンサにお
いては、酸化被膜１２とその内部の酸化されていない部
分（金属タンタルということもある）１３との界面が蓄
電に寄与している。したがって、例えば１個のタンタル
粉末１１について考えると、陽極酸化処理によってタン
タル粉末１１の全体が酸化物になり、中心に金属タンタ
ル１３の部分が存在しなくなると、そのタンタル粉末１
１においてはコンデンサ機能が発揮されないことにな
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、コンデンサ
の容量を高めるためには、陽極焼結体１における金属粉
末全体表面積を大きくすることが有効とされ、そのため
にコンデンサ用タンタル粉末１１としては粒子径が小さ
く比表面積が大きいものが重用されてきた。また近年で
は、電子機器の小型化、高性能化に対応してコンデンサ
の小型化も進んでおり、これに対応してコンデンサ用タ
ンタル粉末１１も微細な粉末が使用されるようになって
きた。微細なタンタル粉末１１を使用すると陽極酸化皮
膜１２の厚さがタンタル粉末１１の粒子半径に近くなっ
てくる。そして上述のようにタンタル粉末１１全体が酸
化物となってしまうと蓄電能力はなくなるので、静電容
量の高いコンデンサを得ることはできない。
の容量を高めるためには、陽極焼結体１における金属粉
末全体表面積を大きくすることが有効とされ、そのため
にコンデンサ用タンタル粉末１１としては粒子径が小さ
く比表面積が大きいものが重用されてきた。また近年で
は、電子機器の小型化、高性能化に対応してコンデンサ
の小型化も進んでおり、これに対応してコンデンサ用タ
ンタル粉末１１も微細な粉末が使用されるようになって
きた。微細なタンタル粉末１１を使用すると陽極酸化皮
膜１２の厚さがタンタル粉末１１の粒子半径に近くなっ
てくる。そして上述のようにタンタル粉末１１全体が酸
化物となってしまうと蓄電能力はなくなるので、静電容
量の高いコンデンサを得ることはできない。
【０００６】しかしながら、従来は主にタンタル粉末の
粒度を小さくすることに力が注がれ、タンタル粉末の粒
子径と陽極酸化電圧との関係については重要視されてい
なかったので、必ずしも静電容量の高いコンデンサは得
られていなかった。例えば特開平４−２１８６０８号公
報には粒度２５０μｍ以下、ＢＥＴ比表面積０．４２ｍ
2／ｇのタンタル粉末を使用することが開示されてい
る。ここでの陽極酸化処理電圧は７０Ｖである。また特
開平４−１３６１０２号公報では、ＢＥＴ比表面積０．
２５ｍ2／ｇ（球換算直径で１．４μｍに相当）のタン
タル粉末を使用し、陽極酸化処理電圧を１００Ｖとして
いる。さらに、特開平８−９７０９５号公報には、平均
粒子径１３０ｎｍのタンタル粉末を使用し、４０〜１４
０Ｖの処理電圧で陽極酸化処理を行うことが開示されて
いる。一方、小型機器における省電力化を達成してバッ
テリー寿命の延長を図るという観点からは、陽極酸化電
圧を低くすることが提案されており、最近では５Ｖ程度
の低い陽極酸化電圧が採用されるようになってきてい
る。
粒度を小さくすることに力が注がれ、タンタル粉末の粒
子径と陽極酸化電圧との関係については重要視されてい
なかったので、必ずしも静電容量の高いコンデンサは得
られていなかった。例えば特開平４−２１８６０８号公
報には粒度２５０μｍ以下、ＢＥＴ比表面積０．４２ｍ
2／ｇのタンタル粉末を使用することが開示されてい
る。ここでの陽極酸化処理電圧は７０Ｖである。また特
開平４−１３６１０２号公報では、ＢＥＴ比表面積０．
２５ｍ2／ｇ（球換算直径で１．４μｍに相当）のタン
タル粉末を使用し、陽極酸化処理電圧を１００Ｖとして
いる。さらに、特開平８−９７０９５号公報には、平均
粒子径１３０ｎｍのタンタル粉末を使用し、４０〜１４
０Ｖの処理電圧で陽極酸化処理を行うことが開示されて
いる。一方、小型機器における省電力化を達成してバッ
テリー寿命の延長を図るという観点からは、陽極酸化電
圧を低くすることが提案されており、最近では５Ｖ程度
の低い陽極酸化電圧が採用されるようになってきてい
る。
【０００７】本発明は前記事情に鑑みてなされたもの
で、陽極酸化処理電圧と電解コンデンサ用金属粉末の粒
子径との適正化を図り、金属粉末の粒子径に対して適切
な厚さの陽極酸化皮膜を形成して静電容量の高いコンデ
ンサが得られるようにすることを目的とする。
で、陽極酸化処理電圧と電解コンデンサ用金属粉末の粒
子径との適正化を図り、金属粉末の粒子径に対して適切
な厚さの陽極酸化皮膜を形成して静電容量の高いコンデ
ンサが得られるようにすることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の電解コンデンサ用金属粉末は、電解コンデ
ンサ用陽極体を製造するのに用いられる電解コンデンサ
用金属粉末であって、該電解コンデンサ用金属粉末から
なる陽極焼結体に陽極酸化皮膜を形成する際の陽極酸化
処理電圧がＶｆ（単位：Ｖ）であるとき、画像解析法に
よって求められる一次粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１０×
Ｖｆ（単位：ｎｍ）の範囲である粒子が５０重量％以上
含まれていることを特徴とする。
に、本発明の電解コンデンサ用金属粉末は、電解コンデ
ンサ用陽極体を製造するのに用いられる電解コンデンサ
用金属粉末であって、該電解コンデンサ用金属粉末から
なる陽極焼結体に陽極酸化皮膜を形成する際の陽極酸化
処理電圧がＶｆ（単位：Ｖ）であるとき、画像解析法に
よって求められる一次粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１０×
Ｖｆ（単位：ｎｍ）の範囲である粒子が５０重量％以上
含まれていることを特徴とする。
【０００９】本発明の電解コンデンサ用陽極体は、本発
明の電解コンデンサ用金属粉末をリード部材と共に加圧
成形した後、焼結して得られる陽極焼結体に陽極酸化皮
膜を形成してなるものである。本発明の電解コンデンサ
は、本発明の電解コンデンサ用陽極体を陽極として具備
してなるものである。本発明の電解コンデンサ用陽極体
の製造方法は、予め陽極酸化処理電圧をＶｆ（単位：
Ｖ）に設定し、画像解析法によって求められる一次粒子
直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（単位：ｎｍ）の範囲
である粒子を５０重量％以上含む電解コンデンサ用金属
粉末をリード部材と共に加圧成形した後、焼結して陽極
焼結体を得、該陽極焼結体に対して上記陽極酸化処理電
圧Ｖｆを用いて陽極酸化処理を施して陽極酸化皮膜を形
成することを特徴とする。前記陽極酸化処理電圧Ｖｆは
５〜２５０Ｖの範囲内で好ましく設定することができ
る。
明の電解コンデンサ用金属粉末をリード部材と共に加圧
成形した後、焼結して得られる陽極焼結体に陽極酸化皮
膜を形成してなるものである。本発明の電解コンデンサ
は、本発明の電解コンデンサ用陽極体を陽極として具備
してなるものである。本発明の電解コンデンサ用陽極体
の製造方法は、予め陽極酸化処理電圧をＶｆ（単位：
Ｖ）に設定し、画像解析法によって求められる一次粒子
直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（単位：ｎｍ）の範囲
である粒子を５０重量％以上含む電解コンデンサ用金属
粉末をリード部材と共に加圧成形した後、焼結して陽極
焼結体を得、該陽極焼結体に対して上記陽極酸化処理電
圧Ｖｆを用いて陽極酸化処理を施して陽極酸化皮膜を形
成することを特徴とする。前記陽極酸化処理電圧Ｖｆは
５〜２５０Ｖの範囲内で好ましく設定することができ
る。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳しく説明する。
タンタル粉末１１を陽極酸化処理する際、陽極処理電圧
１Ｖに対して形成される酸化皮膜１２の厚さは約２ｎｍ
であり、このときタンタル粉末１１の表面においては約
１ｎｍ厚のタンタルが消費される。このことから本発明
者等は、陽極酸化処理電圧をある値に設定したとき、陽
極焼結体１を構成しているタンタル粉末１１の中心に金
属タンタル１３の芯を残すには、粒子径がある値以上の
大きさのタンタル粉末１１を使用することが必要である
と考え、鋭意研究を重ねた結果、本発明に至った。
タンタル粉末１１を陽極酸化処理する際、陽極処理電圧
１Ｖに対して形成される酸化皮膜１２の厚さは約２ｎｍ
であり、このときタンタル粉末１１の表面においては約
１ｎｍ厚のタンタルが消費される。このことから本発明
者等は、陽極酸化処理電圧をある値に設定したとき、陽
極焼結体１を構成しているタンタル粉末１１の中心に金
属タンタル１３の芯を残すには、粒子径がある値以上の
大きさのタンタル粉末１１を使用することが必要である
と考え、鋭意研究を重ねた結果、本発明に至った。
【００１１】本発明において、電解コンデンサ用金属粉
末の粒子径は、画像解析法によって求められる一次粒子
直径（以下、粒子径ということもある）で表される。電
解コンデンサ用金属粉末としてはタンタル粉末またはニ
オブ粉末あるいはこれらの混合物が好ましく用いられ
る。例えば電解コンデンサ用のタンタル粉末は、フッ化
タンタル酸カリウムをナトリウム還元して得られる一次
粒子を熱処理して凝集させた後に解砕し、適当な粒度範
囲に分級したものが用いられるが、このような処理を経
たタンタル粉末は、例えば図３に示すように、微細な一
次粒子２１がサンゴ状に連なった凝集体を成している。
本発明では、このような凝集体について電子顕微鏡を用
いた画像解析法によって、個々の一次粒子２１の直径Ｄ
１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４，Ｄ５を求める。この方法は、凝
集体を球状粒子の集合体と考え、電子顕微鏡写真上で凝
集体を１個ずつの粒子に分け、それぞれの粒子を球と見
なしてその粒子の直径を算出する方法である。
末の粒子径は、画像解析法によって求められる一次粒子
直径（以下、粒子径ということもある）で表される。電
解コンデンサ用金属粉末としてはタンタル粉末またはニ
オブ粉末あるいはこれらの混合物が好ましく用いられ
る。例えば電解コンデンサ用のタンタル粉末は、フッ化
タンタル酸カリウムをナトリウム還元して得られる一次
粒子を熱処理して凝集させた後に解砕し、適当な粒度範
囲に分級したものが用いられるが、このような処理を経
たタンタル粉末は、例えば図３に示すように、微細な一
次粒子２１がサンゴ状に連なった凝集体を成している。
本発明では、このような凝集体について電子顕微鏡を用
いた画像解析法によって、個々の一次粒子２１の直径Ｄ
１，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４，Ｄ５を求める。この方法は、凝
集体を球状粒子の集合体と考え、電子顕微鏡写真上で凝
集体を１個ずつの粒子に分け、それぞれの粒子を球と見
なしてその粒子の直径を算出する方法である。
【００１２】上記の画像解析法によって得られる粒子径
分布は個数分布であるので、本発明ではこれを次のよう
にして重量分布に換算して使用する。まず粒子径を１０
以上の区分に分けるが、このとき各区分の上限（または
下限）の粒子径が等比数列となるようにする。そして、
それぞれの区分における粒子径範囲の平均値を直径とす
る球体の体積と、その区分に含まれる粒子数の積を求め
る。この積の値をその区分に含まれる粒子の体積合計と
みなし、測定対象となった全ての粒子の総体積を１００
％として、各区分毎に粒子の体積合計の割合（％）を求
めると体積分布が得られる。タンタル粉末粒子の体積と
重量は比例するので、この体積分布は重量分布として使
用することができる。なお、粒子径の重量分布を求める
際には、測定された粒子径のうち超微粉の部分と粗大粒
径の部分は電子顕微鏡の視野による誤差が大きくなるの
で、これらを除外することが好ましい。具体的には、画
像解析法によって得られる粒子径の個数分布において、
測定値の最小値を含む１０％程度、および最大値を含む
１％程度の個数の測定値を除外して重量分布を求めるこ
とが好ましい。
分布は個数分布であるので、本発明ではこれを次のよう
にして重量分布に換算して使用する。まず粒子径を１０
以上の区分に分けるが、このとき各区分の上限（または
下限）の粒子径が等比数列となるようにする。そして、
それぞれの区分における粒子径範囲の平均値を直径とす
る球体の体積と、その区分に含まれる粒子数の積を求め
る。この積の値をその区分に含まれる粒子の体積合計と
みなし、測定対象となった全ての粒子の総体積を１００
％として、各区分毎に粒子の体積合計の割合（％）を求
めると体積分布が得られる。タンタル粉末粒子の体積と
重量は比例するので、この体積分布は重量分布として使
用することができる。なお、粒子径の重量分布を求める
際には、測定された粒子径のうち超微粉の部分と粗大粒
径の部分は電子顕微鏡の視野による誤差が大きくなるの
で、これらを除外することが好ましい。具体的には、画
像解析法によって得られる粒子径の個数分布において、
測定値の最小値を含む１０％程度、および最大値を含む
１％程度の個数の測定値を除外して重量分布を求めるこ
とが好ましい。
【００１３】本発明において、陽極酸化処理電圧がＶｆ
（単位：Ｖ）に設定されているとき、金属粉末の好まし
い大きさは、上記の画像解析法によって求められる一次
粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（単位：ｎｍ）の
範囲である。金属粉末を加圧成形後、焼結してなる陽極
焼結体に陽極酸化皮膜を形成する際に、陽極酸化処理電
圧Ｖｆに対して、金属粉末の粒子径が小さすぎると、粉
末粒子全体が酸化物となってしまい蓄電能力が発揮され
なくなるので好ましくない。一方、コンデンサの容量を
高めるためには、陽極焼結体における金属粉末全体の表
面積が大きいことが好ましく、そのためには金属粉末の
粒子径が小さい方が好ましい。また使用する金属粉末全
部が上記の範囲内の大きさであることがより好ましい
が、この範囲内の大きさの粒子の含有量を５０重量％以
上とすればコンデンサの静電容量を増大させるのに好ま
しい効果が得られる。以下、これらの数値限定理由につ
いて説明する。
（単位：Ｖ）に設定されているとき、金属粉末の好まし
い大きさは、上記の画像解析法によって求められる一次
粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（単位：ｎｍ）の
範囲である。金属粉末を加圧成形後、焼結してなる陽極
焼結体に陽極酸化皮膜を形成する際に、陽極酸化処理電
圧Ｖｆに対して、金属粉末の粒子径が小さすぎると、粉
末粒子全体が酸化物となってしまい蓄電能力が発揮され
なくなるので好ましくない。一方、コンデンサの容量を
高めるためには、陽極焼結体における金属粉末全体の表
面積が大きいことが好ましく、そのためには金属粉末の
粒子径が小さい方が好ましい。また使用する金属粉末全
部が上記の範囲内の大きさであることがより好ましい
が、この範囲内の大きさの粒子の含有量を５０重量％以
上とすればコンデンサの静電容量を増大させるのに好ま
しい効果が得られる。以下、これらの数値限定理由につ
いて説明する。
【００１４】（実験例１）図４は、種々の粒子径分布を
有するタンタル粉末について、画像解析法によって求め
た平均粒子径と、これらのタンタル粉末をそれぞれ使用
して作製した陽極体の比静電容量（以下、ＣＶ値とい
う）との関係を示したグラフである。タンタル粉末から
なる陽極焼結体に陽極酸化皮膜を形成して陽極体を得る
際の陽極酸化処理電圧は１５０Ｖとした。なお、以下の
実験例におけるタンタル粉末の平均粒子径は、画像解析
法によって求めた一次粒子直径の重量分布において、各
区分の割合を順次累積した値が５０％に達する区分の粒
子径範囲の平均値とした。
有するタンタル粉末について、画像解析法によって求め
た平均粒子径と、これらのタンタル粉末をそれぞれ使用
して作製した陽極体の比静電容量（以下、ＣＶ値とい
う）との関係を示したグラフである。タンタル粉末から
なる陽極焼結体に陽極酸化皮膜を形成して陽極体を得る
際の陽極酸化処理電圧は１５０Ｖとした。なお、以下の
実験例におけるタンタル粉末の平均粒子径は、画像解析
法によって求めた一次粒子直径の重量分布において、各
区分の割合を順次累積した値が５０％に達する区分の粒
子径範囲の平均値とした。
【００１５】図４の結果より、平均粒子径が５００〜６
００ｎｍの間にＣＶ値のピークがあることがわかる。ま
たこのグラフより、ＣＶ値がそのピーク値（２０００μ
Ｆ／ｇ）の３／４の値（１５００μＦ／ｇ）以上となる
のは、平均粒子径が約４００〜１５００ｎｍの範囲であ
ることがわかる。この実験例での陽極酸化処理電圧は１
５０Ｖであるので、ＣＶ値がピーク値の３／４以上とな
る平均粒子径の範囲は、処理電圧の値をＶｆとすると
２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎｍ）で表すことができ
る。ここで、ＣＶ値の境界としてピーク値の３／４の値
を採用したのは、コンデンサのグレードアップの単位が
ＣＶ値差５０％であり、このＣＶ値差の半分以下に分布
巾を抑えるためである。
００ｎｍの間にＣＶ値のピークがあることがわかる。ま
たこのグラフより、ＣＶ値がそのピーク値（２０００μ
Ｆ／ｇ）の３／４の値（１５００μＦ／ｇ）以上となる
のは、平均粒子径が約４００〜１５００ｎｍの範囲であ
ることがわかる。この実験例での陽極酸化処理電圧は１
５０Ｖであるので、ＣＶ値がピーク値の３／４以上とな
る平均粒子径の範囲は、処理電圧の値をＶｆとすると
２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎｍ）で表すことができ
る。ここで、ＣＶ値の境界としてピーク値の３／４の値
を採用したのは、コンデンサのグレードアップの単位が
ＣＶ値差５０％であり、このＣＶ値差の半分以下に分布
巾を抑えるためである。
【００１６】（実験例２）下記表１は、平均粒子径が同
じで粒子径分布が異なる４種類のタンタル粉末（サンプ
ルＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）について、粒子径分布（累積）とそ
のタンタル粉末を使用して製造した陽極体のＣＶ値をそ
れぞれ示したものである。陽極酸化処理電圧はいずれも
１５０Ｖとした。また図５は上記サンプルＡ〜Ｄの粒子
径分布をグラフに表したものである。
じで粒子径分布が異なる４種類のタンタル粉末（サンプ
ルＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）について、粒子径分布（累積）とそ
のタンタル粉末を使用して製造した陽極体のＣＶ値をそ
れぞれ示したものである。陽極酸化処理電圧はいずれも
１５０Ｖとした。また図５は上記サンプルＡ〜Ｄの粒子
径分布をグラフに表したものである。
【００１７】
【表１】
【００１８】この表の結果より、サンプルＡ〜Ｄの平均
粒子径はいずれも５１５ｎｍであり上記実験例１の結果
によれば、陽極酸化処理電圧が１５０ＶのときにＣＶ値
のピークが得られる範囲内であるが、得られるＣＶ値に
ばらつきが認められる。また図５のグラフを加味する
と、粒子径分布における最大粒子径と最小粒子径との間
の幅が狭いほどＣＶ値が高いことがわかる。そこで、サ
ンプルＡ〜Ｄのタンタル粉末について、一次粒子直径が
２．７×１５０（＝４０５ｎｍ）〜１０×１５０（＝１
５００ｎｍ）の範囲内である粒子の含有量（重量％）を
調べたところ、Ａは６７重量％、Ｂは５０重量％、Ｃは
４０重量％、Ｄは３０重量％であった。これらの含有量
の値とそれぞれのサンプルにおけるＣＶ値との関係を図
６に示す。この図の結果より、一次粒子直径が２．７×
Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎｍ）の範囲内である粒子の含有量
が増加するに従って、コンデンサのＣＶ値が向上してい
ることがわかる。そして含有量が５０重量％以上ではＣ
Ｖ値があまり増加せず、ほぼ上限に達していると考えら
れる。
粒子径はいずれも５１５ｎｍであり上記実験例１の結果
によれば、陽極酸化処理電圧が１５０ＶのときにＣＶ値
のピークが得られる範囲内であるが、得られるＣＶ値に
ばらつきが認められる。また図５のグラフを加味する
と、粒子径分布における最大粒子径と最小粒子径との間
の幅が狭いほどＣＶ値が高いことがわかる。そこで、サ
ンプルＡ〜Ｄのタンタル粉末について、一次粒子直径が
２．７×１５０（＝４０５ｎｍ）〜１０×１５０（＝１
５００ｎｍ）の範囲内である粒子の含有量（重量％）を
調べたところ、Ａは６７重量％、Ｂは５０重量％、Ｃは
４０重量％、Ｄは３０重量％であった。これらの含有量
の値とそれぞれのサンプルにおけるＣＶ値との関係を図
６に示す。この図の結果より、一次粒子直径が２．７×
Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎｍ）の範囲内である粒子の含有量
が増加するに従って、コンデンサのＣＶ値が向上してい
ることがわかる。そして含有量が５０重量％以上ではＣ
Ｖ値があまり増加せず、ほぼ上限に達していると考えら
れる。
【００１９】（実験例３）上記実験例１において、陽極
酸化処理電圧を５〜２５０Ｖの範囲で変化させた他は同
様にして、平均粒子径とＣＶ値の関係を調べた。陽極酸
化処理電圧とその処理電圧を用いたときにＣＶ値のピー
クが得られる最適の平均粒子径との関係を図７に示す。
この図の結果より、陽極酸化処理電圧が５〜２５０Ｖの
範囲において、最適の平均粒子径と陽極酸化処理電圧と
の間には、一次の比例関係があることがわかる。したが
って、処理電圧が１５０Ｖである上記実験例１および実
験例２で得られた処理電圧と粒子径に関する数式等を、
陽極酸化処理電圧が５〜２５０Ｖの範囲にも適用可能で
あることが認められる。すなわち、陽極酸化処理電圧Ｖ
ｆが５〜２５０Ｖの広い範囲で、処理電圧Ｖｆ（Ｖ）に
対して、一次粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎ
ｍ）の範囲である粒子を５０重量％以上含むタンタル粉
末を用いることにより、高い静電容量のコンデンサを得
ることができる。
酸化処理電圧を５〜２５０Ｖの範囲で変化させた他は同
様にして、平均粒子径とＣＶ値の関係を調べた。陽極酸
化処理電圧とその処理電圧を用いたときにＣＶ値のピー
クが得られる最適の平均粒子径との関係を図７に示す。
この図の結果より、陽極酸化処理電圧が５〜２５０Ｖの
範囲において、最適の平均粒子径と陽極酸化処理電圧と
の間には、一次の比例関係があることがわかる。したが
って、処理電圧が１５０Ｖである上記実験例１および実
験例２で得られた処理電圧と粒子径に関する数式等を、
陽極酸化処理電圧が５〜２５０Ｖの範囲にも適用可能で
あることが認められる。すなわち、陽極酸化処理電圧Ｖ
ｆが５〜２５０Ｖの広い範囲で、処理電圧Ｖｆ（Ｖ）に
対して、一次粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎ
ｍ）の範囲である粒子を５０重量％以上含むタンタル粉
末を用いることにより、高い静電容量のコンデンサを得
ることができる。
【００２０】本発明の電解コンデンサ用陽極体は、例え
ば図１に示される形状に形成される。この例の電解コン
デンサ用陽極体は、陽極焼結体１とリードワイヤ２とか
らなっている。陽極焼結体１は粒子径分布が上記の条件
を満たす金属粉末を用いて形成されており、予め設定さ
れた陽極酸化処理電圧Ｖｆを用いた陽極酸化処理によっ
て陽極酸化皮膜が形成されている。なお図１の例ではリ
ード部材としてリードワイヤ２用いられているが、リー
ド部材の形状は特に限定されず、リードフレームでもよ
い。また陽極焼結体１の形状は任意に変更可能である。
ば図１に示される形状に形成される。この例の電解コン
デンサ用陽極体は、陽極焼結体１とリードワイヤ２とか
らなっている。陽極焼結体１は粒子径分布が上記の条件
を満たす金属粉末を用いて形成されており、予め設定さ
れた陽極酸化処理電圧Ｖｆを用いた陽極酸化処理によっ
て陽極酸化皮膜が形成されている。なお図１の例ではリ
ード部材としてリードワイヤ２用いられているが、リー
ド部材の形状は特に限定されず、リードフレームでもよ
い。また陽極焼結体１の形状は任意に変更可能である。
【００２１】本発明の電解コンデンサ用陽極体を製造す
るには、まず、予め陽極酸化処理電圧Ｖｆを設定し、こ
のＶｆの値に基づいて一次粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１
０×Ｖｆ（ｎｍ）の範囲である粒子の含有量が５０重量
％以上となるように金属粉末を調製する。また陽極酸化
処理電圧Ｖｆの値は使用電圧に一定の安全率を乗じて適
宜選択される。
るには、まず、予め陽極酸化処理電圧Ｖｆを設定し、こ
のＶｆの値に基づいて一次粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１
０×Ｖｆ（ｎｍ）の範囲である粒子の含有量が５０重量
％以上となるように金属粉末を調製する。また陽極酸化
処理電圧Ｖｆの値は使用電圧に一定の安全率を乗じて適
宜選択される。
【００２２】次いで、調製された金属粉末を、リードワ
イヤ２とともにダイス内に充填し、加圧成形を行う。そ
して得られた成形体を焼結してリードワイヤ２が一体化
された陽極焼結体１を得る。続いて、得られた陽極焼結
体１に対して、処理電圧Ｖｆを用いて陽極酸化処理を施
すことによって、電解コンデンサ用陽極体が得られる。
そして、陽極酸化処理して得られた陽極体に、周知の手
法により二酸化マンガンや酸化鉛等の固体電解質層、グ
ラファイト層、および銀ペースト層を順次形成し、銀ペ
ースト層に陰極端子を接続するとともに、リードワイヤ
２に陽極端子を接続して、全体を樹脂で被覆したものが
電解コンデンサとして使用される。陽極体はこの電解コ
ンデンサの陽極を構成する。
イヤ２とともにダイス内に充填し、加圧成形を行う。そ
して得られた成形体を焼結してリードワイヤ２が一体化
された陽極焼結体１を得る。続いて、得られた陽極焼結
体１に対して、処理電圧Ｖｆを用いて陽極酸化処理を施
すことによって、電解コンデンサ用陽極体が得られる。
そして、陽極酸化処理して得られた陽極体に、周知の手
法により二酸化マンガンや酸化鉛等の固体電解質層、グ
ラファイト層、および銀ペースト層を順次形成し、銀ペ
ースト層に陰極端子を接続するとともに、リードワイヤ
２に陽極端子を接続して、全体を樹脂で被覆したものが
電解コンデンサとして使用される。陽極体はこの電解コ
ンデンサの陽極を構成する。
【００２３】本発明によれば、陽極体を製造する際の陽
極酸化処理電圧Ｖｆの値に応じて、粒子径分布が適正と
なるように調製された金属粉末を提供することができ
る。この金属粉末を使用して陽極体を製造すれば、陽極
酸化処理工程において、金属粉末に金属の芯を残しつつ
表面に酸化皮膜を効果的に形成することができる。この
ように粒子径分布が適正化された金属粉末を用いて形成
された電解コンデンサ用陽極体は、金属粉末による蓄電
能力が効率良く発揮されるので電気的特性に優れおり、
この陽極体を用いて構成された電解コンデンサにあって
は高い静電容量が達成される。
極酸化処理電圧Ｖｆの値に応じて、粒子径分布が適正と
なるように調製された金属粉末を提供することができ
る。この金属粉末を使用して陽極体を製造すれば、陽極
酸化処理工程において、金属粉末に金属の芯を残しつつ
表面に酸化皮膜を効果的に形成することができる。この
ように粒子径分布が適正化された金属粉末を用いて形成
された電解コンデンサ用陽極体は、金属粉末による蓄電
能力が効率良く発揮されるので電気的特性に優れおり、
この陽極体を用いて構成された電解コンデンサにあって
は高い静電容量が達成される。
【００２４】
【実施例】以下、具体的な実施例を示して本発明の効果
を明らかにする。 （実施例１）Ｋ2ＴａＦ7をＮａ還元して得られたＴａ粉
末を真空中で高温加熱して塊状に熱凝縮させた後、水素
雰囲気下で冷却して解砕しＴａ粉末を得た。このＴａ粉
末を水中でホモジナイザーによって微粉砕した後、沈降
分級法によって５分割した。熱凝集時の加熱条件や分級
条件を変えて同様の処理を行い、１００〜２０００ｎｍ
の粒子径範囲で種々の粒子径分布を有する２０種類のＴ
ａ粉末を得た。それぞれのＴａ粉末について画像解析法
によって一次粒子直径を求め、粒子径分布を測定した。
次に陽極酸化処理電圧（Ｖｆ）を５０Ｖに設定し、２．
７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎｍ）の計算式に従って、画像
処理解析法によって求められる一次粒子直径が１３５〜
５００ｎｍの範囲内である粒子を５０重量％以上含むよ
うに粒子径分布を設定し、Ｔａ粉末を配合調製した。配
合調製後のＴａ粉末の電子顕微鏡写真を撮影し、再び画
像解析法により一次粒子直径を測定し、粒子径分布を得
た。その結果を下記表２に示す。
を明らかにする。 （実施例１）Ｋ2ＴａＦ7をＮａ還元して得られたＴａ粉
末を真空中で高温加熱して塊状に熱凝縮させた後、水素
雰囲気下で冷却して解砕しＴａ粉末を得た。このＴａ粉
末を水中でホモジナイザーによって微粉砕した後、沈降
分級法によって５分割した。熱凝集時の加熱条件や分級
条件を変えて同様の処理を行い、１００〜２０００ｎｍ
の粒子径範囲で種々の粒子径分布を有する２０種類のＴ
ａ粉末を得た。それぞれのＴａ粉末について画像解析法
によって一次粒子直径を求め、粒子径分布を測定した。
次に陽極酸化処理電圧（Ｖｆ）を５０Ｖに設定し、２．
７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎｍ）の計算式に従って、画像
処理解析法によって求められる一次粒子直径が１３５〜
５００ｎｍの範囲内である粒子を５０重量％以上含むよ
うに粒子径分布を設定し、Ｔａ粉末を配合調製した。配
合調製後のＴａ粉末の電子顕微鏡写真を撮影し、再び画
像解析法により一次粒子直径を測定し、粒子径分布を得
た。その結果を下記表２に示す。
【００２５】（比較例１，２）比較のために、熱凝集後
解砕し、〜１３５ｎｍ、１３５〜５００ｎｍ、５００ｎ
ｍ〜に分級し、粒度調製しないＴａ粉末を２種類用意
し、それぞれについて画像解析法により粒子径分布を測
定した。その結果を下記表２に示す。 （実施例２）上記実施例１で準備した２０種類のＴａ粉
末を用い、陽極酸化処理電圧（Ｖｆ）を１００Ｖに設定
し、２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎｍ）の計算式に従っ
て、画像処理解析法によって求められる一次粒子直径が
２７０〜１０００ｎｍの範囲内である粒子を５０重量％
以上含むように粒子径分布を設定し、Ｔａ粉末を配合調
製した。配合調製後のＴａ粉末の電子顕微鏡写真を撮影
し、再び画像解析法により一次粒子直径を測定し、粒子
径分布を得た。その結果を下記表３に示す。 （比較例３，４）比較のために、熱凝集後解砕し、〜２
７０ｎｍ、２７０〜１０００ｎｍ、１０００ｎｍ〜に分
級し、粒度調製しないＴａ粉末を２種類用意し、それぞ
れについて画像解析法により粒子径分布を測定した。そ
の結果を下記表３に示す。
解砕し、〜１３５ｎｍ、１３５〜５００ｎｍ、５００ｎ
ｍ〜に分級し、粒度調製しないＴａ粉末を２種類用意
し、それぞれについて画像解析法により粒子径分布を測
定した。その結果を下記表２に示す。 （実施例２）上記実施例１で準備した２０種類のＴａ粉
末を用い、陽極酸化処理電圧（Ｖｆ）を１００Ｖに設定
し、２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（ｎｍ）の計算式に従っ
て、画像処理解析法によって求められる一次粒子直径が
２７０〜１０００ｎｍの範囲内である粒子を５０重量％
以上含むように粒子径分布を設定し、Ｔａ粉末を配合調
製した。配合調製後のＴａ粉末の電子顕微鏡写真を撮影
し、再び画像解析法により一次粒子直径を測定し、粒子
径分布を得た。その結果を下記表３に示す。 （比較例３，４）比較のために、熱凝集後解砕し、〜２
７０ｎｍ、２７０〜１０００ｎｍ、１０００ｎｍ〜に分
級し、粒度調製しないＴａ粉末を２種類用意し、それぞ
れについて画像解析法により粒子径分布を測定した。そ
の結果を下記表３に示す。
【００２６】（評価）上記実施例１，２および比較例１
〜４でそれぞれ得られたＴａ粉末を１ｍｍ×１ｍｍ×１
ｍｍの大きさで、成形体密度が５．０ｇ／ｃｍ3となる
ように加圧成形したものを、真空中にて１４００℃で２
０分間加熱焼結して陽極焼結体を得た。この陽極焼結体
に対して９０℃、０．０２重量％のリン酸電解中で陽極
酸化処理して陽極体を得た。陽極酸化処理電圧は、実施
例１および比較例１，２では５０Ｖとし、実施例２およ
び比較例３，４では１００Ｖとした。得られた陽極体の
ＣＶ値を測定した結果を下記表２および表３に合わせて
示す。さらにこの陽極体上に二酸化マンガン層からなる
固体電解質層と、カーボン層および銀ペースト層からな
る陰極を形成し、陰極端子および陽極端子をそれぞれ接
続した後、全体を樹脂で封じて縦３．２mm、横１．６m
m、高さ１．６mmのタンタル電解コンデンサを製造し
た。得られた電解コンデンサの電気特性を評価するため
に静電容量および誘電正接（tanδ）を測定した。使用
電圧は実施例１および比較例１，２については１６Ｖ実
施例２および比較例３，４については３５Ｖとした。結
果を下記表２および表３に合わせて示す。ここで、誘電
正接（tanδ）は等価直列抵抗（ＥＳＲ）の指標となる
値で、回路の発熱原因となる誘電損失を表しており、こ
の値は小さい方が好ましい。
〜４でそれぞれ得られたＴａ粉末を１ｍｍ×１ｍｍ×１
ｍｍの大きさで、成形体密度が５．０ｇ／ｃｍ3となる
ように加圧成形したものを、真空中にて１４００℃で２
０分間加熱焼結して陽極焼結体を得た。この陽極焼結体
に対して９０℃、０．０２重量％のリン酸電解中で陽極
酸化処理して陽極体を得た。陽極酸化処理電圧は、実施
例１および比較例１，２では５０Ｖとし、実施例２およ
び比較例３，４では１００Ｖとした。得られた陽極体の
ＣＶ値を測定した結果を下記表２および表３に合わせて
示す。さらにこの陽極体上に二酸化マンガン層からなる
固体電解質層と、カーボン層および銀ペースト層からな
る陰極を形成し、陰極端子および陽極端子をそれぞれ接
続した後、全体を樹脂で封じて縦３．２mm、横１．６m
m、高さ１．６mmのタンタル電解コンデンサを製造し
た。得られた電解コンデンサの電気特性を評価するため
に静電容量および誘電正接（tanδ）を測定した。使用
電圧は実施例１および比較例１，２については１６Ｖ実
施例２および比較例３，４については３５Ｖとした。結
果を下記表２および表３に合わせて示す。ここで、誘電
正接（tanδ）は等価直列抵抗（ＥＳＲ）の指標となる
値で、回路の発熱原因となる誘電損失を表しており、こ
の値は小さい方が好ましい。
【００２７】
【表２】
【００２８】
【表３】
【００２９】表２および表３の結果より、実施例で得ら
れた電解コンデンサは比較例のものに比べて静電容量が
高く、容量当たりのtanδが小さい。以上、金属粉末と
してタンタル粉末を用いた例で説明したが、同じ弁金属
であるニオブ粉末を使用した場合、あるいはタンタル粉
末とニオブ粉末の混合物を使用した場合でも同じ効果が
期待できる。また、上記実施例では、所望の粒度分布を
有する金属粉末を調製するのに、粉砕後ブレンドする方
法を用いたが、これに限らず、Ｋ2ＴａＦ7をＮａ還元す
る工程において、十分な粒度制御を行った粉末を作製
し、例えば特公平２−４６４１号公報に記載されている
手法を参考にして、得られた粉末を減圧下で１１００℃
〜１５００℃で高温熱処理を行った後解砕して粉状とな
し、次いでマグネシウムを添加混合して７００〜１００
０℃で低温熱処理した後、酸洗する方法で処理すること
により、本発明の電解コンデンサ用金属粉末を作製する
こともでき、同様の効果が期待できる。
れた電解コンデンサは比較例のものに比べて静電容量が
高く、容量当たりのtanδが小さい。以上、金属粉末と
してタンタル粉末を用いた例で説明したが、同じ弁金属
であるニオブ粉末を使用した場合、あるいはタンタル粉
末とニオブ粉末の混合物を使用した場合でも同じ効果が
期待できる。また、上記実施例では、所望の粒度分布を
有する金属粉末を調製するのに、粉砕後ブレンドする方
法を用いたが、これに限らず、Ｋ2ＴａＦ7をＮａ還元す
る工程において、十分な粒度制御を行った粉末を作製
し、例えば特公平２−４６４１号公報に記載されている
手法を参考にして、得られた粉末を減圧下で１１００℃
〜１５００℃で高温熱処理を行った後解砕して粉状とな
し、次いでマグネシウムを添加混合して７００〜１００
０℃で低温熱処理した後、酸洗する方法で処理すること
により、本発明の電解コンデンサ用金属粉末を作製する
こともでき、同様の効果が期待できる。
【００３０】
【発明の効果】このように本発明によれば、陽極酸化処
理電圧の値に対して適正な粒子径を有する電解コンデン
サ用金属粉末を提供することができる。したがって電解
コンデンサ用陽極体を製造する際には、高静電容量のコ
ンデンサを得るのに好ましい厚さの陽極酸化皮膜が形成
される。また陽極酸化処理電圧の値に対して、金属粉末
の粒子径をできるだけ小さくして、電解コンデンサにお
ける静電容量の向上を図ることが可能となる。本発明の
電解コンデンサ用金属粉末を使用して得られる電解コン
デンサ用陽極体にあっては、陽極酸化皮膜の厚さが適正
化されており、金属粉末による蓄電能力が効率良く発揮
されるので、優れた電気的特性が得られる。またこの陽
極体を陽極として備えてなる電解コンデンサにあって
は、高静電容量が達成され、電解コンデンサの小型化を
図るうえでも有利である。
理電圧の値に対して適正な粒子径を有する電解コンデン
サ用金属粉末を提供することができる。したがって電解
コンデンサ用陽極体を製造する際には、高静電容量のコ
ンデンサを得るのに好ましい厚さの陽極酸化皮膜が形成
される。また陽極酸化処理電圧の値に対して、金属粉末
の粒子径をできるだけ小さくして、電解コンデンサにお
ける静電容量の向上を図ることが可能となる。本発明の
電解コンデンサ用金属粉末を使用して得られる電解コン
デンサ用陽極体にあっては、陽極酸化皮膜の厚さが適正
化されており、金属粉末による蓄電能力が効率良く発揮
されるので、優れた電気的特性が得られる。またこの陽
極体を陽極として備えてなる電解コンデンサにあって
は、高静電容量が達成され、電解コンデンサの小型化を
図るうえでも有利である。
【００３１】本発明の電解コンデンサ用陽極体の製造方
法によれば、陽極酸化処理時の処理電圧に応じて粒子径
分布が適正に調製された金属粉末を使用することによ
り、陽極酸化処理において適切な厚さの陽極酸化皮膜が
形成されるので、電気的特性に優れた高品質の陽極体を
歩留まり良く製造することができる。また本発明におい
ては陽極酸化処理電圧を５〜２５０Ｖの広い範囲で設定
することが可能であるので、電解コンデンサの製造に使
用可能な陽極酸化処理電圧の低い値から高い値まで適用
可能であり、汎用性が高く、極めて有用である。
法によれば、陽極酸化処理時の処理電圧に応じて粒子径
分布が適正に調製された金属粉末を使用することによ
り、陽極酸化処理において適切な厚さの陽極酸化皮膜が
形成されるので、電気的特性に優れた高品質の陽極体を
歩留まり良く製造することができる。また本発明におい
ては陽極酸化処理電圧を５〜２５０Ｖの広い範囲で設定
することが可能であるので、電解コンデンサの製造に使
用可能な陽極酸化処理電圧の低い値から高い値まで適用
可能であり、汎用性が高く、極めて有用である。
【図１】 電解コンデンサ用陽極体の一例を示す斜視図
である。
である。
【図２】 本発明に係るタンタル粉末の陽極酸化処理の
説明図である。
説明図である。
【図３】 本発明に係る金属粉末の一次粒子直径の測定
方法の説明図である。
方法の説明図である。
【図４】 本発明に係る実験例における金属粉末の平均
粒子径とＣＶ値との関係を示すグラフである。
粒子径とＣＶ値との関係を示すグラフである。
【図５】 本発明に係る実験例における金属粉末の粒子
径分布を示すグラフである。
径分布を示すグラフである。
【図６】 本発明に係る実験例における金属粉末の粒子
径が最適範囲の粒子の含有量とＣＶ値との関係を示すグ
ラフである。
径が最適範囲の粒子の含有量とＣＶ値との関係を示すグ
ラフである。
【図７】 本発明に係る実験例における陽極酸化処理電
圧と最適の平均粒子径との関係を示すグラフである。
圧と最適の平均粒子径との関係を示すグラフである。
１…陽極焼結体、 ２…リードワイヤ（リード部材）、
１１…タンタル粉末、１２…陽極酸化皮膜、１３…金属
タンタル。
１１…タンタル粉末、１２…陽極酸化皮膜、１３…金属
タンタル。
Claims (5)
- 【請求項１】 電解コンデンサ用陽極体を製造するのに
用いられる電解コンデンサ用金属粉末であって、 該電解コンデンサ用金属粉末からなる陽極焼結体に陽極
酸化皮膜を形成する際の陽極酸化処理電圧がＶｆ（単
位：Ｖ）であるとき、画像解析法によって求められる一
次粒子直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（単位：ｎｍ）
の範囲である粒子が５０重量％以上含まれていることを
特徴とする電解コンデンサ用金属粉末。 - 【請求項２】 請求項１記載の電解コンデンサ用金属粉
末をリード部材と共に加圧成形した後、焼結して得られ
る陽極焼結体に陽極酸化皮膜を形成してなることを特徴
とする電解コンデンサ用陽極体。 - 【請求項３】 請求項２記載の陽極体を陽極として具備
してなることを特徴とする電解コンデンサ。 - 【請求項４】 予め陽極酸化処理電圧をＶｆ（単位：
Ｖ）に設定し、画像解析法によって求められる一次粒子
直径が２．７×Ｖｆ〜１０×Ｖｆ（単位：ｎｍ）の範囲
である粒子を５０重量％以上含む電解コンデンサ用金属
粉末をリード部材と共に加圧成形した後、焼結して陽極
焼結体を得、該陽極焼結体に対して上記陽極酸化処理電
圧Ｖｆを用いて陽極酸化処理を施して陽極酸化皮膜を形
成することを特徴とする電解コンデンサ用陽極体の製造
方法。 - 【請求項５】 前記陽極酸化処理電圧Ｖｆを５〜２５０
Ｖの範囲内で設定することを特徴とする請求項４記載の
電解コンデンサ用陽極体の製造方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11114254A JP2000306781A (ja) | 1999-04-21 | 1999-04-21 | 電解コンデンサ用金属粉末ならびにこれを用いた電解コンデンサ用陽極体および電解コンデンサ |
| US09/985,371 US6562097B1 (en) | 1999-04-21 | 2001-11-02 | Metal powder for electrolytic condenser, electrolytic condenser anode body using the metal powder, and an electrolytic condenser |
| US10/431,046 US20030200833A1 (en) | 1999-04-21 | 2003-05-07 | Metal powder for electrolytic condenser, electrolytic condenser anode body using the metal powder, and an electrolytic condenser |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11114254A JP2000306781A (ja) | 1999-04-21 | 1999-04-21 | 電解コンデンサ用金属粉末ならびにこれを用いた電解コンデンサ用陽極体および電解コンデンサ |
| US09/985,371 US6562097B1 (en) | 1999-04-21 | 2001-11-02 | Metal powder for electrolytic condenser, electrolytic condenser anode body using the metal powder, and an electrolytic condenser |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000306781A true JP2000306781A (ja) | 2000-11-02 |
Family
ID=27614998
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11114254A Withdrawn JP2000306781A (ja) | 1999-04-21 | 1999-04-21 | 電解コンデンサ用金属粉末ならびにこれを用いた電解コンデンサ用陽極体および電解コンデンサ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US6562097B1 (ja) |
| JP (1) | JP2000306781A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015046633A (ja) * | 2005-09-13 | 2015-03-12 | ハー．ツェー．スタルク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＨ．Ｃ． Ｓｔａｒｃｋ ＧｍｂＨ | 高公称電圧を有する電解質キャパシタを製造する方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000306781A (ja) * | 1999-04-21 | 2000-11-02 | Showa Kyabotto Super Metal Kk | 電解コンデンサ用金属粉末ならびにこれを用いた電解コンデンサ用陽極体および電解コンデンサ |
| EP2455340A1 (en) | 2003-05-19 | 2012-05-23 | Cabot Corporation | Valve metal sub-oxide powders and capacitors and sintered anode bodies made therefrom |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3516523A1 (de) * | 1985-05-08 | 1986-11-13 | Sigri GmbH, 8901 Meitingen | Anode fuer elektrochemische prozesse |
| DE68925437T2 (de) * | 1988-05-20 | 1996-08-14 | Mitsubishi Chem Corp | Verfahren zum Herstellen einer Elektrode für einen Festelektrolytkondensator |
| JPH0897096A (ja) * | 1994-09-28 | 1996-04-12 | Sutaruku Buitetsuku Kk | タンタル粉末及びそれを用いた電解コンデンサ |
| US6344271B1 (en) * | 1998-11-06 | 2002-02-05 | Nanoenergy Corporation | Materials and products using nanostructured non-stoichiometric substances |
| EP0964936B1 (de) * | 1997-02-19 | 2001-10-04 | H.C. Starck GmbH & Co. KG | Tantal-pulver, verfahren zu seiner herstellung, sowie daraus erhältliche sinteranoden |
| WO1998037249A1 (de) * | 1997-02-19 | 1998-08-27 | H.C. Starck Gmbh & Co. Kg | Tantalpulver, verfahren zu seiner herstellung, sowie daraus erhältliche sinteranoden |
| JP2000306781A (ja) * | 1999-04-21 | 2000-11-02 | Showa Kyabotto Super Metal Kk | 電解コンデンサ用金属粉末ならびにこれを用いた電解コンデンサ用陽極体および電解コンデンサ |
-
1999
- 1999-04-21 JP JP11114254A patent/JP2000306781A/ja not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-11-02 US US09/985,371 patent/US6562097B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-05-07 US US10/431,046 patent/US20030200833A1/en not_active Abandoned
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015046633A (ja) * | 2005-09-13 | 2015-03-12 | ハー．ツェー．スタルク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＨ．Ｃ． Ｓｔａｒｃｋ ＧｍｂＨ | 高公称電圧を有する電解質キャパシタを製造する方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6562097B1 (en) | 2003-05-13 |
| US20030200833A1 (en) | 2003-10-30 |
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